JP2659864B2 - 放射能測定プロセスにおける散発的に作用する外部放射線の影響を抑圧するための方法 - Google Patents
放射能測定プロセスにおける散発的に作用する外部放射線の影響を抑圧するための方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、測定用放射線源から発生される放射線に基
づいて連続的に送出される形式の放射能測定プロセスに
おいて散発的に作用する外部放射線の影響を抑圧するた
めの方法に関する。
づいて連続的に送出される形式の放射能測定プロセスに
おいて散発的に作用する外部放射線の影響を抑圧するた
めの方法に関する。
例えば密度、充填状態または流量の測定のためまたは
限界状態の監視のためにも使用される、Ｘ線またはγ線
を用いた放射能測定プロセスでは、外部放射線の影響が
誤った測定結果を来す。この場合外部放射線とは、宇宙
または地球放射線の形の背景放射線ではなくて、例えば
非破壊材料検査（γ線透過試験、後方散乱検査）並びに
Ｘ線診断等において使用されるような散発的に作用する
放射線源の影響を扱う。この種の外部放射線の発生は、
測定用放射線にはさらされていない付加的な放射線検出
器によって、または外部放射線が原因で生じる、測定結
果の変化によっても検出することができる。測定方法の
使用者に、測定結果は外部放射線によって歪みを受ける
ことを知らせるように、外部放射線の始めおよび終わり
を検出しかつ指示することが公知である。しかし外部放
射線の持続期間には、放射能測定の有効な測定結果を得
ることができない。
限界状態の監視のためにも使用される、Ｘ線またはγ線
を用いた放射能測定プロセスでは、外部放射線の影響が
誤った測定結果を来す。この場合外部放射線とは、宇宙
または地球放射線の形の背景放射線ではなくて、例えば
非破壊材料検査（γ線透過試験、後方散乱検査）並びに
Ｘ線診断等において使用されるような散発的に作用する
放射線源の影響を扱う。この種の外部放射線の発生は、
測定用放射線にはさらされていない付加的な放射線検出
器によって、または外部放射線が原因で生じる、測定結
果の変化によっても検出することができる。測定方法の
使用者に、測定結果は外部放射線によって歪みを受ける
ことを知らせるように、外部放射線の始めおよび終わり
を検出しかつ指示することが公知である。しかし外部放
射線の持続期間には、放射能測定の有効な測定結果を得
ることができない。
本発明の課題は、外部放射線の存在期間も測定を有効
な測定結果をもって続行することができるように、放射
能測定プロセスにおける散発的に作用する外部放射線の
影響を抑圧することができるようにする方法を提供する
ことである。
な測定結果をもって続行することができるように、放射
能測定プロセスにおける散発的に作用する外部放射線の
影響を抑圧することができるようにする方法を提供する
ことである。
この課題は本発明によれば、外部放射線の始めの前の
測定結果と、検査によって検出される、外部放射線の安
定した状態に達した後の測定結果との間の差を求めかつ
外部放射線の存在期間には測定結果を求められた差の分
だけ低減することによって解決される。
測定結果と、検査によって検出される、外部放射線の安
定した状態に達した後の測定結果との間の差を求めかつ
外部放射線の存在期間には測定結果を求められた差の分
だけ低減することによって解決される。
本発明の方法では、外部放射線の存在期間には、結果
的に、安定した状態に達した語に求められた、外部放射
線の影響が取り除かれている合成測定結果が得られる。
外部放射線の影響は安定状態に達した後にはもはや変化
しないので、合成（生成）測定結果は、測定用放射線に
起因する成分のみに相応する。それ故に合成（生成）測
定結果は、外部放射線は存在しないとしたときに得られ
るはずの測定結果に等しい。
的に、安定した状態に達した語に求められた、外部放射
線の影響が取り除かれている合成測定結果が得られる。
外部放射線の影響は安定状態に達した後にはもはや変化
しないので、合成（生成）測定結果は、測定用放射線に
起因する成分のみに相応する。それ故に合成（生成）測
定結果は、外部放射線は存在しないとしたときに得られ
るはずの測定結果に等しい。
外部放射線源の所定の適用では、安定状態が外部放射
線の開始（初期フェーズ）後ただちに実現されないこと
が起こり得る。このことは例えば、放射線源を放射線保
護容器からコリメータ内に移す期間に局所線量率の高い
ピークが発生しかつ放射線源がコリメータ内に収容され
るときようやく安定状態が実現されるγ線透過試験の場
合に生じる。このような過渡状態の期間においても放射
能測定を続行することができるようにするために、本発
明の改良例によれば、外部放射線の始めと安定状態に達
する時点との間で、理論測定値を計算するようにしてい
る。
線の開始（初期フェーズ）後ただちに実現されないこと
が起こり得る。このことは例えば、放射線源を放射線保
護容器からコリメータ内に移す期間に局所線量率の高い
ピークが発生しかつ放射線源がコリメータ内に収容され
るときようやく安定状態が実現されるγ線透過試験の場
合に生じる。このような過渡状態の期間においても放射
能測定を続行することができるようにするために、本発
明の改良例によれば、外部放射線の始めと安定状態に達
する時点との間で、理論測定値を計算するようにしてい
る。
本発明の別の有利な構成および改良例はその他の請求
項に記載されている。
項に記載されている。
本発明のその他の特徴および利点は、図面に基づいて
実施例の以下の説明から明らかである。図面中、第１図
は、容器における充填状態の放射能測定装置を示す概略
図、 第２図は、外部放射線の影響を抑圧するための、第１
図に含まれている装置のブロック回路図である。
実施例の以下の説明から明らかである。図面中、第１図
は、容器における充填状態の放射能測定装置を示す概略
図、 第２図は、外部放射線の影響を抑圧するための、第１
図に含まれている装置のブロック回路図である。
第１図には、本発明の方法の用途として、容器10にお
ける充填状態の測定が示されている。容器10の一方の側
に、検出すべき充填状態の高さ全体にわたって延在して
いるプラスチックシンチレータ12が配置されている。容
器10の反対の側には、γ線源14が取り付けられている。
γ線源からのγ線は、容器10およびその中に存在する充
填物を通ってプラスチックシンチレータ12に配向されて
いる。γ線は、充填物16によって、充填物の上方に存在
する空気によるよりも強く吸収されるので、プラスチッ
クシンチレータ12に到達するγ線の強度は、容器内の充
填レベルに依存している。したがって、プラスチックシ
ンチレータ12においてγ線によって発生される閃光の数
および強度も容器10内の充填状態に依存している。
ける充填状態の測定が示されている。容器10の一方の側
に、検出すべき充填状態の高さ全体にわたって延在して
いるプラスチックシンチレータ12が配置されている。容
器10の反対の側には、γ線源14が取り付けられている。
γ線源からのγ線は、容器10およびその中に存在する充
填物を通ってプラスチックシンチレータ12に配向されて
いる。γ線は、充填物16によって、充填物の上方に存在
する空気によるよりも強く吸収されるので、プラスチッ
クシンチレータ12に到達するγ線の強度は、容器内の充
填レベルに依存している。したがって、プラスチックシ
ンチレータ12においてγ線によって発生される閃光の数
および強度も容器10内の充填状態に依存している。
プラスチックシンチレータ12において発生される閃光
を検出しかつ評価するために、プラスチックシンチレー
タの一端に、光電変換器18、通例は光電子増倍器が取り
付けられている。この光電子増倍器は到来する閃光をそ
れぞれ電気パルスに変換する。光電子増倍器18の出力側
は電子的な評価回路20に接続されている。電子的な評価
回路においてその都度前以て決められた時間間隔におい
て、振幅が前以て決められた弁別閾値を上回る電気パル
スが計数される。評価回路20は、出力側に、それぞれの
時間間隔において計数されたパルス数Naを送出し、それ
は、直接、容器10における充填状態に対する尺度であり
かつ例えば測定値指示部22において指示することができ
る。
を検出しかつ評価するために、プラスチックシンチレー
タの一端に、光電変換器18、通例は光電子増倍器が取り
付けられている。この光電子増倍器は到来する閃光をそ
れぞれ電気パルスに変換する。光電子増倍器18の出力側
は電子的な評価回路20に接続されている。電子的な評価
回路においてその都度前以て決められた時間間隔におい
て、振幅が前以て決められた弁別閾値を上回る電気パル
スが計数される。評価回路20は、出力側に、それぞれの
時間間隔において計数されたパルス数Naを送出し、それ
は、直接、容器10における充填状態に対する尺度であり
かつ例えば測定値指示部22において指示することができ
る。
第１図において、評価回路20の出力側と測定値指示部
22との間に、外部放射線の影響を抑圧するための装置24
が挿入されている。外部放射線とは、宇宙および地球放
射線の形の背景放射線の謂ではない。背景放射線は、実
質的に一定でありかつ測定結果の指示の際に考慮するこ
とができる。装置24はむしろ、例えば非破壊材料検査
（γ線透過試験、後方散乱検査等）並びにＸ線診断等に
おいて使用されるような、散発的に作用する放射線源の
影響を抑圧するために用いられる。高エネルギーの分子
放射線の使用も、外部放射線として検出される。この種
の外部放射線がプラスチックシンチレータ12に入射する
とき、それは付加的な閃光を惹き起こし、これらは評価
回路20において一緒に計数されるので、充填状態は同じ
にとどまっているにも拘わらず、パルス数Naは変化す
る。この変化したパルス数の指示によって、測定結果は
歪みを受ける。装置24によって、外部放射線が存在する
にも拘わらず、引き続き正しい充填状態を指示すること
が可能になる。
22との間に、外部放射線の影響を抑圧するための装置24
が挿入されている。外部放射線とは、宇宙および地球放
射線の形の背景放射線の謂ではない。背景放射線は、実
質的に一定でありかつ測定結果の指示の際に考慮するこ
とができる。装置24はむしろ、例えば非破壊材料検査
（γ線透過試験、後方散乱検査等）並びにＸ線診断等に
おいて使用されるような、散発的に作用する放射線源の
影響を抑圧するために用いられる。高エネルギーの分子
放射線の使用も、外部放射線として検出される。この種
の外部放射線がプラスチックシンチレータ12に入射する
とき、それは付加的な閃光を惹き起こし、これらは評価
回路20において一緒に計数されるので、充填状態は同じ
にとどまっているにも拘わらず、パルス数Naは変化す
る。この変化したパルス数の指示によって、測定結果は
歪みを受ける。装置24によって、外部放射線が存在する
にも拘わらず、引き続き正しい充填状態を指示すること
が可能になる。
装置24の機能を、第２図のブロック回路図に基づいて
説明する。第２図において、評価回路20の出力側からそ
の都度そのときのパルス数Naが供給される、装置24の入
力側24aと、測定値指示部22に接続されているこの装置2
4の出力側24bとが示されている。入力側24aと出力側24b
との間に、切換スイッチ26が挿入されている。この切換
スイッチは第２図に図示の位置において入力側24aを出
力側24bに直接接続する。すなわち切換スイッチ26のこ
の位置において、そのときのパルス数Naは変化されずに
測定値指示部22に伝送される。このことは、外部放射線
が存在していない場合の装置の作動に相応する。
説明する。第２図において、評価回路20の出力側からそ
の都度そのときのパルス数Naが供給される、装置24の入
力側24aと、測定値指示部22に接続されているこの装置2
4の出力側24bとが示されている。入力側24aと出力側24b
との間に、切換スイッチ26が挿入されている。この切換
スイッチは第２図に図示の位置において入力側24aを出
力側24bに直接接続する。すなわち切換スイッチ26のこ
の位置において、そのときのパルス数Naは変化されずに
測定値指示部22に伝送される。このことは、外部放射線
が存在していない場合の装置の作動に相応する。
外部放射線の影響を抑圧するために、外部放射線の始
めおよび終わりを検出することが必要である。それ故に
装置24は、外部放射線の始めを検出するための機能ブロ
ック30と、外部放射線の終わりを検出するための機能ブ
ロック32とを含んでいる。これらの機能ブロックの出力
側は、制御回路34に接続されている。この制御回路は、
外部放射線の存在が検出されたとき、装置24のすべての
機能を制御する。
めおよび終わりを検出することが必要である。それ故に
装置24は、外部放射線の始めを検出するための機能ブロ
ック30と、外部放射線の終わりを検出するための機能ブ
ロック32とを含んでいる。これらの機能ブロックの出力
側は、制御回路34に接続されている。この制御回路は、
外部放射線の存在が検出されたとき、装置24のすべての
機能を制御する。
第２図において、機能ブロック30および32にはそのと
きのパルス数Naが入力側24aから供給される。これらブ
ロックは、パルス数Naの変化から外部放射線の始めない
し終わりを検出するように構成されている。外部放射線
の検出のために、外部放射線源の使用の際に発生する所
定の現象を利用することができる。γ線透過試験による
非破壊材料検査では、例えば、放射線源を放射線保護容
器からコリメータに移す際にも放射線源をコリメータか
ら放射線保護容器に移す際にもその都度、非常に高い局
所線量率の短いピークが生じ、一方これらの２つの過程
の間では、局所線量率は確かにこのピーク値より低い
が、測定用放射線源14のみから到来する局所線量率より
は高い。
きのパルス数Naが入力側24aから供給される。これらブ
ロックは、パルス数Naの変化から外部放射線の始めない
し終わりを検出するように構成されている。外部放射線
の検出のために、外部放射線源の使用の際に発生する所
定の現象を利用することができる。γ線透過試験による
非破壊材料検査では、例えば、放射線源を放射線保護容
器からコリメータに移す際にも放射線源をコリメータか
ら放射線保護容器に移す際にもその都度、非常に高い局
所線量率の短いピークが生じ、一方これらの２つの過程
の間では、局所線量率は確かにこのピーク値より低い
が、測定用放射線源14のみから到来する局所線量率より
は高い。
それ故に外部放射線の始め（始点）および終わり（終
点）は、機能ブロック30および32において例えば、次の
判断基準の１つからそのときのパルス数Naから検出する
ことができる。
点）は、機能ブロック30および32において例えば、次の
判断基準の１つからそのときのパルス数Naから検出する
ことができる。
