JP2023512768A - テストデバイスのためのサポート - Google Patents

Abstract

テストデバイスのためのサポートホルダが開示され、ホルダは、第１の長さを有する第１の複数の側壁と、第２の長さを有する第２の複数の側壁と、を有するベースを含む。第２の長さは第１の長さより長く、複数の側壁はベース内に空洞を規定し、空洞はテストデバイスの一部分を受けるための表面を含む。複数の突起はベースから離間するように延び、複数の突起の各突起は脚部と関連するように構成される。第１の複数の側壁のうちの第１側壁は第１角部と第２角部との間に位置するセンターノッチを含み、第１の複数の側壁のうちの第２側壁は、ベースの内部に通じる開口部を覆うように構成された取り外し可能部を含む。

Description

本開示は、テストデバイスのためのサポートホルダ及びその使用方法を対象とする。

ＤＮＡシーケンサ及びＲＮＡシーケンサのようなテストデバイスは、リアルタイム分析を実行するために実験室において用いられる。一つのそのようなテストデバイスは、ＭｉｎＩＯＮシーケンサ（Ｏｘｆｏｒｄ Ｎａｎｏｐｏｒｅ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ、ｈｔｔｐｓ：／／ｎａｎｏｐｏｒｅｔｅｃｈ．ｃｏｍ／ｐｒｏｄｕｃｔｓ／ｍｉｎｉｏｎ、本明細書に参照によって組み込まれる）であり、携帯可能で、ＤＮＡ及びＲＮＡの配列決定のためのリアルタイムデバイスである。そのようなＤＮＡ及びＲＮＡの配列は、多くの有益な使用方法を提供するが、研究室のテーブル、デスク上などで用いられるとき、それらは、小さく、容易に転倒されることがある。少しの外乱でさえ、テストデバイスから得られる結果に影響を与え得る。例えば、テストデバイス又はテストデバイスが配置された表面の少しの移動は、結果を害することがあり、又はテストサンプルを完全に破壊することがある。サンプルの正確なテスト及び分析を保証するために、テストデバイスは、数時間から数日の範囲であり得るテストの継続期間全体にわたって外部の要因から隔てられるべきである。

一つの態様において、本開示は、テストデバイスのためのサポートホルダを説明し、前記サポートホルダは、第１の長さを有する第１の複数の側壁と第２の長さを有する第２の複数の側壁と、を有するベースを備え、前記第２の長さは、前記第１の長さより長く、前記第１の複数の側壁及び前記第２の複数の第２の側壁は、前記ベース内に空洞を規定し、前記空洞は、前記テストデバイスの一部分を受けるための表面を含む。前記サポートホルダは、前記ベースから離間するように延びる複数の突起をさらに含むことがあり、前記複数の突起のうちの第１の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの一方の側壁から延び、前記複数の突起のうちの第２の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの他方の側壁から延び、前記複数の突起の各突起は、脚部と関連するように構成され、前記第１の複数の側壁のうちの第１側壁は、第１角部と第２角部との間に位置するセンターノッチを含み、前記第１の複数の側壁のうちの第２側壁は、前記ベースの内部に通じる開口部を覆うように構成される取り外し可能部を含む。

本サポートホルダの様々な実施形態は、以下の態様を一つ以上含み得る。前記サポートホルダの前記開口部は、前記第１の複数の側壁のうちの前記第１側壁から前記第１の複数の側壁のうちの前記第２側壁へ向かい、前記ベースの前記内部を少なくとも部分的に通って延びることがある。前記複数の突起の各突起は、前記脚部を受けるためのハウジングを含み得る。前記脚部は、防滑材を含み得る。前記第１の複数の側壁の前記第１の長さは、約２０ｍｍから約５０ｍｍの範囲であり得る。前記第２の複数の側壁の前記第２の長さは、約９０ｍｍから約１３０ｍｍの範囲であり得る。前記複数の側壁は、約６ｍｍから約８ｍｍの範囲の厚さを有し得る。前記複数の側壁は、約２０ｍｍから約３０ｍｍの範囲の高さを有し得る。前記第１角部及び前記第２角部は、前記第２の複数の側壁の高さより約５ｍｍ高い高さをそれぞれ有し得る。前記表面は、複数の空気孔と連通する空洞を含み得る。前記複数の突起の各突起は、第１の高さを有するネック部と、第２の高さを有する前記脚部とを含むことがあり、前記第２の高さは、前記第１の高さより高く、前記ネック部は、前記脚部と前記ベースとの間に配置される。前記センターノッチは、約１５ｍｍから約２０ｍｍの範囲の長さを有し得る。

別の態様において、本開示は、テストデバイスのためのサポートホルダを説明し、前記サポートホルダは第１の長さを有する第１の複数の側壁と、第２の長さを有する第２の複数の側壁と、を有するベースを備え、前記第２の長さは、前記第１の長さより長く、前記第１の複数の側壁及び前記第２の複数の第２側壁は、前記ベース内に空洞を規定し、前記空洞は、前記テストデバイスの一部分を受けるための表面を含む。前記サポートホルダは、前記ベースから離間するように延びる複数の突起をさらに含むことがあり、前記複数の突起のうちの第１の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの一方の側壁から延び、前記複数の突起のうちの第２の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの他方の側壁から延び、前記複数の突起の各突起は、脚部と関連するように構成され、前記複数の突起の各突起は、前記脚部を受け入れるためのハウジングと、第１の高さを有するネック部と、第２の高さを有する脚部と、を備え、前記第２の高さは前記第１の高さより高い。

本サポートホルダの様々な実施形態は、以下の態様の一つ以上を含み得る。前記第１の複数の側壁のうちの第１側壁は、第１角部と第２角部との間に位置するセンターノッチを含み得る。前記第１の複数の側壁のうちの第２側壁は、前記ベースの内部に通じる開口部を覆うように構成される取り外し可能部を含み得る。前記開口部は、前記第１の複数の側壁のうちの前記第１側壁から前記第１の複数の側壁のうちの前記第２側壁へ向かい、前記ベースの前記内部を少なくとも部分的に通って延び得る。重みを付したインサートは、前記ベースの前記内部に配置され得る。前記第１の複数の側壁の前記第１の長さは、約２０ｍｍから約５０ｍｍの範囲であり得る。前記第２の複数の側壁の前記第２の長さは、約９０ｍｍから約１３０ｍｍの範囲であり得る。前記第２の複数の側壁の各側壁は、空気孔を含み得る。

本明細書の一部に取り込まれ、かつ本明細書の一部を構成する添付の図面は、説明と共に様々な例を示し、開示された例及び実施形態の原理を説明することに役立つ。

本開示の態様は、添付の図面に示された実施形態と関連して実施され得る。これらの図面は、本開示の異なる態様を示し、該当する場合、異なる図面内の類似の構造、構成要素、物質、及び／又は要素を示す参照番号は、同様に番号が付けられる。明確に示されなければ、構造、構成要素、及び／又は要素の様々な組み合わせは、考慮され、本開示の範囲内であることが理解される。

さらに、本明細書に記載され、かつ、示される多くの実施形態が存在する。本開示は、任意の一つの態様又はその実施形態に制限されず、そのような態様及び／又は実施形態の任意の組み合わせ及び／又は順列に制限されない。さらに、本開示の各態様、及び／又はその実施形態は、単独で使用されることがあり、又は本開示の他の態様及び／又はその実施形態の一つ以上と組み合わせて使用されることがある。簡潔のため、特定の順列及び組み合わせは、本明細書において別々に説明されず、及び／又は示されない。特に、「例（ｅｘｅｍｐｌａｒｙ）」として本明細書に記載される実施形態又は実施は、例えば、他の実施形態又は実施と比べて望ましい又は有利と解釈されるべきではなく、むしろ、（複数の）実施形態が「例の（ｅｘａｍｐｌｅ）」（複数の）実施形態であることを示し又は意味することを意図する。

本開示の実施形態に従ったサポートの斜視図である。

本開示の実施形態に従ったサポートの第１正面図である。

本開示の実施形態に従ったサポートの第２正面図である。

本開示の実施形態に従ったサポートの第１側面図である。

本開示の実施形態に従ったサポートの第２側面図である。

本開示の実施形態に従ったサポートの上面図である。

本開示の実施形態に従ったサポートの断面図である。

本明細書で用いられるように、用語「備える（ｃｏｍｐｒｉｓｅｓ）」、「備えている（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」、「含む（ｉｎｃｌｕｄｅｓ）」、「含んでいる（ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ）」、又はその任意の他の変形は、非排他的な包含を保護することを意図し、それにより要素のリストを備えるプロセス、方法、物品、又は装置は、それらの要素を含むだけでなく、明確に記載されていない、又はプロセス、方法、物品、又は装置に本来備わっていない他の要素を含み得る。用語「例となる（ｅｘｅｍｐｌａｒｙ）」は「理想（ｉｄｅａｌ）」よりむしろ「例（ｅｘａｍｐｌｅ）」の意味として用いられる。さらに、本明細書において用語「第１（ｆｉｒｓｔ）」、及び「第２（ｓｅｃｏｎｄ）」などは、順序、量、又は重要性を意味せず、要素又は構造を他方から区別するために用いられる。さらに、本明細書において用語「一つの（ａ）」及び「一つの（ａｎ）」は、量の制限を意味せず、参照された項目の一つ以上の存在を意味する。

特に、簡単かつ明確な説明のため、図面の特定の態様は、様々な実施形態の一般の構造及び／又は構築方法を示す。よく知られた特徴及び技術の説明及び詳細は、他の特徴を不必要に曖昧にすることを避けるために省略され得る。図面内の要素は、縮尺通りに示される必要はなく、いくつかの特徴の寸法は、例の実施形態の理解を良くするために、他の要素と比較して誇張され得る。例えば、当業者は、側面図が縮尺通りに示されないことを理解し、異なる構成要素間の比例関係を示すものとして評価するべきではない。側面図は、示されたアセンブリの様々な構成要素を示すことに役立ち、互いの位置的関係を示すために提供される。

添付の図面に示される本開示の例について詳細に言及されるだろう。可能な限り、同じ参照番号が、図面全体にわたって同じ又は類似の部分を参照するために用いられるだろう。下記において、「約（ａｂｏｕｔ）」、「実質的に（ｓｕｂｓｔａｎｔｉａｌｌｙ）」、「およそ（ａｐｐｒｏｘｉｍａｔｅｌｙ）」などのような相対的な用語は、所定の数値における±１０％の可能な変動を示すために用いられる。

上述のように、テストデバイスの存在には、例えば、使用者によって引き起こされる振動及び／又は動きのような外乱がない安定した環境を必要とする。それらのウェブサイト上で詳細に記載されるように、ｈｔｔｐｓ：／／ｎａｎｏｐｏｒｅｔｅｃｈ．ｃｏｍ／ｐｒｏｄｕｃｔｓ／ｍｉｎｉｏｎ＃、ＭｉｎＩＯＮシーケンサ、（Ｏｘｆｏｒｄ Ｎａｎｏｐｏｒｅ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ）は１００ｇを下回る重量であり、例えば、リアルタイム分析を行うために、高速ＵＳＢ３．０ケーブルを用いてＰＣ又はラップトップに接続する。

重量が軽く、平坦かつ平滑である上面及び底面の両面を有し得るようなテストデバイスの構造が原因で、このようなデバイスは、テーブル又は実験台のような表面で容易に滑り、及び／又は表面から滑り外れ得る。テストデバイスは、液体サンプルを使用し、フルイディクス（流体工学）を必要とするため、わずかな動きがテストデバイス、サンプル、及び／又は結果に影響を与え得る。動き及びそのような動きから続く振動は、例えば、デバイスを保持しているテーブルに使用者が誤ってぶつかる場合、サンプルを変化させ、そのテストの手順及び結果にエラーを生み出し得る。テストの継続期間は、数分から数時間、数日の範囲があり、（複数の）使用者はテストが中断されないように確かめるため、継続的にデバイスを監視する必要があり得る。エラーが発生したとき、デバイス内で任意のサンプルが汚染される、又は、もはや使用できなくなることがある。次に、（複数の）使用者は、サンプルを再収集し、かつテストを再度行う必要があることがあり、効率に影響を与える。

テストデバイス、例えば、ＭｉｎＩＯＮシーケンサは、外部電源から熱を必要とする。熱は、外部演算装置、例えば、コンピュータ又はラップトップから提供され得る。ＵＳＢコードは、テストデバイスを加熱するために、ラップトップにテストデバイスを接続し得る。外部演算装置が少量の熱を生成するため、テストデバイスを加熱し温度を維持することは困難であり得る。上記のように、テストデバイスは、実験台上に配置されてよく、研究室は、例えば、華氏６３度（摂氏１７．２度）から華氏６５度（摂氏１８．３度）のような低温で維持されてよい。これらの要因は、テストデバイスの温度に影響を与え得る。例えば、テスト全体にわたって、テストデバイスを長時間継続して加熱し得ると、その温度は、実験台の低温によって変動し得る。

流体サンプルは、テストデバイス内に装填され、一度、適切な温度まで加熱される。テストデバイスの温度を維持するために、ＵＳＢコードは、サンプルを装填している間及びテストの継続期間にわたって、テストデバイスとラップトップとを接続する。しかし、テストデバイスにＵＳＢコードが接続されると、テストデバイスが容易に滑るため、テストデバイスに装填することは困難であり得る。使用者は、装填領域を露出するためにテストデバイスの蓋を開けてその後にサンプルを装填する間、テストデバイスを安定に保持する必要があり得る。この装填する工程の間及びテストの継続期間にわたって、外部の力、例えば、ヒューマンエラー、テストデバイスの動きは、ＵＳＢコード接続を解除し得る。

従って、本開示は、適切な安定性でデバイスを保持し、及び／又はテストデバイスに対して安定した表面を提供し、かつテストの継続期間全体にわたってテストデバイスを保護するサポートホルダの様々な実施形態を対象とする。

本開示の実施形態は、サポートホルダに関し、特に、テストデバイス、例えば、シーケンサに対するサポートホルダに関する。いくつかの実施形態において、サポートホルダは、重みを付したインサート（図示無し）を含むよう構成され得る。例えば、重みを付したインサートは、サポートホルダの内部領域内に挿入され得る。テストデバイスは、重みを付したインサートがテストデバイスの直下に存在するように、サポートホルダの上に配置され得る。上述のように、従来のテストデバイスは通常では軽量であるため、重みを付したインサートの使用がテストデバイスの軽さに対抗し得る。テストデバイスの軽さに対抗することで、重みを付したインサートは、サポートホルダ、ひいては、サポートホルダ、テストデバイス、及びサンプルの組み合わせ全体が、滑り及び／又は転倒することを抑制するのに役立つことがある。

本開示の別の実施形態において、サポートホルダは、ベースから離間するように延び、かつベースを支持する複数の突起を含み得る。これらの複数の突起は、サポートホルダの幅を増加し、テストデバイスの重さをサポートホルダ全体で均等に分散可能にし得る。これらの複数の突起は、サポートホルダが移動により変動することをさらに抑制し、かつ、テストデバイスとサンプルホルダが配置される実験面、例えば、実験台との間の空間を維持することで熱損失を抑制するために、例えば、各突起の裏側に、防滑材も含み得る。サポートホルダを使用するために、使用者は、テストデバイスをサポートホルダのベース上に配置してよく、ベースの内部に重みを付したインサートを配置してもよい。代わりに、重みを付したインサートが、ベースの内部に事前に配置されてよく、ベースの一部として形成されてよい。次に、使用者は、普段行うように、テストを始めるためにテストデバイスを構成し得る。例えば、テストデバイスは、上述のように、テストデバイスを加熱するために、使用者が、外部演算装置、例えば、ラップトップ又はデスクトップコンピュータへ接続し得るＵＳＢポートを含み得る。次に、使用者は、テストデバイスがサポートホルダによって支持かつ保護されている間に、必要なテストを行い得る。

図１は、テストデバイスに対するサポートホルダ１００の斜視図を示す。サポートホルダ１００は、ＤＮＡ／ＲＮＡシーケンサのような任意の既知のテストデバイスを収容するように設計され得る。サポートホルダ１００は、ベース１０２及び複数の突起１０４ａ、１０４ｂを含み得る。サポートホルダ１００は、テストデバイスの安定性に役立つ十分な重さのある、及び／又は実験室環境における使用に適した任意の特徴を有する任意の適切な材料で形成され得る。例えば、サポートホルダ１００は、ナイロンカーボンファイバー材及び／又は他の耐薬品性材で形成され得る。複数の突起１０４は、任意の天然又は合成の防滑材、例えば、ネオプレンのようなゴム材、及び／又は塩化ポリビニルのようなプラスチック材で形成されることがあり、又はそれを含むことがある。

ベース１０２は、第１の複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ及び第２の複数の側壁１０８ａ、１０８ｂを含み得る。第１の複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ及び第２の複数の側壁１０８ａ、１０８ｂは、ベース１０２内に空洞１１０を規定し得る。空洞１１０は、テストデバイスの一部分を受けるために表面１１０ａを含むように構成され得る。空洞１１０は、テストデバイスの一部分を収容するための任意の適切な大きさ及び／又は形状であり得る。テストデバイスは、テストデバイスが安定かつ安全であるように、空洞１１０に正確に嵌入するべきである。例えば、空洞１１０及びテストデバイスは、テストデバイスの外部と複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ、１０８ａ、１０８ｂとの間に限られたスペースがある、又はスペースが無いように適合し得る。例えば、空洞１１０及びテストデバイスは、テストデバイスの外部と複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ、１０８ａ、１０８ｂとの間に無視できるほどの隙間が存在することがある固定された中間ばめ、又はテストデバイス及びベース１０２が、軽い押圧力によって取り付けられ、又は取り外され得るわずかな締まりばめを有し得る。図１において、空洞１１０は、実質的に矩形状である。しかし、他の実施形態では、空洞１１０が、テストデバイスの一部分を収容するのに十分な大きさの空間を規定する限り、空洞１１０は、実質的に正方形、楕円形、又は任意の他の適切な形状であり得る。さらに、ベース１０２は、丸みを帯びた又は鋭い角及び／又は端を有し得る。表面１１０ａは、表面１１０ａ上に均等にテストデバイスが配置されることを許容するために、実質的に平らであり得る。他の実施形態では、表面１１０ａは、テストデバイスが表面１１０ａ上及び空洞１１０内に適切に嵌まる限り、任意の適切な形状であり得る。

いくつかの実施形態において、第１の複数の側壁１０６ａ、１０６ｂは、第１の長さ６０２（図６に示す）を有してよく、第１の長さ６０２は、約２０ｍｍから約５０ｍｍの範囲であってよい。例えば、第１の長さ６０２は、約２５ｍｍから約４５ｍｍの範囲であってよく、又は約３０ｍｍから約４０ｍｍの範囲であってよい。例えば、第１の長さ６０２は、約５０ｍｍ、約４５ｍｍ、約４０ｍｍ、約３５ｍｍ、又は約３０ｍｍであり得る。少なくとも一例において、第１の長さ６０２は、４０．１５ｍｍのような約４０ｍｍと約４１ｍｍとの間であり得る。いくつかの実施形態において、第２の複数の側壁１０８ａ、１０８ｂは、第２の長さ６０４（図６に示す）を有し、第２の長さ６０４は、約９０ｍｍから約１３０ｍｍの範囲であり得る。例えば、第２の長さ６０４は、約９５ｍｍから約１２５ｍｍの範囲であってよく、又は約１００ｍｍから約１２０ｍｍの範囲であってよい。例えば、第２の長さ６０４は、約１３０ｍｍ、約１２５ｍｍ、約１２０ｍｍ、約１１５ｍｍ、約１１０ｍｍ、約１０５ｍｍ、又は約１００ｍｍであり得る。少なくとも一例において、第２の長さ６０４は、１１２．４５ｍｍのような約１１２ｍｍと約１１３ｍｍとの間であり得る。本開示のいくつかの実施形態において、第２の長さ６０４は、第１の長さ６０２より長くてよい。

いくつかの実施形態において、複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ、１０８ａ及び１０８ｂは、約６．０ｍｍから約８．０ｍｍの範囲の厚さ６０６（図６に示す）を有し得る。例えば、厚さ６０６は約６．２ｍｍから約７．５ｍｍの範囲であってよく、又は約６．４ｍｍから約７．０ｍｍの範囲であってよい。少なくとも一例において、厚さ６０６は、６．４９ｍｍのような約６．４ｍｍと約６．５ｍｍとの間であり得る。いくつかの実施形態において、複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ、１０８ａ、及び１０８ｂは、約２０ｍｍから約３０ｍｍの範囲の高さ４０２（図４に示す）を有し得る。例えば、高さ４０２は、約２２ｍｍから約２８ｍｍの範囲であってよく、又は約２４ｍｍから約２６ｍｍの範囲であってよい。例えば、高さ４０２は、約２０ｍｍ、約２１ｍｍ、約２２ｍｍ、約２３ｍｍ、約２４ｍｍ、約２５ｍｍ、約２６ｍｍ、約２７ｍｍ、約２８ｍｍ、約２９ｍｍ、又は約３０ｍｍであり得る。少なくとも一例において、高さ４０２は、２５ｍｍであり得る。サポートホルダ１００に対する様々な例示的な寸法が本明細書に示されたが、サポートホルダ１００は、テストデバイスを保持しかつ支持するため、及び／又は本開示の他の（複数の）目標を達成するために、任意の適切な寸法を有し得ることは理解されるべきである。

サポートホルダ１００は、ベース１０２から離間するように延び、サポートホルダ１００の全体の幅を増加させることがある複数の突起１０４ａ、１０４ｂを含んでよい。複数の突起１０４ａ、１０４ｂ及びサポートホルダ１００の広い足場の使用は、サポートホルダ１００の安定性を増加し得る。例えば、テストデバイスが空洞１１０の上に配置されたとき、テストデバイスの重量は、複数の突起によるサポートホルダ１００の広い足場のおかげで、サポートホルダ１００の全体でより均等に分散され得る。複数の突起１０４ａ、１０４ｂは、例えば、実験台のような表面上でベース１０２及びテストデバイスを上昇させることもある。上記のように、実験台の低温は、テストデバイスの温度に影響を与え得る。テストデバイスを上昇させ、テストデバイスと実験台との間に間隔を生み出すことによって、テストデバイスはより速く加熱され、望ましい温度を維持することが可能になり得る。これは、温度の変動がサンプル及びテスト結果に悪影響を与え得るため、テストの継続期間全体にわたって、効率を高め得る。

サポートホルダ１００が安定であり、かつサポートホルダ１００上に配置された任意の重さが均等に分散される限り、複数の突起の数は、変わり得る。図１に示すように、ベース１０２は、第１の対の突起１０４ａ及び第２の対の突起１０４ｂを含むことがあり、第１の対の突起１０４ａは、第２の複数の側壁１０８ａのうちの一方の側壁から延びることがあり、第２の対の突起１０４ｂは、第２の複数の側壁１０８ｂのうちの他方の側壁から延びることがある。

図１を参照すると、各突起１０４ａ、１０４ｂは、脚部１１８ａ、１１８ｂを含むためにハウジング１２０ａ、１２０ｂを含み得る。図に示すように、各ハウジングは、その対応する脚部を受けるように構成され得る。脚部１１８ａ、１１８ｂは下方に延びることが可能であり、サポートホルダ１００に対してサポート及び安定性を提供することが可能である。サポートホルダ１００が表面上に配置されるとき、脚部１１８ａ、１１８ｂはテーブル又は台の表面と直接接触し得る。上記のように、テストデバイスと実験面との間の接触がテストデバイスの温度に影響を与えることがあるため、（複数の）脚部１１８ａ、１１８ｂは、熱損失も抑制し得る。複数の脚部１１８ａ、１１８ｂは、任意の天然又は合成の防滑材を含んでもよく、例えば、ネオプレンのようなゴム材料、及び／又は、又はポリ塩化ビニルのようなプラスチック材料である。（複数の）脚部１１８ａ、１１８ｂの材料及び位置は、サポートホルダ１００が表面上で滑り及び／又は落下することを抑制することがあり、従って、テストデバイスを振動及び／又は移動から保護することが可能である。（複数の）脚部１１８ａ、１１８ｂの材料は、テストデバイスの温度維持にも役立ち得る。（複数の）脚部１１８ａ、１１８ｂは、ハウジング１２０ａ、１２０ｂに受け入れられるように、かつサポートホルダ１００に安定性及び不動性を提供するように任意の適切な形状であり得る。

図２を参照すると、各突起１０４ａ、１０４ｂは、ネック部２１０及び脚部２１２を含み得る。（複数の）ネック部２１０は、（複数の）脚部２１２とベース１０２との間に配置され得る。例えば、図面に示すように、（複数の）ネック部２１０は、（複数の）脚部２１２をベース１０２に連結するように構成され得る。（複数の）ネック部２１０は、平らな表面を有してよく、ベースから（複数の）脚部２１２へ延びてよい。（複数の）ネック部２１０は、第１の高さ２１０ａを有してよく、（複数の）脚部２１２は、第２の高さ２１２ａを有してよい。本開示のいくつかの実施形態において、第２の高さ２１２ａは、第１の高さ２１０ａより高くてもよい。本開示の代替の実施形態において、第１の高さ２１０ａは、第２の高さ２１２ａと同じであり得る。第１の高さ２１０ａは、約１ｍｍから約５ｍｍの範囲であり得る。例えば、第１の高さ２１０ａは約１ｍｍ、約２ｍｍ、約３ｍｍ、約４ｍｍ、又は約５ｍｍであり得る。少なくとも一例において、第１の高さ２１０ａは、３ｍｍであり得る。第２の高さ２１２ａは、約１ｍｍから約１０ｍｍの範囲であり得る。例えば、第２の高さ２１２ａは、約１ｍｍ、約２ｍｍ、約３ｍｍ、約４ｍｍ、約５ｍｍ、約６ｍｍ、約７ｍｍ、約８ｍｍ、約９ｍｍ、又は約１０ｍｍであり得る。第１の複数の側壁１０６ａ、１０６ｂ（側壁１０６ｂは図２に示す）のうちの一方に面する点から見ると、（複数の）ネック部２１０の最外端の間の長さ２１０ｂは、約５０ｍｍから約７０ｍｍの範囲であり得る。例えば、長さ２１０ｂは、約５５ｍｍから約６５ｍｍ、又は約５８ｍｍから約６２ｍｍの範囲であり得る。例えば、長さ２１０ｂは、約５５ｍｍ、約５６ｍｍ、約５７ｍｍ、約５８ｍｍ、約５９ｍｍ、約６０ｍｍ、約６１ｍｍ、約６２ｍｍ、約６３ｍｍ、約６４ｍｍ、又は約６５ｍｍであり得る。少なくとも一例において、長さ２１０ｂは、５９．１０ｍｍのように約５９ｍｍと約６０ｍｍとの間であり得る。

図３を参照すると、第１の複数の側壁１０６ａ、１０６ｂのうちの第１側壁１０６ａは、第１角部１１４ａと第２角部１１４ｂとの間に位置するセンターノッチ１１２を含み得る。センターノッチ１１２は、ベース１０２内の又は部分的にベース１０２内のテストデバイスの頂部を外部装置、例えば、コンピュータと接続することを可能にする開口部として役立ち得る。例えば、テストデバイスは、コンピュータすなわちラップトップと接続するためのケーブルを必要とし得る。テストデバイスが、ベース１０２の空洞１１０内に配置されるとき、センターノッチ１１２は、ケーブルがセンターノッチ１１２を通過し、テストデバイスと接し得るように構成され得る。センターノッチ１１２は、ケーブルがそれを通過し、テストデバイスと接することを可能にし、それによりテストデバイスが、空洞１１０内にぴったりと／適切に嵌入し得る。

図３に示すように、センターノッチ１１２は、テストデバイスとケーブル又はコード、例えば、ＵＳＢコードのようなデータ又は電源コードの適切な接続を可能にする任意の適切な形状であり得る。センターノッチ１１２は、ＵＳＢコードに対する補強として、及び／又はＵＳＢコードとテストデバイスとの間の接続に対する補強としても役立ち得る。テストデバイスは、ベース１０２の表面１１０ａの上に配置され、それによりＵＳＢコードは、ノッチ１１２を通って配置されることがある。上記のように、ＵＳＢコードは、テストデバイスと外部演算装置、例えば、ラップトップとの間の接続として役立ち得る。センターノッチ１１２は、サンプルを装填している間及びテストの継続期間全体にわたってＵＳＢコードの接続が緩くなることを抑制し得る。

いくつかの実施形態において、センターノッチ１１２は、約１５ｍｍから約２０ｍｍの範囲の長さ３０２を有し得る。例えば、センターノッチ１１２は、約１５ｍｍ、約１６ｍｍ、約１７ｍｍ、約１８ｍｍ、約１９ｍｍ、又は約２０ｍｍの長さ３０２を有し得る。少なくとも一例において、センターノッチ１１２は、１６．１０ｍｍのように約１６ｍｍと約１７ｍｍとの間の長さ３０２を有し得る。センターノッチ１１２は、第１角部１１４ａと第２角部１１４ｂとの間に位置し得る。いくつかの実施形態において、センターノッチ１１２は、第１角部１１４ａと第２角部１１４ｂとの間の中心にあってよく、他の実施形態において、センターノッチ１１２は、中央の位置からずれされてよい。さらなる実施形態において、センターノッチ１１２は、複数の側壁のうちの第１側壁１０６ａのような側壁を通過する開口部と置き換えられることがある。

第１角部１１４ａ及び第２角部１１４ｂは、ベース１０２から上方のように、ベース１０２から離間する方向に延び得る。図４及び図５に示すように、第１角部１１４ａ及び第２角部１１４ｂは、第２の複数の側壁１０８ａ、１０８ｂの高さ４０２より高い高さ４０４をそれぞれ有し得る。いくつかの実施形態において、複数の角部１１４ａ、１１４ｂは、第２の複数の側壁１０８ａ、１０８ｂの高さより１０ｍｍ高い高さまでの高さを有し得る。例えば、複数の角部１１４ａ、１１４ｂは、第２の複数の側壁１０８ａ、１０８ｂの高さより約１ｍｍ、約２ｍｍ、約３ｍｍ、約４ｍｍ、約５ｍｍ、約６ｍｍ、約７ｍｍ、約８ｍｍ、約９ｍｍ、又は約１０ｍｍ高い高さを有してよい。複数の角部１１４ａ、１１４ｂは、テストデバイスを適切に嵌める任意の適した形状であり得る。少なくとも一例において、及び図１に示すように、複数の角部１１４ａ、１１４ｂは、湾曲した形状であり得る。

再度図１を参照すると、第１の複数の側壁のうちの第２側壁１０６ｂは、取り外し可能部１１６を含み得る。取り外し可能部１１６は、ベース１０２の内部７０２（図７）の開口部２０２（図２）を覆うように構成され得る。例えば、取り外し可能部１１６は、ベース１０２から完全に取り外し可能であり得る。言い換えると、使用者が開口部２０２を露出することを望むとき、取り外し可能部１１６は、ベース１０２から取り外され得る（図２に示す）。代わりに、取り外し可能部１１６は、開口部２０２を露出するためにスライドすることがあり、例えば、取り外し可能部１１６は、開口部２０２が露出される間に、取り外し可能部１１６がベース１０２に取り付けられたままであるように、上方又は下方にスライドし得る。別の例において、取り外し可能部１１６は、開口部２０２を露出するために単に折れ曲がって開くことがあり、例えば、取り外し可能部１１６は、それが折れ曲がって開くことを可能にするヒンジを有することがある。

図２を参照すると、開口部２０２は、複数の角部２０４ａ、２０４ｂの間に存在し得る。開口部２０２は、重みを付したインサート（図示無し）の配置を許容し得る。開口部２０２は、ベース１０２の内部７０２（図７に示す）に重みを付したインサートの挿入を可能にするように構成される任意の適した形状であり得る。開口部２０２は、実質的に円形状又は実質的に矩形状、又は任意の他の適した形状であり得る。図２は、実質的に円形状の例示的な開口部２０２を示す。開口部２０２はベース１０２の内部７０２（図７に示す）を通って少なくとも部分的に延び得る。少なくとも一例において、開口部２０２は、第１側壁１０６ａから第２側壁１０６ｂへ延び得る。開口部２０２が第１側壁１０６ａから第２側壁１０６ｂへ延び得る実施形態において、内部７０２は、空であり得る（すなわち、中空）。下記のように、重みを付したインサートは、内部７０２へ挿入され得る。代わりに、重みを付したインサートは、ベースの内部へ事前に配置されることがあり、又はベースの一部として形成されることがある。

上述のように、重みを付したインサート（図示無し）は、テストデバイスの軽量に対抗し得る。重みを付したインサートは、重みを付したインサートが、開口部２０２を通ってかつ内部７０２へ適切に配置され得るように、任意の適切な重さを有し得る。重みを付したインサートは約０．１０ポンド（４５．４ｇ）以上の重さを有し得る。例えば、重みを付したインサートの重さは、約０．１２ポンド（５４．４ｇ）、約０．１５ポンド（６８．０ｇ）、又は約０．２０ポンド（９０．７ｇ）以上であり得る。少なくとも一例において、重みを付したインサートの重さは、約０．２０ポンド（９０．７ｇ）と約０．２５ポンド（１１３．４ｇ）との間のように、約０．２０ポンド（９０．７ｇ）と約０．３０ポンド（１３６．１ｇ）との間であり得る。重みを付したインサートは、開口部２０２及び内部７０２に嵌入するように適切に構成された任意の形状であり得る。いくつかの実施形態において、例えば、重みを付したインサートは、実質的に正方形状又は実質的に矩形状であり得る。少なくとも一例において、重みを付したインサートは、棒状の形状であり得る。重みを付したインサートは、適切な密度及び耐腐食性を有する任意の適切な材料で形成され得る。適切な複数の材料は、高い密度を有し得る。さらに、適切な複数の材料は、耐腐食性、耐毒性、及び耐汚染性を有し得る。例えば、重みを付したインサートは、ステンレス鋼、砂、水、鉛、白金、粘土、モリブデン、水銀、イリジウム、オスミウム、ウラン、タングステン、チタン、ニッケル、炭素、類似の金属、非金属、又はそれらの組み合わせで形成され得る。少なくとも一例において、重みを付したインサートは、炭化タングステンで形成され得る。

いくつかの実施形態において、少なくとも一つの側壁１０６ａ、１０６ｂ、１０８ａ、１０８ｂは、少なくとも一つの空気孔１２２（図１、図４、及び図５において複数の側壁１０８ａ、１０８ｂに示す）を含み得る。複数の空気孔１２２は、任意の適した形状であってよく、任意の適した数が存在してよい。図１に示すように、表面１１０ａは、少なくとも一つの空気孔又は複数の空気孔１２２と連通する少なくとも一つの空洞１２４を含み得る。図６は、複数の空洞６０８ａ、６０８ｂの上面図を示す。（複数の）空気孔１２２及び対応する空洞６０８ａ、６０８ｂは、テストデバイスの冷却を使用中に許容し、テストデバイスへ長いテストの継続期間にわたってテストの実行を許容してよく、テストデバイスの過熱及び／又は損傷を抑制することに役立つことができる。

上記の説明及び例は、一例であるが、制限されることを意図しない。当業者は、本発明の一般的な範囲から逸脱することなく、多くの修正及び／又は変更をし得る。例えば、参照されているように、上述の実施形態の態様は、互いに任意の適した組み合わせに用いられ得る。さらに、上述の実施形態の部分は、本発明の範囲から逸脱することなく取り除かれ得る。加えて、修正は、特定の状況又は態様をそれらの範囲から逸脱することなく様々な実施形態の教示に適合させるために行われ得る。多くの他の実施形態は、上述の説明を審査する当業者に対しても明らかにするだろう。

Claims (20)

1. テストデバイスのためのサポートホルダであって、
   第１の長さを有する第１の複数の側壁と、第２の長さを有する第２の複数の側壁と、を有するベースであって、前記第２の長さは、前記第１の長さより長く、前記第１の複数の側壁及び前記第２の複数の第２の側壁は前記ベース内に空洞を規定し、前記空洞は前記テストデバイスの一部分を受け入れるための表面を含む前記ベースと、
   前記ベースから離間するように延びる複数の突起であって、前記複数の突起のうちの第１の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの一方の側壁から延び、前記複数の突起のうちの第２の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの他方の側壁から延び、前記複数の突起の各突起は、脚部と関連するように構成される前記複数の突起と、を備え、
   前記第１の複数の側壁のうちの第１側壁は、第１角部と第２角部との間に位置するセンターノッチを含み、前記第１の複数の側壁のうちの第２側壁は、前記ベースの内部に通じる開口部を覆うように構成される取り外し可能部を含む、サポートホルダ。
2. 前記開口部は、前記第１の複数の側壁のうちの前記第１側壁から前記第１の複数の側壁のうちの前記第２側壁へ向かい、前記ベースの前記内部を少なくとも部分的に通って延びる、請求項１に記載のサポートホルダ。
3. 前記複数の突起の各突起は、前記脚部を受け入れるためのハウジングを含む、請求項１に記載のサポートホルダ。
4. 前記脚部は防滑材を含む、請求項１に記載のサポートホルダ。
5. 前記第１の複数の側壁の前記第１の長さは、約２０ｍｍから約５０ｍｍの範囲である、請求項１に記載のサポートホルダ。
6. 前記第２の複数の側壁の前記第２の長さは、約９０ｍｍから約１３０ｍｍの範囲である、請求項１に記載のサポートホルダ。
7. 前記複数の側壁は、約６ｍｍから約８ｍｍの範囲の厚さを有する、請求項１に記載のサポートホルダ。
8. 前記複数の側壁は、約２０ｍｍから約３０ｍｍの範囲の高さを有する、請求項１に記載のサポートホルダ。
9. 前記第１角部及び前記第２角部は、前記第２の複数の側壁の高さより約５ｍｍ高い高さをそれぞれ有する、請求項１に記載のサポートホルダ。
10. 前記表面は、複数の空気孔と連通する空洞を含む、請求項１に記載のサポートホルダ。
11. 前記複数の突起の各突起は、第１の高さを有するネック部を含み、前記脚部は第２の高さを有し、前記第２の高さは、前記第１の高さより高く、前記ネック部は前記脚部と前記ベースとの間に配置される、請求項１に記載のサポートホルダ。
12. 前記センターノッチは、約１５ｍｍから約２０ｍｍの範囲の長さを有する、請求項１に記載のサポートホルダ。
13. テストデバイスのためのサポートホルダであって、
    第１の長さを有する第１の複数の側壁と、第２の長さを有する第２の複数の側壁と、を有するベースであって、前記第２の長さは、前記第１の長さより長く、前記第１の複数の側壁及び前記第２の複数の第２の側壁は前記ベース内に空洞を規定し、前記空洞は前記テストデバイスの一部分を受け入れるための表面を含む前記ベースと、
    前記ベースから離間するように延びる複数の突起であって、前記複数の突起のうちの第１の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの一方の側壁から延び、前記複数の突起のうちの第２の対の突起は、前記第２の複数の側壁のうちの他方の側壁から延び、前記複数の突起の各突起は、脚部と関連するように構成される前記複数の突起と、を備え、
    前記複数の突起の各突起は、前記脚部を受けるためのハウジングと、第１の高さを有するネック部と、第２の高さを有する前記脚部と、を備え、前記第２の高さは、前記第１の高さより高い、サポートホルダ。
14. 前記第１の複数の側壁のうちの第１側壁は、第１角部と第２角部との間に位置するセンターノッチを含む、請求項１３に記載のサポートホルダ。
15. 前記第１の複数の側壁のうちの第２側壁は、前記ベースの内部に通じる開口部を覆うように構成される取り外し可能部を含む、請求項１４に記載のサポートホルダ。
16. 前記開口部は、前記第１の複数の側壁のうちの前記第１側壁から前記第１の複数の側壁のうちの前記第２側壁へ向かい、前記ベースの前記内部を少なくとも部分的に通って延びる、請求項１５に記載のサポートホルダ。
17. 重みを付したインサートは、前記ベースの前記内部に配置される、請求項１６に記載のサポートホルダ。
18. 前記第１の複数の側壁の前記第１の長さは、約２０ｍｍから約５０ｍｍの範囲である、請求項１３に記載のサポートホルダ。
19. 前記第２の複数の側壁の前記第２の長さは、約９０ｍｍから約１３０ｍｍの範囲である、請求項１３に記載のサポートホルダ。
20. 前記第２の複数の側壁の各側壁は、空気孔を含む、請求項１３に記載のサポートホルダ。

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