JP4023741B2 - 試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 - Google Patents
試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4023741B2 JP4023741B2 JP2004009498A JP2004009498A JP4023741B2 JP 4023741 B2 JP4023741 B2 JP 4023741B2 JP 2004009498 A JP2004009498 A JP 2004009498A JP 2004009498 A JP2004009498 A JP 2004009498A JP 4023741 B2 JP4023741 B2 JP 4023741B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- charged particle
- particle beam
- sample
- beam device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/026—Means for avoiding or neutralising unwanted electrical charges on tube components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/26—Electron or ion microscopes
- H01J2237/28—Scanning microscopes
- H01J2237/2813—Scanning microscopes characterised by the application
- H01J2237/2817—Pattern inspection
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
Description
(a)試料3の表面材料。表面材料が、衝突する電子ビーム7によって試料3がどの程度に帯電するかを左右するからである。試料の帯電が高いほど、高速の電荷除去の必要性が高くなる。
(b)試料3を帯電させる電子ビーム7の流れ。
(c)対物レンズ18と試料3との間の領域の形状。この領域の形状が、周囲の真空38によって注入ガス12が如何に早く除去されるかを左右するからである。周囲の真空により対物レンズ18と試料3との間の領域からガスを除去する効率は、導通度の値により特定することができる。
(d)所望の領域、すなわち、荷電粒子ビームまたは入射領域に、どれだけ正確にガスを差し向けることができるかを決める「ピーキング比」。
3 試料(ウエーハ)
5 荷電粒子ビーム源(電子銃)
7 荷電粒子ビーム
10 ガス供給システム
11 ガス供給ユニット
13 分配圧チャンバー
14 管
15 複数の管
16 ビーム光学系
18 終段フォーカスレンズ
18a 終段フォーカスレンズの下端
20 内断面
22 管プレート
24 管プレートの前面側
26 管プレートの後面側
28 管プレート径
30 自由行程長
32 管出口
34 管入口
36 管入口の圧力
38 管出口の圧力(真空)
39 孔
40 入射領域
52 終段フォーカスレンズの光軸
54 アノード
56 高電圧ビームコラム(基準電極)
58 集光器
60 検出器
62 二次粒子
64 終段フォーカス磁石コイル
66 ビームコラム
68 所望の領域
69 ガスパイプ
70 圧力制御ユニット
L 管の長さ
A 内断面積
AT 管全部を組合わせた内断面総面積
D 管の固有内径
λ 自由行程長
Claims (25)
- 試料(3)を検査又は処理する荷電粒子ビーム装置(1)であって、
(a)荷電粒子ビーム(7)を生成する荷電粒子ビーム源(5)と、
(b)前記試料(3)に前記荷電粒子ビーム(7)を差し向けるためのビーム光学系(16)と、
(c)前記荷電粒子ビーム装置(1)にガス(12)を供給するガス供給システム(10)とを含み、
前記ガス供給システム(10)が、前記ガス(12)を所望の領域(68)に差し向けて前記試料(3)と相互作用させるための、管(14)からなる少なくとも10本のガス通路を有することからなる荷電粒子ビーム装置(1)。 - 試料(3)を検査又は処理する荷電粒子ビーム装置(1)であって、
(a)荷電粒子ビーム(7)を生成する荷電粒子ビーム源(5)と、
(b)前記試料(3)に前記荷電粒子ビーム(7)を差し向けるためのビーム光学系(16)と、
(c)前記荷電粒子ビーム装置(1)にガス(12)を供給するガス供給システム(10)とを含み、
前記ガス供給システム(10)が、前記ガス(12)を所望の領域(68)に差し向けて前記試料(3)と相互作用させるための、管(14)又は孔(39)からなる少なくとも10本のガス通路を有し、該ガス通路は、該ガス通路の内断面積(A)の平方根の10倍よりも長い通路長さ(L)を有することを特徴とする荷電粒子ビーム装置(1)。 - 前記ガス通路が前記ガス(12)の動きに直進性を付与する、請求項1又は2に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路が管(14)からなり、前記ガス(12)の動きに直進性を付与する、請求項2に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記ガス通路が、鉛直方向に高さを有するプレートを鉛直方向に貫通した孔(39)からなり、前記ガス(12)の動きに直進性を付与する、請求項2に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記ガス供給システム(10)が、前記ガス(12)を差し向ける100本超の前記ガス通路を有する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記所望の領域(68)が、前記荷電粒子(7)で占められる容積、及び/又は、前記荷電粒子ビーム(7)が前記試料(3)に衝突する領域である、請求項1〜6のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記荷電粒子ビーム装置(1)が、1×10−3mbarより低い圧力の真空を提供する、請求項1〜7のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路の各々の内断面積Aの、該ガス通路の長さLに沿った方向の変動が、該ガス通路の出口(32)における内断面積Aの4倍未満である、請求項1〜8のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路の各々の出口(32)の内断面積Aが50,000μm2未満である、請求項1〜9のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路の夫々の入口(34)が分配圧チャンバー(13)内に位置する、請求項1〜10のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路の夫々の入口(34)が共通の分配圧チャンバー(13)内に位置する、請求項1〜10のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路が互いに実質的に平行に配列されている、請求項1〜12のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路としての管(14)が、管の束として配列されている、請求項1、2又は4に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路の出口(32)の密度が、102(1/cm2)乃至107(1/cm2)の範囲にある、請求項5又は14に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 正常動作中、前記ガス通路の各々の出口(32)における前記ガス(12)の「ピーキング比」が2よりも大きい、請求項1〜15のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 正常動作中、前記ガス通路の入口(36)における圧力が10mbar未満である、請求項1〜16のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置。
