JP3311335B2 - 液晶素子及びこれを用いた表示装置、該液晶素子の駆動方法 - Google Patents

液晶素子及びこれを用いた表示装置、該液晶素子の駆動方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フラットパネルデ
ィスプレイ、プロジェクションディスプレイ、プリンタ
等に用いられるライトバルブに使用される液晶素子及び
これを用いた表示装置、該液晶素子の駆動方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、TFT(Thin Film T
ransistor、薄膜トランジスタ)等のアクティ
ブ素子を用いた表示素子として広範に用いられているネ
マチック液晶素子の代表的な液晶モードとしては、例え
ば、M.シャット(M.Schadt)とW.ヘルフリ
ッヒ(W.Helfrich)著、Applied P
hysics Letters、第18巻、第4号(1
971年2月15日発行)第127頁〜128頁におい
て示されたツイステッドネマチック(Twisted
Nematic)モードが広く用いられている。一方、
最近では、横方向電界を利用したインプレインスイッチ
ング(In−Plain Switching)モード
や垂直配向(Vertical Alignment)
モードを用いた液晶素子が発表されており、従来型の液
晶素子の欠点であった視野角特性の改善がなされてい
る。このように、ネマチック液晶を用いたTFT表示素
子に用いるための液晶モードとしていくつかのモードが
存在するが、そのいずれのモードの場合にも液晶の応答
速度が数十ミリ秒以上と遅く、さらなる応答速度の改善
が要求されている。
【0003】このような従来型のネマチック液晶素子の
応答速度を改善するものとして、近年、カイラルスメク
チック相を示す液晶を用いた液晶モードがいくつか提案
されている。例えば、「ショートピッチタイプの強誘電
性液晶」、「高分子安定型強誘電性液晶」、「無しきい
値反強誘電性液晶」などが提案されており、未だ実用化
には至っていないものの、いずれもサブミリ秒以下の高
速応答性が実現できると報告されている。
【0004】一方、本発明者等は先に、高温側より等方
性液体相(Iso.)−コレステリック相(Ch)−カ
イラルスメクチックC相(SmC*)、またはIso.
−SmC*の相転移系列を示す材料に着目し、仮想コー
ンのエッジより内側の位置にて単安定化させた液晶素子
について提案した。そして、例えばCh−SmC*相転
移の際、またはIso.−SmC*相転移の際に一対の
基板間に正負いずれかのDC電圧を印加する、等の方法
によって層方向を一方向に均一化させ、これにより高速
応答且つ階調制御が可能であり、動画質に優れた高輝度
の液晶素子が、高い量産性と共に実現しうる。この素子
は、前述の各種スメクチック液晶モードと比較して自発
分極値を小さくすることができることから、TFT等の
アクティブ素子とのマッチングがよい素子となってい
る。
【0005】以上述べたように、従来ネマチック液晶を
用いたTFT液晶素子が抱えていた応答速度に関する問
題点を解決できるという意味において、カイラルスメク
チック液晶、特に本発明者等が先に提案した上記単安定
液晶素子の実現が期待されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、高速
応答性能など次世代のディスプレイ等に階調表示能を有
するスメクチック液晶素子が期待されている。また、本
発明者等がこれまでに提案した前記単安定液晶素子の配
向制御の形態は、第一の参考形態としてシェブロン構造
を形成させることを目的とし、具体的にはC2配向に制
御するためにパラレルラビング構成(上下基板で一軸配
向処理方向を共に同じ方向に向かう平行とする)とする
形態である。
【0007】本発明者等の実験によると、こうしたC2
配向を液晶パネル全面にわたって制御することは極めて
難しく、ほとんどの場合においてC1配向が一部分に出
現してしまい、そしてジグザグ模様が表示面から見て発
生してしまうことがわかった。
【0008】また、前記提案では、C2とC1との特性
差を緩和すべく低プレチルト配向膜を用いることを推奨
しているが、完全にプレチルトが0でない場合にはC1
とC2との特性差の存在は避けられず、電圧−透過率特
性の表示面内バラツキの原因となっていた。
【0009】そこで、こうした面内バラツキを避けるべ
く、上下基板の配向処理方向を反対方向とした反平行配
向膜を用い、さらにプレチルト角を3°程度とした低プ
レチルト配向膜を用いてラビング処理を施したセルを第
2の参考形態として用い、当該セルの配向規制力を所定
の範囲内に設定した場合には、ストライプテクスチャー
が観測される。このような配向が実現された場合には、
上述したようなC1とC2の違いに基づく上記面内バラ
ツキが発生しないことから、パネル全面にわたり均一な
スイッチング特性を容易に得ることができた。
【0010】さらにこうした配向状態の場合、層構造と
して斜めブックシェルフ構造を形成する。
【0011】本発明者等の詳細な検討によると、こうし
た配向状態を形成している場合には、図1に示すような
やや太めのループ状の領域(図1の2)がしばしば観測
された。この領域は、先の参考形態のC1、C2配向状
態において観測されるような、ヘアピン欠陥とライトニ
ング欠陥がループを形成するようなタイプのいわゆるジ
グザグ領域(模様)とは全く異なる形状を呈している。
つまり、このような領域はシェブロン構造には存在せ
ず、斜めブックシェルフ構造特有の領域であることが考
えられる。そして、この領域は周囲のストライプテクス
チャーを呈する部分(図1の1)と消光位がほぼ一致す
ることから、黒レベルを上昇させる性質のものではな
く、コントラスト的には大きな問題とはならないもの
の、当該領域においては、電圧印加により反転した際の
電圧−透過率曲線の傾きが他の部分と大きく異なるた
め、このような領域が存在した場合、中間調表示状態に
おいて画質劣化の原因となっていた。
【0012】本発明の第1の目的は、上記点に鑑み、単
安定モードで、且つストライプテクスチャーを有する配
向状態の素子において、ループ状の配向領域の発生を防
止することである。
【0013】ところで、こうした低プレチルト配向状態
の場合、ノーマリーブラックで黒表示状態(電圧無印加
状態)においても若干の光漏れが生じることから、本質
的にコントラストとして十分大きい値とならないことが
考えられる。上記低プレチルト配向膜を備えた液晶素子
のコントラストは140程度であり、市販されているT
FT液晶素子と比較するとコントラストは若干低い。
【0014】つまり、第1、第2の参考形態では、C
1、C2配向或いはストライプテクスチャーを示す配向
が用いられ、そして第1参考形態はパネル面内ムラを回
避することが困難であり、第2参考形態はパネル面内で
の特性ムラは観測されず、コントラストに関しては実用
上問題はないものの十分高いコントラストを実現するこ
とが本質的に困難な配向状態であった。
【0015】従って本発明の第2の目的は、上記点に鑑
み、本発明第1の目的に加えて前記した単安定液晶素子
において、面内バラツキを解決して均一な反転挙動と、
コントラスト向上を図ることである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、表面に一軸配
向処理が施された一対の基板と、該基板間に挟持された
液晶と、該液晶に電圧を印加するための電極とを備えた
液晶素子であって、上記液晶がカイラルスメクチック液
晶であり、高温側より、等方性液体相−コレステリック
相−カイラルスメクチックC相、或いは、等方性液体相
−カイラルスメクチックC相の相転移系列を有し、上記
一軸配向処理の方向が一対の基板で互いに反平行であ
り、少なくとも一方の基板のプレチルト角が4°以上で
あることを特徴とする。
【0017】また、本発明の液晶素子においては、電圧
無印加時には、液晶の平均分子軸が単安定化された第一
の状態を示し、第一の極性の電圧印加時には、該液晶の
平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた角度で上記第一
の状態の位置から一方の側にチルトし、該第一の極性と
は逆極性の第二の極性の電圧印加時には、液晶の平均分
子軸が印加電圧の大きさに応じた角度で上記第一の状態
の位置から第一の極性の電圧印加時とは逆側にチルト
し、上記第一の極性の電圧印加時と第二の極性の電圧印
加時の液晶の平均分子軸の第一の状態の位置を基準とし
た最大チルト状態のチルト角をそれぞれβ1、β2とする
と、β1>β2となることが好ましく、より好ましくはβ
1≧5×β2である。
【0018】また本発明は、上記本発明の液晶素子を用
いた表示装置を提供するものである。
【0019】さらに本発明は、上記本発明の液晶素子の
駆動方法を提供するものであり、アクティブ素子として
薄膜トランジスタを備えた本発明の液晶素子の駆動方法
において、走査信号線に電圧を印加して上記薄膜トラン
ジスタをオン状態にする第1のTFTオン工程と、上記
薄膜トランジスタをオン状態にするタイミングに同期し
て画素電極の電位をソース電圧にする第1の画素電極印
加工程と、上記走査信号線のオフ状態に液晶がスイッチ
ングする第1のスイッチング工程と、を有する第1のフ
ィールドを有することを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明者等は、上述した第2の参
考形態を精査し、プレチルト角に着目した。第2の参考
形態では、上下両基板の配向膜の配向処理方向が互いに
反平行であり、且つ、プレチルト角を3°程度にしてい
たが、高温側からIso.−Ch−SmC*或いはIs
o.−SmC*の相転移系列を有する液晶材料を用いる
場合には、より具体的にはIso相からSmC*相に相
転移する過程でスメクチックA相(SmA相)に相転移
しない液晶材料を用いる場合には、プレチルト角をより
好ましい角度に設定することで第2の参考形態で説明し
た現象が解決した。
【0021】より具体的には、一対の基板のうち少なく
ともいずれか一方、このましくは両方の基板のプレチル
ト角を4°以上とする。
【0022】また、液晶材料を挟持する一対の基板が対
向しあうそれぞれの対向面に施された一軸配向処理の方
向を互いに反平行とすることで、電圧−透過率特性の面
内バラツキを解消でき、さらに高いコントラストを発現
できる液晶素子を提供することができる。
【0023】そしてこの液晶素子は、電圧無印加時に単
安定化され、電圧印加時には電圧値(正負は無関係)に
応じて透過率Tが連続的に変化(増加)するしきい値の
ないV-T特性を示すことができる。
【0024】また、プレチルト角は50°未満であるこ
とが好ましい。50°以上だと液晶が垂直配向しやすく
なってしまう。従って、本発明の液晶素子においては、
プレチルト角を4°以上50°未満とすることが好まし
い。
【0025】特に、プレチルト角が4°以上10°未満
の範囲の場合、基板の面のうち、他方の基板と対向する
対向面側から液晶材料を見た場合、前述のループ状領域
は、ほとんど目視で観察されない程度に消滅する。従っ
て、中間調表示において表示面内でむらがない視野角特
性の良好な直視型の表示装置を本発明の液晶素子を用い
て提供することができるという効果がある。これはプレ
チルト角が4°以上10°未満の範囲ある基板の外側か
ら観察したものを説明している。
【0026】またプレチルト角を10°以上とすると、
プレチルト角が4°以上10°未満の場合と比べて全面
均一の配向が得られ、且つドメインレススイッチングが
可能となる。特に拡大光学系の表示装置の液晶素子とし
て用いることができる。
【0027】また、プレチルト角が20°以上とする
と、プレチルト角が10°以上20°未満の場合と比べ
て、ループ状領域等のドメインがほとんど観察されない
という効果がある。そしてさらには、プレチルト角が3
5°以上50°未満とすると、プレチルト角が35°未
満の場合に比べて、大量生産時にほとんどの素子は良品
だが一部は垂直配向する素子ができてしまう。従って、
歩留まりという点でプレチルト角が35°未満が好まし
い。
【0028】尚、本発明におけるプレチルト角とは、用
いる液晶材料がCh相を有する場合には、Ch相の下限
温度におけるプレチルト角であり、Ch相を有さない場
合には、SmC*相の上限温度におけるプレチルト角で
ある。これは、降温過程において初めて層構造が形成さ
れる際の層傾斜角に影響を及ぼすプレチルト角の値が最
も重要であるからである。また、上記温度でのプレチル
ト角の測定が困難な場合で、且つプレチルト角の温度依
存性がない、或いは極めて少ないことが確認されている
場合には、他の任意の温度にて測定してもかまわない。
或いは、類似の組成比を有する液晶組成物を用意し、そ
の液晶組成物のCh相或いはSmC*相におけるプレチ
ルト角にて代用することも可能である。
【0029】上記プレチルト角は公知のクリスタルロー
テーション法(Jpn.J.Appl.Phys.,V
o.119(1980)No.10.Short No
tes 2013)によって求められる。尚、測定用の
セルは上下基板に界面での液晶の傾きが平行且つ同一の
向き(ラビング処理軸が平行且つ逆向き:反平行、アン
チパラレル)になるように2枚の基板を貼り合わせて作
製される。測定手順は、液晶素子を上下基板に垂直且つ
配向処理軸(ラビング軸)を含む面で回転させながら、
回転軸と45°の角度をなす偏光面を持つヘリウム・ネ
オンレーザー光を回転軸に垂直な方向から照射し、その
反対側で入射偏光面と平行な透過軸を持つ偏光板を通し
てフォトダイオードで透過光強度を測定する。そして、
干渉によってできた透過光強度のスペクトルに対し、理
論曲線、下記数式(1)、(2)とフィッティングを行
うシミュレーションによりプレチルト角αを求めること
ができる。
【0030】
【数1】
【0031】このようにして、本発明のような高いプレ
チルト角の基板を用い、且つ反平行のラビング条件とし
た場合における層構造形成モデルに対して4°未満の低
プレチルト基板を用いた素子における層構造は、斜めブ
ックシェルフ構造となっている。さらにこうした構造を
有している場合、上述のループ状領域が発生する。そこ
で、本発明者等は、この領域が生じる原因について、以
下に詳述するように、図2に示す層構造をとっているこ
とがループ状領域が生じる原因であると考えた。図2に
おいて、2はループ状領域、3A及び3Bはスメクチッ
ク層、4は基板である。
【0032】つまり、スメクチック相へと相転移した直
後(層が形成された直後の状態)においてはブックシェ
ルフ構造が形成されていると考えられる。その後、降温
過程を経るに連れ層間隔が減少し、層が基板法線方向か
ら傾いた構造へと変化する。この時シェブロン構造とな
った場合には、C1或いはC2配向が形成される。
【0033】また、前記低プレチルト基板を用いたCh
−SmC*相転移系列の液晶素子においては、配向規制
力を適宜調整することによって、ストライプテクスチャ
ーを形成させ、層構造としては斜めブックシェルフ構造
となっている。この場合もおそらくは、Ch−SmC*
相転移直後はブックシェルフ構造を形成してはいるもの
の、配向規制力がある所定の範囲内にある場合には、降
温過程において層間隔が減少し、層が基板法線方向から
傾いた構造へと変化する際に、シェブロンではなく斜め
ブックシェルフ構造を形成するものと思われる。その際
の、基板に対する層傾斜角の変化の過程において生じる
層構造の微妙な不均一性がストライプテクスチャーして
観測されるものと考えられる。この時、プレチルト角が
低い場合には、ブックシェルフから斜めブックシェルフ
へと層が傾斜する傾斜方向として、時計回り方向と反時
計回り方向の2種類の層構造がほぼ同じ確率で発生す
る。つまり、層構造がこのような状態になった場合に
は、図2に示すような構造となってしまい、層構造の不
整合に由来する領域が発生する。そしてこれがループ状
領域と考えられる。
【0034】これに対して本発明の液晶素子のように、
4°以上という高めのプレチルト基板を用い、且つ、反
平行のラビング条件とした場合における層構造モデルで
は、スメクチック相へと相転移した直後(層が形成され
た直後の状態)から既に層は斜めブックシェルフ構造を
容易に形成する。即ち、本発明の液晶素子は相転移の初
期の段階から一方向にそろったブックシェルフ構造を形
成しているため、上記低プレチルト基板を用いた液晶素
子における層構造の不整合に由来するループ状領域が発
生しづらくなる結果、均一配向が実現できると考えられ
る。
【0035】以上の作用により、反平行で高プレチルト
角を有する素子では、欠陥のない素子の実現が可能とな
っている。
【0036】つまり上記課題で述べたように、ストライ
プテクスチャーを示す配向を素子化する場合、しばしば
ループ状領域が発生し、中間調状態において画質劣化が
生じる原因となっていた。
【0037】本発明の液晶素子では、少なくとも一方の
基板のプレチルト角が4°以上というやや高めのプレチ
ルト角の基板を用い、上下基板の一軸配向処理を反平行
となるように組み合わせることにより、ループ状領域の
ない素子を提供できる。一方、直視型の液晶素子として
用いる場合、良好な視野角特性を得るためにプレチルト
角を大きくしすぎない方が好ましく、プレチルト角の上
限は10°未満とすることが好ましい。
【0038】さらに、本発明の液晶素子はプレチルト角
をさらに10°以上とすることで、相転移の初期の段階
からブックシェルフ構造を形成しているため、上記プレ
チルト基板を用いた液晶素子における斜めブックシェル
フ構造と比較して層構造の不均一性が発生しづらくなる
結果、ストライプテクスチャーは発生しないものと考え
られる。
【0039】従って、反平行で高プレチルト角(10°
以上)を有する素子では、ループ状領域の発生を防ぐこ
とができ、且つ、パネル面内におけるムラがなくなり、
さらに、高コントラスト比を得ることが可能となり、そ
のような液晶素子を有する表示装置を得ることが可能で
ある。
【0040】〔第1の実施形態〕本実施形態の液晶素子
は、少なくとも一方の基板のプレチルト角を4°以上と
することを特徴とする。
【0041】本実施形態の液晶素子においては、前記し
たような特定の範囲のプレチルト条件と上下基板で一軸
配向処理方向を反平行とすることにより、配向性を飛躍
的に高めることが可能となった。基板は一軸配向処理さ
れており、基板の配向処理方向に液晶分子の安定位置が
そろっている。
【0042】本実施形態においては、液晶として、高温
側からIso.−Ch−SmC*或いはIso.−Sm
*の相転移系列を有するカイラルスメクチック液晶を
用いる。当該液晶は、SmC*相への相転移の際に、必
要に応じて基板間に正負いずれかのDC電圧を印加する
ことで2つの層方向のうち一方の層方向のみにそろえ、
即ち、平均一軸配向処理軸とスメクチック層法線方向の
ズレ方向が一定となるようにし、電圧無印加の状態で液
晶分子を仮想コーンエッジの内側に安定化させ、そのメ
モリ性を消失させたSmC*相の配向状態を得ることが
でき、電圧無印加時にさらなる単安定状態を呈する液晶
素子を得ることができる。
【0043】本発明で用いられるカイラルスメクチック
液晶としては、ビフェニル骨格やフェニルシクロヘキサ
ンエステル骨格、フェニルピリミジン骨格等を有する炭
化水素系液晶材料、ナフタレン系液晶材料、ポリフッ素
系液晶材料を適宜選択して調整した液晶組成物を用いる
ことができ、例えば以下に示す化合物(1)〜(4)を
用いた液晶組成物が好ましく挙げられる。
【0044】
【化1】 1,R2:炭素原子数が1〜20である置換基を有して
いても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1,X2:単結合、O、COO、OOC Y1,Y2,Y3,Y4:HまたはF n:0または1
【0045】
【化2】 1,R2:炭素原子数が1〜20である置換基を有して
いても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1,X2:単結合、O、COO、OOC Y1,Y2,Y3,Y4:HまたはF
【0046】
【化3】 1,R2:炭素原子数が1〜20である置換基を有して
いても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1,X2:単結合、O、COO、OOC Y1,Y2,Y3,Y4:HまたはF
【0047】
【化4】 1,R2:炭素原子数が1〜20である置換基を有して
いても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1,X2:単結合、O、COO、OOC Y1,Y2,Y3,Y4:HまたはF
【0048】次に、図3に本実施形態の液晶素子の基本
構成の一実施形態を示し、説明する。図中、11a,1
1bは基板、12a,12bは電極、13a,13bは
絶縁膜、14a,14bは配向制御膜、15は液晶、1
6はスペーサーである。
【0049】図3に示す液晶素子では、一対のガラス、
プラスチック等透明性の高い材料からなる基板11a,
11b間に液晶15を挟持して構成される。基板11
a,11bにはそれぞれ液晶15に電圧を印加するため
のIn23,ITO等の材料からなる電極12a,12
bが設けられており、例えば後述するように一方の基板
にドット状の透明電極を画素電極としてマトリクス状に
配置し、各画素電極にTFTやMIM(Metal I
nsulator Metal)等のスイッチング素子
を接続し、他方の基板には一面上或いは所定パターンの
対向電極を設けアクティブマトリクス構造を形成するこ
とが好ましい。
【0050】電極12a,12b上には、必要に応じて
これらのショートを防止する等の機能を持つSiO2
TiO2、Ta25等の材料からなる絶縁膜13a,1
3bがそれぞれ設けられる。
【0051】さらに、絶縁膜13a,13b上には、液
晶15に接し、その配向状態を制御するべく機能する配
向制御膜14a,14bが設けられている。かかる配向
制御膜14a,14bには一軸配向処理が施されてい
る。かかる膜としては、例えば、ポリイミド、ポリイミ
ドアミド、ポリアミド、ポリビニルアルコール等の有機
材料を溶液塗工した膜の表面にラビング処理を施したも
の、或いは、SiO等の酸化物、窒化物を基板に対し斜
め方向から所定の角度で蒸着した無機材料の斜方蒸着膜
を用いることができる。
【0052】尚、配向制御膜14a,14bについて
は、その材料の選択、処理(一軸配向処理等)の条件等
により、液晶15の分子のプレチルト角α(液晶分子の
配向制御膜界面付近で膜面に対してなす角度)が調整さ
れる。
【0053】また、本実施形態では配向制御膜14a,
14bの一軸配向処理方向(特にラビング方向)を反平
行とする。尚、一軸配向処理方向をクロスさせる場合は
交差角が45°以下となるようにする。
【0054】基板11a及び11bはスペーサー16を
介して対向している。かかるスペーサー16は、基板1
1a,11bの間の距離(セルギャップ)を決定するも
のであり、シリカビーズ等が用いられる。ここで決定さ
れるセルギャップについては、液晶材料の違いによって
最適範囲及び上限値が異なるが、均一な一軸配向性、ま
た電圧無印加時に液晶分子の平均分子軸をほぼ配向処理
軸の平均方向の軸と実質的に同一にする配向状態を発現
させるべく、0.3〜10μmの範囲に設定することが
好ましい。さらに、このセルギャップの値は、所望のリ
タデーション量となるように、適宜調整して設定するこ
とが好ましい。
【0055】スペーサー16に加えて、基板11a及び
11b間の接着性を向上させ、液晶の耐衝撃性を向上さ
せるべく、エポキシ樹脂等の樹脂材料等からなる接着粒
子を分散配置することもできる(図示せず)。
【0056】本実施形態の液晶素子では、液晶15の材
料の組成を調整し、さらに液晶材料の処理や素子構成、
例えば配向制御膜14a,14bの材料、処理条件等を
適宜設定することにより、電圧無印加時には、液晶の平
均分子軸(液晶分子)が単安定化された配向状態(第一
の状態)を示し、第一の極性の電圧印加時には、該液晶
の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた角度で連続的
に上記第一の状態の位置から一方の側にチルトし、該第
一の極性とは逆極性の第二の極性の電圧印加時には、液
晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた角度で上記
第一の状態の位置から第一の極性の電圧印加時とは逆側
にチルトする特性を示すようにすることが好ましい。つ
まり、中間調表示が良好に行える液晶素子を提供でき
る。
【0057】この時、上記第一の極性の電圧印加時と第
二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子軸の第一の状態
の位置を基準とした最大チルト状態のチルト角をそれぞ
れβ 1、β2とすると、β1>β2となるように、さらに好
ましくはβ1≧5×β2となるように調整することが望ま
しい。
【0058】本実施形態の液晶素子には、基板11a,
11bの一方に少なくともR(赤)、G(緑)、B
(青)の着色部を備えたカラーフィルターを設け、カラ
ー液晶素子とすることもできる。また、光源としてR、
G、Bの光源を順次切り替えることで時分割による混色
を利用してフルカラー表示させる方法を用いることもで
きる。
【0059】また、図3に示した液晶素子は透過型の液
晶素子であり、通常基板11a,11bの両方の基板の
外側に偏光板(図示しない)を設けて、一方の基板側か
らの入射光(例えば外部光源による光)を変調し、他方
側に出射するタイプの素子であるが、本実施形態におい
ては、基板11a,11bのいずれか一方の側に反射板
を設けるか、或いは一方の基板自体または基板上に設け
る部材として反射性の材料を用い、他方の基板の外側に
偏光板を設けて、入射光及び反射光を変調し、入射側に
光を出射する反射型の液晶素子としても良い。
【0060】本実施形態の液晶素子に対しては、階調信
号を供給する駆動回路を設け、電圧の印加により液晶の
平均分子軸の単安定位置からの連続的なチルト角度の変
化、及び素子からの出射光量が連続的に変化する特性を
利用し、階調表示を行う液晶表示装置を構成することが
できる。例えば、液晶素子の一方の基板として前述した
ようなTFT等を備えたアクティブマトリクス基板を用
い、駆動回路で振幅変調によるアクティブマトリクス駆
動を行うことでアナログ階調表示が可能となる。
【0061】図4〜図6を参照して、本実施形態の液晶
素子において上記のようなアクティブマトリクス基板を
用いた例について説明する。
【0062】図4は、本実施形態の液晶素子に駆動回路
を備えた形で一方の基板(アクティブマトリクス基板)
の構成を中心に模式的に示した平面図である。図中、2
0はパネル部、21は走査信号ドライバ、22は情報信
号ドライバ、23は情報信号線(ソース線)、24はT
FT、25は画素電極、26は走査信号線(ゲート線)
である。
【0063】図4に示す構成では、液晶素子に相当する
パネル部20において、駆動手段である走査信号ドライ
バ21に連結したG1〜G5の走査信号線(ゲート線)2
6と、駆動手段である情報信号ドライバ22に連結した
1〜S5の情報信号線(ソース線)23が互いに絶縁さ
れた状態で直交するように設けられており、その各交点
の画素に対応してスイッチング素子に相当する薄膜トラ
ンジスタ(TFT)24及び画素電極25が設けられて
いる(同図では簡略化のため5×5画素の領域のみを示
す)。
【0064】走査信号線26は、TFT24のゲート電
極に接続され、情報信号線23はTFT24のソース電
極に接続されており、画素電極25はTFT24のドレ
イン電極に接続されている。かかる構成において、走査
信号ドライバ21により走査信号線26がG1、G2、…
と線順次に走査選択されてゲート電圧が供給され、この
走査信号線26の走査選択に同期して情報信号ドライバ
22から各画素に書き込む情報に応じた情報信号電圧が
情報信号線23のS1〜S5に供給され、TFT24を介
して各画素電極25に印加される。
【0065】図5は、図4に示すようなパネル構成にお
ける各画素分(1ビット分)の断面構造の一例の模式図
である。図中、30はアクティブマトリクス基板、31
は基板、32はゲート電極、33はゲート絶縁膜、34
はa−Si層、35,36はn+a−Si層、37はソ
ース電極、38はドレイン電極、39はチャネル保護
膜、40は保持容量電極、41は液晶容量、42は保持
容量、50は対向基板、51は基板、52は共通電極、
53a,53bは配向制御膜、59は液晶である。
【0066】図5の構成においては、TFT24及び画
素電極25を備えるアクティブマトリクス基板30と、
共通電極52を備えた対向基板間に、液晶59が挟持さ
れ、液晶容量(Clc)41が構成されている。また、ア
クティブマトリクス基板30については、TFT24と
してアモルファスSi(a−Si)TFTを用いた例を
示している。
【0067】TFT24はガラス等からなる基板31上
に形成され、図4に示す走査信号線26に接続されたゲ
ート電極32上に窒化シリコン(SiNx)等の材料か
らなる絶縁膜(ゲート絶縁膜)33を介してa−Si層
34が設けられており、該a−Si層34上にそれぞれ
+a−Si層35,36を介してソース電極37、ド
レイン電極38が互いに離間して設けられている。ソー
ス電極37は図4に示す情報信号線23に接続され、ド
レイン電極38はITO膜等の透明導電膜からなる画素
電極25に接続されている。また、TFT24における
a−Si層34上をチャネル保護膜39が被覆してい
る。このTFT24は、該当する走査信号線26が走査
選択された期間においてゲート電極32にゲート電圧が
印加されオン状態となる。
【0068】さらに、アクティブマトリクス基板30に
おいては、画素電極25と、該画素電極の基板側に設け
られた保持容量電極40によりゲート絶縁膜33を挟持
した構造により保持容量(Cs)42が液晶容量41と
並列の形で設けられている。保持容量電極40はその面
積が大きい場合、開口率が低下するため、ITO膜等の
透明導電膜により形成される。
【0069】アクティブマトリクス基板30のTFT2
4及び画素電極25上には液晶の配向状態を制御するた
めの配向制御膜53aが設けられている。
【0070】一方、対向基板50では、ガラス基板51
上に、全面同様の厚みで共通電極52及び液晶の配向状
態を制御するための配向制御膜53bが積層されてい
る。
【0071】尚、図5のセル構造は、互いに偏光軸が直
交した関係にある一対の偏光板(図示しない)間に挟持
され、透過型液晶素子として用いられる。
【0072】また、アクティブマトリクス基板として
は、多結晶Si(p−Si)TFTを備えた基板を用い
ることもできる。
【0073】図5に示した画素の等価回路を図6に示
す。
【0074】図6,図7を参照して上記構造の液晶素子
における特性を利用したアクティブマトリクス駆動につ
いて説明する。本発明の液晶素子におけるアクティブマ
トリクス駆動では、例えば1画素においてある情報を表
示するための期間(1フレーム)を複数のフィールド
(図7の1F及び2F)に分割し、これら2フィールド
において平均的に所定の情報に応じた透過光量を得る。
以下では、液晶59が一方の極性の電圧印加では十分な
透過光強度であり、逆極性ではそれより小さい透過光強
度である特性を示す場合(即ち、前記した単安定位置を
基準に印加電圧の極性に応じてそれぞれ最大β1とβ2
角度でチルトする場合に、β1>β2である配向状態の場
合)における2フィールドに分割された例について説明
する。
【0075】図7(a)は、1画素に着目した際に、当
該画素に接続された走査信号線26に印加される電圧を
示す。図4の構造の液晶素子では、各フィールド毎に走
査信号線G1,G2…が線順次で選択され、1走査信号線
には選択期間Tonにおいて所定のゲート電圧Vgが印加
され、ゲート電極32に電圧Vgが加わり、TFT24
がオン状態となる。他の走査信号線が選択されている期
間に相当する非選択期間Toffにはゲート電極32に電
圧が加わらず、TFT24は高抵抗状態(オフ状態)と
なり、Ton毎に所定の同一の走査信号線が選択されてゲ
ート電極32にゲート電圧Vgが印加される。
【0076】図7(b)は、当該画素に接続された情報
信号線23に印加される電圧を示す。図7(a)で示す
ように、各フィールドの選択期間Tonでゲート電極32
にゲート電圧が印加された際、これに同期して当該画素
に接続された情報信号線23からソース電極37に、所
定のソース電圧(情報信号電圧)Vs(基準電位を共通
電極52の電位Vcとする)が印加される。
【0077】ここで、1フレームを構成する第一のフィ
ールド(1F)では、当該画素に書き込まれる情報、例
えば用いる液晶に応じた電圧−透過率特性を基に当該画
素で得ようとする光学状態または表示情報(透過率)に
応じたレベルVxの正極性のソース電圧が印加される。
この時、TFT24がオン状態であるため、上記ソース
電極37に印加される電圧Vxがドレイン電極38を介
して画素電極25に印加され、液晶容量(Clc)41及
び保持容量(Cs)42に充電がなされ、画素電極25
の電位がソース電圧Vxになる。続いて、当該画素に接
続された走査信号線26の非選択期間ToffにおいてT
FT24は高抵抗(オフ状態)となるため、この非選択
期間には、液晶容量41及び保持容量42では選択期間
onで充電された電荷が蓄積された状態を維持し、電圧
xが保持される。そして、当該画素の液晶部分ではこ
の電圧値に応じた光学状態(透過光量)が得られる。こ
の時、液晶の応答速度がTonより遅い場合、液晶容量4
1及び保持容量42に充電が完了し、ゲートがオフされ
た非選択期間にもスイッチングが行われる。このような
場合は、自発分極60の反転によって充電された電荷が
相殺されて、液晶に印加される電圧が図7(c)のよう
にVxよりVd小さいVx という値をとる。
【0078】次に、第二のフィールド(2F)の選択期
間Tonでは、第一のフィールド1Fとは極性が逆で実質
的に同様の電圧値Vxを有するソース電圧(−Vx)がソ
ース電極37に印加される。この時、TFT24がオン
状態であり、画素電極25に電圧−Vxが印加されて、
液晶容量41及び保持容量42に充電がなされ、画素電
極25の電位がソース電圧−Vxになる。続いて、非選
択期間Toffにおいて、TFT24は高抵抗(オフ状
態)となるため、この非選択期間には、液晶容量41及
び保持容量42では選択期間Tonで充電された電荷が蓄
積された状態を維持し、電圧−Vxが保持される。そし
て、当該画素における液晶59に第二のフィールド2F
期間を通して電圧−Vxが印加され、当該画素ではこの
電圧値に応じた光学状態(透過光量)が得られる。この
時も同様に液晶の応答速度がTonよりも遅い場合、液晶
容量41及び保持容量42に充電が完了し、ゲートがオ
フされた非選択期間にもスイッチングが行われるため、
自発分極60の反転によって充電された電荷が相殺され
て、液晶に印加される電圧が図7(c)のように−Vx
より絶対値がVd小さい−Vx という値をとる。
【0079】図7(c)は上述したような当該画素の液
晶容量41及び保持容量42に実際に保持され液晶に印
加される電圧値Vpixを、図7(d)は当該画素での液
晶実際の光学応答を透過光量(%)で最暗状態を0%と
して模式的に示す。図7(c)に示すように、2フィー
ルド1F及び2Fを通じて印加電圧は互いに極性が反転
しただけの同一レベル(絶対値)Vx である。一方
(d)に示すように、第一フィールド1Fでは、Vx
に応じた階調表示状態(透過光量)が得られ、第二フィ
ールド2Fでは、−Vx に応じた階調表示状態が得ら
れるが、β1>β2であるため、実際にはわずかな透過光
量の変化しか得られず、透過光量はTxより小さく、0
レベルに近いTyとなる。
【0080】上述したようなアクティブマトリクス駆動
では、カイラルスメクチック液晶を用いて良好な高速応
答性に基づいた階調表示が可能となると同時に、1画素
であるレベルの階調表示を、高い透過光量を得る第一フ
ィールドと低い透過光量を得る第二フィールドに分割し
て連続的に行うため、時間開口率が50%以下となり、
人間の目の感じる動画高速応答特性も良好になる。当該
効果を得る上で、先に示したβ1とβ2との関係は、β1
≧5×β2であることが好ましい。
【0081】また、第二フィールドにおいては液晶分子
の若干のスイッチング動作により完全に透過光量が0に
はならないので、フレーム期間全体での人間の目に感じ
る輝度は確保される。さらに、第一及び第二フィールド
で同様のレベルの電圧が極性反転して液晶59に印加さ
れ得るため、液晶59に実際に印加される電圧が交流化
され液晶の劣化が防止される。
【0082】上記のアクティブマトリクス駆動では、2
フィールドからなる1フレーム全体では、TxとTyを平
均した透過光量が得られる。このため、ソース電圧Vs
については、実際に当該フレームで当該画素で得ようと
する画像情報(階調情報)に応じて、所定のレベルだけ
大きな透過光量を得ることができる電圧値を選択して印
加することで、第一フィールド1Fにおいて、所望の階
調状態より高いレベルの透過光量での階調状態を表示す
ることも好ましい。
【0083】尚、上記駆動法を応用し、本実施形態の液
晶素子とRGB各色光源と組み合わせた液晶表示装置も
提供できる。そしてそのような液晶表示装置を用い、必
要に応じてカラーフィルターを使用せずに時分割による
混色を利用してフルカラー表示させる方法を用いること
も可能である。
【0084】〔第2の実施形態〕本発明の第2の実施形
態にかかる液晶素子は、少なくとも一方の基板のプレチ
ルト角を10°以上とすることを特徴とする。尚、その
他の点については第1の実施形態と同じである。
【0085】本実施形態の液晶素子においては、少なく
とも一方の基板のプレチルト角が10°以上という高め
のプレチルト角の基板を用い、上下基板の一軸配向処理
方向を反平行となるように組み合わせることによって、
ストライプテクスチャーは生じずに、また、ループ状領
域の発生も防ぐことができて、パネル面内ムラの解消と
高コントラスト比とを両立させることが可能となったの
である。さらに本実施の形態ではループ状領域とはけた
違いに小さな微小ドメインの発現も防ぐことができる。
即ち視覚的にドメインが印加電圧の変化に応じて成長し
たり縮小される現象は観察されず、むしろ模様がない状
態で黒⇔灰色⇔白の表示が行える現象が達成される。
【0086】本発明の液晶素子は上に説明した各実施形
態で説明したようにプレチルト角を高めに設定すること
によって均一配向化が実現できる。
【0087】さらに単安定液晶素子における駆動電圧の
観点から以下のような第二の効果が発現する。
【0088】プレチルト角を高くすることによって配向
膜と液晶との相互作用が減少し、一軸配向規制力が相対
的に小さくなる。双安定性を有する素子の場合、一軸配
向規制力が小さい場合には双安定ポテンシャルを安定化
させる方向になる、すなわちポテンシャル障壁が高くな
ることから定性的には分子反転させるためのエネルギー
が大きくなることになることが予想される。つまり、双
安定性素子において一軸配向規制力を小さくすることは
反転のための必要印加電圧が高くなると考えられる。
【0089】一方、本発明の液晶素子は単安定モードで
あり、その単安定性能は一軸配向規制力を主たる発現機
構としている。つまり、一軸配向規制力を相対的に小さ
くすることは単安定方向への規制力が小さくなることか
ら、相対的に小さいトルクで液晶分子を反転させること
が可能であると予想される。つまり、プレチルトを高く
し相対的に一軸配向規制力を減少させることによって低
駆動電圧化が実現できることになる。
【0090】さらに単安定液晶素子における視野角特性
の観点から以下のような第三の効果が発現する。
【0091】本発明の素子やインプレーンスイッチング
液晶のような面内スイッチングの系では、分子反転状態
において捻れがすくない方が視野角特性が良好であるこ
とが知られている。そこで第三の効果で述べたようにプ
レチルトを高くすることで一軸配向規制力が相対的に小
さくなり、スイッチング時に界面からバルクまで比較的
均一に反転し、捻れ量を少なくすることが出来る。これ
により視野角特性を良好にすることが出来る。一方、プ
レチルトが高すぎるとそれによる弊害も発生してくるの
で、4度以上で10度程度未満に抑えておくことが視野
角特性の観点からは好ましい。
【0092】
【実施例】(比較例1) 〔液晶組成物の調整〕下記液晶性化合物を混合して液晶
組成物LC−1を調整した。構造式に併記した数値は混
合の際の重量比率である。
【0093】
【化5】
【0094】上記液晶組成物LC−1の物性パラメータ
を以下に示す。
【0095】
【化6】 自発分極(30℃):Ps=2.9nC/cm2 チルト角(30℃):Θ=23.3°(100Hz、±
12.5V、セルギャップ=1.4μm) 層傾斜角(30℃):δ=21.6° SmC*相でのらせんピッチ(30℃):20μm以上
【0096】尚、液晶組成物の各物性パラメータの測定
方法は以下の通りである。
【0097】〔自発分極の測定方法〕自発分極は、K.
ミヤサト他「三角波による強誘電性液晶の自発分極の直
接測定方法」(日本応用物理学会誌、22,10号(6
61)1983,”Direct Method wi
th Triangular Waves forMe
asuring Spontaneous Polar
ization in Ferroelectric
Liquid Crystal”,as descri
bed by K.Miyasato et al.
(Jap.J.appl.Phys.22.No.1
0,L661(1983)))によって測定した。
【0098】〔チルト角Θの測定〕±12.5〜±50
V、1〜100HzのAC(交流)を液晶素子の上下基板
間に電極を介して印加しながら、直交ニコル下、その間
に配置された液晶素子を偏光板と平行に回転させると同
時に、フォトマル(浜松フォトニクス社製)で光学応答
を検知しながら、第1の消光位(透過率が最も低くなる
位置)及び第2の消光位を求める。そしてこの時の第1
の消光位から第2の消光位までの角度の1/2をチルト
角Θとする。
【0099】〔液晶層の傾斜角δの測定〕基本的には、
クラークやラガーウォルによって行われた方法(Jap
an Display’86,Sep.30〜Oct.
2,1986,456〜458)、或いは、大内らの方
法(J.J.A.P.27(5)(1988)725〜
728)と同様の方法により測定した。測定装置は、回
転陰極方式X線回折装置(MACサイセンス社製)を用
い、液晶セルのガラス基板へのX線の吸収を低減させる
ため、基板にはコーニング社製のマイクロシート(80
μm)を用いた。
【0100】〔液晶セルの作製〕透明電極として厚さ7
00ÅのITO膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガ
ラス基板を用意した。該基板の透明電極上に、市販のT
FT用配向膜(日産化学社製「SE7992」)をスピ
ンコート法により塗布し、その後、80℃で5分間の前
乾燥を行った後、200℃で1時間加熱焼成を施し、膜
厚50Åのポリイミド被膜を得た。
【0101】続いて、当該基板上のポリイミド膜に対し
て、一軸配向処理としてナイロン布によるラビング処理
を施した。ラビング処理の条件は、直径10cmのロー
ルにナイロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせ
たラビングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り
速度10cm/sec、回転数1000rpm、送り回
数4回とした。
【0102】続いて、一方の基板上にスペーサーとし
て、平均粒径1.4μmのシリカビーズを散布し、各基
板のラビング処理方向が互いに反平行になるように対向
させ、均一なセルギャップのセル(単画素の空セルA)
を得た。
【0103】〔プレチルト角評価用セルの作製〕上記空
セルAと同一条件で作製した基板を用意し、平均粒径9
μmのシリカビーズを散布し、各基板のラビング処理方
向が互いに反平行になるように対向させ、均一なセルギ
ャップのセル(単画素の空セル)を得た。この空セルに
上記液晶組成物LC−1を注入し、62℃(Ch相)に
昇温し、前記したクリスタルローテーション法にてプレ
チルト角αを測定した。その結果、プレチルト角は2.
0°であった。
【0104】上記のプロセスで作製した単画素の空セル
Aに液晶組成物LC−1をCh相の温度で注入し、液晶
をカイラルスメクチック液晶相を示す温度まで冷却し、
この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後において、−
2Vのオフセット電圧(直流電圧)を印加して冷却を行
う処理を施し、液晶素子サンプルAを作製した。かかる
サンプルについて、下記の項目についての評価を行っ
た。この処理は、Ch−SmC*相転移温度±2℃の範
囲で冷却速度1℃/minの条件下で行った。
【0105】(1)配向状態 素子サンプルAの液晶の配向状態について偏光顕微鏡観
察を行った。その結果、室温(30℃)では、電圧無印
加での素子全面でのストライプテクスチャーが形成され
ていることがわかった。また、顕微鏡視野内の一部分に
ループ状領域が存在していた。
【0106】このストライプテクスチャーの平均長手方
向と、一軸配向処理方向とがなす角度を測定すると、約
3°であった。また、それぞれのストライプテクスチャ
ーについてさらに詳細な観察を行ったところ、それぞれ
のストライプ状の領域で最暗軸が微妙に異なっており、
最暗軸の分布としては約4°の幅を持って存在している
ことがわかった。また、層法線方向は素子全面で一方向
にそろっていた。
【0107】(2)矩形波印加による光学応答 素子サンプルAについて、偏光顕微鏡観測下において連
続或いは不連続電圧応答における反転挙動を確認した。
その結果、正極性の電圧を印加すると白状態へと分子が
反転した複数の微小領域が出現し、その後印加電圧を徐
々に大きくしていくと、これらの微小領域の面積が徐々
に増加していくことが観測された。また、この時の目視
観測によると、ストライプテクスチャー部分は2〜3V
程度で50%透過率が得られていたものの、ループ状領
域では4V程度でようやく50%程度に達したことか
ら、ループ状領域は分子反転には周囲の領域より大きい
電圧が必要であることがわかった。
【0108】次いで、該素子をクロスニコル下でフォト
マルチプレイヤー付偏光顕微鏡に、偏光軸を電圧無印加
状態で暗視野となるように配置し、60Hz(±5V)
の矩形波電圧を印加して電圧を変化させながら光学レベ
ルを測定した。
【0109】その結果、正極性の電圧を印加すると白状
態へと分子が反転した複数の微小領域が出現し、その後
印加電圧を徐々に大きくしていくこと、これらの微小領
域の面積が徐々に増加していくことが観察された。
【0110】また、光学応答は前状態には依存せずに安
定した中間調状態が得られることが確認できた。また、
負極性の電圧に対しても同じ絶対値の正極性電圧印加の
場合の1/10程度の光学応答が確認され、正負の電圧
に対する光学応答の平均値は前状態には依存せず安定し
た中間調が得られることが確認できた。
【0111】10〜50℃において、±5Vの矩形波を
印加した際のコントラストを測定した結果、最低値は1
0℃における90であった。
【0112】(3)矩形波応答の目視観測 矩形波印加による光学応答について、顕微鏡を通さず直
接目視によって観測した。その結果、ループ状領域に起
因すると思われるスイッチングムラが視認された。この
ムラは直視型液晶モニタとして応用する際には大きな問
題になると考えられる。一方、視野角特性については上
下左右いずれの方向から見ても階調反転は発生せず良好
な結果が得られた。
【0113】(実施例1) 〔液晶セルの作製〕透明電極として厚さ700ÅのIT
O膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガラス基板を用
意した。該基板の透明電極上に、市販のTFT用配向膜
(日本合成ゴム社製「JALS2022」)をスピンコ
ート法により塗布し、その後、80℃で5分間の前乾燥
を行った後、200℃で1時間加熱焼成を施し、膜厚5
00Åのポリイミド被膜を得た。
【0114】続いて、当該基板上のポリイミド膜に対し
て一軸配向処理としてナイロン布によるラビング処理を
施した。ラビング処理の条件は、直径10cmのロール
にナイロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせた
ラビングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り速
度10cm/sec、回転数1000rpm、送り回数
4回とした。
【0115】続いて、一方の基板上にスペーサーとし
て、平均粒径1.5μmのシリカビーズを散布し、各基
板のラビング処理方向が互いに反平行になるように対向
させ、均一なセルギャップのセル(単画素の空セルB)
を得た。
【0116】〔プレチルト角評価用セルの作製〕上記空
セルBと同一条件で作製した基板を用いる以外は、前記
比較例1と同様にしてプレチルト角αを測定した。その
結果、プレチルト角は12.0°であった。
【0117】上記のプロセスで作製した単画素の空セル
Bに液晶組成物LC−1をCh相の温度で注入し、液晶
をカイラルスメクチック液晶相を示す温度まで冷却し、
この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後において、−
2Vのオフセット電圧(直流電圧)を印加して冷却を行
う処理を施し、液晶素子サンプルBを作製した。かかる
サンプルについて、下記の項目についての評価を行っ
た。
【0118】(1)配向状態 素子サンプルBの液晶の配向状態について偏光顕微鏡観
察を行った。その結果、室温(30℃)では、電圧無印
加時において、比較例1において発生したストライプテ
クスチャーが一切形成されておらず、極めて良好な配向
性であることがわかった。
【0119】(2)矩形波印加による光学応答 素子サンプルBについて、該素子をクロスニコル下でフ
ォトマルチプレイヤー付偏光顕微鏡に、偏光軸を電圧無
印加状態で暗視野となるように配置し、60Hz(±5
V)の矩形波電圧を印加して電圧を変化させながら光学
レベルを測定した。
【0120】その結果、スイッチングの様子は比較例1
で観測されたような微小領域の出現をほとんど伴わな
い、いわゆるドメインレススイッチングとなっているこ
とが確認できた。また、負極性の電圧に対しては、比較
例1と同様に、同じ絶対値の正極性電圧印加の場合の1
/10程度の光学応答が確認され、正負の電圧に対する
光学応答の平均値は前状態には依存せず安定した中間調
が得られることが確認できた。
【0121】また、10〜50℃において±5Vの矩形
波(周波数は60Hz)を印加した際のコントラストを
測定した結果、最低値は10℃における200と比較例
1に比べると良好な結果であった。さらに、本素子サン
プルBでは顕微鏡観測下においても中間調状態における
V-T特性ムラが観測されない理想的なスイッチング特
性となっていた。
【0122】(3)矩形波応答の目視観測 矩形波印加による光学応答について、顕微鏡を通さず直
接目視によって観測した。その結果、比較例1と違っ
て、全くスイッチングムラのない均一な反転挙動が視認
された。
【0123】(実施例2) 〔液晶セルの作製〕透明電極として厚さ700ÅのIT
O膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガラス基板を用
意した。該基板の透明電極上に、市販のTFT用配向膜
(日本合成ゴム社製「JALS2022」)をスピンコ
ート法により塗布し、その後、80℃で5分間の前乾燥
を行った後、200℃で1時間加熱焼成を施し、膜厚1
50Åのポリイミド被膜を得た。
【0124】続いて、当該基板上のポリイミド膜に対し
て一軸配向処理としてナイロン布によるラビング処理を
施した。ラビング処理の条件は、直径10cmのロール
にナイロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせた
ラビングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り速
度10cm/sec、回転数1000rpm、送り回数
4回とした。
【0125】続いて、一方の基板上にスペーサーとし
て、平均粒径1.5μmのシリカビーズを散布し、各基
板のラビング処理方向が互いに反平行になるように対向
させ、均一なセルギャップのセル(単画素の空セルC)
を得た。
【0126】〔プレチルト角評価用セルの作製〕上記空
セルCと同一条件で作製した基板を用いる以外は、前記
比較例1と同様にしてプレチルト角を測定した。その結
果、プレチルト角は7.0°であった。
【0127】上記のプロセスで作製した単画素の空セル
Cに液晶組成物LC−1をCh相の温度で注入し、液晶
をカイラルスメクチック液晶相を示す温度まで冷却し、
この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後において、−
2Vのオフセット電圧(直流電圧)を印加して冷却を行
う処理を施し、液晶素子サンプルCを作製した。かかる
サンプルについて、下記の項目についての評価を行っ
た。
【0128】(1)配向状態 素子サンプルCの液晶の配向状態について偏光顕微鏡観
察を行った。その結果、室温(30℃)では、比較例1
と同様のストライプテクスチャーが形成されていること
がわかった。このストライプテクスチャーの平均長手方
向と、一軸配向処理方向とがなす角度を測定すると約3
°であった。また、それぞれのストライプテクスチャー
についてさらに詳細な観察を行ったところ、それぞれの
ストライプ状の領域で最暗軸が微妙に異なっており、最
暗軸の分布としては約4°の幅を持って存在しているこ
とがわかった。また、層法線方向は素子全面で一方向に
そろっていた。一方、この素子サンプルCにおいては、
比較例1の素子サンプルAにおいて観測されたようなル
ープ状領域は発生していなかった。
【0129】(2)矩形波印加による光学応答 素子サンプルCについて、偏光顕微鏡観測下において電
圧応答における反転挙動を確認した。その結果、素子サ
ンプルAにおけるストライプテクスチャー部分と同様
に、2〜3V程度で視野全体において50%透過率が得
られた。
【0130】次いで、該素子をクロスニコル下でフォト
マルチプレイヤー付偏光顕微鏡に、偏光軸を電圧無印加
状態で暗視野となるように配置し、60Hz(±5V)
の矩形波電圧を印加して電圧を変化させながら光学レベ
ルを測定した。
【0131】その結果、光学応答は前状態には依存せず
に安定した中間調状態が得られることが確認できた。ま
た、負極性の電圧に対しても同じ絶対値の正極性電圧印
加の場合の1/10程度の光学応答が確認され、正負の
電圧に対する光学応答の平均値は前状態には依存せず安
定した中間調が得られる、即ち印加電圧に対する透過率
の変化において、印加電圧にしきい値を持たずに緩やか
に透過率が電圧変化によって変化することが確認でき
た。
【0132】10〜50℃において、±5Vの矩形波を
印加した際のコントラストを測定した結果、最低値は1
0℃における100であった。
【0133】(3)矩形波応答の目視観測 矩形波印加による光学応答について、顕微鏡を通さず直
接目視によって観測した。その結果、全くスイッチング
ムラのない均一な反転挙動が視認された。また、視野角
特性についても上下左右いずれの方向から見ても階調反
転は発生せず良好な結果が得られた。
【0134】(実施例3) 〔液晶セルの作製〕透明電極として厚さ700ÅのIT
O膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガラス基板を用
意した。該基板の透明電極上に、市販のTFT用配向膜
(日本合成ゴム社製「JALS2022」)をスピンコ
ート法により塗布し、その後、80℃で5分間の前乾燥
を行った後、200℃で1時間加熱焼成を施し、膜厚1
50Åのポリイミド被膜を得た。
【0135】続いて、当該基板上のポリイミド膜に対し
て一軸配向処理としてナイロン布によるラビング処理を
施した。ラビング処理の条件は、直径10cmのロール
にナイロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせた
ラビングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り速
度10cm/sec、回転数1000rpm、送り回数
4回とした。
【0136】続いて、一方の基板上にスペーサーとし
て、平均粒径1.5μmのシリカビーズを散布し、各基
板のラビング処理方向が互いに反平行になるように対向
させ、均一なセルギャップのセル(単画素の空セルD)
を得た。
【0137】〔プレチルト角評価用セルの作製〕上記空
セルDと同一条件で作製した基板を用いる以外は、前記
比較例1と同様にしてプレチルト角を測定した。その結
果、プレチルト角は7.0°であった。
【0138】上記のプロセスで作製した単画素の空セル
Dに液晶組成物LC−1をCh相の温度で注入し、液晶
をカイラルスメクチック液晶相を示す温度まで冷却し、
この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後において、−
5Vのオフセット電圧(直流電圧)を印加して冷却を行
う処理を施し、液晶素子サンプルDを作製した。かかる
サンプルについて、下記の項目についての評価を行っ
た。
【0139】(1)配向状態 素子サンプルDの液晶の配向状態について偏光顕微鏡観
察を行った。その結果、室温(30℃)では、電圧無印
加で素子全体の面積に対して50%程度の面積にわた
り、比較例1と同様のストライプテクスチャーが形成さ
れていることがわかった。このストライプテクスチャー
の平均長手方向と、一軸配向処理方向とがなす角度を測
定したところ、約3°であった。また、それぞれのスト
ライプテクスチャーについてさらに詳細な観察を行った
ところ、それぞれのストライプ状の領域で最暗軸が微妙
に異なっており、最暗軸の分布としては約4°の幅をも
って存在していることがわかった。また、層法線方向は
素子全面で一方向にそろっていた。
【0140】(2)矩形波印加による光学応答 素子サンプルDについて、比較例1と同様にして電圧を
変化させながら光学レベルを測定した。
【0141】その結果、ストライプテクスチャー部分の
スイッチングの様子として、正極性の電圧を印加すると
白状態へと分子が反転した複数の微小領域が出現し、そ
の後印加電圧を徐々に大きくしていくと、これらの微小
領域の面積が徐々に増加していくことが観察された。さ
らに、光学応答は前状態には依存せずに安定した中間調
状態が得られることが確認された。また、負極性の電圧
に対しても同じ絶対値の正極性電圧印加の場合の1/1
0程度の光学応答が確認され、正負の電圧に対する光学
応答の平均値は前状態には依存せず安定した中間調が得
られることが確認できた。
【0142】一方、その他のストライプテクスチャーが
発生していない部分の配向状態は極めて均一であり、ス
イッチングの様子は上記のような微小領域の出現を伴わ
ない、いわゆるドメインレススイッチングとなっている
ことが確認できた。また、負極性の電圧に対しては、上
記と同様に、同じ絶対値の正極性電圧印加の場合の1/
10程度の光学応答が確認され、正負の電圧に対する光
学応答の平均値は前状態には依存せず安定した中間調が
得られることが確認できた。
【0143】10〜50℃において±5Vの矩形波を印
加した際のコントラストを測定した結果、最低値は10
℃における120と比較例1に比べると良好な結果であ
った。
【0144】(実施例4) 〔液晶セルの作製〕透明電極として厚さ700ÅのIT
O膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガラス基板を用
意した。該基板の透明電極上に、市販のTFT用配向膜
(日本合成ゴム社製「JALS2022」)をスピンコ
ート法により塗布し、その後、80℃で5分間の前乾燥
を行った後、200℃で1時間加熱焼成を施し、膜厚5
00Åのポリイミド被膜を得た。
【0145】続いて、当該基板上のポリイミド膜に対し
て一軸配向処理としてナイロン布によるラビング処理を
施した。ラビング処理の条件は、直径10cmのロール
にナイロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせた
ラビングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り速
度10cm/sec、回転数1000rpm、送り回数
4回とした。
【0146】続いて、一方の基板上にスペーサーとし
て、平均粒径1.5μmのシリカビーズを散布し、各基
板のラビング処理方向が互いに反平行になるように対向
させ、均一なセルギャップのセル(単画素の空セルE)
を得た。
【0147】〔プレチルト角評価用セルの作製〕上記空
セルEと同一条件で作製した基板を用いる以外は、前記
比較例1と同様にしてプレチルト角を測定した。その結
果、プレチルト角は12.0°であった。
【0148】上記のプロセスで作製した単画素の空セル
Eに液晶組成物LC−1をCh相の温度で注入し、液晶
をカイラルスメクチック液晶相を示す温度まで冷却し、
この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後において、−
5Vのオフセット電圧(直流電圧)を印加して冷却を行
う処理を施し、液晶素子サンプルEを作製した。かかる
サンプルについて、下記の項目についての評価を行っ
た。
【0149】(1)配向状態 素子サンプルCの液晶の配向状態について偏光顕微鏡観
察を行った。その結果、室温(30℃)では、電圧無印
加時において、比較例1,実施例3において発生したス
トライプテクスチャーが形成されておらず、他の欠陥も
全く見られない極めて良好な配向性であることがわかっ
た。
【0150】(2)矩形波印加による光学応答 素子サンプルEについて、比較例1と同様にして電圧を
変化させながら光学レベルを測定した。
【0151】その結果、スイッチングの様子は比較例1
で観察されたような微小領域の出現を伴わない、いわゆ
るドメインレススイッチングとなっていることが確認さ
れた。本実施例では、実施例1の液晶素子よりもさらに
微小領域(ドメイン)は出現していなかった。また、負
極性の電圧に対しても同じ絶対値の正極性電圧印加の場
合の1/10程度の光学応答が確認され、正負の電圧に
対する光学応答の平均値は前状態には依存せず安定した
中間調が得られることが確認できた。
【0152】10〜50℃において±5Vの矩形波を印
加した際のコントラストを測定した結果、最低値は10
℃における200と比較例1及び実施例1に比べると良
好な結果であった。さらに、本素子サンプルEでは顕微
鏡観測下においても中間調状態におけるムラが観測され
ない理想的なスイッチング特性となっていた。
【0153】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば高
速応答性を備えた液晶素子において、配向欠陥、言いか
えれば異なる配向領域がなく、広視野角とムラのない均
一なスイッチング特性が実現し、優れた階調表示が可能
となる。そして、電圧無印加時に単安定化され、電圧印
加時には電圧値(正負は無関係)に応じて透過率Tが連
続的に変化(増加)するしきい値のないV-T特性を示
すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の液晶素子におけるループ状領域の模式図
である。
【図2】従来の液晶素子におけるループ状領域と層構造
の模式図である。
【図3】本発明の液晶素子の基本構成の一実施形態の断
面模式図である。
【図4】本発明の液晶素子の好ましい形態であるアクテ
ィブマトリクス液晶素子のアクティブマトリクス基板に
駆動回路を備えた形で模式的に示した平面図である。
【図5】図4に示すパネル構成における1画素分の断面
模式図である。
【図6】図5の画素の等価回路である。
【図7】図4〜図6に示した構成の液晶素子の駆動方法
の一例のタイミングチャートである。
【符号の説明】
1 ストライプテクスチャー領域 2 ループ状領域 3A 3B 4 基板 11a,11b 基板 12a,12b 電極 13a,13b 絶縁膜 14a,14b 配向制御膜 15 液晶 16 スペーサー 20 パネル部 21 査信号ドライバ 22 情報信号ドライバ 23 情報信号線(ソース線) 24 TFT 25 画素電極 26 走査信号線(ゲート線) 30 アクティブマトリクス基板 31 基板 32 ゲート電極 33 ゲート絶縁膜 34 a−Si層 35,36 n+a−Si層 37 ソース電極 38 ドレイン電極 39 チャネル保護膜 40 保持容量電極 41 液晶容量 42 保持容量 50 対向基板 51 基板 52 共通電極 53a,53b 配向制御膜 59 液晶
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−323333(JP,A) 特開 平9−15655(JP,A) 特開 平7−270830(JP,A) 特開 昭61−250087(JP,A) 特開 平7−120722(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/13 - 1/141

Claims (20)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に一軸配向処理が施された一対の基
    板と、該基板間に挟持された液晶と、該液晶に電圧を印
    加するための電極とを備えた液晶素子であって、上記液
    晶がカイラルスメクチック液晶であり、高温側より、等
    方性液体相−コレステリック相−カイラルスメクチック
    C相、或いは、等方性液体相−カイラルスメクチックC
    相の相転移系列を有し、上記一軸配向処理の方向が一対
    の基板で互いに反平行であり、少なくとも一方の基板の
    プレチルト角が4°以上であることを特徴とする液晶素
    子。
  2. 【請求項2】 上記プレチルト角が50°未満である請
    求項1に記載の液晶素子。
  3. 【請求項3】 上記プレチルト角が10°未満である請
    求項1に記載の液晶素子。
  4. 【請求項4】 上記プレチルト角が10°以上である請
    求項1または2に記載の液晶素子。
  5. 【請求項5】 電圧無印加時には、液晶の平均分子軸が
    単安定化された第一の状態を示し、第一の極性の電圧印
    加時には、該液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに応
    じた角度で上記第一の状態の位置から一方の側にチルト
    し、該第一の極性とは逆極性の第二の極性の電圧印加時
    には、液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた角
    度で上記第一の状態の位置から第一の極性の電圧印加時
    とは逆側にチルトし、上記第一の極性の電圧印加時と第
    二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子軸の第一の状態
    の位置を基準とした最大チルト状態のチルト角をそれぞ
    れβ1、β2とすると、β1>β2となる請求項1〜4のい
    ずれかに記載の液晶素子。
  6. 【請求項6】 上記β1とβ2との関係が、β1≧5×β2
    となる請求項5記載の液晶素子。
  7. 【請求項7】 液晶のバルク状態でのらせんピッチがセ
    ル厚の2倍より長い請求項1〜6のいずれかに記載の液
    晶素子。
  8. 【請求項8】 上記液晶素子が光透過型の液晶素子であ
    る請求項1〜7のいずれかに記載の液晶素子。
  9. 【請求項9】 上記液晶素子が一方の基板から他方の基
    板へ光を透過させる請求項1〜8のいずれかに記載の液
    晶素子。
  10. 【請求項10】 上記液晶素子と、カラーフィルタを有
    する請求項1〜9のいずれかに記載の液晶素子。
  11. 【請求項11】 上記カイラルスメクチック液晶の電圧
    印加時の安定位置が、一軸配向処理された基板の配向処
    理方向にそろっている請求項1〜10のいずれかに記載
    の液晶素子。
  12. 【請求項12】 画素毎に画素電極とアクティブ素子を
    備え、該アクティブ素子を介して各画素の液晶をアクテ
    ィブマトリクス駆動し、アナログ階調表示を行う請求項
    1〜11のいずれかに記載の液晶素子。
  13. 【請求項13】 請求項12に記載の液晶素子と、該液
    晶素子を駆動するアクティブマトリクス駆動装置とを有
    することを特徴とする表示装置。
  14. 【請求項14】 請求項1〜9のいずれか又は請求項1
    1〜12のいずれかに記載の液晶素子と、該液晶素子に
    光照射する三色光源とを有することを特徴とする表示装
    置。
  15. 【請求項15】 請求項3に記載の液晶素子を有する直
    視型表示装置であることを特徴とする表示装置。
  16. 【請求項16】 請求項4に記載の液晶素子を有する拡
    大光学系表示装置であることを特徴とする表示装置。
  17. 【請求項17】 アクティブ素子として薄膜トランジス
    タを備えた請求項12に記載の液晶素子の駆動方法にお
    いて、走査信号線に電圧を印加して上記薄膜トランジス
    タをオン状態にする第1のTFTオン工程と、上記薄膜
    トランジスタをオン状態にするタイミングに同期して画
    素電極の電位をソース電圧にする第1の画素電極印加工
    程と、上記走査信号線のオフ状態に液晶がスイッチング
    する第1のスイッチング工程と、を有する第1のフィー
    ルドを有することを特徴とする液晶素子の駆動方法。
  18. 【請求項18】 上記第1のオン工程とは異なる期間に
    上記薄膜トランジスタをオン状態にする第2のTFTオ
    ン工程と、上記第2のTFTオン工程において上記薄膜
    トランジスタをオン状態にするタイミングに同期して上
    記ソース電圧とは逆極性のソース電圧を画素電極に印加
    する第2の画素電極印加工程と、上記第2のTFTオン
    工程において薄膜トランジスタをオン状態にした後の走
    査信号線のオフ状態に液晶がスイッチングする第2のス
    イッチング工程と、を有する第2のフィールドを有する
    請求項17に記載の液晶素子の駆動方法。
  19. 【請求項19】 上記第1のスイッチングと、上記第2
    のスイッチングとを連続して行う請求項18に記載の液
    晶素子の駆動方法。
  20. 【請求項20】 前記カイラルスメクチック液晶の電圧
    印加時の安定位置は、前記一軸配向処理された前記基板
    のラビング方向に略そろっていることを特徴とする請求
    項1〜12のいずれかに記載の表示素子。
JP2000250005A 1999-08-27 2000-08-21 液晶素子及びこれを用いた表示装置、該液晶素子の駆動方法 Expired - Fee Related JP3311335B2 (ja)

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