JP4305267B2 - 薄膜層の密着性評価方法 - Google Patents
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Description
る方法により積層体の密着性を評価することができる薄膜層の密着性評価方法を提供することである。
は、劣化加速試験の条件により、冶具の素材を任意に選択することが好ましい。曲率保持冶具の大きさについても、試験片を湾曲させ、固定できれば問題はないが、本実施例では幅1cm、円弧の長さは6cmとした。窓の大きさについても、光学顕微鏡14で試験片31の剥離の有無が観察可能であれば任意であるが、本実施形態では8mm×10mmとした。
通常の劣化加速試験機での試料の取付け方と同様にする必要がある。つまり劣化が熱、照射光源によるものであれば、曲率保持冶具の円弧は、その方向を向くよう耐光試験機冶具に取り付ける。
12…下部支点
13…上部支点
14…光学顕微鏡
21…曲率保持冶具
22…観察窓
23…端部固定手段
31…試験片(積層体の)
32…透明基材
33…薄膜層
Claims (4)
- 可撓性の透明基材上の片側に1層またはそれ以上の薄膜層を有する積層体の薄膜層の密着強度評価方法において、薄膜層を内側にして積層体を湾曲させて湾曲部を形成した試験片を、薄膜層の劣化加速試験の装置内に投入し所定の試験条件で劣化加速試験を完了した後、湾曲部の薄膜層の層間の剥離状態を観察し、評価することことにより、層間剥離が観察された試験片を選別し、該試験片の湾曲部の曲率半径の距離値を用いて、密着強度を数値により評価することを特徴とする薄膜層の密着強度評価方法。
- 前記湾曲部の形成は、所定の曲率のある、観察窓をもった冶具を用いて、該冶具の曲率をもった面に沿って試験片を固定し、薄膜層を内側にして湾曲部を形成する方法であって、剥離状態の観察は、冶具の観察窓を通して湾曲部における試験片の薄膜層の剥離状態を観察することを特徴とする請求項1記載の薄膜層の密着強度評価方法。
- 前記試料片は、同一なる曲率半径を持つ複数よりなるグループであって、該グループを劣化加速試験に投入し、所定の条件下で劣化加速試験を完了した後、その薄膜層の剥離状態を同時に観察することを特徴とする請求項1、又は2記載の薄膜層の密着強度評価方法。
- 前記試料片は、異なる曲率半径を持つ複数種よりなるグループであって、該グループを劣化加速試験に投入し、所定の条件下で劣化加速試験を完了した後、その薄膜層の剥離状態を同時に観察することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の薄膜層の密着強度評価方法。
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