JP3089150B2 - 位置決めステージ装置 - Google Patents

位置決めステージ装置

Info

Publication number
JP3089150B2
JP3089150B2 JP28443793A JP28443793A JP3089150B2 JP 3089150 B2 JP3089150 B2 JP 3089150B2 JP 28443793 A JP28443793 A JP 28443793A JP 28443793 A JP28443793 A JP 28443793A JP 3089150 B2 JP3089150 B2 JP 3089150B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bearing
stage
axis
hydrostatic bearing
stage device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP28443793A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07115057A (ja
Inventor
充 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP28443793A priority Critical patent/JP3089150B2/ja
Priority to KR1019940026434A priority patent/KR0145257B1/ko
Publication of JPH07115057A publication Critical patent/JPH07115057A/ja
Priority to US08/744,276 priority patent/US5685232A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3089150B2 publication Critical patent/JP3089150B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A47FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
    • A47BTABLES; DESKS; OFFICE FURNITURE; CABINETS; DRAWERS; GENERAL DETAILS OF FURNITURE
    • A47B85/00Furniture convertible into other kinds of furniture
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q3/00Devices holding, supporting, or positioning work or tools, of a kind normally removable from the machine
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体露光装置、各種
精密加工機、各種精密測定器等において露光されるウエ
ハ等基板、被加工物、被測定物等を位置決めするための
位置決めステージ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体露光装置や、各種精密加工機や、
各種精密測定器等においては、露光されるウエハ等基板
や、被加工物や、被測定物あるいは工具や計器等を高精
度で位置決めすることが必要であり、このために図4と
図5に示すような位置決めステージ装置が開発されてい
る。これは、公知のXY駆動機構を有するXYステージ
の天板101の上方に垂直方向(以下、「Z軸方向」と
いう。)に往復移動自在に支持されたZステージ102
と、これに保持された吸着チャック103と、Zステー
ジ102と一体である軸102aを、Z軸方向の往復移
動とZ軸のまわりの回転が自在であるように支持する軸
受104と、軸102aと一体であり、これをZ軸方向
に移動させるピエゾ駆動装置105と、Zステージ10
2と一体である回止め板106と、それぞれ回止め板1
06の両面に対向する一対の静圧軸受パッド107aを
有する静圧軸受107を備えており、軸受104の軸受
ハウジング104aと静圧軸受107の軸受ハウジング
107bはともにXYステージの天板101と一体であ
る円板状の支持部材108に固着されており、Zステー
ジ102は、ピエゾ駆動装置105がピエゾドライバ1
05aの駆動によってZ軸方向に伸縮することでZ軸方
向に往復移動し、また、Zステージ102のZ軸のまわ
りの回転角度θは、各静圧軸受パッド107aに供給さ
れる空気の圧力をサーボバルブ109aによって制御す
ることで、静圧軸受107の軸受間隙の許す範囲で微調
節自在である。
【0003】半導体露光装置においては、吸着チャック
103にウエハW0 を吸着し、ピエゾ駆動装置105の
駆動によってZステージ102をZ軸方向に移動させて
図示しないアライメント光学系等に対するウエハW0
焦点合わせを行い、また、前述のアライメント光学系に
よってマスク等に対するウエハW0 の位置ずれを検出
し、各サーボバルブ109aを制御して各静圧軸受パッ
ド107aの空気の圧力を調節することで、前記ウエハ
0 のZ軸のまわりの回転角度θの微調整を行う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、前述のように、Zステージの回転角度
θの微調節が静圧軸受の軸受間隙の寸法の許す範囲での
み自在であり、これを越えた位置ずれが検出された場合
は、ウエハ等の受渡しをやり直すかあるいはXYステー
ジの天板を回転させる等の対策が必要となり、半導体製
造工程の複雑化や位置決めステージ装置の大形化を招く
おそれがある。
【0005】本発明は上記従来の技術の有する未解決の
課題に鑑みてなされたものであり、Zステージの回転角
度を静圧軸受の軸受間隙の寸法を越えて調節することの
できる位置決めステージ装置を提供することを目的とす
るものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明の位置決めステージ装置は、台板の所定の軸の
まわりの回転と前記軸に沿った往復移動が自在である保
持盤と、該保持盤と一体的に設けられた回止め部材と、
該回止め部材を前記軸のまわりの回転に対して所定の範
囲内に拘束する拘束手段と、該拘束手段を前記軸のまわ
りに回転させる駆動手段と、前記拘束手段を前記台板に
ロックするロック手段とを有することを特徴とする。
【0007】拘束手段が静圧軸受であるとよい。
【0008】
【0009】
【作用】上記装置によれば、保持盤と一体である回止め
部材を拘束する拘束手段を回転させることで、保持盤の
回転角度を広範囲に調節できる。また拘束手段が静圧軸
受であれば、保持盤の回転角度の微調節も容易である。
【0010】
【実施例】本発明の実施例を図面に基いて説明する。
【0011】図1は一実施例を示す模式断面図であっ
て、本実施例の位置決めステージ装置は、公知の半導体
露光装置のXYステージの台板である天板1の上に図示
しない案内装置によって垂直方向(以下、「Z軸方向」
という。)に往復移動自在に支持された保持盤であるZ
ステージ2と、これに保持された吸着チャック3と、Z
ステージ2と一体である軸2aをZ軸方向の往復移動と
Z軸のまわりの回転が自在であるように支持する軸受4
と、軸2aと一体でありこれをZ軸方向に移動させるピ
エゾ駆動装置5と、これを制御するピエゾドライバ5a
と、Zステージ2と一体である回止め部材である回止め
板6と、それぞれ回止め板6の両面に対向する一対の支
持面7b(図2参照)を有し、各支持面7bに回止め板
6を非接触で拘束する一対の静圧軸受パッド7aを備え
た拘束手段である静圧軸受7を備えており、軸受4の軸
受ハウジング4aは前述の天板1と一体である円板状の
支持部材8に固着されている。
【0012】静圧軸受7の軸受ハウジング7cは、図2
に示すように、筒状の本体7dとその上端に一体的に設
けられた一対の張出片7eを有し、本体7dは支持部材
8に設けられた切欠8aを貫通しており、切欠8aの寸
法は、静圧軸受7の軸受ハウジング7cの本体7dの外
形寸法より大きく設定されており、後述す回転駆動装
置によって静圧軸受7の軸受ハウジング7cが所定量だ
け移動したとき、その移動を妨げないように構成されて
いる。各張出片7eは支持部材8の上面に設けられたロ
ック手段である吸着溝8bに発生される真空吸着力によ
って支持部材8の上面に吸着されており、各吸着溝8b
に接続される内部配管ライン8cは切換弁8dに接続さ
れ、切換弁8dを切換えることで、内部配管ライン8c
を真空源8eと加圧空気供給源8fに交互に接続するこ
とができるように構成されている。すなわち、各吸着溝
8bに真空吸着力が発生されたときは静圧軸受7の軸受
ハウジング7cが支持部材8の上面に吸着されてこれと
一体化され、各吸着溝8bに加圧空気が供給されたとき
は静圧軸受7の軸受ハウジング7cの張出片7eが支持
部材8の上面から浮上して前記切欠8aの寸法の許す範
囲で静圧軸受7の軸受ハウジング7cを支持部材8に対
して回転自在な状態となる。
【0013】 保持盤であるステージ2は、吸着チャッ
ク3にウエハW 1 を吸着することでこれを保持する。
着チャック3に吸着されたウエハW1 は、Zステージ2
をピエゾ駆動装置5によってZ軸方向に移動させること
で図示しないアライメント光学系に対する焦点合わせ等
を行ったうえで、該アライメント光学系によってマスク
等に対する位置ずれを検出し、検出された位置ずれに基
づいて静圧軸受7の軸受ハウジング7cを移動させ、回
止め板6を介してZステージ2のZ軸のまわりの回転角
度θを調節し、ウエハW1 の回転位置のずれを解消す
る。
【0014】 静圧軸受7の各静圧軸受パッド7aはサ
ーボバルブ7fに接続され、コントローラ7gによって
各サーボバルブ7fを制御することで、各静圧軸受パッ
ド7aから回止め板6の各面に向かって噴出される加圧
空気の圧力を調節し、静圧軸受7の軸受間隙の許すZ軸
のまわりの回転の範囲内で、回止め板6すなわちZステ
ージ2の回転角度θを微調節できるように構成されてい
る。
【0015】次に、静圧軸受7の軸受ハウジング7cを
支持部材8に対して移動させる回転駆動装置について説
明する。
【0016】図3に示すように、静圧軸受7の軸受ハウ
ジング7cの各張出片7eにはビス9aによって弾性部
材である板バネ9の一端が固着され、板バネ9の他端は
ビス9bによって駆動手段である回転リング10に固着
されており、各板バネ9はZ軸方向にのみ変形が容易で
