JP4374051B2 - Article visual inspection apparatus and surface inspection apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、物品の外観検査装置および表面検査装置に関し、特に、物品の上面および側面を高精度で検査できる外観検査装置に関する。   The present invention relates to an appearance inspection apparatus and a surface inspection apparatus for an article, and more particularly, to an appearance inspection apparatus that can inspect an upper surface and a side surface of an article with high accuracy.

従来から、錠剤やキャンディー、チョコレートなどの物品に、異物の付着や汚れ、欠けや割れ等の変形、あるいは印刷不良などの欠陥が生じているか否かを検査する外観検査が行われている。     2. Description of the Related Art Conventionally, an appearance inspection for inspecting whether an article such as a tablet, candy, chocolate, or the like has a foreign substance attached or dirty, a deformation such as a chip or a crack, or a defect such as defective printing has been performed.

物品の外観検査に用いられる検査装置としては、被検査物である物品に光を照射して得られた被検査物品からの反射光を、プリズムなどの反射手段に反射させて撮像手段に入射させて撮像し、得られた映像信号を処理することにより外観を検査する検査装置がある。
このような検査装置としては、例えば、被検査物品の側面からの反射光を反射させる反射機構と、被検査物品の側面を照射する照明機構と、反射機構からの光を撮像する撮像機構と、撮像機構からの映像信号を処理する処理機構とから構成され、反射機構が被検査物品をその内側に取り囲むように設けられた中空円錐形の反射体を含んでいる検査装置(例えば、特許文献1参照)がある。
As an inspection apparatus used for visual inspection of an article, reflected light from an article to be inspected obtained by irradiating light to an article to be inspected is reflected by a reflecting means such as a prism and incident on an imaging means. There is an inspection apparatus that inspects the appearance by processing an image signal obtained by processing the obtained video signal.
As such an inspection apparatus, for example, a reflection mechanism that reflects reflected light from the side surface of the article to be inspected, an illumination mechanism that irradiates the side surface of the article to be inspected, an imaging mechanism that images light from the reflection mechanism, And a processing mechanism that processes a video signal from the imaging mechanism, and an inspection apparatus including a hollow cone-shaped reflector provided so that the reflection mechanism surrounds the article to be inspected (for example, Patent Document 1) See).

また、物品の外観検査に用いられる他の検査装置としては、例えば、光ビーム発生体と、光ビームを被検査体に照射して、その反射光を入射すべき環状のプリズムと、該プリズムからの出射光を入射すべき撮影手段とを備えている表面検査装置(例えば、特許文献2参照)や、被検査物品の側面から出た光を被検査物品の正面側に反射させる反射手段、被検査物品の正面と反射手段から出た光を撮像する2次元撮像装置、ならびに2次元撮像装置からの映像信号を処理する画像処理装置を備えている物品の表面検査装置(例えば、特許文献3参照)などがある。
特許第3388714号公報 特許第3536166号公報 特開平5−87744号公報
Other inspection apparatuses used for visual inspection of articles include, for example, a light beam generator, an annular prism that irradiates an object to be inspected, and receives the reflected light, and the prism. A surface inspection apparatus (see, for example, Patent Document 2) including a photographing means on which the emitted light is incident, a reflection means for reflecting light emitted from the side surface of the inspected article to the front side of the inspected article, Surface inspection apparatus for articles comprising a two-dimensional imaging device for imaging light emitted from the front of the inspection article and reflection means, and an image processing device for processing video signals from the two-dimensional imaging apparatus (see, for example, Patent Document 3) )and so on.
Japanese Patent No. 3388714 Japanese Patent No. 3536166 Japanese Patent Laid-Open No. 5-87744

しかしながら、特許文献で示した従来の表面検査装置を用いた場合、被検査物品の上面を照射する光の強度が不十分であるため、被検査物品の上面を高精度で検査することができなかった。特に、被検査物品の上面の刻印などの意図的なくぼみが形成されている場合における検査精度が、低いことが問題となっていた。
この問題を解決するために、被検査物品と撮像手段との間に、上面を照射するための照明手段を配置することが考えられる。しかし、この場合には、被検査物品と撮像手段との距離が長くなるため、撮像手段に入射される光の精度が悪く、撮像手段から処理手段に送られる映像信号の解像度が低くなり、十分に高い検査精度が得られなかった。
また、被検査物品の上面を高精度で検査するために、被検査物品の上面と側面とを別個に撮像して検査することが考えられる。しかし、この場合、外観検査を効率よく行うことができない。
However, when the conventional surface inspection apparatus shown in the patent document is used, the intensity of light that irradiates the upper surface of the inspected article is insufficient, so that the upper surface of the inspected article cannot be inspected with high accuracy. It was. In particular, there is a problem that the inspection accuracy is low when an intentional depression such as an inscription on the upper surface of the article to be inspected is formed.
In order to solve this problem, it is conceivable to arrange illumination means for irradiating the upper surface between the article to be inspected and the imaging means. However, in this case, since the distance between the article to be inspected and the imaging unit becomes long, the accuracy of the light incident on the imaging unit is poor, and the resolution of the video signal sent from the imaging unit to the processing unit is low, which is sufficient High inspection accuracy could not be obtained.
Further, in order to inspect the upper surface of the inspected article with high accuracy, it is conceivable to separately inspect and inspect the upper surface and the side surface of the inspected article. However, in this case, the appearance inspection cannot be performed efficiently.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、被検査物品の上面と側面とを同時に撮像でき、被検査物品と撮像手段との距離を長くすることなく、被検査物品の上面を照射する光の強度が十分に得られ、被検査物品の上面を高精度で検査できる物品の外観検査装置および外観検査装置を備えた表面検査装置を提供することを課題としている。   The present invention has been made in view of such circumstances. The upper surface and the side surface of the inspected article can be simultaneously imaged, and the upper surface of the inspected article can be obtained without increasing the distance between the inspected article and the imaging means. It is an object of the present invention to provide an article appearance inspection apparatus and a surface inspection apparatus provided with an appearance inspection apparatus capable of sufficiently obtaining the intensity of light for irradiating and inspecting the upper surface of the article to be inspected with high accuracy.

本発明の物品の外観検査装置は、被検査物品の側面からの反射光を反射させる反射手段と、前記被検査物品を照射する照明手段と、前記被検査物品の上面上に配置された1つの撮像手段であって、前記撮像手段に向かって前記反射手段から出射された光および前記被検査物品の上面からの反射光を同時に撮像する撮像手段と、前記撮像手段からの映像信号を処理する処理手段とを備え、前記反射手段が、前記被検査物品の上面側から見たときに前記被検査物品を取り囲むように配置された複数の反射体を備えたものであり、前記反射体の前記被検査物品側の面が複数の平面からなり、前記反射体が、前記反射光のうち別の反射体には反射されない反射光を反射させる固有反射領域と、前記固有反射領域の外側に配置され、隣り合う別の反射体にも反射される反射光を反射させるオーバーラップ反射領域とを有し、前記反射手段から出射された光から、前記被検査物品の側面が前記反射体の数に対応する数に分割された映像信号が得られるものであり、前記オーバーラップ反射領域によって、前記分割された映像信号における前記被検査物品の分割された部分からの反射光が反射され、前記照明手段が、隣り合う前記反射体の間から前記被検査物品の少なくとも上面を照射する上面照明手段と、前記被検査物品の側面を照射する側面照明手段とを備え、前記側面照明手段が、前記反射手段よりも前記被検査物品に近い位置に配置され、前記被検査物品の上面側から見たときに前記被検査物品を取り囲むように配置されたリング状のものであることを特徴とする。 An article appearance inspection apparatus according to the present invention includes a reflecting means for reflecting light reflected from a side surface of an article to be inspected, an illuminating means for irradiating the article to be inspected, and one piece disposed on the upper surface of the article to be inspected. An imaging means for simultaneously imaging light emitted from the reflecting means toward the imaging means and reflected light from the upper surface of the article to be inspected, and processing for processing a video signal from the imaging means and means, said reflecting means, said are those wherein comprising a plurality of reflectors which are disposed so as to surround the inspection article when viewed from the top side of the article to be inspected, the object of said reflector The surface on the inspection article side is composed of a plurality of flat surfaces, and the reflector is disposed outside the intrinsic reflection region and the intrinsic reflection region that reflects the reflected light that is not reflected by another reflector among the reflected light, Another reflector next to it Also have a overlap reflection region for reflecting the light reflected, from said light emitted from the reflecting means, the image signal divided into the number of sides of the inspection item corresponding to the number of the reflector The reflected light from the divided part of the article to be inspected in the divided video signal is reflected by the overlap reflection region, and the illuminating means is located between the adjacent reflectors. A top illumination means for illuminating at least the top surface of the article to be inspected, and a side illumination means for illuminating the side of the article to be inspected, the side illumination means being closer to the article to be inspected than the reflecting means And a ring-shaped member arranged so as to surround the article to be inspected when viewed from the upper surface side of the article to be inspected.

また、本発明の物品の外観検査装置は、前記複数の反射体が、前記被検査物品の上面側から見たときの前記被検査物品の外形と相似形状の軌跡上に配置されているものとすることができる。   Further, in the appearance inspection apparatus for an article according to the present invention, the plurality of reflectors are arranged on a locus having a shape similar to the outer shape of the article to be inspected when viewed from the upper surface side of the article to be inspected. can do.

また、本発明の物品の外観検査装置においては、前記処理手段によって処理された撮像信号から得られた前記被検査物品の画像が、前記被検査物品の上面の画像と、前記上面の画像の周囲に前記反射体の数に対応する数で環状に配置された前記被検査物品の側面の画像とを有し、前記側面の画像の各々が、前記固有反射領域に反射された光に基づいて得られた側面の画像の各々に固有の画像と、前記オーバーラップ反射領域に反射された光に基づいて得られたオーバーラップ画像とからなり、前記オーバーラップ画像は、前記固有の画像の隣り合う側面の画像側にそれぞれ配置され、隣り合う側面の画像のオーバーラップ画像に示された前記被検査物品の側面と同じ部分の画像からなるものとすることができる。 In the appearance inspection apparatus for an article according to the present invention, the image of the inspected article obtained from the imaging signal processed by the processing means includes an image of the upper surface of the article to be inspected and a periphery of the image of the upper surface. And the images of the side surfaces of the article to be inspected arranged in a ring shape in a number corresponding to the number of the reflectors, and each of the images of the side surfaces is obtained based on the light reflected on the intrinsic reflection region. Each of the images of the side faces formed and an overlap image obtained based on the light reflected on the overlap reflection area, wherein the overlap image is an adjacent side face of the unique image. The image may be composed of an image of the same part as the side surface of the article to be inspected shown in the overlap image of the images of the adjacent side surfaces .

また、本発明の物品の外観検査装置においては、前記反射体が、前記被検査物品の上面よりも上方向に配置されているものとすることができる。   Moreover, in the external appearance inspection apparatus of the article | item of this invention, the said reflector shall be arrange | positioned above the upper surface of the said to-be-inspected article.

本発明の表面検査装置は、被検査物品の厚さ方向いずれかの面を外周面に保持しながら回転することにより、前記被検査物品を搬送する第1検査ドラムと、該第1検査ドラムの下側に外周面を近接させた状態に回転自在に設置され、前記第1検査ドラムから前記被検査物品を受け取って前記被検査物品を前記第1検査ドラムの搬送状態と反転させた状態で外周面に保持しながら回転する第2検査ドラムと、前記第1検査ドラムの外周面に保持された前記被検査物品の外観を検査する第1外観検査装置と、前記第2検査ドラムの外周面に保持された前記被検査物品の外観を検査する第2外観検査装置とが具備されてなり、前記第1外観検査装置および前記第2外観検査装置として請求項1〜請求項6のいずれかに記載の外観検査装置が備えられていることを特徴とする。   The surface inspection apparatus according to the present invention includes a first inspection drum that conveys the article to be inspected by rotating while holding any surface in the thickness direction of the article to be inspected on the outer peripheral surface, The outer peripheral surface is rotatably installed in a state where the outer peripheral surface is close to the lower side, receives the inspection object from the first inspection drum, and reverses the inspection object from the transport state of the first inspection drum. A second inspection drum that rotates while being held on the surface, a first appearance inspection device that inspects the appearance of the inspected article held on the outer peripheral surface of the first inspection drum, and an outer peripheral surface of the second inspection drum. A second appearance inspection device for inspecting the appearance of the held article to be inspected is provided, and the first appearance inspection device and the second appearance inspection device are any one of claims 1 to 6. The appearance inspection device is equipped with And said that you are.

本発明の物品の外観検査装置によれば、被検査物品の側面からの反射光を反射させる反射手段と、被検査物品を照射する照明手段と、反射手段から出射された光および被検査物品の上面からの反射光を撮像する撮像手段と、撮像手段からの映像信号を処理する処理手段とを備え、反射手段が、被検査物品の上面側から見たときに前記被検査物品を取り囲むように配置された複数の反射体を備えたものであり、前記照明手段が、隣り合う前記反射体の間から前記被検査物品の少なくとも上面を照射する上面照明手段を備えているので、被検査物品の上面と側面とを同時に撮像して検査でき、被検査物品の上面を照射する光の強度が十分に得られ、被検査物品の上面を高精度で検査できる。   According to the article appearance inspection apparatus of the present invention, the reflecting means for reflecting the reflected light from the side surface of the inspected article, the illuminating means for irradiating the inspected article, the light emitted from the reflecting means and the inspected article An imaging means for imaging reflected light from the upper surface and a processing means for processing a video signal from the imaging means, the reflecting means surrounds the inspected article when viewed from the upper surface side of the inspected article. A plurality of reflectors arranged, and the illumination means includes upper surface illumination means for irradiating at least the upper surface of the article to be inspected from between the adjacent reflectors. The upper surface and the side surface can be imaged and inspected at the same time, the intensity of light irradiating the upper surface of the inspected article can be sufficiently obtained, and the upper surface of the inspected article can be inspected with high accuracy.

また、本発明の物品の外観検査装置において、前記反射体の前記被検査物品側の面が複数の平面からなる場合には、被検査物品の外形形状に対応して反射体の配置を変更することにより、被検査物品の側面全周から反射される反射光を反射可能な反射手段とすることができる。よって、外観検査を行っても検査されない領域である死角のない外観検査装置とすることができ、被検査物品の側面を高精度で検査できるものとなる。したがって、被検査物品の外形形状が、被検査物品の上面側から見たときに円形、長円、楕円、多角形などのいかなる形状である場合であっても、被検査物品の外形形状に関わらず、被検査物品の上面および側面を高精度で検査できる。
また、本発明の物品の外観検査装置において、反射体の被検査物品側の面が複数の平面からなるものである場合、反射体の被検査物品側の面が被検査物品の形状に対応する曲面である場合と比較して、被検査物品の上面と側面との境界部分であるエッジ部に対する検査感度の高いものとなる。
Further, in the appearance inspection apparatus for an article according to the present invention, when the surface on the inspected article side of the reflector is composed of a plurality of planes, the arrangement of the reflector is changed corresponding to the outer shape of the inspected article. Thereby, it can be set as the reflection means which can reflect the reflected light reflected from the perimeter of the side surface of the article to be inspected. Therefore, it can be set as the external appearance inspection apparatus without a blind spot which is an area | region which is not inspected even if an external appearance inspection is performed, and the side surface of the inspected article can be inspected with high accuracy. Therefore, even if the outer shape of the inspected article is any shape such as a circle, an ellipse, an ellipse, or a polygon when viewed from the upper surface side of the inspected article, Therefore, the upper surface and the side surface of the inspected article can be inspected with high accuracy.
Further, in the appearance inspection apparatus for an article according to the present invention, when the surface on the inspected article side of the reflector is composed of a plurality of planes, the surface on the inspected article side of the reflector corresponds to the shape of the inspected article. Compared to the case of a curved surface, the inspection sensitivity with respect to the edge portion which is the boundary portion between the upper surface and the side surface of the inspected article is higher.

また、本発明の表面検査装置は、前記第1外観検査装置および前記第2外観検査装置として本発明の外観検査装置を備えたものであるので、被検査物品の上面と下面と側面とを容易に高精度で検査できる。また、本発明の表面検査装置によれば、被検査物品の側面が、前記第1外観検査装置および前記第2外観検査装置によって2回にわたって検査されるので、被検査物品の側面を高精度で検査できる。   Moreover, since the surface inspection apparatus of the present invention includes the appearance inspection apparatus of the present invention as the first appearance inspection apparatus and the second appearance inspection apparatus, the upper surface, the lower surface, and the side surface of the article to be inspected can be easily obtained. Can be inspected with high accuracy. Further, according to the surface inspection apparatus of the present invention, the side surface of the inspected article is inspected twice by the first appearance inspection apparatus and the second appearance inspection apparatus. Can be inspected.

