JP2826797B2 - Ｉｃ固定治具 - Google Patents
Ｉｃ固定治具Info
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- JP2826797B2 JP2826797B2 JP32054093A JP32054093A JP2826797B2 JP 2826797 B2 JP2826797 B2 JP 2826797B2 JP 32054093 A JP32054093 A JP 32054093A JP 32054093 A JP32054093 A JP 32054093A JP 2826797 B2 JP2826797 B2 JP 2826797B2
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＳＳＯＰ（Ｓｈｒｉｎ
ｋ Ｓｍａｌｌ Ｏｕｔｌｉｎｅ Ｐａｃｋａｇｅ）の
ＩＣ固定治具に関する。
ｋ Ｓｍａｌｌ Ｏｕｔｌｉｎｅ Ｐａｃｋａｇｅ）の
ＩＣ固定治具に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＳＳＯＰのＩＣ固定治具
は、図３のように構成されている。被測定ＩＣ１を選別
する際に、測定基板７上に設けたＩＣソケット５を介し
て被測定ＩＣ１を選別測定機で測定していた。ＳＳＯＰ
のＩＣ固定治具は、被測定ＩＣ１を吸着ノズル６で前工
程から移動し、ＩＣソケット５のコンタクトピン３上に
被測定ＩＣ１のリード２を搭載し、被測定ＩＣ１から吸
着ノズル６を離し、セラミックのリード押さえ部９で固
定していた。この時、被測定ＩＣ１のリード２とＩＣソ
ケット５のコンタクトピン３間の接触抵抗を少なくする
ように、リード押さえ部９の押さえ加減を調整してい
た。この場合、被測定ＩＣ１を吸着ノズル６で前工程か
ら移動後ＩＣソケット５のコンタクトピン３に搭載する
ため、被測定ＩＣ１のリード２の中心がＩＣソケット５
のコンタクトピン３の中心と重なるように位置の調整を
行っていた。調整後、被測定ＩＣ１のコンタクト性は、
被測定ＩＣ１のリード２の形状のバラツキを考慮し数百
個の被測定ＩＣ１を使用して調整を行なっている。
は、図３のように構成されている。被測定ＩＣ１を選別
する際に、測定基板７上に設けたＩＣソケット５を介し
て被測定ＩＣ１を選別測定機で測定していた。ＳＳＯＰ
のＩＣ固定治具は、被測定ＩＣ１を吸着ノズル６で前工
程から移動し、ＩＣソケット５のコンタクトピン３上に
被測定ＩＣ１のリード２を搭載し、被測定ＩＣ１から吸
着ノズル６を離し、セラミックのリード押さえ部９で固
定していた。この時、被測定ＩＣ１のリード２とＩＣソ
ケット５のコンタクトピン３間の接触抵抗を少なくする
ように、リード押さえ部９の押さえ加減を調整してい
た。この場合、被測定ＩＣ１を吸着ノズル６で前工程か
ら移動後ＩＣソケット５のコンタクトピン３に搭載する
ため、被測定ＩＣ１のリード２の中心がＩＣソケット５
のコンタクトピン３の中心と重なるように位置の調整を
行っていた。調整後、被測定ＩＣ１のコンタクト性は、
被測定ＩＣ１のリード２の形状のバラツキを考慮し数百
個の被測定ＩＣ１を使用して調整を行なっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＳＳＯ
ＰのＩＣ固定治具では、ＩＣを固定する際以下の欠点を
有していた。
ＰのＩＣ固定治具では、ＩＣを固定する際以下の欠点を
有していた。
【０００４】（１）リード押さえ部９の押さえが弱い場
合は、被測定ＩＣ１のリード２とＩＣソケット５のコン
タクトピン３との間で接触不良となった。
合は、被測定ＩＣ１のリード２とＩＣソケット５のコン
タクトピン３との間で接触不良となった。
【０００５】（２）リード押さえ部９の押さえが強い場
合は、被測定ＩＣ１のリード２がコンタクトピン３の上
を横方向に滑りＩＣソケット５のコンタクトピン３間に
挟み込まれ、ショートやリードピン２のねじれや曲がり
が生じる原因となった。
合は、被測定ＩＣ１のリード２がコンタクトピン３の上
を横方向に滑りＩＣソケット５のコンタクトピン３間に
挟み込まれ、ショートやリードピン２のねじれや曲がり
が生じる原因となった。
【０００６】（３）被測定ＩＣ１を吸着ノズル６で移動
した際に生じる位置ずれの場合は、被測定ＩＣ１のリー
ド２をコンタクトピン３に載せてリード押さえ部９で押
さえると、リード２がコンタクトピン３の上を横方向に
滑りＩＣソケット５のコンタクトピン３間にに挟み込ま
れ、ショートやリードピン２のねじれや曲がりが生じる
原因となった。
した際に生じる位置ずれの場合は、被測定ＩＣ１のリー
ド２をコンタクトピン３に載せてリード押さえ部９で押
さえると、リード２がコンタクトピン３の上を横方向に
滑りＩＣソケット５のコンタクトピン３間にに挟み込ま
れ、ショートやリードピン２のねじれや曲がりが生じる
原因となった。
【０００７】（４）被測定ＩＣ１を別品種にした場合
は、測定基板７及びＩＣソケット５の交換でＩＣソケッ
ト５の高さの精度の違いにより、被測定ＩＣ１のリード
２とＩＣソケット５のコンタクトピン３の位置がずれる
ことがあるので、再調整を行なう必要があり、作業性が
悪くなる。
は、測定基板７及びＩＣソケット５の交換でＩＣソケッ
ト５の高さの精度の違いにより、被測定ＩＣ１のリード
２とＩＣソケット５のコンタクトピン３の位置がずれる
ことがあるので、再調整を行なう必要があり、作業性が
悪くなる。
【０００８】そこで、本発明は、従来の技術の欠点を改
良し、被測定ＩＣのリードとＩＣソケットのコンタクト
ピンとの接触不良を低減し、また、被測定ＩＣのリード
がＩＣソケットのコンタクトピン間に挟み込まれる等の
支障を防止しようとするものである。
良し、被測定ＩＣのリードとＩＣソケットのコンタクト
ピンとの接触不良を低減し、また、被測定ＩＣのリード
がＩＣソケットのコンタクトピン間に挟み込まれる等の
支障を防止しようとするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣ固定治具
は、選別測定機の測定基板７上に設けたＩＣソケット５
と、被測定ＩＣ１を上下左右に移動を行う吸着ノズル６
と、ＩＣソケット５のコンタクトピン３と被測定ＩＣ１
のリード２を押さえるリード押さえ部４によって被測定
ＩＣ１を固定する場合において、前記リード押さえ部４
は被測定ＩＣ１のリード２を押さえ固定するときに生じ
る位置ずれによる接触不良を低減するため、リード押さ
え部４にＩＣソケット５のコンタクトピン３間隔で湾曲
部８を設け、特に被測定ＩＣ１のリード２をＩＣソケッ
ト５のコンタクトピン３間に挟み込むことを防止するも
のである。
は、選別測定機の測定基板７上に設けたＩＣソケット５
と、被測定ＩＣ１を上下左右に移動を行う吸着ノズル６
と、ＩＣソケット５のコンタクトピン３と被測定ＩＣ１
のリード２を押さえるリード押さえ部４によって被測定
ＩＣ１を固定する場合において、前記リード押さえ部４
は被測定ＩＣ１のリード２を押さえ固定するときに生じ
る位置ずれによる接触不良を低減するため、リード押さ
え部４にＩＣソケット５のコンタクトピン３間隔で湾曲
部８を設け、特に被測定ＩＣ１のリード２をＩＣソケッ
ト５のコンタクトピン３間に挟み込むことを防止するも
のである。
【００１０】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１１】図１は、本発明の１実施例を示す図であ
る。被測定ＩＣ１を選別検査する際は、測定基板７上に
設けたＩＣソケット５を介して被測定ＩＣ１をＤＣ選別
測定機で測定していた。ＳＳＯＰのＩＣ固定治具は、被
測定ＩＣ１を吸着ノズル６で前工程から移動し、ＩＣソ
ケット５のコンタクトピン３上に被測定ＩＣ１のリード
２を搭載し、被測定ＩＣ１から吸着ノズル６を離しセラ
ミックの湾曲部８を設けたリード押さえ部４で固定を行
なう。図２で示すように、ＩＣソケット５のコンタクト
ピン３の間隔とリード押さえ部４の湾曲部８の間隔が同
一寸法である。被測定ＩＣ１のリード２に対する湾曲部
８を設けたリード押さえ部４の押さえが強い時や、被測
定ＩＣ１がずれた場合、被測定ＩＣ１のリード２は、リ
ード押さえ部４の湾曲部８の中心にずれるためＩＣソケ
ット５のコンタクトピン３の中心と重なる。従って、被
測定ＩＣ１のリード２は、ＩＣソケット５のコンタクト
ピン３間に挟まれることがない。また、被測定ＩＣ１を
交換した場合は、測定基板７及びＩＣソケット５を交換
した場合においても、ＩＣソケット５のコンタクトピン
３の中心とリード押さえ部４の湾曲部８の中心を合わす
ことにより、被測定ＩＣ１のリードの曲がりやねじれを
防止できる。
る。被測定ＩＣ１を選別検査する際は、測定基板７上に
設けたＩＣソケット５を介して被測定ＩＣ１をＤＣ選別
測定機で測定していた。ＳＳＯＰのＩＣ固定治具は、被
測定ＩＣ１を吸着ノズル６で前工程から移動し、ＩＣソ
ケット５のコンタクトピン３上に被測定ＩＣ１のリード
２を搭載し、被測定ＩＣ１から吸着ノズル６を離しセラ
ミックの湾曲部８を設けたリード押さえ部４で固定を行
なう。図２で示すように、ＩＣソケット５のコンタクト
ピン３の間隔とリード押さえ部４の湾曲部８の間隔が同
一寸法である。被測定ＩＣ１のリード２に対する湾曲部
８を設けたリード押さえ部４の押さえが強い時や、被測
定ＩＣ１がずれた場合、被測定ＩＣ１のリード２は、リ
ード押さえ部４の湾曲部８の中心にずれるためＩＣソケ
ット５のコンタクトピン３の中心と重なる。従って、被
測定ＩＣ１のリード２は、ＩＣソケット５のコンタクト
ピン３間に挟まれることがない。また、被測定ＩＣ１を
交換した場合は、測定基板７及びＩＣソケット５を交換
した場合においても、ＩＣソケット５のコンタクトピン
３の中心とリード押さえ部４の湾曲部８の中心を合わす
ことにより、被測定ＩＣ１のリードの曲がりやねじれを
防止できる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、被測定Ｉ
Ｃ１を吸着ノズル６で前工程から移動後、本工程の選別
治具上のＩＣソケット５のコンタクトピン３の上に載
せ、被測定ＩＣ１を吸着ノズル６から離しリード押さえ
部４で押さえて固定する場合、被測定ＩＣ１のリード２
が滑ってリード２の位置ズレによる接触不良を低減し、
かつ、測定基板７及びＩＣソケット５を交換した後の調
整が簡単で、リード２のＩＣソケット５のコンタクトピ
ン３間への挟み込みやリード２の曲がりやねじれを防止
できる効果がある。
Ｃ１を吸着ノズル６で前工程から移動後、本工程の選別
治具上のＩＣソケット５のコンタクトピン３の上に載
せ、被測定ＩＣ１を吸着ノズル６から離しリード押さえ
部４で押さえて固定する場合、被測定ＩＣ１のリード２
が滑ってリード２の位置ズレによる接触不良を低減し、
かつ、測定基板７及びＩＣソケット５を交換した後の調
整が簡単で、リード２のＩＣソケット５のコンタクトピ
ン３間への挟み込みやリード２の曲がりやねじれを防止
できる効果がある。
【図１】本発明の１実施例の斜視図である。
【図２】本発明の１実施例の側面図である。
【図３】従来のＩＣ固定治具の側面図である。
１ 被測定ＩＣ ２ 被測定ＩＣのリード ３ ＩＣソケットのコンタクトピン ４ リード押さえ部 ５ ＩＣソケット ６ 吸着ノズル ７ 測定基板 ８ リード押さえ部の湾曲部 ９ リード押さえ部
Claims (1)
- 【請求項１】 選別測定機の測定基板上に設けたＩＣソ
ケットと、被測定ＩＣを上下左右に移動を行う吸着ノズ
ルと、ＩＣソケットのコンタクトピン上に被測定ＩＣを
吸着ノズルで移動後、被測定ＩＣのリードを載せ、ＩＣ
ソケットのコンタクトピンと被測定ＩＣのリードを押さ
えるリード押さえ部とで構成されるＩＣ固定治具におい
て、リード押さえ部にＩＣソケットのコンタクトピン間
隔で形成された湾曲部を設けたことを特徴とするＩＣ固
定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32054093A JP2826797B2 (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | Ｉｃ固定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32054093A JP2826797B2 (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | Ｉｃ固定治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07176652A JPH07176652A (ja) | 1995-07-14 |
| JP2826797B2 true JP2826797B2 (ja) | 1998-11-18 |
Family
ID=18122580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32054093A Expired - Fee Related JP2826797B2 (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | Ｉｃ固定治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2826797B2 (ja) |
-
1993
- 1993-12-20 JP JP32054093A patent/JP2826797B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07176652A (ja) | 1995-07-14 |
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