あり、前述のように静圧軸受7の軸受ハウジング7cの
各張出片7eが支持部材8から浮上するときはこれを妨
げることなく、他方、Z軸方向に直交する方向には高い
剛性を有するように構成されている。回転リング10は
支持部材8の上面と軸受4の軸受ハウジング4aの外側
に鋼球10aを介して支持されており、軸受4の軸受ハ
ウジング4aのまわりを回転自在である。回転リング1
0の外周縁の一部にはセグメント歯車10bが設けら
れ、セグメント歯車10bは、モータ11aによって回
転されるギヤ11に噛合っている。前述のように静圧軸
受7の軸受ハウジング7cの各張出片7eが支持部材8
の上面から浮上した状態でモータ11aが駆動される
と、ギヤ11によって回転リング10が回転され、両板
バネ9とともに静圧軸受7の軸受ハウジング7cが支持
部材8の周方向に移動する。静圧軸受7の軸受ハウジン
グ7cの移動とともに回止め板6がZステージ2の周方
向へ移動し、これによってZステージ2が回転される。
【0017】本実施例によれば、モータによって静圧軸
受を移動させ、回止め板を介してZステージを回転させ
るものであるため、従来のように、静圧軸受に供給され
る加圧空気の圧力を変化させることでZステージの回転
角度θを調節するのみである場合に比べて、Zステージ
の回転角度θをはるかに広範囲に調節できる。加えて、
従来例と同様に、静圧軸受の加圧空気の圧力を調節する
ことによる微調節も自在である。
【0018】他の実施例として、回止め板6に永久磁石
を配し、静圧軸受7のかわりにコイルを用いた磁気軸受
を設ければ、より応答が速くなる。またロック手段も電
磁石吸着とすれば、真空中での使用も可能となる。
【0019】
【発明の効果】本発明は、上述のように構成されている
ので、以下に記載するような効果を奏する。
【0020】Zステージの回転角度の静圧軸受の軸受間
隙の寸法を越えて広範囲に調節することができるうえ
に、静圧軸受の軸受間隙の寸法の範囲内の微調節も可能
である。その結果、ウエハ等の位置決め工程の複雑化や
位置決め装置の複雑化を防ぎ、高性能で安価な露光装置
等を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施例を示す模式断面図である。
【図2】図1の装置のA−A線に沿ってとった模式断面
図である。
【図3】図1の装置のB−B線からみた平面図である。
【図4】従来例を示す模式断面図である。
【図5】図4の装置をC−C線からみた底面図である。
【符号の説明】
1 天板 2 Zステージ 3 吸着チャック 4 軸受 5 ピエゾ駆動装置 6 回止め板 7 静圧軸受 7a 静圧軸受パッド 7b 支持面 7c 軸受ハウジング 8 支持部材 8a 切欠 9 板バネ 10 回転リング 11 ギヤ 11a モータ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 台板の所定の軸のまわりの回転と前記軸
    に沿った往復移動が自在である保持盤と、該保持盤と一
    体的に設けられた回止め部材と、該回止め部材を前記軸
    のまわりの回転に対して所定の範囲内に拘束する拘束手
    段と、該拘束手段を前記軸のまわりに回転させる駆動手
    と、前記拘束手段を前記台板にロックするロック手段
    を有する位置決めステージ装置。
  2. 【請求項2】 拘束手段が弾性部材を介して駆動手段に
    連結されており、ロック手段が、真空吸着力によって前
    記拘束手段を台板に吸着するように構成されていること
    を特徴とする請求項1記載の位置決めステージ装置。
  3. 【請求項3】 拘束手段が静圧軸受であることを特徴と
    する請求項1または2記載の位置決めステージ装置。
  4. 【請求項4】 保持盤が、ウエハを保持するように構成
    されていることを特徴とする請求項1ないし3いずれか
    1項記載の位置決めステージ装置。
JP28443793A 1993-10-19 1993-10-19 位置決めステージ装置 Expired - Lifetime JP3089150B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28443793A JP3089150B2 (ja) 1993-10-19 1993-10-19 位置決めステージ装置
KR1019940026434A KR0145257B1 (ko) 1993-10-19 1994-10-15 위치결정 스테이지 장치
US08/744,276 US5685232A (en) 1993-10-19 1996-11-06 Positioning stage device exposure apparatus and device manufacturing method utilizing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28443793A JP3089150B2 (ja) 1993-10-19 1993-10-19 位置決めステージ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07115057A JPH07115057A (ja) 1995-05-02
JP3089150B2 true JP3089150B2 (ja) 2000-09-18

Family

ID=17678543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28443793A Expired - Lifetime JP3089150B2 (ja) 1993-10-19 1993-10-19 位置決めステージ装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5685232A (ja)
JP (1) JP3089150B2 (ja)
KR (1) KR0145257B1 (ja)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0873814A1 (en) * 1995-02-06 1998-10-28 Seiko Seiki Kabushiki Kaisha Swivelling table device
JP3266515B2 (ja) * 1996-08-02 2002-03-18 キヤノン株式会社 露光装置、デバイス製造方法およびステージ装置
US5914613A (en) 1996-08-08 1999-06-22 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system with local contact scrub
JPH11154698A (ja) * 1997-11-21 1999-06-08 Nikon Corp テーブル支持装置
JP3869938B2 (ja) 1998-06-05 2007-01-17 キヤノン株式会社 ステージ装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JPH11354417A (ja) 1998-06-11 1999-12-24 Canon Inc 走査型露光装置およびこれを用いたデバイス製造方法ならびにステージ制御装置
US6256882B1 (en) 1998-07-14 2001-07-10 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US6445202B1 (en) 1999-06-30 2002-09-03 Cascade Microtech, Inc. Probe station thermal chuck with shielding for capacitive current
US6334398B1 (en) * 2000-04-28 2002-01-01 Tokyo Electron Limited Variable gap stop which can be used in a semiconductor processing device
US6405659B1 (en) * 2000-05-01 2002-06-18 Nikon Corporation Monolithic stage
US6483336B1 (en) * 2000-05-03 2002-11-19 Cascade Microtech, Inc. Indexing rotatable chuck for a probe station
US6965226B2 (en) 2000-09-05 2005-11-15 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US6914423B2 (en) 2000-09-05 2005-07-05 Cascade Microtech, Inc. Probe station
DE10143173A1 (de) 2000-12-04 2002-06-06 Cascade Microtech Inc Wafersonde
JP2002252166A (ja) 2001-02-27 2002-09-06 Canon Inc ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法ならびに移動案内方法
WO2003052435A1 (en) 2001-08-21 2003-06-26 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US7068891B1 (en) 2002-03-12 2006-06-27 Palomar Technologies, Inc. System and method for positioning optical fibers
JP4175086B2 (ja) * 2002-10-29 2008-11-05 日本電気株式会社 検査用ウエハ支持装置及び検査用ウエハ支持方法
US7057404B2 (en) 2003-05-23 2006-06-06 Sharp Laboratories Of America, Inc. Shielded probe for testing a device under test
US7492172B2 (en) 2003-05-23 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
JP2005044893A (ja) * 2003-07-24 2005-02-17 Canon Inc 基板保持装置
US7250626B2 (en) 2003-10-22 2007-07-31 Cascade Microtech, Inc. Probe testing structure
JP2007517231A (ja) 2003-12-24 2007-06-28 カスケード マイクロテック インコーポレイテッド アクティブ・ウェハプローブ
US7187188B2 (en) 2003-12-24 2007-03-06 Cascade Microtech, Inc. Chuck with integrated wafer support
WO2006031646A2 (en) 2004-09-13 2006-03-23 Cascade Microtech, Inc. Double sided probing structures
JP4594031B2 (ja) * 2004-10-18 2010-12-08 大日本スクリーン製造株式会社 基板保持装置
US7535247B2 (en) 2005-01-31 2009-05-19 Cascade Microtech, Inc. Interface for testing semiconductors
US7656172B2 (en) 2005-01-31 2010-02-02 Cascade Microtech, Inc. System for testing semiconductors
US7707907B2 (en) * 2005-11-17 2010-05-04 Socovar, Société En Commandite Planar parallel mechanism and method
US7723999B2 (en) 2006-06-12 2010-05-25 Cascade Microtech, Inc. Calibration structures for differential signal probing
US7764072B2 (en) 2006-06-12 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probing system
US7403028B2 (en) 2006-06-12 2008-07-22 Cascade Microtech, Inc. Test structure and probe for differential signals
US7876114B2 (en) 2007-08-08 2011-01-25 Cascade Microtech, Inc. Differential waveguide probe
US7888957B2 (en) 2008-10-06 2011-02-15 Cascade Microtech, Inc. Probing apparatus with impedance optimized interface
WO2010059247A2 (en) 2008-11-21 2010-05-27 Cascade Microtech, Inc. Replaceable coupon for a probing apparatus
US8319503B2 (en) 2008-11-24 2012-11-27 Cascade Microtech, Inc. Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test
JP2010151322A (ja) * 2010-04-01 2010-07-08 Sigma Technos Kk Xyステージ
CN102692821B (zh) * 2011-03-21 2015-11-18 上海微电子装备有限公司 一种光刻机旋转台
CN102508318B (zh) * 2011-09-30 2013-08-21 浙江大学 用于地震计静态标定的精密倾斜平台装置
US9853579B2 (en) * 2013-12-18 2017-12-26 Applied Materials, Inc. Rotatable heated electrostatic chuck
US9248536B2 (en) * 2014-02-12 2016-02-02 Texas Instruments Incorporated Turntable
FR3046451B1 (fr) * 2016-01-06 2018-07-06 Micro-Controle - Spectra-Physics Systeme de generation de deplacement d'une plaque de support selon six degres de liberte.
KR102522627B1 (ko) * 2020-09-17 2023-04-17 주식회사 제이시스메디칼 초음파 발생부의 집속 깊이의 변경이 가능한 초음파 의료 장치
CN115226320B (zh) * 2022-08-04 2023-06-06 四川华平通讯设备有限公司 一种贴片机的电阻元件吸取和方位微调装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3155383A (en) * 1962-10-11 1964-11-03 Link Division Of General Prec Precision positioning apparatus
US3393648A (en) * 1965-12-28 1968-07-23 Optomechanisms Inc Air bearing table
GB2160451B (en) * 1984-05-25 1987-07-08 Citizen Watch Co Ltd A rotary table unit
US5040431A (en) * 1988-01-22 1991-08-20 Canon Kabushiki Kaisha Movement guiding mechanism
US5163651A (en) * 1990-03-13 1992-11-17 Ntn Corporation Movable table
US5170678A (en) * 1990-04-30 1992-12-15 Walter W. Wawrzyniak Index table assembly
US5239892A (en) * 1990-08-27 1993-08-31 Mitutoyo Corporation Rotating device
US5320047A (en) * 1992-03-06 1994-06-14 Monarch Hydraulics, Inc. Desk having self-releveling height adjustment and hydraulic circuit therefor

Also Published As

Publication number Publication date
KR950011043A (ko) 1995-05-15
JPH07115057A (ja) 1995-05-02
KR0145257B1 (ko) 1998-07-01
US5685232A (en) 1997-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3089150B2 (ja) 位置決めステージ装置
JP4384664B2 (ja) 試料検査および処理用の高精度動的位置合わせ機構
US6888620B2 (en) System and method for holding a device with minimal deformation
KR19980024879A (ko) 주사노광장치 및 이를 사용한 소자제조공정
JPH06267823A (ja) 位置決め装置
JPH06291030A (ja) 回転式基板処理装置用の基板回転保持装置
JP2002328191A (ja) リニアモータを内蔵したステージ装置
JPS6320014B2 (ja)
JPH02139146A (ja) 一段6自由度位置決めテーブル
JP2004132435A (ja) 軸受装置
US20040080730A1 (en) System and method for clamping a device holder with reduced deformation
US6882126B2 (en) Holder mover for a stage assembly
US20030098965A1 (en) System and method for supporting a device holder with separate components
JPS62152632A (ja) テ−ブル装置
JPH0434166B2 (ja)
KR101021750B1 (ko) 대형 기판 스테이지
JP4635998B2 (ja) ステージ装置
US20030098963A1 (en) Fluid connector for a stage assembly
JPS61182112A (ja) 精密変位駆動装置
JPH0610671Y2 (ja) 移動テ−ブル装置
JPH0519948Y2 (ja)
JP3014002B2 (ja) 精密案内ステージ装置
JPH10163300A (ja) ステージ装置
JPS6378092A (ja) 回転テ−ブル
JPH11204425A (ja) レチクル基板固定装置及び露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090714

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090714

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100714

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100714

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110714

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120714

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120714

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130714

Year of fee payment: 13

EXPY Cancellation because of completion of term