JP4099730B2 - ディジタル信号再生装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、ディジタル信号再生装置に関し、例えばビデオテープレコーダ、光ディスク装置等のビタビ復号に適用することができる。本発明は、入力信号の仮識別結果に基づいて、入力信号を等化してなる等化信号の取り得る状態推移を制限し、該制限した状態推移について確からしい推移を判定することにより、簡易な構成で必要に応じて高速度でディジタル信号をビタビ復号できるようにする。
【0002】
【従来の技術】
従来、ビデオテープレコーダ、光ディスク装置等においては、ビタビ復号により再生信号を処理することにより、高密度に記録したディジタル信号を確実に再生できるようになされている。
【0003】
すなわちビタビ復号は、符号間干渉により決まるn種類の状態を、直前の入力データの組み合わせにより定義し、入力データが変化する毎に、このn種類の状態を続くn種類の状態に更新して入力データを処理する。具体的に、このn個の状態は、符号間干渉の長さがmの場合、直前のm−1ビットにより決定され、例えば入力データが1、0のディジタルデータの場合、n=2(m-1) の状態が存在することになる。
【0004】
このようにして規定されるn個の状態について、各状態に推移する尤度は、再生信号に含まれるノイズ成分がガウス分布によるものと仮定し、ノイズが存在しない場合の各状態に対応する再生信号の値を振幅基準値とすると、振幅基準値と実際の再生信号との差分を2乗し、各状態に推移するまでこの2乗値を累積した値となる。これによりビタビ復号は、直前n個の状態からそれぞれ各状態へ推移する可能性のある経路についてそれぞれ累積値を計算し、この計算結果より最も尤度の大きな(累積値の小さな)経路により推移したものと判断して、n個の状態を続くn個の状態に更新すると共に、各状態における識別値の履歴及び尤度を更新する。
【0005】
このようにして最も確からしい状態推移を順次検出すると、所定の段階で数ビット前までの履歴が1つの履歴に統一され(マージ)、それまでの識別結果が確定する。これによりビタビ復号は、再生信号を識別する。
【0006】
このようにして再生信号を処理するビタビ復号においては、再生信号に重畳するノイズがランダムノイズの場合、再生信号の持つ信号電力を最大限利用して再生信号を識別できることにより、各ビット毎に、再生信号を所定のしきい値と比較して復号する復号方式に比して、エラーレートを改善することができる。
【0007】
図7は、RLL(Run Length Limited)(1,7)符号とEPR( Extended Partial Responce)4等化を組み合わせた場合における状態の遷移を示す図表である。なおRLL(1,7)符号は、論理1又は0がそれぞれ2以上連続し、論理1又は0が1個だけ単独では発生しない符号化方式である(いわゆるd=1制限による符号化方式)。またEPR4は、PR(1、1、−1、−1)であり、1の入力データに対して3ビット後まで符号間干渉が発生する。
【0008】
従ってこの組み合わせでは、3ビット前までの入力データの履歴により、その次に入力されたデータによる状態推移(出力)が一義的に決まる。ここでa〔k〕は、入力データを示し、a〔k−1〕、a〔k−2〕、a〔k−3〕は、それぞれ入力データa〔k〕より1クロック、2クロック、3クロック前の入力データである。この入力データa〔k−1〕、a〔k−2〕、a〔k−3〕による状態b〔k−1〕を、符号Sと各入力データa〔k−1〕、a〔k−2〕、a〔k−3〕の値により示す。この場合、例えば状態(S000)において、値0の入力a〔k〕が入力すると、値0の出力c〔k〕が得られ、状態b〔k〕は、(S000)に変化する。
【0009】
RLL(1,7)符号の場合、d=1制限により(S010)及び(S101)の状態は発生せず、各状態b〔k−1〕は、この2つの状態(S010)及び(S101)を除いて、0または1の入力に対応して2つの状態へ推移し、全体として6つの状態を取ることが分かる。またRLL(1,7)符号の場合、出力信号c〔k〕は、−2、−1、0、1、2の5つの振幅基準値を持つことになる。これらの関係をトレリス線図により示すと、図8に示すように表される。
【0010】
この場合ビタビ復号では、この図8の繰り返しにより形成されるトレリス線図から、EPR4等化再生信号とEPR4等化振幅基準値との差分の2乗値(ブランチメトリック)を累積し、この累積値が最も小さくなるパスを選択して、入力信号を復号することになる。
【0011】
図9は、この種のビタビ復号器を適用したビデオテープレコーダの再生信号処理系を示すブロック図である。このビデオテープレコーダ1は、上述したRLL(1,7)符号とEPR4等化との組み合わせにより、ディジタルビデオ信号を記録再生する。すなわち積分等化器2は、磁気ヘッドより出力される再生信号RFをナイキャスト等化して出力する。比較回路3は、積分等化器2より出力される再生信号RFを2値化し、その結果得られる2値化信号S1を出力する。
【0012】
位相比較器4は、電圧制御型発振回路(VCO)5より出力されるクロックCKと、2値化信号S1とを位相比較し、その位相比較結果を出力する。積分器6は、この位相比較結果を帯域制限して誤差信号を生成し、この誤差信号を電圧制御型発振回路5に出力する。電圧制御型発振回路5は、この誤差信号の信号レベルを所定の信号レベルに保持するように発振周波数を可変してクロックCKを出力する。これより位相比較器4、電圧制御型発振回路5、積分器6は、PLL回路を構成し、再生信号RFよりクロックCKを再生する。
【0013】
アナログディジタル(A/D)変換器7は、このクロックCKを基準にして、積分等化器2より出力される再生信号RFをアナログディジタル変換処理し、その処理結果でなるディジタル再生信号DRFを出力する。ビタビ復号器8は、このディジタル再生信号DRFを受け、このディジタル再生信号DRFよりビデオテープへの記録信号でなる2値復号出力D1を識別して出力する。
【0014】
図10は、このビタビ復号器8を示すブロック図である。このビタビ復号器8において、ブランチメトリック計算回路8Aは、ディジタル再生信号DRFを受け、ディジタルビデオ信号の各サンプル値毎に、次式の演算処理を実行することにより、各振幅基準値に対するブランチメトリックBM0〔k〕〜BM4〔k〕を計算して出力する。ここでブランチメトリックBM0〔k〕〜BM4〔k〕は、ノイズが存在しない場合の各状態に対応する再生信号の値(振幅基準値であり、この場合値2、値1、値0、値−1、値−2の5種類である)と実際の再生信号レベルsig〔k〕との差分の2乗値であり、各振幅基準値に対する再生信号レベルのユークリッド距離である。
【0015】
【数1】
【0016】
具体的に、ブランチメトリック計算回路8Aは、ディジタル再生信号DRFより各振幅基準値を減算する複数系統の減算回路と、各減算結果を2乗する複数系統の乗算回路により構成される。
【0017】
ブランチメトリック処理回路8Bは、ブランチメトリック計算回路8Aより出力されるブランチメトリックBM0〔k〕〜BM4〔k〕を用いて、次式の演算処理を実行することにより、各状態へのブランチメトリックの累積値でなるメトリック(S000、k)〜(S111、k)を計算する。ここでmin{a,b}は、a,bより小さな値を選択する処理である。
【0018】
【数2】
【0019】
パスメモリユニット8Cは、ブランチメトリック処理回路8Bの計算結果に基づいて、2値復号出力D1を出力する。
【0020】
図11及び図12は、ブランチメトリック処理回路8Bの構成を詳細に示すブロック図である。ブランチメトリック処理回路8Bは、各メトリック計算回路8BA〜8BFにより各状態に対応するメトリックを計算する。
【0021】
すなわち状態(S111)への推移について、メトリックを計算する第1のメトリック計算回路8BAにおいて、加算器10Aは、この第1のメトリック計算回路8BAにおいて1クロック前に計算された状態(S111)のメトリックL(S111,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM2(k)とを加算して出力する。これにより加算器10Aは、(2−1)式の右辺、第1項に対応する加算結果を出力する。
【0022】
加算器11Aは、第4のメトリック計算回路8BDにおいて1クロック前に計算された状態(S011)のメトリックL(S011,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM1(k)とを加算して出力する。これにより加算器11Aは、(2−1)式の右辺、第2項に対応する加算結果を出力する。
【0023】
比較回路12Aは、加算器10A及び11Aの出力データの比較結果を出力する。これにより比較回路12Aは、状態(S111)へ遷移可能な状態(S111)及び(S011)について、何れの状態より推移した方が尤度が大きいか(確からしいか)判断し、その判定結果SEL3を出力する。
【0024】
セレクタ13Aは、比較回路12Aの判定結果SEL3に応じて、加算器10A又は11Aの加算結果を選択出力し、ラッチ(D)14Aは、このセレクタ13Aの選択出力をラッチする。これによりラッチ14Aは、(2−1)式の右辺の演算処理結果をラッチして保持する。
【0025】
これに対して第2のメトリック計算回路8BBにおいて、加算器10Bは、第1のメトリック計算回路8BAにおいて1クロック前に計算された状態(S111)のメトリックL(S111,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM3(k)とを加算して出力する。これにより加算器10Bは、(2−2)式の右辺、第1項に対応する加算結果を出力する。
【0026】
加算器11Bは、第4のメトリック計算回路8BDにおいて1クロック前に計算された状態(S011)のメトリックL(S011,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM3(k)とを加算して出力する。これにより加算器11Bは、(2−2)式の右辺、第2項に対応する加算結果を出力する。
【0027】
比較回路12Bは、加算器10B及び11Bの出力データの比較結果を出力する。これにより比較回路12Bは、状態(S110)へ遷移可能な状態(S111)及び(S011)について、何れの状態より推移した方が尤度が大きいか判断し、その判定結果SEL2を出力する。
【0028】
セレクタ13Bは、比較回路12Bの判定結果SEL2に応じて、加算器10B又は11Bの加算結果を選択出力し、ラッチ(D)14Bは、このセレクタ13Bの選択出力をラッチする。これによりラッチ14Bは、(2−2)式の右辺の演算処理結果でなる、状態(S110)のメトリックをラッチして保持する。
【0029】
これに対して第3のメトリック計算回路8BCにおいて、加算器10Cは、第2のメトリック計算回路8BBにおいて1クロック前に計算された状態(S110)のメトリックL(S110,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM4(k)とを加算して出力し、ラッチ(D)14Cは、この加算結果をラッチする。これによりラッチ14Cは、(2−3)の右辺の演算処理結果でなる、状態(S100)のメトリックをラッチして保持する。
【0030】
これに対して第4のメトリック計算回路8BDにおいて(図12)、加算器10Dは、第5のメトリック計算回路8BEにおいて1クロック前に計算された状態(S001)のメトリックL(S001,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM0(k)とを加算して出力し、ラッチ(D)14Dは、この加算結果をラッチする。これによりラッチ14Dは、(2−4)式の右辺の演算処理結果でなる、状態(S011)のメトリックをラッチして保持する。
【0031】
これに対して第5のメトリック計算回路8BEにおいて、加算器10Eは、第3のメトリック計算回路8BCにおいて1クロック前に計算された状態(S100)のメトリックL(S100,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM2(k)とを加算して出力する。これにより加算器10Eは、(2−5)式の右辺、第1項に対応する加算結果を出力する。
【0032】
加算器11Eは、第6のメトリック計算回路8BFにおいて1クロック前に計算された状態(S000)のメトリックL(S000,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM1(k)とを加算して出力する。これにより加算器11Eは、(2−5)式の右辺、第2項に対応する加算結果を出力する。
【0033】
比較回路12Eは、加算器10E及び11Eの出力データの比較結果を出力する。これにより比較回路12Eは、状態(S001)へ遷移可能な状態(S100)及び(S000)について、何れの状態より推移した方が尤度が大きいか判断し、その判定結果SEL1を出力する。
【0034】
セレクタ13Eは、比較回路12Eの判定結果SEL1に応じて、加算器10E又は11Eの加算結果を選択出力し、ラッチ(D)14Eは、このセレクタ13Eの選択出力をラッチする。これによりラッチ14Eは、(2−5)式の右辺の演算処理結果でなる、状態(S001)のメトリックをラッチして保持する。
【0035】
これに対して第6のメトリック計算回路8BFにおいて、加算器10Fは、第3のメトリック計算回路8BCにおいて1クロック前に計算された状態(S100)のメトリックL(S100,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM3(k)とを加算して出力する。これにより加算器10Fは、(2−6)式の右辺、第1項に対応する加算結果を出力する。
【0036】
加算器11Fは、第6のメトリック計算回路8BFにおいて1クロック前に計算された状態(S000)のメトリックL(S000,K−1)と、ブランチメトリック計算回路8で計算されたブランチメトリックBM2(k)とを加算して出力する。これにより加算器11Fは、(2−6)式の右辺、第2項に対応する加算結果を出力する。
【0037】
比較回路12Fは、加算器10F及び11Fの出力データの比較結果を出力する。これにより比較回路12Fは、状態(S000)へ遷移可能な状態(S100)及び(S000)について、何れの状態より推移した方が尤度が大きいか判断し、その判定結果SEL0を出力する。
【0038】
セレクタ13Fは、比較回路12Fの判定結果SEL0に応じて、加算器10F又は11Fの加算結果を選択出力し、ラッチ(D)14Fは、このセレクタ13Fの選択出力をラッチする。これによりラッチ14Fは、(2−6)式の右辺の演算処理結果でなる、状態(S000)のメトリックをラッチして保持する。
【0039】
図13、図14及び図15は、パスメモリユニット8Cを示すブロック図である。パスメモリユニット8Cは、各状態に対応する6個のパスメモリ8CA〜8CFにより構成され、各パスメモリ8CA〜8CFは、それぞれ対応するメトリック計算回路8BA〜8BFの判定結果SEL0〜SEL4により直前の2つの状態における履歴(識別結果)を選択的に承継するパスメモリと、承継すべき履歴(識別結果)が1つしかないパスメモリとにより構成される。
【0040】
図13は、この後者の、承継すべき履歴(識別結果)が1つしかないパスメモリを示し、第3及び第4の状態(S100、S011)のパスメモリ8CC、8CDである。ここで第3のパスメモリ8CCは、図8について説明した状態推移に対応して第2の状態(S110)の履歴を承継し、保持した履歴を対応する状態(S001)、(S000)のパスメモリ8CE、8CFに出力する。さらに第3のパスメモリ8CCは、状態推移に対応する値0の固定データが初段のラッチ(D)16Aに入力される。
【0041】
この第3のパスメモリ8CCに対して、第4の状態(S001)のパスメモリ8CDは、第2の状態(S110)の履歴に代えて第5の状態(S001)を承継する点、初段のラッチ(D)16Aに値0の固定データに代えて値1の固定データが入力される点、状態(S001)、(S000)のパスメモリ8CB、8CAに代えて、状態(S111)、(S110)のパスメモリ8CA、8CBに履歴を出力する点を除いて、この第3のパスメモリ8CCと同一に構成されることにより、ここでは第3のパスメモリ8CCについて説明し、第4のパスメモリ8CDについての重複した説明は省略する。
【0042】
すなわちパスメモリ8CCは、所定段数(パスがマージする以上の段数であり、一般的には16〜32ビットに相当する段数である)のラッチ16A〜16Nにより構成され、クロックCKにより値1の固定データ、第2のパスメモリ8CBに保持した履歴を順次ラッチし、最終段のラッチ16Nより2値復号出力D1を出力する。
【0043】
これに対して残るパスメモリ8CA、8CB、8CE、8CFのうち、第1のパスメモリ8CAは(図14)、パスメモリ8CCと同一段数のラッチ16A〜16Nを直列接続し、これらラッチ16A〜16N間に、第4のパスメモリ8CDの履歴、又は直前のラッチの履歴を選択出力するセレクタ17A〜17Mを配置して構成される。
【0044】
これらセレクタ17A〜17Mは、判定結果SEL3に応じて動作を切り換え、これにより対応するメトリック計算回路8BAにおいて、第4の状態(S011)からのメトリックが選択されると、パスメモリ8CDの履歴を選択出力するのに対し、第1の状態(S111)からのメトリックが選択されると、自己が保持する履歴を選択出力する。初段のラッチ16Aは、これら2つの推移に共通して対応する値1の固定データをラッチする。また最終段のラッチ16Nは、2値復号出力D1を出力する。
【0045】
なお第6の状態(S111)のパスメモリ8CFは、この図14に示す構成において、第4のパスメモリ8CDの履歴に代えて、第3のパスメモリ8CCの履歴を選択的に承継する点、履歴の承継に対応して、値1の固定値データに代えて値0の固定値データを初段のラッチ16Aでラッチする点、履歴の送出先が異なる点、セレクタ17A〜17Mの切り換え信号が異なる点を除いて、この第1のパスメモリ8CAと同一に構成されることから、図14において対応する箇所を括弧書きにより示し、重複した説明は省略する。
【0046】
これに対して第2のパスメモリ8CBは(図15)、パスメモリ8CCと同一段数のラッチ16A〜16Nと、初段のラッチ16Aを除くこれらラッチ16B〜16Nに、第1のパスメモリ8CAの履歴、又は第4のパスメモリ8CDの履歴を選択出力するセレクタ17A〜17Mを配置して構成される。
【0047】
これらセレクタ17A〜17Mは、判定結果SEL2に応じて動作を切り換え、これにより対応するメトリック計算回路8BBにおいて、第1の状態(S000)からのメトリックが選択されると、パスメモリ8CAの履歴を選択出力するのに対し、第4の状態(S011)からのメトリックが選択されると、パスメモリ8CDの履歴を選択出力する。初段のラッチ16Aは、これら2つの推移に共通して対応する値0の固定データをラッチする。また最終段のラッチ16Nは、2値復号出力D1を出力する。
【0048】
なお第5の状態(S111)のパスメモリ8CEは、この図15に示す構成において、第1又は第4のパスメモリ8CA又は8CDの履歴に代えて、第6又は第3のパスメモリ8CF又は8CCの履歴を選択的に承継する点、履歴の承継に対応して値0の固定値データに代えて値1の固定値データを初段のラッチ16Aでラッチする点、履歴の送出先が異なる点、セレクタ17A〜17Mの切り換え信号が異なる点を除いて、この第2のパスメモリ8CBと同一に構成されることから、図15において対応する箇所を括弧書きにより示し、重複した説明は省略する。
【0049】
これらの構成により、各パスメモリ8CA〜8CFは、所定段数だけ履歴を承継すると、対応するラッチにおいて、同一の履歴が保持されることになる。ビタビ復号器8においては、これにより何れかのパスメモリ8CA〜8CFの最終段のラッチ16Nより2値復号出力D1を選択的に出力するようになされている。
【0050】
【発明が解決しようとする課題】
ところでビタビ復号器8のメトリック計算回路8BA〜8BFにおいては、ブランチメトリック計算回路8Aより出力されるブランチメトリックBMをそれまでのメトリックL〔k−1〕と加算して比較した後、比較結果に基づいてメトリックを選択的にラッチすることにより、入力データa〔k〕に対応するメトリックL〔k〕を計算するようになされており、この計算を入力データa〔k〕のクロック周期で繰り返す必要がある。
【0051】
これにより従来のビタビ復号器8は、高転送速度の入力データa〔k〕については、適用困難な問題があった。
【0052】
また各状態についてブランチメトリックBM、メトリックLを計算し、さらに履歴を保持することから、全体構成が煩雑になる問題がある。因みに、EPR4等化においては、6状態についてこれらの処理を実行すれば良いが、例えばEEPR4(PR(1,2,0,−2,−1))においては、10状態についてこれらの処理が必要になり、これにより高密度にデータを記録し、伝送する場合には、回路規模が指数関数的に増大することになる。
【0053】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構成でビタビ復号することができるディジタル信号再生装置、またこれに加えて高速度でビタビ復号することができるディジタル信号再生装置を提案しようとするものである。
【0054】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため本発明においては、入力信号を所定のサンプリング周期により仮識別して、正しい識別結果に対して、変化点のタイミングが同一か、又は1クロック周期だけ遅延してなる2値化信号を生成する。またこの入力信号を等化して等化信号を生成する。さらにこの2値化信号に基づいて、等化信号の取り得る状態の推移を制限し、この制限した状態の推移より最も確からしい状態推移を検出して入力信号を識別する。
【0055】
入力信号を所定のサンプリング周期により仮識別して、変化点のタイミングが同一か、又は1クロック周期だけ遅延してなる2値化信号を生成すれば、エッジのタイミングについては1クロックの誤差を有してはいるものの、十分な識別マージンにより入力信号を識別することができる。また必要に応じてこの入力信号を等化する等によっても、この識別マージンを向上することができる。またこの2値化信号に基づいて、等化信号の取り得る状態の推移を制限することができる。これによりこの制限した状態の推移から最も確からしい状態推移を検出して入力信号を識別すれば、状態の推移を制限した分、少ない演算処理により最も確からしい状態推移を検出でき、その分全体構成を簡略化することができる。また状態の推移を制限した分、推移の経路を低減でき、必要に応じて推移の選択に伴う確からしさの更新処理を2サンプリング周期以上の周期により実行することができる。
【0056】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【0057】
図1は、本発明の実施の形態に係るビタビ復号器を示すブロック図である。このビタビ復号器20は、例えば図9について上述したビタビ復号器8に代えて適用される。すなわちこの実施の形態では、RLL(1,7)符号とEPR4等化の組み合わせにビタビ復号器20を適用して、記録信号に対応する2値識別出力D1を再生する。
【0058】
このビタビ復号器20において、PR(1,1)等化器21は、ナイキャスト等化されてディジタル信号に変換されてなるディジタル再生信号DRFを受け、このディジタル再生信号DRFよりPR(1,1)等化信号SPR(1,1)を生成する。すなわちPR(1,1)等化器21は、順次入力されるディジタル再生信号DRFを順次1クロック周期だけ遅延させる遅延回路と、この遅延回路の入出力を加算して出力する加算器とにより構成され、これにより(1+D)の演算処理を実行してPR(1,1)等化信号SPR(1,1)を生成する。
【0059】
2値識別回路22は、このPR(1,1)等化信号SPR(1,1)を値1の振幅基準値により2値化して出力する。すなわち図2に示すように、振幅基準値1、0でなる記録信号SREC(図2(A))をナイキャスト等化した後(図2(B))、PR(1,1)等化信号SPR(1,1)(図2(C))に変換すれば、振幅基準値0、1、2によるPR(1,1)等化信号SPR(1,1)を得ることができる。このPR(1,1)等化信号SPR(1,1)においては、RLL(1,7)符号を処理することから、PR(1,1)等化信号SPR(1,1)においては、振幅基準値1を横切る前後で、対応する振幅基準値が値0及び値2を取ることになる。これによりこのPR(1,1)等化信号SPR(1,1)を値1の振幅基準値により2値化する場合、単にナイキャスト等化して得られるディジタル再生信号DRFを2値化する場合に比して、振幅方向に21/2 倍の識別マージンを得ることができる。
【0060】
この場合、2値識別回路22においては、このように等化されたノイズを含んでなる再生信号DRFを、次式の条件により2値識別することにより、2値識別信号S2(d)を生成する。ここでZ(k)は再生信号である。
【0061】
【数3】
【0062】
この識別結果S2(d)(図2(D))は、値1の振幅基準値を横切るタイミングがノイズにより変化することより、記録信号SRECに対して、各エッジのタイミングが同位相か又は1クロック遅延したものとなり、これにより識別結果S2(d)においては誤りを含んで識別されることになる。しかしながら単にナイキャスト等化して得られるディジタル再生信号DRFを2値化する場合に比して、振幅方向に21/2 倍、位相方向に2倍の識別マージンにより識別していることにより、各エッジにおいて1クロックの誤差を有してはいるものの、この1クロックの誤差を除いて記録信号SRECを正しく識別していることになる。これによりこの実施の形態では、この2値識別回路22により再生信号RFを仮識別し、この仮識別結果により計算量を低減する。
【0063】
すなわち図3に記録信号SREC(図3(A))と仮識別結果S2(図3(B))との関係を示すように、仮識別結果S2(d)におけるエッジのタイミングは、記録信号SRECに対して1クロック周期だけ遅延したものか(以下後ろエッジのタイミングと呼ぶ)、又は正しいタイミング(以下前エッジのタイミングと呼ぶ)かの何れかでなることにより、この仮識別結果S2(d)より考えられる記録信号SRECIは、エッジのタイミングが未確定な図3(C)に示すような信号波形になる。
【0064】
すなわち前エッジのタイミングが正しいものと仮定すると、EPR4等化信号SPR4(図3(D))においてこの前エッジに対応する状態は、図7より、S001又はS110であり、値0、値1又は値0、値−1の出力値が得られ、何れの出力値が得られる場合でも、2つのパスが合流して続くサンプリング点(後エッジのタイミング)で値2又は値−2の出力値が得られることになる。
【0065】
また同様に、後エッジのタイミングが正しいものと仮定すると、EPR4等化信号SPR4においてこの後エッジに対応する状態は、S001又はS110であり、2つのパスが合流して続くサンプリング点で値2又は値−2の出力値が得られることになる。
【0066】
これにより前エッジに対応する値2又は値−2の振幅基準値PAと、後エッジに対応する値2又は値−2の振幅基準値PB間とを結ぶパスaa〜bbについて、メトリックを計算して何れのエッジによる識別結果が確からしいか判定すれば、従来のビタビ復号による場合のように、全ての状態推移についてメトリックを計算しなくても、最も確からしいパスを選択することができる。これにより従来に比して全体構成を簡略化して、正しい復号結果を得ることができる。すなわちこの実施の形態では、図8について上述した6状態についての処理を4状態について実行すれば良いことになる。
【0067】
またd=1の制限により、パスの合流点に続くサンプリング点においては、パスが合流しないことにより、その分メトリックを判定した後、ブランチメトリックと加算して続くメトリックを計算する処理を、必要に応じて2サンプリング周期で実行することができ、これにより転送速度の早い入力データも簡易に処理することができる。
【0068】
具体的に、RLL(1,7)符号においては、値0、0又は値1、1が連続する場合には(識別結果が2Tの場合)、振幅基準値2及び−2の間で、3つのパスが存在し、値0又は値1が3ビット以上連続する場合には、振幅基準値2及び−2の間で、4つのパスが存在することになる。これによりこのように仮識別によるエッジのタイミングを基準にしてパスを判定するにつき、4系統のパスについてメトリックを計算すれば、ビタビ復号できる。
【0069】
なお以下において、この前エッジに対応する振幅基準値から前エッジに対応する振幅基準値へのパスを符号aaにより、前エッジに対応する振幅基準値から後ろエッジに対応する振幅基準値へのパスを符号abにより、後ろエッジに対応する振幅基準値から前エッジに対応する振幅基準値へのパスを符号baにより、後ろエッジに対応する振幅基準値から後ろエッジに対応する振幅基準値へのパスを符号bbにより示す。従ってパスaaは、仮識別信号S2の変化点を1クロック進めたものが正しいパスの場合であり、パスabは、仮識別信号S2の前側変化点を1クロック進めたものが正しいパスの場合である。またパスbaは、仮識別信号S2の後ろ側変化点を1クロック進めたものが正しいパスの場合であり、パスbbは、仮識別信号S2の変化点が正しいパスの場合である。
【0070】
EPR4等化器23は、PR(1,1)等化信号SPR(1,1)を受け、各サンプリング値を順次2クロック周期だけ遅延させ、この遅延した入力データと順次入力される入力データとを減算して出力する。これによりEPR4等化器23は、PR(1,1)等化信号SPR(1,1)を1−D2 の演算式により演算処理し、EPR4等化信号SPR4を出力する。
【0071】
状態検出回路24は、連続する仮識別信号S2より、仮識別信号S2の各タイミングに対応する、上述した4つのパスaa〜bbについての振幅基準値THaa〜THbbを出力する。また各パスaa〜bbが合流するタイミングを検出し、この合流のタイミング信号STを出力する。
【0072】
すなわち図4に示すように、状態検出回路24は、4つの遅延回路(D)24A〜24Dによる直列回路を有し、この直列回路により仮識別信号S2をクロック周期で順次遅延させる。デコーダー24Eは、この直列回路により生成される連続する5ビットの仮識別信号S2をアドレスにして、内蔵のメモリをアクセスすることにより、タイミング信号ST、各パスaa〜bbについての振幅基準値THaa〜THbbを出力する。
【0073】
この振幅基準値THaa〜THbbにおいて、状態検出回路24は、例えば図3において時点t1及びt2で示すように、パスaa〜bbが合流した場合には、対応する振幅基準値THaa〜THbbについては、同一の値を出力する。ちなみに、時点t1においては、パスaa及びabに値2の振幅基準値THaa、THabを出力するのに対し、パスba及びbbには、値1の振幅基準値THba、THbbを出力する。また時点t2においては、パスba及びbbに値2の振幅基準値THba、THbbを出力し、パスaa及びabに値1の振幅基準値THaa、THabを出力し、続く時点t3においては、パスaaに値−1、パスab及びbaに値0、パスbbに値1の振幅基準値THaa〜THbbを出力する。
【0074】
ブランチメトリック計算回路25(図1)は、振幅基準値THaa〜THbbよりEPR4等化信号SPR4のブランチメトリックMaa〜Mbbを順次計算して出力する。すなわちブランチメトリック計算回路25は、4つの減算回路にそれぞれ振幅基準値THaa〜THbbを受け、各減算回路において、各振幅基準値THaa〜THbbとEPR4等化信号SPR4との差分値を計算する。さらにブランチメトリック計算回路25は、各減算回路より出力される差分値をそれぞれ2乗回路により2乗し、これによりブランチメトリックMaa〜Mbbを計算する。
【0075】
ブランチメトリック処理回路26は、前エッジによる2つのパスaa、baに対応するブランチメトリック処理部26Aと、後ろエッジによる2つのパスab、bbに対応するブランチメトリック処理部26Bとにより構成される。すなわちブランチメトリック処理回路26は、前エッジに対応するサンプリング点にて合流する2つのパスaa、baに対応するブランチメトリック処理部26Aと、後ろエッジ側に対応するサンプリング点にて合流する2つのパスab、bbに対応するブランチメトリック処理部26Bとにより、それぞれ各パスによるメトリックを計算し、最も確からしいパスを選択する。
【0076】
すなわち図5に示すように、第1のブランチメトリック処理部26Aは、パスaaのブランチメトリックMaaを加算器27Aに入力し、ここで1サンプル前のパスaaにおけるメトリックと加算する。遅延回路(D)28Aは、この加算器27Aの加算出力をラッチする。
【0077】
これに対して加算器29Aは、1サンプル前のパスabにおけるメトリックとパスbaのブランチメトリックMbaを加算する。遅延回路(D)30Aは、この加算器29Aの加算出力をラッチする。比較器31Aは、ラッチ28A及び30Aの出力信号を比較することにより、パスaa及びbaのメトリックから、値の小さなメトリックを選択する。
【0078】
遅延回路(D)32Aは、この比較器31Aの比較結果をラッチして保持し、セレクタ33Aは、このラッチ32Aに保持された比較結果に基づいて、ラッチ28A、30Aに保持されたメトリックを選択して出力する。かくするにつき図3について上述したように、前エッジに対応する合流点以降においては、1つのパスが形成され、それぞれ合流点前の2つのパスaa、baに値の等しいブランチメトリックが加算される。
【0079】
従ってこの実施の形態のように、各パスaa、baについて計算したメトリックを一旦ラッチ28A、30Aに保持した後、比較器31Aにより比較してセレクタ33Aにより選択しても、すなわち1クロック周期だけ前のメトリックの比較結果により、続くメトリックを選択しても、以降のメトリックの計算に必要な正しいメトリックを選択することができる。
【0080】
すなわち第1のブランチメトリック処理部26Aにおいて、セレクタ34Aは、タイミング信号STを基準にしてラッチ28Aに保持したメトリックに代えて、セレクタ33Aで選択したメトリックを加算器27Aに選択出力することにより、前エッジに対応する値2及び値−2の振幅基準値(図3において時点t1の時点でなる)の1クロック周期前の時点において比較したメトリックの比較結果に基づいて、合流点におけるメトリックを選択する。
【0081】
またセレクタ35Aは、タイミング信号STを基準にして、遅延回路30Aに保持したメトリックに代えて、第2のブランチメトリック処理部26Bで計算されたメトリックを加算器29Aに選択出力することにより、同様のタイミングによる比較結果に基づいて、前エッジに対応するタイミングにおけるメトリックを選択する。これにより第1のブランチメトリック処理部26Aにおいては、2クロック周期で、2つのパスについてメトリックを計算した後、比較結果を得、メトリックを計算するようになされている。
【0082】
同様に、第2のブランチメトリック処理部26Bは、パスabのブランチメトリックMabを加算器27Bに入力し、ここで1サンプル前のパスabにおけるメトリックと加算する。遅延回路(D)28Bは、この加算器27Bの加算出力をラッチする。
【0083】
これに対して加算器29Bは、1サンプル前のパスbbにおけるメトリックとパスbbのブランチメトリックMbbを加算する。遅延回路(D)30Bは、この加算器29Bの加算出力をラッチする。比較器31Bは、ラッチ28B及び30Bの出力信号を比較することにより、パスab及びbbのメトリックから、値の小さなメトリックを選択する。
【0084】
遅延回路(D)32Bは、この比較器31Bの比較結果をラッチして保持し、セレクタ33Bは、このラッチ32Bに保持された比較結果に基づいて、ラッチ28B、30Bに保持されたメトリックを選択して出力する。かくするにつきこの後ろエッジに対応するパスab、bbについても、対応する合流点以降においては、1つのパスが形成されることにより、合流点に続くサンプリング点においては、各パスab、bbのメトリックに値の等しいブランチメトリックを加算することになる。
【0085】
これによりセレクタ34Bは、タイミング信号STを基準にしてラッチ28Bに保持したメトリックに代えて、第1のブランチメトリック処理部26Aで計算されたメトリックを加算器27Bに選択出力することにより、後ろエッジに対応する値2及び値−2の振幅基準値(図3において時点t2の時点でなる)の1クロック周期前の時点において比較したメトリックの比較結果に基づいて、後ろエッジに対応するタイミングにおけるメトリックを選択する。すなわち1クロック周期だけ前のメトリックの比較結果により、続くメトリックを選択する。
【0086】
またセレクタ35Bは、タイミング信号STを基準にして、遅延回路30Bに保持したメトリックに代えて、セレクタ33Bで選択したメトリックを選択出力することにより、同様にして後ろエッジに対応するタイミングのメトリックを選択する。これにより第2のブランチメトリック処理部26Bにおいても、2クロック周期で、2つのパスについてメトリックを計算した後、比較結果を得、合流点におけるメトリックを計算するようになされている。
【0087】
ブランチメトリック処理回路26においては、このラッチ32A、32Bに保持した比較結果を選択信号SELA及びSELBとして出力する。
【0088】
シフトレジスタ40A及び40Bは(図1)、パスメモリユニットを構成し、選択信号SELA及びSELBに応動して自己の保持した履歴、又は他方のシフトレジスタ40B及び40Aが保持した履歴を転送することにより、2値識別出力D1を出力する。
【0089】
図6は、このシフトレジスタ40A及び40Bを示すブロック図である。第1のシフトレジスタ40Aは、履歴を保持する所定段数のラッチ(D)43A〜43Nと、初段のラッチ43Aを除いて、これらのラッチ43B〜43Nに履歴を選択出力するセレクタ44A〜44Mにより構成される。すなわちシフトレジスタ40Aは、初段のラッチ43Aに仮識別信号S2を入力する。さらにシフトレジスタ40Aは、タイミング補正用の遅延回路(D)42を介して入力される選択信号SELAによりセレクタ44A〜44Mの接点を切り換え、ブランチメトリック処理部26Aにおけるパスの選択に対応して、前段のラッチ43A〜43Mに保持した自己の履歴、又はシフトレジスタ40Bの対応するラッチ45A〜45Mに保持した履歴を選択して、続くラッチ43B〜43Nに出力する。
【0090】
第2のシフトレジスタ40Bは、同様に、履歴を保持する所定段数のラッチ(D)45A〜45Nと、初段のラッチ45Aを除いて、これらのラッチ45B〜45Nに履歴を選択出力するセレクタ46A〜46Mにより構成される。すなわちシフトレジスタ40Bは、タイミング補正用の遅延回路(D)41を介して、初段のラッチ45Aに仮識別信号S2を入力する。さらにシフトレジスタ40Bは、選択信号SELBにより第1のシフトレジスタ40Aにおけるセレクタの切り換えに同期して、セレクタ46A〜46Mの接点を切り換え、これによりブランチメトリック処理部26Bにおけるパスの選択に対応して、前段のラッチ45A〜45Mに保持した自己の履歴、又はシフトレジスタ40Aの対応するラッチ43A〜43Mに保持した履歴を選択して、続くラッチ45B〜45Nに出力する。
【0091】
ここで第1及び第2のシフトレジスタ40A及び40Bにおいては、これらラッチ43A〜43N、45A〜45N、セレクタ44A〜44M、46A〜46Mが所定の段数により構成され、これにより所定段数以降において、保持した履歴の内容が一致するようになされている。
【0092】
以上の構成において、磁気ヘッドを介して得られる再生信号RFは、積分等化器2(図9)によりナイキャスト等化された後、比較回路3により2値化され、その結果得られる2値化信号によりクロックCKが再生される。さらにこのクロックCKにより順次アナログディジタル変換処理され、これによりディジタル再生信号DRFが生成される。
【0093】
このディジタル再生信号DRF(図1)は、PR(1,1)等化器21において、PR(1,1)の特性により等化され、振幅基準値が値0、値1、値2でなるPR(1,1)等化信号SPR(1,1)(図2(A)〜(C))に変換される。これによりディジタル再生信号DRFは、十分な識別マージンを有してなるPR(1,1)等化信号SPR(1,1)に変換された後、2値識別回路22において、このPR(1,1)等化信号SPR(1,1)が値1の振幅基準値を基準にして2値化され、仮識別信号S2が生成される(図2(D))。
【0094】
この仮識別信号S2は(図3(A)〜(C))、十分な識別マージン(振幅基準値0〜2の範囲)により2値化され、また再生信号RFに対応する記録信号SRECがd=1の制限によるRLL(1,7)符号により生成されていることにより、エッジのタイミングにおいて1クロックの誤差を有してはいるものの、このエッジの誤差を除いて記録信号SRECを正しく識別していることになる。
【0095】
これにより仮識別信号S2は(図4)、状態検出回路24において、遅延回路24A〜24Dを順次転送されて、連続する5ビットのパラレルデータによりデコーダー24Eがアクセスされ、このエッジの誤差に対して、ディジタル再生信号DRFが取り得る可能性のある4系統のパスaa〜bbについて(図3(D))、各パスaa〜bbの振幅基準値THaa〜THbb(値2、1、0、−1、−2の何れか)が順次生成され、また4系統のパスaa〜bbが合流する合流点に対応するタイミング信号STが生成される。
【0096】
これによりビタビ復号器20において、ディジタル再生信号DRFが取り得る6つの状態に対して、数の少ない4つのパスについて、メトリックを順次計算してビタビ復号する。
【0097】
すなわちビタビ復号器20において(図1)、PR(1,1)等化信号SPR(1,1)は、EPR4等化器23において等化され、振幅基準値が値2、値1、値0、値−1、値−2でなるEPR4等化信号SPR4に変換され、このEPR4等化信号SPR4がブランチメトリック計算回路25に入力される。
【0098】
このブランチメトリック計算回路25において、EPR4等化信号SPR4は、状態検出回路24で計算された各パスaa〜bbの振幅基準値THaa〜THbbと順次減算され、各減算値の2乗値より各パスaa〜bbのブランチメトリックMaa〜Mbbが計算される。
【0099】
これらのブランチメトリックMaa〜Mbbのうち、前エッジに対応するブランチメトリックMaa及びMbaにおいては、第1のブランチメトリック処理部26Aにおいて(図5)、セレクタ34A、35Aより出力される各パスのメトリックと加算され、これにより続くサンプリング点のメトリックLaa、Labが計算される。さらにこのメトリックLaa、Labは、一旦ラッチ28A、30Aでラッチされた後、比較器31Aにおいて比較され、ラッチ32を介して得られる比較結果により、セレクタ33Aにおいて、値の小さな(確からしい)メトリックが選択される。
【0100】
この選択されたメトリックは、ラッチ32Aを介して入力される比較結果に基づいてセレクタ33Aにおいて選択されることにより、前エッジに対応する値2及び値−2の振幅基準値のタイミングより1クロック周期だけ逆上った時点におけるメトリックの比較結果に基づいて、2つのパスaa、baが合流する合流点のメトリックが加算器27Aに出力され、また第2のブランチメトリック処理部26Bの対応する加算器27Bに出力される。これにより全体として2サンプリング周期によりメトリックの計算、比較、更新処理が実行され、高転送レートによる再生信号RFについても、メトリックを計算処理することができる。
【0101】
同様にして第2のブランチメトリック処理部26Bにおいて、ブランチメトリックMaa〜Mbbのうち、後ろエッジに対応するブランチメトリックMba及びMbbは、各パスba及びbbのそれまでのメトリックと加算されて各パスba及びbbのメトリックLba及びLbbが計算された後、比較器31Bにおいて比較され、その比較結果により選択される。
【0102】
さらにこの選択されたメトリックは、後エッジに対応する値2及び値−2の振幅基準値のタイミングから1クロック周期だけ逆上った時点におけるメトリックの比較結果に基づいて、2つのパスab、baが合流する合流点のメトリックが加算器29Bに出力され、また第1のブランチメトリック処理部26Aの対応する加算器29Aに出力される。これにより全体として2サンプリング周期によりメトリックの計算、比較、更新処理が実行され、高転送レートによる再生信号RFについても、確実にメトリックを計算処理することができる。
【0103】
このようにしてメトリックの比較結果でなる比較器31A、31Bの比較結果は、パスメモリユニットの選択信号SELA、SELBとして、パスメモリユニットを構成するシフトレジスタ40A、40Bに出力される。
【0104】
このシフトレジスタ40A、40Bにおいては(図6)、直接に、又は遅延回路41を介して、仮識別信号S2を入力することにより、それぞれ1クロックの誤差に対応してなる第1及び第2のブランチメトリック処理部26A及び26Bに対応するタイミングにより仮識別信号S2を入力する。この入力した仮識別信号S2は、それぞれ順次ラッチ43A〜43N、45A〜45Nを転送され、また選択信号SELA、SELBにより、他方のシフトレジスタ40B、40Aに移し代えられて転送され、これにより所定段数だけ転送されると、ディジタル再生信号DRFにおけるパスの経路に対応して、ラッチ43A〜43N、45A〜45Nに保持された内容が記録信号SRECを識別してなる等しい値に設定される。これによりビタビ復号器20においては、1クロック周期の誤差に対応する4つの状態についてメトリックを判定し、またこの1クロック周期の誤差に対応する前エッジ用及び後ろエッジ用のシフトレジスタ40A、40Bにより履歴を保持して、簡易な構成により、高速度で識別できるようになされている。
【0105】
以上の構成によれば、ディジタル再生信号DRFをPR(1,1)等化信号に変換して仮識別した後、この仮識別して得られる2値化信号のエッジを基準にして、ディジタル再生信号DRFの取り得るパスを制限してメトリックを処理したことにより、何らパスを制限しない従来構成のビタビ復号器に比して、少ない状態推移についてメトリックを処理して、ディジタル再生信号DRFをビタビ復号することができる。これにより簡易な構成でビタビ復号することができる。
【0106】
またこの2値化信号による履歴を前エッジ及び後ろエッジに対応するタイミングによりシフトレジスタ40A及び40Bで転送すると共に、メトリックの判定結果に基づいてシフトレジスタ40A及び40B間で移し代えて転送することにより、2系統のシフトレジスタによりビタビ復号することができ、その分簡易な構成によりビタビ復号することができる。
【0107】
さらに前エッジ及び後ろエッジに対応する合流点の1クロック周期前のタイミングによるメトリックの判定結果に基づいて、合流点に対応するタイミングのメトリックを選択して続くメトリックを計算することにより、メトリックの計算、比較、選択の処理を2クロックの期間で実行することができ、その分転送速度の早い再生信号RFについても確実に復号することができる。
【0108】
なお上述の実施の形態においては、振幅基準値との間の差分の信号レベルを2乗してブランチメトリックを計算する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、単に差分によりメトリックを算出する場合にも適用することができる。
【0109】
また上述の実施の形態においては、d=1の制限によるRLL(1,7)符号をPR(1,1)等化することにより振幅基準値が値0、1、2になるようにして仮識別による識別マージンを増大する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の等化方式により識別マージンを増大して仮識別する場合、さらには伝送系の特性等によってはこの等化の処理を省略して仮識別してもよい。
【0110】
また上述の実施の形態においては、d=1の制限によるRLL(1,7)符号を適用することにより、エッジに対応する合流点に続いてパスが合流しないようにし、これにより等化信号SPR4の取り得る状態推移を制限する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、RLL(1,7)符号に代えてEFM(eight to fourteen )変調による場合等、基準周期Tに対して最短波長が2T以上の符号化方式に広く適用することができる。
【0111】
また上述の実施の形態においては、仮識別信号S2を順次ラッチすることにより前エッジ及び後ろエッジに対応する2系統のシフトレジスタによりパスメモリを構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、仮識別信号S2に代えて固定値のデータを順次転送することにより、ブランチメトリック処理回路26において判定した4つのパスに対応するシフトレジスタによりパスメモリを構成してもよい。
【0112】
さらに上述の実施の形態においては、EPR4の等化により再生信号を識別する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばEEPR(Extended Extended Partial Responce)4等、種々の等化により再生信号を識別する場合に広く適用することができる。
【0113】
また上述の実施の形態においては、本発明をビデオテープレコーダに適用して磁気記録された記録信号を復号する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスク装置等における光記録、種々の情報通信等に広く適用することができる。
【0114】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、入力信号を仮識別し、この仮識別結果に基づいて、入力信号を等化してなる等化信号の取り得る状態推移を制限し、該制限した状態推移について確からしい推移を判定することにより、簡易な構成でディジタル信号をビタビ復号することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るビタビ復号器を示すブロック図である。
【図2】図1のビタビ復号器における仮識別の説明に供する信号波形図である。
【図3】図2の仮識別と等化信号との関係を示す信号波形図である。
【図4】図1のビタビ復号器における状態検出回路を示すブロック図である。
【図5】図1のビタビ復号器におけるブランチメトリック処理回路を示すブロック図である。
【図6】図1のビタビ復号器におけるシフトレジスタを示すブロック図である。
【図7】EPR4における状態推移を示す図表である。
【図8】図7のトレリス線図である。
【図9】ビデオテープレコーダの全体構成を示すブロック図である。
【図10】従来のビタビ復号器を示すブロック図である。
【図11】図10のメトリック計算回路を示すブロック図である。
【図12】図11の続きを示すブロック図である。
【図13】図10のパスメモリを示すブロック図である。
【図14】図10の他のパスメモリを示すブロック図である。
【図15】図10の他のパスメモリを示すブロック図である。
【符号の説明】
1……ビデオテープレコーダ、2、21、23……等化器、7……アナログディジタル変換器、8、20……ビタビ復号器、8A、25……ブランチメトリック計算回路、8B、26……ブランチメトリック処理回路、22……2値識別回路、24……状態検出回路、26A、26B……ブランチメトリック処理部、40A、40B……シフトレジスタ
Claims (6)
- 入力信号を所定のサンプリング周期により仮識別して、正しい識別結果に対して、変化点のタイミングが同一か、又は1クロック周期だけ遅延してなる2値化信号を出力する仮識別手段と、
前記入力信号を等化して等化信号を出力する等化手段と、
前記2値化信号に基づいて、前記等化信号の取り得る状態の推移を制限し、該制限した状態の推移の中から最も確からしい状態推移を検出して前記入力信号を識別する判定手段とを備え、
前記判定手段は、
前記2値化信号の変化点に対応する前記等化信号の状態の推移と、
前記2値化信号の変化点が1サンプリング周期だけ遅延させたタイミングにおける前記2値化信号の変化に対応する前記等化信号の状態の推移とに、
前記等化信号の取り得る状態の推移を制限する
ことを特徴とするディジタル信号再生装置。 - 前記判定手段は、
前記制限した状態の推移について、それぞれ前記等化信号が取り得る振幅基準値から前記等化信号の距離を累積して各推移の確からしさを計算する確からしさの計算手段と、
前記各推移の確からしさより最も確からしい推移を検出する確からしさの判定手段と、
前記確からしさの判定手段の判定結果に基づいて、各推移の履歴又は他の推移の履歴を選択的に転送して出力する履歴保持手段と
を有することを特徴とする請求項1に記載のディジタル信号再生装置。 - 前記判定手段は、
前記2値化信号を順次転送する第1のシフトレジスタと、
前記第1のシフトレジスタに対応して、前記2値化信号の遅延信号を順次転送する第2のシフトレジスタとを有し、
検出した最も確からしい状態推移に基づいて、前記第1及び第2のシフトレジスタの内容を移し代え、前記第1又は第2のシフトレジスタの出力信号を識別結果として出力する
ことを特徴とする請求項1に記載のディジタル信号再生装置。 - 前記判定手段は、
前記制限した状態の推移について、それぞれ前記等化信号が取り得る振幅基準値から前記等化信号の距離を累積して各推移の確からしさを検出する確からしさの計算手段と、
前記各推移の確からしさより最も確からしい推移を検出する確からしさの判定手段とを有し、
所定のタイミングで前記最も確からしい推移の判定結果を得、前記判定結果より続くサンプリング点における対応する確からしさを選択し、該選択した確からしさより続く推移の確からしさを計算する
ことを特徴とする請求項1に記載のディジタル信号再生装置。 - 前記仮識別手段は、
前記入力信号を所定の特性により等化した後、前記2値化信号を生成する
ことを特徴とする請求項1に記載のディジタル信号再生装置。 - 前記入力信号は、
基準の繰り返し周期Tに対して、最短波長が2T以上になるように符号化処理され、
前記仮識別手段は、
前記基準の繰り返し周期をサンプリング周期に設定して前記入力信号を仮識別する
ことを特徴とする請求項1に記載のディジタル信号再生装置。
Priority Applications (2)
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