次に、本発明の物品の外観検査装置および表面検査装置について図面を用いて詳細に説明する。
図1は本発明に係る物品の外観検査装置を備えた本発明の表面検査装置の全体構成を示す図である。図1に示す表面検査装置は、ステージ1に立設された壁部2により水平に支持されて上下に隣接配置された表面検査ドラム5及び裏面検査ドラム6と、表面検査ドラム5に錠剤やキャンディー、チョコレートなどの被検査物品を供給するための供給装置7と、表面検査ドラム5の側方側に配置された第1外観検査装置8と、裏面検査ドラム6の側方側に配置された第2外観検査装置9と、裏面検査ドラム6からの検査後の良品を排出するための排出コンベア10と、裏面検査ドラム6からの検査後の不良品を回収するための受部11と、前記裏面検査ドラム6からの排出不良となった被検査物品を受けるための排出不良品の受部12とを主体として構成されている。
Next, an appearance inspection apparatus and a surface inspection apparatus for articles according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a surface inspection apparatus according to the present invention provided with an appearance inspection apparatus for articles according to the present invention. 1 includes a surface inspection drum 5 and a back surface inspection drum 6 that are horizontally supported by a wall portion 2 erected on a stage 1 and arranged adjacent to each other in the vertical direction, and tablets and candy on the surface inspection drum 5. , A supply device 7 for supplying an inspected article such as chocolate, a first appearance inspection device 8 disposed on the side of the surface inspection drum 5, and a first disposed on the side of the back surface inspection drum 6. 2 Appearance inspection device 9, discharge conveyor 10 for discharging the non-defective product after inspection from the back surface inspection drum 6, receiving part 11 for collecting defective products after inspection from the back surface inspection drum 6, and the back surface It is mainly composed of a defectively discharged product receiving portion 12 for receiving an inspected article that has been discharged from the inspection drum 6.

表面検査ドラム5(第1検査ドラム)は、被検査物品の上面を外側に向けた状態で被検査物品を外周面に吸着支持して保持しながら回転することにより、被検査物品を搬送するものである。表面検査ドラム5の下側には、図1に示すように、表面検査ドラム5に外周面を近接させた状態で裏面検査ドラム6(第2検査ドラム)が回転自在に設置されている。裏面検査ドラム6は、表面検査ドラム5から被検査物品を受け取って、被検査物品の下面を外側に向けた状態で被検査物品を外周面に吸着支持して保持しながら回転するものである。   The surface inspection drum 5 (first inspection drum) conveys the article to be inspected by rotating while holding the article to be inspected and supported on the outer peripheral surface with the upper surface of the article to be inspected facing outward. It is. As shown in FIG. 1, a back surface inspection drum 6 (second inspection drum) is rotatably installed below the surface inspection drum 5 with the outer peripheral surface being close to the surface inspection drum 5. The back surface inspection drum 6 receives the inspected article from the front surface inspection drum 5 and rotates while holding the inspected article by adsorbing and supporting the outer peripheral surface with the lower surface of the inspected article facing outward.

図1に示す表面検査ドラム5の左側上方には、ホッパ50に接続されてホッパ50の内部に収容されている被検査物品を表面検査ドラム5の上部側へ供給するための搬送装置7が組み込まれ、この搬送装置7に備えられている傾斜式のシュート52により被検査物品が表面検査ドラム5に供給される。
また、図1に示す裏面検査ドラム6の中央下方側には、逆V字型の搬送通路60が設置されている。搬送路60の分岐部分には通路切換弁61が組み込まれ、搬送路60の左側の分岐路62側には排出不良品を受けるための受部12が接続され、搬送路60の右側の分岐路63側には良品搬出用のコンベア装置10が接続されている。
A conveying device 7 connected to the hopper 50 and for supplying an object to be inspected accommodated in the hopper 50 to the upper side of the surface inspection drum 5 is incorporated in the upper left side of the surface inspection drum 5 shown in FIG. Then, an article to be inspected is supplied to the surface inspection drum 5 by an inclined chute 52 provided in the transport device 7.
Further, an inverted V-shaped conveyance path 60 is installed on the lower side of the center of the back surface inspection drum 6 shown in FIG. A passage switching valve 61 is incorporated in a branch portion of the conveyance path 60, and a receiving portion 12 for receiving a defective discharge product is connected to the branch path 62 on the left side of the conveyance path 60. A conveyor device 10 for carrying out non-defective products is connected to the 63 side.

図1に示す表面検査ドラム5の右側には、第1外観検査装置8がフレーム53に支持されて設置されている。第1外観検査装置8は、表面検査ドラム5の外周面に保持された被検査物品の外観を検査するためのものである。また、裏面検査ドラム6の左側方側には、第2外観検査装置9がフレーム54に支持されて設置されている。第2外観検査装置9は、裏面検査ドラム6の外周面に保持された被検査物品の外観を検査するためのものである。   On the right side of the surface inspection drum 5 shown in FIG. 1, a first appearance inspection device 8 is supported by a frame 53 and installed. The first appearance inspection device 8 is for inspecting the appearance of the article to be inspected held on the outer peripheral surface of the surface inspection drum 5. A second appearance inspection device 9 is supported by a frame 54 on the left side of the back surface inspection drum 6. The second appearance inspection device 9 is for inspecting the appearance of the article to be inspected held on the outer peripheral surface of the back surface inspection drum 6.

図1に示す表面検査装置では、第1外観検査装置8および第2外観検査装置9として、図2に示す物品の外観検査装置が備えられている。図2は、本発明の物品の外観検査装置の一例を示した概略構成図である。なお、図2おいては図面を見やすくするために、照明装置の記載を省略してある。また、図3は、図2に示す物品の外観検査装置を構成する反射手段と照明手段との配置関係を説明するための図であって、図3(a)は被検査物品を上面側から見たときの反射手段と照明手段と被検査物品との配置関係を示した図であり、図3(b)は被検査物品を側面側から見たときの反射手段と照明手段と被検査物品との配置関係を示した図である。また、図4は、図2に示す物品の外観検査装置を構成する反射体のうちの1つのみを示した拡大斜視図である。なお、本実施形態においては、被検査物品Sの形状が上面S1側から見たときに円形である場合の外観検査を行う外観検査装置について説明する。   The surface inspection apparatus shown in FIG. 1 includes the appearance inspection apparatus for articles shown in FIG. 2 as the first appearance inspection apparatus 8 and the second appearance inspection apparatus 9. FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an example of an article appearance inspection apparatus according to the present invention. In FIG. 2, the description of the lighting device is omitted to make the drawing easier to see. 3 is a diagram for explaining the positional relationship between the reflecting means and the illuminating means constituting the appearance inspection apparatus for an article shown in FIG. 2, and FIG. 3 (a) shows the article to be inspected from the upper surface side. FIG. 3B is a diagram showing the positional relationship among the reflecting means, the illuminating means, and the article to be inspected when viewed, and FIG. 3B shows the reflecting means, the illuminating means, and the inspected article when the inspected article is viewed from the side surface side. FIG. FIG. 4 is an enlarged perspective view showing only one of the reflectors constituting the appearance inspection apparatus for articles shown in FIG. In the present embodiment, an appearance inspection apparatus that performs an appearance inspection when the shape of the article S to be inspected is circular when viewed from the upper surface S1 side will be described.

図2に示す物品の外観検査装置は、反射手段20と照明手段(図2おいては図示略)と撮像手段30と処理手段(図示略)とを備えている。
撮像手段30は、図2に示すように、反射手段20から出射された出射光2dと、被検査物品Sの上面S1からの反射光2eとを撮像するものである。撮像手段30としては、撮像レンズとエリアセンサとからなるものなどを用いることができる。
また、処理手段は、撮像手段30からの映像信号を処理するものであり、図示しない接続手段により撮像手段30と電気的に接続されている。処理手段としては、例えば、PC(パーソナルコンピュータ)などを用いることができる。処理手段としての機能は、処理手段としての機能を実現するためのプログラムを、PCに備わるメモリにロードしてCPU(中央処理装置)が実行することによりその機能が実現されるものとする。また、PCとして、モニタを備えたものを用いることができる。モニタとしては、CRT(Cathode Ray Tube)や液晶ディスプレイ等からなる表示装置を用いることができる。
The article appearance inspection apparatus shown in FIG. 2 includes a reflection means 20, an illumination means (not shown in FIG. 2), an imaging means 30, and a processing means (not shown).
As shown in FIG. 2, the image pickup means 30 picks up the emitted light 2 d emitted from the reflection means 20 and the reflected light 2 e from the upper surface S <b> 1 of the article S to be inspected. As the imaging means 30, what consists of an imaging lens and an area sensor etc. can be used.
The processing means processes a video signal from the image pickup means 30 and is electrically connected to the image pickup means 30 by a connection means (not shown). As the processing means, for example, a PC (personal computer) or the like can be used. The function as the processing means is realized by loading a program for realizing the function as the processing means into a memory provided in the PC and executing it by a CPU (central processing unit). A PC equipped with a monitor can be used. As the monitor, a display device including a CRT (Cathode Ray Tube), a liquid crystal display, or the like can be used.

反射手段20は、図2に示すように、被検査物品Sの側面S2からの反射光2aを反射させるものである。反射手段20は、図3に示すように6個の反射体22と、反射体22の上部を挟み込むように支持するコ字状の支持部材23と、支持部材23が取り付けられた固定板21とを備えたものであり、6個の反射体22は、支持部材23と固定板21とによって所定の位置に固定されている。なお、固定板21は、リング状の形状とされており、反射体22から撮像手段30に向かって出射される出射光2dや、被検査物品Sの上面S1からの反射光2eを遮ることのないようになっている。   As shown in FIG. 2, the reflecting means 20 reflects the reflected light 2a from the side surface S2 of the article S to be inspected. As shown in FIG. 3, the reflecting means 20 includes six reflectors 22, a U-shaped support member 23 that supports the upper part of the reflector 22, and a fixing plate 21 to which the support member 23 is attached. The six reflectors 22 are fixed at predetermined positions by the support member 23 and the fixing plate 21. The fixing plate 21 has a ring shape and blocks the emitted light 2d emitted from the reflector 22 toward the imaging means 30 and the reflected light 2e from the upper surface S1 of the article S to be inspected. There is no such thing.

各反射体22は、ガラスなどからなるプリズムである。また、図2に示すように、反射体22は、すべて被検査物品Sの上面S1よりも上方向に配置されている。図3(a)に示すように、6個の反射体22は、被検査物品Sの上面S1側から見たときに被検査物品Sを中心として取り囲むように環状に配置されており、円形である被検査物品Sの外形と相似形状の軌跡上に等間隔で配置されている。また、図2に示す反射手段20では、図3(a)および図3(b)、図4に示すように、反射体22の被検査物品S側の面が3つの平面22aからなり、図3(a)に示すように、各反射体22の各平面22aが6角形の各辺に沿うようにそれぞれ配置されている。したがって、図2に示す反射手段20では、図3(a)に示すように、隣り合う2つの反射体22、22の平面22a、22aの延在方向のなす角度θは、120°とされている。   Each reflector 22 is a prism made of glass or the like. Further, as shown in FIG. 2, the reflectors 22 are all disposed above the upper surface S1 of the article S to be inspected. As shown in FIG. 3A, the six reflectors 22 are arranged in an annular shape so as to surround the inspected article S when viewed from the upper surface S1 side of the inspected article S, and are circular. It arrange | positions at equal intervals on the locus | trajectory similar to the external shape of a certain to-be-inspected article S. FIG. Further, in the reflecting means 20 shown in FIG. 2, as shown in FIGS. 3 (a), 3 (b) and 4, the surface of the reflector 22 on the inspected article S side consists of three planes 22a. As shown to 3 (a), each plane 22a of each reflector 22 is arrange | positioned so that each side of a hexagon may be followed. Therefore, in the reflecting means 20 shown in FIG. 2, as shown in FIG. 3A, the angle θ formed between the extending directions of the planes 22a and 22a of the two adjacent reflectors 22 and 22 is 120 °. Yes.

また、図3(a)および図4に示すように、各反射体22は、一定の厚みを有する板状のものである。図4に示すように、反射体22の被検査物品S側の面を構成する3つの平面22aのうち、最も被検査物品Sに近い位置には第1平面22cが設けられており、最も被検査物品Sから遠い位置には第3平面22eが設けられており、第1平面22cと第3平面22eとの間には第2平面22dが設けられている。図4に示すように、第1平面22cは、被検査物品Sに向かって傾けられている。また、第3平面22eは、図4に示すように、被検査物品Sの側面S2と平行とされているが、被検査物品Sに向かって傾けられていてもよい。また、第2平面22dは、図4に示すように、被検査物品Sに向かって傾けられているが、第2平面22dの延在方向は第1平面22cよりも被検査物品Sの側面S2の延在方向に近いものとされている。   Moreover, as shown to Fig.3 (a) and FIG. 4, each reflector 22 is a plate-shaped thing which has fixed thickness. As shown in FIG. 4, a first plane 22c is provided at a position closest to the inspected article S among the three planes 22a constituting the surface of the reflector 22 on the inspected article S side. A third plane 22e is provided at a position far from the inspection article S, and a second plane 22d is provided between the first plane 22c and the third plane 22e. As shown in FIG. 4, the first plane 22 c is inclined toward the article S to be inspected. Further, as shown in FIG. 4, the third plane 22e is parallel to the side surface S2 of the article S to be inspected, but may be inclined toward the article S to be inspected. Further, as shown in FIG. 4, the second plane 22d is inclined toward the inspected article S, but the extending direction of the second plane 22d is the side surface S2 of the inspected article S rather than the first plane 22c. It is supposed to be close to the extending direction.

また、図4に示すように、3つの平面22aには、被検査物品Sの側面S2からの反射光2aのうち別の反射体22には反射されない反射光2aを反射させる固有反射領域24と、固有反射領域24の外側に配置され、隣り合う別の反射体22にも反射される反射光2aを反射させるオーバーラップ反射領域25とが設けられている。   Further, as shown in FIG. 4, the three planes 22 a have intrinsic reflection areas 24 that reflect the reflected light 2 a that is not reflected by another reflector 22 among the reflected light 2 a from the side surface S 2 of the article S to be inspected. An overlap reflection area 25 is provided that reflects the reflected light 2 a that is disposed outside the intrinsic reflection area 24 and is also reflected by another adjacent reflector 22.

また、図4に示すように、反射体22の被検査物品Sと反対側の面である外面22fは、1つの平面からなるものであり、被検査物品Sの側面S2と平行とされているが、被検査物品Sに向かって傾けられていてもよい。また、反射体22の天面22gは、1つの平面からなるものであり、被検査物品Sの側面S2に直交する方向に延在していてもよいが、図2に示すように、撮像手段30に向かって傾けられていてもよい。天面22gの角度を、被検査物品Sの側面S2に直交する方向から撮像手段30に向かって傾けた場合、反射手段20から出射される出射光2dを撮像手段30の中心寄りの位置に集めることができるので、撮像手段30の分解能を有効利用することができ、より一層、検査精度を向上させることができる。   Further, as shown in FIG. 4, the outer surface 22 f that is the surface of the reflector 22 on the side opposite to the inspected article S is composed of one plane and is parallel to the side surface S <b> 2 of the inspected article S. However, it may be inclined toward the article S to be inspected. Further, the top surface 22g of the reflector 22 is composed of one plane and may extend in a direction orthogonal to the side surface S2 of the article S to be inspected. However, as shown in FIG. It may be inclined toward 30. When the angle of the top surface 22g is tilted toward the imaging means 30 from the direction orthogonal to the side surface S2 of the article S to be inspected, the emitted light 2d emitted from the reflecting means 20 is collected at a position near the center of the imaging means 30. Therefore, the resolution of the imaging means 30 can be used effectively, and the inspection accuracy can be further improved.

図2に示す反射手段20を構成する反射体22では、被検査物品Sの側面S2からの反射光2aは、図4に示すように、第1平面22cから反射体22に入射し、外面22fで反射される。外面22fで反射された反射光2bは、第2平面22dで反射される。そして、第2平面22dで反射された反射光2cは、図2および図4に示すように、天面22gを介して撮像手段30に向かって出射光2dとして出射される。   In the reflector 22 constituting the reflecting means 20 shown in FIG. 2, the reflected light 2a from the side surface S2 of the article S to be inspected enters the reflector 22 from the first plane 22c as shown in FIG. 4, and the outer surface 22f. Reflected by. The reflected light 2b reflected by the outer surface 22f is reflected by the second plane 22d. Then, the reflected light 2c reflected by the second plane 22d is emitted as emitted light 2d toward the imaging means 30 through the top surface 22g, as shown in FIGS.

なお、図3に示す反射手段20では、被検査物品Sの形状が上面S1側から見たときに円形であって反射体22の数が6個である場合を例に挙げて説明したが、反射体22の数は、複数であればよく、反射体22の数は6個に限定されるものではない。反射体22の数は、4〜12の範囲であることが好ましく、6〜8の範囲であることがさらに好ましい。
反射体22の数が4〜12の範囲であると、図3(a)および図3(b)、図4に示すように、反射体22の被検査物品S側の面が複数の平面22aからなる場合に、容易に被検査物品Sの側面S2全周から反射される反射光2aを反射可能な反射手段20とすることができ、外観検査を行っても検査されない領域である死角のない外観検査装置とすることができる。また、反射体22の数が6〜8の範囲であると、被検査物品Sの上面S1側から見たときに、被検査物品Sの側面S2と平行に近い角度で配置される反射体22の平面22aの割合が多くなり、被検査物品Sの側面S2の外観検査の精度を向上させることができる。
In the reflection means 20 shown in FIG. 3, the case where the shape of the article S to be inspected is circular when viewed from the upper surface S1 side and the number of the reflectors 22 is six is described as an example. The number of the reflectors 22 should just be plural, and the number of the reflectors 22 is not limited to six. The number of the reflectors 22 is preferably in the range of 4 to 12, and more preferably in the range of 6 to 8.
When the number of the reflectors 22 is in the range of 4 to 12, as shown in FIGS. 3A, 3B, and 4, the surface of the reflector 22 on the inspected article S side has a plurality of flat surfaces 22a. The reflection means 20 that can easily reflect the reflected light 2a that is reflected from the entire circumference of the side surface S2 of the article S to be inspected can be used, and there is no blind spot that is an area that is not inspected even when an appearance inspection is performed. It can be set as an appearance inspection apparatus. Further, when the number of the reflectors 22 is in the range of 6 to 8, the reflectors 22 are arranged at an angle close to the side surface S2 of the article S to be inspected when viewed from the upper surface S1 side of the article S to be inspected. The ratio of the flat surface 22a increases, and the accuracy of appearance inspection of the side surface S2 of the article S to be inspected can be improved.

また、被検査物品Sの形状が上面S1側から見たときに円形である場合、反射体22の数が12を超えると、上面照明手段41を配置するための十分なスペースが確保しにくくなるため好ましくない。また、反射手段20から出射された光から得られる映像信号は、被検査物品Sの側面S2が反射体22の数に対応する数に分割されたものとなる。このため、反射体22の数が12を超えると、反射手段20から出射された光から得られる映像信号の分割数が多くなりすぎて、例えば、被検査物品Sの側面S2の欠けなどが複数の分割された映像信号となって、欠けの形状が確認しにくくなるなどの不都合が生じ、被検査物品Sの側面S2の外観検査の精度が低下する場合がある。   Further, when the shape of the article S to be inspected is circular when viewed from the upper surface S1 side, if the number of the reflectors 22 exceeds 12, it is difficult to secure a sufficient space for arranging the upper surface illumination means 41. Therefore, it is not preferable. Further, the video signal obtained from the light emitted from the reflecting means 20 is obtained by dividing the side surface S2 of the inspected article S into a number corresponding to the number of the reflectors 22. For this reason, when the number of the reflectors 22 exceeds 12, the number of divisions of the video signal obtained from the light emitted from the reflecting means 20 becomes too large, for example, there are a plurality of defects on the side surface S2 of the article S to be inspected. In some cases, such as the divided video signal, it becomes difficult to confirm the shape of the chipped portion, and the accuracy of the appearance inspection of the side surface S2 of the article S to be inspected may be lowered.

図2に示す反射手段20を構成する照明手段40は、被検査物品Sを照射するものであり、複数のLED(発光ダイオード)などからなるものである。照明手段40は、図3(a)および図3(b)に示すように、上面照明手段41と側面照明手段42を備えている。
上面照明手段41は、図3(a)および図3(b)に示すように、隣り合う反射体22の間から被検査物品Sの上面S1を照射するものであり、被検査物品Sの上面S1および側面S2に対して傾斜する角度で被検査物品Sの厚み方向に並べられた2つのLED41a、41aを有する6個の照明装置41bから構成されている。なお、上面照明手段41は、被検査物品Sの上面S1だけでなく側面S2をも照明できるように、LEDの個数や照明強度、照明方向が変更されたものであってもよい。
また、側面照明手段42は、被検査物品Sの側面を照射するものであり、図3(b)に示すように、反射手段20よりも被検査物品Sに近い位置に配置されている。また、側面照明手段42は、図3(a)に示すように、被検査物品Sの上面S1側から見たときに被検査物品Sを中心として取り囲むように配置されたリング状のものであり、複数のLED42aが環状に配置されてなるものである。
The illuminating means 40 constituting the reflecting means 20 shown in FIG. 2 irradiates the article S to be inspected, and includes a plurality of LEDs (light emitting diodes) and the like. The illumination means 40 includes a top illumination means 41 and a side illumination means 42 as shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b).
As shown in FIGS. 3A and 3B, the upper surface illumination unit 41 irradiates the upper surface S <b> 1 of the inspected article S from between the adjacent reflectors 22. It consists of six illuminating devices 41b having two LEDs 41a and 41a arranged in the thickness direction of the inspected article S at an angle inclined with respect to S1 and the side surface S2. The upper surface illumination means 41 may be one in which the number of LEDs, the illumination intensity, and the illumination direction are changed so that not only the upper surface S1 but also the side surface S2 of the article S to be inspected can be illuminated.
The side illumination means 42 illuminates the side surface of the article S to be inspected, and is arranged at a position closer to the article S to be inspected than the reflecting means 20 as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 3 (a), the side illumination means 42 is a ring-shaped member disposed so as to surround the inspected article S when viewed from the upper surface S1 side of the inspected article S. A plurality of LEDs 42a are annularly arranged.

次に、図1に示す表面検査ドラム5と裏面検査ドラム6を用いて被検査物品Sの外観を検査する動作と方法について説明する。
まず、表面検査ドラム5を時計方向に回転させるとともに、裏面検査ドラム6を反時計方向に回転させて、シュート52から被検査物品Sを順次表面検査ドラム5に供給する。供給された被検査物品Sは、上面S1を外側に向けた状態で表面検査ドラム5の外周面上に吸着支持される。そして、表面検査ドラム5の回転によって外周面に保持された被検査物品Sは、第1外観検査装置8と対向する位置まで搬送され、図2に示す物品の外観検査装置によって、上面S1および側面S2の外観が検査される。
Next, the operation and method for inspecting the appearance of the article S to be inspected using the front surface inspection drum 5 and the back surface inspection drum 6 shown in FIG. 1 will be described.
First, the surface inspection drum 5 is rotated in the clockwise direction, and the back surface inspection drum 6 is rotated in the counterclockwise direction, so that the articles S to be inspected are sequentially supplied from the chute 52 to the surface inspection drum 5. The supplied article S to be inspected is adsorbed and supported on the outer peripheral surface of the surface inspection drum 5 with the upper surface S1 facing outward. Then, the article S to be inspected held on the outer peripheral surface by the rotation of the surface inspection drum 5 is transported to a position facing the first appearance inspection device 8, and the upper surface S1 and the side surface are examined by the appearance inspection device for articles shown in FIG. The appearance of S2 is inspected.

ここでの被検査物品Sの外観検査では、被検査物品Sの上面S1および側面S2は、図3に示す照明手段40の上面照明手段41および側面照明手段42によって明るく照らされた状態とされる。そして、被検査物品Sの側面S2で反射された反射光2aは、図2に示すように、反射手段20の反射体22に入射し、反射体22内で2回反射された後、撮像手段30に向かって出射光2dとして出射される。続いて、反射手段20から出射された出射光2dおよび被検査物品Sの上面S1からの反射光2eが撮像手段30によって撮像される。その後、処理手段によって撮像手段からの映像信号が処理されることによって、被検査物品Sの上面S1および側面S2に、異物の付着や汚れ、欠けや割れ等の変形、あるいは印刷不良などの欠陥が生じているか否かが検査される。   In the appearance inspection of the inspected article S here, the top surface S1 and the side surface S2 of the inspected article S are brightly illuminated by the top surface illumination means 41 and the side surface illumination means 42 of the illumination means 40 shown in FIG. . Then, as shown in FIG. 2, the reflected light 2a reflected by the side surface S2 of the article S to be inspected enters the reflector 22 of the reflector 20 and is reflected twice in the reflector 22, and then the imaging means. 30 is emitted as outgoing light 2d. Subsequently, the imaging unit 30 images the outgoing light 2d emitted from the reflecting unit 20 and the reflected light 2e from the upper surface S1 of the article S to be inspected. Thereafter, the video signal from the imaging means is processed by the processing means, so that the top surface S1 and the side surface S2 of the inspected article S have defects such as adhesion of foreign matter, dirt, deformation such as chipping and cracking, or defective printing. It is checked whether it has occurred.

第1外観検査装置8において外観検査された被検査物品Sは、図1に示すように、表面検査ドラム5の回転によって下降し、裏面検査ドラム6に接近した位置で、裏面検査ドラム6の外周面に裏返しの状態(表面検査ドラム5の外周面上での下面を外側に向けた状態)で吸着支持され、裏面検査ドラム6の回転によって反時計方向に回転移動する。そして、裏返しの状態の被検査物品Sが、裏面検査ドラム6の回転によって第2外観検査装置9と対向する位置まで搬送されると、第1外観検査装置8とは別個で同じ構成の図2に示す物品の外観検査装置によって、第1外観検査装置8での外観検査と同様に、裏返しの状態の被検査物品Sの上面S1および側面S2の外観が検査される。   As shown in FIG. 1, the inspected article S whose appearance has been inspected by the first appearance inspection apparatus 8 is lowered by the rotation of the surface inspection drum 5, and at the position close to the back surface inspection drum 6, the outer periphery of the back surface inspection drum 6. It is sucked and supported in a state of being turned upside down (a state in which the lower surface on the outer peripheral surface of the surface inspection drum 5 faces outward), and rotates and moves counterclockwise by the rotation of the back surface inspection drum 6. Then, when the inspected article S in an inverted state is conveyed to a position facing the second appearance inspection device 9 by the rotation of the back surface inspection drum 6, it is separate from the first appearance inspection device 8 and has the same configuration as FIG. As in the appearance inspection by the first appearance inspection apparatus 8, the appearance of the upper surface S1 and the side surface S2 of the inspected article S in the inverted state is inspected by the article appearance inspection device shown in FIG.

なお、第2外観検査装置9においては、第1外観検査装置8において、反射体22の被検査物品S側の面を構成する平面22aと直交する位置に配置されていた被検査物品Sの側面S2が、平面22aと直交しない位置となるように、被検査物品Sの側面S2に対する反射手段20の反射体22の相対的な位置を異ならせることが好ましい。具体的には、第1外観検査装置8において、反射体22の被検査物品S側の面を構成する平面22aと直交する位置に配置された被検査物品Sの側面S2の直径方向が、第2外観検査装置9においては、隣り合う反射体22の間に位置するようにすることが好ましい。このように第1外観検査装置8と第2外観検査装置9とにおいて、被検査物品Sの側面S2に対する反射手段20の反射体22の相対的な位置を異ならせた場合には、各反射体22から出射される出射光2dが、第1外観検査装置8と第2外観検査装置9とで被検査物品Sの側面S2上の異なる領域に対応するものとなるので、第1外観検査装置8において検出されなかった欠陥が、第2外観検査装置9において検出されやすいものとなる。したがって、第1外観検査装置8と第2外観検査装置9とで、被検査物品Sの側面S2に対する反射手段20の反射体22の相対的な位置を異ならせた場合、上記の相対的な位置変えない場合と比較して、被検査物品Sの側面S2の検査精度を向上させることができる。   In the second appearance inspection apparatus 9, the side surface of the inspected article S arranged in the first appearance inspection apparatus 8 at a position orthogonal to the plane 22a constituting the surface of the reflector 22 on the inspected article S side. It is preferable that the relative position of the reflector 22 of the reflecting means 20 with respect to the side surface S2 of the article S to be inspected is different so that S2 is not perpendicular to the flat surface 22a. Specifically, in the first appearance inspection apparatus 8, the diameter direction of the side surface S2 of the inspected article S arranged at a position orthogonal to the plane 22a constituting the surface of the reflector 22 on the inspected article S side is the first. In the 2 visual inspection apparatus 9, it is preferable to be located between the adjacent reflectors 22. In this way, in the first appearance inspection apparatus 8 and the second appearance inspection apparatus 9, when the relative position of the reflector 22 of the reflecting means 20 with respect to the side surface S2 of the article S to be inspected is different, each reflector Since the emitted light 2d emitted from 22 corresponds to different areas on the side surface S2 of the article S to be inspected in the first appearance inspection apparatus 8 and the second appearance inspection apparatus 9, the first appearance inspection apparatus 8 Defects that are not detected in step 2 are likely to be detected in the second appearance inspection apparatus 9. Therefore, when the relative position of the reflector 22 of the reflecting means 20 with respect to the side surface S2 of the article S to be inspected is different between the first appearance inspection device 8 and the second appearance inspection device 9, the above-described relative position. Compared with the case where it does not change, the inspection accuracy of the side surface S2 of the article S to be inspected can be improved.

第2外観検査装置9において外観検査された被検査物品Sは、図1に示すように、裏面検査ドラム6の回転によって下降し、第1外観検査装置8および第2外観検査装置9での外観検査で不良品とされた被検査物品Sは受部11に回収され、良品とされた被検査物品Sは搬送通路60を介して搬送コンベア10側あるいは受部12側に回収される。   As shown in FIG. 1, the article S to be inspected by the second appearance inspection device 9 is lowered by the rotation of the back surface inspection drum 6, and the appearance by the first appearance inspection device 8 and the second appearance inspection device 9 is lowered. The inspected article S that has been inferior in the inspection is collected in the receiving unit 11, and the inspected article S that has been made a non-defective product is collected through the conveyance path 60 to the conveyor 10 side or the receiving unit 12 side.

本実施形態の外観検査装置は、被検査物品Sの側面S2からの反射光2aを反射させる反射手段20と、被検査物品Sを照射する照明手段40と、反射手段Sから出射された出射光2dおよび被検査物品Sの上面S1からの反射光2eを撮像する撮像手段30と、撮像手段30からの映像信号を処理する処理手段とを備え、反射手段20が、被検査物品Sの上面S1側から見たときに被検査物品Sを取り囲むように配置された複数の反射体22を備えたものであり、照明手段40が、隣り合う反射体22の間から被検査物品Sの上面S1を照射する上面照明手段41を備えているので、被検査物品Sの上面S1と側面S2とを同時に撮像して検査でき、被検査物品の上面を照射する光の強度が十分に得られ、被検査物品の上面を高精度で検査できる。   The appearance inspection apparatus according to the present embodiment includes a reflection unit 20 that reflects the reflected light 2a from the side surface S2 of the article S to be inspected, an illumination unit 40 that irradiates the article S to be inspected, and an outgoing light emitted from the reflection unit S. 2d and imaging means 30 for imaging the reflected light 2e from the upper surface S1 of the article S to be inspected, and processing means for processing a video signal from the imaging means 30. The reflecting means 20 is provided on the upper surface S1 of the article S to be inspected. A plurality of reflectors 22 are arranged so as to surround the article to be inspected S when viewed from the side, and the illuminating means 40 has an upper surface S1 of the article to be inspected S between the adjacent reflectors 22. Since the upper surface illumination means 41 for irradiating is provided, the upper surface S1 and the side surface S2 of the article S to be inspected can be imaged and inspected at the same time, and the intensity of light irradiating the upper surface of the article to be inspected can be obtained sufficiently. Inspection of the upper surface of the article with high accuracy Kill.

また、本実施形態の物品の外観検査装置においては、反射体22が、被検査物品Sの側面S2からの反射光2aのうち別の反射体22には反射されない反射光2aを反射させる固有反射領域24と、固有反射領域24の外側に配置され、隣り合う別の反射体22にも反射される反射光2aを反射させるオーバーラップ反射領域25とを有するものであるので、以下に示すように、被検査物品Sの上面S1および側面S2をより一層高精度で検査できる。   Further, in the appearance inspection apparatus for articles according to the present embodiment, the reflector 22 reflects the reflected light 2a that is not reflected by another reflector 22 out of the reflected light 2a from the side surface S2 of the article S to be inspected. Since it has the area | region 24 and the overlap reflection area | region 25 which is arrange | positioned on the outer side of the intrinsic | native reflection area | region 24, and reflects the reflected light 2a reflected also by another adjacent reflector 22, as shown below The upper surface S1 and the side surface S2 of the article S to be inspected can be inspected with higher accuracy.

すなわち、反射手段20から出射された出射光2dから得られる映像信号は、被検査物品Sの側面S2が反射体22の数に対応する数に分割されたものとなる。反射体22が、固有反射領域24とオーバーラップ反射領域25とを有するものである場合、隣り合う2つの反射体22にそれぞれ設けられているオーバーラップ反射領域23によって、被検査物品Sの分割された部分からの反射光2aが反射されるので、被検査物品Sの分割された部分が、2方向の角度から二重に検査されることになる。したがって、被検査物品Sの分割された部分の検査精度が高精度となり、被検査物品Sの上面S1および側面S2をより一層高精度で検査できる。   That is, the video signal obtained from the outgoing light 2d emitted from the reflecting means 20 is obtained by dividing the side surface S2 of the article S to be inspected into a number corresponding to the number of the reflectors 22. When the reflector 22 has the intrinsic reflection area 24 and the overlap reflection area 25, the article S to be inspected is divided by the overlap reflection areas 23 respectively provided in the two adjacent reflectors 22. Since the reflected light 2a from the reflected part is reflected, the divided part of the article S to be inspected is double-inspected from angles in two directions. Therefore, the inspection accuracy of the divided part of the inspected article S becomes high, and the upper surface S1 and the side surface S2 of the inspected article S can be inspected with higher accuracy.

また、本実施形態の物品の外観検査装置においては、複数の反射体22が、被検査物品Sの上面S1側から見たときの被検査物品Sの外形と相似形状の軌跡上に等間隔で配置されているので、反射手段20から出射された出射光2dから得られる映像信号と、被検査物品Sの外形との相関関係が確認しやすいものとなり、被検査物品Sの上面S1および側面S2の検査精度をより一層高精度とすることができる。   In the article appearance inspection apparatus according to the present embodiment, the plurality of reflectors 22 are equally spaced on a locus having a shape similar to the outer shape of the article S to be inspected when viewed from the upper surface S1 side of the article S to be inspected. Therefore, the correlation between the video signal obtained from the emitted light 2d emitted from the reflecting means 20 and the outer shape of the article S to be inspected can be easily confirmed, and the upper surface S1 and the side surface S2 of the article S to be inspected. The inspection accuracy can be further increased.

また、本実施形態の物品の外観検査装置においては、照明手段40が、被検査物品Sの側面S2を照射する側面照明手段42を備えており、側面照明手段42が、反射手段20よりも被検査物品Sに近い位置に配置され、被検査物品Sの上面S1側から見たときに被検査物品Sを中心として取り囲むように配置されたリング状のものであるので、被検査物品Sの側面S2を照射する光の強度が十分に高いものとなり、被検査物品Sの側面S2をより一層高精度で検査できるものとなる。   In the article appearance inspection apparatus according to the present embodiment, the illumination unit 40 includes the side illumination unit 42 that irradiates the side surface S2 of the article S to be inspected, and the side illumination unit 42 is more covered than the reflection unit 20. Since it is a ring-shaped object that is arranged at a position close to the inspection article S and that surrounds the inspection article S when viewed from the upper surface S1 side of the inspection article S, the side surface of the inspection article S The intensity of the light irradiated with S2 is sufficiently high, and the side surface S2 of the article S to be inspected can be inspected with higher accuracy.

また、本実施形態の物品の外観検査装置においては、反射体22が、被検査物品Sの上面S1よりも上方向に配置されているので、反射体22が被検査物品Sの搬送を妨げることがない。したがって、被検査物品Sの上面S1側から見たときの各反射体22の位置を被検査物品Sに近づけて配置できる。その結果、反射体22と被検査物品Sとの距離が近くなり、被検査物品Sの上面S1および側面S2を高い解像度で撮像でき、より一層高精度で検査できる。
これに対し、反射体22が被検査物品Sの上面S1よりも下方向に配置されている場合には、隣り合う反射体22の間に被検査物品Sを搬送するためのスペースが必要となる。このため、反射体22が被検査物品Sの上面S1よりも上方向に配置されている場合と比較して、被検査物品Sの上面S1側から見たときの各反射体22の位置を被検査物品Sから離さなければならなくなり、反射体22と被検査物品Sとの距離が遠くなり、解像度が低くなってしまう。
Further, in the appearance inspection apparatus for an article according to the present embodiment, the reflector 22 is disposed above the upper surface S1 of the article S to be inspected, so that the reflector 22 prevents the article S from being conveyed. There is no. Therefore, the position of each reflector 22 when viewed from the upper surface S1 side of the inspected article S can be arranged close to the inspected article S. As a result, the distance between the reflector 22 and the article S to be inspected is reduced, and the upper surface S1 and the side surface S2 of the article S to be inspected can be imaged with high resolution, and inspection can be performed with higher accuracy.
On the other hand, when the reflector 22 is disposed below the upper surface S1 of the article S to be inspected, a space for transporting the article S to be inspected between the adjacent reflectors 22 is required. . For this reason, the position of each reflector 22 when viewed from the upper surface S1 side of the article S to be inspected is compared with the case where the reflector 22 is arranged above the upper surface S1 of the article S to be inspected. It must be separated from the inspection article S, the distance between the reflector 22 and the article S to be inspected is increased, and the resolution is lowered.

また、本実施形態の表面検査装置は、第1外観検査装置8および第2外観検査装置9として本実施形態の外観検査装置を備えたものであるので、被検査物品Sの上面S1と下面と側面S2とを容易に高精度で検査できる。しかも、本実施形態の表面検査装置によれば、被検査物品Sの側面S2が、第1外観検査装置8および第2外観検査装置9によって2回にわたって検査されるので、被検査物品Sの側面S2をより一層高精度で検査できる。   Moreover, since the surface inspection apparatus of this embodiment is provided with the appearance inspection apparatus of this embodiment as the first appearance inspection apparatus 8 and the second appearance inspection apparatus 9, the upper surface S1 and the lower surface of the article S to be inspected. The side surface S2 can be easily inspected with high accuracy. Moreover, according to the surface inspection apparatus of the present embodiment, the side surface S2 of the article S to be inspected is inspected twice by the first appearance inspection apparatus 8 and the second appearance inspection apparatus 9, and therefore the side surface of the article S to be inspected. S2 can be inspected with higher accuracy.

なお、本発明の物品の外観検査装置および表面検査装置は、上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、反射体の数や形状・配置は、上述した実施形態に限定されるものではない。
また、被検査物品の外形形状は、被検査物品の上面側から見たときに円形であるものに限定されるものではなく、被検査物品の上面側から見たときに長円、楕円、多角形など、いかなる形状であってもよい。
The appearance inspection apparatus and the surface inspection apparatus for articles according to the present invention are not limited to the above-described embodiments. For example, the number, shape, and arrangement of the reflectors are not limited to the above-described embodiment.
Further, the outer shape of the article to be inspected is not limited to a circular shape when viewed from the upper surface side of the article to be inspected. Any shape such as a square may be used.

「実験例」
以下、本発明の実施例および比較例について説明する。
「実施例」
反射手段として図5に示す反射手段を備えた図2に示す物品の外観検査装置を用いて、実施例の被検査物品Sの上面S1および側面S2の外観検査を行なった。その結果を図6に示す。図6は、実施例の被検査物品の外観検査の結果であり、処理手段によって処理された撮像信号から得られた画像である。なお、図5に示す反射手段の写真は、反射手段を上下逆さまに設置して撮影したものである。
"Experimental example"
Examples of the present invention and comparative examples will be described below.
"Example"
Using the article appearance inspection apparatus shown in FIG. 2 provided with the reflection means shown in FIG. 5 as the reflection means, the appearance inspection of the upper surface S1 and the side surface S2 of the inspected article S of the example was performed. The result is shown in FIG. FIG. 6 is a result of the appearance inspection of the inspected article of the example, and is an image obtained from the imaging signal processed by the processing means. The photograph of the reflecting means shown in FIG. 5 was taken with the reflecting means installed upside down.

「比較例」
上面照明手段41を備えていないこと以外は実施例と同じ物品の外観検査装置を用いて、実施例と同じ被検査物品Sの上面S1および側面S2の外観検査を行なった。その結果を図7に示す。図7は、比較例の被検査物品の外観検査の結果であり、処理手段によって処理された撮像信号から得られた画像である。
"Comparative example"
The appearance inspection of the upper surface S1 and the side surface S2 of the article S to be inspected was the same as in the example using the same appearance inspection apparatus as that in the example except that the upper surface illumination means 41 was not provided. The result is shown in FIG. FIG. 7 is a result of the appearance inspection of the article to be inspected of the comparative example, and is an image obtained from the imaging signal processed by the processing means.

図6および図7より、本発明の実施例である図6では、比較例である図7と比較して被検査物品の上面の画像が明るく鮮明であり、被検査物品の上面を高精度で検査できることが明らかとなった。   6 and 7, in FIG. 6, which is an example of the present invention, the image of the upper surface of the inspected article is brighter and clearer than in the comparative example of FIG. 7, and the upper surface of the inspected article is highly accurate. It became clear that it could be inspected.

図1は、本発明に係る物品の外観検査装置を備えた本発明の表面検査装置の全体構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a surface inspection apparatus according to the present invention including an appearance inspection apparatus for articles according to the present invention. 図2は、本発明の物品の外観検査装置の一例を示した概略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an example of an article appearance inspection apparatus according to the present invention. 図3は、図2に示す物品の外観検査装置を構成する反射手段と照明手段との配置関係を説明するための図である。FIG. 3 is a view for explaining the arrangement relationship between the reflecting means and the illuminating means constituting the article appearance inspection apparatus shown in FIG. 図4は、図2に示す物品の外観検査装置を構成する反射体のうちの1つのみを示した拡大斜視図である。FIG. 4 is an enlarged perspective view showing only one of the reflectors constituting the article appearance inspection apparatus shown in FIG. 図5は、実施例で用いた物品の外観検査装置を構成する反射手段の写真である。FIG. 5 is a photograph of the reflecting means constituting the article appearance inspection apparatus used in the examples. 図6は、実施例の被検査物品の外観検査の結果であり、処理手段によって処理された撮像信号から得られた画像である。FIG. 6 is a result of the appearance inspection of the inspected article of the example, and is an image obtained from the imaging signal processed by the processing means. 図7は、比較例の被検査物品の外観検査の結果であり、処理手段によって処理された撮像信号から得られた画像である。FIG. 7 is a result of the appearance inspection of the article to be inspected of the comparative example, and is an image obtained from the imaging signal processed by the processing means.

符号の説明Explanation of symbols

2a…反射光、2b…反射光、2c…反射光、2d…出射光、2e…反射光、5…表面(第1)検査ドラム、6…裏面(第2)検査ドラム、8…第1外観検査装置、9…第2外観検査装置、20…反射手段、22…反射体、22a…平面、22f…外面、22g…天面、24…固有反射領域、25…オーバーラップ反射領域、30…撮像手段、40…照明手段、41…上面照明手段、42…側面照明手段、S…被検査物品、S1…上面、S2…側面。


2a ... reflected light, 2b ... reflected light, 2c ... reflected light, 2d ... outgoing light, 2e ... reflected light, 5 ... front surface (first) inspection drum, 6 ... back surface (second) inspection drum, 8 ... first appearance Inspection device, 9 ... second appearance inspection device, 20 ... reflecting means, 22 ... reflector, 22a ... flat surface, 22f ... outer surface, 22g ... top surface, 24 ... specific reflection region, 25 ... overlapping reflection region, 30 ... imaging Means 40... Illumination means 41. Upper surface illumination means 42. Side illumination means S S. Inspected article S 1.


Claims (5)

被検査物品の側面からの反射光を反射させる反射手段と、前記被検査物品を照射する照明手段と、前記被検査物品の上面上に配置された1つの撮像手段であって、前記撮像手段に向かって前記反射手段から出射された光および前記被検査物品の上面からの反射光を同時に撮像する撮像手段と、前記撮像手段からの映像信号を処理する処理手段とを備え、
前記反射手段が、前記被検査物品の上面側から見たときに前記被検査物品を取り囲むように配置された複数の反射体を備えたものであり、前記反射体の前記被検査物品側の面が複数の平面からなり、
前記反射体が、前記反射光のうち別の反射体には反射されない反射光を反射させる固有反射領域と、前記固有反射領域の外側に配置され、隣り合う別の反射体にも反射される反射光を反射させるオーバーラップ反射領域とを有し、前記反射手段から出射された光から、前記被検査物品の側面が前記反射体の数に対応する数に分割された映像信号が得られるものであり、前記オーバーラップ反射領域によって、前記分割された映像信号における前記被検査物品の分割された部分からの反射光が反射され、
前記照明手段が、隣り合う前記反射体の間から前記被検査物品の少なくとも上面を照射する上面照明手段と、前記被検査物品の側面を照射する側面照明手段とを備え、前記側面照明手段が、前記反射手段よりも前記被検査物品に近い位置に配置され、前記被検査物品の上面側から見たときに前記被検査物品を取り囲むように配置されたリング状のものであることを特徴とする物品の外観検査装置。
A reflecting means for reflecting reflected light from the side surface of the article to be inspected, an illuminating means for irradiating the article to be inspected, and an imaging means arranged on the upper surface of the article to be inspected, comprising imaging means for simultaneously imaging the light reflected from the upper surface of the light and the inspection article which is emitted from the reflecting means towards, and processing means for processing the video signal from the imaging means,
The reflecting means includes a plurality of reflectors arranged so as to surround the inspected article when viewed from the upper surface side of the inspected article, and the surface of the reflector on the inspected article side Consists of multiple planes,
The reflection body is a reflection area that reflects reflected light that is not reflected by another reflection body of the reflection light, and a reflection that is disposed outside the reflection area and reflected by another adjacent reflection body. have a overlap reflection region for reflecting the light from the light emitted from said reflecting means, said one side surface of the article to be inspected is an image signal divided into a number corresponding to the number of the reflector is obtained Yes, reflected light from the divided portion of the inspected article in the divided video signal is reflected by the overlap reflection region,
The illumination means includes upper surface illumination means for illuminating at least the upper surface of the article to be inspected from between the adjacent reflectors, and side illumination means for illuminating the side surface of the article to be inspected. It is arranged in a position closer to the inspected article than the reflecting means, and is a ring-shaped one arranged so as to surround the inspected article when viewed from the upper surface side of the inspected article. Appearance inspection device for articles.
前記複数の反射体が、前記被検査物品の上面側から見たときの前記被検査物品の外形と相似形状の軌跡上に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の物品の外観検査装置。 The appearance of the article according to claim 1 , wherein the plurality of reflectors are arranged on a locus having a shape similar to the outer shape of the article to be inspected when viewed from the upper surface side of the article to be inspected. Inspection device. 前記反射体が、前記被検査物品の上面よりも上方向に配置されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の物品の外観検査装置。 3. The article appearance inspection apparatus according to claim 1, wherein the reflector is disposed above an upper surface of the article to be inspected. 前記処理手段によって処理された撮像信号から得られた前記被検査物品の画像が、前記被検査物品の上面の画像と、前記上面の画像の周囲に前記反射体の数に対応する数で環状に配置された前記被検査物品の側面の画像とを有し、
前記側面の画像の各々が、前記固有反射領域に反射された光に基づいて得られた側面の画像の各々に固有の画像と、前記オーバーラップ反射領域に反射された光に基づいて得られたオーバーラップ画像とからなり、前記オーバーラップ画像は、前記固有の画像の隣り合う側面の画像側にそれぞれ配置され、隣り合う側面の画像のオーバーラップ画像に示された前記被検査物品の側面と同じ部分の画像からなることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の外観検査装置。
An image of the inspected article obtained from the imaging signal processed by the processing means is annularly formed with an image of the upper surface of the inspected article and a number corresponding to the number of the reflectors around the image of the upper surface. An image of a side surface of the article to be inspected,
Each of the side images was obtained based on an image specific to each of the side images obtained based on the light reflected on the intrinsic reflection area and on the light reflected on the overlap reflection area. The overlap image is arranged on the image side of the adjacent side surface of the unique image, and is the same as the side surface of the article to be inspected shown in the overlap image of the image of the adjacent side surface. The appearance inspection apparatus according to claim 1, comprising a partial image.
被検査物品の厚さ方向いずれかの面を外周面に保持しながら回転することにより、前記被検査物品を搬送する第1検査ドラムと、
該第1検査ドラムの下側に外周面を近接させた状態に回転自在に設置され、前記第1検査ドラムから前記被検査物品を受け取って前記被検査物品を前記第1検査ドラムの搬送状態と反転させた状態で外周面に保持しながら回転する第2検査ドラムと、
前記第1検査ドラムの外周面に保持された前記被検査物品の外観を検査する第1外観検査装置と、前記第2検査ドラムの外周面に保持された前記被検査物品の外観を検査する第2外観検査装置とが具備されてなり、
前記第1外観検査装置および前記第2外観検査装置として請求項1〜請求項4のいずれかに記載の外観検査装置が備えられていることを特徴とする表面検査装置。
A first inspection drum that conveys the article to be inspected by rotating while holding any surface in the thickness direction of the article to be inspected on the outer peripheral surface;
The first inspection drum is rotatably installed with an outer peripheral surface in proximity to the lower side of the first inspection drum, the inspection article is received from the first inspection drum, and the inspection article is transported by the first inspection drum. A second inspection drum that rotates while being held on the outer peripheral surface in an inverted state;
A first appearance inspection device for inspecting the appearance of the article to be inspected held on the outer peripheral surface of the first inspection drum, and a first inspecting the appearance of the inspected article held on the outer peripheral surface of the second inspection drum. 2 visual inspection equipment,
The surface inspection apparatus characterized by appearance inspection apparatus is provided according to any of claims 1 to 4 as a first visual inspection apparatus and said second visual inspection apparatus.
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