JP3446523B2 - コンデンサおよびその製造方法 - Google Patents

コンデンサおよびその製造方法

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JP3446523B2 JP06406297A JP6406297A JP3446523B2 JP 3446523 B2 JP3446523 B2 JP 3446523B2 JP 06406297 A JP06406297 A JP 06406297A JP 6406297 A JP6406297 A JP 6406297A JP 3446523 B2 JP3446523 B2 JP 3446523B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】一般に電力コンデンサや電気
機器コンデンサなどに使用するエネルギー充放電用コン
デンサはフラッシュランプ電源などインパルス電圧・電
流発生装置あるいは電力機器などのアース間絶縁耐力試
験などに用いられるインパルス試験装置に用途がある。
本発明はこれら用途に適したコンデンサおよびその製造
方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、これらの電源・装置に用いられる
コンデンサの絶縁構成としては、誘電体として紙または
プラスチックフィルムもしくはこれら誘電体の複合構成
により、構成されている。また、電極としてはアルミニ
ウム箔もしくは紙に亜鉛などを蒸着した金属化紙を用い
これらの誘電体・電極を巻回してコンデンサ素子とし、
これらのコンデンサ素子を1個もしくは複数個集合し、
かつ必要電圧・容量に応じて、直列・並列接続して、集
合コンデンサ素子とし外装ケースに収納・密閉してコン
デンサを構成していた。
【0003】また、最近ではプラスチックフィルムに金
属を蒸着した、金属化プラスチックフィルムを使用した
コンデンサも多く提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】最近では、これらのコ
ンデンサを使用する装置・設備においても小形・軽量化
の要望が大きくなってきている。これらのコンデンサの
体積の大部分を占めるのは、誘電体と電極を巻回したコ
ンデンサ素子であり、誘電体の電位傾度を大きくし、フ
ィルム厚みを薄くすることが、コンデンサ素子の小型化
に大きく寄与するものである。
【0005】そして、誘電体の電位傾度を大きくするた
めにはフィルム厚みを薄くすることが考えられるが、当
然、耐圧的に、寿命的にその信頼性が落ちてくる。そこ
で、薄いフィルムでより高い耐圧性能および寿命特性を
確保するために、金属化フィルムの蒸着金属膜の厚みを
電極引出し用メタリコンとの接触部を含む近傍と、その
他の主電極部とで差を設けた段付き蒸着フィルムを巻回
または積層したもので、金属化フィルムに存在する絶縁
欠陥が自己回復(セルフヒーリング)によって回復する
ことをより高め、フィルムの電位傾度をより向上させよ
うとするものである(特開昭62−188210号公
報)。
【0006】なお、自己回復(セルフヒーリング)と
は、絶縁欠陥部分の短絡電流により絶縁欠陥部分周辺の
蒸着膜を飛散させることによって絶縁欠陥の絶縁耐力を
回復させることにある。この自己回復が不完全な場合、
絶縁欠陥部分の絶縁耐力がフィルム全体の絶縁耐力とな
り、その最低絶縁耐力以下でコンデンサの設計を行わな
くてはならない。この自己回復が良好に行われれば、フ
ィルムの絶縁耐力はフィルム本来の絶縁耐力を示すこと
ができ、すなわちフィルムの電位傾度を向上することが
できる。
【0007】また、良好な自己回復を行うためには、蒸
着電極膜の厚みを薄くすることによって蒸着膜の飛散性
を高めたり、絶縁欠陥部分に流れ込む短絡電流を少なく
したりすることによって、自己回復をより良好に、より
小さくすることができる。
【0008】そして、自己回復をより完全なものとする
ため主電極部分の蒸着膜をより従来より薄くすることに
より自己回復性を向上しようとしたものであり、また、
電極引出し用メタリコンとのコンタクト性を良好にする
ために電極引出し用メタリコン近傍の蒸着膜厚みを主電
極部より厚く、謂ゆるヘビーエッジ構造としたものであ
り、段付き蒸着を施している。この段付き蒸着を施すた
めには、一般的に亜鉛金属を蒸着金属として使用し、ア
ルミニウムを使うことは、少ない。
【0009】これは蒸着金属の厚みをフィルム巾方向で
変化させる段付き蒸着では亜鉛金属のほうがアルミニウ
ムよりその段付き状態を良好に形成することができるた
めである。なお、アルミニウムにおいても段付き蒸着は
可能であるがその段付きの形成状態が良好でない場合、
メタリコンとヘビーエッジとのコンタクト性が悪化し耐
電流性能が低下してしまう。また、主電極部の亜鉛金属
を薄くして使用する段付き蒸着でも、その蒸着膜の薄さ
は現在の状態で限界であり、抵抗値の管理を含めてこれ
以上の電位傾度の向上につながる改善を求めることは困
難である。
【0010】また、他の例として片面に金属膜を蒸着し
たプラスチックフィルムを2枚組合わせて巻回したメタ
ライズドフィルムコンデンサにおいて、蒸着金属部に長
手方向の連続した絶縁部を設け、1コンデンサ素子内で
3個以上の直列コンデンサを形成するとともに、フィル
ム巾方向にも絶縁部を設けて、1コンデンサ素子内で複
数のコンデンサ並列回路とした多数の小コンデンサ網を
有するエネルギー蓄積急放電用コンデンサ(特公平6−
18153号公報)があり、また、上記直列および並列
に区切られた一つの連続導体部が対極電極と対向して構
成する小コンデンサの蓄積エネルギーが定格電圧におい
て、1ジュール以下であり、定格充電電圧においてプラ
スチックフィルムの電位傾度が150kV/mm以上である
エネルギー蓄積急放電用コンデンサがある。
【0011】すなわち、このエネルギー蓄積急放電用コ
ンデンサは非蒸着部分である連続した絶縁部によって小
さなコンデンサに分割することによって、1個のコンデ
ンサエネルギー量を少なくし、このコンデンサに発生し
た自己回復(セルフヒーリング)に流れ込むエネルギー
を小さくすることによって、絶縁回復を良好に行い、メ
タライズドフィルムの耐圧性能を向上しようとするもの
である。
【0012】しかしながら、このメタライズドフィルム
の非蒸着部分である連続した絶縁部、特に巾方向の分割
を形成するためには、別工程による作業が必要で、電極
金属を蒸着した後、レーザ加工や放電加工等によって、
必要な部分の蒸着金属を除去する必要がある。これらの
加工によって得られる蒸着フィルムの巾方向の分割部分
の蒸着膜端部は、蒸着膜を除いたときにできる微少なば
りによって絶縁欠陥部分となりやすくその加工方法や加
工精度には充分な管理が必要でありコストアップの要因
となっていた。
【0013】一般に、金属蒸着フィルムを使用したコン
デンサにおいて自己回復性を向上させることは、耐圧性
能を向上させ、従来以上の高電位設計を可能とすること
ができる。
【0014】本発明は自己回復性能が向上し、従来以上
の高電位設計が可能で小形・安価・製造工数の低減が可
能なコンデンサを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明は少なくとも片面に金属蒸着電極を有する金
属化プラスチックフィルムを重ねて巻回し、金属蒸着電
極層にアルミニウムを蒸着し、電極引出し用メタリコン
との接触部を含む近傍に亜鉛を蒸着したコンデンサであ
って、その金属化プラスチックフィルムを長手方向に
0.2%以上5%未満の延伸率で全長にわたって延伸
し、全長にわたってフィルム巾方向に細長い多数の微少
な亀裂を蒸着膜に形成したものである。
【0016】また、本発明のコンデンサの製造方法は、
金属化プラスチックフィルムを長手方向に0.2%以上
5%未満の延伸率で全長にわたって延伸し、全長にわた
って金属蒸着電極層に微少な亀裂を巾方向に施すため、
金属化プラスチックフィルムの巻取り工程中に延伸ロー
ラを配設し、押さえローラとの間で金属化プラスチック
フィルムを延伸しながらコンデンサ素子として巻回する
ことを特徴とするものである。
【0017】さらに、本発明のコンデンサの製造方法
は、上記コンデンサの製造方法において、金属化フィル
ムからなるコンデンサ素子の構造が巻回形で、素子形状
が小判形であり、小判形状にプレスする圧力が0.5〜
1.5Kg/cm2であることを特徴とするものである。
【0018】
【発明の実施の形態】上記本発明のコンデンサは、金属
化プラスチックフィルムを長手方向に0.2%以上5%
未満の延伸率で全長にわたって延伸し、全長にわたって
フィルム巾方向に細長い多数の微少な亀裂を蒸着膜に形
成したものであり、蒸着膜の絶縁破壊部に流入する電気
エネルギーの経路が長くなり、この電気エネルギーの集
中を緩和することにより、コンデンサの自己回復性能が
向上する作用を有する。
【0019】また、本発明のコンデンサの製造方法は、
金属化プラスチックフィルムの巻取工程中に延伸ローラ
を配設し、巻取軸に対向する押さえローラとの間で金属
化プラスチックフィルムを延伸しながら巻回し、コンデ
ンサ素子を形成することを特徴とするもので、蒸着膜の
微少な亀裂を巻取工程中で延伸加工を施すことができる
作用を有する。
【0020】さらに、本発明のコンデンサの製造方法
は、上記コンデンサの製造方法において、小判形状にプ
レスする圧力が0.5〜1.5Kg/cm2とすることによ
り、金属化蒸着フィルム上の蒸着電極の飛散性が安定
し、蒸着膜の絶縁破壊部に流入する電気エネルギーが均
一になる微小な亀裂を蒸着膜に形成することができる作
用を有する。
【0021】以下、本発明の実施の形態について図1〜
図17に沿って説明する。 (実施の形態1)本実施の形態1は、ポリエチレンレテ
フタレート(PET)フィルムなどの金属化プラスチッ
クフィルム1を得る際に、その片面にオイルを塗布もし
くは転写することによってアルミニウム蒸着電極2を設
け、その後マスキングにより亜鉛3をさらに蒸着した。
この蒸着は同一蒸着工程内で実施しても良いし、同一蒸
着工程内で実施することができないなら、2回に分けて
行っても良い。なお、サンプル1はアルミニウム蒸着2
の膜抵抗値をR=8〜20Ω/□、電極引出し用メタリ
コンとの接触部を含む近傍の膜抵抗値をR=2〜7Ω/
□とした。すなわち、金属蒸着電極層にアルミニウムを
蒸着し、さらに電極引出し用メタリコンとの接触部を含
む近傍に亜鉛3を蒸着した構造とした。この片面蒸着フ
ィルムを図1(a)(b)のように2枚組合わせて巻回
するときに金属化蒸着フィルムを長手方向に0.2〜5
%の延伸率で延伸しフィルム巾方向に細長い多数の蒸着
膜の微小な亀裂4を形成し、電極引出し用メタリコンを
溶射しコンデンサ素子を形成したものである。
【0022】また、サンプル1のコンデンサ素子の微小
な亀裂4の寸法は巾方向に細長く長辺aは10〜100
μm、短辺bは0.1〜1μmであり、分布密度は100
0〜100000(個/cm2)である。
【0023】このコンデンサ素子を金属ケース中に収容
し絶縁オイルを含浸し電極引出し用メタリコンに外部電
極引出し用端子を接続しコンデンサを形成した。
【0024】なお、サンプル1のコンデンサに使用した
金属化プラスチックフィルム1の厚みは、10μmであ
り、形成したコンデンサの容量は30μmである。
【0025】(比較例1)比較例1は、実施の形態1と
同様な工程にて作成するが、蒸着膜の微小な亀裂4が形
成されていないコンデンサである。
【0026】(比較例2)比較例2は、実施の形態1と
同様な工程にて作成するが、アルミニウム蒸着電極2の
膜抵抗値をR=8〜20Ω/□、電極引出し用メタリコ
ンとの接触部を含む近傍の膜抵抗値もR=8〜20Ω/
□としたコンデンサである。
【0027】(比較例3)比較例3は、実施の形態1と
同様な行程にて作成するが、アルミニウム蒸着金属2膜
抵抗値をR=2〜7Ω/□、電極引出し用メタリコンと
の接触部を含む近傍の膜抵抗値もR=2〜7Ω/□とし
たコンデンサである。
【0028】(従来例)従来例としてPETフィルム1
の片面蒸着フィルムを得る際に、その片面にオイルを塗
布もしくは転写し、マスキングによって亜鉛蒸着電極3
aを形成した。このとき亜鉛蒸着金属3aの膜抵抗値を
R=8〜20Ω/□、電極引出し用メタリコンとの接触
部を含む近傍の膜抵抗値をR=2〜7Ω/□と本実施の
形態1に合わせた。また、従来例は状着膜に微小な亀裂
4は形成されていないコンデンサである。そして、段付
き蒸着フィルムを2枚組合わせて巻回し電極引出し用メ
タリコンを溶射しコンデンサ素子を備えたコンデンサと
した。
【0029】これらのうち実施の形態1と従来例の2つ
のコンデンサ素子を比較すると、外観状態はほぼ同等の
構成を有しているが、主電極部分は実施の形態1はアル
ミニウム蒸着電極2であり、従来例においては亜鉛蒸着
電極3aとなっている。また電極引出し用メタリコンと
の接触部を含む近傍においては実施の形態1はアルミニ
ウム蒸着電極2の上に亜鉛蒸着電極3がある2層蒸着構
成となっている。従来例においては亜鉛蒸着電極3aの
みとなっている。また実施の形態1では蒸着膜の微小な
亀裂4を形成しているが、比較例1ないし3では、蒸着
膜の微小な亀裂4を形成していないので表面光沢に違い
がある。
【0030】つぎに、実施の形態1のコンデンサの効果
を検証するために、サンプル1のコンデンサの電圧印加
による破壊試験を実施し、その破壊電圧レベルを評価し
た。図2は縦軸に破壊電圧をプロットしたグラフであ
り、この時の試験条件は常温・常湿であり電圧昇圧スピ
ードは、1分間に100Vである。
【0031】図2を見れば分かるようにサンプル1のコ
ンデンサの方が従来例のコンデンサより、破壊電圧が9
00V〜1200V上回っていることがわかる。また、
比較例1は、サンプル1より200V〜300V下回っ
ていることがわかる。さらに、比較例2は、比較例1と
ほぼ同様な破壊水準を示しているが若干ばらつきがみら
れる。また、比較例3は、実施例サンプル1と比較例
1,2のコンデンサより破壊水準が低い従来例よりは若
干高いことがわかる。そして、この破壊試験実施後のコ
ンデンサ素子を分解し金属化プラスチックフィルム1の
状態を確認したところ図3(a)(b)および図4
(a)(b)および図5(a)(b)に示すような自己
回復(セルフヒーリング)が確認できた。そして、図3
(a)(b)は従来例の金属化プラスチックフィルム1
の破壊状況を示しており、絶縁欠陥部4は形状が大き
く、ところによっては自己回復が上手く行われず層のフ
ィルムに破壊が進行していることが伺えた。この段付き
蒸着を実施することで自己回復は段付き蒸着を実施しな
い場合よりは良好に行われているが、それでも不完全な
自己回復によってフィルムにダメージを与え絶縁耐力を
低下させていることがわかる。また、亜鉛蒸着電極3a
での蒸着膜飛散部5による自己回復ではフィルムが本来
持っている絶縁耐力にまで回復できないことが伺える。
【0032】図4(a)(b)は比較例1の金属化プラ
スチックフィルム1の破壊状況を示しており、絶縁欠陥
部7は従来例より形状は小さいが蒸着膜飛散部8には不
完全な自己回復も見られた。
【0033】図5(a)(b)はサンプル1の金属化プ
ラスチックフィルム1の破壊状況を示しており、絶縁欠
陥部9の形状は従来例金属化プラスチックフィルムの場
合よりなるかに小さく、良好に蒸着膜飛散部10,11
にて自己回復が行われ、比較例1のようにばらつきもな
い。さらに、自己回復の周囲において微小な亀裂4によ
って絶縁破壊部を取囲むように蒸着膜が飛散し絶縁がよ
り効果的に行われていることがわかる。したがってフィ
ルムに与えるダメージも小さく絶縁耐力もフィルムが本
来持っている絶縁耐力により近づいているものと考えら
れる。
【0034】また、比較例2においても、サンプル1と
同様に自己回復の形状は従来例の金属化プラスチックフ
ィルムの場合よりはるかに小さく、良好に自己回復が行
われているが、電極引出し用メタリコンとの接触部を含
む近傍の蒸着膜において蒸着膜飛散が発生しメタリコン
とのコンタクトが失われコンデンサ容量を失っていた。
これは電極引出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の
膜抵抗値が高いため、自己回復時の電流によりコンタク
ト部近傍の蒸着膜が飛散し、失われたためである。その
結果として、耐圧性能は高くなったが、耐電流性能は低
くなったものと考えられる。
【0035】比較例3においては従来例の金属化プラス
チックフィルム1の場合とほぼ同様な大きな自己回復が
見られアルミニウムの飛散性においても、また微小な亀
裂の効果においても蒸着膜抵抗が低い場合は充分な高い
耐電圧性能が得られないことがわかる。
【0036】これらの結果は主電極部分における蒸着金
属の違い、すなわちアルミニウムと亜鉛における自己回
復時の飛散性の違いによるところ、また、蒸着金属の膜
抵抗値をR=8〜20Ω/□、電極引出し用メタリコン
との接触部を含む膜抵抗値をR=2〜7Ω/□としたこ
とによる効果によるところ、さらに微小な亀裂効果によ
り、差はより一層大きくなっている。
【0037】つぎに、各コンデンサの充放電試験におけ
る試験結果を図6に示す。これは耐電流破壊レベルを評
価したものであり、図6に示すグラフは縦軸に容量減少
率(%)をプロットし横軸には充放電回数(サイクル)
をプロットした充放電特性を示す。なお、この試験条件
は常温・常湿であり印加電圧は3000Vである。また
充放電電流はピーク電流300A、印加時間100μS
である。
【0038】図6において、10000サイクルにおけ
る容量減少の少ない順位はサンプル1・比較例1・比較
例3・従来例・比較例2の順の結果となった。そして、
電圧破壊試験の時と同様にコンデンサ素子を分解し金属
化プラスチックフィルムの状態を確認したところ、比較
例2のコンデンサにおいては電圧破壊試験の時と同様
に、良好な自己回復を示していたが、その発生個数が少
ないにもかかわらず、電極引出し用メタリコンとの接触
部を含む近傍の蒸着膜において蒸着膜飛散が発生しメタ
リコンとのコンタクトが失われコンデンサ容量を失って
いた。これは電圧破壊試験のときと同様な理由によるも
のと考えられる。
【0039】また、比較例3・従来例においては多数自
己回復が発生していたが比較例2のような蒸着膜の飛散
の発生は少なく容量減少は比較例2より大幅に少ない。
しかしながら自己回復状態は思わしくなく、その形状も
大きく理想的状態とは言いがたい。またこれらの自己回
復発生部分においてその蒸着膜飛散エネルギーは大きく
隣接するフィルムにまで熱的ダメージを与えている。な
かには隣接する部分においてでも絶縁破壊が発生し自己
回復を行っている部分も数多く見られた。結果として、
これら多数の自己回復部分の蒸着膜飛散により容量減少
は大きくなっている。
【0040】また、比較例1においては比較例2,3等
に比較して自己回復の大きさは小さくまた発生個数も少
ないが、中には比較例3・従来例と同様な大きさの自己
回復も見られ完全な状態とは言えない。
【0041】ところが、サンプル1においては自己回復
の大きさは明らかに小さく、さらに自己回復部分の周り
の微小な亀裂4において絶縁破壊部分を囲むように蒸着
膜が飛散しより絶縁耐力を高めており、他の比較例1な
いし3および従来例より自己回復状態は良好であり望ま
しい状態であった。
【0042】これらの結果を基に、定格電圧3000
V,定格電流200A,容量30μFのコンデンサを設
計した場合のコンデンサ体積を算定した結果を図7に示
す。本サンプル1においては他の比較例1ないし3およ
び従来例より25〜30%小さくなる結果となった。
【0043】(実施の形態2)つぎに、実施の形態2の
サンプル2aとして、金属化プラスチックフィルム1の
片面蒸着フィルムを得る際に、その片面にオイルを塗布
もしくは転写することによって図8に示す蒸着パターン
のアルミニウム蒸着電極2、すなわち金属化フィルムの
蒸着金属膜の長手方向に連続した絶縁層を設け、1個コ
ンデンサ素子内に7個の直列コンデンサを形成し、その
後マスキングにより図9に示す蒸着パターンの亜鉛蒸着
電極3を形成した。
【0044】つぎに、金属化プラスチックフィルムを2
枚組合わせて巻回し、電極引出し用メタリコンを溶射し
コンデンサ素子とした。このコンデンサ素子を金属ケー
ス中に収容し絶縁オイルを含浸しメタリコンから外部電
極引出し用端子と接続させコンデンサとした。また、実
施の形態2のサンプル2bとして、サンプル2aを巻回
するときに金属化プラスチックフィルムを長手方向に延
伸しフィルム巾方向に多数の微小な亀裂4を蒸着膜に形
成し、実施の形態2のサンプル2aと同様な方法にして
コンデンサ素子を形成した。
【0045】さらに、実施の形態2のサンプル2cとし
てサンプル2aの金属蒸着電極に図10に示すようにオ
イルを塗布もしくは転写もしくはレーザ加工することに
よって蒸着金属膜の巾方向に分割マージン12を形成
し、少なくとも一方の金属蒸着電極を複数個に分割し
た。
【0046】この金属化フィルムを用いサンプル2aと
同様な方法にてサンプル2cのコンデンサとした。
【0047】また、実施の形態2のサンプル2dとし
て、図11に示すように、サンプル2cを巻回するとき
に金属化蒸着フィルムを長手方向に延伸しフィルム巾方
向に多数の蒸着膜の微小な亀裂4を形成し、サンプル2
aと同様な方法にてコンデンサ素子とした。
【0048】さらに比較のためサンプル2cとして前記
サンプル1を7個直列に接続したコンデンサを用意し
た。
【0049】いずれの場合も実施の形態1の場合と同様
な構成でコンデンサとした。これらのコンデンサに使用
した金属化プラスチックフィルム1の厚みは10μであ
り、コンデンサ容量は4.3μFであり、定格電圧は21
000Vである。
【0050】これらのコンデンサの体積を算定し、比較
したグラフを図12に示す。比較のサンプル2eよりサ
ンプル2aないし2dの方が15〜30%小さくなる結
果となった。これは定格電圧が高くなり多段直列構成を
必要とする場合、1直のコンデンサ素子を多段に接続す
るより、1個のコンデンサ素子内に多段直列構成を設け
る方がスペースファクタが良いためである。すなわち1
直のコンデンサ素子を多段に接続する場合は、接続のた
めのリード線やハンダ付部分において余分なスペースが
発生し体積的に不利である。
【0051】つぎに、サンプル1の場合と同様に耐電圧
特性試験としてサンプル2aないし2eのコンデンサの
電圧印加による破壊電圧を実施し、それぞれの破壊電圧
のレベルの比較特性を図13に示す。また、同様に耐電
流特性として各コンデンサの充放電試験における容量減
少率(%)を図14に示す。
【0052】いずれの場合の特性試験においても各サン
プルは満足できる特性を示しているが、特にサンプル2
c,2dが良好な特性を示している。これは、蒸着金属
膜をフィルムの巾方向に、少なくとも一方の金属蒸着電
極を複数個に分割したことにより自己回復が発生したと
きに流れ込む電流が抑制される作用と、微小な亀裂4を
形成したので、電気エネルギーが絶縁破壊部に流入する
経路が長くなり電気エネルギーの集中を緩和する作用に
より自己回復の大きさをより小さくしているためと考え
られる。
【0053】(実施の形態3)つぎに、実施の形態3と
して図15に、金属化プラスチックフィルムを長手方向
に延伸して金属蒸着電極層に微小な亀裂を巾方向に施す
手段を示し、金属化プラスチックフィルムを延伸しなが
らコンデンサ素子として巻回するコンデンサの製造方法
を図15に沿って説明する。
【0054】すなわち、図15に示すように、フィルム
原反13より導出された2組の金属化プラスチックフィ
ルムは各ローラ14に誘導されて巻取軸15に至る。こ
の巻取軸15に至る最後のローラである延伸ローラ16
に回転数を巻取軸15の回転数と違えることにより押え
ローラ17と延伸ローラ16の間において金属化プラス
チックフィルムを延伸することが可能である。
【0055】このような製造方法により、金属化プラス
チックフィルムの延伸加工を巻取行程中に行うことで工
数の削減が図れ、製造性が向上する。
【0056】また、この巻取軸15と延伸ローラ16の
回転数との違いをコントロールすることによって発生す
る微小な亀裂4の大きさを調整することが可能となる。
【0057】(実施の形態4)実施の形態4として図1
6(a)(b)に、前記サンプル1の構成による金属化
フィルムからなるコンデンサ素子構造が巻回形で、素子
形状が小判形であるコンデンサ素子18と、丸形状のコ
ンデンサ素子19の外観図を示す。各コンデンサ素子1
8,19の定格・容量は同じであるが、素子形状が小判
形であるコンデンサ素子18の方が、丸形形状の場合の
コンデンサ素子19よりもデッドスペースがほとんどな
いので全体の大きさが30〜40%程度小さくなる。
【0058】また、図17は小判形状にプレスするとき
の圧力を図17のように変化させた場合のサンプル1の
コンデンサを作成し、各破壊電圧を比較した特性を示
す。
【0059】図17から0.5〜1.5Kg/cm2の間にお
いて破壊電圧は安定して高いことがわかる。0.5Kg/c
m2未満の圧力においては圧力が下がるほど破壊電圧は低
下している。これはプレス圧力が弱いためフィルム電極
間の均一性がなく、しわなどの弱点部が発生しやすいた
め破壊電圧が低下またはばらつきが大きくなるものと推
定できる。1.5Kg/cm2より高い圧力においてはプレス
圧力が高すぎるため、フィルムに過大な機械的ストレス
を与え弱点を発生させること、また、プレス圧力が高す
ぎるために金属蒸着フィルム上の蒸着金属の飛散性が悪
くなり、自己回復性能が低下し破壊水準が低下している
ものと考えられる。
【0060】以上のようなコンデンサの製造方法から、
コンデンサ素子を集合した外装金属ケース内の体積占有
率が良くなりコンデンサの小形化が図れ、また小判形状
にプレスする圧力を0.5〜1.5Kg/cm2とすると金属
蒸着フィルム上の蒸着金属の飛散性が安定し、絶縁破壊
部に流入する電気エネルギーが均一になるので自己回復
性能が安定し、コンデンサ性能のばらつきが少なくな
る。
【0061】なお、本実施の形態1ないし4では、金属
化プラスチックフィルムをPETの蒸着フィルムとして
用いる例で示したが、これは必ずしもこの構成に限ら
ず、使用する蒸着フィルムにPP、他にポリカーボネイ
ト、ポリスチレン、ポリエチレン等を単独または組合わ
せて用いることができる。また、PPの片面蒸着フィル
ムを二枚重ねてコンデンサ素子を形成してもよく、また
金属化プラスチックフィルムからなるコンデンサ素子の
形状を丸形や小判形に、外装容器にポリブデンオイル
(PO)で含浸し密閉しても、同様の効果を有する。
【0062】
【発明の効果】以上のように、本発明のコンデンサは、
金属化プラスチックフィルムの蒸着膜に多数の微小な亀
裂を巾方向に形成したので、電気エネルギーが絶縁破壊
部に流入する経路が長くなり電気エネルギーの集中を緩
和し、自己回復性能が向上するため、蒸着フィルム内に
存在する絶縁欠陥部分を自己回復により、より小さく良
好に自己回復し絶縁耐力の回復を行うことができ、金属
化プラスチックフィルムが有している本来の絶縁耐力を
引出し、より高電位傾度において金属化プラスチックフ
ィルムを使用したコンデンサの設計を行うことができる
優れた効果を奏する。
【0063】また、本発明のコンデンサの製造方法は、
金属化プラスチックフィルムの巻取行程中の延伸ローラ
で金属化プラスチックフィルムを長手方向に延伸して、
蒸着膜に細長い多数の微小な亀裂を巾方向に形成するこ
とを特徴とするもので、コンデンサ素子の製造工数の削
減が図れ、製造性が向上する。また、コンデンサ素子の
構造が巻回形で、素子形状が小判形であり、小判形状に
プレスする圧力が0.5ないし1.5Kg/cm2とするとに
より、金属化蒸着フィルム上の蒸着電極の飛散性が安定
し、絶縁破壊部に流入する電気エネルギーが均一になる
ため、自己回復性能が安定し、その性能のばらつきの少
ないコンデンサを形成することができる優れた効果を奏
するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)本発明の実施の形態1におけるコンデン
サの巻回時の斜視展開図 (b)同(a)図のB部における金属化プラスチックフ
ィルムの一部拡大図
【図2】同コンデンサの破壊電圧特性を比較する特性図
【図3】(a)金属化プラスチックフィルムの破壊欠陥
部を示す従来例の一部斜視図 (b)同(a)図のC−C断面図
【図4】(a)金属化プラスチックフィルムの破壊欠陥
部を示す比較例1の一部斜視図 (b)同(a)図のB−B断面図
【図5】(a)金属化プラスチックフィルムの破壊欠陥
部を示す実施の形態1のサンプル1の一部斜視図 (b)同(a)図のA−A断面図
【図6】充放電回数に対する容量減少率を示す比較特性
【図7】コンデンサの体積比較を示すグラフ図
【図8】本発明の実施の形態2のコンデンサのサンプル
2aの蒸着パターンを示す概略断面図
【図9】同コンデンサのサンプル2bの蒸着パターンを
示す概略断面図
【図10】同コンデンサのサンプル2cを示す概略斜視
【図11】同コンデンサのサンプル2dを示す概略斜視
【図12】同コンデンサのサンプル2aないし2eの体
積比較図
【図13】同コンデンサのサンプル2aないし2eの破
壊電圧比較図
【図14】同コンデンサのサンプル2aないし2eの容
量減少率比較図
【図15】本発明のコンデンサの製造方法を実施する巻
取工程の概念図
【図16】(a)巻回形のコンデンサ素子を小判形にプ
レス加工し集合した状態を例示する斜視図 (b)巻回形のコンデンサ素子を丸形のまま集合した状
態を例示する斜視図
【図17】小判形のコンデンサ素子のプレス圧力(Kg/
cm2)に対する破壊電圧の特性図
【符号の説明】
1 金属化プラスチックフィルム 2 アルミニウム蒸着電極 3 亜鉛 4 微小な亀裂 15 巻取軸 16 延伸ローラ 17 押さえローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−32605(JP,A) 特開 昭60−171710(JP,A) 特公 昭31−2427(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01G 4/00 - 4/40

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも片面にアルミニウム蒸着電極
    を有する金属化プラスチックフィルムを巻回し、電極引
    出し用メタリコンとの接触部を含む近傍に亜鉛蒸着電極
    を設けたコンデンサであって、その金属化プラスチック
    フィルムを長手方向に0.2%以上5%未満の延伸率で
    全長にわたって延伸し、全長にわたってアルミニウム蒸
    着電極に多数の微小な亀裂を巾方向に形成したコンデン
    サ。
  2. 【請求項2】アルミニウム蒸着電極の膜抵抗値をR=8
    〜20Ω/□とし、電極引出し用メタリコンとの接触部
    を含む近傍の亜鉛蒸着電極の膜抵抗値をR=2〜7Ω/
    □とした請求項1記載のコンデンサ。
  3. 【請求項3】金属化プラスチックフィルムの蒸着電極の
    長手方向に連続した絶縁層を設け、1個のコンデンサ素
    子内に少なくとも2個以上の直列コンデンサを形成する
    請求項1または2記載のコンデンサ。
  4. 【請求項4】金属化プラスチックフィルムの蒸着電極の
    巾方向に、少なくとも一方の蒸着電極を複数個に分割し
    た請求項1ないし3のいずれかに記載のコンデンサ。
  5. 【請求項5】金属化プラスチックフィルムを長手方向に
    0.2%以上5%未満の延伸率で全長にわたって延伸
    し、全長にわたってアルミニウム蒸着電極層に微小な亀
    裂を巾方向に施す手段として、金属化プラスチックフィ
    ルムの巻取工程中に延伸ローラを配設し、巻取軸に対向
    する押さえローラとの間で金属化プラスチックフィルム
    を延伸しながらコンデンサを巻回して形成することを特
    徴とするコンデンサの製造方法。
  6. 【請求項6】金属化プラスチックフィルムからなるコン
    デンサ素子の構造が巻回形で、コンデンサ素子の形状を
    小判形にするためコンデンサ素子を形成するプレス圧力
    を0.5ないし1.5Kg/cm 2 としたことを特徴とする請
    求項5記載のコンデンサの製造方法。
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