JP3466618B2 - 核スピントモグラフィ設備におけるｈｆ送信または受信装置の自動的インピーダンス整合装置およびその作動方法 - Google Patents
核スピントモグラフィ設備におけるｈｆ送信または受信装置の自動的インピーダンス整合装置およびその作動方法Info
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/32—Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、核スピントモグラフィ設備における高周波
（HF）送信または受信装置を、２つのそれと接続されて
いる調整可能な操作要素を有する整合回路網を含んでい
る可変整合回路を介して、連結されている送信または受
信アンテナに自動的にインピーダンス整合させるための
装置に関する。本装置はアンテナと検査対象体との交互
作用のもとに送信および受信装置のほうに向けられた整
合回路の入力端における反射率を検出するための手段
と、操作要素の調整量を計算しかつ調整するための手段
を有する電子式制御装置とを有する。このような整合装
置はドイツ特許出願公開第4035994号明細書に記載され
ている。さらに本発明はこのような装置を作動させるた
めの方法に関する。
（HF）送信または受信装置を、２つのそれと接続されて
いる調整可能な操作要素を有する整合回路網を含んでい
る可変整合回路を介して、連結されている送信または受
信アンテナに自動的にインピーダンス整合させるための
装置に関する。本装置はアンテナと検査対象体との交互
作用のもとに送信および受信装置のほうに向けられた整
合回路の入力端における反射率を検出するための手段
と、操作要素の調整量を計算しかつ調整するための手段
を有する電子式制御装置とを有する。このような整合装
置はドイツ特許出願公開第4035994号明細書に記載され
ている。さらに本発明はこのような装置を作動させるた
めの方法に関する。
核スピントモグラフィ設備においては、必要な高周波
（HF）送信または受信装置は負荷または源である送信ま
たは受信アンテナに接続されなければならない。しかし
このアンテナのインピーダンスは一定ではない。このイ
ンピーダンス変化の原因は種々の検査対象体、特に患者
とのその交互作用（負荷）である。しかし他方におい
て、送信または受信装置は、送信時にはパワー整合を受
信時にはノイズ整合を有するように、それに対して最適
なたとえば50Ωの特定のインピーダンスにおいて作動さ
せられなければならない。従って通常、送信または受信
装置と受信または送信アンテナとの間に可変の整合回路
が設けられ、この整合回路が各負荷インピーダンスに対
して新たに調整されなければならない。典型的にはその
ためにインピーダンスの有効および無効成分に影響を与
えることを許す２つの操作要素、たとえば回転コンデン
サが整合回路に設けられている。しかし、相い異なる検
査対象体に関係してこれらの操作要素の最適な調整量が
そのつど新たに求められなければならない。
（HF）送信または受信装置は負荷または源である送信ま
たは受信アンテナに接続されなければならない。しかし
このアンテナのインピーダンスは一定ではない。このイ
ンピーダンス変化の原因は種々の検査対象体、特に患者
とのその交互作用（負荷）である。しかし他方におい
て、送信または受信装置は、送信時にはパワー整合を受
信時にはノイズ整合を有するように、それに対して最適
なたとえば50Ωの特定のインピーダンスにおいて作動さ
せられなければならない。従って通常、送信または受信
装置と受信または送信アンテナとの間に可変の整合回路
が設けられ、この整合回路が各負荷インピーダンスに対
して新たに調整されなければならない。典型的にはその
ためにインピーダンスの有効および無効成分に影響を与
えることを許す２つの操作要素、たとえば回転コンデン
サが整合回路に設けられている。しかし、相い異なる検
査対象体に関係してこれらの操作要素の最適な調整量が
そのつど新たに求められなければならない。
この最適な調整量を求めるため、送信または受信装置
と整合回路の回路網との間の導線上で同調過程の間に連
続的に整合回路網へ反射率の大きさが測定される。その
際に手動または自動で操作要素が、反射率の大きさが十
分に小さくなるまで、たとえば５％以下になるまで、系
統的に調節される。これにより最適な調整が近似的に達
成される（前記ドイツ特許出願公開明細書を参照） 探索の間に操作要素の多くの調整が試みられなければ
ならず、また相応に多くの測定が行われなければなら
い。このことは、特に機械的に操作される操作要素が使
用されるならば、相応に高い時間的コストと結び付けら
れている。また操作量と反射率の大きさとの間の関係が
しばしば簡単には予測可能でない。なぜならば、それは
整合回路の回路網の選ばれた回路および構成形式に関係
するだけでなく、未知のアンテナインピーダンスにも関
係するからである。それにより最適な調整を求めての系
統的な探索が困難になる。
と整合回路の回路網との間の導線上で同調過程の間に連
続的に整合回路網へ反射率の大きさが測定される。その
際に手動または自動で操作要素が、反射率の大きさが十
分に小さくなるまで、たとえば５％以下になるまで、系
統的に調節される。これにより最適な調整が近似的に達
成される（前記ドイツ特許出願公開明細書を参照） 探索の間に操作要素の多くの調整が試みられなければ
ならず、また相応に多くの測定が行われなければなら
い。このことは、特に機械的に操作される操作要素が使
用されるならば、相応に高い時間的コストと結び付けら
れている。また操作量と反射率の大きさとの間の関係が
しばしば簡単には予測可能でない。なぜならば、それは
整合回路の回路網の選ばれた回路および構成形式に関係
するだけでなく、未知のアンテナインピーダンスにも関
係するからである。それにより最適な調整を求めての系
統的な探索が困難になる。
従って本発明の課題は、冒頭に記載した特徴を有する
整合装置を、従来技術における前記の困難が回避できる
ように構成することにある。特に迅速な半自動または全
自動のインピーダンス整合が任意の検査対象体において
可能でなければならい。さらに、このような整合装置を
作動させるための方法を提供することも本発明の課題で
ある。
整合装置を、従来技術における前記の困難が回避できる
ように構成することにある。特に迅速な半自動または全
自動のインピーダンス整合が任意の検査対象体において
可能でなければならい。さらに、このような整合装置を
作動させるための方法を提供することも本発明の課題で
ある。
これらの課題は本発明によれば、請求項１または請求
項４にあげられている措置により解決される。
項４にあげられている措置により解決される。
本発明による整合装置は下記の特徴、すなわち
１）制御装置の計算手段に、４つのポートとして入力端
と出力端と操作要素の両接続個所とを有する線形４ポー
ト回路としての整合回路網が付設されており、 ２）計算手段は整合回路の入力端における複素反射率か
らアンテナの複素反射率を求めるため、またアンテナの
複素反射率を考慮に入れて整合回路の入力端における少
なくとも近似的に零の複素反射率に対する操作要素の選
択すべき調整量を求めるための少なくとも１つの計算ユ
ニットを含んでおり、 ３）計算手段は α）そのつどの要素に与えられる調整量とそのインピ
ーダンスとの間の関係の形態で各操作要素の操作特性曲
線を記憶するための第１のメモリユニット および β）４ポート−マトリックスの形態で整合回路網にお
ける電気的交互作用を記憶するための第２のメモリユニ
ット を含んでいる。
と出力端と操作要素の両接続個所とを有する線形４ポー
ト回路としての整合回路網が付設されており、 ２）計算手段は整合回路の入力端における複素反射率か
らアンテナの複素反射率を求めるため、またアンテナの
複素反射率を考慮に入れて整合回路の入力端における少
なくとも近似的に零の複素反射率に対する操作要素の選
択すべき調整量を求めるための少なくとも１つの計算ユ
ニットを含んでおり、 ３）計算手段は α）そのつどの要素に与えられる調整量とそのインピ
ーダンスとの間の関係の形態で各操作要素の操作特性曲
線を記憶するための第１のメモリユニット および β）４ポート−マトリックスの形態で整合回路網にお
ける電気的交互作用を記憶するための第２のメモリユニ
ット を含んでいる。
整合装置のこのような構成と結び付けられる利点は特
に、複素インピーダンスまたはそれと直接的に関係する
整合回路の入力端における複素反射率の一回の測定の後
に直接その所望の反射率が制御され得ることにあり、そ
の際に余計な調節過程およびそれと結び付けられる時間
的遅れは回避される。このことは、ドイツ特許出願公開
第4035994号明細書による公知の構成と異なり、すべて
の計算に検査対象体と交互作用するアンテナの複素反射
率が入ることにより可能にされる。全くさまざまな回路
および構成形式の整合回路網に対して常に同一の計算規
則を使用することができる。また整合回路における損失
および望ましくない反作用がマトリックス要素において
考慮に入れられる。従ってそれらは整合結果の精度に影
響しない。
に、複素インピーダンスまたはそれと直接的に関係する
整合回路の入力端における複素反射率の一回の測定の後
に直接その所望の反射率が制御され得ることにあり、そ
の際に余計な調節過程およびそれと結び付けられる時間
的遅れは回避される。このことは、ドイツ特許出願公開
第4035994号明細書による公知の構成と異なり、すべて
の計算に検査対象体と交互作用するアンテナの複素反射
率が入ることにより可能にされる。全くさまざまな回路
および構成形式の整合回路網に対して常に同一の計算規
則を使用することができる。また整合回路における損失
および望ましくない反作用がマトリックス要素において
考慮に入れられる。従ってそれらは整合結果の精度に影
響しない。
本発明による整合装置は有利には、下記の過程が次々
とまたは場合によっては少なくとも部分的に同時に実行
されるように作動させることができる。
とまたは場合によっては少なくとも部分的に同時に実行
されるように作動させることができる。
ａ）整合回路の入力端における複素反射率が操作要素の
任意に予め与えられた調整量において測定される。
任意に予め与えられた調整量において測定される。
ｂ）この反射率（rmess）に関する測定結果が制御ユニ
ットにより検出され、その際に α）過程ａ）で存在する操作要素の調整量、 β）そのつどの操作要素の調整量とそのインピーダン
スとの間の関係 および γ）整合回路網の接続パートナーの相互の交互作用 に関する情報が提供される。
ットにより検出され、その際に α）過程ａ）で存在する操作要素の調整量、 β）そのつどの操作要素の調整量とそのインピーダン
スとの間の関係 および γ）整合回路網の接続パートナーの相互の交互作用 に関する情報が提供される。
ｃ）制御ユニットの計算手段により過程ａ）で求められ
た複素反射率からアンテナの複素反射率の過程ｂ）で提
供された情報によりアンテナの複素反射率が求められ
る。
た複素反射率からアンテナの複素反射率の過程ｂ）で提
供された情報によりアンテナの複素反射率が求められ
る。
ｄ）制御ユニットの計算手段により、過程ｃ）で求めら
れたアンテナの複素反射率を考慮に入れて、少なくとも
近似的に零の整合回路の入力端における複素反射率に通
ずる操作要素の新しい調整量が求められる。
れたアンテナの複素反射率を考慮に入れて、少なくとも
近似的に零の整合回路の入力端における複素反射率に通
ずる操作要素の新しい調整量が求められる。
ｅ）過程ｄ）で求められた新しい調整量が操作要素の新
たな調整に使用される（過程ｄ）で求められた新しい調
整量が過程ａ）で求められた調整量に相応する場合に限
る）。
たな調整に使用される（過程ｄ）で求められた新しい調
整量が過程ａ）で求められた調整量に相応する場合に限
る）。
これらの過程により前記の利点が特に簡単な仕方で保
証され得る。
証され得る。
本発明による整合装置およびその作動方法の有利な実
施態様はそれぞれ従属請求項にあげられている。
施態様はそれぞれ従属請求項にあげられている。
以下、図面を参照して本発明を説明する。
図１は本発明による整合装置の原理的構成を示す概要
図、 図２はこの装置の整合回路の特別な実施例の４ポート
表示、 図３は散乱またはアドミタンスマトリックスを有する
ｎポート回路の原理図、 図４は整合回路の実施例、 図５はこのような整合回路の原理図である。
図、 図２はこの装置の整合回路の特別な実施例の４ポート
表示、 図３は散乱またはアドミタンスマトリックスを有する
ｎポート回路の原理図、 図４は整合回路の実施例、 図５はこのような整合回路の原理図である。
核スピントモグラフィ設備の一部としての図１に概要
のみを示されている本発明による整合装置２の原理的構
成は、たとえば前記のドイツ特許出願公開第4035994号
またはヨーロッパ特許出願公開第0114405号明細書によ
る公知の実施例から出発している。図面中に詳細には示
されていない部分は一般に公知である。符号は下記のよ
うに選ばれている。
のみを示されている本発明による整合装置２の原理的構
成は、たとえば前記のドイツ特許出願公開第4035994号
またはヨーロッパ特許出願公開第0114405号明細書によ
る公知の実施例から出発している。図面中に詳細には示
されていない部分は一般に公知である。符号は下記のよ
うに選ばれている。
３ HF送信または受信装置
４ 受信または送信アンテナ
５ 可変整合回路
６および７ この回路の２つの操作要素
８ これらの操作要素と接続されている整合回路網
９ 反射率測定のための測定装置
10 この測定装置の一部としての補助送信器
11 測定装置と接続されている方向性結合器
12 計算手段（計算機）を有する電子式制御装置
装置２の個々の部分の間に存在している接続経路は整
合または同調過程の間の信号経路を示す矢印を付されて
いる。操作要素は下記のように２つの電動調整可能なコ
ンデンサであると仮定する。しかしこれらの要素として
たとえばキャパシタンスダイオードまたはスイッチング
可能なインダクタンスが設けられていてもよい。
合または同調過程の間の信号経路を示す矢印を付されて
いる。操作要素は下記のように２つの電動調整可能なコ
ンデンサであると仮定する。しかしこれらの要素として
たとえばキャパシタンスダイオードまたはスイッチング
可能なインダクタンスが設けられていてもよい。
測定装置９により同調過程の開始時に一回、複素反射
率が大きさおよび位相に関して測定される。複素反射率
の代わりにもちろんそれと直接的に関係する複素インピ
ーダンスも考察され得る。以下では一般に複素反射率を
基礎として説明することにしよう。この複素反射率を求
めるため、たとえば核スピントモグラフィ装置において
像発生のために設けられている受信器が一緒に利用され
ると有利である。そのために、前記ドイツ特許出願公開
第4035994号明細書によれば、方向性結合器11を介して
弱電力の補助送信器10の信号が受信線に入結合される。
測定結果は計算機を有する制御装置12により検出される
複素数である。測定の間に操作要素６および７はとりあ
えず任意のしかし制御装置の計算機では既知の調整位置
に、たとえば前回の同調過程からの古い調整位置にあっ
ていてもよい。制御装置の計算機には、本発明によれ
ば、両操作要素の各々に対する調整調節とインピーダン
スとの間のそのつどの特性曲線とみなすべき関係がたと
えば２つのテーブルの形態で記憶されている。さらに計
算機には有利なことに、接続ポートに与えられている電
気量の間の整合回路網８内で行われる交互作用が予め与
えられ（記憶され）ているだけでよく、整合回路網８の
具体的な内部構造を詳細に考慮に入れる必要はない。従
って、本発明によれば、整合回路網は線形４ポート回路
として、たとえばアドミタンスマトリックスまたは散乱
マトリックスにより、または４×４の複素要素を有する
両マトリックスの混合形態で設けられる。それによっ
て、また測定の際の操作要素の既知の調整によって、す
べての整合回路５の変換特性が測定の間に計算され得
る。これらの変換特性および測定された反射率から計算
機は先ずアンテナの複素インピーダンス（複素反射率）
を求め、またそれによって続いて、所望の整合に通ずる
操作要素の調整を計算することができる。そのために、
以下に実施例として説明する計算方法が４ポート表示で
の整合回路５を基礎として用いることができる。もちろ
ん他の４ポート表示を有する他の計算方法も使用可能で
ある。計算プロセスを、以下で仮定するように２つの時
間的に相い続く過程で実行せずに、これらの過程を少な
くとも部分的に同時に実行することも可能である。最後
に操作要素６および７は制御装置12のステップモータを
介して計算された位置にもたらされる。
率が大きさおよび位相に関して測定される。複素反射率
の代わりにもちろんそれと直接的に関係する複素インピ
ーダンスも考察され得る。以下では一般に複素反射率を
基礎として説明することにしよう。この複素反射率を求
めるため、たとえば核スピントモグラフィ装置において
像発生のために設けられている受信器が一緒に利用され
ると有利である。そのために、前記ドイツ特許出願公開
第4035994号明細書によれば、方向性結合器11を介して
弱電力の補助送信器10の信号が受信線に入結合される。
測定結果は計算機を有する制御装置12により検出される
複素数である。測定の間に操作要素６および７はとりあ
えず任意のしかし制御装置の計算機では既知の調整位置
に、たとえば前回の同調過程からの古い調整位置にあっ
ていてもよい。制御装置の計算機には、本発明によれ
ば、両操作要素の各々に対する調整調節とインピーダン
スとの間のそのつどの特性曲線とみなすべき関係がたと
えば２つのテーブルの形態で記憶されている。さらに計
算機には有利なことに、接続ポートに与えられている電
気量の間の整合回路網８内で行われる交互作用が予め与
えられ（記憶され）ているだけでよく、整合回路網８の
具体的な内部構造を詳細に考慮に入れる必要はない。従
って、本発明によれば、整合回路網は線形４ポート回路
として、たとえばアドミタンスマトリックスまたは散乱
マトリックスにより、または４×４の複素要素を有する
両マトリックスの混合形態で設けられる。それによっ
て、また測定の際の操作要素の既知の調整によって、す
べての整合回路５の変換特性が測定の間に計算され得
る。これらの変換特性および測定された反射率から計算
機は先ずアンテナの複素インピーダンス（複素反射率）
を求め、またそれによって続いて、所望の整合に通ずる
操作要素の調整を計算することができる。そのために、
以下に実施例として説明する計算方法が４ポート表示で
の整合回路５を基礎として用いることができる。もちろ
ん他の４ポート表示を有する他の計算方法も使用可能で
ある。計算プロセスを、以下で仮定するように２つの時
間的に相い続く過程で実行せずに、これらの過程を少な
くとも部分的に同時に実行することも可能である。最後
に操作要素６および７は制御装置12のステップモータを
介して計算された位置にもたらされる。
２つの操作要素を有する任意の予め与えられた回路網
を介しての未知の負荷インピーダンスの整合について以
下に図２を参照して説明する。その際に４つのポートは
ＩないしIVを、操作要素６および７のアドミタンスはY3
およびY4を、整合回路５の入力端（ポートＩ）における
測定された反射率（インピーダンス）はrmessを、また
はアンテナ２における未知の負荷のインピーダンスはr2
を付されている。調整過程の終了時に整合回路の入力端
は反射率rziel（たいてい零）を示すべきである。
を介しての未知の負荷インピーダンスの整合について以
下に図２を参照して説明する。その際に４つのポートは
ＩないしIVを、操作要素６および７のアドミタンスはY3
およびY4を、整合回路５の入力端（ポートＩ）における
測定された反射率（インピーダンス）はrmessを、また
はアンテナ２における未知の負荷のインピーダンスはr2
を付されている。調整過程の終了時に整合回路の入力端
は反射率rziel（たいてい零）を示すべきである。
整合回路５はポートＩにおけるHF送信または受信装置
とポートIIにおけるアンテナの未知の負荷との間の線形
２ポート回路である。ポートＩで複素反射率（インピー
ダンス）が測定され得る。その場合無損失性および相互
関係は前提とされない。
とポートIIにおけるアンテナの未知の負荷との間の線形
２ポート回路である。ポートＩで複素反射率（インピー
ダンス）が測定され得る。その場合無損失性および相互
関係は前提とされない。
整合回路５は、ポートＩおよびIIのほかにポートIII
およびIVを有し、そこに２つの可変のアドミタンスY3お
よびY4（または相応の抵抗Z3およびZ4）が操作要素６お
よび７として（たとえば回転コンデンサの形態で）接続
されている整合回路網８から構成されるべきである。接
続４ポート回路は知られており、またたとえば散乱マト
リックス（Ｓ）により示されている。アドミタンスマト
リックス（Ｙ）のような他の回路網マトリックスまたは
ポートＩおよびIIに対する波動パラメータおよびポート
IIIおよびIVに対するアドミタンスのような混合形態も
適している。
およびIVを有し、そこに２つの可変のアドミタンスY3お
