JP3335904B2 - Coating device and coating method - Google Patents

Coating device and coating method

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JP3335904B2
JP3335904B2 JP13701998A JP13701998A JP3335904B2 JP 3335904 B2 JP3335904 B2 JP 3335904B2 JP 13701998 A JP13701998 A JP 13701998A JP 13701998 A JP13701998 A JP 13701998A JP 3335904 B2 JP3335904 B2 JP 3335904B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は例えば、液晶表示装
置(以下、この液晶表示装置を「LCD」と記す)の製
造工程でLCD用ガラス基板上にレジスト液などの処理
剤を塗布する塗布装置及び塗布方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to, for example, a coating apparatus for applying a processing agent such as a resist solution onto a glass substrate for an LCD in a manufacturing process of a liquid crystal display (hereinafter, this liquid crystal display is referred to as "LCD"). And an application method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、LCD用ガラス基板(以下、
このLCD用ガラス基板を単に「基板」と記す)上にレ
ジスト液などの処理剤を塗布するには「スピンコート
法」と呼ばれる方法を用いるのが一般的であった。この
スピンコート法では、基板を水平面内で高速回転させ、
その回転中心の近傍にレジスト液を滴下し、基板の遠心
力により基板全体に塗布せしめ、余分なレジスト液を遠
心力で振り切り除去するとともに薄膜化する方法であ
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, glass substrates for LCDs (hereinafter referred to as LCD substrates) have been used.
In order to apply a processing agent such as a resist solution onto the LCD glass substrate (hereinafter simply referred to as “substrate”), a method called “spin coating method” was generally used. In this spin coating method, the substrate is rotated at high speed in a horizontal plane,
In this method, a resist solution is dropped near the rotation center, applied to the entire substrate by centrifugal force of the substrate, and excess resist solution is shaken off by centrifugal force and thinned.

【0003】このスピンコート法によれば、比較的単純
な構造の塗布装置で塗布できるという利点があるもの
の、基板全体にレジスト液を広げるため不要な部分にま
でレジスト液を塗布することになり、実際にレジスト膜
を形成するのに用いられるレジスト液に比較して多量の
レジスト液を浪費するという問題がある。
According to this spin coating method, although there is an advantage that the coating can be performed by a coating apparatus having a relatively simple structure, the resist liquid is applied to unnecessary portions in order to spread the resist liquid over the entire substrate. There is a problem that a large amount of the resist solution is wasted as compared with the resist solution used for actually forming the resist film.

【0004】また、基板上に形成される半導体素子の集
積度の増大に伴い、レジスト塗膜の薄膜化が要請されて
いるが、スピンコート法ではレジスト塗膜の膜厚は滴下
するレジスト液の粘度とガラス基板の回転速度により定
まるため、薄膜化には自ずと限界がある。
[0004] Further, as the degree of integration of semiconductor elements formed on a substrate increases, it is required to reduce the thickness of a resist coating film. Since it is determined by the viscosity and the rotation speed of the glass substrate, there is naturally a limit to thinning.

【0005】そのため、これらスピンコート法の問題を
解決するために種々の提案がなされてきた。
Therefore, various proposals have been made to solve the problems of the spin coating method.

【0006】例えば、特開平5−13320号には「多
数の細孔から処理液を供給する液体供給ノズルを、被処
理基板面に近接対抗する如く配置し、液体供給ノズルの
多数の細孔から、液膜状に処理液を被処理基板に供給す
るとともに、被処理基板と液体供給ノズルとを相対的に
移動させて、被処理基板面に処理液を塗布する処理液塗
布方法」が開示されている。この方法によれば、少量の
液体で効率よく塗布できるという利点がある。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-13320 discloses that "a liquid supply nozzle for supplying a processing liquid from a large number of pores is arranged so as to be close to the surface of a substrate to be processed, and a liquid supply nozzle is provided from the large number of pores of the liquid supply nozzle. And a processing liquid application method for applying a processing liquid to a surface of a substrate to be processed by supplying the processing liquid to the substrate to be processed in the form of a liquid film, and relatively moving the substrate to be processed and the liquid supply nozzle. ing. According to this method, there is an advantage that a small amount of liquid can be applied efficiently.

【0007】また、特開平3−77674号には、「方
形状の基板表面に液体を塗布する方法において、基板の
一方端側に液体を直線上に供給した後、基板を液体供給
ラインと垂直方向に直線移動させる塗布方法」が開示さ
れている。この方法によれば、液体が均一に塗布できる
という特徴がある。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-77674 discloses that, in a method of applying a liquid to the surface of a rectangular substrate, the liquid is supplied linearly to one end of the substrate, and then the substrate is perpendicular to the liquid supply line. Coating method of linearly moving in a direction ". According to this method, the liquid can be applied uniformly.

【0008】更に、特開昭60−89925号には、
「ホトレジストと溶剤とからなる強粘性液を形成する段
階と、エッチング可能薄膜面を有する回路エレメントを
準備する段階と、エッチング可能薄膜面から所定距離だ
け上方に離間した位置において強粘性液の可撓性薄膜を
水平に形成するとともに可能性薄膜を第一の速度で移動
させつつエッチング可能薄膜面に接触させる段階と、回
路エレメントを前記第一の速度より大きい第2の速度で
移動させ可撓性薄膜を引っ張りつつエッチング可能薄膜
面上に堆積させる段階と、を備えた電子回路エレメント
の形成方法」が開示されている。この方法によれば、ロ
ール巻きされた長尺基板上に均一で膜厚の薄い処理剤膜
を形成することができるという利点がある。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-89925 discloses that
"Forming a viscous liquid comprising a photoresist and a solvent, preparing a circuit element having an etchable thin film surface, and flexing the viscous liquid at a predetermined distance above the etchable thin film surface. Forming the conductive thin film horizontally and contacting the etchable thin film surface while moving the possible thin film at a first speed; and moving the circuit element at a second speed greater than the first speed to provide flexibility. Depositing a thin film on an etchable thin film surface while pulling the thin film ". According to this method, there is an advantage that a processing agent film having a uniform and thin film thickness can be formed on a long substrate wound with a roll.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記特開平
5−13320号では被処理基板として円形のシリコン
ウエハをノズルに対して回転させる構成であるため、こ
の発明を長方形のLCD用ガラス基板に用いた場合、基
板全体に無駄なく効率良く塗布することができない。
However, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-13320, a circular silicon wafer as a substrate to be processed is rotated with respect to a nozzle, so that the present invention is applied to a rectangular LCD glass substrate. In such a case, it is not possible to efficiently apply the entire substrate without waste.

【0010】また、特開平3−77674号では、スリ
ットノズルに細長い一本の溝状のスリットが形成されて
いるため、スリットノズルの剛性が低下するという問題
や、スリットノズルと基板との間隔によって膜厚が影響
されるという問題があった。更に、膜厚を薄くする方法
としては、上述した特開昭60−89925号に開示さ
れた方法が挙げられるが、この方法では、下記のような
問題点がある。
In Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-77674, since one slit-like slit is formed in the slit nozzle, the rigidity of the slit nozzle is reduced, and the distance between the slit nozzle and the substrate may be reduced. There is a problem that the film thickness is affected. Further, as a method for reducing the film thickness, there is a method disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-89925, but this method has the following problems.

【0011】強粘性液をダイヘッド(ノズル)と基板
(被処理基板)との間に保持した状態でダイヘッド(ノ
ズル)と基板(被処理基板)とで引っ張ることにより膜
厚を薄くする構成であるので、ダイヘッド(ノズル)と
基板(被処理基板)との間隔によって膜厚が変動する。
そのため、これらの間隔を高精度に制御する必要があ
り、精密な制御が必要となる。
In this structure, the film thickness is reduced by pulling the viscous liquid between the die head (nozzle) and the substrate (substrate to be processed) while holding it between the die head (nozzle) and the substrate (substrate to be processed). Therefore, the film thickness varies depending on the distance between the die head (nozzle) and the substrate (substrate to be processed).
Therefore, it is necessary to control these intervals with high accuracy, and precise control is required.

【0012】また、ダイヘッド(ノズル)からの強粘性
液吐出量が膜厚に直接影響するので、この吐出量を高精
度に管理する必要がある。
Also, since the amount of the viscous liquid discharged from the die head (nozzle) directly affects the film thickness, it is necessary to control the discharged amount with high precision.

【0013】更に、ダイヘッドのスリットの幅の寸法精
度が膜厚に直接影響するので、このスリット幅の寸法精
度の高いスリットを形成する必要がある。
Furthermore, since the dimensional accuracy of the width of the slit of the die head directly affects the film thickness, it is necessary to form a slit having a high dimensional accuracy of the slit width.

【0014】また、ダイヘッドに形成されたスリットは
横一文字に連続した形状であるので、スリット幅が大き
くなればなるほどダイヘッドのスリット形成部の剛性を
維持するのが困難になり、均一な膜厚の塗膜を形成する
のが困難になる。
Further, since the slit formed in the die head has a shape that is continuous in one horizontal character, it becomes more difficult to maintain the rigidity of the slit forming portion of the die head as the slit width becomes larger. It becomes difficult to form a coating film.

【0015】更に、この方式では強粘性液を吐出する速
度より引っ張る速度の方が高いため、強粘性液の使用が
不可欠であり、低粘度の処理剤を用いることはできな
い。そのため、処理剤の粘度管理に高精度が要求され
る。
Further, in this method, since the pulling speed is higher than the discharging speed of the viscous liquid, the use of a viscous liquid is indispensable, and a low-viscosity treating agent cannot be used. Therefore, high precision is required for the viscosity management of the processing agent.

【0016】本発明は上記のような課題を解決するため
になされたものである。
The present invention has been made to solve the above problems.

【0017】即ち、本発明は処理剤の塗布が必要な部分
に選択的に処理剤を塗布できる塗布装置及び塗布方法を
提供することを目的とする。
That is, an object of the present invention is to provide a coating apparatus and a coating method which can selectively apply a processing agent to a portion where application of the processing agent is required.

【0018】また本発明は、処理剤の粘度や種類など広
範囲の処理剤を使用できる塗布装置及び塗布方法を提供
することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a coating apparatus and a coating method which can use a wide range of processing agents such as the viscosity and type of the processing agent.

【0019】更に本発明は、処理剤ノズルと被処理基板
との間隙やノズルの寸法精度など、要求される機械的な
精度をある程度緩和できる塗布装置及び塗布方法を提供
することを目的とする。
It is a further object of the present invention to provide a coating apparatus and a coating method capable of alleviating the required mechanical accuracy, such as the gap between the processing agent nozzle and the substrate to be processed and the dimensional accuracy of the nozzle to some extent.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の塗布装置は、被処理基板を保持する保持
部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理
基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに
設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤ノズルに
処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の方向と異
なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は前記処理
剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記保持部材
と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移動系と、
前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期して駆動させ
る制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、前
記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各処
理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、前記検出
した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作動状態を
監視する監視装置と、を具備する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a coating apparatus for holding a substrate to be processed.
A member, the member being directed to a surface of the substrate to be processed, and
At predetermined intervals over a first direction across the substrate surface
A plurality of processing agent nozzles provided, and
A processing agent supply system for supplying the processing agent, and a processing agent different from the first direction.
Disposed in the second direction, wherein the holding member or the processing
A guide for movably supporting an agent nozzle, and the holding member
And a moving system for relatively moving the processing agent nozzle,
The processing agent supply system and the moving system are driven synchronously.
And a standby position adjacent to the holding member.
The processing agent nozzle is disposed at the standby position at
A pressure sensor for detecting a discharge pressure of the agent nozzle;
Operating state of each of the processing agent nozzles based on
And a monitoring device for monitoring .

【0021】請求項2の塗布装置は、被処理基板を保持
する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前
記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間
隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤
ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の
方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は
前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記
保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移
動系と、前記保持部材に配設された揺動機構と、前記処
理剤供給系、前記移動系及び前記揺動機構を同期して駆
動させる制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置
と、前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設さ
れ、各処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、
前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作
動状態を監視する監視装置と、を具備する。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a coating apparatus comprising: a holding member for holding a substrate to be processed;
A predetermined distance over a first direction across the surface of the substrate to be processed
A plurality of processing agent nozzles provided for each interval, the processing agent
A treatment agent supply system for supplying a treatment agent to a nozzle;
Disposed in a second direction different from the direction, the holding member or
A guide movably supporting the treatment agent nozzle,
A transfer for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle.
A dynamic system, a swing mechanism disposed on the holding member,
The agent supply system, the moving system and the swing mechanism are driven in synchronization.
A control unit to be moved, and a standby position next to the holding member.
Disposed on the surface facing the processing agent nozzle at the standby position.
A pressure sensor for detecting the discharge pressure of each processing agent nozzle,
The operation of each of the processing agent nozzles is performed based on the detected discharge pressure.
A monitoring device for monitoring the operating state .

【0022】請求項3の塗布装置は、請求項2記載の塗
布装置であって、前記揺動機構が、前記保持部材の被処
理基板当接部に配設されたアクチュエータ、又は、スピ
ンチャック及びこのスピンチャックを駆動するモータで
あることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the coating apparatus according to the second aspect.
A cloth device, wherein the swinging mechanism is configured to process the holding member;
The actuator or spin
Chuck and the motor that drives this spin chuck
There is a feature .

【0023】請求項4の塗布装置は、被処理基板を保持
する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前
記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間
隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤
ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の
方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は
前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記
保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移
動系と、前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向上流側
に隣設された溶剤ノズルと、前記溶剤ノズルに溶剤を供
給する溶剤供給系と、前記処理剤供給系、前記溶剤供給
系、及び前記移動系を同期して駆動させる制御部と、前
記保持部材に隣設された待機位置と、前記待機位置の前
記処理剤ノズル対向面に配設され、各処理剤ノズルの吐
出圧を検出する圧力センサと、前記検出した吐出圧に基
づいて前記各処理剤ノズルの作動状態を監視する監視装
置と、を具備する。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a coating apparatus , comprising: a holding member for holding a substrate to be processed;
A predetermined distance over a first direction across the surface of the substrate to be processed
A plurality of processing agent nozzles provided for each interval, the processing agent
A treatment agent supply system for supplying a treatment agent to a nozzle;
Disposed in a second direction different from the direction, the holding member or
A guide movably supporting the treatment agent nozzle,
A transfer for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle.
Dynamic system, upstream of the processing agent nozzle in the moving direction of the substrate to be processed
A solvent nozzle provided next to the
Solvent supply system to supply, the treatment agent supply system, and the solvent supply
A control unit for driving the system and the moving system in synchronization with each other;
A standby position adjacent to the holding member and a position in front of the standby position.
The processing agent nozzles are disposed on the surface facing the processing agent nozzles.
A pressure sensor for detecting the output pressure, and a pressure sensor for detecting the output pressure.
Monitoring device for monitoring the operation state of each of the processing agent nozzles
And a device.

【0024】請求項5の塗布装置は、被処理基板を保持
する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前
記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間
隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤
ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の
方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は
前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記
保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移
動系と、前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向下流側
に隣設された気体ノズルと、前記気体ノズルに溶剤蒸気
を含む気体を供給する気体供給系と、前記処理剤供給
系、前記気体供給系、及び前記移動系を同期して駆動さ
せる制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、
前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各
処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、前記検
出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作動状態
を監視する監視装置と、を具備する。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a coating apparatus for holding a substrate to be processed.
A holding member, which is directed toward the surface of the substrate to be processed, and
A predetermined distance over a first direction across the surface of the substrate to be processed
A plurality of processing agent nozzles provided for each interval, the processing agent
A treatment agent supply system for supplying a treatment agent to a nozzle;
Disposed in a second direction different from the direction, the holding member or
A guide movably supporting the treatment agent nozzle,
A transfer for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle.
Dynamic system, and the downstream side of the processing agent nozzle in the moving direction of the substrate to be processed.
A gas nozzle adjacent to the
A gas supply system for supplying a gas containing
System, the gas supply system, and the moving system are driven synchronously.
A control unit to be moved, a standby position provided next to the holding member,
The processing agent nozzle is disposed on the surface facing the processing agent nozzle at the standby position.
A pressure sensor for detecting the discharge pressure of the processing agent nozzle;
The operating state of each of the processing agent nozzles based on the discharged discharge pressure
And a monitoring device for monitoring .

【0025】請求項6の塗布装置は、被処理基板を保持
する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前
記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間
隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤
ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の
方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は
前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記
保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移
動系と、前記保持部材に保持された被処理基板を加熱す
るヒータと、前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期
して駆動させる制御部と、前記保持部材に隣設された待
機位置と、前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配
設され、各処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサ
と、前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズル
の作動状態を監視する監視装置と、を具備する。
According to a sixth aspect of the present invention, the coating apparatus holds a substrate to be processed.
A holding member, which is directed toward the surface of the substrate to be processed, and
A predetermined distance over a first direction across the surface of the substrate to be processed
A plurality of processing agent nozzles provided for each interval, the processing agent
A treatment agent supply system for supplying a treatment agent to a nozzle;
Disposed in a second direction different from the direction, the holding member or
A guide movably supporting the treatment agent nozzle,
A transfer for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle.
The dynamic system and the substrate to be processed held by the holding member are heated.
Heater, and the processing agent supply system and the moving system are synchronized.
And a control unit for driving the holding member.
And the processing agent nozzle at the standby position.
Pressure sensor that detects the discharge pressure of each processing agent nozzle
And each of the processing agent nozzles based on the detected discharge pressure
And a monitoring device for monitoring the operating state of the device .

【0026】[0026]

【0027】請求項の塗布装置は、被処理基板を保持
する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前
記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間
隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤
ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の
方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は
前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記
保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移
動系と、前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期して
駆動させる制御部と、を具備し、前記処理剤ノズルが、
前記被処理基板の移動方向に沿って二列以上配設されて
おり、隣接する処理剤ノズルの間で、被処理基板移動方
向下流側の処理剤ノズルが、被処理基板移動方向に関
し、被処理基板移動方向上流側の隣接する二つのノズル
の間に配設されていることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the coating apparatus, wherein the holding member holds the substrate to be processed, and is provided at predetermined intervals in a first direction crossing the surface of the substrate to be processed and directed to the surface of the substrate to be processed. A plurality of processing agent nozzles, a processing agent supply system for supplying the processing agent to the processing agent nozzle, and a second direction different from the first direction, the holding member or the processing agent nozzle being movable. A guide that supports the processing member, a moving system that relatively moves the holding member and the processing agent nozzle, a processing unit supply system, and a control unit that synchronously drives the moving system , Processing agent nozzle
Arranged in two or more rows along the moving direction of the substrate to be processed
And how to move the substrate to be processed between adjacent processing agent nozzles.
The processing agent nozzle on the downstream side is
And two adjacent nozzles on the upstream side in the moving direction of the substrate to be processed.
It is characterized by being arranged between the.

【0028】請求項の塗布装置は、被処理基板を保持
する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、前
記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定間
隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理剤
ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1の
方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又は
前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前記
保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる移
動系と、前記保持部材に配設された揺動機構と、前記処
理剤供給系、前記移動系及び前記揺動機構を同期して駆
動させる制御部と、を具備し、前記処理剤ノズルが、前
記被処理基板の移動方向に沿って二列以上配設されてお
り、隣接する処理剤ノズルの間で、被処理基板移動方向
下流側の処理剤ノズルが、被処理基板移動方向に関し、
被処理基板移動方向上流側の隣接する二つのノズルの間
に配設されていることを特徴とする。
The coating apparatus of claim 8, a holding member for holding a substrate to be processed is directed to the surface of the substrate to be processed, provided at predetermined intervals over a first direction transverse to the surface of the substrate to be processed A plurality of processing agent nozzles, a processing agent supply system for supplying the processing agent to the processing agent nozzle, and a second direction different from the first direction, the holding member or the processing agent nozzle being movable. , A moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, a swing mechanism provided on the holding member, the processing agent supply system, the moving system, and the shaking device. A control unit for driving a moving mechanism in synchronization with the processing agent nozzle,
The two or more rows are arranged along the moving direction of the substrate to be processed.
Between the adjacent processing agent nozzles in the moving direction of the substrate to be processed.
The processing agent nozzle on the downstream side, with respect to the moving direction of the substrate to be processed,
Between two adjacent nozzles on the upstream side of the substrate movement direction
It is characterized by being arranged in .

【0029】請求項の塗布装置は、請求項記載の塗
布装置であって、前記揺動機構が、前記保持部材の被処
理基板当接部に配設されたアクチュエータ(振動体)、
又は、スピンチャック及びこのスピンチャックを駆動す
るモータであることを特徴とする。
The coating device according to a ninth aspect is the coating device according to the eighth aspect , wherein the oscillating mechanism is an actuator (vibrating body) provided at a portion of the holding member abutting on the substrate to be processed.
Alternatively, it is a spin chuck and a motor for driving the spin chuck.

【0030】請求項10の塗布装置は、被処理基板を保
持する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、
前記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定
間隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理
剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1
の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又
は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前
記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる
移動系と、前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向上流
側に隣設された溶剤ノズルと、前記溶剤ノズルに溶剤を
供給する溶剤供給系と、前記処理剤供給系、前記溶剤供
給系、及び前記移動系を同期して駆動させる制御部と、
を具備し、前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動
方向に沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤
ノズルの間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズ
ルが、被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向
上流側の隣接する二つのノズルの間に配設されているこ
とを特徴とする。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided the coating apparatus, wherein the holding member holds the substrate to be processed, and is directed to a surface of the substrate to be processed.
A plurality of treatment agent nozzles provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be treated, a treatment agent supply system for supplying a treatment agent to the treatment agent nozzle,
A guide disposed movably supporting the holding member or the processing agent nozzle, and a moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, A solvent nozzle provided adjacent to the processing agent nozzle on the upstream side in the moving direction of the substrate to be processed, a solvent supply system for supplying a solvent to the solvent nozzle, the processing agent supply system, the solvent supply system, and the movement system are synchronized. A control unit for driving
Wherein the processing agent nozzle moves the substrate to be processed.
Two or more rows are arranged along the direction,
Between the nozzles, the processing agent nozzle on the downstream side in the substrate movement direction
Is the moving direction of the substrate to be processed.
It should be located between two adjacent nozzles on the upstream side.
And features .

【0031】請求項11の塗布装置は、被処理基板を保
持する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、
前記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定
間隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理
剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1
の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又
は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前
記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる
移動系と、前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向下流
側に隣設された気体ノズルと、前記気体ノズルに溶剤蒸
気を含む気体を供給する気体供給系と、前記処理剤供給
系、前記気体供給系、及び前記移動系を同期して駆動さ
せる制御部と、を具備し、前記処理剤ノズルが、前記被
処理基板の移動方向に沿って二列以上配設されており、
隣接する処理剤ノズルの間で、被処理基板移動方向下流
側の処理剤ノズルが、被処理基板移動方向に関し、被処
理基板移動方向上流側の隣接する二つのノズルの間に配
設されていることを特徴とする。
[0031] The coating apparatus according to the eleventh aspect is directed to a holding member for holding the substrate to be processed, and a holding member that faces the surface of the substrate to be processed.
A plurality of treatment agent nozzles provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be treated, a treatment agent supply system for supplying a treatment agent to the treatment agent nozzle,
A guide disposed movably supporting the holding member or the processing agent nozzle, and a moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, A gas nozzle provided adjacent to the processing agent nozzle on the downstream side of the substrate to be processed in the moving direction of the processing agent, a gas supply system for supplying a gas containing a solvent vapor to the gas nozzle, the processing agent supply system, the gas supply system, and A control unit for synchronously driving a moving system , wherein the processing agent nozzle is
Two or more rows are arranged along the moving direction of the processing substrate,
Between the adjacent processing agent nozzles, downstream in the substrate movement direction
The processing agent nozzle on the side moves the substrate in the moving direction of the substrate to be processed.
Between two adjacent nozzles on the upstream side in the substrate movement direction.
It is characterized by being provided .

【0032】請求項12の塗布装置は、被処理基板を保
持する保持部材と、前記被処理基板の表面に向けられ、
前記被処理基板表面を横切る第1の方向にわたって所定
間隔ごとに設けられた複数の処理剤ノズルと、前記処理
剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、前記第1
の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保持部材又
は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイドと、前
記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させる
移動系と、前記保持部材に保持された被処理基板を加熱
するヒータと、前記処理剤供給系、及び前記移動系を同
期して駆動させる制御部と、を具備し、前記処理剤ノズ
ルが、前記被処理基板の移動方向に沿って二列以上配設
されており、隣接する処理剤ノズルの間で、被処理基板
移動方向下流側の処理剤ノズルが、被処理基板移動方向
に関し、被処理基板移動方向上流側の隣接する二つのノ
ズルの間に配設されていることを特徴とする。
A coating apparatus according to a twelfth aspect of the present invention is directed to a holding member for holding a substrate to be processed, and a holding member that faces the surface of the substrate to be processed.
A plurality of treatment agent nozzles provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be treated, a treatment agent supply system for supplying a treatment agent to the treatment agent nozzle,
A guide disposed movably supporting the holding member or the processing agent nozzle, and a moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, comprising a heater for heating the target substrate held by the holding member, the processing agent supply system, and a control unit for driving and synchronizing the mobile system, the treatment agent nozzle
Are arranged in two or more rows along the moving direction of the substrate to be processed.
Substrate between adjacent processing agent nozzles
The processing agent nozzle on the downstream side in the movement direction
With respect to two adjacent nozzles on the upstream side in the moving direction of the substrate to be processed.
It is characterized in that it is arranged between slurs .

【0033】請求項13の塗布装置は、請求項1〜12
に記載の塗布装置であって、前記保持部材が、前記被処
理基板を回転可能に保持し、モータの回転軸と接続され
たスピンチャックであり、前記制御部が、前記被処理基
板上に供給された処理剤が均一に薄膜化するように前記
モータの回転速度を制御する制御部であることを特徴と
する。
[0033] The coating apparatus of claim 13 is the first to twelfth aspect of the invention.
The coating device according to claim 1, wherein the holding member is a spin chuck that rotatably holds the substrate to be processed and is connected to a rotation shaft of a motor, and the control unit supplies the substrate to the substrate to be processed. It is a control unit for controlling the rotation speed of the motor so that the applied processing agent is uniformly thinned.

【0034】[0034]

【0035】請求項14の塗布装置は、請求項1〜13
に記載の塗布装置であって、前記処理剤ノズルの間隔
が、隣接する処理剤ノズルから供給された処理剤が前記
被処理基板上で一体化して均一な膜厚の処理剤層を形成
するような間隔であることを特徴とする。
The coating apparatus of claim 14 is the coating apparatus of claims 1 to 13
The spacing between the processing agent nozzles is such that processing agents supplied from adjacent processing agent nozzles are integrated on the substrate to be processed to form a processing agent layer having a uniform film thickness. It is characterized in that it is a suitable interval.

【0036】請求項15の塗布装置は、請求項1〜14
に記載の塗布装置であって、前記処理剤供給系が、速度
V1 で処理剤を供給する処理剤供給系であり、前記移動
系が、前記保持部材と前記処理剤ノズルとを速度V2 で
移動させる移動系であり、上記速度V1 と速度V2 との
間には、 V1 ≧V2 (1) の関係が成り立つことを特徴とする。
[0036] The coating apparatus of claim 15 is the coating apparatus of claims 1 to 14.
Wherein the treatment agent supply system is a treatment agent supply system that supplies the treatment agent at a speed V1, and the moving system moves the holding member and the treatment agent nozzle at a speed V2. The speed V1 and the speed V2 satisfy a relationship of V1 ≧ V2 (1).

【0037】[0037]

【0038】請求項16の塗布装置は、請求項〜15
に記載の塗布装置であって、前記処理剤ノズルが微細な
丸孔であることを特徴とする。
[0038] The coating apparatus of claim 16 is the first to fifteenth aspect.
Wherein the processing agent nozzle is a fine round hole.

【0039】請求項17の塗布装置は、請求項〜15
に記載の塗布装置であって、前記処理剤ノズルが被処理
基板移動方向に伸びたスリットであることを特徴とす
る。
The coating apparatus of claim 17 is the first to fifteenth aspect.
Wherein the processing agent nozzle is a slit extending in the moving direction of the substrate to be processed.

【0040】請求項18の塗布方法は、被処理基板の表
面の、所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給する工
程と、前記被処理基板を揺動して前記処理剤をつなげて
一体化する工程と、を具備した塗布方法であって、前記
被処理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズルを溶
剤バスの位置まで移動させる工程と、前記処理剤ノズル
を溶剤で洗浄する工程と、前記処理剤ノズルを待機位置
まで移動させる工程と、前記処理剤ノズルにダミーディ
スペンスを行わせる工程と、前記ダミーディスペンスの
際の各処理剤ノズルの吐出圧を検出する工程と、前記検
出した吐出圧が所定の値より低い場合には、前記処理剤
ノズルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度洗浄す
る工程と、を具備することを特徴とする。
The coating method according to claim 18 is a step of supplying a processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate to be processed, and connecting the processing agent by swinging the substrate to be processed. A coating method, comprising:
After supplying the processing agent to the substrate to be processed, the processing agent nozzle is melted.
Moving to the position of the agent bath, and the processing agent nozzle
Washing the solvent with a solvent, and placing the treating agent nozzle in a standby position.
To the processing agent nozzle and a dummy disk
Performing a spence, and
Detecting the discharge pressure of each processing agent nozzle at the time of
If the discharged discharge pressure is lower than a predetermined value, the treatment agent
Move the nozzle to the solvent bath and clean again.
And a step of performing the above.

【0041】請求項19の塗布方法は、被処理基板の表
面の、所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給する工
程と、前記被処理基板を回転して前記処理剤を均一に薄
膜化する工程と、を具備した塗布方法であって、前記被
処理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズルを溶剤
バスの位置まで移動させる工程と、前記処理剤ノズルを
溶剤で洗浄する工程と、前記処理剤ノズルを待機位置ま
で移動させる工程と、前記処理剤ノズルにダミーディス
ペンスを行わせる工程と、前記ダミーディスペンスの際
の各処理剤ノズルの吐出圧を検出する工程と、前記検出
した吐出圧が所定の値より低い場合には、前記処理剤ノ
ズルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度洗浄する
工程と、を具備することを特徴とする。
According to a nineteenth aspect of the present invention , there is provided a coating method comprising the steps of: supplying a processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate; and rotating the substrate to uniformly thin the processing agent. Performing the coating method.
After supplying the processing agent to the processing substrate, the processing agent nozzle is
Moving the treatment agent nozzle to a bath position,
Cleaning with a solvent and moving the treatment agent nozzle to a standby position.
And moving the dummy nozzle to the processing agent nozzle.
A step of performing dispensing, and a step of performing the dummy dispensing.
Detecting the discharge pressure of each processing agent nozzle of the above, the detection
If the discharged pressure is lower than a predetermined value, the processing agent
Move the spill to the position of the solvent bath and wash it again.
And a step .

【0042】請求項20の塗布方法は、被処理基板の表
面に溶剤を供給する工程と、前記被処理基板の表面の、
所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給する工程と、
を具備した塗布方法であって、前記被処理基板への処理
剤の供給後、前記処理剤ノズルを溶剤バスの位置まで移
動させる工程と、前記処理剤ノズルを溶剤で洗浄する工
程と、前記処理剤ノズルを待機位置まで移動させる工程
と、前記処理剤ノズルにダミーディスペンスを行わせる
工程と、前記ダミーディスペンスの際の各処理剤ノズル
の吐出圧を検出する工程と、前記検出した吐出圧が所定
の値より低い場合には、前記処理剤ノズルを前記溶剤バ
スの位置まで移動させて再度洗浄する工程と、を具備
ることを特徴とする。
According to a twentieth aspect of the present invention , there is provided the coating method , comprising: supplying a solvent to the surface of the substrate to be processed;
A step of supplying a processing agent to a plurality of positions separated by a predetermined interval,
A coating method comprising: treating the substrate to be processed.
After supplying the agent, move the treating agent nozzle to the position of the solvent bath.
Moving the treatment agent nozzle with a solvent.
Moving the treatment agent nozzle to a standby position
And cause the processing agent nozzle to perform dummy dispensing.
Process and each treatment agent nozzle during the dummy dispensing
Detecting the discharge pressure, and determining whether the detected discharge pressure is
If the value is lower than the value of
And cleaning again after moving to the position of the substrate .

【0043】請求項21の塗布方法は、被処理基板の表
面の、所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給する工
程と、前記被処理基板の表面に溶剤蒸気を含む気体を供
給する工程と、を具備した塗布方法であって、前記被処
理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズルを溶剤バ
スの位置まで移動させる工程と、前記処理剤ノズルを溶
剤で洗浄する工程と、前記処理剤ノズルを待機位置まで
移動させる工程と、前記処理剤ノズルにダミーディスペ
ンスを行わせる工程と、前記ダミーディスペンスの際の
各処理剤ノズルの吐出圧を検出する工程と、前記検出し
た吐出圧が所定の値より低い場合には、前記処理剤ノズ
ルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度洗浄する工
程と、を具備することを特徴とする。
According to a twenty-first aspect of the present invention, in the coating method, a step of supplying a processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate to be processed, and a step of supplying a gas containing a solvent vapor to the surface of the substrate to be processed. And a coating method comprising:
After the processing agent is supplied to the processing substrate, the processing agent nozzle is
And dissolving the treatment agent nozzle.
Cleaning with a cleaning agent, and moving the processing agent nozzle to a standby position.
Moving the treating agent nozzle to the dummy dispenser.
Performing the dummy dispensing,
Detecting the discharge pressure of each processing agent nozzle;
If the discharge pressure is lower than a predetermined value,
To move to the solvent bath position and clean it again.
And characterized in that:

【0044】[0044]

【0045】次に、請求項中の用語の意義について説明
する。
Next, the meaning of the terms in the claims will be described.

【0046】塗布液を供給する「所定間隔を隔てた複数
の位置」とは、被処理基板表面へ供給された処理剤自身
が広がることを前提にしており、上面全体ではない、と
いう趣旨である。
The “plurality of positions spaced at a predetermined interval” for supplying the coating liquid is based on the premise that the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed is spread, and is not the entire upper surface. .

【0047】例えば、左右への広がりを前提としている
場合には線状に供給するし、四方への広がりを前提とし
ている場合には点状に供給する。
For example, when it is assumed that the spread is made to the left and right, it is supplied linearly, and when it is assumed to be spread in four directions, it is supplied in the form of dots.

【0048】また、「供給」とは連続的に供給する場合
と、断続的に供給する場合の双方を含む。
The term "supply" includes both continuous supply and intermittent supply.

【0049】「処理剤」とは、塗布膜を形成するための
もの、基板を洗浄するためのもの、溶剤、処理液など、
また粘度の高いものから低いものまで様々な液体を含
む。
The “treatment agent” includes one for forming a coating film, one for cleaning a substrate, a solvent, a treatment liquid, and the like.
It also includes various liquids from high to low viscosity.

【0050】「相対的に移動させる」とは、保持手段を
動かさずに供給手段を移動させる場合、または供給手段
を動かさずに保持手段を移動させる場合だけでなく、両
手段を逆方向へ移動させる場合、および両手段を同方向
へ異なる速度で移動させる場合を含む。また、移動の方
向は、直線的であることが一般的であるが、回転的であ
ったり、蛇行的であったりする場合も含む。
The term "relatively move" means not only the case where the supply means is moved without moving the holding means, or the case where the holding means is moved without moving the supply means, but also the two means are moved in the opposite direction. And moving both means in the same direction at different speeds. In addition, the direction of movement is generally linear, but also includes a case where the direction of movement is rotational or a meandering.

【0051】「気体」とは空気のみならず、窒素やアル
ゴンなどの不活性ガスでもよい。また室温の気体はもち
ろんのこと、加熱した気体をも含む。
The "gas" is not limited to air, but may be an inert gas such as nitrogen or argon. Further, it includes not only gas at room temperature but also heated gas.

【0052】以下、請求項各項記載の発明の作用につい
て説明する。
Hereinafter, the operation of the present invention will be described.

【0053】本発明の塗布装置では、前記被処理基板表
面に供給した処理剤が処理剤自身の性質、例えば表面張
力や重力により被処理基板表面上で広がり、処理剤どう
しがつながって膜厚が薄くて均一な塗膜を形成すること
を前提としており、過剰な処理剤を供給しないので、処
理剤の無駄がない。
In the coating apparatus of the present invention , the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed spreads on the surface of the substrate to be processed due to the properties of the processing agent itself, for example, surface tension or gravity, and the processing agents are connected to each other to form a film. Since it is assumed that a thin and uniform coating film is formed, and no excessive processing agent is supplied, there is no waste of the processing agent.

【0054】また、塗膜の膜厚の値や均一性は処理剤自
身の性質により定まり、前記供給手段の形状や供給の際
の条件には影響され難いので、装置自体に求められる機
械的精度や供給時の管理精度などの条件が緩和される。
The thickness and uniformity of the coating film are determined by the properties of the treatment agent itself, and are hardly influenced by the shape of the supply means and the conditions at the time of supply. And conditions such as control accuracy during supply are eased.

【0055】即ち、処理剤を供給する段階では、供給手
段から被処理基板表面に供給できればよい。そのため、
処理剤自身の粘度の許容範囲が広くなり、処理剤の供給
速度も許容範囲が広い。供給手段や保持手段、移動させ
る手段の動作精度の許容範囲も広くとれる。
That is, in the step of supplying the processing agent, it is sufficient that the processing agent can be supplied to the surface of the substrate to be processed. for that reason,
The allowable range of the viscosity of the processing agent itself is widened, and the supply speed of the processing agent is also wide. The allowable range of the operation accuracy of the supply unit, the holding unit, and the moving unit can be widened.

【0056】また、処理剤は被処理基板表面の複数の位
置に供給すればよいので、例えば、処理剤ノズル(開口
部)など供給手段は比較的小さなもので済む。そのた
め、供給手段の剛性など、機械的強度を懸念する必要が
ない。
Further, since the processing agent may be supplied to a plurality of positions on the surface of the substrate to be processed, a relatively small supply means such as a processing agent nozzle (opening) is sufficient. Therefore, there is no need to worry about mechanical strength such as the rigidity of the supply unit.

【0057】一方、薄膜化する段階では、処理剤を薄膜
化する最も適した条件を選択できるので効率良く薄膜化
することができる。
On the other hand, at the stage of thinning, the most suitable conditions for thinning the treating agent can be selected, so that the thinning can be performed efficiently.

【0058】また、請求項1〜6の塗布装置では、監視
装置で常時各処理剤ノズルの作動状態を監視しているの
で、処理剤ノズルのいずれかがつまった場合にいち早く
つまった処理剤ノズルを発見でき、処理剤ノズルに不具
合があるまま生産が行われることが未然に防止されるの
で、歩留まりが向上し、生産効率と生産コストが改善さ
れる。
In the coating apparatus according to the first to sixth aspects, the monitoring
The equipment constantly monitors the operation status of each processing agent nozzle.
If any of the processing agent nozzles are clogged,
A clogged processing agent nozzle can be found, and the processing agent nozzle is defective.
Production can be prevented beforehand.
Increase yields, improve production efficiency and production costs
It is.

【0059】[0059]

【0060】[0060]

【0061】[0061]

【0062】[0062]

【0063】[0063]

【0064】[0064]

【0065】また、請求項7〜12の塗布装置では、前
記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動方向に沿って
二列以上配設されており、隣接する処理剤ノズルの間
で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズルが、被処
理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向上流側の隣
接する二つのノズルの間に配設された構成とした。この
ため、被処理基板表面上に供給される処理剤どうしの間
隔を狭くすることができ、隣接する処理剤どうしがつな
がり易くなるため、より膜厚の均一な塗膜を形成し易く
なる。
Further , in the coating apparatus of claims 7 to 12,
The processing agent nozzle is arranged along the moving direction of the substrate to be processed.
Two or more rows are arranged between adjacent processing agent nozzles.
The processing agent nozzle on the downstream side in the substrate movement direction moves the processing agent nozzle.
With respect to the processing substrate movement direction, next to the processing substrate movement direction upstream side
The configuration was such that it was disposed between two nozzles in contact. this
Therefore, between processing agents supplied on the surface of the substrate to be processed
The gap can be narrowed, and adjacent treatment agents are connected
It is easy to form a coating film with a more uniform thickness
Become.

【0066】また、請求項2,8の塗布装置では、前
被処理基板を揺動又は回転して前記供給された処理剤を
被処理基板表面に拡散させる手段を具備しているので
り確実に塗膜を均一にすることができる。
[0066] Further, in the coating apparatus of claim 2 and 8, since the supplied pre-Symbol target substrate rocking or rotating to a processing agent is provided with means for diffusing surface of the substrate to be processed,
Good Ri can be reliably uniform coating.

【0067】請求項3,9の塗布装置では、揺動機構と
して、アクチュエータ(振動体)やスピンチャック及び
このスピンチャックを駆動するモータを具備しているの
、より確実に塗膜を均一にすることができる。
[0067] In the coating apparatus according to claim 3 and 9, as rocking mechanism, the actuator since comprises a motor for driving (vibration member) and the spin chuck and the spin chuck, Ri reliably coating uniformly good can do.

【0068】請求項4,10の塗布装置では、前記被処
理基板表面に溶剤を供給する溶剤ノズルを具備してい
る。この溶剤を供給することにより予め溶剤で被処理基
板の表面を濡らし、処理剤と被処理基盤とを馴染み易く
するとともに、処理剤が溶剤層を介して被処理基盤表面
を走り、迅速に拡散するようにしてあるので、より確実
に塗膜を均一にすることができる。請求項5,11の塗
布装置では、前記被処理基板表面に溶剤蒸気を含む気体
を供給する気体ノズルを具備している。この溶剤蒸気を
含む気体により、被処理基板表面に供給された処理剤を
押し広げ、膜厚が薄くなる方向に圧力をかけるので、よ
り確実に塗膜を薄く均一にすることができる。また、こ
の気体には溶剤蒸気が含まれているので、処理剤を乾燥
させることもない。
[0068] In the coating apparatus according to claim 4, 10 is provided with a solvent nozzle for supplying a solvent before Symbol surface of the substrate to be processed. By supplying this solvent, the surface of the substrate to be treated is wetted with the solvent in advance, and the treatment agent and the substrate to be treated are easily blended, and the treatment agent runs on the surface of the substrate to be treated through the solvent layer and is rapidly diffused. since manner are, it can be made uniform coating reliably Ri good. In coating apparatus of claim 5, 11 is provided with a gas nozzle for supplying a gas containing solvent vapor before Symbol surface of the substrate to be processed. The gas containing the solvent vapor spreads the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed, and applies pressure in a direction of decreasing the film thickness, so that the coating film can be more reliably made thin and uniform. Further, since this gas contains solvent vapor, the treatment agent is not dried.

【0069】請求項6,12の塗布装置では、前記被処
理基板に熱を供給するヒータを具備している。このヒー
タで熱を供給することにより被処理基板を加温し、供給
された処理剤の粘度を低下させて被処理基盤と馴染み易
くするとともに、処理剤が被処理基盤表面で迅速に拡散
するようにしてあるので、より確実に塗膜を均一にする
ことができる。
[0069] In the coating apparatus according to claim 6 and 12, before SL is provided with a heater for supplying heat to the substrate to be processed. By supplying heat with this heater, the substrate to be processed is heated, so that the viscosity of the supplied processing agent is reduced so that the substrate can be easily blended with the substrate to be processed, and the processing agent diffuses quickly on the surface of the substrate to be processed. since you are, it is possible to achieve a uniform coating to ensure Ri good.

【0070】請求項13の塗布装置では、前記保持部材
としてモータの回転軸と接続されたスピンチャックを採
用し、前記被処理基板上に供給された処理剤が均一に薄
膜化するように前記モータを制御する。
[0070] In the coating apparatus according to claim 13, before Symbol holding member spin chuck employs connected to the rotary shaft of the motor as the said as processing agent supplied on the substrate to be processed is uniformly thinned Control the motor.

【0071】そのため、処理剤自身の性質や揺動操作、
溶剤、気体、或いは熱の作用により膜厚が均一化された
塗膜の膜厚を更に均一化したり、更に薄膜化することが
できる。
[0071] Therefore, the processing agent itself nature and the swing operation,
The thickness of the coating film whose film thickness has been made uniform by the action of a solvent, a gas, or heat can be made more uniform or even thinner.

【0072】[0072]

【0073】[0073]

【0074】請求項14の塗布装置では、前記供給され
た処理剤が隣接位置に供給された処理剤と被処理基板上
でつながって一体化するような間隔で処理剤を供給す
る。そのため、被処理基板表面上で確実に膜厚の均一な
塗膜を形成することができる。
[0074] In the coating apparatus according to claim 14, supplies the treatment agent at intervals as before SL supplied process agent are integrated connected by a processing agent supplied to the adjacent position target substrate. Therefore , a coating film having a uniform film thickness can be reliably formed on the surface of the substrate to be processed.

【0075】請求項15の塗布装置では、V1 ≧V2
(1)の関係を満たす速度V2 で被処理基板と保持手段
とを相対的に移動させながら速度V1 で処理剤を供給す
る。このように被処理基板と保持手段との相対的移動速
度以上の速度で処理剤を供給するので、高密度で処理剤
を供給することができ、膜厚が均一で薄い塗膜を形成す
ることができる。
In the coating apparatus according to the fifteenth aspect , V 1 ≧ V 2
The processing agent is supplied at the speed V1 while relatively moving the substrate to be processed and the holding means at the speed V2 satisfying the relationship (1). Since the supply of treatment agent in a relative moving speed or faster with the target substrate and the holding means, it is possible to supply the treatment agent at a high density, the film thickness to form a uniform and thin coating film Can be.

【0076】[0076]

【0077】請求項16の塗布装置では、前記処理剤ノ
ズルとして微細な丸孔形のものを採用した。そのため
い密度で処理剤を供給できるので、より膜厚の均一な
塗膜を形成することができる。
[0077] In the coating apparatus according to claim 16, was adopted as a fine round hole shape as a pre-Symbol treatment agent nozzle. Therefore ,
Can be supplied with treatment agent in not high density, it is possible to form a uniform coating film more thickness.

【0078】請求項17の塗布装置では、前記処理剤ノ
ズルとして被処理基板移動方向に伸びたスリット形のも
のを採用した。そのため、高い密度で処理剤を供給でき
るので、より膜厚の均一な塗膜を形成することができ
る。
[0078] In the coating apparatus according to claim 17, was adopted as a slit-shaped extending in the substrate to be processed moving direction as a pre-Symbol treatment agent nozzle. Therefore, it is possible to supply the agent in a yet higher density, it is possible to form a uniform coating film more thickness.

【0079】本発明の塗布方法では、前記被処理基板表
面に供給した処理剤が処理剤自身の性質、例えば表面張
力や重力により被処理基板表面上で広がり、処理剤どう
しがつながって膜厚が薄くて均一な塗膜を形成すること
を前提としており、過剰な処理剤を供給しないので、処
理剤の無駄がない。
In the coating method of the present invention , the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed spreads on the surface of the substrate to be processed due to the properties of the processing agent itself, for example, surface tension or gravity, and the processing agents are connected to each other to reduce the film thickness. Since it is assumed that a thin and uniform coating film is formed, and no excessive processing agent is supplied, there is no waste of the processing agent.

【0080】また、塗膜の膜厚の値や均一性は処理剤自
身の性質により定まり、前記供給手段の形状や供給の際
の条件には影響され難いので、装置自体に求められる機
械的精度や供給時の管理精度などの条件が緩和される。
The thickness and uniformity of the coating film are determined by the properties of the treating agent itself, and are hardly influenced by the shape of the supply means and the conditions at the time of supply. And conditions such as control accuracy during supply are eased.

【0081】更に、前記被処理基板を揺動又は回転して
前記供給された処理剤を被処理基板表面に拡散させる手
段を具備しているので、より確実に塗膜を均一にするこ
とができる。
Further, since a means for swinging or rotating the substrate to be diffused to diffuse the supplied processing agent on the surface of the substrate to be processed is provided, the coating film can be more reliably made uniform. .

【0082】また、処理ノズルを溶剤バスで洗浄した
後、待機位置まで移動させ、ここで圧力センサに向けて
ダミーディスペンスを行い、このダミーディスペンスの
吐出圧で各処理ノズルの状態を定期的に監視する。この
ため、処理剤ノズルのいずれかがつまった場合にいち早
くつまった処理剤ノズルを発見でき、処理剤ノズルに不
具合があるまま生産が行われることが未然に防止される
ので、歩留まりが向上し、生産効率と生産コストが改善
される。請求項19の塗布方法では、被処理基板の表面
の所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給した後、前
記被処理基板を回転して前記処理剤を均一に薄膜化する
構成をとっている。この回転をさせることにより膜厚の
ばらつきが是正されるので、膜厚を均一化することがで
きる。
The processing nozzle was cleaned in a solvent bath.
After that, move to the standby position, where
Perform a dummy dispense and use this dummy dispense
The state of each processing nozzle is periodically monitored by the discharge pressure. this
Therefore, if one of the processing agent nozzles is clogged,
A clogged processing agent nozzle can be found,
Prevents production from being carried out as it is
So yields are improved, production efficiency and production costs are improved
Is done. The coating method according to claim 19 , wherein the processing agent is supplied to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate to be processed, and then the substrate is rotated to uniformly thin the processing agent. I have. This rotation corrects the variation in the film thickness, so that the film thickness can be made uniform.

【0083】請求項20の塗布方法では、被処理基板の
表面の所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給する前
に被処理基板の表面に溶剤を供給する。この溶剤を供給
することにより予め溶剤で被処理基板の表面を濡らし、
処理剤と被処理基盤とを馴染み易くするとともに、処理
剤が溶剤層を介して被処理基盤表面を走り、迅速に拡散
するようにしてあるので、確実に塗膜を均一にすること
ができる。
In the coating method according to the twentieth aspect , the solvent is supplied to the surface of the substrate before supplying the processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate. By supplying this solvent, the surface of the substrate to be processed is wetted with the solvent in advance,
Since the treatment agent and the substrate to be treated are easily compatible with each other, and the treatment agent runs on the surface of the substrate to be treated via the solvent layer and is quickly diffused, the coating film can be surely made uniform.

【0084】請求項21の塗布方法では、被処理基板の
表面の所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給した
後、前記被処理基板の表面に溶剤蒸気を含む気体を供給
する。この溶剤蒸気を含む気体により、被処理基板表面
に供給された処理剤を押し広げ、膜厚が薄くなる方向に
圧力をかけるので、確実に塗膜を薄く均一にすることが
できる。また、この気体には溶剤蒸気が含まれているの
で、処理剤を乾燥させることもない。
In the coating method according to the twenty-first aspect , after supplying the processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate to be processed, a gas containing a solvent vapor is supplied to the surface of the substrate to be processed. The gas containing the solvent vapor spreads the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed, and applies pressure in a direction to reduce the film thickness, so that the coating film can be surely made thin and uniform. Further, since this gas contains solvent vapor, the treatment agent is not dried.

【0085】[0085]

【0086】[0086]

【0087】[0087]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態の詳細を
図面に従って説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0088】図1は本発明の一実施形態に係る塗布・現
像装置の斜視図であり、図2はその平面図である。
FIG. 1 is a perspective view of a coating and developing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view thereof.

【0089】塗布・現像装置1は、その一端側にカセッ
トステーションC/Sを備えている。
The coating / developing apparatus 1 has a cassette station C / S at one end.

【0090】また、塗布・現像装置1の他端側には、露
光装置(図示せず)との間でLCD用ガラス基板G(以
下、LCD用ガラス基板を「基板」と略記する。)の受
け渡しを行うためのインターフェースユニットI/Fが
配置されている。
At the other end of the coating / developing device 1, an LCD glass substrate G (hereinafter, the LCD glass substrate is abbreviated as “substrate”) is provided between the coating and developing device 1 and an exposure device (not shown). An interface unit I / F for performing transfer is provided.

【0091】このカセットステーションC/SにはLC
D用基板等の基板Gを収容した複数、例えば4組のカセ
ット2が載置されている。カセットステーションC/S
のカセット2の正面側には、被処理基板である基板Gの
搬送及び位置決めを行うとともに、基板Gを保持してメ
インアーム3との間で受け渡しを行うための補助アーム
4が設けられている。
The cassette station C / S has an LC
A plurality, for example, four sets of cassettes 2 containing substrates G such as substrates for D are mounted. Cassette station C / S
A front arm of the cassette 2 is provided with an auxiliary arm 4 for carrying and positioning the substrate G as a substrate to be processed, and holding the substrate G and transferring it to and from the main arm 3. .

【0092】インターフェースユニットI/Fには、露
光装置(図示せず)との間で基板Gの受け渡しを行う補
助アーム5が設けられている。また、インターフェース
ユニットI/Fには、メインアーム3との間で基板Gの
受け渡しを行うためのエクステンション部6及び基板G
を一旦待機させるバッファユニット7が配置されてい
る。
The interface unit I / F is provided with an auxiliary arm 5 for transferring a substrate G to and from an exposure apparatus (not shown). The interface unit I / F includes an extension section 6 for transferring the board G to and from the main arm 3 and a board G.
Is temporarily placed in a standby state.

【0093】メインアーム3は、塗布・現像装置1の中
央部を長手方向に移動可能に、二基直列に配置されてお
り、各メインアーム3の搬送路の両側にはそれぞれ第1
の処理ユニット群A、第2の処理ユニット群Bが配置さ
れている。第1の処理ユニット群Aと第2の処理ユニッ
ト群Bとの間には、基板Gを一旦保持するとともに冷却
する中継部8が配置されている。
Two main arms 3 are arranged in series so as to be movable in the longitudinal direction in the center of the coating / developing apparatus 1.
And a second processing unit group B are disposed. Between the first processing unit group A and the second processing unit group B, a relay section 8 for temporarily holding and cooling the substrate G is disposed.

【0094】第1の処理ユニット群Aでは、カセットス
テーションC/Sの側方に基板Gを洗浄する洗浄処理ユ
ニットSCRと現像処理を行う現像処理ユニットDEV
とが並設されている。また、メインアーム3の搬送路を
挟んで洗浄処理ユニットSCR及び現像処理ユニットD
EVの反対側には、上下に2段配置された2組の熱処理
ユニットHPと、上下に2段配置されたUV処理ユニッ
トUV及び冷却ユニットCOLとが隣り合うように配置
されている。
In the first processing unit group A, a cleaning processing unit SCR for cleaning the substrate G and a developing processing unit DEV for performing a developing process are provided beside the cassette station C / S.
And are juxtaposed. Further, the cleaning unit SCR and the developing unit D sandwich the transport path of the main arm 3 therebetween.
On the opposite side of the EV, two heat treatment units HP vertically arranged in two stages and a UV processing unit UV and cooling unit COL arranged vertically in two stages are arranged adjacent to each other.

【0095】第2の処理ユニット群Bでは、レジスト塗
布処理及びエッジリムーブ処理を行う塗布処理ユニット
COTが配置されている。また、メインアーム3の搬送
路を挟んで塗布処理ユニットCOTの反対側には、上下
に2段配置された基板Gを疎水処埋するアドヒージョン
ユニットAD及び冷却ユニットCOLと、上下に2段配
置された熱処理ユニットHP及び冷却ユニットCOL
と、上下に2段配置された2組の熱処理ユニットHPと
が隣り合うように配置されている。熱処理ユニットHP
と冷却ユニットCOLとを上下に2段配置する場合、熱
処理ユニットHPを上に冷却ユニットCOLを下に配置
することによって、相互の熱的干渉を避けている。これ
により、より正確な温度制御が可能となる。
In the second processing unit group B, a coating processing unit COT for performing a resist coating processing and an edge remove processing is arranged. Further, on the opposite side of the coating unit COT across the transport path of the main arm 3, an adhesion unit AD and a cooling unit COL for hydrophobically embedding the substrate G vertically arranged in two stages, and two vertically arranged stages. Heat treatment unit HP and cooling unit COL arranged
And two sets of heat treatment units HP arranged vertically in two stages are arranged adjacent to each other. Heat treatment unit HP
When the cooling unit COL and the cooling unit COL are arranged vertically in two stages, the heat treatment unit HP is arranged above and the cooling unit COL is arranged below, thereby avoiding mutual thermal interference. This enables more accurate temperature control.

【0096】メインアーム3は、X軸駆動機構,Y軸駆
動機構およびZ軸駆動機構を備えており、更に、Z軸を
中心に回転する回転駆動機構をそれぞれ備えている。こ
のメインアーム3が塗布・現像装置1の中央通路に沿っ
て適宜走行して、各処理ユニット間で基坂Gを搬送す
る。そして、メインアーム3は、各処理ユニット内に処
理前の基板Gを搬入し、また、各処理ユニット内から処
理済の基板Gを搬出する。
The main arm 3 includes an X-axis driving mechanism, a Y-axis driving mechanism, and a Z-axis driving mechanism, and further includes a rotation driving mechanism that rotates about the Z-axis. The main arm 3 appropriately travels along the central passage of the coating / developing device 1 to transport the base slope G between the processing units. Then, the main arm 3 loads the unprocessed substrate G into each processing unit, and unloads the processed substrate G from each processing unit.

【0097】本実施形態の塗布・現像装置1では、この
ように各処理ユニットを集約して一体化することによ
り、省スペース化およぴ処理の効率化を図ることができ
る。
In the coating / developing apparatus 1 of the present embodiment, by integrating and integrating the respective processing units in this manner, space can be saved and processing efficiency can be improved.

【0098】このように構成される塗布・現像装置1に
おいては、まずカセット2内の基板Gが、補助アーム4
及びメインアーム3を介して洗浄処理ユニットSCRへ
搬送されて洗浄処理される。
In the coating / developing apparatus 1 configured as described above, first, the substrate G in the cassette 2 is
Then, the wafer is transferred to the cleaning unit SCR via the main arm 3 and subjected to the cleaning process.

【0099】次に、メインアーム3、中継部8及びメイ
ンアーム3を介してアドヒージョンユニットADへ搬送
されて疎水化処理される。これにより、レジストの定着
性が高められる。
Next, it is conveyed to the adhesion unit AD via the main arm 3, the relay section 8 and the main arm 3 and subjected to a hydrophobic treatment. Thereby, the fixability of the resist is improved.

【0100】次に、メインアーム3を介して冷却ユニッ
トCOLへ搬送されて冷却される。その後、メインアー
ム3を介して塗布処理ユニットCOTへ搬送されてレジ
ストが塗布される。
Next, it is conveyed to the cooling unit COL via the main arm 3 and cooled. Thereafter, the resist is transferred to the coating unit COT via the main arm 3 and coated with the resist.

【0101】次に、基板Gは、メインアーム3を介して
加熱処理ユニットHPへ搬送されてプリベーク処理され
る。そして、メインアーム3を介して冷却ユニットCO
Lへ搬送されて冷却された後、メインアーム3及びイン
ターフェース部I/Fを介して露光装置に搬送されてそ
こで所定のパターンが露光される。
Next, the substrate G is transferred to the heat processing unit HP via the main arm 3 and subjected to a pre-bake processing. Then, the cooling unit CO is supplied via the main arm 3.
After being conveyed to L and cooled, it is conveyed to the exposure device via the main arm 3 and the interface I / F, where a predetermined pattern is exposed.

【0102】そして、再び露光された基板Gは、インタ
ーフェース部I/Fを介して装置1内へ搬入され、メイ
ンアーム3を介して加熱処理ユニットHPへ搬送されて
ポストエクスポージャーベーク処理が施される。
The substrate G that has been exposed again is carried into the apparatus 1 via the interface unit I / F, and is conveyed to the heating processing unit HP via the main arm 3 to be subjected to post-exposure bake processing. .

【0103】その後、基板Gは、メインアーム3、中継
部8及びメインアーム3を介して冷却ユニットCOLへ
搬入されて冷却される。そして、基板Gは、メインアー
ム3を介して現像処理ユニットDEVへ搬入されて現像
処理され、所定の回路パターンが形成される。現像処理
された基板Gは、メインアーム3を介してポストベーク
処理ユニットHPへ搬入されてポストベーク処理され
る。
Thereafter, the substrate G is carried into the cooling unit COL via the main arm 3, the relay section 8, and the main arm 3, and is cooled. Then, the substrate G is carried into the development processing unit DEV via the main arm 3 and subjected to development processing, and a predetermined circuit pattern is formed. The developed substrate G is carried into the post-bake processing unit HP via the main arm 3 and subjected to post-bake processing.

【0104】そして、ポストベーク処理された基板G
は、メインアーム3及び補助アーム4を介してカセット
ステーションC/S上の所定のカセット2に収容され
る。
Then, the post-baked substrate G
Are stored in a predetermined cassette 2 on a cassette station C / S via a main arm 3 and an auxiliary arm 4.

【0105】次に、本実施形態に係る塗布処理ユニット
(COT)について説明する。図3は本実施形態に係る
塗布処理ユニット(COT)の平面図、図4は側面図で
あり、図5は斜視図である。
Next, the coating unit (COT) according to this embodiment will be described. 3 is a plan view of the coating unit (COT) according to the present embodiment, FIG. 4 is a side view, and FIG. 5 is a perspective view.

【0106】図3に示すように、この塗布処理ユニット
(COT)内にはレジスト塗布装置RCとエッジリムー
バERとが隣接配置されている。このうち、レジスト塗
布装置RCは洗浄処理やプリベーキングなどの前段階の
処理が施された基板G表面にレジスト液等の処理剤を塗
布する装置であり、エッジリムーバERはレジスト塗布
装置RCで表面にレジスト塗膜が形成された基板Gのう
ち、レジスト塗布が不要な外周縁部(エッジ)のレジス
ト塗膜を剥離除去する装置である。
As shown in FIG. 3, a resist coating apparatus RC and an edge remover ER are arranged adjacent to each other in the coating processing unit (COT). Among them, the resist coating device RC is a device for applying a processing agent such as a resist solution to the surface of the substrate G that has been subjected to the pre-processing such as the cleaning process and the pre-baking, and the edge remover ER is a resist coating device RC. This is an apparatus for peeling and removing a resist coating film on an outer peripheral portion (edge) of the substrate G on which a resist coating film is formed.

【0107】なお基板G表面のうち、レジスト塗布が必
要な部分にのみ選択的に塗膜を形成する場合にはこのエ
ッジリムーバERは必ずしも必要ではなく、省略するこ
とができる。
In the case where a coating film is selectively formed only on a portion of the surface of the substrate G where the resist application is required, the edge remover ER is not always necessary and can be omitted.

【0108】このレジスト塗布装置RCでは、被処理基
板としての基板Gを回転可能に保持する基板保持装置と
してのローターカップ10と、このローターカップ10
に保持された基板Gの上面からレジスト液や溶剤を供給
する塗布液供給装置60と、塗布液供給装置60をロー
ターカップ10に対して移動させる移動装置70とから
構成されている。
In the resist coating device RC, a rotor cup 10 as a substrate holding device for rotatably holding a substrate G as a substrate to be processed, and the rotor cup 10
A coating liquid supply device 60 for supplying a resist solution or a solvent from the upper surface of the substrate G held by the substrate G, and a moving device 70 for moving the coating liquid supply device 60 with respect to the rotor cup 10.

【0109】ローターカップ10の外観は、鉛直方向の
軸を備えた円柱管状の側壁部11と、この側壁部11の
上部端面を塞ぐ蓋12とからなり、この蓋12には昇降
アーム13が着脱可能に取り付けられている。
The outer appearance of the rotor cup 10 is composed of a cylindrical tubular side wall 11 having a vertical axis, and a lid 12 for closing the upper end surface of the side wall 11, and an elevating arm 13 is attached to and detached from the lid 12. Mounted as possible.

【0110】図3は塗布処理ユニット(COT)の蓋1
2を閉じた状態を示した平面図であり、図4は塗布処理
ユニット(COT)の垂直断面図である。
FIG. 3 shows the lid 1 of the coating unit (COT).
FIG. 4 is a plan view showing a state in which the coating processing unit 2 is closed, and FIG.

【0111】ローターカップ10内の空間には、基板G
を回転可能に保持するスピンチャック15とこのスピン
チャック15を回転するための回転駆動機構が配設され
ている。
In the space inside the rotor cup 10, the substrate G
And a rotation drive mechanism for rotating the spin chuck 15 are provided.

【0112】ローターカップ10の内側には環状のカッ
プCPが配設され、その内側にスピンチャック15が配
置されている。スピンチャック15は真空吸着によって
基板Gを固定保持した状態で、駆動モータ16の回転駆
動力で回転するように構成されている。
An annular cup CP is disposed inside the rotor cup 10, and a spin chuck 15 is disposed inside the cup CP. The spin chuck 15 is configured to rotate with the rotational driving force of the driving motor 16 in a state where the substrate G is fixedly held by vacuum suction.

【0113】駆動モータ16は、歯車列17を介して回
転軸18に回転駆動力を伝達するようになっており、更
に、回転軸18は昇降駆動手段19により昇降ガイド手
段20に沿って図中上下方向に移動可能に取り付けられ
ている。
The driving motor 16 transmits a rotational driving force to a rotating shaft 18 via a gear train 17, and the rotating shaft 18 is moved by an elevation driving means 19 along an elevation guide means 20 in the figure. It is mounted so that it can move up and down.

【0114】レジスト塗布時には、図4に示すように、
スピンチャック15はカップCPの上端より低い位置ま
で下がる。一方、ローターカップ10から基板Gを出し
入れする際の、スピンチャック15とメインアーム4と
の間で基板Gの受け渡しが行われる時は、昇降駆動手段
19が回転軸18とスピンチャック15とを上方へ持ち
上げ、スピンチャック15はカップCPの上端より高い
位置まで変位する。
When applying the resist, as shown in FIG.
The spin chuck 15 is lowered to a position lower than the upper end of the cup CP. On the other hand, when the substrate G is transferred between the spin chuck 15 and the main arm 4 when the substrate G is taken in and out of the rotor cup 10, the elevating drive unit 19 raises the rotating shaft 18 and the spin chuck 15 upward. And the spin chuck 15 is displaced to a position higher than the upper end of the cup CP.

【0115】一方、前記スピンチャック15上にセット
された基板G上にレジスト液を吐出する塗布液供給装置
60はこのローターカップ10をY方向に跨るように配
設されている。
On the other hand, a coating liquid supply device 60 for discharging a resist liquid onto the substrate G set on the spin chuck 15 is provided so as to straddle the rotor cup 10 in the Y direction.

【0116】この塗布液供給装置60では、ローターカ
ップ10の上端面と平行に配設され、Y方向にわたって
基板Gの上面を横切るように配設されたレジストパイプ
61と、このレジストパイプ61の両端部を閉塞すると
ともにこのレジストパイプ61を支持する脚部材64及
び65とからなり、これら脚部材64及び65は後述す
る移動装置70のガイドレール71及び72とそれぞれ
係合する。
In the coating liquid supply device 60, a resist pipe 61 is provided in parallel with the upper end face of the rotor cup 10 and is disposed so as to cross the upper surface of the substrate G in the Y direction. It comprises leg members 64 and 65 for closing the portion and supporting the resist pipe 61. These leg members 64 and 65 are engaged with guide rails 71 and 72 of a moving device 70 described later, respectively.

【0117】移動装置70,70は細長い箱型の部材で
あり、ローターカップ10のY方向の両隣に一機ずつ配
設され、それぞれX方向に沿って、ローターカップ10
の位置からエッジリムーバERの位置にまでわたって配
設されている。この移動装置70の上面には細長い溝が
それぞれ二本ずつX方向に沿って設けられている。
The moving devices 70 and 70 are elongated box-shaped members, and are disposed one by one on both sides of the rotor cup 10 in the Y direction.
From the position of the edge remover ER to the position of the edge remover ER. Two elongated grooves are provided on the upper surface of the moving device 70 along the X direction.

【0118】これらの溝はそれぞれ、塗布液供給装置6
0の脚部材64及び65が係合するガイドレール71,
72と搬送部材80,81が係合するガイドレール7
3,74である。
These grooves are respectively provided in the coating liquid supply device 6.
Guide rails 71 with which the 0 leg members 64 and 65 engage,
Guide rail 7 with which 72 and conveying members 80 and 81 engage
3,74.

【0119】これらの移動装置70,70の内部には、
駆動モータの駆動力を無端ベルトで伝達するベルト駆動
機構などの既知の移動機構(図示省略)が配設されてお
り、駆動モータの駆動力を脚部材64,65と、搬送部
材80,81とをそれぞれ独立してX方向に移動するよ
うになっている。
[0119] Inside these moving devices 70, 70,
A known moving mechanism (not shown) such as a belt driving mechanism that transmits the driving force of the driving motor by an endless belt is provided, and the driving force of the driving motor is transmitted to the leg members 64 and 65, and the conveying members 80 and 81. Are independently moved in the X direction.

【0120】また、図3に示すように、レジストパイプ
61のX方向両隣にはそれぞれ溶剤パイプ62と気体パ
イプ63とがそれぞれ配設されている。これらレジスト
パイプ61、溶剤パイプ62、気体パイプ63はいずれ
も中空管状の構造となっており、下面即ちスピンチャッ
ク15上に保持された基板Gと対向する面にはY方向に
わたり所定間隔で複数の開口部がそれぞれ設けられ、そ
れぞれレジストノズル61a,61a…、溶剤ノズル6
2a,62a…、気体ノズル63a,63a…をそれぞ
れ構成している。これらのレジストパイプ61、溶剤パ
イプ62、気体パイプ63にはレジスト供給管66、溶
剤供給管67、気体供給管68がそれぞれ配設されてお
り、図示しないレジスト供給系、溶剤供給系、気体供給
系とそれぞれ接続され、これらのレジストパイプ61、
溶剤パイプ62、気体パイプ63にレジスト液、溶剤、
溶剤蒸気を含む気体をそれぞれ供給するようになってい
る。
As shown in FIG. 3, a solvent pipe 62 and a gas pipe 63 are respectively disposed on both sides of the resist pipe 61 in the X direction. Each of the resist pipe 61, the solvent pipe 62, and the gas pipe 63 has a hollow tubular structure, and a plurality of predetermined pipes are provided at predetermined intervals in the Y direction on the lower surface, that is, the surface facing the substrate G held on the spin chuck 15. Openings are respectively provided, and the resist nozzles 61a, 61a,.
2a, 62a... And gas nozzles 63a, 63a. A resist supply pipe 66, a solvent supply pipe 67, and a gas supply pipe 68 are provided in the resist pipe 61, the solvent pipe 62, and the gas pipe 63, respectively. And these resist pipes 61,
A resist liquid, a solvent,
A gas containing a solvent vapor is supplied.

【0121】図6は基板Gと塗布液供給装置60の垂直
断面図を部分的に拡大した図であり、図7はこれらのレ
ジストパイプ61、溶剤パイプ62、気体パイプ63を
下側から見上げた状態を示した図である。
FIG. 6 is a partially enlarged vertical sectional view of the substrate G and the coating liquid supply device 60. FIG. 7 is a view of the resist pipe 61, the solvent pipe 62, and the gas pipe 63 as viewed from below. It is a figure showing a state.

【0122】図6に示すように、レジストパイプ61
は、例えば、角型パイプの下部を絞ってテーパを形成し
た台形或いは変形6角形の断面形状を備えており、基板
Gと対向する面に上記複数のレジストノズル61a,6
1a…がそれぞれ所定間隔を隔ててY方向にわたって設
けられている。このレジストノズル61a,61a…ど
うしのY方向の間隔は、この隣接するレジストノズル6
1a,61aから供給された処理剤が基板Gに供給され
たとき、隣接して供給された処理剤と処理剤とが被処理
基板上でつながって一体化するような間隔である。この
間隔の具体的な値は設計事項であり、処理剤の粘度、レ
ジストノズル61aの大きさ、レジストノズル61aと
基板Gとの間隙、レジストの供給速度等の各パラメータ
との関係により定められる。
As shown in FIG. 6, the resist pipe 61
Has, for example, a trapezoidal or deformed hexagonal cross-sectional shape in which the lower part of a square pipe is narrowed to form a taper, and the plurality of resist nozzles 61a, 6
Are provided over the Y direction at predetermined intervals. The distance between the resist nozzles 61a, 61a...
When the processing agents supplied from 1a and 61a are supplied to the substrate G, the intervals are such that the adjacently supplied processing agents and the processing agents are connected and integrated on the substrate to be processed. The specific value of this interval is a design matter, and is determined by the relationship between each parameter such as the viscosity of the processing agent, the size of the resist nozzle 61a, the gap between the resist nozzle 61a and the substrate G, and the supply speed of the resist.

【0123】同様に、溶剤パイプ62、気体パイプ68
は共に丸形のパイプであり、レジストパイプ61と同様
に下面側に複数の開口部が形成されており、複数の溶剤
ノズル62a,62a…、気体ノズル63a,63a…
を構成している。
Similarly, the solvent pipe 62 and the gas pipe 68
Are round pipes each having a plurality of openings formed on the lower surface side, similarly to the resist pipe 61, and a plurality of solvent nozzles 62a, 62a,..., Gas nozzles 63a, 63a,.
Is composed.

【0124】ローターカップ10では、このローターカ
ップ本体10の上部開口を蓋12で覆うようになってお
り、この蓋12は昇降アーム13により着脱可能に保持
されている。
In the rotor cup 10, an upper opening of the rotor cup body 10 is covered with a lid 12, and the lid 12 is detachably held by a lifting arm 13.

【0125】図3と図4に示すように、昇降アーム13
は蓋12をその先端で挟持する二本のアーム13a,1
3bと、これら二本のアーム13a,13bの間に配設
され、これら二本のアーム13a,13bを連結する連
結部材14とで構成されている。 そして昇降アーム1
3の根元側即ち蓋12を保持する側と反対側はカップリ
フタ30内まで伸びており、カップリフタ30に内蔵さ
れた蓋昇降機構により蓋12を昇降せるようになってい
る。なお、説明の便宜上、図5では昇降アーム13及び
カップリフタ30を省略した。
As shown in FIG. 3 and FIG.
Are two arms 13a, 1 holding the lid 12 at its tip.
3b and a connecting member 14 disposed between the two arms 13a and 13b and connecting the two arms 13a and 13b. And lifting arm 1
The base side of 3, that is, the side opposite to the side holding the lid 12, extends into the cup lifter 30, and the lid 12 can be raised and lowered by a lid lifting mechanism built in the cup lifter 30. For convenience of explanation, the lifting arm 13 and the cup lifter 30 are omitted in FIG.

【0126】上記ローターカップ10と上記カップリフ
タ30との間にはレジストノズル61aを洗浄するため
の洗浄バス20が配設されている。この洗浄バス20に
ついては後述する。
A washing bath 20 for washing the resist nozzle 61a is provided between the rotor cup 10 and the cup lifter 30. The cleaning bath 20 will be described later.

【0127】図8は本実施形態に係る塗布処理ユニット
(COT)の制御系を図示したブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram illustrating a control system of the coating processing unit (COT) according to the present embodiment.

【0128】この図8に示したように、ローターカップ
10、塗布液供給装置60、塗布液供給装置60を移動
させる移動装置70、塗布液供給装置60へレジスト液
を供給するレジスト液供給系RS、塗布液供給装置60
へ気体を供給する気体供給系GS、及び塗布液供給装置
60へ溶剤を供給する溶剤供給系SSが制御部100と
接続されており、この制御部100により統括的に制御
されている。
As shown in FIG. 8, the rotor cup 10, the coating liquid supply device 60, the moving device 70 for moving the coating liquid supply device 60, and the resist liquid supply system RS for supplying the resist liquid to the coating liquid supply device 60. , Coating liquid supply device 60
A gas supply system GS for supplying gas to the apparatus and a solvent supply system SS for supplying a solvent to the coating liquid supply device 60 are connected to the control unit 100, and are controlled by the control unit 100 as a whole.

【0129】以下、本実施形態に係る塗布処理ユニット
(COT)の動作について説明する。
Hereinafter, the operation of the coating unit (COT) according to this embodiment will be described.

【0130】この塗布処理ユニット(COT)では、ロ
ーターカップ10と塗布液供給装置60とを相対的に移
動させた状態で塗布を行い、塗布工程はレジスト液を基
板Gの表面にほぼ垂直に供給することにより行う。
In this coating unit (COT), coating is performed while the rotor cup 10 and the coating liquid supply device 60 are relatively moved, and in the coating step, the resist liquid is supplied almost vertically to the surface of the substrate G. It is done by doing.

【0131】そして基板Gの表面上に供給されたレジス
ト液は、レジスト液を吐出するときの圧力や、レジスト
液自体の拡散性や表面張力により均一で膜厚の薄い塗膜
を形成する。
The resist solution supplied onto the surface of the substrate G forms a uniform and thin film due to the pressure at which the resist solution is discharged, the diffusivity of the resist solution itself, and the surface tension.

【0132】図9はレジストパイプ61から基板Gにレ
ジスト液を連続的に供給する状態を模式的に示したY方
向の垂直断面図である。
FIG. 9 is a vertical sectional view in the Y direction schematically showing a state in which the resist liquid is continuously supplied from the resist pipe 61 to the substrate G.

【0133】図9に示すように、移動装置30を作動さ
せて塗布液供給装置60とローターカップ10とを互い
に反対方向に移動させることによりレジストノズル61
aに対して基板Gを図中矢印の方向に相対的に移動させ
る。
As shown in FIG. 9, by moving the moving device 30 to move the coating liquid supply device 60 and the rotor cup 10 in directions opposite to each other, the resist nozzle 61 is moved.
The substrate G is moved relative to a in the direction of the arrow in the figure.

【0134】この状態でレジストノズル61aからレジ
スト液を供給する。
In this state, a resist liquid is supplied from the resist nozzle 61a.

【0135】本実施形態ではレジスト液を連続的に供給
する。図10は図9の状態のA−A切断面をX方向から
見た図であり、図11は図9の状態のB−B切断面をX
方向から見た図であり、図12は図9の状態のC−C切
断面をX方向から見た図である。
In this embodiment, the resist solution is supplied continuously. FIG. 10 is a view of the AA cut surface in the state of FIG. 9 viewed from the X direction. FIG. 11 is a view of the BB cut surface of the state of FIG.
FIG. 12 is a diagram of the CC cut surface in the state of FIG. 9 viewed from the X direction.

【0136】図9及び図10に示すように、レジスト液
の粘度が適当な場合には、レジスト液はレジストパイプ
61のノズル(開口部)61aから基板Gの表面まで連
続的に流れる。
As shown in FIGS. 9 and 10, when the viscosity of the resist solution is appropriate, the resist solution flows continuously from the nozzle (opening) 61a of the resist pipe 61 to the surface of the substrate G.

【0137】このとき、図10に示すように、基板G表
面に供給されたレジスト液はノズル61aの真下部分で
盛り上がってレジスト液の山を形成する。この山と山と
の間の谷の位置には直接にはレジスト液は供給されない
ため、最初はレジスト液が少なく、液面がこの部分で低
くなっている。
At this time, as shown in FIG. 10, the resist liquid supplied to the surface of the substrate G rises just below the nozzle 61a to form a peak of the resist liquid. Since the resist liquid is not supplied directly to the valleys between the peaks, the resist liquid is initially small, and the liquid level is low at this portion.

【0138】この液面が部分的に隆起した状態は暫く継
続するため、図11に示したB−B切断面でもレジスト
液膜の表面が波を打った形状になっている。この波の山
を形成している部分はレジスト液の表面張力と、このレ
ジスト液に作用する重力とにより谷の方向に移動するた
め高低差が除々に減少し、やがて図12に示すように全
体として均一で膜薄のレジスト塗膜が得られる。
Since the state in which the liquid surface partially rises continues for a while, the surface of the resist liquid film has a wavy shape even on the BB cut surface shown in FIG. The portion where the wave peak is formed moves in the direction of the valley due to the surface tension of the resist solution and the gravity acting on the resist solution, so that the height difference gradually decreases, and as a result, as shown in FIG. As a result, a uniform and thin resist coating film can be obtained.

【0139】なお、本実施形態では使用しなかったが、
溶剤パイプ62や気体パイプ63を併用することによ
り、より短時間で確実に均一に薄膜化することが可能と
なる。図13は気体パイプ22と溶剤パイプ23とを作
動させた状態を模式的に示した垂直断面図である。
Although not used in this embodiment,
By using the solvent pipe 62 and the gas pipe 63 together, it is possible to reliably and uniformly form a thin film in a shorter time. FIG. 13 is a vertical sectional view schematically showing a state in which the gas pipe 22 and the solvent pipe 23 are operated.

【0140】即ち、溶剤パイプ62からレジスト塗布前
の基板G表面に溶剤を供給することにより基板Gを濡ら
すと、この溶剤は表面張力が低いため、基板G表面に広
く拡散し、基板表面に膜厚の薄い溶剤層を形成する。こ
の溶剤層は次に供給するレジスト液と基板Gとの馴染み
性を良くする。次いでこの溶剤層上にレジストパイプ6
1からレジスト液を供給すると、このレジスト液は上記
溶剤層の表面に沿って速やかに拡散し、溶剤層全体に広
がってゆく。そのため、レジストノズル61aから基板
G表面上に吐出されたレジスト液は、吐出後ごく短い時
間の間で基板G表面に広がり、薄いレジスト塗膜を形成
する。それと同時にY方向で隣接するレジストノズル6
1aから基板G上に吐出されたレジスト液どうしは極め
て接近した位置に吐出される。そのため、基板G上でレ
ジスト液が拡散する際に隣接する位置に吐出されたレジ
スト液どうしが重なり合い、直ぐに一体化して基板G表
面を広く覆う、薄いレジスト塗膜が形成される。
That is, when the solvent is supplied from the solvent pipe 62 to the surface of the substrate G before the application of the resist to wet the substrate G, this solvent has a low surface tension. A thin solvent layer is formed. This solvent layer improves the compatibility between the resist solution to be supplied next and the substrate G. Next, a resist pipe 6 is formed on the solvent layer.
When the resist solution is supplied from No. 1, the resist solution quickly diffuses along the surface of the solvent layer and spreads over the entire solvent layer. Therefore, the resist liquid discharged from the resist nozzle 61a onto the surface of the substrate G spreads on the surface of the substrate G within a very short time after the discharge, and forms a thin resist coating film. At the same time, the resist nozzle 6 adjacent in the Y direction
The resist liquid discharged from the substrate 1a onto the substrate G is discharged to a very close position. Therefore, when the resist solution is diffused on the substrate G, the resist solutions discharged to adjacent positions overlap each other, and are integrated immediately to form a thin resist coating film that widely covers the surface of the substrate G.

【0141】一方、気体パイプ63から溶剤蒸気を含ん
だ気体を噴出させると、基板G上に供給されたレジスト
液の液面に圧力が作用してレジスト液が基板G表面に押
し広げられる。そのため、均一で膜薄の塗膜を形成する
のがより容易かつ迅速に行われるようになる。
On the other hand, when a gas containing a solvent vapor is ejected from the gas pipe 63, pressure acts on the liquid surface of the resist liquid supplied onto the substrate G, and the resist liquid is spread over the surface of the substrate G. Therefore, it is easier and faster to form a uniform and thin coating film.

【0142】なお、この場合、上記の波形になったレジ
スト塗膜の山を形成する部分に気体を当てて押し広げる
のが効果的であるので、気体パイプ63の開口部は基板
Gの幅方向(Y方向)に関してレジストパイプ61の開
口部と同じ位置に配設するのが好ましい。また、溶剤パ
イプ62や気体パイプ63から供給される溶剤や気体を
予め加熱しておき、この熱でレジスト液の粘度を低下す
るようにしても良い。更に、本実施形態では省略した
が、基板Gを保持するスピンチャック15の内部に例え
ばニクロム線などのヒータを内蔵しておき、このヒータ
により基板Gを加熱し、レジスト液が基板G上に供給さ
れたときに低粘度化させることも可能である。その場合
には、方形の基板Gを均一に加熱できるよう、基板Gよ
り一回り大きい方形のスピンチャックを用い、スピンチ
ャック全体が一様に加熱されるようにヒータを配設する
のが好ましい。
In this case, it is effective to apply a gas to a portion of the corrugated resist coating film that forms the ridge to spread the gas. Therefore, the opening of the gas pipe 63 is formed in the width direction of the substrate G in the width direction. It is preferable to dispose it at the same position as the opening of the resist pipe 61 in the (Y direction). Alternatively, the solvent or gas supplied from the solvent pipe 62 or the gas pipe 63 may be heated in advance, and the heat may be used to reduce the viscosity of the resist solution. Further, although omitted in the present embodiment, a heater such as a nichrome wire is built in the spin chuck 15 for holding the substrate G, and the substrate G is heated by this heater, and the resist solution is supplied onto the substrate G. It is also possible to make the viscosity lower when it is performed. In this case, it is preferable to use a rectangular spin chuck that is slightly larger than the substrate G so as to uniformly heat the rectangular substrate G, and to dispose a heater so that the entire spin chuck is uniformly heated.

【0143】以上のように、本実施形態に係る塗布処理
ユニットでは、レジスト塗膜の薄膜化はレジスト液自身
の表面張力やレジスト液に作用する重力により行われる
ようになっており、実際の薄膜化は基板G上にレジスト
液が供給された後に行われる。
As described above, in the coating processing unit according to the present embodiment, the thinning of the resist coating film is performed by the surface tension of the resist solution itself and the gravity acting on the resist solution. The formation is performed after the resist solution is supplied onto the substrate G.

【0144】そのため、レジストノズル61aから吐出
されたレジスト液を基板G表面に供給できればよく、レ
ジストノズル61aから基板Gまでの間で加工などの操
作は行わないので、ノズルの形状や直径などのレジスト
ノズル61aの機械的精度や、吐出量や吐出速度などの
管理精度はあまり厳格には要求されない。
Therefore, it is sufficient that the resist liquid discharged from the resist nozzle 61a can be supplied to the surface of the substrate G, and no operation such as processing is performed between the resist nozzle 61a and the substrate G. The mechanical accuracy of the nozzle 61a and the management accuracy of the discharge amount and the discharge speed are not strictly required.

【0145】また、ノズルは小径のものを多数開けても
ノズルパイプ61の剛性を失う程度は低いのでノズルパ
イプ61の変形を来すことも少なく、レジストノズル6
1aの寸法精度を確保し易い。
Even if a large number of small-diameter nozzles are opened, the degree of losing the rigidity of the nozzle pipe 61 is low, so that the nozzle pipe 61 is hardly deformed.
It is easy to secure the dimensional accuracy of 1a.

【0146】更に、低粘度のレジスト液を用いることが
できるのでノズルの乾燥の問題がし生じにくい。
Further, since a low-viscosity resist solution can be used, a problem of nozzle drying hardly occurs.

【0147】なお、本発明はこの明細書中に記載された
実施形態には限定されない。例えば、上記第1の実施形
態では、ローターカップ10に保持された基板Gに対し
てレジストノズル61a,61a…からレジスト液を単
に吐出する操作をするだけで、レジスト液自身の性質に
より基板G表面に膜厚が均一で薄いレジスト塗膜が形成
される構成としたが、この後の操作としてスピンチャッ
ク15を高速回転させることにより基板G上のレジスト
塗膜の膜厚を更に均一化したり、膜厚を薄くすることも
可能である。特に、膜厚の均一化をより向上させるため
には有効な方法である。
The present invention is not limited to the embodiments described in this specification. For example, in the first embodiment, the operation of simply discharging the resist liquid from the resist nozzles 61a, 61a,. Although a thin resist film having a uniform thickness is formed on the substrate G, the spin chuck 15 is rotated at a high speed to further uniform the film thickness of the resist film on the substrate G, It is also possible to reduce the thickness. In particular, it is an effective method for further improving the uniformity of the film thickness.

【0148】また、本実施形態では、レジストノズル6
1aとして角型のレジストパイプ61の下面に複数の開
口を設けたものを用いたが、一つ一つが独立した細い口
金状の部材に配管を接続したものを一列に並べたもので
もよい。
In this embodiment, the resist nozzle 6
Although the rectangular resist pipe 61 having a plurality of openings provided on the lower surface is used as 1a, a rectangular resist pipe 61 in which pipes are connected to independent thin mouthpiece-shaped members may be arranged in a line.

【0149】更に、上記第1の実施形態ではレジストパ
イプ61のノズルとして円形のノズル61aのものを用
いたが、これ以外にも、例えば、図15に示すようにス
リット状のノズル61bを備えたものであってもよい。
Further, in the first embodiment, a circular nozzle 61a is used as the nozzle of the resist pipe 61. However, in addition to this, a slit-shaped nozzle 61b is provided as shown in FIG. It may be something.

【0150】更に、上記第1の実施形態ではレジストパ
イプ61は一本のみ用いているが、基板Gの移動方向に
わたって二本以上のレジストパイプ61,61´を備え
ていてもよい。その場合には、図16に示すように、レ
ジストノズル61aの開口位置をこの二本のレジストパ
イプ61,61´の間で互い違いになるようにするのが
好ましい。このような配置にすることにより、基板G上
に供給されたレジスト液の液面の隆起の密度が細かくな
り、その後の薄膜化する段階で膜厚を均一にし易く、好
都合だからである。
Further, in the first embodiment, only one resist pipe 61 is used, but two or more resist pipes 61 and 61 'may be provided in the moving direction of the substrate G. In that case, as shown in FIG. 16, it is preferable that the opening position of the resist nozzle 61a be alternated between the two resist pipes 61 and 61 '. This is because, by adopting such an arrangement, the density of the swelling of the liquid surface of the resist liquid supplied onto the substrate G is reduced, and it is easy to make the film thickness uniform in the subsequent thinning step, which is convenient.

【0151】次に、本実施形態のレジスト塗布処理ユニ
ットに搭載されたノズル点検機構について説明する。図
14は溶剤バス20を切断したところを示した斜視図で
ある。
Next, a nozzle inspection mechanism mounted on the resist coating unit of this embodiment will be described. FIG. 14 is a perspective view showing a state where the solvent bath 20 is cut.

【0152】図14に示すように、この溶剤バス20は
矩形断面のハウジング21を備えており、このハウジン
グ21の内側の図中X方向左側には洗浄ロール22が配
設され、図中X方向右側には吐出台25が配設されてい
る。
As shown in FIG. 14, the solvent bath 20 has a housing 21 having a rectangular cross section, and a washing roll 22 is disposed inside the housing 21 on the left side in the X direction in the figure. A discharge table 25 is provided on the right side.

【0153】洗浄ロール22はハウジング21のY方向
全般にわたって伸びており、レジストパイプ61のレジ
ストノズル61aが配設された部分より若干大きい寸法
である。この洗浄ロールはハウジング21に固定された
回転軸22aの回りに回転するようになっており、図示
しない駆動力伝達機構から伝達された駆動力により図中
矢印の方向に回転するようになっている。なお、図14
では省略したがこの溶剤バス20の内側には溶剤が収容
されており、液面の高さは後述する吐出台25上の圧力
センサ26,26…の上面が露出する程度の高さであ
る。
The cleaning roll 22 extends over the entire Y direction of the housing 21 and has a size slightly larger than that of the resist pipe 61 where the resist nozzle 61a is provided. The cleaning roll rotates around a rotation shaft 22a fixed to the housing 21, and rotates in a direction indicated by an arrow in the drawing by a driving force transmitted from a driving force transmission mechanism (not shown). . FIG.
Although not shown, a solvent is accommodated inside the solvent bath 20, and the height of the liquid level is such that the upper surfaces of pressure sensors 26, 26,...

【0154】この洗浄ロール22の図中左斜めの位置に
はこの洗浄ロール22表面についたレジスト液を除去す
るためのワイパー23が配設されている。このワイパー
23はワイパーボックス24に対して出没可能に収容さ
れており、制御部100からの信号に応答してワイパー
23の先端を洗浄ロール22の表面に当接させたり、ワ
イパーボックス24内に収容したりできるようになって
いる。
A wiper 23 for removing the resist solution on the surface of the cleaning roll 22 is provided at a position diagonally to the left of the cleaning roll 22 in the drawing. The wiper 23 is housed in the wiper box 24 so as to be able to protrude and retract, and in response to a signal from the control unit 100, the tip of the wiper 23 is brought into contact with the surface of the cleaning roll 22 or housed in the wiper box 24. And so on.

【0155】一方、吐出台25はハウジング21の図中
右側の位置に配設された、低い棚状の部材であり、この
上面にはY方向にわたって複数個の圧力センサ26,2
6…が配設されている。これらの圧力センサ26,26
…はレジストノズル61a,61a…のそれぞれと対応
する位置に配設されており、レジストパイプ61が吐出
台25の真上の位置に来たときにはレジストノズル61
a,61a…の一つ一つに対して圧力センサ26,26
…の一つ一つが対向するような位置に配設されている。
また、これら圧力センサ26,26…の一つ一つはそれ
ぞれ別個に制御部100と接続されており、これらの圧
力センサ26,26…の一つ一つで検出した吐出圧を制
御部100が認識できるようになっている。
On the other hand, the discharge table 25 is a low shelf-shaped member disposed at the right side of the housing 21 in the figure, and has a plurality of pressure sensors 26, 2 on the upper surface in the Y direction.
6 are arranged. These pressure sensors 26, 26
Are arranged at positions corresponding to the resist nozzles 61a, 61a, respectively. When the resist pipe 61 comes to a position directly above the discharge table 25, the resist nozzles 61a, 61a,.
a, 61a...
Are arranged at positions where each one of them faces each other.
Each of these pressure sensors 26, 26,... Is separately connected to the control unit 100, and the control unit 100 detects the discharge pressure detected by each of these pressure sensors 26, 26,. It has become recognizable.

【0156】次に、このノズル点検機構の動作について
説明する。
Next, the operation of the nozzle inspection mechanism will be described.

【0157】基板Gへのレジスト吐出が終了すると、制
御部100は移動装置を駆動させてレジストパイプ61
を洗浄位置、即ちレジストノズル61a,61a…が洗
浄ロール22の回転軸22aの真上にくる位置まで移動
させる。この状態でレジストノズル61a,61a…か
らレジスト液を洗浄ロール22の表面に向けて吐出さ
せ、洗浄ロール22の表面にレジスト液を付着させる。
このとき、洗浄ロール22は回転しており、付着したレ
ジスト液を先端としてレジストノズル61a,61a…
表面に付着した余分なレジスト液をこの洗浄ロールが巻
き取る。一方、このときワイパー23はワイパーボック
ス24から突出しており、その先端が洗浄ロール表面に
当接している。そのため、レジストノズル61a,61
a…から巻き取った余分のレジスト液はこのワイパー2
3でそぎ落され、レジスト液のない状態の洗浄ロール表
面がレジストノズル61a,61a…と対向し、再び余
分のレジスト液を巻きとって除去する。
When the discharge of the resist onto the substrate G is completed, the control unit 100 drives the moving device to drive the resist pipe 61.
Are moved to the cleaning position, that is, the position where the resist nozzles 61a, 61a,. In this state, the resist liquid is discharged from the resist nozzles 61a toward the surface of the cleaning roll 22, and the resist liquid is attached to the surface of the cleaning roll 22.
At this time, the cleaning roll 22 is rotating, and the resist nozzles 61a, 61a,.
This cleaning roll winds up the excess resist solution adhering to the surface. On the other hand, at this time, the wiper 23 protrudes from the wiper box 24, and its tip is in contact with the surface of the cleaning roll. Therefore, the resist nozzles 61a, 61
The excess resist solution taken up from a.
The cleaning roll surface, which has been stripped off and has no resist solution, faces the resist nozzles 61a, 61a,.

【0158】所定時間洗浄位置で洗浄を行ったあと、レ
ジストパイプ61を図中右方向に移動させ、待機位置、
即ち、レジストノズル61a,61a…が圧力センサ2
6,26…と対向する位置まで移動させる。この状態で
レジストノズル61a,61a…からダミーディスペン
ス、即ちレジスト液の吐出を行わせ、圧力センサ26,
26…に向けてレジスト液が吐出される。それぞれの圧
力センサ26,26…は各レジストノズル61a,61
a…から吐出されたレジスト液の吐出圧を検出し、その
結果を制御部100に送信する。
After cleaning is performed at the cleaning position for a predetermined time, the resist pipe 61 is moved rightward in the figure,
That is, the resist nozzles 61a, 61a,.
Are moved to a position facing 6, 26. In this state, dummy dispense, that is, discharge of a resist solution is performed from the resist nozzles 61a, 61a,.
The resist liquid is discharged toward 26. Each of the pressure sensors 26, 26,.
The discharge pressure of the resist liquid discharged from a .... is detected, and the result is transmitted to the control unit 100.

【0159】制御部100では圧力センサ26,26…
からの信号に基づいて各各レジストノズル61a,61
a…の吐出圧を認識する。そして各吐出圧が規定の範囲
にあるか否かを判断し、各レジストノズル61a,61
a…の状態を把握する。その結果、吐出圧が低く、レジ
ストノズル61a,61a…のいずれかがつまっている
と判断した場合には、再びレジストパイプ61を上記し
た洗浄位置まで戻し、再度洗浄操作を行う。この操作は
待機位置でのダミーディスペンスの結果が良好な状態と
なるまで繰り返される。
In the control section 100, the pressure sensors 26, 26,.
From each of the resist nozzles 61a, 61
The discharge pressure of a ... is recognized. Then, it is determined whether or not each discharge pressure is within a specified range, and each of the registration nozzles 61a, 61
The state of a ... is grasped. As a result, when it is determined that the discharge pressure is low and any of the resist nozzles 61a, 61a,... Is clogged, the resist pipe 61 is returned to the above-described cleaning position again, and the cleaning operation is performed again. This operation is repeated until the result of the dummy dispensing at the standby position is good.

【0160】一方、ダミーディスペンスの結果、レジス
トノズル61a,61a…のいずれにも以上がない場合
には、そのままレジストパイプ61を図中X方向に移動
させて、基板Gへのレジスト液供給に供する。
On the other hand, as a result of the dummy dispensing, if none of the resist nozzles 61a, 61a,... Has any more, the resist pipe 61 is moved in the X direction as it is to supply the resist liquid to the substrate G. .

【0161】なお、ノズル21aに異常があった場合、
光や音声による警告を発するようにしてもよい。
When there is an abnormality in the nozzle 21a,
A warning by light or sound may be issued.

【0162】このように、このノズル点検機構によれ
ば、基板Gにレジストを吐出する前の段階でレジストノ
ズル61a,61a…に目づまりがないか否かを検出で
きるので、基板Gへの吐出ミスによる不良品の製造が未
然に防止され、歩留まりの向上、ひいては製品一枚当た
りの生産コストを削減することができる。
As described above, according to this nozzle inspection mechanism, it is possible to detect whether or not the resist nozzles 61a, 61a,... Are clogged before the resist is discharged onto the substrate G. As a result, the production of defective products can be prevented, and the yield can be improved, and the production cost per product can be reduced.

【0163】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態に係る塗布処理ユニットについて説明する。
(Second Embodiment) Next, a coating unit according to a second embodiment of the present invention will be described.

【0164】なお、第2の実施形態に係る塗布処理ユニ
ットのうち、上記第1の実施形態に係る塗布処理ユニッ
トと共通する部分については説明を省略する。
[0164] Among the coating processing units according to the second embodiment, description of portions common to the coating processing unit according to the first embodiment will be omitted.

【0165】本実施形態に係る塗布処理ユニット(CO
T)では、スピンチャック15上面の基板Gと当接する
面にアクチュエーター(振動体)を配設し、このアクチ
ュエーターに所定の電圧を印加することにより基板Gを
揺動できる構造とした。
The coating unit (CO
In T), an actuator (vibrator) is provided on a surface of the upper surface of the spin chuck 15 which is in contact with the substrate G, and the substrate G can be rocked by applying a predetermined voltage to the actuator.

【0166】本実施形態に係る塗布処理ユニット(CO
T)では、スピンチャック15上に基板Gを保持し、こ
の状態でレジストパイプ61を図5のX方向に移動させ
ながう追加の部材を用いる必要がないので、構造的にも
コスト的にも好ましい。
The coating unit (CO
In T), the substrate G is held on the spin chuck 15, and in this state, there is no need to use an additional member for moving the resist pipe 61 in the X direction in FIG. Is also preferred.

【0167】(第3の実施形態)次に、本発明の第3の
実施形態に係る塗布処理ユニットについて説明する。
(Third Embodiment) Next, a coating unit according to a third embodiment of the present invention will be described.

【0168】なお、第3の実施形態に係る塗布処理ユニ
ットのうち、上記実施形態に係る塗布処理ユニットと共
通する部分については説明を省略する。
The description of the portions of the coating unit according to the third embodiment that are common to the coating unit according to the above embodiment will be omitted.

【0169】図17は本発明の第2の実施形態に係る塗
布処理ユニット(COT)のレジストパイプ61周辺の
構造を模式的に描いた垂直断面図である。
FIG. 17 is a vertical sectional view schematically showing the structure around the resist pipe 61 of the coating unit (COT) according to the second embodiment of the present invention.

【0170】この塗布処理ユニット(COT)では、レ
ジストパイプ61からのレジスト液の供給は断続的に行
うようになっており、溶剤パイプ62はレジストパイプ
61の基板G移動方向上流側(図中左側)に配設されて
いる。
In this coating unit (COT), the supply of the resist solution from the resist pipe 61 is performed intermittently, and the solvent pipe 62 is located upstream of the resist pipe 61 in the direction of movement of the substrate G (left side in the figure). ).

【0171】図17(a)に示すように、この塗布処理
ユニット(COT)では、まず基板Gの表面に溶剤ノズ
ル62aから溶剤が吐出され、その後にレジスト液を吐
出供給する構造になっている。
As shown in FIG. 17A, the coating unit (COT) has a structure in which the solvent is first discharged from the solvent nozzle 62a onto the surface of the substrate G, and then the resist liquid is discharged and supplied. .

【0172】以下、レジストノズル61aから吐出され
たレジスト液が基板G上で均一に薄膜化される様子につ
いて時系列に従って説明する。
Hereinafter, the manner in which the resist liquid discharged from the resist nozzle 61a is uniformly thinned on the substrate G will be described in chronological order.

【0173】図17(a)〜図18(f)はレジストパ
イプ61から吐出されたレジスト液が基板G上で薄膜化
されるまでの変化を模式的に描いた垂直断面図である。
FIGS. 17 (a) to 18 (f) are vertical cross-sectional views schematically showing changes until the resist liquid discharged from the resist pipe 61 is thinned on the substrate G. FIG.

【0174】スピンチャック15上に保持された基板G
の上面に溶剤ノズル62aから所定量の溶剤が吐出され
る。吐出された溶剤は基板Gの表面に広がり、薄い溶剤
層を形成する。
The substrate G held on the spin chuck 15
A predetermined amount of solvent is discharged from the solvent nozzle 62a onto the upper surface of the substrate. The discharged solvent spreads on the surface of the substrate G and forms a thin solvent layer.

【0175】次いでレジストパイプ61と溶剤パイプ6
2とを図中左方向に移動させる。なお、説明の便宜上、
図17では基板Gを図中右方向に移動させるものとして
説明する。
Next, the resist pipe 61 and the solvent pipe 6
2 is moved to the left in the figure. For convenience of explanation,
In FIG. 17, a description will be given assuming that the substrate G is moved rightward in the figure.

【0176】上記移動により基板Gはレジストパイプ6
1及び溶剤パイプ62に対して相対的に図中右方向に移
動する。この移動により上記の溶剤層はレジストノズル
61aの真下の位置まで移動する。この状態でレジスト
ノズル61aからレジスト液の吐出を行う(図17
(b))。レジストノズル61aから吐出されたレジス
ト液は上記溶剤層と当接するとこの溶剤層に対してただ
ちに拡散し、この溶剤層に沿って基板G表面に広がる
(図17(c))その後上記溶剤層と上記レジスト液と
は完全に溶解し、基板G表面に広がったレジスト塗膜を
形成する。(図18(d))同様にして基板Gの図中左
側には溶剤が吐出されて薄い溶剤層を形成し、その上か
らレジスト液が吐出され、図中右から左方向にわたって
順次薄いレジスト塗膜が形成されていく(図18
(e))。一方、この間も基板G上に形成されたレジス
ト塗膜は基板G上に広がってゆき、X方向及びY方向で
隣接するレジスト塗膜どうしがその端の部分で重なりあ
い、一体化してゆく(図18(f))こうして、基板G
上で断続的に吐出されたレジスト液によるレジスト塗膜
どうしがつながり、膜厚が薄くなるとともに膜厚が均一
し、基板G表面に薄くて膜厚の均一なレジスト塗膜が形
成される(図18(f))
With the above movement, the substrate G is moved to the resist pipe 6
1 and to the right with respect to the solvent pipe 62 in the figure. With this movement, the solvent layer moves to a position immediately below the resist nozzle 61a. In this state, the resist liquid is discharged from the resist nozzle 61a (FIG. 17).
(B)). When the resist liquid discharged from the resist nozzle 61a comes into contact with the solvent layer, the resist liquid immediately diffuses into the solvent layer and spreads on the surface of the substrate G along the solvent layer (FIG. 17C). The resist solution completely dissolves and forms a resist coating film spread on the surface of the substrate G. Similarly, a solvent is discharged to the left side of the substrate G in the drawing to form a thin solvent layer, and a resist solution is discharged from above, and a thin resist coating is sequentially applied from right to left in the drawing. A film is formed (FIG. 18)
(E)). On the other hand, during this time, the resist coating film formed on the substrate G spreads on the substrate G, and the resist coating films adjacent in the X direction and the Y direction overlap with each other at the ends thereof and are integrated (see FIG. 18 (f)) Thus, the substrate G
The resist coatings formed by the resist liquid intermittently discharged above are connected to each other, so that the film thickness becomes thinner and uniform, and a thin and uniform resist coating is formed on the surface of the substrate G (FIG. 18 (f))

【0177】[0177]

【発明の効果】以上詳述したように、請求項1記載の本
発明によれば、前記被処理基板表面に供給した処理剤が
処理剤自身の性質、例えば表面張力や重力により被処理
基板表面上で広がり、処理剤どうしがつながって膜厚が
薄くて均一な塗膜を形成することを前提としており、過
剰な処理剤を供給しないので、処理剤の無駄がない。
As described above in detail, according to the first aspect of the present invention, the treatment agent supplied to the surface of the substrate is treated by the properties of the treatment agent itself, for example, surface tension or gravity. It is assumed that the processing agents are spread over each other and the processing agents are connected to each other to form a thin and uniform coating film. Since an excessive processing agent is not supplied, there is no waste of the processing agent.

【0178】また、塗膜の膜厚の値や均一性は処理剤自
身の性質により定まり、前記供給手段の形状や供給の際
の条件には影響され難いので、装置自体に求められる機
械的精度や供給時の管理精度などの条件が緩和される。
Further, the value and uniformity of the film thickness of the coating film are determined by the properties of the treatment agent itself, and are hardly influenced by the shape of the supply means and the conditions at the time of supply. And conditions such as control accuracy during supply are eased.

【0179】即ち、処理剤を供給する段階では、供給手
段から被処理基板表面に供給できればよい。そのため、
処理剤自身の粘度の許容範囲が広くなり、処理剤の供給
速度も許容範囲が広い。供給手段や保持手段、移動させ
る手段の動作精度の許容範囲も広くとれる。
That is, at the stage of supplying the processing agent, it is sufficient that the supply means can supply the processing agent to the surface of the substrate to be processed. for that reason,
The allowable range of the viscosity of the processing agent itself is widened, and the supply speed of the processing agent is also wide. The allowable range of the operation accuracy of the supply unit, the holding unit, and the moving unit can be widened.

【0180】また、処理剤は被処理基板表面の複数の位
置に供給すればよいので、例えば、処理剤ノズル(開口
部)など供給手段は比較的小さなもので済む。そのた
め、供給手段の剛性など、機械的強度を懸念する必要が
ない。
Further, since the treatment agent may be supplied to a plurality of positions on the surface of the substrate to be treated, the supply means such as a treatment agent nozzle (opening) may be relatively small. Therefore, there is no need to worry about mechanical strength such as the rigidity of the supply unit.

【0181】一方、薄膜化する段階では、処理剤を薄膜
化する最も適した条件を選択できるので効率良く薄膜化
することができる。
On the other hand, at the stage of thinning, the most suitable conditions for thinning the treatment agent can be selected, so that the thinning can be performed efficiently.

【0182】また、請求項1〜6記載の本発明では、監
視装置で常時各処理剤ノズルの作動状態を監視している
ので、処理剤ノズルのいずれかがつまった場合にいち早
くつまった処理剤ノズルを発見でき、処理剤ノズルに不
具合があるまま生産が行われることが未然に防止される
ので、歩留まりが向上し、生産効率と生産コストが改善
される。
In the present invention as set forth in claims 1 to 6,
The operating state of each processing agent nozzle is constantly monitored with a visual observation device
So if any of the processing agent nozzles is clogged,
A clogged processing agent nozzle can be found,
Prevents production from being carried out as it is
So yields are improved, production efficiency and production costs are improved
Is done.

【0183】[0183]

【0184】[0184]

【0185】[0185]

【0186】[0186]

【0187】[0187]

【0188】[0188]

【0189】[0189]

【0190】また、請求項7〜12に記載の本発明で
は、前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動方向に
沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤ノズル
の間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズルが、
被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向上流側
の隣接する二つのノズルの間に配設された構成とした。
このため、被処理基板表面上に供給される処理剤どうし
の間隔を狭くすることができ、隣接する処理剤どうしが
つながり易くなるため、より膜厚の均一な塗膜を形成し
易くなる。
Further, according to the present invention as set forth in claims 7 to 12,
Is such that the processing agent nozzle moves in the moving direction of the substrate to be processed.
Are arranged in two or more rows along
In between, the processing agent nozzle on the downstream side of the substrate movement direction,
With respect to the moving direction of the substrate, the upstream side of the moving direction of the substrate
Is arranged between two adjacent nozzles.
For this reason, the processing agents supplied on the surface of the substrate to be processed
Between adjacent processing agents can be reduced
Easy to connect, forming a more uniform coating film
It will be easier.

【0191】また、請求項2,8記載の本発明によれ
、前記被処理基板を揺動又は回転して前記供給された
処理剤を被処理基板表面に拡散させる手段を具備してい
るので、より確実に塗膜を均一にすることができる。
[0191] also comprises a means for diffusing according to the invention of claim 2,8, wherein the treatment agent prior SL is the supply swings or rotates the target substrate surface of the substrate to be processed so, it is possible to make uniform the coating to ensure Ri good.

【0192】請求項3,9記載の本発明によれば、揺
機構として、アクチュエータ(振動体)やスピンチャッ
ク及びこのスピンチャックを駆動するモータを具備して
いるので、より確実に塗膜を均一にすることができる。
[0192] According to the present invention of claim 3, 9, wherein, as the rocking mechanism, the actuator since comprises a motor for driving (vibration member) and the spin chuck and the spin chuck, yo Ri reliably coating Can be made uniform.

【0193】請求項4,10記載の本発明によれば、前
記被処理基板表面に溶剤を供給する溶剤ノズルを具備し
ている。この溶剤を供給することにより予め溶剤で被処
理基板の表面を濡らし、処理剤と被処理基盤とを馴染み
易くするとともに、処理剤が溶剤層を介して被処理基盤
表面を走り、迅速に拡散するようにしてあるので、よ
確実に塗膜を均一にすることができる。
[0193] According to the present invention of claim 4, 10 wherein is provided with a solvent nozzle for supplying a solvent before <br/> Symbol surface of the substrate to be processed. By supplying this solvent, the surface of the substrate to be treated is wetted with the solvent in advance, and the treatment agent and the substrate to be treated are easily blended, and the treatment agent runs on the surface of the substrate to be treated through the solvent layer and is rapidly diffused. since manner are, it can be made uniform coating reliably Ri good.

【0194】請求項5,11記載の本発明によれば、前
記被処理基板表面に溶剤蒸気を含む気体を供給する気体
ノズルを具備している。この溶剤蒸気を含む気体によ
り、被処理基板表面に供給された処理剤を押し広げ、膜
厚が薄くなる方向に圧力をかけるので、より確実に塗膜
を薄く均一にすることができる。また、この気体には溶
剤蒸気が含まれているので、処理剤を乾燥させることも
ない。
[0194] are provided according to the present invention of claim 5, 11, wherein a gas nozzle for supplying a gas containing solvent vapor before <br/> Symbol surface of the substrate to be processed. The gas containing the solvent vapor spreads the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed, and applies pressure in a direction of decreasing the film thickness, so that the coating film can be more reliably made thin and uniform. Further, since this gas contains solvent vapor, the treatment agent is not dried.

【0195】請求項6,12記載の本発明によれば、前
記被処理基板に熱を供給するヒータを具備している。こ
のヒータで熱を供給することにより被処理基板を加温
し、供給された処理剤の粘度を低下させて被処理基盤と
馴染み易くするとともに、処理剤が被処理基盤表面で迅
速に拡散するようにしてあるので、より確実に塗膜を均
一にすることができる。
[0195] According to the present invention of claim 6, 12, wherein is provided with a heater for supplying heat to the front <br/> Symbol target substrate. By supplying heat with this heater, the substrate to be processed is heated, so that the viscosity of the supplied processing agent is reduced so that the substrate can be easily blended with the substrate to be processed, and the processing agent diffuses quickly on the surface of the substrate to be processed. since you are, it is possible to achieve a uniform coating to ensure Ri good.

【0196】請求項13記載の本発明によればでは、前
記保持部材としてモータの回転軸と接続されたスピンチ
ャックを採用し、前記被処理基板上に供給された処理剤
が均一に薄膜化するように前記モータを制御する。
[0196] In accordance with the present invention of claim 13, the previous <br/> Symbol holding member spin chuck employs connected to the rotary shaft of the motor as the supplied treatment agent on the substrate to be treated The motor is controlled so as to form a uniform thin film.

【0197】そのため、処理剤自身の性質や揺動操作、
溶剤、気体、或いは熱の作用により膜厚が均一化された
塗膜の膜厚を更に均一化したり、更に薄膜化することが
できる。
[0197] Therefore, the processing agent itself nature and the swing operation,
The thickness of the coating film whose film thickness has been made uniform by the action of a solvent, a gas, or heat can be made more uniform or even thinner.

【0198】[0198]

【0199】[0199]

【0200】請求項14記載の本発明によれば、前記供
給された処理剤が隣接位置に供給された処理剤と被処理
基板上でつながって一体化するような間隔で処理剤を供
給する。そのため、被処理基板表面上で確実に膜厚の均
一な塗膜を形成することができる。
[0200] supplying a treatment agent at intervals as claimed according to the present invention of claim 14, prior SL supplied treatment agent are integrated connected by a processing agent supplied to the adjacent position target substrate . Therefore , a coating film having a uniform film thickness can be reliably formed on the surface of the substrate to be processed.

【0201】請求項15記載の本発明によれば、V1 ≧
V2 (1)の関係を満たす速度V2で被処理基板と保持
手段とを相対的に移動させながら速度V1 で処理剤を供
給する。このように被処理基板と保持手段との相対的移
動速度以上の速度で処理剤を供給するので、高密度で処
理剤を供給することができ、膜厚が均一で薄い塗膜を形
成することができる。
According to the fifteenth aspect of the present invention , V 1 ≧
V2 The processing agent is supplied at the speed V1 while relatively moving the substrate to be processed and the holding means at the speed V2 satisfying the relationship of (1). Since the supply of treatment agent in a relative moving speed or faster with the target substrate and the holding means, it is possible to supply the treatment agent at a high density, the film thickness to form a uniform and thin coating film Can be.

【0202】[0202]

【0203】[0203]

【0204】請求項16記載の本発明によれば、前記処
理剤ノズルとして微細な丸孔形のものを採用した。その
ため、高い密度で処理剤を供給できるので、より膜厚の
均一な塗膜を形成することができる。
[0204] According to the present invention according to claim 16, it was adopted as a fine round hole shape as a pre-Symbol treatment agent nozzle. Therefore <br/>, can be supplied with treatment agent in not high density, it is possible to form a uniform coating film more thickness.

【0205】請求項17の本発明によれば、前記処理剤
ノズルとして被処理基板移動方向に伸びたスリット形の
ものを採用した。そのため、高い密度で処理剤を供給で
きるので、より膜厚の均一な塗膜を形成することができ
る。
[0205] According to the present invention of claim 17, it was adopted as the pre-Symbol treatment agent slit shape extending in the treated substrate moving direction as a nozzle. Therefore, it is possible to supply the agent in a yet higher density, it is possible to form a uniform coating film more thickness.

【0206】本発明の塗布方法では、前記被処理基板表
面に供給した処理剤が処理剤自身の性質、例えば表面張
力や重力により被処理基板表面上で広がり、処理剤どう
しがつながって膜厚が薄くて均一な塗膜を形成すること
を前提としており、過剰な処理剤を供給しないので、処
理剤の無駄がない。
In the coating method of the present invention, the treatment agent supplied to the surface of the substrate to be treated spreads on the surface of the substrate to be treated due to the properties of the treatment agent itself, for example, surface tension or gravity, and the treatment agents are connected to each other to reduce the film thickness. Since it is assumed that a thin and uniform coating film is formed, and no excessive processing agent is supplied, there is no waste of the processing agent.

【0207】また、塗膜の膜厚の値や均一性は処理剤自
身の性質により定まり、前記供給手段の形状や供給の際
の条件には影響され難いので、装置自体に求められる機
械的精度や供給時の管理精度などの条件が緩和される。
Further, the value and uniformity of the thickness of the coating film are determined by the properties of the treatment agent itself and are hardly influenced by the shape of the supply means and the conditions at the time of supply. And conditions such as control accuracy during supply are eased.

【0208】更に、前記被処理基板を揺動又は回転して
前記供給された処理剤を被処理基板表面に拡散させる手
段を具備しているので、より確実に塗膜を均一にするこ
とができる。
Further, since means for swinging or rotating the substrate to be processed and diffusing the supplied processing agent to the surface of the substrate to be processed is provided, the coating film can be more reliably made uniform. .

【0209】また、処理ノズルを溶剤バスで洗浄した
後、待機位置まで移動させ、ここで圧力センサに向けて
ダミーディスペンスを行い、このダミーディスペンスの
吐出圧で各処理ノズルの状態を定期的に監視する。この
ため、処理剤ノズルのいずれかがつまった場合にいち早
くつまった処理剤ノズルを発見でき、処理剤ノズルに不
具合があるまま生産が行われることが未然に防止される
ので、歩留まりが向上し、生産効率と生産コストが改善
される。請求項19記載の本発明によれば、被処理基板
の表面の所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給した
後、前記被処理基板を回転して前記処理剤を均一に薄膜
化する構成をとっている。この回転をさせることにより
膜厚のばらつきが是正されるので、膜厚を均一化するこ
とができる。
The processing nozzle was washed with a solvent bath.
After that, move to the standby position, where
Perform a dummy dispense and use this dummy dispense
The state of each processing nozzle is periodically monitored by the discharge pressure. this
Therefore, if one of the processing agent nozzles is clogged,
A clogged processing agent nozzle can be found,
Prevents production from being carried out as it is
So yields are improved, production efficiency and production costs are improved
Is done. According to the present invention of claim 19, wherein, after supplying the processing agent to a plurality of locations spaced a predetermined distance of the surface of the substrate, configured to uniformly thinning the treatment agent by rotating the target substrate Has taken. This rotation corrects the variation in the film thickness, so that the film thickness can be made uniform.

【0210】請求項20記載の本発明によれば、被処理
基板の表面の所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給
する前に被処理基板の表面に溶剤を供給する。この溶剤
を供給することにより予め溶剤で被処理基板の表面を濡
らし、処理剤と被処理基盤とを馴染み易くするととも
に、処理剤が溶剤層を介して被処理基盤表面を走り、迅
速に拡散するようにしてあるので、確実に塗膜を均一に
することができる。
According to the twentieth aspect of the present invention, the solvent is supplied to the surface of the substrate before supplying the processing agent to the plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate. By supplying this solvent, the surface of the substrate to be treated is wetted with the solvent in advance, and the treatment agent and the substrate to be treated are easily blended, and the treatment agent runs on the surface of the substrate to be treated through the solvent layer and is rapidly diffused. As a result, the coating film can be surely made uniform.

【0211】請求項21記載の本発明によれば、被処理
基板の表面の所定間隔隔てた複数の位置に処理剤を供給
した後、前記被処理基板の表面に溶剤蒸気を含む気体を
供給する。
According to the twenty- first aspect of the present invention, after a processing agent is supplied to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of a substrate to be processed, a gas containing a solvent vapor is supplied to the surface of the substrate to be processed. .

【0212】この溶剤蒸気を含む気体により、被処理基
板表面に供給された処理剤を押し広げ、膜厚が薄くなる
方向に圧力をかけるので、確実に塗膜を薄く均一にする
ことができる。また、この気体には溶剤蒸気が含まれて
いるので、処理剤を乾燥させることもない。
The gas containing the solvent vapor pushes the processing agent supplied to the surface of the substrate to be processed and applies pressure in the direction of decreasing the film thickness, so that the coating film can be surely made thin and uniform. Further, since this gas contains solvent vapor, the treatment agent is not dried.

【0213】[0213]

【0214】[0214]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係る塗布・現像装置
の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a coating and developing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施形態に係る塗布・現像装置
の平面図である。
FIG. 2 is a plan view of the coating / developing apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布処
理ユニットの平面図である。
FIG. 3 is a plan view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布処
理ユニットの側面図である。
FIG. 4 is a side view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布処
理ユニットの斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view of a resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布処
理ユニットの垂直断面図である。
FIG. 6 is a vertical sectional view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1の実施形態に係る塗布液供給装置
を下から見た図である。
FIG. 7 is a view of the application liquid supply device according to the first embodiment of the present invention as viewed from below.

【図8】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布処
理ユニットのブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram of a resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第1の実施形態に係るレジストパイプ
の垂直断面図である。
FIG. 9 is a vertical sectional view of the resist pipe according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布
処理ユニットの垂直断面図である。
FIG. 10 is a vertical sectional view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布
処理ユニットの垂直断面図である。
FIG. 11 is a vertical sectional view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布
処理ユニットの垂直断面図である。
FIG. 12 is a vertical sectional view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第1の実施形態に係るレジスト塗布
処理ユニットの垂直断面図である。
FIG. 13 is a vertical sectional view of the resist coating unit according to the first embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第1の実施形態に係るノズル点検機
構の展開斜視図である。
FIG. 14 is an exploded perspective view of the nozzle inspection mechanism according to the first embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第1の実施形態に係るレジストパイ
プの変形例を示した図である。
FIG. 15 is a view showing a modification of the resist pipe according to the first embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第1の実施形態に係るレジストパイ
プの変形例を示した図である。
FIG. 16 is a view showing a modification of the resist pipe according to the first embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第3の実施形態のレジスト塗布処理
ユニットの作動状態を示す垂直断面図である。
FIG. 17 is a vertical sectional view showing an operation state of the resist coating unit according to the third embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第3の実施形態のレジスト塗布処理
ユニットの作動状態を示す垂直断面図である。
FIG. 18 is a vertical sectional view showing an operation state of the resist coating unit according to the third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

G 基板 10 ローターカップ 15 スピンチャック 20 溶剤バス 26 圧力センサ 64,65 脚部材 60 塗布液供給装置 61 レジストパイプ 61a レジストノズル RS レジスト供給系 70 移動装置 71〜74 ガイドレール 63 気体パイプ GS 気体供給系 62 溶剤パイプ SS 溶剤供給系 100 制御部 COT 塗布処理ユニット G substrate 10 rotor cup 15 spin chuck 20 solvent bath 26 pressure sensor 64, 65 leg member 60 coating liquid supply device 61 resist pipe 61a resist nozzle RS resist supply system 70 moving device 71-74 guide rail 63 gas pipe GS gas supply system 62 Solvent pipe SS Solvent supply system 100 Control unit COT coating unit

フロントページの続き (72)発明者 野村 雅文 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成 272番地の4 東京エレクトロン九州株 式会社大津事業所内 (72)発明者 立山 清久 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成 272番地の4 東京エレクトロン九州株 式会社大津事業所内 (72)発明者 大森 伝 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成 272番地の4 東京エレクトロン九州株 式会社大津事業所内 (56)参考文献 特開 平10−34055(JP,A) 特開 平8−274014(JP,A) 特開 平10−74691(JP,A) 特開 平7−80384(JP,A) 特開 平5−144720(JP,A) 特開 平8−250389(JP,A) 特開 平6−224114(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 B05C 11/08 B05D 1/40 Continued on the front page (72) Inventor Masafumi Nomura Katsuno-ku, Otsu-cho, Kikuchi-gun, Kumamoto Prefecture 272-4 Heisei 272 4 Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd. 272-4 Heisei, Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd., Otsu Office (72) Inventor Omori Den, Otsu-cho, Kikuchi-gun, Kumamoto Prefecture JP-A-10-34055 (JP, A) JP-A-8-274014 (JP, A) JP-A-10-74691 (JP, A) JP-A-7-80384 (JP, A) JP-A-5-144720 ( JP, A) JP-A-8-250389 (JP, A) JP-A-6-224114 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/027 B05C 11/08 B05D 1/40

Claims (21)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期して駆動させ
る制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、 前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各
処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、 前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作
動状態を監視する監視装置と、 を具備することを特徴とする塗布装置。
1. A holding member for holding a substrate to be processed, a plurality of processing agent nozzles directed to the surface of the substrate to be processed and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system that relatively moves the holding member and the processing agent nozzle, a processing unit supply system, and a control unit that drives the moving system in synchronization with each other; and a standby position adjacent to the holding member. , is disposed in the treatment agent nozzle facing surface of the stand-by position, each
A pressure sensor for detecting a discharge pressure of the processing agent nozzle, and a function of each of the processing agent nozzles based on the detected discharge pressure.
A monitoring device for monitoring a moving state .
【請求項2】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記保持部材に配設された揺動機構と、 前記処理剤供給系、前記移動系及び前記揺動機構を同期
して駆動させる制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、 前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各
処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、 前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作
動状態を監視する監視 装置と、 を具備することを特徴と
する塗布装置。
2. A holding member for holding a substrate to be processed, and a plurality of processing agent nozzles directed to the surface of the substrate to be processed and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, a swing mechanism provided on the holding member, and a processing agent supply system, the moving system, and the swing mechanism synchronized with each other. A control unit to be driven, a standby position provided adjacent to the holding member, and a processing agent nozzle disposed surface of the standby position,
A pressure sensor for detecting a discharge pressure of the processing agent nozzle, and a function of each of the processing agent nozzles based on the detected discharge pressure.
A monitoring device for monitoring a moving state .
【請求項3】 請求項記載の塗布装置であって、 前記揺動機構が、前記保持部材の被処理基板当接部に配
設されたアクチュエータ、又は、スピンチャック及びこ
のスピンチャックを駆動するモータであることを特徴と
する塗布装置。
3. The coating apparatus according to claim 2 , wherein the swing mechanism drives an actuator, a spin chuck, and the spin chuck disposed at a contact portion of the holding member with the substrate to be processed. A coating device characterized by being a motor.
【請求項4】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向上流側に隣設さ
れた溶剤ノズルと、 前記溶剤ノズルに溶剤を供給する溶剤供給系と、 前記処理剤供給系、前記溶剤供給系、及び前記移動系を
同期して駆動させる制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、 前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各
処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、 前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作
動状態を監視する監視装置と、 を具備することを特徴とする塗布装置。
4. A holding member for holding a substrate to be processed, a plurality of processing agent nozzles directed to the surface of the substrate to be processed, and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, a solvent nozzle disposed adjacent to the processing agent nozzle on the upstream side in the substrate movement direction of the processing target, and a solvent supply for supplying a solvent to the solvent nozzle A control unit that drives the processing agent supply system, the solvent supply system, and the moving system in synchronization with each other; a standby position adjacent to the holding member; and the processing agent nozzle-facing surface at the standby position. Arranged in
A pressure sensor for detecting a discharge pressure of the processing agent nozzle, and a function of each of the processing agent nozzles based on the detected discharge pressure.
A monitoring device for monitoring a moving state .
【請求項5】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向下流側に隣設さ
れた気体ノズルと、 前記気体ノズルに溶剤蒸気を含む気体を供給する気体供
給系と、 前記処理剤供給系、前記気体供給系、及び前記移動系を
同期して駆動させる制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、 前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各
処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、 前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作
動状態を監視する監視装置と、 を具備することを特徴とする塗布装置。
5. A holding member for holding a substrate to be processed, and a plurality of processing agent nozzles directed to the surface of the substrate to be processed and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system that relatively moves the holding member and the processing agent nozzle, a gas nozzle adjacent to the processing agent nozzle on the downstream side of the processing target substrate moving direction, and a gas containing a solvent vapor in the gas nozzle. A gas supply system to be supplied; a control unit that drives the processing agent supply system, the gas supply system, and the moving system in synchronization; a standby position provided next to the holding member; and the processing of the standby position. Agent nozzle facing Disposed in each
A pressure sensor for detecting a discharge pressure of the processing agent nozzle, and a function of each of the processing agent nozzles based on the detected discharge pressure.
A monitoring device for monitoring a moving state .
【請求項6】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記保持部材に保持された被処理基板を加熱するヒータ
と、 前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期して駆動させ
る制御部と、前記保持部材に隣設された待機位置と、 前記待機位置の前記処理剤ノズル対向面に配設され、各
処理剤ノズルの吐出圧を検出する圧力センサと、 前記検出した吐出圧に基づいて前記各処理剤ノズルの作
動状態を監視する監視装置と、 を具備することを特徴とする塗布装置。
6. A holding member that holds a substrate to be processed, a plurality of processing agent nozzles that are directed to the surface of the substrate to be processed, and are provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system that relatively moves the holding member and the processing agent nozzle, a heater that heats the substrate to be processed held by the holding member, a processing agent supply system, and a synchronous driving of the moving system A control unit to be disposed, a standby position adjacent to the holding member, and disposed on the processing agent nozzle facing surface of the standby position,
A pressure sensor for detecting a discharge pressure of the processing agent nozzle, and a function of each of the processing agent nozzles based on the detected discharge pressure.
A monitoring device for monitoring a moving state .
【請求項7】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期して駆動させ
る制御部と、 を具備し、 前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動
方向に沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤
ノズルの間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズ
ルが、被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向
上流側の隣接する二つのノズルの間に配設されているこ
とを特徴とする塗布装置。
7. A holding member for holding a substrate to be processed, and a surface of the substrate to be processed which is directed to a surface of the substrate to be processed.
Are provided at predetermined intervals over a first direction across
A plurality of treatment agent nozzles, a treatment agent supply system for supplying a treatment agent to the treatment agent nozzles, and a treatment agent supply system arranged in a second direction different from the first direction.
Guide for movably supporting the holding member or the processing agent nozzle
And the holding member and the processing agent nozzle are relatively moved.
Moving system, the processing agent supply system, and the moving system
A processing unit , wherein the processing agent nozzles are arranged in two or more rows along the moving direction of the substrate to be processed, and between the adjacent processing agent nozzles, the downstream side in the moving direction of the substrate to be processed. Wherein the processing agent nozzle is disposed between two adjacent nozzles on the upstream side in the moving direction of the substrate with respect to the moving direction of the substrate.
【請求項8】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記保持部材に配設された揺動機構と、 前記処理剤供給系、前記移動系及び前記揺動機構を同期
して駆動させる制御部と、 を具備し、前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動
方向に沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤
ノズルの間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズ
ルが、被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向
上流側の隣接する二つのノズルの間に配設されているこ
とを特徴とする塗布装置。
A holding member 8. holding a substrate to be processed, the directed to the surface of the substrate, a plurality of processing agent nozzles provided the predetermined intervals over a first direction across the surface of the substrate to be processed A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, a swing mechanism provided on the holding member, and a processing agent supply system, the moving system, and the swing mechanism synchronized with each other. And a control unit for driving, wherein the processing agent nozzles are arranged in two or more rows along the moving direction of the substrate to be processed, and between the adjacent processing agent nozzles, the processing agent nozzle is downstream in the moving direction of the substrate to be processed. The processing agent nozzle on the side A coating apparatus, which is disposed between two adjacent nozzles on the upstream side in the moving direction of the substrate to be processed in the moving direction.
【請求項9】 請求項8記載の塗布装置であって、 前記揺動機構が、前記保持部材の被処理基板当接部に配
設されたアクチュエータ、又は、スピンチャック及びこ
のスピンチャックを駆動するモータであることを特徴と
する塗布装置。
9. The coating apparatus according to claim 8, wherein the swing mechanism drives an actuator, a spin chuck, and the spin chuck disposed at a contact portion of the holding member with the substrate to be processed. A coating device characterized by being a motor.
【請求項10】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向上流側に隣設さ
れた溶剤ノズルと、 前記溶剤ノズルに溶剤を供給する溶剤供給系と、 前記処理剤供給系、前記溶剤供給系、及び前記移動系を
同期して駆動させる制御部と、 を具備し、前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動
方向に沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤
ノズルの間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズ
ルが、被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向
上流側の隣接する二つのノズルの間に配設されているこ
とを特徴とする塗布装置。
10. A holding member for holding a substrate to be processed, a plurality of processing agent nozzles directed to the surface of the substrate to be processed, and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle, a solvent nozzle disposed adjacent to the processing agent nozzle on the upstream side in the substrate movement direction of the processing target, and a solvent supply for supplying a solvent to the solvent nozzle And a control unit that drives the processing agent supply system, the solvent supply system, and the moving system in synchronization, and the processing agent nozzles are arranged in two rows along the moving direction of the substrate to be processed. It is arranged above Between adjacent processing agent nozzles, a processing agent nozzle on the downstream side of the processing target substrate moving direction is disposed between two adjacent nozzles on the upstream side of the processing target substrate moving direction with respect to the processing target substrate moving direction. A coating device.
【請求項11】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、 前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記処理剤ノズルの被処理基板移動方向下流側に隣設さ
れた気体ノズルと、 前記気体ノズルに溶剤蒸気を含む気体を供給する気体供
給系と、 前記処理剤供給系、前記気体供給系、及び前記移動系を
同期して駆動させる制御部と、 を具備し、前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動
方向に沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤
ノズルの間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズ
ルが、被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向
上流側の隣接する二つのノズルの間に配設されているこ
とを特徴とする塗布装置。
11. A holding member for holding a substrate to be processed, a plurality of processing agent nozzles facing the surface of the substrate to be processed, and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system that supplies a treatment agent to the treatment agent nozzle, a guide that is disposed in a second direction different from the first direction, and that movably supports the holding member or the treatment agent nozzle, A moving system that relatively moves the holding member and the processing agent nozzle, a gas nozzle adjacent to the processing agent nozzle on the downstream side of the processing target substrate moving direction, and a gas containing a solvent vapor in the gas nozzle. A gas supply system to be supplied, and a control unit that drives the processing agent supply system, the gas supply system, and the moving system in synchronization with each other, wherein the processing agent nozzle is arranged in a moving direction of the substrate to be processed. More than two rows along The processing agent nozzle is disposed between the adjacent processing agent nozzles, and the processing agent nozzle on the downstream side of the processing target substrate moving direction is located between two adjacent nozzles on the upstream side of the processing target substrate moving direction in the processing target substrate moving direction. A coating device, wherein the coating device is arranged in a coating device.
【請求項12】 被処理基板を保持する保持部材と、 前記被処理基板の表面に向けられ、前記被処理基板表面
を横切る第1の方向にわたって所定間隔ごとに設けられ
た複数の処理剤ノズルと、 前記処理剤ノズルに処理剤を供給する処理剤供給系と、
前記第1の方向と異なる第2の方向に配設され、前記保
持部材又は前記処理剤ノズルを移動可能に支持するガイ
ドと、 前記保持部材と前記処理剤ノズルとを相対的に移動させ
る移動系と、 前記保持部材に保持された被処理基板を加熱するヒータ
と、 前記処理剤供給系、及び前記移動系を同期して駆動させ
る制御部と、 を具備し、前記処理剤ノズルが、前記被処理基板の移動
方向に沿って二列以上配設されており、隣接する処理剤
ノズルの間で、被処理基板移動方向下流側の処理剤ノズ
ルが、被処理基板移動方向に関し、被処理基板移動方向
上流側の隣接する二つのノズルの間に配設されているこ
とを特徴とする塗布装置。
12. A holding member for holding a substrate to be processed, a plurality of processing agent nozzles facing the surface of the substrate to be processed, and provided at predetermined intervals in a first direction across the surface of the substrate to be processed. A treatment agent supply system for supplying a treatment agent to the treatment agent nozzle,
A guide disposed in a second direction different from the first direction to movably support the holding member or the processing agent nozzle; and a movement system for relatively moving the holding member and the processing agent nozzle. A heater that heats the substrate to be processed held by the holding member; and a controller that drives the processing agent supply system and the moving system in synchronization with each other. The processing agent nozzles are arranged in two or more rows along the moving direction of the processing substrate, and the processing agent nozzles on the downstream side in the moving direction of the processing substrate move between the adjacent processing agent nozzles. A coating device disposed between two adjacent nozzles on the upstream side in the direction.
【請求項13】 請求項1〜12に記載の塗布装置であ
って、 前記保持部材が、前記被処理基板を回転可能に保持し、
モータの回転軸と接続されたスピンチャックであり、 前記制御部が、前記被処理基板上に供給された処理剤が
均一に薄膜化するように前記モータの回転速度を制御す
る制御部であることを特徴とする塗布装置。
13. The coating apparatus according to claim 1, wherein the holding member rotatably holds the substrate to be processed,
A spin chuck connected to a rotation shaft of a motor, wherein the control unit is a control unit that controls a rotation speed of the motor so that a processing agent supplied on the substrate to be processed is uniformly thinned. A coating device characterized by the above-mentioned.
【請求項14】 請求項1〜13に記載の塗布装置であ
って、 前記処理剤ノズルの間隔が、隣接する処理剤ノズルから
供給された処理剤が前記被処理基板上で一体化して均一
な膜厚の処理剤層を形成するような間隔であることを特
徴とする塗布装置。
14. The coating apparatus according to claim 1, wherein a distance between the processing agent nozzles is uniform with a processing agent supplied from an adjacent processing agent nozzle being integrated on the substrate to be processed. A coating apparatus having an interval so as to form a treatment agent layer having a thickness.
【請求項15】 請求項1〜14に記載の塗布装置であ
って、前記処理剤供給系が、速度V1 で処理剤を供給す
る処理剤供給系であり、前記移動系が、前記保持部材と
前記処理剤ノズルとを速度V2 で移動させる移動系であ
り、上記速度V1と速度V2 との間には、 V1 ≧V2 (1) の関係が成り立つことを特徴とする塗布装置。
15. The coating apparatus according to claim 1, wherein said processing agent supply system is a processing agent supply system for supplying a processing agent at a speed V1, and said moving system is provided between said holding member and said holding member. A coating system for moving the processing agent nozzle at a speed V2, wherein a relationship of V1 ≧ V2 (1) is established between the speed V1 and the speed V2.
【請求項16】 請求項1〜15に記載の塗布装置であ
って、 前記処理剤ノズルが微細な丸孔であることを特徴とする
塗布装置。
16. The coating apparatus according to claim 1, wherein said processing agent nozzle is a fine round hole.
【請求項17】 請求項1〜15に記載の塗布装置であ
って、 前記処理剤ノズルが被処理基板移動方向に伸びたスリッ
トであることを特徴とする塗布装置。
17. The coating apparatus according to claim 1, wherein said processing agent nozzle is a slit extending in a moving direction of the substrate to be processed.
【請求項18】 被処理基板の表面の、所定間隔隔てた
複数の位置に処理剤を供給する工程と、 前記被処理基板を揺動して前記処理剤をつなげて一体化
する工程と、 を具備した塗布方法であって、 前記被処理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズル
を溶剤バスの位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルを溶剤で洗浄する工程と、 前記処理剤ノズルを待機位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルにダミーディスペンスを行わせる工程
と、 前記ダミーディスペンスの際の各処理剤ノズルの吐出圧
を検出する工程と、 前記検出した吐出圧が所定の値より低い場合には、前記
処理剤ノズルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度
洗浄する工程と、 を具備 することを特徴とする塗布方法。
18. A step of supplying a processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of a substrate to be processed, and a step of swinging the substrate to be processed and connecting and integrating the processing agents. The coating method provided , wherein after supplying the processing agent to the substrate to be processed, the processing agent nozzle
Moving the processing agent nozzle to the position of the solvent bath , cleaning the processing agent nozzle with a solvent, moving the processing agent nozzle to a standby position, and causing the processing agent nozzle to perform dummy dispensing.
And the discharge pressure of each processing agent nozzle during the dummy dispensing
And, if the detected discharge pressure is lower than a predetermined value,
Move the treatment agent nozzle to the position of the solvent bath and
Coating method characterized by comprising the steps of washing, the.
【請求項19】 被処理基板の表面の、所定間隔隔てた
複数の位置に処理剤を供給する工程と、 前記被処理基板を回転して前記処理剤を均一に薄膜化す
る工程と、 を具備した塗布方法であって、 前記被処理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズル
を溶剤バスの位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルを溶剤で洗浄する工程と、 前記処理剤ノズルを待機位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルにダミーディスペンスを行わせる工程
と、 前記ダミーディスペンスの際の各処理剤ノズルの吐出圧
を検出する工程と、 前記検出した吐出圧が所定の値より低い場合には、前記
処理剤ノズルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度
洗浄する工程と、 を具備 することを特徴とする塗布方法。
19. A method comprising: supplying a processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on a surface of a substrate to be processed; and rotating the substrate to be processed to uniformly thin the processing agent. Coating method, after supplying the processing agent to the substrate to be processed, the processing agent nozzle
Moving the processing agent nozzle to the position of the solvent bath , cleaning the processing agent nozzle with a solvent, moving the processing agent nozzle to a standby position, and causing the processing agent nozzle to perform dummy dispensing.
And the discharge pressure of each processing agent nozzle during the dummy dispensing
And, if the detected discharge pressure is lower than a predetermined value,
Move the treatment agent nozzle to the position of the solvent bath and
Coating method characterized by comprising the steps of washing, the.
【請求項20】 被処理基板の表面に溶剤を供給する工
程と、 前記被処理基板の表面の、所定間隔隔てた複数の位置に
処理剤を供給する工程と、 を具備した塗布方法であって、 前記被処理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズル
を溶剤バスの位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルを溶剤で洗浄する工程と、 前記処理剤ノズルを待機位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルにダミーディスペンスを行わせる工程
と、 前記ダミーディスペンスの際の各処理剤ノズルの吐出圧
を検出する工程と、 前記検出した吐出圧が所定の値より低い場合には、前記
処理剤ノズルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度
洗浄する工程と、 を具備 することを特徴とする塗布方法。
20. A coating method comprising: a step of supplying a solvent to a surface of a substrate to be processed; and a step of supplying a processing agent to a plurality of positions at predetermined intervals on the surface of the substrate to be processed. after the supply of the treatment agent to the substrate to be processed, the processing agent nozzle
Moving the processing agent nozzle to the position of the solvent bath , cleaning the processing agent nozzle with a solvent, moving the processing agent nozzle to a standby position, and causing the processing agent nozzle to perform dummy dispensing.
And the discharge pressure of each processing agent nozzle during the dummy dispensing
Detecting the discharge pressure, if the detected discharge pressure is lower than a predetermined value,
Move the treatment agent nozzle to the position of the solvent bath and
Coating method characterized by comprising the steps of washing, the.
【請求項21】 被処理基板の表面の、所定間隔隔てた
複数の位置に処理剤を供給する工程と、 前記被処理基板の表面に溶剤蒸気を含む気体を供給する
工程と、 を具備した塗布方法であって、 前記被処理基板への処理剤の供給後、前記処理剤ノズル
を溶剤バスの位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルを溶剤で洗浄する工程と、 前記処理剤ノズルを待機位置まで移動させる工程と、 前記処理剤ノズルにダミーディスペンスを行わせる工程
と、 前記ダミーディスペンスの際の各処理剤ノズルの吐出圧
を検出する工程と、 前記検出した吐出圧が所定の値より低い場合には、前記
処理剤ノズルを前記溶剤バスの位置まで移動させて再度
洗浄する工程と、 を具備 することを特徴とする塗布方法。
Of 21. to be processed surface of the substrate, the coating that includes a step of supplying a treatment agent to a plurality of positions spaced a predetermined distance, and a step of supplying a gas containing solvent vapor to the surface of the target substrate The method , wherein after supplying a processing agent to the substrate to be processed, the processing agent nozzle
Moving the processing agent nozzle to the position of the solvent bath , cleaning the processing agent nozzle with a solvent, moving the processing agent nozzle to a standby position, and causing the processing agent nozzle to perform dummy dispensing.
And the discharge pressure of each processing agent nozzle during the dummy dispensing
And, if the detected discharge pressure is lower than a predetermined value,
Move the treatment agent nozzle to the position of the solvent bath and
Coating method characterized by comprising the steps of washing, the.
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