JP4128005B2 - 電気ニッケルめっき液 - Google Patents
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Description
本発明はニッケルめっきに関し、より詳細にはセラミック複合材に対して好適に使用されるニッケルめっき液、このめっき液を用いるめっき方法、および得られる製品に関する。
【0002】
ニッケルめっきは、スズめっき、はんだめっき、金めっきなどの下地めっきとして電子工業の分野で広く利用されている。このような用途で使用するニッケルめっきは浴は、ワット浴、全塩化物浴、スルファミン酸浴、ホウフッ化酸浴等の強酸性のめっき液が広く用いられている。セラミックを複合化したチップ抵抗、チップコンデンサーなどの電子部品においても、スズめっき、はんだめっきの下地ニッケルとしてワット浴あるいはスルファミン酸浴が広く利用されている。
近年、電子工業の分野では遷移金属系酸化物を含有するセラミックを複合化した新しい部品が多く開発され、広く利用されている。しかしながら、遷移金属系酸化物を含有するセラミックを複合化した特殊な電子部品では、これら強酸性のニッケルめっき浴を用いると、そのセラミック部分がめっき液に浸食されるという問題があった。
このため、酸性のめっき液に浸食されやすい部分の浸食を少なくする試みがなされ、各種めっき液が報告されている。しかし、それらはいずれも析出効率が低く、作業性が低下するという問題があった。またセラミックを素材とした電子部品の電極のみめっきを施す必要がある場合でも、その電極部分のみだけでなく、その周辺のセラミック部分にまで析出が広がり、その部品の特性を阻害するという問題があった。
【0003】
本発明は上記の課題を解決し、従来からのセラミックを複合化した電子部品およびフェライトなどの遷移金属系酸化物を含有するセラミック部分を浸食することなく、めっきされる部分にのみ効率よくニッケルめっきを施すことができるニッケルめっき液、該ニッケルめっき液を使用しためっき方法、およびかかるめっき方法に得られる物品、特にはチップ抵抗、チップコンデンサーなどの電子部品を提供することを目的とする。
【0004】
本発明は、a)ニッケルイオン、およびb)i)アミノポリカルボン酸、ii)ポリカルボン酸、およびiii)ポリホスホン酸の3つの群のうち、少なくとも2つの群から選択されるキレート剤を含み、pHが4−9の範囲であり、ニッケルイオンと塩素イオンとの比(Ni/Cl)が1以下である電気ニッケルめっき液を提供する。ニッケルイオン濃度は、好ましくは1−100g/L、より好ましくは10−50g/L、最も好ましくは10−30g/Lである。ニッケルイオン濃度が低すぎる場合には、被めっき品の高電流密度部分でのヤケ状の析出となりやすく、ニッケルイオン濃度が高すぎる場合には、めっき液中の安定性が低下し、水酸化物として不溶性化合物を生成することとなる。本発明においては、ニッケルイオンと塩素イオンとの比(Ni/Cl)が1以下である。これはニッケルイオン源の主成分が塩化ニッケルであることを意味する。好ましくはニッケルイオンと塩素イオンとの比は0.5よりも小さく、より好ましくはニッケル源として塩化ニッケルのみが使用される。
【0005】
本発明においては、キレート剤として、i)アミノポリカルボン酸、ii)ポリカルボン酸及びiii)ポリホスホン酸の3つの群のうち、少なくとも2つの群から選択される化合物が使用される。アミノポリカルボン酸としては、たとえばエチルイミノ−N,N−ジ酢酸、グリシン、イミノジ酢酸、ヒドロキシエチル・エチレンジアミン三酢酸、ニトリロトリ酢酸、EDTA、トリエチレンジアミンテトラ酢酸、グルタミン酸、アスパラギン酸、ベータ−アラニンN,N−ジ酢酸、およびトリカルバリル酸などがあげられる。ポリカルボン酸としては、たとえばマロン酸、マレイン酸、クエン酸、グルコン酸、コハク酸、りんご酸、酒石酸などがあげられる。ポリホスホン酸としては、たとえばアミノトリメチレンホスホン酸、ヒドロキシエチリデンジホスホン酸、およびエチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸などがあげられる。好ましくはポリホスホン酸はアミノポリホスホン酸である。
【0006】
キレート剤は、i)アミノポリカルボン酸、ii)ポリカルボン酸及びiii)ポリホスホン酸の3つの群のうち、少なくとも2つの群から選択される化合物である。最も好ましくはキレート剤は、イミノジ酢酸、クエン酸、アミノトリメチレンホスホン酸からなる群から選択される少なくとも2種の化合物である。キレート剤の量は、合計で好ましくは0.01−3モル/Lであり、より好ましくは0.1−0.5モル/Lである。また、2種のキレート剤の比率は任意であり、使用するニッケルの量、ニッケルイオン源などの条件に基づいて、適宜決定できる。
【0007】
本発明にかかるめっき液は4−9のpHを有する。このpH領域において効率の高い良好なめっき性が得られ、セラミックなどの素材についても浸食を効果的に抑制することができる。また有機添加剤を添加することなく緻密でバリヤー効果の高い析出被膜を得ることができる。
pHは任意の酸またはアルカリにより調整することができる。任意の酸および塩基を使用することができ、無機酸、有機酸、無機塩基、および有機塩基のいずれも使用することができる。酸としては、たとえば硫酸、塩酸、スルファミン酸等の他、酢酸およびクエン酸などのキレート剤として使用される酸を使用することもできる。アルカリとしては、たとえば水酸化ナトリウムおよび水酸化カリウムなどの他、塩基性炭酸ニッケルなどを使用することもできる。また、作業条件によりpHが変動しやすい場合には、ホウ酸などのpH緩衝成分を使用することもできる。
本発明のめっき液は、さらに光沢剤および界面活性剤などの公知の添加剤を含むことができる。
【0008】
本発明は上記のめっき液を使用しためっき方法も提供する。
めっき条件としては、公知の条件を用いることができる。また被めっき物は何ら限定される者ではなく、任意の物質にめっきをすることができる。好ましくは本発明のめっき方法においては、セラミック複合部品であるチップ抵抗、チップコンデンサーなどの電子部品が好適にめっきされる。
陽極としては、ニッケル金属が通常使用されるが、場合によっては白金めっきしたチタン板などの不溶性電極も使用できる。浴温度は通常10−80℃であり、好ましくは30−65℃である。陰極電流密度は0.02−10A/dm2とするのが好ましい。めっき時間は要求される膜厚により変化するが、通常は10−120分程度である。めっき条件とその効果は公知であり、所望の性能に応じて当業者の適宜決定できる事項である。
【0009】
本発明のめっき液は静止およびバレルのどちらでも使用できる。必要に応じて空気撹拌、カソード揺動、ポンプなどによるめっき液の流動の方法で撹拌することもできる。
本発明にかかるめっき方法により、素材を浸食することなく、セラミック複合部品にニッケルめっきを行うことできる。
【0010】
以下に本発明の実施例を記載するが、かかる記載はあくまでも例示にすぎず、本発明の範囲を何ら制限するものではない。
実施例
実施例1
塩化ニッケル6水和物 100g/L
アミノトリメチレンホスホン酸 100g/L
クエン酸 50g/L
pH(NaOHで調整) 9.0
実施例2
塩化ニッケル6水和物 100g/L
アミノトリメチレンホスホン酸 100g/L
クエン酸 50g/L
pH(NaOHで調整) 7.0
実施例3
塩化ニッケル6水和物 100g/L
アミノトリメチレンホスホン酸 100g/L
クエン酸 50g/L
pH(NaOHで調整) 5.0
実施例4
塩化ニッケル6水和物 100g/L
イミノジ酢酸 50g/L
クエン酸 20g/L
pH(NaOHで調整) 7.0
実施例5
塩化ニッケル6水和物 100g/L
アミノトリメチレンホスホン酸 100g/L
イミノジ酢酸 50g/L
pH(NaOHで調整) 7.0
実施例6
塩化ニッケル6水和物 100g/L
アミノトリメチレンホスホン酸 100g/L
クエン酸 50g/L
ホウ酸 50g/L
pH(NaOHで調整) 5.0
【0011】
比較例1
硫酸ニッケル6水和物 350g/L
塩化ニッケル6水和物 45g/L
ホウ酸 50g/L
pH 4.2
比較例2
塩化ニッケル6水和物 100g/L
クエン酸 100g/L
pH 5.0
比較例3
塩化ニッケル6水和物 100g/L
アミノトリメチレンホスホン酸 100g/L
pH 5.0
比較例4
塩化ニッケル6水和物 100g/L
イミノジ酢酸 100g/L
pH 5.0
比較例5
硫酸ニッケル6水和物 350g/L
塩化ニッケル6水和物 45g/L
ホウ酸 50g/L
pH 6.0
【0012】
上記の各めっき液を使用し、以下のめっき条件においてめっきを行った。
めっき部品 セラミック製チップ部品
めっき法 バレルめっき
液温 50℃
陰極電流密度 0.05−0.2A/dm2
実験結果を以下の表に示す。
【0013】
【表1】
【0014】
実施例で得られた皮膜はいずれも均一な無光沢または微光沢外観を有していた。これらのめっき皮膜の膜厚はクロスセクションによる断面観察により測定した。
実験結果から、本発明のめっき液を使用すると、セラミック部分を浸食することなく、めっきされる部分にのみ効率よくニッケルめっきを施すことができることが示される。
Claims (4)
- a)塩化ニッケル、b)i)アミノポリカルボン酸、ii)ポリカルボン酸、およびiii)ポリホスホン酸の3つの群のうち、少なくとも2つの群から選択されるキレート剤、c)水、およびd)任意にpHを調整する化合物を本質的成分とする、
pHが4−9の範囲であり、ニッケルイオンと塩素イオンとの比(Ni/Cl)が1以下である電気ニッケルめっき液。 - アミノポリカルボン酸がイミノジ酢酸、ポリカルボン酸がクエン酸、ポリホスホン酸がアミノトリメチレンホスホン酸である、請求項1記載のめっき液。
- セラミック複合材にニッケルめっきする方法であって、
セラミック複合材と
a)塩化ニッケル、b)i)アミノポリカルボン酸、ii)ポリカルボン酸、およびiii)ポリホスホン酸の3つの群のうち、少なくとも2つの群から選択されるキレート剤、c)水、およびd)任意にpHを調整する化合物を本質的成分とする、pHが4−9の範囲であり、ニッケルイオンと塩素イオンとの比(Ni/Cl)が1以下であるニッケルめっき液とを接触させ;
セラミック複合材を侵食することなくセラミック複合材にニッケルめっきを施すことができる十分な時間の間、ニッケルめっき液に電流を流す、ことを特徴とするめっきする方法。 - アミノポリカルボン酸がイミノジ酢酸、ポリカルボン酸がクエン酸、ポリホスホン酸がアミノトリメチレンホスホン酸である請求項3記載のめっき方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001399729A JP4128005B2 (ja) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | 電気ニッケルめっき液 |
EP02258790A EP1323848A1 (en) | 2001-12-28 | 2002-12-19 | Nickel electroplating solution |
US10/330,418 US6858122B2 (en) | 2001-12-28 | 2002-12-27 | Nickel electroplating solution |
TW091137614A TWI238202B (en) | 2001-12-28 | 2002-12-27 | Nickel electroplating solution |
KR1020020084761A KR100947488B1 (ko) | 2001-12-28 | 2002-12-27 | 니켈 전기도금액 |
CNB021611076A CN100424232C (zh) | 2001-12-28 | 2002-12-27 | 镍电镀液 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001399729A JP4128005B2 (ja) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | 電気ニッケルめっき液 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003193285A JP2003193285A (ja) | 2003-07-09 |
JP4128005B2 true JP4128005B2 (ja) | 2008-07-30 |
Family
ID=19189515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001399729A Expired - Fee Related JP4128005B2 (ja) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | 電気ニッケルめっき液 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6858122B2 (ja) |
EP (1) | EP1323848A1 (ja) |
JP (1) | JP4128005B2 (ja) |
KR (1) | KR100947488B1 (ja) |
CN (1) | CN100424232C (ja) |
TW (1) | TWI238202B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003193284A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-09 | Learonal Japan Inc | 電気ニッケルめっき液 |
GB0507887D0 (en) * | 2005-04-20 | 2005-05-25 | Rohm & Haas Elect Mat | Immersion method |
US7615255B2 (en) * | 2005-09-07 | 2009-11-10 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Metal duplex method |
CN1920104B (zh) * | 2006-08-08 | 2011-10-12 | 吴宗驹 | 一种低排渣环保镀镍液 |
CN101535031B (zh) | 2006-11-10 | 2011-12-14 | 陶氏环球技术公司 | 用于聚合物组合物的基本上成比例拉伸模头 |
WO2008102580A1 (ja) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | Japan Pure Chemical Co., Ltd. | 電解金めっき液及びそれを用いて得られた金皮膜 |
JP5298450B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2013-09-25 | Tdk株式会社 | セラミックス電子部品の製造方法 |
JP4643690B2 (ja) * | 2008-07-30 | 2011-03-02 | 太陽電化工業株式会社 | 電気めっき用ニッケルめっき浴 |
US7951600B2 (en) * | 2008-11-07 | 2011-05-31 | Xtalic Corporation | Electrodeposition baths, systems and methods |
WO2016133176A1 (ja) * | 2015-02-19 | 2016-08-25 | 日信工業株式会社 | 車両用ディスクブレーキのピストン及びその製造方法 |
WO2019097044A1 (en) | 2017-11-20 | 2019-05-23 | Basf Se | Composition for cobalt electroplating comprising leveling agent |
CN111118554B (zh) * | 2020-01-18 | 2021-11-02 | 杭州东方表面技术有限公司 | 一种镀镍溶液 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR96342E (ja) * | 1967-12-09 | 1972-06-16 | ||
US3672940A (en) * | 1969-08-08 | 1972-06-27 | Nihon Kagaku Kizai Kk | Process for chemically depositing nickel on a synthetic resin base material |
DE2327881B2 (de) * | 1973-06-01 | 1978-06-22 | Langbein-Pfanhauser Werke Ag, 4040 Neuss | Verfahren zur galvanischen Abscheidung mattglänzender Nickel- bzw. Nickel/Kobalt-Niederschläge |
JPS5836065B2 (ja) * | 1980-12-23 | 1983-08-06 | 工業技術院長 | 耐食性ニツケルめつき方法 |
US4421611A (en) * | 1982-09-30 | 1983-12-20 | Mcgean-Rohco, Inc. | Acetylenic compositions and nickel plating baths containing same |
DD300647A5 (de) * | 1988-12-23 | 1992-06-25 | Keramische Werke Hermsdorf Tridelta Ag,De | Verfahren zum galvanischen beschichten von metallisierter keramik |
JPH09157884A (ja) * | 1995-12-12 | 1997-06-17 | Dipsol Chem Co Ltd | 非酸性ニッケルめっき浴及び該めっき浴を用いためっき方法 |
JP2000204495A (ja) | 1999-01-08 | 2000-07-25 | Okuno Chem Ind Co Ltd | 電気ニッケルメッキ液 |
JP2003193284A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-09 | Learonal Japan Inc | 電気ニッケルめっき液 |
-
2001
- 2001-12-28 JP JP2001399729A patent/JP4128005B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-12-19 EP EP02258790A patent/EP1323848A1/en not_active Withdrawn
- 2002-12-27 CN CNB021611076A patent/CN100424232C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-27 TW TW091137614A patent/TWI238202B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-12-27 US US10/330,418 patent/US6858122B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-27 KR KR1020020084761A patent/KR100947488B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100424232C (zh) | 2008-10-08 |
CN1441087A (zh) | 2003-09-10 |
US20030196906A1 (en) | 2003-10-23 |
KR100947488B1 (ko) | 2010-03-17 |
TW200304964A (en) | 2003-10-16 |
KR20030057401A (ko) | 2003-07-04 |
US6858122B2 (en) | 2005-02-22 |
TWI238202B (en) | 2005-08-21 |
EP1323848A1 (en) | 2003-07-02 |
JP2003193285A (ja) | 2003-07-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060331 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070410 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070608 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20070816 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080204 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080326 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080421 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080513 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120523 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130523 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |