JP3484767B2 - 光ヘッド装置、光情報装置及びハイブリッド素子 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば光ディスクある
いは光カードなど、光媒体もしくは光磁気媒体上に記憶
される情報の記録・再生あるいは消去を行う光ヘッド装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】高密度・大容量の記憶媒体として、ピッ
ト状パターンを有する光ディスクを用いる光メモリ技術
は、ディジタルオーディオディスク、ビデオディスク、
文書ファイルディスク、さらにはデータファイルと用途
を拡張しつつ、実用化されてきている。

【０００３】微小に絞られた光ビームを介して、例えば
光ディスク等の情報記録媒体への情報の記録再生が、高
い信頼性のもとに首尾よく遂行されるメカニズムは、ひ
とえにその光学系に因っている。

【０００４】その光学系の主要部である光ヘッド装置の
基本的な機能は、回折限界の微小スポットを形成する集
光性、前記光学系の焦点制御とトラッキング制御、及び
ピット信号の検出に大別される。

【０００５】これらは、目的、用途に応じて、各種の光
学系ならびに光電変換検出方式の組合せによって現わさ
れており、特に近年、光ピックアップヘッド装置を小型
化、薄型化するために、ホログラムを用いた光ピックア
ップヘッド装置が開示されている。特にこの分野の発明
としては本発明者らを中心として行っており、例えば本
発明者らは、ホログラム素子に４箇の回折領域を設け
て、この回折領域から回折する回折光を光検出器で受光
し、光検出器の出力の位相を比較することによって、い
わゆる位相差法によるトラッキングエラー信号を得ると
いう構成の光ヘッド装置を、特開平４−４０６３４号公
報に開示している。

【０００６】この公報を従来例として、図２４と図２５
を用いて説明する。但し、図２４と図２５とに挿入した
ｘｙｚ軸は共通である。図２４において、１０４はホロ
グラムであり、２は半導体レーザ等の放射光源である。
この構成における特徴は、ホログラム１の格子パターン
にある。

【０００７】以下、その動作について説明する。この光
源２から出射した光ビーム３（レーザ光）は、ホログラ
ム１０４を透過して対物レンズ４に入射し、情報媒体５
上に集光される。情報媒体５で反射した光ビ−ムは、も
との光路を逆にたどってホログラム１０４に入射する。
ホログラム１０４から生じる復路の＋１次回折光６９
は、光検出器７に入射する。光検出器７の出力を演算す
ることによって、サーボ信号及び、情報信号を得る。

【０００８】ここで、ホログラム１０４及び光検出器７
は、図２５のように構成されている。すなわち、図２５
（ａ）はホログラムパターン１５０ｃを表している。ホ
ログラムの分割領域１５１からは、フォーカスサーボ信
号検出用回折光が発生する。

【０００９】フォーカスサーボ信号の検出方式として
は、例えばスポットサイズディテクション法（ＳＳＤ
法）を用いている。このＳＳＤ法は、例えば特開平２−
１８５７２２号公報にも開示されているように、光ヘッ
ド装置の組み立て許容誤差を著しく緩和できる上に、波
長変動に対しても安定にサーボ信号を得ることのできる
検出方法である。

【００１０】ＳＳＤ法を実現するためには、ホログラム
の復路の＋１次回折光が、曲率の異なる２種類の球面波
となるように設計する。それぞれの球面波は、光検出器
面の前側と後ろ側とに焦点を持つように設計し、図２５
（ｂ）に示すように、復路の＋１回折光６９ｅと６９ｆ
とを、６分割光検出器ＦＥ８１〜ＦＥ８６によって受光
する。フォーカスエラー信号ＦＥは、各検出領域名をそ
の出力として表記すると、下記（式１）という演算によ
って得られる。 FE＝(FE81＋FE83−FE82)−(FE84＋FE86−FE85) ・・・・（式１） 一方、トラッキングエラー信号ＴＥは、図２５（ａ）に
示すように、回折領域１５３ａ〜１５３ｄをホログラム
１０４上に設けて、情報媒体５の上の集光スポットとト
ラック上に並んだピット列との相対位置変化によるホロ
グラム上での光量分布変化を取り出している。この回折
領域１５３ａ〜１５３ｄから、それぞれ回折するトラッ
キングエラー信号検出用回折光６９ａ〜６９ｄを、トラ
ッキングエラー信号検出用光検出器ＴＥ８１及びＴＥ８
２によって受光し、その出力の位相を比較することによ
って、トラッキングエラー信号ＴＥを得ることができ
る。

【００１１】このような構成によって以下のような効果
を得ている。 （１）ホログラム素子の仮想のＸ−Ｙ軸（図２５（ａ）
では情報媒体のラジアル軸−タンジェンシャル軸）の各
象限に回折格子を形成して、位相差法でＴＥ信号を検出
することにより、ホログラム素子の設定位置が正規の位
置とは異なる場合でも、オフセットの生じない安定なＴ
Ｅ信号を得ることができる。

【００１２】（２）位相差法でＴＥ信号を検出する事に
より、いわゆる３ビーム法では必要な、情報媒体上での
スポットを所望の位置関係となるように合わせる調整は
不要となるので、光ヘッド装置の生産性が向上する。

【００１３】（３）フォーカスサーボ信号の検出方式と
してＳＳＤ法を用いることにより、組み立て許容誤差の
さらに大きな光ヘッド装置を構成できる。

【００１４】（４）ホログラム１０４から発生する＋１
次回折光のみを用いて、フォーカスサーボ信号及びトラ
ッキング信号を得ている。従って、図２４に示したよう
に、光源２に対して、ある一方向にのみ光検出器７を配
置する場合は、上記従来例が適している。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の構成は、ホログラム１０４から発生する＋１次回
折光を分割して、フォーカスサーボ信号とトラッキング
信号とを得ている。すなわち、−１次回折光を利用して
いないため、光の利用効率が低い。

【００１６】特に、例えば光源出力が小さい場合や、情
報媒体の反射率が低い場合、また、光学系の光の伝送効
率が低い場合、さらには、情報を消去可能な情報媒体か
らの信号読み出しを行うため、情報媒体上の光出力を低
く抑えなければならない場合等には、光の利用効率が低
いと、雑音と信号の比（Ｓ／Ｎ比）が低くなる課題、ま
たは、回路系のオフセットが温度変化や掲示変化などに
よって変化したときの、サーボ信号に大きなオフセット
が発生する可能性があるという課題がある。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明では上述の課題を
解決するため、以下の構成を提案するものである。

【００１８】

【００１９】第１の構成として、放射光源と、前記放射
光源からの光ビームを受け情報媒体上へ微小スポットに
収束する集光光学系と、前記情報媒体で反射した光ビー
ムを受け光電流を出力する複数の光検出部を含む光検出
器と、前記情報媒体で反射した光ビームを回折光として
回折させ、前記光検出器へ光ビームを導くためのホログ
ラムとを具備し、前記ホログラムは、情報媒体で反射さ
れた光ビームを受けるほぼ中心を原点として、Ｙ軸を前
記情報媒体のピット列または溝方向とほぼ一致する方向
（すなわちタンジェンシャル方向）、Ｘ軸をＹ軸とほぼ
垂直な方向とした仮想のＸ−Ｙ座標系を定義したとき
に、前記Ｘ−Ｙ座標系の各象限に、それぞれ少なくとも
１つずつの回折領域を有し、各回折領域を時計回りに領
域Ａ、領域Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄとし、前記領域Ａからは
Ｎ次の回折光として、前記光検出器面のそれぞれ前側と
後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＡ１ＰとＡ２Ｐとが
回折し、前記Ｎ次回折光Ａ１ＰとＡ２Ｐとのそれぞれの
共役波である−Ｎ次回折光Ａ１ＭとＡ２Ｍとを、前記光
検出器の第１の検出領域ＡＭで受光して出力ａｍを取り
出し、前記領域ＢからはＮ次の回折光として、前記光検
出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を
持つＢ１ＰとＢ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ｂ１Ｐ
とＢ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ｂ１
ＭとＢ２Ｍとを、前記光検出器の第２の検出領域ＢＭで
受光して出力ｂｍを取り出し、前記領域ＣからはＮ次の
回折光として、前記光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側
とに焦線あるいは焦点を持つＣ１ＰとＣ２Ｐとが回折
し、前記Ｎ次回折光Ｃ１ＰとＣ２Ｐとのそれぞれの共役
波である−Ｎ次回折光Ｃ１ＭとＣ２Ｍとを、前記光検出
器の第３の検出領域ＣＭで受光して出力ｃｍを取り出
し、前記領域ＤからはＮ次の回折光として、前記光検出
器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を持
つＤ１ＰとＤ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ｄ１Ｐと
Ｄ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ｄ１Ｍ
とＤ２Ｍとを、前記光検出器の第４の検出領域ＤＭで受
光して出力ｄｍを取り出し、前記出力ａｍ、ｂｍ、ｃ
ｍ、ｄｍを用いてトラッキングエラー信号を得ることを
特徴とする、光ヘッド装置の構成。

【００２０】または、第２の構成として、出力信号の位
相を比較する位相比較回路を具備し、前記位相比較回路
によって得られる位相差を用いてトラッキングエラー信
号を得ることを特徴とする、請求項１記載の光ヘッド装
置の構成。

【００２１】あるいは、第３の構成として、領域Ａ及び
領域Ｂに対して領域Ｃ及び領域Ｄは、ほぼＹ方向に延び
る直線によって分割され、ａｍ＋ｂｍとｃｍ＋ｄｍとを
用いてトラッキングエラー信号を得ることを特徴とする
光ヘッド装置の構成。

【００２２】

【００２３】

【００２４】

【００２５】

【００２６】

【００２７】

【００２８】または、第４の構成として、放射光源と、
前記放射光源からの光ビームを受け情報媒体上へ微小ス
ポットに収束する集光光学系と、前記情報媒体で反射し
た光ビームを受け光電流を出力する複数の光検出部を含
む光検出器と、前記情報媒体で反射した光ビームを回折
光として回折させて、前記光検出器へ光ビームを導くた
めのホログラムとを具備し、前記回折光を前記光検出器
で受光して得られる出力からフォーカスエラー信号とト
ラッキングエラー信号を取り出す請求項１から３のいず
れかに記載の光ヘッド装置を具備することを特徴とする
光情報装置という構成にする。さらに、ホログラムは、
情報媒体で反射された光ビームを受けるほぼ中心を原点
として、Ｙ軸を前記情報媒体のピット列または溝方向と
ほぼ一致する方向（すなわちタンジェンシャル方向）、
Ｘ軸をＹ軸とほぼ垂直な方向とした仮想のＸ−Ｙ座標系
を定義したときに、前記Ｘ−Ｙ座標系の各象限に、それ
ぞれ少なくとも１つずつの回折領域を有し、各回折領域
を時計回りに領域Ａ、領域Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄとし、前
記領域ＡからはＮ次の回折光として、光検出器面のそれ
ぞれ前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＡ１Ｐと
Ａ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ａ１ＰとＡ２Ｐとの
それぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ａ１ＭとＡ２Ｍと
を、前記光検出器の第１の検出領域ＡＭで受光して出力
ａｍを取り出し、前記領域ＢからはＮ次の回折光とし
て、前記光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あ
るいは焦点を持つＢ１ＰとＢ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次
回折光Ｂ１ＰとＢ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ
次回折光Ｂ１ＭとＢ２Ｍとを、前記光検出器の第２の検
出領域ＢＭで受光して出力ｂｍを取り出し、前記領域Ｃ
からはＮ次の回折光として、前記光検出器面のそれぞれ
前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＣ１ＰとＣ２
Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ｃ１ＰとＣ２Ｐとのそれ
ぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ｃ１ＭとＣ２Ｍとを、
前記光検出器の第３の検出領域ＣＭで受光して出力ｃｍ
を取り出し、前記領域ＤからはＮ次の回折光として、前
記光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あるいは
焦点を持つＤ１ＰとＤ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光
Ｄ１ＰとＤ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ次回折
光Ｄ１ＭとＤ２Ｍとを、前記光検出器の第４の検出領域
ＤＭで受光して出力ｄｍを取り出し、さらに、前記出力
ａｍ、ｂｍ、ｃｍ、ｄｍがトラッキングエラー信号検出
用信号であって、前記ホログラムが前記光検出器及び前
記放射光源と一体集積化されていることを特徴とする半
導体レーザーと光検出器のハイブリッド素子という構成
にする。

【００２９】

【作用】上記手段を用いることにより、以下に示すよう
な作用がある。

【００３０】（１）＋１次回折光の光量をすべて用いて
フォーカスエラー信号を得ることができるので、信号強
度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高いフォーカスエ
ラー信号を得ることができる。

【００３１】また、同様の理由で、フォーカスエラー信
号検出用回折光にＹ方向（光検出器の分割線に垂直な方
向）の光量むらがなく、感度の高いフォーカスエラー信
号を得ることができる。

【００３２】また、本発明では、−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対信号比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができる。

【００３３】また、上記と同様な理由で、ディスク上に
仮に傷等が存在した場合にも、安定に信号検出ができ
る。

【００３４】（２）発光点を光検出器に対して大きな許
容誤差を持って組み立てれば良く、組立コストの低減を
実現できる。

【００３５】（３）本発明の構成では、例えば光検出器
の領域数が少ない場合等でも、光検出器と演算回路との
接続経路が少なくてよく、結線の工程が減って、コスト
が安くなる上に、光検出器と外部の接続部が少なくなる
ため光検出器を小型化でき、従って光ヘッド装置も小型
化できる。

【００３６】（４）偏光異方性ホログラムとλ／４波長
板とを組み合わせて用いる場合、往路においては不要な
回折が起こらず、復路においてはサーボ信号等を得るた
めの回折光を発生する。従って、不要な回折光によるノ
イズがなく、非常にＳ／Ｎ比の高い信号を得ることがで
きる。

【００３７】（５）また、偏光異方性ホログラムとλ／
４波長板とを組み合わせて用いる場合、往路においては
不要な回折が起こらず、復路においてはサーボ信号等を
得るための回折光を発生する。従って、光の利用効率が
高くて信号振幅が大きいので、非常にＳ／Ｎ比の高い信
号を得ることができる。

【００３８】（６）偏光異方性ホログラムとλ／４波長
板と対物レンズを、例えば保持手段によって一定の相対
位置を保持して設ける構成にする場合は、トラッキング
制御のために例えば対物レンズが移動しても、偏光異方
性ホログラムが一体になって動き、情報媒体から反射し
た光ビ−ムは偏光異方性ホログラム上でほとんど移動し
ない。従って、対物レンズの移動にもかかわらず、光検
出器上の回折光も移動せず、光検出器から得られる信号
は劣化しない。よって、フォーカスエラー信号を安定に
得ることができる。

【００３９】（７）フォーカスサーボ信号の検出方式と
してＳＳＤ法を用いることにより、組み立て許容誤差の
さらに大きな光ヘッド装置を構成できる。

【００４０】（８）偏光異方性ホログラムとλ／４波長
板と対物レンズとを、例えば保持手段によって一定の相
対位置を保持して設ける構成にする場合は、トラッキン
グ制御のために仮に対物レンズが移動しても、偏光異方
性ホログラムが一体になって動き、情報媒体から反射し
た光ビ−ムは偏光異方性ホログラム上でほとんど移動し
ない。従って、光ビームのファーフィールドパターン上
の一定の位置からトラッキングエラー信号検出用回折光
を得ることができ、オフセットがなく、かつ、安定なト
ラッキングエラー信号を得ることができる。

【００４１】

【実施例】以下図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の光ヘッド装置の一実施例による構成
図である。なお、図１、３、５、６、８、１０〜１９に
挿入したｘｙｚ軸はすべて共通である。

【００４２】図１において、１７５は後述するような偏
光特性を持った偏光異方性ホログラムであり、２は半導
体レーザ等の放射光源である。本発明の特徴は後述する
ホログラムパターン及び光検出器の構成にあるが、その
特徴を説明するに先立ち、ここではまず、光ヘッド装置
の光学系構成の一例を説明する。

【００４３】以下、その動作について説明する。この放
射光源２から出射した直線偏光の光ビーム３（レーザ
光）は、偏光異方性ホログラム１７５とλ／４波長板１
５とを透過して円偏光となり対物レンズ４に入射し、情
報媒体５上に集光される（往路）。

【００４４】この時、光ビーム３の偏光方向は、偏光異
方性ホログラム１７５において、ほぼ回折の起こらない
方向に設定する。情報媒体５で反射した光ビ−ムは、も
との光路を逆にたどってλ／４波長板１５を再び透過し
て、始めとは直角方向の直線偏光になり、偏光異方性ホ
ログラム１７５に入射する。

【００４５】この偏光異方性ホログラム１７５から生じ
る復路の＋１次回折光６と−１次回折光６７とは、光検
出器７４ａ及び光検出器７４ｂにそれぞれ入射する。光
検出器７４ａ，ｂの出力を演算することによって、サー
ボ信号及び、情報信号を得ることができる。

【００４６】本実施例では、偏光異方性ホログラム１７
５とλ／４波長板１５とを組み合わせて用いるため、往
路においては不要な回折が起こらず、復路においてはサ
ーボ信号等を得るための回折光を発生する。従って、光
の利用効率が高くて信号振幅が大きい上に、不要な回折
光によるノイズもなく、非常にＳ／Ｎ比の高い信号を得
ることができる。

【００４７】特に、例えば現在商品化されているコンパ
クトディスクなどに比べより高密度の光ディスクなどの
光ヘッド装置においては、不要な回折効率をより減らし
て０に近づけることにより、一層高品質のサーボ信号や
情報信号を得ることできるという顕著な効果がある。

【００４８】さらに、復路の＋１次と−１次との回折効
率を高くし、０次の回折効率（透過率）を低くすること
ができるため、放射光源２への戻り光量を低くする事が
できる。従って放射光源２として半導体レーザーを用い
る場合、戻り光によるノイズの発生を回避することがで
きるという効果がある。

【００４９】図２は本発明に適用できる偏光異方性ホロ
グラム素子の一構造断面図である。図２中のＸL、ＹL、
ＺL座標軸は、他の図面の座標軸とは無関係である。４
０はｘ面の基板で、例えばニオブ酸リチウム基板、４１
はニオブ酸リチウム基板４０表面に周期的に形成された
深さｄpのプロトン交換層であり、ニオブ酸リチウム基
板４０の表面は、プロトン交換層４１の領域のみをエッ
チングされ、深さｄaの溝４２が形成されている。

【００５０】ｎoはニオブ酸リチウム基板４０の常光の
屈折率、ｎeはニオブ酸リチウム基板４０の異常光の屈
折率、ｎopはプロトン交換層４１の常光の屈折率、ｎep
はプロトン交換層４１の異常光の屈折率である。また、
Δｎo，Δｎeは、常光および異常光のプロトン交換層４
１とニオブ酸リチウム基板４０との屈折率差であり、次
の（式２）及び（式３）で与えられる。 Δｎo＝ｎop−ｎo （式２） Δｎe＝ｎep−ｎe （式３） プロトン交換層４１の波長０．７８μmの光に対する屈
折率は、ニオブ酸リチウム基板４０の屈折率と比較し
て、異常光の屈折率ｎeが０．１４５増加し、逆に常光
の屈折率ｎoは０．０４減少する。本偏光異方性ホログ
ラムの例は、この常光と異常光の屈折率差の違いを利用
するものであり、プロトン交換層４１の表面に形成され
た溝４２により異常光の屈折率変化を相殺する。以下そ
の動作について説明する。

【００５１】まず、この偏光分離素子に常光（結晶のｙ
軸方向に電界ベクトルを持つ光）が入射した場合を考え
る。プロトン交換層４１を通過しない、つまりニオブ酸
リチウム基板４０のみを通過する光の位相を基準とする
と、プロトン交換層４１および溝４２の屈折率は、ニオ
ブ酸リチウム基板４０の屈折率より小さいため、この領
域を通過する光は位相の進みが生じる。この位相の変化
量Δφoは、位相の進みを負、遅れを正で表すと次の
（式４）で与えられる。 Δφo＝（２π／λ）（Δｎo・ｄp＋Δｎoa・ｄa） （式４） ここでλは入射光の波長、またΔｎoaは基板の常光屈折
率ｎoと空気の屈折率１との差で、次の（式５）で与え
られる。 Δｎoa＝１−ｎo （式５） 一方、偏光分離素子に異常光（結晶のｚ軸方向に電界ベ
クトルを持つ光）が入射した場合を考え、プロトン交換
層４１を通過しない、つまりニオブ酸リチウム基板４０
のみを通過する光を基準として光の位相を考える。

【００５２】溝４２の屈折率はニオブ酸リチウム基板４
０の屈折率より小さいため、この領域を通過する光は位
相の進みが生じる。これに対し、プロトン交換層４１の
屈折率はニオブ酸リチウム基板４０の屈折率より大きい
ため、この領域を通過する光は位相の遅れが生じ溝４２
による位相の進みを打ち消す方向に作用する。位相の変
化量Δφeは位相の進みを負、遅れを正で表すと次の
（式６）で与えられる。 Δφe＝（２π／λ）（Δｎe・ｄp＋Δｎea・ｄa） （式６） ここでλは入射光の波長、また、Δｎeaは基板の異常光
屈折率ｎｅと空気の屈折率１との差で、次の（式７）で
与えられる。 Δｎea＝１−ｎe （式７） 本偏光異方性ホログラムは常光を回折し、異常光を回折
しない機能を有するもので、以下の様にしてこれを実現
できる。つまり（式７）で与えられる異常光の位相差Δ
φeを２πの整数倍とし、常光のみ位相差Δφoを２πの
整数倍としない様に、プロトン交換層４１の深さｄpと
溝４２の深さｄaとを適当に選択するものである。特
に、Δφoがπの奇数倍の場合その消光比は最大とな
る。この条件を式で表すと、次の（式８）及び（式９）
となる。なお、式中のｎ，ｍは任意の整数である。 （２π／λ）（Δｎo・ｄp＋Δｎoa・ｄa）＝−（２ｎ＋１）π （式８） （２π／λ）（Δｎe・ｄp＋Δｎea・ｄa）＝２ｍπ （式９） 特にｎ＝０，ｍ＝０の場合、上式からｄa及びｄbは次の
（式１０）及び（式１１）になる。 ｄa＝（λ／２）｛Δｎe／（ΔｎoΔｎea−ΔｎeΔｎoa）｝ （式１０） ｄp＝（λ／２）｛Δｎea／（ΔｎeΔｎoa−ΔｎoΔｎea）｝ （式１１） 例えば、波長０．７８μｍの光の偏光分離素子を実現す
るには、（式１０）および（式１１）より溝４２の深さ
ｄaを０．２５μｍとし、プロトン交換層４１の深さｄp
を２．００μｍとすれば良いということになる。

【００５３】以上の説明より明らかなように、本実施例
の放射光源２より出射する光ビーム３の偏光方向は、偏
光異方性ホログラム１７５に対して異常光の方向となる
ように設定すると、往路では回折が起こらず、復路では
偏光方向が９０°回転して常光となるため回折が起こ
る。すなわち、本実施例では、往路においては不要な回
折が起こらず、復路においてはサーボ信号等を得るため
の回折光を発生する。

【００５４】従って、光の利用効率が高くて信号振幅が
大きい上に、不要な回折光によるノイズもなく、非常に
Ｓ／Ｎ比の高い信号を得ることができる。

【００５５】さらに、復路の＋１次と−１次の回折効率
を高くし、０次の回折効率（透過率）をほぼ０にするこ
とができるなど、放射光源２への戻り光量をほぼ０にす
ることも可能であるなど、戻り光量を自由にコントロー
ルできる。

【００５６】従って、放射光源２として半導体レーザー
を用いる場合、戻り光によるノイズの発生を回避するこ
とができるという効果がある。

【００５７】なお、偏光異方性ホログラムには、例えば
液晶セルを用いて構成することもできる。

【００５８】特に、例えば現在商品化されているコンパ
クトディスクなどに比べて、より高密度の光ディスクな
どの光ヘッド装置においては、不要な回折効率をより減
らして０に近づけることにより、一層高品質のサーボ信
号や情報信号を得ることできるという顕著な効果があ
る。

【００５９】また、本実施例では偏光異方性ホログラム
１７５を図１に示した如く対物レンズの近傍、すなわち
光検出器７４ａ、ｂから離れた位置に配置するため、有
限光学系においても偏光異方性ホログラム１７５の有効
径Ｒ１を大きくできるので、光ヘッド装置の組み立て時
における偏光異方性ホログラム１７５の位置の許容誤差
を緩和することができ、光ヘッド装置の組立コストを低
減できるという効果がある。

【００６０】さらに、図１に示したように偏光異方性ホ
ログラム１７５とλ／４波長板１５と対物レンズ４と
を、例えば保持手段１３によって一定の相対位置を保持
して設ける。このような構成にすることにより、トラッ
キング制御のために仮に対物レンズ４が移動しても、偏
光異方性ホログラム１７５が一体になって動き、情報媒
体５から反射した光ビ−ムは、偏光異方性ホログラム１
７５上でほとんど移動しない。従って、対物レンズ４の
移動にもかかわらず、光検出器７から得られる信号は全
く劣化しない。

【００６１】さらに、図１における光検出器と放射光源
との構成の一例を図３に示す。但し、図３において２は
放射光源、３は光ビーム、７４は光検出器基板である。

【００６２】本実施例においては、光検出器７４ａと光
検出器７４ｂとを、１個の光検出器基板７４上に形成す
る。そして、光検出器７４ａと光検出器７４ｂとの間
に、凹部（切り欠き部）を設け、図３に示したようにミ
ラー７ａを設け、放射光源２をハイブリッドに設置す
る。

【００６３】本実施例では、光検出器７４ａと光検出器
７４ｂとを１個の光検出器基板上に形成するので、光検
出器７４ａと光検出器７４ｂとの相対位置を、集積回路
の作製工程によって容易に例えばμｍオーダーの高精度
に設定できるという効果がある。

【００６４】さらに、図３のハイブリッド素子と外部と
の電気的な接続のため結線が必要であるが、この結線を
接続する面が、本実施例ではすべて図３のｘｙ平面にな
るので、結線用のワイヤを近づけてくる方向が共通にな
り、自動組立が容易になるという効果がある。

【００６５】さらに、組立時の基準線もｘｙ平面上に設
けるだけでよいので、光検出器７４ａと光検出器７４ｂ
と放射光源２との相対位置を、容易に高精度に設定でき
るという効果がある。

【００６６】次に、本発明のホログラムの格子パターン
の一例を、図４を用いて説明する。図４中のラジアル
（Ｒ）、タンジェンシャル（Ｔ）の方向は、それぞれ情
報媒体の半径方向（ピット列と垂直な方向）とピット列
の並び（または溝）方向とに対応している。ただし、後
述の実施例のように、ホログラムと対物レンズ４との間
に距離があって、その間にミラー面が介在する場合に
は、それらのミラーによる写像を考慮した座標軸を表し
ている。

【００６７】ホログラムパターン１５０ａは図４に示す
ように、Ｒ方向とＴ方向にそれぞれほぼ平行な２直線に
よって分割される４つの領域内に、それぞれ少なくとも
１つの回折領域（領域Ａ〜領域Ｄ）を持つ。

【００６８】それぞれの領域からは、Ｎ次の回折光例え
ば＋１次回折光として、光検出器面の前側と後ろ側とに
焦点を持つ少なくとも２つの回折光が回折するように設
計されている。なお、ホログラムの格子は、所望の回折
光と入射光の干渉縞を計算するなどの方法によって、容
易に設計できる。

【００６９】このようなホログラムパターン１５０ｂを
用いると、光検出器の前側に焦点を持つ回折光も後ろ側
に焦点を持つ回折光も、ホログラムのほぼ全面から発生
するため、これらの回折光からフォーカスエラー信号を
得ると、トラッキングエラー信号の漏れ込みなどのノイ
ズの少ない安定なフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果を得られる。

【００７０】ここで、「光検出器面の前側または、後ろ
側に焦点を持つ回折光」の意味するところを、図５と図
６とを用いて詳しく説明する。

【００７１】図５は、光検出器面の前側に焦点を持つ回
折光を示している。光検出器７４に対して入射側に焦点
がある。但し、この焦点は、後で説明するように、フォ
ーカスエラー信号検出用光検出器の分割線方向と平行な
方向（図５ではＸ方向）に延びる焦線でもよい。

【００７２】図６は、光検出器面の後ろ側に焦点を持つ
回折光を示している。光検出器７４に対して入射側と反
対側に焦点がある。但し、この焦点は、同様に後で説明
するように、フォーカスエラー信号検出用光検出器の分
割線方向と平行な方向（図６ではＸ方向）に延びる焦線
でもよい。

【００７３】次に、本発明のホログラムの格子パターン
の他の例を、図７を用いて説明する。図７中のラジアル
（Ｒ）、タンジェンシャル（Ｔ）の方向は、それぞれ情
報媒体の半径方向とピット列の並び方向とに対応してい
る。また、図１などのＸ、Ｙ方向ともそれぞれ対応して
いる。ただし、後述の実施例のように、ホログラムと対
物レンズ４との間に距離があって、その間にミラー面が
介在する場合には、それらのミラーによる写像を考慮し
た座標軸を表している。

【００７４】ホログラムパターン１５０ｂは図４に示す
ように、Ｒ方向とＴ方向にそれぞれほぼ平行な２直線に
よって分割される４つの領域内に、それぞれ少なくとも
１つの領域（領域Ａ〜領域Ｄ）を具備する。それぞれの
領域は、さらに２種の領域に分割されている。例えば、
領域Ａは領域Ａ１と領域Ａ２とに分割されている。

【００７５】領域Ａ１と領域Ａ２とからは＋１次回折光
として、それぞれ光検出器面の前側と後ろ側に焦点を持
つ２つの回折光が回折するように設計されている。この
ようなホログラムパターン１５０ｂを用いると、１箇所
に１種の格子しか存在しないので、格子間の干渉から不
要な回折光が発生することがなく迷光が少なくなり、雑
音が少なくなる上、光の利用効率が高いという効果があ
る。

【００７６】次に、本発明で用いる光検出器とその光検
出器上の回折光の例を、図８を用いて説明する。図８に
おいて、ＦＥ０１〜ＦＥ０６はフォーカスエラー信号検
出用光検出器であり、これらは図１などの光検出器７４
ａに相当する。また、ＴＥ０１〜ＴＥ０８はトラッキン
グエラー信号検出用光検出器で、これらは図１などの光
検出器７４ｂに相当する。

【００７７】＋１次回折光６Ａ０１〜６Ｄ０１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜Ｄより回折し、
光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ０２
〜６Ｄ０２は、それぞれホログラムパターンの分割領域
Ａ〜Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持つ。

【００７８】本実施例では、ホログラムパターン１５０
ａまたは１５０ｂの分割領域Ａ〜Ｄは連続しており、実
質的には分割されていない。従って、＋１次回折光６Ａ
０１〜６Ｄ０１をまとめて＋１次回折光６０１、＋１次
回折光６Ａ０２〜６Ｄ０２をまとめて＋１次回折光６０
２と呼ぶ。

【００７９】ここで、図８に挿入した座標軸について説
明する。この座表軸は図１などの座標軸と共通であり、
Ｚ軸は光源の出射光の光軸とほぼ一致し、Ｘ軸、Ｙ軸は
Ｚ軸にほぼ垂直な光検出器面上にある。そして、Ｘ方向
は、＋１次回折光６０１と＋１次回折光６０２の光検出
器面上での形状（情報媒体上の光スポットがジャストフ
ォーカス状態の時）の重心から、光源の発光点の光検出
器面上への写影点を結ぶ方向とほぼ一致し、Ｙ方向はＺ
軸とＸ軸に垂直である。

【００８０】−１次回折光６７Ａ０１〜６７Ｄ０１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ０１〜６Ｄ０１の共役波であ
り（＋１次回折光をＮ次の回折光とすれば、−１次回折
光は−Ｎ次回折光の１例である）、光検出器の前側に焦
点を持つ。−１次回折光６７Ａ０２〜６７Ｄ０２は、そ
れぞれ＋１次回折光６Ａ０２〜６Ｄ０２の共役波であ
り、光検出器の後ろ側に焦点を持つ。−１次回折光６７
Ａ０１〜６７Ｄ０１をまとめて−１次回折光６７０１、
−１次回折光６７Ａ０２〜６７Ｄ０２をまとめて−１次
回折光６７０２と呼ぶ。

【００８１】光検出器と放射光源とを図３のように構成
した場合、光検出器面よりも光源の発光点２０が後ろ側
（図８の−Ｚ側）にあるため、情報媒体５上で集光スポ
ットが合焦状態（ジャストフォーカス）にある時は、＋
１次回折光６０１と６０２が同程度の大きさになるのに
対して、−１次回折光６７０１は小さく、−１次回折光
６７０２は大きくなる。

【００８２】ここで、＋１次回折光を用いたフォーカス
サーボ信号の検出方法を説明する。本実施例では、フォ
ーカスサーボ信号の検出方式の一方式として、スポット
サイズディテクション法（ＳＳＤ法）を用いる。ＳＳＤ
法は特開平２−１８５７２２号公報にも開示されている
ように、光ヘッド装置の組み立て許容誤差を著しく緩和
できる上に、波長変動に対しても安定にサーボ信号を得
ることのできる検出方法である。

【００８３】ＳＳＤ法では、参照面の前や後ろに焦点を
持つ回折光を用いる。フォーカスエラー信号検出用回折
光発生領域は、軸はずれのフレネルゾーンプレートまた
は焦点位置の異なる２つの球面波の干渉縞などを用い
て、参照面の前や後ろに焦点を持つ回折光を得ることが
できる。光検出器７４ａ上での回折光の様子は、例えば
図９のようになる。図９において、（ｂ）がジャストフ
ォーカスの時で、（ａ）や（ｃ）がデフォーカスの状態
である。このときフォーカスエラー信号ＦＥは、各光検
出器領域名をその出力として用いて、次の（式１２）と
して得ることができる。 FE＝(FE01＋FE03−FE02)−(FE04＋FE06−FE05) （式１２） ここで、先に実施例として示したように、偏光異方性ホ
ログラム１７５とλ／４波長板１５と対物レンズ４と
を、例えば保持手段１３によって一定の相対位置を保持
して設ける構成にすることにより、対物レンズ４が移動
しても偏光異方性ホログラム１７５が一体になって動
き、情報媒体５から反射した光ビ−ムは偏光異方性ホロ
グラム１７５上でほとんど移動しない。従って、対物レ
ンズ４の移動にもかかわらず、光検出器７４上の回折光
も移動せず、光検出器７４から得られる信号は全く劣化
しない。よって、フォーカスエラー信号を安定に得るこ
とができる。

【００８４】また、図８に戻ってトラッキングエラー信
号の検出方法について説明する。図８において、Ｙ方向
を、情報媒体５のトラック方向いわゆるタンジェンシャ
ル方向に一致させる。各光検出器領域名をその出力とし
て用いて、まず、次の演算（式１３）及び（式１４）に
よって、２つの時間的に変化する信号を得る。 ＴＥ１＝ＴＥ０１＋ＴＥ０４＋ＴＥ０５＋ＴＥ０８ （式１３） ＴＥ２＝ＴＥ０２＋ＴＥ０３＋ＴＥ０６＋ＴＥ０７ （式１４） そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較することによっ
て、トラッキングエラー信号を得ることができる。この
ように、位相を比較することによってトラッキングエラ
ー信号を得ることは、前述の特開平４−４０６３４と同
様であり、位相差法と呼ばれている。位相差を検出する
ためには、ＴＥ１とＴＥ２の和信号の位相を９０°ずら
して差信号と乗算したり（ヘテロダイン法）、ＴＥ１と
ＴＥ２をデジタル化してから位相比較したり、サンプル
ホールドするなど、様々な手法が提案されているが、本
発明においてはＴＥ１とＴＥ２の位相を比較することに
よって、トラッキングエラー信号を得ることが特徴であ
るので、個々の手法については限定されるものではな
い。

【００８５】また、本実施例ではいわゆるプッシュプル
信号でも、トラッキングエラー信号を得ることができ
る。すなわち、トラッキングエラー信号ＴＥを、各光検
出器領域名をその出力として用いて、次の（式１５）と
いう演算によって得る。 TE＝(TE01＋TE02−TE03−TE04)−(TE05＋TE06−TE07＋TE08) （式１５） 特に、録再型情報媒体のように、ピット列が存在せず、
あらかじめトラック溝のみが存在するような場合には、
対象とする情報媒体に応じてトラッキングエラー信号の
検出回路の切り替え手段を備える構成にすることによっ
て、このプッシュプル法によってトラッキングエラー信
号を得て、トラッキングサーボ動作を可能にできる。

【００８６】本発明では、上記のように＋１次回折光の
光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ることが
できるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）
の高いフォーカスエラー信号を得ることができるという
効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用いて
フォーカスエラー信号を得ることができるので、フォー
カスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらがな
く、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることができ
るという効果もある。

【００８７】また、本発明では、上記のように−１次回
折光の光量をすべて用いてトラッキングエラー信号を得
ることができるので、信号強度が大きく信号対雑音比
（Ｓ／Ｎ）の高いトラッキングエラー信号を得ることが
できるという効果がある。

【００８８】また、−１次回折光の光量をすべて用いて
トラッキングエラー信号を得ることができるので、ディ
スク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができる
という効果もある。

【００８９】また、情報信号ＲＦは例えば、次の（式１
６）または（式１７）あるいは（式１６）と（式１７）
との和等の演算によって、容易に得ることができる。 RF＝TE01＋TE02＋TE03＋TE04＋TE05＋TE06＋TE07＋TE08 （式１６） RF＝FE01＋FE02＋FE03＋FE04＋FE05＋FE06 （式１７） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１０を用いて説明する。図１０において、
ＦＥ１１〜ＦＥ１６はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ１１〜ＴＥ１８はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【００９０】＋１次回折光６Ａ１１〜６Ｄ１１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜Ｄより回折し、
光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ１２
〜６Ｄ１２は、それぞれホログラムパターンの分割領域
Ａ〜Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持つ。本実
施例では、ホログラムパターン１５０ａまたは１５０ｂ
の分割領域Ａと領域Ｄ、領域Ｂと領域Ｃはそれぞれ連続
しており、実質的には少なくとも２分割である。

【００９１】−１次回折光６７Ａ１１〜６７Ｄ１１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ１１〜６Ｄ１１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
１２〜６７Ｄ１２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ１２〜
６Ｄ１２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【００９２】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、＋１次回折光６Ａ１１及び６Ｄ１１が、＋１次回
折光６Ｂ１１及び６Ｃ１１に対して、＋Ｙ方向に離れて
いること、また、ジャストフォーカス時において、＋１
次回折光６Ａ１２及び６Ｄ１２が、＋１次回折光６Ｂ１
２及び６Ｃ１２に対して、−Ｙ方向に離れていることが
特徴である。

【００９３】従って、これらの共役波である−１次回折
光も、ジャストフォーカス時において、−１次回折光６
７Ａ１１及び６７Ｄ１１が、−１次回折光６７Ｂ１１及
び６７Ｃ１１に対して、−Ｙ方向に離れている。また、
ジャストフォーカス時において、−１次回折光６７Ａ１
２及び６７Ｄ１２が、−１次回折光６Ｂ１２及び６Ｃ１
２に対して、＋Ｙ方向に離れている。このため、以下の
ような効果がある。

【００９４】本発明の光ヘッド装置の組立時において、
光検出器７４ｂに対して発光点２０の位置がＹ方向にず
れても、−１次回折光が所望の光検出器領域内にあるた
め、組立精度の緩和が実現され、組立コストが安くでき
る。

【００９５】特に、光検出器と光源を例えば図３で示し
たように構成するなどして、光検出器７４ａと７４ｂと
が一体になっている場合に、本発明の光ヘッド装置の組
立時において、発光点２０が光検出器７４ａ、７４ｂに
対してＹ方向にずれた場合、良好なフォーカスエラー信
号を得るためには、ホログラム１７５と光検出器のＺ軸
回りの回転調整によって＋１次回折光と光検出器７４ａ
との位置を調整する必要がある。

【００９６】この調整によって、−１次回折光の光検出
器７４ｂに対するＹ方向のずれは逆に大きくなるが、本
実施例では、−１次回折光６７Ａ１２及び６７Ｄ１２
が、−１次回折光６Ｂ１２及び６Ｃ１２に対して、＋Ｙ
方向に離れているため、−１次回折光は所望の光検出器
領域内にある。従って、発光点２０を光検出器７４ａ、
７４ｂに対して大きな許容誤差を持って組み立てれば良
く、組立コストの低減を実現できるという効果がある。

【００９７】また、本実施例でもフォーカスエラー信号
やトラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明し
た実施例と同様にして得ることができる。フォーカスエ
ラー信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用
いて、次の（式１８）として得ることができる。 FE＝(FE11＋FE13−FE12)−(FE14＋FE16−FE15) （式１８） また、トラッキングエラー信号は、次の２つの演算（式
１９）及び（式２０）によって、２つの時間的に変化す
る信号を得る。そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較す
ることによって、位相差法によるトラッキングエラー信
号を得ることができる。 ＴＥ１＝ＴＥ１１＋ＴＥ１４＋ＴＥ１５＋ＴＥ１８ （式１９） ＴＥ２＝ＴＥ１２＋ＴＥ１３＋ＴＥ１６＋ＴＥ１７ （式２０） また、いわゆるプッシュプル信号でもトラッキングエラ
ー信号は、各光検出器領域名をその出力として用いて、
次の（式２１）という演算によって得る。 TE＝(TE11＋TE12−TE13−TE14)−(TE15＋TE16−TE17＋TE18) （式２１） 特に、例えば録再型情報媒体のように、ピット列が存在
せず、あらかじめトラック溝のみが存在するような場合
には、このプッシュプル法によってトラッキングエラー
信号を得ることによって、トラッキングサーボ動作を可
能にできる。

【００９８】本実施例でも、上記のように＋１次回折光
の光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ること
ができるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／
Ｎ）の高いフォーカスエラー信号を得ることができると
いう効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用
いてフォーカスエラー信号を得ることができるので、フ
ォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらが
なく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果もある。

【００９９】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができると
いう効果もある。

【０１００】また、情報信号ＲＦは例えば、次の（式２
２）または（式２３）もしくは（式２２）と（式２３）
との和等の演算によって、容易に得ることができる。 RF＝TE11＋TE12＋TE13＋TE14＋TE15＋TE16＋TE17＋TE18 （式２２） RF＝FE11＋FE12＋FE13＋FE14＋FE15＋FE16 （式２３） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１１を用いて説明する。図１１において、
ＦＥ２１〜ＦＥ２６はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ２１〜ＴＥ２８はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【０１０１】＋１次回折光６Ａ２１〜６Ｄ２１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜Ｄより回折し、
光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ２２
〜６Ｄ２２は、それぞれホログラムパターンの分割領域
Ａ〜Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持つ。但
し、本実施例では、ホログラムパターン１５０ａまたは
１５０ｂの分割領域Ａと領域Ｂ、領域Ｃと領域Ｄはそれ
ぞれ連続しており、実質的には少なくとも２分割であ
る。

【０１０２】−１次回折光６７Ａ２１〜６７Ｄ２１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ２１〜６Ｄ２１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
２２〜６７Ｄ２２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ２２〜
６Ｄ２２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【０１０３】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、＋１次回折光６Ａ２１及び６Ｂ２１が、＋１次回
折光６Ｃ２１及び６Ｄ２１に対して、＋Ｘ方向に離れて
いること、また、ジャストフォーカス時において、＋１
次回折光６Ａ２２及び６Ｂ２２が、＋１次回折光６Ｃ２
２及び６Ｄ２２に対して、−Ｘ方向に離れていることが
特徴である。

【０１０４】従って、これらの共役波である−１次回折
光も、ジャストフォーカス時において、−１次回折光６
７Ａ２１及び６７Ｂ２１が、−１次回折光６７Ｃ２１及
び６７Ｄ２１に対して、−Ｘ方向に離れている。また、
ジャストフォーカス時において、−１次回折光６７Ａ２
２及び６７Ｂ２２が、−１次回折光６Ｃ２２及び６Ｄ２
２に対して、＋Ｘ方向に離れている。このため、以下の
ような効果がある。

【０１０５】本発明の光ヘッド装置の組立時において、
光検出器７４ｂに対して発光点２０の位置がＸ方向にず
れても、−１次回折光が所望の光検出器領域内にあるた
め、組立精度の緩和が実現され、組立コストが安くでき
る。

【０１０６】さらに、光源の波長が設計値と異なったと
きは、回折光がＸ方向に移動するが、−１次回折光が所
望の光検出器領域内にあり、安定なトラッキングエラー
信号を得ることができるという効果がある。

【０１０７】特に、光検出器と光源とを例えば図３で示
したように構成するなどして、光検出器７４ａと７４ｂ
とが一体になっている場合でも、本発明の光ヘッド装置
の組立時において、発光点２０が光検出器７４ａ、７４
ｂに対してＸ方向にずれても、良好なフォーカスエラー
信号、トラッキングエラー信号を得ることができる。従
って、発光点２０を光検出器７４ａ、７４ｂに対して大
きな許容誤差を持って組み立てれば良く、組立コストの
低減を実現できるという効果がある。

【０１０８】なお、本実施例でもフォーカスエラー信号
やトラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明し
た実施例と同様にして得ることができる。フォーカスエ
ラー信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用
いて、次の（式２４）として得ることができる。 FE＝(FE21＋FE23−FE22)−(FE24＋FE26−FE25) （式２４） また、トラッキングエラー信号は、次の演算（式２５）
及び（式２６）によって、２つの時間的に変化する信号
を得、そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較することに
よって、位相差法によるトラッキングエラー信号を得る
ことができる。 ＴＥ１＝ＴＥ２１＋ＴＥ２４＋ＴＥ２５＋ＴＥ２８ （式２５） ＴＥ２＝ＴＥ２２＋ＴＥ２３＋ＴＥ２６＋ＴＥ２７ （式２６） また、いわゆるプッシュプル信号でもトラッキングエラ
ー信号は、各光検出器領域名をその出力として用いて、
次の（式２７）という演算によって得る。 TE＝(TE21＋TE22−TE23−TE24)−(TE25＋TE26−TE27＋TE28) （式２７） 特に、録再型情報媒体のように、ピット列が存在せず、
あらかじめトラック溝のみが存在するような場合には、
このプッシュプル法によってトラッキングエラー信号を
得ることによって、トラッキングサーボ動作を可能にで
きる。

【０１０９】本実施例でも、上記のように＋１次回折光
の光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ること
ができるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／
Ｎ）の高いフォーカスエラー信号を得ることができると
いう効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用
いてフォーカスエラー信号を得ることができるので、フ
ォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらが
なく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果もある。

【０１１０】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に例えば傷等が存在した場合にも、安定に信号検出
ができるという効果もある。

【０１１１】また、情報信号ＲＦは例えば、次の（式２
８）または（式２９）もしくは（式２８）と（式２９）
との和等によって、容易に得ることができる。 RF＝TE21＋TE22＋TE23＋TE24＋TE25＋TE26＋TE27＋TE28 （式２８） RF＝FE21＋FE22＋FE23＋FE24＋FE25＋FE26 （式２９） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１２を用いて説明する。図１２において、
ＦＥ３１〜ＦＥ３６はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ３１〜ＴＥ３８はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【０１１２】＋１次回折光６Ａ３１〜６Ｄ３１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜Ｄより回折し、
光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ３２
〜６Ｄ３２は、それぞれホログラムパターンの分割領域
Ａ〜Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持つ。本実
施例では、ホログラムパターンは、分割領域Ａ〜領域Ｄ
を有し、少なくとも４分割されている。

【０１１３】−１次回折光６７Ａ３１〜６７Ｄ３１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ３１〜６Ｄ３１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
３２〜６７Ｄ３２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ３２〜
６Ｄ３２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【０１１４】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、＋１次回折光６Ａ３１及び６Ｂ３１が、＋１次回
折光６Ｃ３１及び６Ｄ３１に対して、＋Ｘ方向に離れて
いること、また、ジャストフォーカス時において、＋１
次回折光６Ａ３２及び６Ｂ３２が、＋１次回折光６Ｃ３
２及び６Ｄ３２に対して、−Ｘ方向に離れていること、
さらに、＋１次回折光６Ａ３１及び６Ｄ３１が、＋１次
回折光６Ｂ３１及び６Ｃ３１に対して、＋Ｙ方向に離れ
ていること、また、＋１次回折光６Ａ３２及び６Ｄ３２
が、＋１次回折光６Ｂ３２及び６Ｃ３２に対して、−Ｙ
方向に離れていることが特徴である。

【０１１５】従って、これらの共役波である−１次回折
光も、ジャストフォーカス時において、−１次回折光６
７Ａ３１及び６７Ｂ３１が、−１次回折光６７Ｃ３１及
び６７Ｄ３１に対して、−Ｘ方向に離れている、また、
ジャストフォーカス時において、−１次回折光６７Ａ３
２及び６７Ｂ３２が、−１次回折光６Ｃ３２及び６Ｄ３
２に対して、＋Ｘ方向に離れている。さらにまた、ジャ
ストフォーカス時において、−１次回折光６７Ａ３１及
び６７Ｄ３１が、−１次回折光６７Ｂ３１及び６７Ｃ３
１に対して、−Ｙ方向に離れている、また、ジャストフ
ォーカス時において、−１次回折光６７Ａ３２及び６７
Ｄ３２が、−１次回折光６Ｂ３２及び６Ｃ３２に対し
て、＋Ｙ方向に離れている。このため、以下のような効
果がある。

【０１１６】本実施例の光ヘッド装置の組立時におい
て、光検出器７４ｂに対して発光点２０の位置がＸ方向
にずれても、−１次回折光が所望の光検出器領域内にあ
るため、組立精度の緩和が実現され、組立コストが安く
できる。

【０１１７】さらに、光源の波長が設計値と異なったと
きは、回折光がＸ方向に移動するが、−１次回折光が所
望の光検出器領域内にあり、安定なトラッキングエラー
信号を得ることができるという効果がある。

【０１１８】特に、光検出器と光源とを例えば図３で示
したように構成するなどして、光検出器７４ａと７４ｂ
とが一体になっている場合でも、本光ヘッド装置の組立
時において、発光点２０が光検出器７４ａ、７４ｂに対
してＸ方向にずれても、良好なフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号を得ることができる。従って、
発光点２０を光検出器７４ａ、７４ｂに対して大きな許
容誤差を持って組み立てれば良く、組立コストの低減を
実現できるという効果がある。

【０１１９】さらに、本光ヘッドの組立時において、光
検出器７４ｂに対して発光点２０の位置がＹ方向にずれ
ても、−１次回折光が所望の光検出器領域内にあるた
め、組立精度の緩和が実現され、組立コストが安くでき
る。

【０１２０】特に、光検出器と光源とを例えば図３で示
したように構成するなどして、光検出器７４ａと７４ｂ
とが一体になっている場合に、本光ヘッド装置の組立時
において、発光点２０が光検出器７４ａ、７４ｂに対し
てＹ方向にずれた場合、良好なフォーカスエラー信号を
得るためには、ホログラム１７５と光検出器のＺ軸回り
の回転調整によって、＋１次回折光と光検出器７４ａの
位置を調整する必要がある。

【０１２１】この調整によって、−１次回折光の光検出
器７４ｂに対するＹ方向のずれは逆に大きくなるが、本
実施例では、−１次回折光６７Ａ１２及び６７Ｄ１２
が、−１次回折光６Ｂ１２及び６Ｃ１２に対して、＋Ｙ
方向に離れているため、−１次回折光は所望の光検出器
領域内にある。従って、発光点２０を光検出器７４ａ、
７４ｂに対して大きな許容誤差を持って組み立てれば良
く、組立コストの低減を実現できるという効果がある。

【０１２２】本実施例でも、フォーカスエラー信号やト
ラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明した実
施例と同様にして得ることができる。フォーカスエラー
信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用い
て、次の（式３０）として得ることができる。 FE＝(FE31＋FE33−FE32)−(FE34＋FE36−FE35) （式３０） また、トラッキングエラー信号は、次の演算（式３１）
及び（式３２）によって、２つの時間的に変化する信号
を得、そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較することに
よって、位相差法によるトラッキングエラー信号を得る
ことができる。 ＴＥ１＝ＴＥ３１＋ＴＥ３４＋ＴＥ３５＋ＴＥ３８ （式３１） ＴＥ２＝ＴＥ３２＋ＴＥ３３＋ＴＥ３６＋ＴＥ３７ （式３２） また、いわゆるプッシュプル信号でもトラッキングエラ
ー信号は、各光検出器領域名をその出力として用いて、
次の（式３３）という演算によって得る。 TE＝(TE31＋TE32−TE33−TE34)−(TE35＋TE36−TE37＋TE38) （式３３） 特に、例えば録再型情報媒体のように、ピット列が存在
せず、あらかじめトラック溝のみが存在するような場合
には、このプッシュプル法によってトラッキングエラー
信号を得ることによって、トラッキングサーボ動作を可
能にできる。

【０１２３】本実施例でも、上記のように＋１次回折光
の光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ること
ができるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／
Ｎ）の高いフォーカスエラー信号を得ることができると
いう効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用
いてフォーカスエラー信号を得ることができるので、フ
ォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらが
なく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果もある。

【０１２４】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができると
いう効果もある。

【０１２５】また、情報信号ＲＦは例えば、次の（式３
４）または（式３５）もしくは（式３４）と（式３５）
との和等の演算によって、容易に得ることができる。 RF＝TE31＋TE32＋TE33＋TE34＋TE35＋TE36＋TE37＋TE38 （式３４） RF＝FE31＋FE32＋FE33＋FE34＋FE35＋FE36 （式３５） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１３を用いて説明する。図１３において、
ＦＥ４１〜ＦＥ４３はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ４１〜ＴＥ４４はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【０１２６】＋１次回折光６Ａ４１〜６Ｄ４１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜領域Ｄより回折
し、光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ
４２〜６Ｄ４２は、それぞれホログラムパターンの分割
領域Ａ〜領域Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持
つ。

【０１２７】−１次回折光６７Ａ４１〜６７Ｄ４１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ４１〜６Ｄ４１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
４２〜６７Ｄ４２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ４２〜
６Ｄ４２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【０１２８】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、ある領域から回折した前側に焦点を持つ＋１次回
折光に一番近い後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光は、同
一の領域から回折する後ろ側に焦点をもつ＋１次回折光
である。

【０１２９】例えば、後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光
６Ａ４１に対して、ジャストフォーカス時において、も
っとも近い前側に焦点を持つ＋１次回折光は６Ａ４２で
ある。

【０１３０】また、これらの共役波である−１次回折光
でも同様の配置になっている。例えば、前側に焦点を持
つ−１次回折光６７Ａ４１に対して、ジャストフォーカ
ス時において、もっとも近い後ろ側に焦点を持つ−１次
回折光は６７Ａ４２である。このため、以下のような効
果がある。

【０１３１】本実施例でも、フォーカスエラー信号やト
ラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明した実
施例と同様にして得ることができる。フォーカスエラー
信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用い
て、次の（式３６）として得ることができる。 ＦＥ＝ＦＥ４１＋ＦＥ４３−ＦＥ４２ （式３６） また、トラッキングエラー信号は、次の演算（式３７）
及び（式３８）によって、２つの時間的に変化する信号
を得る。そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較すること
によって、位相差法によるトラッキングエラー信号を得
ることができる。 ＴＥ１＝ＴＥ４１＋ＴＥ４３ （式３７） ＴＥ２＝ＴＥ４２＋ＴＥ４４ （式３８） また、いわゆるプッシュプル信号でもトラッキングエラ
ー信号は、各光検出器領域名をその出力として用いて、
次の（式３９）という演算によって得る。 ＴＥ＝（ＴＥ４１＋ＴＥ４２）−（ＴＥ４３＋ＴＥ４４） （式３９） 特に、例えば録再型情報媒体のように、ピット列が存在
せず、あらかじめトラック溝のみが存在するような場合
には、このプッシュプル法によってトラッキングエラー
信号を得ることによって、トラッキングサーボ動作を可
能にできる。

【０１３２】このように本実施例では光検出器の領域数
が少ないため、光検出器と演算回路との接続経路が少な
くてよく、結線の工程が減って、コストが安くなる上
に、光検出器と外部の接続部が少なくなるために小型化
でき、従って光ヘッド装置も光検出器を小型化できると
いう効果がある。

【０１３３】本実施例でも、＋１次回折光の光量をすべ
て用いてフォーカスエラー信号を得ることができるの
で、フォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量
むらがなく、感度の高いフォーカスエラー信号を得るこ
とができるという効果もある。

【０１３４】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができると
いう効果もある。

【０１３５】また、光源の波長が設計値と異なったとき
は、回折光がＸ方向に移動するが、−１次回折光が所望
の光検出器領域内にあり、安定なトラッキングエラー信
号を得ることができるという効果がある。

【０１３６】また、情報信号ＲＦは、例えば次の（式４
０）などの演算によって容易に得ることができる。 ＲＦ＝ＴＥ４１＋ＴＥ４２＋ＴＥ４３＋ＴＥ４４ （式４０） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１４を用いて説明する。図１４において、
ＦＥ５１〜ＦＥ５３はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ５１〜ＴＥ５４はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【０１３７】＋１次回折光６Ａ５１〜６Ｄ５１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜領域Ｄより回折
し、光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ
５２〜６Ｄ５２は、それぞれホログラムパターンの分割
領域Ａ〜領域Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持
つ。

【０１３８】−１次回折光６７Ａ５１〜６７Ｄ５１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ５１〜６Ｄ５１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
５２〜６７Ｄ５２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ５２〜
６Ｄ５２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【０１３９】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、ある領域から回折した前側に焦点を持つ＋１次回
折光に、一番近い後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光は同
一の領域から回折する後ろ側に焦点をもつ＋１次回折光
であり、かつ、それらはＸ方向にほぼ平行な１本の直線
上にある。

【０１４０】例えば、後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光
６Ａ５１に対して、ジャストフォーカス時において、も
っとも近い前側に焦点を持つ＋１次回折光は６Ａ５２で
ある。そして、６Ａ５１と６Ａ５２とはともに、光検出
器の領域ＦＥ５２とＦＥ５３との境界線上にある。

【０１４１】また、これらの共役波である−１次回折光
でも、同様の配置になっている。例えば、前側に焦点を
持つ−１次回折光６７Ａ５１に対して、ジャストフォー
カス時において、もっとも近い後ろ側に焦点を持つ−１
次回折光は６７Ａ５２である。このため、以下のような
効果がある。

【０１４２】本実施例でも、フォーカスエラー信号やト
ラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明した実
施例と同様にして得ることができる。フォーカスエラー
信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用い
て、次の（式４１）として得ることができる。 ＦＥ＝ＦＥ５１＋ＦＥ５３−ＦＥ５２ （式４１） また、トラッキングエラー信号は、次の演算（式４２）
及び（式４３）によって、２つの時間的に変化する信号
を得、そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較することに
よって、位相差法によるトラッキングエラー信号を得る
ことができる。 ＴＥ１＝ＴＥ５１＋ＴＥ５３ （式４２） ＴＥ２＝ＴＥ５２＋ＴＥ５４ （式４３） また、いわゆるプッシュプル信号でもトラッキングエラ
ー信号は、各光検出器領域名をその出力として用いて、
次の（式４４）という演算によって得る。 ＴＥ＝（ＴＥ５１＋ＴＥ５２）−（ＴＥ５３＋ＴＥ５４） （式４４） 特に、例えば録再型情報媒体のように、ピット列が存在
せず、あらかじめトラック溝のみが存在するような場合
には、このプッシュプル法によってトラッキングエラー
信号を得ることによって、トラッキングサーボ動作を可
能にできる。

【０１４３】このように本実施例では、光検出器の領域
数が少ないため、光検出器と演算回路との接続経路が少
なくてよく、結線の工程が減って、コストが安くなる上
に、光検出器と外部の接続部が少なくなるために光検出
器を小型化でき、従って光ヘッド装置も小型化できると
いう効果がある。

【０１４４】本実施例でも、上記のように＋１次回折光
の光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ること
ができるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／
Ｎ）の高いフォーカスエラー信号を得ることができると
いう効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用
いてフォーカスエラー信号を得ることができるので、フ
ォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらが
なく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果もある。

【０１４５】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができると
いう効果もある。

【０１４６】また、光源の波長が設計値と異なったとき
は、回折光がＸ方向に移動するが、−１次回折光が所望
の光検出器領域内にあり、安定なトラッキングエラー信
号を得ることができるという効果がある。

【０１４７】また、情報信号ＲＦは例えば、次の（式４
５）または（式４６）もしくは（式４５）と（式４６）
との和等の演算によって、容易に得ることができる。 ＲＦ＝ＴＥ５１＋ＴＥ５２＋ＴＥ５３＋ＴＥ５４ （式４５） ＲＦ＝ＦＥ５１＋ＦＥ５２＋ＦＥ５３ （式４６） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１５を用いて説明する。図１５において、
ＦＥ６１〜ＦＥ６３はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ６１〜ＴＥ６４はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【０１４８】＋１次回折光６Ａ６１〜６Ｄ６１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜領域Ｄより回折
し、光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ
６２〜６Ｄ６２は、それぞれホログラムパターンの分割
領域Ａ〜領域Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持
つ。

【０１４９】−１次回折光６７Ａ６１〜６７Ｄ６１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ６１〜６Ｄ６１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
６２〜６７Ｄ６２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ６２〜
６Ｄ６２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【０１５０】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、ある領域から回折した前側に焦点を持つ＋１次回
折光に、一番近い後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光は、
同一の領域から回折する後ろ側に焦点をもつ＋１次回折
光であり、かつ、それらはＸ方向にほぼ平行な１本の直
線上にある。

【０１５１】例えば、後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光
６Ａ６１に対して、ジャストフォーカス時において、も
っとも近い前側に焦点を持つ＋１次回折光は６Ａ６２で
ある。そして、６Ａ６１と６Ａ６２はともに光検出器の
領域ＦＥ６２とＦＥ６３の境界線上にある。

【０１５２】また、これらの共役波である−１次回折光
でも同様の配置になっている。例えば、前側に焦点を持
つ−１次回折光６７Ａ５１に対して、ジャストフォーカ
ス時において、もっとも近い後ろ側に焦点を持つ−１次
回折光は６７Ａ５２である。

【０１５３】さらに、＋１次回折光６Ａ６１及び６Ｄ６
１が、＋１次回折光６Ｂ６１及び６Ｃ６１に対して、＋
Ｙ方向に離れている。また、＋１次回折光６Ａ６２及び
６Ｄ６２が、＋１次回折光６Ｂ６２及び６Ｃ６２に対し
て、−Ｙ方向に離れている。

【０１５４】従って、これらの共役波である−１次回折
光も、ジャストフォーカス時において、−１次回折光６
７Ａ６１及び６７Ｄ６１が、−１次回折光６７Ｂ６１及
び６７Ｃ６１に対して、−Ｙ方向に離れている、また、
ジャストフォーカス時において、−１次回折光６７Ａ６
２及び６７Ｄ６２が、−１次回折光６Ｂ６２及び６Ｃ６
２に対して、＋Ｙ方向に離れている。このため、以下の
ような効果がある。

【０１５５】本発明の光ヘッド装置の組立時において、
光検出器７４ｂに対して発光点２０の位置がＹ方向にず
れても、−１次回折光が所望の光検出器領域内にあるた
め、組立精度の緩和が実現され、組立コストが安くでき
る。

【０１５６】特に、光検出器と光源とを例えば図３で示
したように構成するなどして、光検出器７４ａと７４ｂ
とが一体になっている場合に、本発明の光ヘッド装置の
組立時において、発光点２０が光検出器７４ａ、７４ｂ
に対してＹ方向にずれた場合、良好なフォーカスエラー
信号を得るためには、ホログラム１７５と光検出器のＺ
軸回りの回転調整によって、＋１次回折光と光検出器７
４ａの位置を調整する必要がある。この調整によって、
−１次回折光の光検出器７４ｂに対するＹ方向のずれは
逆に大きくなるが、本実施例では、−１次回折光６７Ａ
６２及び６７Ｄ６２が、−１次回折光６Ｂ６２及び６Ｃ
６２に対して、＋Ｙ方向に離れているため、−１次回折
光は所望の光検出器領域内にある。従って、発光点２０
を光検出器７４ａ、７４ｂに対して大きな許容誤差を持
って組み立てれば良く、組立コストの低減を実現できる
という効果がある。

【０１５７】さらに、光源の波長が設計値と異なったと
きは、回折光がＸ方向に移動するが、−１次回折光が所
望の光検出器領域内にあり、安定なトラッキングエラー
信号を得ることができるという効果がある。

【０１５８】また、本実施例でもフォーカスエラー信号
やトラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明し
た実施例と同様にして得ることができる。フォーカスエ
ラー信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用
いて、下記（式４７）として得ることができる。 ＦＥ＝ＦＥ６１＋ＦＥ６３−ＦＥ６２ （式４７） また、トラッキングエラー信号は、次の（式４８）及び
（式４９）の演算によって、２つの時間的に変化する信
号を得る。そして、ＴＥ１とＴＥ２の位相を比較するこ
とによって、位相差法によるトラッキングエラー信号を
得ることができる。 ＴＥ１＝ＴＥ６１＋ＴＥ６３ （式４８） ＴＥ２＝ＴＥ６２＋ＴＥ６４ （式４９） また、いわゆるプッシュプル信号でもトラッキングエラ
ー信号は、各光検出器領域名をその出力として用いて、
下記（式５０）という演算によって得る。 ＴＥ＝（ＴＥ６１＋ＴＥ６２）−（ＴＥ６３＋ＴＥ６４） （式５０） 特に、例えば録再型情報媒体のように、ピット列が存在
せず、あらかじめトラック溝のみが存在するような場合
には、このプッシュプル法によってトラッキングエラー
信号を得ることによって、トラッキングサーボ動作を可
能にできる。

【０１５９】このように本実施例では光検出器の領域数
が少ないため、光検出器と演算回路との接続経路が少な
くてよく、結線の工程が減って、コストが安くなる上
に、光検出器と外部の接続部が少なくなるため、光検出
器を小型化でき、従って光ヘッド装置も小型化できると
いう効果がある。

【０１６０】本実施例でも、上記のように＋１次回折光
の光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ること
ができるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／
Ｎ）の高いフォーカスエラー信号を得ることができると
いう効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用
いてフォーカスエラー信号を得ることができるので、フ
ォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらが
なく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果もある。

【０１６１】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができると
いう効果もある。

【０１６２】また、情報信号ＲＦは例えば、下記（式５
１）または（式５２）もしくは（式５１）と（式５２）
との和等によって、容易に得ることができる。 ＲＦ＝ＴＥ６１＋ＴＥ６２＋ＴＥ６３＋ＴＥ６４ （式５１） ＲＦ＝ＦＥ６１＋ＦＥ６２＋ＦＥ６３ （式５２） 本発明で用いる光検出器とその光検出器上の回折光との
次の例を、図１６を用いて説明する。図１６において、
ＦＥ７１〜ＦＥ７３はフォーカスエラー信号検出用光検
出器であり、これらは図１などの光検出器７４ａに相当
する。また、ＴＥ７１〜ＴＥ７４はトラッキングエラー
信号検出用光検出器で、これらは図１などの光検出器７
４ｂに相当する。

【０１６３】＋１次回折光６Ａ７１〜６Ｄ７１は、それ
ぞれホログラムパターンの分割領域Ａ〜領域Ｄより回折
し、光検出器の後ろ側に焦点を持つ。＋１次回折光６Ａ
７２〜６Ｄ７２は、それぞれホログラムパターンの分割
領域Ａ〜領域Ｄより回折し、光検出器の前側に焦点を持
つ。

【０１６４】−１次回折光６７Ａ７１〜６７Ｄ７１は、
それぞれ＋１次回折光６Ａ７１〜６Ｄ７１の共役波であ
り、光検出器の前側に焦点を持つ。−１次回折光６７Ａ
７２〜６７Ｄ７２は、それぞれ＋１次回折光６Ａ７２〜
６Ｄ７２の共役波であり、光検出器の後ろ側に焦点を持
つ。

【０１６５】本実施例では、ジャストフォーカス時にお
いて、ある領域から回折した前側に焦点を持つ＋１次回
折光に、一番近い後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光は、
同一の領域から回折する後ろ側に焦点をもつ＋１次回折
光であり、かつ、それらはＸ方向にほぼ平行な１本の直
線上にある。

【０１６６】例えば、後ろ側に焦点を持つ＋１次回折光
６Ａ７１に対して、ジャストフォーカス時において、も
っとも近い前側に焦点を持つ＋１次回折光は６Ａ７２で
ある。そして、６Ａ７１と６Ａ７２はともに光検出器の
領域ＦＥ７２とＦＥ７３の境界線上にある。

【０１６７】また、これらの共役波である−１次回折光
でも同様の配置になっている。例えば、前側に焦点を持
つ−１次回折光６７Ａ７１に対して、ジャストフォーカ
ス時において、もっとも近い後ろ側に焦点を持つ−１次
回折光は６７Ａ７２である。

【０１６８】さらに、＋１次回折光６Ａ６１及び６Ｄ６
１が、＋１次回折光６Ｂ６１及び６Ｃ６１に対して、＋
Ｙ方向に離れている。また、＋１次回折光６Ａ６２及び
６Ｄ６２が、＋１次回折光６Ｂ６２及び６Ｃ６２に対し
て、−Ｙ方向に離れている。

【０１６９】従って、これらの共役波である−１次回折
光も、ジャストフォーカス時において、−１次回折光６
７Ａ６１及び６７Ｄ６１が、−１次回折光６７Ｂ６１及
び６７Ｃ６１に対して、−Ｙ方向に離れている、また、
ジャストフォーカス時において、−１次回折光６７Ａ６
２及び６７Ｄ６２が、−１次回折光６Ｂ６２及び６Ｃ６
２に対して、＋Ｙ方向に離れている。

【０１７０】さらに、−１次回折光は、ホログラムの領
域Ａおよび領域Ｃから回折したものと、ホログラムの領
域Ｂと領域Ｄから回折したものが、１本の領域線Ｌ１に
よって分離可能であることも本実施例の特徴である。こ
のため、以下のような効果がある。

【０１７１】光源の波長が設計値と異なったときは、回
折光がＸ方向に移動するが、−１次回折光が所望の光検
出器領域内にあり、安定なトラッキングエラー信号を得
ることができるという効果がある。

【０１７２】また、本光ヘッドの組立時において光検出
器７４ｂに対して発光点２０の位置がＹ方向にずれて
も、−１次回折光が所望の光検出器領域内にあるため、
組立精度の緩和が実現され、組立コストが安くできる。

【０１７３】特に、光検出器と光源とを例えば図３で示
したように構成するなどして、光検出器７４ａと７４ｂ
とが一体になっている場合に、本光ヘッド装置の組立時
において、発光点２０が光検出器７４ａ、７４ｂに対し
てＹ方向にずれた場合、良好なフォーカスエラー信号を
得るためには、ホログラム１７５と光検出器のＺ軸回り
の回転調整によって、＋１次回折光と光検出器７４ａの
位置を調整する必要がある。この調整によって、−１次
回折光の光検出器７４ｂに対するＹ方向のずれは逆に大
きくなるが、本実施例では、−１次回折光６７Ａ６２及
び６７Ｄ６２が、−１次回折光６Ｂ６２及び６Ｃ６２に
対して、＋Ｙ方向に離れているため、−１次回折光は所
望の光検出器領域内にある。従って、発光点２０を光検
出器７４ａ、７４ｂに対して大きな許容誤差を持って組
み立てれば良く、組立コストの低減を実現できるという
効果がある。

【０１７４】本実施例でも、フォーカスエラー信号やト
ラッキングエラー信号及び情報信号を、先に説明した実
施例と同様にして得ることができる。フォーカスエラー
信号ＦＥは、各光検出器領域名をその出力として用い
て、下記（式５３）として得ることができる。 ＦＥ＝ＦＥ７１＋ＦＥ７３−ＦＥ７２ （式５３） また、トラッキングエラー信号は、ＴＥ７１とＴＥ７２
の位相を比較することによって、位相差法によるトラッ
キングエラー信号を得ることができる。

【０１７５】このように本実施例では、光検出器の領域
数が特に少ないため、光検出器と演算回路との接続経路
が少なくてよく、結線の工程が減って、コストが安くな
る上に、光検出器と外部の接続部が少なくなるために光
検出器を小型化でき、従って光ヘッド装置も小型化でき
るという顕著な効果がある。

【０１７６】特に、トラッキングエラー信号検出用光検
出器の数が少なく、位相を比較するだけで位相差法によ
るＴＥ信号を得ることができ、演算回路が少ない分低コ
スト化できるという効果がある。

【０１７７】本実施例でも、上記のように＋１次回折光
の光量をすべて用いてフォーカスエラー信号を得ること
ができるので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／
Ｎ）の高いフォーカスエラー信号を得ることができると
いう効果がある。また、＋１次回折光の光量をすべて用
いてフォーカスエラー信号を得ることができるので、フ
ォーカスエラー信号検出用回折光にＹ方向の光量むらが
なく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることがで
きるという効果もある。

【０１７８】また、上記のように−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、−１次回折光の光量をすべて用いてト
ラッキングエラー信号を得ることができるので、ディス
ク上に傷が存在した場合にも安定に信号検出ができると
いう効果もある。

【０１７９】また、情報信号ＲＦは例えば、下記（式５
４）または（式５５）もしくは（式５４）と（式５４）
との和等にとって、容易に得ることができる。 ＲＦ＝ＴＥ７１＋ＴＥ７２ （式５４） ＲＦ＝ＦＥ７１＋ＦＥ７２＋ＦＥ７３ （式５５） なお、上記実施例はいわゆる無限光学系を用いて説明し
てきたが、例えば図１７に示すようにコリメートレンズ
を省くて有限光学系としてもよい。コリメートレンズを
省くことにより部品点数を削減し、低コスト化と光ヘッ
ドの小型化を図ることができるという効果を得ることが
できる。

【０１８０】また、本発明の光ヘッド装置の他の実施例
を、図１８に示す。図１に示した、実施例との違いは、
１／４波長板１５及び偏光異方性ホログラム１７３が、
対物レンズ４とは一体化されていない点である。本実施
例は、以下の効果を有する。

【０１８１】駆動手段１１０によって微動する部品が少
ないため、軽量であり、フォーカス追従やトラッキング
追従の性能が向上する。また、駆動に要する消費電力が
少なくて済む。さらに、駆動装置の小型化が可能にな
る。

【０１８２】また、放射光源２の経時的な特性変化防止
のため、パッケージ４２１に入れることが望ましいが、
偏光異方性ホログラム１７３をこのパッケージ４２１の
出射窓としても用いることにより、部品点数の削減と低
コスト化軽量化を図ることができる。

【０１８３】さらに、本発明の光ヘッド装置の他の実施
例を、図１９に示す。図１８に示した、実施例との違い
は、１／４波長板１５が不要で、ホログラム１０３が透
明なガラス等で作製されていることである。

【０１８４】ホログラム１０３は例えば、図２０に示す
ように透明な基板上に凹凸を形成するなどして容易に作
製可能である。本実施例は、以下の効果を有する。

【０１８５】駆動手段１１０によって微動する部品が少
ないため、軽量であり、フォーカス追従やトラッキング
追従の性能が向上する。また、駆動に要する消費電力が
少なくて済む。さらに、駆動装置の小型化が可能にな
る。

【０１８６】また、図１８の実施例と同様に、放射光源
２の経時的な特性変化防止のため、パッケージに入れる
ことが望ましいが、ホログラム１０３をこのパッケージ
の出射窓としても用いることにより、部品点数の削減と
低コスト化軽量化を図ることができる。

【０１８７】また、１／４波長板１５が不要であるの
で、部品点数の削減と低コスト化軽量化を図ることがで
きる。

【０１８８】さらに、ホログラム１０３がガラス等で作
製されているため、プレス法などにより複製を量産する
事も容易であり、非常に安価である。

【０１８９】さらに、本発明の光ヘッド装置の他の実施
例を、図２１に示す。２は半導体レーザ光源である。こ
の半導体レーザー２から出射した光ビーム３（レーザ
光）はコリメートレンズ１２２によって略平行光にな
り、ビームスプリッター３６を透過して対物レンズ４に
入射し、情報媒体５上に集光される。情報媒体５で反射
した光ビ−ムは、ビームスプリッター３６で反射され、
集束レンズ１２１によって集光され、ホログラム１０３
によって回折された−１次回折光６７及び＋１次回折光
６と、０次回折光６４とが光検出器７４に入射する。光
検出器７４の出力を演算することによって、サーボ信号
（フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号）及
び、情報信号を得ることができる。

【０１９０】本実施例では、コリメートレンズ１２２の
開口数（ＮＡ）を大きくすることによって、光ビーム３
のより多くの光量を対物レンズ４の有効開口内に導き光
の利用効率をより高くすることができ、かつ、集束レン
ズ１２１の開口数（ＮＡ）を小さくし、対物レンズ４に
対する縦倍率を大きくすることによって、フォーカスエ
ラー信号の感度を大きくすることができるという効果が
ある。

【０１９１】さらに、放射光源２とコリメートレンズ１
２２との間に、例えばくさび型プリズムやアナモルフィ
ックレンズなどの波形整形手段を挿入することによっ
て、情報媒体５上での集光スポットをより小さく集光す
ることができるという効果も得ることができる。

【０１９２】また、ビームスプリッター３６のかわり
に、偏光ビームスプリッターと１／４波長板とを用いる
ことによって、光の利用効率を高くし、放射光源２への
戻り光量を減らすことによって、放射光源２に半導体レ
ーザーを用いた場合でも戻り光ノイズの発生を避けるこ
とができるという効果がより顕著になる。

【０１９３】また、光検出器７４は光軸方向（Ｚ１方
向）の位置を任意に変えることができるので、ジャスト
フォーカス次における−１次回折光の形状を例えば図２
２に示すように、＋１次回折光と同じように設計するこ
とも可能であるので、光検出器７４ｂの組立位置許容度
をより大きくすることができ、組立コストを削減するこ
とができるという効果がある。

【０１９４】さらに、本発明の光ヘッド装置を用いて構
成した光情報装置の実施例を、図２３に示す。図２３に
おいて情報媒体５は、情報媒体駆動機構４０５によって
回転される。光ヘッド装置３１１は、前記情報媒体５の
所望の情報の存在するトラックのところまで、光ヘッド
装置駆動装置３１２によって粗動される。

【０１９５】前記光ヘッド装置３１２は、また、前記情
報媒体５との位置関係に対応して、フォーカスエラー信
号やトラッキングエラー信号を電気回路４０３へ送る。
前記電気回路４０３はこの信号に対応して、前記光ヘッ
ド装置３１１へ、対物レンズを微動させるための信号を
送る。この信号によって、前記光ヘッド装置は、前記光
ディスクに対してフォーカスサーボと、トラッキングサ
ーボを行い、前記情報媒体５に対して、情報の読みだ
し、または書き込みや消去を行う。

【０１９６】本実施例の光情報装置は、光ヘッド装置３
１１として、本発明で上述したＳ／Ｎ比が非常によい情
報信号を得ることのできる光ヘッド装置を用いるので、
情報の再生を正確かつ、安定に実行することができると
いう効果を有する。

【０１９７】また、本発明の光ヘッド装置は、小型かつ
軽量であるため、これを用いた本実施例の光情報装置
も、小型かつ軽量で、アクセス時間も短い、という効果
を有する。

【０１９８】また、本発明の光ヘッド装置は、位相差法
でＴＥ信号を検出することにより、ホログラム素子の設
定位置が正規の位置とは異なる場合でも、オフセットの
生じない安定なＴＥ信号を得ることができるので、情報
の再生を正確かつ、安定に実行することができるという
効果を有する。

【０１９９】

【発明の効果】以上に述べたことから明らかなように、
本発明では以下のような効果が得られる。

【０２００】（１）＋１次回折光の光量をすべて用いて
フォーカスエラー信号を得ることができるので、信号強
度が大きく信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）の高いフォーカスエ
ラー信号を得ることができるという効果がある。また、
同上と同じ理由で、フォーカスエラー信号検出用回折光
にＹ方向（光検出器の分割線に垂直な方向）の光量むら
がなく、感度の高いフォーカスエラー信号を得ることが
できるという効果がある。

【０２０１】また、本発明では、−１次回折光の光量を
すべて用いてトラッキングエラー信号を得ることができ
るので、信号強度が大きく信号対信号比（Ｓ／Ｎ）の高
いトラッキングエラー信号を得ることができるという効
果がある。また、同上と同じ理由で、ディスク上に傷が
存在した場合にも安定に信号検出ができるという効果も
ある。

【０２０２】

【０２０３】

【０２０４】

【０２０５】

【０２０６】

【０２０７】

【０２０８】（２）フォーカスサーボ信号の検出方式と
してＳＳＤ法を用いることにより、組み立て許容誤差の
さらに大きな光ヘッド装置を構成できる。

【０２０９】（３）また、出力信号の位相を比較する位
相比較回路を具備し、前記位相比較回路によって得られ
る位相差を用いてトラッキングエラー信号を得るように
すれば、位相差法よってトラッキングサーボ信号を得
て、トラッキングサーボ動作を可能にできる。 （４）また、領域Ａ及び領域Ｂに対して領域Ｃ及び領域
Ｄは、ほぼＹ方向に延びる直線によって分割され、ａｍ
＋ｂｍとｃｍ＋ｄｍとを用いてトラッキングエラー信号
を得るようにすれば、ピット列が存在せず、あらかじめ
トラック溝のみが存在する情報媒体に対し、プッシュプ
ル法よってトラッキングサーボ信号を得て、トラッキン
グサーボ動作を可能にできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例の光ヘッド装置の概略断面図

【図２】本発明の実施例の偏光異方性ホログラムの構造
断面図

【図３】本発明の実施例の光検出器と放射光源のハイブ
リッド素子の斜視図

【図４】本発明の要件であるホログラムパターンの一例
を表す平面図

【図５】本発明の実施例で用いる光検出器の前側に焦点
を持つ回折光の説明のための線図的断面図

【図６】本発明の実施例で用いる光検出器の後ろ側に焦
点を持つ回折光の説明のための線図的断面図

【図７】本発明の要件であるホログラムパターンの一例
を表す平面図

【図８】本発明の要件である光検出器上での回折光の一
例の様子を表す平面図

【図９】（ａ）は、本発明の実施例の光検出器上での＋
１次回折光の一例を表し、デフォーカスの状態を示す平
面図 （ｂ）は、本発明の実施例の光検出器上での＋１次回折
光の一例を表し、ジャストフォーカスの状態を示す平面
図 （ｃ）は、本発明の実施例の光検出器上での＋１次回折
光の一例を表し、（ａ）とは異なるデフォーカスの状態
を示す平面図

【図１０】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１１】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１２】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１３】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１４】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１５】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１６】本発明の要件である光検出器上での回折光の
一例の様子を表す平面図

【図１７】本発明の光ヘッド装置の一実施例の概略断面
図

【図１８】本発明の光ヘッド装置の一実施例の概略断面
図

【図１９】本発明の光ヘッド装置の一実施例の概略断面
図

【図２０】本発明のホログラムの一実施態様の断面図

【図２１】本発明の光ヘッド装置の一実施例の概略断面
図

【図２２】本発明の要件である光検出器上での回折光の
様子の一例を表す平面図

【図２３】本発明の光情報装置の一実施例の概略断面図

【図２４】従来の光ヘッド装置の概略断面図

【図２５】（ａ）は、従来の光ヘッド装置におけるホロ
グラムパターンを説明する図 （ｂ）は、従来の光ヘッド装置における光検出器上での
回折光の様子を表す平面図

【符号の説明】

２ 放射光源 ３ 光ビーム ４ 対物レンズ ５ 情報媒体 ６、６Ａ０１〜６Ｄ７２ 復路の＋１次回折光 ６７、６７Ａ０１〜６７Ｄ７２ 復路の−１次回折光 ７、７４ａ，ｂ 光検出器 １３ 保持手段 １５ λ／４波長板 １１０ 駆動手段 １０３ ホログラム １７３、１７５ 偏光異方性ホログラム

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−73953（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−355221（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−109111（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−307759（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−270139（ＪＰ，Ａ) 国際公開93／09535（ＷＯ，Ａ１) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/22 G11B 11/00 - 11/26

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】放射光源と、前記放射光源からの光ビーム
   を受け情報媒体上へ微小スポットに収束する集光光学系
   と、前記情報媒体で反射した光ビームを受け光電流を出
   力する複数の光検出部を含む光検出器と、前記情報媒体
   で反射した光ビームを回折光として回折させ、前記光検
   出器へ光ビームを導くためのホログラムとを具備し、 前記ホログラムは、情報媒体で反射された光ビームを受
   けるほぼ中心を原点として、Ｙ軸を前記情報媒体のピッ
   ト列または溝方向とほぼ一致する方向（すなわちタンジ
   ェンシャル方向）、Ｘ軸をＹ軸とほぼ垂直な方向とした
   仮想のＸ−Ｙ座標系を定義したときに、前記Ｘ−Ｙ座標
   系の各象限に、それぞれ少なくとも１つずつの回折領域
   を有し、各回折領域を時計回りに領域Ａ、領域Ｂ、領域
   Ｃ、領域Ｄとし、前記領域ＡからはＮ次の回折光とし
   て、前記光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あ
   るいは焦点を持つＡ１ＰとＡ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次
   回折光Ａ１ＰとＡ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ
   次回折光Ａ１ＭとＡ２Ｍとを、前記光検出器の第１の検
   出領域ＡＭで受光して出力ａｍを取り出し、前記領域Ｂ
   からはＮ次の回折光として、前記光検出器面のそれぞれ
   前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＢ１ＰとＢ２
   Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ｂ１ＰとＢ２Ｐとのそれ
   ぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ｂ１ＭとＢ２Ｍとを、
   前記光検出器の第２の検出領域ＢＭで受光して出力ｂｍ
   を取り出し、前記領域ＣからはＮ次の回折光として、前
   記光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あるいは
   焦点を持つＣ１ＰとＣ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光
   Ｃ１ＰとＣ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ次回折
   光Ｃ１ＭとＣ２Ｍとを、前記光検出器の第３の検出領域
   ＣＭで受光して出力ｃｍを取り出し、前記領域Ｄからは
   Ｎ次の回折光として、前記光検出器面のそれぞれ前側と
   後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＤ１ＰとＤ２Ｐとが
   回折し、前記Ｎ次回折光Ｄ１ＰとＤ２Ｐとのそれぞれの
   共役波である−Ｎ次回折光Ｄ１ＭとＤ２Ｍとを、前記光
   検出器の第４の検出領域ＤＭで受光して出力ｄｍを取り
   出し、前記出力ａｍ、ｂｍ、ｃｍ、ｄｍを用いてトラッ
   キングエラー信号を得ることを特徴とする光ヘッド装
   置。
2. 【請求項２】出力信号の位相を比較する位相比較回路を
   具備し、前記位相比較回路によって得られる位相差を用
   いてトラッキングエラー信号を得ることを特徴とする請
   求項１記載の光ヘッド装置。
3. 【請求項３】領域Ａ及び領域Ｂに対して領域Ｃ及び領域
   Ｄは、ほぼＹ方向に延びる直線によって分割され、ａｍ
   ＋ｂｍとｃｍ＋ｄｍとを用いてトラッキングエラー信号
   を得ることを特徴とする請求項１または２のいずれかに
   記載の光ヘッド装置。
4. 【請求項４】放射光源と、前記放射光源からの光ビーム
   を受け情報媒体上へ微小スポットに収束する集光光学系
   と、前記情報媒体で反射した光ビームを受け光電流を出
   力する複数の光検出部を含む光検出器と、前記情報媒体
   で反射した光ビームを回折光として回折させて、前記光
   検出器へ光ビームを導くためのホログラムとを具備し、
   前記回折光を前記光検出器で受光して得られる出力から
   フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を取り
   出す請求項１から３のいずれかに記載光ヘッド装置を具
   備することを特徴とする光情報装置。
5. 【請求項５】ホログラムは、情報媒体で反射された光ビ
   ームを受けるほぼ中心を原点として、Ｙ軸を前記情報媒
   体のピット列または溝方向とほぼ一致する方向（すなわ
   ちタンジェンシャル方向）、Ｘ軸をＹ軸とほぼ垂直な方
   向とした仮想のＸ−Ｙ座標系を定義したときに、前記Ｘ
   −Ｙ座標系の各象限に、それぞれ少なくとも１つずつの
   回折領域を有し、各回折領域を時計回りに領域Ａ、領域
   Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄとし、前記領域ＡからはＮ次の回折
   光として、光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線
   あるいは焦点を持つＡ１ＰとＡ２Ｐとが回折し、前記Ｎ
   次回折光Ａ１ＰとＡ２Ｐとのそれぞれの共役波である−
   Ｎ次回折光Ａ１ＭとＡ２Ｍとを、前記光検出器の第１の
   検出領域ＡＭで受光して出力ａｍを取り出し、前記領域
   ＢからはＮ次の回折光として、前記光検出器面のそれぞ
   れ前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＢ１ＰとＢ
   ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ｂ１ＰとＢ２Ｐとのそ
   れぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ｂ１ＭとＢ２Ｍと
   を、前記光検出器の第２の検出領域ＢＭで受光して出力
   ｂｍを取り出し、前記領域ＣからはＮ次の回折光とし
   て、前記光検出器面のそれぞれ前側と後ろ側とに焦線あ
   るいは焦点を持つＣ１ＰとＣ２Ｐとが回折し、前記Ｎ次
   回折光Ｃ１ＰとＣ２Ｐとのそれぞれの共役波である−Ｎ
   次回折光Ｃ１ＭとＣ２Ｍとを、前記光検出器の第３の検
   出領域ＣＭで受光して出力ｃｍを取り出し、前記領域Ｄ
   からはＮ次の回折光として、前記光検出器面のそれぞれ
   前側と後ろ側とに焦線あるいは焦点を持つＤ１ＰとＤ２
   Ｐとが回折し、前記Ｎ次回折光Ｄ１ＰとＤ２Ｐとのそれ
   ぞれの共役波である−Ｎ次回折光Ｄ１ＭとＤ２Ｍとを、
   前記光検出器の第４の検出領域ＤＭで受光して出力ｄｍ
   を取り出し、 さらに、前記出力ａｍ、ｂｍ、ｃｍ、ｄｍがトラッキン
   グエラー信号検出用信号であって、 前記ホログラムが前記光検出器及び前記放射光源と一体
   集積化されていることを特徴とする半導体レーザーと光
   検出器のハイブリッド素子。