JP3191243B2 - Method of manufacturing conductive resin paste and semiconductor device - Google Patents

Method of manufacturing conductive resin paste and semiconductor device

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JP3191243B2
JP3191243B2 JP08373691A JP8373691A JP3191243B2 JP 3191243 B2 JP3191243 B2 JP 3191243B2 JP 08373691 A JP08373691 A JP 08373691A JP 8373691 A JP8373691 A JP 8373691A JP 3191243 B2 JP3191243 B2 JP 3191243B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は導電性樹脂ペースト、さ
らに詳しくは半導体素子を支持部材に接合させるのに好
適な導電性樹脂ペーストおよびこれを用いた半導体装置
の製造法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a conductive resin paste, and more particularly to a conductive resin paste suitable for bonding a semiconductor element to a support member and a method of manufacturing a semiconductor device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体素子をリードフレーム等の
支持部材に接合させる方法として、(1)Au−Si共
晶法、(2)半田法、(3)樹脂ペースト法などが知ら
れている。しかし、(1)の方法では金を用いるため、
コスト高となり、また作業温度も約400℃と高い欠点
がある。(2)の方法は(1)に較べると割安である
が、半導体素子裏面に金の薄膜を設ける必要があり、金
の薄膜形成にコストがかかる等の欠点がある。(3)の
方法は、エポキシ樹脂またはポリイミド樹脂のベースレ
ジンに銀粉をフィラーとして混合させた樹脂ペーストを
用いるものであり、上記(1)および(2)の方法より
安価な方法であり、また200℃以下の温度で使用でき
る等の利点があるため、現在ではこの樹脂ペースト法が
主流となってきている。
2. Description of the Related Art Heretofore, as a method for joining a semiconductor element to a support member such as a lead frame, there are known (1) Au-Si eutectic method, (2) soldering method, and (3) resin paste method. . However, since the method (1) uses gold,
The cost is high and the working temperature is as high as about 400 ° C. The method (2) is cheaper than the method (1), but has a drawback that a gold thin film must be provided on the back surface of the semiconductor element, and the formation of the gold thin film is costly. The method (3) uses a resin paste obtained by mixing silver powder as a filler with a base resin of an epoxy resin or a polyimide resin, and is a cheaper method than the methods (1) and (2). At present, this resin paste method has become mainstream because of its advantages such as its ability to be used at a temperature of not more than ° C.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
樹脂ペーストは、150〜200℃のオーブンで1〜2
時間加熱して硬化する必要があるため、半導体組立工程
のインライン化による合理化がしにくい欠点があった。
また1分以内での硬化を可能にした場合には、シェルフ
ライフが短く、接着強度、特に200〜350℃に加熱
したときの熱時接着強度が低く、またボイドの発生が多
い等の問題があった。
However, the conventional resin paste is heated in an oven at 150 to 200 ° C. for 1 to 2 times.
There is a disadvantage that it is difficult to rationalize the semiconductor assembly process by in-line since it is necessary to heat and cure for a long time.
In addition, when curing within 1 minute is enabled, problems such as short shelf life, low bonding strength, particularly when heated to 200 to 350 ° C., and low generation of voids are also encountered. there were.

【0004】本発明の目的は、上記従来技術の問題点を
解決し、200〜350℃で加熱したときの接着強度お
よび作業性に優れた導電性樹脂ペーストおよびこれを用
いた半導体装置の製造法を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to provide a conductive resin paste excellent in adhesive strength and workability when heated at 200 to 350 ° C. and a method of manufacturing a semiconductor device using the same. Is to provide.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、(A)フェノ
ールノボラック型エポキシ樹脂およびエピ・ビス型エポ
キシ樹脂からなる混合エポキシ樹脂、(B)フェノール
ノボラック樹脂および/またはフェノールアラルキル樹
脂、(C)有機ボレート塩、(D)グリシジル基を1個
有するシラン化合物を少なくとも1成分として含む希釈
剤ならびに(E)導電性金属粉を含有してなる導電性樹
脂ペーストおよびこれを用いた半導体装置の製造法に関
する。
The present invention provides (A) a mixed epoxy resin comprising a phenol novolak type epoxy resin and an epi-bis type epoxy resin, (B) a phenol novolak resin and / or a phenol aralkyl resin, and (C) Organic borate salt, (D) a diluent containing at least one silane compound having one glycidyl group as a component, and (E) a conductive resin paste containing conductive metal powder, and a method for manufacturing a semiconductor device using the same About.

【0006】本発明に用いられる混合エポキシ樹脂
(A)は、フェノールノボラック型エポキシ樹脂とエピ
・ビス型エポキシ樹脂の混合物であり、これらの混合割
合は、耐熱性および接着強度の点から、重量比(フェノ
ールノボラック型エポキシ樹脂/エピ・ビス型エポキシ
樹脂)で20/80〜95/5の範囲が好ましい。
[0006] The mixed epoxy resin (A) used in the present invention is a mixture of a phenol novolak type epoxy resin and an epi-bis type epoxy resin. (Phenol novolak type epoxy resin / epi-bis type epoxy resin) is preferably in the range of 20/80 to 95/5.

【0007】フェノールノボラック型エポキシ樹脂は、
フェノールノボラック樹脂またはクレゾールノボラック
樹脂のグリシジルエーテルであり、例えばダウケミカル
社製商品名DEN−438、東都化成社製商品名YDC
N−701、702などが挙げられる。
A phenol novolak type epoxy resin is
A glycidyl ether of a phenol novolak resin or a cresol novolak resin, for example, DEN-438 (trade name, manufactured by Dow Chemical Company, YDC, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.)
N-701 and 702.

【0008】エピ・ビス型エポキシ樹脂は、ビスフェノ
ールA、ビスフェノールAD、ビスフェノールF、ビス
フェノールS、アルキル化ビスフェノールAまたはハロ
ゲン化ビスフェノールAとエピクロロヒドリンとの縮合
物であり、例えば油化シェルエポキシ社製商品名EP−
828、EP−1001、EP−1004、東都化成社
製商品名YDF−170、YDB−340、三井石油化
学社製商品名R−710などが挙げられる。
The epi-bis type epoxy resin is a condensate of bisphenol A, bisphenol AD, bisphenol F, bisphenol S, alkylated bisphenol A or halogenated bisphenol A with epichlorohydrin. Product name EP-
828, EP-1001, EP-1004, trade names YDF-170 and YDB-340 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., and trade name R-710 manufactured by Mitsui Petrochemical Co., Ltd.

【0009】本発明に用いられるフェノールノボラック
樹脂(B)はエポキシ樹脂の主硬化剤として用いられ、
例えば明和化成社製商品名H−1、日立化成社製商品名
Hp−607Nなどが挙げられる。本発明に用いられる
フェノールアラルキル樹脂は、α、α′−ジメトキシ−
p−キシレンとフェノールモノマをフリーデルクラフツ
触媒で重縮合させて得られる樹脂であり、上記エポキシ
樹脂の硬化剤として用いられる。この市販品としては三
井東圧化学社製商品名XL−225、アルブライトアン
ドウィルソン社製商品名XYLOK−225などが挙げ
られる。フェノールノボラック樹脂および/またはフェ
ノールアラルキル樹脂(B)の配合量は、硬化性および
硬化物特性の点から、混合エポキシ樹脂(A)のエポキ
シ基1当量に対してフェノールノボラック樹脂および/
またはフェノールアラルキル樹脂(B)の水酸基が0.
6〜1.5当量の範囲となるように用いるのが好まし
い。
The phenol novolak resin (B) used in the present invention is used as a main curing agent for an epoxy resin,
Examples include Meiwa Kasei's trade name H-1 and Hitachi Chemical's trade name Hp-607N. The phenol aralkyl resin used in the present invention is α, α′-dimethoxy-
A resin obtained by polycondensing p-xylene and phenol monomer with a Friedel-Crafts catalyst, and is used as a curing agent for the epoxy resin. Examples of commercially available products include XL-225 (trade name, manufactured by Mitsui Toatsu Chemicals, Inc., XYLOK-225, trade name, manufactured by Albright & Wilson Co., Ltd.). The amount of the phenol novolak resin and / or the phenol aralkyl resin (B) is determined based on the equivalent of the epoxy group of the mixed epoxy resin (A) from the viewpoint of curability and cured product properties.
Alternatively, the phenol aralkyl resin (B) has a hydroxyl group of 0.1.
It is preferable to use so as to be in the range of 6 to 1.5 equivalents.

【0010】本発明で用いられる有機ボレート塩(C)
は硬化促進剤として用いられ、例えばテトラフェニルホ
スホニウム・テトラフェニルボレート塩(北興化学社
製)、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセ
ン−7・テトラフェニルボレート塩(サンアプロ社
製)、2−エチル−4−メチルイミダゾール・テトラフ
ェニルボレート塩(北興化学社製)が挙げられる。有機
ボレート塩(C)の配合量は、硬化性および保存安定性
の点から、混合エポキシ樹脂(A)とフェノールノボラ
ック樹脂および/またはフェノールアラルキル樹脂
(B)の総量100重量部に対して0.1〜30重量部
とするのが好ましい。
The organic borate salt (C) used in the present invention
Is used as a curing accelerator, for example, tetraphenylphosphonium / tetraphenylborate salt (manufactured by Hokuko Chemical), 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene-7.tetraphenylborate salt (manufactured by San Apro), 2-ethyl-4-methylimidazole tetraphenylborate salt (manufactured by Hokko Chemical Co., Ltd.). The amount of the organic borate salt (C) to be added is preferably 0.1 to 100 parts by weight of the total amount of the mixed epoxy resin (A) and the phenol novolak resin and / or the phenol aralkyl resin (B) from the viewpoint of curability and storage stability. It is preferable to use 1 to 30 parts by weight.

【0011】本発明で用いられる希釈剤(D)は、その
1成分としてグリシジル基を1個有するシラン化合物を
含む。このシラン化合物としては、例えばγ−グリシド
キシプロピルトリメトキシシラン(信越化学製 KBM
−403)、γ−グリシドキシプロピルメチルジメトキ
シシラン(東芝シリコーン製 TSL−8355)、γ
−グリシドキシプロピルペンタメチルジシロキサン(東
芝シリコーン製 TSL−9905)、γ−グリシドキ
シプロピルメチルジエトキシシラン(チッソ製)、γ−
グリシドキシプロピルジメチルエトキシシラン(チッソ
製)、(γ−グリシドキシプロピル)−ビス−(トリメ
チルシロキシ)メチルシラン(チッソ製)などが挙げら
れ、その含有量は、接着強度の点から、希釈剤(D)の
総量に対して20〜100重量%とするのが好ましい。
The diluent (D) used in the present invention contains a silane compound having one glycidyl group as one component. As this silane compound, for example, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane (KBM manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
-403), γ-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane (TSL-8355 manufactured by Toshiba Silicone), γ
-Glycidoxypropylpentamethyldisiloxane (TSL-9905 manufactured by Toshiba Silicone), γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane (manufactured by Chisso), γ-
Glycidoxypropyldimethylethoxysilane (manufactured by Chisso), (γ-glycidoxypropyl) -bis- (trimethylsiloxy) methylsilane (manufactured by Chisso), and the like. It is preferable that the content is 20 to 100% by weight based on the total amount of (D).

【0012】シラン化合物以外の希釈剤としては、例え
ばエチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、セロソルブア
セテート、ブチルセロソルブアセテート、エチルカルビ
トール、エチルカルビトールアセテート、ブチルカルビ
トール、ブチルカルビトールアセテート、α−テルピネ
オールなどの沸点が100℃以上の有機溶剤、フェニル
グリシジルエーテル、クレジルグリシジルエーテル、p
−(t−ブチル)フェニルグリシジルエーテル、p−
(sec−ブチル)フェニルグリシジルエーテル、ブタ
ンジオールジグリシジルエーテルなどの1分子中にエポ
キシ基を1〜2個有する反応性希釈剤等が用いられる。
The diluents other than the silane compound include, for example, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, ethyl carbitol, ethyl carbitol acetate, butyl carbitol, butyl carbitol acetate, α-terpineol and the like having a boiling point of 100. Organic solvent above ℃, phenyl glycidyl ether, cresyl glycidyl ether, p
-(T-butyl) phenyl glycidyl ether, p-
A reactive diluent having one or two epoxy groups in one molecule such as (sec-butyl) phenyl glycidyl ether and butanediol diglycidyl ether is used.

【0013】希釈剤(D)は、導電性樹脂ペーストの粘
度を調整し、作業性を改善するために用いられるが、上
記シラン化合物の使用によりカップリング効果を付与す
るとともに200〜350℃における導電性樹脂ペース
ト硬化物の熱時接着強さを向上することができる。これ
らの希釈剤の配合量は、作業性および導電性樹脂ペース
トの安定性の点から、混合エポキシ樹脂(A)とフェノ
ールノボラック樹脂および/またはフェノールアラルキ
ル樹脂(B)の総量100重量部に対して5〜800重
量部とするのが好ましい。
The diluent (D) is used for adjusting the viscosity of the conductive resin paste and improving the workability. The diluent (D) imparts a coupling effect by using the silane compound, and has a conductive property at 200 to 350 ° C. Adhesive strength of the cured resin paste when heated can be improved. The mixing amount of these diluents is 100 parts by weight based on the total amount of the mixed epoxy resin (A) and phenol novolak resin and / or phenol aralkyl resin (B) from the viewpoint of workability and stability of the conductive resin paste. It is preferably from 5 to 800 parts by weight.

【0014】本発明に用いられる導電性金属粉(E)
は、導電性樹脂ペーストに導電性を付与するものであ
り、銀、金、銅、ニッケル、鉄、ステンレスなどの導電
性粉体が用いられる。例えば、銀粉としては徳力化学社
製商品名TCG−1、金粉としては徳力化学社製商品名
TA−1、銅粉としては福田金属箔粉社製商品名CE−
115、ニッケル粉としてはインコ社製商品名Type
−123、鉄粉としては福田金属箔粉社製商品名Fe−
S−100、ステンレス粉としては福田金属箔粉社製商
品名SUS304Lがある。これらのうち耐酸化性およ
び導電性の点から銀が好ましい。該導電性金属粉(E)
の配合量は、混合エポキシ樹脂(A)およびフェノール
ノボラック樹脂および/またはフェノールアラルキル樹
脂(B)の総量100重量部に対して100〜1000
重量部の範囲が好ましい。
The conductive metal powder (E) used in the present invention
Is for imparting conductivity to a conductive resin paste, and conductive powder such as silver, gold, copper, nickel, iron, and stainless steel is used. For example, TCG-1 (trade name, manufactured by Tokuri Chemical Co., Ltd.) as silver powder, TA-1 (trade name, manufactured by Tokuri Chemical Co., Ltd.) as gold powder, and CE- (trade name, Fukuda Metal Foil Powder) as copper powder.
115, Nickel powder is a product name of Type manufactured by Inco
-123, as iron powder, trade name Fe- manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd.
As S-100 and stainless steel powder, there is SUS304L (trade name, manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd.). Among them, silver is preferable from the viewpoints of oxidation resistance and conductivity. The conductive metal powder (E)
Is 100 to 1000 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the mixed epoxy resin (A) and the phenol novolak resin and / or the phenol aralkyl resin (B).
A range of parts by weight is preferred.

【0015】本発明になる導電性樹脂ペーストには、シ
ランカップリング剤、チタンカップリング剤等の接着力
向上剤、ノニオン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤な
どの濡れ向上剤、シリコーン油などの消泡剤を適宜加え
ることができる。
[0015] The conductive resin paste according to the present invention includes an adhesion enhancer such as a silane coupling agent and a titanium coupling agent, a wetting enhancer such as a nonionic surfactant and a fluorine surfactant, and silicone oil. Can be added as appropriate.

【0016】本発明になる導電性樹脂ペーストは、例え
ば、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エピ・ビス
型エポキシ樹脂およびフェノールノボラック樹脂および
/またはフェノールアラルキル樹脂の所定量を一括また
は分割して希釈剤の所定量と混合し、必要に応じて加熱
しながら混合、撹拌して溶解させ、得られたワニスの所
定量と硬化促進剤、希釈剤、導電性金属粉および必要に
応じて添加されるカップリング剤等の添加剤を一括また
は分割して加え、撹拌器、らいかい器、3本ロール、ボ
ールミルなどの分散機を適宜組合わせて混練または溶解
して作製することができる。
The conductive resin paste according to the present invention may be prepared, for example, by diluting a predetermined amount of a phenol novolak type epoxy resin, an epi-bis type epoxy resin and a phenol novolak resin and / or a phenol aralkyl resin into a diluent. Mix with a fixed amount, mix and stir with heating if necessary, dissolve by stirring, obtain a predetermined amount of varnish and a curing accelerator, diluent, conductive metal powder, and a coupling agent to be added as necessary And the like, are added in a lump or dividedly, and kneaded or dissolved by appropriately combining dispersers such as a stirrer, a grinder, a three-roller, and a ball mill.

【0017】本発明になる導電性樹脂ペーストを用いて
半導体素子を支持部材に接合させて半導体装置とされ
る。例えば、本発明になる導電性樹脂ペーストを支持部
材に塗布し、この上に半導体素子を置いて圧着し加熱し
てこのペーストを硬化させて半導体素子を支持部材に接
合させて半導体装置とする。
A semiconductor device is obtained by joining a semiconductor element to a support member using the conductive resin paste according to the present invention. For example, a conductive resin paste according to the present invention is applied to a support member, and a semiconductor element is placed on the support member, pressed and heated to cure the paste, and the semiconductor element is joined to the support member to obtain a semiconductor device.

【0018】本発明になる導電性樹脂ペーストは、I
C、LSI等の半導体素子のリードフレーム、セラミッ
ク配線板、ガラスエポキシ配線板等の支持部材への接
合、タンタルコンデンサチップのリードフレームへの接
合等の接合材料として好適である。
The conductive resin paste according to the present invention comprises I
It is suitable as a joining material for joining a semiconductor element such as a C or LSI to a support member such as a lead frame, a ceramic wiring board, or a glass epoxy wiring board, and joining a tantalum capacitor chip to a lead frame.

【0019】[0019]

【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。実施
例1〜9および比較例1〜4表1に示すそれぞれの組成
のDEN−438、EP−1001、H−1、XL−2
25、KBM−403およびブチルセロソルブを100
℃加熱下で溶解してワニスを調製し、このワニスとTC
G−1をらいかい機で混練し、導電性樹脂ペーストを作
製し、その特性を下記の方法で測定し、その結果を表1
に示した。
The present invention will be described below with reference to examples. Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 4 DEN-438, EP-1001, H-1, XL-2 having the respective compositions shown in Table 1.
25, KBM-403 and butyl cellosolve in 100
A varnish is prepared by dissolving the mixture under heating at 400 ° C.
G-1 was kneaded with a grinder to prepare a conductive resin paste, and its properties were measured by the following methods.
It was shown to.

【0020】(1)導電性樹脂ペーストの粘度 東京計器社製のEHD型回転粘度計を用い、25℃にお
ける粘度を測定した。 (2)接着強さ 得られた導電性樹脂ペーストを銀メッキ付銅リードフレ
ーム上に塗布した後、2mm×2mmのシリコンチップ
を乗せて圧着し、250℃に設定したヒートブロック上
に30秒間放置して硬化させた。この硬化した試料の室
温での剪断接着強さおよび350℃での熱時剪断接着強
さを、プッシュプルゲージ(アイコーエンジニアリング
社製)を用いて測定した。 (3)粘度安定性 導電性樹脂ペーストを25℃で10日間放置したのちの
粘度を測定し、この粘度が初期の粘度の0.8〜1.2
倍の範囲内にあるものを○で示し、範囲外のものを×で
示した。また表1で使用した原料は次のとおりである。 DEN−438:フェノールノボラック型エポキシ樹脂 (ダウケミカル社製商品名、エポキシ当量200) EP−1001:エピ・ビス型エポキシ樹脂 (油化シェルエポキシ社製商品名、エポキシ当量=45
0) XL−225:フェノールアラルキル樹脂 (三井東圧化学社製商品名、水酸基当量185) H−1:フェノールノボラック樹脂 (明和化成社製商品名、水酸基当量106) KBM−403:希釈剤 (信越化学社製商品名、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン)ブチルセロソルブ:希釈剤 (関東化学社製商品名、試薬特級) TCG−1:導電性金属粉 (徳力化学社製、フレーク状銀粉) TPP・TPB:硬化促進剤 (テトラフェニルホスホニウム・テトラフェニルボレー
ト塩、北興化学社製) 2E4MZ・TPB:硬化促進剤 (2−エチル−4−メチルイミダゾール・テトラフエニ
ルボレート塩、北興化学社製) DBU・TPB:硬化促進剤 (1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−
7・テトラフェニルボレート塩、サンアプロ社製) 2PZ−OK:硬化促進剤 (2−フェニルイミダゾール・イソシアヌール酸付加
物、四国化成社製商品名)
(1) Viscosity of conductive resin paste The viscosity at 25 ° C. was measured using an EHD type rotational viscometer manufactured by Tokyo Keiki. (2) Adhesive strength The obtained conductive resin paste was applied on a silver-plated copper lead frame, and then placed on a 2 mm × 2 mm silicon chip and pressed, and left on a heat block set at 250 ° C. for 30 seconds. And cured. The shear strength at room temperature and the shear strength at 350 ° C. of the cured sample were measured using a push-pull gauge (manufactured by Aiko Engineering Co., Ltd.). (3) Viscosity stability The viscosity of the conductive resin paste after leaving it to stand at 25 ° C. for 10 days was measured, and this viscosity was 0.8 to 1.2 of the initial viscosity.
Those within the doubled range were indicated by o, and those outside the range were indicated by x. The raw materials used in Table 1 are as follows. DEN-438: Phenol novolak type epoxy resin (trade name, manufactured by Dow Chemical Co., epoxy equivalent: 200) EP-1001: Epi-bis type epoxy resin (trade name, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., epoxy equivalent = 45)
0) XL-225: Phenol aralkyl resin (trade name, manufactured by Mitsui Toatsu Chemicals, hydroxyl equivalent: 185) H-1: Phenol novolak resin (trade name, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent: 106) KBM-403: Diluent (Shin-Etsu Chemical company's trade name, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane) butyl cellosolve: diluent (Kanto Chemical's trade name, reagent grade) TCG-1: conductive metal powder (Tokuriki Chemical's flake silver powder) TPP・ TPB: Curing accelerator (tetraphenylphosphonium / tetraphenylborate salt, manufactured by Hokko Chemical Co., Ltd.) 2E4MZ ・ TPB: Curing accelerator (2-ethyl-4-methylimidazole / tetraphenylborate salt, manufactured by Hokko Chemical Co.) DBU -TPB: curing accelerator (1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene-
7. Tetraphenylborate salt, manufactured by San Apro Co.) 2PZ-OK: curing accelerator (2-phenylimidazole / isocyanuric acid adduct, trade name, manufactured by Shikoku Chemicals)

【0021】[0021]

【表1】 [Table 1]

【0022】表1から、フェノールノボラック型エポキ
シ樹脂とエピ・ビス型エポキシ樹脂を併用した実施例1
〜3は、これらのエポキシ樹脂を単独で用いた比較例
1、2に比較して接着強さが高く、またグリシジル基を
1個有する化合物(KBM−403)を添加しない比較
例3では、350℃における接着強さが低く、さらに硬
化促進剤としてイミダゾール類を用いた比較例4では、
充分な接着強さは得られるが、粘度安定性に欠けること
が示される。
From Table 1, it can be seen from Example 1 that a phenol novolak type epoxy resin and an epi-bis type epoxy resin were used in combination.
In Comparative Examples 3 to 3, the adhesive strength was higher than those in Comparative Examples 1 and 2 in which these epoxy resins were used alone, and in Comparative Example 3 in which the compound having one glycidyl group (KBM-403) was not added. In Comparative Example 4 in which the adhesive strength at a temperature of 0 ° C. was low and imidazoles were used as a curing accelerator,
Sufficient adhesive strength is obtained, but lacks viscosity stability.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明の導電性樹脂ペーストによれば、
200〜350℃の熱時接着強さを低下させずに短時間
でIC、LSI等の半導体素子を、リードフレーム、セ
ラミック配線板、ガラスエポキシ基板等への支持部材に
接合することができるため、接合工程のインライン化が
可能となり、半導体装置の大幅なコスト低減を図ること
ができる。
According to the conductive resin paste of the present invention,
Since a semiconductor element such as an IC or an LSI can be bonded to a support member for a lead frame, a ceramic wiring board, a glass epoxy board, or the like in a short time without lowering the adhesive strength when heated at 200 to 350 ° C. The joining process can be inlined, and the cost of the semiconductor device can be significantly reduced.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI C08K 5/5435 C08K 5/5435 C09J 163/00 C09J 163/00 H01L 21/52 H01L 21/52 E (72)発明者 藤田 公英 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立 化成工業株式会社 山崎工場内 (72)発明者 川澄 雅夫 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立 化成工業株式会社 山崎工場内 (56)参考文献 特開 平1−189806(JP,A) 特開 昭59−172571(JP,A) 特開 昭64−60679(JP,A) 特公 昭63−4701(JP,B2) 新保正樹編「エポキシ樹脂ハンドブッ ク」(昭和62年12月25日初版1刷発行) 日刊工業新聞社、第19〜21、61〜62頁 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C08L 63/00 - 63/10 C08K 3/08 C08K 5/5435 C08G 59/38 C08G 59/62 C08G 59/68 C09J 163/00 - 163/10 H01L 21/52 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI C08K 5/5435 C08K 5/5435 C09J 163/00 C09J 163/00 H01L 21/52 H01L 21/52 E (72) Inventor: Kimihide Fujita Hitachi Chemical Industry Co., Ltd. Yamazaki Plant, Hitachi City, Ibaraki Pref. 4-1-1, Higashi-cho (72) Inventor Masao Kawasumi 4-3-1, Higashicho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture, Hitachi Chemical Co., Ltd. Yamazaki Plant (56) References JP-A-1-189806 (JP, A) JP-A-59-172571 (JP, A) JP-A-64-60679 (JP, A) JP-B-63-4701 (JP, B2) Masaki Shinbo “Epoxy resin” Handbook ”(1st edition of the first edition issued on December 25, 1987) Nikkan Kogyo Shimbun, pages 19-21, 61-62 (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) C08L 63/00 -63/10 C08K 3/08 C08K 5/5435 C08G 59/38 C08G 59/62 C08G 59/68 C09J 163/00-163/10 H01L 21/52

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 (A)フェノールノボラック型エポキシ
樹脂およびエピ・ビス型エポキシ樹脂からなる混合エポ
キシ樹脂、 (B)フェノールノボラック樹脂および/またはフェノ
ールアラルキル樹脂、 (C)有機ボレート塩、 (D)グリシジル基を1個有するシラン化合物を少なく
とも1成分として含む希釈剤ならびに (E)導電性金属粉を含有してなる導電性樹脂ペース
ト。
1. A mixed epoxy resin comprising (A) a phenol novolak epoxy resin and an epi-bis epoxy resin, (B) a phenol novolak resin and / or a phenol aralkyl resin, (C) an organic borate salt, and (D) glycidyl. A conductive resin paste containing (E) a conductive metal powder and a diluent containing at least one silane compound having one group.
【請求項2】 請求項1記載の導電性樹脂ペーストを用
いて半導体素子を支持部材に接合させる半導体装置の製
造法。
2. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising joining a semiconductor element to a support member using the conductive resin paste according to claim 1.
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JP4019902B2 (en) * 2002-11-13 2007-12-12 松下電器産業株式会社 Solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof
JP5352955B2 (en) * 2006-12-05 2013-11-27 信越化学工業株式会社 Adhesive composition
JP2008218901A (en) * 2007-03-07 2008-09-18 The Inctec Inc Curable conductive paste composition and printed wiring board
CN101765646B (en) * 2007-07-31 2015-03-04 住友电木株式会社 Liquid resin composition for adhesive, semiconductor device, and process for producing semiconductor device
JP5458862B2 (en) * 2009-12-17 2014-04-02 住友金属鉱山株式会社 Heat-curable silver paste and conductor film formed using the same
US10597552B2 (en) * 2017-12-20 2020-03-24 Ppg Industries Ohio, Inc. Coating compositions comprising a silane modified compound

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