JP2022084812A - 冷却システム、電子ラックおよび方法 - Google Patents
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims abstract description 154
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 74
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims description 63
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 44
- 239000012809 cooling fluid Substances 0.000 claims description 22
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 11
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/16—Constructional details or arrangements
- G06F1/20—Cooling means
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/20—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
- H05K7/20709—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for server racks or cabinets; for data centers, e.g. 19-inch computer racks
- H05K7/20836—Thermal management, e.g. server temperature control
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- G—PHYSICS
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/28—Supervision thereof, e.g. detecting power-supply failure by out of limits supervision
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/46—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
- H01L23/473—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/20—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
- H05K7/20218—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures
- H05K7/20236—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures by immersion
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/20—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
- H05K7/20218—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures
- H05K7/20272—Accessories for moving fluid, for expanding fluid, for connecting fluid conduits, for distributing fluid, for removing gas or for preventing leakage, e.g. pumps, tanks or manifolds
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/20—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
- H05K7/20709—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for server racks or cabinets; for data centers, e.g. 19-inch computer racks
- H05K7/20763—Liquid cooling without phase change
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/20—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
- H05K7/20709—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for server racks or cabinets; for data centers, e.g. 19-inch computer racks
- H05K7/20763—Liquid cooling without phase change
- H05K7/20772—Liquid cooling without phase change within server blades for removing heat from heat source
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- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
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- H05K7/20709—Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for server racks or cabinets; for data centers, e.g. 19-inch computer racks
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- H05K7/20781—Liquid cooling without phase change within cabinets for removing heat from server blades
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F1/16—Constructional details or arrangements
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- G06F2200/00—Indexing scheme relating to G06F1/04 - G06F1/32
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Abstract
【課題】データセンターに対する効率的かつロバストなシステム設計及び熱電冷却を用いた制御方法を提供する。【解決手段】データセンターシステム300において、冷却システムは、基板管理コントローラ(BMC)、熱電冷却(TEC)コントローラ及び冷却分配ユニット(CDU)コントローラを備える。BMCは、電子装置によって消費される電力を表す第1の電力値を得るために冷却システムを監視し、第1の電力値に基づいて制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を行い、ルックアップ動作に基づいて第1のTEC電流及び第1のポンプ速度を決定する。TECコントローラは、TEC素子内に第1のTEC電流を流すために電子装置に取り付けられたTEC素子を制御する。CDUコントローラは、第1のポンプ速度に応じて、CDUの流体ポンプのポンプ速度を設定する。【選択図】図3
Description
本発明の実施形態は、概して、データセンターに関するものである。より詳細には、本発明の実施形態は、効率的かつロバストなシステム設計および熱電冷却を用いた制御方法に関するものである。
熱の除去は、コンピュータシステムやデータセンターの設計において重要な要素である。サーバに搭載される高性能プロセッサなどの高性能電子部品の数は着実に増加しており、その結果、サーバの通常の動作中に発生および放散される熱量が増加している。データセンター内において使用されるサーバの信頼性は、サーバの動作環境の温度が時間経過とともに上昇する場合には低下する。適切な熱環境を維持することは、データセンター内におけるこれらのサーバの正常な動作、およびサーバの性能および寿命に重要である。特に高性能なサーバを冷却する場合には、より効果的かつ効率的な熱除去解決策が必要である。
近年、浸漬型冷却技術が注目されている。流体の選択、情報技術(IT)側の設計、材料の互換性、試験および検証などに多くの努力が払われている。ほとんどの解決策では、既存の冷却インフラ(冷却水/冷水)またはシステムを利用している。いくつかの解決策では、冷却液分配ユニット(CDU)を使用して、外部冷却ループと内部浸漬型冷却液ループとを形成している。外部冷却ループは、任意の形式の既存のデータセンター冷却インフラに適応することができる。これらの解決策では、浸漬冷却の利点が十分に生かされていない可能性がある。
また、最近では熱電冷却(TEC)技術にも注目が集まっている。熱電冷却には、独自のCOP(性能係数)の最適化手法がある。最大化されたCOPは、TEC素子の特定の冷却電力容量に対する電力オーバーヘッドを最小化する。浸漬型冷却のIT機器にTEC素子を組み込む場合には、TECの電力オーバーヘッドおよび流体ポンプの電力を含めた冷却電力消費量計算全体の最適化に取り組む必要がある。
浸漬型冷却システムの有望な適用の一つに、屋外のエッジ演算装置がある。しかし、天候はシステムの動作に影響を与える。例えば、寒冷地では、演算チップが機能するための最低温度限界を下回る可能性がある。
流体ポンプが故障すると、IT機器はシャットダウンする前に一定の動作を実行する。これらの動作は、メモリにデータをバックアップしたり、作業負荷を転送したりすることを含んでいる。同時に、これらの動作の間、誘電体液の温度は上昇し続ける。よりロバストな浸漬型冷却システムを実現するためには、IT機器をシャットダウンするまでの時間を十分に確保することが重要である。
本発明の一態様は、電子装置により消費される電力を表す第1の電力値を決定し、該第1の電力値に基づいて制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を実行し、該ルックアップ動作に基づいて第1の熱電冷却(TEC)電流および第1のポンプ速度を決定するように構成された基板管理コントローラ(BMC)と、前記電子装置に取り付けられたTEC素子を制御して、該TEC素子内に前記第1のTEC電流を流すTECコントローラと、冷却分配ユニット(CDU)コントローラとを備え、該CDUコントローラが、前記第1のポンプ速度に応じて、CDUの流体ポンプのポンプ速度を設定し、前記CDUが前記電子装置に液体冷却を提供する冷却システムである。
本実施形態は、限定するものではなく例示として、同様の参照符号が同様の要素を示す添付図面の図に示されている。
一実施形態に係る熱電冷却を備えるデータセンターシステムの一例を示すブロック図である。。
別の実施形態に係る熱電冷却を備えるデータセンターシステムの一部の例を示すブロック図である。
一実施形態に係る熱電冷却を備えるデータセンターシステムの一例を示すブロック図である。
一実施形態に係るTEC素子の電流に対するTEC電力オーバーヘッドのグラフを示す図である。
他の実施形態に係る熱電冷却システムを備えるデータセンターシステムの変形例を示すブロック図である。
一実施形態に係る熱電冷却システムのための方法の一例であるフローチャートを示す図である。
別の実施形態に係る加熱モード下の熱電冷却システムのための方法の変形例であるフローチャートを示す図である。
本発明の様々な実施形態および態様が、以下に説明する詳細を参照して説明され、添付の図面は様々な実施形態を説明する。
以下の説明および図面は、本発明を例示するものであり、本発明を限定するものとして解釈されるべきではない。本発明の様々な実施形態を完全に理解するために、多数の具体的な詳細が記載されている。しかし、特定の一例では、本発明の実施形態の簡潔な議論を提供するために、周知または従来の事項の詳細については記載していない。
以下の説明および図面は、本発明を例示するものであり、本発明を限定するものとして解釈されるべきではない。本発明の様々な実施形態を完全に理解するために、多数の具体的な詳細が記載されている。しかし、特定の一例では、本発明の実施形態の簡潔な議論を提供するために、周知または従来の事項の詳細については記載していない。
本明細書における「一実施形態」または「実施形態」への言及は、実施形態に関連して記載された特定の特徴、構造、または特性が、本開示の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味する。本明細書の様々な場所で「一実施形態において」という表現が登場するが、必ずしもすべてが同じ実施形態を指すわけではない。
ITハードウェア産業は、ビジネスの競争力、サービスの品質および可用性に重要な役割を果たし、また、インフラのTCOにも大きな役割を果たすなど、多くの理由から重要な市場である。ITハードウェアは、組織の利益と密接な関係がある。
これは、インターネット大手、クラウドコンピューティングサービスプロバイダ、その他のITハードウェアプラットフォームおよびインフラを構築、運用、計算、保管および管理する高性能演算およびAIコンピューティング関連のビジネスサービスユーザおよびプロバイダのコア能力の一つである。
ハイパースケールオーナーの大半は、これらのハードウェアシステムのフルスタックをカスタマイズしている。
例えば、急速に成長しているクラウドコンピューティングビジネスにおいては、演算および記憶用のハードウェアシステム、クラスタおよびインフラの性能およびコスト(資本コストと運用コストの両方)は、全て、サービスプロバイダに、個々の要望に最も適したカスタマイズされたシステムを構築することを要求している。
このような市場では、継続的な改革が求められる。効率的なシステムの設計と運用は、長期にわたって多くの側面においてサービスプロバイダに利益をもたらす。このためには、より高い耐障害性、効率性、費用対効果の高い解決策や構造を継続的に開発することが重要である。
これは、インターネット大手、クラウドコンピューティングサービスプロバイダ、その他のITハードウェアプラットフォームおよびインフラを構築、運用、計算、保管および管理する高性能演算およびAIコンピューティング関連のビジネスサービスユーザおよびプロバイダのコア能力の一つである。
ハイパースケールオーナーの大半は、これらのハードウェアシステムのフルスタックをカスタマイズしている。
例えば、急速に成長しているクラウドコンピューティングビジネスにおいては、演算および記憶用のハードウェアシステム、クラスタおよびインフラの性能およびコスト(資本コストと運用コストの両方)は、全て、サービスプロバイダに、個々の要望に最も適したカスタマイズされたシステムを構築することを要求している。
このような市場では、継続的な改革が求められる。効率的なシステムの設計と運用は、長期にわたって多くの側面においてサービスプロバイダに利益をもたらす。このためには、より高い耐障害性、効率性、費用対効果の高い解決策や構造を継続的に開発することが重要である。
本開示では、浸漬型冷却システムについて説明する。
一実施形態において、浸漬槽は、誘電性流体、IT機器(グラフィック/汎用処理装置(GPU)またはGPUカード、GPU基板)、IT機器に組み込まれた熱電冷却(TEC)素子およびTECコントローラにより構成される。
一実施形態において、冷却分配ユニット(CDU)は、浸漬槽の外部に配置され、流体ポンプ、熱交換器およびCDUコントローラを備える。
一実施形態において、冷却システムは、演算チップの電力をリアルタイムに監視することに基づいて、ポンプ速度およびTEC電流をリアルタイムに最適化してシステムの冷却電力消費を最小化することができる。
一実施形態において、浸漬槽は、誘電性流体、IT機器(グラフィック/汎用処理装置(GPU)またはGPUカード、GPU基板)、IT機器に組み込まれた熱電冷却(TEC)素子およびTECコントローラにより構成される。
一実施形態において、冷却分配ユニット(CDU)は、浸漬槽の外部に配置され、流体ポンプ、熱交換器およびCDUコントローラを備える。
一実施形態において、冷却システムは、演算チップの電力をリアルタイムに監視することに基づいて、ポンプ速度およびTEC電流をリアルタイムに最適化してシステムの冷却電力消費を最小化することができる。
一実施形態において、システムは、TEC素子を介して下で機能することができる。例えば、この浸漬型システムがエッジ演算装置として使用される場合には、誘電性流体の温度が非常に低く、演算チップが起動できない場合がある。このような場合において、TEC素子は、一実施形態によれば、追加の加熱源を必要とせずに、加熱モードで動作するように制御することができる。
一実施形態において、TEC素子がヒートポンプとして機能し、エネルギを液体(低温)からチップ(高温)に移動させることで、チップを所望の温度に予熱することができる。
一実施形態において、TEC素子がヒートポンプとして機能し、エネルギを液体(低温)からチップ(高温)に移動させることで、チップを所望の温度に予熱することができる。
一実施形態において、このシステムは、ポンプが故障したときにTEC素子を介して自己保護を行うことができる。
一実施形態において、ポンプが故障すると、流体はそれ以上外力によって駆動されなくなる。例えば、チップが発熱し続けると、流体の温度は上昇し続ける。そのため、一実施形態において、短時間で流体が非常に高温になる場合がある。この場合、IT機器はデータのバックアップおよび作業負荷の転送を終了することができず、代わりにシャットダウンしてしまう。
一実施形態において、より高い電流により、コントローラが、TEC素子に、より高い流体温度のチップを冷却させることができ、これにより、システムがシャットダウンする前に必要な動作を終えるためのより大きな時間的余裕が得られる。
一実施形態において、ポンプが故障すると、流体はそれ以上外力によって駆動されなくなる。例えば、チップが発熱し続けると、流体の温度は上昇し続ける。そのため、一実施形態において、短時間で流体が非常に高温になる場合がある。この場合、IT機器はデータのバックアップおよび作業負荷の転送を終了することができず、代わりにシャットダウンしてしまう。
一実施形態において、より高い電流により、コントローラが、TEC素子に、より高い流体温度のチップを冷却させることができ、これにより、システムがシャットダウンする前に必要な動作を終えるためのより大きな時間的余裕が得られる。
一実施形態において、データセンターシステムは、1以上のサーバを備える複数の電子ラックと、サーバに液体冷却を提供するために電子ラックに結合された冷却システムとを備える。
一実施形態において、冷却システムは、基板管理コントローラ(BMC)、熱電冷却(TEC)コントローラ、および冷却分配ユニット(CDU)コントローラを備える。
一実施形態において、冷却システムは、基板管理コントローラ(BMC)、熱電冷却(TEC)コントローラ、および冷却分配ユニット(CDU)コントローラを備える。
一実施形態において、BMCは、電子装置によって消費される電力を表す第1の電力値を取得するために、冷却システムを監視するように構成される。
一実施形態において、BMCは、第1の電力値に基づいて、制御ルックアップテーブル内においてルックアップ動作を実行するように構成される。
一実施形態において、BMCは、ルックアップ動作に基づいて、第1の熱電冷却(TEC)電流および第1のポンプ速度を決定するように構成される。
一実施形態において、BMCは、第1の電力値に基づいて、制御ルックアップテーブル内においてルックアップ動作を実行するように構成される。
一実施形態において、BMCは、ルックアップ動作に基づいて、第1の熱電冷却(TEC)電流および第1のポンプ速度を決定するように構成される。
一実施形態において、TECコントローラは、BMCから第1の制御信号を受信して、電子装置に取り付けられたTEC素子を制御し、第1のTEC電流がTEC素子内を流れるように構成される。
一実施形態において、CDUコントローラは、BMCから第2の制御信号を受信して、第1のポンプ速度に従ってCDUの流体ポンプのポンプ速度を構成するように構成される。
一実施形態において、CDUコントローラは、BMCから第2の制御信号を受信して、第1のポンプ速度に従ってCDUの流体ポンプのポンプ速度を構成するように構成される。
一実施形態において、制御ルックアップテーブルは、多数のエントリを備え、各エントリは、特定の電力値を、その特定の電力値に対応する最適TEC電流および最適ポンプ速度に写像させる。
一実施形態において、冷却システムは、電子装置を収容する浸漬槽と、浸漬槽内部に収容された冷却流体に沈められたTEC素子とをさらに備える。
一実施形態において、CDUは、浸漬槽の外部に配置される。
一実施形態において、冷却システムは、電子装置を収容する浸漬槽と、浸漬槽内部に収容された冷却流体に沈められたTEC素子とをさらに備える。
一実施形態において、CDUは、浸漬槽の外部に配置される。
一実施形態において、BMCは、第1の電力値を得るために、所定の期間、冷却システムを監視するように構成される。
一実施形態において、第1のTEC電流および第1のポンプ速度は、電子装置の熱的要求を満たしつつ、冷却システムの電力消費が最小になるように、ルックアップ動作に基づいて決定される。
一実施形態において、第1のTEC電流および第1のポンプ速度は、電子装置の熱的要求を満たしつつ、冷却システムの電力消費が最小になるように、ルックアップ動作に基づいて決定される。
一実施形態において、TECコントローラは、冷却流体の流体温度が第1の所定の温度閾値を下回ったときに、TEC素子内において第1の方向にTEC電流を流すように構成され、これにより、TEC素子を加熱モードで動作させる。
一実施形態において、TECコントローラは、流体温度が第2の所定の温度閾値を超えて上昇したときに、TEC素子内の第2の方向にTEC電流を流すように構成され、これにより、TEC素子を冷却モードで動作させる。
一実施形態において、TECコントローラは、流体温度が第2の所定の温度閾値を超えて上昇したときに、TEC素子内の第2の方向にTEC電流を流すように構成され、これにより、TEC素子を冷却モードで動作させる。
図1は、一実施形態に係るデータセンターシステムを示すブロック図である。
図1に示されるように、データセンター浸漬型冷却システム100は、浸漬冷却を有するデータセンターシステムとして言及される。
一実施形態において、データセンター浸漬型冷却システム100は、外部冷却ユニット102に結合されたデータセンターまたはデータセンターユニット101を備える。
外部冷却ユニット102は、間接蒸発式冷却(IDEC)ユニットであってもよい。
外部冷却ユニット102は、熱交換器105を備え、熱交換器105は、液液式の熱交換器であってもよいし、気液式の熱交換器であってもよい。典型的には、熱交換器105は、主ループ106と二次ループ107とを備える。
主ループ106は、外部空気や外部液体などの外部冷却材を循環させるために利用される。
二次ループ107は、内部の冷却流体を循環させて、主ループ106の外部冷却材と熱交換するために利用される。
図1に示されるように、データセンター浸漬型冷却システム100は、浸漬冷却を有するデータセンターシステムとして言及される。
一実施形態において、データセンター浸漬型冷却システム100は、外部冷却ユニット102に結合されたデータセンターまたはデータセンターユニット101を備える。
外部冷却ユニット102は、間接蒸発式冷却(IDEC)ユニットであってもよい。
外部冷却ユニット102は、熱交換器105を備え、熱交換器105は、液液式の熱交換器であってもよいし、気液式の熱交換器であってもよい。典型的には、熱交換器105は、主ループ106と二次ループ107とを備える。
主ループ106は、外部空気や外部液体などの外部冷却材を循環させるために利用される。
二次ループ107は、内部の冷却流体を循環させて、主ループ106の外部冷却材と熱交換するために利用される。
一実施形態において、データセンター101は、内部冷却流体、すなわち浸漬冷却流体によって満たされた浸漬槽103を備える。
本実施形態においては1つの浸漬槽103が示されているが、複数の浸漬槽103をデータセンター101が備えていてもよい。
浸漬槽103は、1以上のサーバシステム104を収容し、各サーバシステム104は、1以上のIT部品(例えば、プロセッサ、メモリ、記憶装置)を備える。
サーバシステムは、内部冷却流体に浸されている。内部冷却流体は、サーバシステム104から熱を引き出すように設計された熱伝導性の誘電性液体である。このような冷却技術は、浸漬冷却と呼ばれる。
本実施形態においては1つの浸漬槽103が示されているが、複数の浸漬槽103をデータセンター101が備えていてもよい。
浸漬槽103は、1以上のサーバシステム104を収容し、各サーバシステム104は、1以上のIT部品(例えば、プロセッサ、メモリ、記憶装置)を備える。
サーバシステムは、内部冷却流体に浸されている。内部冷却流体は、サーバシステム104から熱を引き出すように設計された熱伝導性の誘電性液体である。このような冷却技術は、浸漬冷却と呼ばれる。
サーバ浸漬冷却は、コンピュータ部品またはサーバが熱伝導性の誘電性液体に浸漬されることによるコンピュータ冷却方法である。例えば、浸漬冷却に適した一般的な誘電体は、典型的にはオイルベースのものである。サーバの浸漬冷却は、PUEに関わらずエネルギ負荷を大幅に削減できるため、グリーンデータセンターの一般的なサーバ冷却の解決策になる可能性がある。また、浸漬冷却によって冷却されるサーバおよび他のITハードウェアは、ファンを必要とせず、したがって、ファンを取り除くことができる。
一実施形態において、図1に示されるように、データセンター101は、外部冷却ユニット102の熱交換器105の二次側に結合されて二次ループ107を形成する液体供給ライン111および液体戻りライン112を備える。
さらに、液体供給ライン111は、浸漬槽103の取入口に結合され、液体戻りライン112は、浸漬槽103の排出口に結合される。
液体供給ライン111は、熱交換器105から冷却流体を受け取り、冷却流体を浸漬槽103に分配するように構成されている。
液体戻りライン112は、サーバシステム104から熱交換された熱を運ぶ冷却流体を浸漬槽103から受け取り、熱交換のために冷却流体を熱交換器105に戻すように構成されている。
さらに、液体供給ライン111は、浸漬槽103の取入口に結合され、液体戻りライン112は、浸漬槽103の排出口に結合される。
液体供給ライン111は、熱交換器105から冷却流体を受け取り、冷却流体を浸漬槽103に分配するように構成されている。
液体戻りライン112は、サーバシステム104から熱交換された熱を運ぶ冷却流体を浸漬槽103から受け取り、熱交換のために冷却流体を熱交換器105に戻すように構成されている。
さらに、冷却流体を二次ループ内に流すためにポンプで送って循環させるために、流体ポンプ115が液体戻りライン112上に配置されてもよい。さらに、システム内(冗長目的のために、主液体供給ライン111上または主液体戻りライン112上)に複数のポンプを設計してもよい。なお、データセンター101内に複数の浸漬槽がある場合には、浸漬槽と冷却システム102の熱交換器105とを連結するために、複数対の液体供給ラインおよび液体戻りラインが存在する。従来の冷却システムとは異なり、液体供給ライン111、浸漬槽103、および液体戻りライン112を経由する二次ループ107は、間にCDUを使用しない単一の熱伝達ループである。
典型的には、CDUは、その中に主ループと二次ループとを有する熱交換器を備え、冷却ユニット102と浸漬槽103との間に複数のループを形成する。
また、流体ポンプ115は、液体供給ライン111に配置されていてもよいし、代わりに、1つが液体供給ライン111に配置され、もう1つが液体戻りライン112に配置された複数の流体ポンプがあってもよい。
典型的には、CDUは、その中に主ループと二次ループとを有する熱交換器を備え、冷却ユニット102と浸漬槽103との間に複数のループを形成する。
また、流体ポンプ115は、液体供給ライン111に配置されていてもよいし、代わりに、1つが液体供給ライン111に配置され、もう1つが液体戻りライン112に配置された複数の流体ポンプがあってもよい。
図2は、別の実施形態に係る熱電冷却を備えるデータセンターシステム200の一例を示すブロック図である。
例えば、図2は、前側から見たシステム設計図である。
熱電冷却システム200は、図1に示されるように、データセンター101の冷却システム100の一部として利用されてもよい。
例えば、全体システム200が、図1に示されるように、浸漬槽内の冷却材に浸されていてもよい。
一実施形態において、TEC素子は、演算チップとヒートシンクとの間に配置される。例えば、TIM205,209の間に配置されたTEC素子アレイ207を備えるTEC素子は、ヒートシンクベース211上に配置されたヒートシンクフィン211を備えるヒートシンクと、プリント回路基板(PCB)201上に配置されたパッケージ203の一部である演算装置との間に配置される。
一実施形態において、TECコントローラは、パッケージ203の側方のプリント回路基板201上に配置され、ワイヤ217を介してTEC素子アレイ207と接続されている。TECコントローラ215は、TEC素子アレイ207内を流れる電流を制御するように構成されている。
TEC素子アレイ207内の電流の流れる方向によって、TEC素子アレイ207の動作モードが、加熱モードまたは冷却モードのいずれかに決定する。加熱モードで動作するときには、TEC素子アレイ207は、パッケージ203を予熱するように構成され、冷却モードで動作するときには、TEC素子アレイ207は、パッケージ203に冷却を行うように構成される。
例えば、図2は、前側から見たシステム設計図である。
熱電冷却システム200は、図1に示されるように、データセンター101の冷却システム100の一部として利用されてもよい。
例えば、全体システム200が、図1に示されるように、浸漬槽内の冷却材に浸されていてもよい。
一実施形態において、TEC素子は、演算チップとヒートシンクとの間に配置される。例えば、TIM205,209の間に配置されたTEC素子アレイ207を備えるTEC素子は、ヒートシンクベース211上に配置されたヒートシンクフィン211を備えるヒートシンクと、プリント回路基板(PCB)201上に配置されたパッケージ203の一部である演算装置との間に配置される。
一実施形態において、TECコントローラは、パッケージ203の側方のプリント回路基板201上に配置され、ワイヤ217を介してTEC素子アレイ207と接続されている。TECコントローラ215は、TEC素子アレイ207内を流れる電流を制御するように構成されている。
TEC素子アレイ207内の電流の流れる方向によって、TEC素子アレイ207の動作モードが、加熱モードまたは冷却モードのいずれかに決定する。加熱モードで動作するときには、TEC素子アレイ207は、パッケージ203を予熱するように構成され、冷却モードで動作するときには、TEC素子アレイ207は、パッケージ203に冷却を行うように構成される。
図3は、一実施形態に係る浸漬冷却を備えたデータセンターシステム300の一例を示すブロック図である。
図3は、一実施形態に係る浸漬冷却およびTEC素子を備えるGPU演算システムの構成を示す。
なお、データ処理加速装置の一例としてGPUを利用しているが、他の形式のデータ処理ロジックも適用可能である。
一実施形態において、このデザインはIT機器と高く組み合わせられたデザインである。例えば、いくつかの基本断面が、図2に示されるように同じであることがわかる。
図3は、一実施形態に係る浸漬冷却およびTEC素子を備えるGPU演算システムの構成を示す。
なお、データ処理加速装置の一例としてGPUを利用しているが、他の形式のデータ処理ロジックも適用可能である。
一実施形態において、このデザインはIT機器と高く組み合わせられたデザインである。例えば、いくつかの基本断面が、図2に示されるように同じであることがわかる。
一実施形態において、浸漬槽(浸漬冷却槽)301は、誘電性液体305、IT機器(GPUカード、GPU基板)303、IT機器303に組み込まれている熱電冷却(TEC)素子309a,309b,309c,309dおよびTECコントローラ311を備えている。
一実施形態において、CDU321は、浸漬槽301の外部に配置され、流体ポンプ327、熱交換器325、およびCDUコントローラ323を備えている。
一実施形態において、熱交換器325は、水などの施設冷却液329を用いて、熱交換機能を果たすことができる。
一実施形態において、CDU321は、流体口315,319を介して浸漬槽301と接続されている。
一実施形態において、誘電性液体305は、流体口319から多孔質板317を通過して流れ、流体口315を通って浸漬槽から流出する。
一実施形態において、CDU321は、浸漬槽301の外部に配置され、流体ポンプ327、熱交換器325、およびCDUコントローラ323を備えている。
一実施形態において、熱交換器325は、水などの施設冷却液329を用いて、熱交換機能を果たすことができる。
一実施形態において、CDU321は、流体口315,319を介して浸漬槽301と接続されている。
一実施形態において、誘電性液体305は、流体口319から多孔質板317を通過して流れ、流体口315を通って浸漬槽から流出する。
一実施形態において、基板管理コントローラ(BMC)307は、GPU電力/温度/流体入口温度(温度センサ313は、多孔質板317の近くに配置されている)を読み取ることができ、内蔵されたTECコントローラ311およびCDUコントローラ323に制御信号を送ることができる。
一実施形態において、BMC307は、例えば、適切な電流センサおよび電圧センサを用いて、プロセッサによって引き出される電流およびプロセッサに印加される電圧を決定することによって、プロセッサの電力消費を決定することができる。すなわち、プロセッサの電力消費は、電力=電流*電圧として計算することができる。電力消費は、所定の制御ルックアップテーブルにおけるルックアップ動作のインデックスとして利用することができ、これにより、TEC素子309a,309b,309c,309d(まとめてTEC素子309と呼ぶ)に印加する最適TEC電流と、ポンプ327のポンプ速度を制御する最適ポンプ速度とが決定される。制御ルックアップテーブルおよびルックアップ動作に関する詳細な情報については、さらに以下で詳述する。
一実施形態において、BMC307は、例えば、適切な電流センサおよび電圧センサを用いて、プロセッサによって引き出される電流およびプロセッサに印加される電圧を決定することによって、プロセッサの電力消費を決定することができる。すなわち、プロセッサの電力消費は、電力=電流*電圧として計算することができる。電力消費は、所定の制御ルックアップテーブルにおけるルックアップ動作のインデックスとして利用することができ、これにより、TEC素子309a,309b,309c,309d(まとめてTEC素子309と呼ぶ)に印加する最適TEC電流と、ポンプ327のポンプ速度を制御する最適ポンプ速度とが決定される。制御ルックアップテーブルおよびルックアップ動作に関する詳細な情報については、さらに以下で詳述する。
一実施形態において、内蔵されたTECコントローラ311は、各TEC素子309a,309b,309c,309dに電流を供給する。
一実施形態において、TECコントローラ311は、基板管理コントローラ(BMC)307から制御信号を受信して、電流を調節することができる。
一実施形態において、CDUコントローラ323は、流体ポンプ327に制御信号を送信してポンプ速度を変更することができる。
BMC307は、その時点におけるチップの電力消費を考慮して、制御ルックアップテーブルのルックアップ動作により得られた最適TEC電流に基づいて、TEC素子309a,309b,309c,309dに特定の方向(例えば、加熱モードまたは冷却モード)に電流を流すように、TECコントローラ311に指示する。同様に、BMC307は、ルックアップ動作によって得られた最適ポンプ速度に基づいて、流体ポンプ327のポンプ速度を設定するように、CDUコントローラ312(またはポンプコントローラ)に指示する。その結果、冷却システム(例えば、TEC素子およびCDU)は、電子装置に十分な冷却(および/または加熱)を提供しつつ、最小(または最適)の電力を消費する。
一実施形態において、TECコントローラ311は、基板管理コントローラ(BMC)307から制御信号を受信して、電流を調節することができる。
一実施形態において、CDUコントローラ323は、流体ポンプ327に制御信号を送信してポンプ速度を変更することができる。
BMC307は、その時点におけるチップの電力消費を考慮して、制御ルックアップテーブルのルックアップ動作により得られた最適TEC電流に基づいて、TEC素子309a,309b,309c,309dに特定の方向(例えば、加熱モードまたは冷却モード)に電流を流すように、TECコントローラ311に指示する。同様に、BMC307は、ルックアップ動作によって得られた最適ポンプ速度に基づいて、流体ポンプ327のポンプ速度を設定するように、CDUコントローラ312(またはポンプコントローラ)に指示する。その結果、冷却システム(例えば、TEC素子およびCDU)は、電子装置に十分な冷却(および/または加熱)を提供しつつ、最小(または最適)の電力を消費する。
例えば、上記のシステム仕様には、TEC装置において直列に接続されたTEC素子の数n、TEC素子の材料定数1,α(ゼーベック係数、熱電変換機構に関係する)、TEC素子の材料定数2、K(熱コンダクタンス)、TEC素子の材料定数3、R(電気抵抗)、チップの上部のヒートシンクの熱抵抗の基準値
が含まれる。
さらに、上記のシステム仕様は、動作条件が流体入口温度Tliquid,inであり、作業負荷がチップ発生電力Q0であり、制御パラメータが、ポンプ速度vpumpおよびTEC電流Iを含み、決定される(未知の)システムパラメータとして、TEC電力オーバーヘッドQ’(TECが機能しているときに必要な追加電力)、チップケース温度Tcase、およびヒートシンクのベース温度Ths,bが含まれる。
さらに、上記のシステム仕様は、動作条件が流体入口温度Tliquid,inであり、作業負荷がチップ発生電力Q0であり、制御パラメータが、ポンプ速度vpumpおよびTEC電流Iを含み、決定される(未知の)システムパラメータとして、TEC電力オーバーヘッドQ’(TECが機能しているときに必要な追加電力)、チップケース温度Tcase、およびヒートシンクのベース温度Ths,bが含まれる。
上記3つの支配方程式の式(1)、式(2)および式(3)に3つの未知のパラメータが存在するので、与えられた流体入口温度Tliquid,inを用いて、TEC電力オーバーヘッドQ’、チップケース温度Tcaseを計算することができる。
これらの確定関係は、f1およびf2を用いて表すことができる。
Q’=f1(Q0,I,vpump)、および、
Tcase=f2(Q0,I,vpump)
なお、TECが冷却モードの場合には、Ths,b>Tcaseを実用的な動作条件と考えている。特定の構成の浸漬型冷却システムに対して、設計構成の一部として流体入口温度が所定の範囲内に維持されることに注意する。流体入口温度は、通常は、動作中に大きく変化することはなく、また変化すべきではない。目的としては、最適TEC電流および流体ポンプの最適ポンプ速度を見出すことにより、冷却システムが、冷却流体の流体温度を所定の範囲内に維持しながら、最小限の電力消費となることである。
これらの確定関係は、f1およびf2を用いて表すことができる。
Q’=f1(Q0,I,vpump)、および、
Tcase=f2(Q0,I,vpump)
なお、TECが冷却モードの場合には、Ths,b>Tcaseを実用的な動作条件と考えている。特定の構成の浸漬型冷却システムに対して、設計構成の一部として流体入口温度が所定の範囲内に維持されることに注意する。流体入口温度は、通常は、動作中に大きく変化することはなく、また変化すべきではない。目的としては、最適TEC電流および流体ポンプの最適ポンプ速度を見出すことにより、冷却システムが、冷却流体の流体温度を所定の範囲内に維持しながら、最小限の電力消費となることである。
一実施形態において、システム全体の冷却電力消費Qcoolingは、TEC電力オーバーヘッドおよびポンプ電力からなり、以下の式(4)で示される。
Qcooling=Q’+Ppump=f1(Q0,I,vpump)+βv3 pump …式(4)
Qcooling=Q’+Ppump=f1(Q0,I,vpump)+βv3 pump …式(4)
一実施形態において、最適化の説明を、「最適TEC電流および最適ポンプ速度が、流体温度とチップの作業負荷の条件下において、浸漬型冷却システムの冷却電力消費を最小値にすることができることである」と表現することができる。すなわち、所定の流体温度および所定のチップ消費電力に対して、熱的要求(例えば、設計上の特定の範囲内の流体温度)を満足しつつ、冷却システムによる電力消費が最小となるような最適TEC電流および最適ポンプ速度を、上記の式を用いて導き出すことができる。
一実施形態において、数学的に、最適化は以下のように示される。すなわち、
の関係を満たしつつ、トータルの冷却電力消費Qcoolingが最小になるように(I,vpump)の最適なシステム動作設定を見出すことである。
一実施形態において、数学的に、最適化は以下のように示される。すなわち、
最初に、BMCは、1分などの一定期間にわたって、チップ電力Q0を監視する。最適TEC電流およびポンプ速度を決定するためのチップ電力は、一定期間にわたって測定された平均化されたチップ電力に基づいて決定することができる。また、ある時点におけるチップ電力は、チップによって引き出された電流とチップに印加された電圧とに基づいて決定することができる。
BMCは、BMCのメモリ上にあらかじめ定義されている制御ルックアップテーブル内のQ0の値を検索し、最適TEC電流I*および最適ポンプ速度v*
pumpを決定することができる。例えば、Q0=400W、I*=1A、そして、v*
pump=1000RPMである。
BMCは、ルックアップ動作に基づいて、TECコントローラに制御信号(例えば、電流、電圧)を送信する。一方、BMCは、CDUコントローラに制御信号(例えば、電流、電圧)を送り、CDUコントローラは流体ポンプに制御信号を送る。これに応答して、TECコントローラは電流を生成し、TEC装置はI*で動作し、流体ポンプは速度v*
pumpで動作する。上記の動作は反復して行われてもよい。
図4は、一実施形態に係るTEC素子の電流に対するTEC電力オーバーヘッドのグラフを示す図である。
例えば、動作1においては、システムは、単一の値のチップ電力Q0に対する最適制御パラメータを決定する。
図4においては、Q’対Iは、図4の曲線のような傾向がある。
一実施形態において、図4はTEC電力オーバーヘッドとTEC電流との関係を示している。
一実施形態において、Q’の傾向を分析して、簡単に説明することができる。
例えば、式(3)を再度示すと以下のようになる。
Q’=nαI(Ths,b-Tcase)+I2R
例えば、動作1においては、システムは、単一の値のチップ電力Q0に対する最適制御パラメータを決定する。
図4においては、Q’対Iは、図4の曲線のような傾向がある。
一実施形態において、図4はTEC電力オーバーヘッドとTEC電流との関係を示している。
一実施形態において、Q’の傾向を分析して、簡単に説明することができる。
例えば、式(3)を再度示すと以下のようになる。
Q’=nαI(Ths,b-Tcase)+I2R
一実施形態では、IがImin(Imin>0)に近い場合には、(Ths,b-Tcase)が大きいことによって、第1項が大きくなると考えられる。本実施形態では、IがImaxに近い場合に、第2項が大きくなると考えられる。すなわち、Q’の傾向は、最初は減少し、次に増加する。
一実施形態において、1つのポンプ速度vpump,1に対して、Q’の極小値に対するI*
1を得ることができる。
一実施形態において、システムは、vpump,minとvpump,maxとの間のいくつかのポンプ速度(例えば、vpump,1=1000RPM、vpump,2=1500RPM、vpump,3=2000RPM)を選択して、以下のように特定のI*値を生成することができる。
一実施形態において、システムは、vpump,minとvpump,maxとの間のいくつかのポンプ速度(例えば、vpump,1=1000RPM、vpump,2=1500RPM、vpump,3=2000RPM)を選択して、以下のように特定のI*値を生成することができる。
一実施形態において、チップ電力のリアルタイム値は、
Q0;(I* 1,vpump,1);(I* 2,vpump,2);(I* 3,vpump,3)
である。
Q0;(I* 1,vpump,1);(I* 2,vpump,2);(I* 3,vpump,3)
である。
一実施形態において、式(4)に(I*
i,vpump,i)を代入し、対応する各冷却電力消費Qcoolingを比較して、システムは、Qcoolingの最小値をグローバルミニマムとして選択することができる。
このように、チップ電力Q0の下で、システムは、大域的最小値として、Qcoolingの最小値を選択することができる。したがって、大域的最小のQcoolingに対する制御パラメータ(I*,v* pump)が、実施形態に従って定義される。
このように、チップ電力Q0の下で、システムは、大域的最小値として、Qcoolingの最小値を選択することができる。したがって、大域的最小のQcoolingに対する制御パラメータ(I*,v* pump)が、実施形態に従って定義される。
動作2において、システムは、Q0の値を変更し、動作1を繰り返すことができる。
一実施形態において、テーブルのサイズNは、BMCにおける許容メモリ空間に依存する。
一実施形態において、動作条件Tliquid,in(流体入口温度)が変化した場合、制御ルックアップテーブルを再定義する必要がある。
一実施形態において、ルックアップテーブルは、多数のエントリを備え、各エントリは、特定のQ0に対応する。
各エントリは、特定のQ0を、最適TEC電流および最適ポンプ速度に写像する。
各ルックアップテーブルは、特定の事前定義された冷却システムのために訓練され、構築される。典型的には、冷却システムは、冷却流体の流体温度を所定の範囲内に維持するように設計されている。TECおよびCDU(例えば、ポンプ)の電力消費は、維持すべき流体温度に比例する。したがって、制御ルックアップテーブルは、正常動作中に流体温度が大きく変化しないことを前提に、流体温度の特定の範囲に関連付けられている。
一実施形態において、動作条件Tliquid,in(流体入口温度)が変化した場合、制御ルックアップテーブルを再定義する必要がある。
一実施形態において、ルックアップテーブルは、多数のエントリを備え、各エントリは、特定のQ0に対応する。
各エントリは、特定のQ0を、最適TEC電流および最適ポンプ速度に写像する。
各ルックアップテーブルは、特定の事前定義された冷却システムのために訓練され、構築される。典型的には、冷却システムは、冷却流体の流体温度を所定の範囲内に維持するように設計されている。TECおよびCDU(例えば、ポンプ)の電力消費は、維持すべき流体温度に比例する。したがって、制御ルックアップテーブルは、正常動作中に流体温度が大きく変化しないことを前提に、流体温度の特定の範囲に関連付けられている。
一実施形態では、システムは、様々な液体冷却要件(例えば、異なる流体温度)のための万能システムとして構成されてもよい。その結果、システムは、それぞれが温度範囲の異なる1つに対応する複数の制御ルックアップテーブルのリストを維持する。制御ルックアップテーブルは、同様の冷却システム環境の下で訓練され、構成されてもよい。正常動作時には、特定の流体温度(例えば、入口において測定された温度)に依存して、制御ルックアップテーブルのリストから適切な1つの制御ルックアップテーブルが選択される。
動作中、システムは、例えば、チップによって引き出された電流および電圧に基づいて、チップ電力消費Q0を決定することができる。電力消費を表すチップ電力値に基づいて、チップ電力値に一致するエントリを探し出し、一致するエントリから最適TEC電流および最適ポンプ速度を得るために、ルックアップ動作が行われる。
図5は、一実施形態に係る屋外のエッジ演算のための熱電冷却を備えるデータセンターシステム400の一例を示すブロック図である。
図5は、一実施形態に係る屋外のエッジ演算のための浸漬冷却とTEC素子とを備えるGPU演算システムの構成を示す図である。
一実施形態において、このデザインは、IT機器を用いて高く組み合わせられたデザインである。例えば、図2に示されるように、いくつかの基本断面は同じであることがわかる。
図5は、一実施形態に係る屋外のエッジ演算のための浸漬冷却とTEC素子とを備えるGPU演算システムの構成を示す図である。
一実施形態において、このデザインは、IT機器を用いて高く組み合わせられたデザインである。例えば、図2に示されるように、いくつかの基本断面は同じであることがわかる。
一実施形態において、浸漬槽(浸漬冷却槽)401は、誘電性流体(液体および/または空気)405、IT機器(GPUカード、GPU基板)403、熱電冷却(TEC)素子409a,409b,409c,409d、およびIT機器403に組み込まれているTECコントローラ411を備える。
一実施形態において、CDU421は、浸漬槽401の外側に配置され、流体ポンプ427、液体-空気熱交換器425、およびCDUコントローラ423を備えている。
一実施形態において、液体-空気熱交換器425は、液体、空気、またはこれらの組み合わせを使用して、熱交換機能を実行することができる。
一実施形態において、CDU421は、流体口415,419を介して浸漬槽401と接続されている。
一実施形態において、誘電性流体405は、流体口419から多孔質板417を通過して流れ、流体口415を介して浸漬槽401から出る。
一実施形態において、CDU421は、浸漬槽401の外側に配置され、流体ポンプ427、液体-空気熱交換器425、およびCDUコントローラ423を備えている。
一実施形態において、液体-空気熱交換器425は、液体、空気、またはこれらの組み合わせを使用して、熱交換機能を実行することができる。
一実施形態において、CDU421は、流体口415,419を介して浸漬槽401と接続されている。
一実施形態において、誘電性流体405は、流体口419から多孔質板417を通過して流れ、流体口415を介して浸漬槽401から出る。
一実施形態において、基板管理コントローラ(BMC)407は、GPU電力/温度/流体入口温度(温度センサ413は、多孔質板417の近くに配置されている)を読み取ることができ、内蔵されたTECコントローラ411およびCDUコントローラ423に制御信号を送ることができる。
一実施形態において、内蔵されたTECコントローラ411は、各TEC素子409a,409b,409c,409dに電流を供給する。例えば、TEC素子409a,409b,409c,409dは、電流がないと機能しない。
一実施形態において、熱電冷却コントローラ411は、基板管理コントローラ(BMC)407から制御信号を受信して、電流を調節することができる。
一実施形態において、CDUコントローラ423は、流体ポンプ427に制御信号を送信して、ポンプ速度を変更することができる。
一実施形態において、熱電冷却コントローラ411は、基板管理コントローラ(BMC)407から制御信号を受信して、電流を調節することができる。
一実施形態において、CDUコントローラ423は、流体ポンプ427に制御信号を送信して、ポンプ速度を変更することができる。
一実施形態において、浸漬型冷却システム400は、TEC素子409a,409b,409c,409dを介して加熱モードで動作する。例えば、この浸漬型システム400がエッジ演算装置として使用される場合には、誘電性流体405の温度が非常に低くなり、演算チップが起動できなくなることがある。一実施形態において、この条件において、TEC素子409a,409b,409c,409dは、加熱モードで動作するように制御され得るが、追加の加熱源を必要としない。
さらに、一実施形態において、TEC素子409a,409b,409c,409dの電圧および電流は、加熱モードの下で反転させることができる。
例えば、TEC素子409a,409b,409c,409dは、チップが所望の温度に予熱されるように、液体(低い温度)からチップ(高い温度)にエネルギを移動させるヒートポンプとして動作することができる。
一実施形態において、チップが起動できるようになった後、TECが加熱モードでの動作を停止する。
例えば、TEC素子409a,409b,409c,409dは、チップが所望の温度に予熱されるように、液体(低い温度)からチップ(高い温度)にエネルギを移動させるヒートポンプとして動作することができる。
一実施形態において、チップが起動できるようになった後、TECが加熱モードでの動作を停止する。
一実施形態において、浸漬型冷却システムは、ポンプが故障したときにTEC素子によって自己保護を行うことができる。例えば、ポンプが故障すると、流体は、外力によってそれ以上駆動されなくなる。
一実施形態において、チップが熱を発生し続けると、流体の温度は上昇し続ける。一実施形態において、流体が急速に高温になるため、IT機器は、シャットダウンする前に、データのバックアップや作業負荷の転送を終えることができないことがある。一実施形態において、TEC電流を大きくすることにより、流体の温度が高いときにTECコントローラがTEC素子によってチップを冷却させることができ、システムは、シャットダウンする前に、必要な動作を終えるための時間的余裕を得ることができる。
一実施形態において、チップが熱を発生し続けると、流体の温度は上昇し続ける。一実施形態において、流体が急速に高温になるため、IT機器は、シャットダウンする前に、データのバックアップや作業負荷の転送を終えることができないことがある。一実施形態において、TEC電流を大きくすることにより、流体の温度が高いときにTECコントローラがTEC素子によってチップを冷却させることができ、システムは、シャットダウンする前に、必要な動作を終えるための時間的余裕を得ることができる。
一実施形態において、試運転時に熱抵抗値
を求める手順は、以下のようにして求めることができる。
まず、ヒートシンクベースの温度を測定するために、ヒートシンクベースとTEC素子との間に熱電対を配置する。次に、ポンプの最大速度vpump,maxを設定する。TEC電流を遮断し、TEC素子が機能しないようにする。
その後、サーバの電源を入れ、チップ電力
(TEC素子のないシステムがこの電力を消費できる限り)を用いた作業負荷をかける。
例えば、システムが定常状態になると、システムはヒートシンクベースの温度
を読み取って、下式を算出する。
まず、ヒートシンクベースの温度を測定するために、ヒートシンクベースとTEC素子との間に熱電対を配置する。次に、ポンプの最大速度vpump,maxを設定する。TEC電流を遮断し、TEC素子が機能しないようにする。
その後、サーバの電源を入れ、チップ電力
例えば、システムが定常状態になると、システムはヒートシンクベースの温度
図6は、本願発明の実施形態に係る冷却システムの例示的な冷却方法500のフローチャートを示す図である。
例えば、図6は、冷却電力消費を最小化するための浸漬型TEC冷却システムの制御方法を示す。
例えば、図6は、冷却電力消費を最小化するための浸漬型TEC冷却システムの制御方法を示す。
動作501において、BMCは、一実施形態における監視間隔で、リアルタイムのチップ温度を監視する。
一実施形態において、BMCは、電子装置に液体冷却を提供する冷却流体の流体温度に基づいて、電子装置によって消費される電力を表す第1の電力値を決定するように構成される。
一実施形態において、浸漬槽は、電子装置と、浸漬槽内に収容された冷却流体に沈められたTEC素子とを備える。
一実施形態において、CDUは、浸漬槽の外側に配置される。
一実施形態において、BMCは、電子装置に液体冷却を提供する冷却流体の流体温度に基づいて、電子装置によって消費される電力を表す第1の電力値を決定するように構成される。
一実施形態において、浸漬槽は、電子装置と、浸漬槽内に収容された冷却流体に沈められたTEC素子とを備える。
一実施形態において、CDUは、浸漬槽の外側に配置される。
動作503において、冷却システムは、一実施形態に従って、予め定義された制御ルックアップテーブル内のチップ電力値を検索することができる。例えば、事前定義された制御ルックアップテーブルは、BMCのメモリに格納される。
一実施形態において、BMCは、第1の流体温度に基づいて、第1の制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を行うように構成される。
一実施形態において、第1の制御ルックアップテーブルは、第1の電力値に対応している。
一実施形態において、第1の制御ルックアップテーブルは、複数の制御ルックアップテーブルの1つであり、各制御ルックアップテーブルは、特定の電力値に対応する。
一実施形態において、冷却システムは、第1の電力値に基づいて、複数の制御ルックアップテーブルから第1の制御ルックアップテーブルを選択する。
一実施形態において、BMCは、第1の流体温度に基づいて、第1の制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を行うように構成される。
一実施形態において、第1の制御ルックアップテーブルは、第1の電力値に対応している。
一実施形態において、第1の制御ルックアップテーブルは、複数の制御ルックアップテーブルの1つであり、各制御ルックアップテーブルは、特定の電力値に対応する。
一実施形態において、冷却システムは、第1の電力値に基づいて、複数の制御ルックアップテーブルから第1の制御ルックアップテーブルを選択する。
動作505において、冷却システムは、一実施形態に従って、最適TEC電流および最適ポンプ速度を決定することができる。例えば、BMCは、ルックアップ動作に基づいて、最適TEC電流および最適ポンプ速度を決定するように構成される。一実施形態において、最適TEC電流および最適ポンプ速度は、電子装置の熱的要求を満たしつつ、冷却システムの電力消費が最小になるように、ルックアップ動作に基づいて決定される。
動作507において、BMCは、一実施形態に従って、TECコントローラに制御信号を送信する。
一実施形態において、BMCは、CDUコントローラに制御信号を送る。
一実施形態において、CDUコントローラは、流体ポンプに制御信号を送る。
一実施形態において、BMCは、所定の時間内に測定される流体温度に基づいて、第1の電力値を決定するように構成される。
一実施形態において、BMCは、CDUコントローラに制御信号を送る。
一実施形態において、CDUコントローラは、流体ポンプに制御信号を送る。
一実施形態において、BMCは、所定の時間内に測定される流体温度に基づいて、第1の電力値を決定するように構成される。
動作509において、TECコントローラは、電流を生成し、TEC素子は、一実施形態に従って、最適な電流で動作する。
一実施形態において、流体ポンプは、最適な速度で動作する。例えば、TECコントローラは、BMCから第1の制御信号を受信し、電子装置に取り付けられたTEC素子を制御して、第1のTEC電流をTEC素子内に流す。
一施形態において、CDUコントローラは、BMCから第2の制御信号を受信して、第1のポンプ速度に応じてCDUの流体ポンプのポンプ速度を構成することができる。
一実施形態において、TECコントローラは、流体温度が第2の所定の温度閾値を超えて上昇したときに、TEC電流をTEC素子内で第2の方向に流すように構成され、これにより、TEC素子が冷却モードで動作する。
一実施形態において、流体ポンプは、最適な速度で動作する。例えば、TECコントローラは、BMCから第1の制御信号を受信し、電子装置に取り付けられたTEC素子を制御して、第1のTEC電流をTEC素子内に流す。
一施形態において、CDUコントローラは、BMCから第2の制御信号を受信して、第1のポンプ速度に応じてCDUの流体ポンプのポンプ速度を構成することができる。
一実施形態において、TECコントローラは、流体温度が第2の所定の温度閾値を超えて上昇したときに、TEC電流をTEC素子内で第2の方向に流すように構成され、これにより、TEC素子が冷却モードで動作する。
動作511において、冷却システムは、一実施形態に従って、冷却システムがシャットダウンすべきか否かを判定することができる。シャットダウンしない場合には、システムは、実施形態に従って動作501からの工程を繰り返す。シャットダウンする場合には、全ての工程を終了する。
図7は、本願発明の一実施形態係よる冷却システムの例示的な冷却方法600のフローチャートを示す図である。
例えば、図7は、寒冷時にTEC冷却システムを起動するための制御方法を示している。
例えば、図7は、寒冷時にTEC冷却システムを起動するための制御方法を示している。
動作601において、BMCは、一実施形態に従った監視間隔でリアルタイムのチップ温度を監視する。
動作603において、システムは、一実施形態に従って、電圧を反転させるためにTECコントローラに制御信号を送信する。例えば、TECコントローラは、流体温度が第1の所定の温度閾値を下回った場合に、TEC電流をTEC素子内の第1の方向に流すように構成されており、これにより、TEC素子が加熱モードで動作するようになる。
一実施形態において、BMCは流体ポンプに制御信号を送り、ポンプ速度を最低にする。
動作603において、システムは、一実施形態に従って、電圧を反転させるためにTECコントローラに制御信号を送信する。例えば、TECコントローラは、流体温度が第1の所定の温度閾値を下回った場合に、TEC電流をTEC素子内の第1の方向に流すように構成されており、これにより、TEC素子が加熱モードで動作するようになる。
一実施形態において、BMCは流体ポンプに制御信号を送り、ポンプ速度を最低にする。
動作605において、TECコントローラは、一実施形態において、流体ポンプが最低速度で動作する最大値の反転電流を生成する。
動作607において、BMCは、BMCの読み取りから、チップ温度が下限値を超えているか否かを判定する。チップ温度が下限値を超えていない場合には、動作609に移行し、BMCは監視間隔でリアルタイムのチップ温度を監視する。ステップ607においてチップ温度が下限値を超えた場合には、ステップ611に移行し、BMCはTECコントローラに制御信号を送信し、TEC電圧はゼロになり、TECは加熱モードを終了する。
動作607において、BMCは、BMCの読み取りから、チップ温度が下限値を超えているか否かを判定する。チップ温度が下限値を超えていない場合には、動作609に移行し、BMCは監視間隔でリアルタイムのチップ温度を監視する。ステップ607においてチップ温度が下限値を超えた場合には、ステップ611に移行し、BMCはTECコントローラに制御信号を送信し、TEC電圧はゼロになり、TECは加熱モードを終了する。
上述の明細書において、本発明の実施形態は、特定の例示的な実施形態を参照して説明されている。以下の特許請求の範囲に記載された本発明の広範な精神および範囲から逸脱することなく、それらに様々な変更を加えることができることは明らかである。したがって、本明細書および図面は、制限的な意味ではなく、例示的な意味でみなされるべきである。
Claims (20)
- 電子装置により消費される電力を表す第1の電力値を決定し、該第1の電力値に基づいて制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を実行し、該ルックアップ動作に基づいて第1の熱電冷却(TEC)電流および第1のポンプ速度を決定するように構成された基板管理コントローラ(BMC)と、
前記電子装置に取り付けられたTEC素子を制御して、該TEC素子内に前記第1のTEC電流を流すTECコントローラと、
冷却分配ユニット(CDU)コントローラとを備え、
該CDUコントローラが、前記第1のポンプ速度に応じて、CDUの流体ポンプのポンプ速度を設定し、前記CDUが前記電子装置に液体冷却を提供する冷却システム。 - 前記制御ルックアップテーブルが、複数のエントリを備え、
各該エントリが、特定の電力値を、該特定の電力値に対応する最適TEC電流および最適ポンプ速度に写像する請求項1に記載の冷却システム。 - 前記制御ルックアップテーブルが、複数の冷却システムの事前の動作統計データに基づいて生成され、各冷却システムによる電力消費が最小になるような液冷を提供するための最適TEC電流および最適ポンプ速度を決定する請求項1に記載の冷却システム。
- 前記電子装置を収容する浸漬槽をさらに備え、
前記TEC素子が前記浸漬槽の中に収容された冷却流体に浸漬される請求項1に記載の冷却システム。 - 前記CDUが前記浸漬槽の外部に配置されている請求項4に記載の冷却システム。
- 前記BMCが、前記第1の電力値を得るために、前記電子装置の動作を所定の期間監視するように構成されている請求項1に記載の冷却システム。
- 前記第1のTEC電流および前記第1のポンプ速度が、前記電子装置の熱的要求を満たしつつ、前記冷却システムの電力消費が最小になるように、前記ルックアップテーブルのルックアップ動作に基づいて決定される請求項1に記載の冷却システム。
- 前記TECコントローラが、液体冷却の流体の流体温度が第1の所定の温度閾値を下回ったときに、前記TEC素子内の第1の方向にTEC電流を流すように構成され、前記TEC素子を加熱モードで動作させる請求項1に記載の冷却システム。
- 前記TECコントローラが、液体冷却の流体の流体温度が第2の所定の温度閾値を超えて上昇したときに、前記TEC電流を前記TEC素子内の第2の方向に流すように構成され、前記TEC素子を冷却モードで動作させる請求項8に記載の冷却システム。
- データセンターの電子ラックであって、
1以上のサーバとして動作する1以上の電子装置と、
該1以上の電子装置に結合される冷却システムとを備え、
該冷却システムが、
前記電子装置によって消費される電力を表す第1の電力値を決定し、該第1の電力値に基づいて制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を実行し、該ルックアップ動作に基づいて第1の熱電冷却(TEC)電流および第1のポンプ速度を決定するように構成された基板管理コントローラ(BMC)と、
TEC素子内に前記第1のTEC電流を流すために、前記電子装置に取り付けられた熱電冷却素子を制御するTECコントローラと、
前記第1のポンプ速度に応じて流体ポンプのポンプ速度を設定する冷却分配ユニット(CDU)とを備え、
該CDUが、前記電子装置に液体冷却を供給する電子ラック。 - 前記制御ルックアップテーブルが複数のエントリを備え、
各該エントリが、特定の電力値を、該特定の電力値に対応する最適TEC電流および最適ポンプ速度に写像する請求項10に記載の電子ラック。 - 前記制御ルックアップテーブルは、複数の冷却システムの事前の動作統計データに基づいて生成され、各前記冷却システムによる電力消費が最小になるような液冷を提供するための前記最適TEC電流および前記最適ポンプ速度を決定することを含む請求項11に記載の電子ラック。
- 前記電子装置を収容する浸漬槽をさらに備え、
前記TEC素子が前記浸漬槽の中に収容された冷却流体内に浸漬される請求項10に記載の電子ラック。 - 前記CDUが、前記浸漬槽の外部に配置される請求項13に記載の電子ラック。
- 前記BMCが、前記第1の電力値を得るために、前記電子装置の動作を所定の期間監視するように構成されている請求項10に記載の電子ラック。
- 前記第1のTEC電流および前記第1のポンプ速度が、前記電子装置の熱的要求を満たしつつ、前記冷却システムの電力消費が最小になるように、前記ルックアップ動作に基づいて決定される請求項10に記載の電子ラック。
- 前記TECコントローラが、液体冷却の流体の流体温度が第1の所定の温度閾値を下回ったときに、前記TEC素子内の第1の方向にTEC電流を流すように構成され、前記TEC素子を加熱モードで動作させる請求項10に記載の電子ラック。
- 前記TECコントローラが、液体冷却の流体の流体温度が第2の所定の温度閾値を超えて上昇したときに、前記TEC電流を前記TEC素子内の第2の方向に流すように構成され、前記TEC素子を冷却モードで動作させる請求項17に記載の電子ラック。
- 液冷を提供する方法であって、
電子装置によって消費される電力を表す第1の電力値を決定し、
該第1の電力値に基づいて制御ルックアップテーブルにおいてルックアップ動作を実行し、
該ルックアップ動作に基づいて第1の熱電冷却(TEC)電流および第1のポンプ速度を決定し、
前記第1のTEC電流をTEC素子内に流し、
前記第1のポンプ速度に応じて冷却分配ユニット(CDU)の流体ポンプのポンプ速度を設定し、
該CDUが、前記電子装置に液冷を提供する方法。 - 前記制御ルックアップテーブルが複数のエントリを備え、
各該エントリが、特定の電力値を、該特定の電力値に対応する最適TEC電流および最適ポンプ速度に写像する請求項19に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US17/212,075 US11683916B2 (en) | 2021-03-25 | 2021-03-25 | Efficient and robust system design and control method using thermoelectric cooling |
US17/212,075 | 2021-03-25 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022084812A true JP2022084812A (ja) | 2022-06-07 |
Family
ID=80933302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022046310A Pending JP2022084812A (ja) | 2021-03-25 | 2022-03-23 | 冷却システム、電子ラックおよび方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11683916B2 (ja) |
EP (1) | EP4025026A3 (ja) |
JP (1) | JP2022084812A (ja) |
CN (1) | CN115135098A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116068453A (zh) * | 2023-03-20 | 2023-05-05 | 广州锐速智能科技股份有限公司 | 用于直流生态的igbt大功率电源模块检测方法及系统 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI807318B (zh) * | 2021-05-07 | 2023-07-01 | 緯穎科技服務股份有限公司 | 具有浸沒式冷卻系統的電子設備及其操作方法 |
WO2024098110A1 (en) * | 2022-11-10 | 2024-05-16 | Firmus Metal Technologies Singapore Pte Ltd | Systems for cooling of computing devices using liquid immersion |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4979179A (ja) * | 1972-12-01 | 1974-07-31 | ||
JP2006215882A (ja) * | 2005-02-04 | 2006-08-17 | Hitachi Ltd | ディスクアレイ装置及びその液冷装置 |
WO2019017297A1 (ja) * | 2017-07-18 | 2019-01-24 | 日本電気株式会社 | 相変化冷却装置および相変化冷却方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10331189B2 (en) * | 2015-02-12 | 2019-06-25 | Dell Products L.P. | Fan speed determination for improved power management in information handling systems |
US10345875B2 (en) * | 2016-02-18 | 2019-07-09 | Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. | Hybrid passive and active cooling assembly |
US10238011B1 (en) | 2017-10-10 | 2019-03-19 | Baidu Usa Llc | Optimal controller for hybrid liquid-air cooling system of electronic racks of a data center |
US10667427B2 (en) * | 2018-07-05 | 2020-05-26 | Baidu Usa Llc | Immersion cooling system for data centers |
US10939580B2 (en) | 2019-03-25 | 2021-03-02 | Baidu Usa Llc | Control strategy for immersion cooling system |
US11212946B2 (en) | 2019-09-18 | 2021-12-28 | Baidu Usa Llc | Performance-per-watt optimal control logic in liquid cooling solution for high performance machine-learning computing |
US11429085B2 (en) * | 2020-05-28 | 2022-08-30 | Dell Products L.P. | Systems and methods for thermal control of an information handling resource using thermoelectric effect |
-
2021
- 2021-03-25 US US17/212,075 patent/US11683916B2/en active Active
-
2022
- 2022-03-23 JP JP2022046310A patent/JP2022084812A/ja active Pending
- 2022-03-24 EP EP22164019.6A patent/EP4025026A3/en not_active Withdrawn
- 2022-03-25 CN CN202210307604.5A patent/CN115135098A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4979179A (ja) * | 1972-12-01 | 1974-07-31 | ||
JP2006215882A (ja) * | 2005-02-04 | 2006-08-17 | Hitachi Ltd | ディスクアレイ装置及びその液冷装置 |
WO2019017297A1 (ja) * | 2017-07-18 | 2019-01-24 | 日本電気株式会社 | 相変化冷却装置および相変化冷却方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116068453A (zh) * | 2023-03-20 | 2023-05-05 | 广州锐速智能科技股份有限公司 | 用于直流生态的igbt大功率电源模块检测方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4025026A3 (en) | 2022-09-28 |
CN115135098A (zh) | 2022-09-30 |
US11683916B2 (en) | 2023-06-20 |
EP4025026A2 (en) | 2022-07-06 |
US20220312644A1 (en) | 2022-09-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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|
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