JP3229068B2 - TAB film and semiconductor device using the TAB film - Google Patents

TAB film and semiconductor device using the TAB film

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の実装に関
し、特にTAB(Tape Automated Bonding)フィルムを
用いて実装された半導体装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device mounting, and more particularly to a semiconductor device mounted using a TAB (Tape Automated Bonding) film.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の技術によるTABフィルムを用い
た半導体装置を、図2を参照して説明する。TABフィ
ルムは次のような構成である。フィルムキャリア21の
両端には該フィルムキャリア21を搬送するためのスプ
ロケットホ−ル22と、半導体チップ23を置くための
デバイスホ−ル24とアウタ−リ−ドホ−ル25とが設
けられている。フィルムキャリア21上には、インナ−
リ−ド26と該インナ−リ−ド26に連なるアウタ−リ
−ド27(入力側及び出力側)とが形成されている。こ
のようなTABフィルムを用いて、半導体チップ23は
表面上に設けられたパッド電極(図示せず)にインナ−
リ−ド26が接続されて実装される。但し上記パッド電
極は半導体チップ23の各辺と平行に列状に形成されて
いる。
2. Description of the Related Art A conventional semiconductor device using a TAB film will be described with reference to FIG. The TAB film has the following configuration. At both ends of the film carrier 21, a sprocket hole 22 for transporting the film carrier 21, a device hole 24 for placing a semiconductor chip 23, and an outer lead hole 25 are provided. . On the film carrier 21, an inner
A lead 26 and an outer lead 27 (input side and output side) connected to the inner lead 26 are formed. By using such a TAB film, the semiconductor chip 23 is connected to a pad electrode (not shown) provided on the surface by an inner layer.
A lead 26 is connected and mounted. However, the pad electrodes are formed in a row in parallel with each side of the semiconductor chip 23.

【0003】ここで、上記パッド電極と接続するインナ
−リ−ド26はX方向テ−プ中心線28またはY方向テ
−プ中心線29に対し並列に形成され、一方0LB(Ou
terLead Bonding)エリア30におけるアウタ−リ−ド
27はX方向テ−プ中心線28に対し並列に形成されて
いる。また、パッド電極ピッチ即ちインナ−リ−ドピッ
チ31と、OLBエリア30におけるアウタ−リ−ドピ
ッチ32とは異なるため、アウタ−リ−ド27に2カ所
の屈曲部33を設ける。
The inner lead 26 connected to the pad electrode is formed in parallel with the X-direction tape center line 28 or the Y-direction tape center line 29, while the 0LB (Ou).
The outer leads 27 in the terlead bonding area 30 are formed in parallel with the tape center line 28 in the X direction. Since the pad electrode pitch, that is, the inner lead pitch 31 is different from the outer lead pitch 32 in the OLB area 30, the outer lead 27 is provided with two bent portions 33.

【0004】ところで、TABフィルムを用いてパッケ
−ジングされた半導体装置を回路基板等に搭載するた
め、OLBエリア30は一定の領域を必要とする。従っ
て、パッケ−ジサイズ34をより縮小するには、2カ所
の屈曲部33の間(以下、配線領域35とする)を狭く
することが考えられる。配線領域35を狭くすると、配
線領域35におけるアウタ−リ−ド27のY方向テ−プ
中心線29を基準とする配線角度36は小さくなり、そ
れと同時に配線領域35におけるアウタ−リ−ド27の
配線ピッチ37も狭くなる。
In order to mount a semiconductor device packaged using a TAB film on a circuit board or the like, the OLB area 30 needs a certain area. Therefore, in order to further reduce the package size 34, it is conceivable to narrow the space between the two bent portions 33 (hereinafter, referred to as a wiring region 35). When the wiring area 35 is made narrower, the wiring angle 36 of the outer lead 27 in the wiring area 35 with respect to the Y-direction tape center line 29 becomes smaller, and at the same time, the outer lead 27 in the wiring area 35 becomes smaller. The wiring pitch 37 also becomes narrow.

【0005】しかしながら、狭い配線ピッチ37となる
ようにアウタ−リ−ド27を形成することは容易ではな
い。また、TABフィルム自体を折り曲げ立体的に実装
する際に配線領域35に応力がかかり、とりわけ屈曲部
33に応力が集中される。そのため屈曲部33からの破
断が発生しやすく、数多くの屈曲部33を有することは
それだけ半導体装置の信頼性の低下につながっている。
However, it is not easy to form the outer leads 27 so as to have a narrow wiring pitch 37. Further, when the TAB film is folded and mounted three-dimensionally, stress is applied to the wiring region 35, and the stress is particularly concentrated on the bent portion 33. Therefore, breakage from the bent portion 33 is likely to occur, and having a large number of bent portions 33 leads to a decrease in the reliability of the semiconductor device.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述のように、TAB
フィルムを用いた半導体装置のパッケ−ジサイズを縮小
するために、TABフィルムにおける配線領域を狭くす
ることにより達成するには限界がある。また、破断箇所
となる屈曲部は少ない程望ましい。
SUMMARY OF THE INVENTION As described above, TAB
In order to reduce the package size of a semiconductor device using a film, there is a limit to achieving this by reducing the wiring area in the TAB film. Further, it is desirable that the number of bends serving as break points be as small as possible.

【0007】それ故に、本発明の目的は、パッケ−ジサ
イズを縮小すると共に信頼性の高いTABフィルム及び
そのTABフィルムを用いた半導体装置を提供すること
である。
It is therefore an object of the present invention to provide a highly reliable TAB film with a reduced package size and a semiconductor device using the TAB film.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明によるTABフィ
ルムは、フィルムキャリア上にインナ−リ−ド及びアウ
タリ−ドとが次のように形成されている。上記インナ−
リ−ドはY方向テ−プ中心線に対し斜めに形成され、さ
らに上記インナ−リ−ドに続く上記アウタ−リ−ドはO
LBエリアの先端まで上記インナ−リ−ド同様に斜めに
形成され、OLBエリアの先端において屈曲し、X方向
テ−プ中心線と並列に形成される。
The TAB film according to the present invention has an inner lead and an outer lead formed on a film carrier as follows. The inner
The lead is formed obliquely with respect to the center line of the Y-direction tape, and the outer lead following the inner lead is O.
It is formed obliquely to the tip of the LB area like the above-mentioned inner lead, bent at the tip of the OLB area, and formed parallel to the tape center line in the X direction.

【0009】半導体チップは該チップの各辺に対して斜
めに配置されたパッド電極を有しており、該パッド電極
は上記インナ−リ−ドに接続され、上記半導体チップは
上記TABフィルムを用いてパッケ−ジングされる。
The semiconductor chip has pad electrodes arranged obliquely with respect to each side of the chip, the pad electrodes are connected to the inner leads, and the semiconductor chip uses the TAB film. And packaged.

【0010】[0010]

【作用】上記TABフィルムによれば、上記インナ−リ
−ド及び上記アウタ−リ−ドとはY方向テ−プ中心線を
基準とする角度を大きく採ることができるため、それら
リ−ドを容易に形成することができると共にパッケ−ジ
サイズを縮小することもできる。また、上記アウタ−リ
−ドの屈曲箇所は各々一つの屈曲部のみであり、破断箇
所となる屈曲部を大幅に減少され信頼性の高い半導体装
置を提供することが可能である。
According to the TAB film, the inner lead and the outer lead can take a large angle with respect to the center line of the Y-direction tape. It can be formed easily and the package size can be reduced. Further, the outer lead has only one bent portion, and the number of bent portions to be broken is greatly reduced, so that a highly reliable semiconductor device can be provided.

【0011】[0011]

【実施例】本発明による一実施例を図1より説明する。
図1は、TABフィルムを用いた半導体装置を模式的に
表す平面図である。TABフィルムは次のような構成で
ある。フィルムキャリア1の両端には該フィルムキャリ
ア1を搬送するためのスプロケットホ−ル2と、半導体
チップ3を置くためのデバイスホ−ル4とアウタ−リ−
ドホ−ル5とが設けられている。フィルムキャリア1上
にはインナ−リ−ド6と該インナ−リ−ド6に連なるア
ウタ−リ−ド7(入力側及び出力側)とが形成されてい
る。このようなTABフィルムを用いて半導体チップ3
は、その表面上に設けられたパッド電極(図示せず)に
インナ−リ−ド6を接続することにより実装される。但
し、上記パッド電極は半導体チップ3の各辺に対して一
定の角度を持つように、つまり各辺に対して斜めとなる
配置に形成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment according to the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is a plan view schematically showing a semiconductor device using a TAB film. The TAB film has the following configuration. At both ends of the film carrier 1, a sprocket hole 2 for carrying the film carrier 1, a device hole 4 for placing the semiconductor chip 3 and an outer reel.
A door 5 is provided. On the film carrier 1, an inner lead 6 and an outer lead 7 (input side and output side) connected to the inner lead 6 are formed. Using such a TAB film, a semiconductor chip 3
Is mounted by connecting an inner lead 6 to a pad electrode (not shown) provided on the surface thereof. However, the pad electrodes are formed so as to have a certain angle with respect to each side of the semiconductor chip 3, that is, to be inclined with respect to each side.

【0012】ここで、上記パッド電極と接続されるイン
ナ−リ−ド6に連なるアウタ−リ−ド7は、例えばY方
向テ−プ中心線8に対し一定の配線角度9を有し、屈曲
部10を通過し0LB(Outer Lead Bonding)エリア1
1におけるアウタ−リ−ド7はX方向テ−プ中心線12
に対し並列に形成されている。従って、各アウタ−リ−
ド7は一つの屈曲部10を有する形状となる。さらに、
アウタ−リ−ド7はインナ−リ−ド6から屈曲部10ま
で直線的に形成されるため、配線角度9を大きくとるこ
とができ配線ピッチ13も大きくすることができる。
The outer lead 7 connected to the inner lead 6 connected to the pad electrode has, for example, a fixed wiring angle 9 with respect to the Y-direction tape center line 8 and is bent. 0LB (Outer Lead Bonding) area 1 after passing part 10
The outer lead 7 at 1 is a tape center line 12 in the X direction.
Are formed in parallel. Therefore, each outer reel
The arm 7 has a shape having one bent portion 10. further,
Since the outer lead 7 is formed linearly from the inner lead 6 to the bent portion 10, the wiring angle 9 can be increased and the wiring pitch 13 can be increased.

【0013】つまり、インナ−リ−ド6自体をY方向テ
−プ中心線8に対し斜めに形成するため、インナ−リ−
ド6に続くアウタ−リ−ド7をもOLBエリア11に至
る屈曲部10までインナ−リ−ド6同様に斜めに形成す
ることが可能である。それにより、OLBエリア11ま
でのアウタ−リ−ド7の領域を狭くすることができると
同時にOLBエリア11においても回路基板等に搭載す
る際に必要な一定領域を確保することができる。このよ
うなTABフィルムを用いた半導体装置とすることによ
り、パッケ−ジサイズ14を大幅に縮小することが可能
であり、その結果コストダウンを図ることができる。更
に、屈曲部10を一か所とすることは、実装時の応力集
中箇所、即ち破断箇所を少なくすることであり、高信頼
性の半導体装置を提供することができる。
That is, since the inner lead 6 itself is formed obliquely with respect to the center line 8 of the Y-direction tape, the inner lead 6 is formed.
The outer lead 7 following the lead 6 can be formed obliquely like the inner lead 6 up to the bent portion 10 reaching the OLB area 11. As a result, the area of the outer lead 7 up to the OLB area 11 can be narrowed, and at the same time, a certain area required for mounting on the circuit board or the like can be secured also in the OLB area 11. By using a semiconductor device using such a TAB film, the package size 14 can be significantly reduced, and as a result, the cost can be reduced. Furthermore, the use of one bent portion 10 reduces the number of stress concentration portions at the time of mounting, that is, the number of rupture portions, so that a highly reliable semiconductor device can be provided.

【0014】なお、本実施例は半導体チップの各辺に対
し斜めに配置されたパッド電極のみを有する半導体チッ
プの場合であるが、斜めに配置されたパッド電極と共に
辺と平行になるように列状に配置されたパッド電極を含
む半導体チップの場合であっても、斜めに配置されたパ
ッド電極に対して本実施例と同様に適用することができ
る。
In this embodiment, a semiconductor chip having only pad electrodes arranged obliquely with respect to each side of the semiconductor chip is used. Even in the case of a semiconductor chip including pad electrodes arranged in a diagonal manner, the present invention can be applied to pad electrodes arranged obliquely in the same manner as in the present embodiment.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明によれば、インナ−リ−ドをY方
向テ−プ中心線に対し斜めに形成し、それに続くアウタ
−リ−ドの屈曲部を一か所とすることができる。それゆ
え、パケ−ジサイズを縮小すると共に高信頼性の半導体
装置を提供することができる。
According to the present invention, the inner lead can be formed obliquely with respect to the center line of the tape in the Y direction, and the bent portion of the outer lead that follows can be formed at one place. . Therefore, a highly reliable semiconductor device with a reduced package size can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による半導体装置を模式的に示す平面図
である。
FIG. 1 is a plan view schematically showing a semiconductor device according to the present invention.

【図2】従来の技術による半導体装置を模式的に示す平
面図である。
FIG. 2 is a plan view schematically showing a semiconductor device according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…フィルムキャリア、2…スプロットホ−ル、3…半
導体チップ 4…デバイスホ−ル、5…アウタ−リ−ドホ−ル、6…
インナ−リ−ド 7…アウタ−リ−ド、8…Y方向テ−プ中心線、9…配
線角度、10…屈曲部 11…0LB(Outer Lead Bonding)エリア、12…X
方向テ−プ中心線 13…配線ピッチ、14…パッケ−ジサイズ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Film carrier, 2 ... Splot hole, 3 ... Semiconductor chip 4 ... Device hole, 5 ... Outer lead hole, 6 ...
Inner lead 7 ... Outer lead, 8 ... Y-direction tape center line, 9 ... Wiring angle, 10 ... Bend portion 11 ... 0LB (Outer Lead Bonding) area, 12 ... X
Direction tape center line 13: wiring pitch, 14: package size.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 少なくとも辺に対して斜めに配置された
パッド電極を有する半導体チップと、 フィルムキャリアの中心線に対し角度を有するインナー
リードと、上記角度を有し形成された領域と上記中心線
と垂直に形成された領域とからなるアウターリードとを
少なくとも含むTABフィルムとを備え、 上記インナーリードは上記パッド電極と接続されること
を特徴とする半導体装置。
1. A semiconductor chip having a pad electrode arranged at least obliquely with respect to a side, an inner lead having an angle with respect to a center line of a film carrier, a region formed with the angle and the center line. And a TAB film including at least an outer lead including a region formed perpendicularly to the inner electrode, and the inner lead is connected to the pad electrode.
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