JP3975779B2 - 有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法 - Google Patents

有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3975779B2
JP3975779B2 JP2002055167A JP2002055167A JP3975779B2 JP 3975779 B2 JP3975779 B2 JP 3975779B2 JP 2002055167 A JP2002055167 A JP 2002055167A JP 2002055167 A JP2002055167 A JP 2002055167A JP 3975779 B2 JP3975779 B2 JP 3975779B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sealing
rib
substrate
light emitting
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002055167A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003257624A (ja
Inventor
信彦 福岡
信之 牛房
隆史 井上
敬子 中野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2002055167A priority Critical patent/JP3975779B2/ja
Priority to US10/359,157 priority patent/US7019455B2/en
Publication of JP2003257624A publication Critical patent/JP2003257624A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3975779B2 publication Critical patent/JP3975779B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/842Containers
    • H10K50/8426Peripheral sealing arrangements, e.g. adhesives, sealants
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/846Passivation; Containers; Encapsulations comprising getter material or desiccants
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/302Details of OLEDs of OLED structures
    • H10K2102/3023Direction of light emission
    • H10K2102/3026Top emission
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
    • H10K59/173Passive-matrix OLED displays comprising banks or shadow masks

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法に係わり、特に光透過性を有する封止缶の製造方法および前記封止缶のセルフアライメントによる重ね合わせ方法に係わる。
【0002】
【従来の技術】
有機エレクトロルミネッセンス装置は、ガラス基板上に形成したアノード電極を素子ごとにパターニングする工程、アノード電極上に形成する積層体を素子ごとに分離するためのバンクを形成する工程、バンクで仕切られたスペースにアノード電極より正孔を導入するホール導入層を形成する工程、正孔を発光層に輸送するホール輸送層を形成する工程、赤、緑および青に発光する有機膜からなる発光層を素子を選択して形成する工程、カソード電極より電子を輸送する電子輸送層を形成する工程、電子を供給するカソード電極を形成する工程、これらの積層体を外部から遮断するため、封止用接着材によりガラス基板上に封止缶を気密に接合する工程を順次行い、完成する。
【0003】
このような有機エレクトロルミネッセンス装置は特開平11−176571に示されているように、封止缶で気密封止しても、外気や水分の影響により、発光層と電極層との間で剥離が生じたり、構成材料が変質したり、ダークスポットと称する非発光領域が生じたりして、駆動時間の経過に伴って所定の品質の発光が維持できなくなる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
前述のように外気や水分に影響を受けやすいため、封止する際の雰囲気と封止後、如何に封じ直後の状態を維持できるかが問題になる。また、発光層が有機材料であるため、封止後にガスが発生する可能性がある。このため発生したガスおよび封止材を通過して侵入してきた外気や水分を吸収可能な吸着材を入れた状態で封止する。
【0005】
この吸着材が発光層や電極等からなる発光体素子に干渉しないように、封止缶の形状は、内部を周辺より凹ませて、そこに吸着材を設置するのが一般的である。封止缶の内部を凹ませる方式として、ガラス板や石英板の内部を機械加工やサンドブラストで彫り込む方式、金属板やガラス板をプレス等により一体成形する方式がある。これらの封止缶を用いた場合、発光層を形成した基板側から発光を取り出す際は問題ない。
【0006】
しかし、基板上の配線や駆動素子による遮蔽の影響を受けずに高い開口率で発光が取り出し可能な封止缶側から発光を取り出す場合には、封止缶の表面状態により問題を生じる。すなわち、前述のガラス板および石英板の内部を彫り込む方式により得た封止缶では、彫り込まれた内部には加工痕があるため光透過率が低くなる。
【0007】
また、後述のプレスにより一体成形する方式により得た封止缶でも、材質が金属板では不可能であり、ガラス板の場合でも、その表面は型の面が転写されるため、型の表面精度が重要となる。高い面精度を維持するのは困難であり、大量に生産した場合では、型の劣化に伴ってガラス表面が曇り光透過率が低下する可能性が高い。このように封止缶側から発光を取り出す際の高光透過率を有する封止缶の製造が第1の課題である。
【0008】
また、有機エレクトロルミネッセンス装置の発光層が形成されたガラス基板上に封止缶を重ね合わせて封止する工程では、活性ガスや水分を極力排除した雰囲気で作業するために、外部から密閉された空間で行う。この密閉された空間内で有機エレクトロルミネッセンス装置の発光層が形成されたガラス基板と封止缶を重ね合わせるにはカメラ等を利用した位置合わせ機能が必要になり、さらに封止材の硬化のために紫外光を照射する設備および加熱する設備も必要となる。そのため雰囲気調整が可能で密閉性が高く、かつカメラ等で確認しながら位置合わせを行い、紫外光照射および加熱可能な高機能な製造装置が必要となり、必然的に装置コストも高くなる。この高機能で高コストな製造装置を必要とすることが第2の課題である。
【0009】
そこで、本発明は封止缶側から発光を取り出し可能な光透過率の高い封止缶を有する有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法を提供することと、位置合わせ機能のない装置を用いて有機発光体素子が形成された基板と封止缶とが精度良く重ね合わせられた有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法を提供することを課題としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するため、少なくとも発光層を有する有機層をアノード電極上の画素分離用バンク内部に形成してカソード電極とで挟み込んだ発光体素子をガラス基板等の発光体素子形成用基板上に配設する有機エレクトロルミネッセンス装置であって、前記発光体素子形成用基板と同等の物性値を有する光透過性基板からなる封止缶用基板の外周に紫外光を透過する材料で額縁状に封止缶外周包囲リブを形成し、前記発光体素子を前記封止缶外周包囲リブの内側に配置して、前記発光体素子を前記封止缶外周包囲リブと前記封止缶用基板とで覆う構造とした。
【0011】
また、対向して重ね合わせる前記発光体素子形成用基板上の発光体素子が形成された領域の外側と、前記封止缶用基板の額縁状の前記封止缶外周包囲リブの間に、発ガスおよび水分を吸収する吸着材を配設した。
【0012】
そして、前記カソード電極が光透過性導電体からなり、発光層で生じた発光が前記カソード電極を透過するようにし、前記カソード電極を透過した光が、光透過性基板からなる前記封止缶用基板を通して見られる構造とした。
【0013】
また、前記発光体素子の周辺を発光層を分離するための画素分離用バンクと同質の材料で包囲した位置合わせ用リブを備え、かつ当該位置合わせ用リブが画素分離用バンクより広い幅からなるようにし、上記した幅が異なることによって膜厚(高さ)の異なる前記画素分離用バンクと前記位置合わせ用リブが同一工程で形成されるようにした。
【0014】
更に、前記位置合わせ用リブの外周および内周寸法が、前記封止缶外周方位リブの外周寸法および内周寸法より小さいか、あるいは大きい寸法からなり、発光体素子を形成した発行体素子形成用基板と、封止缶用基板と封止缶外周方位リブからなる封止缶とを重ね合わせる際、前記位置合わせ用リブの側面と前記封止缶外周包囲リブの側面が接触し、前記位置合わせ用リブが封止缶と発光体素子形成基板を重ね合わせる際の位置決めガイドとなる。
【0015】
このように、本発明では、発光体素子を形成した発光体素子形成用基板と同等の物性値を有するの光透過性基板からなる封止缶用基板を用いて、その外周に額縁状に包囲凸部を設けることで、内部が周辺より凹んだ形状の吸着材を格納するエリアを有する高い光透過率からなる封止缶を得ることができる。そして、対向する発光体素子が形成された領域の外側と額縁状の封止缶外周包囲リブとの間に吸着材を設置することで、光透過性基板からなる封止缶用基板以外に発光を遮るもの無く、封止缶側に有効に発光を取り出すことができる。
【0016】
また、画素分離用バンクと同時に、位置合わせ用リブを発光体素子を形成する発光体素子形成用基板上に形成するため、発光体素子を形成する領域に対して位置合わせ用リブは位置ずれすることなく形成でき、位置合わせリブの外周および内周寸法が、封止缶外周包囲リブの内周および外周寸法と互い違いになる寸法とすることで、重ね合わせ時のガイドとできるため、カメラ等の位置合わせ機能がなくても発光体素子を形成した領域を基準に封止缶を精度良く重ね合わせることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
本発明の有機エレクトロルミネッセンス装置の一実施例を説明する。
有機エレクトロルミネッセンス装置には、発光に寄与する部分に使用する有機材料として低分子材料系と高分子材料系があるが、本発明は、これらを限定するものではなく、双方を混成した有機エレクトロルミネッセンス装置であってもよい。
【0018】
低分子材料系の有機エレクトロルミネッセンス装置の構成は、一般的に、ガラス基板/アノード電極/ホール注入層/ホール輸送層/発光層/電子輸送層/カソード電極/封止缶である。一方、高分子材料系の有機エレクトロルミネッセンス装置の構成は、一般的に、ガラス基板/アノード電極/ホール輸送層/発光層/カソード電極/封止缶である。
【0019】
高分子材料系のエレクトロルミネッセンス装置の場合には、低分子材料系の有機エレクトロルミネッセンス装置のホール注入層/ホール輸送層をホール輸送層が両方の特性を兼ねる場合があり、さらに高分子材料系の有機エレクトロルミネッセンス装置では、低分子材料系の有機エレクトロルミネッセンス装置の電子輸送層/カソード電極をカソード電極のみで代用する場合がある。また封止缶とガラス基板は封止材を介して接合され、その内部に水分やガスを吸着する吸着材を設置する。本実施例で用いた材料、組成等に限定するものではなく、有機エレクトロルミネッセンス装置を実現するための実施例である。
【0020】
以下、本発明の具体的な実施例を図面を用いて詳述する。
《実施例1》
図1は本発明の第1の実施形態の封止缶をなす部材の構成および前記封止缶と発光体素子との位置関係を示す断面図である。図1において1は発光体素子形成用基板、2は封止缶用基板、3は封止缶外周包囲リブ、4は封止缶、5は吸着材、6はアノード電極、7は画素分離用バンク、8は発光寄与層、9はカソード電極、10は発光体素子、22は封止材である。
【0021】
発光体素子形成用基板1はガラス基板等からなり、封止缶用基板2は発光体素子形成用基板1と同質の光透過性基板である。封止缶4は封止缶用基板2と封止缶外周包囲リブ3により構成され、封止缶外周包囲リブ3は封止缶用基板2の外周に形成される。発光体素子10は、アノード電極6と画素分離用バンク7と発光寄与層8およびカソード電極9で構成され、封止缶外周包囲リブ3は発光体素子10が形成された領域より大きな領域に形成し、吸着材5と発光体素子10との厚さの合計より大きくする。
【0022】
尚、前述したように発光層の材料系(高分子系、低分子系)によりアノード電極6とカソード電極9で挟まれた発光に寄与する発光寄与層8の層構成は変動する。封止缶外周包囲リブ3の材料には有機材料および無機材料を用いることができる。その形成方式としてはスクリーン印刷およびディスペンサ等で直描する方式と、スピンナ等により封止缶外周包囲リブ3の材料を封止缶用基板2の片側全面に塗布した後、不要な周辺以外を露光・現像工程により除去して形成する方式がある。 吸着材5は封止した後、発光体素子から発生されるガスおよび外部から侵入してくる外気および水分を吸着するものである。また、吸着材5は、発光体素子10の形成領域の外側で、かつ封止缶外周包囲リブ3の内側側面に挟まれた範囲に設置する。これにより発光体素子10の発光を遮ることなく、光透過性基板からなる封止缶用基板2を通して外部に有効に発光を取り出すことができる。
【0023】
図2は本発明の第1の実施形態の画素分離用バンクと位置合わせ用リブを同時に形成する際の一連の工程を示す説明図である。図2において、11はスキージ、12はスクレッパー、13はスキージ11とスクレッパー12を保持し、かつ上下させる機構を有するヘッド、14はスクリーン版、15はスクリーンマスク、16は画素分離用バンク転写用開口パターン、17は位置合わせ用リブ転写用開口パターン、18はインク、19は基板固定テーブル、20は位置合わせ用リブである。
【0024】
スキージ11は、スクリーンマスク15のスキージ側の面に乗せられているインク18を画素分離用バンク転写用開口パターン16と位置合わせ用リブ転写用開口パターン17を通して、その反対側に塗布するものである。
【0025】
スクレッパー12はスクリーンマスク15に備えられている画素分離用バンク転写用開口パターン16と位置合わせ用リブ転写用開口パターン17内にインク18を充填するものである。スキージ11とスクレッパー12はヘッド13により上下動され、インク充填時はスキージ11を持ち上げ、スクレッパー12を下げてスクリーンマスク15に密着させ、インク塗布時はスクレッパー12を持ち上げ、スキージ11を下げてスクリーン15に密着させる。スクリーンマスク15はスクリーン版14に装着されている。
【0026】
位置合わせ用リブ転写用開口パターン17の開口幅は、画素分離用バンク用開口パターン16の開口幅より必ず大きく形成する。これは、筆者らの本発明における検討で、スクリーン印刷では、スクリーン版の開口部の幅により塗布厚変動を生じることが発見されたことによるものであり、位置合わせ用リブを画素分離用バンクの膜厚より厚く、同一の印刷で形成するために、位置合わせ用リブ転写パターン17を画素分離開口パターン16の幅より大きくした。
【0027】
即ち、スクリーン版の開口部の幅が、ある幅を境に、それより大きくなると塗布厚は一定し、その幅よりも小さくなるほど塗布厚が減少する傾向がある。この現象を利用することにより、同一面内において、同一の印刷工程で膜厚の異なるものが形成できる。なお、このライン幅に対する塗布厚の傾向はインクの材質とスクリーン版の仕様により異なる。
【0028】
本実施例では画素分離用バンク材料にセントラル硝子(株)スクリーン印刷用ポリイミドPP−2000を用い、またスクリーン版には、線径が18μm、開口部の寸法が33μm、開口面積が42%の500番ステンレスメッシュ品に、(株)東京プロセスサービス製の溶剤耐性に優れている乳剤(製品名:NSL)を膜厚30μmに形成したものを用いた。
【0029】
前記インク材と前記スクリーン版の組み合わせでは、ライン幅が150μmより大きい範囲では、膜厚はスクリーン版の乳剤厚とほぼ等しい厚さに形成され、ライン幅が150μmより小さくなるほど、形成した膜厚は減少し、ライン幅が20μmでは、膜厚は約5μmであった。
【0030】
即ち位置合わせ用リブ転写用開口パターン17の幅を150μmより大きくし、画素分離用バンク転写用パターン16の幅を20μmとした場合では、膜厚30μmからなる位置合わせ用リブが、膜厚5μmからなる画素分離用バンクと同時に形成できる。膜厚が30μm程度あれば、位置決めするためのガイドとして効果を十分に得ることが可能である。なお、スクリーン印刷により同時に塗布厚の異なるものを転写する条件は、上記材料と上記仕様のスクリーン版に限定するものではない。
【0031】
図2(a)に示すように、スクリーン版14に装着されたスクリーンマスク15の画素分離用バンク転写用開口パターン16に対して、発光体素子形成用基板1上に形成されたカソード電極6の位置を合わせて、発光体素子形成用基板1を基板固定テーブル19の上にセットし固定する。本実施例では基板固定テーブル19に設けた微細な穴を利用し減圧吸着して固定した。
【0032】
次にスクリーンマスク15上にインク18を置き、ヘッド13によりスキージ11を上昇し、スクレッパー12を下降させてスクリーンマスク15に密着させた後、スクレッパー12を移動させてインク18を掻き取りながら画素分離用バンク転写用開口パターン16と位置合わせ用リブ転写用開口パターン17にインク18を充填する。図2(a)においては、右から左にスクレッパー12を動かすことにより達成される。
【0033】
次に図2(b)に示すように、ヘッド13によりスクレッパー12を上昇し、スキージ11下降させ、スクリーンマスク15に密着させた後、スキージ11を左から右へ動かすことにより、画素分離用バンク転写用開口パターン16をおよび位置合わせ用リブ転写用開口パターン17に充填されたインク18を発光体素子形成用基板上に転写する。これにより画素分離用バンク7はカソード電極6を仕切る位置に形成され、これと同時に画素分離用バンク7より厚く、位置合わせするためのガイドとしての効果を十分に得ることが可能な膜厚からなる位置合わせ用リブ20を画素形成用基板1の外周に形成できる。
【0034】
図3は本発明の第1の実施形態を示す有機エレクトロルミネッセンス装置製造方法の一連の工程を示す説明図である。図3において、21は外部端子、22は封止材である。
【0035】
本実施例では、まず図1(a)に示すように、発光層形成基板1の片側にアノード電極6と外部端子21を形成する。発光体素子形成用基板は封止缶側から発光を取り出すため透明である必要はない。しかし封止缶と同様な物性値であるのが好ましい。本実施例では封止基板には光透過率の高いガラス基板を用いるため、同質のガラス基板(コーニング製#1737)を用いた。また、本実施例では縦横比3:4の15.2インチサイズに発光層を形成したため、ガラス基板のサイズは、発光層サイズより各辺20mm大きくして348mm×271mmとした。また、ガラス基板の厚さは0.7mmである。
【0036】
発光は封止缶側から取り出すため、アノード電極6も透明である必要はなく、導電率の高い金属材料等を用いることができる。その材料としてはCr、Mo−Ta、Ta、Al等がある。また外部端子21についても同様に導電率の高い材料が好ましい。本実施例ではアノード電極6および外部端子21は、スパッタにより導電材を全面コートした後、露光・現像を行い形成した。なお、アノード電極2の表面は、より平滑なものが好ましい。また、本実施例では、アノード電極6および外部端子21の材料にはAlを用いた。
【0037】
次に図3(b)に示すように、アノード電極6と外部電極21が上向きになる用に発光体素子形成用基板1を基板固定テーブル19に保持し、図2で説明した方式により画素分離用バンク7と、それより厚い膜厚の位置合わせ用リブ20を同一工程で成形した。なお、画素分離用バンク7および位置合わせ用リブ20の材質は同一のもので、その材料としてはポリイミドペースト、マレイミドワニス、ポリアミドペースト等があるが、形状保持性からチクソ性が高いものが好ましい。また、ポリイミドに限るものではなく、吸湿性が少なく、ガスの発生が少ないものであればよい。
【0038】
この実施例においてはセントラル硝子(株)のスクリーン印刷用ポリイミドPP−2000を用い、塗布後、窒素雰囲気中で常温から220゜Cまで5゜C/分の速さで昇温させ、220゜Cに至った後、60分保持して硬化させた。また、スクリーン版には、線径が18μm、開口部の寸法が33μm、開口面積が42%の500番ステンレスメッシュ品に、(株)東京プロセスサービス製の溶剤耐性に優れているスクリーンマスク形成用感光性樹脂からなる乳剤(製品名:NSL)を用いてパターンを形成したもの用いた。
【0039】
本実施例では1画素の表示エリアサイズは縦280μm、横80μmであり、そのピッチは縦300μm、横100μmである。画素分離用バンクは表示エリア以外を覆う必要があるため、その寸法は縦横供にライン幅は20μmとなり、横ラインのピッチは300μm、縦ラインのピッチは100μmである。画素分離用バンクの形成領域の寸法は、308mm×231mmの対角15.2インチであり、画素はこの中に横方向に1024×3個(赤、緑、青の3色分)の合計3072個、縦方向には768個を配設した。また画素分離用バンクの厚みは発光体素子を構成する各層の形成後の所望の厚さと、各層の形成方式により決まる。
【0040】
本実施例で用いた発光層の材料は高分子系のものである。また、発光寄与層8はホール輸送層/発光層からなり、発光体素子の構成はアノード電極/ホール輸送層/発光層/カソード電極である。アノード電極およびカソード電極はスパッタおよび蒸着で形成し、ホール輸送層と発光層はインクジェットで塗布した。スパッタおよび蒸着で形成するアノード電極およびカソード電極は形成直後から膜厚は大きく変動せず、その膜厚は100nm程度である。
【0041】
一方、ホール輸送層と発光層はインクジェットで塗布するために、希釈したインクを用いる。そのため、塗布直後と溶剤が揮発した乾燥後では膜厚が大きく変動する。本実施例では、ホール輸送層および赤、緑、青の発光層とも固形分濃度が3%に希釈されたものを用い、乾燥後の膜厚をそれぞれ0.1μmに設計しているため、塗布直後の未乾燥状態における膜厚は3.3μmである。インクジェット等により希釈したインクを用いて層形成を行う場合、画素分離用バンクの厚みは、希釈したインクの塗布直後の膜厚により決定される。
【0042】
本実施例ではホール輸送層および赤、緑、青の発光層の塗布直後の膜厚が3.3μmであるため、画素分離用バンクはそれより大きく膜厚5μmとした。ライン幅20μmで膜厚5μmに塗布する際の上記スクリーン版のパターンを形成する乳剤の厚みは30μmである。
【0043】
なお、先述したようにライン幅のある幅を境にスクリーン印刷では塗布厚が一定の領域と、ライン幅の減少に対して塗布厚も減少する傾向がある。上記画素分離用バンク材料と上記スクリーン版の組み合わせではスクリーン版開口部幅が150μmを境にスクリーン版開口部幅に対する塗布厚の傾向が変わる。位置合わせ用リブ20の膜厚はガイド性を持たせるために厚い方が好ましい。上記スクリーン版を用いた場合、ライン幅の大きさに膜厚が影響されないライン幅は150μm以上であるため、位置合わせ用リブ20の幅をその幅より大きく200μmとし、320mm×243mmの寸法で、発光体素子の形成領域を囲むように形成した。
【0044】
次に図3(c)に示すように、画素分離用バンク内に発光寄与層8を形成する。なお本実施例では、前述した様に高分子系の発光層を用い、アノード電極とカソード電極に挟まれた発光寄与層8の構成はホール輸送層/発光層とし、それぞれバンク内に塗布した。塗布方式としては、スクリーン印刷法とインクジェット法等があり、本実施例ではインクジェット法を用いた。なお、ホール輸送層は全色共通とし、ホール輸送材料のインクとしては、導電性高分子であるポリ(3、4−エチレンジオキシチオフェン)とドーパントであるポリスチレンスルホン酸を含む水コロイド溶液(Bayer製BYTORON P−CH−8000)を用いた。
【0045】
また、各色を発光する発光材料のインクとして、緑はDow製Green−Kを1、2、3、4−テトラメチルベンゼンで調合したもの、赤はDow製Red−Fを1、2、3、4−テトラメチルベンゼンで調合したもの、青はDow製Blue−Cを1、3、5−トリメチルベンゼンで調合したものを用いた。なお、本実施例でホール輸送層は全色共通としたが、生産性は落ちるが各色毎に材質、膜厚を変えてもよい。
【0046】
次に図3(d)に示すように、所定のバンクに赤、緑、青の発光層が形成された基板に光透過性導電体からなるカソード電極9をスパッタ法により各画素ごとに分離して形成した。本実施例ではカソード電極材料に面積抵抗率約10Ω/cm以下のITOを用いた。カソード電極の上方に発光を取り出すため、カソード電極材料として光が透過しない金属材料を用いることはできず、より光透過性が高く、かつより導電率が高い材料が好ましい。
【0047】
次に図3(e)に示すように、光透過性基板からなる封止缶用基板2の外周に額縁状に封止缶外周包囲リブ3を形成し、封止缶外周包囲リブ3に囲まれた領域で、かつ封止缶用基板2と封止缶外周包囲リブ3からなる封止缶4を発光体素子形成用基板1に重ね合わせた際に発光体素子の形成された領域に干渉しない範囲に吸着材5を設置した。図1で説明したように、封止缶用基板2は光透過率の高いものが好ましい。本実施例では封止缶用基板2に発光体素子形成用基板1と同質のガラス基板(コーニング製#1737)で、板厚0.7mm、寸法328mm×251mmのものを用いた。
【0048】
また、図1で説明したように、吸着材5は有機材からなる発光寄与層8から発生するガスや後の工程で封止缶4と発光体素子形成用基板1を重ね合わせて封止材を用いて封止した後に封止材を貫通して侵入した外気や水分を吸着するためのものである。また、封止缶外周包囲リブ3は位置合わせ用リブ20とその側面が互い違いに接触する寸法にし、かつ位置合わせ用リブ20と吸着材5の厚みの合計より厚く形成する。本実施例で用いた吸着材5の厚みは500μm、位置合わせ用リブ20は厚さ30μmで形成したため、封止缶外周包囲リブ3の厚みはこの合計より厚く800μmで形成した。
【0049】
封止缶外周包囲リブ20の形成方式としてはスクリーン印刷およびディスペンサにより直描する方式およびスピンナ等により基板全面に形成した後、露光・現像より周辺以外の不要な箇所を除去する方式がある。本実施例ではスクリーン印刷を用い、大きさ322mm×245mmでライン幅を1800μmとし、位置合わせ用リブ20の寸法320mm×243mmに対して封止基板周辺リブ3の内周側面が接触するように形成した。
【0050】
また封止缶外周包囲リブ3の材料としては封止缶用基板表面との密着性がよく、吸湿性が少なく、ガス等の発生が少なく、それ自身が高いシール効果を持ち、封止缶用基板との界面およびそれ自身が外気および水分をなるべく通さないものが好ましい。また、封止缶外周包囲リブの材料に紫外光の吸収の少ないものを用いることで、封止材に紫外光硬化材料からなるものを用いた場合、封止缶側から紫外光を照射して封止材を硬化させることができる。
【0051】
これは外部端子により遮光される箇所を生じる発光体素子形成用基板側からの照射よりも均一に封止材に紫外光を照射することができ、封止材を基板面内でより安定に硬化できる。本実施例では封止缶外周凸部には画素分離用バンクと同じセントラル硝子(株)のスクリーン印刷ポリイミドPP−2000を用いた。
【0052】
次に図3(f)に示すように、位置合わせ用リブ20の外側で、かつ封止缶外周包囲リブ3と対向する位置に封止材22を塗布する。この塗布方式としてはディスペンサ、スクリーン印刷がある。本実施例ではディスペンサを用いて封止材22を塗布した。
【0053】
封止材の材料としては紫外線硬化型材料、熱硬化型材料、紫外線熱硬化型材料があり、紫外線硬化型材料および紫外線熱硬化型材料を用いた場合、紫外線照射時に封止材に近い部分の有機エレクトロルミネッセンス装置に紫外線の光が拡散照射され、輝度劣化(寿命低下)を生じる可能性がある。また熱硬化型材料および紫外線熱硬化型材料を用いた場合、100゜Cを越える温度で硬化させると、紫外線の場合と同様に有機エレクトロルミネッセンス装置に影響を及ぼし輝度劣化(寿命低下)を生じる可能性がある。本実施例では封止材に紫外光照射により第一次の硬化が行われ、次いで80゜C加熱で第二次硬化(本硬化)する紫外線熱硬化型材料を用いた。
【0054】
次に図3(g)に示すように、発光体素子形成用基板1と封止缶4を位置合わせ用リブ20と封止缶外周包囲リブ3によるセルフアライメント効果により、重ね合わせるだけで位置合わせを行い、発光体素子形成領域に紫外光が漏れないように十分遮蔽した後、封止用基板2の外側から紫外光を照射して封止材22を硬化させた。この時、重ね合わせた封止缶4と発光体素子形成用基板1は封止缶外周包囲リブ3と位置合わせ用リブ20により、横方向の拘束をしなくてもずれることはない。 次いで80゜Cのオーブン内で加熱し、封止材22を第二次硬化(本硬化)させた。なお作業は全て不活性ガスである窒素中で行った。封止材により接合された箇所は位置合わせ用リブと封止缶外周包囲リブが互い違いに接触するため、同じ封止材の幅で平面同士で接合する場合より、封止材の接着距離(幅)が長くなり、外気や水分の侵入をより防ぐことができる。
次に外部端子21に駆動回路を接続することでディスプレイを作成することができた。このディスプレイは封止缶を通して画像を見ることができた。
《実施例2》
位置合わせ用リブ20を封止缶外周包囲リブ3の外側に配置した以外は、上記実施例1と同様の方法で有機エレクトロルミネセンス装置を作製した。
図4は本発明の第2の実施形態の有機エレクトロルミネッセンス装置の最終形態を示す断面図である。
【0055】
本実施例では、322mm×245mm、幅1800μmで形成した封止缶外周包囲リブ3に対し、位置合わせ用リブを324mm×247mm、幅200μmに形成し、封止缶外周包囲リブ3の外側に位置合わせ用リブ20を配置した。発光体素子形成用基板1と封止缶4を重ね合わせる際、位置合わせ用リブ20の内周側面が封止缶外周包囲リブ3の外周側面と接触し位置決めガイドとなり、少ない位置ずれで重ね合わせる事ができた。
【0056】
なお、封止缶外周包囲リブ20の厚さは、厚さ500μmの吸着材と厚さ約5.1μmで形成した発光体素子の厚みの合計より大きくし、厚さ800μmで形成した。また、封止材22は位置合わせリブ20の内周にスクリーン印刷やディスペンサ等により塗布し、発光体素子形成用基板1と封止缶4を重ね合わせた際、封止材は内側につぶれて広がるため、発光体素子が形成された領域まで達しないように封止材22の塗布量を調整する必要がある。
《実施例3》
位置合わせ用リブを同心上に二重に形成し、その囲まれた領域に封止材を塗布し、封止缶外周包囲リブ配置する以外は、上記実施例1と同様の方法で有機エレクトロルミネセンス装置を作製した。
図5は本発明の第3の実施形態の有機エレクトロルミネッセンス装置の最終形態を示す断面図である。図5において、35は第1の位置合わせ用リブ、36は第2の位置合わせ用リブである。
【0057】
本実施例では、322mm×245mm、幅1800μmで形成した封止缶外周包囲リブ3に対し、第1の位置合わせ用リブ35を320mm×243mm、幅200μmに形成し、その外側に同心上に第2の位置合わせリブ36を324mm×247mm、幅200μmに形成し、第1の位置合わせリブ35と第2の位置合わせリブ36に挟まれた領域に封止缶外周包囲リブ3を配置した。
【0058】
発光体素子形成用基板1と封止缶4を重ね合わせる際、第1の位置合わせ用リブ35の外周側面および第2の位置合わせ用リブ36の内周側面が封止缶外周包囲リブ3の側面と接触して位置決めガイドとなり、少ない位置ずれで重ね合わせる事ができた。なお、封止材22は第1の位置合わせリブ35と第2の位置合わせリブ36に挟まれた領域に塗布するため、粘度の低い封止材でも外部への流出を防ぎ使用することができる。
《実施例4》
図6は本発明の第4の実施形態を示す有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法の一連の工程を示す説明図である。
本実施例では、まず図6(a)に示すように光透過性基板からなる画素形成基板1の片側に透明導電体であるITOをスパッタにより全面コートした後、露光・現像でアノード電極6および外部電極21を形成する。なお、アノード電極21の表面は、より平滑なものが好ましい。なおこの実施例においては用いたITOは面積抵抗率約10Ω/cm以下のもので、その表面を平滑処理したものである。
【0059】
次に図6(b)に示すように、アノード電極6と外部電極21が上向きになる用に発光体素子形成用基板1を基板固定テーブル19に保持し、図2で説明した方式により画素分離用バンク7と、それより厚い膜厚の位置合わせ用リブ20を同時に成形した。本実施例では発光を発光体素子形成用基板側に取り出すため、発光体素子形成用基板1上に形成された駆動回路が干渉し、同じ面積に同じ画素数で画素を形成する場合、封止缶側に発光を取り出す場合より表示エリアサイズが狭くなる。 本実施例では1画素の表示エリアサイズは縦180μm、横80μmであり、そのピッチは縦300μm、横100μmである。画素分離用バンクは表示エリア以外を覆う必要があるため、その寸法は横ライン幅120μm、縦ライン幅20μmとなり、横ラインのピッチは300μm、縦ラインのピッチは100μmである。
【0060】
第1の実施の形態と同様に画素分離用バンクの形成領域の寸法は、308mm×231mmの対角15.2インチであり、画素はこの中に横方向に1024×3個(赤、緑、青の3色分)の合計3072個、縦方向には768個を配設した。本実施例は、第1の実施の形態と同じホール輸送層と発光層を用いため、画素分離用バンクは同様に膜厚5μmで形成した。また、本実施例では第1の実施の形態と同じスクリーン版と画素分離用バンク材料を用いているため、ライン幅20μmで膜厚5μmに塗布する際のスクリーン版のパターンを形成する乳剤の厚みは30μmである。
【0061】
なお、先述したようにライン幅のある幅を境にスクリーン印刷では塗布厚が一定の領域と、ライン幅の減少に対して塗布厚も減少する傾向がある。上記画素分離用バンク材料と上記スクリーン版の組み合わせではスクリーン版開口部幅が150μmを境にスクリーン版開口部幅に対する塗布厚の傾向が変わる。すなわち幅20μmの縦ラインと幅120μmの横ラインをその幅の開口部を有するパターンかからなるスクリーン版で形成すると、幅20μmの縦ラインは膜厚5μm程度に塗布されるが、幅120μmの横ラインはスクリーン版の乳剤厚に近い25μm程度の膜厚で塗布され、同じ画素分離用バンクであっても縦ラインと横ラインで膜厚に大きな差を生じる。
【0062】
そこで画素分離用バンクの縦ラインと横ラインの膜厚を揃えるために幅120μmの横ラインは幅25μmライン3本をスペース22.5μmに配置したパターンに分割することで、幅20μmの縦ラインよりも厚く印刷した後、インクをスペースエリアに流動させレベリングさせることで、スペースを埋め、かつ縦ラインと同じ高さになるようにした。これ以外は図3(b)と同様であり、説明は省略する。
【0063】
次の工程の図6(c)は画素形成領域が小さい以外は、図3(c)同様であり、説明は省略する。
【0064】
次に図6(d)に示すように、所定のバンクに赤、緑、青の発光層が形成された基板にカソード電極を真空蒸着法により各画素ごとに分離して形成した。本実施例ではカソード電極材料としてにAl/Caを用いた。なお、カソード電極としては、仕事関数が小さなものであればよく、Al/Caに限定するものではない。
【0065】
次に図6(e)に示すように、光透過性基板からなる封止缶用基板2の外周に額縁状に封止缶外周包囲リブ3を形成し、封止缶外周包囲リブ3に囲まれた領域に吸着材5を固定した。本実施例では発光を発光体素子形成用基板側に取り出すため封止缶を発光体素子形成用基板に重ね合わせた際に、発光体素子が形成された領域に吸着材5を固定しても良い。また、ガラス板や石英板の内部を機械加工やサンドブラストで彫り込む方法で形成した封止缶および、金属板やガラス板をプレス等により一体成形して形成した封止缶も用いることができる。
【0066】
なお、機械加工やプレス等により形成した封止缶を用いる場合には、封止缶と発光体素子形成用基板を重ねる際に位置合わせ用リブ20が封止缶周辺の突出部分に互い違いに接触して位置決めガイドとなるように、封止缶周辺の突出部分の寸法に位置合わせ用リブの寸法を調整する必要がある。また、機械加工で彫り込んだ封止缶やプレス等により形成した封止缶の周辺凸出部分にスクリーン印刷やディスペンサにより封止缶外周包囲リブをさらに形成して、位置合わせ用リブをガイドとして重ね合わせの位置決めをしてもよい。
【0067】
次の工程の図6(f)は図3(f)と同様であり、説明は省略する。
次に図6(g)に示すように、発光体素子形成用基板1と封止缶4を位置合わせ用リブ20と封止缶外周包囲リブ3によるセルフアライメント効果により重ね合わせるだけで位置合わせを行い、発光層形成領域に紫外光が漏れないように十分遮蔽した後、封止基板側から紫外光を照射して封止材を硬化させた。次いで80゜Cのオーブン内で加熱し封止材を第二次硬化(本硬化)させた。なお作業は全て不活性ガスである窒素中で行った。
【0068】
次に外部電極21に駆動回路を接続することでディスプレイを作成することができた。このディスプレイは発光体素子形成用基板を通して画像を見ることができた。なお、本実施例では位置合わせリブ20を第1の実施例と同じ封止缶外周包囲リブ3の内側に設置したが、位置合わせ用リブは第2および第3の実施例と同様な形態をとってもよい。
《実施例5》
画素分離用バンク材料に用いたインク材より、光透過率の低いインク材料を用いた以外は、上記実施例1と2と3および4と同様の方法で有機エレクトロルミネッセンス装置を作製した。
【0069】
本実施例では、上記実施例1と2と3および4で画素分離用バンク材料に用いたセンラル硝子(株)製スクリーン印刷用ポリイミドPP−2000に、シーアイ化成(株)の黒色超微粒子NanoTek Black−1を、体積比3%の濃度で混入し、光波長300から800nmの範囲において光透過率0.05%で、光をほとんど透過させない画素分離用バンク用材料を作製した。この材料を画素分離用バンク用材料として用いることで、画素分離用バンク内への光の侵入を防ぐことができ、隣接する画素の発光が混ざり合う現象および外部への画素分離用バンクからの光の漏れを防ぐことができた。なお、これは前記バンク材料と前記黒色微粒子に限定するものではなく、画素分離用バンク材料としては、光透過率がより低いものがよい。
《実施例6》
アノード電極を形成した発光体素子形成用基板の代わりに、薄膜トランジスタを形成した発光体素子形成用基板を使用する以外は、上記実施例1と2と3と4および5と同様の方法で有機エレクトロルミネッセンス装置を製作した。
【0070】
薄膜トランジスタの製造方法は、表面が絶縁性である基板上にオルガノシリコンナノクラスターを塗布する工程と、このオルガノシリコンナノクラスターを酸化させ酸化シリコン膜を形成する工程と、ソース領域、ドレイン領域、およびそれらに挟まれたチャネル領域を有する島状非単結晶シリコン膜を形成する工程と、島状非単結晶シリコン膜上にゲート絶縁膜を形成する工程と、チャネル領域上にゲート絶縁膜を介してゲート電極を形成する工程とを経て形成されるが、各工程では通常良く知られた方法を用いることができる。
【0071】
ここで、オルガノシリコンナノクラスターとは、有機溶剤に可溶で、バンドギャップが3eVから1.2eVである有機シリコン化合物を表し、テトラハロゲン化シランと有機ハロゲン化物をアルカリ金属あるいはアルカリ土類金属存在下で反応させ、更に、フッ酸で処理することによって得られる。テトラハロゲン化シランの一部をトリハロゲン化シランまたはジハロゲン化シランに替えても良い。
【0072】
このようにして得られたオルガノシリコンナノクラスターは炭化水素、アルコール、エーテル、芳香族溶剤、極性溶媒など一般の有機溶剤に可溶である。また、合成の最後にフッ酸処理を行うことにより、反応系中の酸素や水、停止材からシリコンナノクラスター中に取り込まれている酸素原子を排除することができる。これらの酸素原子はシリコン薄膜を得ようとする場合には、シリコン酸化膜生成の原因となり好ましくない。フッ酸処理を行うことにより、酸素原子を含まないシリコン薄膜前駆体としてのシリコンナノクラスターを得ることができる。
【0073】
オルガノシリコンナノクラスターの薄膜は、適宜選択された溶剤中にオルガノシリコンナノクラスターを溶解した溶液から、スピンコート法、ディッピング法など湿式法による一般的な薄膜形成法で得ることができる。成膜したオルガノシリコンナノクラスターを実質的に酸素が存在しない雰囲気または還元性雰囲気中で加熱または紫外線照射するとシリコン薄膜を得ることができ、酸化性雰囲気で加熱または紫外線照射すると酸化シリコン薄膜を得ることができる。
【0074】
上記の加熱と紫外線照射を組み合わせても良い。また実質的に酸素が存在しない雰囲気または還元性雰囲気中でレーザ照射することによりシリコン薄膜を得ることも可能である。
【0075】
このオルガノシリコンナノクラスターを前駆体とする酸化シリコン膜上にTFTを形成する。前述のように、オルガノシリコンナノクラスターはテトラハロゲン化シランが原料であり、オルガノシリコンナノクラスターを前駆体とする酸化シリコン膜はハロゲンを含む。ハロゲンにはナトリウムイオン、カリウムイオン等を偏析させて捕獲、ゲッタさせる効果があり、ガラス基板からのTFTへの不純物拡散を効果的に防止する。さらに不純物拡散防止の為には酸化シリコン膜厚が厚い程その効果は大きい。オルガノシリコンナノクラスターはスピンコートで成膜が可能であり、大面積の厚膜形成が容易であり、不純物によるしきい値変動を抑えることができ、反りや亀裂は発生しない。よって本発明は大面積のガラス基板を用いた有機エレクトロルミネッセンス装置装置の製造に極めて有用である。
【0076】
また、オルガノシリコンナノクラスターを酸化させる工程と、酸化させずシリコン薄膜とする工程を適宜組み合わせて島状シリコン層とその周囲を取り囲むように酸化シリコン膜を形成することが可能であり、島状半導体層端部の段差を減少した構造が実現でき、ゲート絶縁膜の薄膜化による絶縁耐圧の低下を防止できる。しかも、この技術は半導体層を形成後、露光、現像、エッチングという従来の島状半導体層形成法よりも少ない工程数で島状半導体層とその周囲の絶縁膜が形成できるため、製造コストを削減することが可能である。
【0077】
本発明に係る薄膜トランジスタは、表面が絶縁性である基板上に設けられた酸化シリコン膜と、主表面および端面を有する複数の島状非単結晶半導体層と、この島状非単結晶半導体層中に、ソース領域、ドレイン領域、およびそれらに挟まれたチャネル領域を有し、島状非単結晶半導体層の端面のみと接する酸化シリコン膜上の第1の絶縁膜と、島状非単結晶半導体層と第1の絶縁膜とを覆う第2の絶縁膜と、チャネル領域上に第2の絶縁膜を介して形成されたゲート電極と、ソース領域およびドレイン領域と、ソース領域およびドレイン領域と接触するソース電極およびドレイン電極とを備えた構造をしており、前記の酸化シリコン膜はハロゲン元素を含むようにした。
【0078】
島状非単結晶半導体層と第1の絶縁膜とは、端面のみが接するため段差が少なく、ゲート絶縁膜の薄膜化による絶縁耐圧の低下を防止できる。そして、酸化シリコン膜はハロゲン元素を含むため、ガラス基板からゲート酸化膜への不純物の拡散侵入を効果的に防止できる。
【0079】
まず、オルガノシリコンナノクラスター溶液の作製方法を説明する。丸底フラスコにアルカリ金属として、削り状Mg金属(64mmol)を入れ、真空下120℃で加熱し活性化し冷却後、上記の反応系を窒素雰囲気として脱水テトラヒドロフラン(THF)を加える。これを0℃において超音波を照射(60W)しながら、テトラクロロシラン(16mmol)を加え反応させる。2.5時間反応させた後、生成した黒褐色反応液に、tert−ブチルブロマイド(16mmol)を反応させる。
【0080】
1時間反応させた後、反応液の温度を50℃とし、さらに0.5時間反応させる。この反応液を蒸留水中に滴下し、濾過法により不溶分を回収する。回収した不溶分を47%フッ酸中に分散させ、30分間撹拌反応させ濾過により別の不溶分を得る。トルエンを溶媒としこの不溶分の16重量%溶液を調製し、オルガノシリコンナノクラスター溶液とする。
【0081】
薄膜トランジスタをガラス基板に構成する方法を図7を用いて説明する。
歪点670℃の無アルカリガラスからなる発光体素子形成用基板1(348mm×267mm)上に、膜厚が500nmになるよう回転数を調整したスピンコート法を用いてオルガノシリコンナノクラスター溶液を塗布し、ホットプレート上80℃で1分間乾燥させる。その後、酸素雰囲気中で500W超高水銀ランプを用いて紫外線を3分間照射して、酸化シリコン(SiO2)膜23を得る。更に、プラズマCVD法によりアモルファスシリコン層を50nm堆積する。次に、XeClエキシマレーザを照射し、アモルファスシリコン層を結晶化してポリシリコン膜を得る。
【0082】
次に、公知のホトエッチング工程によりポリシリコン膜をパターンニングし、島状ポリシリコン層24を得る。その後、プラズマCVD法によりゲート絶縁膜25となるSiO2膜を70nm堆積し、さらにスパッタリング法によりNbを250nm堆積する。公知のホトエッチング工程によりNbをパターンニングし、ゲート電極26を形成する。
【0083】
次に、Nチャネル薄膜トランジスタに対してゲート電極26をマスクとして、イオン打ち込みを用いて高抵抗N型ポリシリコン層27を形成した後、レジストをマスクとして低抵抗N型ポリシリコン層28を形成する。一方、Pチャネル薄膜トランジスタに対してはゲート電極26をマスクとして、イオン打ち込みを用いて低抵抗P型ポリシリコン層29を形成する。
【0084】
高抵抗ポリシリコン層のシート抵抗値としては20kΩ〜100kΩが、低抵抗ポリシリコン層のシート抵抗値としては500Ω〜10000Ωが望ましい範囲である。更に、全体を覆うようにSiO2からなる層間絶縁膜30が形成され、層間絶縁膜30に設けたコンタクトスルーホールを介して、Ti/Al/Tiの3層金属膜よりなるソース電極31、ドレイン電極32および配線が形成される。ここで、3層金属膜を用いたのは、低抵抗ポリシリコン層とAlとのコンタクト抵抗、および画素電極(ITO)34とAlとのコンタクト抵抗を低減するためである。
【0085】
ソース電極31、ドレイン電極32および配線のパターンニングの後、全体を覆うようにSi3N4よりなる膜厚500nmの保護絶縁膜33を形成し、さらに保護絶縁膜33に設けたコンタクトスルーホールを介して画素電極(ITO)34と、画像表示部のNチャネル薄膜トランジスタ28のソース電極31とがコンタクトされている。
【0086】
下地膜形成時のシリコンナノクラスターの酸化は、加熱法を用いても良いし、あるいは紫外線照射法と加熱法との組み合わせであっても良い。この場合、紫外線照射はスループットの向上に、また加熱は膜の緻密化など膜質の改善に効果的である。また、下地膜としては、酸化シリコン膜だけでなく、酸化シリコンと薄い窒化シリコンとの積層膜を用いても良い。窒化シリコンをバッファ層として用いれば、ガラス基板内の不純物がゲート絶縁膜中に拡散侵入するのをより効果的に防止できる。
【0087】
アモルファスシリコンの結晶化法は熱アニールによる固相成長法でも良いし、熱アニールとレーザアニールの組み合わせであっても良い。ゲート絶縁膜は、オルガノシリコンナノクラスターの酸化膜であっても良い。膜中のハロゲンの働きによりナトリウム、カリウムなどの動きが抑制される。また、層間膜、保護膜等の絶縁膜の堆積方法は、プラズマCVD法等、公知の堆積法であっても良い。また、ゲート、ソース、ドレインの電極材料は、Al、Ti、Ta等公知の電極材料であっても良い。
【0088】
また、XeClエキシマレーザを照射する前に、真空条件下(1×10−5torr)500℃で1時間加熱するが、この工程は実質的に酸素の存在しない雰囲気または還元性雰囲気で紫外線照射をしてもよいし、両者を組み合わせても良い。紫外線照射はスループットの向上に、加熱は膜の緻密化など膜質の改善に効果的である。更に、この工程を省略して実質的に酸素の存在しない雰囲気または還元性雰囲気でレーザ照射をして結晶化しても良い。この場合、プロセスが簡略化されるため製造コストが削減できる。
【0089】
また、オルガノシリコンナノクラスターの酸化法は、酸化性雰囲気での加熱であっても良い。この場合、酸化の前に島状半導体層を形成しておくことが望ましい。島状半導体層形成後の熱処理により緻密な膜が得られる。別の製造方法として、島状半導体層となる部分をマスクで覆い、酸化雰囲気中で加熱することにより島状半導体層と、その周囲の絶縁膜を同時に形成する方法も製造プロセス簡略化に有効である。さらに、マスクを除去し紫外線またはレーザ照射により半導体層の膜質が改善する。
【0090】
スピンコート法によりオルガノシリコンナノクラスターを成膜の後、酸化シリコン膜または非単結晶シリコン膜を形成するため、大型基板を用いたプロセスに有効である。また、オルガノシリコンナノクラスターから形成した酸化シリコン膜はハロゲン元素を含むことから、ガラス基板内不純物による薄膜トランジスタ特性の劣化を防止することができる。
【0091】
さらに、島状半導体層端部の段差を減少させた構造が実現できるため、ゲート絶縁膜の薄膜化による絶縁耐圧の低下を防止できる。この技術は、従来の露光、現像、エッチングという島状半導体層形成法に比べ、露光および加熱、または露光のみ等、従来法よりも少ない工程数で島状半導体層とその周囲の絶縁膜が形成でき、製造コストを削減することが可能である。また、島状半導体層およびその周囲の絶縁膜はハロゲン元素を含むことから、ガラス基板内からゲート絶縁膜中への不純物拡散侵入による薄膜トランジスタ特性の劣化を防止できる。
【0092】
上記した本発明の製造方法では、従来のCVD法の代わりにスピンコート法を用いるので成膜時の電力が削減できる。よって、信頼性が高く、安価な液晶表示装置を提供できる。勿論、非単結晶シリコン薄膜の製造方法を、従来のCVD法から本発明のスピンコート法に変更する事のみによっても、大型基板上に均一な成膜が可能、成膜時の電力削減等の利点から製造コストが削減でき、安価な液晶表示装置を提供できる。
【0093】
上述の成膜法において、スピンコート法によりオルガノシリコンナノクラスターを成膜の後、実質的に酸素の存在しない雰囲気または還元性雰囲気での紫外線照射を行っても、また、加熱を実施してもよい。更には、両者を組み合わせても良い。紫外線照射はスループットの向上に、加熱は膜の緻密化など膜質の改善に効果的である。紫外線照射または加熱の後、さらにレーザ照射を行うとシリコンの結晶性が改善され、薄膜トランジスタの特性が向上する。更に、紫外線照射または加熱という工程を省略して、実質的に酸素の存在しない雰囲気または還元性雰囲気でレーザ照射をして結晶化しても良い。この場合、プロセスが簡略化されるため製造コストが削減できる。
【0094】
薄膜トランジスタの作成方法は、本実施例に限られたものではなく、従来の液晶パネル等に使用されているものでも構わない。
【0095】
【発明の効果】
本発明により、光透過性の封止缶用基板を用いて発光体素子を有する基板とを接合し、内部に吸着剤を配設することによって、高信頼の有機エレクトロルミネッセンス装置を可能とし、更に、画素分離用バンクと位置合わせ用リブとを同一工程で作製することで、工程簡略化および高精度組立を可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の封止缶をなす部材の構成および前記封止缶と発光体素子との位置関係を示す断面図である。
【図2】本発明の第1の画素分離用バンクと位置合わせ用リブを同時に形成する際の一連工程を示す説明図である。
【図3】本発明の第1の実施形態の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法の一連の工程を示す説明図である。
【図4】本発明の第2の実施形態の有機エレクトロルミネッセンス装置の最終形態を示す断面図である。
【図5】本発明の第3の実施形態の有機エレクトロルミネッセンス装置の最終形態を示す断面図である。
【図6】本発明の第4の実施形態の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法の一連の工程を示す説明図である。
【図7】本発明の第6の実施形態の薄膜トランジスタを構成する方法を説明するための断面図である。
【符号の説明】
1・・・発光体素子形成用基板、2・・・封止缶用基板、3・・・封止缶外周包囲リブ、4・・・封止缶、5・・・吸着材、6・・・アノード電極、7・・・画素分離用バンク、8・・・発光層、9・・・カソード電極、10・・・発光体素子、11・・・スキージ、12・・・スクレッパー、13・・・ヘッド、14・・・スクリーン版、15・・・スクリーンマスク、16・・・画素分離用バンク転写用開口パターン、17・・・位置合わせ用リブ転写用開口パターン、18・・・インク、19・・・基板固定テーブル、20・・・位置合わせ用リブ、21・・・外部端子、22・・・封止材、23・・・酸化シリコン(SiO2)膜、24・・・島状ポリシリコン層、25・・・ゲート絶縁膜、26・・・ゲート電極、27・・・高抵抗N型ポリシリコン層、28・・・低抵抗N型ポリシリコン層、29・・・低抵抗P型ポリシリコン層、30・・・層間絶縁膜、31・・・ソース電極、32・・・ドレイン電極、33・・・保護絶縁膜、34・・・画素電極(ITO)、35・・・第1の位置合わせ用リブ、36・・・第2の位置合わせ用リブ

Claims (15)

  1. 発光体素子形成用基板、封止缶用基板、該封止缶用基板の外周に額縁状に形成された封止缶外周包囲リブ、及び封止材を備え、
    前記発光体素子形成用基板の上には、画素分離用バンクの内部に形成された少なくとも発光層をアノード電極とカソード電極とで挟み込まれた発光体素子が形成され、且つ該発光体素子の外側領域には位置合わせ用リブが配設され、かつ、
    前記封止缶用基板と前記発光体素子形成用基板とは、前記封止缶外周包囲リブの内側に前記発光体素子が配置されるように重ね合わされて前記封止材を介して接合され、かつ、
    前記封止缶外周包囲リブと前記位置合わせ用リブとは前記封止材を介して接合されてなることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス装置。
  2. 前記発光体素子形成用基板と前記封止缶用基板とが、略同等の物性値を有する光透過性基板であることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  3. 前記封止缶外周包囲リブが紫外光を透過させる材料からなることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  4. 前記発光体素子形成用基板と前記封止缶用基板と前記封止缶外周包囲リブとで囲まれた空間内部に、少なくともガスまたは水分を吸収させるための吸着材が配設されてなることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  5. 前記吸着材が、前記発光体素子からの発光を遮蔽しない領域に配設されてなることを特徴とする請求項4に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  6. 前記カソード電極が光透過性導電体からなることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  7. 前記カソード電極が光透過性導電体からなり、かつ前記カソード電極を透過した前記発光体素子からの光を前記封止缶用基板を介して観察されてなることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  8. 前記位置合わせ用リブの幅が前記画素分離用バンクの幅より大なることを特徴とする請求項第1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  9. 前記位置合わせ用リブが前記画素分離用バンクと同質の材料からなることを特徴とする請求項第1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  10. 前記発光体素子形成用基板が、前記発光体素子を駆動するための薄膜トランジスタを備えてなることを特徴とする請求項第1項に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  11. 発光層を分離するための画素分離用バンクを備えた発光体素子を発光体素子形成用基板上に形成する工程と、
    前記発光体素子の外側に位置合わせ用リブを前記発光体素子形成用基板上に形成する工程と、
    封止缶用基板上に前記位置合わせ用リブと対向する位置に封止缶外周包囲リブを形成する工程と、
    前記発光体素子形成用基板と前記封止缶用基板とが封止材を介して、前記位置合わせ用リブと前記封止缶外周包囲リブとで封止を行う工程と
    を備えてなることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  12. 前記画素分離用バンクを形成する工程と、前記位置合わせ用リブを形成する工程とが、同一工程で行われることを特徴とする請求項11に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  13. 前記位置合わせ用リブの形成工程において、前記位置合わせ用リブの外周寸法が、前記封止缶外周包囲リブの内周寸法よりも小なるように前記位置合わせ用リブを形成してなることを特徴とする請求項11に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  14. 前記位置合わせ用リブの形成工程において、第1の位置合わせ用リブと、該第1のリブの外側に設けた第2の位置合わせ用リブとが、前記封止缶外周包囲リブを挟むように形成してなることを特徴とする請求項11に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  15. 前記位置合わせ用リブの形成工程において、前記位置合わせ用リブの幅が、前記画素分離用バンクの幅よりも大なるように形成されてなることを特徴とする請求項11に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
JP2002055167A 2002-03-01 2002-03-01 有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法 Expired - Fee Related JP3975779B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002055167A JP3975779B2 (ja) 2002-03-01 2002-03-01 有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法
US10/359,157 US7019455B2 (en) 2002-03-01 2003-02-06 Organic electro-luminescence device encapsulating structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002055167A JP3975779B2 (ja) 2002-03-01 2002-03-01 有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003257624A JP2003257624A (ja) 2003-09-12
JP3975779B2 true JP3975779B2 (ja) 2007-09-12

Family

ID=27800032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002055167A Expired - Fee Related JP3975779B2 (ja) 2002-03-01 2002-03-01 有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7019455B2 (ja)
JP (1) JP3975779B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101751043B1 (ko) 2010-09-01 2017-06-27 삼성디스플레이 주식회사 평판 표시 패널 및 그 제조방법

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW584822B (en) * 2002-03-28 2004-04-21 Sanyo Electric Co Organic electroluminescence panel
TWI276365B (en) * 2002-07-12 2007-03-11 Nippon Sheet Glass Co Ltd Sealing plate for electroluminescent device, manufacturing method thereof, and multiple paring mother glass plates thereof
CA2528837A1 (en) * 2003-07-07 2005-01-13 Ifire Technology Corp. Seal and sealing process for electroluminescent displays
KR100629259B1 (ko) 2004-03-19 2006-09-29 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법
KR20060007161A (ko) * 2004-07-19 2006-01-24 엘지전자 주식회사 액정표시장치
KR100705319B1 (ko) * 2004-12-01 2007-04-10 엘지전자 주식회사 유기 전계발광표시소자 및 그 제조방법
EP1842223A1 (en) * 2004-12-27 2007-10-10 OTB Group B.V. Method for manufacturing an oled or a blank for forming an oled as well as such a blank or oled
JP4539518B2 (ja) * 2005-03-31 2010-09-08 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電気光学装置の製造方法
CN100466286C (zh) * 2005-03-31 2009-03-04 精工爱普生株式会社 电光学装置及电光学装置的制造方法
KR100922801B1 (ko) * 2005-06-20 2009-10-21 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 제조 장치 및 액정표시장치 제조 방법과 이를 위한 액정표시장치 제조 공정용 경화 장치
JP2007095326A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Dainippon Printing Co Ltd 有機elディスプレイおよびその製造方法
JP4747793B2 (ja) * 2005-11-14 2011-08-17 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び画像形成装置
WO2007088690A1 (ja) * 2006-01-31 2007-08-09 Kyocera Corporation El装置
JP4736125B2 (ja) * 2006-03-08 2011-07-27 凸版印刷株式会社 有機エレクトロルミネッセンスパネルおよびその製造方法
JP4737542B2 (ja) * 2006-06-28 2011-08-03 凸版印刷株式会社 有機elパネル
KR101233144B1 (ko) * 2006-06-12 2013-02-14 엘지디스플레이 주식회사 유기전계 발광소자 및 그 제조 방법
DE102006027292B4 (de) * 2006-06-13 2010-06-17 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung einer strukturierten Schichtfolge auf einem Substrat
DE102006027291B4 (de) * 2006-06-13 2010-06-17 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung einer strukturierten Schichtenfolge auf einem Substrat
JP4664877B2 (ja) * 2006-08-07 2011-04-06 株式会社 日立ディスプレイズ 有機エレクトロルミネセンス表示装置
US20080143248A1 (en) * 2006-12-15 2008-06-19 Canon Kabushiki Kaisha Organic light emitting apparatus and method of producing the same
TWI470325B (zh) * 2007-04-26 2015-01-21 Semiconductor Energy Lab 液晶顯示裝置及其製造方法
KR100873704B1 (ko) * 2007-06-13 2008-12-12 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 전계 발광표시장치 및 그의 제조방법
KR100889677B1 (ko) * 2007-06-19 2009-03-19 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 전계 발광표시장치 및 그의 제조방법
KR101376818B1 (ko) * 2007-06-26 2014-03-21 엘지전자 주식회사 유기전계발광소자
JP2009043499A (ja) * 2007-08-08 2009-02-26 Canon Inc 有機el素子用基板及びその製造方法
DE102008063636A1 (de) * 2008-12-18 2010-06-24 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines organischen optoelektronischen Bauelements und organisches optoelektronisches Bauelement
KR101490491B1 (ko) * 2008-12-23 2015-02-05 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
WO2013111218A1 (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 株式会社アルバック 素子構造体及び素子構造体の製造方法
WO2014050039A1 (ja) * 2012-09-26 2014-04-03 シャープ株式会社 有機エレクトロルミネセンス表示装置及びその製造方法
KR101420332B1 (ko) * 2012-11-14 2014-07-16 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치
KR102240894B1 (ko) * 2014-02-26 2021-04-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
CN104576697A (zh) * 2014-12-24 2015-04-29 深圳市华星光电技术有限公司 双面oled显示装置及其制作方法
CN106711099B (zh) * 2015-11-13 2019-04-05 原相科技股份有限公司 封装结构
CN108428804A (zh) * 2018-04-19 2018-08-21 武汉华星光电技术有限公司 Oled显示面板及其封装方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5990615A (en) * 1997-02-03 1999-11-23 Nec Corporation Organic electroluminescent display with protective layer on cathode and an inert medium
JPH11176571A (ja) 1997-12-12 1999-07-02 Tdk Corp 有機el素子の製造方法
JP2001148292A (ja) * 1999-09-08 2001-05-29 Denso Corp 有機el素子
JP2001185362A (ja) 1999-12-24 2001-07-06 Toppan Printing Co Ltd 高分子el素子およびその製造方法
JP3409764B2 (ja) * 1999-12-28 2003-05-26 日本電気株式会社 有機el表示パネルの製造方法
JP2002170678A (ja) * 2000-12-01 2002-06-14 Canon Inc 有機エレクトロルミネッセンス素子
US6787249B2 (en) * 2001-03-28 2004-09-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Organic light emitting element and light emitting device using the same
US7193364B2 (en) * 2002-09-12 2007-03-20 Osram Opto Semiconductors (Malaysia) Sdn. Bhd Encapsulation for organic devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101751043B1 (ko) 2010-09-01 2017-06-27 삼성디스플레이 주식회사 평판 표시 패널 및 그 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
US7019455B2 (en) 2006-03-28
US20030164681A1 (en) 2003-09-04
JP2003257624A (ja) 2003-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3975779B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法
JP3884351B2 (ja) 画像表示装置およびその製造方法
US9202843B2 (en) Sealed body, method for manufacturing sealed body, light-emitting device, and method for manufacturing light-emitting device
JP5708482B2 (ja) 有機電界発光装置,及び有機電界発光装置の製造方法
KR101058176B1 (ko) 박막 트랜지스터의 제조 방법
US10468623B2 (en) Organic EL display panel and method of manufacturing organic EL display panel
KR102084395B1 (ko) 유기전계 발광소자 및 이의 제조 방법
WO2016107291A1 (zh) 阵列基板及其制作方法、显示面板、显示装置
KR20160096760A (ko) 투명 표시 기판, 투명 표시 장치 및 투명 표시 장치의 제조 방법
EP2782157A2 (en) Method for manufacturing display device and display device
KR20170074252A (ko) 투명 표시 장치
WO2003056881A1 (en) Image display device and method of manufacturing the device
WO2011125570A1 (ja) 転写用ドナー基板、デバイスの製造方法および有機el素子
WO2005057530A1 (ja) 薄膜トランジスタ集積回路装置、アクティブマトリクス表示装置及びそれらの製造方法
JP2009092908A (ja) 表示装置及びその製造方法
JP2014049405A (ja) 表示装置およびその製造方法、並びに電子機器
JPWO2013061528A1 (ja) 薄膜トランジスタ、有機el発光素子及び薄膜トランジスタの製造方法
CN114220821B (zh) 显示面板
JP2006032156A (ja) 表示装置および表示装置の製造方法
CN111584604A (zh) Oled显示基板及其制作方法、显示装置
JP4975137B2 (ja) 有機el素子および表示装置
JP2021089868A (ja) 自発光表示パネルおよびその製造方法
KR102092550B1 (ko) 유기전계 발광소자 및 이의 제조 방법
WO2013128621A1 (ja) 有機el装置及びその製造方法
WO2015145966A1 (ja) 有機el表示パネル、有機el表示パネルの製造方法及び有機el素子の封止方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040622

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060419

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060817

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060822

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061012

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070313

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070509

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070529

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070611

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100629

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100629

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110629

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110629

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120629

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120629

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130629

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees