JP2018152148A - Suspension substrate with circuit unit, suspension substrate with circuit assembly, and manufacturing method of suspension substrate with circuit assembly - Google Patents

Suspension substrate with circuit unit, suspension substrate with circuit assembly, and manufacturing method of suspension substrate with circuit assembly Download PDF

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孝俊 坂倉
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a suspension substrate with circuit unit, a suspension substrate with circuit assembly and a manufacturing method of the suspension substrate with circuit assembly capable of inspecting a position of an electronic element with high accuracy and improving manufacturing efficiency of the suspension substrate with circuit assembly.SOLUTION: An assembly sheet 1 comprises a suspension substrate with circuit 5 and an inspection part 4. The suspension substrate with circuit 5 includes an element mounting terminal 26 electrically connected to a mounted electronic element via a connection solder 56, and the inspection part 4 includes an inspection terminal 47 on which an inspection solder 57 inspecting a volume of the connection solder 56 placed between the electronic element and the element mounting terminal 26 is arranged.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、回路付サスペンション基板ユニット、回路付サスペンション基板アセンブリ、および、回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法に関する。   The present invention relates to a suspension board unit with circuit, a suspension board assembly with circuit, and a method for manufacturing a suspension board assembly with circuit.

従来より、実装部品を配線基板の端子にはんだにより接続することが知られている。例えば、実装部品を配線基板の端子に接続するには、配線基板の端子にはんだを印刷し、次いで、実装部品を搭載した後、リフローにより配線基板の端子と実装部品のリードとをはんだ付けする。   Conventionally, it is known that a mounting component is connected to a terminal of a wiring board by solder. For example, in order to connect a mounting component to a terminal of a wiring board, solder is printed on the terminal of the wiring board, and after mounting the mounting component, the terminal of the wiring board and the lead of the mounting component are soldered by reflow. .

また、端子に印刷されるはんだ量(体積)を3次元光学方式の外観検査で検査することが知られており、はんだ付け強度などを確認すべく、リフロー後のはんだ量を検査することが望まれている。   In addition, it is known that the amount (volume) of solder printed on a terminal is inspected by a three-dimensional optical appearance inspection, and it is desirable to inspect the amount of solder after reflow in order to confirm the soldering strength and the like. It is rare.

しかし、リフロー後では、端子に接続されるリードが邪魔となり、外観検査により端子とリードとを接続するはんだ量を検査することは困難である。   However, after reflow, the lead connected to the terminal becomes an obstacle, and it is difficult to inspect the amount of solder connecting the terminal and the lead by visual inspection.

そこで、例えば、実装部品の搭載前に印刷したはんだ体積を測定し、リフロー後のはんだ量を計算するはんだ検査方法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。   Thus, for example, a solder inspection method has been proposed in which the solder volume printed before mounting a mounted component is measured and the amount of solder after reflow is calculated (see, for example, Patent Document 1).

特開2015−179032号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-179032

しかるに、回路付サスペンション基板に圧電素子などの電子素子を実装する場合、電子素子は、安定した動作の確保や、周囲の部材との接触を抑制するために、厳しい位置精度が要求される。このような電子素子の位置精度は、電子素子と回路付サスペンション基板の端子との間に位置するはんだ量に依存するため、そのはんだ量を検査することにより、電子素子の位置を検査することが検討される。   However, when an electronic element such as a piezoelectric element is mounted on a suspension board with circuit, the electronic element is required to have strict positional accuracy in order to ensure stable operation and suppress contact with surrounding members. Since the position accuracy of such an electronic element depends on the amount of solder located between the electronic element and the terminal of the suspension board with circuit, the position of the electronic element can be inspected by inspecting the amount of solder. Be considered.

しかし、特許文献1のはんだ検査方法は、リフロー後のはんだ量を実測するのではなく、リフロー後のはんだ量を計算するのみであり、検査精度が不十分である。そのため、電子素子の位置を精度よく検査することができず、電子素子が実装される回路付サスペンション基板アセンブリの製造効率の向上を図ることは困難である。   However, the solder inspection method of Patent Document 1 does not actually measure the amount of solder after reflow, but only calculates the amount of solder after reflow, and the inspection accuracy is insufficient. Therefore, the position of the electronic element cannot be accurately inspected, and it is difficult to improve the manufacturing efficiency of the suspension board assembly with circuit on which the electronic element is mounted.

本発明は、電子素子の位置を精度よく検査でき、回路付サスペンション基板アセンブリの製造効率の向上を図ることができる回路付サスペンション基板ユニット、回路付サスペンション基板アセンブリおよび回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法を提供する。   The present invention provides a suspension board unit with circuit, a suspension board assembly with circuit, and a method for manufacturing a suspension board assembly with circuit, which can accurately inspect the position of an electronic element and can improve the manufacturing efficiency of the suspension board assembly with circuit. provide.

本発明[1]は、回路付サスペンション基板と、検査部と、を備え、前記回路付サスペンション基板は、実装される電子素子と接続用はんだを介して電気的に接続される素子実装用端子を備え、前記検査部は、前記電子素子と前記素子実装用端子との間に位置する前記接続用はんだの体積を検査する検査用はんだが配置される検査用端子を備える、回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   The present invention [1] includes a suspension board with circuit and an inspection unit, and the suspension board with circuit has an element mounting terminal electrically connected to an electronic element to be mounted via a connection solder. A suspension board unit with circuit, comprising: an inspection terminal on which an inspection solder for inspecting a volume of the connection solder located between the electronic element and the element mounting terminal is disposed. Contains.

このような構成によれば、回路付サスペンション基板の素子実装用端子には、電子素子と素子実装用端子とを電気的に接続する接続用はんだを配置でき、検査部の検査用端子には、接続用はんだと略同じ体積の検査用はんだを配置することができる。   According to such a configuration, the connection solder for electrically connecting the electronic element and the element mounting terminal can be disposed on the element mounting terminal of the suspension board with circuit, and the inspection terminal of the inspection unit includes Inspection solder having substantially the same volume as the connection solder can be disposed.

検査用端子は、検査用はんだを配置する端子であって電子素子は接続されないため、電子素子が邪魔になることなく、検査用はんだの体積を精度よく測定することができる。   Since the inspection terminal is a terminal on which the inspection solder is arranged and the electronic element is not connected, the volume of the inspection solder can be accurately measured without the electronic element being in the way.

その結果、検査用はんだの体積の測定結果から、電子素子と素子実装用端子との間に位置する接続用はんだの体積を精度よく検査することができ、ひいては、電子素子の位置を精度よく検査できる。これによって、回路付サスペンション基板アセンブリの製造効率の向上を図ることができる。   As a result, the volume of the solder for connection located between the electronic element and the element mounting terminal can be accurately inspected from the measurement result of the volume of the inspection solder, and consequently the position of the electronic element is inspected with high precision. it can. Thereby, the manufacturing efficiency of the suspension board assembly with circuit can be improved.

本発明[2]は、複数の前記回路付サスペンション基板と、複数の前記回路付サスペンション基板と連続して、複数の前記回路付サスペンション基板を一括して支持する支持部と、を備え、前記検査部は、前記支持部に設けられる、上記[1]に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   The present invention [2] includes a plurality of the suspension boards with circuits, and a support portion that collectively supports the plurality of suspension boards with circuits, and continuously supports the plurality of suspension boards with circuits. The section includes the suspension board unit with circuit described in [1], which is provided in the support section.

このような構成によれば、検査部が、複数の回路付サスペンション基板を一括して支持する支持部に設けられているので、検査部を配置するためのスペースを回路付サスペンション基板に確保する必要がなく、回路付サスペンション基板の小型化を図ることができる。   According to such a configuration, since the inspection unit is provided on the support unit that collectively supports the plurality of suspension boards with circuit, it is necessary to secure a space for arranging the inspection unit on the suspension board with circuit. Therefore, the suspension board with circuit can be reduced in size.

また、複数の回路付サスペンション基板および検査部のそれぞれが支持部を介して一体であるので、素子実装用端子および検査用端子のそれぞれに略同じ体積のはんだを安定して配置することができ、素子実装用端子に配置される接続用はんだの体積と、検査用端子に配置される検査用はんだの体積との相関を安定して確保することができる。その結果、検査用はんだの体積の測定結果から、電子素子と素子実装用端子との間に位置する接続用はんだの体積をより精度よく検査することができる。   In addition, since each of the plurality of suspension boards with circuit and the inspection unit is integrated with each other through the support unit, it is possible to stably arrange substantially the same volume of solder on each of the element mounting terminal and the inspection terminal, A correlation between the volume of the connecting solder disposed on the element mounting terminal and the volume of the inspection solder disposed on the inspection terminal can be stably secured. As a result, the volume of the connecting solder positioned between the electronic element and the element mounting terminal can be inspected more accurately from the measurement result of the volume of the inspecting solder.

本発明[3]は、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向に互いに間隔を空けて並列配置され、前記検査用端子は、複数の前記回路付サスペンション基板の並列方向に投影したときに、複数の前記素子実装用端子のうち少なくとも1つの前記素子実装用端子と重なるように配置されている、上記[2]に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   In the present invention [3], when the inspection terminals are projected in the parallel direction of the plurality of suspension boards with circuits, they are arranged in parallel at intervals in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension boards with circuits. The suspension board unit with circuit according to the above [2], which is disposed so as to overlap at least one of the element mounting terminals among the plurality of element mounting terminals.

このような構成によれば、検査用端子が、並列方向に投影したときに、複数の素子実装用端子のうち少なくとも1つの素子実装用端子と重なるように配置されているので、検査用端子と、少なくとも1つの素子実装用端子とのそれぞれに略同じ体積のはんだをより安定して配置することができ、素子実装用端子に配置される接続用はんだの体積と、検査用端子に配置される検査用はんだの体積との相関をより安定して確保することができる。   According to such a configuration, the inspection terminal is arranged so as to overlap at least one element mounting terminal among the plurality of element mounting terminals when projected in the parallel direction. The solder having substantially the same volume can be more stably disposed on each of the at least one element mounting terminal, and the volume of the connecting solder disposed on the element mounting terminal and the inspection terminal. The correlation with the volume of the solder for inspection can be secured more stably.

本発明[4]は、複数の前記回路付サスペンション基板は、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向に互いに間隔を空けて並列配置され、前記検査用端子は、複数の前記回路付サスペンション基板の並列方向と、前記厚み方向との両方向と直交する方向に投影したときに、複数の前記素子実装用端子のうち少なくとも1つの前記素子実装用端子と重なるように配置されている、上記[2]に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   According to the present invention [4], the plurality of suspension boards with circuit are arranged in parallel at intervals in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit, and the inspection terminal includes a plurality of suspensions with circuit. When projecting in a direction orthogonal to both the parallel direction of the substrate and the thickness direction, at least one of the plurality of element mounting terminals is disposed so as to overlap with the element mounting terminal. 2] of the suspension board unit with circuit described in [2].

このような構成によれば、検査用端子が、並列方向と厚み方向との両方向と直交する方向に投影したときに、複数の素子実装用端子のうち少なくとも1つの素子実装用端子と重なるように配置されているので、検査用端子と、少なくとも1つの素子実装用端子とのそれぞれに略同じ体積のはんだをより安定して配置することができ、素子実装用端子に配置される接続用はんだの体積と、検査用端子に配置される検査用はんだの体積との相関をより安定して確保することができる。   According to such a configuration, the inspection terminal overlaps at least one element mounting terminal among the plurality of element mounting terminals when projected in a direction perpendicular to both the parallel direction and the thickness direction. Therefore, it is possible to more stably arrange the solder of substantially the same volume on each of the inspection terminal and the at least one element mounting terminal, and the connection solder arranged on the element mounting terminal The correlation between the volume and the volume of the inspection solder arranged on the inspection terminal can be more stably ensured.

本発明[5]は、前記回路付サスペンション基板は、磁気ヘッドと電気的に接続される磁気ヘッド用端子と、前記磁気ヘッド用端子に接続される磁気ヘッド用配線と、前記素子実装用端子に接続される素子用配線と、を備える、上記[1]〜[4]のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   According to the present invention [5], the suspension board with circuit includes a magnetic head terminal electrically connected to the magnetic head, a magnetic head wiring connected to the magnetic head terminal, and the element mounting terminal. The suspension board unit with circuit according to any one of the above [1] to [4], comprising: an element wiring to be connected.

このような構成によれば、回路付サスペンション基板が、素子実装用端子に加えて、磁気ヘッドと電気的に接続される磁気ヘッド用端子を備えているので、回路付サスペンション基板に、磁気ヘッドおよび電子素子を実装することができる。   According to such a configuration, the suspension board with circuit includes the magnetic head terminal that is electrically connected to the magnetic head in addition to the element mounting terminal. Electronic elements can be mounted.

本発明[6]は、金属支持層と、前記金属支持層の厚み方向一方側に配置される第1絶縁層と、前記第1絶縁層の前記厚み方向一方側に配置される導体層と、前記導体層の前記厚み方向一方側に配置される第2絶縁層と、を備え、前記検査用端子は、前記導体層または前記金属支持層に含まれる、上記[1]〜[5]のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   The present invention [6] includes a metal support layer, a first insulating layer disposed on one side in the thickness direction of the metal support layer, a conductor layer disposed on the one side in the thickness direction of the first insulating layer, Any one of the above [1] to [5], wherein the inspection terminal is included in the conductor layer or the metal support layer. The suspension board unit with circuit according to claim 1 is included.

このような構成によれば、検査用端子が導体層または金属支持層に含まれるので、検査用はんだを検査用端子に安定して配置することができる。   According to such a configuration, since the inspection terminal is included in the conductor layer or the metal support layer, the inspection solder can be stably disposed on the inspection terminal.

本発明[7]は、前記素子実装用端子は、前記導体層に含まれ、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向において、前記第1絶縁層および/または前記第2絶縁層と隣接し、前記検査用端子は、前記導体層に含まれ、前記厚み方向と直交する方向において、前記第1絶縁層および/または前記第2絶縁層と隣接する、上記[6]に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   In the present invention [7], the element mounting terminal is included in the conductor layer and is adjacent to the first insulating layer and / or the second insulating layer in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit. The inspection terminal is included in the conductor layer and is adjacent to the first insulating layer and / or the second insulating layer in a direction orthogonal to the thickness direction. A suspension board unit is included.

このような構成によれば、素子実装用端子が、導体層に含まれ、第1絶縁層および/または第2絶縁層と隣接し、検査用端子が、導体層に含まれ、第1絶縁層および/または第2絶縁層と隣接する。つまり、素子実装用端子と検査用端子とを同様の構成にすることができる。そのため、検査用端子と素子実装用端子とのそれぞれに略同じ体積のはんだをより一層安定して配置することができ、素子実装用端子に配置される接続用はんだの体積と、検査用端子に配置される検査用はんだの体積との相関をより一層安定して確保することができる。   According to such a configuration, the element mounting terminal is included in the conductor layer, adjacent to the first insulating layer and / or the second insulating layer, the inspection terminal is included in the conductor layer, and the first insulating layer And / or adjacent to the second insulating layer. That is, the element mounting terminal and the inspection terminal can be configured similarly. Therefore, the solder of approximately the same volume can be more stably disposed on each of the inspection terminal and the element mounting terminal, and the volume of the connecting solder disposed on the element mounting terminal and the inspection terminal The correlation with the volume of the inspection solder to be arranged can be secured more stably.

本発明[8]は、前記検査用端子は、前記金属支持層に含まれ、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向において、前記金属支持層と隣接する、上記[6]に記載の回路付サスペンション基板ユニットを含んでいる。   The invention [8] is the above [6], wherein the inspection terminal is included in the metal support layer and is adjacent to the metal support layer in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit. A suspension board unit with circuit is included.

このような構成によれば、検査用端子を簡易な構成とすることができる。   According to such a configuration, the inspection terminal can be simplified.

本発明[9]は、上記[1]〜[8]のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニットと、前記電子素子としての圧電素子と、前記圧電素子と前記素子実装用端子との間に配置され、前記圧電素子と前記素子実装用端子とを電気的に接続する接続用はんだと、前記検査用端子上に配置される検査用はんだと、を備える、回路付サスペンション基板アセンブリを含んでいる。   The present invention [9] includes a suspension board unit with circuit according to any one of the above [1] to [8], a piezoelectric element as the electronic element, the piezoelectric element, and the element mounting terminal. A suspension board assembly with circuit comprising: a connecting solder which is disposed between and electrically connects the piezoelectric element and the element mounting terminal; and a testing solder which is disposed on the testing terminal. It is out.

このような構成によれば、検査用はんだが検査用端子上に配置されるので、検査用はんだの体積を精度よく測定することができる。そのため、検査用はんだの体積の測定結果から、電子素子と素子実装用端子との間に位置する接続用はんだの体積を精度よく検査でき、ひいては、電子素子の位置を精度よく検査できる。   According to such a configuration, since the inspection solder is arranged on the inspection terminal, the volume of the inspection solder can be accurately measured. Therefore, from the measurement result of the volume of the solder for inspection, the volume of the connecting solder positioned between the electronic element and the element mounting terminal can be inspected with high accuracy, and the position of the electronic element can be inspected with high accuracy.

本発明[10]は、上記[1]〜[8]のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニットを準備する第1工程と、前記素子実装用端子上に接続用はんだを配置するとともに、前記検査用端子上に検査用はんだを配置する第2工程と、電子素子を前記接続用はんだと接触するように配置する第3工程と、前記回路付サスペンション基板ユニットを加熱して、前記接続用はんだを溶解し、前記電子素子をセルフアライメントさせながら、前記電子素子と前記素子実装用端子とを接合するとともに、前記検査用はんだを溶解する第4工程と、前記第4工程の後に前記検査用はんだの体積を測定して、前記電子素子と前記素子実装用端子との間に位置する前記接続用はんだの体積を検査する第5工程と、を含む、回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法を含んでいる。   The present invention [10] includes a first step of preparing the suspension board unit with circuit according to any one of the above [1] to [8], and disposing connection solder on the element mounting terminal. A second step of disposing the inspection solder on the inspection terminal; a third step of disposing the electronic element in contact with the connection solder; and heating the suspension board unit with circuit to connect the connection A fourth step of melting the solder for soldering, joining the electronic device and the device mounting terminal while self-aligning the electronic device, and melting the solder for testing, and the inspection after the fourth step. A fifth step of measuring the volume of the solder for the test and inspecting the volume of the solder for connection located between the electronic device and the device mounting terminal. Contain assembly manufacturing method.

このような方法によれば、検査用はんだを溶解するとともに、接続用はんだを溶解し、電子素子をセルフアライメントさせながら、電子素子と素子実装用端子とを接合するので、電子素子の位置精度の向上を図ることができる。   According to such a method, the solder for inspection and the solder for connection are dissolved, and the electronic element and the device mounting terminal are joined while self-aligning the electronic element. Improvements can be made.

その後、溶解された検査用はんだの体積を測定して、電子素子と素子実装用端子との間に位置する接続用はんだの体積を検査するので、検査用はんだの体積の測定結果から、電子素子と素子実装用端子との間に位置する接続用はんだの体積を精度よく検査することができ、ひいては、電子素子の位置を精度よく検査できる。   After that, the volume of the dissolved solder for inspection is measured to inspect the volume of the connecting solder located between the electronic element and the element mounting terminal. It is possible to accurately inspect the volume of the connecting solder located between the device mounting terminal and the element mounting terminal, and thus it is possible to accurately inspect the position of the electronic element.

本発明[11]は、前記第2工程の後かつ前記第4工程の前に、前記検査用はんだの体積を測定する工程をさらに含む、上記[10]に記載の回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法を含んでいる。   The present invention [11] further includes the step of measuring the volume of the inspection solder after the second step and before the fourth step, wherein the suspension board assembly with circuit according to [10] is manufactured. Includes methods.

このような方法によれば、検査用はんだを溶解する前に、検査用はんだの体積が測定される。つまり、溶解の前後において、検査用はんだの体積が測定される。そのため、溶解後の検査用はんだの体積の測定結果から検査される接続用はんだの体積が不良であった場合に、溶解前後の検査用はんだの体積の測定結果をフィードバックして、回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法の各工程の条件(例えば、第2工程のはんだの配置量や、第4工程の加熱条件など)を調整することができる。その結果、回路付サスペンション基板アセンブリの製造効率のさらなる向上を図ることができる。   According to such a method, the volume of the inspection solder is measured before the inspection solder is melted. That is, the volume of the inspection solder is measured before and after melting. Therefore, when the volume of the connecting solder to be inspected from the measurement result of the volume of the inspection solder after melting is poor, the measurement result of the volume of the inspection solder before and after melting is fed back, and the suspension board with circuit Conditions for each step of the assembly manufacturing method (for example, the amount of solder disposed in the second step, the heating conditions in the fourth step, etc.) can be adjusted. As a result, the manufacturing efficiency of the suspension board assembly with circuit can be further improved.

本発明の回路付サスペンション基板ユニット、回路付サスペンション基板アセンブリおよび回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法では、電子素子の位置を精度よく検査でき、回路付サスペンション基板アセンブリの製造効率の向上を図ることができる。   According to the suspension board unit with circuit, the suspension board assembly with circuit, and the suspension board assembly with circuit according to the present invention, the position of the electronic element can be accurately inspected, and the manufacturing efficiency of the suspension board assembly with circuit can be improved. .

図1は、本発明の回路付サスペンション基板ユニットの第1実施形態としての集合体シートの平面図を示す。FIG. 1 is a plan view of an assembly sheet as a first embodiment of a suspension board unit with circuit of the present invention. 図2は、図1に示す回路付サスペンション基板および検査部の拡大図を示す。FIG. 2 is an enlarged view of the suspension board with circuit and the inspection unit shown in FIG. 図3Aは、図2に示す素子実装用端子のA−A断面図を示す。図3Bは、図2に示す検査用端子のB−B断面図を示す。FIG. 3A is a cross-sectional view taken along line AA of the element mounting terminal shown in FIG. FIG. 3B is a cross-sectional view of the inspection terminal shown in FIG. 図4は、図2に示す素子実装用端子および検査用端子のC−C断面図を示す。FIG. 4 is a cross-sectional view of the element mounting terminal and the inspection terminal shown in FIG. 図5は、図2に示す回路付サスペンション基板および検査部の底面図を示す。FIG. 5 shows a bottom view of the suspension board with circuit and the inspection section shown in FIG. 図6Aは、素子実装用端子上に接続用はんだを配置する工程を示す。図6Bは、検査用端子上に検査用はんだを配置する工程を示す。FIG. 6A shows a process of arranging a connecting solder on the element mounting terminal. FIG. 6B shows a step of placing the inspection solder on the inspection terminal. 図7は、圧電素子を接続用はんだと接触するように配置する工程を示す。FIG. 7 shows a process of placing the piezoelectric element in contact with the connecting solder. 図8Aは、圧電素子と素子実装用端子とを接合する工程を示す。図8Bは、検査用はんだの体積を測定する工程を示す。FIG. 8A shows a process of joining the piezoelectric element and the element mounting terminal. FIG. 8B shows a step of measuring the volume of the solder for inspection. 図9は、図8Aに示す圧電素子と素子実装用端子とを接合する工程における、圧電素子のセルフアライメントを説明するための説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram for explaining self-alignment of the piezoelectric element in the step of joining the piezoelectric element and the element mounting terminal shown in FIG. 8A. 図10は、本発明の回路付サスペンション基板ユニットの第2実施形態としての集合体シートの平面図を示す。FIG. 10 shows a plan view of an assembly sheet as a second embodiment of the suspension board unit with circuit of the present invention. 図11は、本発明の回路付サスペンション基板ユニットの第3実施形態としてのサスペンション検査部ペアユニットの平面図を示す。FIG. 11 is a plan view of a suspension inspection unit pair unit as a third embodiment of the suspension board unit with circuit of the present invention. 図12Aは、図2に示す検査用端子の第1の変形例の平面図を示す。図12Bは、図12Aに示す検査用端子のD−D断面図を示す。図12Cは、図2に示す検査用端子の第2の変形例の平面図を示す。図12Dは、図12Cに示す検査用端子のE−E断面図を示す。FIG. 12A shows a plan view of a first modification of the inspection terminal shown in FIG. 12B shows a DD cross-sectional view of the inspection terminal shown in FIG. 12A. FIG. 12C shows a plan view of a second modification of the inspection terminal shown in FIG. FIG. 12D shows an EE cross-sectional view of the inspection terminal shown in FIG. 12C.

図1において、紙面上下方向は、先後方向(第1方向)であって、紙面上側が先側(第1方向一方側)、紙面下側が後側(第1方向他方側)である。   In FIG. 1, the up and down direction of the paper surface is the front-rear direction (first direction), the upper side of the paper surface is the front side (one side in the first direction), and the lower side of the paper surface is the rear side (the other side in the first direction).

図1において、紙面左右方向は、左右方向(第1方向と直交する第2方向)であって、紙面左側が左側(第2方向一方側)、紙面右側が右側(第2方向他方側)である。   In FIG. 1, the left and right direction on the paper surface is the left and right direction (second direction orthogonal to the first direction), the left side on the paper surface is the left side (second side in the second direction), and the right side on the paper surface is the right side (the other side in the second direction). is there.

図1において、紙面紙厚方向は、上下方向(第1方向および第2方向と直交する第3方向)であって、紙面奥側が下側(第3方向一方側)、紙面手前側が上側(第3方向他方側)である。具体的には、各図の方向矢印に準拠する。   In FIG. 1, the paper thickness direction is the vertical direction (the third direction orthogonal to the first direction and the second direction), the back side of the paper is the lower side (one side in the third direction), and the front side of the paper is the upper side (the first direction). 3 direction other side). Specifically, it conforms to the direction arrow in each figure.

<第1実施形態>
1.集合体シート
以下、図1〜図5を参照して、本発明の回路付サスペンション基板ユニットの第1実施形態としての集合体シート1について説明する。
<First Embodiment>
1. Assembly Sheet Hereinafter, an assembly sheet 1 as a first embodiment of the suspension board unit with circuit of the present invention will be described with reference to FIGS.

図1に示すように、集合体シート1は、複数のサスペンション群2と、複数のサスペンション群2を支持する支持部3と、複数の検査部4とを備える。なお、図1では、便宜上、複数のサスペンション群2の個数が4つであり、複数の検査部4の個数が6つであるが、サスペンション群2および検査部4のそれぞれの個数は、特に制限されない。   As shown in FIG. 1, the assembly sheet 1 includes a plurality of suspension groups 2, a support unit 3 that supports the plurality of suspension groups 2, and a plurality of inspection units 4. In FIG. 1, for the sake of convenience, the number of the plurality of suspension groups 2 is four and the number of the plurality of inspection units 4 is six. However, the numbers of the suspension groups 2 and the inspection units 4 are particularly limited. Not.

複数のサスペンション群2は、後述する格子状の枠体11により互いに区切られている。複数のサスペンション群2は、左右方向に並ぶ複数(2つ)のサスペンション群2の列を、先後方向に複数(2つ)有している。複数のサスペンション群2のそれぞれは、複数の回路付サスペンション基板5からなる。各回路付サスペンション基板5は、先後方向に延びる平帯形状を有している。各サスペンション群2において、複数の回路付サスペンション基板5は、左右方向(回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向の一例)に互いに間隔を空けて並列配置される。   The plurality of suspension groups 2 are separated from each other by a lattice-like frame body 11 described later. The plurality of suspension groups 2 have a plurality of (two) suspension groups 2 arranged in the left-right direction in the front-rear direction. Each of the plurality of suspension groups 2 includes a plurality of suspension boards with circuits 5. Each suspension board with circuit 5 has a flat belt shape extending in the front-rear direction. In each suspension group 2, the plurality of suspension boards with circuit 5 are arranged in parallel at intervals in the left-right direction (an example of a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit).

支持部3は、複数の回路付サスペンション基板5と連続して、複数の回路付サスペンション基板5を一括して支持する。支持部3は、枠体11と、複数の接続部12とを備える。枠体11は、格子形状を有しており、枠体11が区画する複数の開口11A内のそれぞれに、サスペンション群2が1つずつ配置される。これにより、枠体11は、各サスペンション群2を1つずつ囲っており、複数のサスペンション群2を区切っている。複数の接続部12は、複数の回路付サスペンション基板5と枠体11とを接続している。   The support unit 3 supports the plurality of suspension boards with circuits 5 in a lump in succession to the plurality of suspension boards with circuits 5. The support part 3 includes a frame body 11 and a plurality of connection parts 12. The frame body 11 has a lattice shape, and one suspension group 2 is arranged in each of the plurality of openings 11A defined by the frame body 11. Thereby, the frame 11 surrounds each suspension group 2 one by one, and divides the plurality of suspension groups 2. The plurality of connecting portions 12 connect the plurality of suspension boards with circuit 5 and the frame body 11.

複数の検査部4は、支持部3の枠体11に設けられている。複数の検査部4は、各サスペンション群2を左右方向に挟むように、各サスペンション群2の左右両側に1つずつ配置される。   The plurality of inspection units 4 are provided on the frame 11 of the support unit 3. The plurality of inspection units 4 are arranged one on each of the left and right sides of each suspension group 2 so as to sandwich each suspension group 2 in the left-right direction.

2.回路付サスペンション基板
次に、図2、図3Aおよび図5を参照して、回路付サスペンション基板5の詳細について説明する。
2. Next, details of the suspension board with circuit 5 will be described with reference to FIGS. 2, 3A and 5. FIG.

図3Aに示すように、回路付サスペンション基板5は、金属支持体7と、ベース絶縁層8と、導体パターン9と、カバー絶縁層10とを、下側(厚み方向一方側の一例)に向かって順に備える。なお、図5では、便宜上、カバー絶縁層10を省略している。   As shown in FIG. 3A, the suspension board with circuit 5 has the metal support 7, the base insulating layer 8, the conductor pattern 9, and the cover insulating layer 10 facing downward (an example of one side in the thickness direction). Prepare in order. In FIG. 5, the insulating cover layer 10 is omitted for convenience.

図2に示すように、金属支持体7は、先後方向に延びている。金属支持体7は、ステージ13と、サスペンション本体14と、架橋部15とを備える。   As shown in FIG. 2, the metal support 7 extends in the front-rear direction. The metal support 7 includes a stage 13, a suspension body 14, and a bridging portion 15.

ステージ13は、金属支持体7の先端部分であって、平面視略矩形状を有する。   The stage 13 is a tip portion of the metal support 7 and has a substantially rectangular shape in plan view.

サスペンション本体14は、ステージ13の後側に配置される。サスペンション本体14は、先後方向に延びる平帯形状を有する。サスペンション本体14の先側部分は、開口部16を有する。開口部16は、先側に向かって開放される凹形状を有する。サスペンション本体14の先端部は、開口部16に沿って後側に凹む凹部17を形成する。   The suspension body 14 is disposed on the rear side of the stage 13. The suspension body 14 has a flat belt shape extending in the front-rear direction. The front side portion of the suspension body 14 has an opening 16. The opening 16 has a concave shape that opens toward the front side. The tip of the suspension body 14 forms a recess 17 that is recessed rearward along the opening 16.

架橋部15は、ステージ13の後端縁とサスペンション本体14の先端縁とを連結している。   The bridging portion 15 connects the rear end edge of the stage 13 and the front end edge of the suspension body 14.

金属支持体7の材料として、例えば、ステンレス、42アロイ、アルミニウム、銅−ベリリウム、りん青銅などの金属材料が挙げられ、好ましくは、ステンレスが挙げられる。金属支持体7の厚みは、例えば、10μm以上、好ましくは、15μm以上、例えば、35μm以下、好ましくは、25μm以下である。   Examples of the material of the metal support 7 include metal materials such as stainless steel, 42 alloy, aluminum, copper-beryllium, and phosphor bronze, and preferably stainless steel. The thickness of the metal support 7 is, for example, 10 μm or more, preferably 15 μm or more, for example, 35 μm or less, preferably 25 μm or less.

図3Aに示すように、ベース絶縁層8は、金属支持体7の下面(厚み方向一方側)に配置される。図5に示すように、ベース絶縁層8は、導体パターン9に対応する所定のパターンとして設けられる。ベース絶縁層8は、ステージベース20と、本体ベース21と、架橋ベース22とを備える。   As shown in FIG. 3A, the insulating base layer 8 is disposed on the lower surface (one side in the thickness direction) of the metal support 7. As shown in FIG. 5, the insulating base layer 8 is provided as a predetermined pattern corresponding to the conductor pattern 9. The insulating base layer 8 includes a stage base 20, a main body base 21, and a bridging base 22.

ステージベース20は、ステージ13の下面に配置される。ステージベース20は、底面視略矩形状を有する。ステージベース20の後端縁は、ステージ13の後端縁よりも後側に位置する。   The stage base 20 is disposed on the lower surface of the stage 13. The stage base 20 has a substantially rectangular shape in bottom view. The rear end edge of the stage base 20 is located behind the rear end edge of the stage 13.

本体ベース21は、サスペンション本体14の下面に配置される。本体ベース21は、上下方向から見て凹部17(図2参照)と重なる位置に開口部23を有する。開口部23は、左右方向に延びる底面視略矩形状を有する。図2に示すように、開口部23の後端縁は、凹部17の後端縁よりも先側に位置している。   The main body base 21 is disposed on the lower surface of the suspension main body 14. The main body base 21 has an opening 23 at a position overlapping the concave portion 17 (see FIG. 2) when viewed from above and below. The opening 23 has a substantially rectangular shape in bottom view extending in the left-right direction. As shown in FIG. 2, the rear end edge of the opening 23 is located ahead of the rear end edge of the recess 17.

図5に示すように、架橋ベース22は、ステージベース20の後端縁と本体ベース21の先端縁とを連結している。   As shown in FIG. 5, the bridging base 22 connects the rear end edge of the stage base 20 and the front end edge of the main body base 21.

ベース絶縁層8の材料として、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、アクリル樹脂、ポリエーテル樹脂、ニトリル樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂などの合成樹脂が挙げられ、好ましくは、ポリイミド樹脂が挙げられる。ベース絶縁層8の厚みは、例えば、1μm以上、好ましくは、3μm以上、例えば、25μm以下、好ましくは、15μm以下である。   Examples of the material of the base insulating layer 8 include synthetic resins such as polyimide resin, polyamideimide resin, acrylic resin, polyether resin, nitrile resin, polyethersulfone resin, polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, and polyvinyl chloride resin. Preferably, a polyimide resin is mentioned. The insulating base layer 8 has a thickness of, for example, 1 μm or more, preferably 3 μm or more, for example, 25 μm or less, preferably 15 μm or less.

図3Aに示すように、導体パターン9は、ベース絶縁層8の下面(厚み方向一方側)に配置される。図5に示すように、導体パターン9は、複数(4つ)の磁気ヘッド用端子25と、複数(4つ)の素子実装用端子26と、複数(6つ)の外部接続端子27と、複数(4つ)の磁気ヘッド用配線28と、複数(4つ)の素子用配線29とを備える。   As shown in FIG. 3A, the conductor pattern 9 is disposed on the lower surface (one side in the thickness direction) of the base insulating layer 8. As shown in FIG. 5, the conductor pattern 9 includes a plurality (four) of magnetic head terminals 25, a plurality (four) of element mounting terminals 26, a plurality (six) of external connection terminals 27, A plurality (four) of magnetic head wirings 28 and a plurality (four) of element wirings 29 are provided.

複数(4つ)の磁気ヘッド用端子25は、図示しないスライダが回路付サスペンション基板5に実装されたときに、スライダが備える磁気ヘッドと電気的に接続される。複数の磁気ヘッド用端子25は、ステージベース20上において、左右方向に互いに間隔を空けて配置される。   The plurality of (four) magnetic head terminals 25 are electrically connected to the magnetic heads provided in the slider when a slider (not shown) is mounted on the suspension board with circuit 5. The plurality of magnetic head terminals 25 are arranged on the stage base 20 at intervals in the left-right direction.

複数(4つ)の素子実装用端子26は、後述する圧電素子58が回路付サスペンション基板5に実装されたときに、圧電素子58と接続用はんだ56を介して電気的に接続される。複数の素子実装用端子26は、複数(2つ)の第1実装用端子30と、複数(2つ)の第2実装用端子31とを含む。   The plurality of (four) element mounting terminals 26 are electrically connected to the piezoelectric elements 58 via connection solders 56 when a piezoelectric element 58 described later is mounted on the suspension board with circuit 5. The plurality of element mounting terminals 26 include a plurality (two) of first mounting terminals 30 and a plurality (two) of second mounting terminals 31.

図3Aおよび図5に示すように、複数の第1実装用端子30は、開口部23内に配置されており、左右方向に互いに間隔を空けて配置される。複数の第1実装用端子30は、開口部23の後端縁に対して先側に隣接する。これにより、第1実装用端子30は、回路付サスペンション基板5の厚み方向と直交する方向において、ベース絶縁層8と隣接する。   As shown in FIGS. 3A and 5, the plurality of first mounting terminals 30 are disposed in the opening 23 and are spaced apart from each other in the left-right direction. The plurality of first mounting terminals 30 are adjacent to the front side with respect to the rear end edge of the opening 23. Thereby, the first mounting terminal 30 is adjacent to the base insulating layer 8 in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit 5.

第1実装用端子30は、隣接するベース絶縁層8から離れるように延び、上側から見て、金属支持体7およびベース絶縁層8から露出している。第1実装用端子30は、平面視略矩形状を有する。第1実装用端子30の左右方向の寸法は、例えば、120μm以上、好ましくは、210μm以上、例えば、250μm以下、好ましくは、230μm以下である。第1実装用端子30の先後方向の寸法は、例えば、30μm以上、好ましくは、50μm以上、例えば、100μm以下、好ましくは、90μm以下である。第1実装用端子30の面積は、例えば、0.001mm以上、好ましくは、0.01mm以上、例えば、0.025mm以下、好ましくは、0.020mm以下である。 The first mounting terminal 30 extends away from the adjacent insulating base layer 8 and is exposed from the metal support 7 and the insulating base layer 8 when viewed from above. The first mounting terminal 30 has a substantially rectangular shape in plan view. The dimension in the left-right direction of the first mounting terminal 30 is, for example, 120 μm or more, preferably 210 μm or more, for example, 250 μm or less, preferably 230 μm or less. The front-rear dimension of the first mounting terminal 30 is, for example, 30 μm or more, preferably 50 μm or more, for example, 100 μm or less, preferably 90 μm or less. Area of the first mounting terminals 30 are, for example, 0.001 mm 2 or more, preferably, 0.01 mm 2 or more, for example, 0.025 mm 2 or less, or preferably 0.020 mm 2 or less.

複数の第2実装用端子31は、ステージベース20の後端縁に対して後側に隣接している。これにより、第2実装用端子31は、回路付サスペンション基板5の厚み方向と直交する方向において、ベース絶縁層8と隣接する。複数の第2実装用端子31は、架橋ベース22を挟むように、左右方向に互いに間隔を空けて配置される。また、第2実装用端子31は、第1実装用端子30に対して先側に間隔を空けて位置している。   The plurality of second mounting terminals 31 are adjacent to the rear end of the stage base 20 on the rear side. Thereby, the second mounting terminal 31 is adjacent to the base insulating layer 8 in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit 5. The plurality of second mounting terminals 31 are spaced apart from each other in the left-right direction so as to sandwich the bridging base 22. Further, the second mounting terminal 31 is located at a distance from the first mounting terminal 30 on the front side.

第2実装用端子31は、隣接するベース絶縁層8(ステージベース20)から離れるように延び、上側から見て、金属支持体7およびベース絶縁層8から露出している。   The second mounting terminal 31 extends away from the adjacent insulating base layer 8 (stage base 20), and is exposed from the metal support 7 and the insulating base layer 8 when viewed from above.

第2実装用端子31は、平面視略矩形状を有する。第2実装用端子31の左右方向の寸法の範囲は、例えば、第1実装用端子30の左右方向の寸法の範囲と同じである。第2実装用端子31の先後方向の寸法の範囲は、例えば、第1実装用端子30の先後方向の寸法の範囲と同じである。第2実装用端子31の面積の範囲は、例えば、第1実装用端子30の面積の範囲と同じである。   The second mounting terminal 31 has a substantially rectangular shape in plan view. The range of the dimension in the left-right direction of the second mounting terminal 31 is, for example, the same as the range of the dimension in the left-right direction of the first mounting terminal 30. The range of the dimension in the front-rear direction of the second mounting terminal 31 is the same as the range of the dimension in the front-rear direction of the first mounting terminal 30, for example. The area range of the second mounting terminal 31 is, for example, the same as the area range of the first mounting terminal 30.

また、図3Aに示すように、複数の素子実装用端子26(第1実装用端子30および第2実装用端子31)の上面には、めっき層32が設けられる。めっき層32の材料として、例えば、ニッケル、金などの金属材料が挙げられ、好ましくは、金が挙げられる。めっき層32の厚みは、例えば、0.1μm以上、好ましくは、0.25μm以上、例えば、5μm以下、好ましくは、2.5μm以下である。   Also, as shown in FIG. 3A, a plating layer 32 is provided on the upper surfaces of the plurality of element mounting terminals 26 (first mounting terminal 30 and second mounting terminal 31). Examples of the material of the plating layer 32 include metal materials such as nickel and gold, and preferably gold. The thickness of the plating layer 32 is, for example, 0.1 μm or more, preferably 0.25 μm or more, for example, 5 μm or less, preferably 2.5 μm or less.

図5に示すように、複数(6つ)の外部接続端子27は、本体ベース21の後端部上において、左右方向に互いに間隔を空けて配置される。   As shown in FIG. 5, the plurality (six) of external connection terminals 27 are arranged on the rear end portion of the main body base 21 so as to be spaced apart from each other in the left-right direction.

複数(4つ)の磁気ヘッド用配線28は、複数の磁気ヘッド用端子25に接続される。詳しくは、複数の磁気ヘッド用配線28は、ベース絶縁層8上を引き回されて、複数の磁気ヘッド用端子25と、磁気ヘッド用端子25と同数の外部接続端子27とを電気的に接続する。   The plurality (four) of magnetic head wirings 28 are connected to the plurality of magnetic head terminals 25. Specifically, the plurality of magnetic head wirings 28 are routed on the base insulating layer 8 to electrically connect the plurality of magnetic head terminals 25 and the same number of external connection terminals 27 as the magnetic head terminals 25. To do.

複数(4つ)の素子用配線29は、複数の素子実装用端子26に接続される。詳しくは、複数の素子用配線29は、複数の第1実装用端子30に接続される複数の電源配線33と、複数の第2実装用端子31に接続される複数のグランド配線34とを含む。   A plurality (four) of element wirings 29 are connected to a plurality of element mounting terminals 26. Specifically, the plurality of element wirings 29 include a plurality of power supply wirings 33 connected to the plurality of first mounting terminals 30 and a plurality of ground wirings 34 connected to the plurality of second mounting terminals 31. .

電源配線33は、第1実装用端子30の後端部に接続され、第1実装用端子30と段差を形成するように、本体ベース21上に配置される。複数の電源配線33は、本体ベース21上を引き回されて、複数の第1実装用端子30と、複数の外部接続端子27のうち磁気ヘッド用配線28に接続されていない外部接続端子27とを電気的に接続する。   The power supply wiring 33 is connected to the rear end portion of the first mounting terminal 30 and is disposed on the main body base 21 so as to form a step with the first mounting terminal 30. The plurality of power supply wires 33 are routed on the main body base 21, and the plurality of first mounting terminals 30 and the external connection terminals 27 that are not connected to the magnetic head wiring 28 among the plurality of external connection terminals 27. Are electrically connected.

グランド配線34は、第2実装用端子31の先端部に接続され、第2実装用端子31と段差を形成するように、ステージベース20上に配置される。複数のグランド配線34は、ステージベース20上において先側に向かって延びた後、ステージベース20を貫通してステージ13に接触(接地)している。   The ground wiring 34 is connected to the tip of the second mounting terminal 31 and is disposed on the stage base 20 so as to form a step with the second mounting terminal 31. The plurality of ground wirings 34 extend toward the front side on the stage base 20, then pass through the stage base 20 and contact (ground) the stage 13.

導体パターン9の材料として、例えば、銅、ニッケル、金、はんだ、またはこれらの合金などの導体材料が挙げられ、好ましくは、銅が挙げられる。導体パターン9の厚みは、例えば、1μm以上、好ましくは、3μm以上であり、例えば、20μm以下、好ましくは、12μm以下である。   Examples of the material of the conductor pattern 9 include conductor materials such as copper, nickel, gold, solder, and alloys thereof, and preferably copper. The thickness of the conductor pattern 9 is, for example, 1 μm or more, preferably 3 μm or more, for example, 20 μm or less, preferably 12 μm or less.

図3Aに示すように、カバー絶縁層10は、導体パターン9を被覆するように、導体パターン9の下面(厚み方向一方側)および導体パターン9から露出するベース絶縁層8の下面(厚み方向一方側)に配置される。詳しくは、カバー絶縁層10は、下側(厚み方向一方側)から見て、磁気ヘッド用端子25および外部接続端子27を露出し、素子実装用端子26、磁気ヘッド用配線28および素子用配線29を被覆するパターン形状を有している。   As shown in FIG. 3A, the insulating cover layer 10 includes a lower surface (one side in the thickness direction) of the conductive pattern 9 and a lower surface (one side in the thickness direction) exposed from the conductive pattern 9 so as to cover the conductive pattern 9. Side). Specifically, the cover insulating layer 10 exposes the magnetic head terminal 25 and the external connection terminal 27 when viewed from the lower side (one side in the thickness direction), and the element mounting terminal 26, the magnetic head wiring 28, and the element wiring. 29 has a pattern shape to cover 29.

また、図3Aおよび図4に示すように、カバー絶縁層10は、第1実装用端子30および第2実装用端子31のそれぞれの下面に加えて、第1実装用端子30および第2実装用端子31の周端面を被覆している。これにより、第1実装用端子30および第2実装用端子31のそれぞれは、回路付サスペンション基板5の厚み方向と直交する方向において、カバー絶縁層10と隣接する。   As shown in FIGS. 3A and 4, the insulating cover layer 10 includes the first mounting terminal 30 and the second mounting terminal in addition to the lower surfaces of the first mounting terminal 30 and the second mounting terminal 31. The peripheral end surface of the terminal 31 is covered. Thus, each of the first mounting terminal 30 and the second mounting terminal 31 is adjacent to the insulating cover layer 10 in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit 5.

カバー絶縁層10の材料として、例えば、ベース絶縁層8と同じ合成樹脂が挙げられ、好ましくは、ポリイミド樹脂が挙げられる。カバー絶縁層10の厚みは、適宜設定される。   Examples of the material of the insulating cover layer 10 include the same synthetic resin as that of the insulating base layer 8, and preferably a polyimide resin. The thickness of the cover insulating layer 10 is appropriately set.

3.支持部
次に、図1を参照して、支持部3の詳細について説明する。
3. Next, with reference to FIG. 1, the detail of the support part 3 is demonstrated.

支持部3は、上記した金属支持体7と一体であり、支持部3と金属支持体7とは同一平面上に位置する。支持部3と金属支持体7とは、金属支持層の一例を構成する。   The support part 3 is integral with the metal support 7 described above, and the support part 3 and the metal support 7 are located on the same plane. The support 3 and the metal support 7 constitute an example of a metal support layer.

支持部3は、上記したように、枠体11と、複数の接続部12とを備える。   As described above, the support portion 3 includes the frame body 11 and the plurality of connection portions 12.

枠体11は、格子形状を有しており、複数(3つ)の縦枠35と、複数(3つ)の横枠36とを一体に備える。   The frame 11 has a lattice shape, and integrally includes a plurality (three) of vertical frames 35 and a plurality (three) of horizontal frames 36.

複数の縦枠35のそれぞれは、集合体シート1の先後方向全体にわたって延びる平面視略矩形状を有する。複数の縦枠35は、左右方向において各サスペンション群2を挟むように、互いに間隔を空けて配置される。縦枠35は、サスペンション群2(回路付サスペンション基板5)に対して左右方向に間隔を空けて配置される。   Each of the plurality of vertical frames 35 has a substantially rectangular shape in plan view extending over the entire front-rear direction of the assembly sheet 1. The plurality of vertical frames 35 are arranged at intervals from each other so as to sandwich each suspension group 2 in the left-right direction. The vertical frame 35 is disposed with a space in the left-right direction with respect to the suspension group 2 (the suspension board with circuit 5).

複数の横枠36のそれぞれは、集合体シート1の左右方向全体にわたって延びる平面視略矩形状を有する。複数の横枠36は、先後方向において各サスペンション群2を挟むように、互いに間隔を空けて配置される。複数の横枠36は、複数の縦枠35と格子状を形成するように、複数の縦枠35に接続されている。横枠36は、サスペンション群2(回路付サスペンション基板5)に対して先後方向に間隔を空けて配置される。   Each of the plurality of horizontal frames 36 has a substantially rectangular shape in plan view extending over the entire left and right direction of the assembly sheet 1. The plurality of horizontal frames 36 are arranged at intervals from each other so as to sandwich the suspension groups 2 in the front-rear direction. The plurality of horizontal frames 36 are connected to the plurality of vertical frames 35 so as to form a grid with the plurality of vertical frames 35. The horizontal frame 36 is disposed at a distance from the suspension group 2 (the suspension board with circuit 5) in the front-rear direction.

複数の接続部12は、複数の回路付サスペンション基板5に対応している。図2に示すように、支持部3は、1つの回路付サスペンション基板5に対して、複数(2つ)の接続部12を備える。   The plurality of connecting portions 12 correspond to the plurality of suspension boards with circuits 5. As shown in FIG. 2, the support portion 3 includes a plurality (two) of connection portions 12 for one suspension board with circuit 5.

各回路付サスペンション基板5に対応する複数の接続部12は、先側接続部37と、後側接続部38とを含む。先側接続部37は、ステージ13と、対応する回路付サスペンション基板5の先側に位置する横枠36とを連結しており、後側接続部38は、サスペンション本体14の後端部と、対応する回路付サスペンション基板5の後側に位置する横枠36とを連結している。   The plurality of connection portions 12 corresponding to each suspension board with circuit 5 include a front side connection portion 37 and a rear side connection portion 38. The front side connection portion 37 connects the stage 13 and the horizontal frame 36 positioned on the front side of the corresponding suspension board with circuit 5, and the rear side connection portion 38 includes a rear end portion of the suspension body 14, and The horizontal frame 36 located behind the corresponding suspension board with circuit 5 is connected.

4.検査部
次に、図2、図3Bおよび図5を参照して、検査部4の詳細について説明する。
4). Next, the details of the inspection unit 4 will be described with reference to FIGS. 2, 3 </ b> B, and 5.

図2および図3Bに示すように、検査部4は、支持部3の縦枠35に設けられる。検査部4は、検査開口部40と、検査絶縁層41と、検査導体層42と、検査カバー層43とを備える。   As shown in FIGS. 2 and 3B, the inspection unit 4 is provided in the vertical frame 35 of the support unit 3. The inspection unit 4 includes an inspection opening 40, an inspection insulating layer 41, an inspection conductor layer 42, and an inspection cover layer 43.

検査開口部40は、縦枠35に形成される。検査開口部40は、先後方向に延びる平面視略矩形状を有する。   The inspection opening 40 is formed in the vertical frame 35. The inspection opening 40 has a substantially rectangular shape in plan view extending in the front-rear direction.

検査絶縁層41は、縦枠35の下面(厚み方向一方側)に配置され、ベース絶縁層8と同一平面上に位置する。検査絶縁層41の材料は、ベース絶縁層8の材料と同じである。検査絶縁層41とベース絶縁層8とは、第1絶縁層の一例を構成する。   The inspection insulating layer 41 is disposed on the lower surface (one side in the thickness direction) of the vertical frame 35 and is located on the same plane as the base insulating layer 8. The material of the inspection insulating layer 41 is the same as the material of the base insulating layer 8. The inspection insulating layer 41 and the base insulating layer 8 constitute an example of a first insulating layer.

図5に示すように、検査絶縁層41は、第1検査絶縁層45と、第2検査絶縁層46とを備える。   As shown in FIG. 5, the inspection insulating layer 41 includes a first inspection insulating layer 45 and a second inspection insulating layer 46.

第1検査絶縁層45は、検査開口部40の後側周縁部に配置されている。第1検査絶縁層45は、左右方向に延びる底面視略矩形状を有している。第1検査絶縁層45の先端縁は、検査開口部40の後端縁よりも先側に位置する。   The first inspection insulating layer 45 is disposed on the rear peripheral edge of the inspection opening 40. The first inspection insulating layer 45 has a substantially rectangular shape in bottom view extending in the left-right direction. The leading edge of the first inspection insulating layer 45 is located on the front side of the trailing edge of the inspection opening 40.

第2検査絶縁層46は、検査開口部40の先側周縁部に配置されており、第1検査絶縁層45に対して先側に間隔を空けて配置される。第2検査絶縁層46は、左右方向に延びる底面視略矩形状を有している。第2検査絶縁層46の後端縁は、検査開口部40の先端縁よりも後側に位置する。   The second inspection insulating layer 46 is disposed at the front peripheral edge of the inspection opening 40, and is disposed at a distance from the first inspection insulating layer 45 on the front side. The second inspection insulating layer 46 has a substantially rectangular shape in bottom view extending in the left-right direction. The rear end edge of the second inspection insulating layer 46 is located behind the front end edge of the inspection opening 40.

図3Bおよび図5に示すように、検査導体層42は、複数の検査用端子47と、複数の検査用配線50とを備える。複数の検査用端子47は、複数の素子実装用端子26と同一の仮想平面上に位置し、複数の検査用配線50は、複数の素子用配線29と同一の仮想平面上に位置する。検査導体層42の材料は、導体パターン9の材料と同じである。検査導体層42と導体パターン9とは、導体層の一例を構成する。そのため、素子実装用端子26および検査用端子47は、導体層に含まれる。   As shown in FIGS. 3B and 5, the inspection conductor layer 42 includes a plurality of inspection terminals 47 and a plurality of inspection wirings 50. The plurality of inspection terminals 47 are located on the same virtual plane as the plurality of element mounting terminals 26, and the plurality of inspection wirings 50 are located on the same virtual plane as the plurality of element wirings 29. The material of the inspection conductor layer 42 is the same as the material of the conductor pattern 9. The inspection conductor layer 42 and the conductor pattern 9 constitute an example of a conductor layer. Therefore, the element mounting terminal 26 and the inspection terminal 47 are included in the conductor layer.

複数の検査用端子47は、後述する回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法において、検査用はんだ57が配置される。複数の検査用端子47は、第1検査用端子48と、第2検査用端子49とを含む。   A plurality of inspection terminals 47 are provided with inspection solder 57 in a method of manufacturing a suspension board assembly with circuit described later. The plurality of inspection terminals 47 include a first inspection terminal 48 and a second inspection terminal 49.

第1検査用端子48は、第1検査絶縁層45の先端縁に対して先側に隣接している。これにより、第1検査用端子48は、回路付サスペンション基板5の厚み方向と直交する方向において、検査絶縁層41と隣接する。第1検査用端子48は、隣接する第1検査絶縁層45から離れるように延び、上側から見て枠体11および検査絶縁層41から露出している。   The first inspection terminal 48 is adjacent to the leading end of the first inspection insulating layer 45 on the front side. Thus, the first inspection terminal 48 is adjacent to the inspection insulating layer 41 in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit 5. The first inspection terminal 48 extends away from the adjacent first inspection insulating layer 45 and is exposed from the frame 11 and the inspection insulating layer 41 when viewed from above.

図2に示すように、第1検査用端子48は、左右方向(複数の回路付サスペンション基板5の並列方向の一例)に投影したときに、複数の第1実装用端子30のうち少なくとも1つの第1実装用端子30と重なるように配置される。なお、本実施形態では、図1に示すように、第1検査用端子48は、左右方向に投影したときに、全ての第1実装用端子30と重なるように配置されている。   As shown in FIG. 2, when the first inspection terminal 48 is projected in the left-right direction (an example of the parallel direction of the plurality of suspension boards with circuit 5), at least one of the plurality of first mounting terminals 30 is used. It arrange | positions so that it may overlap with the terminal 30 for 1st mounting. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the first inspection terminals 48 are arranged so as to overlap all the first mounting terminals 30 when projected in the left-right direction.

図2に示すように、第1検査用端子48は、平面視略矩形状を有する。第1検査用端子48の左右方向の寸法は、第1実装用端子30の左右方向の寸法を100としたときに、例えば、100±10であり、好ましくは、100である。第1検査用端子48の先後方向の寸法は、第1実装用端子30の先後方向の寸法を100としたときに、例えば、100±10であり、好ましくは、100である。第1検査用端子48の面積は、第1実装用端子30の面積の寸法を100としたときに、例えば、100±10であり、好ましくは、100である。   As shown in FIG. 2, the first inspection terminal 48 has a substantially rectangular shape in plan view. The dimension in the left-right direction of the first inspection terminal 48 is, for example, 100 ± 10, preferably 100, where 100 is the dimension in the left-right direction of the first mounting terminal 30. The front-rear direction dimension of the first inspection terminal 48 is, for example, 100 ± 10, preferably 100, where the front-rear direction dimension of the first mounting terminal 30 is 100. The area of the first inspection terminal 48 is, for example, 100 ± 10, preferably 100, where the dimension of the area of the first mounting terminal 30 is 100.

図3Bおよび図5に示すように、第2検査用端子49は、第2検査絶縁層46の後端縁に対して後側に隣接しており、第1検査用端子48に対して先側に間隔を空けて配置されている。これにより、第2検査用端子49は、回路付サスペンション基板5の厚み方向と直交する方向において、検査絶縁層41と隣接する。第2検査用端子49は、隣接する第2検査絶縁層46から離れるように延び、上側から見て枠体11および検査絶縁層41から露出している。   As shown in FIGS. 3B and 5, the second inspection terminal 49 is adjacent to the rear end edge of the second inspection insulating layer 46 on the rear side, and the front side with respect to the first inspection terminal 48. Are arranged at intervals. Thus, the second inspection terminal 49 is adjacent to the inspection insulating layer 41 in the direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit 5. The second inspection terminal 49 extends away from the adjacent second inspection insulating layer 46 and is exposed from the frame 11 and the inspection insulating layer 41 when viewed from above.

また、図2に示すように、第2検査用端子49は、左右方向に投影したときに、複数の第2実装用端子31のうち少なくとも1つの第2実装用端子31と重なるように配置されている。なお、本実施形態では、図1に示すように、第2検査用端子49は、左右方向に投影したときに、全ての第2実装用端子31と重なるように配置されている。   As shown in FIG. 2, the second inspection terminal 49 is arranged so as to overlap with at least one second mounting terminal 31 among the plurality of second mounting terminals 31 when projected in the left-right direction. ing. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the second inspection terminals 49 are arranged so as to overlap all the second mounting terminals 31 when projected in the left-right direction.

第2検査用端子49は、平面視略矩形状を有する。第2検査用端子49の左右方向の寸法は、第2実装用端子31の左右方向の寸法を100としたときに、例えば、100±10であり、好ましくは、100である。第2検査用端子49の先後方向の寸法は、第2実装用端子31の先後方向の寸法を100としたときに、例えば、100±10であり、好ましくは、100である。第2検査用端子49の面積は、第2実装用端子31の面積の寸法を100としたときに、例えば、100±10であり、好ましくは、100である。   The second inspection terminal 49 has a substantially rectangular shape in plan view. The dimension in the left-right direction of the second inspection terminal 49 is, for example, 100 ± 10, preferably 100, where the dimension in the left-right direction of the second mounting terminal 31 is 100. The front-rear direction dimension of the second inspection terminal 49 is, for example, 100 ± 10, preferably 100, where the front-rear direction dimension of the second mounting terminal 31 is 100. The area of the second inspection terminal 49 is, for example, 100 ± 10, preferably 100, where the dimension of the area of the second mounting terminal 31 is 100.

また、図3Bに示すように、複数の検査用端子47(第1検査用端子48および第2検査用端子49)の上面には、複数の素子実装用端子26と同様にめっき層32が設けられる。   Further, as shown in FIG. 3B, a plating layer 32 is provided on the upper surfaces of the plurality of inspection terminals 47 (the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49) in the same manner as the plurality of element mounting terminals 26. It is done.

複数(2つ)の検査用配線50は、複数の検査用端子47に接続される。詳しくは、複数の検査用配線50は、第1検査用端子48に接続される第1検査用配線51と、第2検査用端子49に接続される第2検査用配線52とを含む。   A plurality (two) of inspection wirings 50 are connected to a plurality of inspection terminals 47. Specifically, the plurality of inspection wirings 50 include a first inspection wiring 51 connected to the first inspection terminal 48 and a second inspection wiring 52 connected to the second inspection terminal 49.

第1検査用配線51は、第1検査用端子48の後端部に接続され、第1検査用端子48と段差を形成するように、第1検査絶縁層45上に配置される。第2検査用配線52は、第2検査用端子49の先端部に接続され、第2検査用端子49と段差を形成するように、第2検査絶縁層46上に配置される。   The first inspection wiring 51 is connected to the rear end portion of the first inspection terminal 48 and is disposed on the first inspection insulating layer 45 so as to form a step with the first inspection terminal 48. The second inspection wiring 52 is connected to the distal end portion of the second inspection terminal 49 and is disposed on the second inspection insulating layer 46 so as to form a step with the second inspection terminal 49.

検査カバー層43は、検査導体層42を被覆するように、検査導体層42の下面(厚み方向一方側)および検査導体層42から露出する検査絶縁層41の下面(厚み方向一方側)に配置されている。検査カバー層43は、カバー絶縁層10と同一の仮想平面上に位置する。検査カバー層43の材料は、カバー絶縁層10の材料と同じである。検査カバー層43とカバー絶縁層10とは、第2絶縁層の一例を構成する。   The inspection cover layer 43 is disposed on the lower surface (one side in the thickness direction) of the inspection conductor layer 42 and the lower surface (one side in the thickness direction) of the inspection insulating layer 41 exposed from the inspection conductor layer 42 so as to cover the inspection conductor layer 42. Has been. The inspection cover layer 43 is located on the same virtual plane as the cover insulating layer 10. The material of the inspection cover layer 43 is the same as the material of the cover insulating layer 10. The inspection cover layer 43 and the cover insulating layer 10 constitute an example of a second insulating layer.

検査カバー層43は、第1検査用端子48および第2検査用端子49のそれぞれの下面に加えて、第1検査用端子48および第2検査用端子49のそれぞれの周端面を被覆している。これにより、第1検査用端子48および第2検査用端子49のそれぞれは、回路付サスペンション基板5の厚み方向と直交する方向において、検査カバー層43と隣接する。   The inspection cover layer 43 covers the respective peripheral end surfaces of the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49 in addition to the lower surfaces of the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49. . Thereby, each of the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49 is adjacent to the inspection cover layer 43 in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit 5.

5.回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法
次に、図6A〜図9を参照して、本発明の回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法の一実施形態について説明する。
5. Manufacturing Method of Suspension Board Assembly with Circuit Next, an embodiment of a manufacturing method of the suspension board assembly with circuit of the present invention will be described with reference to FIGS.

回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法では、まず、図1に示す集合体シート1を準備する(第1工程)。   In the manufacturing method of the suspension board assembly with circuit, first, the assembly sheet 1 shown in FIG. 1 is prepared (first step).

次いで、図6Aおよび図6Bに示すように、素子実装用端子26上に接続用はんだ56を配置するとともに、検査用端子47上に検査用はんだ57を配置する(第2工程)。   Next, as shown in FIGS. 6A and 6B, the connection solder 56 is disposed on the element mounting terminal 26, and the inspection solder 57 is disposed on the inspection terminal 47 (second step).

詳しくは、公知の方法(例えば、公知の印刷機による印刷、ディスペンサーによる塗布など)により、複数の素子実装用端子26(第1実装用端子30および第2実装用端子31)のめっき層32の上面、および、複数の検査用端子47(第1検査用端子48および第2検査用端子49)のめっき層32の上面に、はんだを同時に配置する。   Specifically, the plating layers 32 of the plurality of element mounting terminals 26 (first mounting terminal 30 and second mounting terminal 31) are formed by a known method (for example, printing by a known printing machine, application by a dispenser, etc.). Solder is simultaneously arranged on the upper surface and the upper surface of the plating layer 32 of the plurality of inspection terminals 47 (first inspection terminal 48 and second inspection terminal 49).

本実施形態において、印刷機やディスペンサーの移動方向(プリント方向)は、左右方向であって、左右方向に並ぶ複数の素子実装用端子26および複数の検査用端子47に、はんだを一括して配置する。   In this embodiment, the moving direction (printing direction) of the printing press or dispenser is the left-right direction, and solder is collectively disposed on the plurality of element mounting terminals 26 and the plurality of inspection terminals 47 arranged in the left-right direction. To do.

はんだは、例えば、Sn、Ag、Cu、Bi、Ni、Inなどを含有しており、好ましくは、SnとAgとCuとのみからなる。素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56と、検査用端子47上に配置される検査用はんだ57とは、互いに同じ組成を有する。   The solder contains, for example, Sn, Ag, Cu, Bi, Ni, In, and the like, and preferably includes only Sn, Ag, and Cu. The connection solder 56 disposed on the element mounting terminal 26 and the inspection solder 57 disposed on the inspection terminal 47 have the same composition.

各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積は、例えば、1×10−8cm以上、好ましくは、1×10−7cm以上、例えば、1×10−5cm以下、好ましくは、1×10−6cm以下である。また、各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積は、単位面積当たり、例えば、1×10−5cm/cm以上、好ましくは、1×10−4cm/cm以上、例えば、1×10−2cm/cm以下、好ましくは、1×10−3cm/cm以下である。 The volume of the connection solder 56 disposed in each element mounting terminal 26 is, for example, 1 × 10 −8 cm 3 or more, preferably 1 × 10 −7 cm 3 or more, for example, 1 × 10 −5 cm 3. Hereinafter, it is preferably 1 × 10 −6 cm 3 or less. Moreover, the volume of the connection solder 56 disposed in each element mounting terminal 26 is, for example, 1 × 10 −5 cm 3 / cm 2 or more per unit area, preferably 1 × 10 −4 cm 3 / cm. 2 or more, for example, 1 × 10 −2 cm 3 / cm 2 or less, preferably 1 × 10 −3 cm 3 / cm 2 or less.

各接続用はんだ56の体積が上記下限以上であれば、圧電素子58を確実にセルフアライメントさせることができ、圧電素子58の位置精度の向上を図ることができる。各接続用はんだ56の体積が上記上限以下であれば、リフロー(第4工程)後の接続用はんだ56の厚みの低減を図ることができる。   If the volume of each connecting solder 56 is equal to or greater than the lower limit, the piezoelectric element 58 can be surely self-aligned, and the positional accuracy of the piezoelectric element 58 can be improved. If the volume of each connecting solder 56 is not more than the above upper limit, the thickness of the connecting solder 56 after reflow (fourth step) can be reduced.

各検査用端子47上に配置される検査用はんだ57の体積は、各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積と略同じであり、例えば、各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積を100としたときに、100±10であり、好ましくは、100である。   The volume of the inspection solder 57 disposed on each inspection terminal 47 is substantially the same as the volume of the connection solder 56 disposed on each element mounting terminal 26. For example, the volume is disposed on each element mounting terminal 26. When the volume of the connecting solder 56 is 100, it is 100 ± 10, preferably 100.

次いで、図7に示すように、電子素子の一例としての圧電素子58を接続用はんだ56と接触するように配置する(第3工程)。   Next, as shown in FIG. 7, a piezoelectric element 58 as an example of an electronic element is disposed so as to be in contact with the connection solder 56 (third step).

圧電素子58は、先後方向に伸縮可能なアクチュエータであって、電気が供給され、その電圧が制御されることによって伸縮する。本実施形態において、圧電素子58は、各回路付サスペンション基板5に対して2つ実装される。   The piezoelectric element 58 is an actuator that can be expanded and contracted in the front-rear direction, and expands and contracts when electricity is supplied and the voltage is controlled. In the present embodiment, two piezoelectric elements 58 are mounted on each suspension board with circuit 5.

圧電素子58は、例えば、公知の圧電材料、より具体的には、圧電セラミックスなどから形成されている。   The piezoelectric element 58 is made of, for example, a known piezoelectric material, more specifically, a piezoelectric ceramic.

圧電セラミックスとして、例えば、BaTiO(チタン酸バリウム)、PbTiO(チタン酸鉛)、Pb(Zr,Ti)O(ジルコン酸チタン酸鉛(PZT))、SiO(水晶)、LiNbO(ニオブ酸リチウム)、PbNb(メタニオブ酸鉛)などが挙げられ、好ましくは、PZTが挙げられる。 Examples of piezoelectric ceramics include BaTiO 3 (barium titanate), PbTiO 3 (lead titanate), Pb (Zr, Ti) O 3 (lead zirconate titanate (PZT)), SiO 2 (quartz), LiNbO 3 ( Lithium niobate), PbNb 2 O 6 (lead metaniobate) and the like, preferably PZT.

また、圧電素子58は、複数の素子端子61を備える。複数の素子端子61は、複数の素子実装用端子26に対応しており、第1素子端子59と、第2素子端子60とを含む。第1素子端子59および第2素子端子60は、先後方向に互いに間隔を空けて配置されている。   The piezoelectric element 58 includes a plurality of element terminals 61. The plurality of element terminals 61 correspond to the plurality of element mounting terminals 26 and include a first element terminal 59 and a second element terminal 60. The 1st element terminal 59 and the 2nd element terminal 60 are arrange | positioned at intervals at the front-back direction.

そして、第3工程では、圧電素子58を、第1素子端子59が第1実装用端子30上の接続用はんだ56と接触するとともに、第2素子端子60が第2実装用端子31上の接続用はんだ56と接触するように配置する。なお、図6Bに示すように、検査部4には、圧電素子58が配置されない。   In the third step, the first element terminal 59 is in contact with the connection solder 56 on the first mounting terminal 30 and the second element terminal 60 is connected to the second mounting terminal 31 in the third step. It arrange | positions so that the solder 56 may be contacted. Note that, as shown in FIG. 6B, the piezoelectric element 58 is not disposed in the inspection unit 4.

また、はんだの配置(第2工程)から圧電素子58の配置(第3工程)までの時間は、例えば、60分以下、好ましくは、5分以下である。   The time from the placement of solder (second step) to the placement of piezoelectric elements 58 (third step) is, for example, 60 minutes or less, preferably 5 minutes or less.

第2工程から第3工程までの時間が上記の範囲であれば、接続用はんだ56および検査用はんだ57の劣化を抑制できる。   If the time from the second step to the third step is in the above range, the deterioration of the connection solder 56 and the inspection solder 57 can be suppressed.

次いで、図8Aおよび図8Bに示すように、圧電素子58が配置された集合体シート1を加熱(リフロー)して、接続用はんだ56を溶解し、圧電素子58と複数の素子実装用端子26とを接合するとともに、検査用はんだ57を溶解する(第4工程)。   Next, as shown in FIGS. 8A and 8B, the assembly sheet 1 on which the piezoelectric elements 58 are arranged is heated (reflowed) to melt the connection solder 56, and the piezoelectric elements 58 and the plurality of element mounting terminals 26. And the inspection solder 57 are melted (fourth step).

加熱温度(リフロー温度)は、はんだの組成により適宜変更されるが、例えば、120℃以上、好ましくは、130℃以上、例えば、280℃以下、好ましくは、260℃以下である。また、はんだがSnとAgとCuとのみからなる場合、加熱温度(リフロー温度)は、例えば、230℃以上、好ましくは、240℃以上、例えば、280℃以下、好ましくは、260℃以下である。   The heating temperature (reflow temperature) is appropriately changed depending on the composition of the solder, and is, for example, 120 ° C. or higher, preferably 130 ° C. or higher, for example, 280 ° C. or lower, preferably 260 ° C. or lower. When the solder consists only of Sn, Ag, and Cu, the heating temperature (reflow temperature) is, for example, 230 ° C. or higher, preferably 240 ° C. or higher, for example, 280 ° C. or lower, preferably 260 ° C. or lower. .

加熱温度が上記の範囲であれば、第4工程後において、各接続用はんだ56の体積と各検査用はんだ57の体積との相関を確実に確保できる。   If the heating temperature is in the above range, the correlation between the volume of each connection solder 56 and the volume of each inspection solder 57 can be reliably ensured after the fourth step.

加熱時間(リフロー時間)は、例えば、3秒以上、好ましくは、5秒以上、例えば、300秒以下、好ましくは、200秒以下である。   The heating time (reflow time) is, for example, 3 seconds or more, preferably 5 seconds or more, for example, 300 seconds or less, preferably 200 seconds or less.

加熱時間が上記の範囲であれば、第4工程後において、各接続用はんだ56の体積と各検査用はんだ57の体積との相関を確実に確保できる。   If the heating time is within the above range, the correlation between the volume of each connection solder 56 and the volume of each inspection solder 57 can be reliably ensured after the fourth step.

また、第4工程では、圧電素子58は、図9に示すように、セルフアライメントされる。詳しくは、図7に示す圧電素子58を配置する工程において、圧電素子58が所定位置からずれて、左右方向に傾くように配置される場合がある。この場合、上下方向から見て、第1素子端子59の中央と第1実装用端子30の中央とがずれて位置するとともに、第2素子端子60の中央と第2実装用端子31の中央とがずれて位置する。   In the fourth step, the piezoelectric element 58 is self-aligned as shown in FIG. Specifically, in the step of disposing the piezoelectric element 58 shown in FIG. 7, the piezoelectric element 58 may be disposed so as to be shifted from the predetermined position and tilted in the left-right direction. In this case, the center of the first element terminal 59 and the center of the first mounting terminal 30 are shifted from each other when viewed from the vertical direction, and the center of the second element terminal 60 and the center of the second mounting terminal 31 are Is located out of position.

そして、圧電素子58が配置された集合体シート1がリフローされると、接続用はんだ56が、第1実装用端子30および第2実装用端子31のそれぞれの上面(詳しくはめっき層32)全体に濡れ広がるように溶融する(図8A参照)。   When the assembly sheet 1 on which the piezoelectric elements 58 are arranged is reflowed, the connection solder 56 is applied to the entire upper surfaces (specifically, the plating layer 32) of the first mounting terminals 30 and the second mounting terminals 31. It melts so as to spread out wet (see FIG. 8A).

このとき、溶融した接続用はんだ56の表面張力により、上下方向から見て、第1素子端子59の中央と第1実装用端子30の中央とが一致するとともに、第2素子端子60の中央と第2実装用端子31の中央とが一致するように、圧電素子58に力が加わる。これによって、圧電素子58が、所定位置からずれた状態から所定位置に向かってセルフアライメントされる。   At this time, the center of the first element terminal 59 and the center of the first mounting terminal 30 coincide with each other and the center of the second element terminal 60 is seen from the vertical direction due to the surface tension of the molten connection solder 56. A force is applied to the piezoelectric element 58 so that the center of the second mounting terminal 31 coincides with the center. Thereby, the piezoelectric element 58 is self-aligned from the state shifted from the predetermined position toward the predetermined position.

そして、図8Aに示すように、接続用はんだ56が、第1実装用端子30および第2実装用端子31と、第1素子端子59および第2素子端子60とを接合する。   8A, the connecting solder 56 joins the first mounting terminal 30 and the second mounting terminal 31, and the first element terminal 59 and the second element terminal 60 together.

これにより、接続用はんだ56は、各素子端子61と各素子実装用端子26との間(第1素子端子59と第1実装用端子30との間、および、第2素子端子60と第2実装用端子31との間)に配置される。また、接続用はんだ56は、各素子端子61と各素子実装用端子26とを電気的に接続する。つまり、各素子実装用端子26は、実装される圧電素子58と接続用はんだ56を介して電気的に接続される。   Thereby, the connecting solder 56 is provided between each element terminal 61 and each element mounting terminal 26 (between the first element terminal 59 and the first mounting terminal 30, and between the second element terminal 60 and the second element terminal 60. (Between the mounting terminals 31). The connection solder 56 electrically connects each element terminal 61 and each element mounting terminal 26. That is, each element mounting terminal 26 is electrically connected to the piezoelectric element 58 to be mounted via the connection solder 56.

また、図8Bに示すように、検査用はんだ57は、集合体シート1がリフローされると、接続用はんだ56と同様に、第1検査用端子48および第2検査用端子49のそれぞれの上面(詳しくはめっき層32)全体に濡れ広がるように溶融する(図8B参照)。   Further, as shown in FIG. 8B, when the assembly sheet 1 is reflowed, the inspection solder 57 is similar to the connection solder 56 in the respective upper surfaces of the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49. (In detail, the plating layer 32) melts so as to spread over the entire surface (see FIG. 8B).

次いで、各検査用端子47上に濡れ広がった検査用はんだ57の体積を測定して、各素子端子61と各素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積を検査する(第5工程)。   Next, the volume of the inspection solder 57 wetted and spread on each inspection terminal 47 is measured to inspect the volume of the connection solder 56 positioned between each element terminal 61 and each element mounting terminal 26 ( (5th process).

検査用はんだ57の体積の測定方法として、例えば、公知の3次元光学方式の外観測定が挙げられ、好ましくは、自動光学測定(AOI)、レーザ顕微鏡測定などが挙げられ、コストの観点からさらに好ましくは、レーザ顕微鏡測定が挙げられる。   Examples of the method for measuring the volume of the inspection solder 57 include a known three-dimensional optical system appearance measurement, preferably automatic optical measurement (AOI), laser microscope measurement, and the like, and more preferable from the viewpoint of cost. Includes laser microscope measurement.

各検査用はんだ57の体積は、例えば、1×10−8cm以上、好ましくは、1×10−7cm以上、例えば、1×10−5cm以下、好ましくは、1×10−6cm以下である。 The volume of each test solder 57, for example, 1 × 10 -8 cm 3 or more, preferably, 1 × 10 -7 cm 3 or more, e.g., 1 × 10 -5 cm 3 or less, preferably, 1 × 10 - 6 cm 3 or less.

また、各検査用はんだ57の体積は、単位面積当たり、例えば、1×10−5cm/cm以上、好ましくは、1×10−4cm/cm以上、例えば、1×10−2cm/cm以下、好ましくは、1×10−3cm/cm以下である。 The volume of each inspection solder 57 per unit area is, for example, 1 × 10 −5 cm 3 / cm 2 or more, preferably 1 × 10 −4 cm 3 / cm 2 or more, for example, 1 × 10 − It is 2 cm 3 / cm 2 or less, preferably 1 × 10 −3 cm 3 / cm 2 or less.

ここで、検査用はんだ57の体積と接続用はんだ56の体積とは、相関関係にある。例えば、各検査用はんだ57の体積は、各接続用はんだ56の体積を100としたときに、例えば、100±30であり、好ましくは、100である。   Here, the volume of the solder 57 for inspection and the volume of the solder 56 for connection have a correlation. For example, the volume of each inspection solder 57 is, for example, 100 ± 30, preferably 100, where the volume of each connection solder 56 is 100.

これによって、各素子端子61と各素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積が検査される。   Thus, the volume of the connecting solder 56 located between each element terminal 61 and each element mounting terminal 26 is inspected.

また、各接続用はんだ56の体積の検査結果から、圧電素子58の位置精度(先後および左右方向(XY方向)および上下(Z方向))の良否が判断される。   Further, from the inspection result of the volume of each connection solder 56, the quality of the position of the piezoelectric element 58 (front and rear, left and right direction (XY direction) and up and down (Z direction)) is judged.

詳しくは、各接続用はんだ56の体積が、単位面積当たり、例えば、1×10−4cm/cm以上5×10−3cm/cm以下であると、圧電素子58の位置精度が良であると判断される。 Specifically, when the volume of each connection solder 56 is, for example, 1 × 10 −4 cm 3 / cm 2 or more and 5 × 10 −3 cm 3 / cm 2 or less per unit area, the positional accuracy of the piezoelectric element 58 is determined. Is judged to be good.

このとき、各接続用はんだ56の厚みは、例えば、3μm以上、好ましくは、10μm以上、さらに好ましくは、15μm以上、例えば、50μm以下、好ましくは、40μm以下、さらに好ましくは、30μm以下、とりわけ好ましくは、25μm以下である。   At this time, the thickness of each connection solder 56 is, for example, 3 μm or more, preferably 10 μm or more, more preferably 15 μm or more, for example, 50 μm or less, preferably 40 μm or less, more preferably 30 μm or less, and particularly preferably. Is 25 μm or less.

各接続用はんだ56の厚みが、上記下限以上であると、圧電素子58を安定してセルフアライメントさせることができ、先後および左右方向(XY方向)における圧電素子58の位置精度を確実に確保することができる。   When the thickness of each connection solder 56 is equal to or greater than the above lower limit, the piezoelectric element 58 can be stably self-aligned, and the positional accuracy of the piezoelectric element 58 in the front and rear direction (XY direction) is reliably ensured. be able to.

各接続用はんだ56の厚みが、上記上限以下であると、回路付サスペンション基板5がハードディスクドライブ(図示せず)に搭載されたときに、圧電素子58が周囲の部材と接触することを抑制できる。   When the thickness of each connection solder 56 is equal to or less than the above upper limit, the piezoelectric element 58 can be prevented from coming into contact with surrounding members when the suspension board with circuit 5 is mounted on a hard disk drive (not shown). .

具体的には、回路付サスペンション基板5は、サスペンション本体14(図2参照)がロードビーム66に支持されることにより、ハードディスクドライブ(図示せず)に搭載される。このとき、ロードビーム66の先端部は、圧電素子58に対して上側(厚み方向他方側)に位置する。そのため、各接続用はんだ56の厚みが上記の範囲内を超過すると、圧電素子58とロードビーム66とが接触する。一方、各接続用はんだ56の厚みが上記上限以下であると、圧電素子58とロードビーム66との接触を抑制することができる。   Specifically, the suspension board with circuit 5 is mounted on a hard disk drive (not shown) by supporting the suspension body 14 (see FIG. 2) on the load beam 66. At this time, the tip end portion of the load beam 66 is located on the upper side (the other side in the thickness direction) with respect to the piezoelectric element 58. Therefore, when the thickness of each connecting solder 56 exceeds the above range, the piezoelectric element 58 and the load beam 66 come into contact with each other. On the other hand, when the thickness of each connection solder 56 is not more than the above upper limit, the contact between the piezoelectric element 58 and the load beam 66 can be suppressed.

また、各接続用はんだ56の体積が、単位面積当たり、例えば、1×10−4cm/cm未満であるか、例えば、5×10−3cm/cmを超過すると、圧電素子58の位置精度が不良であると判断される。 Further, when the volume of each connection solder 56 is less than 1 × 10 −4 cm 3 / cm 2 per unit area, or exceeds 5 × 10 −3 cm 3 / cm 2 , for example, the piezoelectric element It is determined that the position accuracy of 58 is poor.

この場合、各検査用はんだの体積の測定結果および各接続用はんだ56の体積の検査結果をフィードバックして、第2工程におけるはんだの配置量(印刷量)、はんだの配置(第2工程)から圧電素子58の配置(第3工程)までの時間、第4工程における加熱条件(温度および時間)などを適宜調整する。   In this case, the measurement result of the volume of each inspection solder and the inspection result of the volume of each connection solder 56 are fed back to determine the solder placement amount (printing amount) and solder placement (second step) in the second step. The time until the arrangement of the piezoelectric elements 58 (third step), the heating conditions (temperature and time) in the fourth step, and the like are appropriately adjusted.

以上によって、圧電素子58が実装される回路付サスペンション基板アセンブリ55が製造される。回路付サスペンション基板アセンブリ55は、集合体シート1と、圧電素子58と、各素子端子61と各素子実装用端子26との間に配置される接続用はんだ56と、各検査用端子47上に配置される検査用はんだ57とを備える。   Thus, the suspension board assembly with circuit 55 on which the piezoelectric element 58 is mounted is manufactured. The suspension board assembly with circuit 55 is formed on the assembly sheet 1, the piezoelectric element 58, the connection solder 56 disposed between each element terminal 61 and each element mounting terminal 26, and each inspection terminal 47. And an inspection solder 57 to be arranged.

その後、必要により、複数の回路付サスペンション基板5は、接続部12が切断されて、支持部3から分離される。   Thereafter, if necessary, the plurality of suspension boards with circuit 5 are separated from the support part 3 by cutting the connection part 12.

集合体シート1では、図8Aおよび図8Bに示すように、回路付サスペンション基板5の素子実装用端子26には、電子素子と素子実装用端子26とを電気的に接続する接続用はんだ56を配置でき、検査部4の検査用端子47には、接続用はんだ56と略同じ体積の検査用はんだ57を配置することができる。   In the assembly sheet 1, as shown in FIG. 8A and FIG. 8B, a connection solder 56 that electrically connects the electronic element and the element mounting terminal 26 is provided on the element mounting terminal 26 of the suspension board with circuit 5. An inspection solder 57 having substantially the same volume as the connection solder 56 can be disposed on the inspection terminal 47 of the inspection unit 4.

検査用端子47は、検査用はんだ57を配置する端子であって電子素子は接続されないため、電子素子が邪魔になることなく、検査用はんだ57の体積を精度よく、3次元光学方式の外観測定などで測定することができる。   The inspection terminal 47 is a terminal on which the inspection solder 57 is arranged, and an electronic element is not connected. Therefore, the volume of the inspection solder 57 is accurately measured without disturbing the electronic element. Etc. can be measured.

その結果、検査用はんだ57の体積の測定結果から、圧電素子58と素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積を精度よく検査することができ、ひいては、圧電素子58の位置を精度よく検査することができる。これによって、集合体シート1の製造効率の向上を図ることができる。   As a result, the volume of the connecting solder 56 positioned between the piezoelectric element 58 and the element mounting terminal 26 can be accurately inspected from the measurement result of the volume of the inspection solder 57, and as a result, The position can be inspected with high accuracy. Thereby, the manufacturing efficiency of the assembly sheet 1 can be improved.

また、図1および図2に示すように、検査部4は、複数の回路付サスペンション基板5を一括して支持する支持部3に設けられている。そのため、検査部4を配置するためのスペースを回路付サスペンション基板5に確保する必要がなく、回路付サスペンション基板5の小型化を図ることができる。   As shown in FIGS. 1 and 2, the inspection unit 4 is provided on a support unit 3 that collectively supports a plurality of suspension boards with circuits 5. Therefore, it is not necessary to secure a space for arranging the inspection unit 4 in the suspension board with circuit 5, and the suspension board with circuit 5 can be downsized.

また、複数の回路付サスペンション基板5および検査部4のそれぞれが支持部3を介して一体であるので、素子実装用端子26および検査用端子47のそれぞれに略同じ体積のはんだを安定して配置することができ、各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積と、各検査用端子47に配置される検査用はんだ57の体積との相関を安定して確保することができる。その結果、検査用はんだ57の体積の測定結果から、圧電素子58と素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積をより精度よく検査することができる。   In addition, since each of the plurality of suspension boards with circuit 5 and the inspection unit 4 is integrated with each other via the support unit 3, substantially the same volume of solder is stably disposed on each of the element mounting terminal 26 and the inspection terminal 47. Thus, the correlation between the volume of the connection solder 56 disposed on each element mounting terminal 26 and the volume of the inspection solder 57 disposed on each inspection terminal 47 can be stably secured. . As a result, the volume of the connection solder 56 positioned between the piezoelectric element 58 and the element mounting terminal 26 can be inspected with higher accuracy from the measurement result of the volume of the inspection solder 57.

また、図2に示すように、検査用端子47は、左右方向に投影したときに、複数の素子実装用端子26の全てと重なるように配置されている。そのため、ディスペンサーなどの移動方向(プリント方向)を左右方向とすることにより、各検査用端子47と各素子実装用端子26とのそれぞれに略同じ体積のはんだをより安定して配置することができる。その結果、各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積と、各検査用端子47に配置される検査用はんだ57の体積との相関をより安定して確保することができる。   In addition, as shown in FIG. 2, the inspection terminal 47 is disposed so as to overlap all of the plurality of element mounting terminals 26 when projected in the left-right direction. Therefore, by setting the moving direction (printing direction) of the dispenser or the like to the left-right direction, it is possible to more stably dispose substantially the same volume of solder on each inspection terminal 47 and each element mounting terminal 26. . As a result, the correlation between the volume of the connection solder 56 disposed on each element mounting terminal 26 and the volume of the inspection solder 57 disposed on each inspection terminal 47 can be more stably ensured.

また、図5に示すように、回路付サスペンション基板5が、素子実装用端子26に加えて、磁気ヘッドと電気的に接続される磁気ヘッド用端子25を備えているので、回路付サスペンション基板5に、図示しない磁気ヘッドおよび圧電素子58を実装することができる。   Further, as shown in FIG. 5, since the suspension board with circuit 5 includes a magnetic head terminal 25 electrically connected to the magnetic head in addition to the element mounting terminal 26, the suspension board with circuit 5 In addition, a magnetic head and a piezoelectric element 58 (not shown) can be mounted.

また、図3Aおよび図3Bに示すように、検査用端子47が検査導体層42に含まれる。そのため、検査用はんだ57を検査用端子47に安定して配置することができる。   Further, as shown in FIGS. 3A and 3B, the inspection terminal 47 is included in the inspection conductor layer 42. Therefore, the inspection solder 57 can be stably disposed on the inspection terminal 47.

また、素子実装用端子26は、導体パターン9に含まれ、ベース絶縁層8およびカバー絶縁層10と隣接し、検査用端子47が、検査導体層42に含まれ、検査絶縁層41および検査カバー層43と隣接する。そのため、素子実装用端子26と検査用端子47とを同様の構成にすることができる。その結果、検査用端子47と素子実装用端子26とのそれぞれに略同じ体積のはんだをより一層安定して配置することができ、各接続用はんだ56の体積と、各検査用はんだ57の体積との相関をより一層安定して確保することができる。
また、図8Aおよび図8Bに示すように、回路付サスペンション基板アセンブリ55では、検査用はんだ57が、電子素子に接続されない検査用端子47上に配置されるので、検査用はんだ57の体積を精度よく測定することができる。そのため、検査用はんだ57の体積の測定結果から、圧電素子58と素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積を精度よく検査でき、ひいては、圧電素子58の位置を精度よく検査することができる。
The element mounting terminal 26 is included in the conductor pattern 9 and is adjacent to the base insulating layer 8 and the cover insulating layer 10. The inspection terminal 47 is included in the inspection conductor layer 42, and the inspection insulating layer 41 and the inspection cover are included. Adjacent to layer 43. Therefore, the element mounting terminal 26 and the inspection terminal 47 can have the same configuration. As a result, approximately the same volume of solder can be more stably disposed on each of the inspection terminal 47 and the element mounting terminal 26. The volume of each connection solder 56 and the volume of each inspection solder 57 Can be more stably ensured.
Further, as shown in FIGS. 8A and 8B, in the suspension board assembly with circuit 55, the inspection solder 57 is disposed on the inspection terminal 47 that is not connected to the electronic element. It can be measured well. Therefore, from the measurement result of the volume of the inspection solder 57, the volume of the connection solder 56 positioned between the piezoelectric element 58 and the element mounting terminal 26 can be inspected with high accuracy. As a result, the position of the piezoelectric element 58 can be accurately detected. Can be inspected.

また、回路付サスペンション基板アセンブリ55の製造方法では、図8Aおよび図9に示すように、第4工程において、検査用はんだ57を溶解するとともに、接続用はんだ56を溶解し、圧電素子58をセルフアライメントさせながら、圧電素子58と素子実装用端子26とを接合する。そのため、圧電素子58の位置精度の向上を図ることができる。   Further, in the method of manufacturing the suspension board assembly with circuit 55, as shown in FIGS. 8A and 9, in the fourth step, the inspection solder 57 is melted, the connection solder 56 is melted, and the piezoelectric element 58 is self-assembled. The piezoelectric element 58 and the element mounting terminal 26 are joined while being aligned. Therefore, the positional accuracy of the piezoelectric element 58 can be improved.

その後、図8Bに示すように、溶解された検査用はんだ57の体積を測定して、圧電素子58と素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積を検査するので、検査用はんだ57の体積の測定結果から、圧電素子58と素子実装用端子26との間に位置する接続用はんだ56の体積を精度よく検査することができ、ひいては、圧電素子58の位置を精度よく検査することができる。   Thereafter, as shown in FIG. 8B, the volume of the melted inspection solder 57 is measured, and the volume of the connection solder 56 located between the piezoelectric element 58 and the element mounting terminal 26 is inspected. From the measurement result of the volume of the solder for solder 57, the volume of the connecting solder 56 located between the piezoelectric element 58 and the element mounting terminal 26 can be inspected with high accuracy. As a result, the position of the piezoelectric element 58 can be accurately detected. Can be inspected.

<第2実施形態>
次に、図10を参照して、本発明の第2実施形態としての集合体シート1を説明する。なお、第2実施形態では、上記した第1実施形態と同様の部材には同様の符号を付し、その説明を省略する。
Second Embodiment
Next, with reference to FIG. 10, the assembly sheet | seat 1 as 2nd Embodiment of this invention is demonstrated. In the second embodiment, the same reference numerals are given to the same members as those in the first embodiment, and the description thereof is omitted.

第1実施形態では、図2に示すように、検査部4が、支持部3の縦枠35に設けられ、検査用端子47が、左右方向に投影したときに、素子実装用端子26と重なるように配置されるが、本発明はこれに限定されない。   In the first embodiment, as shown in FIG. 2, the inspection unit 4 is provided on the vertical frame 35 of the support unit 3, and the inspection terminal 47 overlaps the element mounting terminal 26 when projected in the left-right direction. However, the present invention is not limited to this.

第2実施形態では、図10に示すように、検査部4が、複数の回路付サスペンション基板5のそれぞれに1つずつ対応するように、支持部3の横枠36に設けられている。   In the second embodiment, as shown in FIG. 10, the inspection section 4 is provided on the horizontal frame 36 of the support section 3 so as to correspond to each of the plurality of suspension boards with circuit 5.

そして、検査部4は、左右方向に間隔を隔てて配置される複数(2つ)の検査用端子47を備える。複数(2つ)の検査用端子47は、先後方向に投影したときに、対応する回路付サスペンション基板5が備える素子実装用端子26のうち少なくとも1つの素子実装用端子26と重なるように配置されている。   The inspection unit 4 includes a plurality (two) of inspection terminals 47 arranged at intervals in the left-right direction. The plural (two) inspection terminals 47 are arranged so as to overlap at least one element mounting terminal 26 among the element mounting terminals 26 provided in the corresponding suspension board with circuit 5 when projected in the front-rear direction. ing.

なお、本実施形態では、先後方向に投影したときに、2つの検査用端子47のうち右側の検査用端子47は、対応する回路付サスペンション基板5が備える4つの素子実装用端子26のうち右側の2つと重なり、2つの検査用端子47のうち左側の検査用端子47は、4つの素子実装用端子26のうち左側の2つと重なる。   In the present embodiment, when projected in the front-rear direction, the right inspection terminal 47 of the two inspection terminals 47 is the right of the four element mounting terminals 26 included in the corresponding suspension board with circuit 5. The left inspection terminal 47 of the two inspection terminals 47 overlaps the left two of the four element mounting terminals 26.

また、本実施形態では、印刷機やディスペンサーの移動方向(プリント方向)は、先後方向であって、先後方向に並ぶ複数の素子実装用端子26および複数の検査用端子47に、はんだを一括して配置する。   In this embodiment, the moving direction (printing direction) of the printing press or dispenser is the front-rear direction, and solder is collectively applied to the plurality of element mounting terminals 26 and the plurality of inspection terminals 47 arranged in the front-rear direction. Arrange.

そのため、第2実施形態によっても、第1実施形態と同様に、各検査用端子47と各素子実装用端子26とのそれぞれに略同じ体積のはんだをより安定して配置することができ、各素子実装用端子26に配置される接続用はんだ56の体積と、各検査用端子47に配置される検査用はんだ57の体積との相関をより安定して確保することができる。   Therefore, according to the second embodiment, similarly to the first embodiment, it is possible to more stably dispose the solder of substantially the same volume in each of the inspection terminals 47 and each of the element mounting terminals 26. The correlation between the volume of the connection solder 56 disposed on the element mounting terminal 26 and the volume of the inspection solder 57 disposed on each inspection terminal 47 can be more stably ensured.

また、第2実施形態では、第1実施形態と同様の作用効果を奏することができる。   Moreover, in 2nd Embodiment, there can exist an effect similar to 1st Embodiment.

<第3実施形態>
次に、図11を参照して、本発明の第3実施形態としてのサスペンション検査部ペアユニット70を説明する。なお、第3実施形態では、上記した第1実施形態と同様の部材には同様の符号を付し、その説明を省略する。
<Third Embodiment>
Next, with reference to FIG. 11, a suspension inspection unit pair unit 70 as a third embodiment of the present invention will be described. In the third embodiment, the same reference numerals are given to the same members as those in the first embodiment, and the description thereof is omitted.

図1に示すように、集合体シート1は、複数の回路付サスペンション基板5を備えるが、本発明はこれに限定されない。   As shown in FIG. 1, the assembly sheet 1 includes a plurality of suspension boards with circuits 5, but the present invention is not limited to this.

第3実施形態のサスペンション検査部ペアユニット70は、図11に示すように、1つの回路付サスペンション基板5と、回路付サスペンション基板5を支持する支持部3と、支持部3に設けられる検査部4とを備える。   As shown in FIG. 11, the suspension inspection unit pair unit 70 according to the third embodiment includes one suspension board with circuit 5, a support unit 3 that supports the suspension board with circuit 5, and an inspection unit provided in the support unit 3. 4.

このような第3実施形態によっても、第1実施形態と同様の作用効果を奏することができる。   Also according to the third embodiment, it is possible to achieve the same operational effects as those of the first embodiment.

<第4実施形態>
次に、本発明の第4実施形態の集合体シート1の製造方法について説明する。
<Fourth embodiment>
Next, the manufacturing method of the assembly sheet 1 of 4th Embodiment of this invention is demonstrated.

第1実施形態では、第4工程後の検査用はんだ57の体積のみを測定するが、本発明はこれに限定されない。第4実施形態では、第2工程の後かつ第4工程の前に、検査用はんだ57の体積を検査する工程をさらに含んでいる。   In the first embodiment, only the volume of the inspection solder 57 after the fourth step is measured, but the present invention is not limited to this. The fourth embodiment further includes a step of inspecting the volume of the inspection solder 57 after the second step and before the fourth step.

第4工程の前に検査用はんだ57の体積を測定する方法として、例えば、上記した3次元光学方式の外観測定が挙げられ、好ましくは、自動光学測定(AOI)、レーザ顕微鏡測定が挙げられ、コストの観点からさらに好ましくは、レーザ顕微鏡測定が挙げられる。   As a method of measuring the volume of the solder 57 for inspection before the fourth step, for example, the above-described three-dimensional optical system appearance measurement can be mentioned, preferably, automatic optical measurement (AOI), laser microscope measurement, More preferably, laser microscope measurement is mentioned from a viewpoint of cost.

第4実施形態では、検査用はんだ57を溶解する前に、検査用はんだ57の体積が測定される。つまり、溶解の前後の両方(第4工程の前後両方)において、検査用はんだ57の体積が測定される。そのため、溶解後の検査用はんだ57の体積の測定結果から検査される接続用はんだ56の体積が不良であった場合に、溶解前後の検査用はんだ57の体積の測定結果をフィードバックして、上記した集合体シート1の各工程の条件をより精度よく調整することができる。その結果、集合体シート1の製造効率のさらなる向上を図ることができる。   In the fourth embodiment, the volume of the inspection solder 57 is measured before the inspection solder 57 is melted. That is, the volume of the inspection solder 57 is measured both before and after melting (both before and after the fourth step). Therefore, when the volume of the connection solder 56 to be inspected from the measurement result of the volume of the inspection solder 57 after melting is defective, the measurement result of the volume of the inspection solder 57 before and after melting is fed back, and the above The conditions of each step of the assembled sheet 1 can be adjusted with higher accuracy. As a result, the manufacturing efficiency of the assembly sheet 1 can be further improved.

<変形例>
上記の第1実施形態〜第4実施形態では、図3Bに示すように、検査部4において、第1検査用端子48が、第1検査絶縁層45の先端縁に対して先側に隣接され、第2検査用端子49が、第2検査絶縁層46の後端縁に対して後側に隣接しているが、検査部4の構成はこれに限定されない。
<Modification>
In the first to fourth embodiments, as shown in FIG. 3B, in the inspection unit 4, the first inspection terminal 48 is adjacent to the front end edge of the first inspection insulating layer 45. The second inspection terminal 49 is adjacent to the rear side of the rear end edge of the second inspection insulating layer 46, but the configuration of the inspection unit 4 is not limited to this.

例えば、図12Aおよび図12Bに示すように、第1検査絶縁層45および第2検査絶縁層46のそれぞれが開口67を有し、第1検査用端子48が、第1検査絶縁層45の開口67に充填され、第2検査絶縁層46が、第2検査絶縁層46の開口67に充填されてもよい。   For example, as shown in FIGS. 12A and 12B, each of the first inspection insulating layer 45 and the second inspection insulating layer 46 has an opening 67, and the first inspection terminal 48 has an opening of the first inspection insulating layer 45. The second inspection insulating layer 46 may be filled in the opening 67 of the second inspection insulating layer 46.

また、図12Cおよび図12Dに示すように、枠体11の下面にめっき層32を設け、めっき層32が設けられる部分を、第1検査用端子48および第2検査用端子49としてもよい。この場合、第1検査用端子48および第2検査用端子49のそれぞれは、枠体11に含まれ、先後および左右方向において、枠体11と隣接する。これによれば、第1検査用端子48および第2検査用端子49を簡易な構成とすることができる。   12C and 12D, the plating layer 32 may be provided on the lower surface of the frame 11, and the portions where the plating layer 32 is provided may be used as the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49. In this case, each of the first inspection terminal 48 and the second inspection terminal 49 is included in the frame body 11 and is adjacent to the frame body 11 in the front-rear direction and the left-right direction. According to this, the 1st inspection terminal 48 and the 2nd inspection terminal 49 can be made into a simple structure.

また、検査部4の配置および個数は、特に制限されない。集合体シート1において、検査部4を1つのみ設けることもできる。また、回路付サスペンション基板5内に検査部4を設けることもできる。   Further, the arrangement and number of the inspection units 4 are not particularly limited. In the assembly sheet 1, only one inspection unit 4 can be provided. Further, the inspection unit 4 can be provided in the suspension board with circuit 5.

これらによっても、第1実施形態と同様の作用効果を奏することができる。   Also by these, the same operation effect as a 1st embodiment can be produced.

1 集合体シート
3 支持部
4 検査部
5 回路付サスペンション基板
7 金属支持体
8 ベース絶縁層
9 導体パターン
10 カバー絶縁層
25 磁気ヘッド用端子
26 素子実装用端子
28 磁気ヘッド用配線
29 素子用配線
41 検査絶縁層
42 検査導体層
43 検査カバー層
47 検査用端子
55 回路付サスペンション基板アセンブリ
58 圧電素子
70 サスペンション検査部ペアユニット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Assembly sheet | seat 3 Support part 4 Inspection part 5 Suspension board with a circuit 7 Metal support body 8 Base insulating layer 9 Conductor pattern 10 Cover insulating layer 25 Magnetic head terminal 26 Element mounting terminal 28 Magnetic head wiring 29 Element wiring 41 Inspection insulation layer 42 Inspection conductor layer 43 Inspection cover layer 47 Inspection terminal 55 Suspension board assembly with circuit 58 Piezoelectric element 70 Suspension inspection part pair unit

Claims (11)

回路付サスペンション基板と、検査部と、を備え、
前記回路付サスペンション基板は、実装される電子素子と接続用はんだを介して電気的に接続される素子実装用端子を備え、
前記検査部は、前記電子素子と前記素子実装用端子との間に位置する前記接続用はんだの体積を検査する検査用はんだが配置される検査用端子を備えることを特徴とする、回路付サスペンション基板ユニット。
A suspension board with circuit and an inspection unit;
The suspension board with circuit includes an element mounting terminal that is electrically connected to an electronic element to be mounted via a connection solder,
The suspension with circuit, wherein the inspection unit includes an inspection terminal on which an inspection solder for inspecting a volume of the connection solder located between the electronic element and the element mounting terminal is disposed. Board unit.
複数の前記回路付サスペンション基板と、
複数の前記回路付サスペンション基板と連続して、複数の前記回路付サスペンション基板を一括して支持する支持部と、を備え、
前記検査部は、前記支持部に設けられることを特徴とする、請求項1に記載の回路付サスペンション基板ユニット。
A plurality of suspension boards with circuit;
A plurality of suspension boards with circuits, and a support portion that collectively supports the plurality of suspension boards with circuits,
The suspension board unit with circuit according to claim 1, wherein the inspection unit is provided in the support unit.
複数の前記回路付サスペンション基板は、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向に互いに間隔を空けて並列配置され、
前記検査用端子は、複数の前記回路付サスペンション基板の並列方向に投影したときに、複数の前記素子実装用端子のうち少なくとも1つの前記素子実装用端子と重なるように配置されていることを特徴とする、請求項2に記載の回路付サスペンション基板ユニット。
The plurality of suspension boards with circuit are arranged in parallel at intervals in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit,
The inspection terminal is disposed so as to overlap at least one of the plurality of element mounting terminals when projected in the parallel direction of the plurality of suspension boards with circuit. The suspension board unit with circuit according to claim 2.
複数の前記回路付サスペンション基板は、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向に互いに間隔を空けて並列配置され、
前記検査用端子は、複数の前記回路付サスペンション基板の並列方向と、前記厚み方向との両方向と直交する方向に投影したときに、複数の前記素子実装用端子のうち少なくとも1つの前記素子実装用端子と重なるように配置されていることを特徴とする、請求項2に記載の回路付サスペンション基板ユニット。
The plurality of suspension boards with circuit are arranged in parallel at intervals in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit,
When the inspection terminal is projected in a direction perpendicular to both the parallel direction of the plurality of suspension boards with circuit and the thickness direction, at least one of the plurality of element mounting terminals is used for mounting the element. The suspension board unit with circuit according to claim 2, wherein the suspension board unit with circuit is arranged so as to overlap with a terminal.
前記回路付サスペンション基板は、
磁気ヘッドと電気的に接続される磁気ヘッド用端子と、
前記磁気ヘッド用端子に接続される磁気ヘッド用配線と、
前記素子実装用端子に接続される素子用配線と、を備えることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニット。
The suspension board with circuit is
A magnetic head terminal electrically connected to the magnetic head;
Magnetic head wiring connected to the magnetic head terminals;
The suspension board unit with circuit according to claim 1, further comprising: an element wiring connected to the element mounting terminal.
金属支持層と、
前記金属支持層の厚み方向一方側に配置される第1絶縁層と、
前記第1絶縁層の前記厚み方向一方側に配置される導体層と、
前記導体層の前記厚み方向一方側に配置される第2絶縁層と、を備え、
前記検査用端子は、前記導体層または前記金属支持層に含まれることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニット。
A metal support layer;
A first insulating layer disposed on one side in the thickness direction of the metal support layer;
A conductor layer disposed on one side in the thickness direction of the first insulating layer;
A second insulating layer disposed on one side in the thickness direction of the conductor layer,
The suspension board unit with circuit according to claim 1, wherein the inspection terminal is included in the conductor layer or the metal support layer.
前記素子実装用端子は、前記導体層に含まれ、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向において、前記第1絶縁層および/または前記第2絶縁層と隣接し、
前記検査用端子は、前記導体層に含まれ、前記厚み方向と直交する方向において、前記第1絶縁層および/または前記第2絶縁層と隣接することを特徴とする、請求項6に記載の回路付サスペンション基板ユニット。
The element mounting terminal is included in the conductor layer and is adjacent to the first insulating layer and / or the second insulating layer in a direction orthogonal to the thickness direction of the suspension board with circuit.
The inspection terminal is included in the conductor layer and is adjacent to the first insulating layer and / or the second insulating layer in a direction orthogonal to the thickness direction. Suspension board unit with circuit.
前記検査用端子は、前記金属支持層に含まれ、前記回路付サスペンション基板の厚み方向と直交する方向において、前記金属支持層と隣接することを特徴とする、請求項6に記載の回路付サスペンション基板ユニット。   The suspension with circuit according to claim 6, wherein the inspection terminal is included in the metal support layer and is adjacent to the metal support layer in a direction orthogonal to a thickness direction of the suspension board with circuit. Board unit. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニットと、
前記電子素子としての圧電素子と、
前記圧電素子と前記素子実装用端子との間に配置され、前記圧電素子と前記素子実装用端子とを電気的に接続する接続用はんだと、
前記検査用端子上に配置される検査用はんだと、を備えることを特徴とする、回路付サスペンション基板アセンブリ。
A suspension board unit with circuit according to any one of claims 1 to 8,
A piezoelectric element as the electronic element;
Solder for connection that is disposed between the piezoelectric element and the element mounting terminal, and electrically connects the piezoelectric element and the element mounting terminal;
A suspension board assembly with circuit, comprising: an inspection solder disposed on the inspection terminal.
請求項1〜8のいずれか一項に記載の回路付サスペンション基板ユニットを準備する第1工程と、
前記素子実装用端子上に接続用はんだを配置するとともに、前記検査用端子上に検査用はんだを配置する第2工程と、
電子素子を前記接続用はんだと接触するように配置する第3工程と、
前記回路付サスペンション基板ユニットを加熱して、前記接続用はんだを溶解し、前記電子素子をセルフアライメントさせながら、前記電子素子と前記素子実装用端子とを接合するとともに、前記検査用はんだを溶解する第4工程と、
前記第4工程の後に前記検査用はんだの体積を測定して、前記電子素子と前記素子実装用端子との間に位置する前記接続用はんだの体積を検査する第5工程と、を含むことを特徴とする、回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法。
A first step of preparing the suspension board unit with circuit according to any one of claims 1 to 8,
A second step of disposing a connection solder on the element mounting terminal and disposing an inspection solder on the inspection terminal;
A third step of placing the electronic element in contact with the connecting solder;
The suspension board unit with circuit is heated to melt the connection solder, and while the electronic element is self-aligned, the electronic element and the element mounting terminal are joined and the inspection solder is dissolved. A fourth step;
Measuring the volume of the inspection solder after the fourth step, and inspecting the volume of the connection solder located between the electronic element and the element mounting terminal. A method of manufacturing a suspension board assembly with circuit, which is characterized.
前記第2工程の後かつ前記第4工程の前に、前記検査用はんだの体積を測定する工程をさらに含むことを特徴とする、請求項10に記載の回路付サスペンション基板アセンブリの製造方法。   The method of manufacturing a suspension board assembly with circuit according to claim 10, further comprising a step of measuring a volume of the inspection solder after the second step and before the fourth step.
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