JP2021103099A - Deterioration detection method, program and deterioration detection system - Google Patents

Deterioration detection method, program and deterioration detection system Download PDF

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真一 大亦
球夫 岡本
球夫 岡本
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【課題】機器の劣化の兆候を検知することができる劣化検知方法を提供する。【解決手段】劣化検知方法は、機器が動作しているときの機器の電気的特徴量を取得する取得ステップ(S11)と、取得された電気的特徴量と、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量との差分を算出する算出ステップ(S16)と、算出された差分に基づいて機器の劣化の兆候を検知する検知ステップ(S18)と、を含む。【選択図】図3PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a deterioration detection method capable of detecting a sign of deterioration of an apparatus. SOLUTION: The deterioration detection method includes an acquisition step (S11) for acquiring an electric feature amount of the device when the device is operating, the acquired electrical feature amount, and the device in an environment where the device is installed. A calculation step (S16) for calculating the difference from the electrical features of the device when the device is operating in a non-deteriorated state, and a detection step (S16) for detecting a sign of deterioration of the device based on the calculated difference. S18) and. [Selection diagram] Fig. 3

Description

本開示は、劣化検知方法、プログラム及び劣化検知システムに関する。 The present disclosure relates to deterioration detection methods, programs and deterioration detection systems.
従来、電気火災の原因は漏電によるものが多くを占めてきたが、漏電遮断器又はヒューズ等の安全装置並びに絶縁性能の向上により電気火災の発生件数が減少してきた。しかしながら電気機器の普及により、例えば電子部品劣化、トラッキング劣化又は接続部の劣化等による不完全接続のような電気機器又は配線部で起こる様々な劣化による電気火災の件数は増加している。 Conventionally, the cause of electric fires has been mostly due to electric leakage, but the number of electric fires has decreased due to the improvement of safety devices such as earth-leakage circuit breakers or fuses and insulation performance. However, with the spread of electrical equipment, the number of electric fires due to various deteriorations that occur in electrical equipment or wiring parts such as incomplete connection due to deterioration of electronic parts, tracking deterioration, deterioration of connection parts, etc. is increasing.
電気機器又は配線部の劣化は、劣化進行時のエネルギー変化の小ささから漏電遮断器やヒューズでは発火が防げない場合があるため、電気火災を未然に防止すること、すなわち電気火災に繋がるような機器の劣化の兆候を検知することが望まれている。 Deterioration of electrical equipment or wiring may prevent ignition with an earth-leakage circuit breaker or fuse due to the small change in energy as the deterioration progresses. It is desired to detect signs of deterioration of equipment.
一例として、トラッキング劣化が発生した場合、機器に流れる電流にトラッキング劣化に応じた特定の周波数成分が含まれるようになることから、当該特定の周波数成分を検知することでトラッキング劣化を検知する技術が開示されている(例えば特許文献1)。 As an example, when tracking deterioration occurs, the current flowing through the device contains a specific frequency component according to the tracking deterioration. Therefore, a technology for detecting tracking deterioration by detecting the specific frequency component is available. It is disclosed (for example, Patent Document 1).
特開昭57−193924号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 57-193924
しかしながら、上記特許文献1に開示された技術では、外来環境からのノイズ、又は、モーター若しくはインバータ等の電子部品を搭載した機器の発する特定の高調波成分による誤検知を避けるために検出感度を上げる事に限界があるという課題がある。 However, in the technique disclosed in Patent Document 1, the detection sensitivity is increased in order to avoid false detection due to noise from an external environment or a specific harmonic component emitted by a device equipped with an electronic component such as a motor or an inverter. There is a problem that things are limited.
そこで、本開示は、機器の劣化の兆候を検知することができる劣化検知方法等を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present disclosure is to provide a deterioration detection method or the like capable of detecting a sign of deterioration of a device.
本開示の一態様に係る劣化検知方法は、機器が動作しているときの前記機器の電気的特徴量を取得する取得ステップと、取得された電気的特徴量と、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量との差分を算出する算出ステップと、算出された差分に基づいて前記機器の劣化の兆候を検知する検知ステップと、を含む。 The deterioration detection method according to one aspect of the present disclosure includes an acquisition step for acquiring the electrical features of the device when the device is operating, the acquired electrical features, and the environment in which the device is installed. In, a calculation step for calculating a difference from the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state, and detection for detecting a sign of deterioration of the device based on the calculated difference. Including steps.
本開示の一態様に係るプログラムは、上記の劣化検知方法をコンピュータに実行させるためのプログラムである。 The program according to one aspect of the present disclosure is a program for causing a computer to execute the above-mentioned deterioration detection method.
本開示の一態様に係る劣化検知システムは、機器が動作しているときの前記機器の電気的特徴量を取得する取得部と、取得された電気的特徴量と、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量との差分を算出する算出部と、算出された差分に基づいて前記機器の劣化の兆候を検知する検知部と、を備える。 The deterioration detection system according to one aspect of the present disclosure includes an acquisition unit that acquires the electrical features of the device when the device is operating, the acquired electrical features, and the environment in which the device is installed. In, a calculation unit that calculates a difference from the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state, and a detection that detects a sign of deterioration of the device based on the calculated difference. It has a part and.
本開示によれば、機器の劣化の兆候を検知することができる。 According to the present disclosure, signs of deterioration of the device can be detected.
図1は、実施の形態に係る劣化検知システムの適用例を説明するための図である。FIG. 1 is a diagram for explaining an application example of the deterioration detection system according to the embodiment. 図2は、実施の形態に係る劣化検知システムの構成例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the deterioration detection system according to the embodiment. 図3は、実施の形態に係る劣化検知方法の一例を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing an example of the deterioration detection method according to the embodiment. 図4Aは、機器が設置された環境としてリビングで動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。FIG. 4A is a graph showing an example of the amount of electrical features of a device operating in the living room as an environment in which the device is installed. 図4Bは、機器が設置された環境としてキッチンで動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。FIG. 4B is a graph showing an example of the amount of electrical features of the equipment operating in the kitchen as the environment in which the equipment is installed. 図4Cは、機器が設置された環境として洗面所で動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。FIG. 4C is a graph showing an example of the amount of electrical features of the equipment operating in the washroom as the environment in which the equipment is installed. 図4Dは、機器が設置された環境として和室で動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。FIG. 4D is a graph showing an example of the electrical features of the equipment operating in the Japanese-style room as the environment in which the equipment is installed. 図5Aは、トラッキング劣化未発生時の機器の電気的特徴量の一例を10Aレンジで示すグラフである。FIG. 5A is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration does not occur in the 10A range. 図5Bは、トラッキング劣化発生時の機器の電気的特徴量の一例を10Aレンジで示すグラフである。FIG. 5B is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration occurs in the 10A range. 図5Cは、トラッキング劣化未発生時の機器の電気的特徴量の一例を10mAレンジで示すグラフである。FIG. 5C is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration has not occurred in the 10 mA range. 図5Dは、トラッキング劣化発生時の機器の電気的特徴量の一例を10mAレンジで示すグラフである。FIG. 5D is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration occurs in the 10 mA range.
本開示の一態様に係る劣化検知方法は、機器が動作しているときの前記機器の電気的特徴量を取得する取得ステップと、取得された電気的特徴量と、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量との差分を算出する算出ステップと、算出された差分に基づいて前記機器の劣化の兆候を検知する検知ステップと、を含む。 The deterioration detection method according to one aspect of the present disclosure includes an acquisition step for acquiring the electrical features of the device when the device is operating, the acquired electrical features, and the environment in which the device is installed. In, a calculation step for calculating a difference from the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state, and detection for detecting a sign of deterioration of the device based on the calculated difference. Including steps.
例えば、トラッキング劣化のような劣化の兆候を示す信号は、機器が動作しているときの電気的特徴量(例えば機器に流れる電流等)と比べて微少な信号である。また、機器が動作しているときの電気的特徴量は、機器が設置された環境による影響(環境ノイズとも呼ぶ)によって変化する。したがって、機器の劣化の兆候を示す信号に比べて非常に大きく、さらに、環境ノイズによって変化し得る機器の電気的特徴量から、機器の劣化の兆候を示す微少な信号を抽出することは難しい。機器の劣化の兆候を示す微少な信号が存在するか否かを閾値判定によって行う際に、微少な信号に対応した小さな閾値を設定する必要があるが、環境ノイズが閾値を超えて機器の劣化の兆候を誤検知してしまうおそれがあるためである。これに対して、本態様では、取得された劣化の兆候があるか否かわからない機器の電気的特徴量と、当該機器が設置された環境において劣化していない状態の当該機器の電気的特徴量との差分が算出される。言い換えると、取得された当該機器の電気的特徴量から、劣化していない状態の当該機器の電気的特徴量であって当該機器が設置された環境の環境ノイズを含む電気的特徴量が引かれる。これにより、取得された当該機器の電気的特徴量から当該機器が設置された環境に応じて変化し得る環境ノイズの影響を効果的に排除できる。したがって、劣化の兆候がある機器の電気的特徴量が取得された場合に、機器の劣化の兆候を示す信号を精度良く抽出することができ、機器の劣化の兆候を検知することができる。 For example, a signal showing a sign of deterioration such as tracking deterioration is a signal that is insignificant compared to an electrical feature amount (for example, a current flowing through the device) when the device is operating. In addition, the amount of electrical features when the device is operating changes due to the influence of the environment in which the device is installed (also called environmental noise). Therefore, it is very large compared to the signal showing the sign of deterioration of the device, and it is difficult to extract a minute signal showing the sign of deterioration of the device from the electrical features of the device which can be changed by the environmental noise. When determining whether or not there is a minute signal indicating a sign of equipment deterioration by threshold value determination, it is necessary to set a small threshold value corresponding to the minute signal, but the environmental noise exceeds the threshold value and the equipment deteriorates. This is because there is a risk of erroneously detecting the sign of. On the other hand, in this embodiment, the electrical feature amount of the device for which it is unknown whether or not there is a sign of deterioration acquired, and the electrical feature amount of the device in a state where the device is not deteriorated in the environment in which the device is installed. The difference between and is calculated. In other words, from the acquired electrical features of the device, the electrical features of the device in a non-deteriorated state, including the environmental noise of the environment in which the device is installed, are subtracted. .. As a result, it is possible to effectively eliminate the influence of environmental noise that may change depending on the environment in which the device is installed from the acquired electrical features of the device. Therefore, when the electrical feature amount of the device showing the sign of deterioration is acquired, the signal indicating the sign of deterioration of the device can be extracted with high accuracy, and the sign of deterioration of the device can be detected.
例えば、さらに、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量を蓄積する蓄積ステップを含み、前記算出ステップでは、取得された電気的特徴量と、蓄積された電気的特徴量との差分を算出してもよい。 For example, the calculation step further includes a storage step of accumulating the electrical features of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed in a non-deteriorated state. The difference between the electrical feature amount and the accumulated electrical feature amount may be calculated.
機器が設置され得る環境は周辺の機器の種類及び動作状態等によって様々であり、機器が設置された環境ごとに機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量を事前に準備することは難しい。これに対して、本態様では、このような電気的特徴量を事前に準備しなくてもよく、機器が設置されたその場の環境に応じた機器の電気的特徴量が逐次蓄積されていくため、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量を容易に取得することができる。 The environment in which the device can be installed varies depending on the type of peripheral device and the operating state, etc., and the electrical features of the device when the device is operating in a non-deteriorated state are determined for each environment in which the device is installed. It is difficult to prepare in advance. On the other hand, in this embodiment, it is not necessary to prepare such an electric feature amount in advance, and the electric feature amount of the device according to the environment of the place where the device is installed is sequentially accumulated. Therefore, it is possible to easily acquire the electrical features of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed without deterioration.
例えば、さらに、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量を受信する電気的特徴量受信ステップを含み、前記算出ステップでは、取得された電気的特徴量と、受信された電気的特徴量との差分を算出してもよい。 For example, the calculation step further includes an electrical feature amount receiving step for receiving the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state in the environment in which the device is installed. , The difference between the acquired electrical features and the received electrical features may be calculated.
機器が設置され得る環境は周辺の機器の種類及び動作状態等によって様々であり、機器が設置された環境ごとに機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量を事前に準備することは難しい。これに対して、本態様では、このような電気的特徴量を事前に準備しなくてもよく、機器が設置されたその場の環境に応じた機器の電気的特徴量を逐次蓄積している装置から電気的特徴量を受信することができる。 The environment in which the device can be installed varies depending on the type of peripheral device and the operating state, etc., and the electrical features of the device when the device is operating in a non-deteriorated state are determined for each environment in which the device is installed. It is difficult to prepare in advance. On the other hand, in this embodiment, it is not necessary to prepare such an electric feature amount in advance, and the electric feature amount of the device according to the environment of the place where the device is installed is sequentially accumulated. Electrical features can be received from the device.
例えば、さらに、算出された差分と前記機器の劣化の兆候を示す劣化兆候データとが類似するか否かを判定する判定ステップを備え、前記検知ステップでは、算出された差分と前記劣化兆候データとが類似すると判定された場合に、前記機器の劣化の兆候を検知してもよい。 For example, further, a determination step for determining whether or not the calculated difference and the deterioration sign data indicating the deterioration sign of the device are similar is provided, and in the detection step, the calculated difference and the deterioration sign data are combined. If it is determined that the devices are similar, a sign of deterioration of the device may be detected.
これによれば、算出された差分と劣化兆候データとが類似するか否かを判定することで、算出された差分が機器の劣化の兆候を示すか否かを精度良く判定できる。 According to this, by determining whether or not the calculated difference and the deterioration sign data are similar, it is possible to accurately determine whether or not the calculated difference indicates a sign of deterioration of the device.
例えば、さらに、前記劣化兆候データを受信する劣化兆候データ受信ステップを含み、前記判定ステップでは、算出された差分と受信された劣化兆候データとが類似するか否かを判定してもよい。 For example, it may further include a deterioration sign data receiving step for receiving the deterioration sign data, and in the determination step, it may be determined whether or not the calculated difference and the received deterioration sign data are similar.
これによれば、外部(例えばサーバ等)から劣化兆候データを受信することができる。 According to this, deterioration sign data can be received from the outside (for example, a server or the like).
例えば、さらに、前記機器の劣化の兆候が検知された場合に、当該検知の結果を出力する出力ステップを含んでいてもよい。 For example, it may further include an output step that outputs the result of the detection when a sign of deterioration of the device is detected.
これによれば、機器の劣化の兆候を報知したり、機器の劣化の兆候に対する制御(例えば電源遮断等)をしたりすることができる。 According to this, it is possible to notify the sign of deterioration of the device and control the sign of deterioration of the device (for example, power off).
例えば、前記機器の電気的特徴量は、前記機器に印加される電圧又は前記機器に流れる電流のサンプリングデータ、前記電圧又は前記電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータ、前記電圧又は前記電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータの前周期に対する変動率、前記電圧又は前記電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータの時系列の変動率、及び、前記電圧又は前記電流を周波数領域に変換したデータのうちの1つ又は複数の組み合わせであってもよい。 For example, the electrical feature amount of the device is the sampling data of the voltage applied to the device or the current flowing through the device, the sampling data of the voltage or the current for a certain period or a certain period, the voltage or the constant of the current. The fluctuation rate of the sampling data of the period or the fixed cycle with respect to the previous cycle, the fluctuation rate of the sampling data of the voltage or the current in the fixed period or the fixed cycle in time series, and the data obtained by converting the voltage or the current into the frequency region. It may be one or a combination of two or more of them.
本開示の一態様に係るプログラムは、上記の劣化検知方法をコンピュータに実行させるためのプログラムである。 The program according to one aspect of the present disclosure is a program for causing a computer to execute the above-mentioned deterioration detection method.
これによれば、機器の劣化の兆候を検知することができるプログラムを提供できる。 According to this, it is possible to provide a program capable of detecting signs of deterioration of the device.
本開示の一態様に係る劣化検知システムは、機器が動作しているときの前記機器の電気的特徴量を取得する取得部と、取得された電気的特徴量と、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量との差分を算出する算出部と、算出された差分に基づいて前記機器の劣化の兆候を検知する検知部と、を備える。 The deterioration detection system according to one aspect of the present disclosure includes an acquisition unit that acquires the electrical features of the device when the device is operating, the acquired electrical features, and the environment in which the device is installed. In, a calculation unit that calculates a difference from the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state, and a detection that detects a sign of deterioration of the device based on the calculated difference. It has a part and.
これによれば、機器の劣化の兆候を検知することができる劣化検知システムを提供できる。 According to this, it is possible to provide a deterioration detection system capable of detecting signs of deterioration of equipment.
なお、これらの包括的又は具体的な態様は、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラム又はコンピュータ読み取り可能なCD−ROMなどの記録媒体で実現されてもよく、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラム及び記録媒体の任意な組み合わせで実現されてもよい。 It should be noted that these comprehensive or specific embodiments may be realized in a recording medium such as a system, method, integrated circuit, computer program or computer-readable CD-ROM, and the system, method, integrated circuit, computer program. And any combination of recording media may be realized.
以下、実施の形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。 Hereinafter, embodiments will be specifically described with reference to the drawings.
なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも包括的又は具体的な例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本開示を限定する主旨ではない。 It should be noted that all of the embodiments described below show comprehensive or specific examples. Numerical values, shapes, materials, components, arrangement positions and connection forms of components, steps, order of steps, etc. shown in the following embodiments are examples, and are not intended to limit the present disclosure.
(実施の形態)
図1は、実施の形態に係る劣化検知システムの適用例を説明するための図である。図1には、電力系統100に接続された主幹ブレーカ110、主幹ブレーカ110に接続された壁面コンセント120a、120b及び120c、壁面コンセント120aに接続された機器140a(エアコン)、壁面コンセント120bに接続された機器140b(冷蔵庫)、壁面コンセント120cに接続されたコンセント差込機器130(延長ケーブル又はテーブルタップ等)、並びに、コンセント差込機器130に接続された機器140c(レンジ)及び機器140d(炊飯器)が示されている。電力系統100と主幹ブレーカ110、主幹ブレーカ110と壁面コンセント120a〜120c、壁面コンセント120aと機器140a、壁面コンセント120bと機器140b、壁面コンセント120cとコンセント差込機器130、コンセント差込機器130と機器140c及び140dは、それぞれL(ライブ)の電力線及びN(ニュートラル)の電力線によって接続される。
(Embodiment)
FIG. 1 is a diagram for explaining an application example of the deterioration detection system according to the embodiment. In FIG. 1, the main breaker 110 connected to the power system 100, the wall outlets 120a, 120b and 120c connected to the main breaker 110, the device 140a (air conditioner) connected to the wall outlet 120a, and the wall outlet 120b are connected. Device 140b (refrigerator), outlet plug device 130 (extension cable or table tap, etc.) connected to the wall outlet 120c, and device 140c (range) and device 140d (rice cooker) connected to the outlet plug device 130. )It is shown. Power system 100 and main breaker 110, main breaker 110 and wall outlet 120a to 120c, wall outlet 120a and device 140a, wall outlet 120b and device 140b, wall outlet 120c and outlet plug device 130, outlet plug device 130 and device 140c And 140d are connected by an L (live) power line and an N (neutral) power line, respectively.
主幹ブレーカ110は、宅内等で使用される機器の電流の総和が所定以上となったときに、機器への電流の供給を停止する遮断器である。 The main breaker 110 is a circuit breaker that stops the supply of current to the equipment when the total current of the equipment used in the house or the like exceeds a predetermined value.
壁面コンセント120a〜120cはそれぞれ、Lの電力線と接続された電極及びNの電力線と接続された電極が設けられた差込口を備える。 The wall outlets 120a to 120c each include an outlet provided with an electrode connected to the L power line and an electrode connected to the N power line.
壁面コンセント120aは機器140aに電力を供給するコンセントであり、機器140aは、壁面コンセント120aに差し込まれた機器140aのプラグを介して電力系統100から電力の供給を受ける。機器140aが動作すると、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120a及び機器140a、並びに、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120a及び機器140aに接続された各電力線に電流が流れる。 The wall outlet 120a is an outlet that supplies electric power to the device 140a, and the device 140a receives power from the power system 100 via a plug of the device 140a inserted into the wall outlet 120a. When the device 140a operates, a current flows through the main breaker 110, the wall outlet 120a and the device 140a, and the power lines connected to the main breaker 110, the wall outlet 120a and the device 140a.
壁面コンセント120bは機器140bに電力を供給するコンセントであり、機器140bは、壁面コンセント120bに差し込まれた機器140bのプラグを介して電力系統100から電力の供給を受ける。機器140bが動作すると、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120b及び機器140b、並びに、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120b及び機器140bに接続された各電力線に電流が流れる。 The wall outlet 120b is an outlet that supplies electric power to the device 140b, and the device 140b receives power from the power system 100 via a plug of the device 140b inserted into the wall outlet 120b. When the device 140b operates, a current flows through the main breaker 110, the wall outlet 120b and the device 140b, and the power lines connected to the main breaker 110, the wall outlet 120b and the device 140b.
壁面コンセント120cはコンセント差込機器130に電力を供給するコンセントであり、コンセント差込機器130は、壁面コンセント120cに差し込まれたコンセント差込機器130のプラグを介して電力系統100から電力の供給を受ける。コンセント差込機器130は、Lの電力線と接続された電極及びNの電力線と接続された電極が設けられた差込口を備える。コンセント差込機器130は、機器140c及び140dに電力を供給する延長ケーブル又はテーブルタップ等であり、機器140cは、コンセント差込機器130に差し込まれた機器140cのプラグを介して電力系統100から電力の供給を受け、機器140dは、コンセント差込機器130に差し込まれた機器140dのプラグを介して電力系統100から電力の供給を受ける。機器140cが動作すると、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120c、コンセント差込機器130及び機器140c、並びに、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120c、コンセント差込機器130及び機器140cに接続された各電力線に電流が流れる。機器140dが動作すると、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120c、コンセント差込機器130及び機器140d、並びに、主幹ブレーカ110、壁面コンセント120c、コンセント差込機器130及び機器140dに接続された各電力線に電流が流れる。 The wall outlet 120c is an outlet that supplies power to the outlet plug-in device 130, and the outlet plug-in device 130 supplies power from the power system 100 via the plug of the outlet plug-in device 130 that is plugged into the wall outlet 120c. receive. The outlet plug-in device 130 includes an outlet provided with an electrode connected to the L power line and an electrode connected to the N power line. The outlet plug-in device 130 is an extension cable or a table tap that supplies power to the devices 140c and 140d, and the device 140c is powered from the power system 100 via the plug of the device 140c inserted into the outlet plug-in device 130. The device 140d receives power from the power system 100 via the plug of the device 140d inserted into the outlet plug-in device 130. When the device 140c operates, a current is applied to the main breaker 110, the wall outlet 120c, the outlet plug device 130 and the device 140c, and each power line connected to the main breaker 110, the wall outlet 120c, the outlet plug device 130 and the device 140c. It flows. When the device 140d operates, a current is applied to the main breaker 110, the wall outlet 120c, the outlet plug device 130 and the device 140d, and each power line connected to the main breaker 110, the wall outlet 120c, the outlet plug device 130 and the device 140d. It flows.
劣化検知システムは、主幹ブレーカ110内に設けられてもよいし、壁面コンセント120a〜120c内のいずれかに設けられてもよいし、コンセント差込機器130内に設けられてもよいし、機器140a〜140d内のいずれに設けられてもよい。 The deterioration detection system may be provided in the main breaker 110, in any of the wall outlets 120a to 120c, in the outlet plug-in device 130, or in the device 140a. It may be provided in any of ~ 140d.
劣化検知システムが主幹ブレーカ110内に設けられる場合、劣化検知システムは、主幹ブレーカ110よりも下流に存在する機器(ここでは機器140a〜140d)の劣化の兆候を検知する。劣化検知システムが壁面コンセント120a内に設けられる場合、劣化検知システムは、壁面コンセント120aに接続された機器140aの劣化の兆候を検知する。劣化検知システムが壁面コンセント120b内に設けられる場合、劣化検知システムは、壁面コンセント120bに接続された機器140bの劣化の兆候を検知する。劣化検知システムが壁面コンセント120c内に設けられる場合、劣化検知システムは、壁面コンセント120cにコンセント差込機器130を介して接続された機器140c及び140dの劣化の兆候を検知する。劣化検知システムがコンセント差込機器130内に設けられる場合、劣化検知システムは、コンセント差込機器130に接続された機器140c及び140dの劣化の兆候を検知する。劣化検知システムが各機器内に設けられる場合、劣化検知システムは、各機器の劣化の兆候を検知する。 When the deterioration detection system is provided in the main breaker 110, the deterioration detection system detects signs of deterioration of devices (here, devices 140a to 140d) existing downstream of the main breaker 110. When the deterioration detection system is provided in the wall outlet 120a, the deterioration detection system detects signs of deterioration of the device 140a connected to the wall outlet 120a. When the deterioration detection system is provided in the wall outlet 120b, the deterioration detection system detects signs of deterioration of the device 140b connected to the wall outlet 120b. When the deterioration detection system is provided in the wall outlet 120c, the deterioration detection system detects signs of deterioration of the devices 140c and 140d connected to the wall outlet 120c via the outlet plug device 130. When the deterioration detection system is provided in the outlet plug-in device 130, the deterioration detection system detects signs of deterioration of the devices 140c and 140d connected to the outlet plug-in device 130. When a deterioration detection system is provided in each device, the deterioration detection system detects signs of deterioration of each device.
次に、実施の形態に係る劣化検知システムの詳細について図2を用いて説明する。 Next, the details of the deterioration detection system according to the embodiment will be described with reference to FIG.
図2は、実施の形態に係る劣化検知システム10の構成例を示すブロック図である。なお、図2には劣化検知システム10外の構成要素である電流センサ21及び電圧センサ22も図示している。なお、劣化検知システム10は、電流センサ21及び電圧センサ22を備えていてもよい。 FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the deterioration detection system 10 according to the embodiment. Note that FIG. 2 also shows a current sensor 21 and a voltage sensor 22, which are components outside the deterioration detection system 10. The deterioration detection system 10 may include a current sensor 21 and a voltage sensor 22.
劣化検知システム10は、機器の劣化の兆候を検知することができるシステムである。ここでは、機器の劣化の兆候として、トラッキング劣化の兆候を検知することができる劣化検知システム10について説明する。トラッキング劣化とは、機器が有するプリント基板等に蓄積した塵及び埃等が湿気を帯びてプリント基板上の導体間が導通し、導通により炭化した部分がショートして電気火災を発生させる劣化である。したがって、トラッキング劣化の兆候を検知することで、電気火災を未然に防止することが可能となる。なお、劣化検知システム10によって検知される機器の劣化の兆候は、トラッキング劣化の兆候に限らず、電子部品の劣化の兆候又は機械接続の劣化(例えば半田クラック等)の兆候等であってもよい。 The deterioration detection system 10 is a system capable of detecting signs of deterioration of the device. Here, a deterioration detection system 10 capable of detecting a sign of tracking deterioration as a sign of deterioration of the device will be described. Tracking deterioration is deterioration in which dust and dirt accumulated on a printed circuit board or the like of a device become moist and conduct between conductors on the printed circuit board, and the carbonized portion is short-circuited due to the conduction to cause an electric fire. .. Therefore, it is possible to prevent an electric fire by detecting a sign of tracking deterioration. The signs of deterioration of the device detected by the deterioration detection system 10 are not limited to the signs of tracking deterioration, but may be signs of deterioration of electronic components or deterioration of mechanical connections (for example, solder cracks). ..
電流センサ21は、例えばLの電力線に流れる電流を検知するセンサである。電圧センサ22は、Lの電力線とNの電力線との間の電圧を検知するセンサである。劣化検知システム10が主幹ブレーカ110内に設けられる場合、電流センサ21は機器140a〜140dに流れる電流を検知し、電圧センサ22は機器140a〜140dに印加される電圧を検知する。劣化検知システム10が壁面コンセント120a内又は機器140a内に設けられる場合、電流センサ21は機器140aに流れる電流を検知し、電圧センサ22は機器140aに印加される電圧を検知する。劣化検知システム10が壁面コンセント120b内又は機器140b内に設けられる場合、電流センサ21は機器140bに流れる電流を検知し、電圧センサ22は機器140bに印加される電圧を検知する。劣化検知システム10が壁面コンセント120c内又はコンセント差込機器130内に設けられる場合、電流センサ21は機器140c及び140dに流れる電流を検知し、電圧センサ22は機器140c及び140dに印加される電圧を検知する。劣化検知システム10が機器140c内に設けられる場合、電流センサ21は機器140cに流れる電流を検知し、電圧センサ22は機器140cに印加される電圧を検知する。劣化検知システム10が機器140d内に設けられる場合、電流センサ21は機器140dに流れる電流を検知し、電圧センサ22は機器140dに印加される電圧を検知する。なお、検知しようとする機器の劣化の種類によっては、電流センサ21及び電圧センサ22の一方は設けられていなくてもよい。 The current sensor 21 is, for example, a sensor that detects the current flowing through the L power line. The voltage sensor 22 is a sensor that detects the voltage between the L power line and the N power line. When the deterioration detection system 10 is provided in the main breaker 110, the current sensor 21 detects the current flowing through the devices 140a to 140d, and the voltage sensor 22 detects the voltage applied to the devices 140a to 140d. When the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120a or the device 140a, the current sensor 21 detects the current flowing through the device 140a, and the voltage sensor 22 detects the voltage applied to the device 140a. When the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120b or the device 140b, the current sensor 21 detects the current flowing through the device 140b, and the voltage sensor 22 detects the voltage applied to the device 140b. When the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120c or the outlet plug-in device 130, the current sensor 21 detects the current flowing through the devices 140c and 140d, and the voltage sensor 22 detects the voltage applied to the devices 140c and 140d. Detect. When the deterioration detection system 10 is provided in the device 140c, the current sensor 21 detects the current flowing through the device 140c, and the voltage sensor 22 detects the voltage applied to the device 140c. When the deterioration detection system 10 is provided in the device 140d, the current sensor 21 detects the current flowing through the device 140d, and the voltage sensor 22 detects the voltage applied to the device 140d. It should be noted that one of the current sensor 21 and the voltage sensor 22 may not be provided depending on the type of deterioration of the device to be detected.
なお、以下で機器としているものは、劣化検知システム10が主幹ブレーカ110内に設けられる場合、機器140a〜140dであり、劣化検知システム10が壁面コンセント120a内又は機器140a内に設けられる場合、機器140aであり、劣化検知システム10が壁面コンセント120b内又は機器140b内に設けられる場合、機器140bであり、劣化検知システム10が壁面コンセント120c内又はコンセント差込機器130内に設けられる場合、機器140c及び140dであり、劣化検知システム10が機器140c内に設けられる場合、機器140cであり、劣化検知システム10が機器140d内に設けられる場合、機器140dである。 The devices described below are the devices 140a to 140d when the deterioration detection system 10 is provided in the main breaker 110, and the devices when the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120a or the device 140a. 140a, when the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120b or the device 140b, the device 140b, and the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120c or the outlet plug-in device 130, the device 140c. And 140d, when the deterioration detection system 10 is provided in the device 140c, it is the device 140c, and when the deterioration detection system 10 is provided in the device 140d, it is the device 140d.
図2に示されるように、劣化検知システム10は、取得部11、記憶部12、算出部13、判定部14、検知部15、出力部16、受信部17、AD変換部30及び周波数変換部40を備える。劣化検知システム10は、プロセッサ(マイクロプロセッサ)、メモリ、通信インタフェース及びAD(Analog Digital)変換器等を備えるコンピュータである。メモリは、ROM(Read Only Memory)及びRAM(Random Access Memory)等であり、プロセッサによって実行可能なプログラムが記憶される。なお、記憶部12は、ROM及びRAM等のメモリによって実現されるが、プログラムを記憶するメモリとは別のメモリであってもよい。AD変換部30の機能は、AD変換器によって実現される。プロセッサは、メモリに記憶されたプログラムを用いて、周波数変換部40、取得部11、算出部13、判定部14、検知部15及び出力部16の機能を実行する。受信部17は、通信回路、通信線等が接続されるコネクタ又はアンテナ等からなる通信インタフェースによって実現される。なお、劣化検知システム10を構成する構成要素は、複数の装置に分散して配置されてもよい。 As shown in FIG. 2, the deterioration detection system 10 includes an acquisition unit 11, a storage unit 12, a calculation unit 13, a determination unit 14, a detection unit 15, an output unit 16, a reception unit 17, an AD conversion unit 30, and a frequency conversion unit. 40 is provided. The deterioration detection system 10 is a computer including a processor (microprocessor), a memory, a communication interface, an AD (Analog Digital) converter, and the like. The memory is a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), or the like, and a program that can be executed by the processor is stored. The storage unit 12 is realized by a memory such as a ROM and a RAM, but may be a memory different from the memory for storing the program. The function of the AD conversion unit 30 is realized by the AD converter. The processor executes the functions of the frequency conversion unit 40, the acquisition unit 11, the calculation unit 13, the determination unit 14, the detection unit 15, and the output unit 16 by using the program stored in the memory. The receiving unit 17 is realized by a communication interface including a connector, an antenna, or the like to which a communication circuit, a communication line, or the like is connected. The components constituting the deterioration detection system 10 may be distributed and arranged in a plurality of devices.
AD変換部30は、電流センサ21により検知された電流を示すアナログ値をデジタル値に変換し、電圧センサ22により検知された電圧を示すアナログ値をデジタル値に変換する。 The AD conversion unit 30 converts the analog value indicating the current detected by the current sensor 21 into a digital value, and converts the analog value indicating the voltage detected by the voltage sensor 22 into a digital value.
周波数変換部40は、デジタル値に変換された電流又は電圧を周波数領域で変換する。例えば、周波数変換部40は、電流又は電圧の時間波形をフーリエ変換することで周波数スペクトルを算出する。 The frequency conversion unit 40 converts the current or voltage converted into a digital value in the frequency domain. For example, the frequency conversion unit 40 calculates the frequency spectrum by Fourier transforming the time waveform of current or voltage.
取得部11は、機器が動作しているときの機器の電気的特徴量を取得する。機器の電気的特徴量は、例えば、機器の電気的特徴量は、機器に印加される電圧又は機器に流れる電流のサンプリングデータ、当該電圧又は当該電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータ、当該電圧又は当該電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータの前周期に対する変動率、当該電圧又は当該電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータの時系列の変動率、及び、当該電圧又は当該電流を周波数領域に変換したデータ(例えば周波数スペクトル)のうちの1つ又は複数の組み合わせである。なお、劣化検知システム10は、周波数変換部40を備えていなくてもよく、機器の電気的特徴量は、機器に流れる電流又は機器に印加される電圧(いわゆる生データ)であってもよい。 The acquisition unit 11 acquires the amount of electrical features of the device when the device is operating. The electrical feature of the device is, for example, the electrical feature of the device is the sampling data of the voltage applied to the device or the current flowing through the device, the voltage or the sampling data of the current for a certain period or a certain period, the voltage. Or, the fluctuation rate of the sampling data of the current for a certain period or a certain cycle with respect to the previous cycle, the fluctuation rate of the sampling data of the voltage or the current for a certain period or a certain cycle in time series, and the voltage or the current in the frequency region. It is one or a combination of a plurality of the data converted into (for example, a frequency spectrum). The deterioration detection system 10 does not have to include the frequency conversion unit 40, and the electrical feature amount of the device may be the current flowing through the device or the voltage applied to the device (so-called raw data).
記憶部12は、機器が設置された環境において当該機器が劣化していない状態で動作しているときの当該機器の電気的特徴量、及び、当該機器の劣化の兆候を示す劣化兆候データを記憶する。劣化兆候データは、例えば、トラッキング劣化の兆候を示すシンチレーション電流若しくはアーク放電電流、又は、これらを周波数領域で変換したデータである。シンチレーション電流及びアーク放電電流の振幅は最大でも数100mAであり、機器に流れる電流(例えば数A以上)等の電気的特徴量と比べて小さい。シンチレーション電流は約2.5kHz〜約50kHzの成分の強度が高く、アーク放電電流は約125Hz〜約250Hzの成分の強度が高い。このような劣化兆候データは、プリント基板の材質によって変わってくるため、機器が有するプリント基板の材質毎に劣化兆候データが準備されてもよい。他にも、電子部品劣化の場合、劣化の兆候は電子部品の特性変化又は絶縁抵抗低下による電圧及び電流の周波数スペクトルの変化又はリーク電流の増加として現れる。これらの、長期的な電気的特徴量の変化も劣化予兆のデータとしてもよい。なお、電気的特徴量を記憶するメモリと劣化兆候データを記憶するメモリとは別のメモリであってもよい。 The storage unit 12 stores the electrical features of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed in a non-deteriorated state, and deterioration sign data indicating signs of deterioration of the device. To do. The deterioration sign data is, for example, a scintillation current or an arc discharge current indicating a sign of tracking deterioration, or data obtained by converting these in the frequency domain. The amplitude of the scintillation current and the arc discharge current is several hundred mA at the maximum, which is smaller than the electrical features such as the current flowing through the device (for example, several A or more). The scintillation current has a high intensity of the component of about 2.5 kHz to about 50 kHz, and the arc discharge current has a high intensity of the component of about 125 Hz to about 250 Hz. Since such deterioration sign data varies depending on the material of the printed circuit board, deterioration sign data may be prepared for each material of the printed circuit board of the device. In addition, in the case of deterioration of electronic components, signs of deterioration appear as changes in the frequency spectra of voltage and current or an increase in leakage current due to changes in the characteristics of electronic components or a decrease in insulation resistance. These long-term changes in electrical features may also be used as data for signs of deterioration. The memory for storing the electrical features and the memory for storing the deterioration sign data may be different memories.
算出部13は、取得された電気的特徴量と、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量との差分を算出する。算出部13の動作の詳細については後述する。 The calculation unit 13 calculates the difference between the acquired electrical feature amount and the electrical feature amount of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed without deterioration. The details of the operation of the calculation unit 13 will be described later.
判定部14は、算出された差分と機器の劣化の兆候を示す劣化兆候データとが類似するか否かを判定する。判定部14の動作の詳細については後述する。 The determination unit 14 determines whether or not the calculated difference and the deterioration sign data indicating the deterioration sign of the device are similar. The details of the operation of the determination unit 14 will be described later.
検知部15は、算出された差分に基づいて機器の劣化の兆候を検知する。具体的には、検知部15は、算出された差分と劣化兆候データとが類似すると判定された場合に、機器の劣化の兆候を検知する。 The detection unit 15 detects signs of deterioration of the device based on the calculated difference. Specifically, the detection unit 15 detects a sign of deterioration of the device when it is determined that the calculated difference and the deterioration sign data are similar.
出力部16は、機器の劣化の兆候が検知された場合に、当該検知の結果を出力する。出力部16の動作の詳細については後述する。 When a sign of deterioration of the device is detected, the output unit 16 outputs the result of the detection. The details of the operation of the output unit 16 will be described later.
受信部17は、例えば、外部(例えばサーバ等)から劣化兆候データを受信する。受信された劣化兆候データは、記憶部12に格納される。 The receiving unit 17 receives deterioration sign data from the outside (for example, a server or the like), for example. The received deterioration sign data is stored in the storage unit 12.
次に、実施の形態に係る劣化検知方法について、図3を用いて説明する。 Next, the deterioration detection method according to the embodiment will be described with reference to FIG.
図3は、実施の形態に係る劣化検知方法の一例を示すフローチャートである。例えば、実施の形態に係る劣化検知方法は、劣化検知システム10が備えるコンピュータ(具体的にはプロセッサ)により実行される方法である。つまり、図3は、劣化検知システム10が備える取得部11、算出部13、判定部14、検知部15及び出力部16等の動作を示すフローチャートでもある。 FIG. 3 is a flowchart showing an example of the deterioration detection method according to the embodiment. For example, the deterioration detection method according to the embodiment is a method executed by a computer (specifically, a processor) included in the deterioration detection system 10. That is, FIG. 3 is also a flowchart showing the operations of the acquisition unit 11, the calculation unit 13, the determination unit 14, the detection unit 15, the output unit 16, and the like included in the deterioration detection system 10.
トラッキング劣化等の機器の劣化はある程度時間が経過しないと発生しにくく、まずは、機器が、使用を開始して間もない状態、すなわち劣化していない状態にある場合について説明する。 Deterioration of the device such as tracking deterioration is unlikely to occur until a certain amount of time has passed. First, a case where the device has just started to be used, that is, is in a state of not being deteriorated will be described.
まず、取得部11は、機器が動作しているときの機器の電気的特徴量を取得する(ステップS11)。 First, the acquisition unit 11 acquires the electrical features of the device when the device is operating (step S11).
次に、算出部13は、取得された電気的特徴量が明確な劣化を示すか否かを判定する(ステップS12)。例えば、電気的特徴量として異常な電流(例えば、機器が正常に動作しているときに流れる電流の数倍以上の電流)が機器に流れている場合には、取得された電気的特徴量が明確な劣化を示すと判定される。上述したように、機器が劣化していない状態にある場合について説明するため、ここでは、算出部13は、取得された電気的特徴量が明確な劣化を示さないと判定する。 Next, the calculation unit 13 determines whether or not the acquired electrical features show clear deterioration (step S12). For example, if an abnormal current (for example, a current that is several times or more the current that flows when the device is operating normally) is flowing through the device as an electrical feature, the acquired electrical feature is It is judged to show clear deterioration. As described above, in order to explain the case where the device is not deteriorated, here, the calculation unit 13 determines that the acquired electrical feature amount does not show clear deterioration.
取得された電気的特徴量が明確な劣化を示さない場合(ステップS12でNo)、算出部13は、取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似するか否かを判定する(ステップS13)。正常な電気的特徴量とは、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量である。当該電気的特徴量は後述するように記憶部12に蓄積されていくが、取得された電気的特徴量と類似する電気的特徴量が記憶部12に記憶されていない場合には、取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似しないと判定される。機器の使用を開始して間もない場合には、記憶部12に記憶される電気的特徴量が少ないため、取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似しないと判定されやすい。なお、取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似しているか否かを判定する方法は特に限定されないが、例えば、周波数スペクトルにおいて強度が同程度の周波数成分の数が一定以上ある場合に類似していると判定されてもよいし、特定の周波数帯域におけるスペクトルの面積が同程度である場合に類似していると判定されてもよい。 When the acquired electrical features do not show clear deterioration (No in step S12), the calculation unit 13 determines whether or not the acquired electrical features are similar to the normal electrical features. (Step S13). The normal electrical feature amount is the electrical feature amount of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed without deterioration. The electrical feature amount is accumulated in the storage unit 12 as described later, but if an electrical feature amount similar to the acquired electrical feature amount is not stored in the storage unit 12, it is acquired. It is determined that the electrical features and the normal electrical features are not similar. When the device has just started to be used, it is determined that the acquired electrical features and the normal electrical features are not similar because the electrical features stored in the storage unit 12 are small. Cheap. The method for determining whether or not the acquired electrical features and the normal electrical features are similar is not particularly limited, but for example, the number of frequency components having the same intensity in the frequency spectrum is constant. In the above cases, it may be determined that they are similar, or when the areas of the spectra in a specific frequency band are similar, it may be determined that they are similar.
取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似しない場合(ステップS13でNo)、取得部11は、取得した電気的特徴量を正常な電気的特徴量として記憶部12に蓄積する(ステップS14)。機器が動作しているときの電気的特徴量は、機器の周辺で動作する他の機器の種類等による影響を受けるため、機器が設置された環境によって変化する。そのため、劣化していない状態の機器の電気的特徴量は、機器が設置された環境によって変化する。ある一般家庭で取得した対象の機器に流れる電流値を例として、機器が設置された環境によって電気的特徴量が変化することを図4Aから図4Dを用いて説明する。 When the acquired electrical feature amount and the normal electrical feature amount are not similar (No in step S13), the acquisition unit 11 stores the acquired electrical feature amount in the storage unit 12 as a normal electrical feature amount. (Step S14). Since the amount of electrical features when the device is operating is affected by the types of other devices operating around the device, it changes depending on the environment in which the device is installed. Therefore, the electrical features of the device in the undeteriorated state change depending on the environment in which the device is installed. Taking the current value flowing through the target device acquired in a general household as an example, it will be described with reference to FIGS. 4A to 4D that the amount of electrical features changes depending on the environment in which the device is installed.
図4Aは、機器が設置された環境としてリビングで動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。 FIG. 4A is a graph showing an example of the amount of electrical features of a device operating in the living room as an environment in which the device is installed.
図4Bは、機器が設置された環境としてキッチンで動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。 FIG. 4B is a graph showing an example of the amount of electrical features of the equipment operating in the kitchen as the environment in which the equipment is installed.
図4Cは、機器が設置された環境として洗面所で動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。 FIG. 4C is a graph showing an example of the amount of electrical features of the equipment operating in the washroom as the environment in which the equipment is installed.
図4Dは、機器が設置された環境として和室で動作している機器の電気的特徴量の一例を示すグラフである。 FIG. 4D is a graph showing an example of the electrical features of the equipment operating in the Japanese-style room as the environment in which the equipment is installed.
図4Aから図4Dに示されるように、設置される環境によって機器の電気的特徴量(ここでは機器に流れる電流を周波数領域で変換した周波数スペクトルの10mA以下の成分)が異なることが分かる。具体的には、機器が設置される環境によって、特定の周波数の成分の強度が異なっていたり、特定の周波数帯域におけるスペクトルの面積が異なっていたりする。 As shown in FIGS. 4A to 4D, it can be seen that the electrical features of the device (here, the component of 10 mA or less of the frequency spectrum obtained by converting the current flowing through the device in the frequency domain) differs depending on the environment in which the device is installed. Specifically, depending on the environment in which the device is installed, the intensity of the component of a specific frequency may differ, or the area of the spectrum in a specific frequency band may differ.
そこで、本発明の実施の形態による劣化検知システム10等により機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量が蓄積される。これにより、このような電気的特徴量を事前に準備しなくてもよく、機器が設置されたその場の環境に応じた機器の電気的特徴量が蓄積されるため、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量を容易に取得することができる。 Therefore, the deterioration detection system 10 or the like according to the embodiment of the present invention accumulates the electrical features of the device when the device is operating in an environment where the device is installed without deterioration. As a result, it is not necessary to prepare such electrical features in advance, and the electrical features of the device are accumulated according to the environment of the place where the device is installed. Therefore, the environment in which the device is installed is accumulated. The electrical features of the device can be easily obtained when the device is operating in a non-deteriorated state.
そして、判定部14は、機器が正常であると判定する(ステップS15)。 Then, the determination unit 14 determines that the device is normal (step S15).
以降もステップS11からステップS15の処理が繰り返されて、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量が逐次蓄積されていくことで、その環境に応じた電気的特徴量を数多く取得することができる。機器が設置された場所が変化しなくても、機器の周辺で動作する他の機器の動作状態は変化するため、その変化に応じて変化する機器の電気的特徴量を取得することができる。 After that, the processes of steps S11 to S15 are repeated, and the electrical features of the device when the device is operating in an environment where the device is installed are sequentially accumulated. It is possible to acquire a large number of electrical features according to the environment. Even if the place where the device is installed does not change, the operating state of other devices operating around the device changes, so that it is possible to acquire the electrical features of the device that change according to the change.
次に、機器が、使用を開始してある程度時間が経過した状態、すなわち、劣化の兆候が出始めるおそれのある状態にある場合について説明する。 Next, a case where the device has been used for a certain period of time, that is, a state in which signs of deterioration may begin to appear will be described.
トラッキング劣化のような機器の劣化の兆候を示す信号は、機器が動作しているときの電気的特徴量(例えば機器に流れる電流等)と比べて微少な信号である。ここで、劣化の兆候を示す信号が微少な信号であることを図5Aから図5Dを用いて説明する。 A signal indicating a sign of deterioration of a device such as tracking deterioration is a signal that is insignificant compared to an amount of electrical features (for example, a current flowing through the device) when the device is operating. Here, it will be described with reference to FIGS. 5A to 5D that the signal indicating the sign of deterioration is a minute signal.
図5Aは、トラッキング劣化未発生時の機器の電気的特徴量の一例を10Aレンジで示すグラフである。 FIG. 5A is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration does not occur in the 10A range.
図5Bは、トラッキング劣化発生時の機器の電気的特徴量の一例を10Aレンジで示すグラフである。 FIG. 5B is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration occurs in the 10A range.
図5Cは、トラッキング劣化未発生時の機器の電気的特徴量の一例を10mAレンジで示すグラフである。 FIG. 5C is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration has not occurred in the 10 mA range.
図5Dは、トラッキング劣化発生時の機器の電気的特徴量の一例を10mAレンジで示すグラフである。 FIG. 5D is a graph showing an example of the amount of electrical features of the device when tracking deterioration occurs in the 10 mA range.
図5A及び図5Bでは、機器の電気的特徴量として機器に流れる電流を周波数領域で変換した周波数スペクトルの10A以下の成分が示され、図5C及び図5Dでは、機器の電気的特徴量として機器に流れる電流を周波数領域で変換した周波数スペクトルの10mA以下の成分が示される。図5Aから図5Dに示されるように、機器が動作しているときの電流は10Aレンジに対応しているのに対して、トラッキング劣化の兆候は10mA〜100mAのレンジに対応しており非常に微少であることがわかる。 5A and 5B show components of 10 A or less of the frequency spectrum obtained by converting the current flowing through the device in the frequency domain as the electrical feature of the device, and FIGS. 5C and 5D show the device as the electrical feature of the device. The components of 10 mA or less of the frequency spectrum obtained by converting the current flowing through the frequency domain are shown. As shown in FIGS. 5A to 5D, the current when the device is operating corresponds to the 10A range, while the signs of tracking deterioration correspond to the range of 10mA to 100mA, which is very high. It turns out that it is insignificant.
そのため、機器に劣化の兆候があったとしても、ステップS12では取得された電気的特徴量が明確な劣化を示すと判定されず、また、ステップS13においても取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似していると判定される。また、上述したように、機器が動作しているときの電気的特徴量は、機器が設置された環境によって変化する。したがって、機器の劣化の兆候を示す信号に比べて非常に大きく、さらに、環境によって変化し得る機器の電気的特徴量から、機器の劣化の兆候を示す微少な信号を抽出することは難しい。 Therefore, even if there is a sign of deterioration in the device, it is not determined that the acquired electrical feature amount shows clear deterioration in step S12, and the acquired electrical feature amount is normal with the acquired electrical feature amount in step S13. It is determined that the electrical features are similar. Further, as described above, the amount of electrical features when the device is operating changes depending on the environment in which the device is installed. Therefore, it is very large compared to the signal showing the sign of deterioration of the device, and it is difficult to extract a minute signal showing the sign of deterioration of the device from the electrical features of the device which can change depending on the environment.
そこで、算出部13は、取得された電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似している場合(ステップS13でYes)、取得された電気的特徴量と、正常な電気的特徴量との差分を算出する(ステップS16)。具体的には、算出部13は、取得された電気的特徴量と、記憶部12に蓄積された正常な電気的特徴量との差分を算出する。上述したように、記憶部12に蓄積された正常な電気的特徴量は、機器が設置された環境において劣化していない状態の機器の電気的特徴量であるため、取得された機器の電気的特徴量から当該機器が設置された環境に応じて変化し得る環境ノイズも差し引くことができる。このため、機器の劣化の兆候を示す信号のように微少な信号を抽出することができる。 Therefore, when the acquired electrical feature amount and the normal electrical feature amount are similar (Yes in step S13), the calculation unit 13 calculates the acquired electrical feature amount and the normal electrical feature amount. And the difference is calculated (step S16). Specifically, the calculation unit 13 calculates the difference between the acquired electrical feature amount and the normal electrical feature amount stored in the storage unit 12. As described above, the normal electrical feature amount accumulated in the storage unit 12 is the electrical feature amount of the device in a state where the device is not deteriorated in the environment in which the device is installed. Environmental noise that can change depending on the environment in which the device is installed can also be subtracted from the feature amount. Therefore, it is possible to extract a minute signal such as a signal indicating a sign of deterioration of the device.
次に、判定部14は、算出された差分と機器の劣化の兆候を示す劣化兆候データとが類似するか否かを判定する(ステップS17)。具体的には、判定部14は、算出された差分と受信部17で受信され、記憶部12に記憶された劣化兆候データとが類似するか否かを判定する。なお、算出された差分と劣化兆候データとが類似しているか否かを判定する方法は特に限定されないが、例えば、周波数スペクトルにおいて強度が同程度の周波数成分の数が一定以上ある場合に類似していると判定されてもよいし、特定の周波数帯域におけるスペクトルの面積が同程度である場合に類似していると判定されてもよい。また、劣化兆候データと類似しているか否かを判定するための機械学習モデルが用いられてもよく、例えば、算出された差分を当該機械学習モデルに入力することで、算出された差分が劣化兆候データと類似しているか否かが当該機械学習モデルから出力されてもよい。このように、算出された差分と劣化兆候データとが類似するか否かが判定されることで、算出された差分が機器の劣化の兆候を示すか否かを精度良く判定できる。 Next, the determination unit 14 determines whether or not the calculated difference and the deterioration sign data indicating the deterioration sign of the device are similar (step S17). Specifically, the determination unit 14 determines whether or not the calculated difference and the deterioration sign data received by the reception unit 17 and stored in the storage unit 12 are similar. The method for determining whether or not the calculated difference and the deterioration sign data are similar is not particularly limited, but is similar to, for example, when the number of frequency components having the same intensity in the frequency spectrum is a certain number or more. It may be determined that they are similar, or they may be determined to be similar when the areas of the spectra in a specific frequency band are similar. Further, a machine learning model for determining whether or not the data is similar to the deterioration sign data may be used. For example, by inputting the calculated difference into the machine learning model, the calculated difference is deteriorated. Whether or not it is similar to the symptom data may be output from the machine learning model. In this way, by determining whether or not the calculated difference and the deterioration sign data are similar, it is possible to accurately determine whether or not the calculated difference indicates a sign of deterioration of the device.
算出された差分と劣化兆候データとが類似しない場合(ステップS17でNo)、判定部14は、機器が正常であると判定する(ステップS15)。例えば、算出された差分がほぼ0の場合、算出された差分と劣化兆候データとは類似せず、すなわち、機器に劣化の兆候が表れておらず、機器が正常と判定される。また、算出された差分が0でない場合であっても、算出された差分と劣化兆候データとが類似しない場合がある。例えば、宅外で大型車両等が走行したときに発生したノイズが機器の電気的特徴量に重畳した場合、算出された差分は0とならないが、当該差分は、機器の劣化の兆候によって発生したものではないため劣化兆候データとは類似せず、機器が正常と判定される。 When the calculated difference and the deterioration sign data are not similar (No in step S17), the determination unit 14 determines that the device is normal (step S15). For example, when the calculated difference is almost 0, the calculated difference and the deterioration sign data are not similar, that is, no sign of deterioration appears in the device, and the device is determined to be normal. Further, even if the calculated difference is not 0, the calculated difference and the deterioration sign data may not be similar. For example, when the noise generated when a large vehicle or the like runs outside the house is superimposed on the electrical features of the device, the calculated difference does not become 0, but the difference is generated by a sign of deterioration of the device. Since it is not a thing, it does not resemble the deterioration sign data, and the device is judged to be normal.
算出された差分と劣化兆候データとが類似する場合(ステップS17でYes)、検知部15は、機器の劣化の兆候を検知する(ステップS18)。劣化検知システム10が主幹ブレーカ110内に設けられる場合、機器140a〜140dのいずれかに劣化の兆候があることが検知される。劣化検知システム10が壁面コンセント120a内又は機器140a内に設けられる場合、機器140aに劣化の兆候があることが検知される。劣化検知システム10が壁面コンセント120b内又は機器140b内に設けられる場合、機器140bに劣化の兆候があることが検知される。劣化検知システム10が壁面コンセント120c内又はコンセント差込機器130内に設けられる場合、機器140c及び140dのいずれかに劣化の兆候があることが検知される。劣化検知システム10が機器140c内に設けられる場合、機器140cに劣化の兆候があることが検知される。劣化検知システム10が機器140d内に設けられる場合、機器140dに劣化の兆候があることが検知される。 When the calculated difference and the deterioration sign data are similar (Yes in step S17), the detection unit 15 detects the deterioration sign of the device (step S18). When the deterioration detection system 10 is provided in the main breaker 110, it is detected that any of the devices 140a to 140d has a sign of deterioration. When the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120a or the device 140a, it is detected that the device 140a has a sign of deterioration. When the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120b or the device 140b, it is detected that the device 140b has a sign of deterioration. When the deterioration detection system 10 is provided in the wall outlet 120c or the outlet plug-in device 130, it is detected that there is a sign of deterioration in either the device 140c or 140d. When the deterioration detection system 10 is provided in the device 140c, it is detected that the device 140c has a sign of deterioration. When the deterioration detection system 10 is provided in the device 140d, it is detected that the device 140d has a sign of deterioration.
出力部16は、機器の劣化の兆候の検知の結果を出力する(ステップS19)。例えば、出力部16は、ディスプレイ等の表示部又はスピーカ等に検知の結果を出力して、機器に劣化の兆候があることをユーザに報知させてもよい。また、例えば、出力部16は、メンテナンス業者等に向けて検知の結果を出力して、メンテナンス業者等に劣化の兆候のある機器のメンテナンス等をさせてもよい。また、例えば、出力部16は、機器への電源の供給を制御する制御部等に検知の結果を出力して、劣化の兆候のある機器への電力の供給を遮断させてもよい。 The output unit 16 outputs the result of detecting the sign of deterioration of the device (step S19). For example, the output unit 16 may output the detection result to a display unit such as a display or a speaker to notify the user that there is a sign of deterioration in the device. Further, for example, the output unit 16 may output the detection result to the maintenance company or the like and have the maintenance company or the like maintain the equipment showing signs of deterioration. Further, for example, the output unit 16 may output the detection result to a control unit or the like that controls the supply of power to the device to cut off the supply of electric power to the device showing signs of deterioration.
なお、すでに劣化している機器が設置されて明確な劣化を示す電気的特徴量が取得される場合がある。このような場合に、ステップS12での処理がないと、取得された明確な劣化を示す電気的特徴量と正常な電気的特徴量とが類似しないため、ステップS13でNoとなり明確な劣化を示す電気的特徴量が正常な電気的特徴量として記憶部12に記憶される場合がある。そこで、取得された電気的特徴量が明確な劣化を示す場合(ステップS12でYes)、ステップS13での処理が行われず、検知部15は、機器の劣化を検知する(ステップS18)。これにより、明確な劣化を示す電気的特徴量が正常な電気的特徴量として記憶部12に蓄積されることを防ぐことができる。 In some cases, equipment that has already deteriorated is installed and an electrical feature that clearly indicates deterioration is acquired. In such a case, if there is no processing in step S12, the acquired electrical feature amount showing clear deterioration and the normal electrical feature amount are not similar, so that the result is No in step S13 and clear deterioration is shown. The electrical feature amount may be stored in the storage unit 12 as a normal electrical feature amount. Therefore, when the acquired electrical features show clear deterioration (Yes in step S12), the processing in step S13 is not performed, and the detection unit 15 detects the deterioration of the device (step S18). As a result, it is possible to prevent the electrical feature amount showing clear deterioration from being accumulated in the storage unit 12 as a normal electrical feature amount.
以上説明したように、取得された劣化の兆候があるか否かわからない機器の電気的特徴量と、当該機器が設置された環境において劣化していない状態の当該機器の電気的特徴量との差分が算出される。言い換えると、取得された当該機器の電気的特徴量から、劣化していない状態の当該機器の電気的特徴量であって当該機器が設置された環境の環境ノイズを含む電気的特徴量が引かれる。これにより、取得された当該機器の電気的特徴量から当該機器が設置された環境に応じて変化し得る環境ノイズの影響を効果的に排除できる。したがって、劣化の兆候がある機器の電気的特徴量が取得された場合に、機器の劣化の兆候を示す信号を精度良く抽出することができ、機器の劣化の兆候を検知することができる。 As explained above, the difference between the acquired electrical features of a device for which there is no sign of deterioration and the electrical features of the device in a non-deteriorated state in the environment in which the device is installed. Is calculated. In other words, from the acquired electrical features of the device, the electrical features of the device in a non-deteriorated state, including the environmental noise of the environment in which the device is installed, are subtracted. .. As a result, it is possible to effectively eliminate the influence of environmental noise that may change depending on the environment in which the device is installed from the acquired electrical features of the device. Therefore, when the electrical feature amount of the device showing the sign of deterioration is acquired, the signal indicating the sign of deterioration of the device can be extracted with high accuracy, and the sign of deterioration of the device can be detected.
(その他の実施の形態)
以上、本開示の一つ又は複数の態様に係る劣化検知方法及び劣化検知システム10について、実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、これらの実施の形態に限定されるものではない。本開示の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を各実施の形態に施したものや、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本開示の一つ又は複数の態様の範囲内に含まれてもよい。
(Other embodiments)
Although the deterioration detection method and the deterioration detection system 10 according to one or more aspects of the present disclosure have been described above based on the embodiments, the present disclosure is not limited to these embodiments. As long as it does not deviate from the gist of the present disclosure, one or a plurality of forms in which various modifications conceived by those skilled in the art are applied to each embodiment, and a form constructed by combining components in different embodiments are also included. It may be included within the scope of the embodiment.
例えば、上記実施の形態では、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量が記憶部12に蓄積される例について説明したが、これに限らない。例えば、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量が受信部17等によって受信されて、記憶部12に格納されてもよい。この場合、算出部13は、取得された電気的特徴量と、受信された電気的特徴量との差分を算出する。これにより、このような電気的特徴量を事前に準備しなくてもよく、機器が設置されたその場の環境に応じた機器の電気的特徴量を逐次蓄積している装置から電気的特徴量を受信することができる。また、機器が設置された環境において機器が劣化していない状態で動作しているときの機器の電気的特徴量が蓄積されたり、受信されたりしなくてもよく、予め記憶部12に記憶されていてもよい。 For example, in the above-described embodiment, an example in which the electrical features of the device are stored in the storage unit 12 when the device is operating in an environment in which the device is installed without deterioration has been described. Not limited to. For example, the electrical feature amount of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed may be received by the receiving unit 17 or the like and stored in the storage unit 12. In this case, the calculation unit 13 calculates the difference between the acquired electrical feature amount and the received electrical feature amount. As a result, it is not necessary to prepare such electrical features in advance, and the electrical features from the device that sequentially accumulates the electrical features of the device according to the environment in which the device is installed are used. Can be received. Further, it is not necessary to accumulate or receive the electrical features of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed without deterioration, and the device is stored in the storage unit 12 in advance. You may be.
例えば、上記実施の形態では、劣化検知システム10が判定部14を備える例について説明したが、劣化検知システム10は判定部14を備えていなくてもよい。すなわち、機器の劣化の兆候を検知するために劣化兆候データが用いられなくてもよい。この場合であっても、算出部13で算出された差分に対して、機器の劣化の兆候を示す微少な信号が存在するか否かを閾値判定することで、機器の劣化の兆候を検知することができる。 For example, in the above embodiment, the example in which the deterioration detection system 10 includes the determination unit 14 has been described, but the deterioration detection system 10 may not include the determination unit 14. That is, the deterioration sign data may not be used to detect the deterioration sign of the device. Even in this case, the sign of deterioration of the device is detected by determining whether or not there is a minute signal indicating the sign of deterioration of the device with respect to the difference calculated by the calculation unit 13. be able to.
例えば、上記実施の形態では、劣化検知システム10が劣化兆候データを受信する受信部17を備える例について説明したが、劣化検知システム10は受信部17を備えていなくてもよい。例えば、劣化兆候データは、予め記憶部12に記憶されていてもよい。 For example, in the above embodiment, the deterioration detection system 10 includes the receiving unit 17 for receiving the deterioration sign data, but the deterioration detecting system 10 may not include the receiving unit 17. For example, the deterioration sign data may be stored in the storage unit 12 in advance.
例えば、上記実施の形態では、劣化検知システム10が出力部16を備える例について説明したが、劣化検知システム10は出力部16を備えていなくてもよい。 For example, in the above embodiment, the example in which the deterioration detection system 10 includes the output unit 16 has been described, but the deterioration detection system 10 may not include the output unit 16.
なお、劣化検知システム10は、取得部11が取得した電気的特徴量から瞬間的な電力供給の遮断を検知することにより、コードが劣化した部分又は断線した部分で発生するスパークを検知してもよい。また、劣化検知システム10は、取得部11が取得する電気的特徴量の長期的な経時変化を監視することにより、電子部品の劣化、不完全接続又は材料の劣化等を検知してもよい。 Even if the deterioration detection system 10 detects a momentary interruption of power supply from the amount of electrical features acquired by the acquisition unit 11, and detects a spark generated in a portion where the cord has deteriorated or is broken. Good. Further, the deterioration detection system 10 may detect deterioration of electronic components, incomplete connection, deterioration of materials, etc. by monitoring a long-term change in the amount of electrical features acquired by the acquisition unit 11.
本開示は、劣化検知方法に含まれるステップを、プロセッサに実行させるためのプログラムとして実現できる。さらに、本開示は、そのプログラムを記録したCD−ROM等である非一時的なコンピュータ読み取り可能な記録媒体として実現できる。 The present disclosure can be realized as a program for causing a processor to execute the steps included in the deterioration detection method. Further, the present disclosure can be realized as a non-temporary computer-readable recording medium such as a CD-ROM on which the program is recorded.
例えば、本開示が、プログラム(ソフトウェア)で実現される場合には、コンピュータのCPU、メモリ及び入出力回路等のハードウェア資源を利用してプログラムが実行されることによって、各ステップが実行される。つまり、CPUがデータをメモリ又は入出力回路等から取得して演算したり、演算結果をメモリ又は入出力回路等に出力したりすることによって、各ステップが実行される。 For example, when the present disclosure is realized by a program (software), each step is executed by executing the program using hardware resources such as a computer CPU, memory, and input / output circuit. .. That is, each step is executed when the CPU acquires data from the memory or the input / output circuit or the like and performs an operation, or outputs the calculation result to the memory or the input / output circuit or the like.
なお、上記実施の形態において、劣化検知システム10に含まれる各構成要素は、専用のハードウェアで構成されるか、各構成要素に適したソフトウェアプログラムを実行することによって実現されてもよい。各構成要素は、CPU又はプロセッサなどのプログラム実行部が、ハードディスク又は半導体メモリなどの記録媒体に記録されたソフトウェアプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。 In the above embodiment, each component included in the deterioration detection system 10 may be configured by dedicated hardware or may be realized by executing a software program suitable for each component. Each component may be realized by a program execution unit such as a CPU or a processor reading and executing a software program recorded on a recording medium such as a hard disk or a semiconductor memory.
上記実施の形態に係る劣化検知システム10の機能の一部又は全ては典型的には集積回路であるLSIとして実現される。これらは個別に1チップ化されてもよいし、一部又は全てを含むように1チップ化されてもよい。また、集積回路化はLSIに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセッサで実現してもよい。LSI製造後にプログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)、又はLSI内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用してもよい。 Part or all of the functions of the deterioration detection system 10 according to the above embodiment are typically realized as an LSI which is an integrated circuit. These may be individually integrated into one chip, or may be integrated into one chip so as to include a part or all of them. Further, the integrated circuit is not limited to the LSI, and may be realized by a dedicated circuit or a general-purpose processor. An FPGA (Field Programmable Gate Array) that can be programmed after the LSI is manufactured, or a reconfigurable processor that can reconfigure the connection and settings of circuit cells inside the LSI may be used.
さらに、本開示の主旨を逸脱しない限り、本開示の各実施の形態に対して当業者が思いつく範囲内の変更を施した各種変形例も本開示に含まれる。 Further, as long as the gist of the present disclosure is not deviated, various modifications in which the embodiments of the present disclosure are modified within the scope of those skilled in the art are also included in the present disclosure.
本開示の劣化検知方法等は、例えば、機器の劣化を検知する装置に適用できる。 The deterioration detection method and the like of the present disclosure can be applied to, for example, a device for detecting deterioration of a device.
10 劣化検知システム
11 取得部
12 記憶部
13 算出部
14 判定部
15 検知部
16 出力部
17 受信部
21 電流センサ
22 電圧センサ
30 AD変換部
40 周波数変換部
100 電力系統
110 主幹ブレーカ
120a、120b、120c 壁面コンセント
130 コンセント差込機器
140a、140b、140c、140d 機器
10 Deterioration detection system 11 Acquisition unit 12 Storage unit 13 Calculation unit 14 Judgment unit 15 Detection unit 16 Output unit 17 Reception unit 21 Current sensor 22 Voltage sensor 30 AD conversion unit 40 Frequency conversion unit 100 Power system 110 Main circuit breakers 120a, 120b, 120c Wall outlet 130 Outlet plug-in device 140a, 140b, 140c, 140d device

Claims (9)

  1. 機器が動作しているときの前記機器の電気的特徴量を取得する取得ステップと、
    取得された電気的特徴量と、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量との差分を算出する算出ステップと、
    算出された差分に基づいて前記機器の劣化の兆候を検知する検知ステップと、を含む、
    劣化検知方法。
    The acquisition step of acquiring the electrical features of the device when the device is operating, and
    A calculation step for calculating the difference between the acquired electrical feature amount and the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state in the environment in which the device is installed, and a calculation step.
    Includes a detection step that detects signs of deterioration of the device based on the calculated difference.
    Deterioration detection method.
  2. さらに、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量を蓄積する蓄積ステップを含み、
    前記算出ステップでは、取得された電気的特徴量と、蓄積された電気的特徴量との差分を算出する、
    請求項1に記載の劣化検知方法。
    Further, it includes a storage step of accumulating the electrical features of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed in a non-deteriorated state.
    In the calculation step, the difference between the acquired electrical features and the accumulated electrical features is calculated.
    The deterioration detection method according to claim 1.
  3. さらに、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量を受信する電気的特徴量受信ステップを含み、
    前記算出ステップでは、取得された電気的特徴量と、受信された電気的特徴量との差分を算出する、
    請求項1に記載の劣化検知方法。
    Further, it includes an electrical feature amount receiving step of receiving the electrical feature amount of the device when the device is operating in a non-deteriorated state in the environment in which the device is installed.
    In the calculation step, the difference between the acquired electrical feature amount and the received electrical feature amount is calculated.
    The deterioration detection method according to claim 1.
  4. さらに、算出された差分と前記機器の劣化の兆候を示す劣化兆候データとが類似するか否かを判定する判定ステップを備え、
    前記検知ステップでは、算出された差分と前記劣化兆候データとが類似すると判定された場合に、前記機器の劣化の兆候を検知する、
    請求項1〜3のいずれか1項に記載の劣化検知方法。
    Further, a determination step for determining whether or not the calculated difference and the deterioration sign data indicating the deterioration sign of the device are similar is provided.
    In the detection step, when it is determined that the calculated difference and the deterioration sign data are similar, the sign of deterioration of the device is detected.
    The deterioration detection method according to any one of claims 1 to 3.
  5. さらに、前記劣化兆候データを受信する劣化兆候データ受信ステップを含み、
    前記判定ステップでは、算出された差分と受信された劣化兆候データとが類似するか否かを判定する、
    請求項4に記載の劣化検知方法。
    Further, it includes a deterioration sign data receiving step for receiving the deterioration sign data.
    In the determination step, it is determined whether or not the calculated difference and the received deterioration sign data are similar.
    The deterioration detection method according to claim 4.
  6. さらに、前記機器の劣化の兆候が検知された場合に、当該検知の結果を出力する出力ステップを含む、
    請求項1〜5のいずれか1項に記載の劣化検知方法。
    Further, when a sign of deterioration of the device is detected, an output step for outputting the result of the detection is included.
    The deterioration detection method according to any one of claims 1 to 5.
  7. 前記機器の電気的特徴量は、前記機器に印加される電圧又は前記機器に流れる電流のサンプリングデータ、前記電圧又は前記電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータ、前記電圧又は前記電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータの前周期に対する変動率、前記電圧又は前記電流の一定期間又は一定周期のサンプリングデータの時系列の変動率、及び、前記電圧又は前記電流を周波数領域に変換したデータのうちの1つ又は複数の組み合わせである、
    請求項1〜6のいずれか1項に記載の劣化検知方法。
    The electrical feature amount of the device is the sampling data of the voltage applied to the device or the current flowing through the device, the sampling data of the voltage or the current for a certain period or a certain period, the voltage or the current for a certain period, or Of the fluctuation rate of the sampling data of a fixed cycle with respect to the previous cycle, the fluctuation rate of the sampling data of the voltage or the current for a fixed period or the time series of the sampling data of the fixed cycle, and the data obtained by converting the voltage or the current into a frequency region. One or more combinations,
    The deterioration detection method according to any one of claims 1 to 6.
  8. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の劣化検知方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。 A program for causing a computer to execute the deterioration detection method according to any one of claims 1 to 7.
  9. 機器が動作しているときの前記機器の電気的特徴量を取得する取得部と、
    取得された電気的特徴量と、前記機器が設置された環境において前記機器が劣化していない状態で動作しているときの前記機器の電気的特徴量との差分を算出する算出部と、
    算出された差分に基づいて前記機器の劣化の兆候を検知する検知部と、を備える、
    劣化検知システム。
    An acquisition unit that acquires the electrical features of the device when the device is operating,
    A calculation unit that calculates the difference between the acquired electrical feature amount and the electrical feature amount of the device when the device is operating in an environment in which the device is installed without deterioration.
    It is provided with a detection unit that detects signs of deterioration of the device based on the calculated difference.
    Deterioration detection system.
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