JP3724145B2 - Electron emitting device and method for manufacturing the same, image display device and method for manufacturing the same - Google Patents

Electron emitting device and method for manufacturing the same, image display device and method for manufacturing the same Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子を放出する電子放出素子およびその製造方法、および該電子放出素子を備えた画像表示装置およびその製造方法に関し、特に粒子状のダイヤモンドを用いた構成に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
薄型ディスプレィ用の電子源や、高速動作が可能な微小真空デバイスのエミッター部分として、微小電子放出素子の開発が盛んである。
【0003】
従来、電子放出素子としては、高温に加熱されたタングステン等の材料に数キロボルト以上の電圧をかける「熱放出型」のものが用いられていたが、近年、高温に加熱する必要が無く、低電圧でも電子を放出することが可能である「冷陰極型」の電子放出素子が、低消費電力化の意味からも盛んに研究開発がなされている。
【0004】
このような冷陰極素子のタイプとしては様々な報告があるが、電界放出型や、pn及びショットキー接合を用いたアバランシェ増幅型などが一般的である。
【0005】
電界放出型の冷陰極素子は、ゲート電極に電圧をかけて冷陰極部分に電界を印加することにより、シリコン(Si)やモリブデン(Mo)などの高融点金属などで作製されたコーン状の先端部分から電子を放出させるものであり、微細加工技術を用いることによって小型化、集積化を図ることができるなどの特徴を有している。
【0006】
また半導体材料を用いたアバランシェ増幅型のものは、pn及びショットキー接合部分に逆バイアス電圧を印加してアバランシェ増幅を起こすことにより、電子をホット化し、エミッター部分より電子を放出させるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
一般的に冷陰極素子として要求される特性は、低電圧・低消費電力駆動で高電流が安定に得られることである。
【0008】
ここで、従来、一般的に作製された電界放出型冷陰極素子の一つである「スピント型」と呼ばれるものは、鋭い突起部を有するコーン状のものであり、得られる電子放出量はその先端形状に大きく依存していた。
【0009】
すなわち、低電圧・低消費電力駆動で高電流を安定に得るためには、冷陰極素子に用いる材料として、(1)小さな電界で電子を放出し易くするために、電子親和力が小さいこと、(2)化学的に安定なこと、(3)耐摩耗性・耐熱性に優れていること、等が求められる。
【0010】
しかしながら、従来材料では、これらの要件を全て満たすようなものはなかった。すなわち、以上のような観点で従来技術をみた場合、電界放出型素子は放出電流量のエミッター部形状依存性が大きく、その作製、制御が非常に困難であると共に、用いられている材料の表面安定性の面からも課題があった。
【0011】
またこの方式では、個々の素子は電界の集中するコーン状の先端部分からの点の電子放出源であり、大電流を取り出すことの出来る面状の電子放出流を得ることは困難であった。
【0012】
一方、アバランシェ増幅型冷陰極素子は、一般的に非常に大きな電流量を素子に印加する必要があるので素子の発熱が起こり、そのため電子放出特性が不安定になったり素子寿命が短くなったりするといった問題点があった。
【0013】
さらに、アバランシェ増幅型ではエミッター部表面にセシウム層等を設けることによって電子放出部分の仕事関数量を小さくしているが、セシウム等の仕事関数が小さい材料は化学的に不安定なため表面状態が安定でなく、結果、電子放出特性が安定でないといった問題点もあった。
【0014】
以上のようにこれまで用いられてきた材料および構造は、電子放出素子に要求される特性を十分に満たすものではなかった。
【0015】
そこで本発明は、従来技術における前記課題を解決するため、低電圧駆動で高電流が安定に得ることが可能な電子放出素子およびその製造方法を提供することを目的とする。
【0016】
また本発明は、上述の電子放出素子を用いた画像表示装置およびその製造方法を提供することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するための本発明の電子放出素子およびその製造方法、および該電子放出素子を備えた画像表示装置およびその製造方法手段は以下の通りである。
【0022】
請求項の本発明は、少なくとも、導電層をその表面を粗面化して形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程とを含む電子放出素子の製造方法であって、前記導電層の表面を粗面化して形成する工程が、導電層の形成を溶射法により行う工程を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法である。
【0023】
請求項の本発明は、少なくとも、導電層をその表面を粗面化して形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極を形成する工程とを含む電子放出素子の製造方法であって、前記導電層の表面を粗面化して形成する工程が、導電層の形成を溶射法により行う工程を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法である。
【0025】
請求項の本発明は、少なくとも、多孔質な導電層を形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極を形成する工程とを含む電子放出素子の製造方法であって、前記多孔質な導電層を形成する工程が、溶射法による工程を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法である。
【0028】
【発明の実施の形態】
第1の発明は、少なくとも、導電層と、前記導電層上に形成された粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部とを備えた電子放出素子であって、前記導電層の表面が粗面化されていることを特徴とする。
【0029】
第2の発明は、少なくとも、導電層と、前記導電層上に形成された粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極とを備えた電子放出素子であって、前記導電層部の表面が粗面化されていることを特徴とする。
【0030】
第3の発明は、少なくとも、導電層と、前記導電層上に形成された粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部とを備えた電子放出素子であって、前記導電層が多孔質であることを特徴とする。
【0031】
第4の発明は、少なくとも、導電層と、前記導電層上に形成された粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極とを備えた電子放出素子であって、前記導電層が多孔質であることを特徴とする。
【0032】
第5の発明は、少なくとも、導電層をその表面を粗面化して形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程とを含むことを特徴とした電子放出素子の製造方法である。
【0033】
第6の発明は、少なくとも、導電層をその表面を粗面化して形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極を形成する工程とを含むことを特徴とした電子放出素子の製造方法である。
【0034】
第7の発明は、少なくとも、多孔質な導電層を形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程とを含むことを特徴とした電子放出素子の製造方法である。
【0035】
第8の発明は、少なくとも、多孔質な導電層を形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極を形成する工程とを含むことを特徴とした電子放出素子の製造方法である。
【0036】
第9の発明は、少なくとも、複数個の電子放出素子と、前記複数個の電子放出素子から放出された電子により画像を形成する画像形成部とを備えた画像表示装置であって、前記電子放出素子が第1〜第4の発明のいずれかに記載した電子放出素子であることを特徴とする画像表示装置である。
【0037】
第10の発明は、少なくとも、複数個の電子放出素子を製造・配設する工程と、前記電子放出素子から放出された電子により画像を形成する画像形成部を製造・配設する工程とを含む画像表示装置の製造方法であって、前記電子放出素子を製造・配設する工程が第5〜第8の発明のいずれかに記載した製造方法で製造されることを特徴とする画像表示装置の製造方法である。
【0038】
本発明は上記した構成によって、電子放出部3を構成する粒子もしくは粒子の凝集体2への電界集中が高まるため、低い電圧を印加するだけで電子を取り出すことが可能となる。
【0039】
また、電子放出部3を構成する粒子もしくは粒子の凝集体2は互いに接触することなく独立しているため、各々が電子放出の起点となり得、結果、電子放出部3からの電子放出電流は粒子もしくは粒子の凝集体2各々の複数箇所からの電子放出の集積となり、大電流となると同時に時間的・空間的な均一性も得ることが可能となる。
【0040】
また本発明により、上記の電子放出素子を用いた、低電圧駆動・高輝度の平板型画像表示装置が可能となる。
【0041】
【実施例】
(第1の実施例)
図1は本発明の電子放出素子の第1の実施例における断面図を示すものである。
【0042】
図1に示すように、基板101上に導電層1が形成されているが、その導電層1の表面は粗面化されており、粒子もしくは粒子の凝集体2は導電層1表面の凹凸にならって、且つ、互いが接触せずに独立して付着し電子放出部3を形成している。
【0043】
図1の構成は一般的にダイオ−ド構成と呼ばれるもので、電子放出部3に対向した電極(図示せず)に電圧を印加し、電子放出部3を構成する粒子もしくは粒子の凝集体2に電界を集中させ電子を取り出すものである。
【0044】
ここで、電子放出部3を構成する粒子もしくはその凝集体2は表面が粗面化された導電層1上に形成されているため、平坦な導電層上に形成した場合に比べ電界集中が高くなり、結果、対向電極(図示せず)には低い電圧を印加するだけで電子を取り出すことが可能となる。
【0045】
また、電子放出部3を構成する粒子もしくは粒子の凝集体2は互いに接触することなく独立しているため、各々が電子放出の起点となり得、結果、電子放出部3からの電子放出電流は粒子もしくは粒子の凝集体2各々の複数箇所からの電子放出の集積となり、大電流となると同時に時間的・空間的な均一性も得ることが可能となる。
【0046】
ここで、前記粒子もしくは粒子の凝集体2として、ダイヤモンドを用いることにより、物質面の安定性が得られ、結果、電子放出の経時的な安定性がさらに増す。
【0047】
また、一般的に、ダイヤモンドの表面を水素終端にすると、電子親和力が負になるという報告があり、そういった観点から、電子放出部3を形成する粒子もしくは粒子の凝集体2がダイヤモンドで、さらにその表面が水素終端されたものであるならば、本発明の効果をさらに大きくすることが可能となる。
【0048】
このようなダイヤモンド粒子は、例えば気相合成で得られるような人工ダイヤモンドを粉砕した後、水素プラズマに曝すことによって得られる。
【0049】
また、前記粒子もしくは粒子の凝集体2として、ダイヤモンド構造を部分的に備えたカーボン粒子を用いても同様の効果を得ることができる。
【0050】
またこの場合にも、水素終端にすることにより、同様に本発明の効果を大きくすることができる。
【0051】
導電層1は電子放出部3を構成する粒子もしくは粒子の凝集体2に電子を供給する電極として作用するものであり、通常の金属をはじめとする導電物の薄膜・厚膜、1層構造・多層構造などは問わない。
【0052】
ただ、導電層1から粒子もしくは粒子の凝集体2への電子の注入の際の障壁を考慮して、導電層1としては低仕事関数材料を用いた方が好ましい。
【0053】
また、構造上許容されるのであれば、基板101と導電層1とを兼ねた構成も可能である。
【0054】
(第2の実施例)
図2は本発明の電子放出素子の第2の実施例における断面図を示すものである。
【0055】
基板101上に導電層1が形成されているが、その導電層1の表面は粗面化されており、粒子もしくは粒子の凝集体2は導電層1表面の凹凸にならって付着し電子放出部3を形成している。
【0056】
電子放出部3に対応した箇所に開口部がある引き出し電極4が電子放出部3と所定の間隔を隔てて設けられている。
【0057】
図2の構成は一般的にトライオード構成と呼ばれるもので、引き出し電極4に電圧を印加し、電子放出部3表面に電界を集中させ電子を引き出し、開口部を通過させ、前方に取り出すものであり、図1のダイオード方式に比べ電子放出素子としての構成は若干複雑にはなるが、電子を取り出すための印加電圧は低くて済む。
【0058】
図2の構成は図1の構成と同様、電子放出部3を構成する粒子もしくはその凝集体2は表面が粗面化された導電層1上に形成されているため、平坦な導電層上に形成した場合に比べ電界集中が高くなり、その結果、引き出し電極4には低い電圧を印加するだけで電子を取り出すことが可能となる。
【0059】
また、電子放出部3を構成する粒子もしくは粒子の凝集体2は互いに接触することなく独立しているため、各々が電子放出の起点となり得、結果、電子放出部3からの電子放出電流は粒子もしくは粒子の凝集体2各々の複数箇所からの電子放出の集積となり、大電流となると同時に時間的・空間的な均一性も得ることが可能となる。
【0060】
また、粒子もしくは粒子の凝集体2に対しての具体的な実施例およびその際の効果に関しては図1と同様である。
【0061】
(第3の実施例)
図3は本発明の電子放出素子の第3の実施例における断面図を示すものである。
【0062】
基板101上に導電層1が形成されているが、その導電層1は多孔質であり、その表面には凹凸が存在する。
【0063】
粒子もしくは粒子の凝集体はその導電層1表面の凹凸にならって付着し電子放出部3を形成している。
【0064】
この構成は一般にダイオ−ド構成と呼ばれるものであり、この構成に於ける動作およびその特徴は前の図1でのそれと同様である。
【0065】
(第4の実施例)
図4は本発明の電子放出素子の第4の実施例における断面図を示すものである。
【0066】
基板11上に導電層1が形成されているが、その導電層1は多孔質であり、その表面には凹凸が存在する。
【0067】
粒子もしくは粒子の凝集体はその導電層1表面の凹凸にならって付着し電子放出部2を形成している。
【0068】
この構成は一般にトライオード構成と呼ばれるものであり、この構成に於ける動作およびその特徴は前の図2でのそれと同様である。
【0069】
(第1の実施例「電子放出素子の製造方法」)
図5(a),(b)は本発明の電子放出素子の製造方法の第1の実施例を説明するための工程の簡略図である。
【0070】
具体的には、本発明の電子放出素子の第1の実施例の構成の製造方法である。1は導電層であり、その表面を粗面化させて形成し(図5(a))、その上に少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体2からなる電子放出部3を形成する(図5(b))。
【0071】
ここで、導電層1の表面を粗面化した状態で形成する方法としては、例えば、以下の方法が挙げられる。
【0072】
まず第1の方法は、導電層1の形成方法として「溶射」を用いることである。溶射によれば、その成膜表面は必然的に荒れてしまうため、その表面の荒れを利用するものである。
【0073】
荒れの程度はその成膜条件で制御可能である。
また溶射は真空プロセスが不必要で大気圧下で成膜できるという特徴を持ち、導電層1の形成コスト低減にもなる。
【0074】
導電層1表面粗面化の第2の方法は、何らかの方法で形成した導電層1をブラストすることにより表面を粗面化する方法である。
【0075】
この方法によると、鋭利な突起形状を有する導電層表面が得られる。
導電層1表面粗面化の第3の方法は、何らかの方法で形成した導電層1を化学的にエッチングすることにより表面を粗面化する方法である。
【0076】
この際、湿式エッチングの場合、突起の凹凸をより大きく得るために、エッチング液を噴霧状に吹き付ける等のエッチング方法を採用することが望ましい。
【0077】
導電層1表面の粗面化の第4の方法は、基板101を粗面化し、そこに導電層1を形成することにより、導電層1の形成面に凹凸を与える方法である。
【0078】
基板101を粗面化する方法は、上述の導電層1を粗面化する方法の一つであった、ブラスト法、エッチング法等が挙げられる。
【0079】
また、粒子もしくは粒子の凝集体2を導電層1上に形成する方法としては、例えば以下の方法が挙げられる。
【0080】
一つは、粒子もしくは粒子の凝集体2を分散させた溶液を導電層1上に、例えばスピンコート等の方法で塗布する方法である。
【0081】
また別の方法として、粒子もしくは粒子の凝集体2を分散させた溶液中に導電層1を形成した部材を浸して設置し、溶液に超音波振動を印加することにより溶液中の粒子を導電層に付着させる方法である。
【0082】
第3の方法としては、電気泳動法により、粒子を付着させる方法である。
これらの方法によれば、粒子もしくは粒子の凝集体2を互いが接触せずに独立した状態で導電層1上に分布・形成させることが可能となる。
【0083】
以上の製造方法によれば、少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体2が粗面化された導電層1上に形成された電子放出部3を有する電子放出素子が得られ、この構成により電子放出部3への電界集中が効率的になることにより低電圧印加で電子の取り出しが可能な電子放出素子の製造が可能となる。
【0084】
また、この製造方法によれば、粒子もしくは粒子の凝集体2は互いに接触せずに独立した状態で導電層1上に塗布されるため、粒子もしくは粒子の凝集体2の個々が電子放出源となり、電子放出部3から取り出される電子は、粒子もしくは粒子の凝集体2個々からの電子の集積となる。従って大電流の取り出しが可能な電子放出素子の製造が可能となる。
【0085】
(第2の実施例「電子放出素子の製造方法」)
図6(a)〜(c)は本発明の電子放出素子の製造方法の第2の実施例を説明するための工程の簡略図である。
【0086】
具体的には、本発明の電子放出素子の第2の実施例の構成の製造方法である。1は導電層であり、その表面を粗面化させて形成し(図6(a))、その上に少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体2からなる電子放出部3を形成する(図6(b))。
【0087】
そして電子放出部3に対応した箇所に開口部がある引き出し電極4を前記電子放出部3と所定の間隔を隔てて設ける(図6(c))。
【0088】
ここで、導電層1の表面を粗面化した状態で形成する方法としては、前の図5での構成と同様の方法が挙げられる。
【0089】
また、粒子もしくは粒子の凝集体2を導電層1状に形成する方法としても、前の図5での構成と同様の方法が挙げられる。
【0090】
また、図6(a)〜(c)において、少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体2からなる電子放出部3を形成する工程(図6(b))と、電子放出部3に対応した箇所に開口部がある引き出し電極4を電子放出部3と所定の間隔を隔てて設ける工程(図6(c))とが逆であっても、引き出し電極4への粒子もしくは粒子の凝集体2の付着を防いでやれば、いっこうに構わない。
【0091】
(第3の実施例「電子放出素子の製造方法」)
図7(a)〜(b)は本発明の電子放出素子の製造方法の第3の実施例を説明するための工程の簡略図である。
【0092】
具体的には、本発明の電子放出素子の第3の実施例の構成の製造方法である。1は導電層であり、導電層1は多孔質になっており(図7(a))、その上に少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体1からなる電子放出部3を形成する(図7(b))。
【0093】
ここで導電層1を多孔質に形成する方法としては、例えば、「溶射」による方法が挙げられる。
【0094】
溶射によればその膜は必然的に気孔を含んだ多孔質になる。
また溶射は真空プロセスが不必要で大気圧下で成膜できるという特徴を持ち、導電層1の形成コスト低減にも繋がる。
【0095】
また、粒子もしくは粒子の凝集体2を導電層1状に形成する方法としては、前の図5での構成と同様の方法が挙げられる。
【0096】
(第4の実施例「電子放出素子の製造方法」)
図8(a)〜(c)は本発明の電子放出素子の製造方法の第4の実施例を説明するための工程の簡略図である。
【0097】
具体的には、本発明の電子放出素子の第4の実施例の構成の製造方法である。1は導電層であり、導電層1は多孔質になっており(図8(a))、その上に少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体1からなる電子放出部3を形成する(図8(b))。
【0098】
そして電子放出部3に対応した箇所に開口部がある引き出し電極4を電子放出部3と所定の間隔を隔てて設ける(図8(c))。
【0099】
ここで、導電層1を多孔質に形成する方法としては、前の図7での説明と同様の方法が挙げられる。
【0100】
また、粒子もしくは粒子の凝集体2を導電層1状に形成する方法としては、前の(図5)での構成と同様の方法が挙げられる。
【0101】
また、図8(a)〜(c)において、少なくとも1個の粒子もしくは粒子の凝集体2からなる電子放出部3を形成する工程(図8(b))と、電子放出部3に対応した箇所に開口部がある引き出し電極4を前記電子放出部3と所定の間隔を隔てて設ける工程(図8(c))とが逆であっても、引き出し電極4への粒子もしくは粒子の凝集体2の付着を防いでやれば、いっこうに構わないのも同様である。
【0102】
図9は本発明の平板型画像表示装置の1実施例である。
本発明の電子放出素子11が、外囲器12の一部を兼ねた基板12a上に形成されている。
【0103】
13は画像形成部であり、電子放出素子11からの電子に対し加速・偏向・変調等の駆動・制御を行う電子駆動電極13aと、外囲器12の一部12bの内面に塗布された蛍光体13bとからなり、前記駆動された電子により蛍光体13bを発光させ画像を表示する。
【0104】
ここで、電子放出素子11としては、本発明の電子放出素子を用いているため、低電圧で且つ大電流の取り出しが可能であり、従って、低電圧駆動且つ高輝度な平板型画像表示装置が実現できる。
【0105】
図10(a)〜(d)は本発明の平板型画像表示装置の製造方法の1実施例である。例えば、外囲器12の一部を兼ねる基板12aに、本発明の電子放出素子11を形成する(図10(a))。
【0106】
次に画像形成部の一部である電子駆動電極13aを配設し(図10(b))、内面に蛍光体13bを塗布した外囲器の一部12bを設置し(図10(c))、内部を真空にして画像表示装置を製造する(図10(d))。
【0107】
この製造方法によれば、本発明の電子放出素子を用いた平板型画像表示装置を製造することが可能となり、従って、低電圧駆動且つ高輝度な平板型画像表示装置の製造が可能となる。
【0108】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、粗面化されたもしくは多孔質な導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体が互いに接触せずに独立して塗布された構成であることを特徴とし、低い電圧で高電流の取り出しが可能となる電子放出素子およびその製造方法の提供が可能となる。
【0109】
さらに、本発明により、前記電子放出素子を用いた、低電圧駆動・高輝度な平板型画像表示装置およびその製造方法の提供が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子放出素子の第1の実施例における断面図
【図2】 本発明の電子放出素子の第2の実施例における断面図
【図3】本発明の電子放出素子の第3の実施例における断面図
【図4】本発明の電子放出素子の第4の実施例における断面図
【図5】 (a),(b) 本発明の電子放出素子の製造方法の第1の実施例を示す簡略工程図
【図6】 (a)〜(c)本発明の電子放出素子の製造方法の第2の実施例を示す簡略工程図
【図7】 (a),(b) 本発明の電子放出素子の製造方法の第3の実施例を示す簡略工程図
【図8】 (a)〜(c)本発明の電子放出素子の製造方法の第4の実施例を示す簡略工程図
【図9】本発明の平板型画像表示装置の1実施例を示す図
【図10】 (a)〜(d)本発明の平板型画像表示装置の製造方法の1実施例を示す簡略工程図
【符号の説明】
1 導電層
2 粒子もしくは粒子の凝集体
3 電子放出部
4 引き出し電極
13 画像形成部
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electron-emitting device that emits electrons and a method for manufacturing the same, and an image display device including the electron-emitting device and a method for manufacturing the same, and more particularly to a configuration using particulate diamond.
[0002]
[Prior art]
Development of a micro-electron emission element is actively performed as an electron source for a thin display or an emitter part of a micro-vacuum device capable of high-speed operation.
[0003]
Conventionally, as the electron-emitting device, a “heat emission type” device in which a voltage of several kilovolts or more is applied to a material such as tungsten heated to a high temperature has been used. Research and development of “cold cathode type” electron-emitting devices capable of emitting electrons even with a voltage has been actively conducted from the viewpoint of reducing power consumption.
[0004]
Various types of such cold cathode devices have been reported, but field emission type and avalanche amplification type using pn and Schottky junction are generally used.
[0005]
A field emission type cold cathode device is a cone-shaped tip made of a refractory metal such as silicon (Si) or molybdenum (Mo) by applying a voltage to the gate electrode and applying an electric field to the cold cathode portion. Electrons are emitted from the portion, and have features such as miniaturization and integration by using a fine processing technique.
[0006]
In the avalanche amplification type using a semiconductor material, a reverse bias voltage is applied to the pn and Schottky junction portions to cause avalanche amplification, thereby heating electrons and emitting electrons from the emitter portion.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
In general, the characteristics required as a cold cathode element are that a high current can be stably obtained by low voltage and low power consumption driving.
[0008]
Here, a so-called “Spindt type”, which is one of the field emission type cold cathode devices that have been generally produced, is a cone-shaped with a sharp protrusion, and the amount of electron emission obtained is It was highly dependent on the tip shape.
[0009]
That is, in order to stably obtain a high current by driving at a low voltage and low power consumption, as a material used for a cold cathode device, (1) in order to facilitate the emission of electrons in a small electric field, the electron affinity is small; 2) It must be chemically stable, and (3) it must have excellent wear resistance and heat resistance.
[0010]
However, none of the conventional materials satisfy all of these requirements. That is, when the prior art is viewed from the above viewpoint, the field emission type element has a large dependency of the emission current amount on the shape of the emitter portion, and its fabrication and control are very difficult, and the surface of the material used There was also a problem in terms of stability.
[0011]
In this method, each element is a point electron emission source from the cone-shaped tip portion where the electric field is concentrated, and it is difficult to obtain a planar electron emission current from which a large current can be extracted.
[0012]
On the other hand, an avalanche-amplified cold cathode device generally requires a very large amount of current to be applied to the device, so that the device generates heat, resulting in unstable electron emission characteristics and shortened device life. There was a problem.
[0013]
Furthermore, in the avalanche amplification type, the work function amount of the electron emission portion is reduced by providing a cesium layer or the like on the surface of the emitter portion. However, the surface state of a material having a low work function such as cesium is chemically unstable because it is chemically unstable. There was also a problem that the electron emission characteristics were not stable as a result.
[0014]
As described above, the materials and structures used so far do not sufficiently satisfy the characteristics required for electron-emitting devices.
[0015]
Accordingly, an object of the present invention is to provide an electron-emitting device capable of stably obtaining a high current by driving at a low voltage and a method for manufacturing the same, in order to solve the above-described problems in the prior art.
[0016]
It is another object of the present invention to provide an image display device using the above-described electron-emitting device and a method for manufacturing the same.
[0017]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the electron-emitting device and the manufacturing method thereof of the present invention, the image display apparatus including the electron-emitting device, and the manufacturing method means thereof are as follows.
[0022]
The present invention of claim 1 comprises at least a step of a conductive layer formed by roughening the surface, including conductive and forming an electron emitting portion composed of aggregates of particles or particles on the conductive layer A method of manufacturing an electron-emitting device , wherein the step of forming the surface of the conductive layer by roughening includes a step of forming the conductive layer by a thermal spraying method. .
[0023]
The present invention of claim 2 includes at least a step of forming a conductive layer by roughening a surface thereof, a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer, and the electron emission. and forming an extraction electrode for extracting electrons from part a manufacturing method of including electron-emitting device, the step of forming by roughening the surface of the conductive layer, a thermal spraying method to form the conductive layer A method of manufacturing an electron-emitting device, comprising the step of:
[0025]
The present invention of claim 3 includes at least a step of forming a porous conductive layer, a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer, and electrons from the electron emission portion. and forming an extraction electrode for extracting a manufacturing method of including electron-emitting device, the step of forming the porous conductive layer, an electron-emitting device, which comprises a step by spraying method It is a manufacturing method .
[0028]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The first invention is an electron-emitting device comprising at least a conductive layer and an electron-emitting portion made of particles or aggregates of particles formed on the conductive layer, wherein the surface of the conductive layer is rough. It is characterized by that.
[0029]
According to a second aspect of the present invention, there is provided an electron including at least a conductive layer, an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles formed on the conductive layer, and an extraction electrode for extracting electrons from the electron emission portion. In the emission element, the surface of the conductive layer portion is roughened.
[0030]
A third invention is an electron-emitting device including at least a conductive layer and an electron-emitting portion made of particles or particle aggregates formed on the conductive layer, wherein the conductive layer is porous. It is characterized by that.
[0031]
According to a fourth aspect of the invention, there is provided an electron including at least a conductive layer, an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles formed on the conductive layer, and an extraction electrode for extracting electrons from the electron emission portion. An emission element, wherein the conductive layer is porous.
[0032]
The fifth invention includes at least a step of forming a conductive layer by roughening a surface thereof, and a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer. This is a method for manufacturing an electron-emitting device.
[0033]
The sixth invention includes at least a step of forming a conductive layer by roughening the surface thereof, a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer, and And a step of forming an extraction electrode for extracting electrons.
[0034]
The seventh invention includes at least a step of forming a porous conductive layer and a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer. It is a manufacturing method.
[0035]
The eighth invention includes at least a step of forming a porous conductive layer, a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer, and for extracting electrons from the electron emission portion. And a step of forming a lead electrode. The method of manufacturing an electron-emitting device, comprising:
[0036]
A ninth aspect of the invention is an image display device comprising at least a plurality of electron-emitting devices and an image forming unit that forms an image by electrons emitted from the plurality of electron-emitting devices, An image display device characterized in that the element is the electron-emitting device described in any one of the first to fourth inventions.
[0037]
A tenth aspect of the invention includes at least a step of manufacturing and arranging a plurality of electron-emitting devices, and a step of manufacturing and arranging an image forming unit that forms an image by electrons emitted from the electron-emitting devices. An image display device manufacturing method, wherein the step of manufacturing and arranging the electron-emitting devices is manufactured by the manufacturing method according to any one of the fifth to eighth inventions. It is a manufacturing method.
[0038]
In the present invention, since the electric field concentration on the particles or particle aggregates 2 constituting the electron emission portion 3 is increased by the above-described configuration, electrons can be taken out only by applying a low voltage.
[0039]
Further, since the particles or particle aggregates 2 constituting the electron emission portion 3 are independent without being in contact with each other, each can be a starting point of electron emission. As a result, the electron emission current from the electron emission portion 3 is a particle Alternatively, the emission of electrons from a plurality of locations of each of the particle aggregates 2 is accumulated, so that a large current can be obtained and at the same time temporal and spatial uniformity can be obtained.
[0040]
Further, according to the present invention, a flat-type image display device with low voltage driving and high luminance using the above-described electron-emitting device can be realized.
[0041]
【Example】
(First embodiment)
FIG. 1 shows a cross-sectional view of a first embodiment of the electron-emitting device of the present invention.
[0042]
As shown in FIG. 1, the conductive layer 1 is formed on the substrate 101, but the surface of the conductive layer 1 is roughened, and the particles or the aggregates 2 of the particles are uneven on the surface of the conductive layer 1. Thus, the electron emission portions 3 are formed by adhering independently without contacting each other.
[0043]
The configuration of FIG. 1 is generally called a diode configuration. A voltage is applied to an electrode (not shown) opposed to the electron emission portion 3 to form particles or particle aggregates 2 constituting the electron emission portion 3. The electric field is concentrated to take out electrons.
[0044]
Here, since the particles constituting the electron-emitting portion 3 or the aggregate 2 thereof are formed on the conductive layer 1 having a rough surface, the electric field concentration is higher than when formed on a flat conductive layer. As a result, electrons can be taken out only by applying a low voltage to the counter electrode (not shown).
[0045]
Further, since the particles or particle aggregates 2 constituting the electron emission portion 3 are independent without being in contact with each other, each can be a starting point of electron emission. As a result, the electron emission current from the electron emission portion 3 is a particle Alternatively, the emission of electrons from a plurality of locations of each of the particle aggregates 2 is accumulated, so that a large current can be obtained and at the same time temporal and spatial uniformity can be obtained.
[0046]
Here, by using diamond as the particles or the aggregate 2 of the particles, the stability of the material surface is obtained, and as a result, the stability of electron emission over time is further increased.
[0047]
In general, there is a report that when the surface of diamond is hydrogen-terminated, the electron affinity becomes negative. From this point of view, the particles or particle aggregates 2 forming the electron emission portion 3 are diamond, and further If the surface is hydrogen-terminated, the effect of the present invention can be further increased.
[0048]
Such diamond particles can be obtained, for example, by pulverizing artificial diamond as obtained by vapor phase synthesis and then exposing it to hydrogen plasma.
[0049]
Further, the same effect can be obtained even if carbon particles partially having a diamond structure are used as the particles or the aggregate 2 of the particles.
[0050]
Also in this case, the effect of the present invention can be similarly increased by using hydrogen termination.
[0051]
The conductive layer 1 functions as an electrode for supplying electrons to the particles or particle aggregates 2 constituting the electron emission portion 3, and is a thin film / thick film of a conductive material including a normal metal, a single layer structure, A multi-layer structure is not required.
[0052]
However, it is preferable to use a low work function material as the conductive layer 1 in consideration of a barrier in injecting electrons from the conductive layer 1 to the particles or the aggregate 2 of the particles.
[0053]
If the structure allows, a configuration in which the substrate 101 and the conductive layer 1 are combined is also possible.
[0054]
(Second embodiment)
FIG. 2 shows a cross-sectional view of the second embodiment of the electron-emitting device of the present invention.
[0055]
The conductive layer 1 is formed on the substrate 101, but the surface of the conductive layer 1 is roughened, and the particles or the aggregates 2 of the particles adhere to the surface of the conductive layer 1 according to the irregularities, and the electron emission portion. 3 is formed.
[0056]
An extraction electrode 4 having an opening at a position corresponding to the electron emission portion 3 is provided at a predetermined interval from the electron emission portion 3.
[0057]
The configuration of FIG. 2 is generally called a triode configuration, in which a voltage is applied to the extraction electrode 4, the electric field is concentrated on the surface of the electron emission portion 3, the electrons are extracted, passed through the opening, and extracted forward. As compared with the diode system of FIG. 1, the configuration as an electron-emitting device is slightly complicated, but the applied voltage for extracting electrons may be low.
[0058]
In the configuration of FIG. 2, the particles constituting the electron emission portion 3 or the aggregate 2 thereof are formed on the conductive layer 1 having a roughened surface, and therefore, on the flat conductive layer. The electric field concentration is higher than that in the case where the electrodes are formed. As a result, electrons can be extracted only by applying a low voltage to the extraction electrode 4.
[0059]
Further, since the particles or particle aggregates 2 constituting the electron emission portion 3 are independent without being in contact with each other, each can be a starting point of electron emission. As a result, the electron emission current from the electron emission portion 3 is a particle Alternatively, the emission of electrons from a plurality of locations of each of the particle aggregates 2 is accumulated, so that a large current can be obtained and at the same time temporal and spatial uniformity can be obtained.
[0060]
Further, specific examples for the particles or the aggregate 2 of the particles and the effects at that time are the same as those in FIG.
[0061]
(Third embodiment)
FIG. 3 is a sectional view showing a third embodiment of the electron-emitting device according to the present invention.
[0062]
Although the conductive layer 1 is formed on the substrate 101, the conductive layer 1 is porous and has irregularities on the surface.
[0063]
Particles or aggregates of particles adhere to the surface of the conductive layer 1 in accordance with the unevenness to form the electron emission portion 3.
[0064]
This configuration is generally called a diode configuration, and the operation and characteristics of this configuration are the same as those in FIG.
[0065]
(Fourth embodiment)
FIG. 4 is a sectional view showing a fourth embodiment of the electron-emitting device according to the present invention.
[0066]
The conductive layer 1 is formed on the substrate 11, and the conductive layer 1 is porous and has irregularities on the surface.
[0067]
Particles or particle aggregates adhere to the surface of the conductive layer 1 to form the electron emission portion 2.
[0068]
This configuration is generally called a triode configuration, and the operation and characteristics of this configuration are the same as those in FIG.
[0069]
(First Example “Method for Manufacturing Electron Emission Device”)
FIGS. 5A and 5B are simplified views of steps for explaining the first embodiment of the method for manufacturing an electron-emitting device according to the present invention.
[0070]
Specifically, it is a manufacturing method of the configuration of the first embodiment of the electron-emitting device of the present invention. Reference numeral 1 denotes a conductive layer, which is formed by roughening the surface (FIG. 5A), and an electron emission portion 3 composed of at least one particle or an aggregate 2 of particles is formed thereon (FIG. 5). 5 (b)).
[0071]
Here, as a method of forming the surface of the conductive layer 1 in a roughened state, for example, the following method may be mentioned.
[0072]
The first method is to use “thermal spraying” as a method for forming the conductive layer 1. According to the thermal spraying, the surface of the film is inevitably roughened, and the surface roughness is used.
[0073]
The degree of roughness can be controlled by the film forming conditions.
Further, the thermal spraying has a feature that a vacuum process is not required and a film can be formed under atmospheric pressure, and the formation cost of the conductive layer 1 is reduced.
[0074]
The second method of roughening the surface of the conductive layer 1 is a method of roughening the surface by blasting the conductive layer 1 formed by any method.
[0075]
According to this method, a conductive layer surface having a sharp protrusion shape can be obtained.
The third method of roughening the surface of the conductive layer 1 is a method of roughening the surface by chemically etching the conductive layer 1 formed by any method.
[0076]
In this case, in the case of wet etching, it is desirable to employ an etching method such as spraying an etching solution in order to obtain larger projections and depressions.
[0077]
A fourth method for roughening the surface of the conductive layer 1 is a method in which the substrate 101 is roughened, and the conductive layer 1 is formed thereon, whereby the formation surface of the conductive layer 1 is made uneven.
[0078]
Examples of the method for roughening the substrate 101 include a blast method and an etching method, which are one of the methods for roughening the conductive layer 1 described above.
[0079]
Moreover, as a method of forming the particle | grains or the aggregate 2 of particles on the conductive layer 1, the following method is mentioned, for example.
[0080]
One is a method in which a solution in which particles or particle aggregates 2 are dispersed is applied to the conductive layer 1 by a method such as spin coating.
[0081]
As another method, the member in which the conductive layer 1 is formed is immersed in a solution in which particles or particle aggregates 2 are dispersed, and ultrasonic vibration is applied to the solution to remove particles in the solution. It is the method of making it adhere to.
[0082]
The third method is a method of attaching particles by electrophoresis.
According to these methods, particles or particle aggregates 2 can be distributed and formed on the conductive layer 1 in an independent state without being in contact with each other.
[0083]
According to the above manufacturing method, an electron-emitting device having the electron-emitting portion 3 formed on the conductive layer 1 on which at least one particle or particle aggregate 2 is roughened is obtained. Since the electric field concentration on the emission part 3 becomes efficient, it becomes possible to manufacture an electron-emitting device capable of extracting electrons by applying a low voltage.
[0084]
Further, according to this manufacturing method, the particles or the particle aggregates 2 are applied to the conductive layer 1 in an independent state without being in contact with each other, so that each particle or particle aggregate 2 becomes an electron emission source. The electrons taken out from the electron emitting portion 3 are accumulated from the individual particles or particle aggregates 2. Therefore, it is possible to manufacture an electron-emitting device that can extract a large current.
[0085]
(Second Embodiment “Method for Manufacturing Electron Emission Device”)
6A to 6C are simplified views of steps for explaining a second embodiment of the method for manufacturing an electron-emitting device according to the present invention.
[0086]
Specifically, it is a manufacturing method of the configuration of the second embodiment of the electron-emitting device of the present invention. Reference numeral 1 denotes a conductive layer, which is formed by roughening the surface (FIG. 6A), and an electron emission portion 3 composed of at least one particle or an aggregate 2 of particles is formed thereon (FIG. 6). 6 (b)).
[0087]
Then, an extraction electrode 4 having an opening at a position corresponding to the electron emission portion 3 is provided at a predetermined interval from the electron emission portion 3 (FIG. 6C).
[0088]
Here, as a method of forming the surface of the conductive layer 1 in a roughened state, a method similar to the configuration in FIG.
[0089]
Further, as a method of forming the particles or the aggregate 2 of the particles in the shape of the conductive layer 1, the same method as that in the previous FIG.
[0090]
6A to 6C, the step (FIG. 6B) for forming the electron emission portion 3 made of at least one particle or particle aggregate 2 corresponds to the electron emission portion 3. Even if the step of providing the extraction electrode 4 having an opening at a location at a predetermined distance from the electron emission portion 3 (FIG. 6C) is reversed, particles or particle aggregates 2 on the extraction electrode 4 are provided. If you can prevent the adhesion of, it will be no problem.
[0091]
(Third embodiment "Method for manufacturing electron-emitting device")
FIGS. 7A to 7B are simplified views of steps for explaining a third embodiment of the method for manufacturing an electron-emitting device according to the present invention.
[0092]
Specifically, it is a manufacturing method of the configuration of the third embodiment of the electron-emitting device of the present invention. Reference numeral 1 denotes a conductive layer. The conductive layer 1 is porous (FIG. 7A), and an electron emission portion 3 composed of at least one particle or an aggregate 1 of particles is formed thereon (FIG. 7). 7 (b)).
[0093]
Here, as a method of forming the conductive layer 1 to be porous, for example, a method by “thermal spraying” can be mentioned.
[0094]
By thermal spraying, the film inevitably becomes porous with pores.
Further, the thermal spraying has a feature that a vacuum process is not required and a film can be formed under atmospheric pressure, which leads to a reduction in the formation cost of the conductive layer 1.
[0095]
Moreover, as a method of forming the particle or the aggregate 2 of particles into the conductive layer 1, the same method as that in the previous FIG.
[0096]
(Fourth embodiment "Method for manufacturing electron-emitting device")
FIGS. 8A to 8C are simplified views of steps for explaining a fourth embodiment of the method for manufacturing an electron-emitting device according to the present invention.
[0097]
Specifically, it is a manufacturing method of the configuration of the fourth embodiment of the electron-emitting device of the present invention. Reference numeral 1 denotes a conductive layer, and the conductive layer 1 is porous (FIG. 8A), and an electron emission portion 3 composed of at least one particle or an aggregate 1 of particles is formed thereon (FIG. 8). 8 (b)).
[0098]
An extraction electrode 4 having an opening at a position corresponding to the electron emission portion 3 is provided at a predetermined interval from the electron emission portion 3 (FIG. 8C).
[0099]
Here, as a method for forming the conductive layer 1 to be porous, the same method as described in FIG.
[0100]
Moreover, as a method for forming the particles or the aggregate 2 of the particles into the conductive layer 1, a method similar to the configuration in the previous (FIG. 5) can be given.
[0101]
Further, in FIGS. 8A to 8C, a step (FIG. 8B) of forming an electron emission portion 3 made of at least one particle or an aggregate 2 of particles corresponds to the electron emission portion 3. Even if the step of providing the extraction electrode 4 having an opening at a location at a predetermined distance from the electron emission portion 3 (FIG. 8C) is reversed, particles or aggregates of particles on the extraction electrode 4 The same is true if the adhesion of 2 is prevented.
[0102]
FIG. 9 shows an embodiment of a flat image display apparatus of the present invention.
The electron-emitting device 11 of the present invention is formed on a substrate 12 a that also serves as a part of the envelope 12.
[0103]
Reference numeral 13 denotes an image forming unit, which is an electron drive electrode 13a for driving / controlling acceleration / deflection / modulation etc. of electrons from the electron-emitting device 11, and fluorescence applied to the inner surface of a part 12b of the envelope 12. The phosphor 13b emits light by the driven electrons and displays an image.
[0104]
Here, since the electron-emitting device of the present invention is used as the electron-emitting device 11, it is possible to take out a large current with a low voltage. realizable.
[0105]
10 (a) to 10 (d) show an embodiment of a method for manufacturing a flat panel display according to the present invention. For example, the electron-emitting device 11 of the present invention is formed on the substrate 12a that also serves as a part of the envelope 12 (FIG. 10A).
[0106]
Next, an electronic drive electrode 13a which is a part of the image forming unit is disposed (FIG. 10B), and a part 12b of the envelope having a phosphor 13b applied on the inner surface is installed (FIG. 10C). ), And the inside is evacuated to manufacture the image display device (FIG. 10D).
[0107]
According to this manufacturing method, it is possible to manufacture a flat-panel image display device using the electron-emitting device of the present invention, and thus it is possible to manufacture a flat-panel image display device with low voltage drive and high brightness.
[0108]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the particles or the aggregates of the particles are independently applied to each other on the roughened or porous conductive layer without being in contact with each other, It is possible to provide an electron-emitting device that can extract a high current at a low voltage and a method for manufacturing the same.
[0109]
Furthermore, according to the present invention, it is possible to provide a flat-panel image display device using the electron-emitting device and driven at a low voltage and having high brightness, and a method for manufacturing the same.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a first embodiment of the electron-emitting device of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of a second embodiment of the electron-emitting device of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view of a fourth embodiment of the electron-emitting device of the present invention. FIGS. 5A and 5B are diagrams illustrating a first method of manufacturing an electron-emitting device of the present invention. Simplified process diagram showing an embodiment [FIG. 6] (a) to (c) Simplified process diagram showing a second embodiment of the method of manufacturing an electron-emitting device of the present invention [FIG. 7] (a), (b) FIGS. 8A to 8C are simplified process diagrams showing a fourth embodiment of the method for manufacturing an electron-emitting device according to the present invention. FIGS. FIGS. 9A and 9B are diagrams showing one embodiment of a flat panel image display device according to the present invention. FIGS. 10A to 10D are simplified process diagrams illustrating one embodiment of a manufacturing method of the flat plate image display device according to the present invention. Description of the code]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conductive layer 2 Particle | grains or aggregate of particles 3 Electron emission part 4 Extraction electrode 13 Image formation part

Claims (3)

少なくとも、導電層をその表面を粗面化して形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程とを含む電子放出素子の製造方法であって、
前記導電層の表面を粗面化して形成する工程が、導電層の形成を溶射法により行う工程を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法
At least, a conductive layer forming roughened the surface, met production method of the conductive layer including electron-emitting device and forming the electron emitting portion composed of aggregates of particles or particles hand,
The method of manufacturing an electron-emitting device, wherein the step of forming the surface of the conductive layer by roughening includes a step of forming the conductive layer by a thermal spraying method .
少なくとも、導電層をその表面を粗面化して形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極を形成する工程とを含む電子放出素子の製造方法であって、
前記導電層の表面を粗面化して形成する工程が、導電層の形成を溶射法により行う工程を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法
At least a step of forming a conductive layer by roughening a surface thereof, a step of forming an electron emission portion made of particles or an aggregate of particles on the conductive layer, and a drawer for extracting electrons from the electron emission portion and forming an electrode by a method for producing including electron-emitting devices,
The method of manufacturing an electron-emitting device, wherein the step of forming the surface of the conductive layer by roughening includes a step of forming the conductive layer by a thermal spraying method .
少なくとも、多孔質な導電層を形成する工程と、前記導電層上に粒子もしくは粒子の凝集体からなる電子放出部を形成する工程と、前記電子放出部から電子を引き出すための引き出し電極を形成する工程とを含む電子放出素子の製造方法であって、
前記多孔質な導電層を形成する工程が、溶射法による工程を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法
At least a step of forming a porous conductive layer, a step of forming an electron emission portion made of particles or particle aggregates on the conductive layer, and an extraction electrode for extracting electrons from the electron emission portion are formed and a step method for manufacturing a including electron-emitting devices,
The method of manufacturing an electron-emitting device, wherein the step of forming the porous conductive layer includes a step of spraying .
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