JP3327400B2 - 露光制御回路 - Google Patents

露光制御回路

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JP3327400B2
JP3327400B2 JP05594991A JP5594991A JP3327400B2 JP 3327400 B2 JP3327400 B2 JP 3327400B2 JP 05594991 A JP05594991 A JP 05594991A JP 5594991 A JP5594991 A JP 5594991A JP 3327400 B2 JP3327400 B2 JP 3327400B2
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紀陽 近藤
貴志 小橋
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ビデオカメラの露光
制御回路に関するもので、特に、逆光や過順光でも露光
状態を最適に制御できる露光制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のビデオカメラでは、逆光状態で撮
影を行うと、被写体像が暗く沈み込むという現象が生じ
る。これは、逆光状態では画面全体が明るくなるので、
オートアイリス制御によりアイリスが閉じられると共
に、AGC制御によりAGCアンプのゲインが下げられ
るからである。そこで、従来のビデオカメラには、逆光
状態ではAGCアンプのゲインを大きくすると共に、ア
イリスを開き、被写体が沈み込むのを防止する逆光補正
回路が設けられる。
【0003】すなわち、図6は従来のビデオカメラの露
光制御回路を示すものである。図6において、レンズ5
1、アイリス52を介された光情報がCCD撮像素子5
3の受光面に結像される。CCD撮像素子53の出力が
AGCアンプ54に供給されると共に、検波回路55に
供給される。
【0004】検波回路55で、CCD撮像素子53の出
力レベルV1 が検出される。検波回路55の出力V1
コンパレータ56に供給される。コンパレータ56に
は、スイッチ61を介して、端子63及び64からレフ
ァレンスレベルVr1又はVr2が供給される。レファレン
スレベルVr1は定常状態の目標値であり、レファレンス
レベルVr2は逆光時の目標値である。レファレンスレベ
ルVr2は、レファレンスレベルVr1より高いレベルに設
定される。スイッチ61は、定常状態では端子61A側
に切替えられ、逆光状態では端子61B側に切替えられ
る。
【0005】定常状態では、コンパレータ56で、CC
D撮像素子53の出力レベルV1 とレファレンスレベル
r1とが比較される。この比較出力がアイリス駆動回路
57に供給される。この比較出力に応じて、アイリス5
2が開閉され、検波回路55の出力V1 がレファレンス
レベルVr1となるように制御される。
【0006】逆光状態では、コンパレータ56で、CC
D撮像素子53の出力レベルV1 とレファレンスレベル
r2とが比較され、検波回路55の出力V1 がレファレ
ンスレベルVr2となるように制御される。このように、
逆光時には、目標値(レファレンスレベルVr2)が定常
時の目標値(レファレンスレベルVr1)より大きく設定
される。
【0007】AGCアンプ54の出力がビデオ信号処理
回路58に供給されると共に、検波回路59に供給され
る。検波回路59で、AGCアンプ54の出力レベルV
2 が検出される。この検波回路59の出力がコンパレー
タ60に供給される。コンパレータ60には、スイッチ
62を介して、端子65及び66からレファレンスレベ
ルVr3又はVr4が供給される。レファレンスレベルVr3
は定常状態の目標値であり、レファレンスレベルVr4
逆光時の目標値である。レファレンスレベルVr3は、レ
ファレンスレベルVr4より高いレベルに設定される。ス
イッチ62は、定常状態では端子62A側に切替えら
れ、逆光状態では端子62B側に切替えられる。
【0008】定常状態では、コンパレータ60で、AG
Cアンプ54の出力レベルV2 とレファレンスレベルV
r3とが比較される。この比較出力がAGCアンプ54に
供給される。この比較出力に応じて、AGCアンプ54
のゲインが制御され、検波回路59の出力V2 がレファ
レンスレベルVr3となるように制御される。
【0009】逆光状態では、コンパレータ60で、AG
Cアンプ54の出力レベルV2 とレファレンスレベルV
r4とが比較され、検波回路55の出力V2 がレファレン
スレベルVr4となるように制御される。このように、逆
光時には、目標値(レファレンスレベルVr4)が定常時
の目標値(レファレンスレベルVr3)より大きく設定さ
れる。
【0010】このように、従来のビデオカメラでは、逆
光状態ではスイッチ61が端子61A側に切り替えられ
ると共に、スイッチ62を端子62A側に切り替えら
れ、オートアイリス及びAGC制御の目標値が上げられ
る。このため、逆光時にもアイリス52が開かれると共
に、AGCアンプのゲインが下げられなくなり、被写体
が沈み込むのを防止される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】撮影する画面の光線の
状態は様々である。したがって、逆光状態が激しい場合
と、逆光状態がそれ程激しくない場合とで、逆光状態の
制御を変えることが望ましい。ところが、従来のビデオ
カメラでは、逆光状態かどうかによりスイッチ61及び
62が択一的に切替えられており、逆光の程度に応じた
制御が行えないという問題がある。
【0012】したがって、この発明の目的は、逆光や過
順光の程度を判断し、逆光や過順光の程度に応じて露光
補正が行なえる露光補正回路を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】この発明は、輝度分布状
態を検出し、輝度分布状態から光線の状態を判断し、光
線の状態の判断結果に基づいて露光制御の程度を変化さ
せるようにしたことを特徴とする露光制御回路である。
【0014】
【作用】輝度分布状態から光線の状態(順光、逆光、過
順光)の程度をファジー推論し、これに基づいて露光制
御の目標値を変化させているので、光線の状態に応じた
最適な露光補正が行なえる。
【0015】
【実施例】以下、この発明の一実施例について説明す
る。画面中の輝度分布状態は、撮影画面が順光である
か、逆光であるか、過順光であるかにより、特徴的な様
相を示す。この発明の一実施例では、この撮像画面の輝
度分布状態に応じて、逆光補正や過順光補正を行うよう
にしている。
【0016】つまり、順光状態では、被写体の各部に一
様に光線が当たる。したがって、順光状態での輝度分布
状態は、平均的に輝度が分散する画面を撮像した時に
は、画面中に多数の輝度のサンプルが一様に分布する。
これに対して、逆光状態では、被写体部分の輝度レベル
が低くなり、画面の部分の周囲の輝度レベルが非常に高
くなる。したがって、逆光状態での輝度分布状態は、被
写体の周囲の輝度の非常に高いサンプルと、被写体部分
の輝度の低いサンプルとが分散する状態となり、この間
の輝度のサンプルは殆どなくなる。過順光、すなわち暗
い客席から照明が照らされたステージの被写体を撮影す
る状態の輝度分布状態は、被写体の周囲の輝度の低いサ
ンプルと、被写体部分の輝度の高いサンプルとが分散す
る状態となり、この間の輝度のサンプルは殆どなくな
る。
【0017】したがって、順光の時の各輝度以上のサン
プルの累積度数分布は、図2に示すように、輝度が明る
くなるに従って直線的に減少する。逆光の時の累積度数
分布は、図3に示すように、高輝度の部分と低輝度の部
分で累積度数が大きく変化し、中輝度の部分では累積度
数が比較的大きいまま殆ど変化しない。過順光の時の累
積度数分布は、図4に示すように、高輝度の部分と低輝
度の部分で累積度数が大きく変化し、中輝度の部分では
累積度数が小さいまま殆ど変化しない。
【0018】このことから、光線状態がどの様な傾向に
あるかを、輝度の累積度数分布を用いて、ファジー推論
で求めることができる。例えば中輝度にある輝度L及び
H(L<H)のの部分の2つの累積度数HIST L及びHIST
Hを検出し、この累積度数HIST L及びHIST Hの大きさの
メンバーシップ値から、光線状態が以下のように推論で
きる。
【0019】a.累積度数HIST Lが大で、累積度数HIST
Hが中なら順光である。 b.累積度数HIST A及びHIST Bが共に大中なら逆光であ
る。 c.累積度数HIST A及びHIST Bが共に小なら過順光であ
る。
【0020】図1は、この発明の一実施例である。この
実施例では、このように光線状態がどの様な傾向にある
かを、輝度の累積度数分布を用いて、ファジー推論で求
め、これに応じて露光制御の目標値を変化することによ
り、最適な露光制御を行なえるようにしたものである。
【0021】図1において、レンズ1を介された光情報
がアイリス2を介して、CCD撮像素子3の受光面に結
像される。アイリス2は、アイリス駆動モータ4により
開閉制御される。CCD撮像素子3は、シャッター速度
設定回路5により、シャッター速度が変化できるように
されている。
【0022】CCD撮像素子3の出力がAGCアンプ6
に供給される。AGCアンプ6のゲインは、D/Aコン
バータ7の出力に応じて設定される。AGCアンプ6の
出力がA/Dコンバータ8に供給される。A/Dコンバ
ータ8で、CCD撮像素子1からの映像信号がディジタ
ル化される。A/Dコンバータ8の出力が映像信号処理
を行うディジタル信号処理回路9に供給されると共に、
検出回路10に供給される。
【0023】検出回路10は、露光状態の検出を行うも
のである。検出回路10は、エリア設定回路11と、平
均値検出回路12と、ピーク値検出回路13と、分布検
出回路14とからなる。A/Dコンバータ8から出力さ
れるディジタル映像信号のうち、所定の露光エリアの信
号がエリア設定回路11で取り出される。この露光エリ
アの映像信号が平均値検出回路12、ピーク値検出回路
13、分布検出回路14に供給される。平均値検出回路
12で、映像信号の平均値が検出される。ピーク検波回
路13で、映像信号のピーク値が検出される。分布検出
回路14で、所定の輝度レベル以上のサンプルの累積度
数HIST L及びHIST Hが求められる。平均値検出回路1
2、ピーク値検出回路13、分布検出回路14の出力が
システムコントローラ15に供給される。
【0024】図5は、分布検出回路14の構成の一例を
示すものである。図5において、入力端子31からディ
ジタル輝度信号が供給される。このディジタル輝度信号
がコンパレータ32に供給されると共にコンパレータ3
3に供給される。コンパレータ32には、端子34から
基準値VL (図2〜図4中の輝度Lに対応する)が供給
される。コンパレータ33には、端子35から基準値V
H (図2〜図4中の輝度Hに対応する)が供給される。
コンパレータ32の出力がカウンタ36に供給される。
コンパレータ33の出力がカウンタ37に供給される。
カウンタ36で、基準値VL 以上のサンプル数がカウン
トされる。このカウント値から、累積度数HIST Lが求め
られる。カウンタ37で、基準値VH 以上のサンプル数
がカウントされる。このカウント値から累積度数HIST H
が求められる。
【0025】システムコントローラ15で、累積度数HI
ST L及びHIST Hから、前述したように、ファジー推論に
より、光線状態(順光、逆光、過順光)が判断される。
また、システムコントローラ15で、平均値検出回路1
2の出力とピーク検波回路13の出力とを用いて、映像
信号レベルが検出される。この映像信号レベルに応じて
露光制御値が求められる。
【0026】この露光制御値がコントローラ16、シャ
ッター速度設定回路5、D/Aコンバータ7に供給さ
れ、露光状態に応じて、アイリス2の開閉、シャッター
速度、AGCアンプ6のゲインが制御される。すなわ
ち、入射光量が小さい時には、アイリス2が開かれ、シ
ャッター速度が長く設定され、AGCアンプ6のゲイン
上げられる。入射光量が大きい時には、アイリス2が閉
じられ、シャッター速度が短く設定され、AGCアンプ
6のゲイン下げられる。これにより、ディジタル信号処
理回路9に与えられる映像信号レベルが所定のレベルと
なるように制御される。
【0027】この時の露光制御値の目標値は、システム
コントローラ15でファジー推論された光線状態に応じ
て設定される。つまり、逆光状態では、逆光状態の程度
に応じて、露光制御値の目標値が上げられる。これによ
り、逆光状態でも、アイリス2が開かれ、AGCアンプ
6のゲインが上げられる。このため、逆光状態でも被写
体が暗く沈み込まない。また、過順光状態では、過順光
の程度に応じて、露光制御値の目標値が下げられる。こ
のため、過順光状態でも、アイリス2が閉じられ、AG
Cアンプ6のゲインが下げられ、被写体が飽和しない。
【0028】
【発明の効果】この発明によれば、累積度数HIST L及び
HIST Hからファジー推論により順光、逆光、過順光の状
態が判断され、これに応じて露光制御値の目標値が設定
される。このため、逆光や過順光の程度に応じて露光補
正が行なえる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例のブロック図である。
【図2】この発明の一実施例の説明に用いるグラフであ
る。
【図3】この発明の一実施例の説明に用いるグラフであ
る。
【図4】この発明の一実施例の説明に用いるグラフであ
る。
【図5】この発明の一実施例における分布検出回路の一
例のブロック図である。
【図6】従来の露光制御回路の一例のブロック図であ
る。
【符号の説明】
2 アイリス 3 CCD撮像素子 6 AGCアンプ 14 分布検出回路 15 システムコントローラ
フロントページの続き (72)発明者 清水 秀二 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−99586(JP,A) 特開 平4−60620(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03B 7/28 H04N 5/235

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力された輝度信号と、予め明るさの異
    なる値に設定された複数の基準値とを用いて所定の輝度
    レベル以上のサンプルの累積度数分布を検出する分布検
    出回路を有し、 該分布検出回路より得られた累積度数の値のメンバーシ
    ップ値から光線の逆光・過順光の程度を推論し、推論さ
    れた程度に応じて露光制御値の目標値を変えるようにし
    たことを特徴とする露光制御回路。
JP05594991A 1991-02-27 1991-02-27 露光制御回路 Expired - Lifetime JP3327400B2 (ja)

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