JP2574694B2 - 金属検出機 - Google Patents
金属検出機Info
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- JP2574694B2 JP2574694B2 JP63246447A JP24644788A JP2574694B2 JP 2574694 B2 JP2574694 B2 JP 2574694B2 JP 63246447 A JP63246447 A JP 63246447A JP 24644788 A JP24644788 A JP 24644788A JP 2574694 B2 JP2574694 B2 JP 2574694B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜本発明の産業上の利用分野＞ 本発明は、食品等の被検査体に混入した金属を検出す
るための金属検出機に関する。
るための金属検出機に関する。
＜従来技術＞ 食品等に混入した小さな金属を検出するための金属検
出機は、一般に第11図に示すように、交番磁界を発生さ
せる送信コイルＰと、この送信コイルＰに対向して、送
信コイルＰによる交番磁界の磁力線が等量交わりその交
番磁界によって生じる誘起電圧が等しくなるように配置
された２つの受信コイルS1、S2とを備えており、送信コ
イルＰと受信コイルS1、S2との間を、一方の受信コイル
S1側からの他方の受信コイルS2方向へと、所定速度で被
検査体Ｗを搬送させるようにしている。
出機は、一般に第11図に示すように、交番磁界を発生さ
せる送信コイルＰと、この送信コイルＰに対向して、送
信コイルＰによる交番磁界の磁力線が等量交わりその交
番磁界によって生じる誘起電圧が等しくなるように配置
された２つの受信コイルS1、S2とを備えており、送信コ
イルＰと受信コイルS1、S2との間を、一方の受信コイル
S1側からの他方の受信コイルS2方向へと、所定速度で被
検査体Ｗを搬送させるようにしている。
この受信コイルS1、S2は、被検査体Ｗと交わる交番磁
界を受信するために被検査体Ｗの搬送路幅と同程度の比
較的大きな径のコイルが用いられている。
界を受信するために被検査体Ｗの搬送路幅と同程度の比
較的大きな径のコイルが用いられている。
したがって、被検査体Ｗに金属が混入している場合、
その金属の通過により、２つの受信コイルS1、S2に交わ
る磁力線の数が変化し、誘起電圧E1、E2に電位差が生じ
るため、この電位差信号の大きさを所定値と比較するこ
とによって金属検出を行なうことができる。
その金属の通過により、２つの受信コイルS1、S2に交わ
る磁力線の数が変化し、誘起電圧E1、E2に電位差が生じ
るため、この電位差信号の大きさを所定値と比較するこ
とによって金属検出を行なうことができる。
なお、食品等のように水分を多く含む被検査体の場合
は、この被検査体に金属が混入していなくても、２つの
受信コイルS1、S2の誘起電圧E1、E2に電位差が生じるた
め、被検査体の種類や検出する金属の種類に応じて、送
信コイルＰの周波数（直流磁界も含む）や電位差信号に
対する比較値等を選んで金属検出を最良の感度で行なう
ようにしている。
は、この被検査体に金属が混入していなくても、２つの
受信コイルS1、S2の誘起電圧E1、E2に電位差が生じるた
め、被検査体の種類や検出する金属の種類に応じて、送
信コイルＰの周波数（直流磁界も含む）や電位差信号に
対する比較値等を選んで金属検出を最良の感度で行なう
ようにしている。
＜本発明が解決しようとする課題＞ しかしながら、前記のように構成された従来装置で
は、混入金属の存在は検知できるが、受信コイルの径が
大きくその指向性が広いため、検知感度が低く金属が被
検査体のどの部分に含まれているかを知ることができな
い。このため被検査体自身の影響により小さな混入金属
を検知できなかったり、その混入要因を調べてその対策
を施すのに非常に手間がかかるという問題があった。
は、混入金属の存在は検知できるが、受信コイルの径が
大きくその指向性が広いため、検知感度が低く金属が被
検査体のどの部分に含まれているかを知ることができな
い。このため被検査体自身の影響により小さな混入金属
を検知できなかったり、その混入要因を調べてその対策
を施すのに非常に手間がかかるという問題があった。
本発明は、この課題を解決した金属検出機を提供する
ことを目的としている。
ことを目的としている。
＜前記課題を解決するための手段＞ 前記問題を解決するために第１の発明の金属検出機
は、 被検査体を所定方向に搬送する搬送手段と、 前記搬送手段の搬走路に磁界を発生する磁界発生手段
と、 前記磁界発生手段が発生した磁界をそれぞれ受けるた
めに、前記搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の
範囲内に複数組並ぶように配置された磁気センサと、 前記磁界発生手段が発生する磁界中に被検査体が進入
するタイミングを検出するための進入検知手段と、 前記複数組の磁気センサにそれぞれ対応して設けら
れ、各磁気センサからの信号を受けて、被検査体の通過
による磁界変化をそれぞれ検出する複数の検出手段と、 前記磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁
界への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過
方向を第２の軸とする座標上に、前記各検出手段の出力
信号をその大きさが識別できるように画面表示する表示
手段とを備え、 前記表示手段の画面上で被検査体内の混入金属の位置
と大きさを特定できるようにしている。
は、 被検査体を所定方向に搬送する搬送手段と、 前記搬送手段の搬走路に磁界を発生する磁界発生手段
と、 前記磁界発生手段が発生した磁界をそれぞれ受けるた
めに、前記搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の
範囲内に複数組並ぶように配置された磁気センサと、 前記磁界発生手段が発生する磁界中に被検査体が進入
するタイミングを検出するための進入検知手段と、 前記複数組の磁気センサにそれぞれ対応して設けら
れ、各磁気センサからの信号を受けて、被検査体の通過
による磁界変化をそれぞれ検出する複数の検出手段と、 前記磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁
界への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過
方向を第２の軸とする座標上に、前記各検出手段の出力
信号をその大きさが識別できるように画面表示する表示
手段とを備え、 前記表示手段の画面上で被検査体内の混入金属の位置
と大きさを特定できるようにしている。
また、第２の発明の金属検出機は、 被検査体を所定方向に搬送する搬送手段と、 前記搬送手段の搬送路に磁界を発生する磁界発生手段
と、 前記磁界発生手段が発生した磁界をそれぞれ受けるた
めに、前記搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の
範囲内に複数組並ぶように配置された磁気センサと、 前記磁界発生手段が発生する磁界中に被検査体が進入
するタイミングを検出するための進入検知手段と、 前記複数組の磁気センサにそれぞれ対応して設けら
れ、各磁気センサからの信号を受けて、被検査体の通過
による磁界変化をそれぞれ検出する複数の検出手段と、 前記磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁
界への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過
方向を第２の軸、前記各検出手段の出力信号の大小方向
を第３の軸とする３次元座標上に、前記各検出手段の出
力信号を画面表示する表示手段とを備え、 前記表示手段の画面上で被検査体内の混入金属の位置
と大きさを特定できるようにしている。
と、 前記磁界発生手段が発生した磁界をそれぞれ受けるた
めに、前記搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の
範囲内に複数組並ぶように配置された磁気センサと、 前記磁界発生手段が発生する磁界中に被検査体が進入
するタイミングを検出するための進入検知手段と、 前記複数組の磁気センサにそれぞれ対応して設けら
れ、各磁気センサからの信号を受けて、被検査体の通過
による磁界変化をそれぞれ検出する複数の検出手段と、 前記磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁
界への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過
方向を第２の軸、前記各検出手段の出力信号の大小方向
を第３の軸とする３次元座標上に、前記各検出手段の出
力信号を画面表示する表示手段とを備え、 前記表示手段の画面上で被検査体内の混入金属の位置
と大きさを特定できるようにしている。
＜作用＞ このように構成したため、本発明の金属検出機では、
被検査体による磁界の変化は、搬送路の幅方向に沿って
配置された複数組の磁気センサと各磁気センサごとに設
けられた検出手段によってその幅方向に分割されて局部
的に検知され、磁気センサの並び方向を第１の軸、被検
査体の磁界への進入が検知されてから通過するまでの時
間の経過方向を第２の軸とする座標上に、各検出手段の
出力信号がその大きさが識別できるように画面表示さ
れ、その画面から、被検車体内の混入金属の位置と大き
さを特定できる。
被検査体による磁界の変化は、搬送路の幅方向に沿って
配置された複数組の磁気センサと各磁気センサごとに設
けられた検出手段によってその幅方向に分割されて局部
的に検知され、磁気センサの並び方向を第１の軸、被検
査体の磁界への進入が検知されてから通過するまでの時
間の経過方向を第２の軸とする座標上に、各検出手段の
出力信号がその大きさが識別できるように画面表示さ
れ、その画面から、被検車体内の混入金属の位置と大き
さを特定できる。
＜本発明の第１の実施例＞（第１〜第５） 以下、図面に基づいて本発明の第１の実施例を説明す
る。
る。
第１図は、第１の実施例の機構部を示す概略の側面図
であり、10は、被検査体を搬送するための搬送コンベア
である。
であり、10は、被検査体を搬送するための搬送コンベア
である。
この搬送路中央には被検査体中の金属を検出するため
の検出ヘッド11が設けられている。
の検出ヘッド11が設けられている。
検出ヘッド11は、上方から搬送路に向って交番磁界を
発生する送信コイル12と、この送信コイル12に対向し、
第２図に示すように搬送路の幅方向に２列に並んだ受信
コイル131〜13n、141〜14nから構成されている。
発生する送信コイル12と、この送信コイル12に対向し、
第２図に示すように搬送路の幅方向に２列に並んだ受信
コイル131〜13n、141〜14nから構成されている。
送信コイル12は、所定周波数の励磁信号（図示せず）
により、各受信コイルにほぼ等量の磁束を錯交させるよ
うに構成されている。
により、各受信コイルにほぼ等量の磁束を錯交させるよ
うに構成されている。
なお、搬送コンベア10の両側には被検査体の検出ヘッ
ド11への進入を光で検知するための投光器15と受光器16
が設けられている。
ド11への進入を光で検知するための投光器15と受光器16
が設けられている。
検出ヘツド11の各受信コイルは、被検査体Ｗの通過幅
に比べて小径で鋭い指向性をそれぞれが有しており、搬
送方向に隣接する受信コイル同士を１組として第３図に
示すように差動接続され、それぞれ検出回路201〜20nに
接続されている。
に比べて小径で鋭い指向性をそれぞれが有しており、搬
送方向に隣接する受信コイル同士を１組として第３図に
示すように差動接続され、それぞれ検出回路201〜20nに
接続されている。
検出回路201〜20nは同一に構成されており、増幅器21
で増幅した差分信号を同期検出回路22で励磁信号により
同期検波した後、被検査体の搬送速度に対応する周波数
特性を有する低域フィルタ23でノイズ成分を除去して得
られた検出信号のうち一方側の極性の検出信号を整流回
路24から出力する。
で増幅した差分信号を同期検出回路22で励磁信号により
同期検波した後、被検査体の搬送速度に対応する周波数
特性を有する低域フィルタ23でノイズ成分を除去して得
られた検出信号のうち一方側の極性の検出信号を整流回
路24から出力する。
各検出回路201〜20nからの検出信号は、判定回路30お
よび波形表示装置35に入力されている。
よび波形表示装置35に入力されている。
判定回路30は、各検出信号を所定の基準値と比較し
て、この基準値より大きな検出信号が入力されると金属
混入を知らせるアラーム信号（図示せず）等を発生する
ように構成されている。
て、この基準値より大きな検出信号が入力されると金属
混入を知らせるアラーム信号（図示せず）等を発生する
ように構成されている。
波形表示装置35は、被検査体が検出ヘッド11に進入し
てから通過するまでの間の各検出信号を受けて、被検査
体中の金属の混入状態を画面表示するように構成されて
おり、例えば受信コイルの配列方向（搬送路の幅方向）
をＸ軸、時間経過をＹ軸、検出信号の大きさをＺ軸とし
て三次元表示するようにマイクロコンピュータ等でプロ
グラム制御されている。
てから通過するまでの間の各検出信号を受けて、被検査
体中の金属の混入状態を画面表示するように構成されて
おり、例えば受信コイルの配列方向（搬送路の幅方向）
をＸ軸、時間経過をＹ軸、検出信号の大きさをＺ軸とし
て三次元表示するようにマイクロコンピュータ等でプロ
グラム制御されている。
次に、このように構成された金属検出機の動作を説明
する。
する。
搬送コンベア10上に搬入された被検査体Ｗが投光器15
と受光器16の間を横切って検出ヘッド11内に進入する
と、被検査体Ｗ自身による磁界への影響で各組の受信コ
イル131〜13n側の磁束密度が変化し、進入前に平衡状態
にあった１組毎の受信コイルの誘起電圧が、不平衡状態
となる。
と受光器16の間を横切って検出ヘッド11内に進入する
と、被検査体Ｗ自身による磁界への影響で各組の受信コ
イル131〜13n側の磁束密度が変化し、進入前に平衡状態
にあった１組毎の受信コイルの誘起電圧が、不平衡状態
となる。
このため、検出回路201〜20nの各増幅器21からこの差
分信号が同期検波回路22で検波され、低域フィルタ23か
ら整流回路24を介して一方の極性の検出信号がそれぞれ
出力される。ここで、被検査体Ｗの内部に金属が混入し
ていて、その混入部分が受信コイル13i、14iの上方を経
過した場合、各検出回路201〜20nからの検出信号D1〜Dn
は第４図に示すように、この受信コイル13i、14iとその
近傍の受信コイルに対応する検出信号Di、Di＋１、Di＋
１の出力のみが増大して、他の検出信号はほとんど変化
しないで出力されることになる。
分信号が同期検波回路22で検波され、低域フィルタ23か
ら整流回路24を介して一方の極性の検出信号がそれぞれ
出力される。ここで、被検査体Ｗの内部に金属が混入し
ていて、その混入部分が受信コイル13i、14iの上方を経
過した場合、各検出回路201〜20nからの検出信号D1〜Dn
は第４図に示すように、この受信コイル13i、14iとその
近傍の受信コイルに対応する検出信号Di、Di＋１、Di＋
１の出力のみが増大して、他の検出信号はほとんど変化
しないで出力されることになる。
この検出信号D1〜Dnは判定回路30に入力され、予め決
められた基準レベルVrと比較されるが、検出信号Di（お
よびDi＋１、Di＋１）はこの基準レベルVrより大きくな
るため、判定回路30からアラーム信号等が出力される。
められた基準レベルVrと比較されるが、検出信号Di（お
よびDi＋１、Di＋１）はこの基準レベルVrより大きくな
るため、判定回路30からアラーム信号等が出力される。
一方、これらの検出信号D1〜Dnを受けた波形表示装置
35は、この信号をプログラム処理して、たとえば第５図
に示すような三次元の画面表示を行なう。
35は、この信号をプログラム処理して、たとえば第５図
に示すような三次元の画面表示を行なう。
この表示では、金属の混入している場所だけが山のよ
うに高く表わされるため、被検査体Ｗのどの部分にどの
位の大きさの金属が混入しているかを明確に知ることが
できる。
うに高く表わされるため、被検査体Ｗのどの部分にどの
位の大きさの金属が混入しているかを明確に知ることが
できる。
なお、この波形表示装置40を、判定回路30で金属混入
があったと判定された場合の画面データを記憶するよう
に構成しておけば、このデータを混入ルート等の調査に
利用することができる。
があったと判定された場合の画面データを記憶するよう
に構成しておけば、このデータを混入ルート等の調査に
利用することができる。
また、この実施例では、判定回路30を波形表示装置35
と別個に設けていたが、波形表示装置35で検出信号の判
定を行なってもよく、表示方法もこの実施例のような三
次元表示だけでなく、各検出信号の大きさが識別できる
ように、その大きさに対応して段階的に色付け表示する
ようにしてもよい。
と別個に設けていたが、波形表示装置35で検出信号の判
定を行なってもよく、表示方法もこの実施例のような三
次元表示だけでなく、各検出信号の大きさが識別できる
ように、その大きさに対応して段階的に色付け表示する
ようにしてもよい。
＜本発明の第２の実施例＞（第６〜10図） なお、前記実施例では、被検査体の搬送方向に隣接す
る２つの受信コイルを１組として金属検知を行なうよう
にしていたが、第６図に示すように搬送コンベア10の幅
方向に一列に並べた受信コイル181〜18nに、それぞれ第
７図のような検出回路251〜25nを接続して構成してもよ
い。
る２つの受信コイルを１組として金属検知を行なうよう
にしていたが、第６図に示すように搬送コンベア10の幅
方向に一列に並べた受信コイル181〜18nに、それぞれ第
７図のような検出回路251〜25nを接続して構成してもよ
い。
この検出回路251〜25nは、前記実施例の検出回路201
〜20nの構成にサンプルホールド回路26と減算器27を加
えて構成されている。
〜20nの構成にサンプルホールド回路26と減算器27を加
えて構成されている。
サンプルホールド回路26は、整流回路24の出力D1〜Dn
を、コンベア10の搬送速度に比べて非常に速い周期でサ
ンプリングして、その保持出力を減算器27へ送出するよ
うに構成され、減算器27は、この保持出力と整流回路24
の出力とを減算した信号を検出信号K1〜Knとして出力す
る。
を、コンベア10の搬送速度に比べて非常に速い周期でサ
ンプリングして、その保持出力を減算器27へ送出するよ
うに構成され、減算器27は、この保持出力と整流回路24
の出力とを減算した信号を検出信号K1〜Knとして出力す
る。
したがって、受信コイル181〜18nの誘起電圧の所定時
間当たりの変化量が検出信号として各検出回路251〜25n
から出力されることになる。
間当たりの変化量が検出信号として各検出回路251〜25n
から出力されることになる。
ここで、前記同様に受信コイル18iの上方を、被検査
体Ｗの金属混入部分が通過すると、検出回路25iの整流
回路24出力Diは、第８図のように急激に増大するため、
減算器27の出力Kiもこれと同時に、振幅の大きな検出信
号を出力する。
体Ｗの金属混入部分が通過すると、検出回路25iの整流
回路24出力Diは、第８図のように急激に増大するため、
減算器27の出力Kiもこれと同時に、振幅の大きな検出信
号を出力する。
この検出信号を前記同様に波形表示装置35に入力して
その振幅変化の激しい場所を例えば明暗等で表示させれ
ば金属混入位置を明確に知ることができる。
その振幅変化の激しい場所を例えば明暗等で表示させれ
ば金属混入位置を明確に知ることができる。
なお、この実施例では、検波整流出力をサンプルホー
ルド回路26および減算器27に力するようにしていたが、
送信コイルあるいは送信コイルに代わる永久磁石から直
流磁界が発生されている場合は、第９図のように増幅器
21の出力を直接サンプルホールド回路26と減算器27に接
続するように検出回路40iを構成してもよい。
ルド回路26および減算器27に力するようにしていたが、
送信コイルあるいは送信コイルに代わる永久磁石から直
流磁界が発生されている場合は、第９図のように増幅器
21の出力を直接サンプルホールド回路26と減算器27に接
続するように検出回路40iを構成してもよい。
また、サンプルホールド回路26の代わりに遅延回路を
用いることも可能であり、第10図に示すように、インダ
クタンスＬとコンデンサＣからなる遅延回路42により、
増幅器21からの交流の誘起電圧信号を位相の一致した状
態で数周期分遅らせて減算器27へ出力し、遅延されてい
ない信号との差信号を検波回路43で検波するように検出
回路41iを構成するようにしてもよい。
用いることも可能であり、第10図に示すように、インダ
クタンスＬとコンデンサＣからなる遅延回路42により、
増幅器21からの交流の誘起電圧信号を位相の一致した状
態で数周期分遅らせて減算器27へ出力し、遅延されてい
ない信号との差信号を検波回路43で検波するように検出
回路41iを構成するようにしてもよい。
この場合は、被検査体Ｗ中の金属混入部分が受信コイ
ル18iを通過するときの誘起信号の振幅および位相の変
化を検出することができる。
ル18iを通過するときの誘起信号の振幅および位相の変
化を検出することができる。
＜本発明の他の実施例＞ なお、前記第１、第２の実施例では、１組あるいは個
々の受信コイルを搬送路の幅方向に一列に整列した状態
で並べていたが、このコイル列を搬送方向に複数列並べ
て、時間差を有する検出信号を得るようにすれば波形観
測用のデータが増え、混入金属の検知をより明確に行な
うことができるとともに、検出中のある時間に雑音が発
生しても、雑音を含まない検出信号を用いることができ
るという利点がある。
々の受信コイルを搬送路の幅方向に一列に整列した状態
で並べていたが、このコイル列を搬送方向に複数列並べ
て、時間差を有する検出信号を得るようにすれば波形観
測用のデータが増え、混入金属の検知をより明確に行な
うことができるとともに、検出中のある時間に雑音が発
生しても、雑音を含まない検出信号を用いることができ
るという利点がある。
また、前記第２の実施例のように個々の受信コイルか
ら検出信号を得るようにしたものでは、受信コイルの配
置を一様（一列）にせずに不規則に配置するようにして
もよい。
ら検出信号を得るようにしたものでは、受信コイルの配
置を一様（一列）にせずに不規則に配置するようにして
もよい。
また、前記第１、第２の実施例では、磁気センサとし
て受信コイルを用いていたが、ホール素子等の他の磁気
センサを用いてもよい。
て受信コイルを用いていたが、ホール素子等の他の磁気
センサを用いてもよい。
＜本発明の効果＞ 本発明の金属検出機は、前記したように、磁界発生手
段が発生する磁界をそれぞれ受けるための磁気センサを
搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の範囲内に複
数組並ぶように配置するとともに、被検査体が磁界に進
入するタイミングが通過するまでの磁界の変化を磁気セ
ンサの組毎にそれぞれ設けられた検出手段によって検出
し、磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁界
への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過方
向を第２の軸とする座標上に、各検出手段の出力信号を
その大きさが識別できるように画面表示するように構成
されている。
段が発生する磁界をそれぞれ受けるための磁気センサを
搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の範囲内に複
数組並ぶように配置するとともに、被検査体が磁界に進
入するタイミングが通過するまでの磁界の変化を磁気セ
ンサの組毎にそれぞれ設けられた検出手段によって検出
し、磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁界
への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過方
向を第２の軸とする座標上に、各検出手段の出力信号を
その大きさが識別できるように画面表示するように構成
されている。
このため、指向性の強い小型の磁気センサを用いて高
感度な金属検出が行えるとともに、被検査体のどの部分
にどの位の金属が混入しているかを明確に知ることがで
き、その混入に対する対策を速やかに施すことができ
る。
感度な金属検出が行えるとともに、被検査体のどの部分
にどの位の金属が混入しているかを明確に知ることがで
き、その混入に対する対策を速やかに施すことができ
る。
第１図は、本発明の第１の実施例の機構部を示す概略側
面図、第２図は第１図の要部を示す概略平面図、第３図
は第１の実施例の検出回路を示すブロック図である。 第４図は、第１の実施例の各検出信号を示す信号図、第
５図は、各検出信号に基づいて表示される波形図の一例
を示す図である。 第６図は、本発明の第２の実施例の概略平面図、第７図
は第２の実施例の検出回路を示すブロック図、第８図は
第２の実施例の要部の信号図である。 第９図、第10図は、本発明の他の実施例の一部のみを示
すブロック図である。 第11図は、金属検出の原理を説明するための概略図であ
る。 10……搬送コンベア、11……検出ヘッド、12……送信コ
イル、131〜13n、141〜14n、181〜18n……受信コイル、
15……投光器、16……受光器、201〜20n、251〜25n……
検出回路、22……同期検波回路、23……低域フィルタ、
24……整流回路、26……サンプルホールド回路、27……
減算器、30……判定回路、35……波形表示装置、42……
遅延回路。
面図、第２図は第１図の要部を示す概略平面図、第３図
は第１の実施例の検出回路を示すブロック図である。 第４図は、第１の実施例の各検出信号を示す信号図、第
５図は、各検出信号に基づいて表示される波形図の一例
を示す図である。 第６図は、本発明の第２の実施例の概略平面図、第７図
は第２の実施例の検出回路を示すブロック図、第８図は
第２の実施例の要部の信号図である。 第９図、第10図は、本発明の他の実施例の一部のみを示
すブロック図である。 第11図は、金属検出の原理を説明するための概略図であ
る。 10……搬送コンベア、11……検出ヘッド、12……送信コ
イル、131〜13n、141〜14n、181〜18n……受信コイル、
15……投光器、16……受光器、201〜20n、251〜25n……
検出回路、22……同期検波回路、23……低域フィルタ、
24……整流回路、26……サンプルホールド回路、27……
減算器、30……判定回路、35……波形表示装置、42……
遅延回路。
Claims (2)
- 【請求項１】被検査体を所定方向に搬送する搬送手段
と、 前記搬送手段の搬送路に磁界を発生する磁界発生手段
と、 前記磁界発生手段が発生した磁界をそれぞれ受けるため
に、前記搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の範
囲内に複数組並ぶように配置された磁気センサと、 前記磁界発生手段が発生する磁界中に被検査体が進入す
るタイミングを検出するための進入検知手段と、 前記複数組の磁気センサにそれぞれ対応して設けられ、
各磁気センサからの信号を受けて、被検査体の通過によ
る磁界変化をそれぞれ検出する複数の検出手段と、 前記磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁界
への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過方
向を第２の軸とする座標上に、前記各検出手段の出力信
号をその大きさが識別できるように画面表示する表示手
段とを備え、 前記表示手段の画面上で被検査体内の混入金属の位置と
大きさを特定できるようにした金属検出機。 - 【請求項２】被検査体を所定方向に搬送する搬送手段
と、 前記搬送手段の搬送路に磁界を発生する磁界発生手段
と、 前記磁界発生手段が発生した磁界をそれぞれ受けるため
に、前記搬送路の幅方向に沿って被検査体の通過幅の範
囲内に複数組並ぶように配置された磁気センサと、 前記磁界発生手段が発生する磁界中に被検査体が進入す
るタイミングを検出するための進入検知手段と、 前記複数組の磁気センサにそれぞれ対応して設けられ、
各磁気センサからの信号を受けて、被検査体の通過によ
る磁界変化をそれぞれ検出する複数の検出手段と、 前記磁気センサの並び方向を第１の軸、被検査体の磁界
への進入が検知されてから通過するまでの時間の経過方
向を第２の軸、前記各検出手段の出力信号の大小方向を
第３の軸とする３次元座標上に、前記各検出手段の出力
信号を画面表示する表示手段とを備え、 前記表示手段の画面上で被検査体内の混入金属の位置と
大きさを特定できるようにした金属検出機。
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|---|---|---|---|
| JP63246447A JP2574694B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 金属検出機 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63246447A JP2574694B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 金属検出機 |
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| JPH0293394A JPH0293394A (ja) | 1990-04-04 |
| JP2574694B2 true JP2574694B2 (ja) | 1997-01-22 |
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ID=17148582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63246447A Expired - Fee Related JP2574694B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 金属検出機 |
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-
1988
- 1988-09-30 JP JP63246447A patent/JP2574694B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH0293394A (ja) | 1990-04-04 |
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