JP3307060B2 - 三次元形状計測方法 - Google Patents

三次元形状計測方法

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JP3307060B2 JP04734594A JP4734594A JP3307060B2 JP 3307060 B2 JP3307060 B2 JP 3307060B2 JP 04734594 A JP04734594 A JP 04734594A JP 4734594 A JP4734594 A JP 4734594A JP 3307060 B2 JP3307060 B2 JP 3307060B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、三次元形状計測方法に
関し、詳しくは、各種物体の三次元形状を計測する方法
であって、スポット光などによる非接触式の測定手段
で、被測定物の表面上の各点の位置を測定し、これら各
点の位置情報を総合して被測定物の三次元形状を計測す
る方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】非接触式測定手段で被測定物の三次元形
状を計測する方法は、被測定物の三次元形状を正確かつ
迅速に計測できる方法として、各種技術分野で利用され
ている。また、このような三次元形状の計測方法が適用
できる計測装置も各種提案されている。
【0003】例えば、被測定物を載置する定盤の上方
に、非接触式測定手段の測定器が、定盤と平行な面に沿
って移動自在に設置された計測装置がある。測定器を前
後左右に移動させながら、それぞれの位置で、測定器の
真下に位置する被測定物上の点の位置を測定する。非接
触式測定手段の具体例としては、例えば、測定器から真
下に向けてスポット光を照射し、被測定物の表面で反射
された反射光を再び測定器で受光して、その受光位置か
ら、三角測量の原理で、測定器から被測定物までの距離
を測定するものがある。測定器から被測定物までの距離
を、測定器から定盤面までの距離から差し引けば、被測
定物のその点における高さが求められる。被測定物の高
さを被測定物上の多数の点について求めれば、被測定物
全体の三次元形状が計測できることになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記した従
来における三次元形状計測装置では、被測定物の寸法が
大きくなると、計測が全く出来なかったり、計測結果が
不正確になるという問題があった。
【0005】まず、被測定物は、定盤の上に載せられる
程度の大きさでなければならない。定盤の上に載って
も、測定器による測定が可能な範囲内に存在していなけ
ればならない。測定器は、レールや梁に沿って移動自在
に取り付けられていたり、伸縮あるいは回転自在な腕や
支柱に取り付けてあったりして、ある程度の範囲を移動
できるようにはなっているが、その移動範囲には限界が
ある。また、測定器の移動範囲を広くするほど、正確に
移動制御するのが難しく、測定器の位置や移動量の誤差
が増えるので、計測精度が低下するという問題が発生す
る。
【0006】そのため、ひとつの被測定物を、2回に分
けて測定する方法が考えられた。まず、被測定物の半分
が、測定器の測定範囲に入るようにして、定盤の上に配
置し、測定器で測定できる範囲だけの計測を行う。つぎ
に、被測定物の残りの半分が、測定範囲に入るように、
被測定物を移動させて、残りの半分の測定を行うのであ
る。被測定物の半分づつの測定データを、互いの境界部
分でつなぎ合わせれば、被測定物の全体の三次元形状が
測定できるという方法である。
【0007】ところが、この方法では、被測定物の半分
づつの測定データをつなぎ合わせるのが難しく、両者の
境界部分がスムーズにつながらないという問題があり、
改善が要望されていた。
【0008】そこで、本発明の課題は、上記した従来技
術の問題点を解消し、ひとつの被測定物を複数回に分け
て測定を行い、それぞれの測定で得られた測定データを
合成する際に、両方の測定データを正確かつ簡単に合成
して、被測定物の三次元形状を正確に測定できる方法を
提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する、本
発明にかかる三次元形状計測方法は、移動自在なスポッ
ト光による非接触式測定手段で、被測定物上の各点の位
置を測定して、被測定物の三次元形状を計測する際に、
被測定物の表面を複数領域に分けて、各領域毎に別々に
測定を行い、それぞれの測定結果を合成して被測定物全
体の三次元形状を得る方法において、前記被測定物の表
面に設定する複数領域のうち、隣接する領域同士に一部
重なる範囲を設け、この重なり範囲の少なくとも3個所
スポット光の口径の10〜100倍の球径を有する
準球面体を配置しておき、各領域における測定時に、各
基準球面体のそれぞれの表面の少なくとも3点に対して
前記測定手段で位置を測定することで各基準球面体の球
中心を求め、各領域における被測定物の測定結果を、各
基準球面体の球中心を基準にして合成する。
【0010】被測定物は、通常、表面が正確な平面に仕
上げられた定盤などの定置面に置かれた状態で計測が行
われる。但し、定盤の上に載置されていなくても、何ら
かの手段で、挟持されたり吊り下げられたりして、決ま
った位置に支持されていればよい。このようにして、被
測定物が定まった位置に配置された状態で、その基準と
なる面を定置面と呼ぶ。
【0011】非接触式測定手段は、レーザ等のスポット
光で三角測量による距離測定を行う測定器など、既知の
各種測定手段が用いられる。測定原理や内部機構は、既
知の技術を自由に組み合わせることができる。光の代わ
りに、各種放射線や電磁波、磁気、超音波などを利用す
る非接触式測定手段も採用できる。
【0012】非接触式測定手段の移動機構も、既知の三
次元形状計測装置における移動機構と同様の構造が採用
できる。測定手段の移動は、前後左右あるいは垂直方向
への直線運動、水平面あるいは垂直面での旋回運動など
を、必要に応じて自由に組み合わせればよい。移動機構
としては、測定手段の測定方向を傾ける動きができるこ
とが好ましい。測定手段の測定方向とは、前記スポット
光であればその照射方向であり、測定する測定点を配置
すべき方向である。
【0013】基準球面体は、完全な球体のほか、球体の
一部から支柱が突出するものや、半球、あるいは、直方
体などの立体と球面を組み合わせたものなど、部分的な
球面体でも構わない。前記測定手段による位置測定がで
きる測定点が、少なくとも3点以上取れるだけの球面を
備えていればよいのである。基準球面体の径や球面の面
積は、測定手段の測定原理や精度、球面の加工精度など
を考慮して設定すればよい。例えば、スポット光による
三角測量を行う測定手段の場合、スポット光の口径の1
0〜100倍程度の球径を有するものが好ましい。基準
球面体は、測定に影響を与えるような凹凸や歪みのない
正確で滑らかな球面に形成できる材料からなるものが好
ましく、具体的には、セラミックが好ましい材料であ
る。硬質の金属や合成樹脂、ガラス質材料も使用可能で
ある。
【0014】基準球面体は、被測定物に一時的に固定で
きるようにしておく。具体的には、接着剤や接着テー
プ、粘着テープ、ピン、ねじ金具などの各種止着手段を
採用すればよい。基準球面体にピンや金具を一体形成し
ておいてもよい。基準球面体は、被測定物の表面に密着
して取り付けられてもよいし、被測定物の表面から突出
して離れた位置に取り付けられてもよい。基準球面体を
被測定物に取り付ける際には、測定手段で測定可能な場
所に球面部分が配置され、3点以上の測定が可能になる
ような姿勢で取り付ける必要がある。基準球面体が完全
な球体であれば、どのような姿勢で取り付けても、確実
に測定が行えるので便利である。
【0015】被測定物に対する三次元形状の計測は、被
測定物の表面を複数領域に分けて、各領域毎に別々に測
定を行い、それぞれの測定結果を合成して被測定物全体
の三次元形状を得る。各領域の設定の仕方や分割する領
域の数は、被測定物の形状と寸法、計測装置の構造など
の条件を考慮して、自由に設定できる。通常の条件で
は、領域の数は2個で十分であるが、3個以上の領域に
分割することも可能である。
【0016】分割された複数の領域のうち、隣接する領
域同士に一部重なる範囲を設け、この重なり範囲の少な
くとも3個所に基準球面体を配置しておく。この重なり
範囲の幅や大きさは、3個の基準球面体が、互いにある
程度の間隔をあけて配置できる程度に設定しておく。3
個の基準球面体を頂点とする範囲が広いほど、測定精度
が高くなるので、要求される測定精度に合わせて、前記
重なり範囲の大きさ、および、3個の基準球面体の位置
を決めればよい。
【0017】このような状態で、各領域について、通常
の方法で三次元形状の計測を行う。各領域の測定を行う
ときには、被測定物を移動させたり、姿勢を変えたりし
て、それぞれの領域における測定が出来るだけ良好に行
えるようにすればよい。この各領域に測定時に、被測定
物そのものの測定とは別に、各基準球面体のそれぞれの
表面の少なくとも3点に対して前記測定手段で位置を測
定する。
【0018】ひとつの基準球面体に対して、表面の少な
くとも3点の位置が判れば、幾何学的な演算処理によっ
て、その基準球面体の球中心の位置が求められる。例え
ば、球面の3点の位置と球の半径が判れば球中心は確定
し、同じ円上にない4点の位置が判れば半径が判らなく
ても球中心は確定できる。このような演算処理は、測定
手段の制御装置に組み込まれたマイクロコンピュータな
どの演算処理装置と演算処理プログラムを用いて行えば
よい。なお、基準球面体の球中心を求めるには、理論的
には少なくとも3点の位置が判ればよいが、理論的に必
要な数を超える位置の測定を行って、測定誤差の影響を
少なくすることもできる。
【0019】各領域について測定された、被測定物の三
次元形状に関する測定データを合成して、被測定物全体
の三次元形状を求める。それぞれの領域について、3個
の基準球面体の球中心位置が求められているので、この
球中心位置を互いに重ね合わせるようにして、各領域の
測定データを合成すればよい。なお、重なり範囲につい
ては、何れの領域の測定データを用いても同じであるか
ら、一方の測定データのみを用いてもよいし、両方の測
定データの平均値を取るようにしてもよい。このよう
な、測定データの合成は、コンピュータなどの演算処理
装置を用いて、迅速かつ正確に行うことができる。
【0020】
【作用】被測定物の表面を複数の領域に分割するととも
に、隣接する領域に重なり範囲を設けておけば、この重
なり範囲における測定データは、両方の領域で同じ対象
を表すことになる。
【0021】そこで、重なり範囲に、基準点を設けてお
き、両方の領域での測定データにおける基準点の位置
を、互いに合致させるようにして、両方の測定データを
合成すれば、正確な合成が行えることになる。三次元形
状では、通常、3点の位置が決定すれば、その姿勢は確
定するから、重なり範囲に設ける基準点は、少なくとも
3点あればよいことになる。
【0022】但し、被測定物の表面に、基準点の表示を
描いておいたりしても、測定手段を正確に基準点表示位
置に合わせて測定を行うのは難しく、しかも、描線や
溝、突起などで、物理的に形成された基準点表示には、
一定の広がりがあるため、厳密な意味での基準点を測定
することができない。基準点の測定位置に誤差やばらつ
きがあれば、そのような基準点をもとにして測定データ
を合成しても、正確な合成はできない。
【0023】そこで、一定の大きさのある基準球面体
を、前記重なり範囲に配置しておけば、この基準球面体
上の任意の測定点について、その位置を測定するのは容
易であり、所定数の測定点の位置をどこに選んでも、こ
れらの測定点の位置から演算される球中心の位置は、数
学的に厳密に決められる。このようにして求められた球
中心の位置を、前記した測定データを合成する際の基準
点とすれば、何れの領域で測定された基準点の位置も、
常に正確な位置を示しており、このような正確な基準点
の位置を元にして測定データの合成を行えば、被測定物
全体の正確な三次元形状を得ることができる。
【0024】
【実施例】ついで、本発明の実施例について、図面を参
照しながら以下に説明する。
【0025】図1は三次元形状計測装置の全体構造を表
している。硬質金属やセラミックスその他の剛性の大き
な材料で作製された厚板状をなす定盤10の上に、門型
の支持構造20と、支持構造20に支持された測定器2
2が取り付けられている。測定器20は、その下面から
スポット光Rを照射し、測定点で反射した反射光を再び
測定器20で捉え、三角測量の原理によって、測定点の
位置を測定するようになっている。測定器22は、支持
構造20上で、水平走行したり、旋回したりして移動で
きるように取り付けられている。
【0026】定盤10の上には、三次元形状を計測する
被測定物30が置かれている。被測定物30は、矢印A
−Aの示す側の領域Aと、矢印B−Bの示す側の領域B
との、2つの領域に分けて、三次元形状の計測を行う。
領域Aと領域Bは、その隣接部分が互いに重なってお
り、重なり範囲Dとなっている。重なり範囲Dにおい
て、被測定物30の表面の3個所に、基準球面体となる
小球40が取り付けられている。
【0027】上記のような計測装置を用いて、被測定物
30の三次元形状を計測する手順を説明する。
【0028】領域AおよびBのそれぞれについて、通常
の手順で、三次元形状の計測を行う。それぞれの領域
A、Bについて、測定器20による測定が行い易いよう
に、被測定物30の位置を動かしたり姿勢を変えたりし
て、計測を行えばよい。
【0029】各領域A、Bでの計測の際に、重なり範囲
Dに配置された3個の小球40に対して、それぞれの小
球40の表面の3点についても、測定器20による位置
測定を行う。各小球40の測定点は、任意に設定すれば
よい。領域AとBで、小球40の測定点を同じにする必
要はない。
【0030】各小球40の3点の測定位置データから、
各小球40の球中心Cが求められる。例えば、図2に示
すように、スポット光Rを当てて、3点P1 〜P3 の位
置を測定すれば、点P1 〜P3 の位置と球の半径の値と
から、球中心Cの位置がもとめられるのである。
【0031】このようにして、領域Aと領域Bのそれぞ
れについて、測定データが得られた後、両方の測定デー
タを合成する。このとき、小球40の球中心Cについて
は、何れの測定データにも存在するから、この3個所の
球中心Cの位置が、両方の測定データで合致するよう
に、それぞれの測定データで表される三次元形状を移動
させれば、両方の測定データを正確に合成して、被測定
物30の全体の正確な三次元形状を得ることができる。
【0032】
【発明の効果】以上に述べた、本発明にかかる三次元形
状の計測方法によれば、前記した基準球面体を利用する
ことで、別々に計測された複数の領域の測定データを、
正確に合致させて合成することが可能になる。
【0033】その結果、被測定物を複数の領域に分割し
て計測を行うことで、一度には計測が困難な大きさある
いは形状の被測定物であっても、何ら問題なく正確な三
次元形状の計測を行うことができ、各種物品の三次元形
状計測の能率化や作業性向上に大きく貢献することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を表す斜視図
【図2】基準球面体の測定状態を表す斜視図
【符号の説明】
10 定盤 20 支持構造 22 測定器 30 被測定物 40 小球(基準球面体) A、B 測定領域 C 球中心 D 重なり範囲 P1〜P3 基準球面上の測定点 R スポット光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 一柳 高畤 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−203905(JP,A) 特開 平4−5507(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01B 21/00 - 21/32

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 移動自在なスポット光による非接触式測
    定手段で、被測定物上の各点の位置を測定して、被測定
    物の三次元形状を計測する際に、被測定物の表面を複数
    領域に分けて、各領域毎に別々に測定を行い、それぞれ
    の測定結果を合成して被測定物全体の三次元形状を得る
    方法において、前記被測定物の表面に設定する複数領域
    のうち、隣接する領域同士に一部重なる範囲を設け、こ
    の重なり範囲の少なくとも3個所にスポット光の口径の
    10から100倍の球径を有する基準球面体を配置して
    おき、各領域における測定時に、各基準球面体のそれぞ
    れの表面の少なくとも3点に対して前記測定手段で位置
    を測定することで各基準球面体の球中心を求め、各領域
    における被測定物の測定結果を、各基準球面体の球中心
    を基準にして合成することを特徴とする三次元形状計測
    方法。
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