JP3504726B2 - 自動分析装置の誤差要因検出方法 - Google Patents
自動分析装置の誤差要因検出方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、未知試料を自動分析装
置で分析したときに自動分析装置から出力される分析デ
ータの誤差要因を検出する方法に関するものである。 【０００２】 【従来の技術】電解質溶液を自動分析する手段として、
試料としての電解質溶液を測定セルに導入し、この測定
セル内に設けられたイオン選択電極と参照電極との電位
差から電解質溶液の成分を自動分析する電解質溶液自動
分析装置が知られている。 【０００３】このような自動分析装置は種々の工程を経
て試料の分析データを得ているため、分析データに誤差
が存在する場合にその原因を推定することは容易ではな
い。このような自動分析装置から出力される分析データ
の誤差要因を推定する方法としては、従来、装置の自己
診断機能を用いて不良原因を告知する方法（特開昭６０
−１６４２４４号公報）や、電極間のインピーダンスを
測定して流路の気泡の存在を推定する方法（特開昭６１
−１７３１５０号公報）などが提案されている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た方法は特定の原因に対してのみ有効であり、種々の工
程を経て得られる分析データの誤差要因を推定するには
不向きであった。また、分析装置には分析精度の試験機
能として、試験検体を連続して分析し、標準偏差等の統
計数値を自動的に計算して表示する方法があり、分析精
度不良の問題解決に使用できるが、そのデータ解析に
は、上述のように多くの要因が関与しているため、問題
解決には熟練を要した。このため、分析精度上の問題に
直面した時には、装置のオペレータは多くの場合、試行
錯誤により、疑わしい部品の交換や保守を行い、原因に
辿り着くまでに多くの時間を費やしているのが現状であ
る。 【０００５】本発明は上記のような点に鑑みてなされた
もので、その目的は未知試料を自動分析装置で分析した
ときに自動分析装置から出力される分析データの誤差要
因を検出することのできる自動分析装置の誤差要因検出
方法を提供しようとするものである。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、本発明は、未知試料の測定データと既知試料の
測定データとを比較することで上記未知試料の分析デー
タを得る自動分析装置の誤差要因検出方法において、上
記既知試料を異なる条件で複数回測定して得られた測定
データを互いに比較することで、上記分析データに含ま
れる誤差要因を検出することを特徴とするものである。 【０００７】 【作用】上記の方法において、自動分析装置から出力さ
れる既知試料の、異なる条件における複数の分析データ
を互いに比較することで、分析装置の分析データに含ま
れる誤差要因を推定することができる。 【０００８】 【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。イオン選択電極を用いた電解質自動分析装置の
概略的な構成を図１に示す。同図において、１は試料容
器、２は試料容器１に収容された未知の電解質溶液を含
む試料を所定量だけ採取する試料採取ノズルであり、こ
の試料採取ノズル２により試料容器１から採取された試
料は、希釈容器４に分注された後、希釈液容器５、希釈
液吸引器６、希釈液送液管７および希釈液注入ノズル８
を経て希釈容器４に分注される希釈液（測定すべき電解
質を含まないもの）によって所定の濃度に希釈されるよ
うになっている。 【０００９】また、９は希釈容器４に分注された試料を
吸引する吸引ノズルであり、この吸引ノズル９により希
釈容器４から吸引された試料は、吸引ホース１０および
フローセル１１を流通して吸引ポンプ１２に流入するよ
うになっている。 【００１０】前記フローセル１１は吸引ポンプ１２に流
入する試料のイオン濃度を測定するためのもので、この
フローセル１１の内部には、１または２種類以上の電解
質に関するイオン濃度を測定するためのイオン選択電極
１３と参照電極１４が設けられている。電極１３及び１
４で得た出力はデータ処理部２０に送られ、数値化され
た後、表示手段としてのＣＲＴ２１に画面表示されると
共にプリンタ２２にて所定の用紙に記録される。 【００１１】前記吸引ポンプ１２は、その動作のオン・
オフによりフローセル１１内に試料を静止させたり、移
動させることができる。測定後の試料等は、吸引ポンプ
１２によってフローセル１１から排液貯蔵部２４へ回収
される。 【００１２】また、１５は標準液容器、１６は標準液容
器１５に収容された既知量の電解質を含む標準液を吸引
する標準液吸引器であり、この標準液吸引器１６により
標準液容器１５から吸引された標準液は、標準液送液管
１７および標準液注入ノズル１８を経て希釈容器４に分
注されるようになっている。 【００１３】さらに、１９は攪拌機で、例えば図１に示
すように攪拌機の先端にプロペラを設けたものを所定回
転速度で回転させることで液体を混和するものである。
ＣＰＵ２３は、データ処理部２０で得た数値に基いて異
常を判定すると共に、装置全体を制御している。 【００１４】なお、２５は試料容器１に収容された未知
の試料を希釈容器４に注入する注入ポンプである。図２
は試料容器１に収容された試料のイオン濃度を測定する
ときの測定手順を示すフローチャートで、同図に示すよ
うに、試料容器１に収容された未知試料のイオン濃度を
測定する場合には、まず試料容器１に収容された未知試
料を試料採取ノズル２で採取し、採取された未知試料を
希釈容器４に分注する。次に、希釈容器４に分注された
未知試料を希釈液で希釈し、攪拌機１９で攪拌した後、
希釈された未知試料を吸引ノズル９および吸引ホース１
０を経てフローセル１１に導入し、未知試料のイオン濃
度をイオン選択電極１３と参照電極１４との電位差から
測定する。次に、標準液を希釈容器４に分注した後、フ
ローセル１１に導入し、標準液の電位を測定する。測定
された電位差より式１に従って標準液の濃度を求める。
そして、上述した工程を１０回繰り返して行なうことに
より、表１に示すような測定データがプリントアウトさ
れる。 【００１５】 【表１】なお、試料のイオン濃度は次式によって求められる。 【００１６】 【数１】 【００１７】以上が試料容器１に収容された未知試料の
イオン濃度を測定する場合の手順（以下、分析Ａとい
う）であるが、この発明の一実施例では、試料容器１に
収容された未知試料のイオン濃度を測定するときに図３
ないし図５に示すような疑似分析Ｂ〜Ｄを行なう。 【００１８】図３は試料採取ノズル２に起因する測定誤
差を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示すよう
に、この疑似分析Ｂでは、まず標準液容器１５に収容さ
れた標準液を希釈容器４に分注する。次に、希釈容器４
に分注された標準液を希釈液で希釈し、さらに攪拌機１
９で攪拌した後、希釈された標準液を吸引ノズル９およ
び吸引ホース１０を経てフローセル１１に導入し、標準
液のイオン濃度をイオン選択電極１３と参照電極１４と
の電位差から測定する。次に、標準液を希釈容器４に分
注した後、フローセル１１に導入し、標準液の電位を測
定する。測定された電位差より式１に従って濃度を求め
る。そして、上述した工程を１０回繰り返して行なうこ
とにより、表２に示すような測定データがプリントアウ
トされる。なお、表２に示す測定データを２倍して表３
に示すような測定データをプリントアウトしても良い。 【００１９】図３に示した疑似分析Ｂでは、通常最大の
誤差要因である試料採取量の誤差が分析結果に含まれて
いないため、表１に示された測定データと表２に示され
た測定データとを比較することにより、試料採取ノズル
２に起因する測定誤差を見つけ出すことができる。 【００２０】なお、疑似分析Ｂでは標準液の分注誤差が
加わるが、通常、試料採取量の誤差に比べ非常に少な
く、無視し得る。図４は希釈液注入ノズル８に起因する
測定誤差を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示
すように、この疑似分析Ｃでは、標準液容器１５に収容
された標準液を希釈容器４に分注した後、希釈容器４に
分注された標準液を吸引ノズル９および吸引ホース１０
を経てフローセル１１に導入し、標準液のイオン濃度を
イオン選択電極１３と参照電極１４との電位差から測定
する。次に、標準液を希釈容器４に分注した後、フロー
セル１１に導入し、標準液の電位を測定する。測定され
た電位差より式１に従って濃度を求める。そして、上述
した工程を１０回繰り返して行なうことにより、表４に
示すような測定データが画面表示されるとともにプリン
トアウトされる。 【００２１】図４に示した疑似分析Ｃでは、試料の希釈
工程と攪拌工程が省略されているので、表３に示された
測定データと表４に示された測定データとを比較するこ
とにより、希釈液注入ノズル８に起因する測定誤差や攪
拌機１９による攪拌誤差の有無を判定し、見つけ出すこ
とができる。こうして得た判定結果をＣＲＴ２１に表示
されるとともに、プリンタ２２によりプリントアウトさ
れる。 【００２２】図５はフローセル１１に起因する測定誤差
を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示すよう
に、この疑似分析Ｄでは、標準液容器１５に収容された
標準液を希釈容器４に分注した後、希釈容器４に分注さ
れた標準液を吸引ノズル９および吸引ホース１０を経て
フローセル１１に導入する。標準液のイオン濃度をイオ
ン選択電極１３と参照電極１４との電位差から測定す
る。さらに、もう１回電位測定を繰り返す。フローセル
１１から標準液を排出することなしに上述した２重測定
を１０回繰り返して行なうことにより、表５に示すよう
な測定データがプリントアウトされる。 【００２３】図５に示した疑似分析Ｄでは、フローセル
１１に導入された標準液のイオン濃度測定を１０回繰り
返して行なうので、表４に示された測定データと表５に
示された測定データとを比較することにより、フローセ
ル１１への吸引過程に起因する測定誤差を見つけ出すこ
とができる。疑似分析Ｄで得られたデータが悪い場合に
は、電気系、外来ノイズが測定誤差要因と考えられる。 【００２４】なお、上述した分析Ａから分析Ｄの結果
は、それぞれ独立して表示（または記録）されても良い
し、まとめて一覧表で表示（または記録）されても良
い。また、疑似分析Ｂ〜Ｄでの変動係数（Ｃｖ値）の基
準値は、結果とともに表示されるので、オペレータはど
の疑似分析で基準値を超えたかどうかで、分析精度不良
の原因の所在の推定が可能となる。 【００２５】例えば分析精度が不良で、疑似分析Ｂも基
準値を超えているが、疑似分析Ｃでは基準値以内である
といった場合は、主に希釈液の分注精度に問題があるこ
とが推定できる。これは疑似分析Ｂと疑似分析Ｃの相違
が主に希釈液を分注するかしないかだけであるため、原
因箇所の切り分けが簡単につくためである。 【００２６】さらに、表６で示すように、基準値を超え
たかどうかの判断を装置に行わせ、判定結果のみ打ち出
しても良い。また、疑似分析Ｂ〜Ｄの測定結果を相互比
較し、その結果により、表７に示すように、結果を一覧
表で示すとともに、次に採るべき処置を同時に表示（ま
たは記録）しても良い。 【００２７】 【表２】【００２８】ＣＰＵ２３は、以上のような原因の推定や
相互比較による結果に基いてデータ処理部２０に対して
適宜のデータ補正や異常マーク設定等を指示すること
で、試料容器中の各試料を高精度に分析したり、場合に
よっては各種シリンジ、ポンプ、攪拌機等の一時停止や
分析のやり直しを指示するような制御を行なうことで、
分析の無駄がない効率の高い試料分析を行なっても良
い。 【００２９】このように分注精度上の問題が発生したと
きに、特定の誤差要因を含まない疑似分析を行うことに
より、原因の所在の推定が容易に行うことができる。ま
た、この発明の一実施例では、分析結果の統計値、例え
ば標準偏差を計算し、それを正常な装置の期待値と比
べ、その結果オペレータ問題点解決に向け色々なメッセ
ージを発することができるため、オペレータの熟練や技
量が低くても迅速な問題解決が期待できる。 【００３０】 【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、試料を自動分析装置で分析したときに自動分析装置
から出力される分析データの誤差要因を検出することの
できる自動分析装置の誤差要因検出方法を提供できる。
置で分析したときに自動分析装置から出力される分析デ
ータの誤差要因を検出する方法に関するものである。 【０００２】 【従来の技術】電解質溶液を自動分析する手段として、
試料としての電解質溶液を測定セルに導入し、この測定
セル内に設けられたイオン選択電極と参照電極との電位
差から電解質溶液の成分を自動分析する電解質溶液自動
分析装置が知られている。 【０００３】このような自動分析装置は種々の工程を経
て試料の分析データを得ているため、分析データに誤差
が存在する場合にその原因を推定することは容易ではな
い。このような自動分析装置から出力される分析データ
の誤差要因を推定する方法としては、従来、装置の自己
診断機能を用いて不良原因を告知する方法（特開昭６０
−１６４２４４号公報）や、電極間のインピーダンスを
測定して流路の気泡の存在を推定する方法（特開昭６１
−１７３１５０号公報）などが提案されている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た方法は特定の原因に対してのみ有効であり、種々の工
程を経て得られる分析データの誤差要因を推定するには
不向きであった。また、分析装置には分析精度の試験機
能として、試験検体を連続して分析し、標準偏差等の統
計数値を自動的に計算して表示する方法があり、分析精
度不良の問題解決に使用できるが、そのデータ解析に
は、上述のように多くの要因が関与しているため、問題
解決には熟練を要した。このため、分析精度上の問題に
直面した時には、装置のオペレータは多くの場合、試行
錯誤により、疑わしい部品の交換や保守を行い、原因に
辿り着くまでに多くの時間を費やしているのが現状であ
る。 【０００５】本発明は上記のような点に鑑みてなされた
もので、その目的は未知試料を自動分析装置で分析した
ときに自動分析装置から出力される分析データの誤差要
因を検出することのできる自動分析装置の誤差要因検出
方法を提供しようとするものである。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、本発明は、未知試料の測定データと既知試料の
測定データとを比較することで上記未知試料の分析デー
タを得る自動分析装置の誤差要因検出方法において、上
記既知試料を異なる条件で複数回測定して得られた測定
データを互いに比較することで、上記分析データに含ま
れる誤差要因を検出することを特徴とするものである。 【０００７】 【作用】上記の方法において、自動分析装置から出力さ
れる既知試料の、異なる条件における複数の分析データ
を互いに比較することで、分析装置の分析データに含ま
れる誤差要因を推定することができる。 【０００８】 【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。イオン選択電極を用いた電解質自動分析装置の
概略的な構成を図１に示す。同図において、１は試料容
器、２は試料容器１に収容された未知の電解質溶液を含
む試料を所定量だけ採取する試料採取ノズルであり、こ
の試料採取ノズル２により試料容器１から採取された試
料は、希釈容器４に分注された後、希釈液容器５、希釈
液吸引器６、希釈液送液管７および希釈液注入ノズル８
を経て希釈容器４に分注される希釈液（測定すべき電解
質を含まないもの）によって所定の濃度に希釈されるよ
うになっている。 【０００９】また、９は希釈容器４に分注された試料を
吸引する吸引ノズルであり、この吸引ノズル９により希
釈容器４から吸引された試料は、吸引ホース１０および
フローセル１１を流通して吸引ポンプ１２に流入するよ
うになっている。 【００１０】前記フローセル１１は吸引ポンプ１２に流
入する試料のイオン濃度を測定するためのもので、この
フローセル１１の内部には、１または２種類以上の電解
質に関するイオン濃度を測定するためのイオン選択電極
１３と参照電極１４が設けられている。電極１３及び１
４で得た出力はデータ処理部２０に送られ、数値化され
た後、表示手段としてのＣＲＴ２１に画面表示されると
共にプリンタ２２にて所定の用紙に記録される。 【００１１】前記吸引ポンプ１２は、その動作のオン・
オフによりフローセル１１内に試料を静止させたり、移
動させることができる。測定後の試料等は、吸引ポンプ
１２によってフローセル１１から排液貯蔵部２４へ回収
される。 【００１２】また、１５は標準液容器、１６は標準液容
器１５に収容された既知量の電解質を含む標準液を吸引
する標準液吸引器であり、この標準液吸引器１６により
標準液容器１５から吸引された標準液は、標準液送液管
１７および標準液注入ノズル１８を経て希釈容器４に分
注されるようになっている。 【００１３】さらに、１９は攪拌機で、例えば図１に示
すように攪拌機の先端にプロペラを設けたものを所定回
転速度で回転させることで液体を混和するものである。
ＣＰＵ２３は、データ処理部２０で得た数値に基いて異
常を判定すると共に、装置全体を制御している。 【００１４】なお、２５は試料容器１に収容された未知
の試料を希釈容器４に注入する注入ポンプである。図２
は試料容器１に収容された試料のイオン濃度を測定する
ときの測定手順を示すフローチャートで、同図に示すよ
うに、試料容器１に収容された未知試料のイオン濃度を
測定する場合には、まず試料容器１に収容された未知試
料を試料採取ノズル２で採取し、採取された未知試料を
希釈容器４に分注する。次に、希釈容器４に分注された
未知試料を希釈液で希釈し、攪拌機１９で攪拌した後、
希釈された未知試料を吸引ノズル９および吸引ホース１
０を経てフローセル１１に導入し、未知試料のイオン濃
度をイオン選択電極１３と参照電極１４との電位差から
測定する。次に、標準液を希釈容器４に分注した後、フ
ローセル１１に導入し、標準液の電位を測定する。測定
された電位差より式１に従って標準液の濃度を求める。
そして、上述した工程を１０回繰り返して行なうことに
より、表１に示すような測定データがプリントアウトさ
れる。 【００１５】 【表１】なお、試料のイオン濃度は次式によって求められる。 【００１６】 【数１】 【００１７】以上が試料容器１に収容された未知試料の
イオン濃度を測定する場合の手順（以下、分析Ａとい
う）であるが、この発明の一実施例では、試料容器１に
収容された未知試料のイオン濃度を測定するときに図３
ないし図５に示すような疑似分析Ｂ〜Ｄを行なう。 【００１８】図３は試料採取ノズル２に起因する測定誤
差を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示すよう
に、この疑似分析Ｂでは、まず標準液容器１５に収容さ
れた標準液を希釈容器４に分注する。次に、希釈容器４
に分注された標準液を希釈液で希釈し、さらに攪拌機１
９で攪拌した後、希釈された標準液を吸引ノズル９およ
び吸引ホース１０を経てフローセル１１に導入し、標準
液のイオン濃度をイオン選択電極１３と参照電極１４と
の電位差から測定する。次に、標準液を希釈容器４に分
注した後、フローセル１１に導入し、標準液の電位を測
定する。測定された電位差より式１に従って濃度を求め
る。そして、上述した工程を１０回繰り返して行なうこ
とにより、表２に示すような測定データがプリントアウ
トされる。なお、表２に示す測定データを２倍して表３
に示すような測定データをプリントアウトしても良い。 【００１９】図３に示した疑似分析Ｂでは、通常最大の
誤差要因である試料採取量の誤差が分析結果に含まれて
いないため、表１に示された測定データと表２に示され
た測定データとを比較することにより、試料採取ノズル
２に起因する測定誤差を見つけ出すことができる。 【００２０】なお、疑似分析Ｂでは標準液の分注誤差が
加わるが、通常、試料採取量の誤差に比べ非常に少な
く、無視し得る。図４は希釈液注入ノズル８に起因する
測定誤差を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示
すように、この疑似分析Ｃでは、標準液容器１５に収容
された標準液を希釈容器４に分注した後、希釈容器４に
分注された標準液を吸引ノズル９および吸引ホース１０
を経てフローセル１１に導入し、標準液のイオン濃度を
イオン選択電極１３と参照電極１４との電位差から測定
する。次に、標準液を希釈容器４に分注した後、フロー
セル１１に導入し、標準液の電位を測定する。測定され
た電位差より式１に従って濃度を求める。そして、上述
した工程を１０回繰り返して行なうことにより、表４に
示すような測定データが画面表示されるとともにプリン
トアウトされる。 【００２１】図４に示した疑似分析Ｃでは、試料の希釈
工程と攪拌工程が省略されているので、表３に示された
測定データと表４に示された測定データとを比較するこ
とにより、希釈液注入ノズル８に起因する測定誤差や攪
拌機１９による攪拌誤差の有無を判定し、見つけ出すこ
とができる。こうして得た判定結果をＣＲＴ２１に表示
されるとともに、プリンタ２２によりプリントアウトさ
れる。 【００２２】図５はフローセル１１に起因する測定誤差
を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示すよう
に、この疑似分析Ｄでは、標準液容器１５に収容された
標準液を希釈容器４に分注した後、希釈容器４に分注さ
れた標準液を吸引ノズル９および吸引ホース１０を経て
フローセル１１に導入する。標準液のイオン濃度をイオ
ン選択電極１３と参照電極１４との電位差から測定す
る。さらに、もう１回電位測定を繰り返す。フローセル
１１から標準液を排出することなしに上述した２重測定
を１０回繰り返して行なうことにより、表５に示すよう
な測定データがプリントアウトされる。 【００２３】図５に示した疑似分析Ｄでは、フローセル
１１に導入された標準液のイオン濃度測定を１０回繰り
返して行なうので、表４に示された測定データと表５に
示された測定データとを比較することにより、フローセ
ル１１への吸引過程に起因する測定誤差を見つけ出すこ
とができる。疑似分析Ｄで得られたデータが悪い場合に
は、電気系、外来ノイズが測定誤差要因と考えられる。 【００２４】なお、上述した分析Ａから分析Ｄの結果
は、それぞれ独立して表示（または記録）されても良い
し、まとめて一覧表で表示（または記録）されても良
い。また、疑似分析Ｂ〜Ｄでの変動係数（Ｃｖ値）の基
準値は、結果とともに表示されるので、オペレータはど
の疑似分析で基準値を超えたかどうかで、分析精度不良
の原因の所在の推定が可能となる。 【００２５】例えば分析精度が不良で、疑似分析Ｂも基
準値を超えているが、疑似分析Ｃでは基準値以内である
といった場合は、主に希釈液の分注精度に問題があるこ
とが推定できる。これは疑似分析Ｂと疑似分析Ｃの相違
が主に希釈液を分注するかしないかだけであるため、原
因箇所の切り分けが簡単につくためである。 【００２６】さらに、表６で示すように、基準値を超え
たかどうかの判断を装置に行わせ、判定結果のみ打ち出
しても良い。また、疑似分析Ｂ〜Ｄの測定結果を相互比
較し、その結果により、表７に示すように、結果を一覧
表で示すとともに、次に採るべき処置を同時に表示（ま
たは記録）しても良い。 【００２７】 【表２】【００２８】ＣＰＵ２３は、以上のような原因の推定や
相互比較による結果に基いてデータ処理部２０に対して
適宜のデータ補正や異常マーク設定等を指示すること
で、試料容器中の各試料を高精度に分析したり、場合に
よっては各種シリンジ、ポンプ、攪拌機等の一時停止や
分析のやり直しを指示するような制御を行なうことで、
分析の無駄がない効率の高い試料分析を行なっても良
い。 【００２９】このように分注精度上の問題が発生したと
きに、特定の誤差要因を含まない疑似分析を行うことに
より、原因の所在の推定が容易に行うことができる。ま
た、この発明の一実施例では、分析結果の統計値、例え
ば標準偏差を計算し、それを正常な装置の期待値と比
べ、その結果オペレータ問題点解決に向け色々なメッセ
ージを発することができるため、オペレータの熟練や技
量が低くても迅速な問題解決が期待できる。 【００３０】 【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、試料を自動分析装置で分析したときに自動分析装置
から出力される分析データの誤差要因を検出することの
できる自動分析装置の誤差要因検出方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】イオン選択電極を用いた電解質自動分析装置の
概略構成図。 【図２】試料のイオン濃度を測定するときの測定手順を
示すフローチャート。 【図３】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、試料採取ノズルに起
因する測定誤差を見つけ出すための手法を示すフローチ
ャート。 【図４】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、希釈液注入ノズルに
起因する測定誤差を見つけ出すための手法を示すフロー
チャート。 【図５】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、フローセルに起因す
る測定誤差を見つけ出すための手法を示すフローチャー
ト。 【符号の説明】 １…試料容器 ２…試料採取ノズル ４…希釈容器 ５…希釈液吸引器 ８…希釈液注入ノズル ９…吸引ノズル １１…フローセル １２…吸引ポンプ １３…イオン選択電極 １４…参照電極 １５…標準容器 １６…標準液吸引器 １８…標準液注入ノズル
概略構成図。 【図２】試料のイオン濃度を測定するときの測定手順を
示すフローチャート。 【図３】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、試料採取ノズルに起
因する測定誤差を見つけ出すための手法を示すフローチ
ャート。 【図４】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、希釈液注入ノズルに
起因する測定誤差を見つけ出すための手法を示すフロー
チャート。 【図５】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、フローセルに起因す
る測定誤差を見つけ出すための手法を示すフローチャー
ト。 【符号の説明】 １…試料容器 ２…試料採取ノズル ４…希釈容器 ５…希釈液吸引器 ８…希釈液注入ノズル ９…吸引ノズル １１…フローセル １２…吸引ポンプ １３…イオン選択電極 １４…参照電極 １５…標準容器 １６…標準液吸引器 １８…標準液注入ノズル
─────────────────────────────────────────────────────
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(56)参考文献 特開 平１−107146（ＪＰ，Ａ)
特開 昭55−54434（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−111753（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−322843（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−43133（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−167818（ＪＰ，Ａ)
実開 平３−76161（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 27/20
G01N 27/416
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 未知試料の測定データと既知試料の測定
データとを比較することで上記未知試料の分析データを
得る自動分析装置の誤差要因検出方法において、 上記既知試料を異なる条件で複数回測定して得られた測
定データを互いに比較することで、上記分析データに含
まれる誤差要因を検出することを特徴とする自動分析装
置の誤差要因検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12864994A JP3504726B2 (ja) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | 自動分析装置の誤差要因検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12864994A JP3504726B2 (ja) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | 自動分析装置の誤差要因検出方法 |
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| JPH07333189A JPH07333189A (ja) | 1995-12-22 |
| JP3504726B2 true JP3504726B2 (ja) | 2004-03-08 |
Family
ID=14990039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12864994A Expired - Lifetime JP3504726B2 (ja) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | 自動分析装置の誤差要因検出方法 |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP3504726B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101855544A (zh) * | 2007-11-09 | 2010-10-06 | 贝克曼考尔特公司 | 分析装置 |
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| CN103776889A (zh) * | 2013-11-20 | 2014-05-07 | 北京华安奥特科技有限公司 | 一种自动离子电极检测模块 |
| JP7171506B2 (ja) * | 2019-04-24 | 2022-11-15 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置、及び方法 |
-
1994
- 1994-06-10 JP JP12864994A patent/JP3504726B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101855544A (zh) * | 2007-11-09 | 2010-10-06 | 贝克曼考尔特公司 | 分析装置 |
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| JPH07333189A (ja) | 1995-12-22 |
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