JP2806666B2 - 概略画像作成方法及び装置 - Google Patents
概略画像作成方法及び装置Info
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/403—Edge-driven scaling; Edge-based scaling
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Description
画像データベースシステムにおいて検索用概略画像を作
成する方法及び装置に関する。
基づく検索の必要性が高まっている。画像特有の特徴に
基づく検索要求の中に、画像中の空間的特性に基づく情
報検索等に関するものがある。
ジ検出を行い、線分情報のみを取り出した、スケッチの
ようなものを作成し、これを基に検索するという手法が
ある。
方法では、画像全体に対してのしきい値のみでエッジか
否かを決定していて、このため、画像中の画素の値の変
化の激しい部分では、実際に人間が感じるエッジと異な
った線分が検出され、検索の際、絵画の構図がかなり分
かっていると仮定して、比較的正確に描かれることが必
要であった(加藤、栗田、坂倉:フルカラー絵画データ
ベース ART MUSEUM−色彩感と略画による画
像対話−:信学技法、IE 88−118,pp.31
−38(1989)。実際に検索を行う際は利用者の記
憶は非常に曖昧であり、正確にスケッチを作成できない
場合や、構図情報から未知の画像に検索を行う際に困難
を生じていた。
し、スケッチ等による検索に用いる概略画像を導出する
ことにある。
索に用いる概略画像を高速に導出することにある。
成方法は、画像サイズを特定のサイズに縮小した後、前
記縮小画像から各画素毎にエッジ強度を計算し、注目画
素のエッジ強度と画像全体におけるエッジ強度の平均及
び偏差の線形和であるしきい値と、注目画素の近傍の画
素におけるエッジ強度の平均と偏差の線形和であるしき
い値を導出し、この二種類のしきい値よりも注目画素の
エッジ強度値が大きいときはエッジ、それ以外の時はエ
ッジではないと判定することを特徴とする。
画像情報を入力するための入力手段と、(b)前記入力
手段から画像を受け取り、画像を縮小する画像縮小手段
と、(c)前記画像縮小手段から縮小画像を受け取り、
画像を複数個のブロックに分割する縮小画像分割手段
と、(d)前記縮小画像分割手段から各々一つずつの画
像ブロックを受け取り、各画素毎のエッジ強度を測定す
る、前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッ
ジ強度導出手段と、(e)前記各エッジ強度導出手段か
ら前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、前
記縮小画像全体のエッジ強度の平均と偏差を求め、平均
と偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判定す
るためのしきい値を決定する大局的しきい値導出手段
と、(f)対応するブロックの前記エッジ強度導出手段
から前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、
対応するブロック内の各画素毎に、各画素の近傍のエッ
ジ強度の平均及び偏差を求め、画素毎の局所的なエッジ
強度のしきい値を決定する、前記縮小画像分割手段が分
割した数と同じ数の局所的しきい値導出手段と、(g)
対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から各画素
毎のエッジ強度を受け取り、前記大局的しきい値導出手
段から画像全体に対するしきい値を受け取り、対応する
前記局所的しきい値導出手段から各画素毎の局所的なエ
ッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ強度としきい値
との大小関係からその画素がエッジであるか否かを判定
する前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッ
ジ判定手段と、(h)前記エッジ判定手段から判定結果
を受け取り画像を出力する出力手段と、を備えることを
特徴とする。
明するための流れ図であり、図2は、この概略画像作成
方法を実施する装置の機能ブロック図である。図1及び
図2を参照しながら、第1の発明の概略画像作成方法の
実施例を説明する。
る。画像縮小手段22は入力手段21より画像を受け取
り、画像を適当な大きさに縮小する。縮小の一例とし
て、画像をn×mの大きさになるように、画像を特定間
隔で間引く、各メッシュ毎に平均化する等の処理を施す
(図1のステップ11)。エッジ強度導出手段23は画
像縮小手段22より縮小画像を受け取り、各画素毎にエ
ッジ強度を導出する(ステップ12)。一例として図3
において注目画素をSS5、その8近傍の値をSS1,
SS2,SS3,SS4,SS6,SS7,SS8,S
S9としたときエッジ強度STを ST=max(S1,S2,S3,S4) 但し S1=|(SS1+SS2+SS3)−(SS7+SS8+SS9)| S2=|(SS1+SS4+SS7)−(SS3+SS6+SS9)| S3=|(SS4+SS1+SS2)−(SS6+SS8+SS9)| S4=|(SS2+SS3+SS6)−(SS4+SS7+SS8)| とする処理を施すことにより導出する。
度導出手段23より各画素毎のエッジ強度を受け取り、
画像全体のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、平均と
偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判定する
ためのしきい値Tgを導出する(ステップ13)。一例
として画像全体のエッジ強度の平均値をAvg、標準偏
差をσgとしたとき Tg=Avg+σg とする。
度導出手段23より注目画素及びその近傍のエッジ強度
を受け取り、注目画素及びその近傍の画素のエッジ強度
の平均及び偏差を導出し、平均と偏差の線形和をとるこ
とによりエッジ強度を判定するための局所的しきい値T
lを導出する(ステップ14)。一例として近傍画素を
注目画素を中心とするM×Nの大きさのウィンドウを考
えたときこのウィンドウ内でのエッジ強度の平均値をA
vl、標準偏差をσlとしたとき Tl=Avl+σl とする。
23より各画素のエッジ強度を受け取り、大局的しきい
値導出手段24よりしきい値Tgを受け取り、局所的し
きい値導出手段25より注目画素近傍における局所的し
きい値Tlを受け取り、注目画素がエッジであるかどう
かを判定する(ステップ15)。一例として T=MAX(Tl,Tg) としたとき、注目画素のエッジ強度がTより大きいとき
エッジと判定し、小さいときはエッジではないと判定す
る。
り各画素毎の判定結果を受け取り、画素値になおして出
力する(ステップ16)。一例としてエッジであった場
合、その画素の値を1、エッジでなかった場合、その画
素の値を0とする。
4は、第2の発明である概略画像作成装置の実施例を示
す図である。
するための入力手段41と、入力手段41から画像を受
け取り画像を縮小する画像縮小手段42と、画像縮小手
段42から縮小画像を受け取り、画像を複数個(L個)
のブロックに分割する縮小画像分割手段43と、縮小画
像分割手段43から各々一つずつの画像ブロックを受け
取り、各画素毎のエッジ強度を測定する、縮小画像分割
手段43が分割した数と同じ数のエッジ強度導出手段4
4と、各エッジ強度導出手段44から縮小画像の各画素
毎のエッジ強度を受け取り、縮小画像全体のエッジ強度
の平均と偏差を求め、平均と偏差の線形和をとることに
より、エッジ強度を判定するためのしきい値を決定する
大局的しきい値導出手段45と、対応するブロックのエ
ッジ強度導出手段44から縮小画像の各画素毎のエッジ
強度を受け取り、対応するブロック内の各画素毎に、各
画素の近傍のエッジ強度の平均及び偏差を求め、画素毎
の局所的なエッジ強度のしきい値を決定する、縮小画像
分割手段43が分割した数と同じ数の局所的しきい値導
出手段46と、対応するブロックのエッジ強度導出手段
44から各画素毎のエッジ強度を受け取り、大局的しき
い値導出手段45から画像全体に対するしきい値を受け
取り、対応する局所的しきい値導出手段46から各画素
毎の局所的なエッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ
強度としきい値との大小関係からその画素がエッジであ
るか否かを判定する、縮小画像分割手段43が分割した
数と同じ数のエッジ判定手段47と、エッジ判定手段4
7から判定結果を受け取り画像を出力する出力手段48
とを備えている。
て、入力手段41により画像を入力する。画像縮小手段
42は入力手段41より画像を受け取り、画像を適当な
大きさに縮小する。縮小の一例として、画像をn×mの
大きさになるように、画像を特定間隔で間引く、各メッ
シュ毎に平均化する等の処理を施す。縮小画像分割手段
43は画像縮小手段42より縮小画像を受け取り、画像
をL個のブロックに分割する。この際の分割は、一画素
毎に分割することも可能であるし、ある程度まとまった
画素毎に分割してLの数を小さく抑えても構わない。ま
た、各ブロックの大きさ,形状が同じである必要はな
い。L個のエッジ強度導出手段44は縮小画像分割手段
43より対応する縮小画像の一つのブロックを受け取
り、各画素毎にエッジ強度を導出する。一例として図3
において注目画素をSS5、その8近傍の値をSS1,
SS2,SS3,SS4,SS6,SS7,SS8,S
S9としたときエッジ強度STを ST=max(S1,S2,S3,S4) 但し S1=|(SS1+SS2+SS3)−(SS7+SS8+SS9)| S2=|(SS1+SS4+SS7)−(SS3+SS6+SS9)| S3=|(SS4+SS1+SS2)−(SS6+SS8+SS9)| S4=|(SS2+SS3+SS6)−(SS4+SS7+SS8)| とする処理を施すことにより導出する。
ッジ強度導出手段44より各画素毎のエッジ強度を受け
取り、画像全体のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、
平均と偏差の線形和をとることにより、エッジ強度を判
定するためのしきい値Tgを導出する。一例として画像
全体のエッジ強度の平均値をAvg、標準偏差をσgと
したとき Tg=Avg+σg とする。
応するブロックのエッジ強度導出手段44より注目画素
及びその近傍のエッジ強度を受け取り、注目画素及びそ
の近傍の画素のエッジ強度の平均及び偏差を導出し、平
均と偏差の線形和をとることによりエッジ強度を判定す
るための局所的しきい値Tlを導出する。一例として近
傍画素を注目画素を中心とするM×Nの大きさのウィン
ドウを考えたときこのウィンドウ内でのエッジ強度の平
均値をAvl、標準偏差をσlとしたとき Tl=Avl+σl とする。
ロックのエッジ強度導出手段44より各画素のエッジ強
度を受け取り、大局的しきい値導出手段45よりしきい
値Tgを受け取り、対応するブロックの局所的しきい値
導出手段46より注目画素近傍における局所的しきい値
Tlを受け取り、注目画素がエッジであるかどうかを判
定する。一例として T=MAX(Tl,Tg) としたとき、注目画素のエッジ強度がTより大きいとき
エッジと判定し、小さいときはエッジではないと判定す
る。画像出力手段48はL個のエッジ判定手段47より
各画素毎の判定結果を受け取り、画素値になおして出力
する。一例としてエッジであった場合、その画素の値を
1、エッジでなかった場合、その画素の値を0とする。
ば、原画像から画像中の大まかな構造や写っているもの
の形,位置等を記述した2値の画像が画像検索に適した
形で得られ、検索の手段として活用可能な手段の増加に
つながるといった効果がある。また、第2の発明によれ
ば、原画像から画像中の大まかな構造や写っているもの
の形,位置等を記述した2値の画像が画像検索に適した
形で高速に得られ、検索の手段として活用可能な手段の
増加につながるといった効果がある。
示す図である。
ク図である。
ある。
Claims (2)
- 【請求項1】画像サイズを特定のサイズに縮小した後、
前記縮小画像から各画素毎にエッジ強度を計算し、注目
画素のエッジ強度と画像全体におけるエッジ強度の平均
及び偏差の線形和であるしきい値と、注目画素の近傍の
画素におけるエッジ強度の平均と偏差の線形和であるし
きい値を導出し、この二種類のしきい値よりも注目画素
のエッジ強度値が大きいときはエッジ、それ以外の時は
エッジではないと判定することを特徴とする概略画像作
成方法。 - 【請求項2】(a)画像情報を入力するための入力手段
と、 (b)前記入力手段から画像を受け取り、画像を縮小す
る画像縮小手段と、 (c)前記画像縮小手段から縮小画像を受け取り、画像
を複数個のブロックに分割する縮小画像分割手段と、 (d)前記縮小画像分割手段から各々一つずつの画像ブ
ロックを受け取り、各画素毎のエッジ強度を測定する、
前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数のエッジ強
度導出手段と、 (e)前記各エッジ強度導出手段から前記縮小画像の各
画素毎のエッジ強度を受け取り、前記縮小画像全体のエ
ッジ強度の平均と偏差を求め、平均と偏差の線形和をと
ることにより、エッジ強度を判定するためのしきい値を
決定する大局的しきい値導出手段と、 (f)対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から
前記縮小画像の各画素毎のエッジ強度を受け取り、対応
するブロック内の各画素毎に、各画素の近傍のエッジ強
度の平均及び偏差を求め、画素毎の局所的なエッジ強度
のしきい値を決定する、前記縮小画像分割手段が分割し
た数と同じ数の局所的しきい値導出手段と、 (g)対応するブロックの前記エッジ強度導出手段から
各画素毎のエッジ強度を受け取り、前記大局的しきい値
導出手段から画像全体に対するしきい値を受け取り、対
応する前記局所的しきい値導出手段から各画素毎の局所
的なエッジ強度のしきい値を受け取り、エッジ強度とし
きい値との大小関係からその画素がエッジであるか否か
を判定する前記縮小画像分割手段が分割した数と同じ数
のエッジ判定手段と、 (h)前記エッジ判定手段から判定結果を受け取り画像
を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする概略
画像作成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3352141A JP2806666B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 概略画像作成方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3352141A JP2806666B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 概略画像作成方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05165950A JPH05165950A (ja) | 1993-07-02 |
JP2806666B2 true JP2806666B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=18422059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3352141A Expired - Lifetime JP2806666B2 (ja) | 1991-12-13 | 1991-12-13 | 概略画像作成方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2806666B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012124149A1 (ja) | 2011-03-11 | 2012-09-20 | オムロン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法および制御プログラム |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6240423B1 (en) * | 1998-04-22 | 2001-05-29 | Nec Usa Inc. | Method and system for image querying using region based and boundary based image matching |
JP3667197B2 (ja) | 2000-06-05 | 2005-07-06 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像登録システム |
-
1991
- 1991-12-13 JP JP3352141A patent/JP2806666B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
画像検索における画像概略化手法の提案 平田 恭二 原 良憲 笠原 裕 日本電気(株) C&C情報研究所 情報処理学会第41回(平成2年後期)全国大会講演論文集(4)P.4−160〜4−161(平成2年8月15日発行) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012124149A1 (ja) | 2011-03-11 | 2012-09-20 | オムロン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法および制御プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05165950A (ja) | 1993-07-02 |
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