JP2024014049A - 試験装置、試験方法、試験プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定部と、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御部と、
を備える試験装置が提供される。
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定ステップと、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御ステップと、
を試験装置としてのコンピュータが実行する試験方法が提供される。
試験装置としてのコンピュータに
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定処理と、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御処理と、
を実行させる試験プログラムが提供される。
実施形態1では、上述の試験装置100に関してより詳細に説明する。
1.機械的な障壁により供試機器の表面から25cm以下に近づくことが無い表面
2.供試装置内部のデバイス(センサー、ケーブル、PCB:Printed Circuit Board等)から25cm以上の距離が確保された表面
3.供試装置を設置した後、移動体通信機器が近接しない面(例、機器の底面等)
4.印加アンテナの均一な電磁界エリアよりも150%広い領域をもつ1つの部品から構成される均質な金属材料(厚さ0.25mm以上)の表面
5.保守作業中にのみ近接して使用される移動体通信機器からの電磁界に暴露される被試験機器(EUT:Equipment Under Test)の表面または領域
なお、下記はIEC61000-4-39、8.6.2 Execution of testの一部抜粋である。
Unless stated otherwise in the generic, product or product-family standards, the exposure to the electromagnetic field shall be applied only to those points and surfaces of the EUT which can be seen as input ports for electromagnetic fields from devices used in close proximity. The following areas do not require testing:
a) EUT surfaces where fixed mechanical barriers outside the equipment prevent sources of electromagnetic fields from being positioned closer than 0.25 m to the surface of the equipment ;
b) EUT surfaces constructed in a manner that prevents disturbance sources from coming closer than 0.25 m to active components (sensors, cable, PCBs, etc) inside the equipment (for example, plastic housing with space behind or covering only passive mechanical constructions);
c) those points and surfaces of the equipment which are no longer accessible to portable RF transmitters in close proximity after fixed installation of after following the instructions for use (for example, the bottom and/or wall-side of equipment or areas);
d) surfaces consisting of a homogeneous metallic material (thickness > 0.25 mm) made of one piece having the size of more than 150 % of the TEM horn uniform area;
e) surfaces or areas of the EUT that are exposed to electromagnetic fields from portable transmitting devices used in close proximity only during service or maintenance operation.
All surfaces of the equipment that are to be tested shall be partitioned into multiple windows. The physical dimension of each window is established according to Annex A.
実施形態2として、種々の変化形態について説明する。
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定部と、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御部と、
を備える試験装置。
試験領域特定部が、近接磁界に対するイミュニティ試験の国際規格:IEC 61000-4-39において試験領域から除外することが許容されている領域を除外領域として特定し、被試験機器の一表面において除外領域を除外した領域を試験領域として特定する、
付記1に記載の試験装置。
試験領域特定部が、機械的な障壁により供試機器の表面から25cm以下に近づくことが無い表面を、除外領域として特定する、
付記2に記載の試験装置。
試験領域特定部が、供試装置内部のデバイスから25cm以上の距離が確保された表面を、除外領域として特定する、
付記2に記載の試験装置。
試験領域特定部が、印加アンテナの均一な電磁界エリアよりも150%広い領域をもつ1つの部品から構成される均質な金属材料の表面を、除外領域として特定する、
付記2に記載の試験装置。
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定ステップと、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御ステップと、
を試験装置としてのコンピュータが実行する試験方法。
試験装置としてのコンピュータに
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定処理と、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御処理と、
を実行させる試験プログラム。
20 :制御部
100 :試験装置
1.機械的な障壁により供試機器の表面から25cm以下に近づくことが無い表面
2.供試装置内部のデバイス(センサー、ケーブル、PCB:Printed Circuit Board等)から25cm以上の距離が確保された表面
3.供試装置を設置した後、移動体通信機器が近接しない面(例、機器の底面等)
4.印加アンテナの均一な電磁界エリアよりも150%広い領域をもつ1つの部品から構成される均質な金属材料(厚さ0.25mm以上)の表面
5.保守作業中にのみ近接して使用される移動体通信機器からの電磁界に暴露される被試験機器(EUT:Equipment Under Test)の表面または領域
なお、下記はIEC61000-4-39、8.6.2 Execution of testの一部抜粋の和訳である。
汎用規格、製品規格又は製品群規格に別段の記載がない限り、電磁界に対する暴露は、近接して使用されるデバイスからの電磁界の入力ポートとして見ることができるEUTの点及び表面だけに適用しなければならない。次の領域は試験を必要としない:
(a) 装置の外側に固定された機械的なバリアがあり、電磁界源が装置表面から25cm以下に近接することを防止できるEUT面
(b) EUTのアクティブな部品(センサ、ケーブル、PCB等)に25cm以下に近接できないようになっているEUTの表面(例えば、受動的な機械的構造の背後に空間を有するか、またはそれだけを覆うプラスチックハウジング)
(c) EUTを設置した後は可搬型送信機が近接する可能性のない点または表面(たとえば、機器やエリアの底面や壁側)
(d) 厚が0.25mmを超える均一な金属でTEMホーンアンテナの均一領域の150%以上の大きさを有する1つの部品から成る表面
(e) サービス又は保守作業中にのみ携帯送信装置が近接して使用されて電磁界に曝されるEUTの表面又は領域
各項の物理的寸法は、附属書Aに従って定められる。
Claims (7)
- 被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定部と、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御部と、
を備える試験装置。 - 試験領域特定部が、近接磁界に対するイミュニティ試験の国際規格:IEC 61000-4-39において試験領域から除外することが許容されている領域を除外領域として特定し、被試験機器の一表面において除外領域を除外した領域を試験領域として特定する、
請求項1に記載の試験装置。 - 試験領域特定部が、機械的な障壁により供試機器の表面から25cm以下に近づくことが無い表面を、除外領域として特定する、
請求項2に記載の試験装置。 - 試験領域特定部が、供試装置内部のデバイスから25cm以上の距離が確保された表面を、除外領域として特定する、
請求項2に記載の試験装置。 - 試験領域特定部が、印加アンテナの均一な電磁界エリアよりも150%広い領域をもつ1つの部品から構成される均質な金属材料の表面を、除外領域として特定する、
請求項2に記載の試験装置。 - 被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定ステップと、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御ステップと、
を試験装置としてのコンピュータが実行する試験方法。 - 試験装置としてのコンピュータに
被試験機器の設計情報から、当該被試験機器の一表面における近接照射イミュニティ試験が必要な試験領域を特定する試験領域特定処理と、
試験波を照射するアンテナを制御して、特定された試験領域に沿って移動させる制御処理と、
を実行させる試験プログラム。
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JP2022116605A JP7409709B1 (ja) | 2022-07-21 | 2022-07-21 | 試験装置、試験方法、試験プログラム |
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