- 前記ビーム光学系(16)が、前記荷電粒子ビーム(7)を前記試料(3)上に集束させる終段フォーカスレンズ(18)を有する、請求項1〜17のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 正常動作中、前記ガス通路が、前記終段フォーカスレンズ(18)と前記試料(3)の表面との間の領域にある前記荷電粒子ビーム(7)の中にガス(12)を差し向ける、請求項18に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス通路が、前記ガス(12)を前記試料(3)に差し向けるために、前記終段フォーカスレンズの光軸(52)に関して60°未満の角度αで配列されている、請求項18又は19に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ビーム光学系(16)が、イオン化した前記ガス(12)を前記試料(3)に向けて加速させる電界を発生するための基準電極(56)を有する、請求項1〜20のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記プレートが複数である、請求項5に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記少なくとも2つの前記プレートが、前記終段フォーカスレンズ(52)の光軸の周囲に半円状に配置されている、請求項22に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記ガス(12)が、前記ガス通路を通過するときに中性ガスである、請求項1〜23のいずれか一項に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
- 前記中性ガス(12)が、N2か、He、Ne、Ar、Kr、XeまたはCH4のような不活性ガスであるか、或いは、これらのガスの混合である、請求項24に記載の荷電粒子ビーム装置(1)。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP03000677.9A EP1439564B1 (en) | 2003-01-16 | 2003-01-16 | Charged particle beam device for inspecting or structuring a specimen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004342583A JP2004342583A (ja) | 2004-12-02 |
JP4023741B2 true JP4023741B2 (ja) | 2007-12-19 |
Family
ID=32524127
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004009498A Expired - Fee Related JP4023741B2 (ja) | 2003-01-16 | 2004-01-16 | 試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6900443B2 (ja) |
EP (1) | EP1439564B1 (ja) |
JP (1) | JP4023741B2 (ja) |
WO (1) | WO2004064097A2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7170068B2 (en) * | 2005-05-12 | 2007-01-30 | Applied Materials, Israel, Ltd. | Method and system for discharging a sample |
JP4911567B2 (ja) * | 2005-12-16 | 2012-04-04 | 株式会社トプコン | 荷電粒子ビーム装置 |
EP1816668A2 (en) * | 2006-02-01 | 2007-08-08 | FEI Company | Particle-optical apparatus with a predetermined final vacuum pressure |
EP1826808B1 (en) * | 2006-02-23 | 2010-07-28 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Charged particle beam device with ozone supply |
EP1860679A1 (en) | 2006-05-23 | 2007-11-28 | ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik Mbh | Charged particle beam device with a gas field ion source and a gas supply system |
JP2008010151A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム装置 |
DE102008040426B4 (de) | 2008-07-15 | 2015-12-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Untersuchung einer Oberfläche eines Objekts |
JP4960393B2 (ja) * | 2009-01-30 | 2012-06-27 | 株式会社荏原製作所 | 荷電粒子線装置及び該装置を用いたデバイス製造方法 |
JP5522440B2 (ja) * | 2009-10-29 | 2014-06-18 | 岩崎電気株式会社 | 電子線照射装置及び電子線照射方法 |
JP5496842B2 (ja) * | 2010-09-24 | 2014-05-21 | サントリーホールディングス株式会社 | 電子線殺菌方法および電子線殺菌装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5139624A (en) * | 1990-12-06 | 1992-08-18 | Sri International | Method for making porous semiconductor membranes |
US6066849A (en) * | 1997-01-16 | 2000-05-23 | Kla Tencor | Scanning electron beam microscope |
EP0969494A1 (en) * | 1998-07-03 | 2000-01-05 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Apparatus and method for examining specimen with a charged particle beam |
EP1047104A1 (en) * | 1999-04-19 | 2000-10-25 | Advantest Corporation | Apparatus for particle beam induced modification of a specimen |
JP2002341099A (ja) * | 2001-05-17 | 2002-11-27 | Seiko Instruments Inc | 複数ノズルの一つを選択可能に昇降駆動できるガス銃 |
-
2003
- 2003-01-16 EP EP03000677.9A patent/EP1439564B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-01-14 US US10/757,354 patent/US6900443B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-01-16 WO PCT/EP2004/000312 patent/WO2004064097A2/en active Application Filing
- 2004-01-16 JP JP2004009498A patent/JP4023741B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004342583A (ja) | 2004-12-02 |
WO2004064097A3 (en) | 2005-03-24 |
EP1439564B1 (en) | 2016-07-27 |
EP1439564A1 (en) | 2004-07-21 |
US20040169140A1 (en) | 2004-09-02 |
WO2004064097A2 (en) | 2004-07-29 |
US6900443B2 (en) | 2005-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7968855B2 (en) | Dual mode gas field ion source | |
US7692165B2 (en) | Charged particle beam device with a gas field ion source and a gas supply system | |
EP2019412B1 (en) | Gas field ion source for multiple applications | |
US8026492B2 (en) | Dual mode gas field ion source | |
US7772564B2 (en) | Particle-optical apparatus equipped with a gas ion source | |
TWI338908B (en) | Charged particle beam device | |
JP2002507045A (ja) | 走査型電子顕微鏡 | |
JP2022552751A (ja) | 標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置 | |
WO2013008561A1 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP4023741B2 (ja) | 試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 | |
JP2006519462A (ja) | クリーニングユニットを有する荷電粒子ビームデバイスおよびその稼動方法 | |
EP2182542B1 (en) | Method of operating a focused ion beam device with a dual mode gas field ion source | |
TWI737070B (zh) | 多束設備及非暫時性電腦可讀媒體 | |
JP7117107B2 (ja) | 衝突イオン化源 | |
WO2001003145A1 (en) | Apparatus and method for examining specimen with a charged particle beam | |
EP4376047A2 (en) | Particle beam system | |
US20050199806A1 (en) | Apparatus and method for directing gas towards a specimen | |
EP2779201A1 (en) | High brightness electron gun, system using the same, and method of operating the same | |
EP2182543B1 (en) | Method and device for improved alignment of a high brightness charged particle gun |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050826 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20051122 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20051128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060225 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070206 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20070427 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20070507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070806 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070829 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070928 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4023741 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101012 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111012 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121012 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121012 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131012 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |