JP2662870B2 - Printed wiring pattern and unsolder detection method - Google Patents

Printed wiring pattern and unsolder detection method

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JP2662870B2
JP2662870B2 JP63029722A JP2972288A JP2662870B2 JP 2662870 B2 JP2662870 B2 JP 2662870B2 JP 63029722 A JP63029722 A JP 63029722A JP 2972288 A JP2972288 A JP 2972288A JP 2662870 B2 JP2662870 B2 JP 2662870B2
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wiring pattern
solder
lead terminal
bottom piece
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健一 曽和
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    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はプリント配線パターン、特にプリント配線パ
ターン上に実装部品のリード端子をリフロー式でハンダ
付けしたときにハンダ付け不良個所を容易に発見するこ
とを可能にしたプリント配線パターン及び未ハンダ検知
方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention makes it easy to find defective soldering spots when soldering lead terminals of mounted components on a printed wiring pattern, especially on a printed wiring pattern by reflow soldering. The present invention relates to a printed wiring pattern and a non-solder detecting method which enable the above.

(従来の技術) 基板上のプリント配線パターンにフラットパッケージ
型IC等の部品を実装する場合、IC等の周縁部から導出さ
れた多数のリード端子と夫々対応するように予め位置決
めされた矩形のパターン部分を形成しておき、各リード
端子と各パターン部分とをハンダ付けする方法が行われ
ている。ハンダ付けの方法としては各パターン上に所定
量のハンダクリームを印刷形成しておいてからハンダク
リーム上にリード端子を載置しながら加熱溶融させ、そ
の後冷却固化させるリフロー方式が多用されている。
(Prior art) When mounting a component such as a flat package type IC on a printed wiring pattern on a substrate, a rectangular pattern pre-positioned to correspond to a large number of lead terminals derived from a peripheral portion of the IC or the like. A method of forming a portion and soldering each lead terminal and each pattern portion has been performed. As a soldering method, a reflow method is often used in which a predetermined amount of solder cream is printed and formed on each pattern, and then heated and melted while placing lead terminals on the solder cream, and then cooled and solidified.

しかしながら、リード端子の長さや下方への突出長の
バラツキ、溶着時におけるリード端子とパターン部分と
の密着不良等の種々の原因によってリード端子がパター
ン部分及びハンダから浮いた状態でハンダが固化するこ
とがある。
However, due to various causes such as variations in the length of the lead terminal and the protruding length downward, poor adhesion between the lead terminal and the pattern portion during welding, the solder solidifies in a state where the lead terminal floats from the pattern portion and the solder. There is.

即ち、第3図(a)及び(b)はハンダ付けが適正に
行われた場合と不良な場合とを対比させた説明図及び実
装状態を示す平面図であり、基板1上のパターン部分2
に対してIC3の各リード端子4をハンダ5によって実装
した際に、図面右側のリード端子4はパターン部分2上
に充分に密着した状態で溶着されているが、図面左側の
リード端子4はパターン部分2は勿論その上のハンダ5
からも完全に離間した状態にある。
That is, FIGS. 3A and 3B are an explanatory view comparing the case where soldering is properly performed and the case where soldering is defective, and a plan view showing a mounting state.
When each of the lead terminals 4 of the IC 3 is mounted with the solder 5, the lead terminal 4 on the right side of the drawing is welded to the pattern portion 2 in a state of being in close contact with the pattern portion 2, but the lead terminal 4 on the left side of the drawing is Part 2 as well as solder 5 on it
It is in a state completely separated from.

実際には、これらの中間形態としてハンダを介して僅
かに両者が接続された形態となる場合も存するが、この
ような接続状態は不十分であるためリード端子が離脱す
る原因となることが多い。
Actually, as an intermediate form of these, there may be a case where both are slightly connected via solder, but such a connection state is insufficient, which often causes detachment of the lead terminal. .

ところで、従来このような接続不良が発生した場合、
発見が極めて困難であった。即ち、従来は基板の側方か
ら目視によって未ハンダ部分をチェックし、未ハンダ部
分を発見できた場合にはハンダゴテ等によってハンダ付
けし直す工程を経て作業を完了していたが、リード端子
とパターン部分の離間状態、接続不良状態を目視による
観察だけで適確に発見することは極めて困難である。特
に、両者の離間距離が極めて僅かである場合や、接触し
てはいるが接合が皆無または不十分である場合には発見
は不可能であった。
By the way, conventionally, when such a connection failure occurs,
It was extremely difficult to find. That is, conventionally, the unsoldered portion was visually checked from the side of the board, and if the unsoldered portion was found, the work was completed through a step of re-soldering with a soldering iron or the like, but the work was completed. It is extremely difficult to accurately detect the separated state and poor connection state of the parts only by visual observation. In particular, it was impossible to find out when the distance between the two was extremely small, or when there was no or insufficient contact with, but in contact with.

接続不良部分が見落とされた場合、電子装置は正常に
作動することができないため、このチェック作業は重要
であり、完全を期することが望まれているが、上記理由
によって見落としは常に発生し、製品完成後に電子装置
の作動不良となって現われることが多い。
If the faulty connection is overlooked, the electronic device cannot operate normally, so this check is important and it is desirable to complete it. It often appears as a malfunction of the electronic device after the product is completed.

(発明の目的) 本発明は上記に鑑みてなされたものであり、プリント
パターンとICのリード端子との接続不良部分の発見を目
視或は自動検査方法によって容易に行うことを可能にし
たプリント配線パターンを提供することを目的としてい
る。
(Object of the Invention) The present invention has been made in view of the above, and has been made in consideration of the above circumstances, and has a printed wiring that enables a defective connection between a printed pattern and a lead terminal of an IC to be easily found by visual inspection or an automatic inspection method. It is intended to provide a pattern.

(発明の概要) 上記目的を達成する為、請求項1の発明は、実装部品
のリード端子の底片を載置した状態でハンダ接続するプ
リント配線パターンを備えたプリント配線基板におい
て、該プリント配線パターンは該リード端子の底片の先
端部よりも先端側に位置する部分を微細スリットによっ
て切離されることにより内側領域と外側領域とに分断さ
れ、該微細スリット内には基板表面が露出しており、上
記微細スリットの間隔は、プリント配線パターンの内側
領域上のハンダが外側領域上に展開してハンダブリッジ
を形成し得る程度の間隔であり、上記リード端子の底片
は、上記内側領域上にハンダ接続されることを特徴とす
る。
(Summary of the Invention) In order to achieve the above object, an invention according to claim 1 is a printed wiring board provided with a printed wiring pattern for performing solder connection with a bottom piece of a lead terminal of a mounted component mounted thereon. Is divided into an inner region and an outer region by separating a portion located on the tip side from the tip of the bottom piece of the lead terminal by a fine slit, and the substrate surface is exposed in the fine slit, The interval between the fine slits is such that the solder on the inner area of the printed wiring pattern can be spread on the outer area to form a solder bridge, and the bottom piece of the lead terminal is connected to the solder on the inner area. It is characterized by being performed.

請求項2の発明は、実装部品のリード端子の底片を載
置した状態でハンダ接続するプリント配線パターンを備
えたプリント配線基板におけるハンダ付け状態の良否の
判定方法であって、該プリント配線パターンは該リード
端子の底片の先端部よりも先端側に位置する部分を微細
スリットによって切離することにより内側領域と外側領
域とに分断され、該微細スリット内には基板表面が露出
しており、上記微細スリットの間隔は、プリント配線パ
ターンの内側領域上のハンダが外側領域上に展開してハ
ンダブリッジを形成し得る程度の間隔であり、リフロー
方式によって該リード端子の底片を上記プリント配線パ
ターンの内側領域上にハンダ接続した後、前記プリント
配線パターンの前記微細スリット部分にハンダブリッジ
が形成されたか否かによって、当該プリント配線パター
ンと実装部品のリード端子とのハンダ付け状態の良否を
判定することを特徴とする。
The invention according to claim 2 is a method for judging the quality of a soldering state in a printed wiring board provided with a printed wiring pattern to be soldered in a state where a bottom piece of a lead terminal of a mounted component is placed, wherein the printed wiring pattern is The portion located on the tip side from the tip of the bottom piece of the lead terminal is separated by a fine slit into an inner region and an outer region, and the substrate surface is exposed in the fine slit, The interval between the fine slits is such that the solder on the inner area of the printed wiring pattern can be spread on the outer area to form a solder bridge, and the bottom piece of the lead terminal is placed inside the printed wiring pattern by a reflow method. After soldering on the area, whether or not a solder bridge was formed in the fine slit portion of the printed wiring pattern Therefore, and judging the quality of the soldering state between the printed circuit pattern and the mounting component of the lead terminal.

請求項3記載の発明は、前記微細スリットによって分
断されたプリント配線パターンの各領域間の電気的導通
の有無をチェックすることによって該パターンと実装部
品のリード端子とのハンダ付け状態の良否を判定するこ
とを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, the quality of a soldering state between the pattern and a lead terminal of a mounted component is determined by checking whether there is electrical continuity between the regions of the printed wiring pattern divided by the fine slit. It is characterized by doing.

(実施例) 以下、本発明のプリント配線パターンを添付図面を参
照して詳細に説明する。
Hereinafter, a printed wiring pattern according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明の1実施例であり、第3図(a)
(b)と同一の部分は同一の符号で表し重複した説明は
省略する。
FIG. 1 shows one embodiment of the present invention, and FIG.
Parts that are the same as those in (b) are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

本発明のパターン部分2においては、リード端子4
(脚部4Aと、底片4Bとから成る)の底片4Bの先端部から
所定距離lだけ先端方向へ寄った位置に、細幅の微細ス
リット(識別手段)10がパターン部分2の幅方向へ向け
て貫通形成されている点が特徴的な構成である。この結
果、微細スリット10を境として領域2aと2bが画成された
構成となっている。つまり、領域2aはスリット10を境と
した内側の領域であり、領域2bはスリット10を境とした
外側の領域である。
In the pattern portion 2 of the present invention, the lead terminals 4
A fine slit (identifying means) 10 having a narrow width is directed in the width direction of the pattern portion 2 at a position closer to the front end by a predetermined distance 1 from the front end of the bottom piece 4B (comprising the leg 4A and the bottom piece 4B). This is a characteristic configuration in that it is penetratingly formed. As a result, regions 2a and 2b are defined with the fine slit 10 as a boundary. That is, the region 2a is an inner region with the slit 10 as a boundary, and the region 2b is an outer region with the slit 10 as a boundary.

上記実施例において微細スリット10は、直線状であ
り、パターン部分2の幅方向と平行に形成したものを示
したが、これは例示に過ぎない。従って、微細スリット
は曲線、湾曲線、不規則形状の線等々であっても良く、
またパターン部分の幅方向と並行でなく所定の角度をも
って形成された線であってもよい。
In the above embodiment, the fine slits 10 are linear and formed in parallel with the width direction of the pattern portion 2, but this is only an example. Thus, the fine slit may be a curve, a curved line, an irregularly shaped line, etc.
Also, the line may be formed at a predetermined angle without being parallel to the width direction of the pattern portion.

また、微細スリット10はパターン部分2に形成され、
その一部を切欠いたものであるから、微細スリット10か
らは基板1(プリント配線基板)の上面が露出する。露
出した基板表面はパターン部分2と異なった色、模様等
々(識別可能な差異)を有し、目視その他の検出手段に
よって両者の識別が容易であることが必要である。
Also, the fine slit 10 is formed in the pattern portion 2,
Since a part thereof is notched, the upper surface of the substrate 1 (printed wiring board) is exposed from the fine slit 10. The exposed substrate surface has a different color, pattern, etc. (identifiable difference) from the pattern portion 2, and it is necessary that the two can be easily distinguished visually or by other detecting means.

但し、目視によって後述する識別検査を行う場合、微
細スリット10の幅は後述する理由から、露出した基板1
表面を目視で識別するのに充分な広さであり、且つ溶融
ハンダがスリット10を乗り越えて反対側へ流動しブリッ
ジを形成することが可能な程度に微細であることが必要
である。このような条件に適合する適切な幅としては、
例えば0.2mm程度が好ましい。これよりも狭い幅であっ
ても差し支えないが現在の微細加工技術ではこの程度が
限度である。
However, when an identification test described later is visually performed, the width of the fine slit 10 is set to be smaller than the width of the exposed substrate 1 for the reason described later.
It must be large enough to visually identify the surface and fine enough to allow the molten solder to flow over slit 10 to the opposite side and form a bridge. An appropriate width to meet these conditions is
For example, about 0.2 mm is preferable. The width may be narrower than this, but this is the limit with the current fine processing technology.

なお、後述する目視によらない自動導通検査方法にお
いては、レーザ光線を利用したエッチング等によってさ
らに狭くしても差し支えないばかりか、未ハンダ時にス
リット10が埋まり易くなるのでむしろ好ましい。
In the automatic continuity inspection method that is not performed visually as described later, it is preferable because the slit 10 can be further narrowed by etching using a laser beam or the like, and the slit 10 can be easily filled when soldering is not performed.

上記各実施例において、微細スリット10の形成する位
置として例示した位置(リード端子4の底片4Bの先端部
から距離lの位置)としては、パターン部分2とリード
端子4とが接続不良である場合にパターン部分2上面に
流動展開する溶融ハンダが到達可能な範囲内に属してい
れば何れであってもよい。勿論これらのスリット等は、
後述するように目視による確認作業を行う場合にはリー
ド端子4やIC本体3等の障害物(検査障害物)を回避し
た位置であることが必要である。
In each of the above embodiments, the position illustrated as the position where the fine slit 10 is formed (the position at a distance 1 from the tip of the bottom piece 4B of the lead terminal 4) is a connection failure between the pattern portion 2 and the lead terminal 4. Any shape can be used as long as the molten solder flowing and developing on the upper surface of the pattern portion 2 belongs to the reachable range. Of course, these slits
As will be described later, when performing a visual check operation, it is necessary to be at a position avoiding obstacles (inspection obstacles) such as the lead terminals 4 and the IC body 3.

以上のような構成を有した本発明のパターン配線は、
次のような現象の発見に基いて創出されたものである。
The pattern wiring of the present invention having the above configuration is
It was created based on the discovery of the following phenomena.

即ち、第2図(a)はパターン部分2とリード端子と
の接続が良好である場合のハンダの集中状態を示す説明
図であり、第2図(a)に示すように基板1上のプリン
ト部分2上においてリード端子4の底片4Bがハンダ5に
よって適正に溶着された場合には、溶融ハンダ5はリー
ド端子4の底片4Bとパターン部2との接触部に集中して
付着した状態で冷却固化するため、接触部周縁外側には
僅かの量のハンダ5aがはみ出す程度である。このはみ出
したハンダ5aのうちリード端子先端側のものは所定距離
lだけ離れた位置にある微細スリット10には到達しな
い。ハンダ5とパターン部分2の色は通常略同色か、或
は識別困難な色調であるため、ハンダ5が微細スリット
10を越えて展開しない限り、微細スリット10から露出し
た基板表面を識別視認することができる。従って、IC3
の実装後の検査において微細スリット10の存在が確認で
きる場合には、パターン部分2とリード端子4との接続
が良好に行われていることが確認に確認できる。周知の
ようにハンダはパターン部分を構成する金属の範囲を越
えて基板上に展開することはできないから、パターン部
分2の内側方向への突出量l1を必要最低限に設定するこ
とによって溶融したハンダをパターン部分2の先端側へ
流動させることができる。
That is, FIG. 2 (a) is an explanatory view showing the concentration state of the solder when the connection between the pattern portion 2 and the lead terminal is good, and the printing on the substrate 1 as shown in FIG. When the bottom piece 4B of the lead terminal 4 is properly welded by the solder 5 on the portion 2, the molten solder 5 is cooled while being concentrated on the contact portion between the bottom piece 4B of the lead terminal 4 and the pattern portion 2. Due to solidification, a small amount of solder 5a protrudes outside the peripheral edge of the contact portion. Of the protruded solder 5a, the one on the lead terminal tip side does not reach the fine slit 10 located at a position separated by a predetermined distance l. Since the color of the solder 5 and the pattern portion 2 is usually substantially the same or a color tone that is difficult to distinguish, the solder 5
As long as the substrate surface does not extend beyond 10, the substrate surface exposed from the fine slit 10 can be identified and visually recognized. Therefore, IC3
If the presence of the fine slits 10 can be confirmed in the inspection after mounting, it can be confirmed that the connection between the pattern portion 2 and the lead terminal 4 is well performed. Since solder as known can not be developed on the substrate beyond the range of the metal constituting the pattern portion was melted by setting the minimum projection amount l 1 of the inner direction of the pattern portion 2 The solder can be caused to flow to the tip side of the pattern portion 2.

第2図(b)はパターン部分2とリード端子4との接
続が不良である場合の溶融ハンダの展開状態を示す説明
図であり、この場合溶融ハンダ5はパターン部分上を流
動展開して行くが、主として先端方向へも流動展開す
る。微細スリット10の幅は、前述のように溶融ハンダ5
がこれを乗り越えることが可能な程度に狭く設定されて
いるため、ハンダ5はスリットの一部または全部を覆
い、基板1の色を覆い隠す(第1図の点線部分参照)。
このため検査者は、パターン部分2とリード端子との間
の接続が不良であることを適確に知ることができる。
FIG. 2 (b) is an explanatory view showing the state of development of the molten solder when the connection between the pattern portion 2 and the lead terminal 4 is defective. In this case, the molten solder 5 flows and develops on the pattern portion. However, it also flows and deploys mainly in the tip direction. As described above, the width of the fine slit 10 is
The solder 5 covers a part or all of the slit, and covers the color of the substrate 1 (see the dotted line in FIG. 1).
Therefore, the inspector can properly know that the connection between the pattern portion 2 and the lead terminal is defective.

検査方法としては目視のほかにスリットによって分離
された領域2a,2b間の導通検査を検査装置を使用して行
うことによってその能率化を図ることができる。この場
合、微細スリット10の幅はいかに狭くても差し支えない
ばかりか、狭ければ狭い程スリットを越えてブリッジが
形成され易くなる利点を考慮すれば、検出精度を目視の
場合よりも高くすることができる。
As an inspection method, the efficiency can be improved by performing a continuity inspection between the regions 2a and 2b separated by the slit using an inspection device in addition to the visual inspection. In this case, not only the width of the fine slit 10 can be reduced, but considering the advantage that the narrower the narrower, the easier the bridge is formed beyond the slit, the higher the detection accuracy is than in the case of visual observation. Can be.

また、ハンダ付け状態の良不良を判定する手段として
は、微細スリットの光を照射し、その反射光量或は位相
等の特性を監視することによりスリット部分の存在を検
出すれば、配線パターンの検査時間を短縮することがで
きる。更に、ハンダ付け状態の不良を検出した場合、そ
の個所を再びハンダ付けするよう構成すれば、未ハンダ
部分の修正作業を自動化する上で都合が良い。
As means for judging the quality of the soldering state, if the presence of the slit portion is detected by irradiating the light of the fine slit and monitoring the characteristics such as the amount of reflected light or the phase thereof, the inspection of the wiring pattern can be performed. Time can be reduced. Further, when a defect in the soldering state is detected, the portion is re-soldered, which is convenient in automating the work of correcting the unsoldered portion.

上記実施例においては、パターン部分に形成する識別
手段はプリント配線時に形成されるが、識別手段たる微
細スリット10だけを後段のレーザビーム加工によって形
成するようにしてもよい。
In the above embodiment, the identification means formed in the pattern portion is formed at the time of printed wiring. However, only the fine slit 10 serving as the identification means may be formed by laser beam processing in the subsequent stage.

なお、実開昭62−47171号公報には、プリント基板上
の配線パターンのパッド部分を2つに分割し、この2つ
のパッド部分にまたがって集積回路(実装部品)のリー
ド端子の底片を載置した状態でハンダ接続する技術が開
示されていおり、この従来例には確かに2つのパッド部
分の間に基板表面を露出させた構成が開示されている
が、この従来例の目的はオームメータの検出端子をリー
ド端子に接触させることなく、2つのパッド部分だけに
接触させることによって、リート端子底片とパッドとの
電気的接続状態を確認することにある。従って、2つの
パッド部分の間に位置するスリット状の間隙は、本発明
のように2つのパッド間のハンダブリッジの発生を確認
するためのものではない。このスリットをハンダブリッ
ジ確認用として用いることは、この公報記載の技術の目
的と大きく矛盾する結果を招く。すなわち、2つのパッ
ド間にハンダブリッジが発生すると、パッドをわざわざ
2つに分断した上で、各パッド部分上におけるリード端
子底片の接続状態を確認する意味がなくなる。つまり、
この従来例では、2つのパッド間にハンダブリッジが発
生することは絶対に避ける必要があり、そのためこのス
リットの間隔はハンダブリッジが絶対に発生しない程度
に広く設定される必要がある。また、本発明のスリット
を、この従来例のようにリード端子の底片の下側に位置
させることは、リード端子やIC本体等の障害物(検査障
害物)により目視確認が妨げられる結果となり、本発明
の意味が全くなくなる。
Japanese Utility Model Application Laid-Open No. Sho 62-47171 discloses that a pad portion of a wiring pattern on a printed circuit board is divided into two portions, and a bottom piece of a lead terminal of an integrated circuit (mounting component) is mounted over the two pad portions. A technique for solder connection in a state of being placed is disclosed. In this conventional example, a configuration in which the substrate surface is exposed between two pad portions is disclosed, but the purpose of this conventional example is to use an ohmmeter. By contacting only the two pad portions without bringing the detection terminal into contact with the lead terminal, the electrical connection state between the bottom piece of the REIT terminal and the pad is checked. Therefore, the slit-shaped gap located between the two pad portions is not for confirming the occurrence of a solder bridge between the two pads as in the present invention. The use of this slit for checking the solder bridge results in a result that largely contradicts the purpose of the technique described in this publication. That is, when a solder bridge occurs between the two pads, it becomes meaningless to check the connection state of the lead terminal bottom pieces on each pad portion after dividing the pad into two. That is,
In this conventional example, it is absolutely necessary to avoid the occurrence of a solder bridge between the two pads. Therefore, the interval between the slits needs to be set wide enough to prevent the occurrence of the solder bridge. Further, positioning the slit of the present invention below the bottom piece of the lead terminal as in this conventional example results in obstruction (inspection obstacle) such as the lead terminal and the IC body obstructing visual confirmation, The meaning of the present invention is completely lost.

つまり、この公報記載のパッドの分割構造は、本発明
の配線パターンの分割構造と一見似てはいるが、その使
用目的が全く異なっているため構成も実質的には大きく
異なっており、公報記載のパッドの構造を用いて目視に
よる接続良否のチェックを行ったり、両パッド部分間の
電気的導通の有無をチェックすることによってリード端
子の接続の良否を確認することはできない。電気的導通
の有無のチェックという点については、公報記載の技術
においては、両パッド部分間の電気的導通は常に無いは
ずであり、従って両パッド部分間の電気的導通をチェッ
クする本発明とは異なる技術である。
In other words, although the divisional structure of the pad described in this publication is similar to the divisional structure of the wiring pattern of the present invention at first glance, the purpose of use thereof is completely different, so that the configuration is substantially greatly different. The quality of the connection of the lead terminals cannot be confirmed by visually checking the connection quality using the pad structure described above or by checking the presence or absence of electrical conduction between both pad portions. Regarding the check of the presence or absence of electrical continuity, in the technology described in the publication, there should always be no electrical continuity between both pad portions, and therefore, the present invention that checks electrical continuity between both pad portions is Different technologies.

(発明の効果) 以上のように本発明のプリント配線パターンにおいて
は、プリントパターンとICのリード端子との接続不良部
分の発見を目視或は自動検査方法によって容易に行うこ
とができる。
(Effect of the Invention) As described above, in the printed wiring pattern of the present invention, a defective connection between the printed pattern and the lead terminal of the IC can be easily found by visual inspection or an automatic inspection method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の第1の実施例の構成説明図、第2図
(a)(b)は本発明による接続良不良のチェック方法
を示す説明図、第3図(a)及び(b)はハンダ付けが
適正に行われた場合と不良な場合とを対比させた説明図
及び実装状態を示す平面図である。 1……プリント基板、2……パターン部分、3……IC、
4……リード端子、10……微細スリット(識別手段)
FIG. 1 is an explanatory view of a configuration of a first embodiment of the present invention, FIGS. 2 (a) and 2 (b) are explanatory views showing a method of checking good or bad connection according to the present invention, and FIGS. 3 (a) and 3 (b). 4A and 4B are an explanatory diagram and a plan view showing a mounting state in which a case where soldering is properly performed and a case where soldering is defective are compared. 1 ... printed circuit board, 2 ... pattern part, 3 ... IC,
4 ... lead terminal, 10 ... fine slit (identification means)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 澤田 知之 神奈川県高座郡寒川町小谷2丁目1番1 号 東洋通信機株式会社内 (56)参考文献 実開 昭62−47171(JP,U) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (72) Inventor Tomoyuki Sawada 2-1-1 Kotani, Samukawa-cho, Koza-gun, Kanagawa Prefecture Toyo Tsushinki Co., Ltd.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】実装部品のリード端子の底片を載置した状
態でハンダ接続するプリント配線パターンを備えたプリ
ント配線基板において、該プリント配線パターンは該リ
ード端子の底片の先端部よりも先端側に位置する部分を
微細スリットによって切離されることにより内側領域と
外側領域とに分断され、該微細スリット内には基板表面
が露出しており、 上記微細スリットの間隔は、プリント配線パターンの内
側領域上のハンダが外側領域上に展開してハンダブリッ
ジを形成し得る程度の間隔であり、 上記リード端子の底片は、上記内側領域上にハンダ接続
されることを特徴とするプリント配線パターン。
In a printed wiring board provided with a printed wiring pattern for soldering with a bottom piece of a lead terminal of a mounted component mounted thereon, the printed wiring pattern is located closer to the tip than the tip of the bottom piece of the lead terminal. The portion located is cut off by the fine slit to be divided into an inner region and an outer region, and the substrate surface is exposed in the fine slit. The interval between the fine slits is on the inner region of the printed wiring pattern. The printed wiring pattern has such an interval that the solder can be spread on the outer region to form a solder bridge, and the bottom piece of the lead terminal is soldered on the inner region.
【請求項2】実装部品のリード端子の底片を載置した状
態でハンダ接続するプリント配線パターンを備えたプリ
ント配線基板におけるハンダ付け状態の良否の判定方法
であって、 該プリント配線パターンは該リード端子の底片の先端部
よりも先端側に位置する部分を微細スリットによって切
離することにより内側領域と外側領域とに分断され、該
微細スリット内には基板表面が露出しており、 上記微細スリットの間隔は、プリント配線パターンの内
側領域上のハンダが外側領域上に展開してハンダブリッ
ジを形成し得る程度の間隔であり、 リフロー方式によって該リード端子の底片を上記プリン
ト配線パターンの内側領域上にハンダ接続した後、前記
プリント配線パターンの前記微細スリット部分にハンダ
ブリッジが形成されたか否かによって、当該プリント配
線パターンと実装部品のリード端子とのハンダ付け状態
の良否を判定することを特徴とする未ハンダ検知方法。
2. A method for judging whether a soldering state is good or not in a printed wiring board provided with a printed wiring pattern to be soldered in a state where a bottom piece of a lead terminal of a mounted component is mounted, wherein the printed wiring pattern comprises The portion located closer to the tip side than the tip of the bottom piece of the terminal is separated by a fine slit into an inner region and an outer region, and the substrate surface is exposed in the fine slit. Is an interval at which the solder on the inner area of the printed wiring pattern can be spread on the outer area to form a solder bridge, and the bottom piece of the lead terminal is placed on the inner area of the printed wiring pattern by a reflow method. After the solder connection, whether or not a solder bridge is formed in the fine slit portion of the printed wiring pattern is determined. Te, non solder detection method characterized by determining the quality of the soldering state between the printed circuit pattern and the mounting component of the lead terminal.
【請求項3】前記微細スリットによって分断されたプリ
ント配線パターンの各領域間の電気的導通の有無をチェ
ックすることによって該パターンと実装部品のリード端
子とのハンダ付け状態の良否を判定することを特徴とす
る請求項第2項記載の未ハンダ検知方法。
3. The method according to claim 1, further comprising the step of checking whether or not there is electrical continuity between the respective regions of the printed wiring pattern divided by the fine slit to determine whether or not the soldering state between the pattern and the lead terminals of the mounted component is good. 3. The method for detecting unsolder according to claim 2, wherein:
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