よびY4（または相応の抵抗Z3およびZ4）が操作要素６お
よび７として（たとえば回転コンデンサの形態で）接続
されている整合回路網８から構成されるべきである。接
続４ポート回路は知られており、またたとえば散乱マト
リックス（Ｓ）により示されている。アドミタンスマト
リックス（Ｙ）のような他の回路網マトリックスまたは
ポートＩおよびIIに対する波動パラメータおよびポート
IIIおよびIVに対するアドミタンスのような混合形態も
適している。
Y3およびY4の任意のしかし既知の位置においてポート
Ｉに入射反射率の測定rmessが与えられる。
Ｉに入射反射率の測定rmessが与えられる。
ポートＩにおける整合に通ずるY3およびY4の調整が探
索される。
索される。
そのために必要な過程は下記のとおりである。最初の
過程で未知の負荷r2が求められなければならない。その
ために、既知の反射率r3およびr4により終端されている
ポートIIIおよびIVに対する式が回路網マトリックスか
ら消去されなければならない。そのために、図３を参照
して以下に説明する方法が使用される。この図におい
て、入って来る波動量はavで、出て行く波動量はbvで、
端子電圧はuvで、また電流はivで示されている（それぞ
れ１≦ｖ≦ｎかつｖ≠ｍ）。本方法は第ｍポートに既知
の終端rmを設けられているｎポート回路（ここでは具体
的な場合にｎ＝４…１）から、第ｍポートに対する式が
消去されることによって、残りの（ｎ−１）ポートを計
算することを可能にする。
過程で未知の負荷r2が求められなければならない。その
ために、既知の反射率r3およびr4により終端されている
ポートIIIおよびIVに対する式が回路網マトリックスか
ら消去されなければならない。そのために、図３を参照
して以下に説明する方法が使用される。この図におい
て、入って来る波動量はavで、出て行く波動量はbvで、
端子電圧はuvで、また電流はivで示されている（それぞ
れ１≦ｖ≦ｎかつｖ≠ｍ）。本方法は第ｍポートに既知
の終端rmを設けられているｎポート回路（ここでは具体
的な場合にｎ＝４…１）から、第ｍポートに対する式が
消去されることによって、残りの（ｎ−１）ポートを計
算することを可能にする。
散乱マトリックス（Ｓ）は
bv＝Σsvμａμ＋svmam
μ≠ｍ
bm＝Σsmμａμ＋smmam
μ≠ｍ
の形式の連立方程式を示す。
ポートｍに接続されている既知の反射率rmはam＝rmbm
を強制する。すなわち、 bm＝amrm -1 amrm -1＝Σsmμａμ＋smmam μ≠ｍ ＝＞am＝kmΣsmμａμ ここでkm＝1/（rm -1−smm） μ≠ｍ 他の式に代入されると、 bv＝Σsvμａμ μ≠ｍ ＋svmkmΣsmμａμ μ≠ｍ ＝Σ（sv＋kmsvmSmμ）ａμ μ≠ｍ となる。
を強制する。すなわち、 bm＝amrm -1 amrm -1＝Σsmμａμ＋smmam μ≠ｍ ＝＞am＝kmΣsmμａμ ここでkm＝1/（rm -1−smm） μ≠ｍ 他の式に代入されると、 bv＝Σsvμａμ μ≠ｍ ＋svmkmΣsmμａμ μ≠ｍ ＝Σ（sv＋kmsvmSmμ）ａμ μ≠ｍ となる。
これらのｎ−１の式は、第ｍポートをもはや含んでい
ない散乱マトリックスＳ′を有する（ｎ−１）ポート回
路を示す。その散乱マトリックス要素は ｓ′ｖ′μ′＝svμ＋kmsvmsmμ である。
ない散乱マトリックスＳ′を有する（ｎ−１）ポート回
路を示す。その散乱マトリックス要素は ｓ′ｖ′μ′＝svμ＋kmsvmsmμ である。
以下の表示では、一義的なポート識別を維持するた
め、ｖ′＝ｖかつμ′＝μに選ばれている。しかしプロ
グラミングを簡単にするため、ｖ＜ｍに対してはｖ′＝
ｖ、ｖ＞ｍに対してはｖ′＝ｖ−１かつμ＜ｍに対して
はμ′＝μ、μ＞ｍに対してはμ′＝μ−１となるよう
に、残りのポートの識別を新たに選ぶこともできよう。
め、ｖ′＝ｖかつμ′＝μに選ばれている。しかしプロ
グラミングを簡単にするため、ｖ＜ｍに対してはｖ′＝
ｖ、ｖ＞ｍに対してはｖ′＝ｖ−１かつμ＜ｍに対して
はμ′＝μ、μ＞ｍに対してはμ′＝μ−１となるよう
に、残りのポートの識別を新たに選ぶこともできよう。
アドミタンス表示では第ｍノードに接続されているア
ドミタンスの消去が全く同様に行われる。刺激する量ａ
μはｕμ、ivによるシステム応答bv、により置換され
る。ノードｍに接続されているアドミタンスはam＝rmbm
に類似してum＝（1/−Ym）imを強制する。
ドミタンスの消去が全く同様に行われる。刺激する量ａ
μはｕμ、ivによるシステム応答bv、により置換され
る。ノードｍに接続されているアドミタンスはam＝rmbm
に類似してum＝（1/−Ym）imを強制する。
それに続いてkmに対する式で係数rm -1は−Ymにより置
換される。
換される。
ｙ′ｖ′μ′＝yvμ＋kmyvmYmμ
ここでkm＝1/（−Ym−ymm）
こうして整合回路５内のポートIIIおよびIVを消去す
ると、２ポート回路がＩとIIとの間に残っている。測定
された反射率rmess＝b1/a1から未知の終端r2＝a2/b2を
求めるため、特別な過程を用いて再び消去方法が利用さ
れる。すなわち、観念的に測定装置が回路網の変更なし
にr1＝1/rmessを有する能動的な終端により置換され得
る。これが消去され、またs22′＝b2/a2を有する能動的
な１ポート回路が残る。それによって物理的に存在して
いるr2＝a2/b2＝1/s22′を有する負荷反射率が直接的に
計算され得る。
ると、２ポート回路がＩとIIとの間に残っている。測定
された反射率rmess＝b1/a1から未知の終端r2＝a2/b2を
求めるため、特別な過程を用いて再び消去方法が利用さ
れる。すなわち、観念的に測定装置が回路網の変更なし
にr1＝1/rmessを有する能動的な終端により置換され得
る。これが消去され、またs22′＝b2/a2を有する能動的
な１ポート回路が残る。それによって物理的に存在して
いるr2＝a2/b2＝1/s22′を有する負荷反射率が直接的に
計算され得る。
いま第２の過程で、適合b1/a1＝０のために必要な操
作値Y3およびY4が求められなければならない。前記の特
別な過程によれば、いまr1＝1/ziel＝1/0が消去され
る。これは−（1/50Ω）の接続されているアドミタンス
に相当する。零による除算は実際に行われる必要はな
い。なぜならば、kmのなかに1/rmのみが存在する、すな
わちk1＝1/−s11であるからである。r1の消去は各整合
過程に対して新たに行われなくてよい。結果としての３
ポート回路（II、III、IV）も一回予め計算されればよ
い。
作値Y3およびY4が求められなければならない。前記の特
別な過程によれば、いまr1＝1/ziel＝1/0が消去され
る。これは−（1/50Ω）の接続されているアドミタンス
に相当する。零による除算は実際に行われる必要はな
い。なぜならば、kmのなかに1/rmのみが存在する、すな
わちk1＝1/−s11であるからである。r1の消去は各整合
過程に対して新たに行われなくてよい。結果としての３
ポート回路（II、III、IV）も一回予め計算されればよ
い。
次いでr2が消去され、また能動的な２ポート回路がポ
ートIIIとIVとの間に残る。それによって各操作値Y3ま
たはR3に対してポートIIIが消去され、またそれに付属
のr4またはY4の値が求められる。
ートIIIとIVとの間に残る。それによって各操作値Y3ま
たはR3に対してポートIIIが消去され、またそれに付属
のr4またはY4の値が求められる。
1/r4＝s44′＝s44＋s34s43/（r3 -1−s33）
→ （r3 -1−s33）（r4 -1−s44）＝s34s43
または等しくアドミタンスで表される。
（Y3＋y33）（Y4＋y44）＝y34y43
Y3およびY4は各々複素値をとってはならずそれぞれ自
由度でしか調節され得ないので、特定の実現可能な値対
Y3−Y4のみが生ずる。
由度でしか調節され得ないので、特定の実現可能な値対
Y3−Y4のみが生ずる。
一般的な場合にはY3（p3）は実の操作パラメータp3の
任意に予め与えられる複素関数である。Y4（p4）も同様
である。計算による探索ストラテジーでは次いでp3が、
Y3（p3）から計算されたY4がY4（p4）の値範囲内に位置
するまで、体系的に変更されなければならない。
任意に予め与えられる複素関数である。Y4（p4）も同様
である。計算による探索ストラテジーでは次いでp3が、
Y3（p3）から計算されたY4がY4（p4）の値範囲内に位置
するまで、体系的に変更されなければならない。
しかし、ほとんど常に実の同調要素（たとえばキャパ
シタンスダイオードの直列抵抗）の損失が接続４ポート
回路に含められ得る。それによって本来のY3およびY4が
無損失であれば、それらの単独で存在する虚部分B3およ
びB4の計算は直接に解析的に行われ得る。アドミタンス
関係の実および虚部分からB3およびB4に対する２つの式
が生じ、これらの式が最大２つの実現可能な解の対に通
ずる。
シタンスダイオードの直列抵抗）の損失が接続４ポート
回路に含められ得る。それによって本来のY3およびY4が
無損失であれば、それらの単独で存在する虚部分B3およ
びB4の計算は直接に解析的に行われ得る。アドミタンス
関係の実および虚部分からB3およびB4に対する２つの式
が生じ、これらの式が最大２つの実現可能な解の対に通
ずる。
Re（（jB3＋y33）（jB4＋y44））＝Re（y34y43）
Im（（jB3＋y33）（jB4＋y44））＝Im（y34y43）
ここでyvμ＝Gvμ＋jBvμかつB3′＝B3＋B33または
B4′＝B4＋B44とすると、 Re:G33G44−B3′B4′＝G34G43−B34B43 Im:G33B4′＋G44B3′＝G34B43＋G43B34 Imから B4′＝（G34G43＋G43B34−G44B3′）/G33 これをReへ代入して G33G44−B3′（G34G43＋G43B34−G44B3′）/G33 −G34G43＋B34B43＝０ ＝＞B3′２−B3′（G34G43＋G43B34）/G44 ＋（G33G44−G34G43＋B34B43）G33/G44＝０ ここで ｐ＝−（G34B43＋G43B34）/G44 かつｑ＝（G33G44−G34G43＋B34B43）G33/G44 とおくと、B3およびそれぞれ付属のB4に対する探索され
る両解は B3′＝−p/2＋−SQR（p2/4−ｑ）;B3＝B3′−B33 B4′＝（G34B43＋G43B34−G44B3′）/G33;B4＝B4′−B44 ここでSQR＝数学的根記号 簡単な例として図４に示されているたとえばドイツ特
許出願公開第4035994号明細書から公知の高抵抗および
誘導性負荷に対するCS−CP整合回路では、ポートＩおよ
びIIが先に説明した方法により消去されている。すべて
のアドミタンスはZo -1＝1/50Ωに正規化されている。図
面中に符号B3、B4を付されているのは操作要素（コンデ
ンサ）の虚アドミタンス、符号B2およびGLを付されてい
るのはアンテナの負荷アドミタンスの虚部または実部、
また符号−RZを付されているのは整合回路の入力端にお
ける所望の（目標）抵抗（たとえば50Ω）の負値であ
る。回路から直接にＹマトリックスの要素が示される。
B4′＝B4＋B44とすると、 Re:G33G44−B3′B4′＝G34G43−B34B43 Im:G33B4′＋G44B3′＝G34B43＋G43B34 Imから B4′＝（G34G43＋G43B34−G44B3′）/G33 これをReへ代入して G33G44−B3′（G34G43＋G43B34−G44B3′）/G33 −G34G43＋B34B43＝０ ＝＞B3′２−B3′（G34G43＋G43B34）/G44 ＋（G33G44−G34G43＋B34B43）G33/G44＝０ ここで ｐ＝−（G34B43＋G43B34）/G44 かつｑ＝（G33G44−G34G43＋B34B43）G33/G44 とおくと、B3およびそれぞれ付属のB4に対する探索され
る両解は B3′＝−p/2＋−SQR（p2/4−ｑ）;B3＝B3′−B33 B4′＝（G34B43＋G43B34−G44B3′）/G33;B4＝B4′−B44 ここでSQR＝数学的根記号 簡単な例として図４に示されているたとえばドイツ特
許出願公開第4035994号明細書から公知の高抵抗および
誘導性負荷に対するCS−CP整合回路では、ポートＩおよ
びIIが先に説明した方法により消去されている。すべて
のアドミタンスはZo -1＝1/50Ωに正規化されている。図
面中に符号B3、B4を付されているのは操作要素（コンデ
ンサ）の虚アドミタンス、符号B2およびGLを付されてい
るのはアンテナの負荷アドミタンスの虚部または実部、
また符号−RZを付されているのは整合回路の入力端にお
ける所望の（目標）抵抗（たとえば50Ω）の負値であ
る。回路から直接にＹマトリックスの要素が示される。
y33＝−1;y34＝y43＝−1;y44＝−１＋GL＋jBL
計算により
ｐ＝0;q＝−GL/（１−GL）
となり、従ってまたGL＜１に対してのみ２つの解は
B3＝＋−SQR（GL/（１−GL））
B4＝−BL−＋SQR（GL（１−GL））
となり、前者の解はCS＝B3/ωZ0およびCP＝B4/ωZ0によ
り実現される。
り実現される。
整合回路５を決定するための図２により説明した一般
的な方法および図４により説明した具体的な方法を以下
に図５により再び説明する。図示されている実施例で
は、送信および／または受信のために使用されるアンテ
ナコイル、すなわちその固定の変更されない部分は概念
的に整合回路網に組み入れられており、従って可変の負
荷インピーダンスr2としてはコイルへの検査対象体また
は患者Ｐによる作用のみが残る。患者Ｐのこの作用は図
面中に並列な可変抵抗RVを有する可変コンデンサCVによ
り示されている。さらに図面中で、 ZiはIII≦ｉ≦IVを有するポートｉにおけるリアクタン
ス、 aj、bjは１≦ｊ≦２を有する波動量、 i3、i4はポートIIIまたはポートにおける電流、 u3、u4はポートIIIまたはポートにおける電圧、 ｒは最初は測定された反射率rmess、また最後は所望の
反射率rZである回路の入力端反射率、 ｒ′２は負荷されたアンテナの反射率の可変部分、 Ｍは波動およびアドミタンスパラメータから成る混合さ
れた表示での４ポートマトリックスの形態のリンケージ
マトリックスを意味する。
的な方法および図４により説明した具体的な方法を以下
に図５により再び説明する。図示されている実施例で
は、送信および／または受信のために使用されるアンテ
ナコイル、すなわちその固定の変更されない部分は概念
的に整合回路網に組み入れられており、従って可変の負
荷インピーダンスr2としてはコイルへの検査対象体また
は患者Ｐによる作用のみが残る。患者Ｐのこの作用は図
面中に並列な可変抵抗RVを有する可変コンデンサCVによ
り示されている。さらに図面中で、 ZiはIII≦ｉ≦IVを有するポートｉにおけるリアクタン
ス、 aj、bjは１≦ｊ≦２を有する波動量、 i3、i4はポートIIIまたはポートにおける電流、 u3、u4はポートIIIまたはポートにおける電圧、 ｒは最初は測定された反射率rmess、また最後は所望の
反射率rZである回路の入力端反射率、 ｒ′２は負荷されたアンテナの反射率の可変部分、 Ｍは波動およびアドミタンスパラメータから成る混合さ
れた表示での４ポートマトリックスの形態のリンケージ
マトリックスを意味する。
リンケージマトリックスは、たとえば下記のように示
される連立式の一部である。
される連立式の一部である。
整合回路５を決定するための原理的な過程を次に過程
ａ）ないしｄ）により説明する。
ａ）ないしｄ）により説明する。
ａ）ｒ＝rmessを有する任意の既知のZ3、Z4におけるｒ
を測定する。
を測定する。
ｂ）Z3、Z4、r-1の消去によりr2を求める。
ｃ）rZ＝所望の“目標”反射率を有するr2およびrZ -1を
消去する。すなわちrZが零にされる。
消去する。すなわちrZが零にされる。
仮定:Z3およびZ4は無損失である。この仮定はZ3−Z4に
対する解の対に通ずる。
対する解の対に通ずる。
ｄ）解の対Z3−Z4を選択かつ調整する。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A61B 5/055
Claims (6)
- 【請求項１】核スピントモグラフィ設備における高周波
（HF）送信または受信装置を、２つのそれと接続されて
いる調整可能な操作要素を有する整合回路網を含んでい
る可変の整合回路を介して、連結されている送信または
受信アンテナに自動的にインピーダンス整合させるため
の装置であって、 アンテナと検査対象体との交互作用のもとに送信および
受信装置のほうに向けられた整合回路の入力端における
反射率を検出するための手段と、 操作要素の調整量を計算しかつ調整するための手段を有
する電子式制御装置とを有する装置において、 制御装置（12）の計算手段に、４つのポート（ポートＩ
ないしポートIV）として入力端と出力端と操作要素
（６、７）の両接続個所とを有する線形４ポート回路と
しての整合回路網（８）が付設されており、 計算手段は整合回路（５）の入力端（ポートＩ）におけ
る複素反射率（rmess）からアンテナ（４）の複素反射
率（r2）を決定するため、またアンテナ（４）の複素反
射率（r2）を考慮に入れて整合回路（５）の入力端（ポ
ートＩ）における少なくとも近似的に零の複素反射率
（rZ）に対する操作要素（６、７）の選択すべき調整量
を決定するための少なくとも１つの計算ユニットを含ん
でおり、 計算手段は α）そのつどの要素に与えられる調整量とそのインピー
ダンスとの間の関係の形態で各操作要素（６、７）の操
作特性曲線を記憶するための第１のメモリユニット および β）４ポート−マトリックスの形態で整合回路網（８）
の電気的交互作用を記憶するための第２のメモリユニッ
ト を含んでいる ことを特徴とする核スピントモグラフィ設備におけるHF
送信または受信装置の自動的インピーダンス整合装置。 - 【請求項２】操作要素（６、７）に対して可変のコンデ
ンサまたはキャパシタンスダイオードまたはインダクタ
ンスが設けられていることを特徴とする請求項１記載の
装置。 - 【請求項３】整合回路（５）の入力端（ポートＩ）にお
ける複素反射率（rmess）の測定のために、補助送信器
（10）および方向性結合器（11）を含んでいる測定装置
（９）が設けられていることを特徴とする請求項１また
は２記載の装置。 - 【請求項４】整合回路網（８）が４×４マトリックス要
素を有するアドミタンスマトリックス（Ｙ）または散乱
マトリックス（Ｓ）の形態またはこれらの両マトリック
スの混合形態で線形４ポート回路により示されているこ
とを特徴とする請求項１ないし３の１つに記載の装置。 - 【請求項５】ａ）整合回路（５）の入力端（ポートＩ）
における複素反射率（rmess）が操作要素（６、７）の
任意に予め与えられた調整量において測定され、 ｂ）この反射率（rmess）に関する測定結果が制御ユニ
ット（12）により検出され、その際に α）過程ａ）で存在する操作要素（６、７）の調整量、 β）そのつどの操作要素の調整量とそのインピーダンス
との間の関係 γ）整合回路網（８）の接続パートナーの相互の交互作
用 に関する情報が提供され、 ｃ）制御ユニット（12）の計算手段により過程ａ）で求
められた複素反射率（rmess）からアンテナ（４）の複
素反射率（r2）の過程ｂ）で提供された情報によりアン
テナ（４）の複素反射率（r2）が求められ、 ｄ）制御ユニット（12）の計算手段により、過程ｃ）で
求められたアンテナ（４）の複素反射率（r2）を考慮に
入れて、少なくとも近似的に零の整合回路（５）の入力
端（ポートＩ）における複素反射率（r2）に通ずる操作
要素（６、７）の新しい調整量が求められ、 ｅ）過程ｄ）で求められた新しい調整量が操作要素
（６、７）の新たな調整に使用される過程 を含んでいることを特徴とする方法。 - 【請求項６】操作要素（６、７）の調整量を計算しかつ
調整するため、 第１の過程で、整合回路網（８）を示す第１の４ポート
回路が、アンテナ（４）の反射率（r2）を得るため、任
意に予め与えられた両操作要素（６、７）の調整量と整
合回路（５）の入力端（ポートＩ）における測定された
反射率（rmess）とを基礎として、１ポート回路に移行
させられ、 第２の過程で、整合回路網（８）を示す第２の４ポート
回路が、第１の過程で得られたアンテナ（４）の反射率
（r2）と整合回路（５）の入力端（ポートＩ）における
所望の反射率（rZ）とを基礎として、２ポート回路に移
行させられ、 続いて、２ポート回路を有する両操作要素（６、７）の
調整量の相互の結合を考慮に入れて、操作要素（６、
７）の調整量の値対（Z3−Z4）が計算され、 最後に、計算された調整量の値対（Z3−Z4）の調整が行
われる ことを特徴とする請求項５記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4343700 | 1993-12-21 | ||
| DE4441754A DE4441754A1 (de) | 1993-12-21 | 1994-11-23 | Vorrichtung zur automatischen Impedanzanpassung einer HF-Sende- oder Empfangseinrichtung in einer Anlage zur Kernspintomographie und Verfahren zum Betrieb der Vorrichtung |
| DE4343700.1 | 1994-11-23 | ||
| DE4441754.3 | 1994-11-23 | ||
| PCT/DE1994/001449 WO1995017683A1 (de) | 1993-12-21 | 1994-12-06 | Vorrichtung zur automatischen impedanzanpassung einer hf-sende- oder empfangseinrichtung in einer anlage zur kernspintomographie und verfahren zum betrieb der vorrichtung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09507403A JPH09507403A (ja) | 1997-07-29 |
| JP3466618B2 true JP3466618B2 (ja) | 2003-11-17 |
Family
ID=25932307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51708495A Expired - Lifetime JP3466618B2 (ja) | 1993-12-21 | 1994-12-06 | 核スピントモグラフィ設備におけるｈｆ送信または受信装置の自動的インピーダンス整合装置およびその作動方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5777475A (ja) |
| JP (1) | JP3466618B2 (ja) |
| DE (2) | DE4480029C1 (ja) |
| WO (1) | WO1995017683A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3920420B2 (ja) * | 1996-10-08 | 2007-05-30 | 富士通株式会社 | Ｅｈ整合器、マイクロ波自動整合方法、半導体製造装置 |
| US6657173B2 (en) * | 1998-04-21 | 2003-12-02 | State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University | Variable frequency automated capacitive radio frequency (RF) dielectric heating system |
| US6845126B2 (en) | 2001-01-26 | 2005-01-18 | Telefonaktiebolaget L.M. Ericsson (Publ) | System and method for adaptive antenna impedance matching |
| KR100608521B1 (ko) * | 2002-02-22 | 2006-08-03 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 헬리컬 안테나 장치 및 그것을 구비한 무선통신장치 |
| DE102004006507A1 (de) * | 2004-02-10 | 2005-09-15 | Siemens Ag | Netzwerk und Netzwerkabschluss für Netzwerke mit einem durchlaufenden zweiadrigen Netzwerkkabel |
| US7615999B2 (en) * | 2005-04-29 | 2009-11-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and circuit arrangement for operating multi-channel transmit/receive antenna devices |
| US8885814B2 (en) * | 2006-07-25 | 2014-11-11 | Broadcom Europe Limited | Feedback impedance control for driving a signal |
| US8299681B2 (en) | 2009-03-06 | 2012-10-30 | Life Services, LLC | Remotely adjustable reactive and resistive electrical elements and method |
| US8981774B2 (en) | 2009-09-17 | 2015-03-17 | Koninklijke Philips N.V. | Multi-element transmit RF chain with local automatic tune and match device |
| JP2011223739A (ja) * | 2010-04-09 | 2011-11-04 | Sony Corp | 給電装置、受電装置、およびワイヤレス給電システム |
| US9500727B2 (en) * | 2012-04-20 | 2016-11-22 | Regents Of The University Of Minnesota | System and method for control of RF circuits for use with an MRI system |
| US9535140B2 (en) | 2013-06-28 | 2017-01-03 | Infineon Technologies Ag | System and method for a transformer and a phase-shift network |
| US10191128B2 (en) | 2014-02-12 | 2019-01-29 | Life Services, LLC | Device and method for loops-over-loops MRI coils |
| US9829522B2 (en) | 2015-01-27 | 2017-11-28 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus for tuning a resistance and reactance of a wireless power transmitter testing unit |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4375051A (en) * | 1981-02-19 | 1983-02-22 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic impedance matching between source and load |
| EP0114405B1 (en) * | 1982-12-28 | 1987-12-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nuclear magnetic resonance diagnostic apparatus |
| US4621242A (en) * | 1984-03-19 | 1986-11-04 | The Perkin-Elmer Corporation | R.F. impedance match control system |
| JPS6131978A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | 核磁気共鳴装置の自動インピ−ダンス整合調整装置 |
| JPS63277049A (ja) * | 1987-05-08 | 1988-11-15 | Toshiba Corp | Ｍｒｉ装置のインピ−ダンス自動調整装置 |
| DE3728863A1 (de) * | 1987-08-28 | 1989-03-09 | Siemens Ag | Anordnung zum herstellen von schnittbildern durch magnetische kernresonanz |
| US4827219A (en) * | 1988-01-07 | 1989-05-02 | The Regents Of The University Of California | Remotely adjustable MRI RF coil impedance matching circuit with mutualy coupled resonators |
| JPH01201244A (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-14 | Toshiba Corp | Ｍｒｉ装置のインピーダンス自動調整装置 |
| US5225847A (en) * | 1989-01-18 | 1993-07-06 | Antenna Research Associates, Inc. | Automatic antenna tuning system |
| JP2986166B2 (ja) * | 1989-01-30 | 1999-12-06 | 株式会社ダイヘン | マイクロ波回路のインピーダンス自動調整装置及びインピーダンス自動調整方法 |
| JPH0351038A (ja) * | 1989-07-20 | 1991-03-05 | Sanyo Electric Co Ltd | Ｍｒｉ装置内ｒｆコイルのインピーダンス調整装置 |
| US4951009A (en) * | 1989-08-11 | 1990-08-21 | Applied Materials, Inc. | Tuning method and control system for automatic matching network |
| DE4035994A1 (de) * | 1990-11-12 | 1992-05-14 | Siemens Ag | Schaltung und verfahren zur anpassung von antennen in einem kernspinresonanz-bildgeraet |
| US5187454A (en) * | 1992-01-23 | 1993-02-16 | Applied Materials, Inc. | Electronically tuned matching network using predictor-corrector control system |
| EP0569091B1 (en) * | 1992-05-07 | 1998-08-05 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Magnetic resonance apparatus |
| US5483158A (en) * | 1993-10-21 | 1996-01-09 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for tuning MRI RF coils |
| US5564086A (en) * | 1993-11-29 | 1996-10-08 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for enhancing an operating characteristic of a radio transmitter |
| US5502387A (en) * | 1994-08-23 | 1996-03-26 | Northrop Grumman Corporation | Variable geometry MRI coil |
-
1994
- 1994-12-06 WO PCT/DE1994/001449 patent/WO1995017683A1/de active Application Filing
- 1994-12-06 DE DE4480029A patent/DE4480029C1/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-06 JP JP51708495A patent/JP3466618B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1994-12-06 US US08/669,277 patent/US5777475A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-12-06 DE DE4480029D patent/DE4480029D2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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|---|---|
| DE4480029D2 (de) | 1996-06-27 |
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| JPH09507403A (ja) | 1997-07-29 |
| WO1995017683A1 (de) | 1995-06-29 |
| DE4480029C1 (de) | 1999-04-15 |
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