JP2021060555A - Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof - Google Patents
Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021060555A JP2021060555A JP2019186037A JP2019186037A JP2021060555A JP 2021060555 A JP2021060555 A JP 2021060555A JP 2019186037 A JP2019186037 A JP 2019186037A JP 2019186037 A JP2019186037 A JP 2019186037A JP 2021060555 A JP2021060555 A JP 2021060555A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pellicle
- case
- frame
- dedicated
- adhesive layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 12
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 abstract description 10
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 15
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000001364 causal effect Effects 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 1
- 229920001083 polybutene Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 230000002940 repellent Effects 0.000 description 1
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
Description
本発明は、LSI、超LSIなどの半導体装置又は液晶表示板を製造する際のリソグラフィ用マスクのゴミよけとして使用されるリソグラフィ用ペリクルとその専用ペリクルケースからなるアセンブリに関する。 The present invention relates to an assembly comprising a lithography pellicle used as a dust repellent for a lithography mask when manufacturing a semiconductor device such as an LSI or a super LSI or a liquid crystal display board, and a dedicated pellicle case thereof.
LSI、超LSIなどの半導体製造又は液晶表示板などの製造においては、半導体ウエハー又は液晶用原板に光を照射してパターン作製するが、この場合に用いる露光原版にゴミが付着していると、このゴミが光を吸収したり、光を曲げてしまうために、転写したパターンが変形したり、エッジががさついたものとなるほか、下地が黒く汚れたりして、寸法、品質、外観などが損なわれるという問題があった。なお、本発明において、「露光原版」とは、リソグラフィ用マスク及びレチクルの総称である(以下、「マスク」とも略称する。)。 In the manufacture of semiconductors such as LSIs and VLSIs or the manufacture of liquid crystal display boards, patterns are produced by irradiating semiconductor wafers or original plates for liquid crystals with light. Since this dust absorbs light and bends the light, the transferred pattern is deformed, the edges become rough, and the base becomes black and dirty, which impairs the dimensions, quality, appearance, etc. There was a problem of being In the present invention, the "exposure original plate" is a general term for a mask for lithography and a reticle (hereinafter, also abbreviated as "mask").
これらの作業は、通常クリーンルームで行われているが、このクリーンルーム内でもマスクを常に清浄に保つことが難しいので、マスクの表面にゴミよけのための露光用の光をよく通過させるペリクルを貼着する方法が取られている。この場合、ゴミは、マスクの表面上には直接付着せず、ペリクル膜上に付着するために、リソグラフィ時に焦点をマスクのパターン上に合わせておけば、ペリクル膜上のゴミは転写に無関係となる。 These operations are usually performed in a clean room, but it is difficult to keep the mask clean even in this clean room, so a pellicle that allows light for exposure to avoid dust is attached to the surface of the mask. The method of wearing is taken. In this case, dust does not adhere directly to the surface of the mask, but adheres to the pellicle film. Therefore, if the focus is on the mask pattern during lithography, the dust on the pellicle film is irrelevant to transfer. Become.
そして、このようなペリクルの基本的な構成は、ペリクルフレーム及びこれに張設されたペリクル膜からなる。このペリクル膜は、露光に用いる光(g線、i線、248nm、193nm等)をよく透過させるニトロセルロース、酢酸セルロース、フッ素系ポリマーなどからなり、ペリクルフレームは、黒色アルマイト処理等を施したA7075、A6061、A5052などのアルミニウム合金、ステンレス、ポリエチレンなどからなる。 The basic structure of such a pellicle is composed of a pellicle frame and a pellicle film stretched on the pellicle frame. This pellicle film is made of nitrocellulose, cellulose acetate, fluoropolymer, etc. that allows light (g-line, i-line, 248 nm, 193 nm, etc.) used for exposure to pass through well, and the pellicle frame is A7075 treated with black alumite or the like. , A6061, A5052 and other aluminum alloys, stainless steel, polyethylene and the like.
また、ペリクルフレームの上面(上端面)には、ペリクル膜の良溶媒が塗布され、ペリクル膜をこれに張りつけ、風乾して接着させるか、又は、アクリル樹脂、エポキシ樹脂やフッ素樹脂などの接着剤を用いて接着される。さらに、ペリクルフレームの下面(下端面)には、マスクを装着するために、ポリブテン樹脂、ポリ酢酸ビニル樹脂、アクリル樹脂又はシリコーン樹脂等からなるマスク粘着剤層及びこの粘着剤層の保護を目的とした離型性ライナーよりなる保護シート(以下、「セパレーター」ともいう。)が設けられる。 A good solvent for the pellicle film is applied to the upper surface (upper end surface) of the pellicle frame, and the pellicle film is attached to the pellicle frame and air-dried to be adhered, or an adhesive such as acrylic resin, epoxy resin or fluororesin is used. Is glued using. Further, in order to attach a mask to the lower surface (lower end surface) of the pellicle frame, the purpose is to protect the mask adhesive layer made of polybutene resin, polyvinyl acetate resin, acrylic resin, silicone resin, etc. and the adhesive layer. A protective sheet (hereinafter, also referred to as “separator”) made of a releasable liner is provided.
このように構成されたペリクルは、マスクの表面に形成されたパターン領域を囲むように設置され、マスク上にゴミが付着するのを防止するために設けられるから、このパターン領域とペリクル外部とはペリクル外部の塵埃がパターン面に付着しないように互いに隔離されている。 The pellicle configured in this way is installed so as to surround the pattern area formed on the surface of the mask, and is provided to prevent dust from adhering on the mask. Dust outside the pellicle is isolated from each other so that it does not adhere to the pattern surface.
ところで、近年、LSIのデザインルールは、サブクオーターミクロンへと微細化が進んでおり、それに伴い、露光光源の短波長化が進んでいる、即ち、これまで主流であったKrFエキシマレーザー(248nm)から、ArFエキシマレーザー(193nm)、ArFエキシマレーザー(193nm)液浸露光などに移行しつつある。 By the way, in recent years, LSI design rules have been miniaturized to sub-quarter micron, and along with this, the wavelength of the exposure light source has been shortened, that is, the KrF excimer laser (248 nm), which has been the mainstream until now. Is shifting to ArF excimer laser (193 nm), ArF excimer laser (193 nm) immersion exposure, and the like.
このように、露光の短波長化が進んで露光解像度が高くなると、これまで問題とならなかったパターンの変形や歪みまでもが歩留まりに影響を及ぼすことが懸念されている。このパターンの変形や歪みは、マスク自体の変形や歪みに拠るところが大きく、その不具合の主な原因として、マスクへのペリクル貼り付け時に伴う変形や歪みが挙げられており、ペリクル自体の変形や歪みがマスクに伝わって悪影響を与えることが分かっている。 As described above, when the wavelength of exposure is shortened and the exposure resolution is increased, there is a concern that even pattern deformation and distortion, which have not been a problem so far, affect the yield. The deformation and distortion of this pattern are largely due to the deformation and distortion of the mask itself, and the main cause of the defect is the deformation and distortion that accompany the application of the pellicle to the mask, and the deformation and distortion of the pellicle itself. Is known to be transmitted to the mask and have an adverse effect.
そこで、マスクに与える影響を少なくする試みがなされており、特許文献1、2には、ペリクルのマスク用粘着剤層の表面の平坦度を15μm以下とするリソグラフィ用ペリクルが記載されている。しかし、このようなペリクルの粘着剤層の平坦度で作成したペリクルでも、完成後に容器に収納することによって、ペリクル完成時の形状を安定して維持できない可能性があるという問題がある。
Therefore, attempts have been made to reduce the influence on the mask, and
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、露光原版の変形や歪みを安定して低減することができる平坦度の高いリソグラフィ用ペリクルとその専用ペリクルケースからなるアセンブリを提供することである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is an assembly composed of a highly flat lithography pellicle capable of stably reducing deformation and distortion of an exposure original plate and a special pellicle case thereof. Is to provide.
従来から、矩形のペリクルフレーム(以下、単に「フレーム」ともいう。)の平坦度を管理して平坦度の高いリソグラフィペリクル(以下、単に「高平坦ペリクル」ともいう。)が製造されているが、本発明者は、ペリクル完成後に専用ペリクルケース(蓋部とトレイ部とを備える。)に収納した後、ペリクルを取り出してマスクに装着して実験を繰り返した結果、同じ条件で製造されたペリクルを貼り付けても、マスクに与える歪みの影響が異なることを見出した。 Conventionally, a lithography pellicle having a high flatness (hereinafter, also simply referred to as a “high flat pellicle”) has been manufactured by controlling the flatness of a rectangular pellicle frame (hereinafter, also simply referred to as a “frame”). After the pellicle was completed, the present inventor stored the pellicle in a special pellicle case (provided with a lid and a tray), took out the pellicle, attached it to a mask, and repeated the experiment. As a result, the pellicle was manufactured under the same conditions. It was found that the effect of distortion on the mask is different even if the is pasted.
そして、本発明者は、さらにその原因について考察を行ったところ、ペリクルを専用ペリクルケースに収納することで、保護シート(セパレーター)を貼り付けたマスク用粘着剤層(以下、単に「粘着剤層」ともいう。)が専用ペリクルケースのトレイ部に接触し、粘着剤層の平坦度が製造直後の平坦度より悪化していることを確認した。粘着剤層の平坦度悪化の度合いは個体差があり、平坦度の悪化が小さければ、ペリクル貼り付け時のマスクの歪みが小さくなることも確認した。これらの知見は本発明者が初めて見出したものであり、ペリクルを従来からある一般的なペリクルケースに収納することで、粘着剤層の平坦度が悪化し、このことがペリクル貼り付け時のマスクの変形や歪み、ひいてはパターンの変形や歪みをもたらしているという因果関係に着目し、かつ、それを明らかにしたケースは本発明者が最初である。 Then, the present inventor further considered the cause, and found that by storing the pellicle in a special pellicle case, a mask adhesive layer to which a protective sheet (separator) was attached (hereinafter, simply "adhesive layer"). ”) Contacted the tray of the special pellicle case, and it was confirmed that the flatness of the adhesive layer was worse than the flatness immediately after production. It was also confirmed that the degree of deterioration of the flatness of the pressure-sensitive adhesive layer varies from individual to individual, and that the smaller the deterioration of the flatness, the smaller the distortion of the mask when the pellicle is attached. These findings were first discovered by the present inventor, and by storing the pellicle in a conventional general pellicle case, the flatness of the adhesive layer deteriorates, which is a mask when the pellicle is attached. The present inventor is the first to pay attention to the causal relationship that causes the deformation and distortion of the pattern, and eventually the deformation and distortion of the pattern, and to clarify it.
さらに、本発明者は、ペリクル完成後に専用ペリクルケースに収納することなく、粘着剤層を専用ペリクルケースのトレイ部と非接触の状態で保持したペリクルは、マスクの歪みも小さいことを検証し、本発明に至ったものである。 Furthermore, the present inventor has verified that the pellicle in which the adhesive layer is held in a non-contact state with the tray portion of the dedicated pellicle case without being stored in the dedicated pellicle case after the completion of the pellicle has little distortion of the mask. This is the result of the present invention.
すなわち、本発明に係るリソグラフィ用ペリクルとその専用ペリクルケースのアセンブリは、粘着剤層の貼り付け面が前記専用ペリクルケースのトレイ部に接触しないようにトレイ部から浮かせた状態で保持して、前記専用ペリクルケース内に収納されることを特徴とするものであり、前記専用ペリクルケースのトレイ部から粘着剤層を浮かせた状態で保持する構造手段として、例えば、ペリクルフレーム外周部に切り欠き部(段差)又は突起物を設け、前記専用ペリクルケースのトレイ部にペリクルフレーム外周部の前記切り欠き部又は突起物をそれぞれ受けるような構造体を設置している。ペリクルの実用面を考慮し、現行のペリクル取出し装置(ペリクルオートマウンター)に対応させるため、長辺それぞれの2か所に設けられた既存の治具穴に干渉することなく、また、ペリクルを上方へ引き上げる際に抵抗にならないような構造体を設けることで、ペリクルオートマウンターにセッティングを変更する必要がなく、そのまま使用可能であって、従来の動作のまま、他の付加的な動作をすることなく、スムーズにペリクルを移動させて取り出すことができ、かつ、ペリクルの粘着剤層がトレイ部から非接触の浮かせた状態で収納可能な構造にすることが好ましい。 That is, the assembly of the lithography pellicle and its dedicated pellicle case according to the present invention is held in a state of being floated from the tray portion so that the sticking surface of the adhesive layer does not come into contact with the tray portion of the dedicated pellicle case. It is characterized in that it is stored in a dedicated pellicle case, and as a structural means for holding the adhesive layer in a floating state from the tray portion of the dedicated pellicle case, for example, a notch portion (notch portion) on the outer peripheral portion of the pellicle frame. A structure is provided so as to provide a step) or a protrusion, and to receive the notch or the protrusion on the outer peripheral portion of the pellicle frame in the tray portion of the dedicated pellicle case. In consideration of the practical aspect of the pellicle, in order to correspond to the current pellicle extraction device (pellicle auto mounter), the pellicle is moved upward without interfering with the existing jig holes provided at each of the two long sides. By providing a structure that does not become a resistance when pulling up to, there is no need to change the setting of the pellicle auto mounter, it can be used as it is, and other additional operations can be performed while maintaining the conventional operation. It is preferable to have a structure in which the pellicle can be smoothly moved and taken out, and the adhesive layer of the pellicle can be stored in a non-contact floating state from the tray portion.
本発明によれば、完成したペリクルを専用ペリクルケースに収納する際、粘着剤層の保護シート(セパレーター)を貼り付けた貼り付け面が、専用ペリクルケースに接触しないように浮かせた状態で収納することで、粘着剤層のシート貼り付け面の平坦度を、ケース収納前と同じ状態に維持することができ、マスクにペリクルを貼り付けた際に、マスクの歪みへの影響を小さく抑えることができる高平坦リソグラフィ用ペリクルを提供することができる。 According to the present invention, when the completed pellicle is stored in the dedicated pellicle case, the surface to which the protective sheet (separator) of the adhesive layer is attached is floated so as not to come into contact with the dedicated pellicle case. As a result, the flatness of the sheet-attached surface of the adhesive layer can be maintained in the same state as before the case is stored, and when the pellicle is attached to the mask, the effect on the distortion of the mask can be suppressed to a small extent. It is possible to provide a pellicle for high flat lithography that can be used.
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しつつ具体的に説明するが、本発明は、この実施形態に限定されるものではない。本発明によって収納されるリソグラフィ用ペリクルは、ペリクル完成後に専用ペリクルケースに収納しても、マスク貼り付け用粘着剤層の平坦度が悪化しないことを特徴とするものである。なお、図1は、本発明に係るペリクルとその専用ペリクルケースのアセンブリ10の概略断面図であり、セパレーター3を設けている場合の実施形態、図2は、本発明に係るペリクルとその専用ペリクルケースのアセンブリ10の概略断面図であり、ペリクルフレーム2の外側に出ない構造手段として切り欠き段差6を設けている場合の実施形態、図3は、本発明に係るペリクルとその専用ペリクルケースのアセンブリ10の概略断面図であり、セパレーターを設けていない場合の実施形態を示している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to this embodiment. The lithography pellicle housed according to the present invention is characterized in that the flatness of the adhesive layer for attaching a mask does not deteriorate even if the pellicle is stored in a special pellicle case after completion. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of the
上記特徴を達成するために、ペリクルフレーム2の外側面及び専用ペリクルケースのトレイ部9にそれぞれ特徴的な形状を持たせる必要がある。具体例として、ペリクルフレームには、専用ペリクルケースに収納する際、フレーム下端面の粘着剤層5の貼り付け面(下端面)を中空に浮かせた状態で安定することができるよう、フレームの外側面にオプションとして任意の突起物又は切り欠き部(段差)を設けることができる。その場合、専用ペリクルケースには、ペリクルを支える構造手段4として、前記フレームの突起物又は段差を受ける形状の構造物(構造手段)が必要になる。なお、図1〜3に示すように、前記専用ペリクルケースは、蓋部8とトレイ部9を備える。また、図1〜3において、符号1はペリクル膜を示す。
In order to achieve the above characteristics, it is necessary to give the outer surface of the
粘着剤層を専用ペリクルケース内で浮かせた状態で設置する方法として、ペリクルフレームの外側面に複数の穴を設けて、該穴と係合して前記ペリクルフレームを支持する前記穴と同数の突起物とこれを支持する構造体からなる構造手段、例えばピン状の突起体を有する構造手段を専用ペリクルケースのトレイ部に設け、該構造手段を前記穴に差し込んで把持させることもできる。しかし、この場合、専用ペリクルケースからペリクルを取り出す動作に、ピンを抜く動作を追加する必要がある。現在、ペリクルを専用ペリクルケースから取り出す際は、ペリクルオートマウンターと呼ばれる専用装置を用いているため、従来の動作のまま、ペリクルの取出しができるペリクルフレーム及び専用ペリクルケースの構造体であることが求められている。この実情を考えると、本実施形態は実施に到るまでには時間がかかり、ベストモードとは言えない。 As a method of installing the adhesive layer in a floating state in the dedicated pellicle case, a plurality of holes are provided on the outer surface of the pellicle frame, and the same number of protrusions as the holes that engage with the holes to support the pellicle frame are provided. A structural means composed of an object and a structure supporting the object, for example, a structural means having a pin-shaped protrusion may be provided in the tray portion of the dedicated pellicle case, and the structural means may be inserted into the hole to be gripped. However, in this case, it is necessary to add the operation of pulling out the pin to the operation of taking out the pellicle from the dedicated pellicle case. Currently, when removing a pellicle from a dedicated pellicle case, a dedicated device called a pellicle auto mounter is used, so it is required to have a pellicle frame and a dedicated pellicle case structure that allows the pellicle to be taken out with the same operation as before. Has been done. Considering this situation, it takes time to implement this embodiment, and it cannot be said that it is the best mode.
本発明では、前記のような構造を持つペリクルフレームとその専用ペリクルケースを組み合わせること、すなわち、アセンブリ(assembly)とすることで、ペリクル完成後に専用ペリクルケースに収納しマスクへ貼り付けるまでの間、マスク貼り付け用粘着剤層の貼り付け面をトレイ部から浮かせて非接触状態に維持できるため、ペリクル完成直後の平坦度を完全に維持することができ、ペリクル貼り付け時に発生するマスク平坦面への歪み転移(Pellicle-Induced Distortion)を著しく低減させることができる。 In the present invention, by combining a pellicle frame having the above structure and its dedicated pellicle case, that is, as an assembly, the pellicle is stored in the dedicated pellicle case and attached to the mask after completion. Since the sticking surface of the adhesive layer for sticking the mask can be lifted from the tray and maintained in a non-contact state, the flatness immediately after the completion of the pellicle can be completely maintained, and the flat surface of the mask generated when the pellicle is stuck can be obtained. Pellicle-Induced Distortion can be significantly reduced.
本発明において、リソグラフィ用ペリクルフレームの外側面の構造は、外周部への張り出しをできるだけ小さくすることが好ましい。そのため、マスク貼り付け用粘着剤層の塗布端面を小さくし、ペリクルフレームの外側に段差を設けることも意義あるオプションである。 In the present invention, it is preferable that the structure of the outer surface of the lithographic pellicle frame has as little overhang as possible on the outer peripheral portion. Therefore, it is also a significant option to make the coated end face of the adhesive layer for attaching the mask smaller and to provide a step on the outside of the pellicle frame.
マスク貼り付け用粘着剤層を専用ペリクルケース内で浮かせて収納するためのペリクルフレームと専用ペリクルケースのトレイ部に設けられる構造手段(突起物、切り欠き部等)の形状、設置個数は、ペリクルをケース内部で十分に安定して固持できるものでなくてはならない。 The shape and number of structural means (projections, notches, etc.) provided in the pellicle frame for floating and storing the adhesive layer for mask attachment in the special pellicle case and the tray part of the special pellicle case are pellicle. Must be stable enough to hold inside the case.
また、本発明で作成したペリクルは、専用ペリクルケースに収納した際、マスク貼り付け用粘着剤層が宙に浮いた状態を維持できるため、一般的に用いられているマスク貼り付け用粘着剤層保護シート(セパレーター)を廃止することができる。 Further, since the pellicle produced by the present invention can maintain the state in which the adhesive layer for attaching a mask is suspended in the air when stored in a special pellicle case, the adhesive layer for attaching a mask is generally used. The protective sheet (separator) can be abolished.
セパレーターを廃止した場合、材料、製造工数の削減だけでなく、セパレーターの脱着をする必要がなくなるため、また、マスク貼り付け用粘着剤層の貼り付け端面がペリクル完成直後の状態から全く力を受けないため、ペリクルをマスク貼り付け時に発生するマスク平坦面の歪みはさらに減少、安定することが期待できる。 If the separator is abolished, not only the material and manufacturing man-hours will be reduced, but also the separator will not need to be attached or detached. Therefore, it can be expected that the distortion of the flat surface of the mask generated when the pellicle is attached to the mask is further reduced and stabilized.
次に、本発明の実施例について具体的に説明するが、実施例及び比較例は、マスクの例であるが、その結果は、レチクルについても同様に適用できることはいうまでもない。 Next, the examples of the present invention will be specifically described. Although the examples and the comparative examples are examples of masks, it goes without saying that the results can be applied to the reticle as well.
本発明の効果の評価は、次のように行った。先ず、貼り付けに使用するマスク基板の平坦度をTropel社のFlatMasterで測定し、次に、評価を受ける高平坦ペリクルをこのマスク基板に貼り付けて、同様にマスク基板の平坦度を測定し、貼り付け前と貼り付け後のマスク歪みの差(平坦度の差)を測定し、この差(貼付によるマスク歪み増加量)をそれぞれのペリクルの成績とした。 The evaluation of the effect of the present invention was carried out as follows. First, the flatness of the mask substrate used for attachment was measured with Tropel's FlatMaster, and then the highly flat pellicle to be evaluated was attached to this mask substrate, and the flatness of the mask substrate was measured in the same manner. The difference in mask strain (difference in flatness) before and after pasting was measured, and this difference (increase in mask strain due to pasting) was used as the result of each pellicle.
[基準例]
また、本発明の効果を確認するための比較対象として、ケース未収納ペリクルのマスク貼り付け挙動の確認も行った(基準例)。
[Reference example]
In addition, as a comparison target for confirming the effect of the present invention, the mask sticking behavior of the pellicle not stored in the case was also confirmed (reference example).
すなわち、基準ペリクルフレームとして、フレーム外寸149mm×115mm×3.15mm(高さ)で、フレーム幅が2mmであり、その4つのコーナー部の形状が、外R5、内R3の曲線を描き、表面に黒色アルマイトを施し、フレーム平坦度9μmのフレームを用意した。このフレームを用いてペリクルを作成した。なお、粘着剤層を保護するセパレーターは設けなかった。 That is, as a reference pellicle frame, the outer dimensions of the frame are 149 mm × 115 mm × 3.15 mm (height), the frame width is 2 mm, and the shapes of the four corners draw curves of outer R5 and inner R3, and the surface. Black alumite was applied to the frame, and a frame with a frame flatness of 9 μm was prepared. A pellicle was created using this frame. No separator was provided to protect the adhesive layer.
次に、準備したマスクの平坦度をTropel社のFlatMasterで測定したところ、305nmであり、このマスク基板に上記の基準ペリクルを、重し5kg、30秒間の条件で貼り付けて再びマスク平坦度を測定したところ、340nmであった。すなわち、貼り付け前後のマスク基板の歪み差は35nmであった。 Next, the flatness of the prepared mask was measured by Tropel's FlatMaster and found to be 305 nm. The above reference pellicle was attached to this mask substrate under the conditions of a weight of 5 kg for 30 seconds, and the mask flatness was measured again. When measured, it was 340 nm. That is, the distortion difference of the mask substrate before and after pasting was 35 nm.
[実施例1]
ペリクルフレームとして、フレーム外寸149mm×115mm×3.15mmで、フレーム幅が2mmであり、その4つのコーナー部の形状が外R5、内R3であり、表面に黒色アルマイトを施したフレーム2を準備した。このフレームの4つのコーナー部の外側面、下端面から1mmの部分に厚み1mm、R1となるような切り欠き段差(切り欠き部)6をそれぞれ設けた(図2参照)。フレーム平坦度は8μmであった。このフレーム2を用いて、ペリクルを作成した。粘着剤層を保護するセパレーターは設けなかった(図3参照)。完成したペリクルを専用のペリクルケースに収納した。該専用ペリクルケースのトレイ部9は、4つのコーナー部の外側面に設置された切り欠き段差6を受けて、粘着剤層を浮かせて収納できる、ペリクルを支える形状になっている構造体(ペリクルを支える構造手段)4を有している。
[Example 1]
As a pellicle frame, a
次に、上記基準例で用いたのと同様の、準備したマスク(不図示)の平坦度をTropel社のFlatMasterで測定したところ、マスクの平坦度は301nmであった。前記専用ペリクルケースからペリクルを取り出し、このマスク基板に該ペリクルを、重し5kg、30秒間の条件で貼り付けて、再びマスク平坦度を測定したところ、337nmであった。すなわち、貼り付け前後のマスク基板の歪み差は36nmであった。 Next, when the flatness of the prepared mask (not shown) similar to that used in the above reference example was measured by FlatMaster of Tropel, the flatness of the mask was 301 nm. The pellicle was taken out from the dedicated pellicle case, the pellicle was attached to the mask substrate under the condition of a weight of 5 kg for 30 seconds, and the mask flatness was measured again and found to be 337 nm. That is, the distortion difference of the mask substrate before and after pasting was 36 nm.
[実施例2]
実施例1と同じ形状のフレーム2を準備し、このフレーム平坦度を測定したところ、7μmであった。実施例1と同じ要領でペリクルを作成し、最後に、セパレーター3を粘着剤層の貼り付け面に貼り付けた後、実施例1と同じ形状の専用ペリクルケースにペリクルを収納した。
次に、上記基準例で用いたのと同様の、準備したマスクの平坦度をTropel社のFlatMasterで測定したところ、マスクの平坦度は297nmであった。前記専用ペリクルケースからペリクルを取り出し、セパレーター3を剥離して、このマスク基板に該ペリクルを、重し5kg、30秒間の条件で貼り付けて再びマスク平坦度を測定したところ、336nmであった。すなわち、貼り付け前後のマスク基板の歪み差は39nmであった。
[Example 2]
A
Next, when the flatness of the prepared mask similar to that used in the above reference example was measured by FlatMaster of Tropel, the flatness of the mask was 297 nm. The pellicle was taken out from the special pellicle case, the
[実施例3]
ペリクルフレームとして、フレーム外寸149mm×115mm×3.15mmで、フレーム幅が2mmであり、図2にあるような切り欠き段差6をフレーム長辺中心部分からそれぞれ60mm付近の部分4か所に設け、4つのコーナー部の形状が外R5、内R3の黒色アルマイトを施したフレーム2を準備した。該フレームの平坦度を測定したところ、8μmであった。このフレーム2を用いて、ペリクルを作成した。粘着剤層5を保護するセパレーター3は設けなかった。完成したペリクルを専用ペリクルケースに収納した。該専用ペリクルケースのトレイ部9は、フレーム長辺に設けた4つの切欠き部分の段差6を受けることができ、粘着剤層を浮かせて収納できる構造手段4を有している。
次に、上記基準例で用いたのと同様の、準備したマスクの平坦度をTropel社のFlatMasterで測定したところ、マスクの平坦度は303nmであった。前記専用ペリクルケースからペリクルを取り出し、このマスク基板に該ペリクルを、重し5kg、30秒間の条件で貼り付けて、再びマスク平坦度を測定したところ、339nmであった。すなわち、貼り付け前後のマスク基板の歪み差は36nmであった。
[Example 3]
As a pellicle frame, the outer dimensions of the frame are 149 mm × 115 mm × 3.15 mm, the frame width is 2 mm, and notch
Next, when the flatness of the prepared mask similar to that used in the above reference example was measured by FlatMaster of Tropel, the flatness of the mask was 303 nm. The pellicle was taken out from the dedicated pellicle case, the pellicle was attached to the mask substrate under the condition of a weight of 5 kg for 30 seconds, and the mask flatness was measured again and found to be 339 nm. That is, the distortion difference of the mask substrate before and after pasting was 36 nm.
[実施例4]
実施例3と同じ形状のフレーム2を準備し、このフレーム平坦度を測定したところ、8μmであった。実施例3と同じ要領でペリクルを作成し、最後に、セパレーター3を粘着剤層の貼り付け面に貼り付けた後、実施例3と同じ形状の専用ペリクルケースにペリクルを収納した。
次に、上記基準例で用いたのと同様の、準備したマスクの平坦度をTropel社のFlatMasterで測定したところ、マスクの平坦度は299nmであった。前記専用ペリクルケースからペリクルを取り出し、セパレーターを剥離して、上記マスク基板に該ペリクルを、重し5kg、30秒間の条件で貼り付けて、再びマスク平坦度を測定したところ、337nmであった。すなわち、貼り付け前後のマスク基板の歪み差は、38nmであった。
[Example 4]
A
Next, when the flatness of the prepared mask similar to that used in the above reference example was measured by FlatMaster of Tropel, the flatness of the mask was 299 nm. The pellicle was taken out from the dedicated pellicle case, the separator was peeled off, the pellicle was attached to the mask substrate under the condition of a weight of 5 kg for 30 seconds, and the mask flatness was measured again and found to be 337 nm. That is, the distortion difference of the mask substrate before and after pasting was 38 nm.
[比較例1]
実施例1と同じ形状のフレームを準備し、このフレーム平坦度を測定したところ、7μmであった。実施例1と同じ要領でペリクルを作成し、最後に、セパレーターを粘着剤層の貼り付け面に貼り付けた後、一般的なペリクルケースに収納した。実施例1〜4で使用したような専用ペリクルケースとは異なり、ペリクルトレイ部の載置台の部分にセパレーターで保護された粘着剤層が載る状態で収納された。
次に、上記基準例で用いたのと同様の、準備したマスクの平坦度をTropel社のFlatMasterで測定したところ、マスクの平坦度は305nmであった。前記ペリクルケースからペリクルを取り出し、セパレーターを剥離して、上記マスク基板に該ペリクルを、重し5kg、30秒間の条件で貼り付けて、再びマスク平坦度を測定したところ、367nmであった。すなわち、貼り付け前後のマスク基板の歪み差は62nmであった。
[Comparative Example 1]
When a frame having the same shape as that of Example 1 was prepared and the flatness of the frame was measured, it was 7 μm. A pellicle was prepared in the same manner as in Example 1, and finally, a separator was attached to the surface to which the adhesive layer was attached, and then stored in a general pellicle case. Unlike the dedicated pellicle case used in Examples 1 to 4, the pellicle tray was stored in a state where the adhesive layer protected by the separator was placed on the mounting table.
Next, when the flatness of the prepared mask similar to that used in the above reference example was measured by FlatMaster of Tropel, the flatness of the mask was 305 nm. The pellicle was taken out from the pellicle case, the separator was peeled off, the pellicle was attached to the mask substrate under the condition of a weight of 5 kg for 30 seconds, and the mask flatness was measured again and found to be 376 nm. That is, the distortion difference of the mask substrate before and after pasting was 62 nm.
表1は、以上の結果をまとめて示したものである。 Table 1 summarizes the above results.
まず、「マスク粘着剤がトレイ部から浮いた状態」を採用した実施例群が、「マスク粘着剤層がトレイ部に載った状態」を採用した比較例1に比べ、ペリクル貼り付け時に発生するマスク平坦面への歪み転移量を大幅に低減したことは、本発明がもたらした顕著な進歩を示している。すなわち、マスク粘着剤層がトレイ部に接触することにより生じる粘着剤の平坦度の劣化が証明され、かつその有効な解決策が示された。 First, a group of examples adopting "a state in which the mask adhesive floats from the tray portion" occurs when the pellicle is attached, as compared with Comparative Example 1 in which "a state in which the mask adhesive layer is placed on the tray portion" is adopted. The significant reduction in the amount of strain transfer to the flat surface of the mask shows the remarkable progress brought about by the present invention. That is, the deterioration of the flatness of the pressure-sensitive adhesive caused by the contact of the mask pressure-sensitive adhesive layer with the tray portion was proved, and an effective solution thereof was shown.
次に、ケース収納をスキップした基準例に比べても、実施例1、3がほとんど同等の成績であったことは、本願発明の専用ペリクルケースとペリクルの組み合わせ(アセンブリ)が、セパレーターフリーのペリクルの収納を可能にする信頼性の高いケースの設計に成功したことを意味している。 Next, the results of Examples 1 and 3 were almost the same as those of the reference example in which the case storage was skipped. The fact that the combination (assembly) of the dedicated pellicle case and the pellicle of the present invention was a separator-free pellicle. It means that we have succeeded in designing a highly reliable case that enables storage of the.
一方、実施例2と4は、セパレーターを装着した場合、すなわち、装着時の加圧により粘着剤層の平坦度に多少の劣化が生じた場合でも、「マスク粘着剤層がトレイ部から浮いた状態」にする専用ペリクルケースに収納するならば、それ以後の劣化はほとんど生じないことを証明している。 On the other hand, in Examples 2 and 4, even when the separator is attached, that is, even when the flatness of the adhesive layer is slightly deteriorated by the pressurization at the time of attachment, "the mask adhesive layer floats from the tray portion". It proves that if it is stored in a special pellicle case that makes it "state", there will be almost no further deterioration.
また、実施例2と4は、セパレーターを装着することにより、セパレーターによる揮発防止と粉塵捕獲回避効果による粘着力保存効果を享受し、かつ粘着剤層がトレイ部に非接触であるので、トレイ部からの直接振動を回避することができ、以て高平坦度の維持を促進できるという優れた実施形態でもある。 Further, in Examples 2 and 4, by attaching the separator, the effect of preventing volatilization by the separator and the effect of preserving the adhesive strength due to the effect of avoiding dust capture can be enjoyed, and the adhesive layer is not in contact with the tray portion. It is also an excellent embodiment in which direct vibration from the air can be avoided, and thus maintenance of high flatness can be promoted.
上述したように、実施例1〜4の結果から、ペリクルを専用ペリクルケースに収納する際、マスク粘着剤層の貼り付け端面を該ケースのトレイ部に接触させずに収納することで、粘着剤層の貼り付け端面が完成直後の優れた平坦度を維持したまま、マスクに貼り付けることができる。その結果、ペリクルをマスクに貼り付ける際のマスクの歪みを減少することができる。 As described above, from the results of Examples 1 to 4, when the pellicle is stored in the dedicated pellicle case, the adhesive is stored by storing the sticking end face of the mask adhesive layer without contacting the tray portion of the case. The layer can be attached to the mask while maintaining the excellent flatness of the end face immediately after completion. As a result, the distortion of the mask when the pellicle is attached to the mask can be reduced.
また、粘着剤層を保護する目的で使用されているセパレーターについても、使用しないことで、粘着剤層の貼り付け端面にかかる力を排除することができ、粘着剤層の貼り付け端面の平坦度をペリクル完成直後のフレーム平坦度のまま維持することができ、マスク貼り付け時の歪みの転移をさらに低減することができることを確認できた。 Further, by not using the separator used for the purpose of protecting the pressure-sensitive adhesive layer, the force applied to the sticking end face of the pressure-sensitive adhesive layer can be eliminated, and the flatness of the sticking end face of the pressure-sensitive adhesive layer can be eliminated. It was confirmed that the flatness of the frame immediately after the completion of the pellicle can be maintained, and the transfer of distortion when the mask is attached can be further reduced.
本発明の実施例では、粘着剤層を浮かした状態で専用ペリクルケースに収納する構造手段として、ペリクルフレームにピンなどの突起体を差し込むような実施形態を実施しなかった。その理由は、現状使われているペリクルオートマウンターでの取り出し動作にそのまま対応できるように考慮した結果である。しかしながら、本願発明は、図1や図3で示されているような、ペリクルフレーム2をピン7などのように、フレーム外側面に設けた構造物を用いてペリクルを固定する実施形態もその範囲に含む。
In the embodiment of the present invention, as a structural means for storing the pressure-sensitive adhesive layer in a special pellicle case in a floating state, an embodiment in which a protrusion such as a pin is inserted into the pellicle frame is not implemented. The reason is the result of considering that it can correspond to the taking-out operation of the currently used pellicle auto mounter as it is. However, the present invention also covers an embodiment in which the pellicle is fixed by using a structure provided on the outer surface of the frame, such as a
本発明の効果が得られるためには、ペリクルにおける必須要素と専用ペリクルケースにおける必須要素とが共存、協働することが求められるため、発明の主題をペリクルとその専用ペリクルケースのアセンブリとした。 In order to obtain the effects of the present invention, it is required that the essential elements in the pellicle and the essential elements in the dedicated pellicle case coexist and cooperate with each other. Therefore, the subject of the invention is the assembly of the pellicle and the dedicated pellicle case.
1 ペリクル膜
2 ペリクルフレーム
3 セパレーター
4 ペリクルを支える構造手段
5 粘着剤層
6 切り欠き段差(切り欠き部)
7 ペリクルを支える構造手段の一部としてのピン
8 専用ペリクルケースの蓋部
9 専用ペリクルケースのトレイ部
10 ペリクルとその専用ペリクルケースのアセンブリ
1
7 Pin as part of the structural means to support the
Claims (10)
前記ペリクルフレームと前記トレイ部には、前記粘着剤層を前記専用ペリクルケースのトレイ部から浮かせた状態で保持するための構造手段がそれぞれ設けられていることを特徴とする、ペリクルとその専用ペリクルケースからなるアセンブリ。 An assembly consisting of a pellicle and its dedicated pellicle case, the pellicle includes a rectangular pellicle frame and an adhesive layer provided on the lower end surface thereof for sticking to an exposure original plate, and the dedicated pellicle case has a lid portion. And a tray
The pellicle and its dedicated pellicle are each provided with structural means for holding the adhesive layer in a state of being floated from the tray portion of the dedicated pellicle case in the pellicle frame and the tray portion. An assembly consisting of a case.
A pellicle case for storing the pellicle according to claim 8, which includes a lid portion and a tray portion, and holds the adhesive layer of the pellicle in a state of floating from the tray portion in the tray portion. A pellicle case characterized in that a structural means for the purpose is provided.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019186037A JP7442291B2 (en) | 2019-10-09 | 2019-10-09 | Assembly consisting of a pellicle and its dedicated pellicle case |
JP2024002405A JP2024038330A (en) | 2019-10-09 | 2024-01-11 | Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019186037A JP7442291B2 (en) | 2019-10-09 | 2019-10-09 | Assembly consisting of a pellicle and its dedicated pellicle case |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2024002405A Division JP2024038330A (en) | 2019-10-09 | 2024-01-11 | Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021060555A true JP2021060555A (en) | 2021-04-15 |
JP7442291B2 JP7442291B2 (en) | 2024-03-04 |
Family
ID=75380112
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019186037A Active JP7442291B2 (en) | 2019-10-09 | 2019-10-09 | Assembly consisting of a pellicle and its dedicated pellicle case |
JP2024002405A Pending JP2024038330A (en) | 2019-10-09 | 2024-01-11 | Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2024002405A Pending JP2024038330A (en) | 2019-10-09 | 2024-01-11 | Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP7442291B2 (en) |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62143950U (en) * | 1986-03-07 | 1987-09-10 | ||
US5305878A (en) * | 1993-04-01 | 1994-04-26 | Yen Yung Tsai | Packaged optical pellicle |
JPH1048812A (en) * | 1996-08-07 | 1998-02-20 | Mitsui Petrochem Ind Ltd | Mask protecting device and its supporting structure |
JPH10133360A (en) * | 1996-10-30 | 1998-05-22 | Micro Lithography Inc | Optical thin film and its packaging method |
JP2003107679A (en) * | 2002-09-19 | 2003-04-09 | Mitsui Chemicals Inc | Storage case of mask protecting device |
JP2005326634A (en) * | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Mitsui Chemicals Inc | Method for housing pellicle |
JP2007047546A (en) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | Housing container for pellicle |
JP2007304491A (en) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle and pellicle removing device |
JP2008083166A (en) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Toppan Printing Co Ltd | Pellicle frame |
JP2008129453A (en) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Method for housing pellicle |
JP2009128635A (en) * | 2007-11-22 | 2009-06-11 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle, pellicle storage container storing pellicle, and method for storing pellicle in pellicle storage container |
JP2012093595A (en) * | 2010-10-28 | 2012-05-17 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame and pellicle |
JP2012220532A (en) * | 2011-04-04 | 2012-11-12 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame, manufacturing method thereof, and pellicle |
JP2016151633A (en) * | 2015-02-17 | 2016-08-22 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle-housing container |
JP2017151130A (en) * | 2016-02-22 | 2017-08-31 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle storage container |
-
2019
- 2019-10-09 JP JP2019186037A patent/JP7442291B2/en active Active
-
2024
- 2024-01-11 JP JP2024002405A patent/JP2024038330A/en active Pending
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62143950U (en) * | 1986-03-07 | 1987-09-10 | ||
US5305878A (en) * | 1993-04-01 | 1994-04-26 | Yen Yung Tsai | Packaged optical pellicle |
JPH1048812A (en) * | 1996-08-07 | 1998-02-20 | Mitsui Petrochem Ind Ltd | Mask protecting device and its supporting structure |
JPH10133360A (en) * | 1996-10-30 | 1998-05-22 | Micro Lithography Inc | Optical thin film and its packaging method |
JP2003107679A (en) * | 2002-09-19 | 2003-04-09 | Mitsui Chemicals Inc | Storage case of mask protecting device |
JP2005326634A (en) * | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Mitsui Chemicals Inc | Method for housing pellicle |
JP2007047546A (en) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | Housing container for pellicle |
JP2007304491A (en) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle and pellicle removing device |
JP2008083166A (en) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Toppan Printing Co Ltd | Pellicle frame |
JP2008129453A (en) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Method for housing pellicle |
JP2009128635A (en) * | 2007-11-22 | 2009-06-11 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle, pellicle storage container storing pellicle, and method for storing pellicle in pellicle storage container |
JP2012093595A (en) * | 2010-10-28 | 2012-05-17 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame and pellicle |
JP2012220532A (en) * | 2011-04-04 | 2012-11-12 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame, manufacturing method thereof, and pellicle |
JP2016151633A (en) * | 2015-02-17 | 2016-08-22 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle-housing container |
JP2017151130A (en) * | 2016-02-22 | 2017-08-31 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle storage container |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2024038330A (en) | 2024-03-19 |
JP7442291B2 (en) | 2024-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2793081B1 (en) | A pellicle frame and a pellicle with this | |
US10088745B2 (en) | Pellicle for EUV exposure | |
JP5189614B2 (en) | Pellicle, method of attaching the pellicle, mask with pellicle and mask | |
US11796908B2 (en) | Pellicle frame, pellicle, and method for peeling pellicle | |
JP2011007934A (en) | Pellicle frame and lithographic pellicle | |
JP2006301525A (en) | Pellicle frame | |
JP2011095593A (en) | Pellicle frame and pellicle | |
JP6632057B2 (en) | Pellicle | |
KR20200067087A (en) | Pellicle and method for producing the same | |
JP2021060555A (en) | Assembly comprising pellicle and dedicated pellicle case thereof | |
KR102619269B1 (en) | Pellicle container for lithography | |
JP2008083166A (en) | Pellicle frame | |
US6727029B1 (en) | Method for making reticles with reduced particle contamination and reticles formed | |
TWI498672B (en) | Pellicle for lithography | |
JPWO2006006318A1 (en) | Mask blanks, manufacturing method thereof, and transfer plate manufacturing method | |
US8960928B2 (en) | Pellicle frame | |
JP5790096B2 (en) | Reflective photomask dust adhesion prevention jig, mounting method thereof, mounting apparatus thereof, and reflective photomask storage apparatus | |
JP2005326634A (en) | Method for housing pellicle | |
US20230061797A1 (en) | Pellicle Frame, Pellicle, Exposure Original Plate with Pellicle, Exposure Method, and Semiconductor or Liquid-Crystal-Display Manufacturing Method | |
JP2005352096A (en) | Pellicle frame and pellicle for photolithography | |
US20230221634A1 (en) | Pellicle Frame, Pellicle, Exposure Original Plate with Pellicle, Exposure Method, and Method for Manufacturing Semiconductor, and Method for Manufacturing Liquid Crystal Display Board | |
US20240192586A1 (en) | Pellicle Frame Laminate and Method for Manufacturing Pellicle Using Said Laminate | |
KR20180002658A (en) | Support frame for pellicle | |
KR20230164123A (en) | Pellicle frame, pellicle, pellicle-attached photomask, exposure method, semiconductor device manufacturing method, and liquid crystal display manufacturing method | |
JP2021073536A (en) | Euv pellicle frame ventilation structure, euv pellicle, exposure original plate with euv pellicle, exposure method, method for producing semiconductor and method for producing liquid crystal display |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211022 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220616 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220712 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220909 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221020 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230117 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20230315 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230516 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230823 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20231011 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240111 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20240118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7442291 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |