JP2806666B2 - 概略画像作成方法及び装置 - Google Patents
概略画像作成方法及び装置Info
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- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000003709 image segmentation Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000035807 sensation Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/403—Edge-driven scaling; Edge-based scaling
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像の概略化装置、特に
画像データベースシステムにおいて検索用概略画像を作
成する方法及び装置に関する。
画像データベースシステムにおいて検索用概略画像を作
成する方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像検索の分野では、画像特有の特徴に
基づく検索の必要性が高まっている。画像特有の特徴に
基づく検索要求の中に、画像中の空間的特性に基づく情
報検索等に関するものがある。
基づく検索の必要性が高まっている。画像特有の特徴に
基づく検索要求の中に、画像中の空間的特性に基づく情
報検索等に関するものがある。
【０００３】このための対策として、画像に対してエッ
ジ検出を行い、線分情報のみを取り出した、スケッチの
ようなものを作成し、これを基に検索するという手法が
ある。
ジ検出を行い、線分情報のみを取り出した、スケッチの
ようなものを作成し、これを基に検索するという手法が
ある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
方法では、画像全体に対してのしきい値のみでエッジか
否かを決定していて、このため、画像中の画素の値の変
化の激しい部分では、実際に人間が感じるエッジと異な
った線分が検出され、検索の際、絵画の構図がかなり分
かっていると仮定して、比較的正確に描かれることが必
要であった（加藤、栗田、坂倉：フルカラー絵画データ
ベース ＡＲＴ ＭＵＳＥＵＭ−色彩感と略画による画
像対話−：信学技法、ＩＥ ８８−１１８，ｐｐ．３１
−３８（１９８９）。実際に検索を行う際は利用者の記
憶は非常に曖昧であり、正確にスケッチを作成できない
場合や、構図情報から未知の画像に検索を行う際に困難
を生じていた。
方法では、画像全体に対してのしきい値のみでエッジか
否かを決定していて、このため、画像中の画素の値の変
化の激しい部分では、実際に人間が感じるエッジと異な
った線分が検出され、検索の際、絵画の構図がかなり分
かっていると仮定して、比較的正確に描かれることが必
要であった（加藤、栗田、坂倉：フルカラー絵画データ
ベース ＡＲＴ ＭＵＳＥＵＭ−色彩感と略画による画
像対話−：信学技法、ＩＥ ８８−１１８，ｐｐ．３１
−３８（１９８９）。実際に検索を行う際は利用者の記
憶は非常に曖昧であり、正確にスケッチを作成できない
場合や、構図情報から未知の画像に検索を行う際に困難
を生じていた。
【０００５】本発明の目的は、このような問題を解決
し、スケッチ等による検索に用いる概略画像を導出する
ことにある。
し、スケッチ等による検索に用いる概略画像を導出する
ことにある。
【０００６】本発明の他の目的は、スケッチ等による検
索に用いる概略画像を高速に導出することにある。
索に用いる概略画像を高速に導出することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】第１の発明の概略画像作
成方法は、画像サイズを特定のサイズに縮小した後、前
記縮小画像から各画素毎にエッジ強度を計算し、注目画
素のエッジ強度と画像全体におけるエッジ強度の平均及
び偏差の線形和であるしきい値と、注目画素の近傍の画
素におけるエッジ強度の平均と偏差の線形和であるしき
い値を導出し、この二種類のしきい値よりも注目画素の
エッジ強度値が大きいときはエッジ、それ以外の時はエ
ッジではないと判定することを特徴とする。
成方法は、画像サイズを特定のサイズに縮小した後、前
記縮小画像から各画素毎にエッジ強度を計算し、注目画
素のエッジ強度と画像全体におけるエッジ強度の平均及
び偏差の線形和であるしきい値と、注目画素の近傍の画
素におけるエッジ強度の平均と偏差の線形和であるしき
い値を導出し、この二種類のしきい値よりも注目画素の
エッジ強度値が大きいときはエッジ、それ以外の時はエ
ッジではないと判定することを特徴とする。
【０００８】第２の発明の概略画像作成装置は、（ａ）
画像情報を入力するための入力手段と、（ｂ）前記入力
手段から画像を受け取り、画像を縮小する画像縮小手段
と、（ｃ）前記画像縮小手段から縮小画像を受け取り、
画像を複数個のブロックに分割する縮小画像分割手段
と、（ｄ）前記縮小画像分割手段から各々一つずつの画
像ブロックを受け取り、各画素毎のエッジ強度を測定す
る、前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッ
ジ強度導出手段と、（ｅ）前記各エッジ強度導出手段か
ら前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、前
記縮小画像全体のエッジ強度の平均と偏差を求め、平均
と偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判定す
るためのしきい値を決定する大局的しきい値導出手段
と、（ｆ）対応するブロックの前記エッジ強度導出手段
から前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、
対応するブロック内の各画素毎に、各画素の近傍のエッ
ジ強度の平均及び偏差を求め、画素毎の局所的なエッジ
強度のしきい値を決定する、前記縮小画像分割手段が分
割した数と同じ数の局所的しきい値導出手段と、（ｇ）
対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から各画素
毎のエッジ強度を受け取り、前記大局的しきい値導出手
段から画像全体に対するしきい値を受け取り、対応する
前記局所的しきい値導出手段から各画素毎の局所的なエ
ッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ強度としきい値
との大小関係からその画素がエッジであるか否かを判定
する前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッ
ジ判定手段と、（ｈ）前記エッジ判定手段から判定結果
を受け取り画像を出力する出力手段と、を備えることを
特徴とする。
画像情報を入力するための入力手段と、（ｂ）前記入力
手段から画像を受け取り、画像を縮小する画像縮小手段
と、（ｃ）前記画像縮小手段から縮小画像を受け取り、
画像を複数個のブロックに分割する縮小画像分割手段
と、（ｄ）前記縮小画像分割手段から各々一つずつの画
像ブロックを受け取り、各画素毎のエッジ強度を測定す
る、前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッ
ジ強度導出手段と、（ｅ）前記各エッジ強度導出手段か
ら前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、前
記縮小画像全体のエッジ強度の平均と偏差を求め、平均
と偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判定す
るためのしきい値を決定する大局的しきい値導出手段
と、（ｆ）対応するブロックの前記エッジ強度導出手段
から前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、
対応するブロック内の各画素毎に、各画素の近傍のエッ
ジ強度の平均及び偏差を求め、画素毎の局所的なエッジ
強度のしきい値を決定する、前記縮小画像分割手段が分
割した数と同じ数の局所的しきい値導出手段と、（ｇ）
対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から各画素
毎のエッジ強度を受け取り、前記大局的しきい値導出手
段から画像全体に対するしきい値を受け取り、対応する
前記局所的しきい値導出手段から各画素毎の局所的なエ
ッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ強度としきい値
との大小関係からその画素がエッジであるか否かを判定
する前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッ
ジ判定手段と、（ｈ）前記エッジ判定手段から判定結果
を受け取り画像を出力する出力手段と、を備えることを
特徴とする。
【０００９】
【実施例】図１は、第１の発明の概略画像作成方法を説
明するための流れ図であり、図２は、この概略画像作成
方法を実施する装置の機能ブロック図である。図１及び
図２を参照しながら、第１の発明の概略画像作成方法の
実施例を説明する。
明するための流れ図であり、図２は、この概略画像作成
方法を実施する装置の機能ブロック図である。図１及び
図２を参照しながら、第１の発明の概略画像作成方法の
実施例を説明する。
【００１０】まず、入力手段２１により画像を入力す
る。画像縮小手段２２は入力手段２１より画像を受け取
り、画像を適当な大きさに縮小する。縮小の一例とし
て、画像をｎ×ｍの大きさになるように、画像を特定間
隔で間引く、各メッシュ毎に平均化する等の処理を施す
（図１のステップ１１）。エッジ強度導出手段２３は画
像縮小手段２２より縮小画像を受け取り、各画素毎にエ
ッジ強度を導出する（ステップ１２）。一例として図３
において注目画素をＳＳ５、その８近傍の値をＳＳ１，
ＳＳ２，ＳＳ３，ＳＳ４，ＳＳ６，ＳＳ７，ＳＳ８，Ｓ
Ｓ９としたときエッジ強度ＳＴを ＳＴ＝ｍａｘ（Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４） 但し Ｓ１＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ２＋ＳＳ３）−（ＳＳ７＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ２＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ４＋ＳＳ７）−（ＳＳ３＋ＳＳ６＋ＳＳ９）｜ Ｓ３＝｜（ＳＳ４＋ＳＳ１＋ＳＳ２）−（ＳＳ６＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ４＝｜（ＳＳ２＋ＳＳ３＋ＳＳ６）−（ＳＳ４＋ＳＳ７＋ＳＳ８）｜ とする処理を施すことにより導出する。
る。画像縮小手段２２は入力手段２１より画像を受け取
り、画像を適当な大きさに縮小する。縮小の一例とし
て、画像をｎ×ｍの大きさになるように、画像を特定間
隔で間引く、各メッシュ毎に平均化する等の処理を施す
（図１のステップ１１）。エッジ強度導出手段２３は画
像縮小手段２２より縮小画像を受け取り、各画素毎にエ
ッジ強度を導出する（ステップ１２）。一例として図３
において注目画素をＳＳ５、その８近傍の値をＳＳ１，
ＳＳ２，ＳＳ３，ＳＳ４，ＳＳ６，ＳＳ７，ＳＳ８，Ｓ
Ｓ９としたときエッジ強度ＳＴを ＳＴ＝ｍａｘ（Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４） 但し Ｓ１＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ２＋ＳＳ３）−（ＳＳ７＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ２＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ４＋ＳＳ７）−（ＳＳ３＋ＳＳ６＋ＳＳ９）｜ Ｓ３＝｜（ＳＳ４＋ＳＳ１＋ＳＳ２）−（ＳＳ６＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ４＝｜（ＳＳ２＋ＳＳ３＋ＳＳ６）−（ＳＳ４＋ＳＳ７＋ＳＳ８）｜ とする処理を施すことにより導出する。
【００１１】大局的しきい値導出手段２４は、エッジ強
度導出手段２３より各画素毎のエッジ強度を受け取り、
画像全体のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、平均と
偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判定する
ためのしきい値Ｔｇを導出する（ステップ１３）。一例
として画像全体のエッジ強度の平均値をＡｖｇ、標準偏
差をσｇとしたとき Ｔｇ＝Ａｖｇ＋σｇ とする。
度導出手段２３より各画素毎のエッジ強度を受け取り、
画像全体のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、平均と
偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判定する
ためのしきい値Ｔｇを導出する（ステップ１３）。一例
として画像全体のエッジ強度の平均値をＡｖｇ、標準偏
差をσｇとしたとき Ｔｇ＝Ａｖｇ＋σｇ とする。
【００１２】局所的しきい値導出手段２５は、エッジ強
度導出手段２３より注目画素及びその近傍のエッジ強度
を受け取り、注目画素及びその近傍の画素のエッジ強度
の平均及び偏差を導出し、平均と偏差の線形和をとるこ
とによりエッジ強度を判定するための局所的しきい値Ｔ
ｌを導出する（ステップ１４）。一例として近傍画素を
注目画素を中心とするＭ×Ｎの大きさのウィンドウを考
えたときこのウィンドウ内でのエッジ強度の平均値をＡ
ｖｌ、標準偏差をσｌとしたとき Ｔｌ＝Ａｖｌ＋σｌ とする。
度導出手段２３より注目画素及びその近傍のエッジ強度
を受け取り、注目画素及びその近傍の画素のエッジ強度
の平均及び偏差を導出し、平均と偏差の線形和をとるこ
とによりエッジ強度を判定するための局所的しきい値Ｔ
ｌを導出する（ステップ１４）。一例として近傍画素を
注目画素を中心とするＭ×Ｎの大きさのウィンドウを考
えたときこのウィンドウ内でのエッジ強度の平均値をＡ
ｖｌ、標準偏差をσｌとしたとき Ｔｌ＝Ａｖｌ＋σｌ とする。
【００１３】エッジ判定手段２６はエッジ強度導出手段
２３より各画素のエッジ強度を受け取り、大局的しきい
値導出手段２４よりしきい値Ｔｇを受け取り、局所的し
きい値導出手段２５より注目画素近傍における局所的し
きい値Ｔｌを受け取り、注目画素がエッジであるかどう
かを判定する（ステップ１５）。一例として Ｔ＝ＭＡＸ（Ｔｌ，Ｔｇ） としたとき、注目画素のエッジ強度がＴより大きいとき
エッジと判定し、小さいときはエッジではないと判定す
る。
２３より各画素のエッジ強度を受け取り、大局的しきい
値導出手段２４よりしきい値Ｔｇを受け取り、局所的し
きい値導出手段２５より注目画素近傍における局所的し
きい値Ｔｌを受け取り、注目画素がエッジであるかどう
かを判定する（ステップ１５）。一例として Ｔ＝ＭＡＸ（Ｔｌ，Ｔｇ） としたとき、注目画素のエッジ強度がＴより大きいとき
エッジと判定し、小さいときはエッジではないと判定す
る。
【００１４】画像出力手段２７はエッジ判定手段２６よ
り各画素毎の判定結果を受け取り、画素値になおして出
力する（ステップ１６）。一例としてエッジであった場
合、その画素の値を１、エッジでなかった場合、その画
素の値を０とする。
り各画素毎の判定結果を受け取り、画素値になおして出
力する（ステップ１６）。一例としてエッジであった場
合、その画素の値を１、エッジでなかった場合、その画
素の値を０とする。
【００１５】次に、第２の発明の実施例を説明する。図
４は、第２の発明である概略画像作成装置の実施例を示
す図である。
４は、第２の発明である概略画像作成装置の実施例を示
す図である。
【００１６】この概略画像作成装置は、画像情報を入力
するための入力手段４１と、入力手段４１から画像を受
け取り画像を縮小する画像縮小手段４２と、画像縮小手
段４２から縮小画像を受け取り、画像を複数個（Ｌ個）
のブロックに分割する縮小画像分割手段４３と、縮小画
像分割手段４３から各々一つずつの画像ブロックを受け
取り、各画素毎のエッジ強度を測定する、縮小画像分割
手段４３が分割した数と同じ数のエッジ強度導出手段４
４と、各エッジ強度導出手段４４から縮小画像の各画素
毎のエッジ強度を受け取り、縮小画像全体のエッジ強度
の平均と偏差を求め、平均と偏差の線形和をとることに
より、エッジ強度を判定するためのしきい値を決定する
大局的しきい値導出手段４５と、対応するブロックのエ
ッジ強度導出手段４４から縮小画像の各画素毎のエッジ
強度を受け取り、対応するブロック内の各画素毎に、各
画素の近傍のエッジ強度の平均及び偏差を求め、画素毎
の局所的なエッジ強度のしきい値を決定する、縮小画像
分割手段４３が分割した数と同じ数の局所的しきい値導
出手段４６と、対応するブロックのエッジ強度導出手段
４４から各画素毎のエッジ強度を受け取り、大局的しき
い値導出手段４５から画像全体に対するしきい値を受け
取り、対応する局所的しきい値導出手段４６から各画素
毎の局所的なエッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ
強度としきい値との大小関係からその画素がエッジであ
るか否かを判定する、縮小画像分割手段４３が分割した
数と同じ数のエッジ判定手段４７と、エッジ判定手段４
７から判定結果を受け取り画像を出力する出力手段４８
とを備えている。
するための入力手段４１と、入力手段４１から画像を受
け取り画像を縮小する画像縮小手段４２と、画像縮小手
段４２から縮小画像を受け取り、画像を複数個（Ｌ個）
のブロックに分割する縮小画像分割手段４３と、縮小画
像分割手段４３から各々一つずつの画像ブロックを受け
取り、各画素毎のエッジ強度を測定する、縮小画像分割
手段４３が分割した数と同じ数のエッジ強度導出手段４
４と、各エッジ強度導出手段４４から縮小画像の各画素
毎のエッジ強度を受け取り、縮小画像全体のエッジ強度
の平均と偏差を求め、平均と偏差の線形和をとることに
より、エッジ強度を判定するためのしきい値を決定する
大局的しきい値導出手段４５と、対応するブロックのエ
ッジ強度導出手段４４から縮小画像の各画素毎のエッジ
強度を受け取り、対応するブロック内の各画素毎に、各
画素の近傍のエッジ強度の平均及び偏差を求め、画素毎
の局所的なエッジ強度のしきい値を決定する、縮小画像
分割手段４３が分割した数と同じ数の局所的しきい値導
出手段４６と、対応するブロックのエッジ強度導出手段
４４から各画素毎のエッジ強度を受け取り、大局的しき
い値導出手段４５から画像全体に対するしきい値を受け
取り、対応する局所的しきい値導出手段４６から各画素
毎の局所的なエッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ
強度としきい値との大小関係からその画素がエッジであ
るか否かを判定する、縮小画像分割手段４３が分割した
数と同じ数のエッジ判定手段４７と、エッジ判定手段４
７から判定結果を受け取り画像を出力する出力手段４８
とを備えている。
【００１７】このような構成の概略画像作成装置におい
て、入力手段４１により画像を入力する。画像縮小手段
４２は入力手段４１より画像を受け取り、画像を適当な
大きさに縮小する。縮小の一例として、画像をｎ×ｍの
大きさになるように、画像を特定間隔で間引く、各メッ
シュ毎に平均化する等の処理を施す。縮小画像分割手段
４３は画像縮小手段４２より縮小画像を受け取り、画像
をＬ個のブロックに分割する。この際の分割は、一画素
毎に分割することも可能であるし、ある程度まとまった
画素毎に分割してＬの数を小さく抑えても構わない。ま
た、各ブロックの大きさ，形状が同じである必要はな
い。Ｌ個のエッジ強度導出手段４４は縮小画像分割手段
４３より対応する縮小画像の一つのブロックを受け取
り、各画素毎にエッジ強度を導出する。一例として図３
において注目画素をＳＳ５、その８近傍の値をＳＳ１，
ＳＳ２，ＳＳ３，ＳＳ４，ＳＳ６，ＳＳ７，ＳＳ８，Ｓ
Ｓ９としたときエッジ強度ＳＴを ＳＴ＝ｍａｘ（Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４） 但し Ｓ１＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ２＋ＳＳ３）−（ＳＳ７＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ２＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ４＋ＳＳ７）−（ＳＳ３＋ＳＳ６＋ＳＳ９）｜ Ｓ３＝｜（ＳＳ４＋ＳＳ１＋ＳＳ２）−（ＳＳ６＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ４＝｜（ＳＳ２＋ＳＳ３＋ＳＳ６）−（ＳＳ４＋ＳＳ７＋ＳＳ８）｜ とする処理を施すことにより導出する。
て、入力手段４１により画像を入力する。画像縮小手段
４２は入力手段４１より画像を受け取り、画像を適当な
大きさに縮小する。縮小の一例として、画像をｎ×ｍの
大きさになるように、画像を特定間隔で間引く、各メッ
シュ毎に平均化する等の処理を施す。縮小画像分割手段
４３は画像縮小手段４２より縮小画像を受け取り、画像
をＬ個のブロックに分割する。この際の分割は、一画素
毎に分割することも可能であるし、ある程度まとまった
画素毎に分割してＬの数を小さく抑えても構わない。ま
た、各ブロックの大きさ，形状が同じである必要はな
い。Ｌ個のエッジ強度導出手段４４は縮小画像分割手段
４３より対応する縮小画像の一つのブロックを受け取
り、各画素毎にエッジ強度を導出する。一例として図３
において注目画素をＳＳ５、その８近傍の値をＳＳ１，
ＳＳ２，ＳＳ３，ＳＳ４，ＳＳ６，ＳＳ７，ＳＳ８，Ｓ
Ｓ９としたときエッジ強度ＳＴを ＳＴ＝ｍａｘ（Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４） 但し Ｓ１＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ２＋ＳＳ３）−（ＳＳ７＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ２＝｜（ＳＳ１＋ＳＳ４＋ＳＳ７）−（ＳＳ３＋ＳＳ６＋ＳＳ９）｜ Ｓ３＝｜（ＳＳ４＋ＳＳ１＋ＳＳ２）−（ＳＳ６＋ＳＳ８＋ＳＳ９）｜ Ｓ４＝｜（ＳＳ２＋ＳＳ３＋ＳＳ６）−（ＳＳ４＋ＳＳ７＋ＳＳ８）｜ とする処理を施すことにより導出する。
【００１８】大局的しきい値導出手段４５は、Ｌ個のエ
ッジ強度導出手段４４より各画素毎のエッジ強度を受け
取り、画像全体のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、
平均と偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判
定するためのしきい値Ｔｇを導出する。一例として画像
全体のエッジ強度の平均値をＡｖｇ、標準偏差をσｇと
したとき Ｔｇ＝Ａｖｇ＋σｇ とする。
ッジ強度導出手段４４より各画素毎のエッジ強度を受け
取り、画像全体のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、
平均と偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判
定するためのしきい値Ｔｇを導出する。一例として画像
全体のエッジ強度の平均値をＡｖｇ、標準偏差をσｇと
したとき Ｔｇ＝Ａｖｇ＋σｇ とする。
【００１９】Ｌ個の局所的しきい値導出手段４６は、対
応するブロックのエッジ強度導出手段４４より注目画素
及びその近傍のエッジ強度を受け取り、注目画素及びそ
の近傍の画素のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、平
均と偏差の線形和をとることによりエッジ強度を判定す
るための局所的しきい値Ｔｌを導出する。一例として近
傍画素を注目画素を中心とするＭ×Ｎの大きさのウィン
ドウを考えたときこのウィンドウ内でのエッジ強度の平
均値をＡｖｌ、標準偏差をσｌとしたとき Ｔｌ＝Ａｖｌ＋σｌ とする。
応するブロックのエッジ強度導出手段４４より注目画素
及びその近傍のエッジ強度を受け取り、注目画素及びそ
の近傍の画素のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、平
均と偏差の線形和をとることによりエッジ強度を判定す
るための局所的しきい値Ｔｌを導出する。一例として近
傍画素を注目画素を中心とするＭ×Ｎの大きさのウィン
ドウを考えたときこのウィンドウ内でのエッジ強度の平
均値をＡｖｌ、標準偏差をσｌとしたとき Ｔｌ＝Ａｖｌ＋σｌ とする。
【００２０】Ｌ個のエッジ判定手段４７は、対応するブ
ロックのエッジ強度導出手段４４より各画素のエッジ強
度を受け取り、大局的しきい値導出手段４５よりしきい
値Ｔｇを受け取り、対応するブロックの局所的しきい値
導出手段４６より注目画素近傍における局所的しきい値
Ｔｌを受け取り、注目画素がエッジであるかどうかを判
定する。一例として Ｔ＝ＭＡＸ（Ｔｌ，Ｔｇ） としたとき、注目画素のエッジ強度がＴより大きいとき
エッジと判定し、小さいときはエッジではないと判定す
る。画像出力手段４８はＬ個のエッジ判定手段４７より
各画素毎の判定結果を受け取り、画素値になおして出力
する。一例としてエッジであった場合、その画素の値を
１、エッジでなかった場合、その画素の値を０とする。
ロックのエッジ強度導出手段４４より各画素のエッジ強
度を受け取り、大局的しきい値導出手段４５よりしきい
値Ｔｇを受け取り、対応するブロックの局所的しきい値
導出手段４６より注目画素近傍における局所的しきい値
Ｔｌを受け取り、注目画素がエッジであるかどうかを判
定する。一例として Ｔ＝ＭＡＸ（Ｔｌ，Ｔｇ） としたとき、注目画素のエッジ強度がＴより大きいとき
エッジと判定し、小さいときはエッジではないと判定す
る。画像出力手段４８はＬ個のエッジ判定手段４７より
各画素毎の判定結果を受け取り、画素値になおして出力
する。一例としてエッジであった場合、その画素の値を
１、エッジでなかった場合、その画素の値を０とする。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、第１の発明によれ
ば、原画像から画像中の大まかな構造や写っているもの
の形，位置等を記述した２値の画像が画像検索に適した
形で得られ、検索の手段として活用可能な手段の増加に
つながるといった効果がある。また、第２の発明によれ
ば、原画像から画像中の大まかな構造や写っているもの
の形，位置等を記述した２値の画像が画像検索に適した
形で高速に得られ、検索の手段として活用可能な手段の
増加につながるといった効果がある。
ば、原画像から画像中の大まかな構造や写っているもの
の形，位置等を記述した２値の画像が画像検索に適した
形で得られ、検索の手段として活用可能な手段の増加に
つながるといった効果がある。また、第２の発明によれ
ば、原画像から画像中の大まかな構造や写っているもの
の形，位置等を記述した２値の画像が画像検索に適した
形で高速に得られ、検索の手段として活用可能な手段の
増加につながるといった効果がある。
【図１】第１の発明の概略画像作成方法の処理の流れを
示す図である。
示す図である。
【図２】概略画像作成方法を実施する装置の機能ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】エッジ強度の導出を説明するための図である。
【図４】第２の発明の概略画像作成装置のブロック図で
ある。
ある。
２１，４１ 入力手段 ２２，４２ 画像縮小手段 ２３，４４ エッジ強度導出手段 ２４，４５ 大局的しきい値導出手段 ２５，４６ 局所的しきい値導出手段 ２６，４７ エッジ判定手段 ２７，４８ 出力手段 ４３ 縮小画像分割手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−60769（ＪＰ，Ａ) 画像検索における画像概略化手法の提 案 平田 恭二 原 良憲 笠原 裕 日本電気（株） Ｃ＆Ｃ情報研究所 情 報処理学会第41回（平成２年後期）全国 大会講演論文集（４）Ｐ．４−160〜４ −161（平成２年８月15日発行) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G06T 5/00 G06T 3/40 G06T 9/20 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (2)
- 【請求項１】画像サイズを特定のサイズに縮小した後、
前記縮小画像から各画素毎にエッジ強度を計算し、注目
画素のエッジ強度と画像全体におけるエッジ強度の平均
及び偏差の線形和であるしきい値と、注目画素の近傍の
画素におけるエッジ強度の平均と偏差の線形和であるし
きい値を導出し、この二種類のしきい値よりも注目画素
のエッジ強度値が大きいときはエッジ、それ以外の時は
エッジではないと判定することを特徴とする概略画像作
成方法。 - 【請求項２】（ａ）画像情報を入力するための入力手段
と、 （ｂ）前記入力手段から画像を受け取り、画像を縮小す
る画像縮小手段と、 （ｃ）前記画像縮小手段から縮小画像を受け取り、画像
を複数個のブロックに分割する縮小画像分割手段と、 （ｄ）前記縮小画像分割手段から各々一つずつの画像ブ
ロックを受け取り、各画素毎のエッジ強度を測定する、
前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッジ強
度導出手段と、 （ｅ）前記各エッジ強度導出手段から前記縮小画像の各
画素毎のエッジ強度を受け取り、前記縮小画像全体のエ
ッジ強度の平均と偏差を求め、平均と偏差の線形和をと
ることにより、エッジ強度を判定するためのしきい値を
決定する大局的しきい値導出手段と、 （ｆ）対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から
前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、対応
するブロック内の各画素毎に、各画素の近傍のエッジ強
度の平均及び偏差を求め、画素毎の局所的なエッジ強度
のしきい値を決定する、前記縮小画像分割手段が分割し
た数と同じ数の局所的しきい値導出手段と、 （ｇ）対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から
各画素毎のエッジ強度を受け取り、前記大局的しきい値
導出手段から画像全体に対するしきい値を受け取り、対
応する前記局所的しきい値導出手段から各画素毎の局所
的なエッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ強度とし
きい値との大小関係からその画素がエッジであるか否か
を判定する前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数
のエッジ判定手段と、 （ｈ）前記エッジ判定手段から判定結果を受け取り画像
を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする概略
画像作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3352141A JP2806666B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 概略画像作成方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3352141A JP2806666B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 概略画像作成方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05165950A JPH05165950A (ja) | 1993-07-02 |
| JP2806666B2 true JP2806666B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=18422059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3352141A Expired - Lifetime JP2806666B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 概略画像作成方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2806666B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012124149A1 (ja) | 2011-03-11 | 2012-09-20 | オムロン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法および制御プログラム |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6240423B1 (en) * | 1998-04-22 | 2001-05-29 | Nec Usa Inc. | Method and system for image querying using region based and boundary based image matching |
| JP3667197B2 (ja) | 2000-06-05 | 2005-07-06 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像登録システム |
-
1991
- 1991-12-13 JP JP3352141A patent/JP2806666B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 画像検索における画像概略化手法の提案 平田 恭二 原 良憲 笠原 裕 日本電気（株） Ｃ＆Ｃ情報研究所 情報処理学会第４１回（平成２年後期）全国大会講演論文集（４）Ｐ．４−１６０〜４−１６１（平成２年８月１５日発行） |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012124149A1 (ja) | 2011-03-11 | 2012-09-20 | オムロン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法および制御プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05165950A (ja) | 1993-07-02 |
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