JP2766121B2 - 集積回路と集積回路の故障検出回路 - Google Patents
集積回路と集積回路の故障検出回路Info
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- JP2766121B2 JP2766121B2 JP4116594A JP11659492A JP2766121B2 JP 2766121 B2 JP2766121 B2 JP 2766121B2 JP 4116594 A JP4116594 A JP 4116594A JP 11659492 A JP11659492 A JP 11659492A JP 2766121 B2 JP2766121 B2 JP 2766121B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は集積回路と集積回路の故
障検出回路に関し、特に内部にスキャンパスを備える集
積回路と集積回路の故障検出回路に関する。
障検出回路に関し、特に内部にスキャンパスを備える集
積回路と集積回路の故障検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の集積回路と集積回路の故障検出回
路は、図４のブロック図に示すように、各集積回路５
１，５２，５３内には、それぞれスキャンパスを構成す
る複数段のフリップフロップを設けてあり、図示してい
ない回路により、試験時には縦続に接続して、故障検出
回路５４の制御の下で各集積回路５１，５２，５３の論
理状態をスキャンパス５５を介して出力するようになっ
ている。又、このとき故障検出回路５４は、各集積回路
５１，５２，５３のデータをスキャンインするかスキャ
ンアウトするかを制御するスキャン制御手段５６と、ス
キャン制御手段５６から受信するスキャンアウトデータ
を保持する状態値保持手段５７と、全データの論理値が
“０”であるものと“１”である２つのデータ群を予め
保持している期待値保持手段５８と、状態値保持手段５
７と期待値保持手段５８とが保持するデータを比較し結
果が不一致の場合に不一致である旨の信号を出力する比
較手段５９と、比較手段５９から不一致である旨の信号
を受信することで故障発生を検出し故障通知信号を発生
する故障検出手段６０と、故障検出手段６０からの故障
通知信号を受信することにより各集積回路５１，５２，
５３内の故障した集積回路を指摘する指摘手段６１とで
構成している。
路は、図４のブロック図に示すように、各集積回路５
１，５２，５３内には、それぞれスキャンパスを構成す
る複数段のフリップフロップを設けてあり、図示してい
ない回路により、試験時には縦続に接続して、故障検出
回路５４の制御の下で各集積回路５１，５２，５３の論
理状態をスキャンパス５５を介して出力するようになっ
ている。又、このとき故障検出回路５４は、各集積回路
５１，５２，５３のデータをスキャンインするかスキャ
ンアウトするかを制御するスキャン制御手段５６と、ス
キャン制御手段５６から受信するスキャンアウトデータ
を保持する状態値保持手段５７と、全データの論理値が
“０”であるものと“１”である２つのデータ群を予め
保持している期待値保持手段５８と、状態値保持手段５
７と期待値保持手段５８とが保持するデータを比較し結
果が不一致の場合に不一致である旨の信号を出力する比
較手段５９と、比較手段５９から不一致である旨の信号
を受信することで故障発生を検出し故障通知信号を発生
する故障検出手段６０と、故障検出手段６０からの故障
通知信号を受信することにより各集積回路５１，５２，
５３内の故障した集積回路を指摘する指摘手段６１とで
構成している。
【０００３】次に実際の故障検出動作について説明す
る。
る。
【０００４】故障検出回路５４は、スキャン制御手段５
６により、各集積回路５１，５２，５３内の論理値
“１”の固定故障を検出するために、期待値保持手段５
８から全データの論理値が“０”のデータ群を、スキャ
ンパス５５上の各集積回路５１，５２，５３のフリップ
フロップにスキャンインした後にスキャンアウトを行
い、スキャンアウトデータを状態値保持手段５７に格納
し、比較手段５９に比較指示する。比較手段５９は、状
態値保持手段５７に格納したスキャンパス５５上のすべ
てのフリップフロップのスキャンアウトデータと、期待
値保持手段５８に格納している全データの論理値が
“０”のデータ群とを比較する。比較した結果が一致し
ていればスキャン制御手段は、次に論理値“０”の固定
故障を検出するために、期待値保持手段５８から全デー
タの論理値が“１”のデータ群を、スキャンパス５５上
の各集積回路５１，５２，５３のフリップフロップにス
キャンインした後にスキャンアウトを行い、スキャンア
ウトデータを状態値保持手段５７に格納し、比較手段５
９に比較指示する。比較手段５９は、状態値保持手段５
７に格納したスキャンパス５５上のすべてのフリップフ
ロップのスキャンアウトデータと、期待値保持手段５８
に格納している全データの論理値が“１”のデータ群と
を比較する。比較した結果が不一致の場合、この比較結
果のデータを受けて、指摘手段６１が故障した集積回路
を指摘する。
６により、各集積回路５１，５２，５３内の論理値
“１”の固定故障を検出するために、期待値保持手段５
８から全データの論理値が“０”のデータ群を、スキャ
ンパス５５上の各集積回路５１，５２，５３のフリップ
フロップにスキャンインした後にスキャンアウトを行
い、スキャンアウトデータを状態値保持手段５７に格納
し、比較手段５９に比較指示する。比較手段５９は、状
態値保持手段５７に格納したスキャンパス５５上のすべ
てのフリップフロップのスキャンアウトデータと、期待
値保持手段５８に格納している全データの論理値が
“０”のデータ群とを比較する。比較した結果が一致し
ていればスキャン制御手段は、次に論理値“０”の固定
故障を検出するために、期待値保持手段５８から全デー
タの論理値が“１”のデータ群を、スキャンパス５５上
の各集積回路５１，５２，５３のフリップフロップにス
キャンインした後にスキャンアウトを行い、スキャンア
ウトデータを状態値保持手段５７に格納し、比較手段５
９に比較指示する。比較手段５９は、状態値保持手段５
７に格納したスキャンパス５５上のすべてのフリップフ
ロップのスキャンアウトデータと、期待値保持手段５８
に格納している全データの論理値が“１”のデータ群と
を比較する。比較した結果が不一致の場合、この比較結
果のデータを受けて、指摘手段６１が故障した集積回路
を指摘する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の集積回
路と集積回路の故障検出回路は、複数の集積回路を接続
した大規模集積回路であっても、論理値“１”の固定故
障および論理値“０”の固定故障を検出するために、期
待値保持手段から全データの論理値が“０”のデータ群
および“１”のデータ群を、スキャンパス上の各集積回
路のフリップフロップにスキャンインした後にスキャン
アウトを行い、比較手段で比較していたので、スキャン
パスの途中に故障が発生していると、これに関連するす
べてのスキャンアウトデータが狂ってしまい、被擬回路
を多く指摘してしまうことがあるという問題点がある。
路と集積回路の故障検出回路は、複数の集積回路を接続
した大規模集積回路であっても、論理値“１”の固定故
障および論理値“０”の固定故障を検出するために、期
待値保持手段から全データの論理値が“０”のデータ群
および“１”のデータ群を、スキャンパス上の各集積回
路のフリップフロップにスキャンインした後にスキャン
アウトを行い、比較手段で比較していたので、スキャン
パスの途中に故障が発生していると、これに関連するす
べてのスキャンアウトデータが狂ってしまい、被擬回路
を多く指摘してしまうことがあるという問題点がある。
【０００６】本発明の目的は、複数の集積回路を切分け
故障発生回路の指摘を集積回路単位に行うことができる
集積回路と集積回路の故障検出回路を提供することにあ
る。
故障発生回路の指摘を集積回路単位に行うことができる
集積回路と集積回路の故障検出回路を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路は、内
部にスキャンパスを備える集積回路において、データを
スキャンインおよびスキャンアウトするためのリセット
機能を持つ複数のフリップフロップで構成するスキャン
パスの前段にリセット時に論理値“１”を取るフリップ
フロップを設ける構成である。
部にスキャンパスを備える集積回路において、データを
スキャンインおよびスキャンアウトするためのリセット
機能を持つ複数のフリップフロップで構成するスキャン
パスの前段にリセット時に論理値“１”を取るフリップ
フロップを設ける構成である。
【０００８】本発明の集積回路の故障検出回路は、同一
のスキャンパスを備える複数の集積回路で構成する大規
模集積回路に対しスキャンパスにより各集積回路にデー
タをスキャンインおよびスキャンアウト制御するスキャ
ン制御手段と、このスキャン制御手段の与えるスキャン
アウトデータを保持する状態値保持手段と、前記前記集
積回路の出力する状態値を予め保持している期待値保持
手段と、前記状態値保持手段と前記期待値保持手段との
保持する保持値を比較し不一致の場合に不一致である旨
の信号を出力する比較手段と、この比較手段から不一致
である旨の信号を受信することで故障発生を検出し故障
通知信号を発生する故障検出手段と、この故障検出手段
からの故障通知信号を受信することにより前記大規模集
積回路内の故障した集積回路を指摘する指摘手段とを備
える集積回路の故障検出回路において、前記集積回路は
リセット機能を持つ複数のフリップフロップで構成する
スキャンパスの前段にリセット時に論理値“１”を取る
フリップフロップを有し、前記スキャン制御手段に前記
スキャンパスを構成する全フリップフロップをリセット
する機能と、前記リセットした後に前記全フリップフロ
ップの状態値をスキャンアウトする機能と、前記スキャ
ンアウトした結果を前記状態保持手段に格納する機能と
を設け、前記期待値保持手段に前記全リップフロップを
リセットした場合の期待値を予め保持し、前記比較手段
に前記状態値保持手段と前記期待値保持手段との内容を
前記各集積回路単位で比較すると共に前記各集積回路単
位に比較した数をカウントする機能を設け、前記指摘手
段に前記故障検出手段からの故障通知により前記各集積
回路単位に比較した数の内容を参照して故障した集積回
路を指摘する構成である。
のスキャンパスを備える複数の集積回路で構成する大規
模集積回路に対しスキャンパスにより各集積回路にデー
タをスキャンインおよびスキャンアウト制御するスキャ
ン制御手段と、このスキャン制御手段の与えるスキャン
アウトデータを保持する状態値保持手段と、前記前記集
積回路の出力する状態値を予め保持している期待値保持
手段と、前記状態値保持手段と前記期待値保持手段との
保持する保持値を比較し不一致の場合に不一致である旨
の信号を出力する比較手段と、この比較手段から不一致
である旨の信号を受信することで故障発生を検出し故障
通知信号を発生する故障検出手段と、この故障検出手段
からの故障通知信号を受信することにより前記大規模集
積回路内の故障した集積回路を指摘する指摘手段とを備
える集積回路の故障検出回路において、前記集積回路は
リセット機能を持つ複数のフリップフロップで構成する
スキャンパスの前段にリセット時に論理値“１”を取る
フリップフロップを有し、前記スキャン制御手段に前記
スキャンパスを構成する全フリップフロップをリセット
する機能と、前記リセットした後に前記全フリップフロ
ップの状態値をスキャンアウトする機能と、前記スキャ
ンアウトした結果を前記状態保持手段に格納する機能と
を設け、前記期待値保持手段に前記全リップフロップを
リセットした場合の期待値を予め保持し、前記比較手段
に前記状態値保持手段と前記期待値保持手段との内容を
前記各集積回路単位で比較すると共に前記各集積回路単
位に比較した数をカウントする機能を設け、前記指摘手
段に前記故障検出手段からの故障通知により前記各集積
回路単位に比較した数の内容を参照して故障した集積回
路を指摘する構成である。
【０００９】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１０】図１は本発明の集積回路の一実施例のブロ
ック図である。
ック図である。
【００１１】集積回路１は、内部にスキャンパスを備え
ている。このスキャンパスは、複数のフリップフロップ
１０，１１，１２，１３，１４で構成しているが、この
中で、フリップフロップ１０，１１，１２，１３は、リ
セット時に論理値“０”となり、フリップフロップ１４
は、リセット時に論理値“１”となるものである。
ている。このスキャンパスは、複数のフリップフロップ
１０，１１，１２，１３，１４で構成しているが、この
中で、フリップフロップ１０，１１，１２，１３は、リ
セット時に論理値“０”となり、フリップフロップ１４
は、リセット時に論理値“１”となるものである。
【００１２】図２は本発明の集積回路の故障検出回路の
一実施例のブロック図である。
一実施例のブロック図である。
【００１３】同一のスキャンパスを備える複数の集積回
路１，２，３は、それぞれフリップフロップ１０〜１
４，２０〜２４，３０〜３４を持ち、故障検出回路４
は、スキャンパス５を介して集積回路１，２，３と接続
すると共に、リセット信号６を送出可能としている。
又、故障検出回路４は、スキャン制御回路手段４０と期
待値保持手段４１と状態値保持手段４２と比較手段４３
と故障検出手段４４と指摘手段４５により構成される。
スキャン制御手段４０は、集積回路１，２，３のフリッ
プフロップ１０〜１４，２０〜２４，３０〜３４をリセ
ットした後の状態値をスキャンパス５によりスキャンア
ウトし状態値保持手段４２に与える。状態値保持手段４
２は、スキャン制御手段４０により与えられた各集積回
路の状態値を保持する。期待値保持手段４１は、フリッ
プフロップ１０〜１４，２０〜２４，３０〜３４が正常
状態であるときにリセットした後の状態値を予め保持し
ている。比較手段４３は、期待値保持手段４１と状態値
保持手段４２とを集積回路１から順に比較し、さらに比
較した回数を保持する。故障検出手段４４は、比較手段
４３が比較した結果により不一致を検出したならば、指
摘手段４５に不一致である旨の信号を通知する。この通
知を受けた指摘手段４５は、不一致を検出したときの比
較数が“１”のときには集積回路１を、比較数が“２”
のときには集積回路２を、比較数が“３”のときには集
積回路３を故障回路として指摘する。
路１，２，３は、それぞれフリップフロップ１０〜１
４，２０〜２４，３０〜３４を持ち、故障検出回路４
は、スキャンパス５を介して集積回路１，２，３と接続
すると共に、リセット信号６を送出可能としている。
又、故障検出回路４は、スキャン制御回路手段４０と期
待値保持手段４１と状態値保持手段４２と比較手段４３
と故障検出手段４４と指摘手段４５により構成される。
スキャン制御手段４０は、集積回路１，２，３のフリッ
プフロップ１０〜１４，２０〜２４，３０〜３４をリセ
ットした後の状態値をスキャンパス５によりスキャンア
ウトし状態値保持手段４２に与える。状態値保持手段４
２は、スキャン制御手段４０により与えられた各集積回
路の状態値を保持する。期待値保持手段４１は、フリッ
プフロップ１０〜１４，２０〜２４，３０〜３４が正常
状態であるときにリセットした後の状態値を予め保持し
ている。比較手段４３は、期待値保持手段４１と状態値
保持手段４２とを集積回路１から順に比較し、さらに比
較した回数を保持する。故障検出手段４４は、比較手段
４３が比較した結果により不一致を検出したならば、指
摘手段４５に不一致である旨の信号を通知する。この通
知を受けた指摘手段４５は、不一致を検出したときの比
較数が“１”のときには集積回路１を、比較数が“２”
のときには集積回路２を、比較数が“３”のときには集
積回路３を故障回路として指摘する。
【００１４】次にその動作の詳細を２つの例をあげて説
明する。
明する。
【００１５】図３は固定故障時の状態値保持手段に格納
された状態値と期待値保持手段に格納された状態値とを
比較表示して説明する説明図である。図３分図（ａ）は
集積回路１のフリップフロップ１３が論理値“０”の固
定故障している場合、図３分図（ｂ）は集積回路２のフ
リップフロップ２４が論理値“０”の固定故障している
場合を説明する説明図である。
された状態値と期待値保持手段に格納された状態値とを
比較表示して説明する説明図である。図３分図（ａ）は
集積回路１のフリップフロップ１３が論理値“０”の固
定故障している場合、図３分図（ｂ）は集積回路２のフ
リップフロップ２４が論理値“０”の固定故障している
場合を説明する説明図である。
【００１６】第１の例として、図３分図（ａ）を参照し
て集積回路１のフリップフロップ１３が論理値“０”の
固定故障している場合について説明する。
て集積回路１のフリップフロップ１３が論理値“０”の
固定故障している場合について説明する。
【００１７】スキャン制御手段４０は、リセット信号６
により集積回路１，２，３のすべてのフリップフロップ
をリセットした後の、全フリップフロップの状態値をス
キャンパス５によりスキャンアウトして、状態値保持手
段４２に与える。次に比較手段４３は、集積回路１のフ
リップフロップ１０，１１，１２，１３，１４に相当す
る期待値保持手段４１の内容と状態値保持手段４２の内
容とを比較し、比較した回数を“１”とする。故障検出
回路４４は、比較した内容が不一致であることを検出す
るので、指摘手段４５に不一致である旨の信号を通知す
る。この通知を受けた指摘手段４５は、比較手段４３が
比較した回数を確認し、回数が“１”なので故障回路と
して集積回路１を指摘する。
により集積回路１，２，３のすべてのフリップフロップ
をリセットした後の、全フリップフロップの状態値をス
キャンパス５によりスキャンアウトして、状態値保持手
段４２に与える。次に比較手段４３は、集積回路１のフ
リップフロップ１０，１１，１２，１３，１４に相当す
る期待値保持手段４１の内容と状態値保持手段４２の内
容とを比較し、比較した回数を“１”とする。故障検出
回路４４は、比較した内容が不一致であることを検出す
るので、指摘手段４５に不一致である旨の信号を通知す
る。この通知を受けた指摘手段４５は、比較手段４３が
比較した回数を確認し、回数が“１”なので故障回路と
して集積回路１を指摘する。
【００１８】第２の例として、図３分図（ｂ）を参照し
て集積回路２のフリップフロップ２４が論理値“０”の
固定故障している場合について説明する。
て集積回路２のフリップフロップ２４が論理値“０”の
固定故障している場合について説明する。
【００１９】スキャン制御手段４０は、リセット信号６
により集積回路１，２，３のすべてのフリップフロップ
をリセットした後の、全フリップフロップの状態値をス
キャンパス５によりスキャンアウトして、状態値保持手
段４２に与える。次に比較手段４３は、集積回路１のフ
リップフロップ１０〜１４に相当する期待値保持手段４
１の内容と状態値保持手段４２の内容とを比較し、比較
した回数を“１”とする。故障検出回路４４は、比較し
た内容が一致していることを検出して、比較手段４３に
対して次の集積回路２に対する比較要求をする。この比
較要求を受けた比較回路４３は、集積回路２のフリップ
フロップ２０，２１，２２，２３，２４に相当する期待
値保持手段４１の内容と状態値保持手段４２の内容とを
比較し、比較した回数を“２”とする。ここで故障検出
回路４４は、比較した内容が不一致であることを検出す
るので、指摘手段４５に不一致である旨の信号を通知す
る。この通知を受けた指摘手段４５は、比較手段４３が
比較した回数を確認し、回数が“２”なので故障回路と
して集積回路２を指摘する。
により集積回路１，２，３のすべてのフリップフロップ
をリセットした後の、全フリップフロップの状態値をス
キャンパス５によりスキャンアウトして、状態値保持手
段４２に与える。次に比較手段４３は、集積回路１のフ
リップフロップ１０〜１４に相当する期待値保持手段４
１の内容と状態値保持手段４２の内容とを比較し、比較
した回数を“１”とする。故障検出回路４４は、比較し
た内容が一致していることを検出して、比較手段４３に
対して次の集積回路２に対する比較要求をする。この比
較要求を受けた比較回路４３は、集積回路２のフリップ
フロップ２０，２１，２２，２３，２４に相当する期待
値保持手段４１の内容と状態値保持手段４２の内容とを
比較し、比較した回数を“２”とする。ここで故障検出
回路４４は、比較した内容が不一致であることを検出す
るので、指摘手段４５に不一致である旨の信号を通知す
る。この通知を受けた指摘手段４５は、比較手段４３が
比較した回数を確認し、回数が“２”なので故障回路と
して集積回路２を指摘する。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、集積回
路内に、データをスキャンインおよびスキャンアウトす
るためのリセット機能を持つ複数のフリップフロップで
構成するスキャンパスの前段にリセット時に論理値
“１”を取るフリップフロップを設け、故障検出回路内
のスキャン制御手段にスキャンパスを構成する全フリッ
プフロップをリセットする機能と、リセットした後に全
フリップフロップの状態値をスキャンアウトする機能
と、スキャンアウトした結果を状態保持手段に格納する
機能とを設け、期待値保持手段に全リップフロップをリ
セットした場合の期待値を予め保持し、比較手段に状態
値保持手段と期待値保持手段との内容を各集積回路単位
で比較すると共に各集積回路単位に比較した数をカウン
トする機能を設け、指摘手段に故障検出手段からの故障
通知により各集積回路単位に比較した数の内容を参照し
て故障した集積回路を指摘する機能を設けることによ
り、複数の集積回路を切分け故障発生回路の指摘を集積
回路単位に行うことができるという効果が有る。
路内に、データをスキャンインおよびスキャンアウトす
るためのリセット機能を持つ複数のフリップフロップで
構成するスキャンパスの前段にリセット時に論理値
“１”を取るフリップフロップを設け、故障検出回路内
のスキャン制御手段にスキャンパスを構成する全フリッ
プフロップをリセットする機能と、リセットした後に全
フリップフロップの状態値をスキャンアウトする機能
と、スキャンアウトした結果を状態保持手段に格納する
機能とを設け、期待値保持手段に全リップフロップをリ
セットした場合の期待値を予め保持し、比較手段に状態
値保持手段と期待値保持手段との内容を各集積回路単位
で比較すると共に各集積回路単位に比較した数をカウン
トする機能を設け、指摘手段に故障検出手段からの故障
通知により各集積回路単位に比較した数の内容を参照し
て故障した集積回路を指摘する機能を設けることによ
り、複数の集積回路を切分け故障発生回路の指摘を集積
回路単位に行うことができるという効果が有る。
【図１】本発明の集積回路の一実施例のブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明の集積回路の故障検出回路の一実施例の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】固定故障時の状態値保持手段に格納された状態
値と期待値保持手段に格納された状態値とを比較表示し
て説明する説明図である。
値と期待値保持手段に格納された状態値とを比較表示し
て説明する説明図である。
【図４】従来の集積回路と集積回路の故障検出回路のブ
ロック図である。
ロック図である。
１，２，３ 集積回路 ４ 故障検出回路 ５ スキャンパス ６ リセット信号 １０〜１４，２０〜２４，３０〜３４ フリップフロ
ップ ４０ スキャン制御回路手段 ４１ 期待値保持手段 ４２ 状態値保持手段 ４３ 比較手段 ４４ 故障検出手段 ４５ 指摘手段
ップ ４０ スキャン制御回路手段 ４１ 期待値保持手段 ４２ 状態値保持手段 ４３ 比較手段 ４４ 故障検出手段 ４５ 指摘手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−282631（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−65671（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−132977（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/28
Claims (2)
- 【請求項１】 内部にスキャンパスを備える集積回路に
おいて、データをスキャンインおよびスキャンアウトす
るためのリセット機能を持つ複数のフリップフロップで
構成するスキャンパスの前段にリセット時に論理値
“１”を取るフリップフロップを設けることを特徴とす
る集積回路。 - 【請求項２】 同一のスキャンパスを備える複数の集積
回路で構成する大規模集積回路に対しスキャンパスによ
り各集積回路にデータをスキャンインおよびスキャンア
ウト制御するスキャン制御手段と、このスキャン制御手
段の与えるスキャンアウトデータを保持する状態値保持
手段と、前記前記集積回路の出力する状態値を予め保持
している期待値保持手段と、前記状態値保持手段と前記
期待値保持手段との保持する保持値を比較し不一致の場
合に不一致である旨の信号を出力する比較手段と、この
比較手段から不一致である旨の信号を受信することで故
障発生を検出し故障通知信号を発生する故障検出手段
と、この故障検出手段からの故障通知信号を受信するこ
とにより前記大規模集積回路内の故障した集積回路を指
摘する指摘手段とを備える集積回路の故障検出回路にお
いて、前記集積回路はリセット機能を持つ複数のフリッ
プフロップで構成するスキャンパスの前段にリセット時
に論理値“１”を取るフリップフロップを有し、前記ス
キャン制御手段に前記スキャンパスを構成する全フリッ
プフロップをリセットする機能と、前記リセットした後
に前記全フリップフロップの状態値をスキャンアウトす
る機能と、前記スキャンアウトした結果を前記状態保持
手段に格納する機能とを設け、前記期待値保持手段に前
記全リップフロップをリセットした場合の期待値を予め
保持し、前記比較手段に前記状態値保持手段と前記期待
値保持手段との内容を前記各集積回路単位で比較すると
共に前記各集積回路単位に比較した数をカウントする機
能を設け、前記指摘手段に前記故障検出手段からの故障
通知により前記各集積回路単位に比較した数の内容を参
照して故障した集積回路を指摘することを特徴とする集
積回路の故障検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4116594A JP2766121B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 集積回路と集積回路の故障検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4116594A JP2766121B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 集積回路と集積回路の故障検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792230A JPH0792230A (ja) | 1995-04-07 |
| JP2766121B2 true JP2766121B2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=14691011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4116594A Expired - Lifetime JP2766121B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 集積回路と集積回路の故障検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2766121B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005147749A (ja) | 2003-11-12 | 2005-06-09 | Toshiba Corp | スキャン回路を備える半導体集積回路、スキャン回路システムおよびスキャンテストシステム |
| JPWO2008120362A1 (ja) * | 2007-03-29 | 2010-07-15 | 富士通株式会社 | 不良箇所特定装置、不良箇所特定方法および集積回路 |
-
1992
- 1992-05-11 JP JP4116594A patent/JP2766121B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0792230A (ja) | 1995-04-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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