JP2937324B2 - Defective foreign matter detection device - Google Patents
Defective foreign matter detection deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は欠陥異物を3次元立体像から検出するよう
にした欠陥異物検出装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial application field) The present invention relates to a defect foreign matter detecting device which detects a defective foreign matter from a three-dimensional stereoscopic image.
(従来の技術) 従来、被検査物内部の欠陥異物を検出する手段とし
て、被検査物の1方向のX線透過画像を2次元的画像処
理したものから欠陥異物を検出したり、あるいは2、3
方向のX線透過画像を、それぞれ独立して2次元的画像
処理したものから欠陥異物を検出することが用いられて
いる。2. Description of the Related Art Conventionally, as a means for detecting a defect foreign substance inside an inspection object, a defect foreign substance is detected from a two-dimensional image processing of an X-ray transmission image in one direction of the inspection object. 3
Detection of defective foreign matter from two-dimensional image processing of X-ray transmission images in different directions independently of each other is used.
ところが、このような手段では、被検査物内部を2次
元的にしか見ることができないため、欠陥異物の位置が
正確に特定できないばかりか、被検査物の3次元的な形
状によっては検査の死角ができたり、検査しずらい領域
が存在することがあるなど、精度の高い欠陥検出を期待
できない欠点があった。However, with such a means, since the inside of the object to be inspected can be viewed only two-dimensionally, not only the position of the defective foreign matter cannot be specified accurately, but also the blind spot of the inspection depending on the three-dimensional shape of the object to be inspected. There is a defect that high-precision defect detection cannot be expected.
(発明が解決しようとする課題) このように従来の欠陥検出装置では、被検査物内部を
2次元的にしか見ることができないことに原因して、欠
陥異物の位置が正確に特定できないばかりか、被検査物
の3次元的な形状によっては検査の死角ができたり、検
査しずらい領域が存在するなどの問題が生じ、精度の高
い欠陥検出を期待できない欠点があった。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in the conventional defect detection apparatus, not only the position of the defective foreign matter cannot be accurately specified due to the fact that the inside of the inspection object can be viewed only two-dimensionally. However, depending on the three-dimensional shape of the object to be inspected, problems such as formation of a blind spot in the inspection and existence of an area which is difficult to inspect occur, and there is a defect that highly accurate defect detection cannot be expected.
そこで、この発明の目的とするところは欠陥異物の位
置を正確に特定できるとともに、検査の死角、検査しず
らい領域を無くすことができ、精度の高い欠陥異物の検
出を期待できる欠陥異物検出装置を提供するにある。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a defect foreign matter detecting apparatus capable of accurately specifying the position of a defective foreign matter, eliminating blind spots in an inspection, and a region difficult to inspect, and expecting highly accurate detection of a defective foreign matter. To provide.
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明は、被検査物に照射する透過性放射線を発生
する透過性放射線源と、この透過性放射線源に対向し配
置された2次元の放射線検出器と、この放射線検出器の
面に沿って前記被検査物を相対的に移動させる構構部
と、この機構部により前記被検査物が前記放射線検出器
の面に沿って相対的に移動している間の前記放射線検出
器の出力により前記被検査物の複数の透過画像データを
収集するデータ収集手段と、このデータ収集手段より各
断層面毎の1枚の断層画像作成に必要な複数方向からの
データを抽出するとともに加算して断層画像を作成する
断層画像再構成手段と、この断層画像再構成手段より得
られた連続する断層像を3次元立体像として捉えるとと
もに、該3次元立体像より欠陥異物を検出する3次元立
体像内異物検出手段と、この3次元立体像内異物検出手
段より検出された欠陥異物の情報を出力する出力手段と
を具備した欠陥異物検出装置である。[Constitution of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention relates to a transmissive radiation source for generating transmissive radiation for irradiating an object to be inspected, and a two-dimensional source arranged opposite to the transmissive radiation source. A radiation detector, a structural part for relatively moving the object to be inspected along the surface of the radiation detector, and the mechanism for relatively moving the object to be inspected along the surface of the radiation detector. Data collecting means for collecting a plurality of transmission image data of the object to be inspected by the output of the radiation detector during the operation, and a plurality of data necessary for creating one tomographic image for each tomographic plane by the data collecting means. A tomographic image reconstructing means for extracting and adding data from directions to create a tomographic image, and a continuous tomographic image obtained by the tomographic image reconstructing means is captured as a three-dimensional stereoscopic image. Missing from statue A three-dimensional image in the foreign substance detecting means for detecting a foreign object, a defect foreign matter detection device and an output means for outputting information of the detected defect foreign matter from the three-dimensional image in the foreign substance detecting means.
(作用) この結果、被検査物の3次元立体像より欠陥異物の検
出を3次元的に行なうことができるので、欠陥異物の正
確な位置の特定ができるとともに、検査の死角、検査し
ずらい領域を無くすことができるようになる。(Operation) As a result, the defect foreign object can be detected three-dimensionally from the three-dimensional image of the inspection object, so that the accurate position of the defect foreign object can be specified, and the blind spot of the inspection and the inspection are difficult. The region can be eliminated.
(実施例) 以下、この発明の一実施例を図面にしたがい説明す
る。Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は、同実施例の回路構成を示すものである。図
において、1は制御コンピュータで、この制御コンピュ
ータ1は、マルチバス2を介してX線透過データ入力イ
ンターフェース3、断層画像再構成プロセッサ(画像加
算プロセッサ)4、3次元立体像メモリ(複数断層像記
憶メモリ)5、欠陥異物検出測定装置(2値化プロセッ
サ、領域番号付けプロセッサ)6、欠陥異物情報出力装
置7、X線制御装置8、コンベア制御装置9を制御する
ようになっている。また、X線透過データ入力インター
フェース3、断層画像再構成プロセッサ4、3次元立体
像メモリ5、欠陥異物検出測定装置6は、画像バス10を
介して画像データのやりとりが行なわれる。FIG. 1 shows a circuit configuration of the embodiment. In the figure, reference numeral 1 denotes a control computer, which is an X-ray transmission data input interface 3, a tomographic image reconstruction processor (image addition processor) 4, and a three-dimensional stereo image memory (multiple tomographic images) via a multibus 2. A storage memory 5, a defective foreign matter detection / measurement device (binary processor, area numbering processor) 6, a defective foreign matter information output device 7, an X-ray control device 8, and a conveyor control device 9 are controlled. The X-ray transmission data input interface 3, the tomographic image reconstruction processor 4, the three-dimensional stereoscopic image memory 5, and the defective foreign matter detection / measurement device 6 exchange image data via the image bus 10.
一方、11はX線発生装置で、このX線発生装置11は高
圧発生装置12からの高電圧が印加されるとX線を発生す
る。このX線発生装置11に対応して搬送手段としてベル
トコンベア13を配設し、このコンベア13により被検査物
14を次々と移送するようにしている。この場合、コンベ
ア13はコンベア制御装置9により所定速度で駆動され、
被検査物14に対してX線発生装置11よりX線が照射され
る。そして、被検査物14が所定位置に達すると、位置検
出装置15の出力が発生する。この位置検出装置15の出力
は、X線透過データ入力インターフェース3に送られ
る。On the other hand, an X-ray generator 11 generates X-rays when a high voltage is applied from a high voltage generator 12. A belt conveyor 13 is provided as a conveying means corresponding to the X-ray generator 11, and an object to be inspected is conveyed by the conveyor 13.
14 are being transported one after another. In this case, the conveyor 13 is driven at a predetermined speed by the conveyor control device 9,
The inspection object 14 is irradiated with X-rays from the X-ray generator 11. Then, when the inspection object 14 reaches a predetermined position, an output of the position detection device 15 is generated. The output of the position detecting device 15 is sent to the X-ray transmission data input interface 3.
被検査物14を透過されたX線はX線検出装置16により
検出される。この場合、X線検出装置16は、第2図に示
すようにベルトコンベア13の幅方向に沿って配置される
ライン状X線検出器161を、ベルトコンベア13の移動方
向に沿って複数個設けたもので、その出力はX線透過デ
ータ入力インターフェース3に送られる。The X-ray transmitted through the inspection object 14 is detected by the X-ray detector 16. In this case, the X-ray detector 16 is provided with a plurality of linear X-ray detectors 161 arranged along the width direction of the belt conveyor 13 as shown in FIG. The output is sent to the X-ray transmission data input interface 3.
ここで、X線透過データ入力インターフェース3は、
X線検出装置16の各ライン状X線検出器161からの1次
元のX線透過データが時系列に並べられ、各ラインごと
の2次元のX線透過画像データとして与えられる。この
場合のデータ収集のタイミングは、位置検出装置15によ
り被検出物14が検出された時点から、各ライン状X線検
出器161の位置のずれと、得ようとする断層面数を考慮
して行なわれる。断層画像再構成プロセッサ4は、X線
透過データ入力インターフェース3を介して得られるデ
ータに対して検出器オフセット補正、対数変換、X線線
量補正、検出器感度補正などを行なったのちに、各ライ
ンの2次元画像の中から、各断層面ごとの1枚の断層画
像を作成するに必要な被検査物14の複数方向からの2次
元画像を抽出し、これら画像を加算して断層画像を作成
する。このような断層画像は各断層面について行なわれ
る。3次元立体像メモリ5は、断層画像再構成プロセッ
サ4で作成された連続断層像を3次元立体像として記憶
するものである。欠陥異物検出測定装置6は、3次元立
体像メモリ5の被検査物14の連続断層像の各々の断層画
像に対して、所定のしきい値の範囲内にあると思われる
欠陥異物の領域を2値化して検出し、領域番号付けを行
なって、欠陥異物の位置、外接直方体の大きさなどを計
測するようにしている。欠陥異物情報出力装置7は、欠
陥異物検出測定装置6で得られた欠陥異物の位置、大き
さの情報を出力するものである。Here, the X-ray transmission data input interface 3
The one-dimensional X-ray transmission data from each linear X-ray detector 161 of the X-ray detection device 16 is arranged in time series, and given as two-dimensional X-ray transmission image data for each line. In this case, the data collection timing is determined in consideration of the positional deviation of each linear X-ray detector 161 and the number of tomographic planes to be obtained from the point in time when the object 14 is detected by the position detection device 15. Done. The tomographic image reconstruction processor 4 performs a detector offset correction, a logarithmic conversion, an X-ray dose correction, a detector sensitivity correction, and the like on the data obtained through the X-ray transmission data input interface 3. Out of the two-dimensional images of the object to be inspected 14 necessary for creating one tomographic image for each tomographic plane from the two-dimensional images, and adding these images to create a tomographic image I do. Such a tomographic image is performed for each tomographic plane. The three-dimensional stereoscopic image memory 5 stores a continuous tomographic image created by the tomographic image reconstruction processor 4 as a three-dimensional stereoscopic image. The defect foreign matter detection / measurement device 6 detects a defect foreign matter area which is considered to be within a predetermined threshold range for each of the continuous tomographic images of the inspection object 14 in the three-dimensional stereoscopic image memory 5. Binary detection is performed, area numbering is performed, and the position of a defective foreign matter, the size of a circumscribed cuboid, and the like are measured. The defective foreign matter information output device 7 outputs information on the position and size of the defective foreign matter obtained by the defective foreign matter detection and measurement device 6.
次に、このように構成した実施例の動作を説明する。 Next, the operation of the embodiment configured as described above will be described.
この場合、第3図に示すフローチャートに沿って処理
が実行される。まず、ステップA1では、被検査物14がベ
ルトコンベア13により移送される。この状態で、X線発
生装置11より被検査物14に対してX線が照射される。そ
して、被検査物14が所定位置に達し位置検出装置15より
出力が発生すると、各ライン状X線検出器161からの1
次元のX線透過データが時系列に、2次元のX線透過画
像データとしてX線透過データ入力インターフェース3
に入力される。この場合、データ収集のタイミングは、
位置検出装置15により被検査物14が検出された時点か
ら、各ライン状X線検出器161の位置のずれと、得よう
とする断層面数を考慮して行なわれる。具体的には、第
4図に示すようにX線発生源Xに対して#1〜#nのラ
イン状X線検出器161が配置された場合、被検出物14の
断層面1〜mのうち、例えば断層面iにおける#1の検
出器161の#jの検出器161に対するずれは、Δli1jで表
される。従って、断層面iを再構成するためのデータ
は、第5図(a)に示す位置検出装置15の出力が与えら
れた時点から、同図(b)に示すように#1〜#nのラ
イン状X線検出器161の2次元X線透過画像データが順
に取込まれるようになるが、この場合、#jの検出器16
1での検出時刻をTとすると、#1の検出器161での検出
時刻TlはT+Δli1j/v、#2の検出器161での検出時刻T
2はT+Δli2j/v、…#nの検出器161での検出時刻Tnは
T+Δlinj/vとなる。ここで、vはベルトコンベア13の
速度である。また、この場合の断層画像のサイズを幅L
n、長さLyとすると、各断層像の再構成において少しず
つ使用する透過X線画像が異なるため、画像を幅lx、長
さlyだけ余計に収集できるようになる。具体的には、#
kの検出器161においては、 lx=Lx、 ly=Ly+Δlmkj−Δ1kjとなる。In this case, the processing is executed according to the flowchart shown in FIG. First, in step A1, the inspection object 14 is transferred by the belt conveyor 13. In this state, the X-ray generator 11 irradiates the inspection object 14 with X-rays. Then, when the inspection object 14 reaches a predetermined position and an output is generated from the position detection device 15, one of the signals from each linear X-ray detector 161 is output.
X-ray transmission data input interface 3 which converts two-dimensional X-ray transmission data in time series as two-dimensional X-ray transmission image data
Is input to In this case, the timing of data collection is
From the point in time when the inspection object 14 is detected by the position detection device 15, the position deviation of each linear X-ray detector 161 and the number of tomographic planes to be obtained are taken into consideration. More specifically, when the linear X-ray detectors 161 of # 1 to #n are arranged with respect to the X-ray source X as shown in FIG. Among them, for example, a deviation of the # 1 detector 161 on the tomographic plane i with respect to the #j detector 161 is represented by Δli1j. Therefore, the data for reconstructing the tomographic plane i starts from the point in time when the output of the position detecting device 15 shown in FIG. 5A is given, as shown in FIG. The two-dimensional X-ray transmission image data of the linear X-ray detector 161 is sequentially acquired. In this case, the detector 16 of #j
Assuming that the detection time at 1 is T, the detection time Tl at the detector 161 of # 1 is T + Δli1j / v, and the detection time T at the detector 161 at # 2.
2 is T + Δli2j / v,..., The detection time Tn of the detector 161 is T + Δlinj / v. Here, v is the speed of the belt conveyor 13. In addition, the size of the tomographic image in this case is set to width L.
Assuming that n and length Ly are used, transmission X-ray images used little by little in the reconstruction of each tomographic image are different, so that an extra image of width lx and length ly can be collected. In particular,#
In the detector 161 of k, lx = Lx and ly = Ly + Δlmkj−Δ1kj.
次いで、ステップA2に進む。このステップA2では、各
ライン状X線検出器161からの2次元透視画像データ
(幅lx、長さly)の中から、各断層面1〜mごとの1枚
の断層画像の再構成に必要な被検査物の複数方向からの
複数枚の2次元画像データ(幅Lx、長さLy)を抽出し、
これら画像を加算して断層画像を1枚作成する。これを
m枚分について実施する。Next, the process proceeds to step A2. In step A2, it is necessary to reconstruct one tomographic image for each tomographic plane 1 to m from the two-dimensional fluoroscopic image data (width lx, length ly) from each linear X-ray detector 161. Extraction of multiple 2D image data (width Lx, length Ly) from multiple directions
These images are added to create one tomographic image. This is performed for m sheets.
次に、ステップA3に進む。このステップA3では、断層
画像再構成プロセッサ4より得られた連続断層像が3次
元立体像としてメモリ5に書込まれる。Next, the process proceeds to step A3. In this step A3, the continuous tomographic image obtained from the tomographic image reconstruction processor 4 is written into the memory 5 as a three-dimensional stereoscopic image.
次に、ステップA4に進む。このステップA4では、3次
元立体像メモリ5に書込まれた被検査物14の連続断層像
の各々の断層画像に対して、欠陥異物検出測定装置6に
より、あるしきい値の範囲内にあると思われる欠陥異物
の領域を2値化により検出し、この検出された領域の領
域番号付け、外接直方体位置計測により欠陥異物の位
置、外接直方体の大きさが計測される。Next, the process proceeds to step A4. In step A4, each of the tomographic images of the continuous tomographic image of the inspection object 14 written in the three-dimensional stereoscopic image memory 5 is within a certain threshold range by the defect foreign matter detection and measurement device 6. The area of the defective foreign matter which is considered to be detected is detected by binarization, and the area of the detected area is numbered, and the position of the defective foreign matter and the size of the circumscribed cuboid are measured by measuring the circumscribed cuboid.
そして、ステップA5に進む。このステップA5では、欠
陥異物の位置および大きさの情報が欠陥異物情報出力装
置7により出力される。Then, the process proceeds to Step A5. In step A5, information on the position and size of the defective foreign matter is output by the defective foreign matter information output device 7.
したがって、このようにすれば被検査物の内部の様子
を含めた3次元立体像が再構成され、この3次元立体像
に基づいて欠陥異物の検出を3次元的に行なうことがで
きるので、従来の被検査物内部を2次元的にしか見るこ
とができないため、欠陥異物の位置が正確に特定できな
いばかりか、被検査物の形状によっては検査の死角がで
きたり、検査しずらい領域が存在することがあるなど、
精度の高い欠陥異物検出を期待できなかったものに比
べ、これらの欠点を一掃すべく欠陥異物の位置を正確に
特定できるとともに、検査の死角、検査しずらい領域な
どを無くすことができ、精度の高い欠陥異物の検出が期
待できるようになる。Therefore, in this way, a three-dimensional stereoscopic image including the inside of the object to be inspected is reconstructed, and it is possible to three-dimensionally detect a defective foreign substance based on the three-dimensional stereoscopic image. Because the inside of the object to be inspected can only be seen two-dimensionally, not only can the position of the defective foreign matter not be specified accurately, but depending on the shape of the object to be inspected, blind spots can be formed in the inspection, or there are areas where inspection is difficult. Such as
Compared to those that could not be expected to detect defective foreign matter with high accuracy, the position of defective foreign matter can be accurately specified to eliminate these defects, and blind spots in inspection and areas that are difficult to inspect can be eliminated. It is possible to expect the detection of defective foreign matter having a high density.
なお、この発明は上記実施例にのみ限定されず、要旨
を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。例えば、
上述した実施例ではライン状X線検出器を用いている
が、蛍光板、X線イメージインテンシファイアなどのエ
リア状X線検出器を用いてテレビカメラから画像を入力
して、ビデオ信号の各水平垂直信号について、上述と同
様な断層画像再構成、3次元異物検出を用いても同様な
効果が得られる。また、上述の実施例では、被検査物を
移動させてデータ収集を行なっているが、被検査物を固
定してデータ収集系を移動させたり、被検査物およびデ
ータ収集系を共に移動させてもよい、要は相対的に両者
が移動すればよい。さらに、上述では、ライン状X線検
出器は直線上のものが者が用いられ、断層平面上にデー
タを置換える時に、特にデータ間隙の補正をしていない
が、ライン状X線検出器が円弧状あるいは曲線状の場合
は、断層平面上にデータを置換える場合、データ間隙の
補正を中央部、両端部について行なうようにすればよ
い。さらに、上述の実施例では、X線発生装置1台、ラ
イン状X線検出器n台を用いたが、両者ともにn台ある
いはX線発生装置を2〜n−1台としても上述と同様な
効果が得られる。The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately modified and implemented without changing the gist. For example,
In the above-described embodiment, a linear X-ray detector is used. However, an image is input from a television camera using an area X-ray detector such as a fluorescent screen or an X-ray image intensifier, and each horizontal signal of a video signal is input. For a vertical signal, the same effect can be obtained by using the same tomographic image reconstruction and three-dimensional foreign object detection as described above. Further, in the above-described embodiment, the data is collected by moving the object to be inspected. However, the data acquisition system is moved by fixing the object to be inspected, or the object and the data collection system are moved together. It is only necessary that both move relatively. Furthermore, in the above description, a linear X-ray detector is used, and when a data is replaced on a tomographic plane, the data gap is not particularly corrected. In the case of an arc shape or a curved shape, when data is replaced on a tomographic plane, the correction of the data gap may be performed for the center portion and both end portions. Furthermore, in the above-described embodiment, one X-ray generator and n linear X-ray detectors are used. The effect is obtained.
[発明の効果] この発明によれば被検査物と相対的な動きを保ちなが
ら被検査物に対する複数方向からの2次元の透過画像デ
ータを収集するデータ収集手段、このデータ収集手段よ
り各断層面ごとの1枚の断層画像作成に必要な複数方向
からのデータを抽出するととともに加算して断層画像を
作成する断層画像再構成手段、この断層画像再構成手段
より得られた連続断層像を3次元立体像として捉えると
ともに該3次元立体像より欠陥異物を検出する3次元立
体像内異物検出手段、この3次元立体像内異物検出手段
より検出された欠陥異物の情報を出力する出力手段から
なっている。これにより、被検査物の3次元立体像より
欠陥異物の検出を3次元的に行なうことができるので、
欠陥異物の位置を正確に特定できるとともに、検査の死
角、検査しずらい領域を無くすことができ、精度の高い
欠陥異物の検出を期待できる。[Effects of the Invention] According to the present invention, data collection means for collecting two-dimensional transmission image data from a plurality of directions with respect to a test object while maintaining relative movement with respect to the test object; Tomographic image reconstructing means for extracting and adding data from a plurality of directions necessary for producing one tomographic image for each tomographic image, and a three-dimensional continuous tomographic image obtained by the tomographic image reconstructing means. A three-dimensional stereoscopic image foreign matter detecting means for capturing a three-dimensional image and detecting a defective foreign matter from the three-dimensional stereoscopic image, and an output means for outputting information on the defective foreign matter detected by the three-dimensional three-dimensional image foreign matter detecting means. I have. This makes it possible to three-dimensionally detect a defective foreign matter from a three-dimensional image of the inspection object.
The position of the defective foreign matter can be accurately specified, and the blind spot of the inspection and the area where the inspection is hardly performed can be eliminated, so that the detection of the defective foreign matter with high accuracy can be expected.
第1図はこの発明の一実施例の回路構成を示すブロック
図、第2図は同実施例の要部を示す斜視図、第3図は同
実施例の動作を説明するためのフローチャート、第4図
および第5図は同実施例を説明するための図である。 1……制御コンピュータ、3……X線透過データ入力イ
ンターフェース、4……断層画像再構成プロセッサ(画
像加算プロセッサ)、5……3次元立体像メモリ(複数
断層像記憶メモリ)、6……欠陥異物検出測定装置(2
値化プロセッサ、領域番号付けプロセッサ)、7……欠
陥異物情報出力装置、8……X線制御装置、9……コン
ベア制御装置、11……X線発生装置、12……高圧発生装
置、13……ベルトコンベア、14……被検査物、15……位
置検出装置、16……X線検出装置、161……ライン状X
線検出器。FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing a main part of the embodiment, FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the embodiment, FIG. 4 and 5 are diagrams for explaining the same embodiment. 1 ... control computer, 3 ... X-ray transmission data input interface, 4 ... tomographic image reconstruction processor (image addition processor), 5 ... 3D stereoscopic image memory (multiple tomographic image storage memory), 6 ... defect Foreign object detection and measurement device (2
Value processor, area numbering processor) 7, Defective foreign matter information output device, 8 X-ray control device, 9 Conveyor control device, 11 X-ray generation device, 12 High-pressure generation device, 13 ... belt conveyor, 14 ... inspected object, 15 ... position detecting device, 16 ... X-ray detecting device, 161 ... linear X
Line detector.
Claims (1)
る透過性放射線源と、 この透過性放射線源に対向し配置された2次元の放射線
検出器と、 この放射線検出器の面に沿って前記被検査物を相対的に
移動させる構構部と、 この機構部により前記被検査物が前記放射線検出器の面
に沿って相対的に移動している間の前記放射線検出器の
出力により前記被検査物の複数の透過画像データを収集
するデータ収集手段と、 このデータ収集手段より各断層面毎の1枚の断層画像作
成に必要な複数方向からのデータを抽出するとともに加
算して断層画像を作成する断層画像再構成手段と、 この断層画像再構成手段より得られた連続する断層像を
3次元立体像として捉えるとともに、該3次元立体像よ
り欠陥異物を検出する3次元立体像内異物検出手段と、 この3次元立体像内異物検出手段より検出された欠陥異
物の情報を出力する出力手段とを具備したことを特徴と
する欠陥異物検出装置。1. A transmissive radiation source for generating transmissive radiation for irradiating an object to be inspected, a two-dimensional radiation detector arranged opposite to the transmissive radiation source, and a radiation detector along a surface of the radiation detector. A structure for relatively moving the object to be inspected, and the mechanism detects an output of the radiation detector while the object to be inspected relatively moves along the surface of the radiation detector. A data collection unit that collects a plurality of transmission image data of the object to be inspected; data from a plurality of directions necessary for creating one tomographic image for each tomographic plane are extracted and added from the data collection unit; A tomographic image reconstructing means for creating a tomographic image, and a continuous tomographic image obtained by the tomographic image reconstructing means being captured as a three-dimensional three-dimensional image, and a foreign matter in the three-dimensional three-dimensional image for detecting a defective foreign matter from the three-dimensional stereoscopic image. Detection hand When the defect the foreign material detecting device being characterized in that and an output means for outputting information of the detected defect foreign matter from the three-dimensional image in the foreign substance detecting means.
Priority Applications (1)
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| JP63129206A JP2937324B2 (en) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Defective foreign matter detection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129206A JP2937324B2 (en) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Defective foreign matter detection device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01297772A JPH01297772A (en) | 1989-11-30 |
| JP2937324B2 true JP2937324B2 (en) | 1999-08-23 |
Family
ID=15003760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63129206A Expired - Fee Related JP2937324B2 (en) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Defective foreign matter detection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2937324B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020209313A1 (en) * | 2019-04-09 | 2020-10-15 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Image processing device, and image processing method |
| WO2020209312A1 (en) * | 2019-04-09 | 2020-10-15 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Inspecting device and inspecting method |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4711759B2 (en) * | 2005-07-08 | 2011-06-29 | パナソニック株式会社 | X-ray inspection equipment |
| JP6556785B2 (en) * | 2016-05-17 | 2019-08-07 | 東芝機械株式会社 | Method for predicting fatigue strength of cast iron materials |
| JP7267611B2 (en) * | 2020-04-30 | 2023-05-02 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Inspection device and inspection method |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56136529A (en) * | 1980-03-28 | 1981-10-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | Apparatus for reconstituting image |
| JPS6120845A (en) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Toshiba Corp | Measuring device for singular part area frequency |
-
1988
- 1988-05-26 JP JP63129206A patent/JP2937324B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020209313A1 (en) * | 2019-04-09 | 2020-10-15 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Image processing device, and image processing method |
| WO2020209312A1 (en) * | 2019-04-09 | 2020-10-15 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Inspecting device and inspecting method |
| JPWO2020209313A1 (en) * | 2019-04-09 | 2021-11-11 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Image processing device and image processing method |
| JPWO2020209312A1 (en) * | 2019-04-09 | 2021-11-11 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Inspection equipment and inspection method |
| JP7178621B2 (en) | 2019-04-09 | 2022-11-28 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Image processing device and image processing method |
| JP7178620B2 (en) | 2019-04-09 | 2022-11-28 | 朝日レントゲン工業株式会社 | Inspection device and inspection method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01297772A (en) | 1989-11-30 |
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