JP2019100861A - X線撮影システム - Google Patents
X線撮影システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019100861A JP2019100861A JP2017232259A JP2017232259A JP2019100861A JP 2019100861 A JP2019100861 A JP 2019100861A JP 2017232259 A JP2017232259 A JP 2017232259A JP 2017232259 A JP2017232259 A JP 2017232259A JP 2019100861 A JP2019100861 A JP 2019100861A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- subject
- imaging apparatus
- image
- load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/041—Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/309—Accessories, mechanical or electrical features support of sample holder
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
Abstract
Description
ところで、特許文献1のようなX線透視型の材料試験機を含む通常のX線撮影装置の場合、X線タルボ撮影装置と比較すると短時間での撮影が可能で、振動や被写体の変形が撮影画像に与える影響が少ないという利点がある。一方、特許文献2のようなX線タルボ撮影装置での撮影は比較的時間がかかるため、引張り・圧縮等の荷重を加えた応力下で被写体の撮影を行う場合には、振動や被写体の変形が撮影画像に与える影響を最小にすることが求められる。
前記被写体台に設置されるとともに前記被写体を保持し、前記被写体に対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する試験機と、
を備えたX線撮影システムであって、
前記X線タルボ撮影装置は、
前記被写体の再構成画像の生成に必要な前記モアレ画像を取得するための一連の撮影を行わせる制御部を有しており、
前記試験機は、
前記被写体台に設置され、かつ前記X線照射軸上及びその周囲のX線照射範囲に、周囲よりもX線の透過を妨げにくいX線透過部があるベース部と、
前記ベース部に対して突出して設けられるとともに前記X線透過部を挟むようにして配置され、前記被写体に対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷するチャック部と、を有しており、
前記チャック部の動作は、前記X線タルボ撮影装置の前記制御部によって前記X線タルボ撮影装置と連動して自動制御可能とされていることを特徴とする。
なお、被写体Hは、人体や動植物、各種試験や各種検査の対象となる物品を始めとする様々なものが挙げられ、特に限定されるものではない。ただし、本実施形態における被写体Hは、金属、樹脂、複合材料や織物などの試料全般であり、内部特性の検証が望まれるもの全般が対象となっている。そして、X線タルボ撮影装置1による撮影によって、このような被写体Hにおける内部メカニズムの観察ができるようになっている。
図1は、本実施形態におけるX線タルボ撮影装置1及び防振機構30aを有する試験機30の全体像を表す概略図である。図2は、X線タルボ撮影装置1及び回転機構30bを有する試験機30の全体像を表す概略図である。
本実施形態に係るX線タルボ撮影装置1は、X線発生装置11と、線源格子12と、被写体台13と、第1格子14と、第2格子15と、X線検出器16と、支柱17と、基台部18と、を備えている。
X線検出器16としては、FPD(Flat Panel Detector)を用いることができる。FPDには、検出されたX線を光電変換素子を介して電気信号に変換する間接変換型、検出されたX線を直接的に電気信号に変換する直接変換型があるが、何れを用いてもよい。
間接変換型は、CsIやGd2O2S等のシンチレータプレートの下に、光電変換素子がTFT(薄膜トランジスタ)とともに2次元状に配置されて各画素を構成する。X線検出器16に入射したX線がシンチレータプレートに吸収されると、シンチレータプレートが発光する。この発光した光により、各光電変換素子に電荷が蓄積され、蓄積された電荷は画像信号として読み出される。
直接変換型は、アモルファスセレンの熱蒸着により、100〜1000(μm)の膜圧のアモルファスセレン膜がガラス上に形成され、2次元状に配置されたTFTのアレイ上にアモルファスセレン膜と電極が蒸着される。アモルファスセレン膜がX線を吸収するとき、電子正孔対の形で物質内に電圧が遊離され、電極間の電圧信号がTFTにより読み取られる。
なお、CCD(Charge Coupled Device)、X線カメラ等の撮影手段をX線検出器16として用いてもよい。
出力手段には、X線タルボ撮影装置1の各種操作を行うために必要な情報や、生成された再構成画像を表示する表示部(図示省略)が含まれている。
つまり、本実施形態におけるコントローラー19は、被写体Hの再構成画像の生成に必要な複数のモアレ画像Mo(フーリエ変換法の場合は1枚のモアレ画像)を取得するための一連の撮影を行わせる制御部として機能している。
試験機30は、図1,図2に示すように、被写体台13に設けられるとともに被写体Hが設置され、被写体Hに対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷するものである。
このような試験機30は、図5に示すように、ベース部31と、チャック部32と、を有する。
ベース部31には、X線照射軸Ca上及びその周囲のX線照射範囲に、周囲よりもX線の透過を妨げにくいX線透過部31aがある。本実施形態におけるX線透過部31aは、ベース部31に形成された開口部である。換言すれば、X線透過部31aは、ベース部31を厚み方向に貫通する貫通孔でもあり、X線の透過を妨げないようになっている。
このようなX線透過部31aは、被写体Hにおける撮影部位をカバーできるようなサイズに形成されている。
また、本実施形態におけるベース部31のうち、X線透過部31aを除く部位は、主に金属によって構成されているが、X線透過率の高い材料によって構成されるものとしてもよい。
また、一対のチャック部32は、図5に示すように、ベース部31に対して突出して設けられるとともにX線透過部31aを挟むようにして配置されている。
また、ベース部31には、例えば図示しないガイドレールや駆動部等のような、チャック部32を動作させるために必要な構成要素を備えているものとする。
すなわち、X線タルボ撮影装置1によって複数のモアレ画像Moを取得するための一連の撮影を行う際には、コントローラー19によって制御されるが、この一連の撮影時に、被写体Hに対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷するチャック部32の動作もコントローラー19で行うことができるようになっている。つまり、コントローラー19とチャック部32を動作させる駆動部とが通信可能に接続された状態となっている。
被写体Hをチャック部32で保持したまま、被写体Hの撮影向きを変更したい場合は、図5(b)に示すように、平置きの状態からベース部31を立てて置いた状態で使用することも可能となっている。すなわち、立置きして使用することが可能となっている。
このように試験機30の向きを適宜変更することで、チャック部32によって被写体Hを保持したまま、被写体Hの異なる側面から撮影を行うことができる。つまり、チャック部32による引張り荷重又は圧縮荷重を負荷した動作を維持した状態で、被写体Hの向きを変更できる。
X線タルボ撮影装置1と試験機30は、上記のようにコントローラー19とチャック部32を動作させる駆動部とが通信可能に接続された状態とはなっているものの、機械的には独立して設けられている。そのため、例えば上記のように緩衝部材17aを用いたり、X線タルボ撮影装置1と設置床面との間に緩衝部材(図示省略)を設けたりすることで、X線タルボ撮影装置1に生じる振動の抑制を行うだけでなく、試験機30に伝わる(又は試験機30から発生する)振動の抑制も必要となっていた。
そこで、図1に示すように、X線タルボ撮影装置1の被写体台13と試験機30のうち少なくとも一方は、被写体Hへの振動の伝達を防ぐための防振機構30aを有している。
本実施形態における防振機構30aとしては、例えば防振ばねが用いられているが、これに限られるものではなく、防振ゴムを用いてもよい。
防振機構30aは、図1に示すように、被写体台13と試験機30のベース部31との間に位置しており、下端部が被写体台13に取り付けられ、上端部がベース部31に取り付けられている。
なお、本実施形態においては試験機30が防振機構30aを有しているものとするが、X線タルボ撮影装置1の被写体台13が防振機構30aを有するものとしてもよい。
複数の格子12,14,15は、一次元格子とされている。そのため、X線タルボ撮影装置1によって取得されるモアレ画像Moには方向が出てくることになる。すなわち、被写体Hの撮影方向によっては、見える箇所と見えない箇所とが生じてしまう場合がある。
そこで、図2に示すように、X線タルボ撮影装置1の被写体台13と試験機30のうち、いずれか一方は、被写体HをX線照射軸Caの軸周りに回転させる回転機構30bを有している。被写体Hを保持した状態の試験機30を、回転機構30bによって任意の角度に回転させた場合、回転前に撮影された被写体Hの画像と、回転後に撮影された被写体Hの画像は見え方が異なり、回転前に見えていなかった被写体Hの所定部位が、回転後に撮影された画像では見えるようになる。
本実施形態における回転機構30bとしては、例えば中央に開口部(図示省略)が形成された円状又は枠状とされ、かつ回転中心がX線照射軸Caに対応する回転部材が用いられている。また、中央に形成された開口部は、ベース部31のX線透過部31a(開口部)に対応するものであり、X線を透過しやすくなっている。
また、X線透過部31aと同様に、回転機構30bを形成する材料を、X線透過率の高い材料によって構成してもよい。この場合、中央に開口部を形成しなくてもよい。
回転機構30bは、被写体台13と試験機30のベース部31との間に位置しており、下端面が被写体台13に取り付けられ、上端面がベース部31に取り付けられている。また、この回転機構30bは、上端面側に、試験機30のベース部31が取り付けられて回転可能に構成された回転体(図示省略)を備えており、下端面側に、回転体を回転させるための駆動部を備えているものとする。
なお、本実施形態においては試験機30が回転機構30bを有しているものとするが、X線タルボ撮影装置1の被写体台13が回転機構30bを有するものとしてもよい。
また、回転機構30bの回転動作は、X線タルボ撮影装置1のコントローラー19(制御部)によってX線タルボ撮影装置1と連動して自動制御可能とされている。つまり、コントローラー19と回転体を動作させる駆動部とが通信可能に接続された状態となっている。
試験機30は、必ずしも毎回の撮影で用いられるものではなく、引張り荷重又は圧縮荷重を負荷しながらの撮影と、通常のX線タルボ撮影とを併せて行うことで、被写体Hに関する精度の高い情報を得ることができるようになっている。
そこで、試験機30は、図6に示すように、X線タルボ撮影装置1の被写体台13に、X線照射範囲に対して進退可能に設けられている。換言すれば、試験機30は、X線照射範囲に対して進退可能となるように、X線タルボ撮影装置1の被写体台13に設けられている。
