JP2022044569A - Method for observing microplate and cultured cells - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、マイクロプレート及び培養細胞の観察方法に関する。 The present invention relates to a method for observing microplates and cultured cells.
生命現象を解明する基礎研究、創薬研究等には検体として培養細胞が多く用いられており、大量の検体を得るための培養容器が広く利用されている。従来の培養細胞の評価は、MTT assay、ELISA(Enzyme-Linked Immuno Sorbent Assay)等、細胞代謝もしくは代謝物による特性評価が主であった。一方、3次元培養で得られる、細胞が凝集した3次元細胞塊(スフェロイド)は、生体内と同様に立体的な構造を有している。そのため、近年では細胞塊を用いた形態観察の重要性が増している。 Cultured cells are often used as specimens in basic research, drug discovery research, etc. to elucidate biological phenomena, and culture vessels for obtaining a large amount of specimens are widely used. Conventional evaluation of cultured cells has mainly been carried out by cell metabolism or metabolite-based property evaluation such as MTT assay and ELISA (Enzyme-Linked Immuno Sorbent Assay). On the other hand, the three-dimensional cell mass (spheroid) in which cells are aggregated, which is obtained by three-dimensional culture, has a three-dimensional structure as in the living body. Therefore, in recent years, the importance of morphological observation using cell masses has increased.
3次元培養に用いる培養容器としては、複数のウェルが縦横にマトリックス状に配列されたマイクロプレートが知られている(特許文献1)。各ウェルに培養液を分注して大量培養することで、各ウェルで形成される多くの細胞塊を効率良く観察できる。マイクロプレートの基準としては、ANSI(American National Standards Institute)/SBS規格が知られている。ANSI/SBS規格では、平面視でプレートの最も外周側に配置されているウェル同士のピッチが規定されている。 As a culture container used for three-dimensional culture, a microplate in which a plurality of wells are arranged in a matrix in the vertical and horizontal directions is known (Patent Document 1). By dispensing the culture solution into each well and culturing in large quantities, many cell masses formed in each well can be efficiently observed. The ANSI (American National Standards Institute) / SBS standard is known as a standard for microplates. The ANSI / SBS standard defines the pitch between wells arranged on the outermost side of the plate in plan view.
細胞観察としては、自動観察装置を用いて大量の細胞をハイスループットに観察する方法が開発されている。しかし、従来のマイクロプレートでは、ANSI/SBS規格に合うものであっても各ウェルの培養細胞を順に正確に捉えていくことが難しく、自動観察の効率が低下しやすい。 As for cell observation, a method of observing a large number of cells with high throughput using an automatic observation device has been developed. However, with a conventional microplate, it is difficult to accurately capture the cultured cells in each well even if they meet the ANSI / SBS standard, and the efficiency of automatic observation tends to decrease.
本発明は、観察時に各ウェルの培養細胞を順に捉えていくことが容易であり、自動観察に適用した場合の観察効率に優れるマイクロプレートを提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a microplate which can easily capture cultured cells in each well in order at the time of observation and has excellent observation efficiency when applied to automatic observation.
本発明は、以下の態様を有する。
[1]複数のウェルが平面視で四角形状に配列されているマイクロプレートであって、
各々の前記ウェルの底面が下方に凹んだ凹面であり、
前記ウェルの底面の最深部を当該ウェルの中心とし、
平面視で、4つの角に位置する4つのウェルの中心を各頂点とする四角形における、対向する辺の中点同士を結ぶ2本の直線の交点を原点Oとして、2本の直線のうち長いほうの直線をx軸とし、前記原点Oを通る前記x軸に垂直な線をy軸として、
予め設定されている各ウェルのピッチから算出される各ウェルの中心のx座標とy座標の理論値を求め、各ウェルの中心のx座標とy座標の実測値と比較したとき、
(x-x0)/x0×100(ただし、xはウェルの中心のx座標の実測値であり、x0はウェルの中心のx座標の理論値である。)で表される各ウェルのx軸方向のズレの割合の最大値と最小値との差が2.00%以下であり、
かつ、(y-y0)/y0×100(ただし、yはウェルの中心のy座標の実測値であり、y0はウェルの中心のy座標の理論値である。)で表される各ウェルのy軸方向のズレの割合の最大値と最小値との差が2.00%以下である、マイクロプレート。
[2]複数のウェルが平面視で四角形状に配列されているマイクロプレートであって、
各々の前記ウェルの底面が下方に凹んだ凹面であり、
前記ウェルの底面の最深部を当該ウェルの中心とし、
平面視で、4つの角に位置する4つのウェルの中心を各頂点とする四角形における、対向する辺の中点同士を結ぶ2本の直線の交点を原点Oとして、2本の直線のうち長いほうの直線をx軸とし、前記原点Oを通る前記x軸に垂直な線をy軸として、
予め設定されている各ウェルのピッチから算出される各ウェルの中心のx座標とy座標の理論値を求め、各ウェルの中心のx座標とy座標の実測値と比較したとき、
(x-x0)/x0×100(ただし、xはウェルの中心のx座標の実測値であり、x0はウェルの中心のx座標の理論値である。)で表される各ウェルのx軸方向のズレの割合が-1.00%以上1.00%以下であり、
かつ、(y-y0)/y0×100(ただし、yはウェルの中心のy座標の実測値であり、y0はウェルの中心のy座標の理論値である。)で表される各ウェルのy軸方向のズレの割合が-1.00%以上1.00%以下である、マイクロプレート。
[3][1]又は[2]のマイクロプレートのみを用い、各ウェルで培養した培養細胞を自動観察する、培養細胞の観察方法。
The present invention has the following aspects.
[1] A microplate in which a plurality of wells are arranged in a square shape in a plan view.
The bottom surface of each of the wells is a concave surface that is recessed downward.
The deepest part of the bottom surface of the well is set as the center of the well.
In a plan view, the longest of the two straight lines is the intersection of the two straight lines connecting the midpoints of the opposite sides in the quadrangle whose apex is the center of the four wells located at the four corners. The straight line is the x-axis, and the line perpendicular to the x-axis passing through the origin O is the y-axis.
When the theoretical values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well calculated from the preset pitch of each well are obtained and compared with the measured values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well,
Each well represented by (x-x 0 ) / x 0 x 100 (where x is the measured value of the x-coordinate of the center of the well and x 0 is the theoretical value of the x-coordinate of the center of the well). The difference between the maximum value and the minimum value of the deviation ratio in the x-axis direction is 2.00% or less.
And it is represented by (y-y 0 ) / y 0 x 100 (where y is the measured value of the y-coordinate of the center of the well and y 0 is the theoretical value of the y-coordinate of the center of the well). A microplate in which the difference between the maximum value and the minimum value of the deviation ratio in the y-axis direction of each well is 2.00% or less.
[2] A microplate in which a plurality of wells are arranged in a square shape in a plan view.
The bottom surface of each of the wells is a concave surface that is recessed downward.
The deepest part of the bottom surface of the well is set as the center of the well.
In a plan view, the longest of the two straight lines is the intersection of the two straight lines connecting the midpoints of the opposite sides in the quadrangle whose apex is the center of the four wells located at the four corners. The straight line is the x-axis, and the line perpendicular to the x-axis passing through the origin O is the y-axis.
When the theoretical values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well calculated from the preset pitch of each well are obtained and compared with the measured values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well,
Each well represented by (x-x 0 ) / x 0 x 100 (where x is the measured value of the x-coordinate of the center of the well and x 0 is the theoretical value of the x-coordinate of the center of the well). The rate of deviation in the x-axis direction is -1.00% or more and 1.00% or less.
And it is represented by (y-y 0 ) / y 0 x 100 (where y is the measured value of the y-coordinate of the center of the well and y 0 is the theoretical value of the y-coordinate of the center of the well). A microplate in which the percentage of deviation of each well in the y-axis direction is −1.00% or more and 1.00% or less.
[3] A method for observing cultured cells, which automatically observes the cultured cells cultured in each well using only the microplates of [1] or [2].
本発明によれば、観察時に各ウェルの培養細胞を順に捉えていくことが容易であり、自動観察に適用した場合の観察効率に優れるマイクロプレートを提供できる。 According to the present invention, it is easy to capture the cultured cells of each well in order at the time of observation, and it is possible to provide a microplate having excellent observation efficiency when applied to automatic observation.
本明細書における用語の意味及び定義は以下である。
「~」で表される数値範囲は、~の前後の数値を下限値及び上限値とする数値範囲を意味する。
「ウェルの予め設定されているピッチ」とは、マイクロプレートを製造する際に各ウェルのピッチとして設定されている値(設計値)を意味する。例えば、マイクロプレートの製品図面に記載されているピッチを「予め設定されているピッチ」として採用できる。
「ウェルの中心」とは、ウェルの下方に凹んだ凹面である底面の最深部を意味する。
The meanings and definitions of the terms used herein are as follows.
The numerical range represented by "-" means a numerical range in which the numerical values before and after "-" are the lower limit value and the upper limit value.
The "preset pitch of wells" means a value (design value) set as the pitch of each well when the microplate is manufactured. For example, the pitch described in the product drawing of the microplate can be adopted as the "preset pitch".
"Center of the well" means the deepest part of the bottom surface, which is a concave surface recessed below the well.
[マイクロプレート]
以下、本発明のマイクロプレートの実施形態の一例を示し、図面に基づいて説明する。なお、以下の説明において例示される図の寸法等は一例であって、本発明はそれらに必ずしも限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。
[Microplate]
Hereinafter, an example of an embodiment of the microplate of the present invention will be shown and described with reference to the drawings. It should be noted that the dimensions and the like of the figures exemplified in the following description are examples, and the present invention is not necessarily limited to them, and the present invention can be appropriately modified without changing the gist thereof. ..
図1及び図2に示すように、本実施形態のマイクロプレート1は、平面視形状が略矩形の上面部10と、上面部10の外縁部から垂直に垂下された周壁部12と、上面部10の上面10aに円形の開口が形成される有底筒状の複数のウェル14と、を備えている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
マイクロプレート1では、各ウェル14の底面16が培養面となる。この例のウェル14は、図2のように底面16が下方に半球状に凹んだ凹面になっている。なお、ウェル14の底面16は、半球状の凹面には限定されず、例えば、図3のように下方に円錐状に凹む凹面等であってもよい。
In the
ウェル14の平面視の開口形状は、円形には限定されず、例えば、矩形や多角形であってもよい。ウェル14の数は、特に限定されず、例えば、4~1536個が挙げられる。
この例のマイクロプレート1では、96個のウェル14が平面視で縦横に8×12個の矩形のマトリックス状に配列されている。なお、16×24の384個のウェルとしてもよく、32×48の1536個のウェルとしてもよい。
The opening shape of the
In the
マイクロプレート1は、平面視での各ウェル14の位置が以下に説明する条件を満たす。
図1に示すように、平面視で、4つの角に位置する4つのウェル14a~14dの中心を各頂点とする四角形Sにおいて、対向する辺の中点同士を結ぶ2本の直線の交点を原点Oとする。また、2本の直線のうち長いほうの直線をx軸とし、原点Oを通るx軸に垂直な線をy軸とする。ただし、図4(a)に示すように、ウェル14の底面16の最深部をウェル14の中心とする。
In the
As shown in FIG. 1, in a quadrangle S whose vertices are the centers of four
次いで、平面視での原点Oを基準点とするxy座標上で、予め設定されているピッチから理論的に算出される各ウェル14の中心のx座標とy座標の理論値を求める。また、前記xy座標上での各ウェル14の中心のx座標とy座標を実測する。例えば、観察装置により上方からマイクロプレート1を観察し、その観察画像において任意の地点を基準とする各ウェル14の中心のx軸方向の位置とy軸方向の位置をそれぞれ測定する。その後、それらの位置の測定値を、原点Oを基準点としたときのx座標及びy座標に換算し、各ウェル14の中心のx座標とy座標の実測値とする。
Next, on the xy coordinates with the origin O as a reference point in a plan view, the theoretical values of the x and y coordinates of the center of each well 14 theoretically calculated from the preset pitch are obtained. Further, the x-coordinate and the y-coordinate of the center of each
各ウェル14の中心のx座標の実測値の理論値からのズレの割合(以下、「割合Qx」とも記す。)は、下記式1で表される。
(x-x0)/x0×100 ・・・式1
ただし、前記式1中、xはウェル14の中心のx座標の実測値である。x0はウェル14の中心のx座標の理論値である。
The ratio of the deviation of the measured value of the x-coordinate of the center of each well 14 from the theoretical value (hereinafter, also referred to as “ratio Q x ”) is expressed by the
(X-x 0 ) / x 0 x 100 ...
However, in the
各ウェル14の中心のy座標の実測値の理論値からのズレの割合(以下、「割合Qy」とも記す。)は、下記式2で表される。
(y-y0)/y0×100 ・・・式2
ただし、前記式2中、yはウェル14の中心のy座標の実測値である。y0はウェル14の中心のy座標の理論値である。
The ratio of the deviation of the measured value of the y coordinate of the center of each well 14 from the theoretical value (hereinafter, also referred to as “ratio Q y ”) is expressed by the
(Yy 0 ) / y 0 × 100 ・ ・ ・
However, in the
マイクロプレート1では、各ウェル14の中心の位置が下記条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす。
条件1:各ウェル14について求めた割合Qxの最大値と最小値との差が2.00%以下であり、かつ各ウェル14について求めた割合Qyの最大値と最小値との差が2.00%以下である。
条件2:各ウェル14について求めた割合Qxが-1.00%以上1.00%以下の範囲内であり、かつ各ウェル14について求めた割合Qyが-1.00%以上1.00%以下の範囲内である。
条件2は、すべてのウェル14の割合Qxと割合Qyが-1.00%以上1.00%以下の範囲内であることを意味する。
In the
Condition 1: The difference between the maximum value and the minimum value of the ratio Q x obtained for each well 14 is 2.00% or less, and the difference between the maximum value and the minimum value of the ratio Q y obtained for each well 14 is It is less than 2.00%.
Condition 2: The ratio Q x obtained for each well 14 is within the range of -1.00% or more and 1.00% or less, and the ratio Q y obtained for each well 14 is -1.00% or more and 1.00%. It is within the range of% or less.
マイクロプレート1は、条件1のみを満たしていてもよく、条件2のみを満たしていてもよく、条件1と条件2の両方を満たしていてもよい。これにより、各ウェル14で培養した培養細胞が平面視で縦方向(y軸方向)と横方向(x軸方向)に等間隔に並びやすくなる。そのため、自動観察装置を用いたハイスループットな観察においても各培養細胞を順に捉えることが容易になり、観察効率が高くなるうえ、培養細胞の見落としも抑制できる。マイクロプレート1は、本発明の効果が得られやすい点から、条件1と条件2の両方を満たしていることが好ましい。
The
割合Qxの最大値と最小値との差は、2.00%以下が好ましく、1.50%以下がより好ましく、1.00%以下がさらに好ましく、0.80%以下が特に好ましい。
割合Qxは、-1.00%以上1.00%以下が好ましく、-0.80%以上0.70%以下がより好ましく、-0.60%以上0.40%以下がさらに好ましく、-0.40%以上0.40%以下が特に好ましい。
The difference between the maximum value and the minimum value of the ratio Q x is preferably 2.00% or less, more preferably 1.50% or less, further preferably 1.00% or less, and particularly preferably 0.80% or less.
The ratio Q x is preferably −1.00% or more and 1.00% or less, more preferably −0.80% or more and 0.70% or less, further preferably −0.60% or more and 0.40% or less, and − It is particularly preferable that it is 0.40% or more and 0.40% or less.
割合Qyの最大値と最小値との差は、2.00%以下が好ましく、1.50%以下がより好ましく、1.00%以下がさらに好ましく、0.80%以下が特に好ましい。
割合Qyは、-1.00%以上1.00%以下が好ましく、-0.80%以上0.70%以下がより好ましく、-0.60%以上0.40%以下がさらに好ましく、-0.50%以上0.30%以下が特に好ましい。
The difference between the maximum value and the minimum value of the ratio Qy is preferably 2.00% or less, more preferably 1.50% or less, further preferably 1.00% or less, and particularly preferably 0.80% or less.
The ratio Q y is preferably −1.00% or more and 1.00% or less, more preferably −0.80% or more and 0.70% or less, further preferably −0.60% or more and 0.40% or less, and − It is particularly preferable that it is 0.50% or more and 0.30% or less.
マイクロプレート1の材質としては、樹脂又はガラスが好ましい。
樹脂としては、ポリスチレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリ塩化ビニル、高密度ポリエチレン、ポリエーテルサルファン、PET共重合体、パーマノックス(サーモフィッシャーサイエンティフィック商標)、シクロオレフィンポリマー樹脂、サイトップ(AGC商標)、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂及びシリコーン樹脂から選ばれる1種が好ましく、透明性が高く、薬剤吸着性が低いという点から、ポリスチレン樹脂が特に好ましい。マイクロプレート1を構成する樹脂は、1種でもよく、2種以上でもよい。
As the material of the
Resins include polystyrene resin, polyester resin, polyethylene resin, polypropylene, polyethylene terephthalate (PET), polyvinyl chloride, high-density polyethylene, polyether sulfan, PET copolymer, Permanox (Thermofisher Scientific trademark), One selected from cycloolefin polymer resin, Cytop (AGC trademark), acrylic resin, polycarbonate resin and silicone resin is preferable, and polystyrene resin is particularly preferable from the viewpoint of high transparency and low drug adsorption. The resin constituting the
ガラスとしては、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、リン酸ガラス、化学強化ガラス等を例示できる。マイクロプレート1を構成するガラスは、1種でもよく、2種以上でもよい。なお、底面のみガラスにすると、顕微鏡観察がしやすくなるというメリットがある。
Examples of the glass include quartz glass, borosilicate glass, phosphoric acid glass, and chemically strengthened glass. The glass constituting the
マイクロプレート1の周壁部12は、透明でも不透明でもよく、観察性の観点から不透明が好ましい。周壁部12を不透明とする場合、色調としては黒や白などとすると、蛍光・発光を遮断できるためより好ましい。周壁部12を不透明にする方法としては、特に限定されず、例えば、微粒子を添加する方法、顔料等の着色料を添加する方法等を用いることができる。黒の場合はカーボン、白の場合は酸化チタンなどを用いることができる。
The
マイクロプレート1の製造方法は、特に限定されず、例えば、射出成形法、圧縮成形法によって成形できる。なかでも、条件1又は条件2を満たす複数のウェル14を有するマイクロプレート1を製造しやすい点から、射出成形法が好ましい。また、側壁と底部を別々に成形し、接着して製造してもよい。
The method for manufacturing the
培養面であるウェル14の底面16には、細胞の接着を抑制する低接着コート膜を形成してもよい。低接着コート膜が形成されることで、培養細胞を取り出しやすくなる。低接着コート膜は、例えば、細胞接着抑制剤を塗布することによって形成できる。細胞接着抑制剤としては、リン脂質ポリマー(2-メタクリロイルオキシエチルホスホリルコリン等)、ポリヒドロキシエチルメタアクリレート、フッ素含有化合物、ポリエチレングリコールを例示できる。細胞接着抑制剤としては、1種を単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
なお、マイクロプレート1をシリコーン樹脂等の細胞接着抑制効果のある樹脂や、前記細胞接着抑制剤を配合した合成樹脂等で成形すれば、低接着コート膜を形成しなくても底面16に細胞が接着することを抑制できる。
A low adhesion coat film that suppresses cell adhesion may be formed on the
If the
ウェル14の底面16には、細胞を接着させやすくする易接着コート膜を形成してもよい。易接着コート膜を形成する材料としては、コラーゲン、ゼラチンを例示できる。易接着コート膜を形成する材料としては、1種を単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
なお、マイクロプレート1を細胞接着効果のある樹脂で成形してもよい。
また、コート剤以外でも、プラズマ処理、コロナ放電処理等の物理的処理を行い、細胞を接着しやすくしてもよい。
An easy-adhesion coat film may be formed on the
The
In addition to the coating agent, physical treatment such as plasma treatment and corona discharge treatment may be performed to facilitate the adhesion of cells.
以上説明したように、本発明のマイクロプレートにおいては、各ウェルが条件1及び条件2の少なくとも一方を満たす。これにより、各ウェル14で培養した培養細胞が平面視で等間隔に並びやすくなる。そのため、自動観察装置を用いたハイスループットな観察においても各ウェルの培養細胞を捉えることが容易になり、観察効率が高くなるうえ、培養細胞の見落としも抑制できる。
As described above, in the microplate of the present invention, each well satisfies at least one of
なお、本発明のマイクロプレートは、前記した態様には限定されない。
例えば、本発明のマイクロプレートは、図3に例示したマイクロプレート2であってもよい。マイクロプレート2は、ウェル14が底面16の代わりに底面16Aを有する以外はマイクロプレート1と同様の態様である。図3における図2と同じ部分は同符号を付して説明を省略する。
The microplate of the present invention is not limited to the above-described embodiment.
For example, the microplate of the present invention may be the
マイクロプレート2のウェル14の底面16Aは、下方に円錐状に凹む凹面である。図4(b)に示すように、ウェル14の底面16Aの最深部をウェル14の中心とする。マイクロプレート2においても、条件1及び条件2の少なくとも一方を満たすことで、自動観察装置であっても各ウェル14で培養した培養細胞を捉えることが容易になる。
The
その他、本発明の趣旨に逸脱しない範囲で、前記実施形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能であり、また、前記した変形例を適宜組み合わせてもよい。 In addition, it is appropriately possible to replace the constituent elements in the above-described embodiment with well-known constituent elements without departing from the spirit of the present invention, and the above-mentioned modifications may be appropriately combined.
[培養細胞の観察方法]
本発明の培養細胞の観察方法は、本発明のマイクロプレートのみを用いて、各ウェルで培養した培養細胞を自動観察する方法である。例えば、条件1及び条件2の少なくとも一方を満たすマイクロプレート1のみを用い、各ウェル14に培養液を分注して細胞を培養し、自動観察装置によって各ウェル14の培養細胞を自動観察する。
[Observation method of cultured cells]
The method for observing cultured cells of the present invention is a method for automatically observing cultured cells cultured in each well using only the microplate of the present invention. For example, using only the
培養細胞の自動観察に用いるマイクロプレート1は、条件1及び条件2の少なくとも一方を満たすため、自動観察装置を用いたハイスループットな観察においても各ウェル14の培養細胞を捉えることが容易であり、観察効率が高い。
Since the
以下、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明は以下の記載によっては限定されない。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples, but the present invention is not limited to the following description.
[例1及び例2]
各ウェルのピッチの設定値を9mmとして図1及び図2に例示したような態様の96ウェル(8×12)のマイクロプレートを作製した。
各ウェルの中心のx座標及びy座標の理論値(x0、y0)と実測値(x、y)を求め、割合Qx及びQyを算出した。割合Qx及びQyの最大値、最小値、及び最大値と最小値との差を表1に示す。
[Example 1 and Example 2]
A 96-well (8 × 12) microplate having an embodiment as illustrated in FIGS. 1 and 2 was prepared by setting the pitch setting value of each well to 9 mm.
The theoretical values (x 0 , y 0 ) and the measured values (x, y) of the x-coordinate and the y-coordinate of the center of each well were obtained, and the ratios Q x and Q y were calculated. Table 1 shows the maximum and minimum values of the ratios Q x and Q y , and the difference between the maximum and minimum values.
[例3及び例4]
図1及び図3に例示したような態様の96ウェル(8×12)のマイクロプレートを作製した。割合Qx及びQyの最大値、最小値、及び最大値と最小値との差を表2に示す。
[Example 3 and Example 4]
96-well (8 × 12) microplates of aspects as illustrated in FIGS. 1 and 3 were made. Table 2 shows the maximum and minimum values of the ratios Q x and Q y , and the difference between the maximum and minimum values.
[ウェル位置の均一性]
各例のマイクロプレートについて、画像測定機(NEXIV VMZ-R4540、ニコン社製)によって観察し、各ウェルの割合Qx及びQy測定して、ウェル位置の均一性を以下の基準で評価した。結果を表1に示す。
◎(優良):割合Qx及びQyの最大値と最小値との差がいずれも1.00%以下。
〇(良):割合Qx及びQyの最大値と最小値との差がいずれも2.00%以下、かつ少なくとも一方が1.00%超。
×(不良):割合Qx及びQyの最大値と最小値との差の少なくとも一方が2.00%超。
[Uniformity of well position]
The microplates of each example were observed with an image measuring device (NEXIV VMZ-R4540, manufactured by Nikon Corporation), the proportions Q x and Q y of each well were measured, and the uniformity of the well positions was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 1.
◎ (excellent): The difference between the maximum value and the minimum value of the ratios Q x and Q y is 1.00% or less.
〇 (Good): The difference between the maximum and minimum values of the ratios Q x and Q y is 2.00% or less, and at least one of them exceeds 1.00%.
× (Defective): At least one of the difference between the maximum value and the minimum value of the ratios Q x and Q y is more than 2.00%.
1,2…マイクロプレート、10…上面部、10a…上面、12…周壁部、14…ウェル、16,16A…底面、20…枠体、22…平板基材、24…筒部。 1, 2, ... Microplate, 10 ... Top surface, 10a ... Top surface, 12 ... Peripheral wall, 14 ... Well, 16, 16A ... Bottom surface, 20 ... Frame, 22 ... Flat plate base material, 24 ... Cylinder.
Claims (3)
各々の前記ウェルの底面が下方に凹んだ凹面であり、
前記ウェルの底面の最深部を当該ウェルの中心とし、
平面視で、4つの角に位置する4つのウェルの中心を各頂点とする四角形における、対向する辺の中点同士を結ぶ2本の直線の交点を原点Oとして、2本の直線のうち長いほうの直線をx軸とし、前記原点Oを通る前記x軸に垂直な線をy軸として、
予め設定されている各ウェルのピッチから算出される各ウェルの中心のx座標とy座標の理論値を求め、各ウェルの中心のx座標とy座標の実測値と比較したとき、
(x-x0)/x0×100(ただし、xはウェルの中心のx座標の実測値であり、x0はウェルの中心のx座標の理論値である。)で表される各ウェルのx軸方向のズレの割合の最大値と最小値との差が2.00%以下であり、
かつ、(y-y0)/y0×100(ただし、yはウェルの中心のy座標の実測値であり、y0はウェルの中心のy座標の理論値である。)で表される各ウェルのy軸方向のズレの割合の最大値と最小値との差が2.00%以下である、マイクロプレート。 A microplate in which multiple wells are arranged in a square shape in a plan view.
The bottom surface of each of the wells is a concave surface that is recessed downward.
The deepest part of the bottom surface of the well is set as the center of the well.
In a plan view, the longest of the two straight lines is the intersection of the two straight lines connecting the midpoints of the opposite sides in the quadrangle whose apex is the center of the four wells located at the four corners. The straight line is the x-axis, and the line perpendicular to the x-axis passing through the origin O is the y-axis.
When the theoretical values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well calculated from the preset pitch of each well are obtained and compared with the measured values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well,
Each well represented by (x-x 0 ) / x 0 x 100 (where x is the measured value of the x-coordinate of the center of the well and x 0 is the theoretical value of the x-coordinate of the center of the well). The difference between the maximum value and the minimum value of the deviation ratio in the x-axis direction is 2.00% or less.
And it is represented by (y-y 0 ) / y 0 x 100 (where y is the measured value of the y-coordinate of the center of the well and y 0 is the theoretical value of the y-coordinate of the center of the well). A microplate in which the difference between the maximum value and the minimum value of the deviation ratio in the y-axis direction of each well is 2.00% or less.
各々の前記ウェルの底面が下方に凹んだ凹面であり、
前記ウェルの底面の最深部を当該ウェルの中心とし、
平面視で、4つの角に位置する4つのウェルの中心を各頂点とする四角形における、対向する辺の中点同士を結ぶ2本の直線の交点を原点Oとして、2本の直線のうち長いほうの直線をx軸とし、前記原点Oを通る前記x軸に垂直な線をy軸として、
予め設定されている各ウェルのピッチから算出される各ウェルの中心のx座標とy座標の理論値を求め、各ウェルの中心のx座標とy座標の実測値と比較したとき、
(x-x0)/x0×100(ただし、xはウェルの中心のx座標の実測値であり、x0はウェルの中心のx座標の理論値である。)で表される各ウェルのx軸方向のズレの割合が-1.00%以上1.00%以下であり、
かつ、(y-y0)/y0×100(ただし、yはウェルの中心のy座標の実測値であり、y0はウェルの中心のy座標の理論値である。)で表される各ウェルのy軸方向のズレの割合が-1.00%以上1.00%以下である、マイクロプレート。 A microplate in which multiple wells are arranged in a square shape in a plan view.
The bottom surface of each of the wells is a concave surface that is recessed downward.
The deepest part of the bottom surface of the well is set as the center of the well.
In a plan view, the longest of the two straight lines is the intersection of the two straight lines connecting the midpoints of the opposite sides in the quadrangle whose apex is the center of the four wells located at the four corners. The straight line is the x-axis, and the line perpendicular to the x-axis passing through the origin O is the y-axis.
When the theoretical values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well calculated from the preset pitch of each well are obtained and compared with the measured values of the x-coordinate and y-coordinate of the center of each well,
Each well represented by (x-x 0 ) / x 0 x 100 (where x is the measured value of the x-coordinate of the center of the well and x 0 is the theoretical value of the x-coordinate of the center of the well). The rate of deviation in the x-axis direction is -1.00% or more and 1.00% or less.
And it is represented by (y-y 0 ) / y 0 x 100 (where y is the measured value of the y-coordinate of the center of the well and y 0 is the theoretical value of the y-coordinate of the center of the well). A microplate in which the percentage of deviation of each well in the y-axis direction is −1.00% or more and 1.00% or less.
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