JP4169274B2 - 貴金属放電チップの製造方法及びその貴金属放電チップを用いたスパークプラグの製造方法 - Google Patents
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Description
O3 )等からなる絶縁体2が固定されており、この絶縁体2の軸孔2aに中心電極3が固定されている。絶縁体2の先端部2bは、主体金具1から露出するように設けられている。
)、長さは0.3mmとしている。ここで、一般に、中心電極3側の貴金属放電チップ51の方が、接地電極4側の貴金属放電チップ52よりも、火花放電による消耗量が大きい。よって、本実施形態では、貴金属放電チップ51のみをイリジウム合金によって形成し、貴金属放電チップ52には、従来と同様のものを用いている。なお、耐消耗性が要求される場合には、後述する本製造方法による接地電極4側の貴金属放電チップ52を用いてもよい。
未満で、長さが2.0mmよりも大きいと、スパークプラグの使用中に、貴金属放電チップ51の放電ギャップg側から中心電極3側への熱の引けが悪くなり、貴金属放電チップ51の放電ギャップg側が異常に高温となって、貴金属放電チップ51の消耗量が増加し、長寿命のスパークプラグの仕様を満たさない恐れがあるからである。
より大きくなると、貴金属放電チップ51の放電ギャップg側における電界の集中程度が弱くなり、スパークプラグの放電電圧が増大しやすい。また、貴金属放電チップ51の放電ギャップg側表面に火炎は形成されるものであるが、この貴金属放電チップ51の長さが0.5mm未満であると、上記火炎と中心電極3との距離が近づき、上記火炎が中心電極3により冷却されてしまい(以下、消炎作用という)、スパークプラグの着火性が低下する恐れがあるためである。
22〜26から本発明の方法によれば一層歩留まりを向上させ得ることがわかる。
1.温度測定位置105において、被加工材102が1000℃以上1150℃以下の範囲を外れる範囲に加熱される実験例No.7,9,17,19,24,30
2.温度測定位置105から被加工材挿入面101aまでの範囲106における温度が1000℃未満となる実験例No.7,8,18,25
3.伸線速度が1300mm/分以上1600mm/分以下の範囲を外れる実験例No.1,6,11,16,26
2 絶縁体
3 中心電極
3a 先端部
4 接地電極
4a 対向部
51 貴金属放電チップ
g 放電ギャップ
101 ダイス
101a 被加工材挿入面
102 被加工材
103 加熱範囲
104 バーナ
105 温度測定位置
106 温度測定位置から被加工材挿入面までの範囲
Claims (3)
- 中心電極(3)と、
前記中心電極(3)の先端部(3a)を露出させた状態で前記中心電極(3)の周囲を覆う絶縁体(2)と、
前記絶縁体(2)を保持する主体金具(1)と、
前記主体金具(1)に固定され、前記中心電極(3)の前記先端部(3a)との間で、放電ギャップ(g)を形成する対向部(4a)を有する接地電極(4)とを備えるスパークプラグであって、
前記中心電極(3)の先端部(3a)、および、前記接地電極(4)の前記対向部(4a)の少なくとも一方に接合される貴金属放電チップ(51、52)は、
イリジウム以外の金属成分の含有率が0.5質量%以上35質量%以下であるイリジウム合金のインゴットを圧延する圧延工程を経た後、伸線加工を施して、断面積0.05mm2以上1.2mm2以下の線材を形成し、該線材を所定長さに切断して得られる貴金属放電チップ(51、52)の製造方法において、
前記伸線加工は、伸線加工に使用するダイス(101)の被加工材(102)が挿入される側の面である被加工材挿入面(101a)から被加工材(102)の進行方向手前60mm以内の加熱範囲(103)を連続して赤熱及び/又は白熱加熱し、該面の手前20mmの温度測定位置(105)において被加工材(102)が1000℃以上1150℃以下に加熱され、かつ、前記温度測定位置(105)から前記ダイス(101)の前記被加工材挿入面(101a)までの範囲(106)における温度が1000℃以上とされ、かつ、伸線速度が、1300mm/分以上1600mm/分以下であることを特徴とする貴金属放電チップ(51、52)の製造方法。 - 前記金属成分は、少なくともニッケルである請求項1に記載の貴金属放電チップ(51、52)の製造方法。
- 請求項1または2に記載の貴金属放電チップ(51)を用いて、前記中心電極(3)の先端部(3a)、および、前記接地電極(4)の前記対向部(4a)の少なくとも一方に、該貴金属放電チップ(51、52)を接合するスパークプラグの製造方法。
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