−測定用放射線源14の生じ得る最大局所線量率を上回る
局所線量率の検出によって； −プロセスに関連していないと思われる、局所線量率の
迅速な変化の検出によって； −放射線検出器の過制御の検出に基づいて。
局所線量率の検出によって； −プロセスに関連していないと思われる、局所線量率の
迅速な変化の検出によって； −放射線検出器の過制御の検出に基づいて。
測定結果、すなわち所定時間間隔当たりのそのときの
パルス数Naの変化に基づいて外部放射線の始めおよび終
わりを検出する代わりに、この目的のために、放射線源
14の有効放射線にさらされていない別の放射線検出器を
設けることもできる。装置24においてこの技術手段を使
用したいときは、単に、機能ブロック30および32の入力
側が入力側24aではなくて別の放射線検出器に接続され
る。装置の機能は変わらずにとどまる。
パルス数Naの変化に基づいて外部放射線の始めおよび終
わりを検出する代わりに、この目的のために、放射線源
14の有効放射線にさらされていない別の放射線検出器を
設けることもできる。装置24においてこの技術手段を使
用したいときは、単に、機能ブロック30および32の入力
側が入力側24aではなくて別の放射線検出器に接続され
る。装置の機能は変わらずにとどまる。
機能ブロック36は、順次到来するそのときのパルス数
Naから、測定結果の変化速度および変化加速度を求め
る。求められた値は、機能ブロック38に記憶されかつ制
御回路34にも供給される。この制御回路には、その他に
そのときのパルス数Naも供給される。
Naから、測定結果の変化速度および変化加速度を求め
る。求められた値は、機能ブロック38に記憶されかつ制
御回路34にも供給される。この制御回路には、その他に
そのときのパルス数Naも供給される。
そのときのパルス数Naはそれぞれさらに測定値メモリ
40に供給されかつ記憶される。測定値メモリの出力側に
はその都度、先行する時間間隔において求められかつ記
憶されたパルス数Nvが使用可能である。機能ブロック42
は、先行のパルス数Nvをそのときのパルス数Naから減算
することによって、差パルス数Ndを求めることができ
る： Nd＝Na−Nv 機能ブロック44は、差パルス数Ndと機能ブロック38に
記憶されている、変化速度および変化加速度の値とか
ら、オフセットパルス数Noを計算する。オフセットパル
ス数は、機能ブロック44に記憶される。このオフセット
パルス数Noをそのときのパルス数Naから減算することに
よって、機能ブロック46は補正されたパルス数Nkを形成
する： Nk＝Na−No さらに、機能ブロック48は、測定値メモリ40に記憶さ
れているパルス数Nvと、機能ブロック38に記憶されてい
る、変化速度および変化加速度の値とから、理論測定値
Ntを計算することができる。
40に供給されかつ記憶される。測定値メモリの出力側に
はその都度、先行する時間間隔において求められかつ記
憶されたパルス数Nvが使用可能である。機能ブロック42
は、先行のパルス数Nvをそのときのパルス数Naから減算
することによって、差パルス数Ndを求めることができ
る： Nd＝Na−Nv 機能ブロック44は、差パルス数Ndと機能ブロック38に
記憶されている、変化速度および変化加速度の値とか
ら、オフセットパルス数Noを計算する。オフセットパル
ス数は、機能ブロック44に記憶される。このオフセット
パルス数Noをそのときのパルス数Naから減算することに
よって、機能ブロック46は補正されたパルス数Nkを形成
する： Nk＝Na−No さらに、機能ブロック48は、測定値メモリ40に記憶さ
れているパルス数Nvと、機能ブロック38に記憶されてい
る、変化速度および変化加速度の値とから、理論測定値
Ntを計算することができる。
機能ブロック46および48の出力側は、切換スイッチ26
の別の切換接点に接続されている。
の別の切換接点に接続されている。
これまで述べた機能は、制御回路34によって制御され
る。このために必要な、制御回路34と種々の機能ブロッ
クとの接続は、ブロック回路をわかりやすくするために
図示されていない。
る。このために必要な、制御回路34と種々の機能ブロッ
クとの接続は、ブロック回路をわかりやすくするために
図示されていない。
既述のように、外部放射線が存在していないときは、
スイッチ26は第２図に図示の位置にあるので、その場合
そのときのパルス数Naは測定値指示部22に直接伝送され
る。
スイッチ26は第２図に図示の位置にあるので、その場合
そのときのパルス数Naは測定値指示部22に直接伝送され
る。
機能ブロック30が上述の判断基準の１つに従って、外
部放射線の始めを検出するとき、制御回路34は測定値メ
モリ40を阻止し、その結果後続のパルス数Naはもはや記
憶されずかつ測定値メモリにおいて、外部放射線の発生
の前に求められた最後のパルス数Nvが記憶されたままに
とどまる。さらに、制御回路34は機能ブロック38を阻止
するので、その結果その中に、外部放射線の発生の前に
求められた、変化速度および変化加速度の最後の値が記
憶された状態にとどまる。
部放射線の始めを検出するとき、制御回路34は測定値メ
モリ40を阻止し、その結果後続のパルス数Naはもはや記
憶されずかつ測定値メモリにおいて、外部放射線の発生
の前に求められた最後のパルス数Nvが記憶されたままに
とどまる。さらに、制御回路34は機能ブロック38を阻止
するので、その結果その中に、外部放射線の発生の前に
求められた、変化速度および変化加速度の最後の値が記
憶された状態にとどまる。
さらに、制御回路34は、外部放射線がその安定状態に
達したかどうかを検出するために、そのときのパルス数
Naおよび機能ブロック36によって求められた、変化速度
および変化加速度の値が前以て決められた限界内にある
かどうかを検査する。この検査の結果に依存して、次の
ことが生じる： −パルス数および／または変化速度および／または変化
加速度が前以て決められた限界値を上回るとき（殊に、
上述した、放射線源を放射線保護容器からコリメータに
移す間のγ線透過試験の例に生じるような）、制御回路
34は機能ブロック48において最後に記憶されたパルス数
Nvと、変化速度および変化加速度の記憶された値とから
理論パルス数Ntを計算するようにし、その際変化速度お
よび変化加速度の記憶された値に従ってこれら計算され
た理論パルス数が引き続き処理される。同時に、制御回
路34は切換スイッチ26を、それが測定値指示部22を機能
ブロック48の出力側に接続する位置に操作し、その結果
計算された理論パルス数Ntが測定値指示部に対して使用
される。
達したかどうかを検出するために、そのときのパルス数
Naおよび機能ブロック36によって求められた、変化速度
および変化加速度の値が前以て決められた限界内にある
かどうかを検査する。この検査の結果に依存して、次の
ことが生じる： −パルス数および／または変化速度および／または変化
加速度が前以て決められた限界値を上回るとき（殊に、
上述した、放射線源を放射線保護容器からコリメータに
移す間のγ線透過試験の例に生じるような）、制御回路
34は機能ブロック48において最後に記憶されたパルス数
Nvと、変化速度および変化加速度の記憶された値とから
理論パルス数Ntを計算するようにし、その際変化速度お
よび変化加速度の記憶された値に従ってこれら計算され
た理論パルス数が引き続き処理される。同時に、制御回
路34は切換スイッチ26を、それが測定値指示部22を機能
ブロック48の出力側に接続する位置に操作し、その結果
計算された理論パルス数Ntが測定値指示部に対して使用
される。
−そのときのパルス数Na、変化速度および変化加速度す
べてが前以て決められた限界内に入る否や（γ線透過試
験において、放射線源がコリメータに移されてしまった
ときに生じるように）、制御回路34は機能ブロック42に
おいて差パルス数Ndが計算され、機能ブロック44におい
てオフセットパルス数Noが計算かつ記憶されかつ機能ブ
ロック46において記憶されたオフセットパルス数Noをそ
の都度その時のパルス数Naから減算することによって補
正されたパルス数Nkが連続的に計算されるようにする。
同時に制御回路34は切換スイッチ26を、測定値指示部22
が機能ブロック46の出力側に接続されている位置に操作
するので、補正されたパルス数Nkが測定値指示部に対し
て使用される。
べてが前以て決められた限界内に入る否や（γ線透過試
験において、放射線源がコリメータに移されてしまった
ときに生じるように）、制御回路34は機能ブロック42に
おいて差パルス数Ndが計算され、機能ブロック44におい
てオフセットパルス数Noが計算かつ記憶されかつ機能ブ
ロック46において記憶されたオフセットパルス数Noをそ
の都度その時のパルス数Naから減算することによって補
正されたパルス数Nkが連続的に計算されるようにする。
同時に制御回路34は切換スイッチ26を、測定値指示部22
が機能ブロック46の出力側に接続されている位置に操作
するので、補正されたパルス数Nkが測定値指示部に対し
て使用される。
オフセットパルス数Noは機能ブロック46において、そ
れが、そのときのパルス数Naと、外部放射線の検出の前
に、計算の時点に対して計算された最後のパルス数との
差に相応するように、計算される。計算の時点は、外部
放射線の検出の時点とは、必要とされる計算時間並びに
場合によっては安定状態に達するまでに必要な時間だけ
異なっている。外部放射線が検出の時点において既にそ
の安定状態を有しかつ計算時間を無視することができる
とき、オフセットパルス数Noは差パルス数Ndに等しい。
この時間は無視することができるが、機能ブロック38に
記憶されている変化速度および変化加速度が両方とも零
であるとき、オフセットパルス数Noは同様に差パルス数
Ndに等しい。その理由は、その場合、外部放射線の影響
なしに計算の時点に得られるはずのパルス数は最後に記
憶されたパルス数Nvに対して変化しないはずであるから
である。その他のすべての別の場合には、機能ブロック
44が、記憶されたパルス数Nvが機能ブロック46に記憶さ
れた変化速度および速度加速度のため計算の時点までに
受けるはずの変化を考慮してオフセットパルス数Noを補
正する。
れが、そのときのパルス数Naと、外部放射線の検出の前
に、計算の時点に対して計算された最後のパルス数との
差に相応するように、計算される。計算の時点は、外部
放射線の検出の時点とは、必要とされる計算時間並びに
場合によっては安定状態に達するまでに必要な時間だけ
異なっている。外部放射線が検出の時点において既にそ
の安定状態を有しかつ計算時間を無視することができる
とき、オフセットパルス数Noは差パルス数Ndに等しい。
この時間は無視することができるが、機能ブロック38に
記憶されている変化速度および変化加速度が両方とも零
であるとき、オフセットパルス数Noは同様に差パルス数
Ndに等しい。その理由は、その場合、外部放射線の影響
なしに計算の時点に得られるはずのパルス数は最後に記
憶されたパルス数Nvに対して変化しないはずであるから
である。その他のすべての別の場合には、機能ブロック
44が、記憶されたパルス数Nvが機能ブロック46に記憶さ
れた変化速度および速度加速度のため計算の時点までに
受けるはずの変化を考慮してオフセットパルス数Noを補
正する。
機能ブロック32が外部放射線の終わりを検出すると
き、これらの過程は逆の順序で実行され、その結果放射
線源がコリメータから取り出される期間に一時的に再び
理論パルス数Ntが測定値指示部に対して使用されかつ外
部放射線の消滅後再びそのときのパルス数Naが測定値指
示部に対して使用される。
き、これらの過程は逆の順序で実行され、その結果放射
線源がコリメータから取り出される期間に一時的に再び
理論パルス数Ntが測定値指示部に対して使用されかつ外
部放射線の消滅後再びそのときのパルス数Naが測定値指
示部に対して使用される。
外部放射線源の出し入れの際の短時間の過渡状態を除
外視すれば、装置24の機能は次の原理に基づいている： −検出された外部放射線が安定状態に達するや否や、外
部放射線のある場合とない場合との測定結果の差（オフ
セット）が求められる； −外部放射線の存在期間中、そのときの測定結果に代わ
って、求められた差分だけ低減された測定結果が測定値
指示部に対して使用される。
外視すれば、装置24の機能は次の原理に基づいている： −検出された外部放射線が安定状態に達するや否や、外
部放射線のある場合とない場合との測定結果の差（オフ
セット）が求められる； −外部放射線の存在期間中、そのときの測定結果に代わ
って、求められた差分だけ低減された測定結果が測定値
指示部に対して使用される。
このようにして、外部放射線の持続時間の期間に、あ
たかも外部放射線が存在しないかのように、測定結果が
指示される。
たかも外部放射線が存在しないかのように、測定結果が
指示される。
計算された理論測定結果の短時間の導入は、オフセッ
ト値の検出がまだ可能ではない過渡状態の橋渡しのため
にのみ用いられる。このような過渡状態が発生しないと
き、理論測定値のこのような導入は省略される。簡単に
するために、過渡状態の期間には単に最後に有効な測定
結果を指示することもできる。
ト値の検出がまだ可能ではない過渡状態の橋渡しのため
にのみ用いられる。このような過渡状態が発生しないと
き、理論測定値のこのような導入は省略される。簡単に
するために、過渡状態の期間には単に最後に有効な測定
結果を指示することもできる。
既述の方法の種々の変形が可能である。すなわち例え
ば、外部放射線の検出から、前以て決められた時間間隔
が経過したとき、オフセットパルス数Noの形成および記
憶を始めることができる。この方法は殊に、外部放射線
源の時間特性が既知であるときに使用される。
ば、外部放射線の検出から、前以て決められた時間間隔
が経過したとき、オフセットパルス数Noの形成および記
憶を始めることができる。この方法は殊に、外部放射線
源の時間特性が既知であるときに使用される。
既述の方法は勿論、充填状態測定の場合の使用に制限
されていない。別の用途は例えば、密度測定、流量測定
または限界状態検出のための放射能測定方法である。
されていない。別の用途は例えば、密度測定、流量測定
または限界状態検出のための放射能測定方法である。
今日の技術水準によれば、第２図に図示の機能ブロッ
クは通例、個別の電子回路によって構成されているので
はなくて、コンピュータの適当なプログラミングによっ
て実現されている。
クは通例、個別の電子回路によって構成されているので
はなくて、コンピュータの適当なプログラミングによっ
て実現されている。
Claims (11)
- 【請求項１】測定用放射線源から発生される放射線に基
づいて連続的に送出される形式の放射能測定プロセスに
おいて散発的に作用する外部放射線の影響を抑圧するた
めの方法において、外部放射線の始めの前の測定結果と
検査によって検出される、前記外部放射線が安定状態に
達した後の測定結果との差を求めかつ前記外部放射線の
存在期間には前記測定結果を前記求められた差の分だけ
低減することを特徴とする外部放射線の影響を抑圧する
ための方法。 - 【請求項２】外部放射線が存在しない場合に前記測定結
果を連続的に記憶しかつ前記差を求めるために、外部放
射線の始めの前に最後に記憶された測定結果を使用する
請求項１記載の外部放射線の影響を抑圧するための方
法。 - 【請求項３】前記外部放射線の始めの前の測定結果の変
化速度および変化加速度を求めかつ記憶しかつ前記最後
に記憶された測定結果を前記記憶された変化速度および
変化加速度を考慮して前記差を求める時点に対して計算
する 請求項２記載の外部放射線の影響を抑圧するための方
法。 - 【請求項４】前記差を求める初期フェーズを、前記外部
放射線の安定状態への到達についての検査結果に依存さ
せる 請求項１から３までのいずれか１項記載の外部放射線の
影響を抑圧するための方法。 - 【請求項５】前記外部放射線の安定状態の到達を、前記
測定結果の変化速度および／または変化加速度の検査に
よって検出する 請求項４記載の外部放射線の影響を抑圧するための方
法。 - 【請求項６】前記差の検出を、前記外部放射線の検出後
決められた時間間隔が経過した後に開始する 請求項１から５までのいずれか１項記載の外部放射線の
影響を抑圧するための方法。 - 【請求項７】外部放射線の始めと前記安定状態に達する
までの間に、理論測定値を計算する 請求項１から６までのいずれか１項記載の外部放射線の
影響を抑圧するための方法。 - 【請求項８】前記外部放射線の始めおよび／または終わ
りを、前記測定結果の変化に基づいて検出する 請求項１から７までのいずれか１項記載の外部放射線の
影響を抑圧するための方法。 - 【請求項９】前記外部放射線の始めおよび／または終わ
りを、前記測定放射線源の生じ得る最大の局所線量率を
上回る局所線量率の検出によって検出する 請求項８記載の外部放射線の影響を抑圧するための方
法。 - 【請求項１０】前記外部放射線の始めおよび／または終
わりを、プロセスに関連していないと思われる局所線量
率の変化速度および／または変化加速度に基づいて検出
する 請求項８記載の外部放射線の影響を抑圧するための方
法。 - 【請求項１１】前記外部放射線の始めおよび／または終
わりを、前記測定放射線にさらされていない別の放射線
検出器を用いて検出する 請求項１から８までのいずれか１項記載の外部放射線の
影響を抑圧するための方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4233278A DE4233278C2 (de) | 1992-10-02 | 1992-10-02 | Verfahren zur Unterdrückung von Fremdstrahlungseinflüssen bei radioaktiven Meßverfahren |
| DE4233278.8 | 1992-10-02 | ||
| PCT/EP1993/002589 WO1994008255A1 (de) | 1992-10-02 | 1993-09-23 | Verfahren zur unterdrückung von fremdstrahlungseinflüssen bei radioaktiven messverfahren |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06511092A JPH06511092A (ja) | 1994-12-08 |
| JP2659864B2 true JP2659864B2 (ja) | 1997-09-30 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP6508669A Expired - Fee Related JP2659864B2 (ja) | 1992-10-02 | 1993-09-23 | 放射能測定プロセスにおける散発的に作用する外部放射線の影響を抑圧するための方法 |
Country Status (6)
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|---|---|
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| JP (1) | JP2659864B2 (ja) |
| DE (2) | DE4233278C2 (ja) |
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| WO (1) | WO1994008255A1 (ja) |
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| DE10048559A1 (de) * | 2000-09-30 | 2002-04-11 | Endress Hauser Gmbh Co | Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung der Dichte und/oder des Füllstands eines Mediums in einem Behälter |
| DE10162703A1 (de) * | 2001-12-19 | 2003-07-03 | Endress & Hauser Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Fehlerausblendung und -Kompensation von durch Gammagraphie hervorgerufenen Störsignalen bei radiometrischen Meßsystemen |
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|---|---|---|---|---|
| US2758217A (en) * | 1951-05-17 | 1956-08-07 | Perforating Guns Atlas Corp | Automatic scintillation counter |
| DE2045895A1 (en) * | 1970-09-17 | 1972-03-23 | Kimmel H | Radioactivity contamination monitor - with compensation for interfering background radiation |
| US4059762A (en) * | 1976-05-17 | 1977-11-22 | Beckman Instruments, Inc. | Method and apparatus for determining accuracy of radiation measurements made in the presence of background radiation |
| US4078178A (en) * | 1977-01-03 | 1978-03-07 | Kevex Corporation | Dynamic background subtraction circuit |
| DE3328256C2 (de) * | 1983-08-04 | 1986-08-28 | Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg | Verfahren und Anordnung zur automatischen Stabilisierung eines Szintillationsdetektors |
| DE4114030C1 (ja) * | 1991-04-29 | 1992-09-17 | Laboratorium Prof. Dr. Rudolf Berthold Gmbh & Co, 7547 Wildbad, De |
-
1992
- 1992-10-02 DE DE4233278A patent/DE4233278C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-09-23 WO PCT/EP1993/002589 patent/WO1994008255A1/de active IP Right Grant
- 1993-09-23 DE DE59305260T patent/DE59305260D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-23 JP JP6508669A patent/JP2659864B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-23 EP EP93921846A patent/EP0615626B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-09-23 ES ES93921846T patent/ES2098782T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-01 ZA ZA937294A patent/ZA937294B/xx unknown
Also Published As
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| JPH06511092A (ja) | 1994-12-08 |
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