JP2995204B2 - Mos技術の高圧レベル検出回路 - Google Patents

Mos技術の高圧レベル検出回路

Info

Publication number
JP2995204B2
JP2995204B2 JP63082844A JP8284488A JP2995204B2 JP 2995204 B2 JP2995204 B2 JP 2995204B2 JP 63082844 A JP63082844 A JP 63082844A JP 8284488 A JP8284488 A JP 8284488A JP 2995204 B2 JP2995204 B2 JP 2995204B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
type mos
mos transistor
source
drain
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP63082844A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63261168A (ja
Inventor
ジャン フランスワ シュヴァリエ クリストフ
コヴァルスキー ジョセフ
Original Assignee
エステーミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エステーミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム filed Critical エステーミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム
Publication of JPS63261168A publication Critical patent/JPS63261168A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2995204B2 publication Critical patent/JP2995204B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16533Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
    • G01R19/16557Logic probes, i.e. circuits indicating logic state (high, low, O)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16504Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed
    • G01R19/16519Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed using FET's

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、MOS技術の高圧レベル検出回路に関するも
のである。
従来の技術 MOS集積回路では、通常、供給電圧等の高圧レベルを
正確に検出することが難しい。これは、トランジスタパ
ラメータが約±20%の精度で決定されるので、基準電圧
を決定するのが極めて難しいからである。電圧源は、通
常、MOSトランジスタによって構成される。さらに、問
題の電圧が高いほど、基準電圧レベルの変動数が多くな
る。これは、ある電圧Vppがセルをプログラミングする
のに使用され、別の電圧、通常は供給電圧Vccがセルの
読み出しに使用されるEPROM、EEPROMもしくは類似のメ
モリ等のMOS集積回路では、特に問題となる。これらの
メモリは、約10Vの電圧Vppでプログラムされるように形
成されている。その時、メモリセルの状態は変化するこ
とができるので、読み出し電圧Vccがこの値に達する
と、問題が生じる。従って、読み出し電圧、すなわち供
給電圧は、この場合は10V未満の正確な値に限定しなけ
ればならない。
発明が解決しようとする課題 本発明は、高圧レベルが所定の値を越えた時信号を発
生させる、MOS技術の高圧レベルを検出する回路を提供
して、上記の問題点を解決することを目的とする。EPRO
MもしくはEEPROMの場合、読み出し回路等の回路をオフ
状態にするために、この信号を使用することができる。
課題を解決するための手段 本発明に従うと、供給電圧Vccを受ける端子とアース
端子との間に直列に配置された第1のN型MOSトランジ
スタ(TN1)と参照電圧源とからなる、基板上にMOS技術
で作られた回路の供給電圧Vccの高圧レベルを検出する
装置において、参照電圧源がn個のP型MOSトランジス
タ(TP1〜TPn)で構成され、各P型MOSトランジスタは
互いに分離されたN型ウエル内に形成され、各ウエルは
対応するトランジスタのソースと接続され、各トランジ
スターのゲートおよびドレインが、互いに接続されてい
ることを特徴とする装置が提供される。
本発明によれば、第2のN型MOSトランジスタを備
え、そのゲートは第1のN型MOSトランジスタと参照電
圧源との接続部に接続され、そのソースは電流が上昇し
た時に電圧を上昇させる手段を介してアース端子に接続
され、そのドレインはスイッチを介して供給電圧Vccに
接続され、ドレインの出力が装置の出力となることが好
ましい。また、第2のN型MOSトランジスタのソースの
電圧を上昇させる手段が第3のN型MOSトランジスタで
構成され、このトランジスタのゲートはVccに接続さ
れ、そのソースはアース端子に接続され、そのドレイン
は第2のN型MOSトランジスタのソースに接続されてい
ることが好ましい。このスイッチがP型MOSトランジス
タで行われ、このトランジスタのソースはVccに接続さ
れ、そのゲートはアース端子に接続され、そのドレイン
は第2のN型MOSトランジスタのドレインに接続されて
いる。スイッチを構成するP型MOSトランジスタのチャ
ネル幅W/チャネル長さLの比が1より小さく、第2のN
型MOSトランジスタのW/Lの比が1より大きい。
スイッチが第1のP型MOSトランジスタおよび第2の
P型MOSトランジスタで行われ、第1のP型MOSトランジ
スタのソースはVccに接続され、そのゲートはインバー
ターの出力に接続され、そのドレインはインバーターの
入力に接続され、このインバーターの入力は第2のN型
MOSトランジスタのドレインに接続され、第2のP型MOS
トランジスタは第1のP型MOSトランジスタと並列に取
付けられ、そのゲートは装置を初期化する信号を受け
る。
本発明のその他の特徴及び利点は、添付図面を参照し
て行う以下の様々な実施例の説明によってより明らかと
なろう。
分かり易くするために、同一構成要素には、同じ参照
番号を付けた。
実施例 本発明によるMOS技術の高圧レベル検出回路は、第1
図に示すように、電圧源1、高圧レベルVccが所定のし
きい値を越えると切り換わる出力論理レベルを出力する
手段2及び、必要に応じてインバータIを備える。より
詳しく言えば、電圧源1は、直列接続されたn個のP型
MOSトランジスタTP1、TP2、TP3・・・TPnと1個のN型M
OSトランジスタTN1を備える。P型MOSトランジスタの数
は、第1の高圧レベルが検出される電圧Vccに応じて、
第2に種々のトランジスタのしきい値電圧に応じて、選
択される。
さらに詳細には、P型MOSトランジスタTP1は、ソース
が電圧Vccに、ドレインがP型MOSトランジスタTP2に接
続されるように、接続されている。そのP型MOSトラン
ジスタTP2のドレインは、P型MOSトランジスタTP3のソ
ースに接続されており、以下同様である。P型MOSトラ
ンジスタTPnのドレインは、電圧源の出力端子であるノ
ードAに接続されている。また、P型MOSトランジスタT
P1からTPnのゲートは、各々、対応するトランジスタの
ドレインに接続されている。本発明によると、P型MOS
トランジスタTP1からTPnは、各々、互いに分離されたN
型のウェル内に形成されており、そのウェルは、各々、
対応するP型MOSトランジスタのソースに接続されてい
る。従って、P型MOSトランジスタのしきい値電圧は、
基板の効果、すなわち電圧/基板電圧に応じたしきい値
電圧における変動が除去されるので、正確に決定するこ
とができる。また、電圧源はN型トランジスタTN1を備
える。このトランジスタのソースは低電圧Vssすなわち
アースに、ドレインは出力ノードAに接続されている。
このP型MOSトランジスタTP1からTPnのしきい値電圧
は、同じであることが好ましい。
この場合、ノードAの電圧は、Vcc<n・VTR+VTN
(トランジスタTN1とTP1がオフ)ならばVssとVTNの間に
あり、Vcc>n・VTP+VTNならばVcc−n・VTPに等し
い。但し、VTPはP型トランジスタのしきい値電圧を示
し、VTNはN型トランジスタのしきい値電圧を示す。
この電圧源1は、第1のN型トランジスタTN2を備え
る手段2に接続されている。そのソースは第2のN型MO
SトランジスタTN3を介して低電圧すなわちアースに接続
されており、そのN型MOSトランジスタTN3のゲートはVc
cに接続されている。従って、このN型MOSトランジスタ
TN3は、常にオン状態である。また、トランジスタTN2の
ドレインはP型MOSトランジスタTP0のドレインに接続さ
れており、そのP型MOSトランジスタTP0のソースは電圧
Vccに、ゲートは低電圧すなわちアースに接続されてい
る。トランジスタTP0とTN2の間のノードBは、手段2の
出力端子として働く。第1図に示すように、ノードBは
インバータIに接続されており、検出回路の出力信号は
インバータ出力端子Cで出力される。第1図に示した検
出回路の操作態様を以下に説明する。
第1図に示した回路では、n・VTP+VTNに等しい電圧
Vccを検出することができる。電圧VccがVTP+VTNより低
い時、どこにも電流は流れない。ノードAの電圧は、VN
より低い。すなわち、N型MOSトランジスタTN1のしきい
値電圧より低い。従って、トランジスタTN2は、オフに
なる。さらに、ノードBはVccにある。これは、ゲート
がアースに接続されているトランジスタTP0が導通であ
り、電圧VccをノードBに印加するからである。また、
ゲートが電圧Vccを受けるトランジスタTN3も導通であ
り、電流が流れるとすぐにソース電圧を上げることによ
ってトランジスタTN2が導通になるのを防ぐ。
電圧Vccがn・VTP+VTNを越えると、ノードAの電圧
は上がり、続いてVccが上がる。この時、トランジスタT
N2はオンになり、ノードBをVssにする。トランジスタT
N2のW/Lの比は1より極めて大きくように設計されてお
り、一方トランジスタTP0のW/Lの比は1より極めて小さ
いので、このようにトランジスタTN2が導通になると、
ノードBの電圧はVssになる。例えば、2ミクロンC−M
OS技術では、P型MOSトランジスタTP0のW/L比は2/25で
あり、一方、N型MOSトランジスタTN2のW/L比は10/2で
ある。ノードBがVss(すなわち、論理状態「0」)に
ある時、インバータIの出力端子Cに論理状態「1」、
すなわち回路をオフにするのに使用される検出信号が出
力される。
第2図に示した回路は、n・VTP+VTNより大きい値の
電圧Vccが検出されるとすぐにP型MOSトランジスタTP0
をオフにするために使用される。この時、インバータI
は高圧レベル検出回路の必須の部品であり、トランジス
タTP0に代わりに使用されているP型MOSトランジスタTP
5は、低電圧すなわちアースに接続されるのに代わっ
て、出力端子Cに接続されている。しかし、この装置を
初期設定するためには、P型MOSトランジスタTP6が使用
されている。このトランジスタTP6のソースは電圧Vcc
に、ドレインはノードBに、ゲートはリセット信号Rを
受けるように接続されている。このトランジスタTP6
は、検出回路が作動始めると、ノードBを電圧Vccに決
定するのに使用される。次に、ノードBがVssになると
すぐに、インバータ出力端子Cのレベルは論理状態
「1」になる。従って、トランジスタTP5をオフにし、
ノードBの電圧をVssに保つ。
第1図及び第2図を参照して説明した回路は、以下の
ような多くに利点を備える: −検出電圧が、V=(n・VTP+VTN)±10%である。従
って、安定度が高い製造方法を利用すると、P型MOSト
ランジスタもしくはN型MOSトランジスタのしきい値電
圧は常に高い精度で制御される。
−電圧Vccが所定のしきい値を越えたことが検出される
まで、回路の静的消費が無い。通常の操作では、上記の
回路は使用されないが、自動現金支払い機で、安全装置
として使用される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による検出回路の第1の実施例の回路
図であり; 第2図は、本発明による検出回路の第2の実施例の回路
図である。 (主な参照番号) 1……電圧源 2……出力論理レベルを出力する手段 TP1、TP2・・・TPn……P型MOSトランジスタ TN1、TN2・・・TNn……N型MOSトランジスタ I……インバータ、A、B……ノード C……インバータの出力
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭54−65068(JP,A) 特開 昭58−190775(JP,A) 特開 昭59−90951(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 19/00 - 19/32

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】供給電圧Vccを受ける端子とアース端子と
    の間に直列に配置された第1のN型MOSトランジスタ(T
    N1)と参照電圧源とからなる、基板上にMOS技術で作ら
    れた回路の供給電圧Vccの高圧レベルを検出する装置に
    おいて、 参照電圧源がn個のP型MOSトランジスタ(TP1〜TPn)
    で構成され、各P型MOSトランジスタは互いに分離され
    たN型ウエル内に形成され、各ウエルは対応するトラン
    ジスタのソースと接続され、各トランジスターのゲート
    およびドレインが、互いに接続されていることを特徴と
    する装置。
  2. 【請求項2】第2のN型MOSトランジスタ(TN2)を備
    え、そのゲートは第1のN型MOSトランジスタと参照電
    圧源との接続部に接続され、そのソースは電流が上昇し
    た時に電圧を上昇させる手段(TN3)を介してアース端
    子に接続され、そのドレインはスイッチ(TPO、TP5、TP
    6)を介して供給電圧Vccに接続され、ドレインの出力が
    装置の出力となる請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】第2のN型MOSトランジスタ(TN2)のソー
    スの電圧を上昇させる手段が第3のN型MOSトランジス
    タ(TN3)で構成され、このトランジスタ(TN3)のゲー
    トはVccに接続され、そのソースはアース端子に接続さ
    れ、そのドレインは第2のN型MOSトランジスタのソー
    スに接続されている請求項2に記載の装置。
  4. 【請求項4】スイッチがP型MOSトランジスタ(TP0)で
    行われ、このトランジスタ(TP0)のソースはVccに接続
    され、そのゲートはアース端子に接続され、そのドレイ
    ンは第2のN型MOSトランジスタのドレインに接続され
    ている請求項2に記載の装置。
  5. 【請求項5】スイッチを構成するP型MOSトランジスタ
    (TP0)のチャネル幅W/チャネル長さLの比が1より小
    さく、第2のN型MOSトランジスタのW/Lの比が1より大
    きい請求項4に記載の装置。
  6. 【請求項6】P型MOSトランジスタのW/L=2/25で、第2
    のN型MOSトランジスタでのW/L=10/2である請求項5に
    記載の装置。
  7. 【請求項7】スイッチが、第1のP型MOSトランジスタ
    (TP5)および第2のP型MOSトランジスタ(TP6)で行
    われ、第1のP型MOSトランジスタ(TP5)のソースはVc
    cに接続され、そのゲートはインバーターの出力に接続
    され、そのドレインはインバーターの入力に接続され、
    このインバーターの入力は第2のN型MOSトランジスタ
    (TN2)のドレインに接続され、第2のP型MOSトランジ
    スタ(TP6)は第1のP型MOSトランジスタ(TP5)と並
    列に取付けられ、そのゲートは装置を初期化する信号を
    受ける、請求項2に記載の装置。
JP63082844A 1987-04-03 1988-04-04 Mos技術の高圧レベル検出回路 Expired - Fee Related JP2995204B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8704721A FR2613491B1 (fr) 1987-04-03 1987-04-03 Dispositif de detection du niveau haut d'une tension en technologie mos
FR8704721 1987-04-03

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63261168A JPS63261168A (ja) 1988-10-27
JP2995204B2 true JP2995204B2 (ja) 1999-12-27

Family

ID=9349771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63082844A Expired - Fee Related JP2995204B2 (ja) 1987-04-03 1988-04-04 Mos技術の高圧レベル検出回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5097146A (ja)
EP (1) EP0289370B1 (ja)
JP (1) JP2995204B2 (ja)
DE (1) DE3873148T2 (ja)
FR (1) FR2613491B1 (ja)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2656104B1 (fr) * 1989-12-15 1992-09-11 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de detection de seuil de tension d'alimentation vcc a faible dependance de la temperature et des variations des parametres technologiques.
EP0433696B1 (en) * 1989-12-20 1995-10-04 Texas Instruments Incorporated A circuit with hysteresis for power supply voltage detection
FR2674633B1 (fr) * 1991-03-28 1995-06-23 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de detection d'un seuil haut d'une tension d'alimentation.
US5181187A (en) * 1991-03-29 1993-01-19 Silicon Storage Technology, Inc. Low power voltage sensing circuit
FR2690008B1 (fr) * 1991-05-29 1994-06-10 Gemplus Card Int Memoire avec cellule memoire eeprom a effet capacitif et procede de lecture d'une telle cellule memoire.
JP2784615B2 (ja) * 1991-10-16 1998-08-06 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学表示装置およびその駆動方法
US7253440B1 (en) * 1991-10-16 2007-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having at least first and second thin film transistors
US7071910B1 (en) 1991-10-16 2006-07-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electrooptical device and method of driving and manufacturing the same
FR2683342B1 (fr) * 1991-10-31 1994-01-07 Gemplus Card International Circuit d'interface pour carte a circuit integre.
FR2686989B1 (fr) * 1992-01-30 1997-01-17 Gemplus Card Int Procede de comptage de securite pour un compteur electronique binaire.
JPH05217387A (ja) * 1992-02-05 1993-08-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
JP3217498B2 (ja) * 1992-10-29 2001-10-09 富士通株式会社 半導体集積回路装置
FR2703501B1 (fr) * 1993-04-01 1995-05-19 Gemplus Card Int Circuit intégré pour carte à mémoire et procédé de décomptage d'unités dans une carte à mémoire.
FR2703526B1 (fr) * 1993-04-02 1995-05-19 Gemplus Card Int Circuit de déclenchement automatique.
FR2705810B1 (fr) * 1993-05-26 1995-06-30 Gemplus Card Int Puce de carte à puce munie d'un moyen de limitation du nombre d'authentifications.
JPH0712902A (ja) * 1993-06-17 1995-01-17 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
US5668483A (en) * 1995-06-21 1997-09-16 Micron Quantum Devices, Inc. CMOS buffer having stable threshold voltage
US5723990A (en) * 1995-06-21 1998-03-03 Micron Quantum Devices, Inc. Integrated circuit having high voltage detection circuit
US5760655A (en) * 1995-06-21 1998-06-02 Micron Quantum Devices, Inc. Stable frequency oscillator having two capacitors that are alternately charged and discharged
US5550500A (en) * 1995-06-23 1996-08-27 Alliance Semiconductor Corporation Timing delay modulation scheme for integrated circuits
US5581206A (en) * 1995-07-28 1996-12-03 Micron Quantum Devices, Inc. Power level detection circuit
EP0787993A4 (en) 1995-08-21 1999-09-15 Matsushita Electronics Corp VOLTAGE DETECTION SYSTEM, RESET / RESET CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
FR2739706B1 (fr) * 1995-10-09 1997-11-21 Inside Technologies Perfectionnements aux cartes a memoire
FR2739737B1 (fr) * 1995-10-09 1997-11-21 Inside Technologies Perfectionnements aux cartes a memoire
US5793775A (en) * 1996-01-26 1998-08-11 Micron Quantum Devices, Inc. Low voltage test mode operation enable scheme with hardware safeguard
JP2885177B2 (ja) * 1996-03-22 1999-04-19 日本電気株式会社 電源モニタ回路
FR2775090B1 (fr) * 1998-02-13 2000-12-29 Roland Moreno Objet portatif de type carte a microcircuit comprenant des moyens de supervision des commandes qui lui sont appliquees
FR2822956B1 (fr) * 2001-04-02 2003-06-06 St Microelectronics Sa Dispositif de detection d'alimentation
JP4528254B2 (ja) * 2005-11-25 2010-08-18 富士通セミコンダクター株式会社 電源電圧検出回路
JP5010514B2 (ja) * 2008-01-24 2012-08-29 株式会社リコー 電圧検出回路
CN101655517B (zh) * 2008-08-21 2011-09-14 联咏科技股份有限公司 电压检测电路与电压检测方法
US9628061B2 (en) * 2015-01-14 2017-04-18 Macronix International Co., Ltd. Power drop detector circuit and operating method of same

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1026895B (it) * 1973-12-12 1978-10-20 Itt Circuito integrabile per il controllo di una tensione di alimentazione
JPS5465068A (en) * 1977-11-02 1979-05-25 Toshiba Corp Voltage detection circuit
JPS55149871A (en) * 1978-07-31 1980-11-21 Fujitsu Ltd Line voltage detector
JPS58151124A (ja) * 1982-03-04 1983-09-08 Ricoh Co Ltd レベル変換回路
JPS58190775A (ja) * 1982-04-30 1983-11-07 Fujitsu Ltd 電源電圧検出回路
JPS5940393A (ja) * 1982-08-31 1984-03-06 Nec Corp メモリ回路
DE3336640A1 (de) * 1982-10-13 1984-04-19 General Electric Co., Schenectady, N.Y. Elektrische steueranordnung mit netz-ein-reset-schaltung
DE3379009D1 (en) * 1982-10-18 1989-02-23 Philips Nv Semiconductor structure having a voltage level shifter
JPS60124124A (ja) * 1983-12-08 1985-07-03 Nec Corp 入力回路
US4709172A (en) * 1985-08-19 1987-11-24 Dallas Semiconductor Corporation Input-voltage detector circuit for CMOS integrated circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US5097146A (en) 1992-03-17
DE3873148D1 (de) 1992-09-03
DE3873148T2 (de) 1992-12-03
EP0289370B1 (fr) 1992-07-29
FR2613491A1 (fr) 1988-10-07
JPS63261168A (ja) 1988-10-27
EP0289370A1 (fr) 1988-11-02
FR2613491B1 (fr) 1989-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2995204B2 (ja) Mos技術の高圧レベル検出回路
US4937700A (en) Semiconductor integrated circuit with a circuit limiting an input voltage to a predetermined voltage
EP0399240B1 (en) Semiconductor memory device
US5420798A (en) Supply voltage detection circuit
US4873458A (en) Voltage level detecting circuit having a level converter
US7123062B2 (en) Power-up circuit in semiconductor memory device
KR100302589B1 (ko) 기준전압발생기의스타트업회로
EP0093606B1 (en) Voltage level detecting circuitry
US4649289A (en) Circuit for maintaining the potential of a node of a MOS dynamic circuit
US5111136A (en) Semiconductor circuit
US6898131B2 (en) Voltage and temperature compensated pulse generator
EP0473193A2 (en) Semiconductor device having a temperature detection circuit
JP2881729B2 (ja) 半導体メモリのバーンイン感知回路
US6628162B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US4682051A (en) Voltage level detection circuit
US20030214337A1 (en) Latch circuit
KR100248350B1 (ko) 메모리 장치용 휴즈 옵션 회로
KR100233224B1 (ko) 고전압 검출기 회로
US11342906B2 (en) Delay circuits, and related semiconductor devices and methods
US6885232B2 (en) Semiconductor integrated circuit having a function determination circuit
EP0748535B1 (en) Improved supply voltage detection circuit
JP3183920B2 (ja) 半導体集積回路
KR0154192B1 (ko) 반도체 소자의 저전압 감지회로
KR100239884B1 (ko) 전압 레벨 쉬프트 회로
US20010015661A1 (en) Device for the detection of a high voltage

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees