JP4017196B2 - 分布帰還型半導体レーザ装置 - Google Patents
分布帰還型半導体レーザ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4017196B2 JP4017196B2 JP06256095A JP6256095A JP4017196B2 JP 4017196 B2 JP4017196 B2 JP 4017196B2 JP 06256095 A JP06256095 A JP 06256095A JP 6256095 A JP6256095 A JP 6256095A JP 4017196 B2 JP4017196 B2 JP 4017196B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- light
- absorption layer
- periodic
- light absorption
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1228—DFB lasers with a complex coupled grating, e.g. gain or loss coupling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
- H01S5/32316—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm comprising only (Al)GaAs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
- H01S5/32333—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm based on InGaAsP
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【産業上の利用分野】
本発明は、単一縦モードで発振する利得結合分布帰還型半導体レーザ装置(以下、「利得結合DFB−LD」と略す)に関する。
【0002】
【従来の技術】
利得結合DFB−LDは、優れた単一縦モード発振が得られること、戻り光により雑音が生じにくいことといった特徴を有している。波長1.33μm、1.5μmを有する長波長の利得結合DFB−LDは超高速光通信用の光源として、概1μmよりも短い波長の利得結合DFB−LDは光計測装置・高速光伝送装置・光記録装置の光源として重要である。
【0003】
利得結合DFB−LDは、誘導放出光を発生する活性層がその誘導放出光に対して吸収を持たないクラッド層に挟まれたダブルヘテロ接合構造を有しており、活性層近傍に回折格子を備えており、活性層が発生する誘導放出光の利得が回折格子によって素子内部で位置的に周期的に変化することによって光の分布帰還が生じ、レーザ発振がもたらされる機構(これを「利得結合」と呼ぶ)を有している。
【0004】
回折格子によって誘導放出光の利得を周期的に変化させる方法としては、活性層の利得そのものを周期的に摂動させる方法(利得性回折格子)と、活性層近傍に光吸収層を周期的に形成することによって実効的に利得の周期的摂動が生じる構造(吸収性回折格子)とが実現されている。後者に関しては、特公平6−7624に基本となる構造が示されており、活発に研究されている。
【0005】
図7は活性層近傍に周期的な光吸収層を形成することによって実効的に利得の周期的摂動が生じる構造とした、従来の利得結合DFB−LDの構造を示す図である(IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS,VOL4,NO.7,1992,P.692より)。すなわち、n−GaAs基板701上にn−AlGaAsクラッド層702を1.0μm、un−GaAs活性層703を0.09μm、p−AlGaAsキャリアバリア層704を0.1μm、p−AlGaAs第1ガイド層705を0.1μm、n−GaAs光吸収層706を50nm、有機金属気相成長法(MOCVD法)により連続的に結晶成長した後、二光束干渉露光法並びにウエットエッチング法により回折格子707を形成してn−GaAs光吸収層706を周期的に除去し、その上にp−AlGaAs第2ガイド層708を0.1μm、p−AlGaAsクラッド層709を1.0μm、p−GaAsコンタクト層710を0.5μmの結晶再成長を行い、素子を作製している。
【0006】
図7における従来例では、吸収性回折格子の吸収飽和を抑制する為に、導電型を反転した吸収層が用いられている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
高出力で半導体レーザを駆動させる場合には素子内部の光密度が非常に大きくなる為、従来の利得結合DFB−LDにおいても光吸収層に吸収飽和が生じ得る。光吸収層の吸収飽和が生じると、吸収性回折格子による利得結合が生じなくなる為に単一縦モード発振特性を損なわれ、問題となる。
【0008】
また、従来の構造では光吸収層として活性層に比較的近い禁制帯幅を有する半導体層が用いられてきた。この場合には、誘導放出光が周期的吸収層で吸収されるときの吸収の程度を示す「吸収係数」が、吸収層内の不純物添加量や活性層からの誘導放出光の波長の変動に強く影響されることになる。その結果、作製される素子の特性にばらつきが生じるほか、素子をレーザ発振させる時、その出力によって光吸収層の吸収係数が大きく変化し、安定した単一縦モード特性が確保されない問題があった。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る請求項1の分布帰還型半導体レーザ装置は、
AlGaAs材料で形成された活性層近傍に光分布帰還を与える周期構造を備え、該周期構造が、前記活性層から発生する誘導放出光に対する吸収係数が周期的に変化する、周期的吸収層である利得結合分布帰還型半導体レーザにおいて、
前記周期的光吸収層がn型AlxGa1-xAs(0≦X≦1)で形成され、かつ、その厚さが電子のド・ブロイ波長よりも厚く、
かつ、前記周期的光吸収層におけるAl混晶比が、前記誘導放出光のエネルギーhνと前記周期的光吸収層の禁制帯幅Egとの差が0.13eV以上になるように、選ばれていることを特徴とする。
【0012】
本発明にかかる請求項2の分布帰還型半導体レーザは、
AlGaAs材料で形成された活性層近傍に光分布帰還を与える周期構造を備え、該周期構造が、前記活性層から発生する誘導放出光に対する吸収係数が周期的に変化する、周期的吸収層である利得結合分布帰還型半導体レーザにおいて、
前記周期的光吸収層がp型Al x Ga 1-x As(0≦X≦1)で形成され、かつ、その厚さが電子のド・ブロイ波長よりも厚く、
かつ、前記周期的光吸収層におけるAl混晶比が、前記誘導放出光のエネルギーhνと前記周期的光吸収層の禁制帯幅Egとの差が0.08eV以上になるように、選ばれていることを特徴とする。
【0015】
【作用】
周期的光吸収層の禁制帯幅Egが、下記式(I)を満たすことにより、周期的吸収層の価電子帯の電子が、伝導帯における自由電子が熱的に分布するエネルギーレベルよりも高いエネルギーへ、誘導放出光によって励起されるように、周期的光吸収層の材料が選択されることとなり、光吸収層における吸収飽和が抑制される。
【0016】
【数1】
【0017】
請求項1においては、前記周期的光吸収層がn型AlxGa1-xAs(0≦X≦1)で形成され、かつ、前記誘導放出光のエネルギーhνと前記周期的光吸収層の禁制帯幅Egとの差が0.13eV以上であることにより、光吸収層における吸収飽和がより抑制されるものである。
【0018】
請求項2においては、前記周期的光吸収層がp型AlxGa1-xAs(0≦X≦1)で形成され、かつ、前記誘導放出光のエネルギーhνと前記周期的光吸収層の禁制帯幅Egとの差が0.08eV以上であることにより、光吸収層における吸収飽和がより抑制されるものである。
【0021】
このような作用をもたらす理由を、以下に説明する。図8に、光吸収層の厚さが電子のド・ブロイ波長(概10nm)以上の時の、光吸収層のバンド構造を示す。活性層から発せられる光(図8(a)ではhνで示されている。)が光吸収層で吸収される時(この時にEc−Ev<hνとなることが吸収が生じる条件)、光吸収層内でのキャリア(電子−正孔対)の生成を伴う。このときに生成されるキャリアの一部は図8(b)に示される様に再結合消滅を起こすが、一部は定常的に伝導帯に蓄積されることになる。この時に光吸収層内に蓄積されることのできるキャリアの数には量子力学的に上限があり、その上限を越えると、それ以上にはキャリアが生成されなくなり、光吸収層における光吸収がもはや生じなくなる。この状態を「過飽和吸収」または「吸収飽和」と呼ぶ。光吸収層の伝導帯には、熱的に励起されている自由電子が予め存在しており、光吸収によって生成されるキャリアの上限を小さくする一つの要因となっている。
【0022】
図9に過飽和吸収が生じた場合の利得結合DFB−LDの電流−光出力特性の一例を示すが、光出力が一定値Psatを越えた時点で過飽和吸収が生じ、出力がA→Bへと不連続に切り変わると共に、B→Cの間では利得結合が生じないために単一縦モード特性が不良となる。
【0023】
過飽和吸収を抑制する為の手段としては、光吸収層に蓄積することができるキャリアの数の量子力学的な上限(状態密度)をできるだけ大きくすることが効果的である。つまり、光吸収層内で生成されるキャリアのエネルギーが、熱的に励起されている自由電子よりも大きければ、熱的に励起されている自由電子による状態密度の低減の影響を受けず、過飽和吸収がより高出力まで起こらなくなる作用をもたらせる。
【0024】
熱的に励起されている自由電子は、伝導帯の底(低エネルギー端部)から約0.1eVの幅をもって高エネルギー側へ裾を引きながら分布する。よって、前記誘導放出光のエネルギーがhνが周期的光吸収層の禁制体幅Egよりも概ね0.1eV以上大きければ、熱的に励起されている自由電子による状態密度の低減の効果を受けず、高出力まで吸収が飽和しないことが予測される。
【0025】
利得結合DFB−LDにおける種々の作製パラメータ(利得結合定数など)を一定にしたまま、種々の周期的光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光のエネルギーとの差をもつ素子を作製し、実験的に上記の事項を検証したところ、n型AlxGa1-xAs(0≦x≦1)を光吸収層とした場合には前記の差が0.13eV以上の時に、n型AlxGa1-xAs(0≦x≦1)を光吸収層とした場合には前記の差が0.08eV以上の時に高出力まで吸収が飽和しないことが確かめられた。
【0026】
n型の半導体層を光吸収層に用いた場合の方が過飽和吸収を生じやすいのは、ドナー不純物レベルから伝導帯へ熱的に励起される自由電子が多いことの影響である。
【0027】
また、同様にしてIn1-yGayAs1-zPz(0≦y≦1、0≦z≦1)系に対しては、n型の層を光吸収層とした場合には前記の差が0.15eV以上の時に、p型の層を光吸収層とした場合には前記の差が0.08eV以上の時に高出力まで吸収が飽和しないことが確かめられた。
【0028】
AlGaAs系の場合よりもInGaAsP系の場合の方が過飽和吸収を生じやすいのは、InGaAsP系の方が電子の有効質量が小さいために、伝導帯の状態密度が小さいことによる。
【0029】
上記請求項1、2においては他の作用がある。即ち、活性層から発生する誘導放出光に対する周期的光吸収層の吸収係数が周期的光吸収層内の不純物密度や光エネルギーに依存することがなくなり、作製される素子の特性にばらつきが生じないほか、素子をレーザ発振させた時にその出力や温度変化によって光吸収層の吸収係数が変化することが無くなり、安定した素子特性が再現性良く得られるものである。
【0030】
この作用をもたらす理由を、周期的吸収層がGaAsの場合を例に挙げて説明する。図10(a)に、バルク状の(つまり厚さが電子のド・ブロイ波長以上となっている)n型GaAs、(b)にp型GaAsの吸収係数の光エネルギー依存性を示す(H.C.Casey,Jr.and M.B.Panish:Heterostructure Lasers,Academic Press(1978)より)。半導体レーザの場合には添加する不純物密度は5×1017〜2×1018cm-1程度に制御されており、この範囲においては、光エネルギーとしてn型に対しては概1.55eV、p型に対しては概1.50eV以下に対してGaAsの吸収係数が不純物密度に大きく依存する。その結果、再現性良く予め設計された吸収係数が得られにくいと同時に、GaAsの吸収係数が光エネルギーに大きく依存することになり、素子間やロット間で周期的吸収層の吸収係数がばらつき、素子特性の再現性に問題が生じる。一方で光エネルギーがn型に対しては概1.55eV、p型に対しては概1.50eV以上の光に対しては吸収係数は不純物密度や光エネルギーに依存せずにほぼ一定値12000〜15000cm-1の安定した値が確保され、素子作製時の再現性、素子動作の安定性に優れる構造となる。GaAsの禁制帯幅は1.42eVであることから、活性層と吸収層との禁制帯幅の差が概0.13eV以上あれば上記の効果が期待できることになる。特に、不純物密度による吸収係数の変動が大きいn型GaAs(図10(a))では効果が大きい。
【0031】
【実施例】
図1は本発明の第一の実施例の分布帰還型半導体レーザ装置の構造を示す図である。
【0032】
まず、n−GaAs基板101上にn−Al0.5Ga0.5Asクラッド層102を1μm、un−Al0.1Ga0.9As活性層103を0.08μm、p−Al0.45Ga0.55Asキャリアバリア層104を0.2μm、p−Al0.2Ga0.8Asガイド層105を0.05μm、n−GaAs光吸収層106を30nm、第一回目のエピタキシャル成長により形成する。続いて、成長層の最上層である光吸収層106上に二光束干渉露光によりピッチ0.36μmを有する格子状のレジストマスクを得る。次にこのレジストマスクを用い、塩酸/過酸化水素水/純水の混液によるウエットエッチングにより光吸収層106が不連続になるようにエッチングし、三次の矩形形状回折格子を作製する。このときの回折格子のデューティは、光吸収層による吸収損失を抑える為に0.2程度の低デューティになるように作製されている。次にこの上に第二回目のエピタキシャル成長によりp−Al0.7Ga0.3As上クラッド層107を0.8μm、p+−GaAsコンタクト層108を0.5μmを第二回目のエピタキシャル成長により形成する。
【0033】
次に、p+−GaAsコンタクト層108上にプラズマCVD法により窒化珪素の絶縁膜109を約0.2μm形成し、この窒化珪素の絶縁膜上へのホトリソグラフィーと緩衝フッ酸によるエッチングを用いて幅10μmのストライプ溝を空けた後、全面にAuZnの電極110を形成する。基板の厚さを約100μmにまで薄層化した後、裏面にはAuGe/Ni電極111を形成し、素子全体を400℃で3分間の加熱処理をすることにより、素子が完成する。
【0034】
AlGaAs材料系を用いた本実施例では、活性層と光吸収層の混晶比の差が0.1となっており、誘導放出光のエネルギー(波長800nm→エネルギー1.55eVに相当)と光吸収層との禁制帯幅(1.42eV)の差は0.13eVに対応する。本素子では、吸収層の過飽和吸収によって生じる光出力−電流特性の不連続は光出力50mW以上まで見られず、高出力まで安定した単一軸モードでの発振が確認された。
【0035】
本実施例に示した構造において光吸収層のAl混晶比をさまざまな値に変更した素子を作製し、周期的光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光のエネルギーとの差であるΔEgと、光出力20mW以下において過飽和吸収による特性劣化が見られた素子の割合との相関を調べた結果を図2に示す。Al混晶比の差が0.1以上、つまりΔEgが0.13eV以上の時に光出力20mW以下において過飽和吸収が生じる素子の割合は零となっていることが実験的に確かめられた。光記録装置の光源としてDFB−LDを使用する場合、少なくても20mWの出力が要求され、本実施例の素子ではこの要求を満足する特性が得られている。なお、これらの素子においては、ΔEgを変更しても他の設計的パラメータ(利得結合定数、活性層光閉じ込め係数等)が一定となるように作製されている。
【0036】
図3は本発明の第二の実施例の分布帰還型半導体レーザ装置の構造を示す図である。
【0037】
まず、n−GaAs基板301上にn−Al0.6Ga0.4Asクラッド層302を1μm、un−Al0.13Ga0.87As活性層303を0.08μm、p−Al0.5Ga0.5Asキャリアバリア層304を0.2μm、p−Al0.25Ga0.75As第一ガイド層305を0.1μmを第一回目のエピタキシャル成長により形成する。続いて、成長層の最上層であるガイド層305上に高屈折率を有するプリズムを通した二光束干渉露光によりピッチ0.12μmを有する格子状のレジストマスクを得る。次にこのレジストマスクを用い、ウエットエッチングによりガイド層305をエッチングすることにより、回折格子を得る。次にこの上に第二回目のエピタキシャル成長によりバッファ層となるp−Al0.25Ga0.75As第二ガイド層306を5nm、p−GaAs光吸収層307を25nm成長する。このときGaAsは回折格子の表面全体を覆うものの、三角形状の回折格子の谷間に特に厚く結晶成長し、回折格子の凸凹に応じて光吸収層の層厚が周期変化することになる。さらに連続的にp−Al0.75Ga0.25As上クラッド層308を0.8μm、p+−GaAsコンタクト層309を0.5μmを第二回目のエピタキシャル成長により形成する。
【0038】
次に、p+−GaAsコンタクト層308上にプラズマCVD法により窒化珪素の絶縁膜310を約0.2μm形成し、この窒化珪素の絶縁膜上にホトリソグラフィーと緩衝フッ酸によるエッチングを用いて幅8μmのストライプ状の溝を空けた後、全面にAuZnの電極311を形成する。基板を厚さ約100μmにまで薄層化した後、裏面にはAuGe/Ni電極312を形成し、素子全体を400℃で加熱処理することにより、素子が完成する。
【0039】
AlGaAs材料系を用いた本実施例では、活性層303と光吸収層307の混晶比の差が0.13となっており、これは誘導放出光のエネルギー(波長780nm→エネルギー1.59eVに相当)と光吸収層との禁制帯幅(1.42eV)の差が0.17eVであることに対応する。本素子では、吸収層の過飽和吸収によって生じる光出力−電流特性の不連続は光出力100mW以上まで見られず、高出力まで安定した単一軸モードでの発振が確認された。
【0040】
本実施例に示した構造において光吸収層のAl混晶比をさまざまな値に変更した素子を作製し、周期的光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光のエネルギーとの差であるΔEgと、光出力20mW以下において過飽和吸収による特性劣化が見られた素子の割合との相関を調べた結果を図4に示す。ΔEgが0.08eV以上の時に光出力20mW以下において過飽和吸収が生じる素子の割合は零となっていることが実験的に確かめられた。なお、これらの素子においては、ΔEgを変更しても他の設計的パラメータ(利得結合定数、活性層光閉じ込め係数等)が一定となるように作製されている。
【0041】
図5は本発明の第三の実施例の分布帰還型半導体レーザ装置の構造を示す図である。
【0042】
この実施例は、まず、n−InP基板501上にn−InP第一下クラッド層502を0.5μm、n−InGaAsP(Eg=0.80eV)光吸収層503を25nm、第一回目のエピタキシャル成長により形成する。続いて、成長層の最上層である光吸収層503上に二光束干渉露光法とウエットエッチングにより一次の矩形形状回折格子(ピッチ約0.24μm)を作製する。次にこの上に第二回目のエピタキシャル成長によりn−InP第二下クラッド層504を0.3μm、un−InGaAsP(λ=1.3μm→エネルギー0.95eVに相当)活性層505を0.1μm、p−InP上クラッド層506を1μm、P+−InGaAsコンタクト層507を0.5μm、第二回目のエピタキシャル成長により形成する。
【0043】
次に、ホトリソグラフィーを用いて幅3μmのストライプ状のレジストマスクを形成し、ウエットエッチングを用いて活性層の上部から0.3μmの位置までコンタクト層507と上クラッド層506をエッチングしてリッジ形状にした後、表面全面にプラズマCVD法により窒化珪素の絶縁膜508を約0.2μm形成し、リッジの頂上の絶縁膜だけを除去する。最後に基板を厚さ約100μmにまで薄層化し、表面、裏面に電極509,510を真空蒸着して、素子が完成する。
【0044】
吸収層の可飽和吸収によって生じる光出力−電流特性の不連続は、光出力50mW以上まで見られず、安定した単一軸モードでの発振が確認された。
【0045】
本実施例に示した構造において、光吸収層の導電型、及び、光吸収層の禁制帯幅をさまざまな値に変更した素子を作製し、周期的光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光のエネルギーとの差であるΔEgと、光出力20mW以下において過飽和吸収による特性劣化が見られた素子の割合との相関を調べた結果を図6に示す。n型の光吸収層を用いた場合にはΔEgが0.15eV以上の時に、p型の光吸収層を用いた場合にはΔEgが0.1eV以上の時に、光出力20mW以下において過飽和吸収が生じる素子の割合は零となっていることが実験的に確かめられた。なお、これらの素子においては、ΔEgを変更しても他の設計的パラメータ(格子定数、利得結合定数、活性層光閉じ込め係数等)が一定となるように作製されている。
【0046】
本発明において、吸収係数が周期的に変化する構造を含む利得結合DFB−LDであれば、その材料系は上記実施例のものに限定されるものでは無く、(Al,Ga,In)(P,As,N)や(Zn,Mg,Cd)(S,Se)等を含む他の材料系に対しても本発明を適用することができる。また、活性層が量子井戸構造であっても問題はない。また、光吸収層の配置には限定されないことは言うまでもない。さらに、光伝搬領域に沿ったストライプ状の領域の形状や作製方法に限定が生じるものでは無い。また、屈折率の摂動と利得(損失)の摂動との周期が等しく位相がずれている構造や、周期的光吸収層を光伝搬領域に沿ったストライプ状の領域の外側に配置する構造に対しても本発明を適用することができる。
【0047】
【発明の効果】
本発明にかかる分布帰還型半導体レーザによれば、周期的吸収層の価電子帯の電子が、伝導帯における自由電子が熱的に分布するエネルギーレベルよりも高いエネルギーへ、前記誘導放出光によって励起されるように、周期的光吸収層の材料が選択されていることにより、光吸収層における吸収飽和を抑制するものである。その結果、高出力時にも安定した単一縦モード特性を有する構造を得ることができる。上記の構成は、活性層から発生する誘導放出光よりも周期的吸収層の禁制帯幅を一定値以上大きくすることによって達成され、効果的に過飽和吸収を抑制することができる。
【0049】
また、請求項1、2の分布帰還型半導体レーザによれば、活性層と周期的吸収層との禁制帯幅の差が大きい場合、周期的吸収層の吸収係数が不純物密度や光エネルギーによって変動することなく、安定した特性を持つ素子を再現性良く作製することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の利得結合DFB−LDを示す図である。
【図2】実施例1の構造において、光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光の波長をエネルギーに換算した値との差ΔEgと、過飽和吸収が生じる頻度との関係を示す図である。
【図3】実施例2の利得結合DFB−LDを示す図である。
【図4】実施例2の構造において、光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光の波長をエネルギーに換算した値との差ΔEgと、過飽和吸収が生じる頻度との関係を示す図である。
【図5】実施例3の利得結合DFB−LDを示す図である。
【図6】実施例3の構造において、光吸収層の禁制帯幅と誘導放出光の波長をエネルギーに換算した値との差ΔEgと、過飽和吸収が生じる頻度との関係を示す図である。
【図7】従来の利得結合DFB−LDを示す図である。
【図8】光吸収層におけるキャリアの生成と消滅を説明するための図である。
【図9】過飽和吸収が素子の特性に与える影響を説明するための図である。
【図10】(a)n型GaAs、(b)p型GaAsの吸収係数の光エネルギー依存性を示す図である。
【符号の説明】
101 n−GaAs基板
102 n−AlGaAs下クラッド層
103 un−AlGaAs活性層
104 p−AlGaAsキャリアバリア層
105 p−AlGaAsガイド層
106 n−GaAs光吸収層
107 p−AlGaAs上クラッド層
108 p−GaAsコンタクト層
109 窒化珪素絶縁膜
110 p側電極
111 n側電極
301 n−GaAs基板
302 n−AlGaAs下クラッド層
303 un−AlGaAs活性層
304 p−AlGaAsキャリアバリア層
305 p−AlGaAs第一ガイド層
306 p−AlGaAs第二ガイド層
307 p−GaAs光吸収層
308 p−AlGaAs上クラッド層
309 p+−GaAsコンタクト層
310 窒化珪素絶縁膜
311 p側電極
312 n側電極
501 n−InP基板
502 n−InP第一下クラッド層
503 n−InGaAsP光吸収層
504 n−InP第二下クラッド層
505 un−InGaAsP活性層
506 p−InP上クラッド層
507 p+−InGaAsコンタクト層
508 窒化珪素絶縁膜
509,510 電極
701 n−GaAs基板
702 n−AlGaAs下クラッド層
703 un−GaAs活性層
704 p−AlGaAsキャリアバリア層
705 p−AlGaAs第一ガイド層
706 n−GaAs光吸収層
707 回折格子
708 p−AlGaAs上第二ガイド層
709 p−AlGaAs上クラッド層
710 p−GaAsコンタクト層
Claims (2)
- AlGaAs材料で形成された活性層近傍に光分布帰還を与える周期構造を備え、該周期構造が、前記活性層から発生する誘導放出光に対する吸収係数が周期的に変化する、周期的吸収層である利得結合分布帰還型半導体レーザにおいて、
前記周期的光吸収層がn型AlxGa1-xAs(0≦X≦1)で形成され、かつ、その厚さが電子のド・ブロイ波長よりも厚く、
かつ、前記周期的光吸収層におけるAl混晶比が、前記誘導放出光のエネルギーhνと前記周期的光吸収層の禁制帯幅Egとの差が0.13eV以上になるように、選ばれていることを特徴とする分布帰還型半導体レーザ装置。 - AlGaAs材料で形成された活性層近傍に光分布帰還を与える周期構造を備え、該周期構造が、前記活性層から発生する誘導放出光に対する吸収係数が周期的に変化する、周期的吸収層である利得結合分布帰還型半導体レーザにおいて、
前記周期的光吸収層がp型AlxGa1-xAs(0≦X≦1)で形成され、かつ、その厚さが電子のド・ブロイ波長よりも厚く、
かつ、前記周期的光吸収層におけるAl混晶比が、前記誘導放出光のエネルギーhνと前記周期的光吸収層の禁制帯幅Egとの差が0.08eV以上になるように、選ばれていることを特徴とする分布帰還型半導体レーザ装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06256095A JP4017196B2 (ja) | 1995-03-22 | 1995-03-22 | 分布帰還型半導体レーザ装置 |
US08/621,748 US5852625A (en) | 1995-03-22 | 1996-03-22 | Distributed feedback semiconductor laser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06256095A JP4017196B2 (ja) | 1995-03-22 | 1995-03-22 | 分布帰還型半導体レーザ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08264879A JPH08264879A (ja) | 1996-10-11 |
JP4017196B2 true JP4017196B2 (ja) | 2007-12-05 |
Family
ID=13203794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06256095A Expired - Fee Related JP4017196B2 (ja) | 1995-03-22 | 1995-03-22 | 分布帰還型半導体レーザ装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5852625A (ja) |
JP (1) | JP4017196B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3885978B2 (ja) * | 1997-01-31 | 2007-02-28 | シャープ株式会社 | 利得結合分布帰還型半導体レーザ装置 |
US6121634A (en) * | 1997-02-21 | 2000-09-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nitride semiconductor light emitting device and its manufacturing method |
EP1089407A1 (en) * | 1999-09-30 | 2001-04-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Gain-coupled distributed-feedback semiconductor laser device |
US6574256B1 (en) | 2000-01-18 | 2003-06-03 | Xerox Corporation | Distributed feedback laser fabricated by lateral overgrowth of an active region |
WO2001069735A1 (fr) * | 2000-03-13 | 2001-09-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Dispositif laser a semi-conducteur a retroaction repartie et a couplage de gain et son procede de production |
US6696311B2 (en) * | 2001-05-03 | 2004-02-24 | Spectra-Physics Semicond. Lasers, In | Increasing the yield of precise wavelength lasers |
JP2003133638A (ja) * | 2001-08-14 | 2003-05-09 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 分布帰還型半導体レーザ素子及びレーザモジュール |
JP5099948B2 (ja) * | 2001-08-28 | 2012-12-19 | 古河電気工業株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ素子 |
US6903379B2 (en) * | 2001-11-16 | 2005-06-07 | Gelcore Llc | GaN based LED lighting extraction efficiency using digital diffractive phase grating |
US20030235225A1 (en) * | 2002-06-22 | 2003-12-25 | Rick Glew | Guided self-aligned laser structure with integral current blocking layer |
JP2005166998A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Mitsubishi Electric Corp | リッジ型分布帰還半導体レーザ |
DE102008054217A1 (de) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronischer Halbleiterchip und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2705409B2 (ja) * | 1991-11-21 | 1998-01-28 | 三菱電機株式会社 | 半導体分布帰還形レーザ装置 |
JPH067624A (ja) * | 1992-06-26 | 1994-01-18 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 吸着装置 |
US5539766A (en) * | 1993-08-19 | 1996-07-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Distributed feedback semiconductor laser |
-
1995
- 1995-03-22 JP JP06256095A patent/JP4017196B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-03-22 US US08/621,748 patent/US5852625A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08264879A (ja) | 1996-10-11 |
US5852625A (en) | 1998-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5926493A (en) | Optical semiconductor device with diffraction grating structure | |
US6426515B2 (en) | Semiconductor light-emitting device | |
JP3714984B2 (ja) | 分布帰還型半導体レーザ装置 | |
US5289484A (en) | Laser diode | |
EP0177221B1 (en) | Semiconductor laser | |
US20090086785A1 (en) | Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same | |
US5260959A (en) | Narrow beam divergence laser diode | |
JP4017196B2 (ja) | 分布帰還型半導体レーザ装置 | |
US6472691B2 (en) | Distributed feedback semiconductor laser device | |
JP2558744B2 (ja) | 半導体レーザ素子及びその製造方法 | |
WO1992007401A1 (en) | Distributed feedback semiconductor laser | |
JP3204474B2 (ja) | 利得結合分布帰還型半導体レーザとその作製方法 | |
US8891159B2 (en) | Optical semiconductor element, semiconductor laser, and method of manufacturing optical semiconductor element | |
US20100034229A1 (en) | Semiconductor laser and method of making semiconductor laser | |
US7957442B2 (en) | Semiconductor optical device | |
US6853661B2 (en) | Gain-coupled semiconductor laser device lowering blue shift | |
JP2677232B2 (ja) | 長波長半導体レーザおよびその製造方法 | |
JP3215477B2 (ja) | 半導体分布帰還型レーザ装置 | |
JP2565909B2 (ja) | 半導体レ−ザ素子 | |
WO2024105723A1 (ja) | 多重量子井戸構造、半導体レーザおよび多重量子井戸構造の製造方法 | |
JP2783163B2 (ja) | 分布帰還型半導体レーザおよびその製造方法 | |
JP3710504B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPH06164069A (ja) | 半導体レーザ | |
JPH03174793A (ja) | 半導体レーザ | |
JPH0923039A (ja) | 半導体レーザの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050524 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20050524 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060406 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060509 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070918 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100928 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110928 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120928 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130928 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |