JP3535669B2 - Semiconductor laser array capable of polarization modulation and method of manufacturing the same - Google Patents

Semiconductor laser array capable of polarization modulation and method of manufacturing the same

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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光通信及び光情報
処理等に用いられる偏波変調可能な半導体レーザアレイ
などの半導体光デバイス及びその製造方法等に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor optical device such as a polarization-modulatable semiconductor laser array used for optical communication and optical information processing, and a manufacturing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザ等の光デバイスを用いた光
通信技術は今日多くの問題点を解決してきた。しかしな
がら、いわゆるチャーピングとよばれる、高速強度変調
時のキャリア不均一分布による屈折率変動が出力光の波
形を歪ませる現象は必ずしも解決に至っていない。これ
を解決するために現在用いられている主流の方法は、半
導体レーザをCW(連続動作)で駆動し、外部半導体光
変調器により強度変調を行うものである。しかし、この
方法でもチャーピングの低減に限界があることが近年の
研究で明らかになってきた。
2. Description of the Related Art Optical communication technology using optical devices such as semiconductor lasers has solved many problems today. However, the phenomenon called so-called chirping, in which the fluctuation of the refractive index due to the carrier non-uniform distribution during high-speed intensity modulation distorts the waveform of the output light, has not always been solved. A mainstream method currently used to solve this is to drive a semiconductor laser by CW (continuous operation) and perform intensity modulation by an external semiconductor optical modulator. However, recent studies have revealed that even this method has a limit in reducing chirping.

【0003】一方、レーザ光の偏波面を信号に応じてス
イッチングさせる偏波変調レーザは、通常の強度変調レ
ーザに比べ、変調の際にも、共振器内の光密度とキャリ
ア密度を殆ど一定にすることが可能なため、チャーピン
グが小さく変調速度や伝送距離を向上させることができ
る。偏波変調レーザについては、たとえば、特公平5−
68111号公報に開示された半導体レーザ装置があ
る。この半導体レーザ装置は、直列又は並列に接続され
た2つの半導体レーザから成り、その一方は主として特
定の偏光状態(TE又はTM偏光)の波を発生又は増幅
し、他方は主として別の偏光状態(TM又はTE偏光)
の波を発生又は増幅する。そして、その際、両半導体レ
ーザの一方で増幅されるか発生した光波と他方の半導体
レーザで増幅されるか発生した光波が、互いに重ね合わ
せ可能であることを特徴とする。
On the other hand, a polarization modulation laser that switches the plane of polarization of laser light according to a signal makes the optical density and carrier density in the resonator almost constant during modulation, as compared with a normal intensity modulation laser. Therefore, the chirping is small and the modulation speed and the transmission distance can be improved. Regarding the polarization modulation laser, for example, Japanese Patent Publication No.
There is a semiconductor laser device disclosed in Japanese Patent No. 68111. This semiconductor laser device is composed of two semiconductor lasers connected in series or in parallel, one of which mainly generates or amplifies a wave having a specific polarization state (TE or TM polarization), and the other mainly of another polarization state ( TM or TE polarized light)
Generate or amplify the wave. Then, at that time, a light wave amplified or generated by one of the two semiconductor lasers and a light wave amplified or generated by the other semiconductor laser can be superimposed on each other.

【0004】[0004]

【発明の解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例においては以下の問題点があった。 (1)従来例では、高速変調時の波長変動を制御する手
段については、工夫が成されていないので、伝送容量が
制限を受けるだけでなく、波長多重通信用光源としても
不適である。 (2)偏光方向の異なる2種の半導体レーザの具体的設
計指針および製造方法が示されていない。製造方法の一
例としてMOCVD法等を用いた選択成長方法を用い
て、同一基板上に作製する方法が考えられるが、それぞ
れの半導体レーザを独立に最適化することは非常に困難
である。 (3)アレイ化の為の製造方法が困難である。光通信、
特に、光インタコネクトや波長多重通信には半導体レー
ザのアレイ化が不可欠であるが、半導体レーザのアレイ
化について配慮されていない。
However, the above-mentioned conventional example has the following problems. (1) In the conventional example, since the device for controlling the wavelength fluctuation at the time of high-speed modulation has not been devised, not only is the transmission capacity limited, but it is also unsuitable as a light source for wavelength division multiplexing communication. (2) No specific design guideline and manufacturing method of two types of semiconductor lasers having different polarization directions are shown. As an example of the manufacturing method, a method of manufacturing on the same substrate by using a selective growth method using MOCVD or the like can be considered, but it is very difficult to optimize each semiconductor laser independently. (3) The manufacturing method for forming an array is difficult. Optical communication,
In particular, an array of semiconductor lasers is indispensable for optical interconnection and wavelength division multiplexing communication, but no consideration is given to arraying of semiconductor lasers.

【0005】よって、本発明の目的は、従来の偏波変調
半導体レーザの構造上、製造上の問題点を解決し、実質
的に独立に最適化され得るTEモード用半導体レーザア
レイ構造とTM用半導体レーザアレイ構造を用いて、少
なくとも一方の発振モードについて波長制御がなされ
(波長安定性の確保)且つ偏波変調動作範囲の広い比較
的低コストな半導体レーザアレイ、その製造方法、該半
導体レーザアレイを用いた装置やシステム等を提供する
ことである。
Therefore, the object of the present invention is to solve the problems in the structure and manufacturing of the conventional polarization modulation semiconductor laser, and to optimize the TE mode semiconductor laser array structure and the TM semiconductor laser array structure. Using a semiconductor laser array structure, wavelength control is performed for at least one oscillation mode (securing wavelength stability) and a relatively low-cost semiconductor laser array having a wide polarization modulation operation range, a method for manufacturing the same, and the semiconductor laser array are provided. It is to provide an apparatus, a system and the like using the.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段及び作用】図1は、本発明
の代表例の原理を模式的に表している。図1中、1は複
数の第1の半導体レーザ構造が並列的に形成されて成る
第1の半導体レーザアレイ構造、2は複数の第2の半導
体レーザ構造が並列的に形成されて成る第2の半導体レ
ーザアレイ構造、3は両者の間に形成された空隙(間
隙)及び/又はその中に充填された充填材を表してい
る。半導体レーザアレイ構造1及び2は単体では、ぞれ
ぞれ、各半導体レーザ構造において、第1の共振器7で
TMモード(或はTEモード)が、第2の共振器8でT
Eモード(或はTMモード)が励起される。これに対
し、両者を光学的に結合したことにより、第1及び第2
の共振器の他に第3の共振器9を含めた複合共振器によ
り、TEモードもTMモードも励起される。そのために
は第1の半導体レーザアレイ構造1の第1の半導体レー
ザ構造のTMモードは第2の半導体レーザアレイ構造2
の第2の半導体レーザ構造のTMモードと結合するこ
と、同様に第2の半導体レーザアレイ構造2の第2の半
導体レーザ構造のTEモードが第1の半導体レーザアレ
イ構造1の第1の半導体レーザ構造のTEモードと結合
することが必要になる。このことは、各々対を成す第1
の半導体レーザ構造と第2の半導体レーザ構造に関し
て、TEモード同士及びTMモード同士の伝搬定数が、
それぞれ、ほぼ等しいことを意味する。これを実現する
ことは、技術的には困難なことではない。
FIG. 1 schematically shows the principle of a representative example of the present invention. In FIG. 1, 1 is a first semiconductor laser array structure in which a plurality of first semiconductor laser structures are formed in parallel, and 2 is a second semiconductor laser array structure in which a plurality of second semiconductor laser structures are formed in parallel. The semiconductor laser array structure 3 of 3 represents a void (gap) formed between the two and / or a filler filled therein. Each of the semiconductor laser array structures 1 and 2 alone has a TM mode (or TE mode) in the first resonator 7 and a T mode in the second resonator 8 in each semiconductor laser structure.
E mode (or TM mode) is excited. On the other hand, by optically combining the two, the first and second
Both the TE mode and the TM mode are excited by the composite resonator including the third resonator 9 in addition to the above resonator. Therefore, the TM mode of the first semiconductor laser structure of the first semiconductor laser array structure 1 is changed to the second semiconductor laser array structure 2 of the first semiconductor laser structure.
To the TM mode of the second semiconductor laser structure, and similarly the TE mode of the second semiconductor laser structure of the second semiconductor laser array structure 2 is the first semiconductor laser of the first semiconductor laser array structure 1. It is necessary to couple with the TE mode of the structure. This means that each first pair
Regarding the semiconductor laser structure and the second semiconductor laser structure, the propagation constants of TE modes and TM modes are
It means that they are almost equal. Achieving this is not technically difficult.

【0007】本発明の重要な点は、第1、第2及び第3
の共振器からなる複合共振器で許容されるTEモードと
TMモードのしきい利得をTE用半導体レーザ構造およ
びTM用半導体レーザ構造に注入されるキャリアI1
2を制御することでほぼ等しくすることができる点に
ある。この状態が実現できれば、あとは変調電流或は電
圧で位相条件等を若干制御することで、しきい値の小さ
い方の偏波モードで発振が起こり偏波変調ができる。
An important point of the present invention is that the first, second and third
A carrier I 1 injected into the TE semiconductor laser structure and the TM semiconductor laser structure with the threshold gains of the TE mode and the TM mode allowed in the composite resonator including the resonator of
The point is that they can be made almost equal by controlling I 2 . If this state can be realized, then by slightly controlling the phase condition or the like with the modulation current or voltage, oscillation occurs in the polarization mode with the smaller threshold value, and polarization modulation can be performed.

【0008】以下、請求項に対応して、本発明の各構成
を述べる。上記目的を達成する為の第1の発明は、第1
の偏波モードで発振する第1の半導体レーザアレイ構造
と第2の偏波モードで発振する第2の半導体レーザアレ
イ構造を導波方向に直列に配置した複合共振器型半導体
レーザアレイであって、複数の第1の半導体レーザ構造
から成る第1の半導体レーザアレイ構造が、該第1の半
導体レーザ構造を導波方向に平行に同一基板上に複数個
配置して成り、第1の偏波モードに対する利得が第2の
偏波モードに対する利得よりも優位な共通の第1の活性
領域を有し、個々の第1の半導体レーザ構造に対し、分
布ブラッグ反射型反射器或は分布帰還型反射器を持たせ
ており、第1の半導体レーザ構造と同数の複数の第2の
半導体レーザ構造から成る第2の半導体レーザアレイ構
造が、該第2の半導体レーザ構造を前記第1の半導体レ
ーザ構造と同様に配置して成り、第2の偏波モードに対
する利得が第1の偏波モードに対する利得よりも優位な
共通の第2の活性領域を有し、個々の第2の半導体レー
ザ構造に対し、分布ブラッグ反射型反射器或は分布帰還
型反射器或はファブリペロ型反射器を持たせており、対
を成す前記第1の半導体レーザ構造と第2の半導体レー
ザ構造は、夫々、第1の偏波モード同士及び第2の偏波
モード同士の伝搬定数が夫々ほぼ等しい様に構成されて
おり、前記分布ブラッグ反射型反射器或は分布帰還型反
射器のブラッグ波長が前記半導体レーザアレイ構造の利
得スペクトルのピーク波長近傍に設定してあり、第1及
び第2の半導体レーザ構造の少なくとも一方に注入する
キャリアに変調をかけることで前記第1の偏波モードと
第2の偏波モードとの間で発振モードをスイッチングさ
せることを特徴とする偏波変調可能な半導体レーザアレ
イである(請求項1に対応)。
The respective components of the present invention will be described below in accordance with the claims. The first invention for achieving the above object is the first invention.
And a second semiconductor laser array structure oscillating in a second polarization mode and a second semiconductor laser array structure oscillating in a second polarization mode are arranged in series in the waveguide direction. A first semiconductor laser array structure composed of a plurality of first semiconductor laser structures, wherein a plurality of the first semiconductor laser structures are arranged on the same substrate in parallel to the waveguiding direction. A distributed Bragg reflector or distributed feedback reflector is provided for each first semiconductor laser structure having a common first active region where the gain for the mode is superior to the gain for the second polarization mode. And a second semiconductor laser array structure having a plurality of second semiconductor laser structures having the same number as the first semiconductor laser structure, and the second semiconductor laser structure is the first semiconductor laser structure. alike A second active region having a common second active region in which the gain for the second polarization mode is superior to the gain for the first polarization mode, and a distributed Bragg filter is provided for each second semiconductor laser structure. A reflection type reflector, a distributed feedback type reflector or a Fabry-Perot type reflector is provided, and the first semiconductor laser structure and the second semiconductor laser structure forming a pair respectively have a first polarization mode. And the propagation constants of the second polarization modes are substantially equal to each other, and the Bragg wavelength of the distributed Bragg reflector or the distributed feedback reflector is the gain spectrum of the semiconductor laser array structure. Oscillation between the first polarization mode and the second polarization mode is performed by modulating the carrier that is set near the peak wavelength and is injected into at least one of the first and second semiconductor laser structures. Mo A polarization modulator capable semiconductor laser array, characterized in that for switching (corresponding to claim 1).

【0009】上記構成で、TEモードもTMモードとも
にDFB或はDBRモードとすれば、変調時にも波長を
安定にでき、両者が同時発振可能なしきい利得を投定で
きる。
In the above structure, if both TE mode and TM mode are set to DFB or DBR mode, the wavelength can be stabilized even at the time of modulation, and the threshold gain at which both can oscillate simultaneously can be cast.

【0010】また、一方はTEファブリペロモード、他
方はTMのDFB或はDBRモードとすれば、両者が同
時発振可能なしきい利得を設定でき、デバイス作製や実
装が更に容易になり、かつ複合共振器による偏波変調動
作範囲を更に広くできる。この場合、安定性のあるTM
モードだけを信号光として利用すればよい。第1の発明
によれば、この様に、、偏波変調可能な半導体レーザア
レイを実現するにあたり、半導体レーザ作製の制御性を
向上させ、偏波変調可能な動作範囲を向上させるための
設計指針が与えられる。
If one is TE Fabry-Perot mode and the other is TM DFB or DBR mode, it is possible to set a threshold gain at which both can oscillate simultaneously, which facilitates device fabrication and mounting, and also causes complex resonance. The operating range of polarization modulation by the device can be further widened. In this case, a stable TM
Only the mode needs to be used as the signal light. According to the first aspect of the invention, in order to realize a semiconductor laser array capable of polarization modulation as described above, a design guideline for improving controllability of semiconductor laser fabrication and improving an operation range capable of polarization modulation. Is given.

【0011】上記目的を達成する為の第2の発明は、前
記第1の半導体レーザアレイ構造と第2の半導体レーザ
アレイ構造は導波方向に間隙を置いて配置されているこ
とを特徴とする(請求項2に対応)。これにより、間隙
に充填材を充填するなどして(間隙のままでもよい)位
相を調整でき、複合共振器による偏波変調をより確実に
できる。
A second invention for achieving the above object is characterized in that the first semiconductor laser array structure and the second semiconductor laser array structure are arranged with a gap in the waveguide direction. (Corresponding to claim 2). As a result, the phase can be adjusted by filling the gap with a filling material (the gap may be left as it is), and the polarization modulation by the composite resonator can be made more reliable.

【0012】上記目的を達成する為の第3の発明は、前
記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造が、夫々、基
板及びその上の積層構造が独立に形成された構造のもの
であって、導波方向に間隙を置いて支持台上に配置され
ていることを特徴とする(請求項3に対応)。
A third aspect of the present invention for attaining the above object is the first and second semiconductor laser array structures, each of which has a substrate and a laminated structure independently formed thereon. , Are arranged on a support base with a gap in the waveguide direction (corresponding to claim 3).

【0013】第3の発明によれば、TE用半導体レーザ
アレイ構造とTM用半導体レーザアレイ構造が独立に作
製できて、設計の自由度が更に大きくなる。また、確実
に両レーザアレイ構造間の光軸調整ができる。
According to the third invention, the semiconductor laser array structure for TE and the semiconductor laser array structure for TM can be manufactured independently, and the degree of freedom in design is further increased. Moreover, the optical axis between the two laser array structures can be surely adjusted.

【0014】上記目的を達成する為の第4の発明は、前
記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造が、同一基板
上で少なくとも活性層と導波層が別個に形成された構造
のものであって、該同一基板上の積層構造が導波方向に
間隙を置いて配置されていることを特徴とする(請求項
4に対応)。
A fourth aspect of the invention for attaining the above object is the first and second semiconductor laser array structures, wherein at least an active layer and a waveguide layer are separately formed on the same substrate. The laminated structure on the same substrate is arranged with a gap in the waveguide direction (corresponding to claim 4).

【0015】上記目的を達成する為の第5の発明は、前
記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造間の間隙に充
填材が充填されて位相調整領域を成していることを特徴
とする(請求項5に対応)。これにより、位相を調整
し、複合共振器による偏波変調を更に確実にする。
A fifth invention for achieving the above object is characterized in that a gap is filled between the first and second semiconductor laser array structures with a filler to form a phase adjusting region. (Corresponding to claim 5). This adjusts the phase and further ensures polarization modulation by the composite resonator.

【0016】上記目的を達成する為の第6の発明は、前
記間隙に充填された物質が電気的に屈折率を制御できる
材料であり、前記位相調整領域の光学長に変調をかける
為の光学長変調手段を設けていることを特徴とする(請
求項6に対応)。これにより、位相調整を可変とし、複
合共振器による偏波変調の動作範囲を更に広くできる。
A sixth aspect of the invention for achieving the above object is a material in which the substance filled in the gap is capable of electrically controlling the refractive index, and an optical element for modulating the optical length of the phase adjusting region. A long modulation means is provided (corresponding to claim 6). As a result, the phase adjustment can be made variable, and the operating range of polarization modulation by the composite resonator can be further widened.

【0017】上記目的を達成する為の第7の発明は、前
記第2の半導体レーザアレイ構造が、分布帰還型共振器
又は分布ブラッグ反射型共振器を有することを特徴とす
る(請求項7に対応)。
A seventh invention for attaining the above object is characterized in that the second semiconductor laser array structure has a distributed feedback resonator or a distributed Bragg reflection resonator (claim 7). Correspondence).

【0018】上記目的を達成する為の第8の発明は、前
記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の間隙を置い
て相い対する端面が導波方向に対して斜めに形成されて
いることを特徴とする(請求項8に対応)。これによ
り、両半導体レーザアレイ構造がDFB或はDBRレー
ザである場合において、端面反射の影響を押さえ、複合
共振器による偏波変調を確実にする。
An eighth aspect of the invention for attaining the above object is that the opposing end faces of the first and second semiconductor laser array structures are formed obliquely with respect to the waveguide direction with a gap therebetween. (Corresponding to claim 8). As a result, when both semiconductor laser array structures are DFB or DBR lasers, the influence of end facet reflection is suppressed, and polarization modulation by the compound resonator is ensured.

【0019】上記目的を達成する為の第9の発明は、前
記第2の半導体レーザアレイ構造が、ファブリペロ型共
振器を有することを特徴とする(請求項9に対応)。
A ninth invention for achieving the above object is characterized in that the second semiconductor laser array structure has a Fabry-Perot type resonator (corresponding to claim 9).

【0020】この構成では、ファブリペロ型共振器型で
ある第2の半導体レーザアレイ構造の構成を単純化する
ことが可能なことから、多波長半導体レーザ構造のアレ
イ化が容易になる。また、DFB或はDBR型である第
1の半導体レーザアレイ構造に合わせてファブリペロ型
である第2の半導体レーザアレイ構造を柔軟に設計で
き、多少第2の半導体レーザアレイ構造で優位なモード
の発振光の質を犠牲にしても、第1の半導体レーザアレ
イ構造で優位なモードの発振光を偏波変調動作で確実に
利用できる。
With this structure, since the structure of the second semiconductor laser array structure of the Fabry-Perot resonator type can be simplified, arraying of the multi-wavelength semiconductor laser structure is facilitated. In addition, the second semiconductor laser array structure of the Fabry-Perot type can be flexibly designed in accordance with the first semiconductor laser array structure of the DFB or DBR type, and the oscillation of a mode dominant in the second semiconductor laser array structure can be obtained. Even if the quality of light is sacrificed, the oscillation light of the dominant mode in the first semiconductor laser array structure can be reliably used in the polarization modulation operation.

【0021】上記目的を達成する為の第10の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の間隙を置
いて相い対する端面のうちDFB或はDBRレーザであ
る第1の半導体レーザアレイ構造の端面が導波方向に対
して斜めに形成されていることを特徴とする(請求項1
0に対応)。これにより、一方の半導体レーザアレイ構
造がDFB或はDBRレーザであり他方の半導体レーザ
アレイ構造がファブリペロ型である場合において、端面
反射の影響を押さえ、複合共振器による偏波変調を確実
にする。
The tenth invention for achieving the above object is as follows:
Of the end faces of the first and second semiconductor laser array structures which face each other with a gap, the end face of the first semiconductor laser array structure, which is a DFB or DBR laser, is formed obliquely to the waveguide direction. It is characterized in that (claim 1
Corresponding to 0). Thus, when one semiconductor laser array structure is a DFB or DBR laser and the other semiconductor laser array structure is a Fabry-Perot type, the influence of end facet reflection is suppressed and polarization modulation by the compound resonator is ensured.

【0022】上記目的を達成する為の第11の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の向かい合
う端面が無反射になるように該端面にARコートが施さ
れていることを特徴とする(請求項11に対応)。これ
により、端面反射の影響を押さえ、複合共振器による偏
波変調を確実にする。また、半導体レーザアレイの端面
反射あるいは位相に起因する悪影響を抑えて、半導体レ
ーザアレイの特性を平均化し、歩留まりが向上する。
The eleventh invention for achieving the above object is as follows:
An AR coat is applied to the facing end faces of the first and second semiconductor laser array structures so as to be non-reflecting (corresponding to claim 11). This suppresses the influence of end face reflection and ensures polarization modulation by the composite resonator. In addition, adverse effects due to end face reflection or phase of the semiconductor laser array are suppressed, the characteristics of the semiconductor laser array are averaged, and the yield is improved.

【0023】上記目的を達成する為の第12の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の活性層の
少なくとも一方の活性層が量子井戸構造或は歪み量子井
戸構造から成ることを特徴とする(請求項12に対
応)。これにより、TEモードとTMモードのしきい利
得を拮抗させることが容易にできて、偏波変調動作を確
実に実現できる。
A twelfth invention for achieving the above object is as follows:
At least one of the active layers of the first and second semiconductor laser array structures has a quantum well structure or a strained quantum well structure (corresponding to claim 12). As a result, the threshold gains of the TE mode and the TM mode can be easily counterbalanced, and the polarization modulation operation can be surely realized.

【0024】上記目的を達成する為の第13の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の少なくと
も一方が、第1の偏波モードに対する利得ピークがキャ
リア注入量によって可変できる共通の活性領域を含み、
個々の半導体レーザ構造に対し、該異なる利得ピーク近
傍にブラッグ波長が設定された分布帰還型反射器或は分
布ブラッグ反射器を持たせていることを特徴とする(請
求項13)。これにより、多波長の半導体レーザアレイ
を比較的簡単な構成で実現できる。
A thirteenth invention for achieving the above object is as follows:
At least one of the first and second semiconductor laser array structures includes a common active region in which a gain peak for the first polarization mode can be changed by a carrier injection amount,
Each semiconductor laser structure is provided with a distributed feedback reflector or a distributed Bragg reflector having a Bragg wavelength set near the different gain peak (claim 13). This makes it possible to realize a multi-wavelength semiconductor laser array with a relatively simple structure.

【0025】上記目的を達成する為の第14の発明は、
上に記載の半導体レーザを作製する方法であって、第1
の半導体レーザアレイ構造を作製する工程と、この工程
とは独立に第2の半導体レーザアレイ構造を作製する工
程と、第1及び第2の半導体レーザアレイ構造を光学的
に結合するよう導波方向に直列に同一の支持台上に間隙
を置いて配置する工程と、を有することを特徴とする偏
波変調可能な半導体レーザアレイの製造方法である(請
求項14に対応)。
A fourteenth invention for achieving the above object is to:
A method of making a semiconductor laser as described above, comprising:
The step of producing the semiconductor laser array structure, the step of producing the second semiconductor laser array structure independently of this step, and the waveguide direction so as to optically couple the first and second semiconductor laser array structures. And a step of arranging the semiconductor laser array in series on the same supporting base with a gap therebetween (claim 14).

【0026】これによれば、TE用半導体レーザアレイ
構造とTM用半導体レーザアレイ構造が独立に作製で
き、確実に光軸調整ができる。また、偏波変調可能な半
導体レーザをアレイ実現するにあたり、より精度の高い
実装を行うための製造方法及び位相制御方法を提供でき
る。
According to this, the TE semiconductor laser array structure and the TM semiconductor laser array structure can be manufactured independently, and the optical axis can be surely adjusted. Further, it is possible to provide a manufacturing method and a phase control method for mounting with higher accuracy in realizing an array of semiconductor lasers capable of polarization modulation.

【0027】上記目的を達成する為の第15の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造を光学的に
結合するよう導波方向に直列に同一の支持台上に間隙を
置いて配置する工程が、第1の半導体レーザアレイ構造
を支持台上に配置して固定した後、第2の半導体レーザ
アレイ構造の複数の第2の半導体レーザ構造のうち少な
くとも一部を発光させると同時に第1の半導体レーザア
レイ構造をフォトディテクタとして機能させて第2の半
導体レーザアレイ構造の光を受光させることで第2の半
導体レーザアレイ構造を位置決め及び固定する工程を含
むことを特徴とする(請求項15に対応)。これによ
り、より簡便に両半導体レーザアレイ構造をアライメン
トできる。
A fifteenth invention for achieving the above object is to:
The step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction with a gap on the same support so as to optically couple the first and second semiconductor laser array structures, comprises placing the first semiconductor laser array structure on the support. And fixing the second semiconductor laser array structure, the first semiconductor laser array structure is caused to function as a photodetector, and at least a part of the plurality of second semiconductor laser structures of the second semiconductor laser array structure is caused to emit light. The method further comprises the step of positioning and fixing the second semiconductor laser array structure by receiving the light of the semiconductor laser array structure (corresponding to claim 15). Thereby, both semiconductor laser array structures can be aligned more easily.

【0028】上記目的を達成する為の第16の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造を光学的に
結合するよう導波方向に直列に同一の支持台上に間隙を
置いて配置する工程が、支持台上に形成されたマーカー
と半導体レーザアレイ構造に形成されたマーカーを所望
の位置関係に調整して半導体レーザアレイ構造を配置し
て固定する工程を含むことを特徴とする(請求項16に
対応)。これにより、容易にアライメントでき、かつ確
実に光軸調整ができる。
A sixteenth invention for achieving the above object is to:
The step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction with a gap on the same support so as to optically couple the markers and the semiconductor lasers. The method includes adjusting the markers formed in the array structure to a desired positional relationship and disposing and fixing the semiconductor laser array structure (corresponding to claim 16). This allows easy alignment and reliable optical axis adjustment.

【0029】上記目的を達成する為の第17の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造を光学的に
結合するよう導波方向に直列に同一の支持台上に間隙を
置いて配置する工程が、支持台に形成された半導体レー
ザ搭載面とは垂直に直立した平面へ該半導体レーザアレ
イ構造の側面を突き当てて半導体レーザアレイ構造を配
置する工程を含むことを特徴とする(請求項17に対
応)。これにより、簡便にアライメントできる。
A seventeenth invention for achieving the above object is as follows:
The step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction on the same support base with a gap therebetween so as to optically couple the semiconductor laser array structures with the semiconductor laser mounting surface formed on the support base. Includes arranging the semiconductor laser array structure by abutting the side surface of the semiconductor laser array structure on a vertically upright plane (corresponding to claim 17). This allows easy alignment.

【0030】上記目的を達成する為の第18の発明は、
前記間隙に所望の屈折率を有する物質を充填する工程を
更に有することを特徴とする(請求項18に対応)。両
半導体レーザアレイ構造間が空隙のままでも位相調整で
きるが、所望の屈折率を有する物質を充填すれば、より
柔軟に位相調整できる。
The eighteenth invention for achieving the above object is as follows:
The method further comprises the step of filling the gap with a substance having a desired refractive index (corresponding to claim 18). The phase can be adjusted even if there is a gap between the two semiconductor laser array structures, but the phase can be adjusted more flexibly by filling with a substance having a desired refractive index.

【0031】上記目的を達成する為の第19の発明は、
上に記載の半導体レーザアレイを作製する方法であっ
て、半導体基板上に第1の半導体レーザアレイ構造を作
製する工程と、該基板上に第2の半導体レーザアレイ構
造を作製する工程と、該第1及び第2の半導体レーザア
レイ構造の境界部分に間隙を形成する工程と、を有する
ことを特徴とする偏波変調可能な半導体レーザアレイの
製造方法である(請求項19に対応)。
A nineteenth invention for achieving the above object is as follows:
A method of manufacturing the above-mentioned semiconductor laser array, which comprises a step of manufacturing a first semiconductor laser array structure on a semiconductor substrate, a step of manufacturing a second semiconductor laser array structure on the substrate, And a step of forming a gap at a boundary portion between the first and second semiconductor laser array structures, which is a method for manufacturing a polarization-modulatable semiconductor laser array (corresponding to claim 19).

【0032】これによれば、2つの半導体レーザアレイ
構造の境界部に製造上生じる異常構造物を除去し、そこ
に位相調整部になりうる間隙を設けることで、異常構造
物に起因する構造原理上と製造上の問題点を同時に解決
する。
According to this, by removing the abnormal structure produced in the manufacturing process at the boundary between the two semiconductor laser array structures and providing a gap that can serve as the phase adjusting section there, the structural principle caused by the abnormal structure is formed. To solve the above problems and manufacturing problems at the same time.

【0033】上記目的を達成する為の第20の発明は、
前記第1の半導体レーザアレイ構造を作製する工程が、
前記半導体基板上の第1の半導体レーザアレイ構造の領
域のみに第1の活性層、第1の光導波層を積層する工程
と、該第1の光導波層に、該第1の活性層の利得ピーク
の近傍にブラッグ波長を持つようにピッチを制御した第
1のグレーテイングを少なくとも部分的に形成する工程
とを含み、前記第2の半導体レーザアレイ構造を作製す
る工程が、前記半導体基板上の第2の半導体レーザアレ
イ構造の領域のみに第2の活性層、第2の光導波層を積
層する工程とを含み、且つ前記第1の半導体レーザアレ
イ構造を作製する工程及び前記第2の半導体レーザアレ
イ構造を作製する工程が、共に前記光導波層全面に一括
して共通のクラッド層及びコンタクト層を積層する工程
を含むことを特徴とする(請求項20に対応)。
A twentieth invention for achieving the above object is as follows:
The step of producing the first semiconductor laser array structure includes
Stacking a first active layer and a first optical waveguide layer only on a region of the first semiconductor laser array structure on the semiconductor substrate; and forming a first active layer on the first optical waveguide layer. At least partially forming a first grating having a pitch controlled to have a Bragg wavelength near a gain peak, and forming the second semiconductor laser array structure on the semiconductor substrate. Laminating the second active layer and the second optical waveguide layer only in the region of the second semiconductor laser array structure, and manufacturing the first semiconductor laser array structure and the second semiconductor laser array structure. The step of producing a semiconductor laser array structure includes a step of stacking a common clad layer and a contact layer together on the entire surface of the optical waveguide layer (corresponding to claim 20).

【0034】上記目的を達成する為の第21の発明は、
前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の境界部分
に間隙を形成する工程が、該第1及び第2の半導体レー
ザアレイ構造の領域の境界部分にスリット状の間隙とリ
ッジ導波路を同時に形成する工程を含むことを特徴とす
る(請求項21に対応)。
The twenty-first invention for achieving the above object is as follows:
The step of forming a gap at the boundary between the first and second semiconductor laser array structures simultaneously forms a slit-shaped gap and a ridge waveguide at the boundary between the regions of the first and second semiconductor laser array structures. It includes a step of performing (corresponding to claim 21).

【0035】上記目的を達成する為の第22の発明は、
前記間隙に所望の屈折率を有する物質を充填する工程を
更に有することを特徴とする(請求項22に対応)。
A twenty-second invention for achieving the above object is as follows:
The method further comprises the step of filling the gap with a substance having a desired refractive index (corresponding to claim 22).

【0036】また、上記目的を達成する為の第23の発
明は、前記偏波変調半導体レーザアレイと該半導体レー
ザアレイの出力部に片方の偏波のみを選択し、出力する
為の偏光子などの偏光選択手段と該半導体レーザアレイ
の各々対を成す半導体レーザ構造の出力光の偏光状態を
入力信号に従って切り換える為の該半導体レーザアレイ
を制御、駆動する制御回路を備えた光送信装置であるこ
とを特徴とする(請求項23に対応)。この構成で、変
調電力が小さく占有波長幅が狭く消光比が大きい光信号
を出力する光送信機を実現できる。
The twenty-third aspect of the invention for achieving the above object is to provide a polarization modulation semiconductor laser array and a polarizer for selecting and outputting only one polarization in the output section of the semiconductor laser array. And a control circuit for controlling and driving the semiconductor laser array for switching the polarization state of the output light of the semiconductor laser structure forming each pair of the semiconductor laser array according to the input signal. (Corresponding to claim 23). With this configuration, it is possible to realize an optical transmitter that outputs an optical signal with a small modulation power, a narrow occupied wavelength width, and a large extinction ratio.

【0037】上記目的を達成する為の第24の発明は、
上に記載の偏波変調可能な半導体レーザアレイと、該半
導体レーザアレイからの出力光のうち1つの偏波の光を
透過させる偏光選択手段と、該半導体レーザアレイの各
々対を成す半導体レーザ構造の出力光の偏光状態を入力
信号に従って切り換える為の該半導体レーザを制御、駆
動する制御回路と、入力信号を受信する受信手段とを有
する光送受信機であることを特徴とする(請求項24に
対応)。上記第23の発明の光送信機と同じ効果が奏さ
れる。
A twenty-fourth invention for achieving the above object is as follows:
The above-mentioned semiconductor laser array capable of polarization modulation, polarization selecting means for transmitting light of one polarization of the output light from the semiconductor laser array, and semiconductor laser structure forming each pair of the semiconductor laser array. Is an optical transceiver having a control circuit for controlling and driving the semiconductor laser for switching the polarization state of the output light according to the input signal, and a receiving means for receiving the input signal (claim 24). Correspondence). The same effect as that of the optical transmitter of the twenty-third invention is exhibited.

【0038】上記目的を達成する為の第25の発明は、
上に記載の偏波変調半導体レーザアレイと、該偏波変調
半導体レーザアレイから出射する光の内、TEとTMの
2つの偏波モードの一方の光のみを取り出す偏光選択手
段とを有する光源装置であることを特徴とする(請求項
25に対応)。上記第23の発明の光送信機と同じ効果
が奏される。
A twenty-fifth invention for achieving the above object is as follows:
A light source device having the polarization modulation semiconductor laser array described above and polarization selection means for extracting only one of two polarization modes, TE and TM, of the light emitted from the polarization modulation semiconductor laser array. (Corresponding to claim 25). The same effect as that of the optical transmitter of the twenty-third invention is exhibited.

【0039】また、上記目的を達成する為の第26の発
明は、本発明の半導体レーザアレイを用いた送信機或は
送受信機を含むことを特徴とする光伝送システムないし
光通信システムである(請求項26に対応)。これによ
り、高速変調時等でも出力パワー変動が少なくチャーピ
ングの少ない強度変調信号が得られ、受信側は強度変調
信号を受信すればよいので従来の簡単な受信器が用いら
れる。
The twenty-sixth invention for achieving the above object is an optical transmission system or an optical communication system including a transmitter or a transceiver using the semiconductor laser array of the present invention ( (Corresponding to claim 26). As a result, an intensity-modulated signal with little output power fluctuation and little chirping can be obtained even at the time of high-speed modulation, and the receiving side only needs to receive the intensity-modulated signal, so that a conventional simple receiver is used.

【0040】上記目的を達成する為の第27の発明は、
前記光送信機或は送受信機が複数の異なる波長の光信号
を送出することができ、波長多重型のネットワークを構
成することを特徴とする(請求項27に対応)。
The twenty-seventh invention for achieving the above object is as follows:
The optical transmitter or the transmitter / receiver can send out optical signals of a plurality of different wavelengths to form a wavelength multiplexing type network (corresponding to claim 27).

【0041】上記目的を達成する為の第28の発明は、
上に記載の偏波変調半導体レーザアレイと、該偏波変調
半導体レーザアレイから出射する光の内、TEとTMの
2つの偏波モードの一方の光のみを取り出す偏光選択手
段とから成る光源装置を用い、所定のバイアス電流に送
信信号に応じて変調された電流を重畳して前記偏波変調
半導体レーザアレイに供給することによって、前記偏光
選択手段から送信信号に応じて強度変調された信号光を
取り出し、この信号光を光受信側に向けて送信する光通
信方法であることを特徴とする(請求項28に対応)。
The twenty-eighth invention for achieving the above object is as follows:
A light source device including the polarization modulation semiconductor laser array described above and polarization selection means for extracting only one of two polarization modes, TE and TM, of the light emitted from the polarization modulation semiconductor laser array. By using a polarization bias semiconductor laser array by superimposing a current modulated according to a transmission signal on a predetermined bias current and supplying the polarization-modulated semiconductor laser array with the intensity-modulated signal light according to the transmission signal. Is taken out and the signal light is transmitted toward the optical receiving side (corresponding to claim 28).

【0042】[0042]

【発明の実施の形態】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

(第1実施例)まず、同一特性を有する偏波変調レーザ
をアレイ化した場合の実施例を示す。図2は第1の実施
例の模式図であり、1は第1の半導体レーザアレイ、2
は第2の半導体レーザアレイ、3は空隙および/または
充填材、4はヒートシンク、5はマーカーである。ここ
では特に図示はしていないが、半導体レーザアレイはサ
ブキャリア上に配置されたヒートシンク4上に搭載され
る。サブキャリア上に直接配置されることもある。
(First Embodiment) First, an embodiment will be described in which polarization-modulated lasers having the same characteristics are arrayed. FIG. 2 is a schematic view of the first embodiment, where 1 is a first semiconductor laser array and 2 is a semiconductor laser array.
Is a second semiconductor laser array, 3 is a void and / or filler, 4 is a heat sink, and 5 is a marker. Although not shown here, the semiconductor laser array is mounted on the heat sink 4 arranged on the subcarrier. It may be placed directly on the subcarrier.

【0043】まず、半導体レーザアレイの作製方法につ
いて述べる。図3は、第1の半導体レーザの発振軸を含
む方向の断面図であり、図4はその垂直方向の断面図で
ある。たとえば、n型(100)InP基板101上
に、MOCVD法(MetalOrganic Che
mical Vapor Deposition)やC
BE法(Chemical Beam Epitax
y)を用いて、n−InPクラッド層102、アンドー
プ活性層103、p−InGaAsP光ガイド層104
を積層する。活性層103(その上下両側にはSCH層
が形成されている)のバンドダイヤグラムを図5に示し
た。121は、引っ張り歪みInGaAs井戸層(歪み
率−0.9%、厚さ9nm)、122は無歪みInGa
AsP障壁層(バンドギャップ0.99eV、厚さ1n
m)であり、井戸数は3とした。
First, a method of manufacturing a semiconductor laser array will be described. 3 is a sectional view in a direction including the oscillation axis of the first semiconductor laser, and FIG. 4 is a sectional view in a vertical direction thereof. For example, on an n-type (100) InP substrate 101, a MOCVD method (Metal Organic Che) is used.
(Malical Vapor Deposition) and C
BE method (Chemical Beam Epitax)
y) is used to form the n-InP cladding layer 102, the undoped active layer 103, and the p-InGaAsP optical guide layer 104.
Are stacked. FIG. 5 shows a band diagram of the active layer 103 (SCH layers are formed on both upper and lower sides thereof). 121 is a tensile strained InGaAs well layer (strain rate is −0.9%, thickness is 9 nm), and 122 is unstrained InGa.
AsP barrier layer (band gap 0.99 eV, thickness 1 n
m) and the number of wells was three.

【0044】このあと、所望のピッチのグレーティング
108をウェハ全面に形成する。本実施例では、ピッチ
325nm、深さ50nmの位相シフトグレーティング
108を形成した。続いて、p−InPクラッド層10
5、p−InGaAsコンタクト層106を積層する。
115は端面反射を低減させる為の反射防止(AR)コ
ートであり、両端面に形成されている。
After that, the grating 108 having a desired pitch is formed on the entire surface of the wafer. In this example, the phase shift grating 108 having a pitch of 325 nm and a depth of 50 nm was formed. Then, the p-InP clad layer 10
5, the p-InGaAs contact layer 106 is laminated.
Reference numeral 115 denotes an antireflection (AR) coat for reducing the reflection on the end surface, which is formed on both end surfaces.

【0045】更に、図4に示す様に、横モード制御のた
め幅2.5μmのリッジ構造を、100μm間隔で作製
する。図4において、111aおよび111bはリッジ
型光導波路(実際には更に両側に同様な構造が続く)、
112はリッジ部以外に電流を流さないためのSiO2
膜等の絶縁膜である。また、109は基板表面側に形成
された正電極(正電極109は図3に示す様に、各半導
体レーザについて、共振方向に2電極109a、109
bに分離されている)、110は基板側の負電極であ
る。本実施例では正電極109a、109bを2分割し
た例(こうすれば、注入キャリア分布を調整できて、各
半導体レーザについて、偏波変調動作範囲を広げられ
る)を示したが、単電極でも差し支えない。図4におい
て、複数のリッジ型光導波路111の間の突出した積層
構造は、機能上必要とされるものではなく、リッジ型光
導波路111a、111b・・・を形成する為のエッチ
ングプロセスで結果的に形成されるものに過ぎない。
Further, as shown in FIG. 4, 2.5 μm wide ridge structures are formed at 100 μm intervals for transverse mode control. In FIG. 4, 111a and 111b are ridge type optical waveguides (actually, similar structures are further continued on both sides),
Numeral 112 is SiO 2 for preventing current from flowing except the ridge portion.
An insulating film such as a film. Further, 109 is a positive electrode formed on the substrate surface side (the positive electrode 109 is, as shown in FIG. 3, two electrodes 109a and 109 in the resonance direction of each semiconductor laser).
110, which is a negative electrode on the substrate side. In the present embodiment, an example in which the positive electrodes 109a and 109b are divided into two parts (this makes it possible to adjust the injection carrier distribution and widen the polarization modulation operation range for each semiconductor laser), but a single electrode may be used. Absent. In FIG. 4, the protruding laminated structure between the plurality of ridge-type optical waveguides 111 is not required functionally, and is the result of the etching process for forming the ridge-type optical waveguides 111a, 111b. It is nothing more than what is formed.

【0046】活性層103に引っ張り歪み多重量子構造
を適用し、かつその利得ピーク波長近傍にアレイ1の各
半導体レーザ構造のブラッグ波長を設定した結果(グレ
ーティング108のピッチなどの設定による)、TM利
得が常にTE利得を上回るため、常にTM偏光のDFB
モードで発振する。本実施例では、活性層103を成長
した後にグレーティング108を形成しているが、これ
は結晶成長の波長制御性よりも、グレーティングの作製
精度の方が現時点の技術では上回っていると考えられる
ためであり(即ち、活性層を成長してゲインピーク波長
が決まってから、それに合わせてグレーティングのピッ
チなどを決める方が良いから)、ともに高い精度で作製
できるのであれば、基板に直接グレーティングを形成し
てから、活性層等を成長してもよい。このことは、以下
の実施例でも同じである。
As a result of applying the tensile strain multiple quantum structure to the active layer 103 and setting the Bragg wavelength of each semiconductor laser structure of the array 1 in the vicinity of its gain peak wavelength (by setting the pitch of the grating 108 and the like), the TM gain is obtained. Always exceeds the TE gain, so the TM-polarized DFB is always
It oscillates in the mode. In the present embodiment, the grating 108 is formed after growing the active layer 103. This is because it is considered that the manufacturing accuracy of the grating is higher than the wavelength controllability of crystal growth in the present technology. (That is, it is better to grow the active layer and determine the gain peak wavelength, and then determine the pitch of the grating etc. accordingly), and if both can be manufactured with high accuracy, form the grating directly on the substrate. Then, the active layer or the like may be grown. This also applies to the following examples.

【0047】次に、第2の半導体レーザアレイ2の作製
方法について述べる。本実施例では、第2の半導体レー
ザアレイ2は、第1の半導体レーザアレイ1のTEモー
ドと伝搬定数をほぽ等しくするために、層厚および組成
を制御したが、基本的には活性層以外の構造は第1の半
導体アレイ1とほぼ同じでよい。第2の半導体レーザア
レイ2の横モード制御もリッジ構造を用いているが、そ
の幅は第1の半導体レーザアレイ1と必ずしも同じでな
くてよい。リッジ構造の幅が異なるときは、他の構造パ
ラメータもそれに合わせて変更して両レーザアレイ1、
2の伝搬定数が等しくなるようすればよい。ただし、リ
ッジのピッチは、第1の半導体レーザアレイ1のピッチ
に合うよう正確に100μmとした。こうして、第1の
半導体レーザアレイ1の各半導体レーザ構造と第2の半
導体レーザアレイ2の各半導体レーザ構造とが対を成し
て、夫々複数の半導体レーザを構成する。
Next, a method of manufacturing the second semiconductor laser array 2 will be described. In the present embodiment, the second semiconductor laser array 2 has its layer thickness and composition controlled in order to make the propagation constant almost equal to the TE mode of the first semiconductor laser array 1. The other structure may be substantially the same as that of the first semiconductor array 1. The lateral mode control of the second semiconductor laser array 2 also uses the ridge structure, but the width thereof does not necessarily have to be the same as that of the first semiconductor laser array 1. When the width of the ridge structure is different, the other structure parameters are also changed accordingly to change both laser arrays 1,
The propagation constants of 2 should be equal. However, the pitch of the ridge was set to 100 μm accurately so as to match the pitch of the first semiconductor laser array 1. In this way, each semiconductor laser structure of the first semiconductor laser array 1 and each semiconductor laser structure of the second semiconductor laser array 2 form a pair to form a plurality of semiconductor lasers.

【0048】第2の半導体レーザアレイ2の活性層のバ
ンドダイヤグラムを図6に示した(活性層の上下両側に
はSCH層が形成されている)。123は無歪みInG
aAs井戸層(厚さ7.5nm)、124は無歪みIn
GaAsP障壁層(バンドギャップ0.99eV、厚さ
10nm)であり、井戸数は5とした。この結果、重い
正孔と電子との遷移が支配的になるため、TE利得が常
にTM利得を上回り、かつTE利得のピーク波長近傍に
第2の半導体レーザアレイ2の各半導体レーザ構造のブ
ラッグ波長が設定されているため、常にTE偏光のDF
Bモードで発振する。
A band diagram of the active layer of the second semiconductor laser array 2 is shown in FIG. 6 (SCH layers are formed on the upper and lower sides of the active layer). 123 is unstrained InG
aAs well layer (thickness: 7.5 nm), 124 is strain-free In
It was a GaAsP barrier layer (band gap 0.99 eV, thickness 10 nm), and the number of wells was 5. As a result, since the transition between heavy holes and electrons becomes dominant, the TE gain always exceeds the TM gain, and the Bragg wavelength of each semiconductor laser structure of the second semiconductor laser array 2 is close to the peak wavelength of the TE gain. Is set, so DF of TE polarization is always
It oscillates in B mode.

【0049】両レーザアレイ1、2の各々の第1の半導
体レーザと第2の半導体レーザで複合共振器を形成する
ためには、端面、特に向かい合う端面の反射率は、でき
るだけ低いことが望ましい。本実施例では全ての端面に
無反射コーティング(ARコ―卜)を施した。また、共
振器長によって偏波変調の動作範囲に差が出ることが予
想されるため、幾つかの共振器長の異なるアレイから所
望のものを選択することにした。このように、第1およ
び第2の半導体レーザアレイ1、2の構造を容易に独立
に制御できる。あるいは、できた複数のアレイから選別
できることが本発明の大きな特徴である。
In order to form a composite resonator with the first semiconductor laser and the second semiconductor laser of each of the laser arrays 1 and 2, it is desirable that the reflectance of the end faces, particularly the facing end faces, be as low as possible. In this example, antireflection coating (AR coat) was applied to all the end faces. Since it is expected that the operating range of polarization modulation will differ depending on the resonator length, we decided to select the desired array from several arrays with different resonator lengths. In this way, the structures of the first and second semiconductor laser arrays 1 and 2 can be easily controlled independently. Alternatively, it is a great feature of the present invention that it is possible to select from a plurality of arrays formed.

【0050】次に、2つの半導体レーザアレイ1、2の
ヒートシンク4ヘの搭載方法について図2を用いて説明
する。例えば、第1の半導体レーザアレイ1をマーカー
5で示された所望の位置にエビサイドダウンあるいはエ
ピサイドアップでダイボンディングする(図2ではエピ
サイドアップの例を示している)。第2の半導体レーザ
アレイ2は、その一部或は全ての半導体レーザ構造をパ
ルス電流駆動で発光させながら、第1の半導体レーザア
レイ1の半導体レーザ構造を導波型のフォトディテクタ
として機能させることで、位置調整を行う。半導体レー
ザアレイの複数のポイントで位置合せすることになるた
め、単体の半導体レーザの場合よりも簡便にかつ正確に
位置調整ができる。第2の半導体レーザアレイ2の位置
調整が終了したら、ダイボンディングする前に、逆に第
1の半導体レーザアレイ1の半導体レーザ構造をパルス
駆動し、第2の半導体レーザアレイ2の半導体レーザ構
造をフォトディテクタとして動作させて受光可能である
ことを確認してから、ダイボンディングする。この結
果、2つの半導体レーザアレイ1、2の対を成す半導体
レーザ構造は、最適な光結合状態でヒートシンク4上に
固定される。光パワー結合効率が高くても、両半導体レ
ーザアレイ1、2間に生じた空隙3の大きさは制御困難
なため、位相がずれることから、偏波変調がかかりにく
い(TEモードかTMモードのどちらかでしか動作しな
い)ことが考えられる。この際、両半導体レーザアレイ
1、2の間に生じた空隙に、ゲルやポリマあるいは化合
物半導体など所望の屈折率を有する物質3を充填するこ
とで、競合する光波の位相(光学長)を調節し、歩留ま
り良く偏波変調をかけることが可能となる。個々の対を
成す半導体レーザ構造で位相整合条件が異なる場合、ゲ
ルやポリマの替わりに、空隙3に液晶を充填し、その上
に電極を形成し電圧を印加することで、その液晶の屈折
率あるいは透過率(透過率は表現を変えれば吸収率であ
り、複素屈折率の観点からは屈折率と透過率は同等であ
り、透過率の調整によっても歩留まり良く偏波変調をか
けることが可能となる)を制御することもできる。ある
いは、各半導体レーザ構造に位相整合領域を設け、キャ
リア注入量を調整することで位相を微調することもでき
る。
Next, a method of mounting the two semiconductor laser arrays 1 and 2 on the heat sink 4 will be described with reference to FIG. For example, the first semiconductor laser array 1 is die-bonded to a desired position indicated by the marker 5 by shrimp side-down or epi-side up (FIG. 2 shows an example of epi-side up). The second semiconductor laser array 2 causes the semiconductor laser structure of the first semiconductor laser array 1 to function as a waveguide-type photodetector while causing some or all of the semiconductor laser structures to emit light by pulse current driving. , Adjust the position. Since the alignment is performed at a plurality of points of the semiconductor laser array, the position can be adjusted more easily and accurately than in the case of a single semiconductor laser. After the position adjustment of the second semiconductor laser array 2 is completed, the semiconductor laser structure of the first semiconductor laser array 2 is pulse-driven to reversely drive the semiconductor laser structure of the second semiconductor laser array 2 before die bonding. Die bonding is performed after it is operated as a photo detector and it is confirmed that it can receive light. As a result, the semiconductor laser structure forming the pair of the two semiconductor laser arrays 1 and 2 is fixed on the heat sink 4 in an optimal optical coupling state. Even if the optical power coupling efficiency is high, it is difficult to control the size of the air gap 3 generated between the two semiconductor laser arrays 1 and 2, so that the phase shifts, and thus polarization modulation is less likely to occur (in TE mode or TM mode). It only works on either side). At this time, the phase (optical length) of competing light waves is adjusted by filling the voids generated between the two semiconductor laser arrays 1 and 2 with a substance 3 having a desired refractive index such as gel, polymer or compound semiconductor. However, polarization modulation can be applied with good yield. When the phase matching conditions are different in each pair of semiconductor laser structures, the refractive index of the liquid crystal is changed by filling the gap 3 with liquid crystal, forming an electrode on it, and applying a voltage instead of gel or polymer. Or transmittance (transmittance is an absorptance if the expression is changed, the refractive index and the transmittance are equal from the viewpoint of complex refractive index, and it is possible to apply polarization modulation with good yield even by adjusting the transmittance. Can be controlled. Alternatively, the phase can be finely adjusted by providing a phase matching region in each semiconductor laser structure and adjusting the carrier injection amount.

【0051】次に第1実施例の動作方法について説明す
る。図7は第1および第2の半導体レーザアレイ1、2
を構成する対を成す半導体レーザ構造のTM領域(第1
の半導体レーザアレイ1にある)とTE領域(第2の半
導体レーザアレイ2にある)に独立に電流(それぞれI
1およI2とする)を流した時の偏波モードの分布を表し
ている。その境界線A−BはTEモードとTMモードの
しきい利得がほぼ等しいことを示し、この線上をバイア
ス点(たとえば、点Mあるいは点N)として、変調信号
を重畳すれば、発振偏波モードがスイッチする、いわゆ
る偏波変調が実現する。たとえば、バイアス点Mの場合
には、I1だけに変調信号を載せた例を、バイアス点N
の場合には、I1およびI2に変調電流を逆相で載せた例
を示した。この時の、変調電流は高々1mAであるた
め、チャーピングが抑制されるだけでなく、各対を成す
半導体レーザ構造から構成された半導体レーザごとの発
振開始時間の遅れ(いわゆるスキュー)が極めて小さく
なる。半導体レーザアレイ1、2の半導体レーザ構造の
少なくとも一方の正電極が2分割されている場合には、
夫々の電極109a、109bに不均一にキャリアを注
入することで、位相の微調整が可能となり、偏波変調可
能領域を更に拡大することができる。
Next, the operation method of the first embodiment will be described. FIG. 7 shows the first and second semiconductor laser arrays 1, 2.
Region of the semiconductor laser structure forming a pair (first
Of the semiconductor laser array 1) and the TE region (in the second semiconductor laser array 2) independently of the current (I
1 and I 2 ) and the distribution of polarization modes is shown. The boundary line A-B indicates that the threshold gains of the TE mode and the TM mode are substantially equal to each other. If the modulation signal is superposed on this line as a bias point (for example, the point M or the point N), the oscillation polarization mode is obtained. This realizes so-called polarization modulation, which switches. For example, in the case of the bias point M, an example in which the modulation signal is placed only on I 1 is the bias point N.
In the case of, the example in which the modulation currents are put in reverse phase on I 1 and I 2 is shown. At this time, the modulation current is at most 1 mA, so that not only chirping is suppressed, but also the delay of the oscillation start time (so-called skew) for each semiconductor laser composed of the semiconductor laser structure forming each pair is extremely small. Become. When at least one positive electrode of the semiconductor laser structures of the semiconductor laser arrays 1 and 2 is divided into two,
By injecting carriers non-uniformly into the respective electrodes 109a and 109b, fine adjustment of the phase becomes possible, and the polarization modulation possible region can be further expanded.

【0052】この第1実施例の利点をまとめると以下の
とおりである。 (1)TE用半導体レーザアレイとTM用半導体レーザ
アレイを独立に最適化できる。 (2)本構成を作り上げるのに、同種の複数の半導体レ
ーザアレイから適切な半導体レーザアレイを選別でき
る。 (3)どちらのモードも線幅等の点で良質であるので、
TEモード光もTMモード光も何れも光通信などに利用
できる。 (4)位相が合わないことがあっても、空隙の調整や充
填材の調整などで、位相相整が容易である。 (5)変調電流が小さいために、発振開始時間の遅れ
(スキュー)が極めて小さいので、変調速度および伝送
距離の改善が図れる。
The advantages of the first embodiment are summarized as follows. (1) The semiconductor laser array for TE and the semiconductor laser array for TM can be optimized independently. (2) In constructing this structure, an appropriate semiconductor laser array can be selected from a plurality of semiconductor laser arrays of the same type. (3) Both modes are good in terms of line width, etc.
Both TE mode light and TM mode light can be used for optical communication. (4) Even if there is a case where the phases do not match, it is easy to adjust the phase by adjusting the voids or the filler. (5) Since the modulation current is small, the delay (skew) of the oscillation start time is extremely small, so that the modulation speed and the transmission distance can be improved.

【0053】本実施例では2つの半導体レーザアレイ
1、2の横モード制御は、リッジ構造で行っている。し
かし、横方向の閉じ込めはリッジ構造に限らず、従来の
半導体レーザで用いている埋め込み構造など他の構造で
もよい。
In this embodiment, the lateral mode control of the two semiconductor laser arrays 1 and 2 is performed by the ridge structure. However, the lateral confinement is not limited to the ridge structure and may be another structure such as a buried structure used in the conventional semiconductor laser.

【0054】(第2実施例)次に、より製作方法が簡便
で、且つ各半導体レーザの発振波長が異なる多波長偏波
変調半導体レーザアレイについて述べる。図8はその模
式図であり、図12は平面図である。図12中、23は
TMモード用半導体レーザアレイ、24はTEモード用
半導体レーザアレイ、22はTMモード用半導体レーザ
アレイ23の各レーザ構造のDBR領域、21はTMモ
ード用半導体レーザアレイ23の各レーザ構造のTM利
得領域、3は空隙及び/又は充填材である。
(Second Embodiment) Next, a multi-wavelength polarization modulation semiconductor laser array which is easier to manufacture and has different oscillation wavelengths for each semiconductor laser will be described. FIG. 8 is a schematic diagram thereof, and FIG. 12 is a plan view. In FIG. 12, 23 is a TM mode semiconductor laser array, 24 is a TE mode semiconductor laser array, 22 is a DBR region of each laser structure of the TM mode semiconductor laser array 23, and 21 is each of the TM mode semiconductor laser array 23. The TM gain region 3 of the laser structure is a void and / or a filler.

【0055】この実施例は以下の点で第1の実施例とは
異なっている。 (1)第1の半導体アレイレーザ1として、分布ブラッ
グ反射型反射器(DBR)を有する発振波長の異なる半
導体レーザ構造からなるアレイを用いる。 (2)第2の半導体レーザアレイ2としてファブリペロ
共振器半導体レーザアレイを用いる。 (3)ヒートシンク(或はザブキャリアなどの支持台)
形状としてレーザ固定面に垂直な面10を有するヒート
シンク(或はザブキャリアなどの支持台)を使用する。
This embodiment differs from the first embodiment in the following points. (1) As the first semiconductor array laser 1, an array having a distributed Bragg reflector (DBR) and a semiconductor laser structure having different oscillation wavelengths is used. (2) A Fabry-Perot resonator semiconductor laser array is used as the second semiconductor laser array 2. (3) Heat sink (or support base for sub carrier, etc.)
A heat sink (or a support such as a subcarrier) having a surface 10 perpendicular to the laser fixing surface is used as a shape.

【0056】まず、第1の半導体レーザアレイ1の作製
方法について説明する。図9は第1の半導体レーザアレ
イ1の発振軸を含む方向の断面図である。垂直方向の断
面図は第1実施例と同じである(図4参照)。その製造
法は、たとえば、n型(100)InP基板131上の
DBR領域となるところに、ピッチ325nmから0.
4nm刻みで10本のグレーティング(深さ50nm)
領域138を10nm間隔で形成したあと、MOCVD
法やCBE法を用いて、n−InGaAsP光ガイド層
134、アンドープ活性層133を積層する。その後、
DBR領域となるところの活性層133を除去し、その
上に、p−InPクラッド層135、p−InGaAs
コンタクト層(キャップ層)136を積層する。
First, a method of manufacturing the first semiconductor laser array 1 will be described. FIG. 9 is a sectional view in the direction including the oscillation axis of the first semiconductor laser array 1. The vertical sectional view is the same as that of the first embodiment (see FIG. 4). The manufacturing method is, for example, a pitch of 325 nm to 0..100 nm in the DBR region on the n-type (100) InP substrate 131.
10 gratings in 4nm increments (50nm depth)
After forming the regions 138 at intervals of 10 nm, MOCVD is performed.
The n-InGaAsP optical guide layer 134 and the undoped active layer 133 are stacked by using the CBE method or the CBE method. afterwards,
The active layer 133 which becomes the DBR region is removed, and the p-InP clad layer 135 and p-InGaAs are formed on the active layer 133.
A contact layer (cap layer) 136 is laminated.

【0057】活性層133のバンドダイヤグラムを図1
0に示した。151は、引っ張り歪みInGaAsP第
1井戸層(歪み率−0.9%、厚さ9nm)、152は
無歪みInGaAsP障壁層(バンドギャップ0.99
eV、厚さ1nm)、153は引っ張り歪みInGaA
sP第2井戸層(歪み率−0.7%、バンドギャップ
0.75eV、厚さ10nm)である。
A band diagram of the active layer 133 is shown in FIG.
It was shown at 0. 151 is a tensile strained InGaAsP first well layer (strain rate −0.9%, thickness 9 nm), and 152 is a strain-free InGaAsP barrier layer (bandgap 0.99).
eV, thickness 1 nm), 153 is tensile strain InGaA
The sP second well layer (strain rate −0.7%, band gap 0.75 eV, thickness 10 nm).

【0058】第1の実施例と同様、横モード制御のため
幅2.5μmのリッジ構造を100μm間隔で複数作製
した(図4参照)。139a、139bは正電極、14
0は負電極、142は両端面に形成されたARコートで
ある。
Similar to the first embodiment, a plurality of ridge structures each having a width of 2.5 μm were formed at intervals of 100 μm for controlling the transverse mode (see FIG. 4). 139a and 139b are positive electrodes, 14
Reference numeral 0 is a negative electrode, and 142 is an AR coat formed on both end surfaces.

【0059】活性層133に図10のように非対称歪み
量子井戸構造を用いた結果、その利得スペクトルは通常
の無歪み多重量井戸活性層の場合と大きく異なる。第1
に、井戸層151、152に引っ張り歪みを導入したこ
とで、電子と軽い正孔遷移が支配的にとなり、ピーク波
長では常にTMモード利得の方がTEモード利得を上回
る。第2に、井戸層厚および組成が非対称になっている
ことから、基底準位が井戸層毎に異なり、キャリア注入
量により利得スペクトルが大きく変化する。図11は、
本実施例の第1の半導体レーザアレイ1の典型的なTM
モードの利得スペクトルを、注入キャリア密度をパラメ
ータにとって模式的に表したものである。キャリア注入
量に従って、ピークの大きさは大きくなると共に、ピー
ク位置が長波長側にシフトしていく。したがって、図1
1の矢印の位置に、第1の半導体レーザアレイ1の各半
導体レーザ構造のブラッグ波長を設定し(グレーティン
グ138の周期設定などによる)、損失の大きさを制御
することで、波長が異なり、波長安定度が高く、かつ常
にTMモードで発振するTM半導体レーザアレイ23を
得ることができる。損失の制御の方法は、本実施例で
は、しきい利得が大きいものほど、利得領域21を小さ
くする方法を用いた(図12参照)。本実施例では、通
常の利得のないDBR領域22を持つDBRレーザを用
いたが、作製の容易さから、DBR領域に活性層を含ん
だDBRレーザの構造を採用してもよい。利得領域21
とDBR領域22の電流量を制御することで、波長とし
きい利得両方を制御できる。
As a result of using the asymmetric strained quantum well structure as shown in FIG. 10 for the active layer 133, the gain spectrum thereof is significantly different from that of the usual strain-free heavy well active layer. First
In addition, by introducing tensile strain in the well layers 151 and 152, transition of electrons and light holes becomes dominant, and the TM mode gain always exceeds the TE mode gain at the peak wavelength. Secondly, since the well layer thickness and composition are asymmetrical, the ground level differs from well layer to well layer, and the gain spectrum greatly changes depending on the carrier injection amount. FIG. 11 shows
Typical TM of the first semiconductor laser array 1 of this embodiment
The gain spectrum of the mode is schematically represented by using the injected carrier density as a parameter. As the carrier injection amount increases, the peak size increases and the peak position shifts to the long wavelength side. Therefore, FIG.
By setting the Bragg wavelength of each semiconductor laser structure of the first semiconductor laser array 1 at the position of the arrow 1 (by setting the period of the grating 138, etc.) and controlling the magnitude of the loss, the wavelengths differ, It is possible to obtain the TM semiconductor laser array 23 having high stability and constantly oscillating in the TM mode. As the method of controlling the loss, in the present embodiment, a method of making the gain region 21 smaller as the threshold gain is larger was used (see FIG. 12). In the present embodiment, a DBR laser having a DBR region 22 having no ordinary gain is used, but a structure of a DBR laser including an active layer in the DBR region may be adopted for ease of fabrication. Gain area 21
By controlling the amount of current in the DBR region 22 and the DBR region 22, both the wavelength and the threshold gain can be controlled.

【0060】次に、第2の半導体レーザアレイ2の製造
方法について述べる。第2の半導体レーザアレイ2の発
振軸を含む断面図を図14に、その垂直な断面図を図1
5に示す。その製造方法は、たとえば、n型(100)
InP基板161上に、n−InPクラッド層162、
アンドープ活性層163、n−InGaAsP光ガイド
層164、p−InPクラッド層165およびp−In
Pコンタクト層166を積層する。活性層163の構造
はここでは第1実施例の第2の半導体レーザアレイと同
じとした(図6参照)。しかし、横モード制御は敢えて
行わない。たとえば、幅50μmの電極ストライプ16
9を100μmピッチで形成するのみである。この結
果、常にTEモードで発振するが、グレーティングがな
いことおよび横モード制御機構がないことから第1実施
例の場合とは異なり、常にTEのマルチファブリペロー
モードで発振する。170は基板側電極、172はAR
コートである。
Next, a method of manufacturing the second semiconductor laser array 2 will be described. FIG. 14 is a sectional view including the oscillation axis of the second semiconductor laser array 2, and FIG. 1 is a vertical sectional view thereof.
5 shows. The manufacturing method is, for example, n-type (100)
On the InP substrate 161, an n-InP clad layer 162,
Undoped active layer 163, n-InGaAsP optical guide layer 164, p-InP cladding layer 165 and p-In
The P contact layer 166 is laminated. The structure of the active layer 163 is the same as that of the second semiconductor laser array of the first embodiment here (see FIG. 6). However, the transverse mode control is not dared. For example, the electrode stripe 16 having a width of 50 μm
9 is only formed with a pitch of 100 μm. As a result, it always oscillates in the TE mode, but unlike the case of the first embodiment, it always oscillates in the TE multi-fabric-Perot mode because there is no grating and there is no transverse mode control mechanism. 170 is a substrate side electrode, 172 is AR
It's a coat.

【0061】次に、2つの半導体レーザアレイ1、2の
光結合について述べる。まず、第1および第2の半導体
レーザアレイ1、2の向かい合う端面同士は、できるだ
け低反射率であることが望ましい。その為に、図9及び
図14に示す様に、ARコート142、172がレーザ
両端面に形成されている。さらに、作製の際には第1お
よび第2の半導体レーザアレイの幅をほぼ等しくしてお
き、かつ側面は、ヒートシンク4の垂直面10に当てる
ので、へき開に近い面を出しておくことが望ましい。
Next, the optical coupling of the two semiconductor laser arrays 1 and 2 will be described. First, it is desirable that the facing end faces of the first and second semiconductor laser arrays 1 and 2 have a reflectance as low as possible. Therefore, as shown in FIGS. 9 and 14, AR coats 142 and 172 are formed on both end surfaces of the laser. Further, since the widths of the first and second semiconductor laser arrays are set to be substantially equal to each other and the side surfaces thereof are brought into contact with the vertical surface 10 of the heat sink 4, it is desirable to provide a surface close to the cleavage. .

【0062】図8において、ヒートシンク4には半導体
レーザ固定面に垂直な面10が形成され、半導体レーザ
アレイ1、2はチップ側面を前記垂直面10に突き当て
て位置決めされる。本実施例の場合は、第1実施例のよ
うなアクティブアライメント(発振させてディテクトす
る方法を用いるアライメント)を敢えて行う必要はな
い。ヒートシンク4およびレーザチップ1、2に予めマ
ーカー(不図示))を設置しておき、目あわせをおこな
う(パッシブアライメント)ことで十分構度がとれる。
すなわち、本実施例の場合、2つの半導体レーザアレイ
1、2の光導波路の位置合わせはへき開面と垂直な方向
の位置精度のみで行われる。これは、第2の半導体レー
ザアレイ2に広い電極ストライプ構造の半導体レーザ構
造を用いたことで横方向の光軸合わせの自由度が大きく
なったことによる。必要であれば、第1実施例と同じア
クティブアライメントを一部行ってもよい。
In FIG. 8, a surface 10 perpendicular to the semiconductor laser fixing surface is formed on the heat sink 4, and the semiconductor laser arrays 1 and 2 are positioned by abutting the side surfaces of the chips against the vertical surface 10. In the case of the present embodiment, it is not necessary to dare to perform active alignment (alignment using the method of detecting by oscillating) as in the first embodiment. A marker (not shown) is installed in advance on the heat sink 4 and the laser chips 1 and 2, and alignment is performed (passive alignment) to obtain sufficient structure.
That is, in the case of the present embodiment, the alignment of the optical waveguides of the two semiconductor laser arrays 1 and 2 is performed only with the positional accuracy in the direction perpendicular to the cleavage plane. This is because the use of a semiconductor laser structure having a wide electrode stripe structure for the second semiconductor laser array 2 increases the degree of freedom in aligning the optical axis in the lateral direction. If necessary, the same active alignment as in the first embodiment may be partially performed.

【0063】このように、TE用ファブリペロ半導体レ
ーザアレイ24を用いるので光軸調整は非常に容易にな
ることが、本実施例の大きな特徴である。
As described above, the use of the TE Fabry-Perot semiconductor laser array 24 makes it very easy to adjust the optical axis, which is a major feature of this embodiment.

【0064】次に駆動方法について説明する。TM半導
体レーザアレイ23がTMモードで発振し、TE半導体
レーザアレイ24がTEモードで発振するのは第1実施
例と同じであるが、本実施例では、TEモードはファブ
リペロモードでかつマルチモードで発振するため、TM
モードとTEモードが同しきい利得になる条件は第1実
施例の場合より緩やかになる。このことは、偏波変調可
能な動作領域が広くなることを意味している(これにつ
いては第3実施例の説明も参照されたい)。
Next, the driving method will be described. The TM semiconductor laser array 23 oscillates in the TM mode and the TE semiconductor laser array 24 oscillates in the TE mode as in the first embodiment, but in this embodiment, the TE mode is the Fabry-Perot mode and the multimode. Because it oscillates at
The condition that the mode and the TE mode have the same threshold gain is more lenient than in the case of the first embodiment. This means that the operation area in which the polarization modulation can be performed is widened (see also the description of the third embodiment for this).

【0065】図13は第1及び第2の半導体レーザアレ
イ1および2の対を成すレーザ構造に独立に電流を流し
た時の偏波モードの分布を表している。その境界線A−
BはTEモードとTMモードのしきい利得がほぼ等しい
ことを示し、この線上をバイアス点(たとえば、点Mあ
るいは点N)として、変調信号を重畳すれば、偏波モー
ドがスイッチする、いわゆる偏波変調が実現する。第1
実施例に比べ、一方にファブリペロ半導体レーザアレイ
24を用いているので偏波変調可能なバイアス領域が広
いことが大きな特徴である。これは、光出力および発振
波長の制御範囲が広いことを意味する。
FIG. 13 shows the distribution of polarization modes when currents are independently applied to the laser structures forming the pair of the first and second semiconductor laser arrays 1 and 2. The boundary line A-
B indicates that the threshold gains of the TE mode and the TM mode are almost equal to each other. A bias point (for example, a point M or a point N) on this line is used to superpose the modulation signal, so that the polarization mode is switched. Wave modulation is realized. First
Since the Fabry-Perot semiconductor laser array 24 is used on one side as compared with the embodiment, the large feature is that the bias region capable of polarization modulation is wide. This means that the control range of light output and oscillation wavelength is wide.

【0066】この第2実施例の利点は以下のとおりであ
る。 (1)たとえばTEモード用レーザは非常に単純な電極
ストライプレーザでよいので低コストである。 (2)多波長偏波変調可能な半導体レーザアレイが容易
に実現できる。 (3)一方にファブリペロ半導体レーザアレイを用いて
いるので、光軸合わせが簡単になる。 (4)位相が合わないことがあっても、空隙に屈折率を
制御できる充填材3を充填することなどで、位相制御が
容易である。 (5)ファブリペロ共振器半導体レーザは動作条件が厳
しくないので、偏波変調動作範囲が広い。
The advantages of this second embodiment are as follows. (1) For example, a TE mode laser can be a very simple electrode stripe laser and is therefore low in cost. (2) A semiconductor laser array capable of multi-wavelength polarization modulation can be easily realized. (3) Since the Fabry-Perot semiconductor laser array is used for one side, the optical axis alignment becomes easy. (4) Even if the phases do not match, the phase can be easily controlled by filling the voids with the filler 3 whose refractive index can be controlled. (5) The Fabry-Perot resonator semiconductor laser has a wide operating range of polarization modulation because the operating conditions are not severe.

【0067】(第3実施例)次に、両半導体レーザアレ
イが共通の基板上に形成され、発振波長が異なる第3の
実施例である多波長偏波変調半導体レーザアレイについ
て述べる。全体の様子は図8及び図12と同じである。
(Third Embodiment) Next, a multi-wavelength polarization modulation semiconductor laser array according to a third embodiment will be described in which both semiconductor laser arrays are formed on a common substrate and the oscillation wavelengths are different. The overall appearance is the same as in FIGS.

【0068】この実施例の設計指針は以下の通りであ
る。 (1)第1の半導体レーザアレイ1は、TM利得が支配
的な共通の活性層と、異なるブラッグ波長を有する分布
ブラッグ反射器(DBR)とを有する。 (2)第2の半導体レーザアレイ2は、TE利得が支配
的な共通の活性層とファブリペロ共振器を有する。 (3)第1の半導体レーザアレイ1の個々のレーザのし
きい利得(共振器損失)を活性領域21とDBR領域2
2の大きさを変えることで調整する。 (4)第2の半導体レーザアレイの個々のレーザは同構
造で共通のしきい利得を持つ。
The design guidelines for this example are as follows. (1) The first semiconductor laser array 1 has a common active layer in which TM gain is dominant and a distributed Bragg reflector (DBR) having different Bragg wavelengths. (2) The second semiconductor laser array 2 has a common active layer in which TE gain is dominant and a Fabry-Perot resonator. (3) The threshold gain (resonator loss) of each laser of the first semiconductor laser array 1 is set to the active region 21 and the DBR region 2.
Adjust by changing the size of 2. (4) The individual lasers of the second semiconductor laser array have the same structure and a common threshold gain.

【0069】まず、第1の半導体レーザアレイ1の作製
方法について説明する。図16は第1及び第2の半導体
レーザアレイ1、2の発振軸を含む方向の断面図であ
る。垂直方向の断面図は第1実施例とほぼ同じである
(図4参照)。
First, a method of manufacturing the first semiconductor laser array 1 will be described. FIG. 16 is a sectional view in the direction including the oscillation axes of the first and second semiconductor laser arrays 1 and 2. The vertical sectional view is almost the same as that of the first embodiment (see FIG. 4).

【0070】この製造方法は、たとえば、n型(10
0)InP基板201上にn−InPクラッド層202
を積層した後、選択マスクを用いて第1の半導体レーザ
アレイ領域のみに、アンドープ活性層203a、p−I
nGaAsP光ガイド層204aを積層する。この時の
成長法は、MOCVD法やCBE法等が適当である。こ
の際、マスクエッジ部近傍は異常成長しやすいがそのま
まで構わない。活性層203aのバンドダイヤグラムを
図17に示した。271は、引っ張り歪みInGaAs
第1井戸層(歪み率−0.9%、厚さ9nm)、273
は無歪みInGaAsP障壁層(バンドギャップ0.9
9eV、厚さ10nm)、272は引っ張り歪InGa
AsP第2井戸層(歪み率−0.7%、バンドギャップ
0.8eV、厚さ10nm))である。
This manufacturing method is, for example, an n-type (10
0) n-InP clad layer 202 on InP substrate 201
Of the undoped active layers 203a and p-I only on the first semiconductor laser array region using a selective mask.
The nGaAsP light guide layer 204a is laminated. At this time, the MOCVD method, the CBE method, or the like is suitable as the growth method. At this time, abnormal growth easily occurs in the vicinity of the mask edge portion, but this may be left as it is. A band diagram of the active layer 203a is shown in FIG. 271 is tensile strain InGaAs
First well layer (strain rate −0.9%, thickness 9 nm), 273
Is a strain-free InGaAsP barrier layer (bandgap 0.9
9 eV, thickness 10 nm), 272 is tensile strain InGa
It is an AsP second well layer (strain rate −0.7%, band gap 0.8 eV, thickness 10 nm).

【0071】光ガイド層204a上のDBR領域となる
ところのみに、ピッチ325nmから0.4nm刻みで
10本のグレーティング(深さ50nm)領域207を
100μm間隔で横方向に形成した。本実施例ではTM
利得領域にはグレーティングは形成されていない。この
DBR領域とTM利得領域の共振方向の長さはアレイ上
で、図12に示す如く、徐々に異なっている。これは、
各半導体レーザのしきい利得に差を持たせるためであ
る。
Ten grating regions (depth: 50 nm) 207 were formed laterally at intervals of 100 μm at pitches of 325 nm to 0.4 nm only in the DBR regions on the optical guide layer 204a. TM in this embodiment
No grating is formed in the gain region. The lengths of the DBR region and the TM gain region in the resonance direction gradually differ on the array as shown in FIG. this is,
This is because the semiconductor lasers have different threshold gains.

【0072】次に、選択マスクを除去し、新たに選択マ
スクを第1の半導体レーザアレイ領域を覆うように形成
したあと、バッファ層としてわずかに形成されたn−I
nPクラッド層202上に、第2の活性層203b及び
第2の光ガイド層204bを選択的に成長する。この場
合もエッジ付近は異常成長しやすいが、このままでよ
い。第2の活性層203bの構造はTE利得が大きく利
得スペクトルが平坦なものが望ましい。ここではアンド
ープInGaAsP層(波長1.53μm、厚さ500
nm)を用いた。
Next, after removing the selection mask and forming a new selection mask so as to cover the first semiconductor laser array region, n-I slightly formed as a buffer layer is formed.
A second active layer 203b and a second light guide layer 204b are selectively grown on the nP clad layer 202. In this case as well, abnormal growth easily occurs near the edges, but this may be maintained. The structure of the second active layer 203b preferably has a large TE gain and a flat gain spectrum. Here, an undoped InGaAsP layer (wavelength 1.53 μm, thickness 500)
nm) was used.

【0073】選択マスクを除去した後、ウェハ全体にp
−InPクラッド層205およp−InGaAsコンタ
クト層206を積層する。
After removing the selective mask, p is applied to the entire wafer.
The -InP clad layer 205 and the p-InGaAs contact layer 206 are laminated.

【0074】この後、2つの半導体レーザアレイ領域の
境界部分をスリット状に除去する。この時、深さはn−
InPクラッド層202に達するまでとし、ギャップパ
ターンは第1の半導体レーザアレイ1の端面側は導波方
向に対して斜めになるように、第2の半導体レーザアレ
イ2の端面側は導波方向に対して直角になるようにす
る。これは第1の半導体レーザアレイ1にとっては空隙
部分208での反射を極力避けるためであり、第2の半
導体レーザアレイ領域ではファブリペロ共振器が形成さ
れるようにするためにである。この工程は、通常のMO
CVD法とドライエッチングで行っても良いが、CBE
装置とRIBE装置が高真空結合された複合プロセス装
置等で大気に晒すことなく連続的に行うことで、さらに
信頼性が高まる。
After that, the boundary between the two semiconductor laser array regions is removed in a slit shape. At this time, the depth is n-
Until reaching the InP clad layer 202, the gap pattern is inclined so that the end face side of the first semiconductor laser array 1 is oblique to the waveguide direction, and the end face side of the second semiconductor laser array 2 is in the waveguide direction. Make a right angle to it. This is for the first semiconductor laser array 1 to avoid reflection at the void portion 208 as much as possible, and for the Fabry-Perot resonator to be formed in the second semiconductor laser array region. This process is a normal MO
Although it may be performed by the CVD method and dry etching, CBE
The reliability is further enhanced by continuously performing the apparatus and the RIBE apparatus in a high vacuum-bonded composite process apparatus without exposing to the atmosphere.

【0075】図4に示す様に、横モード導波路を100
μm間隔で複数作製し、TM半導体レーザアレイ領域で
は幅10μmのリッジ導波路を複数作りつけた。第2の
半導体レーザアレイ2は全て同じしきい利得を持たせる
ため、幅10μmの電極ストライプ構造としてある。最
後に、DBR領域、TM利得領域、位相調整領域及びT
E利得領域に独立にキャリアを注入できるよう、電極2
09a〜209d及び210を設けた。2111はDB
Rレーザの端面に設けたAR膜である。
As shown in FIG. 4, the transverse mode waveguide is 100
A plurality of ridge waveguides each having a width of 10 μm were formed in the TM semiconductor laser array region in the TM semiconductor laser array region. The second semiconductor laser arrays 2 all have an electrode stripe structure with a width of 10 μm in order to have the same threshold gain. Finally, the DBR region, TM gain region, phase adjustment region and T
Electrode 2 is used so that carriers can be independently injected into the E gain region.
09a to 209d and 210 are provided. 2111 is DB
It is an AR film provided on the end face of the R laser.

【0076】活性層203aに非対称歪み量子井戸構造
を用いた結果、その利得スペクトルは通常の無歪み多重
量井戸活性層の場合と大きく異なる。まず、2つの井戸
層271、272に引っ張り歪みを導入したことで、電
子と軽い正孔間遷移(e−lh)が支配的になり、ピー
ク波長では常にTMモード利得の方がTEモード利得を
上回る。第2に、井戸層厚及び組成が非対称になってい
ることから、基底準位が井戸層毎に異なり、キャリア注
入量により利得スペクトルが大きく変化する。図18は
本実施例の半導体レーザアレイの典型的なTMモードの
利得スペクトルを注入キャリア密度をパラメータにとっ
て模式的に表したものである。キャリア注入量に従っ
て、ピークの大きさは大きくなると共に、ピーク位置が
短波長側にシフトしていく。したがって、図18の矢印
の位置(λ1、λ2、λ3・・・)に、第1の半導体レー
ザアレイ1の各半導体レーザ構造のブラッグ波長を設定
し(グレーティング207の周期設定等による)、損失
の大きさを制御することで、波長が異なり、波長安定度
が高く、かつ常にTMモードで発振する半導体レーザア
レイ1を得ることができる。損失の制御の方法は、本実
施例では、しきい利得が大きいものほど、利得領域を小
さくする方法を用いた(図12参照)。本実施例はDB
R領域に活性層203aを含んでいるので純枠なDBR
レーザではないが、利得領域とDBR領域の電流量を制
御することで、波長としきい利得両方を制御できる。本
実施例では、作製の容易さからこの構造を採用したが、
通常の利得のないDBR領域を持つDBRレーザを用い
ても勿論よい。
As a result of using the asymmetric strained quantum well structure for the active layer 203a, its gain spectrum is significantly different from that of the usual strain-free multi-well active layer. First, by introducing tensile strain in the two well layers 271 and 272, the transition between electrons and a light hole (e-lh) becomes dominant, and the TM mode gain always gives the TE mode gain at the peak wavelength. Surpass. Secondly, since the well layer thickness and composition are asymmetrical, the ground level is different for each well layer, and the gain spectrum changes greatly depending on the carrier injection amount. FIG. 18 schematically shows a typical TM mode gain spectrum of the semiconductor laser array of the present embodiment with the injected carrier density as a parameter. The peak size increases as the carrier injection amount increases, and the peak position shifts to the shorter wavelength side. Therefore, the Bragg wavelength of each semiconductor laser structure of the first semiconductor laser array 1 is set at the positions of arrows (λ 1 , λ 2 , λ 3 ...) In FIG. 18 (by setting the period of the grating 207, etc.). By controlling the magnitude of the loss, it is possible to obtain the semiconductor laser array 1 having different wavelengths, high wavelength stability, and constantly oscillating in the TM mode. In the present embodiment, the method of controlling the loss is such that the larger the threshold gain, the smaller the gain region (see FIG. 12). This embodiment is DB
Since the active layer 203a is included in the R region, it is a pure frame DBR.
Although not a laser, both wavelength and threshold gain can be controlled by controlling the amount of current in the gain region and the DBR region. In this embodiment, this structure is adopted because it is easy to manufacture.
Of course, a DBR laser having a normal DBR region without gain may be used.

【0077】一方、TEモード用半導体レーザアレイ2
はファブリペロ共振器と利得スペクトルの広いバルク活
性層203bを用いているので、ファブリペロモードで
かつマルチモードで発振する。したがって、TMモード
用DBRレーザアレイの波長範囲が極端に広くない限
り、常にそれぞれのTMモード用DBRレーザのTMモ
ードのしきい利得と等しいTE偏光のファブリペロモー
ドで発振させることができる。そして、そのための条件
は第1実施例の場合より緩やかになる。このことは偏波
変調可能な動作領域が広くなることを意味している。T
Mモード用DBRレーザアレイ1の波長範囲が広いとき
には、TEモード用ファブリペロ半導体レーザアレイ2
の活性層に非対称圧縮歪み量子井戸構造等を適用するこ
とで、対応できる。
On the other hand, the TE mode semiconductor laser array 2
Uses a Fabry-Perot resonator and a bulk active layer 203b having a wide gain spectrum, so that it oscillates in the Fabry-Perot mode and in the multimode. Therefore, unless the wavelength range of the TM mode DBR laser array is extremely wide, it is possible to always oscillate in the Fabry-Perot mode of TE polarization which is equal to the TM mode threshold gain of each TM mode DBR laser. The conditions therefor are milder than in the case of the first embodiment. This means that the operation area in which polarization modulation is possible becomes wider. T
When the wavelength range of the M-mode DBR laser array 1 is wide, the TE-mode Fabry-Perot semiconductor laser array 2
This can be dealt with by applying an asymmetric compressive strain quantum well structure or the like to the active layer.

【0078】しかし、双方の半導体レーザにとって、他
方の共振器は位相を乱す原因になるため、位相を調整し
なければブラッグ波長で発振させることができない場合
がある。このとき、両半導体レーザアレイの間に作製し
た空隙208に、ゲルやポリマなど屈折率を制御できる
充填材を充填することで競合する光波の位相(光学長)
を調節し、歩留まり良く偏波変調をかけることが可能と
なる。また、上記実施例で述べた通り、ゲルやポリマの
替わりに、空隙に液晶で埋めて電極を形成し電圧を印加
することで、屈折率あるいは透過率を可変にすることも
できる。さらに、この空隙を作製した後に連続してIn
P等の半導体をエピタキシャル成長したあと電極を形成
し、キャリア注入量を可変することで位相調整すること
もできる。
However, for both semiconductor lasers, the other resonator causes the phase to be disturbed, so it may not be possible to oscillate at the Bragg wavelength unless the phase is adjusted. At this time, the phase (optical length) of the competing light waves is obtained by filling the void 208 formed between the two semiconductor laser arrays with a filler such as gel or polymer whose refractive index can be controlled.
It is possible to adjust the polarization ratio and apply polarization modulation with good yield. Further, as described in the above embodiment, it is possible to change the refractive index or the transmittance by applying a voltage by filling an electrode with a liquid crystal in a space instead of the gel or the polymer. Furthermore, after forming this void, In
It is also possible to adjust the phase by epitaxially growing a semiconductor such as P and then forming an electrode and varying the carrier injection amount.

【0079】この実施例の利点は以下のとおりである。 (1)多波長偏波変調可能な半導体レーザアレイが容易
に実現できる。 (2)たとえばTEモード用レーザアレイは非常に単純
な電極ストライプレーザアレイでよいので低コストであ
る。 (3)位相が合わないことがあっても位相制御が容易で
ある。 (4)偏波変調可能な動作範囲が広い。
The advantages of this embodiment are as follows. (1) A semiconductor laser array capable of multi-wavelength polarization modulation can be easily realized. (2) For example, a TE mode laser array can be a very simple electrode stripe laser array, so that the cost is low. (3) Phase control is easy even if the phases may not match. (4) The operating range in which polarization modulation is possible is wide.

【0080】(第4実施例)図19に本発明の半導体レ
ーザアレイを光通信の光送信機に適用した実施例を示し
た。図19において、331は制御回路、332は前記
第1実施例で示した本発明の半導体レーザアレイ、33
3は偏光子、334は空間を伝搬している光を光ファイ
バアレイヘ結合する光結合手段、335は光ファイバア
レイ、336は端末から送られてきた電気信号、337
は、制御回路331から、半導体レーザ332を駆動す
るために送られる駆動信号、338は、駆動信号337
に従って半導体レーザアレイ332が駆動されることで
出力された光信号、339は、光信号338の直交する
2つの偏波伏態のうち、1つだけを取り出すように調整
された偏光子333を通過した光信号、340は光ファ
イバアレイ335中を伝送される光信号、341は本発
明の半導体レーザアレイ332を用いた光送信機であ
る。この実施例では、光送信機341は、制御回路33
1、半導体レーザアレイ332、偏光子333、光結合
手段334、光ファイパアレイ335などから構成され
ている。
(Fourth Embodiment) FIG. 19 shows an embodiment in which the semiconductor laser array of the present invention is applied to an optical transmitter for optical communication. In FIG. 19, 331 is a control circuit, 332 is the semiconductor laser array of the present invention shown in the first embodiment, 33
3 is a polarizer, 334 is an optical coupling means for coupling the light propagating in space to the optical fiber array, 335 is an optical fiber array, 336 is an electric signal sent from the terminal, 337.
Is a drive signal sent from the control circuit 331 to drive the semiconductor laser 332, and 338 is a drive signal 337.
The optical signal 339 output by driving the semiconductor laser array 332 in accordance with the above-described method passes through the polarizer 333 adjusted so as to extract only one of the two orthogonal polarization states of the optical signal 338. , 340 is an optical signal transmitted through the optical fiber array 335, and 341 is an optical transmitter using the semiconductor laser array 332 of the present invention. In this embodiment, the optical transmitter 341 includes the control circuit 33.
1, a semiconductor laser array 332, a polarizer 333, an optical coupling unit 334, an optical fiber array 335, and the like.

【0081】次に、本実施例の光送信機341の送信動
作について説明する。端未からの電気信号336が制御
回路331に入力されると、本発明の半導体レーザアレ
イ332へ駆動信号337が送られる。駆動信号337
を入力された半導体レーザアレイ332は、駆動信号3
37に従って偏波伏態が変化する光信号338を出力す
る。(この場合、半導体レーザアレイ332の各レーザ
は通常は夫々異なる駆動信号337a、337b、33
7c・・・で駆動され、同一波長の異なる光信号338
a、338b、338c・・・を出力するが、ここの記
載では、明らかな場合は、光信号338の如く簡単に記
載する。)その光信号338は、偏光子333で片方の
偏光の光信号339にされ、更に光結合手段334で光
ファイバアレイ335へ結合される。こうして強度変調
された光信号340を伝送し通信が行われる。この場
合、光信号340は強度変調された伏態であるので、従
来用いられている強度変調用の光受信機で光を受信する
ことができる。
Next, the transmission operation of the optical transmitter 341 of this embodiment will be described. When the electric signal 336 from the end is input to the control circuit 331, the drive signal 337 is sent to the semiconductor laser array 332 of the present invention. Drive signal 337
Is inputted to the semiconductor laser array 332, the driving signal 3
An optical signal 338 whose polarization state changes according to 37 is output. (In this case, the lasers of the semiconductor laser array 332 usually have different drive signals 337a, 337b, 33, respectively.
7c ... Optical signals 338 of the same wavelength but different
, 338b, 338c, ... Are output, but in the description here, in the case where it is clear, they are simply described as the optical signal 338. ) The optical signal 338 is converted into an optical signal 339 of one polarization by the polarizer 333, and is further coupled to the optical fiber array 335 by the optical coupling means 334. In this way, the intensity-modulated optical signal 340 is transmitted for communication. In this case, since the optical signal 340 is in the intensity-modulated state, light can be received by the conventionally used intensity-modulation optical receiver.

【0082】(第5実施例)図20は、本発明の第2或
は第3の実施例を光送信機を適用した例である。第4の
実施例と異なるのは、半導体レーザアレイを構成する半
導体レーザの波長がそれぞれ異なるので波長多重が可能
で、その結果、ファイバ335は1本であるという点で
ある。その他の機能は第4の実施例と同じである。尚、
偏光子333は、偏波面が揃っているので個々に付ける
必要はない(これは第4実施例でも同じである)。ま
た、光結合手段334は、導波型合流器を用いれば容易
に達成できる。
(Fifth Embodiment) FIG. 20 shows an example in which an optical transmitter is applied to the second or third embodiment of the present invention. The difference from the fourth embodiment is that the wavelengths of the semiconductor lasers that form the semiconductor laser array are different, so that wavelength multiplexing is possible, and as a result, there is one fiber 335. The other functions are the same as those in the fourth embodiment. still,
The polarizers 333 do not need to be individually attached because the planes of polarization are aligned (this is the same in the fourth embodiment). Further, the optical coupling means 334 can be easily achieved by using a waveguide type junction.

【0083】(第6実施例)次に、本発明のデバイスを
光ネットワークヘ適用した例について述べる。図22お
よび図23はバス型光ネットワークおよびリング型光ネ
ットワークヘの適用例であり、光ノード401〜406
に上記実施例を含む光送信機と適当な受信機が搭載され
ている。上記実施例で述べた半導体レーザアレイの出射
面に偏光子を配置し、特定偏波光(例えばTM光)のみ
を取り出し、伝送路400へ送出できる。さらに、受光
器を2つ配置し、信号光を分岐してそれぞれに入射さ
せ、一方をTEモード、他方をTMモードで受光するよ
うにすれば容易に偏波ダイバーシティが実現できる。
尚、411〜416は端末装置である。
(Sixth Embodiment) Next, an example in which the device of the present invention is applied to an optical network will be described. 22 and 23 show an example of application to a bus type optical network and a ring type optical network.
Is equipped with an optical transmitter including the above embodiment and a suitable receiver. By disposing a polarizer on the emission surface of the semiconductor laser array described in the above embodiment, only specific polarized light (for example, TM light) can be extracted and sent to the transmission line 400. Further, if two light receivers are arranged, the signal light is branched and made incident on each, and one is received in the TE mode and the other is received in the TM mode, polarization diversity can be easily realized.
411 to 416 are terminal devices.

【0084】また、上記実施例の半導体レーザアレイを
用いたとき、偏光子を使用しなければ異なる偏波の光を
同時に送出できることから、ネットワークの多機能化を
はかることができる。例えば、波長可変レーザアレイと
波長可変フィルタを用いた波長多重システムにおいて、
波長可変フィルタに偏波依存性をもたせることで偏波ダ
イバーシティ用の光源として非常に単純な構成で使用で
きる。
Further, when the semiconductor laser array of the above embodiment is used, lights of different polarizations can be sent out at the same time without using a polarizer, so that the network can be made multifunctional. For example, in a wavelength multiplexing system using a wavelength tunable laser array and a wavelength tunable filter,
By making the wavelength tunable filter polarization dependent, it can be used with a very simple configuration as a light source for polarization diversity.

【0085】以上は1.15μm帯で説明してきたが、
他の波長帯や材料系でも同様に成り立つ。本実施例で
は、光送信機として構成した場合を示したが、もちろん
光送受信機中の送信部分に用いることもできる。更に、
適用可能な光通信システムについても、強度変調信号を
扱う系であれば単純な2点間の光通信に限らず、光CA
TV、光LANなどにも適用できる。
Although the above description has been made in the 1.15 μm band,
The same holds true for other wavelength bands and material systems. In the present embodiment, the case where it is configured as an optical transmitter is shown, but of course it can also be used in the transmitting part in an optical transceiver. Furthermore,
The applicable optical communication system is not limited to simple two-point optical communication as long as it is a system that handles intensity-modulated signals.
It can also be applied to TVs, optical LANs, etc.

【0086】(第7実施例)本実施例を、光送受信機中
の送信部分に用いた例を、図23で説明する。外部に接
続された光ファイバ700を媒体として光信号がノード
701に取り込まれ、分岐部702によりその一部が波
長可変光フィルタ等を備えた受信装置703に入射す
る。この受信器703により所望の波長の光信号だけ取
り出して信号検波を行う。これを制御回路で適当な方法
で処理して端末に送る。一方、ノード701から光信号
を送信する場合には、上記実施例の偏波変調半導体レー
ザアレイ704を信号に従って上記の如く制御回路で適
当な方法で駆動し、偏波変調して、偏光板707(これ
により偏波変調信号が振幅強度変調信号に変換される)
を通して(更にアイソレータを入れてもよい)出力光を
合流部706を介して光伝送路700に入射せしめる。
また、波長可変光フィルタを2つ以上の複数設けて、波
長可変範囲を広げることもできる。
(Seventh Embodiment) An example in which the present embodiment is used for a transmitting portion in an optical transceiver will be described with reference to FIG. An optical signal is taken into the node 701 using the optical fiber 700 connected to the outside as a medium, and a part of the optical signal is incident on the receiving device 703 including a wavelength tunable optical filter and the like by the branching unit 702. This receiver 703 extracts only an optical signal of a desired wavelength and performs signal detection. This is processed by a control circuit by an appropriate method and sent to the terminal. On the other hand, when an optical signal is transmitted from the node 701, the polarization modulation semiconductor laser array 704 of the above embodiment is driven in accordance with the signal by the control circuit as described above by an appropriate method to perform polarization modulation, and the polarization plate 707. (This converts the polarization modulation signal into an amplitude intensity modulation signal)
The output light (through which an isolator may be further inserted) is made incident on the optical transmission path 700 through the merging portion 706.
In addition, it is possible to extend the wavelength variable range by providing two or more wavelength variable optical filters.

【0087】[0087]

【発明の効果】本発明により、以下のような効果が奏さ
れる。 (1)TEモード用およびTMモード用半導体レーザア
レイをそれぞれ独立に設計できるため、装置の最適化が
容易である。 (2)プロセスに係る負担が軽減されるために歩留まり
も向上する。 (3)TEモード用半導体レーザアレイ構造とTMモー
ド用半導体レーザアレイ構造の間に生じた空隙を用いて
反射防止や結合効率や位相を調整することが容易にでき
る。 (4)片方の半導体レーザアレイ構造をアクティブに動
作させて、もう一方のレーザアレイ構造の位置合わせを
行う場合、両半導体レーザアレイ構造の光結合の状態を
確認して実装作業を行うことができ、また高い精度で作
業毎に安定して2つの半導体レーザアレイ構造の位置合
わせを行うことができる。この際、一方の半導体レーザ
アレイ構造を広ストライブ電極型のファブリペロ半導体
レーザアレイ構造とずることで、位置合わせは更に容易
になる。 (5)2つの半導体レーザアレイ構造が搭載される部材
の構造を用いて位置決めを行う場合、半導体レーザアレ
イ構造を駆動する必要がなく、より簡便に2つの半導体
レーザアレイ構造の位置合わせを行うことが可能とな
る。 (6)TEモード/TMモードの境界、すなわち2つの
半導体レーザアレイ構造の端面の間に充填した材料の屈
折率を電気的に制御できるものにした場合、両モードの
結合を能動的に制御できる。従って、この電気的制御で
偏光波モードをスイッチングすることも考えられる。
The present invention has the following effects. (1) Since the TE mode semiconductor laser array and the TM mode semiconductor laser array can be independently designed, the device can be easily optimized. (2) Since the burden on the process is reduced, the yield is improved. (3) Antireflection, coupling efficiency and phase can be easily adjusted by using the air gap formed between the TE mode semiconductor laser array structure and the TM mode semiconductor laser array structure. (4) When one semiconductor laser array structure is actively operated and the other laser array structure is aligned, the mounting work can be performed by checking the optical coupling state of both semiconductor laser array structures. Further, the two semiconductor laser array structures can be stably aligned with each other with high accuracy. At this time, by aligning one semiconductor laser array structure with a wide-striped electrode type Fabry-Perot semiconductor laser array structure, alignment becomes easier. (5) When positioning is performed using the structure of a member on which two semiconductor laser array structures are mounted, it is not necessary to drive the semiconductor laser array structure, and the two semiconductor laser array structures can be more easily aligned. Is possible. (6) When the TE mode / TM mode boundary, that is, the refractive index of the material filled between the end faces of the two semiconductor laser array structures can be electrically controlled, the coupling of both modes can be actively controlled. . Therefore, it is possible to switch the polarization wave mode by this electrical control.

【0088】更には、偏波変調動作範囲が広い、位相が
合わないことがあっても位相整合が容易である、選択再
成長を用いても歩留まりが高い、多波長偏波変調レーザ
アレイが容易に作製できる等の効果も奏される。
Furthermore, the polarization modulation operation range is wide, the phase matching is easy even when the phases may not match, the yield is high even if selective regrowth is used, and the multi-wavelength polarization modulation laser array is easy. The effect that it can be manufactured is also exhibited.

【0089】また、偏波変調光出力の一方の偏波モード
を偏光子などで選択することにより、容易に消光比の高
い強度変調光出力を得ることが可能であり、また構成に
よっては同偏光子をアイソレータの一部として代用でき
構成を容易にできるなどの効果もある。また、本発明の
半導体レーザアレイを用いた送信機或は送受信機から構
成される光伝送システムまたは波長多重システムにおい
て、高速大容量また超高密度波長多重可能な光伝送シス
テムを比較的低価格で構成できるという効果もある。
Also, by selecting one polarization mode of the polarization-modulated light output with a polarizer or the like, it is possible to easily obtain an intensity-modulated light output with a high extinction ratio. There is also an effect that the child can be used as a part of the isolator and the configuration can be facilitated. Further, in a transmitter or a wavelength multiplexing system comprising transmitters and receivers using the semiconductor laser array of the present invention, an optical transmission system capable of high-speed, large-capacity or ultra-high-density wavelength-multiplexing is relatively inexpensive. There is also the effect that it can be configured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は本発明の原理を代表例で説明する図であ
る。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention as a typical example.

【図2】図2は本発明の第1の実施例を説明するための
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view for explaining the first embodiment of the present invention.

【図3】図3は本発明の第1の実施例を説明するための
半導体レーザアレイ構造の共振方向の断面図である。
FIG. 3 is a sectional view in the resonance direction of the semiconductor laser array structure for explaining the first embodiment of the present invention.

【図4】図4は本発明の第1の実施例を説明するための
半導体レーザアレイ構造の共振方向に垂直な方向の断面
図である。
FIG. 4 is a sectional view of a semiconductor laser array structure for explaining a first embodiment of the present invention in a direction perpendicular to the resonance direction.

【図5】図5は本発明の第1の実施例の一方の活性層の
バンドギャップ構造を説明する図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a bandgap structure of one active layer according to the first embodiment of the present invention.

【図6】図6は本発明の第1の実施例の他方の活性層の
バンドギャップ構造を説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a bandgap structure of the other active layer according to the first embodiment of the present invention.

【図7】図7は、第1の実施例の2つの半導体レーザ構
造への電流注入量と偏波モードの関係を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the amount of current injection into the two semiconductor laser structures of the first embodiment and the polarization mode.

【図8】図8は本発明の第2の実施例を説明するための
斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view for explaining a second embodiment of the present invention.

【図9】図9は本発明の第2の実施例を説明するための
DBR型半導体レーザアレイ構造の共振方向の断面図で
ある。
FIG. 9 is a sectional view in the resonance direction of a DBR type semiconductor laser array structure for explaining a second embodiment of the present invention.

【図10】図10は本発明の第2の実施例の一方の活性
層のバンドギャップ構造を説明する図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a bandgap structure of one active layer according to the second embodiment of the present invention.

【図11】図11は、本発明の第2の実施例の動作を説
明する為の一方の活性層のゲインプロファイルの変化の
様子を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing how the gain profile of one active layer changes for explaining the operation of the second embodiment of the present invention.

【図12】図12は本発明の第2の実施例の半導体レー
ザアレイを説明するための平面図である。
FIG. 12 is a plan view for explaining a semiconductor laser array according to a second embodiment of the present invention.

【図13】図13は、第2の実施例の2つの半導体レー
ザ構造への電流注入量と偏波モードの関係を示す図であ
る。
FIG. 13 is a diagram showing the relationship between the amount of current injection into the two semiconductor laser structures of the second embodiment and the polarization mode.

【図14】図14は本発明の第2の実施例を説明するた
めのファブリペロ型半導体レーザアレイ構造の共振方向
の断面図である。
FIG. 14 is a cross-sectional view in the resonance direction of a Fabry-Perot type semiconductor laser array structure for explaining a second embodiment of the present invention.

【図15】図15は本発明の第2の実施例を説明するた
めのファブリペロ型半導体レーザアレイ構造の共振方向
に垂直な方向の断面図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view of a Fabry-Perot type semiconductor laser array structure in a direction perpendicular to the resonance direction for explaining the second embodiment of the present invention.

【図16】図16は本発明の第3の実施例を説明するた
めの偏波変調半導体レーザアレイの共振方向の断面図で
ある。
FIG. 16 is a cross-sectional view in the resonance direction of a polarization modulation semiconductor laser array for explaining a third embodiment of the present invention.

【図17】図17は本発明の第3の実施例の一方の活性
層のバンドギャップ構造を説明する図である。
FIG. 17 is a diagram illustrating a bandgap structure of one active layer according to the third embodiment of the present invention.

【図18】図18は、本発明の第3の実施例の動作を説
明する為の一方の活性層のゲインプロファイルの変化の
様子を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing how the gain profile of one active layer changes to explain the operation of the third embodiment of the present invention.

【図19】図19は、図21、図22のシステムにおけ
る本発明の偏波変調半導体レーザアレイを用いた送信機
の構成例を示す模式図である。
FIG. 19 is a schematic diagram showing a configuration example of a transmitter using the polarization modulation semiconductor laser array of the present invention in the system of FIGS. 21 and 22.

【図20】図20は、図21、図22のシステムにおけ
る本発明の多波長偏波変調半導体レーザアレイを用いた
送信機の構成例を示す模式図である。
FIG. 20 is a schematic diagram showing a configuration example of a transmitter using the multi-wavelength polarization modulation semiconductor laser array of the present invention in the system of FIGS. 21 and 22.

【図21】図21は本発明の偏波変調半導体レーザアレ
イを用いたバス型光LANシステムの構成例を示す模式
図である。
FIG. 21 is a schematic diagram showing a configuration example of a bus type optical LAN system using the polarization modulation semiconductor laser array of the present invention.

【図22】図22は本発明の偏波変調半導体レーザアレ
イを用いたループ型光LANシステムの構成例を示す模
式図である。
FIG. 22 is a schematic diagram showing a configuration example of a loop type optical LAN system using the polarization modulation semiconductor laser array of the present invention.

【図23】図23は、図21、図22のシステムにおけ
る送受信機の構成例を示す模式図である。
FIG. 23 is a schematic diagram showing a configuration example of a transceiver in the system of FIGS. 21 and 22.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1の半導体レーザアレイ構造 2 第2の半導体レーザアレイ構造 3、208 空隙(間隙)及び/又は充填材 4 ヒートシンク(支持台) 5 マーカー 7 第1の共振器 8 第2の共振器 9 第3の共振器 10 支持台の垂直面 21 利得領域 22 DBR領域 23 TM半導体レーザアレイ 24 TEレーザアレイ 101、131、161、201 基板 102、105、135、162、165、202、2
05 クラッド層 103、133、163、203a、203b
活性層 104、134、164、204a、204b
光ガイド層(導波層) 106、136、166、206 コンタクト層
(キャップ層) 108、138、207 回折格子 109、110、139、140、169、170、2
09、210 金属電極 111 リッジ導波路 112 絶縁膜 115、142、172、211 ARコート 121、123、151、153、271、272
ウェル層 122、124、152、273 バリア層 331 制御回路 332、704 本発明の偏波変調半導体レー
ザアレイ 333、707 偏光子(偏光選択手段) 334 光結合手段 335、400 光ファイバ(光ファイバアレ
イ) 341 光送信機 401〜406、701 ノード 411〜416 端末装置 702 光分岐部 703 受信器 706 合流部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st semiconductor laser array structure 2 2nd semiconductor laser array structure 3, 208 Air gap (gap) and / or filling material 4 Heat sink (support) 5 Marker 7 1st resonator 8 2nd resonator 9th Resonator 10 of 3 Vertical surface of support 21 Gain region 22 DBR region 23 TM semiconductor laser array 24 TE laser array 101, 131, 161, 201 Substrate 102, 105, 135, 162, 165, 202, 2
05 clad layers 103, 133, 163, 203a, 203b
Active layers 104, 134, 164, 204a, 204b
Optical guide layer (waveguide layer) 106, 136, 166, 206 Contact layer (cap layer) 108, 138, 207 Diffraction gratings 109, 110, 139, 140, 169, 170, 2
09, 210 metal electrode 111 ridge waveguide 112 insulating film 115, 142, 172, 211 AR coat 121, 123, 151, 153, 271, 272
Well layers 122, 124, 152, 273 Barrier layer 331 Control circuit 332, 704 Polarization modulation semiconductor laser arrays 333, 707 Polarizers (polarization selecting means) 334 Optical coupling means 335, 400 Optical fibers (optical fiber arrays) 341 Optical transmitters 401 to 406, 701 Nodes 411 to 416 Terminal device 702 Optical branching unit 703 Receiver 706 Merging unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−264138(JP,A) 特開 平7−307530(JP,A) 特開 平7−235718(JP,A) 特開 平7−231133(JP,A) 特開 平7−162088(JP,A) 特開 平2−117190(JP,A) 特開 平8−172237(JP,A) 特開 平6−140720(JP,A) Journal of Applie d Physics,米国,1988年,V ol.63, No.2,p.291−294 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01S 5/00 - 5/50 H04B 10/02 - 10/28 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) Reference JP-A-7-264138 (JP, A) JP-A-7-307530 (JP, A) JP-A-7-235718 (JP, A) JP-A-7- 231133 (JP, A) JP-A 7-162088 (JP, A) JP-A 2-117190 (JP, A) JP-A 8-172237 (JP, A) JP-A 6-140720 (JP, A) Journal of Apply d Physics, USA, 1988, Vol. 63, No. 2, p. 291-294 (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01S 5/00-5/50 H04B 10/02-10/28

Claims (28)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】第1の偏波モードで発振する第1の半導体
レーザアレイ構造と第2の偏波モードで発振する第2の
半導体レーザアレイ構造を導波方向に直列に配置した複
合共振器型半導体レーザアレイであって、 複数の第1の半導体レーザ構造から成る第1の半導体レ
ーザアレイ構造が、該第1の半導体レーザ構造を導波方
向に平行に同一基板上に複数個配置して成り、第1の偏
波モードに対する利得が第2の偏波モードに対する利得
よりも優位な共通の第1の活性領域を有し、個々の第1
の半導体レーザ構造に対し、分布ブラッグ反射型反射器
或は分布帰還型反射器を持たせており、 第1の半導体レーザ構造と同数の複数の第2の半導体レ
ーザ構造から成る第2の半導体レーザアレイ構造が、該
第2の半導体レーザ構造を前記第1の半導体レーザ構造
と同様に配置して成り、第2の偏波モードに対する利得
が第1の偏波モードに対する利得よりも優位な共通の第
2の活性領域を有し、個々の第2の半導体レーザ構造に
対し、分布ブラッグ反射型反射器或は分布帰還型反射器
或はファブリペロ型反射器を持たせており、 対を成す前記第1の半導体レーザ構造と第2の半導体レ
ーザ構造は、夫々、第1の偏波モード同士及び第2の偏
波モード同士の伝搬定数が夫々ほぼ等しい様に構成され
ており、 前記分布ブラッグ反射型反射器或は分布帰還型反射器の
ブラッグ波長が前記半導体レーザアレイ構造の利得スペ
クトルのピーク波長近傍に設定してあり、 第1及び第2の半導体レーザ構造の少なくとも一方に注
入するキャリアに変調をかけることで前記第1の偏波モ
ードと第2の偏波モードとの間で発振モードをスイッチ
ングさせることを特徴とする偏波変調可能な半導体レー
ザアレイ。
1. A composite resonator in which a first semiconductor laser array structure that oscillates in a first polarization mode and a second semiconductor laser array structure that oscillates in a second polarization mode are arranged in series in the waveguide direction. A first semiconductor laser array structure comprising a plurality of first semiconductor laser structures, wherein a plurality of the first semiconductor laser structures are arranged on the same substrate in parallel to the waveguide direction. And having a common first active region in which the gain for the first polarization mode is superior to the gain for the second polarization mode,
Second semiconductor laser structure having the same number of second semiconductor laser structures as the first semiconductor laser structure and a distributed Bragg reflection type reflector or a distributed feedback type reflector. An array structure is formed by arranging the second semiconductor laser structure in the same manner as the first semiconductor laser structure, and the gain for the second polarization mode is superior to the gain for the first polarization mode. A second Bragg reflector type reflector, a distributed Bragg reflector type reflector, or a Fabry-Perot type reflector for each second semiconductor laser structure having a second active region. The first semiconductor laser structure and the second semiconductor laser structure are configured such that the propagation constants of the first polarization modes and the propagation constants of the second polarization modes are substantially equal to each other. Reflector or The Bragg wavelength of the distributed feedback reflector is set near the peak wavelength of the gain spectrum of the semiconductor laser array structure, and the carrier injected into at least one of the first and second semiconductor laser structures is modulated to obtain the Bragg wavelength. A semiconductor laser array capable of polarization modulation, wherein an oscillation mode is switched between a first polarization mode and a second polarization mode.
【請求項2】前記第1の半導体レーザアレイ構造と第2
の半導体レーザアレイ構造は導波方向に間隙を置いて配
置されていることを特徴とする請求項1記載の偏波変調
可能な半導体レーザアレイ。
2. The first semiconductor laser array structure and the second semiconductor laser array structure.
2. The semiconductor laser array structure according to claim 1, wherein said semiconductor laser array structure is arranged with a gap in the waveguide direction.
【請求項3】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構
造は、夫々、基板及びその上の積層構造が独立に形成さ
れた構造のものであって、導波方向に間隙を置いて支持
台上に配置されていることを特徴とする請求項1記載の
偏波変調可能な半導体レーザアレイ。
3. The first and second semiconductor laser array structures each have a structure in which a substrate and a laminated structure on the substrate are independently formed, and a support base is provided with a gap in the waveguide direction. The semiconductor laser array according to claim 1, wherein the semiconductor laser array is arranged above.
【請求項4】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構
造は、同一基板上で少なくとも活性層と導波層が別個に
形成された構造のものであって、該同一基板上の積層構
造が導波方向に間隙を置いて配置されていることを特徴
とする請求項1記載の偏波変調可能な半導体レーザアレ
イ。
4. The first and second semiconductor laser array structures have a structure in which at least an active layer and a waveguide layer are separately formed on the same substrate, and a laminated structure on the same substrate is The semiconductor laser array according to claim 1, wherein the semiconductor laser array is arranged with a gap in the waveguide direction.
【請求項5】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構
造間の間隙に充填材が充填されて位相調整領域を成して
いることを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の
偏波変調可能な半導体レーザアレイ。
5. The phase adjusting region according to claim 1, wherein a gap is filled between the first and second semiconductor laser array structures with a filling material. Semiconductor laser array capable of polarization modulation.
【請求項6】前記間隙に充填された物質が電気的に屈折
率を制御できる材料であり、前記位相調整領域の光学長
に変調をかける為の光学長変調手段を設けていることを
特徴とする請求項5記載の偏波変調可能な半導体レーザ
アレイ。
6. The substance filled in the gap is a material capable of electrically controlling the refractive index, and an optical length modulation means for modulating the optical length of the phase adjusting region is provided. 6. A semiconductor laser array capable of polarization modulation according to claim 5.
【請求項7】前記第2の半導体レーザアレイ構造は、分
布帰還型共振器又は分布ブラッグ反射型共振器を有する
ことを特徴とする請求項1乃至6の何れかに記載の偏波
変調可能な半導体レーザ。
7. The polarization modulator according to claim 1, wherein the second semiconductor laser array structure has a distributed feedback type resonator or a distributed Bragg reflection type resonator. Semiconductor laser.
【請求項8】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ構
造の間隙を置いて相い対する端面が導波方向に対して斜
めに形成されていることを特徴とする請求項7記載の偏
波変調可能な半導体レーザアレイ。
8. The polarized wave according to claim 7, wherein end faces of the first and second semiconductor laser array structures, which face each other with a gap, are formed obliquely with respect to the waveguide direction. Modulatable semiconductor laser array.
【請求項9】前記第2の半導体レーザアレイ構造は、フ
ァブリペロ型共振器を有することを特徴とする請求項1
乃至6の何れかに記載の偏波変調可能な半導体レーザア
レイ。
9. The second semiconductor laser array structure has a Fabry-Perot resonator.
7. A semiconductor laser array capable of polarization modulation according to any one of 1 to 6.
【請求項10】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造の間隙を置いて相い対する端面のうち該第1の半導
体レーザアレイ構造の端面が導波方向に対して斜めに形
成されていることを特徴とする請求項9記載の偏波変調
可能な半導体レーザアレイ。
10. An end face of the first semiconductor laser array structure, of the end faces of the first and second semiconductor laser array structures facing each other with a gap, is formed obliquely with respect to the waveguide direction. 10. A semiconductor laser array capable of polarization modulation according to claim 9.
【請求項11】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造の向かい合う端面が無反射になるように該端面にA
Rコートが施されていることを特徴とする請求項1乃至
10の何れかに記載の偏波変調可能な半導体レーザアレ
イ。
11. The end faces of the first and second semiconductor laser array structures, which face each other so as to be non-reflective,
11. A semiconductor laser array capable of polarization modulation according to claim 1, wherein an R coat is applied.
【請求項12】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造の活性層の少なくとも一方の活性層が量子井戸構造
或は歪み量子井戸構造から成ることを特徴とする請求項
1乃至11の何れかに記載の偏波変調可能な半導体レー
ザアレイ。
12. The active layer of at least one of the first and second semiconductor laser array structures has a quantum well structure or a strained quantum well structure. 5. A semiconductor laser array capable of polarization modulation according to.
【請求項13】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造の少なくとも一方は、第1の偏波モードに対する利
得ピークがキャリア注入量によって可変できる共通の活
性領域を含み、個々の半導体レーザ構造に対し、該異な
る利得ピーク近傍にブラッグ波長が設定された分布帰還
型反射器或は分布ブラッグ反射器を持たせていることを
特徴とする請求項12記載の偏波変調可能な半導体レー
ザアレイ。
13. At least one of the first and second semiconductor laser array structures includes a common active region in which a gain peak for the first polarization mode can be changed by a carrier injection amount, and each semiconductor laser structure has a common active region. On the other hand, the semiconductor laser array according to claim 12, further comprising a distributed feedback reflector or a distributed Bragg reflector having a Bragg wavelength set near the different gain peaks.
【請求項14】請求項1、2又は3に記載の半導体レー
ザアレイを作製する方法であって、 第1の半導体レーザアレイ構造を作製する工程と、 この工程とは独立に第2の半導体レーザアレイ構造を作
製する工程と、 第1及び第2の半導体レーザアレイ構造を光学的に結合
するよう導波方向に直列に同一の支持台上に間隙を置い
て配置する工程と、 を有することを特徴とする偏波変調可能な半導体レーザ
アレイの製造方法。
14. A method of manufacturing a semiconductor laser array according to claim 1, 2 or 3, wherein a step of manufacturing a first semiconductor laser array structure and a second semiconductor laser independent of this step. A step of producing an array structure, and a step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction with a gap on the same support so as to optically couple them. A method for manufacturing a semiconductor laser array capable of polarization modulation.
【請求項15】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造を光学的に結合するよう導波方向に直列に同一の支
持台上に間隙を置いて配置する工程が、 第1の半導体レーザアレイ構造を支持台上に配置して固
定した後、第2の半導体レーザアレイ構造の複数の第2
の半導体レーザ構造のうち少なくとも一部を発光させる
と同時に第1の半導体レーザアレイ構造をフォトディテ
クタとして機能させて第2の半導体レーザアレイ構造の
光を受光させることで第2の半導体レーザアレイ構造を
位置決め及び固定する工程を含むことを特徴とする請求
項14記載の偏波変調可能な半導体レーザアレイの製造
方法。
15. A step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction with a gap on the same support so as to optically couple the first and second semiconductor laser array structures. After arranging and fixing the structure on the support base, a plurality of second semiconductor laser array structures having a plurality of second structures are formed.
Positioning the second semiconductor laser array structure by causing at least a part of the semiconductor laser structure to emit light and at the same time to cause the first semiconductor laser array structure to function as a photodetector to receive the light of the second semiconductor laser array structure. 15. The method for manufacturing a polarization-modulatable semiconductor laser array according to claim 14, further comprising: and fixing.
【請求項16】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造を光学的に結合するよう導波方向に直列に同一の支
持台上に間隙を置いて配置する工程が、 支持台上に形成されたマーカーと半導体レーザアレイ構
造に形成されたマーカーを所望の位置関係に調整して半
導体レーザアレイ構造を配置して固定する工程を含むこ
とを特徴とする請求項14又は15に記載の偏波変調可
能な半導体レーザアレイの製造方法。
16. A step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction with a gap therebetween so as to optically couple the semiconductor laser array structures is formed on the support table. 16. The polarization modulation according to claim 14, further comprising the step of adjusting the marker and the marker formed on the semiconductor laser array structure to a desired positional relationship to arrange and fix the semiconductor laser array structure. Method for manufacturing a possible semiconductor laser array.
【請求項17】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造を光学的に結合するよう導波方向に直列に同一の支
持台上に間隙を置いて配置する工程が、 支持台に形成された半導体レーザ搭載面とは垂直に直立
した平面へ該半導体レーザアレイ構造の側面を突き当て
て半導体レーザアレイ構造を配置する工程を含むことを
特徴とする請求項14又は15に記載の偏波変調可能な
半導体レーザアレイの製造方法。
17. A step of arranging the first and second semiconductor laser array structures in series in the waveguide direction on the same support table with a gap therebetween so as to optically couple the semiconductor laser array structures is formed on the support table. 16. The polarization modulation according to claim 14, further comprising a step of arranging the semiconductor laser array structure by abutting a side surface of the semiconductor laser array structure on a plane that is upright perpendicular to the semiconductor laser mounting surface. Of manufacturing various semiconductor laser arrays.
【請求項18】前記間隙に所望の屈折率を有する物質を
充填する工程を更に有することを特徴とする請求項14
乃至17の何れかに記載の偏波変調可能な半導体レーザ
アレイの製造方法。
18. The method according to claim 14, further comprising the step of filling the gap with a substance having a desired refractive index.
18. A method of manufacturing a semiconductor laser array capable of polarization modulation according to any one of 1 to 17.
【請求項19】請求項1、2又は4に記載の半導体レー
ザアレイを作製する方法であって、 半導体基板上に第1の半導体レーザアレイ構造を作製す
る工程と、 該基板上に第2の半導体レーザアレイ構造を作製する工
程と、 該第1及び第2の半導体レーザアレイ構造の境界部分に
間隙を形成する工程と、 を有することを特徴とする偏波変調可能な半導体レーザ
アレイの製造方法。
19. A method for producing a semiconductor laser array according to claim 1, 2 or 4, wherein a step of producing a first semiconductor laser array structure on a semiconductor substrate, and a step of producing a second semiconductor laser array structure on the substrate. A method of manufacturing a polarization-modulatable semiconductor laser array, comprising: a step of producing a semiconductor laser array structure; and a step of forming a gap at a boundary portion of the first and second semiconductor laser array structures. .
【請求項20】前記第1の半導体レーザアレイ構造を作
製する工程が、 前記半導体基板上の第1の半導体レーザアレイ構造の領
域のみに第1の活性層、第1の光導波層を積層する工程
と、該第1の光導波層に、該第1の活性層の利得ピーク
の近傍にブラッグ波長を持つようにピッチを制御した第
1のグレーテイングを少なくとも部分的に形成する工程
とを含み、 前記第2の半導体レーザアレイ構造を作製する工程が、 前記半導体基板上の第2の半導体レーザアレイ構造の領
域のみに第2の活性層、第2の光導波層を積層する工程
とを含み、且つ前記第1の半導体レーザアレイ構造を作
製する工程及び前記第2の半導体レーザアレイ構造を作
製する工程が、共に前記光導波層全面に一括して共通の
クラッド層及びコンタクト層を積層する工程を含むこと
を特徴とする請求項19記載の偏波変調可能な半導体レ
ーザアレイの製造方法。
20. A step of fabricating the first semiconductor laser array structure comprises laminating a first active layer and a first optical waveguide layer only on a region of the first semiconductor laser array structure on the semiconductor substrate. And a step of at least partially forming in the first optical waveguide layer a first grating having a pitch controlled so as to have a Bragg wavelength near the gain peak of the first active layer. The step of producing the second semiconductor laser array structure includes a step of laminating a second active layer and a second optical waveguide layer only on a region of the second semiconductor laser array structure on the semiconductor substrate. And a step of manufacturing the first semiconductor laser array structure and a step of manufacturing the second semiconductor laser array structure, in which a common clad layer and a contact layer are collectively laminated on the entire surface of the optical waveguide layer. Method of manufacturing a polarization-modulatable semiconductor laser array according to claim 19, wherein it contains.
【請求項21】前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
構造の境界部分に間隙を形成する工程が、該第1及び第
2の半導体レーザアレイ構造の領域の境界部分にスリッ
ト状の間隙とリッジ導波路を同時に形成する工程を含む
ことを特徴とする請求項19又は20に記載の偏波変調
可能な半導体レーザアレイの製造方法。
21. A step of forming a gap at a boundary portion between the first and second semiconductor laser array structures, wherein a slit-like gap and a ridge are formed at a boundary portion between regions of the first and second semiconductor laser array structures. 21. The method of manufacturing a semiconductor laser array capable of polarization modulation according to claim 19, further comprising the step of simultaneously forming a waveguide.
【請求項22】前記間隙に所望の屈折率を有する物質を
充填する工程を更に有することを特徴とする請求項19
乃至21の何れかに記載の偏波変調可能な半導体レーザ
アレイの製造方法。
22. The method according to claim 19, further comprising the step of filling the gap with a substance having a desired refractive index.
22. A method of manufacturing a semiconductor laser array capable of polarization modulation according to any one of 21 to 21.
【請求項23】請求項1乃至13の何れかに記載の偏波
変調半導体レーザアレイと該半導体レーザアレイからの
出力光のうち1つの偏波の光を透過させる偏光選択手段
と該半導体レーザアレイの各々対を成す半導体レーザ構
造の出力光の偏光状態を入力信号に従って切り換える為
の該半導体レーザアレイを制御、駆動する制御回路を有
することを特徴とする光送信機。
23. A polarization modulation semiconductor laser array according to any one of claims 1 to 13, a polarization selecting means for transmitting light of one polarization of the output light from the semiconductor laser array, and the semiconductor laser array. An optical transmitter having a control circuit for controlling and driving the semiconductor laser array for switching the polarization state of the output light of each pair of the semiconductor laser structures according to the input signal.
【請求項24】請求項1乃至13の何れかに記載の偏波
変調半導体レーザアレイと、該半導体レーザアレイから
の出力光のうち1つの偏波の光を透過させる偏光選択手
段と、該半導体レーザアレイの各々対を成す半導体レー
ザ構造の出力光の偏光状態を入力信号に従って切り換え
る為の該半導体レーザアレイを制御、駆動する制御回路
と、入力信号を受信する受信手段とを有することを特徴
とする光送受信機。
24. A polarization modulation semiconductor laser array according to any one of claims 1 to 13, polarization selection means for transmitting light of one polarization of output light from the semiconductor laser array, and the semiconductor. A semiconductor laser structure which forms a pair of laser arrays, and has a control circuit for controlling and driving the polarization state of the output light of the semiconductor laser structure according to an input signal, and a receiving means for receiving the input signal. Optical transceiver that does.
【請求項25】請求項1乃至13の何れかに記載の偏波
変調半導体レーザアレイと、該偏波変調半導体レーザア
レイから出射する光の内、TEとTMの2つの偏波モー
ドの一方の光のみを取り出す偏光選択手段とを有するこ
とを特徴とする光源装置。
25. The polarization-modulated semiconductor laser array according to claim 1, and one of two polarization modes TE and TM of the light emitted from the polarization-modulated semiconductor laser array. A light source device, comprising: a polarization selecting means for extracting only light.
【請求項26】請求項1乃至13の何れかに記載の偏波
変調半導体レーザアレイと、該偏波変調半導体レーザア
レイから出射する光の内、TEとTMの2つの偏波モー
ドの一方の光のみを取り出す偏光選択手段とから成る光
源装置を備えた光送信機或は送受信機、前記偏光選択手
段によって取り出された光を伝送する伝送手段、及び前
記伝送手段によって伝送された光を受信する光受信機或
は送受信機を有することを特徴とする光通信システム。
26. One of two polarization modes, TE and TM, of the polarization modulation semiconductor laser array according to claim 1 and light emitted from the polarization modulation semiconductor laser array. An optical transmitter or a transceiver provided with a light source device comprising a polarization selecting means for extracting only light, a transmitting means for transmitting the light extracted by the polarization selecting means, and a light transmitted by the transmitting means. An optical communication system having an optical receiver or a transceiver.
【請求項27】前記光送信機或は送受信機が複数の異な
る波長の光信号を送出することができ、波長多重型のネ
ットワークを構成することを特徴とする請求項26記載
の光通信システム。
27. The optical communication system according to claim 26, wherein the optical transmitter or the transmitter / receiver is capable of transmitting a plurality of optical signals of different wavelengths to form a wavelength multiplexing type network.
【請求項28】請求項1乃至13の何れかに記載の偏波
変調半導体レーザアレイと、該偏波変調半導体レーザア
レイから出射する光の内、TEとTMの2つの偏波モー
ドの一方の光のみを取り出す偏光選択手段とから成る光
源装置を用い、所定のバイアス電流に送信信号に応じて
変調された電流を重畳して前記偏波変調半導体レーザア
レイの各々対を成す半導体レーザ構造に供給することに
よって、前記偏光選択手段から送信信号に応じて強度変
調された信号光を取り出し、この信号光を光受信側に向
けて送信することを特徴とする光通信方法。
28. The polarization-modulated semiconductor laser array according to claim 1, and one of two polarization modes TE and TM of the light emitted from the polarization-modulated semiconductor laser array. A light source device composed of a polarization selecting means for extracting only light is used to superimpose a current modulated according to a transmission signal on a predetermined bias current and supply it to each pair of semiconductor laser structures of the polarization modulation semiconductor laser array. By doing so, the signal light whose intensity is modulated according to the transmission signal is taken out from the polarization selecting means, and the signal light is transmitted toward the light receiving side.
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