JP2887045B2 - Substrate exchange method and substrate exchange device - Google Patents

Substrate exchange method and substrate exchange device

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JP2887045B2
JP2887045B2 JP5151160A JP15116093A JP2887045B2 JP 2887045 B2 JP2887045 B2 JP 2887045B2 JP 5151160 A JP5151160 A JP 5151160A JP 15116093 A JP15116093 A JP 15116093A JP 2887045 B2 JP2887045 B2 JP 2887045B2
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えば複数の基板処
理装置によって被処理基板に一連の処理を施す基板処理
技術に利用され、各基板処理装置において被処理基板を
効率よく交換する基板交換方法および基板交換装置に関
する。
[Field of the Invention The present invention is, for example, a plurality of substrate processing
The present invention relates to a substrate exchanging method and a substrate exchanging method for efficiently exchanging a substrate to be processed in each substrate processing apparatus , which is used in a substrate processing technique for performing a series of processes on a substrate to be processed by a processing apparatus .

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、液晶表示基板や半導体基
板などの精密電子基板の製造プロセスにおいては、たと
えば回転式洗浄装置(以下「スピンスクラバ」)、回転
式塗布装置(以下「スピンコータ」)、回転式現像装置
(以下「スピンデベロッパ」)、オーブン(加熱器)、
露光機などの基板処理装置(基板処理部)を配列し、被
処理基板をその配列に沿って搬送しつつそれらの基板処
理装置に出し入れすることにより一連の処理が施され
る。従来の製造プロセスにおいて使用され、被処理基板
を順次搬送する搬送装置は、例えば特開平2−1328
40号公報において開示されるように、1つの基板処理
装置から当該基板処理装置における処理を終えた基板を
取り出し、その後に処理を施すべき新たな基板を当該基
板処理装置へ導入していた。
2. Description of the Related Art As is well known, in a manufacturing process of a precision electronic substrate such as a liquid crystal display substrate or a semiconductor substrate, for example, a rotary cleaning device (hereinafter "spin scrubber"), a rotary coating device (hereinafter "spin coater"). , Rotary developing device (hereinafter "spin developer"), oven (heater),
A series of processes are performed by arranging a substrate processing apparatus (substrate processing unit) such as an exposure machine and transferring a substrate to be processed into and out of the substrate processing apparatus while transporting the substrate along the arrangement. A transfer device that is used in a conventional manufacturing process and sequentially transfers a substrate to be processed is disclosed in, for example, JP-A-2-1328.
As disclosed in Japanese Patent Publication No. 40, a substrate that has been processed in the substrate processing apparatus is taken out from one substrate processing apparatus, and then a new substrate to be processed is introduced into the substrate processing apparatus.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来の基板搬送装置で
は、上述のように基板処理装置に対する基板の導入及び
取り出しが継次的に行われるので、基板の搬送に時間を
要し、基板の製造効率が悪いという問題点があった。
In the conventional substrate transfer apparatus, the introduction and removal of the substrate to and from the substrate processing apparatus are performed successively as described above. There was a problem that efficiency was poor.

【0004】この発明は従来技術における上記の問題を
解決するためになされたものであり、基板の導入および
取り出しを効率よく行うことにより、基板の製造効率を
高め得る基板交換方法および基板交換装置を提供するこ
とを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the prior art, and there is provided a substrate exchange method and a substrate exchange apparatus capable of improving the production efficiency of a substrate by efficiently introducing and removing the substrate. The purpose is to provide.

【0005】[0005]

【目的を達成するための手段】この発明に係る請求項1
に記載の基板交換方法は、基板処理装置にて処理された
基板基板処理装置から取り出し、かつ基板処理装置
基板を導入する基板交換方法にであって、(a) 基板処理
装置に上下に間隔を隔てて配置された一対の基板保持部
材の上側によって基板を下方から保持するとともに、
数の基板処理装置間で基板を搬送するための基板搬送装
置に上下に間隔を隔てて配置された一対の基板交換部材
の下側によって基板を下方から保持する工程と、(b) 下
側の基板交換部材によって基板を保持しつつ、一対の基
板保持部材に挟まれる位置に一対の基板交換部材を移動
する工程と、(c) 上側の基板交換部材を上方に移動させ
ることにより、上側の基板保持部材によって保持された
基板を上側の基板交換部材上に移載させるとともに、下
側の基板交換部材を下方に移動させることにより、下側
の基板交換部材によって保持された基板を下側の基板保
持部材上に移載させる工程と、(d) 上側の基板交換部材
によって基板を保持しつつ、一対の基板交換部材を一対
の基板保持部材に対して退避させる工程とを備えるこ
とを特徴とする。
Means for Achieving the Object Claim 1 according to the present invention
The substrate exchange method described in was processed by the substrate processing apparatus
Remove substrate from substrate processing equipment and transfer to substrate processing equipment
A method of replacing a substrate for introducing a substrate, the method comprising: (a) substrate processing
It holds the substrate from below by the upper of the pair of board holding member which is spaced apart vertically in the apparatus, double
Substrate transfer equipment for transferring substrates between a number of substrate processing equipment
A step of holding the substrate from below by the lower of the pair of substrates exchange member disposed at intervals in the up and down location, while holding the substrate by (b) the underlying substrate exchange member, a pair of groups
Move a pair of substrate exchange members to a position sandwiched by the plate holding members
A step of, by moving upwardly (c) upper substrate exchange member, is held by the upper substrate holding member
Together causing transfer on the upper side of the substrate exchange member substrate, transferring the lower substrate exchange member by moving downward, the substrate held by the lower side of the substrate exchange member on the lower side of the substrate holding member on pair a step of, (d) is the substrate while holding the substrate by the upper substrate exchange member, a pair of substrates exchange member
Characterized in that it comprises a step of retracting, against the substrate holding member.

【0006】この発明に係る請求項2に記載の基板交換
方法は、基板処理装置にて処理された基板基板処理装
から取り出し、かつ基板処理装置基板を導入する基
板交換方法であって、(a) 基板処理装置に上下に間隔を
隔てて配置された一対の基板保持部材の下側によって
を下方から保持するとともに、複数の基板処理装置間
で基板を搬送するための基板搬送装置に上下に間隔を隔
てて配置された一対の基板交換部材の上側によって基板
を下方から保持する工程と、(b) 上側の基板交換部材に
よって基板を保持しつつ、一対の基板保持部材を挟む位
置に一対の基板交換部材を移動する工程と、(c) 下側の
基板交換部材を上方に移動させることにより、下側の基
板保持部材によって保持された基板を下側の基板交換部
材上に移載させるとともに、上側の基板交換部材を下方
に移動させることにより、上側の基板交換部材によって
保持された基板を上側の基板保持部材上に移載させる工
程と、(d) 下側の基板交換部材によって基板を保持しつ
つ、一対の基板交換部材を一対の基板保持部材に対して
退避させる工程と、を備えることを特徴とする。
[0006] substrate exchange method according to claim 2 according to the present invention, the substrate processed in the substrate processing apparatus substrate processing instrumentation
Removed from the location, and a substrate exchanging method for introducing a substrate into the substrate processing apparatus, based on the lower of the pair of board holding member disposed at intervals in the up and down (a) a substrate processing apparatus
It holds the plate from below, between a plurality of substrate processing apparatus
A step of holding the substrate from below by a pair of substrate exchange members arranged vertically above and below in a substrate transportation device for transporting the substrate , and (b) by the upper substrate exchange member while holding the substrate, position sandwiching the pair of board holding member
A step of moving the pair of substrates exchange member in location, (c) a lower substrate exchange member by causing movement upward, the substrate held by the lower side of the substrate holding member on the lower side of the substrate exchange member (C) transferring the substrate held by the upper substrate exchange member onto the upper substrate holding member by moving the upper substrate exchange member downward, and (d) exchanging the lower substrate exchange member. while holding the substrate by a member, characterized in that it comprises a step of <br/> retracting a pair of substrates exchange member with respect to the pair of board holding member.

【0007】この発明に係る基板交換装置は、基板処理
装置にて処理された基板を基板処理装置から取り出し、
かつ基板処理装置へ基板を導入する基板交換装置であっ
て、(a) 複数の基板処理装置のそれぞれに上下に間隔を
隔てて配置され、基板を下方から保持することが可能な
一対の基板保持機構と、(b) 複数の基板処理装置間で基
板を搬送するための基板搬送装置に上下に間隔を隔てて
配置され、基板を下方から保持することが可能な一対の
基板交換機構と、(c) 一対の基板交換機構の一方が一対
の基板保持機構の一方から基板を受け取り、該一対の基
板交換機構の他方が該一対の基板保持機構の他方へと基
板を渡すように、該一対の基板交換機構を該一対の基板
保持機構に近接させた状態で該一対の基板交換機構の上
下方向の間隔を変化させる間隔制御手段と、(d) 一対の
基板交換機構を一対の基板保持機構に対して進退させる
進退制御手段と、(e) 一対の基板交換機構を複数の基板
処理装置のそれぞれの近傍に移動させる移動制御手段
と、を備えることを特徴とする。
[0007] A substrate exchange apparatus according to the present invention takes out a substrate processed by the substrate processing apparatus from the substrate processing apparatus.
And a substrate exchanging device for introducing a substrate into the substrate processing apparatus, wherein (a) a pair of substrate holding apparatuses which are arranged in each of the plurality of substrate processing apparatuses at an interval vertically and capable of holding the substrate from below. A mechanism, and (b) a pair of substrate exchange mechanisms that are vertically spaced apart in a substrate transport apparatus for transporting a substrate between a plurality of substrate processing apparatuses and that can hold a substrate from below, c) One of the pair of substrate exchange mechanisms is a pair
Receiving a substrate from one of the substrate holding mechanisms, and
The other of the plate exchange mechanisms is connected to the other of the pair of substrate holding mechanisms.
The pair of substrate exchange mechanisms are moved so that
Interval control means for changing the vertical distance between the pair of substrate exchange mechanisms in a state close to the holding mechanism ; and (d) advance / retreat control means for moving the pair of substrate exchange mechanisms toward and away from the pair of substrate holding mechanisms. (E) moving control means for moving the pair of substrate exchange mechanisms to the vicinity of each of the plurality of substrate processing apparatuses.

【0008】[0008]

【作用】この発明における基板交換方法では、処理済み
の基板を基板保持部材へ保持させ、新たに処理すべき
を基板交換部材へ保持させる。基板交換部材が基板保
持部材へと接近し、上下方向へ移動することによって、
これらの基板は同時に交換される。複数の基板処理装置
が配列されて成る基板処理システムにこの方法を応用す
るには、この方法による基板交換を繰り返しつつ各基板
を一連の基板処理装置へ順次搬送すればよい。
[Action] In the substrate exchange process in the present invention, the processed substrate is held to the substrate holding member, to be processed new group
The board is held by the board exchange member. When the substrate exchange member approaches the substrate holding member and moves up and down,
These boards are replaced at the same time. In order to apply this method to a substrate processing system in which a plurality of substrate processing apparatuses are arranged, each substrate may be sequentially transferred to a series of substrate processing apparatuses while repeating the substrate exchange by this method.

【0009】処理済み基板と新たに処理すべき基板とが
同時に交換されるので、基板処理装置への基板の導入お
よび取り出しが効率よく行われる。また、基板処理シス
テムに応用すれば、基板交換部材は常に被処理基板を保
持して各基板処理装置間を移動できる。すなわち、被処
理基板を載置することなく移動する空送の期間を要しな
い。このため、効率よく被処理基板を搬送し得る。
Since the processed substrate and the substrate to be newly processed are simultaneously exchanged, the introduction and removal of the substrate into and from the substrate processing apparatus can be efficiently performed. In addition, when applied to a substrate processing system, the substrate exchange member can move between the substrate processing apparatuses while always holding the substrate to be processed. In other words, there is no need for a period of air transport in which the substrate to be processed moves without being placed. Therefore, the substrate to be processed can be efficiently transported.

【0010】この発明における基板交換装置は、一対の
基板交換部材の上下間隔を変化させる間隔制御手段を備
えているので、この間隔を変化させるという単純な工程
によって、この発明の基板交換方法による基板の交換を
実行し得る。
[0010] Since the board exchange device of the present invention includes interval control means for changing the vertical interval between the pair of substrate exchange members, the substrate exchange method according to the present invention can be performed by a simple process of changing the interval. Exchange can be performed.

【0011】[0011]

【実施例】【Example】

<1.基板処理システムの全体構成> <1. Overall Configuration of Substrate Processing System>

【0012】図2は、この発明の基板交換方法を効果的
に実施する一例である基板処理システム1の平面配置図
であり、図3は図2のIII −III 位置から(−X)方向
に見た側面構造図である。この基板処理システム1は、
液晶表示用基板を被処理基板とし、その被処理基板の表
面に電極などのパターンを形成するためのレジスト膜を
塗布する装置として構成されている。なお、この図2お
よび以下の各図においては、床面に平行な水平面をX−
Y面とし、鉛直方向をZ方向とする3次元直角座標系X
−Y−Zが定義されている。(+X)方向と(−X)方
向とを区別しない場合には単に「X方向」と呼ぶ(Yお
よびZについても同様)。基板処理システム1は、被処
理基板に対する処理一連の処理を行う処理部A1と、こ
の処理部A1に沿ってX方向に被処理基板を搬送する搬
送部A2とを有している。
FIG. 2 is a plan layout view of a substrate processing system 1 as an example for effectively implementing the substrate exchange method of the present invention, and FIG. 3 is a view from the position III-III in FIG. FIG. This substrate processing system 1
The liquid crystal display substrate is used as a substrate to be processed, and is configured as an apparatus for applying a resist film for forming a pattern such as an electrode on the surface of the substrate to be processed. In FIG. 2 and each of the following drawings, a horizontal plane parallel to the floor is indicated by X-.
A three-dimensional rectangular coordinate system X with the Y plane and the vertical direction as the Z direction
-YZ is defined. When the (+ X) direction and the (−X) direction are not distinguished, they are simply referred to as “X direction” (the same applies to Y and Z). The substrate processing system 1 includes a processing unit A1 that performs a series of processing on a substrate to be processed, and a transport unit A2 that transports the substrate to be processed in the X direction along the processing unit A1.

【0013】基板処理システム1は、複数の基板処理装
置を多段に配列した多段構成となっている。第1段部分
AF1の処理部A1には、スピンスクラバSS、スピン
コータSC、エッジおよびバックリンス部ERがX方向
に配列している。また、被処理基板を一時的に載置可能
なインターフェイス部IF2がこれらの配列の中に設け
られている。
The substrate processing system 1 has a multistage configuration in which a plurality of substrate processing apparatuses are arranged in multiple stages. In the processing section A1 of the first-stage portion AF1, a spin scrubber SS, a spin coater SC, an edge and a back rinse section ER are arranged in the X direction. Further, an interface section IF2 on which the substrate to be processed can be temporarily placed is provided in these arrangements.

【0014】一方、第1段部分AF1の上には第2段部
分AF2が設けられている。第2段部分AF2は2層構
造になっており、第1層目はホットプレート(オーブ
ン)HP1,HP4〜HP5,クールプレート(冷却プ
レート)CP1〜CP3のX方向配列を有している。ま
た、第2層目はホットプレートHP2,HP3,HP6
を有している。図3に示すように、対応する第1層目と
第2層目(たとえばクールプレートCP1とホットプレ
ートHP3)とは上下に積み重ねられている。また、被
処理基板を一時的に載置可能なインターフェイス部IF
1がこれらの配列の中に設けられている。第1段部分A
F1が基板処理装置に関して1層構造であり、第2段部
分AF2が2層構造であることによって、この基板処理
システム1は基板処理装置に関して2段3層構造となっ
ている。
On the other hand, a second-stage portion AF2 is provided on the first-stage portion AF1. The second-stage portion AF2 has a two-layer structure, and the first layer has an X-direction arrangement of hot plates (oven) HP1, HP4 to HP5, and cool plates (cooling plates) CP1 to CP3. The second layer is a hot plate HP2, HP3, HP6.
have. As shown in FIG. 3, the corresponding first layer and second layer (for example, the cool plate CP1 and the hot plate HP3) are vertically stacked. Also, an interface unit IF capable of temporarily mounting a substrate to be processed.
One is provided in these arrangements. First stage part A
Since F1 has a one-layer structure with respect to the substrate processing apparatus and the second-stage portion AF2 has a two-layer structure, the substrate processing system 1 has a two-stage three-layer structure with respect to the substrate processing apparatus.

【0015】処理部A1の前面側すなわち(−Y)側に
は、X方向に伸びるフレーム200aが設けられてい
る。その設置高さは、スピンコータSCにおける被処理
基板の出し入れ高さ、すなわちパスラインPS1と、上
段の基板処理装置CP3,HP6のそれぞれにおける出
し入れ高さPL1,PL2のうち高位のもの(すなわち
図示例ではPL2)とのほぼ中間の位置である。このフ
レーム200aには、X方向に延びる2本の平行ガイド
レール(搬送路)201,202がZ方向に間隔を隔て
て固定されている。上方のガイドレール201には、1
台の基板搬送装置101が付設されており、基板搬送装
置101はガイドレール201によってガイドされつつ
X方向に並進自在となっている(図2では基板搬送装置
101とガイドレール201との連結関係は図示省略さ
れている)。また、下方のガイドレール202には、2
台の基板搬送装置102,103が付設されており、基
板搬送装置102,103はガイドレール202によっ
てガイドされつつX方向に並進自在となっている。これ
らの基板搬送装置101〜103は被処理基板を各基板
処理装置間で搬送するためのものであり、その詳細構成
は後述する。
A frame 200a extending in the X direction is provided on the front side of the processing section A1, that is, on the (-Y) side. The installation height is the height of the loading / unloading of the substrate to be processed in the spin coater SC, that is, the higher one of the pass line PS1 and the loading / unloading heights PL1 and PL2 of the upper substrate processing apparatuses CP3 and HP6 (that is, in the illustrated example). PL2). Two parallel guide rails (transport paths) 201 and 202 extending in the X direction are fixed to the frame 200a at intervals in the Z direction. The upper guide rail 201 has 1
A substrate transfer device 101 is attached, and the substrate transfer device 101 is free to translate in the X direction while being guided by the guide rail 201 (in FIG. 2, the connection relationship between the substrate transfer device 101 and the guide rail 201 is (Not shown). In addition, the lower guide rail 202 has
The board transfer devices 102 and 103 are attached, and the board transfer devices 102 and 103 can be translated in the X direction while being guided by the guide rails 202. These substrate transfer devices 101 to 103 are for transferring a substrate to be processed between the respective substrate processing devices, and the detailed configuration thereof will be described later.

【0016】<2.基板搬送装置の構成><2. Configuration of substrate transfer device>

【0017】図4は図3の基板搬送装置101の斜視図
である。また、図5は図4の矢印VII 方向から見た基板
搬送装置101の側面図であり、図6は図4の矢印VIII
方向から見た基板搬送装置101の平面図である。さら
に、図7は、図4の矢印IX方向から見た基板搬送装置1
01の正面図である。この実施例のシステム1では、3
台の基板搬送装置101〜103が使用されているが、
それらの基本構成は同一であるため、以下では基板搬送
装置101を中心に説明する。
FIG. 4 is a perspective view of the substrate transfer apparatus 101 of FIG. FIG. 5 is a side view of the substrate transfer apparatus 101 viewed from the direction of arrow VII in FIG. 4, and FIG. 6 is an arrow VIII in FIG.
FIG. 2 is a plan view of the substrate transfer apparatus 101 viewed from a direction. Further, FIG. 7 shows the substrate transfer apparatus 1 viewed from the direction of arrow IX in FIG.
It is a front view of No. 01. In the system 1 of this embodiment, 3
Table transfer devices 101 to 103 are used,
Since their basic configurations are the same, the following description focuses on the substrate transfer device 101.

【0018】<2-1 .全体構成><2-1. Overall Configuration>

【0019】最初に図5を参照する。フレーム200a
に固定されたガイドレール201,202のうち、上方
のガイドレール201に第1の基板搬送装置101が付
設されている。この基板搬送装置101は、基板搬送装
置101全体を水平X方向に並進させるためのX移動機
構110を有している。このX移動機構110には、垂
直Z方向に屈伸する垂直アーム機構120aが連結され
ており、この垂直アーム機構120aによってハウジン
グ131が支持されている。図4を参照して、このハウ
ジング131はY方向の両端が開口した中空のボックス
であり、その内部には水平Y方向に屈伸可能な水平アー
ム機構140が収容されている。そして、その先端に
は、基板交換機構(基板交換部材)としての1対のハン
ド150a、150bが連結されている。
Referring first to FIG. Frame 200a
The first substrate transfer device 101 is attached to the upper guide rail 201 of the guide rails 201 and 202 fixed to the first. The substrate transfer device 101 has an X moving mechanism 110 for translating the entire substrate transfer device 101 in the horizontal X direction. A vertical arm mechanism 120a that bends and stretches in the vertical Z direction is connected to the X moving mechanism 110, and the housing 131 is supported by the vertical arm mechanism 120a. Referring to FIG. 4, this housing 131 is a hollow box having both ends opened in the Y direction, and houses therein a horizontal arm mechanism 140 that can bend and extend in the horizontal Y direction. A pair of hands 150a and 150b as a substrate exchange mechanism (substrate exchange member) are connected to the tip.

【0020】<2-2 .X移動機構110><2-2. X moving mechanism 110>

【0021】図5に戻って、X移動機構110は、ガイ
ドレール201を上下方向から挟むように配置された車
輪111,112を有している。また、支持部材115
によって支持されたモータ114には駆動輪113が連
結されており、モータ114によって駆動輪113を回
転させることにより、X移動機構110(したがって基
板搬送装置101の全体)がガイドレール201によっ
てガイドされつつX方向に並進する。
Returning to FIG. 5, the X moving mechanism 110 has wheels 111 and 112 arranged so as to sandwich the guide rail 201 from above and below. Also, the support member 115
A driving wheel 113 is connected to a motor 114 supported by the motor 114. By rotating the driving wheel 113 by the motor 114, the X moving mechanism 110 (and thus the entire substrate transfer device 101) is guided by the guide rail 201. Translate in the X direction.

【0022】<2-3 .垂直アーム機構120a><2-3. Vertical arm mechanism 120a>

【0023】支持部材115の下にはモータ116が固
定されている。垂直アーム機構120aは実質的に等長
の2本のアーム121a,122aを備えており、この
うちの第1のアーム121aの端部がモータ116に連
結されている。また,第2のアーム122aの端部12
3aはハウジング131に連結されている。垂直アーム
機構120aはいわゆるスカラロボット機構とされてい
る。このため、モータ116が回転するとそれぞれのア
ーム121a,122aがそれぞれ矢印θ1、θ2で示
すように回転し、ハウジング131がその姿勢を維持し
つつをZ方向に並進する(矢印E1)。モータ116の
回転方向を切り換えることにより、ハウジング131の
Z方向における並進の向きが(+Z)方向から(−Z)
方向に、または(−Z)方向から(+Z)方向に逆転す
る。
A motor 116 is fixed below the support member 115. The vertical arm mechanism 120a includes two arms 121a and 122a having substantially the same length. The end of the first arm 121a is connected to the motor 116. Also, the end 12 of the second arm 122a
3a is connected to the housing 131. The vertical arm mechanism 120a is a so-called SCARA robot mechanism. Therefore, when the motor 116 rotates, the arms 121a and 122a rotate as indicated by arrows θ1 and θ2, respectively, and the housing 131 translates in the Z direction while maintaining its posture (arrow E1). By switching the rotation direction of the motor 116, the translation direction of the housing 131 in the Z direction is changed from the (+ Z) direction to the (−Z) direction.
Direction or from the (−Z) direction to the (+ Z) direction.

【0024】図6に示されているように、垂直アーム機
構120aと同じ構造を有する別の垂直アーム機構12
0bがハウジング131の反対側に設けられている。こ
れらの垂直アーム機構120a,120bは水平X方向
に延びる連結材124によって相互に連結されている。
このため、モータ116の駆動力は連結材124を介し
て垂直アーム機構120bにも伝達される。すなわち、
第1の垂直アーム機構120aの各アームが回転する
と、それとともに連結材124を介して第2の垂直アー
ム機構120bの各アームも対応する量だけ回転する。
これによってハウジング131は両端で支持されつつ、
姿勢を変えずにZ方向に変位する。なお、第2の垂直ア
ーム機構120bにおいては、第1の垂直アーム機構1
20aにおけるモータ116とのバランスをとるために
トルクバネ117が設けられている。
As shown in FIG. 6, another vertical arm mechanism 12 having the same structure as the vertical arm mechanism 120a is provided.
0b is provided on the opposite side of the housing 131. These vertical arm mechanisms 120a and 120b are mutually connected by a connecting member 124 extending in the horizontal X direction.
Therefore, the driving force of the motor 116 is also transmitted to the vertical arm mechanism 120b via the connecting member 124. That is,
When each arm of the first vertical arm mechanism 120a rotates, each arm of the second vertical arm mechanism 120b also rotates by a corresponding amount via the connecting member 124.
This allows the housing 131 to be supported at both ends,
Displaces in the Z direction without changing the posture. Note that, in the second vertical arm mechanism 120b, the first vertical arm mechanism 1
A torque spring 117 is provided to balance with the motor 116 in 20a.

【0025】図5には基板搬送装置102も示されてい
るが、この基板搬送装置102の構成もほぼ同様であ
る。X移動機構および垂直アーム機構については第1と
第2の基板搬送装置101,102において上下対称に
なっているが、ハウジング131,132およびその内
部の構成(後述する)は方向を含めて相互に同一であ
る。
FIG. 5 also shows the substrate transfer device 102, but the structure of the substrate transfer device 102 is almost the same. Although the X moving mechanism and the vertical arm mechanism are vertically symmetrical in the first and second substrate transfer devices 101 and 102, the housings 131 and 132 and the internal structure (described later) of the housings 131 and 132, including the directions, are mutually reciprocated. Are identical.

【0026】なお、基板処理システム1に属する基板搬
送装置101〜103のハウジング131のZ方向変位
可能範囲は、図3におけるパスラインPS1からホット
プレートHP6における被処理基板の出し入れ高さPL
2までの範囲とされる。
The range in which the housing 131 of the substrate transfer devices 101 to 103 belonging to the substrate processing system 1 can be displaced in the Z direction is from the pass line PS1 in FIG. 3 to the loading / unloading height PL of the substrate to be processed in the hot plate HP6.
The range is up to 2.

【0027】<2-4 .水平アーム機構140><2-4. Horizontal arm mechanism 140>

【0028】図6を参照する。この図6はハウジング1
31の天井面を取り除いて示した平面図である。ハウジ
ング131の中には水平アーム機構140の一端が連結
されている。水平アーム機構140は実質的に等長の2
本のアーム141,142を備えており、第1のアーム
141は連結位置143においてモータ133(図4,
図5参照)に連結されている。また、第2のアーム14
2の先端はハンド150a、150bに連結されてい
る。
Referring to FIG. This FIG.
It is the top view which removed and showed the ceiling surface of 31. One end of a horizontal arm mechanism 140 is connected to the housing 131. The horizontal arm mechanism 140 is substantially equal length 2
Arm 141, 142. The first arm 141 has a motor 133 (FIG.
(See FIG. 5). Also, the second arm 14
2 are connected to the hands 150a and 150b.

【0029】この水平アーム機構140もまた、スカラ
ロボット機構として構成されており、モータ133を回
転させるとアーム141、142は矢印α1,α2方向
にそれぞれ旋回し、ハンド150a、150bはその姿
勢を維持しつつY方向に並進する(矢印E2)。このた
め、モータ133を駆動することによってハンド150
a、150bが(+Y)方向に並進すると、ハンド15
0a、150bはハウジング131から外部に露出して
基板処理装置内に到達する。また、(−Y)方向に並進
するとハンド150a、150bはハウジング131内
に収容される。
The horizontal arm mechanism 140 is also configured as a SCARA robot mechanism. When the motor 133 is rotated, the arms 141 and 142 pivot in the directions of arrows α1 and α2, and the hands 150a and 150b maintain their postures. While moving in the Y direction (arrow E2). Therefore, by driving the motor 133, the hand 150
a, 150b translates in the (+ Y) direction.
Oa and 150b are exposed outside from the housing 131 and reach the inside of the substrate processing apparatus. When translated in the (−Y) direction, the hands 150 a and 150 b are accommodated in the housing 131.

【0030】<2-5 .開閉機構160><2-5. Opening / closing mechanism 160>

【0031】図4および図6に示すように、上下2枚の
ハンド150a、150bはそれぞれ2本の指を有する
平面板である。被処理基板をハンド150aまたは15
0bの上に載置してハウジング131に収容し、その状
態で他の基板処理装置に搬送される。
As shown in FIGS. 4 and 6, the upper and lower hands 150a and 150b are flat plates each having two fingers. Handle the substrate to be processed by hand 150a or 15
The substrate 131 is placed on the housing 131b and housed in the housing 131, and is transported to another substrate processing apparatus in that state.

【0032】ハンド150a、150bは、開閉機構1
60を介してアーム142の先端に連結されている。図
8は開閉機構160を上方向から見た平面断面図であ
る。開閉機構160は本体部161を有しており、この
本体部161に設けられた孔168においてアーム14
2の先端に連結される。本体部161には4本のレール
163が垂直に設けられており、これらのレール163
には2つの摺動ブロック162a、162bが摺動自在
に取り付けられている。摺動ブロック162a、162
bには、ハンド150a、150bがそれぞれ固定的に
取り付けられている。本体部161には圧送される空気
圧により双方向に回転するエアシリンダ166が設けら
れている。エアシリンダ166は、2つの円形の偏心カ
ム165a、165bが固定的に取り付けられた駆動軸
164を回転駆動する。
The hands 150a and 150b are provided with an opening / closing mechanism 1.
It is connected to the tip of the arm 142 via 60. FIG. 8 is a plan sectional view of the opening / closing mechanism 160 as viewed from above. The opening / closing mechanism 160 has a main body 161, and the arm 14 is inserted through a hole 168 provided in the main body 161.
2 is connected to the tip. The main body 161 is provided with four rails 163 vertically.
, Two sliding blocks 162a and 162b are slidably mounted. Sliding blocks 162a, 162
Hands 150a and 150b are fixedly attached to b. The main body 161 is provided with an air cylinder 166 that rotates bidirectionally by the air pressure fed. The air cylinder 166 rotationally drives a drive shaft 164 to which two circular eccentric cams 165a and 165b are fixedly attached.

【0033】図9は開閉機構160を+Y方向に見た正
面図である。この図は本体部161を除去して描かれて
いる。摺動ブロック162a、162bには、偏心カム
165a、165bが摺動し得る、水平な上下一対の内
側面を有するガイド167a、167bがそれぞれ設け
られている。1対の偏心カム165a、165bは、互
いに駆動軸164を挟んで逆方向に偏心している。駆動
軸164が回転するのにともなって、偏心カム165
a、165bは摺動ブロック162a、162bの1方
を押上げ、他方を押下げる。すなわち、エアシリンダ1
66が作動することにより、摺動ブロック162a、1
62bに固定されたハンド150a、150bが上下方
向(Z方向)に開閉する。
FIG. 9 is a front view of the opening / closing mechanism 160 as viewed in the + Y direction. This drawing is drawn with the main body 161 removed. The sliding blocks 162a and 162b are provided with guides 167a and 167b having a pair of horizontal upper and lower inner surfaces, respectively, on which the eccentric cams 165a and 165b can slide. The pair of eccentric cams 165a and 165b are eccentric in opposite directions with the drive shaft 164 interposed therebetween. As the drive shaft 164 rotates, the eccentric cam 165
a and 165b push up one of the sliding blocks 162a and 162b and push down the other. That is, the air cylinder 1
66 operates, the sliding blocks 162a, 1
The hands 150a and 150b fixed to 62b open and close in the vertical direction (Z direction).

【0034】図10はアーム142と本体部161との
連結部分の詳細図である。本体部161とアーム142
との間には脱着機構170が介在する。図10には、こ
の脱着機構170の断面構造が示されている。中空の本
体部171の中には、気密を保持しつつ内側面との摺動
が可能なピストン172が収納されている。ピストン1
72には押え具173が取り付けられている。本体部1
71の内部に圧縮して収納されるスプリング174は、
ピストン172および押え具173を下方向に常時付勢
する。この付勢力によって押え具173が本体部161
の孔168に押圧され、本体部161とアーム142と
が連結される。本体部171の内壁とピストン172と
の間に形成される空気室176へ、エアー圧送管から圧
縮空気が供給されると、スプリング174の付勢力に抗
してピストン172が上方に持ち上がり、押え具173
が孔168を離れて浮上する。図8に示すように孔16
8には切れ込みが設けられているので、押え具173が
浮上しているときに切れ込みを通して本体部161の取
り外しおよび挿入が可能である。すなわち、脱着機構1
70が介在するために、本体部161とアーム142と
の間の連結および解除が自在である。
FIG. 10 is a detailed view of a connecting portion between the arm 142 and the main body 161. Main body 161 and arm 142
A detachment mechanism 170 is interposed between the two. FIG. 10 shows a cross-sectional structure of the attaching / detaching mechanism 170. The hollow main body 171 houses a piston 172 capable of sliding with the inner surface while maintaining airtightness. Piston 1
A holding member 173 is attached to 72. Main unit 1
The spring 174 which is compressed and housed inside 71 is
The piston 172 and the presser 173 are constantly urged downward. The pressing force causes the holding member 173 to move the main body 161.
Of the main body 161 and the arm 142 are connected. When compressed air is supplied from an air pressure pipe to an air chamber 176 formed between the inner wall of the main body 171 and the piston 172, the piston 172 is lifted upward against the urging force of the spring 174, and 173
Emerge from the hole 168. As shown in FIG.
8 is provided with a notch, so that the main body 161 can be removed and inserted through the notch when the presser 173 is floating. That is, the detachment mechanism 1
Since the 70 is interposed, the connection and release between the main body 161 and the arm 142 can be freely performed.

【0035】<3.基板搬送装置の動作><3. Operation of substrate transfer device>

【0036】図1は、基板搬送装置101を用いて、例
えばホットプレートHPなどの基板処理装置300へ被
処理基板10を交換する要領を示す模式図である。基板
処理装置300には、基板搬送装置101との間で被処
理基板10の受渡しを行うための、上下2段構造の棚
(基板保持部材)310a、310bが設けられてい
る。後述するように棚310a、310bは、処理を施
す際に被処理基板10を設置すべき所定位置との間で被
処理基板10の受渡しを行い得る構造を備えている。基
板搬送装置101が有する1対のハンド150a、15
0bの間隔は、エアシリンダ166を作動させることに
よって、1対の棚310a、310bの間隔に比べて狭
く調整することも、広く調整することも可能である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a procedure for exchanging a substrate 10 to be processed with a substrate processing apparatus 300 such as a hot plate HP using the substrate transfer apparatus 101. The substrate processing apparatus 300 is provided with shelves (substrate holding members) 310a and 310b having a two-tier structure for transferring the substrate 10 to and from the substrate transfer apparatus 101. As described later, the shelves 310a and 310b have a structure capable of transferring the substrate 10 to and from a predetermined position where the substrate 10 is to be installed when performing the processing. A pair of hands 150a and 15 of the substrate transfer device 101
By operating the air cylinder 166, the interval of 0b can be adjusted to be narrower or wider than the interval between the pair of shelves 310a, 310b.

【0037】基板処理装置300における処理が終了し
た処理済み基板10aは、例えば上段の棚310aに載
置される。新たに処理すべき未処理基板10bは、例え
ば基板処理装置300よりも1工程前の処理を行う別の
基板処理装置によって、基板搬送装置101の下側ハン
ド150bに供給される。未処理基板10bを下側ハン
ド150bに載置した基板搬送装置101は、ハンド1
50a、150bをハウジング131に収納した状態
で、しかもハンド150a、150b同士の間隔を閉じ
た状態で、X方向およびZ方向に移動し、基板処理装置
300の正面で静止する(図1(a))。このとき、ハ
ンド150a、150bの高さは、棚310aと棚31
0bの高さの中間に位置する。
The processed substrate 10a that has been processed in the substrate processing apparatus 300 is placed on, for example, an upper shelf 310a. The unprocessed substrate 10b to be newly processed is supplied to the lower hand 150b of the substrate transfer apparatus 101 by, for example, another substrate processing apparatus that performs processing one step before the substrate processing apparatus 300. The substrate transfer apparatus 101 in which the unprocessed substrate 10b is placed on the lower hand 150b,
In a state in which the housings 131a and 150b are housed, and the gap between the hands 150a and 150b is closed, the hands 150a and 150b are moved in the X and Z directions and stopped at the front of the substrate processing apparatus 300 (FIG. 1A). ). At this time, the height of the hands 150a and 150b is set to the shelf 310a and the shelf 31.
It is located in the middle of the height of 0b.

【0038】つぎに水平アーム機構140を+Y方向に
伸張させて、ハンド150a、150bを基板処理装置
300の中に挿入する。ハンド150a、150bが、
棚310aと棚310bとに挟まれる位置に達したとき
に、アーム142は伸張を制止する。このとき、上側ハ
ンド150aは処理済み基板10aの下方にあり、棚3
10bは未処理基板10bの下方にある(図1
(b))。
Next, the horizontal arm mechanism 140 is extended in the + Y direction, and the hands 150a and 150b are inserted into the substrate processing apparatus 300. Hands 150a and 150b are
When the arm 142 reaches a position sandwiched between the shelves 310a and 310b, the arm 142 stops extending. At this time, the upper hand 150a is below the processed substrate 10a,
10b is below the unprocessed substrate 10b (FIG. 1).
(B)).

【0039】つづいて、開閉機構160を作動させて、
ハンド150a、150bが棚310a、310bを上
下から挟む位置に達するまで、ハンド150a、150
b同士の間隔を拡張する(図1(c))。この拡張の過
程で、処理済み基板10aは上側ハンド150aに下方
からすくい取られ、未処理基板10bは棚310bに下
方からすくい取られる。すなわち、処理済み基板10a
は棚310aから上側ハンド150aへ移り、未処理基
板10bは下側ハンド150bから棚310bへ移る。
Subsequently, by operating the opening / closing mechanism 160,
Until the hands 150a, 150b reach the position sandwiching the shelves 310a, 310b from above and below, the hands 150a, 150b
The interval between b is extended (FIG. 1C). During the expansion process, the processed substrate 10a is scooped from below by the upper hand 150a, and the unprocessed substrate 10b is scooped from below by the shelf 310b. That is, the processed substrate 10a
Moves from the shelf 310a to the upper hand 150a, and the unprocessed substrate 10b moves from the lower hand 150b to the shelf 310b.

【0040】つぎに、水平アーム機構140を−Y方向
に収縮させて、ハンド150a、150bをハウジング
131内に収納する(図1(d))。その後、基板搬送
装置101は、X方向およびZ方向に適宜移動して、例
えば1工程後の処理を行う別の基板処理装置へと処理済
み基板10aを搬送する。基板処理装置300に供給さ
れた未処理基板10bは、基板処理装置300内の所定
の位置に移され、所定の処理を施される。
Next, the horizontal arm mechanism 140 is contracted in the -Y direction, and the hands 150a and 150b are stored in the housing 131 (FIG. 1D). Thereafter, the substrate transport apparatus 101 moves appropriately in the X direction and the Z direction, and transports the processed substrate 10a to another substrate processing apparatus that performs, for example, processing after one process. The unprocessed substrate 10b supplied to the substrate processing apparatus 300 is moved to a predetermined position in the substrate processing apparatus 300 and subjected to a predetermined processing.

【0041】図11に示すように、被処理基板10を交
換する以上の工程において、処理済み基板10aと未処
理基板10bとの上下の位置関係を逆にすることも可能
である。基板処理装置300から受け取るべき処理済み
基板10aは棚310bに載置されており、基板処理装
置300へ受け渡すべき未処理基板10bは上側ハンド
150aに載置されている。基板搬送装置101は、ハ
ンド150a、150b同士の間隔を開いた状態で基板
処理装置300の正面で静止する(図11(a))。水
平アーム機構140を+Y方向に伸張させて、ハンド1
50a、150bを基板処理装置300の中に挿入した
(図11(b))後、ハンド150a、150b同士の
間隔を狭める(図1(c))。この過程で、処理済み基
板10aは下側ハンド150bに下方からすくい取ら
れ、未処理基板10bは棚310aに下方からすくい取
られる。すなわち、処理済み基板10aは棚310bか
ら下側ハンド150bへ移り、未処理基板10bは上側
ハンド150aから棚310aへ移る。その後、水平ア
ーム機構140を−Y方向に収縮させて、ハンド150
a、150bをハウジング131内に収納する(図1
(d))。
As shown in FIG. 11, in the process of replacing the substrate 10 to be processed, the vertical positional relationship between the processed substrate 10a and the unprocessed substrate 10b can be reversed. The processed substrate 10a to be received from the substrate processing apparatus 300 is placed on the shelf 310b, and the unprocessed substrate 10b to be delivered to the substrate processing apparatus 300 is placed on the upper hand 150a. The substrate transfer apparatus 101 stops at the front of the substrate processing apparatus 300 with the gap between the hands 150a and 150b widened (FIG. 11A). Extend the horizontal arm mechanism 140 in the + Y direction, and
After inserting the substrates 50a and 150b into the substrate processing apparatus 300 (FIG. 11B), the distance between the hands 150a and 150b is reduced (FIG. 1C). In this process, the processed substrate 10a is scooped from below by the lower hand 150b, and the unprocessed substrate 10b is scooped from below by the shelf 310a. That is, the processed substrate 10a moves from the shelf 310b to the lower hand 150b, and the unprocessed substrate 10b moves from the upper hand 150a to the shelf 310a. Thereafter, the horizontal arm mechanism 140 is contracted in the −Y direction,
a and 150b are housed in the housing 131 (FIG. 1).
(D)).

【0042】複数種類の基板処理装置300が配列され
た基板処理システム1においては、その配列に沿って被
処理基板10を搬送し、それらの基板処理装置300に
順次出し入れすることにより一連の処理が施される。こ
の基板処理システム1においては、被処理基板10に施
される処理の順序に沿って、偶数番目の処理を担当する
基板処理装置300と、奇数番目を担当する基板処理装
置300との間で、処理済み基板10aと未処理基板1
0bの上下関係を逆にするとよい。すなわち、図1に示
す1つの基板処理装置300における処理済み基板10
aが、つぎの処理を行う基板処理装置300において
は、図11に示す未処理基板10bとなり、図11にお
ける処理済み基板10aは、つぎの処理を行う基板処理
装置300において更に図1に示す未処理基板10bと
なるように設定するとよい。これによって、処理済み基
板10aあるいは未処理基板10bを、ハンド150
a、150bの間で持ち換えることなく、1つの基板処
理装置300からつぎの基板処理装置300へと直接に
搬送することができるので、効率の高い搬送が実現す
る。
In the substrate processing system 1 in which a plurality of types of substrate processing apparatuses 300 are arranged, a series of processing is carried out by transporting the substrates 10 to be processed along the arrangement and sequentially taking in and out the substrate processing apparatuses 300. Will be applied. In the substrate processing system 1, in accordance with the order of processing performed on the substrate to be processed 10, between the substrate processing apparatus 300 in charge of even-numbered processing and the substrate processing apparatus 300 in charge of odd-numbered processing, Processed substrate 10a and unprocessed substrate 1
The vertical relationship of 0b may be reversed. That is, the processed substrate 10 in one substrate processing apparatus 300 shown in FIG.
a is the unprocessed substrate 10b shown in FIG. 11 in the substrate processing apparatus 300 that performs the next process, and the processed substrate 10a in FIG. 11 is the unprocessed substrate 10b shown in FIG. It is preferable to set the processing substrate 10b. As a result, the processed substrate 10a or the unprocessed substrate 10b is
Since the substrate can be directly transferred from one substrate processing apparatus 300 to the next substrate processing apparatus 300 without switching between a and 150b, highly efficient transfer is realized.

【0043】<4.棚310a、310bの構成と動作
<4. Configuration and Operation of Shelf 310a, 310b>

【0044】各種の基板処理装置300内に設けられる
棚310a、310bの構成と動作に関する例について
説明する。
An example of the structure and operation of shelves 310a and 310b provided in various substrate processing apparatuses 300 will be described.

【0045】<4-1 .スピンコータSCの例><4-1. Example of spin coater SC>

【0046】図12は、スピンコータSCにおける棚3
10a、310bの構成例を示す斜視図である。この例
では、棚310a、310bは、上下1対の爪を有する
4個のピン320で構成される。ピン320は、ノズル
321に回動可能に取り付けられている。ピン320の
回動はベルト322によって駆動される。4個のピン3
20の回動位置が閉じた位置にあるとき、ピン320は
被処理基板10を上下の爪のいずれかによって支持す
る。
FIG. 12 shows a shelf 3 in the spin coater SC.
It is a perspective view which shows the example of a structure of 10a, 310b. In this example, the shelves 310a and 310b are constituted by four pins 320 having a pair of upper and lower claws. The pin 320 is rotatably attached to the nozzle 321. The rotation of the pin 320 is driven by the belt 322. 4 pins 3
When the rotation position of the lever 20 is in the closed position, the pins 320 support the substrate 10 to be processed by one of the upper and lower claws.

【0047】ノズル321は、被処理基板10の端面を
洗浄するためのノズルであり、ピン320に支持された
被処理基板10の1辺に沿って水平に伸びた噴出孔32
3から洗浄液を噴出する。固定台324とノズル321
とを連結する水平アーム機構325は、被処理基板10
の多様な寸法に対応して、1対のノズル321同士の間
隔を調節する。被処理基板10の底面を真空吸引するこ
とにより被処理基板10を支持し、かつ水平回転させる
回転台326は昇降可能である。ピン320とその下方
に位置するカップ327の上縁との間に、被処理基板1
0に塗布すべきレジスト液を噴出する処理液ノズル32
8が設置されている。処理液ノズル328は、回動軸3
29の周りに水平に回動可能である。
The nozzle 321 is a nozzle for cleaning the end face of the substrate 10 to be processed. The nozzle 321 extends horizontally along one side of the substrate 10 supported by the pins 320.
3. The cleaning liquid is spouted from 3. Fixed base 324 and nozzle 321
The horizontal arm mechanism 325 for connecting the substrate 10
The distance between the pair of nozzles 321 is adjusted in accordance with the various dimensions of. The turntable 326 which supports the substrate 10 by vacuum suctioning the bottom surface of the substrate 10 and horizontally rotates the substrate 10 can be moved up and down. The substrate 1 to be processed is placed between the pin 320 and the upper edge of the cup 327 located thereunder.
Processing solution nozzle 32 for ejecting a resist solution to be applied to the substrate
8 are installed. The processing liquid nozzle 328 is
It is pivotable horizontally around 29.

【0048】一例として、ピン320の上側の爪に処理
済み基板10aが載置され、下側の爪に未処理基板10
bが載置される場合について、この装置の動作を説明す
る。はじめに、基板搬送装置101によって供給された
未処理基板10bが、ピン320の下側爪に載置されて
いる。未処理基板10bが基板搬送装置101によって
供給される間、ピン320よりもわずかに低い位置に退
避していた回転台326は、未処理基板10bを下側爪
からわずかに浮かせる程度の高さ(下段)まで上昇し、
底面を吸引しつつ未処理基板10bを支持する。つづい
て、ピン320が開方向に回動した後、回転台326は
未処理基板10bを支持したまま、未処理基板10bが
カップ327内側に収納される位置まで下降する。
As an example, the processed substrate 10a is placed on the upper nail of the pin 320, and the unprocessed substrate 10 is mounted on the lower nail.
The operation of this device will be described for the case where b is placed. First, the unprocessed substrate 10 b supplied by the substrate transfer device 101 is placed on the lower claws of the pins 320. While the unprocessed substrate 10b is supplied by the substrate transfer device 101, the turntable 326 that has been retracted to a position slightly lower than the pins 320 has a height enough to slightly lift the unprocessed substrate 10b from the lower claw ( Lower),
The unprocessed substrate 10b is supported while sucking the bottom surface. Subsequently, after the pin 320 rotates in the opening direction, the turntable 326 is lowered to a position where the unprocessed substrate 10b is stored inside the cup 327 while supporting the unprocessed substrate 10b.

【0049】つぎに、未処理基板10bの下降を妨げな
いようにカップ327の周辺に退避していた処理液ノズ
ル328が、処理液ノズル328の先端部が回転台32
6の回転中心に達するように回動する。回転台326が
水平回転しつつ、同時に処理液ノズル328の先端部か
らレジスト液が噴出することにより、レジスト液が未処
理基板10bの上面に塗布される。カップ327は、こ
のときレジスト液の飛散防止と回収とを兼ねて機能す
る。塗布が完了すると、回転台326は回転を停止し、
処理液ノズル328は再び退避位置へ回動する。
Next, the processing liquid nozzle 328 retracted around the cup 327 so as not to hinder the lowering of the unprocessed substrate 10b,
6 to reach the center of rotation. The resist liquid is applied to the upper surface of the unprocessed substrate 10b by rotating the rotary table 326 horizontally and simultaneously ejecting the resist liquid from the tip of the processing liquid nozzle 328. At this time, the cup 327 functions to prevent scattering of the resist solution and to collect the resist solution. When the application is completed, the turntable 326 stops rotating,
The processing liquid nozzle 328 rotates again to the retracted position.

【0050】その後、回転台326が上昇することによ
り、処理済み基板10aとなった元の未処理基板10b
は、ピン320の上側爪からわずかに浮く程度の高さ
(上段)まで持ち上げられる。つづいて、ピン320が
閉方向に回動し、回転台326はピン320よりもわず
かに低い位置まで下降する。この過程で、回転台326
に支持されていた処理済み基板10aは、ピン320の
上側爪に載置される。
Thereafter, as the turntable 326 is raised, the original unprocessed substrate 10b which has become the processed substrate 10a is obtained.
Is lifted to a height (upper stage) slightly floating above the upper claw of the pin 320. Subsequently, the pin 320 rotates in the closing direction, and the turntable 326 descends to a position slightly lower than the pin 320. In this process, the turntable 326
The processed substrate 10a supported on the pin 320 is placed on the upper claws of the pins 320.

【0051】つづいて、処理済み基板10aが載置され
ている位置まで、基板搬送装置101のハンド150
a、150bが侵入し、処理済み基板10aと新たな未
処理基板10bとが交換される。ピン320の下側爪に
載置された新たな未処理基板10bは、回転台326が
下段まで上昇することによって、回転台326に移され
る。以下同様の過程が反復される。
Subsequently, the hand 150 of the substrate transfer apparatus 101 is moved to a position where the processed substrate 10a is placed.
a and 150b enter, and the processed substrate 10a and the new unprocessed substrate 10b are exchanged. The new unprocessed substrate 10b placed on the lower claws of the pins 320 is transferred to the turntable 326 as the turntable 326 rises to the lower stage. Hereinafter, the same process is repeated.

【0052】以上に説明した機構は、スピンコータSC
だけではなく、例えばスピンスクラバSS、スピンデベ
ロッパSD等においても、同様に応用可能である。
The mechanism described above uses the spin coater SC
In addition, the present invention can be similarly applied to, for example, a spin scrubber SS and a spin developer SD.

【0053】<4-2 .ホットプレートHPの例><4-2. Example of hot plate HP>

【0054】図13は、ホットプレートHPにおける棚
310a、310bの構成例を示す斜視図である。この
例では、上段の棚310aおよび下段の棚310bは、
丸棒状の爪を有する4本の上側レバー330、および同
じく4本の下側レバー331によって構成される。上側
レバー330および下側レバー331は、ヒータ332
に回動可能に取り付けられている。ヒータ332の上に
は、被処理基板10を直接に載置すべきサブプレート3
33が置かれている。ホットプレートHPのパネル33
4の正面部分に設けられた窓335を通して、外部から
基板搬送装置101が侵入する。上側レバー330およ
び下側レバー331の上方には、昇降駆動機構338に
よって昇降可能に支持された蓋336が設けられてい
る。昇降駆動機構338に備わるエアシリンダ337の
作動にともなって、蓋336は上昇および下降する。
FIG. 13 is a perspective view showing a configuration example of shelves 310a and 310b in the hot plate HP. In this example, the upper shelf 310a and the lower shelf 310b are
It is composed of four upper levers 330 each having a round bar-shaped claw, and four lower levers 331. The upper lever 330 and the lower lever 331 are
Is mounted so as to be rotatable. On the heater 332, the sub-plate 3 on which the substrate to be processed 10 is to be directly placed is placed.
33 is placed. Hot plate HP panel 33
The substrate transfer device 101 enters from the outside through a window 335 provided in the front part of the device 4. Above the upper lever 330 and the lower lever 331, a lid 336 supported so as to be able to move up and down by a lifting drive mechanism 338 is provided. With the operation of the air cylinder 337 provided in the lifting drive mechanism 338, the lid 336 moves up and down.

【0055】図14はホットプレートHPの内部側面図
である。回動自在に支持された上側レバー330および
下側レバー331の各1は、スプリング339によって
それぞれの爪が上方に起立する回動方向に付勢される。
付勢力によるこれらのレバーの回動は、ストッパ340
によって所定の回動位置に制止されている。このとき、
上側レバー330に付設される爪は、下側レバー331
に付設される爪よりも高い位置にある。蓋336が下降
すると、蓋336の底面に付設されたパッド341がま
ず上側レバー330の頭頂部に当接して、上側レバー3
30を押し下げ、つづいて下側レバー331の頭頂部に
当接して、下側レバー331を押し下げる。サブプレー
ト333の側面には溝342が設けられており(図1
3)、蓋336が下降するとき、上側レバー330およ
び下側レバー331に付設される爪は、これらの溝34
2に退避することができる。
FIG. 14 is an internal side view of the hot plate HP. Each of the upper lever 330 and the lower lever 331, which are rotatably supported, is urged by a spring 339 in a rotation direction in which each claw stands up.
The rotation of these levers due to the urging force causes the stopper 340 to rotate.
At a predetermined rotation position. At this time,
The claw attached to the upper lever 330 is a lower lever 331.
It is at a position higher than the claw attached to. When the lid 336 is lowered, the pad 341 attached to the bottom surface of the lid 336 first comes into contact with the top of the upper lever 330, and the upper lever 3
The lower lever 331 is pressed down, and then abuts against the top of the lower lever 331 to push down the lower lever 331. A groove 342 is provided on a side surface of the sub plate 333 (FIG. 1).
3) When the lid 336 is lowered, the pawls attached to the upper lever 330 and the lower lever 331 engage with these grooves 34.
2 can be evacuated.

【0056】図15は、4本の上側レバー330を互い
に連結するリンク機構350の平面図である。4本の上
側レバー330は、スプライン351、および連結板3
52によって、それぞれの回動位置が同一になるように
連結されている。更に、上側レバー330の横幅、すな
わちスプライン351で連結される1対の上側レバー3
30同士の間隔が、エアシリンダ353によって拡張お
よび収縮可能である。
FIG. 15 is a plan view of a link mechanism 350 for connecting the four upper levers 330 to each other. The four upper levers 330 include a spline 351 and a connecting plate 3.
By 52, they are connected so that their turning positions are the same. Further, the width of the upper lever 330, that is, a pair of upper levers 3 connected by a spline 351.
The distance between the 30s can be expanded and contracted by the air cylinder 353.

【0057】図16は、ホットプレートHPにおける主
要部の内部正面図である。互いに上下に位置する上側レ
バー330の爪および下側レバー331の爪には、例え
ば処理済み基板10aおよび未処理基板10bがそれぞ
れ載置される。以上に説明した機構は、ホットプレート
HPだけでなく、例えばクールプレートCP等において
も同様に応用可能である。
FIG. 16 is an internal front view of a main part of the hot plate HP. The claw of the upper lever 330 and the claw of the lower lever 331 which are positioned above and below each other, for example, a processed substrate 10a and an unprocessed substrate 10b are respectively placed thereon. The mechanism described above can be applied not only to the hot plate HP but also to, for example, the cool plate CP.

【0058】<4-3 .ホットプレートHPの動作例1><4-3. Operation example 1 of hot plate HP>

【0059】図17は、上側レバー330の爪に処理済
み基板10aが載置され、下側レバー331の爪に未処
理基板10bが載置される場合の、基板搬送装置101
およびホットプレートHPの各部の動作を示すタイミン
グチャートである。はじめに、上側レバー330の爪に
処理済み基板10aが載置されており、蓋336は上方
に位置している。基板搬送装置101は、下側ハンド1
50bに未処理基板10bを載置し、ホットプレートH
Pの正面に静止している。水平アーム機構140は収縮
した状態であり、ハンド150a、150bは互いの間
隔を閉じた状態でハウジング131に収納されている。
FIG. 17 shows the substrate transfer apparatus 101 when the processed substrate 10a is mounted on the claw of the upper lever 330 and the unprocessed substrate 10b is mounted on the claw of the lower lever 331.
6 is a timing chart showing the operation of each part of the hot plate HP. First, the processed substrate 10a is placed on the claw of the upper lever 330, and the lid 336 is positioned upward. The substrate transfer device 101 includes the lower hand 1
The unprocessed substrate 10b is placed on 50b, and the hot plate H
It is stationary in front of P. The horizontal arm mechanism 140 is in a contracted state, and the hands 150a and 150b are housed in the housing 131 in a state where the hands 150a and 150b are close to each other.

【0060】まず水平アーム機構140が伸張すること
により、窓335からハンド150a、150bがホッ
トプレートHPの内部に侵入し、上側ハンド150aが
処理済み基板10aの下方に達し、下側レバー331の
爪が未処理基板10bの下方に達したところで、水平ア
ーム機構140の伸張が停止する(時刻t1 〜時刻t2
)。
First, when the horizontal arm mechanism 140 is extended, the hands 150a and 150b enter the hot plate HP from the window 335, the upper hand 150a reaches below the processed substrate 10a, and the claw of the lower lever 331 is caught. Reaches below the unprocessed substrate 10b, the extension of the horizontal arm mechanism 140 stops (from time t1 to time t2).
).

【0061】つづいて、ハンド150a、150bの間
隔が拡張することにより、処理済み基板10aが上側レ
バー330の爪から上側ハンド150aへ移り、未処理
基板10bが下側ハンド150bから下側レバー331
の爪へ移る(時刻t2 〜時刻t3 )。すなわち、処理済
み基板10aと未処理基板10bの交換が行われる。つ
ぎに、ハンド150a、150bの間隔を広くしたま
ま、水平アーム機構140を収縮し、処理済み基板10
aをハウジング131へ収納する。このとき、同時にエ
アシリンダ353が作動し、上側レバー330の横幅が
広がる(時刻t3〜時刻t4 )。
Subsequently, by expanding the interval between the hands 150a and 150b, the processed substrate 10a moves from the claw of the upper lever 330 to the upper hand 150a, and the unprocessed substrate 10b moves from the lower hand 150b to the lower lever 331.
(Time t2 to time t3). That is, the processed substrate 10a and the unprocessed substrate 10b are exchanged. Next, while keeping the distance between the hands 150a and 150b wide, the horizontal arm mechanism 140 is contracted, and the processed substrate 10
a is housed in the housing 131. At this time, the air cylinder 353 operates at the same time, and the lateral width of the upper lever 330 increases (time t3 to time t4).

【0062】つづいて、蓋336が下降することによ
り、未処理基板10bを支持した下側レバー331が押
し下げられ、未処理基板10bはサブプレート333の
上面に載置される(時刻t4 〜時刻t5 )。この過程
で、上側レバー330も同時に押し下げられるが、上側
レバー330の横幅は拡張されているので、未処理基板
10bと干渉し合うことはない。基板搬送装置101
は、時刻t4 の後は次の工程を実行する基板処理装置へ
と処理済み基板10aを搬送する。
Subsequently, when the lid 336 is lowered, the lower lever 331 supporting the unprocessed substrate 10b is pushed down, and the unprocessed substrate 10b is placed on the upper surface of the sub-plate 333 (time t4 to time t5). ). In this process, the upper lever 330 is also pushed down at the same time, but since the width of the upper lever 330 is expanded, it does not interfere with the unprocessed substrate 10b. Substrate transfer device 101
Transports the processed substrate 10a to the substrate processing apparatus that executes the next step after time t4.

【0063】時刻t5 の後、サブプレート333の上で
未処理基板10bに加熱処理が施される(時刻t5 〜時
刻t6 )。加熱処理が終了すると、上側レバー330の
横幅が狭まり(時刻t6 〜時刻t7 )、更に蓋336が
上昇する(時刻t7 〜時刻t8 )。蓋336の上昇にと
もなって、蓋336に押し下げられていた上側レバー3
30および下側レバー331が起立してゆく。上側レバ
ー330の横幅は狭くなっているので、この過程で処理
済み基板10aとなった元の未処理基板10bは上側レ
バー330の爪に載置され上昇する。蓋336が十分に
上昇した後、基板搬送装置101との間で再び処理済み
基板10aと未処理基板10bの交換が行われる。すな
わち、時刻t8 以降は時刻t1 以後の処理が反復され
る。
After time t5, the unprocessed substrate 10b is subjected to a heat treatment on the sub-plate 333 (time t5 to time t6). When the heating process is completed, the lateral width of the upper lever 330 is reduced (time t6 to time t7), and the lid 336 is further raised (time t7 to time t8). As the lid 336 is raised, the upper lever 3 pushed down by the lid 336
30 and the lower lever 331 stand up. Since the horizontal width of the upper lever 330 is narrow, the original unprocessed substrate 10b that has become the processed substrate 10a in this process is placed on the claw of the upper lever 330 and rises. After the lid 336 is sufficiently raised, the exchange of the processed substrate 10a and the unprocessed substrate 10b is performed again with the substrate transfer apparatus 101. That is, after time t8, the processing after time t1 is repeated.

【0064】<4-4 .ホットプレートHPの動作例2><4-4. Operation example 2 of hot plate HP>

【0065】図18は、図17に示した場合とは逆に、
下側レバー331の爪に処理済み基板10aが載置さ
れ、上側レバー330の爪に未処理基板10bが載置さ
れる場合の、基板搬送装置101およびホットプレート
HPの各部の動作を示すタイミングチャートである。は
じめに、下側レバー331の爪に処理済み基板10aが
載置されており、蓋336は上方に位置している。基板
搬送装置101は、上側ハンド150aに未処理基板1
0bを載置し、ホットプレートHPの正面に静止してい
る。水平アーム機構140は収縮した状態であり、ハン
ド150a、150bは互いの間隔を開いた状態でハウ
ジング131に収納されている。
FIG. 18 is the opposite of the case shown in FIG.
A timing chart showing the operation of each part of the substrate transport apparatus 101 and the hot plate HP when the processed substrate 10a is placed on the claw of the lower lever 331 and the unprocessed substrate 10b is placed on the claw of the upper lever 330. It is. First, the processed substrate 10a is placed on the claw of the lower lever 331, and the lid 336 is located at the upper side. The substrate transfer device 101 moves the unprocessed substrate 1 to the upper hand 150a.
0b is placed and is stationary in front of the hot plate HP. The horizontal arm mechanism 140 is in a contracted state, and the hands 150a and 150b are housed in the housing 131 in a state where they are spaced apart from each other.

【0066】まず水平アーム機構140が伸張すること
により、窓335からハンド150a、150bがホッ
トプレートHPの内部に侵入し、下側ハンド150bが
処理済み基板10aの下方に達し、上側レバー330の
爪が未処理基板10bの下方に達したところで、水平ア
ーム機構140の伸張が停止する(時刻t1 〜時刻t2
)。この過程で、それまで開いていた上側レバー33
0の横幅が狭まる。
First, when the horizontal arm mechanism 140 is extended, the hands 150a and 150b enter the inside of the hot plate HP from the window 335, the lower hand 150b reaches below the processed substrate 10a, and the claw of the upper lever 330 is moved. Reaches below the unprocessed substrate 10b, the extension of the horizontal arm mechanism 140 stops (from time t1 to time t2).
). In this process, the upper lever 33 that was open
The width of 0 becomes narrower.

【0067】つづいて、ハンド150a、150bの間
隔が収縮することにより、未処理基板10bが上側ハン
ド150aから上側レバー330の爪へ移り、処理済み
基板10aが下側レバー331の爪から下側ハンド15
0bへ移る(時刻t2 〜時刻t3 )。すなわち、処理済
み基板10aと未処理基板10bの交換が行われる。つ
ぎに、ハンド150a、150bの間隔を閉じたまま、
水平アーム機構140を収縮し、処理済み基板10aを
ハウジング131へ収納する。(時刻t3 〜時刻t4
)。
Subsequently, as the distance between the hands 150a and 150b shrinks, the unprocessed substrate 10b moves from the upper hand 150a to the claw of the upper lever 330, and the processed substrate 10a moves from the claw of the lower lever 331 to the lower hand. Fifteen
0b (time t2 to time t3). That is, the processed substrate 10a and the unprocessed substrate 10b are exchanged. Next, while keeping the interval between the hands 150a and 150b closed,
The horizontal arm mechanism 140 is contracted, and the processed substrate 10a is stored in the housing 131. (Time t3 to time t4
).

【0068】つづいて、蓋336が下降することによ
り、未処理基板10bを支持した上側レバー330が押
し下げられ、未処理基板10bはサブプレート333の
上面に載置される(時刻t4 〜時刻t5 )。この過程
で、下側レバー331も同時に押し下げられるので、下
側レバー331の爪と未処理基板10bとが干渉し合う
ことはない。基板搬送装置101は、時刻t4 の後は次
の工程を実行する基板処理装置へと処理済み基板10a
を搬送する。
Subsequently, when the lid 336 is lowered, the upper lever 330 supporting the unprocessed substrate 10b is pushed down, and the unprocessed substrate 10b is placed on the upper surface of the sub-plate 333 (time t4 to time t5). . In this process, the lower lever 331 is also pushed down at the same time, so that the claw of the lower lever 331 does not interfere with the unprocessed substrate 10b. After time t4, the substrate transport apparatus 101 switches the processed substrate 10a to a substrate processing apparatus that executes the next process.
Is transported.

【0069】時刻t5 の後、サブプレート333の上で
未処理基板10bに加熱処理が施される(時刻t5 〜時
刻t6 )。加熱処理が終了すると、上側レバー330の
横幅が広がり(時刻t6 〜時刻t7 )、更に蓋336が
上昇する(時刻t7 〜時刻t8 )。蓋336の上昇にと
もなって、蓋336に押し下げられていた上側レバー3
30および下側レバー331が起立してゆく。上側レバ
ー330の横幅は広くなっているので、この過程で処理
済み基板10aとなった元の未処理基板10bは下側レ
バー331の爪に載置され上昇する。蓋336が十分に
上昇した後、基板搬送装置101との間で再び処理済み
基板10aと未処理基板10bの交換が行われる。すな
わち、時刻t8 以降は時刻t1 以後の処理が反復され
る。
After time t5, the unprocessed substrate 10b is heated on the sub-plate 333 (time t5 to time t6). When the heating process is completed, the lateral width of the upper lever 330 is increased (time t6 to time t7), and the lid 336 is further raised (time t7 to time t8). As the lid 336 is raised, the upper lever 3 pushed down by the lid 336
30 and the lower lever 331 stand up. Since the width of the upper lever 330 is wide, the original unprocessed substrate 10b that has become the processed substrate 10a in this process is placed on the claw of the lower lever 331 and rises. After the lid 336 is sufficiently raised, the exchange of the processed substrate 10a and the unprocessed substrate 10b is performed again with the substrate transfer apparatus 101. That is, after time t8, the processing after time t1 is repeated.

【0070】<5.処理の効率><5. Processing efficiency>

【0071】以上に述べた基板処理システム1における
処理の効率について説明する。表1はこの実施例の装置
1において実行される一連の処理内容を示す。
The efficiency of processing in the substrate processing system 1 described above will be described. Table 1 shows a series of processing contents executed in the apparatus 1 of this embodiment.

【0072】[0072]

【表1】 [Table 1]

【0073】表1からわかるように、これら一連の処理
におけるタクトタイムTは50secである。このため、
基板搬送装置101〜105のそれぞれが一つの基板処
理装置から被処理基板を取り出して他の基板処理装置へ
搬送し、そこにおいて被処理基板の出し入れを行うため
に必要な平均時間をΔT、一つの基板搬送装置が受け持
ち可能な基板処理装置の数をNとすると、下記の数1が
成立する必要がある。
As can be seen from Table 1, the cycle time T in these series of processes is 50 seconds. For this reason,
Each of the substrate transfer devices 101 to 105 takes out a substrate to be processed from one substrate processing apparatus, transports the substrate to another substrate processing apparatus, and takes the average time required for loading and unloading the substrate therefrom by ΔT, Assuming that the number of substrate processing apparatuses that can be handled by the substrate transport apparatus is N, the following Equation 1 needs to be satisfied.

【0074】[0074]

【数1】ΔT×(N+1)≦T## EQU1 ## ΔT × (N + 1) ≦ T

【0075】ここで、(N+1)となっているのは、N
個の基板処理装置を移動する間に(N−1)回の搬送・
出し入れが必要であり、それらN個の基板処理装置の直
前・直後の基板処理装置との間の搬送・出し入れが1回
ずつ必要であるからである。
Here, (N + 1) means that N
(N-1) transports while moving the substrate processing equipment
This is because it is necessary to carry out and take in each time, and it is necessary to carry out and take in once each of the N substrate processing apparatuses with the substrate processing apparatus immediately before / after.

【0076】例えば平均時間ΔTが10sec である場合
には、数1より以下の数2が得られる。
For example, when the average time ΔT is 10 sec, the following equation 2 is obtained from the equation 1.

【0077】[0077]

【数2】10sec ×(N+1)≦50sec## EQU2 ## 10 sec × (N + 1) ≦ 50 sec

【0078】このため、N≦4(最大値はN=4)とな
る。そこで、表1の一連の処理をその最初のものから4
個ずつの基板処理装置に分割し、スピンスクラバSSか
らクールプレートCP1までを第1の基板搬送装置10
1によって、また、ホットプレートHP3の脱水ベーク
からエッジおよびバックリンス部ERまでを第2の基板
搬送装置102に担当させる。さらに、ホットプレート
HP4のプリベークからクールプレートCP3までは、
第3の基板搬送装置103が担当する。このような基板
搬送装置の担当範囲は、表1の「搬送装置」欄に「10
1」などの記号を用いて表現されている。すなわち、こ
の実施例における基板搬送装置101ないし103は、
それぞれの受け持ち範囲が与えられた「ゾーン守備方
式」の基板搬送装置として利用されている。
For this reason, N ≦ 4 (the maximum value is N = 4). Therefore, the series of processes shown in Table 1 was repeated four times from the first one.
The substrate is divided into individual substrate processing apparatuses, and the substrate from the spin scrubber SS to the cool plate CP1 is divided into the first substrate transfer apparatuses 10.
Further, the second substrate transfer device 102 is in charge of the steps from the dehydration bake of the hot plate HP3 to the edge and the back rinse part ER. Furthermore, from the pre-bake of the hot plate HP4 to the cool plate CP3,
The third substrate transfer device 103 is in charge. The range of responsibility of such a substrate transfer device is “10” in the “Transfer device” column of Table 1.
It is expressed using a symbol such as "1". That is, the substrate transfer devices 101 to 103 in this embodiment
It is used as a "zone defense system" substrate transfer device with each assigned range.

【0079】なお、第1の基板搬送装置101から第2
の基板搬送装置102への被処理基板の受け渡しは、
ンターフェイス部IF1(図2参照)を介して行われ
る。すなわち、クールプレートCP1での処理を完了し
た被処理基板は、第1の基板搬送装置101がインター
フェイス部IF1まで搬送してそのインターフェイス部
IF1上に載置し、その被処理基板を第2の基板搬送装
置102が取りに行く、という受け渡しが行われる。
Note that the second substrate transfer device 101
Passing of the substrate to the substrate transport apparatus 102 is b
This is performed via the interface unit IF1 (see FIG. 2). That is, the substrate to be processed, which has completed the processing in the cool plate CP1, is interposed by the first substrate transfer device 101.
The transfer is performed such that the substrate is transported to the face unit IF1, placed on the interface unit IF1, and the substrate to be processed is picked up by the second substrate transport unit 102.

【0080】平均時間ΔTは上述のように、基板搬送装
置が各基板処理装置に備わる2段組の棚との間で被処理
基板を交換し、つぎの基板処理装置まで被処理基板を搬
送するのに要する時間である。この平均時間ΔTに対し
て、数1ないし数2で与えられる個数Nの基板処理装置
を1台の基板搬送装置が担当し得るのは、基板処理装置
101等が処理済み基板10aの受渡しと、未処理基板
10bの受取りとを同時に行い得るからに他ならない。
なぜなら、1つの基板処理装置に対して、従来の装置に
おけるように一時には受渡しまたは受取の一方のみしか
できないとすれば、基板搬送装置が被処理基板を保持し
ないまま基板処理装置の間を移動する空送期間を必要と
するので、1台の基板搬送装置は数1ないし数2で与え
られる個数Nの約半数の基板処理装置しか担当し得ない
からである。基板搬送装置101等は、1対のハンド1
50a、150bを備えているので、2段組の棚との協
同によって、処理済み基板10aと未処理基板10bと
の交換を可能にしている。これによって、空送期間がな
く効率のよい被処理基板の搬送を実現している。
As described above, the average time ΔT is such that the substrate transfer device exchanges the substrate to be processed with the two-stage shelf provided in each substrate processing device, and transports the substrate to the next substrate processing device. It is the time required for One substrate transfer apparatus can handle the number N of substrate processing apparatuses given by Equation 1 or Equation 2 with respect to the average time ΔT because the substrate processing apparatus 101 or the like transfers the processed substrate 10a, This is because receiving the unprocessed substrate 10b can be performed simultaneously.
This is because if only one of transfer and reception can be performed at a time with respect to one substrate processing apparatus as in the conventional apparatus, the substrate transfer apparatus moves between the substrate processing apparatuses without holding the substrate to be processed. This is because one substrate transfer device can handle only about half of the number N of the number N given by Equations 1 and 2 since the idle transport period is required. The substrate transfer device 101 and the like include a pair of hands 1
The provision of 50a and 150b enables the exchange of the processed substrate 10a and the unprocessed substrate 10b by cooperation with the two-stage shelf. This achieves efficient transfer of the substrate to be processed without any idle transport period.

【0081】更に、基板搬送装置101等は、ハンド1
50a、150b同士の間隔を単に変更するだけで被処
理基板の交換を行い得るので、基板処理システム1にお
ける被処理基板の交換に要する時間が一層短縮される。
このため、更に高い効率での搬送が実現する。また、交
換に要する時間の短縮は、平均時間ΔTの短縮をもたら
す。その結果、数1で与えられるように、1台の基板搬
送装置101等が担当し得る基板処理装置の台数Nが増
大する。言い替えると、基板処理システム1において、
設置すべき基板搬送装置101等の台数を減らすことが
可能となる。
Further, the substrate transfer device 101 and the like
Since the substrate to be processed can be replaced simply by changing the interval between the substrates 50a and 150b, the time required for replacing the substrate to be processed in the substrate processing system 1 is further reduced.
For this reason, conveyance with higher efficiency is realized. Further, the reduction in the time required for replacement leads to a reduction in the average time ΔT. As a result, as given by Expression 1, the number N of substrate processing apparatuses that can be handled by one substrate transfer apparatus 101 or the like increases. In other words, in the substrate processing system 1,
It is possible to reduce the number of substrate transfer devices 101 and the like to be installed.

【0082】更に2段組の棚は各基板処理装置に設置さ
れており、しかも基板処理装置内の被処理基板に処理を
施すべき位置と、当該棚との間での被処理基板の移動
は、単純な工程で実現される。したがってタクトタイム
Tの中に占める、当該交換に要する時間は僅少である。
Further, a two-stage shelf is installed in each substrate processing apparatus, and the position of the substrate to be processed in the substrate processing apparatus and the movement of the substrate to and from the shelf are determined. , Realized by a simple process. Therefore, the time required for the replacement in the tact time T is very short.

【0083】以上のように、基板処理システム1では、
基板搬送装置101等を用いることによって、効率のよ
い基板処理を実現する。
As described above, in the substrate processing system 1,
By using the substrate transfer device 101 and the like, efficient substrate processing is realized.

【0084】<6.変形例><6. Modification>

【0085】(1)図19は、ホットプレートHPの蓋
336と上側レバー330における変形例を示す。パッ
ド341を磁石で構成し、上側レバー330の頭頂部に
も磁石343を取り付ける。パッド341と磁石343
は、対向する面において同じ磁極を有する。したがっ
て、蓋336が下降するとき、磁気的反発力の作用によ
り、上側レバー330がパッド341と接触することな
く押し下げられる。下側レバー331とこれに対向する
パッド341も同様に構成される。接触が起こらないの
で、接触部分の摩擦に伴う発塵がないという利点があ
る。
(1) FIG. 19 shows a modification of the lid 336 and the upper lever 330 of the hot plate HP. The pad 341 is made of a magnet, and the magnet 343 is also attached to the top of the upper lever 330. Pad 341 and magnet 343
Have the same magnetic pole on opposing surfaces. Therefore, when the lid 336 is lowered, the upper lever 330 is pushed down without contacting the pad 341 by the action of the magnetic repulsion. The lower lever 331 and the pad 341 opposed thereto are similarly configured. Since no contact occurs, there is an advantage that there is no dust generation due to friction of the contact portion.

【0086】(2)図20は、上側ハンド150aの変
形例を示す。上側ハンド150aが有する2本の爪は、
1枚の板で形成される代わりに、図20に示すように
「コの字」状の断面形状を有する棒状であってもよい。
爪の先端に被処理基板10のずれ落ち、あるいは位置ず
れを防止するためのストッパ401を設けてもよい。な
お図示を略するが、この変形例では下側ハンド150b
も同様に構成される。また、断面形状は、「コの字」形
状以外に、例えば「H形」、「I形」等であってもよ
い。また、爪を管で構成してもよい。このような構成に
よって、重量のある基板を、軽量で変形の少ない爪で支
持することが可能である。
(2) FIG. 20 shows a modification of the upper hand 150a. The two claws of the upper hand 150a are
Instead of being formed by one plate, as shown in FIG. 20, it may be a rod having a “U-shaped” cross-sectional shape.
A stopper 401 may be provided at the tip of the nail to prevent the substrate to be processed 10 from slipping or shifting. Although not shown, in this modification, the lower hand 150b
Is similarly configured. In addition, the cross-sectional shape may be, for example, “H-shape” or “I-shape” other than the “U-shape”. Moreover, you may comprise a nail | claw with a tube. With such a configuration, it is possible to support a heavy substrate with a nail that is lightweight and has little deformation.

【0087】(3)空気圧で回転力を生じるエアシリン
ダ166の代わりに、例えばモータを用いてもよい。も
っとも、上側ハンド150aと下側ハンド150bとに
挟まれた限られた空間に設置すべきアクチュエータとし
ては、小型で高トルクを発生し得るエアシリンダが優れ
ている。
(3) For example, a motor may be used instead of the air cylinder 166 that generates a rotational force by air pressure. However, as an actuator to be installed in a limited space between the upper hand 150a and the lower hand 150b, a small air cylinder capable of generating high torque is excellent.

【0088】(4)表1に示した各基板処理装置におけ
る処理は例示であって、任意に変更可能である。たとえ
ば、プリベークにおいてホットプレートHP4〜HP6
における加熱時間を異なったものとしてもよい。また、
各被処理基板をホットプレートHP4〜HP6に順次に
移動させず、その時点で空になっているいずれか一つの
ホットプレートに入れて必要な加熱のすべてをそのホッ
トプレートで行わせてもよい。
(4) The processing in each substrate processing apparatus shown in Table 1 is an example, and can be arbitrarily changed. For example, in prebaking, hot plates HP4 to HP6
The heating time in may be different. Also,
The substrates to be processed may not be sequentially moved to the hot plates HP4 to HP6, but may be placed in any one of the hot plates that are empty at that time, and all necessary heating may be performed by the hot plates.

【0089】(5)基板搬送装置のアーム機構における
アームの数は限定されない。また、実施例とは異なり、
水平アーム機構の上に垂直アーム機構を設けてもよい。
もっとも、この場合には垂直アーム機構とハンドとの連
結部を長くしなければならないため、実施例の方が有利
である。
(5) The number of arms in the arm mechanism of the substrate transfer device is not limited. Also, unlike the embodiment,
A vertical arm mechanism may be provided on the horizontal arm mechanism.
However, in this case, since the connecting portion between the vertical arm mechanism and the hand must be lengthened, the embodiment is more advantageous.

【0090】(6)この発明は液晶表示用基板の処理装
置だけでなく、半導体基板その他の基板の処理装置に適
用可能である。
(6) The present invention is applicable not only to a processing apparatus for a liquid crystal display substrate, but also to a processing apparatus for a semiconductor substrate or other substrates.

【0091】[0091]

【発明の効果】この発明における基板交換方法では、処
理済み基板と新たに処理すべき基板とが同時に交換され
るので、基板処理装置へのこれらの被処理基板の出し入
れが効率よく行われる効果がある。また、基板交換部材
は空送の期間をなくして、常に被処理基板を載置した状
態で1つの基板処理装置から次の新たな基板処理装置
と移動し得るので、この方法を基板処理システムに応用
した場合に、基板の搬送を効率よく実行し得る効果があ
る。
According to the substrate exchange method of the present invention, a processed substrate and a substrate to be newly processed are exchanged at the same time, so that these substrates can be efficiently taken in and out of the substrate processing apparatus . is there. Further, since the substrate exchange member can be moved from one substrate processing apparatus to the next new substrate processing apparatus with the substrate to be processed always placed thereon without the period of idle transport, this method is used in a substrate processing system. In this case, there is an effect that the substrate can be efficiently transferred.

【0092】この発明における基板交換装置は、一対の
基板交換機構の一方が一対の基板保持機構の一方から基
板を受け取り、該一対の基板交換機構の他方が該一対の
基板保持機構の他方へと基板を渡すように、該一対の基
板交換機構を該一対の基板保持機構に近接させた状態で
一対の基板交換機構の上下方向の間隔を変化させる間
隔制御手段を備えているために、この間隔を変化させる
という単純な工程によって、被処理基板の交換を実行し
得るので、基板処理装置への被処理基板の出し入れを一
層効率よく行い得る。
The board exchanging device according to the present invention comprises a pair of
One of the board exchange mechanisms is mounted on one of the pair of board holding mechanisms.
Receiving the board, and the other of the pair of substrate exchange mechanisms
The pair of bases is moved so that the substrate is transferred to the other side of the substrate holding mechanism.
In a state where the plate exchange mechanism is brought close to the pair of substrate holding mechanisms,
To and a distance control means for changing the vertical spacing of the pair of substrates exchange mechanism, by a simple process of changing the spacing, because it can perform the replacement of the substrate, the substrate processing apparatus In and out of the substrate to be processed can be performed more efficiently.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施例における基板搬送装置の動作
を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an operation of a substrate transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の実施例における基板処理システムの
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view of a substrate processing system according to the embodiment of the present invention.

【図3】この発明の実施例における基板処理システムの
側面構造図である。
FIG. 3 is a side structural view of the substrate processing system according to the embodiment of the present invention.

【図4】この発明の実施例における基板搬送装置の斜視
図である。
FIG. 4 is a perspective view of the substrate transfer device according to the embodiment of the present invention.

【図5】この発明の実施例における基板搬送装置の側面
図である。
FIG. 5 is a side view of the substrate transfer device according to the embodiment of the present invention.

【図6】この発明の実施例における基板搬送装置の平面
図である。
FIG. 6 is a plan view of the substrate transfer device according to the embodiment of the present invention.

【図7】この発明の実施例における基板搬送装置の正面
図である。
FIG. 7 is a front view of the substrate transfer device according to the embodiment of the present invention.

【図8】この発明の実施例における開閉機構の平面図で
ある。
FIG. 8 is a plan view of the opening / closing mechanism according to the embodiment of the present invention.

【図9】この発明の実施例における開閉機構の正面図で
ある。
FIG. 9 is a front view of the opening / closing mechanism according to the embodiment of the present invention.

【図10】この発明の実施例における脱着機構の正面断
面図である。
FIG. 10 is a front sectional view of a detachable mechanism according to the embodiment of the present invention.

【図11】この発明の実施例における基板搬送装置の動
作を示す模式図である。
FIG. 11 is a schematic view illustrating an operation of the substrate transfer device according to the embodiment of the present invention.

【図12】この発明の実施例におけるスピンコータの斜
視構造図である。
FIG. 12 is a perspective structural view of a spin coater according to an embodiment of the present invention.

【図13】この発明の実施例におけるホットプレートの
斜視構造図である。
FIG. 13 is a perspective view of a hot plate according to an embodiment of the present invention.

【図14】この発明の実施例におけるホットプレートの
側面構造図である。
FIG. 14 is a side structural view of a hot plate according to the embodiment of the present invention.

【図15】この発明の実施例におけるホットプレートの
リンク機構の平面構造図である。
FIG. 15 is a plan structural view of a hot plate link mechanism according to the embodiment of the present invention.

【図16】この発明の実施例におけるホットプレートの
主要部の正面構造図である。
FIG. 16 is a front structural view of a main part of the hot plate in the embodiment of the present invention.

【図17】この発明の実施例における基板交換の際の各
部の動作を示すタイムチャートである。
FIG. 17 is a time chart showing an operation of each part at the time of board replacement in the embodiment of the present invention.

【図18】この発明の実施例における基板交換の際の各
部の動作を示すタイムチャートである。
FIG. 18 is a time chart showing an operation of each part at the time of board replacement in the embodiment of the present invention.

【図19】この発明の変形例におけるホットプレートの
部分側面構造図である。
FIG. 19 is a partial side view of a hot plate according to a modification of the present invention.

【図20】この発明の変形例におけるハンドの斜視図で
ある。
FIG. 20 is a perspective view of a hand according to a modified example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板処理システム 101〜103 基板搬送装置 110 X移動機構 120 垂直アーム機構 140 水平アーム機構 150a、150b ハンド(基板交換部材) 160 開閉機構 300 基板処理装置(基板処理部) 310a、310b 棚(基板保持部材) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing system 101-103 Substrate transfer apparatus 110 X moving mechanism 120 Vertical arm mechanism 140 Horizontal arm mechanism 150a, 150b Hand (substrate exchange member) 160 Opening / closing mechanism 300 Substrate processing apparatus (substrate processing unit) 310a, 310b Shelf (substrate holding) Element)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−304372(JP,A) 特開 平4−180246(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B65G 1/00 - 1/20 B65G 49/07 H01L 21/68 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) References JP-A-4-304372 (JP, A) JP-A-4-180246 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) B65G 1/00-1/20 B65G 49/07 H01L 21/68

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板処理装置にて処理された基板基板
処理装置から取り出し、かつ基板処理装置基板を導入
する基板交換方法において、 (a) 基板処理装置に上下に間隔を隔てて配置された一対
の基板保持部材の上側によって基板を下方から保持する
とともに、複数の基板処理装置間で基板を搬送するため
の基板搬送装置に上下に間隔を隔てて配置された一対の
基板交換部材の下側によって基板を下方から保持する工
程と、 (b) 下側の基板交換部材によって基板を保持しつつ、
対の基板保持部材に挟まれる位置に一対の基板交換部材
移動する工程と、 (c) 上側の基板交換部材を上方に移動させることによ
り、上側の基板保持部材によって保持された基板を上側
の基板交換部材上に移載させるとともに、下側の基板交
換部材を下方に移動させることにより、下側の基板交換
部材によって保持された基板を下側の基板保持部材上に
移載させる工程と、 (d) 上側の基板交換部材によって基板を保持しつつ、一
対の基板交換部材を一対の基板保持部材に対して退避さ
せる工程と を備えることを特徴とする基板交換方法。
1. A substrate the substrate processed by the substrate processing apparatus
Removed from the processing apparatus, and the substrate replacement method of introducing the substrate into the substrate processing apparatus holds the substrate from below by the upper of the pair of board holding member disposed at intervals in the up and down (a) a substrate processing apparatus For transferring substrates between multiple substrate processing equipment
A step of holding the substrate from below by the lower of the pair of the substrate transfer device is arranged vertically at a distance of the substrate replacement member, while holding the substrate by (b) the underlying substrate exchange member, one
A step of moving the pair of substrate exchange member at a position sandwiched between the substrate holding member of the pair, by moving upwardly (c) upper substrate exchange member, the substrate held by the upper substrate holding member upper A step of transferring the substrate held by the lower substrate exchange member onto the lower substrate holding member by transferring the substrate onto the substrate exchange member and moving the lower substrate exchange member downward, (d) while holding the substrate by the upper substrate exchange member, the substrate replacement method characterized by comprising the steps of retracting the pair of substrates exchange member with respect to the pair of board holding member.
【請求項2】 基板処理装置にて処理された基板基板
処理装置から取り出し、かつ基板処理装置基板を導入
する基板交換方法において、 (a) 基板処理装置に上下に間隔を隔てて配置された一対
の基板保持部材の下側によって基板を下方から保持する
とともに、複数の基板処理装置間で基板を搬送するため
の基板搬送装置に上下に間隔を隔てて配置された一対の
基板交換部材の上側によって基板を下方から保持する工
程と、 (b) 上側の基板交換部材によって基板を保持しつつ、
対の基板保持部材を挟む位置に一対の基板交換部材を
動する工程と、 (c) 下側の基板交換部材を上方に移動させることによ
り、下側の基板保持部材によって保持された基板を下側
の基板交換部材上に移載させるとともに、上側の基板交
換部材を下方に移動させることにより、上側の基板交換
部材によって保持された基板を上側の基板保持部材上に
移載させる工程と、 (d) 下側の基板交換部材によって基板を保持しつつ、一
対の基板交換部材を 対の基板保持部材に対して退避さ
せる工程と、 を備えることを特徴とする基板交換方法。
2. A substrate a substrate processed in the substrate processing apparatus
Removed from the processing apparatus, and the substrate replacement method of introducing the substrate into the substrate processing apparatus, for holding a substrate from below by the lower of the pair of board holding member disposed at intervals in the up and down (a) a substrate processing apparatus To transfer substrates between multiple substrate processing equipment
A step of holding the substrate by the upper lower pair of substrate exchange member disposed at intervals in the upper and lower substrate transfer apparatus, while holding the substrate by (b) the upper substrate exchange member, one
Move the pair of board exchange members to a position sandwiching the pair of board holding members.
A step of moving, by causing move upwardly (c) lower substrate exchange member, together with make transfers the substrate held by the lower side of the substrate holding member on the lower side of the substrate exchange member on the upper substrate By moving the exchange member downward, a step of transferring the substrate held by the upper substrate exchange member onto the upper substrate holding member; (d) holding the substrate by the lower substrate exchange member, substrate replacement method characterized by comprising the steps of retracting the pair of substrates exchanging member with respect to the substrate holding member of a pair, the.
【請求項3】 基板処理装置にて処理された基板を基板
処理装置から取り出し、かつ基板処理装置へ基板を導入
する基板交換装置において、 (a) 複数の基板処理装置のそれぞれに上下に間隔を隔て
て配置され、基板を下方から保持することが可能な一対
の基板保持機構と、 (b) 複数の基板処理装置間で基板を搬送するための基板
搬送装置に上下に間隔を隔てて配置され、基板を下方か
ら保持することが可能な一対の基板交換機構と、 (c) 一対の基板交換機構の一方が一対の基板保持機構の
一方から基板を受け取り、該一対の基板交換機構の他方
が該一対の基板保持機構の他方へと基板を渡すように、
該一対の基板交換機構を該一対の基板保持機構に近接さ
せた状態で該一対の基板交換機構の上下方向の間隔を変
化させる間隔制御手段と、 (d) 一対の基板交換機構を一対の基板保持機構に対して
進退させる進退制御手段と、 (e) 一対の基板交換機構を複数の基板処理装置のそれぞ
れの近傍に移動させる移動制御手段と、 を備えることを特徴とする基板交換装置。
3. A substrate exchanging apparatus for taking out a substrate processed by a substrate processing apparatus from the substrate processing apparatus and introducing the substrate into the substrate processing apparatus. (B) a pair of substrate holding mechanisms capable of holding the substrate from below, and (b) a substrate transfer device for transferring the substrate between a plurality of substrate processing apparatuses, which are vertically spaced from each other. A pair of substrate exchange mechanisms capable of holding a substrate from below, and (c) one of the pair of substrate exchange mechanisms is a pair of substrate exchange mechanisms.
Receiving a substrate from one side, and the other of the pair of substrate exchange mechanisms
To pass the substrate to the other of the pair of substrate holding mechanisms,
Move the pair of substrate exchange mechanisms close to the pair of substrate holding mechanisms.
(D) interval control means for changing the vertical interval between the pair of substrate exchange mechanisms in a state in which the pair of substrate exchange mechanisms are moved forward and backward, and (e) And a movement control means for moving the pair of substrate exchange mechanisms to the vicinity of each of the plurality of substrate processing apparatuses.
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