被写体台13には、試験機30を、X線照射範囲から遠ざけたり近づけたりするように移動させる移動機構40が設けられている。
移動機構40は、被写体台13に取り付けられた設置台41と、設置台41の長さ方向に沿って長尺なガイドレール42と、を備える。
設置台41は、矩形板状に形成され、被写体台13の上面よりも外方に突出する長さに設定されている。また、この設置台41のうち被写体台13の上面に載せられた部位には、X線照射範囲に対応する開口部41aが形成されており、X線の透過を妨げにくくなっている。
ガイドレール42は、設置台41に一対で設けられているとともに、設置台41の長さ方向に沿って長尺に設定されている。また、ガイドレール42は、このガイドレールに沿って移動可能な移動体(図示省略)と、移動体を動作させるための駆動部(図示省略)と、を有している。
試験機30は、ガイドレール42の移動体に対して取り付けられており、被写体台13のX線照射範囲に対応する位置から、被写体台13の外方までの間を移動(進退)できるようになっている。
試験機30を用いた撮影を行う場合は、図6(a)に示す状態で撮影が行われ、通常のX線タルボ撮影を行う場合は、図6(b)に示す状態で撮影が行われる。
なお、移動機構40における移動体の動作は、X線タルボ撮影装置1のコントローラー19(制御部)によってX線タルボ撮影装置1と連動して自動制御可能とされている。つまり、コントローラー19と移動体を動作させる駆動部とが通信可能に接続された状態となっている。
試験機30におけるチャック部32の動作は、上記したように、X線タルボ撮影装置1のコントローラー19によってX線タルボ撮影装置1と連動して自動制御可能とされている。したがって、試験機30によって被写体Hに対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷しながら、X線タルボ撮影装置1による撮影を行うことができる。
X線タルボ撮影装置1の制御部は、撮影時に、チャック部32による被写体Hへの引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する動作を静止するように制御することができる。
弾性変形域では例えばバネと同じで、チャック部32の動作を静止させれば、被写体Hに負荷される荷重及び変形量は一定となる。
以上のように制御することによって、被写体Hの弾性変形域において、被写体Hに対して一定荷重・一定変形量を加え、変化を見る検証に際し、意図しない被写体Hの変形による撮影画像の画質の低下を防ぐことができる。
X線タルボ撮影装置1の制御部は、撮影時に、チャック部32による被写体Hへの引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する動作を継続するように制御することができる。
塑性変形域では、チャック部32の動作を静止させても、被写体Hが変形してしまう(伸びる・縮む)ので、一定荷重を与えることができないため、被写体Hの変形に応じて引っ張り動作を適切に変更する必要がある。
以上のように制御することによって、被写体Hの塑性変形域において、被写体Hに対して一定荷重・一定変形量を加え、変化を見る検証に際し、意図しない被写体Hの変形による撮影画像の画質の低下を防ぐことができる。
チャック部32によって被写体Hに引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する動作を継続したまま撮影を行う場合に、任意の画素数(例えば2画素)分以上変形してしまうと、生成される再構成画像にブレが生じる場合がある。また、X線タルボ撮影装置1での撮影は比較的時間がかかるため、被写体Hに引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する場合は、撮影時間を考慮し、被写体Hの変形が撮影画像に与える影響を最小にすることが求められる。
そのため、本実施形態においては、チャック部32によって被写体Hを変形させる場合に、制御部が、撮影時間中において2画素分以上の変形が生じない速度で荷重を負荷するように制御している。
像の拡大率とは、図3で表すとおりであり、X線発生装置11は、焦点からX線をコーンビーム状に照射するようになっているため、X線検出器16でX線を検出した際には、実際の被写体Hの大きさよりも拡大されたモアレ画像Moが得られることになる。どれだけ拡大するかは、被写体HからX線検出器16までの距離から導き出すことができ、その拡大率が前記所定の計算式に用いられるようになっている。本実施形態においては、例えば1.5倍とされている。
撮影時間は、被写体Hごと、又は被写体Hの種類や材質等によって適宜設定される。本実施形態においては、例えば10秒とされている。
許容係数は、用途によって任意に設定される安全率であり、本実施形態においては例えば1以下とされている。
したがって、本実施形態における許容最大速度は、30μm/秒とされている。
放射線技師や検査員等のユーザーは、表示部に表示された許容最大速度に確認し、引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する場合の速度が許容最大速度以下となるように操作しながらX線タルボ撮影装置1による撮影操作を行うことができるので、生成される再構成画像にブレが生じにくくなり、鮮明な画像を取得することができる。
被写体Hに対し、引張り荷重又は圧縮荷重を負荷し続けると、被写体Hにおける塑性変形域では、図7に示すように、ひずみ量が徐々に大きくなっていく(図7に示す曲線を参照。)。そのため、X線タルボ撮影装置1の制御部は、目標とする引張り荷重又は圧縮荷重に到達した瞬間の撮影を行うに際して、撮影開始前の被写体Hのひずみ量の遷移から、撮影中の被写体Hのひずみ量を推定し、推定された被写体Hのひずみ量に基づいて、被写体Hのひずみ量が最小となる撮影開始時間を設定するような制御を行う。
そして、実際に被写体Hの撮影を行う場合は、制御部が、t1時点でのひずみ量の遷移から、その先のカーブを予測する。すなわち、ピーク荷重に到達するまでの予測時間を導き出す。ひずみ量の狙い値を含み、t2−t3間のひずみ量が最小となるt2を、撮影開始時間に設定する。これにより、撮影時間内のひずみ量を最小限に抑えることで、画像への影響を最小限にすることができる。
なお、図7は、被写体Hに対して引張り荷重を負荷した場合のグラフとなっており、圧縮荷重を負荷する場合は、図7とは正反対に曲線が表れる。
上記したように、X線タルボ撮影装置1での撮影は比較的時間がかかるため、例えば被写体Hが弾性変形領域を超えて不可逆的に変形するもの(例えば伸ばす荷重を負荷すると伸び続けるもの)であった場合は、被写体Hの変形により負荷荷重は徐々に小さくなる。
そこで、X線タルボ撮影装置1の制御部は、縞走査によって複数のモアレ画像Moを取得するに際し、縞走査による撮影は3段階以上に分けて行われ、縞走査の周期に合わせ、チャック部32によって被写体Hに対して引張り荷重又は圧縮荷重の負荷を行うように制御する。
換言すれば、撮影時間のうち、合計4回のX線の曝射のタイミングに合致する時間t1〜t4に、被写体Hに対して狙いの荷重がかかるように、制御部がチャック部32の動作を制御している。
以上のような制御を行うことによって、撮影時間内の実際に画像取得を行うタイミングでのみ荷重を負荷することになり、撮影全体での被写体Hの伸びを最小にでき、撮影画像への影響を最小限にすることができる。
したがって、引張り・圧縮等の荷重を加えた応力下で、X線タルボ撮影装置1によって被写体Hの撮影を行う場合に、振動や被写体Hの変形が撮影画像に与える影響を最小にし、撮影画像の画質向上を図ることができるようになる。
11 X線発生装置
11a X線源
112 ろ過フィルター
113 照射野絞り
114 照射野ランプ
12 線源格子(G0格子)
120 第1のカバーユニット
12a 固定部材
13 被写体台
130 第2のカバーユニット
14 第1格子(G1格子)
15 第2格子(G2格子)
16 X線検出器(FPD)
17 支柱
17a 緩衝部材
18 基台部
19 コントローラー(制御部)
30 試験機
30a 防振機構
30b 回転機構
31 ベース部
31a X線透過部
32 チャック部
40 移動機構
41 設置台
41a 開口部
42 ガイドレール
H 被写体
S スリット
d 周期
Mo モアレ画像
Ca X線照射軸
Claims (9)
- 被写体台と、X線源と、複数の格子と、X線検出器とがX線照射軸方向に並んで設けられ、前記X線源から被写体及び前記複数の格子を介して前記X線検出器にX線を照射して前記被写体の再構成画像の生成に必要なモアレ画像を取得するX線タルボ撮影装置と、
前記被写体台に設置されるとともに前記被写体を保持し、前記被写体に対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する試験機と、
を備えたX線撮影システムであって、
前記X線タルボ撮影装置は、
前記被写体の再構成画像の生成に必要な前記モアレ画像を取得するための一連の撮影を行わせる制御部を有しており、
前記試験機は、
前記被写体台に設置され、かつ前記X線照射軸上及びその周囲のX線照射範囲に、周囲よりもX線の透過を妨げにくいX線透過部があるベース部と、
前記ベース部に対して突出して設けられるとともに前記X線透過部を挟むようにして配置され、前記被写体に対して引張り荷重又は圧縮荷重を負荷するチャック部と、を有しており、
前記チャック部の動作は、前記X線タルボ撮影装置の前記制御部によって前記X線タルボ撮影装置と連動して自動制御可能とされていることを特徴とするX線撮影システム。 - 前記X線タルボ撮影装置と前記試験機は機械的に独立して設けられており、
前記X線タルボ撮影装置の前記被写体台と前記試験機のうち少なくとも一方は、前記被写体への振動の伝達を防ぐための防振機構を有していることを特徴とする請求項1に記載のX線撮影システム。 - 前記試験機は、前記X線タルボ撮影装置の前記被写体台に、前記X線照射範囲に対して進退可能に設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載のX線撮影システム。
- 前記複数の格子は、一次元格子とされており、
前記X線タルボ撮影装置の前記被写体台と前記試験機のうち、いずれか一方は、前記被写体を前記X線照射軸の軸周りに回転させる回転機構を有していることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のX線撮影システム。 - 前記X線タルボ撮影装置の前記制御部は、撮影時に、前記チャック部による前記被写体への引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する動作を静止するように制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のX線撮影システム。
- 前記X線タルボ撮影装置の前記制御部は、撮影時に、前記チャック部による前記被写体への引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する動作を継続するように制御することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載のX線撮影システム。
- 前記X線タルボ撮影装置の前記制御部は、前記X線検出器における複数の画素のピッチと、各画素が検出する像の拡大率と、撮影時間とに基づく所定の計算式によって、前記チャック部による前記被写体への引張り荷重又は圧縮荷重を負荷する際の許容最大速度を算出し、その算出結果を、前記X線タルボ撮影装置と連携する表示部に表示することを特徴とする請求項6に記載のX線撮影システム。
- 前記X線タルボ撮影装置の前記制御部は、目標とする引張り荷重又は圧縮荷重に到達した瞬間の撮影を行うに際し、撮影開始前の前記被写体のひずみ量の遷移から、撮影中の前記被写体のひずみ量を推定し、推定された前記被写体のひずみ量に基づいて、前記被写体のひずみ量が最小となる撮影開始時間を設定することを特徴とする請求項6に記載のX線撮影システム。
- 前記X線タルボ撮影装置は、前記複数の格子のいずれかを他の格子に対して相対移動させて縞走査を行い、照射されたX線に応じて前記X線検出器が画像信号を読み取る撮影を繰り返すことにより、前記被写体の再構成画像の生成に必要な複数の前記モアレ画像を取得しており、
前記X線タルボ撮影装置の前記制御部は、前記縞走査によって前記複数のモアレ画像を取得するに際し、前記縞走査による撮影は3段階以上に分けて行われ、前記縞走査の周期に合わせ、前記チャック部によって前記被写体に対して引張り荷重又は圧縮荷重の負荷を行うことを特徴とする請求項6に記載のX線撮影システム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017232259A JP7020085B2 (ja) | 2017-12-04 | 2017-12-04 | X線撮影システム |
US16/205,766 US10852255B2 (en) | 2017-12-04 | 2018-11-30 | X-ray imaging system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017232259A JP7020085B2 (ja) | 2017-12-04 | 2017-12-04 | X線撮影システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019100861A true JP2019100861A (ja) | 2019-06-24 |
JP7020085B2 JP7020085B2 (ja) | 2022-02-16 |
Family
ID=66657948
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017232259A Active JP7020085B2 (ja) | 2017-12-04 | 2017-12-04 | X線撮影システム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10852255B2 (ja) |
JP (1) | JP7020085B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210006036A (ko) * | 2019-07-08 | 2021-01-18 | 주식회사 쎄크 | 피검사체 지지 플레이트의 진동저감부재를 구비한 x선 검사장치 |
WO2023203994A1 (ja) * | 2022-04-19 | 2023-10-26 | コニカミノルタ株式会社 | 状態変化追跡方法、及び状態変化追跡システム |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7069670B2 (ja) * | 2017-12-04 | 2022-05-18 | コニカミノルタ株式会社 | X線撮影システム |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03251750A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-11 | Shimadzu Corp | X線透視型材料試験機 |
JP2016050891A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | キヤノン株式会社 | X線撮像装置 |
JP2017006398A (ja) * | 2015-06-23 | 2017-01-12 | コニカミノルタ株式会社 | X線タルボ撮影装置 |
JP2017072399A (ja) * | 2015-10-05 | 2017-04-13 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線検査装置及びx線検査方法 |
JP2017198600A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | キヤノン株式会社 | 放射線の位相変化検出方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0820383A (ja) | 1995-01-30 | 1996-01-23 | Tomonori Noda | 母船と押船の着脱装置 |
US6598275B1 (en) * | 2001-03-12 | 2003-07-29 | Steris, Inc. | Low shadow radiolucent surgical table, clamp systems, and accessories therefore |
JP2003135446A (ja) * | 2001-10-30 | 2003-05-13 | Toshiba Corp | 画像診断用寝台装置の付属品 |
JP4445397B2 (ja) | 2002-12-26 | 2010-04-07 | 敦 百生 | X線撮像装置および撮像方法 |
JP4821850B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-11-24 | 株式会社島津製作所 | マンモグラフィ装置 |
US8411816B2 (en) * | 2007-02-21 | 2013-04-02 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiological image capturing apparatus and radiological image capturing system |
US20090185663A1 (en) * | 2008-01-22 | 2009-07-23 | Gaines Jr Arthur J | Equine CT Table |
CA2719839C (en) * | 2008-03-25 | 2017-08-22 | Visen Medical, Inc. | Animal holder for in vivo tomographic imaging with multiple modalities |
JP2010068929A (ja) * | 2008-09-17 | 2010-04-02 | Fujifilm Corp | 乳房x線透過平面画像断層画像撮影装置 |
DE102009021023A1 (de) * | 2009-05-13 | 2010-11-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Mammographieverfahren und Mammographiegerät |
CN102028543B (zh) * | 2009-09-30 | 2014-03-05 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种悬吊型医用装置定位系统 |
US8732879B2 (en) * | 2010-02-15 | 2014-05-27 | Worldwide Innovations & Technologies, Inc. | Patient support device |
JP5935693B2 (ja) * | 2010-09-29 | 2016-06-15 | コニカミノルタ株式会社 | 医用画像表示方法 |
US20120183127A1 (en) * | 2010-11-26 | 2012-07-19 | Stephen Neushul | Portable radiography imaging system |
EP2717778B1 (en) * | 2011-06-09 | 2017-09-27 | Trophy | Patient head support apparatus for imaging |
KR101332019B1 (ko) * | 2011-11-21 | 2013-11-25 | 삼성전자주식회사 | 환자용 테이블 및 이를 포함하는 엑스레이 촬영시스템 |
JP2013150781A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-08-08 | Canon Inc | 特性情報取得装置 |
JP5912552B2 (ja) * | 2012-01-12 | 2016-04-27 | ヤマハ発動機株式会社 | X線検査装置 |
WO2015015851A1 (ja) * | 2013-07-30 | 2015-02-05 | コニカミノルタ株式会社 | 医用画像システム及び関節軟骨状態のスコア判定方法 |
DE102013111522B4 (de) * | 2013-10-18 | 2015-05-28 | MAQUET GmbH | Operationstischseitige und vorrichtigungseitige Befestigungseinheit zur Befestigung einer Vorrichtung zum Lagern eines zu röntgenden Patienten an einem Operationstisch und deren Anordnung |
US10077865B2 (en) * | 2014-06-05 | 2018-09-18 | The Regents Of The University Of Michigan | Magnet assisted stage for vibration and heat reduction in wafer scanning |
JP2018501929A (ja) * | 2014-12-05 | 2018-01-25 | エッグ メディカル, インコーポレイテッド | マルチモダリティ医療手技マットレスベースデバイス |
JP6750310B2 (ja) * | 2016-05-30 | 2020-09-02 | コニカミノルタ株式会社 | タルボ撮影装置 |
-
2017
- 2017-12-04 JP JP2017232259A patent/JP7020085B2/ja active Active
-
2018
- 2018-11-30 US US16/205,766 patent/US10852255B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03251750A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-11 | Shimadzu Corp | X線透視型材料試験機 |
JP2016050891A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | キヤノン株式会社 | X線撮像装置 |
JP2017006398A (ja) * | 2015-06-23 | 2017-01-12 | コニカミノルタ株式会社 | X線タルボ撮影装置 |
JP2017072399A (ja) * | 2015-10-05 | 2017-04-13 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線検査装置及びx線検査方法 |
JP2017198600A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | キヤノン株式会社 | 放射線の位相変化検出方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
百生 敦: "X線管を用いた位相イメージング装置の開発", 非破壊検査, vol. 第66巻5号(2017), JPN6021016375, May 2017 (2017-05-01), pages 196 - 203, ISSN: 0004499369 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210006036A (ko) * | 2019-07-08 | 2021-01-18 | 주식회사 쎄크 | 피검사체 지지 플레이트의 진동저감부재를 구비한 x선 검사장치 |
KR102243487B1 (ko) * | 2019-07-08 | 2021-04-28 | 주식회사 쎄크 | 피검사체 지지 플레이트의 진동저감부재를 구비한 x선 검사장치 |
WO2023203994A1 (ja) * | 2022-04-19 | 2023-10-26 | コニカミノルタ株式会社 | 状態変化追跡方法、及び状態変化追跡システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190170666A1 (en) | 2019-06-06 |
JP7020085B2 (ja) | 2022-02-16 |
US10852255B2 (en) | 2020-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7020169B2 (ja) | X線撮影システム | |
JP5238787B2 (ja) | 放射線撮影装置及び放射線撮影システム | |
US8903042B2 (en) | Radiographic system and radiographic image generating method | |
JP2019100860A (ja) | X線撮影システム | |
JP5731214B2 (ja) | 放射線撮影システム及びその画像処理方法 | |
WO2011013328A1 (ja) | 放射線撮影装置 | |
JP2012115576A (ja) | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
JP2012090945A (ja) | 放射線検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
US20120099705A1 (en) | Radiographic apparatus and radiographic system | |
US20120250972A1 (en) | Radiographic system and radiographic method | |
JP2019100861A (ja) | X線撮影システム | |
JP2012095865A (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
US20140286477A1 (en) | Radiation photographing apparatus | |
JP2012143497A (ja) | 放射線撮影システム及びその制御方法 | |
JP7006784B2 (ja) | X線イメージング装置 | |
JPWO2019220689A1 (ja) | X線イメージング装置 | |
JP2011206490A (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
US11172897B2 (en) | Radiation phase contrast imaging device | |
JP2014155509A (ja) | 放射線撮影システム | |
JP2014138625A (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
JP2012115621A (ja) | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
JP2014223091A (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
JP2012035050A (ja) | 放射線撮影システム及びその画像処理方法 | |
RU147081U1 (ru) | Устройство для визуализации молочной железы пациента рентгеновским излучением в режиме томосинтеза или маммографии | |
WO2013084657A1 (ja) | 放射線撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200618 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210331 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210511 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210707 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220104 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220117 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7020085 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |