JP2682940B2 - Output circuit - Google Patents

Output circuit

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JP2682940B2
JP2682940B2 JP4314790A JP31479092A JP2682940B2 JP 2682940 B2 JP2682940 B2 JP 2682940B2 JP 4314790 A JP4314790 A JP 4314790A JP 31479092 A JP31479092 A JP 31479092A JP 2682940 B2 JP2682940 B2 JP 2682940B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は相補型MOS(以下「C
MOS」と称する)集積回路における出力回路に関す
る。
The present invention relates to a complementary MOS (hereinafter referred to as "C
(Referred to as “MOS”) integrated circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】CMOS集積回路における出力回路は、
信号を長距離伝送して他の回路を駆動する役割を担って
いるため、その最終段にはゲート幅の大きな、即ちサイ
ズの大きなCMOSトランジスタが用いられる。図3
は、出力回路の最終段のCMOSトランジスタを示した
図である。
2. Description of the Related Art Output circuits in CMOS integrated circuits are
A CMOS transistor having a large gate width, that is, a large size is used in the final stage because it plays a role of driving another circuit by transmitting a signal over a long distance. FIG.
FIG. 6 is a diagram showing a final stage CMOS transistor of the output circuit.

【0003】このCMOSトランジスタ10の入力信号
1 、S2 が変化する際に、このCMOSトランジスタ
10を構成P型トランジスタ11とN型トランジスタ1
2を経由して流れる貫通電流Iが発生すると、この貫通
電流Iはその変化率dI/dtが極めて大きく、これが
ノイズとして電源系に影響し誤動作等の原因の1つとな
る。
When the input signals S 1 and S 2 of the CMOS transistor 10 change, the CMOS transistor 10 is configured to have a P-type transistor 11 and an N-type transistor 1.
When a through current I flowing through 2 is generated, the through current I has an extremely large rate of change dI / dt, which affects the power supply system as noise, which is one of the causes of malfunction and the like.

【0004】図4は、この貫通電流を防止する手法の1
つを示したタイミングチャートである。図3に示すCM
OSトランジスタ10を構成するP型トランジスタ11
の入力信号S1 のタイミング、N型トランジスタ12の
入力信号S2 のタイミングを図4に示すようにずらし、
信号変化の際にP型トランジスタ11とN型トランジス
タ12の双方ともオフとなる瞬間をつくることにより、
貫通電流Iの発生が防止される。
FIG. 4 shows a first method for preventing this shoot-through current.
It is the timing chart which showed one. CM shown in FIG.
P-type transistor 11 forming the OS transistor 10
The input signal S 1 of the input signal S 2 and the timing of the input signal S 2 of the N-type transistor 12 are shifted as shown in FIG.
By creating the moment when both the P-type transistor 11 and the N-type transistor 12 are turned off when the signal changes,
Generation of the through current I is prevented.

【0005】また、図3に示す信号出力ライン13は大
きな負荷容量14を有しているため、このCMOSトラ
ンジスタ10の入力信号S1 、S2 が変化する毎に大き
な充電電流i1 、もしくは放電電流i2 が流れ、それら
の変化率di1 /dt、di 2 /dtも大きいため、こ
れもノイズとして電源系に影響し誤動作等の原因の1つ
となる。
The signal output line 13 shown in FIG.
This CMOS transistor has a large load capacity 14.
Input signal S of the register 101 , STwo Is larger each time
Charging current i1 , Or discharge current iTwo Flow through them
Change rate di1 / Dt, di Two Since / dt is also large, this
This is also one of the causes of malfunctions that affect the power supply system as noise.
Becomes

【0006】図5は充放電電流i1 、i2 の変化率di
1 /dt、di2 /dtを抑える従来の提案の1つを示
した図である(特開昭61−283217号公報参
照)。入力信号Sを複数の系統(この例では2系統)に
分け、遅延量を順次変更して出力側を互いにつなぎ、負
荷容量14を充放電する。こうすることにより、この提
案の意図は、充電電流、放電電流が時間的に分散され、
それらの変化率を小さく抑えることにあるものと考えら
れる。ただし、この回路では、入力信号Sが変化した際
に2つの出力ドライバ15、16のうちの一方がHレベ
ル、他方がLレベルとなる瞬間があり、その瞬間に一方
から他方へ電流が流れ込んでしまうこととなり、現実的
な回路ではない。
FIG. 5 shows the rate of change di of the charging / discharging currents i 1 and i 2.
1 / dt, which is a diagram showing one conventional proposal to suppress the di 2 / dt (see JP-A-61-283217). The input signal S is divided into a plurality of systems (two systems in this example), the delay amount is sequentially changed, the output sides are connected to each other, and the load capacitance 14 is charged and discharged. By doing so, the intent of this proposal is to distribute the charging and discharging currents in time,
It is considered to be to suppress the rate of change of them to be small. However, in this circuit, there is a moment when one of the two output drivers 15 and 16 becomes H level and the other becomes L level when the input signal S changes, and at that moment, current flows from one to the other. This is not a realistic circuit.

【0007】図6は、放電電流の変化率を抑える従来の
他の提案を示した図である(同上公報参照)。この図6
における放電電流の変化率を抑えるための考え方は、図
5に示したものと同様であり、入力信号Sを複数の系統
(この例では2系統)に分け、遅延量を順次変更して出
力側を互いにつなぎ、負荷容量14に蓄積された電荷を
放電する。これにより、放電電流が時間的に分散され、
その変化率を小さく抑えることができる。
FIG. 6 is a diagram showing another conventional proposal for suppressing the rate of change of discharge current (see the above publication). This figure 6
The idea for suppressing the rate of change of the discharge current in is similar to that shown in FIG. 5, the input signal S is divided into a plurality of systems (two systems in this example), and the delay amount is sequentially changed to the output side. Are connected to each other to discharge the electric charge accumulated in the load capacitance 14. This causes the discharge current to be dispersed over time,
The rate of change can be kept small.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】出力回路を構成するに
当り、貫通電流の防止と充放電電流の変化率の抑制との
双方を実現するため、図4に示した手法、及び図5、図
6に示した手法との双方を取り入れることが考えられ
る。すなわち、図3に示すようなCMOSトランジスタ
10を複数並べてそれらの出力を互いに接続して負荷容
量14を駆動するように構成し、またもともとは1つの
入力を、配列されたCMOSトランジスタ10の数の2
倍、即ち1つのCMOSトランジスタ10について2つ
ずつに分岐させ、分岐された各入力に遅延時間が互いに
異なるようにインバータの数を互いに変えた遅延回路
(図6参照)を接続することが考えられる。しかしこの
場合、遅延回路を構成するインバータの数がかなり多く
なり、出力回路の占有面積が大きくなってしまうという
問題がある。
In order to realize both prevention of shoot-through current and suppression of change rate of charging / discharging current in constructing an output circuit, the method shown in FIG. 4 and FIGS. It is conceivable to incorporate both of the methods shown in 6. That is, a plurality of CMOS transistors 10 as shown in FIG. 3 are arranged and their outputs are connected to each other to drive the load capacitance 14, and originally, one input is equal to the number of arranged CMOS transistors 10. Two
It is conceivable that each CMOS transistor 10 is divided into two, and each of the branched inputs is connected to a delay circuit (see FIG. 6) in which the number of inverters is changed so that the delay times are different from each other. . However, in this case, there is a problem that the number of inverters forming the delay circuit becomes considerably large and the area occupied by the output circuit becomes large.

【0009】本発明は、上記事情に鑑み、比較的小さな
回路規模で貫通電流の防止と充放電電流の変化率の低減
との双方を実現する出力回路を提供することを目的とす
る。
In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide an output circuit which realizes both prevention of shoot-through current and reduction of change rate of charge / discharge current with a relatively small circuit scale.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の出力回路は、P型MOSトランジスタとN型MOS
トランジスタの各ソースがそれぞれ電源及びグラウンド
に接続されるとともに各ドレインが互いに接続され、こ
の接続点を出力とする、該出力同士が互いに接続された
複数の相補型MOSトランジスタからなる駆動回路と、
入力端子同士が互いに接続されると共に、出力端子が、
それぞれ、前記複数の相補型MOSトランジスタを構成
する各P型MOSトランジスタ及び各N型MOSトラン
ジスタの各ゲートに接続された複数のインバータからな
る駆動タイミング制御回路とを備え、上記各相補型MO
Sトランジスタを構成するP型MOSトランジスタのゲ
ートに接続されたインバータの論理しきい値の方が各相
補型MOSトランジスタを構成するN型MOSトランジ
スタのゲートに接続されたインバータの論理しきい値よ
りも高く、かつ、上記駆動タイミング制御回路を構成す
る複数のインバータの論理しきい値が互いに異なるもの
であることを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An output circuit of the present invention for achieving the above object is a P-type MOS transistor and an N-type MOS.
A drive circuit which is composed of a plurality of complementary MOS transistors in which respective sources of the transistors are connected to a power supply and a ground and respective drains are connected to each other, and the outputs are connected to each other, and the outputs are connected to each other,
The input terminals are connected to each other and the output terminals are
Each of the complementary MO transistors includes a drive timing control circuit including a plurality of inverters connected to the gates of the P-type MOS transistors and the N-type MOS transistors that form the plurality of complementary MOS transistors.
The logical threshold value of the inverter connected to the gate of the P-type MOS transistor forming the S transistor is more than the logical threshold value of the inverter connected to the gate of the N-type MOS transistor forming the complementary MOS transistor. It is characterized in that it is high and the logical thresholds of the plurality of inverters constituting the drive timing control circuit are different from each other.

【0011】[0011]

【作用】入力信号は、完全なステップ的な変化をするの
ではなく、ある短い時間をかけて徐々に変化する。特に
出力回路の場合は、前述したように、最終段にはサイズ
の大きなトランジスタが用いられ、このサイズの大きな
トランジスタをその前段のサイズの小さなトランジスタ
で駆動することになるため、その入力信号の変化が緩や
かとなる。本発明はこの点に想到することにより完成さ
れたものである。
The input signal does not undergo a complete step change, but changes gradually over a short period of time. In particular, in the case of the output circuit, as described above, a large-sized transistor is used in the final stage, and this large-sized transistor is driven by the small-sized transistor in the preceding stage. Becomes loose. The present invention has been completed by reaching this point.

【0012】すなわち、本発明の出力回路は、各CMO
Sトランジスタを構成するP型MOSトランジスタ、N
型MOSトランジスタの各ゲートに各インバータを接続
し、それらのインバータとして、しきい値が上記のよう
に異なるものを用いたため、貫通電流が防止されると共
に充放電電流も時間的に分散されその変化率が抑えられ
る。
That is, the output circuit of the present invention is configured so that each CMO
P-type MOS transistor forming an S transistor, N
Inverters are connected to the respective gates of the MOS transistor, and the inverters having different threshold values are used, so that the through current is prevented and the charging / discharging current is dispersed over time, and its change The rate is suppressed.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する図1
は、本発明の出力回路の一実施例を示した図である。こ
の出力回路は、3つのCMOSトランジスタ20,3
0,40からなる駆動回路と、各CMOSトランジスタ
20,30,40を構成するP型MOSトランジスタ2
1,31,41及びN型MOSトランジスタ22,3
2,42のそれぞれのゲートに接続された6つのインバ
ータ51,52,53,54,55,56からなる駆動
タイミング制御回路から構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
FIG. 4 is a diagram showing an embodiment of an output circuit of the present invention. This output circuit comprises three CMOS transistors 20, 3
0, 40 drive circuit and P-type MOS transistor 2 constituting each CMOS transistor 20, 30, 40
1, 31, 41 and N-type MOS transistors 22, 3
The drive timing control circuit is composed of six inverters 51, 52, 53, 54, 55, 56 connected to the respective gates of 2, 42.

【0014】駆動回路を構成する3つのCMOSトラン
ジスタ20,30,40は、各P型MOSトランジスタ
21,31,41のソースが電源に接続されており、ま
た各N型MOSトランジスタ22,32,42のソース
がグラウンドに接続されている。また、各CMOSトラ
ンジスタ20,30,40を構成する各P型MOSトラ
ンジスタ21,31,41のドレインと各N型MOSト
ランジスタ22,32,42のドレインは、各CMOS
トランジスタ20,30,40毎およびこれらのCMO
Sトランジスタ20,30,40相互に接続されてお
り、この出力回路の出力端子を形成している。また各イ
ンバータ51,52,53,54,55,56の入力端
は互いに接続され、この出力回路の入力端子を形成して
いる。
The sources of the P-type MOS transistors 21, 31, 41 of the three CMOS transistors 20, 30, 40 constituting the drive circuit are connected to the power source, and the N-type MOS transistors 22, 32, 42 are also connected. Source is connected to ground. Further, the drains of the P-type MOS transistors 21, 31, 41 and the drains of the N-type MOS transistors 22, 32, 42, which form the CMOS transistors 20, 30, 40, respectively, are CMOS.
Each transistor 20, 30, 40 and their CMO
The S transistors 20, 30, 40 are connected to each other and form the output terminal of this output circuit. The input terminals of the inverters 51, 52, 53, 54, 55 and 56 are connected to each other and form the input terminal of this output circuit.

【0015】図2は、図1に示す出力回路の入力信号波
形及び各インバータのしきい値を示した図である。各イ
ンバータ51,52,53,54,55,56の論理し
きい値Th51,Th52,Th53,Th54,Th
55,Th56は図示のように互いに異なっており、し
かも各CMOSトランジスタ20,30,40それぞれ
についてみると、例えばCMOSトランジスタ20を構
成するP型MOSトランジスタ21に接続されたインバ
ータ53の論理しきい値Th53の方が同一のCMOS
トランジスタを構成するN型MOSトランジスタ22に
接続されたインバータ54の論理しきい値Th54より
も高い。また入力信号Sはその立ち上がり、立ち下がり
がある程度緩やかであり、したがって各インバータ5
1,52,53,54,55,56の出力が反転する時
間は、図示のように互いに異なることとなる。したがっ
て、入力信号Sが変化する際に、各CMOSトランジス
タ20,30,40を構成するP型MOSトランジスタ
21,31,41とN型MOSトランジスタ22,3
2,42の双方がオフとなる瞬間を経由することになり
貫通電流の発生が防止される。また充放電電流の時間的
分散も実現される。これにより、ノイズの発生による誤
動作が防止され、信頼性の高い回路が実現する。
FIG. 2 is a diagram showing the input signal waveform of the output circuit shown in FIG. 1 and the threshold value of each inverter. Logic thresholds Th51, Th52, Th53, Th54, Th of the inverters 51, 52, 53, 54, 55, 56.
55 and Th56 are different from each other as shown in the figure. Moreover, regarding each of the CMOS transistors 20, 30, and 40, for example, the logical threshold value of the inverter 53 connected to the P-type MOS transistor 21 forming the CMOS transistor 20 is shown. Th53 has the same CMOS
It is higher than the logical threshold value Th54 of the inverter 54 connected to the N-type MOS transistor 22 that forms the transistor. Further, the rising and falling of the input signal S are gentle to some extent, and therefore each inverter 5
The times at which the outputs of 1, 52, 53, 54, 55 and 56 are inverted are different from each other as shown in the figure. Therefore, when the input signal S changes, the P-type MOS transistors 21, 31, 41 and the N-type MOS transistors 22, 3 which form the CMOS transistors 20, 30, 40, respectively.
The generation of the shoot-through current is prevented by passing through the moment when both of the Nos. 2 and 42 are turned off. Further, temporal distribution of charge / discharge current is also realized. As a result, malfunction due to noise is prevented, and a highly reliable circuit is realized.

【0016】なお、上記実施例では、各インバータ5
1,52,53,54,55,56はこの順にその論理
しきい値Th51,Th52,Th53,Th54,T
h55,Th56の高いものが用いられているが、この
順序に限るものではなく、前述した、 (1)各インバータ51,52,53,54,55,5
6の論理しきい値が互いに異なること (2)各CMOSトランジスタ20,30,40それぞ
れを構成するP型MOSトランジスタ21,31,41
に接続されたインバータ51,52,53,の方が、そ
れと同一の各CMOSトランジスタ20,30,40を
構成するN型MOSトランジスタ22,32,42に接
続されたインバータ54,55,56よりも論理しきい
値が高いこと の2つの要件を満足する範囲内でそれらの論理しきい値
の高低が入れ代わってもよい。
In the above embodiment, each inverter 5
1, 52, 53, 54, 55 and 56 are the logical threshold values Th51, Th52, Th53, Th54 and T in this order.
Higher h55 and Th56 are used, but the order is not limited to this order, and the above-mentioned (1) Each inverter 51, 52, 53, 54, 55, 5 is used.
The logic thresholds of 6 are different from each other (2) P-type MOS transistors 21, 31, 41 forming the respective CMOS transistors 20, 30, 40
The inverters 51, 52, 53 connected to the inverter are connected to the inverters 54, 55, 56 connected to the N-type MOS transistors 22, 32, 42 constituting the same CMOS transistors 20, 30, 40, respectively. High and low logic thresholds may be interchanged within a range that satisfies the two requirements of high logic thresholds.

【0017】また、上記実施例は、駆動回路に3つのC
MOSトランジスタ20,30,40を備えたものであ
るが、本発明の出力回路を構成する駆動回路は、3つの
CMOSトランジスタ20,30,40で構成するもの
に限られるものでないことはもちろんである。
In the above embodiment, the drive circuit is provided with three Cs.
Although the MOS transistors 20, 30, 40 are provided, it goes without saying that the drive circuit constituting the output circuit of the present invention is not limited to the one constituted by the three CMOS transistors 20, 30, 40. .

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の出力回路
は、CMOSトランジスタを構成するP型MOSトラン
ジスタのゲートに接続されたインバータの論理しきい値
の方がそのCMOSトランジスタを構成するN型MOS
トランジスタのゲートに接続されたインバータの論理し
きい値よりも高く、かつ、駆動タイミング制御回路を構
成する複数のインバータの論理しきい値が互いに異なる
ものであるため、貫通電流の発生の防止と充放電電流の
変化率の低減との双方が達成される。これによりノイズ
の発生が抑えられ、信頼性の高い半導体集積回路が実現
する。
As described above, in the output circuit of the present invention, the logical threshold value of the inverter connected to the gate of the P-type MOS transistor forming the CMOS transistor is the N-type forming the CMOS transistor. MOS
This is higher than the logic threshold of the inverter connected to the gate of the transistor, and the logic thresholds of the inverters that make up the drive timing control circuit are different from each other. Both reduction of the rate of change of the discharge current is achieved. As a result, generation of noise is suppressed, and a highly reliable semiconductor integrated circuit is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の出力回路の一実施例を示した図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of an output circuit of the present invention.

【図2】図1に示す出力回路の入力信号波形及び各イン
バータのしきい値を示した図である。
FIG. 2 is a diagram showing input signal waveforms of the output circuit shown in FIG. 1 and threshold values of respective inverters.

【図3】出力回路の最終段のCMOSトランジスタを示
した図である。
FIG. 3 is a diagram showing a final stage CMOS transistor of the output circuit.

【図4】貫通電流を防止する手法の1つを示したタイミ
ングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart showing one method of preventing a shoot-through current.

【図5】充放電電流の変化率を抑える従来の提案の1つ
を示した図である。
FIG. 5 is a diagram showing one of conventional proposals for suppressing the rate of change of charge / discharge current.

【図6】放電電流の変化率を抑える従来の他の提案を示
した図である。
FIG. 6 is a diagram showing another conventional proposal for suppressing the rate of change of discharge current.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

14 負荷容量 20,30,40 CMOSトランジスタ 21,31,41 P型MOSトランジスタ 22,32,42 N型MOSトランジスタ 51,52,53,54,55,56 インバータ 14 load capacitance 20, 30, 40 CMOS transistor 21, 31, 41 P-type MOS transistor 22, 32, 42 N-type MOS transistor 51, 52, 53, 54, 55, 56 Inverter

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−167220(JP,A) 特開 平2−122726(JP,A) 特開 昭62−48806(JP,A) 特開 平4−248713(JP,A) 特開 昭60−224328(JP,A) 特開 昭60−128715(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (56) References JP-A 61-167220 (JP, A) JP-A 2-122726 (JP, A) JP-A 62-48806 (JP, A) JP-A 4- 248713 (JP, A) JP 60-224328 (JP, A) JP 60-128715 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 P型MOSトランジスタとN型MOSト
ランジスタの各ソースがそれぞれ電源及びグラウンドに
接続されるとともに各ドレインが互いに接続され、この
接続点を出力とする、該出力同士が互いに接続された複
数の相補型MOSトランジスタからなる駆動回路と、入
力端子同士が互いに接続されると共に、出力端子が、そ
れぞれ、前記複数の相補型MOSトランジスタを構成す
る各P型MOSトランジスタ及び各N型MOSトランジ
スタの各ゲートに接続された複数のインバータからなる
駆動タイミング制御回路とを備え、 前記各相補型MOSトランジスタを構成するP型MOS
トランジスタのゲートに接続されたインバータの論理し
きい値の方が該各相補型MOSトランジスタを構成する
N型MOSトランジスタのゲートに接続されたインバー
タの論理しきい値よりも高く、かつ、前記駆動タイミン
グ制御回路を構成する複数のインバータの論理しきい値
が互いに異なるものであることを特徴とする出力回路。
1. A source of a P-type MOS transistor and a source of an N-type MOS transistor are connected to a power source and a ground, respectively, and respective drains are connected to each other, and the outputs are connected to each other with the connection point as an output. A drive circuit including a plurality of complementary MOS transistors and input terminals thereof are connected to each other, and an output terminal of each of the P-type MOS transistors and the N-type MOS transistors constituting the plurality of complementary MOS transistors, respectively. A drive timing control circuit including a plurality of inverters connected to respective gates, and a P-type MOS forming each of the complementary MOS transistors
The logic threshold value of the inverter connected to the gate of the transistor is higher than the logic threshold value of the inverter connected to the gate of the N-type MOS transistor forming each complementary MOS transistor, and the drive timing An output circuit characterized in that a plurality of inverters constituting a control circuit have different logic threshold values.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701090A (en) 1994-11-15 1997-12-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Data output circuit with reduced output noise
JP3335820B2 (en) * 1995-11-14 2002-10-21 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 DA converter
JP4660975B2 (en) * 2001-06-14 2011-03-30 富士電機システムズ株式会社 High voltage output circuit
JP4557996B2 (en) * 2007-03-08 2010-10-06 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor integrated circuit

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60128715A (en) * 1983-12-15 1985-07-09 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit
JPS6248806A (en) * 1985-08-28 1987-03-03 Nec Corp Output circuit

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JPH06164361A (en) 1994-06-10

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