JP2022522210A - ガス透過性スーパーストレート及びその使用方法 - Google Patents

ガス透過性スーパーストレート及びその使用方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2022522210A
JP2022522210A JP2021550274A JP2021550274A JP2022522210A JP 2022522210 A JP2022522210 A JP 2022522210A JP 2021550274 A JP2021550274 A JP 2021550274A JP 2021550274 A JP2021550274 A JP 2021550274A JP 2022522210 A JP2022522210 A JP 2022522210A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
super straight
layer
amorphous fluoropolymer
substrate
flattening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2021550274A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7265830B2 (ja
Inventor
ジェームズ ピー. ディヤング
ウェイジュン リウ
フェン ワン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Publication of JP2022522210A publication Critical patent/JP2022522210A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7265830B2 publication Critical patent/JP7265830B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/161Coating processes; Apparatus therefor using a previously coated surface, e.g. by stamping or by transfer lamination
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02112Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
    • H01L21/02118Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer carbon based polymeric organic or inorganic material, e.g. polyimides, poly cyclobutene or PVC
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/31051Planarisation of the insulating layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67057Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
  • Silicates, Zeolites, And Molecular Sieves (AREA)

Abstract

ガス透過性スーパーストレートおよびそれを用いる方法が開示される。スーパーストレートは、本体と、本体上の非晶質フルオロポリマー層とを含むことができる。平坦化の方法は、基板上に平坦化前駆体材料を分配し、平坦化前駆体材料をスーパーストレートに接触させることを含むことができる。一実施形態では、基板は不均一な表面トポグラフィを含む。この方法はまた、平坦化前駆体材料を硬化させて基板上に平坦化層を形成するステップを含むことができ、ここで、スーパーストレートが平坦化前駆体材料と接触している間に硬化を行うことができる。【選択図】図4

Description

本開示は、基板処理に関し、特に半導体製造における表面の平坦化に関する。
平坦化技術は半導体ウエハ上に電子デバイスを作製するのに有用である。そのような技術は、形成可能な材料をウエハ上に堆積するための流体分配システムの使用を含むことができる。スーパーストレートは、分配された材料がウエハ上で固化する前に、分配された材料を平坦化および/またはパターン化する。
しかしながら、スーパーストレートを、基板上の分配材料から分離するときに、欠陥が生じ得る。平坦化技術の改善は、ウエハ全体の処理を可能になるように望まれている。
一態様では、スーパーストレートは、接触表面を有する本体と、本体の接触表面上の非晶質フルオロポリマー層とを含むことができる。非晶質フルオロポリマー層は、原子質量が4より大きいガスに対して透過性であり得る。
別の態様では、非晶質フルオロポリマーは、ジオキソラン環を含むことができる。
さらに別の態様では、非晶質フルオロポリマーは、ペルフルオロジオキソールテトラフルオロエチレン共重合体を含むことができる。
別の態様では、非晶質フルオロポリマーは、パーフルオロ(3-ブテニルビニルエーテル)のコポリマーを含むことができる。
さらなる態様において、本体は、接触表面と非晶質フルオロポリマー層との間に炭化水素ポリマー層を含むことができる。
別の態様では、炭化水素ポリマー層は、ポリトリメチルシリルプロピン、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネートポリマー、ポリイミド、およびそれらの任意の組み合わせを含むことができる。
別の態様では、非晶質フルオロポリマー層は、少なくとも20mN/mおよび40mN/m以下の臨界表面張力を有することができる。
さらに別の態様において、非晶質フルオロポリマー層は、-(CXY-CF-)a-(-Z-)b-を含むことができ、ここで、XおよびYは、F、Cl、またはHを含むことができ、Zは、少なくとも1つのC-O-C結合を含む4員、5員、または6員のフルオロカーボン環構造を含むことができる。
別の態様では、非晶質フルオロポリマー層は、窒素、酸素、およびアルゴンに対して透過性である。
さらに別の態様では、非晶質フルオロポリマー層は、1.0×10-10cm*cm/cm*S*cmHgより大きい酸素透過係数を有する。
別の態様では、平坦化の方法が開示される。本方法は、基板上に平坦化前駆体材料を分配するステップを含むことができ、基板は、不均一な表面トポグラフィを含み、平坦化前駆体材料をスーパーストレートと接触させる。スーパーストレートは、接触表面を有する本体と、本体の接触表面上の非晶質フルオロポリマー層とをさらに含むことができる。非晶質フルオロポリマー層は、原子質量が4より大きいガスに対して透過性であり得る。この方法はまた、平坦化前駆体材料を硬化させて基板上に平坦化層を形成するステップを含むことができ、ここで硬化は、スーパーストレートが平坦化前駆体材料と接触している間に行うことができる。
別の態様において、本方法は、平坦化前駆体材料をスーパーストレートの本体に接触させる前に不活性ガスを流すことを含むことができる。
さらに別の態様では、不活性ガスは、酸素、窒素、アルゴン、またはそれらの任意の組み合わせを含む。
別の態様では、不活性ガスはヘリウムを含まない。
別の態様では、非晶質フルオロポリマーはジオキソラン環を含む。
さらに別の態様では、非晶質フルオロポリマーは、ペルフルオロジオキソールテトラフルオロエチレン共重合体を含む。
さらに別の態様では、非晶質フルオロポリマーは、パーフルオロ(3-ブテニルビニルエーテル)のポリマーまたはコポリマーである。
別の態様では、非晶質フルオロポリマー層は、窒素、酸素、およびアルゴン、またはそれらの任意の組み合わせに対して透過性である。
さらに別の態様では、製造方法が開示される。製造方法は、基板上に形成可能な材料を分配し、基板上の形成可能な材料をスーパーストレートと接触させて平面層を形成することを含むことができる。前記スーパーストレートは、接触表面を有する本体と、前記表面上の非晶質フルオロポリマー層とをさらに含むことができる。非晶質フルオロポリマー層は、原子質量が4より大きいガスに対して透過性であり得る。この方法はまた、平坦化前駆体材料を硬化させて基板上に平坦化層を形成するステップを含むことができ、硬化はスーパーストレートが平坦化前駆体材料と接触している間に行われる。製造方法はまた、スーパーストレートと基板上の平面層とを分離するステップと、平面層が形成された基板を処理するステップと、処理された基板から物品を製造するステップとを含むことができる。
実施形態は、例として図示され、添付の図面に限定されない。
図1は、例示的なシステムの側面図を含む。 図2は、一実施形態による、スーパーストレートの側面図を含む。 図3Aは、一実施形態による、図1のシステムのスーパーストレートで使用される一般的な構造の図を含む。 図3Bは、一実施形態による、図1のシステムのスーパーストレートで使用される一般的な構造の図を含む。 図4は、本開示の方法の説明図を含む。 図5は、種々の組成物についての動的分子径の関数としての透過係数の説明図を含む。
当業者は、図中の要素が単純さと明瞭さのために図示され、必ずしも縮尺通りに描かれていないことを理解する。例えば、図中のいくつかの要素の寸法は、本発明の実施形態の理解を向上させるのに役立つように、他の要素に対して誇張され得る。
図面と組み合わせた以下の説明は、本明細書に開示される教示の理解を助けるために提供される。以下の説明は、教示の特定の実施形態および実施形態に焦点を当てる。この焦点は、教示の記述を助けるために提供され、教示の範囲又は適用可能性の制限として解釈されるべきではない。
別段の定義がない限り、本明細書で使用されるすべての技術的および科学的用語は、本発明が属する当業者によって一般に理解されるものと同じ意味を有する。材料、方法、および実施例は、単に例示的であり、限定することを意図していない。本明細書に記載されていない範囲において、特定の材料および加工行為に関する多くの詳細は、慣用的なものであり、教科書および当技術分野内の他の情報源に見出すことができる。
図1を参照すると、本明細書に記載する実施形態による装置10を使用して、基板12を平坦化することができる。基板12は、シリコンウエハなどの半導体基材であってもよいが、ガラス、サファイア、スピネルなどの絶縁基材を含んでもよい。基板12は、基板ホルダ14に結合することができる。基板ホルダ14は、真空チャックであってもよい。しかしながら、他の実施形態では、基板ホルダ14は、真空、ピン型、溝型、静電、電磁等を含む任意のチャックであってよい。基板12および基板ホルダ14は、ステージ16によってさらに支持されてもよい。ステージ16は、X、Y、またはZ方向に沿った並進運動または回転運動を提供することができる。ステージ16、基板12、および基板ホルダ14は、ベース(図示されない)上に配置されてもよい。
基板12から間隔を置いて配置されるのは、スーパーストレート18であり得る。スーパーストレート18は、第一の側面および基板12に面している第二の側面を有する本体を含むことができる。一実施形態によると、メサは第2の側面(示されていない)から延びていてもよい。別の実施形態では、図1に示すように、スーパーストレート18はメサなしで形成されえる。スーパーストレート18は、ガラス系材料、シリコン、スピネル、溶融シリカ、石英、シリコン、有機ポリマー、シロキサンポリマー、フルオロカーボンポリマー、金属、硬化サファイア、その他の類似材料、またはそれらの任意の組合せを含むそのような材料から形成されえる。ガラス系材料としては、ソーダ石灰ガラス、ホウ珪酸ガラス、アルカリバリウム珪酸ガラス、アルミノ珪酸ガラス、石英、合成溶融シリカ等が挙げられる。スーパーストレート18は、堆積酸化物、陽極酸化アルミナ、有機シラン、有機ケイ酸塩材料、有機ポリマー、無機ポリマー、およびそれらの任意の組み合わせを含むことができる。以下により詳細に説明するように、スーパーストレート18は、層210を含むことができる。スーパーストレート18の本体は、30ミクロンから2000ミクロンの範囲の厚さを有することができる。
スーパーストレート18は、単一または複数ピース構造を含むことができる。一実施形態では、スーパーストレートまたはそのメサの表面は、平面接触表面を含むことができる。別の実施形態では、接触面は、基板12上に形成されるパターンの基礎を形成する任意の元のパターンを画定する特徴を含むことができる。
とりわけ、スーパーストレート18は、基板12上に堆積された形成可能な材料を平坦化するために使用することができる。スーパーストレート18は、スーパーストレート・ホルダー28に結合することができる。スーパーストレート18は、スーパーストレート・ホルダー28によって保持され、その形状が調節される。スーパーストレート・ホルダー28は、チャック領域内にスーパーストレート18を保持するように構成することができる。スーパーストレート・ホルダー28は、真空、ピン型、溝型、静電、電磁、または他の同様のホルダー型として構成することができる。一実施形態では、ホルダー28の様々なゾーンに正または真空のいずれかの圧力を加えることによって、スーパーストレート18の形状を調整してスーパーストレート・ホルダー28を使用することができる。一実施形態では、スーパーストレート・ホルダー28は、スーパーストレート・ホルダー28の本体内に透明窓を含むことができる。一実施形態によると、スーパーストレート・ホルダー28は、ヘッド26に連結されて、スーパーストレート・ホルダー28またはヘッド26が、X、YまたはZ方向に沿ったスーパーストレート18の並進運動または回転運動を容易にすることができる。一実施形態では、スーパーストレート18は、基板12とほぼ同じ表面積を有することができる。一実施形態では、基板12およびスーパーストレート18は、300mmの直径を有してもよい。一実施形態では、基板12およびスーパーストレート18は、300mm~600mmの直径を有することができる。一実施形態では、基板12およびスーパーストレート18は、300mm~450mmの直径を有することができる。別の実施形態では、基板12およびスーパーストレート18は、450mm~600mmの直径を有することができる。
装置10は、基板12の表面上に形成可能な材料34を堆積するために使用される流体分配システム32をさらに含むことができる。例えば、形成可能な材料34は、レジストまたは樹脂などの重合可能な材料を含むことができる。形成可能な材料34を、液滴分配、スピンコーティング、ディップコーティング、化学気相成長(CVD)、物理気相成長(PVD)、薄膜成長、厚膜成長、またはそれらの組み合わせなどの技術を使用して、基板12上の一つ以上の層に配置することができる。形成可能な材料34は、所望の容積がスーパーストレート18と基板12との間に画定される前または後に、基板12上に分配され得る。形成可能な材料34は、紫外線、熱などを用いて硬化可能なモノマーまたはオリゴマー混合物を含むことができる。
システム10は、経路42に沿って直接エネルギー40に結合されたエネルギー源38をさらに含むことができる。ヘッド26及びステージ16は、スーパーストレート18及び基板12を経路42で重ね合わせて位置決めするように構成することができる。システム10は、ステージ16、ヘッド26、流体分配システム32、またはエネルギー源38と通信する論理素子54によって調整することができ、コンピュータ読み取り可能なプログラム上で動作してもよく、場合によってはメモリ56に格納されてもよい。論理素子54は、プロセッサ(例えば、マイクロプロセッサまたはマイクロコントローラの中央処理装置)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、特定用途向け集積回路(ASIC)などであってもよい。プロセッサ、FPGA、またはASICを装置内に配置することができる。別の実施形態(図示されない)では、論理素子は、装置10の外部のコンピュータであってもよく、装置10に双方向に結合される。
図2は、一実施形態による、スーパーストレート18の側面図を含む。スーパーストレート18は、本体220および層210を含むことができる。スーパーストレート18の本体220は、ガラス系材料、シリコン、スピネル、溶融シリカ、石英、シリコン、有機ポリマー、シロキサンポリマー、フルオロカーボンポリマー、金属、硬化サファイア、その他の類似材料、またはそれらの任意の組み合わせを含む材料から形成されてもよい。ガラス系材料としては、ソーダ石灰ガラス、ホウ珪酸ガラス、アルカリバリウム珪酸ガラス、アルミノ珪酸ガラス、石英、合成溶融シリカ等が挙げられる。層210は、非晶質フルオロポリマー層であり得る。一実施形態では、層210は、ペルフルオロジオキソール四フッ化エチレン共重合体を含むことができる。一実施形態では、層210はジオキソラン環を含むことができる。一実施形態では、層210は、-(CXY-CF-)a-(-Z-)b-を含む化学構造を含むことができ、ここで、XおよびYは、F、Cl、またはHであり、Zは、少なくとも1つのC-O-C結合を含む4員、5員、または6員のフルオロカーボン環構造であり得る。別の実施形態では、層210は、図3Aに見られるような、2,2-ビストリフルオロメチル-4,5-ジフルオロ-1,3-ジオキソール(PDD)のコポリマーを含むことができる。一実施形態では、層210は、-(CF-Z-CF)-を含む化学構造を含むことができ、ここで、XおよびYは、F、Cl、またはHであり、Zは、図3Bに見られるように、少なくとも1つのC-O-C結合を含む4員、5員、または6員フルオロカーボン環構造であり得る。一実施形態では、層210は、以下に見られる式1のモノマーを含むことができる。
Figure 2022522210000002
一実施形態では、層210は、ペルフルオロ(3-ブテニルビニルエーテル)CF=CF-O-CFCFCF=CFを用いて作製されたポリマーを含むことができる。一実施形態では、層210は、l00nmより大きい厚さ、例えば300nmより大きい、500nmより大きい、1ミクロンより大きい、または2ミクロンより大きい厚さを有することができる。別の実施形態では、層210は、5ミクロン未満、例えば4ミクロン未満、または3ミクロン未満の厚さを有することができる。別の実施形態では、層210は、l00nmから5ミクロンの間の厚さを有することができる。別の実施形態では、層210は、窒素、酸素、ヘリウム、およびアルゴンに対して透過性であるようにガスに対して透過性であり得る。別の実施形態では、層210は、l×10-10cm*cm/cm*cmHgより大きい酸素透過係数を含むことができる。一実施形態では、層210は、スーパーストレート18の本体220上にある。別の実施形態では、スーパーストレートは、本体220と層210との間に複数の層を含むことができる。例えば、一実施形態では、スーパーストレートは、本体220、層210、および本体220と層210との間の炭化水素ポリマー層を含むことができる。一実施形態では、炭化水素ポリマー層は、ポリトリメチルシリルプロピン(PTMSP)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリカーボネートポリマー、ポリイミド、またはそれらの任意の組合せを含むことができる。
特に、スーパーストレート18は、基板12上に形成可能な材料を平坦化するために使用することができる。経時的に、連続使用は、スーパーストレート18の表面を摩耗させる。
従来、スーパーストレート18は、破損が生じた後に交換される。しかしながら、本発明者らは、平坦化を可能にするために必要な種々の要件、特にレジスト材料が液滴として基板上に分配される平坦化技術、例えばインクジェット適応平坦化(IAPプロセス)を強化しつつ、基板18の表面を保護することができるコーティング層を見出した。IAPプロセスは、特に、平坦化中に基板に転写される欠陥を低減するためにガスを使用することができるので、使用される任意の層は、使用されるガスに対して透過性である必要がある。多くのプロセスは、需要が高く、供給が少なく、したがって高価なガスを使用する。このように、IAPを可能にするために必要なすべての要件を満たすことができる材料が強く求められている。層210は、平坦化プロセスを支援するために、良好な機械的強度、非凝縮性ガス輸送特性、非凝縮性ガスと凝縮性有機ガスとの間の高い輸送選択性、UV透明性、および例えばアクリル、ビニル、およびエポキシ系ポリマーなどのレジスト材料間の低い接着力を有する。接触中の層210と形成可能な材料との濡れ性を改善するために、層210を例えばプラズマ処理により化学的に処理して、層210の表面エネルギーを増加させることができる。
層210を処理することにより、ポリマーの輸送または選択性に実質的に影響を与えることなく、形成可能な材料と接触する表面上のポリマーの化学的性質を変化させることができる。一実施形態では、層210は、少なくとも20mN/mおよび45mN/m以下の臨界表面張力を有する。
酸素や窒素のようないわゆる非凝縮性ガスとメタン、エタン、プロパンのような凝縮性有機ガスとの間のガス輸送選択性は、通常の条件下での膜を通るガス透過係数の比として記述できる。層210に最も有用なポリマーの高度にフッ素化された性質のために、有機ガスの化学的収着は低いが、主に炭化水素ポリマーへの有機蒸気の収着は高くなり得る。フルオロカーボンポリマーについては、これにより、非凝縮性ガスと凝縮性有機ガスとの間の選択性が改善される。層210に最も有用なポリマーは、3.0より大きい窒素/プロパン選択性を有する。この選択性は、ポリマーフィルム中の成形可能な材料(モノマー)の非常に低い溶解度と共に、フィルムの劣化なしにIAPで何度も使用できる堅牢な層を提供する。膜の劣化は、炭化水素ポリマーが使用される場合、ガス透過および/または保護層の耐久性に影響を及ぼす重大な問題であり得る。これは、主に、PMMA、PTMSP、ポリイミドなどのような炭化水素ポリマー中の典型的な炭化水素形成可能な材料の固有の溶解性に起因する。炭化水素ポリマーの上に、もっぱら透過保護層として、または炭化水素ポリマーの上に使用される本実施形態のフルオロカーボンポリマーは、炭化水素ベースの形成可能な材料に溶解しない。したがって、これらのフルオロカーボンポリマーフィルムは、IAP中のガス透過保護層として使用される場合、かなり堅牢で耐久性がある。層210は、原子質量が1より大きい分子、例えば、原子質量が4より大きい分子、原子質量が5より大きい分子、原子質量が12より大きい分子、または原子質量が39より大きい分子に対して透過性であり得る。
図4は、本開示の方法400の説明図を含む。この方法は、基板12上に平坦化前駆体材料34を分配することによって操作410で開始する。基板12は、不均一な表面トポグラフィを含むことができる。すなわち、基板12の表面が不均一であってもよい。形成可能な材料34は、レジストのような重合可能な材料を含むことができる。形成可能な材料34は、液滴分配、スピンコーティング、ディップコーティング、化学気相成長(CVD)、物理気相成長(PVD)、薄膜成長、厚膜成長、またはそれらの組み合わせなどの技術を使用して、基板12上の一つ以上の層に配置することができる。成形可能な材料34は、所望の体積が、スーパーストレート18と基板12との間に画定される前または後に基板12上に分配される。所望の体積はガスを含むことができる。この方法は、例えば、平坦化前駆体材料が供給された後、スーパーストレート18と接触する前にガスを流すことを含むことができる。ガスは、酸素、窒素、アルゴン、ヘリウム、またはそれらの任意の組み合わせを含むことができる。一実施形態では、流れたガスはヘリウムを含まない。一実施形態では、流れる分子の原子質量は、4より大きい原子質量、5より大きい原子質量、12より大きい原子質量、または39より大きい原子質量など、1より大きい。
スーパーストレート18は、操作420において、平坦化前駆体材料34に接触することができる。スーパーストレート18が平坦化前駆体材料34に接触すると、捕捉されたガス粒子はいずれも層220を介して放散され得る。一実施形態では、上記のように、スーパーストレート18は、本体および非晶質フルオロポリマー層を有することができる。
この方法は、操作430において、平坦化前駆体材料34を硬化させることによって、基板12上に平坦化層を形成することで継続することができる。成形可能な材料34は、紫外線、熱などを用いて硬化可能なモノマーまたはオリゴマー混合物を含むことができる。一実施形態では、硬化は、スーパーストレート18が平坦化前駆体材料34に接触している間に行われる。硬化後、スーパーストレート18は、基板12上に新たに形成された層から分離することができる。層210は、スーパーストレート18の本体220を保護して、スーパーストレート18をその後の平坦化操作に使用できるようにすることができる。
一実施形態では、物品を製造する方法は、基板12上に成形可能材料34を堆積するステップと、基板12上の成形可能材料34にスーパーストレート18を接触させるステップとを含むことができる。一実施形態では、スーパーストレートは、本体および層を含むことができる。層は、非晶質フルオロポリマーを含むことができる。物品を製造する方法は、成形可能な材料34を硬化させて平面層を形成するステップと、基板12上の成形可能な材料34とスーパーストレート18を分離するステップと、平面層が形成された基板12を処理するステップと、処理された基板12から物品を製造するステップとをさらに含むことができる。
図5は、種々の組成についての動的分子径の関数としての透過係数の説明図を含む。図5において、510は、層210として、ポリカーボネートを含む層の透過係数であり得、520は、層210として非晶質フルオロポリマーを含む層の透過係数であり得、530は、ポリトリメチルシリルプロピンを含む層の透過係数であり得る。層210は、l×10-10cm*cm/cm*cmHgより大きい、例えば3.4×10-10cm*cm/cm*cmHgより大きい酸素透過係数を有することができる。3.4×10-8cm*cm/cm*cmHgを超える場合、3.4×10-7cm*cm/cm*cmHgを超える場合、または3.4×10-6cm*cm/cm*cmHgを超える場合があり得る。層210は、2.5×10-8cm*cm/cm*cmHgより大きいヘリウム透過係数、例えば2.5×10-7cm*cm/cm*cmHgまたは2.5×10-6cm*cm/cm*cmHgを有することができる。層210は、2.9×10-8cm*cm/cm*cmHg例えば、2.9×10-7cm*cm/cm*cmHg、または2.9×10-6cm*cm/cm*cmHgを超える水素透過係数を有することができる。
概要又は実施例において上述する行為(activities:行動)全てが、必要とされるわけではなく、特定の行為の一部が必要とされない可能性があり、1つ以上の更なる行為が、記載する行為に加えて実施されてもよい。さらに、行為が列挙される順序は、必ずしもそれらが実施される順序とは限らない。
特定の実施形態に関して、利益、他の利点、及び問題に対する解決法を上述してきた。しかしながら、利益、利点、問題に対する解決法、及び任意の利益、利点、又は解決法を生じさせ得るか、又はより明白にさせ得る任意の特徴は、特許請求の範囲のいずれか又は全ての重要な特徴、必要とされる特徴、又は必須の特徴と解釈されるべきではない。
本明細書に記載される実施形態の明細書および図面は、様々な実施形態の構造の一般的な理解を提供することを意図している。本明細書および図面は、本明細書に記載の構造または方法を使用する装置およびシステムのすべての要素および特徴の網羅的かつ包括的な説明として役立つことを意図していない。個別の実施形態は、単一の実施形態において組み合わせて提供されてもよく、逆に、簡潔にするために、単一の実施形態の文脈で説明される様々な特徴も、個別に、または任意のサブ組み合わせで提供されてもよい。さらに、範囲に記載された値への参照は、その範囲内の各値を含む。多くの他の実施形態は、本明細書を読んだ後に初めて、当業者に明らかにされ得る。本開示の範囲から逸脱することなく構造的置換、論理的置換、または別の変更を行うことができるように、他の実施形態を使用し、本開示から導出することができる。従って、本開示は、限定的というよりも例示的とみなされるべきである。

Claims (20)

  1. スーパーストレートであって、
    接触表面を含む本体および
    該本体の該接触表面上の非晶質フルオロポリマー層を含み、
    該非晶質フルオロポリマー層が、原子質量が4より大きいガスに対して透過性である、スーパーストレート。
  2. 前記非晶質フルオロポリマーが、ジオキソラン環を含む、請求項1に記載のスーパーストレート。
  3. 前記非晶質フルオロポリマーが、ペルフルオロジオキソールテトラフルオロエチレン共重合体を含む、請求項1に記載のスーパーストレート。
  4. 前記非晶質フルオロポリマーが、パーフルオロ(3-ブテニルビニルエーテル)を含む、請求項1に記載のスーパーストレート。
  5. 前記本体が、前記接触表面と前記非晶質フルオロポリマー層との間に炭化水素ポリマー層を含む、請求項1に記載のスーパーストレート。
  6. 前記炭化水素ポリマー層が、ポリトリメチルシリルプロピン、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネートポリマー、ポリイミド、およびそれらの任意の組み合わせを含む、請求項5に記載のスーパーストレート。
  7. 前記非晶質フルオロポリマー層が、少なくとも20mN/mおよび40mN/m以下の臨界表面張力を有する、請求項1に記載のスーパーストレート。
  8. 前記非晶質フルオロポリマー層が、以下のものを含み、
    -(CXY-CF-)a-(-Z-)b-;
    (式中、XおよびYはF、ClまたはHを含む);および
    Zは、少なくとも1つのC-O-C結合を含む4員、5員、または6員のフルオロカーボン環構造を含む、請求項1に記載のスーパーストレート。
  9. 前記非晶質フルオロポリマー層が、窒素、酸素、およびアルゴンに対して透過性である、請求項1に記載のスーパーストレート。
  10. 前記非晶質フルオロポリマー層が、1.0×10-10cm*cm/cm*S*cmHgより大きい酸素透過係数を含む、請求項1に記載のスーパーストレート。
  11. 平坦化の方法であって、
    基板上に平坦化前駆体材料を分配するステップと、
    なお、該基板が不均一な表面トポグラフィを含む;
    該平坦化前駆体材料をスーパーストレートと接触させるステップと、
    なお、該スーパーストレートは、接触表面を含む本体、および該本体の該接触表面上の非晶質フルオロポリマー層であって、原子質量が4より大きいガスに対して透過性である、該非晶質フルオロポリマー層を含む;
    該平坦化前駆体材料を硬化させて該基板上に平坦化層を形成するステップと、
    なお、硬化は、該スーパーストレートが該平坦化前駆体材料と接触している間に行われる、
    を含む方法。
  12. 前記平坦化前駆体材料を前記スーパーストレートの本体と接触させる前に、ガスを流すことをさらに含む、請求項11に記載の方法。
  13. 前記ガスが、酸素、窒素、アルゴン、またはそれらの任意の組み合わせを含む、請求項12に記載の方法。
  14. 前記不活性ガスが、ヘリウムを含まない、請求項12に記載の方法。
  15. 前記非晶質フルオロポリマーが、ジオキソラン環を含む、請求項11に記載の方法。
  16. 前記非晶質フルオロポリマーが、ペルフルオロジオキソールテトラフルオロエチレン共重合体を含む、請求項11に記載の方法。
  17. 前記非晶質フルオロポリマーが、パーフルオロ(3-ブテニルビニルエーテル)のポリマーまたはコポリマーである、請求項10に記載の方法。
  18. 前記非晶質フルオロポリマー層が、窒素、酸素、およびアルゴンに対して透過性である、請求項11に記載の方法。
  19. 前記非晶質フルオロポリマー層が、1.0×10-10cm*cm/cm*S*cmHgより大きい酸素透過係数を含む、請求項11に記載の方法。
  20. 物品の製造方法であって、
    基板上への形成可能な材料の堆積させるステップと、
    該基板上の形成可能な材料をスーパーストレートと接触させて平面層を形成するステップと、
    なお、該スーパーストレートは、接触表面を含む本体および該本体の接触表面上の非晶質フルオロポリマー層であって、原子質量が4より大きいガスに対して透過性である、該非晶質フルオロポリマー層を含む;
    該スーパーストレートおよび該基板上の該平面層とを分離するステップと、
    該平面層が形成された該基板を処理するステップと
    該処理された基板から物品を製造するステップと、
    を含む方法。
JP2021550274A 2019-03-05 2020-02-03 ガス透過性スーパーストレート及びその使用方法 Active JP7265830B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/293,053 US10892167B2 (en) 2019-03-05 2019-03-05 Gas permeable superstrate and methods of using the same
US16/293,053 2019-03-05
PCT/US2020/016315 WO2020180438A1 (en) 2019-03-05 2020-02-03 Gas permeable superstrate and methods of using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022522210A true JP2022522210A (ja) 2022-04-14
JP7265830B2 JP7265830B2 (ja) 2023-04-27

Family

ID=72334672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021550274A Active JP7265830B2 (ja) 2019-03-05 2020-02-03 ガス透過性スーパーストレート及びその使用方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10892167B2 (ja)
JP (1) JP7265830B2 (ja)
KR (1) KR102639559B1 (ja)
CN (1) CN113396468B (ja)
TW (1) TWI780407B (ja)
WO (1) WO2020180438A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11562924B2 (en) * 2020-01-31 2023-01-24 Canon Kabushiki Kaisha Planarization apparatus, planarization process, and method of manufacturing an article
KR20230113640A (ko) 2020-12-22 2023-07-31 캐논 가부시끼가이샤 막 형성 방법 및 물품 제조 방법
EP4354488A1 (en) 2021-06-09 2024-04-17 Canon Kabushiki Kaisha Curable composition, film formation method, and article manufacturing method
JP2023090491A (ja) 2021-12-17 2023-06-29 キヤノン株式会社 膜形成方法、および物品の製造方法

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06222551A (ja) * 1993-01-27 1994-08-12 Shin Etsu Chem Co Ltd 離型性成膜用基板およびペリクル膜の製造方法
JP2005227169A (ja) * 2004-02-13 2005-08-25 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像変換パネル
JP2007507860A (ja) * 2003-09-29 2007-03-29 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 製造方法
JP2008509815A (ja) * 2004-08-16 2008-04-03 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド 均一なエッチング特性を有する層を提供する方法及び組成物
JP2009166486A (ja) * 2007-12-19 2009-07-30 Asahi Kasei Corp 光吸収性を有するモールド、該モールドを利用する感光性樹脂のパターン形成方法、及び印刷版の製造方法
JP2009209337A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Fujifilm Corp ナノインプリント用硬化性組成物、これを用いた硬化物およびその製造方法、並びに、液晶表示装置用部材
JP2009295797A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Kyowa Hakko Chemical Co Ltd 溝構造または中空構造を有する部材の作製方法
JP2010537850A (ja) * 2007-08-27 2010-12-09 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー シリコーン成形型及びその使用
JP2011165778A (ja) * 2010-02-08 2011-08-25 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> p型有機薄膜トランジスタ、p型有機薄膜トランジスタの製造方法、および、塗布溶液
JP2014216157A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 株式会社豊田中央研究所 燃料電池用電極
JP2015015448A (ja) * 2012-12-21 2015-01-22 旭化成イーマテリアルズ株式会社 微細パタン形成用積層体
JP2015044373A (ja) * 2013-08-29 2015-03-12 独立行政法人産業技術総合研究所 積層体及びその製造方法
JP2016022590A (ja) * 2014-07-16 2016-02-08 旭硝子株式会社 インプリント用のモールド、その製造方法、インプリント方法
JP2016094564A (ja) * 2014-11-17 2016-05-26 株式会社トクヤマ インプリント用光硬化性組成物、及び該組成物を用いたレジスト積層体の製造方法
JP2016187029A (ja) * 2015-03-27 2016-10-27 旭化成株式会社 インプリント成形モールドとその製造方法
JP2017145320A (ja) * 2016-02-17 2017-08-24 公立大学法人 富山県立大学 テンプレート形成用重合性化合物及びその硬化性組成物並びにその硬化物
WO2018164017A1 (ja) * 2017-03-08 2018-09-13 キヤノン株式会社 硬化物パターンの製造方法、光学部品、回路基板および石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コート用材料およびその硬化物

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6048799A (en) 1987-02-27 2000-04-11 Lucent Technologies Inc. Device fabrication involving surface planarization
US20040115823A1 (en) * 2002-12-12 2004-06-17 Potyrailo Radislav Alexandrovi Method for improvement of environmental stability and selectivity of materials for sensors
US7790231B2 (en) 2003-07-10 2010-09-07 Brewer Science Inc. Automated process and apparatus for planarization of topographical surfaces
DE602004026317D1 (de) 2003-08-29 2010-05-12 Japan Science & Tech Agency Verfahren zur herstellung von fluorierten 1,3-doxolanverbindingen, fluorierten 1,3-dioxolaneverbindungen, fluorierte polymere von den fluorierten 1,3-dioxolane, und von optischen und elektrischen materialien unter verwendung von diesen polymeren
KR20120046743A (ko) * 2009-08-07 2012-05-10 소켄 케미칼 앤드 엔지니어링 캄파니, 리미티드 임프린트용 수지제 몰드 및 그 제조 방법
GB201105364D0 (en) * 2011-03-30 2011-05-11 Cambridge Display Tech Ltd Surface planarisation
JP2015509660A (ja) * 2012-02-15 2015-03-30 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung 有機電子デバイスのための平坦化層
US9718096B2 (en) 2013-08-19 2017-08-01 Board Of Regents, The University Of Texas System Programmable deposition of thin films of a user-defined profile with nanometer scale accuracy
SG11201803014WA (en) * 2015-10-15 2018-05-30 Univ Texas Versatile process for precision nanoscale manufacturing

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06222551A (ja) * 1993-01-27 1994-08-12 Shin Etsu Chem Co Ltd 離型性成膜用基板およびペリクル膜の製造方法
JP2007507860A (ja) * 2003-09-29 2007-03-29 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 製造方法
JP2005227169A (ja) * 2004-02-13 2005-08-25 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像変換パネル
JP2008509815A (ja) * 2004-08-16 2008-04-03 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド 均一なエッチング特性を有する層を提供する方法及び組成物
JP2010537850A (ja) * 2007-08-27 2010-12-09 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー シリコーン成形型及びその使用
JP2009166486A (ja) * 2007-12-19 2009-07-30 Asahi Kasei Corp 光吸収性を有するモールド、該モールドを利用する感光性樹脂のパターン形成方法、及び印刷版の製造方法
JP2009209337A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Fujifilm Corp ナノインプリント用硬化性組成物、これを用いた硬化物およびその製造方法、並びに、液晶表示装置用部材
JP2009295797A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Kyowa Hakko Chemical Co Ltd 溝構造または中空構造を有する部材の作製方法
JP2011165778A (ja) * 2010-02-08 2011-08-25 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> p型有機薄膜トランジスタ、p型有機薄膜トランジスタの製造方法、および、塗布溶液
JP2015015448A (ja) * 2012-12-21 2015-01-22 旭化成イーマテリアルズ株式会社 微細パタン形成用積層体
JP2014216157A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 株式会社豊田中央研究所 燃料電池用電極
JP2015044373A (ja) * 2013-08-29 2015-03-12 独立行政法人産業技術総合研究所 積層体及びその製造方法
JP2016022590A (ja) * 2014-07-16 2016-02-08 旭硝子株式会社 インプリント用のモールド、その製造方法、インプリント方法
JP2016094564A (ja) * 2014-11-17 2016-05-26 株式会社トクヤマ インプリント用光硬化性組成物、及び該組成物を用いたレジスト積層体の製造方法
JP2016187029A (ja) * 2015-03-27 2016-10-27 旭化成株式会社 インプリント成形モールドとその製造方法
JP2017145320A (ja) * 2016-02-17 2017-08-24 公立大学法人 富山県立大学 テンプレート形成用重合性化合物及びその硬化性組成物並びにその硬化物
WO2018164017A1 (ja) * 2017-03-08 2018-09-13 キヤノン株式会社 硬化物パターンの製造方法、光学部品、回路基板および石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コート用材料およびその硬化物

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DAHL-YOUNG KHANG ET AL.: "Sub-100 nm Patterning with an Amorphous Fluoropolymer Mold", LANGMUIR, vol. 20, no. 6, JPN6022040911, 17 February 2004 (2004-02-17), US, pages 2445 - 2448, ISSN: 0004890017 *
MILAD YAVARI ET AL.: "Dioxolane-Based Perfluoropolymers with Superior Membrane Gas Separation Properties", MACROMOLECULES, vol. 51, JPN6022040912, 19 March 2018 (2018-03-19), US, pages 2489 - 2497, ISSN: 0004890018 *
尾川 元ほか: "8. 透明フッ素樹脂「サイトップ」−基本特性とパーフルオロジエンの重合速度に関する研究−", 旭硝子研究報告, vol. 55, JPN6022040910, 2005, JP, pages 47 - 51, ISSN: 0004890016 *
編集委員会: "気体透過性のことなど(1)", 日本ゴム協会誌, vol. 第55巻, 第10号, JPN6022040908, 1982, JP, pages 682 - 684, ISSN: 0004890014 *
野中 史子ほか: "非晶質フッ素樹脂の気体透過性および分離特性", 高分子論文集, vol. 71, no. 7, JPN6022040909, July 2014 (2014-07-01), JP, pages 338 - 342, ISSN: 0004890015 *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020180438A1 (en) 2020-09-10
CN113396468B (zh) 2024-03-26
KR20210116637A (ko) 2021-09-27
US10892167B2 (en) 2021-01-12
CN113396468A (zh) 2021-09-14
TW202035161A (zh) 2020-10-01
KR102639559B1 (ko) 2024-02-23
TWI780407B (zh) 2022-10-11
JP7265830B2 (ja) 2023-04-27
US20200286740A1 (en) 2020-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2022522210A (ja) ガス透過性スーパーストレート及びその使用方法
US10968516B2 (en) Nano imprinting with reusable polymer template with metallic or oxide coating
US10167410B2 (en) Using chemical vapor deposited films to control domain orientation in block copolymer thin films
JP2009001002A (ja) モールド、その製造方法および転写微細パターンを有する基材の製造方法
JP2007245702A (ja) テンプレートおよび転写微細パターンを有する処理基材の製造方法
WO2014041904A1 (ja) 凹凸形状付積層体の製造方法および転写フィルム
JPH06116430A (ja) 撥水撥油性フィルムとその製造方法
JP4148759B2 (ja) ガスバリアフィルムの製造方法
US20120048184A1 (en) Organic- inorganic hybrid material and stamp for nanoimprint manufactured from the same
WO2009125697A1 (ja) モールド、その製造方法および転写微細パターンを有する基材の製造方法
KR101291727B1 (ko) 임프린트 레진의 제조방법 및 임프린팅 방법
Lee et al. Fabrication of a Large‐Area Hierarchical Structure Array by Combining Replica Molding and Atmospheric Pressure Plasma Etching
CN108137832B (zh) 多层阻隔叠堆
US11198235B2 (en) Flexible mask modulation for controlling atmosphere between mask and substrate and methods of using the same
KR20140099409A (ko) 자기조립 단분자막의 표면 개질을 이용한 패턴의 전사 방법
CN108137204B (zh) 多层阻挡叠堆
Lee et al. Assembly of metallic nanoparticle arrays on glass via nanoimprinting and thin-film dewetting
JP2006131938A (ja) 超撥水膜の製造方法および製造装置並びにその製品
KR101819477B1 (ko) 발수성 및 발유성을 갖는 필름 및 이를 포함한 전기 전자 장치
US11964428B2 (en) Bottom plate of resin tank for three-dimensional printing
KR101792756B1 (ko) 고투명도 및 저헤이즈 특성을 갖는 내지문성 필름 및 전기 전자 장치
JP2001048591A (ja) 表面撥水性ガラス及びその製造方法
KR20150016146A (ko) 발수성 및 발유성을 갖는 필름 및 전기 전자 장치
GB2587611A (en) A method for producing polymeric surface modification layers

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210827

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20220630

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220916

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221004

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230316

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230413

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7265830

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151