JP2018088052A - Management apparatus, method and program - Google Patents

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JP2016230079A
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滋 河本
Shigeru Kawamoto
滋 河本
暁 小路口
Akira Shojiguchi
暁 小路口
永典 實吉
Hisanori Saneyoshi
永典 實吉
鈴木 亮太
Ryota Suzuki
亮太 鈴木
Original Assignee
日本電気株式会社
Nec Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To be capable of generating a waveform feature corresponding to a temporal change of a facility as a waveform feature of the facility.SOLUTION: Provided are a waveform feature acquisition unit that acquires a waveform feature representing a condition of operation of a plurality of facilities having used years/months different from each other and a temporal change deriving unit that derives a waveform feature reflecting a temporal change of the facility based on the waveform feature of a plurality of the facilities.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、設備を管理する管理装置と方法及びプログラムに関する。   The present invention relates to a management apparatus, method, and program for managing equipment.
工場や店舗等に配置される電気設備(「設備」という)の突発的な故障の発生を回避するために、例えば定期的な保守が行われる。定期的な保守において、保全期間は、保守対象の設備の使用形態や設置環境等にも依存している。このため、適切な保全期間の設定は難しい。例えば定期保守の間隔が短いと保守コストの増大となり、定期保守の間隔が長いと、安全性の点で問題が生じる。   For example, periodic maintenance is performed in order to avoid a sudden failure of an electrical facility (referred to as “facility”) arranged in a factory or store. In regular maintenance, the maintenance period also depends on the usage mode and installation environment of the equipment to be maintained. For this reason, it is difficult to set an appropriate maintenance period. For example, if the regular maintenance interval is short, the maintenance cost increases, and if the regular maintenance interval is long, a problem arises in terms of safety.
そこで、設備の状態をセンサ(電流センサ、電力計、温度センサ、圧力センサ、光センサ、振動センサ等)等を介して管理装置でモニタすることで、設備の異常等を推定し保守の必要性を判断する手法がとられる。   Therefore, the equipment status is monitored by a management device via sensors (current sensors, wattmeters, temperature sensors, pressure sensors, optical sensors, vibration sensors, etc.), etc., so that equipment abnormalities are estimated and maintenance is necessary. A method for judging
この場合、管理装置は、設備の正常動作時の状態をセンサ等でセンシングした情報を予め取得して記憶装置に記憶保持しておく。そして、管理装置は、設備からセンシング情報を取得し、記憶装置に記憶されている正常動作時の情報と比較し、今回センシングした情報が、正常動作時の情報から外れている場合に、設備に異常が発生したものと判定(推定)する。   In this case, the management device acquires in advance information obtained by sensing the state of the facility during normal operation using a sensor or the like and stores the information in the storage device. Then, the management device acquires sensing information from the equipment, compares it with the information during normal operation stored in the storage device, and if the information sensed this time deviates from the information during normal operation, Judge (estimate) that an abnormality has occurred.
設備の状態のセンシング結果に基づき異常を検知する場合、例えば設備の経時変化等により、異常の判定基準となる、正常動作時のセンシング情報も変化する。例えば、空調設備では、使用期間の経過とともに、コンプレッサ用モータやファンモータ等回転機の軸受け等の摩擦係数の増大により、電流が増大し、また消費電力が増える。   When an abnormality is detected based on the sensing result of the state of the equipment, for example, sensing information during normal operation that is a criterion for abnormality is also changed due to, for example, a change with time of the equipment. For example, in an air conditioner, as the usage period elapses, the current increases and the power consumption increases due to an increase in the coefficient of friction of bearings of rotating machines such as compressor motors and fan motors.
なお、正常動作時の情報と比較することで異常を検知する関連技術として、例えば特許文献1には、モータが正常状態にあるときの標準電流波形を予め確認しておき、これと比較することで異常波形を知ること、および、モータの正常状態の電流波形を用いることで、モータ特性に基づく高い精度の不良及び故障の検出が可能となることが開示されている。   As a related technique for detecting an abnormality by comparing with information at the time of normal operation, for example, in Patent Document 1, a standard current waveform when the motor is in a normal state is confirmed in advance and compared with this. It is disclosed that it is possible to detect defects and failures with high accuracy based on the motor characteristics by knowing the abnormal waveform and using the current waveform in the normal state of the motor.
機器の状態のセンシング結果の特徴量に基づき、機器状態を検出する関連技術として、特許文献2には、機器が設置されている環境の物理量を計測する計測手段(物理量:機器に供給される電流、機器が接続された電力線の給電口を流れる電流、機器が使用する水道流量、ガス流量、機器が設置されている環境の照度、温度等)と、前記計測手段が計測した計測値の特徴量を計算する特徴量計算手段と、予め前記機器ごとの前記特徴量とこれに対応する機器状態とを辞書データとして記憶する記憶手段と、前記特徴量計算手段が計算した特徴量を検索キーとして前記辞書データに記憶された特徴量を検索し、検索結果として特定した該特徴量に対応する機器状態に基づいて機器状態を検出する機器状態検出手段とを有する機器状態検出装置が開示されている。   As a related technique for detecting a device state based on a feature value of a sensing result of a device state, Patent Document 2 discloses a measurement means for measuring a physical amount of an environment in which the device is installed (physical amount: current supplied to the device) ), The current flowing through the power supply outlet of the power line to which the device is connected, the water flow rate used by the device, the gas flow rate, the illuminance of the environment in which the device is installed, the temperature, etc.) and the feature value of the measured value measured by the measuring means A feature amount calculation means for calculating the feature amount, a storage means for storing the feature amount for each device in advance and a device state corresponding to the feature amount as dictionary data, and the feature amount calculated by the feature amount calculation means as the search key. A device state detection device having device state detection means for searching for a feature amount stored in dictionary data and detecting a device state based on a device state corresponding to the feature amount specified as a search result It is shown.
また、1つのセンサを用いて複数の電気機器の個々の状態を判別する関連技術として、例えば非特許文献1には、分電盤に取り付けた1つの電流センサを用いて基幹線に流れている電流波形(例えば1周期毎の瞬時波形)を取得し、各機器固有の電流波形情報を備えた波形データベースに照らして、波形解析することにより、機器ごとの消費電力を推定し、機器の動作状態を判別することが記載されている。   In addition, as related technology for discriminating individual states of a plurality of electric devices using one sensor, for example, Non-Patent Document 1 flows to the main line using one current sensor attached to a distribution board. Obtain the current waveform (for example, the instantaneous waveform for each cycle), analyze the waveform against the waveform database with the current waveform information unique to each device, estimate the power consumption for each device, and operate the device Is described.
特開2003−160024号公報JP 2003-160024 A 国際公開第2009/125659号International Publication No. 2009/125659
設備からセンシングした状態情報に基づき異常を検知する場合、例えば設備の運用時間の経過に伴う経時変化等により、異常の判定基準となる、正常動作時のセンシング情報が変化する。   When an abnormality is detected based on the state information sensed from the equipment, for example, sensing information at the time of normal operation, which is a criterion for abnormality, changes due to, for example, a change with the passage of time of operation of the equipment.
設備の異常検知用の閾値として適切な値を設定しないと、異常動作の発生を適切に検知することは困難である。   Unless an appropriate value is set as a threshold for detecting an abnormality of the facility, it is difficult to appropriately detect the occurrence of an abnormal operation.
したがって、異常の判定基準となる正常動作時のセンシング情報を経年(経時)変化に対応させて変化させ、設備の異常検知用の閾値も該設備の使用年数に応じて変化させる必要がある。   Therefore, it is necessary to change sensing information during normal operation, which is a criterion for determining an abnormality, in accordance with changes over time (time), and to change a threshold value for detecting an abnormality of the facility according to the years of use of the facility.
本発明は、上記課題に鑑みて創案されたものであって、その目的は、設備の波形特徴として、該設備の経時変化に対応させた波形特徴を提供可能とする管理装置、方法、プログラムを提供することにある。   The present invention was devised in view of the above problems, and its purpose is to provide a management apparatus, method, and program capable of providing a waveform feature corresponding to a change over time of the facility as a waveform feature of the facility. It is to provide.
本発明によれば、使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得する波形特徴取得部と、前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する経時変化導出部と、を備えた管理装置が提供される。   According to the present invention, based on the waveform characteristics of the plurality of facilities, the waveform feature acquisition unit that acquires the waveform characteristics representing the operating states of the plurality of facilities whose usage dates are different from each other is reflected. A management device is provided that includes a temporal change deriving unit for deriving the waveform feature.
本発明によれば、使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得し、前記複数の設備の波形特徴と環境情報に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する管理方法が提供される。   According to the present invention, a waveform feature that represents the operating state of a plurality of facilities that have different usage dates is obtained, and a waveform that reflects a time-dependent change of the facility based on the waveform features and environmental information of the plurality of facilities. A management method for deriving features is provided.
本発明によれば、使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴をそれぞれ取得する処理と、
前記複数の設備の波形特徴と環境情報に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する処理をコンピュータに実行させるプログラムが提供される。
According to the present invention, the process of obtaining each waveform feature representing the operating state of a plurality of facilities with different usage dates,
There is provided a program for causing a computer to execute a process of deriving a waveform feature reflecting a time-dependent change of the facility based on the waveform feature and environmental information of the plurality of facilities.
本発明によれば、上記プログラムを記憶したコンピュータ読み出し可能な記録媒体(例えばRAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、又は、EEPROM(Electrically Erasable and Programmable ROM))等の半導体ストレージ、HDD(Hard Disk Drive)、CD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)等のnon−transitory computer readable recording mediumが提供される。   According to the present invention, a computer-readable recording medium storing the program (for example, a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), or an EEPROM (Electrically Erasable and Programmable ROM)) HDD, etc. (Hard Disk Drive), CD (Compact Disc), DVD (Digital Versatile Disc), etc., non-transitory computer readable recording medium is provided.
本発明によれば、設備の波形特徴として、該設備の経時変化に対応させた波形特徴を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a waveform feature corresponding to a change with time of the facility as a waveform feature of the facility.
本発明の第1の実施形態の構成の一例を例示する図である。It is a figure which illustrates an example of the composition of the 1st embodiment of the present invention. 設備の経時変化を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the time-dependent change of an installation. 本発明の第1の実施形態による経時変化の算出を説明する図である。It is a figure explaining calculation of a time-dependent change by a 1st embodiment of the present invention. (A)、(B)は電流特徴量の経時変化、劣化状態と電流特徴量の関係を説明する図である。(A), (B) is a figure explaining the temporal change of a current feature-value, the relationship between a deterioration state, and a current feature-value. 本発明の第1の実施形態における補間を説明する図である。It is a figure explaining the interpolation in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態を例示する図である。It is a figure which illustrates the 2nd Embodiment of this invention. 実施例の構成例を説明する図である。It is a figure explaining the structural example of an Example. (A)、(B)は記憶装置の内容の一部を例示する図である。(A), (B) is a figure which illustrates a part of content of a memory | storage device. (A)、(B)は実施例を説明する図である。(A), (B) is a figure explaining an Example. 実施例態における補間を説明する図である。It is a figure explaining the interpolation in an Example state. 本発明の第3の実施形態を説明する図である。It is a figure explaining the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態を説明する図である。It is a figure explaining the 4th Embodiment of this invention.
本発明の実施形態について説明する。本発明の一形態によれば、使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得する手段(工程、処理)と、取得した前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する手段(工程、処理)と、を備えた管理装置(方法、プログラム)が提供される。本発明の一形態において、複数の設備は、例えば、機種が同一又は同等とされる。前記複数の設備の環境情報を取得する手段(工程、処理)をさらに具備し、前記複数の設備の波形特徴と環境情報に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出するようにしてもよい。   An embodiment of the present invention will be described. According to one aspect of the present invention, based on the acquired waveform characteristics of the plurality of facilities, the means (process, processing) for acquiring the waveform characteristics representing the operating states of the plurality of facilities whose usage dates are different from each other, There is provided a management device (method, program) provided with means (steps, processes) for deriving waveform characteristics reflecting changes with time of facilities. In one embodiment of the present invention, for example, the plurality of facilities have the same or equivalent model. The apparatus further comprises means (process, process) for acquiring environmental information of the plurality of facilities, and derives a waveform characteristic reflecting a change with time of the facility based on the waveform characteristics of the plurality of facilities and the environment information. May be.
本発明の一形態によれば、上記した構成により、経時変化を反映させた正常状態の波形特徴を取得し、波形特徴の経時変化の時系列モデルを提供可能としている。なお、経時変化は、年単位の設備の状態の変化(経年変化)、月単位、日単位、時間単位の設備の状態の変化を含むものとする。以下の実施形態では、「設備」は、電子・電気機器、電気装置、電気設備を含む。   According to one aspect of the present invention, with the above-described configuration, it is possible to acquire a waveform characteristic in a normal state reflecting a change with time, and to provide a time-series model of the change with time of the waveform characteristic. The change with time includes a change in the state of the equipment in units of years (aging), and a change in the state of the equipment in units of months, days, and hours. In the following embodiments, “equipment” includes an electronic / electrical device, an electric device, and an electric facility.
<第1の実施形態>
本発明の例示的な第1の実施形態について説明する。図1は、本発明の例示的な第1の実施形態の管理装置100の構成を説明する図である。図1を参照すると、管理装置100は、環境情報取得部101と、波形特徴取得部102と、波形特徴分析部103と、経時変化導出部104と、出力部105と、記憶装置106を備えている。
<First Embodiment>
An exemplary first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of the management apparatus 100 according to the first exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the management apparatus 100 includes an environment information acquisition unit 101, a waveform feature acquisition unit 102, a waveform feature analysis unit 103, a temporal change derivation unit 104, an output unit 105, and a storage device 106. Yes.
環境情報取得部101は、機種が同一又は同等であり、且つ、使用年月が互いに異なる複数の設備20の環境情報を取得する。環境情報取得部101は、設備20が設置される環境情報(例えば温度や湿度情報、照度情報等)を、設備20に接続された不図示のセンサ(例えば温度センサ、照度センサ等)から取得するようにしてもよいし、設備20を管理する装置(不図示)から環境情報を取得するようにしてもよい。設備20の環境情報は、設備が設置される場所の温度のほか、設備20の使用年月(総運用時間等であってもよい)等を含むようにしてもよい。この場合、環境情報取得部101は、設備20の運用、保守等を管理する管理システムのデータベース等から設備20の使用年月(総運用時間等)を取得するようにしてもよい。あるいは、設備20の使用年月(総運用時間等)の情報は、人手によって入力するようにしてもよい。環境情報取得部101は取得した環境情報を設備20に対応させて記憶装置106に記憶する。   The environment information acquisition unit 101 acquires environment information of a plurality of facilities 20 having the same model or the same model and different usage dates. The environmental information acquisition unit 101 acquires environmental information (for example, temperature and humidity information, illuminance information, etc.) in which the facility 20 is installed from a sensor (for example, a temperature sensor, an illuminance sensor, etc.) not shown connected to the facility 20. Alternatively, environmental information may be acquired from an apparatus (not shown) that manages the facility 20. The environmental information of the facility 20 may include the use date of the facility 20 (may be the total operation time or the like) in addition to the temperature of the place where the facility is installed. In this case, the environment information acquisition unit 101 may acquire the use date (total operation time, etc.) of the facility 20 from a database of a management system that manages the operation, maintenance, and the like of the facility 20. Or you may make it input the information of the usage date (total operation time etc.) of the installation 20 manually. The environment information acquisition unit 101 stores the acquired environment information in the storage device 106 in association with the facility 20.
波形特徴取得部102は、機種が同一又は同等であり、且つ、使用年月が互いに異なる複数の設備20に接続される不図示のセンサ(電流センサ、あるいは振動センサ、音響センサ等)から設備の稼働状態を表す信号波形を取得し、該波形の特徴を取得してもよい。あるいは、設備20を管理する装置(不図示)側で算出した波形特徴を受信するようにしてもよい。   The waveform feature acquisition unit 102 uses a sensor (not shown) (current sensor, vibration sensor, acoustic sensor, etc.) connected to a plurality of facilities 20 of the same or equivalent model and different usage dates. A signal waveform representing the operating state may be acquired, and the characteristics of the waveform may be acquired. Or you may make it receive the waveform characteristic calculated in the apparatus (not shown) side which manages the installation 20. FIG.
波形特徴としては、例えば、設備20の稼働状態を表す信号の時間領域での波形形状(波形ピーク値、平均値、実効値(root mean square)、波高値等)であってもよく、時間領域からフーリエ変換等を用いて周波数領域に変換し、周波数スペクトル成分の振幅の2乗加算等から導出される値(例えば偶数次高調波成分の2乗加算の平方根あるいは、奇数次高調波成分の2乗加算の平方根、あるいはTHD(Total Harmonic Distortion:全高調波歪)等)を求めてもよい。波形特徴取得部102は取得した設備の波形特徴を設備20に対応させて記憶装置106に記憶する。なお、波形特徴取得部102で取得される波形特徴は、数値(例えばスカラー値やベクトル等)のほか、波形パタンや、該波形パタンの形状を規定する情報セット(例えば代表点の座標(基準点に対する時間、振幅の2次元座標)や、勾配、ピーク、平均値、波高値等の組み合わせ)等を用いてもよい。あるいは、波形特徴(数値又は波形パタン)をクラス分けし、当該波形特徴が属するクラス(クラス番号等)を新たな波形特徴として用いてもよい。   The waveform feature may be, for example, a waveform shape (waveform peak value, average value, root mean square, peak value, etc.) in the time domain of a signal representing the operating state of the facility 20, and the time domain. To the frequency domain using Fourier transform or the like, and a value derived from square addition of the amplitude of the frequency spectrum component (for example, the square root of the square addition of the even-order harmonic component or 2 of the odd-order harmonic component) A square root of multiplication and addition, or THD (Total Harmonic Distortion) may be obtained. The waveform feature acquisition unit 102 stores the acquired facility waveform feature in the storage device 106 in association with the facility 20. The waveform features acquired by the waveform feature acquisition unit 102 include numerical values (for example, scalar values and vectors), waveform patterns, and information sets that define the shape of the waveform patterns (for example, coordinates of representative points (reference points) Or a combination of gradient, peak, average value, peak value, etc.). Alternatively, the waveform features (numerical values or waveform patterns) may be classified, and the class (class number or the like) to which the waveform features belong may be used as a new waveform feature.
波形特徴分析部103は、機種が同一又は同等であり、且つ、使用年月が互いに異なる複数の設備20の波形特徴を、環境情報に関連付けた情報を作成し、記憶装置106に格納する。例えば、使用年月が第1の値W1、温度が第1の値Y1の第1の設備20の波形特徴、使用年月が第2の値W2、温度が第2の値Y2の第2の設備20の波形特徴等に類別して記憶するようにしてもよい。その際、使用年月が第1の期間にあり、温度が第1の範囲にある設備の波形特徴、使用年月が第2の期間にあり、温度が第2の範囲にある設備の波形特徴というように、使用年月、環境情報に所定の幅を設けて波形特徴等に類別するようにしてもよいことは勿論である。   The waveform feature analysis unit 103 creates information associated with the environment information of the waveform features of the plurality of facilities 20 having the same or equivalent model and different usage dates, and stores the information in the storage device 106. For example, the waveform characteristic of the first equipment 20 whose use date is the first value W1 and temperature is the first value Y1, the use date is the second value W2, and the temperature is the second value Y2 is the second value. You may make it memorize | store by classifying into the waveform characteristic etc. of the installation 20. At that time, the waveform characteristic of the equipment whose use date is in the first period and the temperature is in the first range, the waveform characteristic of the equipment whose use date is in the second period and the temperature is in the second range Thus, it goes without saying that the usage date and environment information may be classified into waveform characteristics by providing a predetermined width.
経時変化導出部104は、波形特徴分析部103で仕分けされた波形特徴に基づき、設備の経時変化を反映させた波形特徴(時間推移モデル)を導出する。   The temporal change deriving unit 104 derives a waveform feature (time transition model) reflecting the temporal change of the facility based on the waveform features sorted by the waveform feature analyzing unit 103.
図2は、設備の経時変化のモデルを説明する図である。設備は、使用年月にしたがって正常から劣化が進行し、定期保守を行うことで劣化が改善するが、再び劣化が進行する。なお、定期保守を実施しないと、その時点の劣化速度あるいはそれ以上の速度で劣化が進み、要対処(故障)となる。定期保守で劣化状態を改善して経過年数が10年や15年を超えると、劣化が進み寿命となる。   FIG. 2 is a diagram for explaining a model of a change in equipment over time. The equipment deteriorates from the normal state according to the years of use, and the deterioration is improved by performing regular maintenance, but the deterioration progresses again. If the periodic maintenance is not performed, the deterioration progresses at the deterioration rate at that time or at a speed higher than that and becomes a countermeasure (failure). When the deterioration state is improved by regular maintenance and the elapsed years exceed 10 years or 15 years, the deterioration progresses and the service life is reached.
図3は、経時変化導出部104で算出された波形特徴量の経時変化を説明する図である。横軸は経過年数、縦軸は波形特徴である。黒丸は波形特徴を取得した設備の使用年月、白丸○は経時変化導出部104が、内挿等の補間等で算出した波形特徴を表している。なお、特に制限されないが、図3において、波形特徴としては、例えば電流波形の特徴量などとする。   FIG. 3 is a diagram for explaining the temporal change of the waveform feature amount calculated by the temporal change deriving unit 104. The horizontal axis is the elapsed years, and the vertical axis is the waveform feature. Black circles indicate the date of use of the equipment that acquired the waveform characteristics, and white circles indicate waveform characteristics calculated by the temporal change deriving unit 104 by interpolation such as interpolation. Although not particularly limited, in FIG. 3, the waveform feature is, for example, a feature amount of a current waveform.
図4(A)は、設備の電流情報と経時変化の関係を説明する図である。横軸は経時変化、縦軸は設備の電流情報(の一部や加工値)である。電流情報は故障となるまで一定の割合で変化(単調増加)している。電流情報の一部は、電流情報の時系列データの一部の時間区間に対応させることができる。また電流情報の加工値として、前述した特流量が挙げられる。   FIG. 4A is a diagram for explaining the relationship between the current information of the facility and the change over time. The horizontal axis represents the change over time, and the vertical axis represents the current information of the equipment (parts and processed values). The current information changes (monotonically increases) at a constant rate until failure occurs. A part of the current information can correspond to a partial time section of the time series data of the current information. Moreover, the special flow rate mentioned above is mentioned as a process value of electric current information.
図4(B)は、設備の電流情報と劣化状態との関係を説明する図である。横軸は電流情報(の一部や加工値)、縦軸は設備の劣化状態(図4(A)の縦軸に対応)である。劣化状態は、設備の電流値の増大に比例して「正常」から「対処推奨」、「要対処」まで変化している。図4(B)横軸の電流情報(の一部や加工値)のa、bは、図4(A)のa、bにそれぞれ対応している。電流情報と経時変化、劣化状態との間に、図4(A)、(B)のような関係が認められる。このため、劣化状態を判断するための指標として、電流情報(波形特徴等)を用いて、設備の状態を推定してもよいことがわかる。   FIG. 4B is a diagram for explaining the relationship between the current information of the equipment and the deterioration state. The horizontal axis represents current information (parts and processed values), and the vertical axis represents equipment deterioration state (corresponding to the vertical axis in FIG. 4A). The deterioration state changes from “normal” to “recommended action” and “required action” in proportion to the increase in the current value of the facility. In FIG. 4B, a and b of the current information (parts and processed values) on the horizontal axis correspond to a and b in FIG. 4A, respectively. 4A and 4B are recognized between the current information, the change with time, and the deterioration state. For this reason, it turns out that the state of an installation may be estimated using current information (waveform feature etc.) as an index for judging a deterioration state.
図4(B)において、劣化状態は、設備がエアコン等の場合、冷房時の消費電力1kW(Kilowatt)あたりの冷房能力である冷房COP(Coefficient Of Performance)=冷房能力(kW)÷冷房消費電力(kW)に基づき、劣化状態=1−冷房COPとしてもよい。なお、図4(A)、(B)は、単に説明の簡単のため、電流情報と経時変化、劣化状態の関係を直線で示している。   In FIG. 4 (B), when the equipment is an air conditioner or the like, the cooling state is cooling COP (Coefficient Of Performance) = cooling capacity (kW) / cooling power consumption per cooling power consumption 1 kW (Kilowatt) during cooling. Based on (kW), the deterioration state = 1-cooling COP may be used. 4A and 4B, the relationship between current information, change with time, and deterioration state is shown by a straight line for simple explanation.
経時変化導出部104は、使用年数(使用年月)が互いに異なる複数の設備から取得した電流波形特徴に基づき、設備20の経時変化を反映させた電流波形特徴を導出する。経時変化導出部104は、設備20の経時変化を反映させた電流波形特徴から、当該設備20の所望の使用年数(使用年月)に対応した波形特徴を導出(又は推定)することができる。経時変化導出部104は、異常判定の閾値となる波形特徴を、随時、経時変化を反映させた波形特徴となるように校正した上で、設備の状態を判定するモジュール(後述される図6の状態検知部107)に提供する機能を果たしている。これは、以下に第2の実施形態として説明される。第2の実施形態では、経時変化導出部104で導出された経時変化を反映させた波形特徴の時系列データから、評価対象の設備の使用年数(使用年月)に対応する波形特徴を求め、これを閾値とし、当該評価対象の設備から取得された波形特徴と比較することで、該評価対象の設備が正常であるか、異常であるかを判定することを可能としている。   The temporal change deriving unit 104 derives a current waveform feature that reflects the temporal change of the facility 20 based on the current waveform features acquired from a plurality of facilities having different years of use (use years). The temporal change deriving unit 104 can derive (or estimate) a waveform characteristic corresponding to a desired year of use (year of use) of the equipment 20 from the current waveform characteristics reflecting the temporal change of the equipment 20. The temporal change deriving unit 104 calibrates the waveform feature that is a threshold value for abnormality determination so that the waveform feature reflects the temporal change as needed, and then determines a facility state (see FIG. 6 described later). It fulfills the function provided to the state detector 107). This will be described below as a second embodiment. In the second embodiment, from the time series data of the waveform feature reflecting the temporal change derived by the temporal change deriving unit 104, the waveform feature corresponding to the years of use (the year of use) of the equipment to be evaluated is obtained, By using this as a threshold value and comparing it with a waveform feature acquired from the equipment to be evaluated, it is possible to determine whether the equipment to be evaluated is normal or abnormal.
図5は、経時変化導出部104による波形特徴の推定処理を説明する図である。図5において、X軸は環境情報の第1のパラメータであり、Z軸は波形特徴量であり、Y軸(不図示)を環境情報の第2のパラメータとする(図5には、値y1、y2が示されている)。   FIG. 5 is a diagram for explaining the waveform feature estimation processing by the temporal change deriving unit 104. In FIG. 5, the X axis is the first parameter of the environment information, the Z axis is the waveform feature amount, and the Y axis (not shown) is the second parameter of the environment information (in FIG. 5, the value y1 , Y2 is shown).
白丸○(x, y)の波形特徴量Zを、環境情報取得部101、波形特徴取得部102で取得した、白丸○(x, y)を囲む近傍の4点(x1,y1)、(x1,y2)、(x2,y1)、(x2,y2)のそれぞれの波形特徴量Zの値z1、z2、z3、z4から、例えば双一次補間(Bilinear interpolation)を用いて算出(補間)するようにしてもよい。すなわち、2変数X、Yに関して線形な関数:
Z = AXY + BX + CY + D ・・・(1)
に対して、(x1,y1,z1)、(x1,y2,z2)、(x2,y1,z3)、(x2,y2,z4)を代入して、4元連立方程式を解くことで、係数A、B、C、Dを求める。そして、式(1)に白丸○(x,y)の値を代入し、波形特徴量Zを求めるようにしてもよい。
The waveform feature amount Z of the white circle (x, y) is acquired by the environment information acquisition unit 101 and the waveform feature acquisition unit 102, and four points (x1, y1) in the vicinity surrounding the white circle (x, y), (x1 , Y2), (x2, y1), and (x2, y2) from the waveform feature values Z1, z2, z3, and z4, for example, bilinear interpolation is used for calculation (interpolation). It may be. That is, a function that is linear with respect to the two variables X and Y:
Z = AXY + BX + CY + D (1)
For (x1, y1, z1), (x1, y2, z2), (x2, y1, z3), (x2, y2, z4) and substituting (4, simultaneous equations) Find A, B, C, D. Then, the waveform feature value Z may be obtained by substituting the value of the white circle (x, y) into the equation (1).
あるいは、経時変化導出部104は、(x1,y1,z1), (x1,y2,z2), (x2,y1,z3), (x2,y2,z4)、(x3,y1,z4), (x3,y2,z5), ・・・・等を用いて、最小二乗法等によるカーブフィッティングを行うことで、2変数の多項式:
Z = f(X, Y) = AX + BY + C ・・・(2A)
あるいは、
Z = f(X, Y) =AX2 + BY2+ CXY + DX +EY +F ・・・(2B)
等の係数A〜C、又はA〜Fを求め、白丸○(x, y)の波形特徴量Zを補間するようにしてもよい。
Alternatively, the temporal change deriving unit 104 can calculate (x1, y1, z1), (x1, y2, z2), (x2, y1, z3), (x2, y2, z4), (x3, y1, z4), ( x3, y2, z5), ..., etc., and by performing curve fitting by the least square method etc., a polynomial of two variables:
Z = f (X, Y) = AX + BY + C (2A)
Or
Z = f (X, Y) = AX 2 + BY 2 + CXY + DX + EY + F (2B)
Alternatively, the coefficients A to C or A to F may be obtained, and the waveform feature amount Z of white circles (x, y) may be interpolated.
なお、図5は説明の簡単のため、波形特徴量Zが2変数x、y(2種のパラメータ)の関数fとしてモデル化する例を説明したが、波形特徴量Zがn個(n>2)の変数(n種のパラメータ)の関数fとしてモデル化した場合にも、同様にして、補間することが可能である。   For the sake of simplicity, FIG. 5 illustrates an example in which the waveform feature quantity Z is modeled as a function f of two variables x and y (two types of parameters). However, there are n waveform feature quantities Z (n> Even when modeled as a function f of the variable (n types of parameters) of 2), it is possible to perform interpolation in the same manner.
<第2の実施形態>
図6は、本発明の例示的な第2の実施形態の構成を例示する図である。図6を参照すると、第2の実施形態では、管理装置100Aは、図1の第1の実施形態の管理装置100の構成に、さらに、状態検知部107を備えている。状態検知部107は、環境情報取得部101と波形特徴取得部102で取得されたモニタ対象の設備20の環境情報と波形特徴を取得する。
<Second Embodiment>
FIG. 6 is a diagram illustrating the configuration of the second exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 6, in the second embodiment, the management apparatus 100A further includes a state detection unit 107 in addition to the configuration of the management apparatus 100 of the first embodiment in FIG. The state detection unit 107 acquires the environment information and waveform features of the monitoring target equipment 20 acquired by the environment information acquisition unit 101 and the waveform feature acquisition unit 102.
状態検知部107は、経時変化導出部104で取得され記憶装置106に記憶された、環境情報に対応した波形特徴の経時変化情報の中から、評価対象の設備20の使用年月や温度等の環境情報に対応した波形特徴を読み出し、評価対象の設備20の状態判定用の閾値として用いる。該使用年月や温度等の環境情報に対応した波形特徴が記憶装置106に格納されていない場合には、記憶装置106に記憶されている波形特徴に対して、状態検知部107は、図5を参照して説明した内挿やあるいは外挿等の補間を用いて、該使用年月や温度等の環境情報に対応した波形特徴を取得するようにしてもよい。   The state detection unit 107 obtains information such as the use date and temperature of the equipment 20 to be evaluated from the time-dependent change information of the waveform features corresponding to the environment information acquired by the time-change deriving unit 104 and stored in the storage device 106. A waveform feature corresponding to the environmental information is read out and used as a threshold for determining the state of the equipment 20 to be evaluated. When the waveform feature corresponding to the environment information such as the date of use and temperature is not stored in the storage device 106, the state detection unit 107 detects the waveform feature stored in the storage device 106 as shown in FIG. The waveform characteristics corresponding to the environmental information such as the use date and temperature may be acquired by using interpolation such as interpolation or extrapolation described with reference to FIG.
状態検知部107は、記憶装置106から読み出した波形特徴、又は、内挿や外挿等の補間を用いて取得した波形特徴を閾値とし、評価対象の設備20から取得された波形特徴と比較することで、評価対象の設備20が、使用年月に対応した正常状態であるか否かを判定する。環境情報に対応した波形特徴の経時変化情報の中から今回読み出した波形特徴(閾値)、又は、内挿や外挿等の補間を用いて取得した波形特徴(閾値)は、例えば図4(A)、(B)の閾値aに対応する。状態検知部107は、判定結果(例えば正常であるか、異常であるか)を出力部105に送信する。   The state detection unit 107 uses a waveform feature read from the storage device 106 or a waveform feature acquired using interpolation such as interpolation or extrapolation as a threshold, and compares it with the waveform feature acquired from the equipment 20 to be evaluated. Thus, it is determined whether or not the equipment 20 to be evaluated is in a normal state corresponding to the date of use. The waveform feature (threshold value) read this time from the temporal change information of the waveform feature corresponding to the environment information, or the waveform feature (threshold value) acquired by using interpolation such as interpolation or extrapolation is shown in FIG. ), Corresponding to the threshold value a in (B). The state detection unit 107 transmits a determination result (for example, whether it is normal or abnormal) to the output unit 105.
出力部105は、例えば不図示の表示装置に判定結果を出力する。あるいは、出力部105は、不図示の通信手段、ネットワークを介して不図示の端末等に、判定結果を出力する。なお、状態検知部107は、管理装置100Aの内部に配置される構成に制限されるものでなく、外部に配置する構成としてもよい。あるいは、評価対象の設備20から取得された波形特徴、及び評価対象の設備20が配置される環境情報を取得する手段を、状態検知部107とともに、管理装置100Aの外部に配置する構成としてもよい。状態検知部107を管理装置100Aの外部に配置する場合、状態検知部107は、管理装置100(図1)と通信接続し、管理装置100の記憶装置106から読み出した波形特徴、又は、内挿や外挿等の補間を用いて取得した波形特徴を閾値とする構成としてもよい。   For example, the output unit 105 outputs the determination result to a display device (not shown). Alternatively, the output unit 105 outputs the determination result to a communication unit (not shown), a terminal (not shown), etc. via a network. The state detection unit 107 is not limited to the configuration arranged inside the management device 100A, and may be arranged outside. Or it is good also as a structure which arrange | positions the waveform characteristic acquired from the apparatus 20 of evaluation object, and the means to acquire the environmental information where the apparatus 20 of evaluation object is arrange | positioned outside the management apparatus 100A with the state detection part 107. FIG. . When the state detection unit 107 is arranged outside the management apparatus 100A, the state detection unit 107 is connected to the management apparatus 100 (FIG. 1) and is connected to the waveform feature or the interpolation read from the storage device 106 of the management apparatus 100. Alternatively, a waveform feature acquired using interpolation such as extrapolation or the like may be used as a threshold value.
<実施例>
図7は、図1を参照して説明した第1の実施形態を、コンビニエンスストアやスーパ等の店舗200A〜200Cの設備20に適用した例を説明する図である。なお、図7では、簡単のため、店舗200A〜200Cが示されているが、店舗の数は3店舗に制限されるものでないことは勿論である。図7において、管理装置100Bは、図1の管理装置100の構成にさらに店舗・設備分析部108と、店舗情報、及び、店舗に設置された設備の情報を記憶する記憶装置109を備えている。管理装置100Bは、各店舗200A〜200Cとインターネット等の広域ネットワークを介して接続するクラウドサーバに実装するようにしてもよい。あるいは、コンビニエンスストアやスーパ等を管理する管理本部や支部等に実装するようにしてもよい。
<Example>
FIG. 7 is a diagram for explaining an example in which the first embodiment described with reference to FIG. 1 is applied to facilities 20 of stores 200A to 200C such as convenience stores and supermarkets. In FIG. 7, stores 200 </ b> A to 200 </ b> C are shown for simplicity, but it goes without saying that the number of stores is not limited to three stores. In FIG. 7, the management device 100B further includes a store / equipment analysis unit 108, store information, and a storage device 109 that stores store information and information on facilities installed in the store in addition to the configuration of the management device 100 of FIG. . The management device 100B may be mounted on a cloud server connected to each of the stores 200A to 200C via a wide area network such as the Internet. Or you may make it mount in the management headquarters or branch etc. which manage a convenience store, a supermarket, etc.
店舗200A〜200Cの各店舗は、設備20と、環境情報検出部201、波形特徴算出部202、通信部203を備えている。   Each of the stores 200 </ b> A to 200 </ b> C includes a facility 20, an environment information detection unit 201, a waveform feature calculation unit 202, and a communication unit 203.
特に制限されないが、設備20は、コンビニエンスストアやスーパ等や空調設備や冷蔵・冷凍設備等、耐用年数が比較的長く長期にわたって使用されるものであってよい(図2に示したように定期保守等が行われ、長期に使用される設備)。これは、管理装置100Bは、設備20の正常、異常の判定に用いられる閾値として、経時変化(経年変化)を反映した波形特徴を提供するものであり、頻繁に交換されるか、又は短寿命の機器等は、経時変化(経年変化)を反映した波形特徴の提供の対象から外れる場合があるためである。   Although not particularly limited, the facility 20 may be used for a long period of time, such as a convenience store, a supermarket, an air conditioning facility, a refrigeration / refrigeration facility, etc., with a relatively long service life (as shown in FIG. 2). Etc. and equipment used for a long time). This is because the management device 100B provides a waveform feature that reflects a change over time (aging) as a threshold value used to determine whether the facility 20 is normal or abnormal, and it is frequently replaced or has a short lifetime. This is because the above-mentioned devices and the like may be excluded from the target of providing waveform characteristics reflecting changes with time (aging).
環境情報検出部201は、設備20が設置される環境情報を検知し、通信部203を介して管理装置100Bに送信する。波形特徴算出部202は、設備20の信号の波形を取得して演算処理することで波形特徴を抽出し、通信部203を介して管理装置100Bに送信する。   The environment information detection unit 201 detects the environment information in which the facility 20 is installed, and transmits it to the management apparatus 100B via the communication unit 203. The waveform feature calculation unit 202 acquires the waveform of the signal of the facility 20 and performs arithmetic processing to extract the waveform feature, and transmits the waveform feature to the management device 100B via the communication unit 203.
波形特徴算出部202は、例えば設備20に流れる電流波形の特徴量として、設備20の稼働状態を表す電流の時間領域での波形形状(波形ピーク値、平均値、実効値(root mean square)、波高値等)を求めるようにしてもよい。あるいは、波形特徴算出部202は、例えば設備20に流れる電流波形を、フーリエ変換(高速フーリエ変換又は離散フーリエ変換、あるいは、短時間高速フーリエ変換又は短時間離散フーリエ変換)等を用いて時間領域から周波数領域に変換し、周波数スペクトル成分の振幅の2乗加算等から導出される値(例えば偶数次高調波成分の2乗加算の平方根あるいは、偶数次高調波成分の2乗加算の平方根、あるいはTHD(Total Harmonic Distortion)等)を電流波形の特徴量として求めるようにしてもよい。   The waveform feature calculation unit 202 uses, for example, a waveform shape (waveform peak value, average value, root mean square) in the time domain of the current representing the operating state of the facility 20 as a feature amount of a current waveform flowing through the facility 20. A peak value or the like may be obtained. Alternatively, the waveform feature calculation unit 202 converts, for example, a current waveform flowing through the facility 20 from the time domain using Fourier transform (fast Fourier transform or discrete Fourier transform, short-time fast Fourier transform or short-time discrete Fourier transform), or the like. A value derived from the square addition of the amplitude of the frequency spectrum component after conversion to the frequency domain (for example, the square root of the square addition of the even-order harmonic component, the square root of the square addition of the even-order harmonic component, or THD) (Total Harmonic Distortion) etc.) may be obtained as a feature value of the current waveform.
記憶装置109に記憶される店舗情報は、例えば図8(A)に示すように、店舗ID、店舗面積、駐車場台数、立地(駅前、商店街、学校への通学路、国道、市道等の街道沿い等)、売上、競合等の情報項目を含む。記憶装置109に記憶される設備情報は、例えば店舗200Aから200Cに設置される設備20の機種情報、諸元、使用年数を含む。店舗情報、及び設備情報は、広域にチェーン展開するコンビニエンスストアやスーパ等を管理する管理本部や支社等から記憶装置109に記憶するようにしてもよい。あるいは、店舗200A〜200Cから個別に店舗情報、設備情報を取得して記憶するようにしてもよい。   The store information stored in the storage device 109 is, for example, as shown in FIG. 8A, store ID, store area, number of parking lots, location (in front of the station, shopping street, school route to school, national highway, city road, etc. , Along the roads, etc.), information items such as sales and competition. The facility information stored in the storage device 109 includes, for example, model information, specifications, and years of use of the facility 20 installed in the stores 200A to 200C. The store information and the facility information may be stored in the storage device 109 from a management headquarters or a branch office that manages a convenience store or a supermarket that develops a chain in a wide area. Alternatively, store information and facility information may be individually acquired from stores 200A to 200C and stored.
店舗・設備分析部108は、通信部110を介して店舗200A〜200Cから受信した店舗名(店舗ID)等を基に、記憶装置109を参照して、当該店舗IDに対応する店舗情報を取得し、店舗のタイプを判別するようにしてもよい。店舗のタイプは、例えば店舗面積によっていくつかのクラスに分類され(例えば、50m 未満、50〜100m 、100〜150m、150m以上等の4つのクラスに区分)、さらに、駐車場台数(例えば、駐車場なし、駐車台数1〜3、4〜10、10以上の4つのクラスに区分してもよい)、立地(例えば、商店街、駅前、学校への通学路、国道、市道等街道沿い等のクラスに区分してもよい)、売上、競合(例えば競合店なし、有の場合の近さを30m未満、30〜100m、100〜200m、200m以上等4つのクラスに区分してもよい)に基づき、さらに枝分かれして分類される。 The store / facility analysis unit 108 refers to the storage device 109 based on the store name (store ID) received from the stores 200A to 200C via the communication unit 110, and acquires store information corresponding to the store ID. Then, the store type may be determined. Type store, for example, are classified into several classes by floor area (e.g., less than 50 m 2, 50 to 100 m 2, divided into four classes, such as 100-150 2, 150 meters 2 or more), further parking Number (For example, there is no parking lot, and the number of parking spaces may be divided into four classes of 1 to 3, 4 to 10, 10 or more), location (for example, shopping street, station square, school route to school, national road, city road It may be classified into classes along the same road, etc.), sales, competition (for example, no competitor stores, proximity if there is less than 30m, 30-100m, 100-200m, 200m or more, etc.) May be further branched and classified.
また、店舗・設備分析部108は、通信部110が店舗200A〜200Cから取得した設備20の設備名(ID)等から、記憶装置109を参照して、当該設備20の機種、使用年数を取得する。   Further, the store / equipment analysis unit 108 refers to the storage device 109 from the facility name (ID) of the facility 20 acquired by the communication unit 110 from the stores 200A to 200C, and acquires the model and age of the facility 20 To do.
波形特徴取得部102は、店舗200A〜200Cの通信部203から送信され通信部110で受信した波形特徴を、記憶装置106に記憶する。波形特徴取得部102は、店舗名(店舗ID)、設備名(設備ID)に関連させて波形特徴を記憶するようにしてもよい。また、波形特徴取得部102は、店舗200A〜200Cから送信された設備20の波形特徴に対して必要に応じて演算処理を施してもよい。例えば、複数の設備20が同一機種であっても、品番等によって、設備20の波形に差異(ゲインやオフセット)が存在する場合、波形特徴取得部102は、店舗200A〜200Cから送信された設備20の波形特徴を調整し、基準となる年次に合わせ込んだ上で記憶装置106に記憶するようにしてもよい。例えば同一機種であっても、製造年次が若い(使用年月が短い)設備20の消費電流が、製造年次が古い(使用年月が長い)設備20の消費電流に対して改善されている場合、波形特徴取得部102は、設備の使用年月情報等に基づき、該消費電流の改善率を考慮した補正処理等を、店舗からの波形特徴に施すようにしてもよい。この補正処理は、店舗200A〜200Cの設備20の諸元や使用年月(年齢)を取得可能な場合には、波形特徴取得部102で行うようにしてもよい。あるいは、波形特徴の該補正処理は、波形特徴分析部103で行うようにしてもよい。   The waveform feature acquisition unit 102 stores the waveform feature transmitted from the communication unit 203 of the stores 200 </ b> A to 200 </ b> C and received by the communication unit 110 in the storage device 106. The waveform feature acquisition unit 102 may store the waveform features in association with the store name (store ID) and the facility name (facility ID). Moreover, the waveform feature acquisition unit 102 may perform arithmetic processing on the waveform features of the facility 20 transmitted from the stores 200A to 200C as necessary. For example, even if the plurality of facilities 20 are the same model, if there is a difference (gain or offset) in the waveform of the facility 20 depending on the product number, the waveform feature acquisition unit 102 transmits the facilities transmitted from the stores 200A to 200C. The 20 waveform characteristics may be adjusted, adjusted to the reference year, and stored in the storage device 106. For example, even in the same model, the current consumption of the equipment 20 with a younger manufacturing year (shorter usage date) is improved compared to the current consumption of the equipment 20 with an older manufacturing year (longer usage time). If so, the waveform feature acquisition unit 102 may perform correction processing and the like considering the improvement rate of the current consumption on the waveform features from the store based on the usage date information of the equipment. This correction process may be performed by the waveform feature acquisition unit 102 when the specifications and the use date (age) of the equipment 20 of the stores 200A to 200C can be acquired. Alternatively, the waveform feature correction processing may be performed by the waveform feature analysis unit 103.
波形特徴分析部103は、店舗・設備分析部108で分析された店舗タイプ、設備の使用年数、環境情報取得部101で取得された環境情報(特に制限されないが、例えば温度情報等)を受け、店舗タイプに対応させて、波形特徴を分類する。例えば図8(B)に示すように、店舗タイプ、機種、波形特徴、波形サンプリング時刻、環境情報(例えば、最高温度等)、経過年数(使用年数)等の情報が記憶装置106に記憶される。なお、波形特徴は1つではなく、サンプリング時刻毎に波形特徴を複数個時系列で記憶するようにしてもよい。図8(B)の例では、波形特徴として商用交流電源1周期分の電流波形に関するTHD(%)を表している。THDは基本周波数である交流電源周波数の高調波成分の振幅の2乗を加算した値の平方根を、基本周波数成分の振幅で除算した値であり、IEC(International Electrotechnical Commission)61000-3-12では、以下の式のように、40次までの高調波成分から算出される。Iは電源電流の基本周波数の振幅値、Iはn次高調波成分の振幅値である。 The waveform feature analysis unit 103 receives the store type analyzed by the store / equipment analysis unit 108, the years of use of the facility, and the environment information acquired by the environment information acquisition unit 101 (although not particularly limited, for example, temperature information). Classify waveform features according to store type. For example, as shown in FIG. 8B, information such as store type, model, waveform characteristics, waveform sampling time, environmental information (for example, maximum temperature), elapsed years (years of use), and the like are stored in the storage device 106. . Note that a plurality of waveform features may be stored in time series for each sampling time instead of one waveform feature. In the example of FIG. 8B, THD (%) relating to a current waveform for one cycle of the commercial AC power supply is represented as a waveform feature. THD is a value obtained by dividing the square root of the sum of the squares of the harmonic components of the AC power supply frequency, which is the fundamental frequency, by the amplitude of the fundamental frequency component. In IEC (International Electrotechnical Commission) 61000-3-12 It is calculated from the harmonic components up to the 40th order as in the following equation. I 1 is the amplitude value of the fundamental frequency of the power source current, I n is the amplitude value of the n-th harmonic component.


経時変化導出部104は、例えば、図9(A)示すように、店舗タイプ毎に、年次別に、波形特徴量から、その経時変化を算出するようにしてもよい。その際、経時変化導出部104は、図9(B)に示すように、1年、3年、5年の波形特徴量に基づき、例えば最小2乗法等による直線又は多項式近似等の補間を行うことで、2年、4年経過時の波形特徴量を求めるようにしてもよい。   For example, as illustrated in FIG. 9A, the temporal change deriving unit 104 may calculate the temporal change from the waveform feature amount for each store type for each year. At that time, as shown in FIG. 9B, the temporal change deriving unit 104 performs interpolation such as a straight line or polynomial approximation based on the least squares method, for example, based on the waveform feature values of 1 year, 3 years, and 5 years. Thus, the waveform feature amount at the time of 2 years and 4 years may be obtained.
図10は、図7の経時変化導出部104の演算を説明する図である。図10は、経過年数が3年の設備について、図5の第1のパラメータを店舗面積とし、図5の第2のパラメータを最高温度とし、波形特徴を電流特徴量とした場合の例を説明する図である。経時変化導出部104は、店舗面積=83m、室内の最高気温が29℃(白丸○)における経過年数3年の設備の電流波形特徴量を推定している。白丸○の波形特徴量Zを、該白丸○を囲む4点を用いた双一次補間で算出してもよいし、あるいは最小2乗法を用いて直線近似や多項式近似で求めるようにしてもよい。経時変化導出部104は、設備の波形特徴が未知または不十分な正常動作状態に対しても、取得した情報に基づき、生成する。このため、設備の正常動作状態の経時変化を考慮し、異常動作の発生を正確に検知することを可能としている。 FIG. 10 is a diagram for explaining the calculation of the temporal change deriving unit 104 in FIG. FIG. 10 illustrates an example in which the first parameter of FIG. 5 is the store area, the second parameter of FIG. 5 is the maximum temperature, and the waveform feature is the current feature amount for equipment with an elapsed age of three years. It is a figure to do. The temporal change deriving unit 104 estimates the current waveform feature amount of the equipment for three years elapsed when the store area = 83 m 2 and the indoor maximum temperature is 29 ° C. (white circle ○). The waveform feature amount Z of the white circle ○ may be calculated by bilinear interpolation using four points surrounding the white circle ○, or may be obtained by linear approximation or polynomial approximation using the least square method. The temporal change deriving unit 104 generates a normal operation state with unknown or insufficient waveform characteristics of the facility based on the acquired information. For this reason, it is possible to accurately detect the occurrence of abnormal operation in consideration of the temporal change of the normal operation state of the equipment.
なお、変形例として、店舗200A〜200Cの波形特徴算出部202の機能の一部又は全部を、管理装置100Bの例えば波形特徴取得部102に実装し、管理装置100Bの波形特徴取得部102が、店舗200A〜200Cからそれぞれ送信された設備20の波形を受信して各設備20の波形特徴を算出し記憶装置106に記憶する構成としてもよい。この場合、店舗200A〜200Cの波形特徴算出部202は、設備20の波形を取得し通信部204を介して管理装置100Bに送信する機能を備えるだけでもよい。あるいは、店舗200A〜200Cにおいて、設備20が、管理装置100Bに送信する波形をセンシングする機能を具備している場合には、波形特徴算出部202の設置は必要とされない。   As a modification, some or all of the functions of the waveform feature calculation unit 202 of the stores 200A to 200C are mounted on, for example, the waveform feature acquisition unit 102 of the management device 100B, and the waveform feature acquisition unit 102 of the management device 100B It is good also as a structure which receives the waveform of the installation 20 each transmitted from the stores 200A-200C, calculates the waveform characteristic of each installation 20, and memorize | stores it in the memory | storage device 106. FIG. In this case, the waveform feature calculation unit 202 of the stores 200 </ b> A to 200 </ b> C may only have a function of acquiring the waveform of the facility 20 and transmitting the waveform to the management apparatus 100 </ b> B via the communication unit 204. Alternatively, in the stores 200 </ b> A to 200 </ b> C, when the facility 20 has a function of sensing a waveform transmitted to the management device 100 </ b> B, the waveform feature calculation unit 202 is not required to be installed.
上記したように、第2の実施形態では、基本形態として、店舗200A〜200Cに設置される設備20から取得した波形に基づき、その波形特徴を店舗200A〜200C側の波形特徴算出部202で算出し管理装置100Bに送信している。あるいは、変形例として、個々の設備20の波形を管理装置100Bで取得して波形特徴を算出している。   As described above, in the second embodiment, as a basic form, the waveform feature is calculated by the waveform feature calculation unit 202 on the store 200A to 200C side based on the waveform acquired from the facility 20 installed in the store 200A to 200C. And transmitted to the management apparatus 100B. Alternatively, as a modification, the waveform of each facility 20 is acquired by the management device 100B and the waveform feature is calculated.
さらなる変形例として、管理装置が、複数の店舗の各々について、一つの店舗に設置されている複数の設備の合成電流波形を当該店舗から取得し、管理装置側で、個々の設備ごとの電流波形に波形分離した上で、着目する設備の波形特徴を算出するようにしてもよい。これを、第3の実施形態として以下に説明する。   As a further modification, for each of a plurality of stores, the management device acquires a combined current waveform of a plurality of facilities installed in one store from the store, and on the management device side, a current waveform for each facility The waveform characteristics of the facility of interest may be calculated after waveform separation. This will be described below as a third embodiment.
<第3の実施形態>
図11は、本発明の第3の実施形態を説明する図である。図11は、非特許文献1等に記載される機器分離技術を用いて、設備毎に電流波形を分離する例を説明する図である。図11(A)を参照すると、店舗200において、通信装置21はHEMS(Home Energy Management System)/BEMS(Building Energy Management System)/FEMS(Factory Energy Management System)等のコントローラ(ゲートウェイ)で構成され、スマートメータ25の検針データ(消費電力等)を例えばBルートから取得する。通信装置21がスマートメータ25からBルートで取得する検針データ(消費電力等)は、店舗200全体の消費電力に関する情報を含む。あるいは、分電盤22の少なくとも1つの分岐ブレーカ(不図示)また主幹ブレーカに電流センサ23を備え、電流センサ23から、通信装置21に無線伝送等で電力、電流波形データを送信するようにしてもよい。電流センサ23は、電流情報を通信装置21に、例えばWi−SUN(Wireless Smart Utility Network)等により無線伝送するようにしてもよい。
<Third Embodiment>
FIG. 11 is a diagram for explaining a third embodiment of the present invention. FIG. 11 is a diagram illustrating an example in which a current waveform is separated for each facility using the device separation technique described in Non-Patent Document 1 or the like. Referring to FIG. 11A, in the store 200, the communication device 21 is configured by a controller (gateway) such as HEMS (Home Energy Management System) / BEMS (Building Energy Management System) / FEMS (Factory Energy Management System). Meter reading data (power consumption etc.) of the smart meter 25 is acquired from the B route, for example. The meter-reading data (power consumption etc.) which the communication apparatus 21 acquires from the smart meter 25 by B route contains the information regarding the power consumption of the whole store 200. FIG. Alternatively, at least one branch breaker (not shown) or main breaker of the distribution board 22 is provided with a current sensor 23, and power and current waveform data are transmitted from the current sensor 23 to the communication device 21 by wireless transmission or the like. Also good. The current sensor 23 may wirelessly transmit current information to the communication device 21 by, for example, Wi-SUN (Wireless Smart Utility Network).
管理装置100において、波形特徴取得部102は、波形分離部102−1と波形特徴算出部102−2を備えている。なお、図11(A)において、図1に示した管理装置100の環境情報取得部101と、経時変化導出部104と、出力部105は省略されている。通信部110は、店舗200の通信装置21と通信し、電流センサ23又はスマートメータ25で取得した電流情報(電流波形)を取得する。波形分離部102−1は、電流波形を波形分離し、設備20−1〜20−3に固有の電流波形に分離し、分離した電流波形を記憶装置106に記憶する。図11(B)は、図11(A)の分電盤22に設置され電流センサ23で取得された電流波形を例示する図である。波形分離部102−1は、図11(B)の電流波形データから、設備20−1〜20−3の各電流波形に分離する。図11(C)〜図11(E)は、設備20−1〜20−3の各々について設備毎に分離された電流波形を模式的に表している。波形特徴算出部102−2は、分離された設備20−1〜20−3の電流波形から、前記第1の実施形態と同様の手法を用いて波形特徴を算出する。   In the management apparatus 100, the waveform feature acquisition unit 102 includes a waveform separation unit 102-1 and a waveform feature calculation unit 102-2. In FIG. 11A, the environment information acquisition unit 101, the temporal change deriving unit 104, and the output unit 105 of the management apparatus 100 shown in FIG. 1 are omitted. The communication unit 110 communicates with the communication device 21 of the store 200 and acquires current information (current waveform) acquired by the current sensor 23 or the smart meter 25. The waveform separation unit 102-1 separates the current waveform into waveforms that are unique to the facilities 20-1 to 20-3, and stores the separated current waveform in the storage device 106. FIG. 11B is a diagram illustrating a current waveform that is installed on the distribution board 22 of FIG. 11A and acquired by the current sensor 23. The waveform separation unit 102-1 separates the current waveform data of the equipment 20-1 to 20-3 from the current waveform data of FIG. FIG.11 (C)-FIG.11 (E) represent typically the electric current waveform isolate | separated for every installation about each of the installations 20-1 to 20-3. The waveform feature calculation unit 102-2 calculates waveform features from the current waveforms of the separated facilities 20-1 to 20-3 using the same method as in the first embodiment.
なお、図11(A)において、波形分離部102−1又は、波形分離部102−1と波形特徴算出部102−2を、ローカル側の店舗200等に配置する構成とし、記憶装置106をクラウド側に配置する構成としてもよい。   In FIG. 11A, the waveform separation unit 102-1 or the waveform separation unit 102-1 and the waveform feature calculation unit 102-2 are arranged in the local store 200 and the storage device 106 is a cloud. It is good also as a structure arrange | positioned in the side.
<第4の実施形態>
図1、図6、図7を参照して説明した管理装置100、100A、100Bは、例えば図12に示すように、コンピュータシステムに実装してもよい。図12を参照すると、サーバコンピュータ等のコンピュータシステム120は、プロセッサ(CPU(Central Processing Unit)、データ処理装置)121、半導体メモリ(例えばRAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、又は、EEPROM(Electrically Erasable and Programmable ROM)等)、HDD(Hard Disk Drive)、CD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)等の少なくともいずれかを含む記憶装置122と、表示装置123と、通信インタフェース124を備えている。通信インタフェース124は、図11(A)の通信部110として機能する。図1等の出力部105は、例えば表示装置123に経時変化の推定結果を出力する。記憶装置122は、図1等の記憶装置106と同一の装置であってもよい。記憶装置122に図1等の管理装置100の機能を実現するプログラムを記憶しておき、プロセッサ121が、該プログラムを読み出して実行することで、上記した実施形態の管理装置100を実現するようにしてもよい。コンピュータシステム120は状態推定サービスをクラウドサービスとしてクライアントに提供するクラウドサーバとして実装するようにしてもよい。
<Fourth Embodiment>
The management devices 100, 100A, and 100B described with reference to FIGS. 1, 6, and 7 may be implemented in a computer system as shown in FIG. 12, for example. Referring to FIG. 12, a computer system 120 such as a server computer includes a processor (CPU (Central Processing Unit), data processing device) 121, a semiconductor memory (eg, RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), or Storage device 122 including at least one of EEPROM (Electrically Erasable and Programmable ROM), HDD (Hard Disk Drive), CD (Compact Disc), DVD (Digital Versatile Disc), display device 123, and communication interface 124 It has. The communication interface 124 functions as the communication unit 110 in FIG. The output unit 105 in FIG. 1 and the like outputs, for example, the estimation result of the change over time to the display device 123. The storage device 122 may be the same device as the storage device 106 of FIG. A program for realizing the functions of the management apparatus 100 in FIG. 1 or the like is stored in the storage device 122, and the processor 121 reads out and executes the program, thereby realizing the management apparatus 100 of the above-described embodiment. May be. The computer system 120 may be implemented as a cloud server that provides the client with the state estimation service as a cloud service.
上記実施形態では、設備の稼働の状態を表す波形特徴として、設備に流れる電流波形の特徴量を例に説明したが、他の信号波形(振動センサ、音響センサ、温度センサ等)の少なくとも一つからの情報を用いてもよいことは勿論である。   In the above embodiment, the feature amount of the current waveform flowing through the facility has been described as an example of the waveform feature representing the operation state of the facility, but at least one of other signal waveforms (vibration sensor, acoustic sensor, temperature sensor, etc.) Of course, information from may be used.
また、上記実施形態では、空調設備や冷蔵・冷凍設備等比較的寿命の長い設備を例に説明したが、経時変化は、経時変化を含み、設備の寿命はより短期のものであってもよいことは勿論である。また実施形態の一具体例として、店舗内の設備を例に説明したが、実施形態の適用対象は店舗に制限されるものでなく、工場等の設備やオフィス内の電気機器、家電製品、家庭内の家電製品等に対しても同様に適用されることは勿論である。   Further, in the above-described embodiment, an example of equipment having a relatively long life such as an air conditioning equipment or a refrigeration / refrigeration equipment has been described as an example, but a change with time may include a change with time, and the life of the equipment may be shorter. Of course. In addition, as a specific example of the embodiment, the facility in the store has been described as an example. However, the application target of the embodiment is not limited to the store, but the facility in the factory, the electrical apparatus in the office, the home appliance, the home Of course, the same applies to home appliances.
なお、上記の特許文献1、2、非特許文献1の各開示を、本書に引用をもって繰り込むものとする。本発明の全開示(請求の範囲を含む)の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素(各請求項の各要素、各実施例の各要素、各図面の各要素等を含む)の多様な組み合わせ乃至選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。   The disclosures of Patent Documents 1 and 2 and Non-Patent Document 1 are incorporated herein by reference. Within the scope of the entire disclosure (including claims) of the present invention, the embodiments and examples can be changed and adjusted based on the basic technical concept. Various combinations or selections of various disclosed elements (including each element of each claim, each element of each embodiment, each element of each drawing, etc.) are possible within the scope of the claims of the present invention. . That is, the present invention of course includes various variations and modifications that could be made by those skilled in the art according to the entire disclosure including the claims and the technical idea.
上記した実施形態は例えば以下のように付記される(ただし、以下に制限されない)。   For example, the above-described embodiment is appended as follows (but is not limited to the following).
(付記1)
使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得する波形特徴取得部と、前記複数の設備の波形特徴と前記環境情報に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する経時変化導出部と、を備えた、ことを特徴とする管理装置。
(Appendix 1)
A waveform feature acquisition unit that acquires waveform features representing operating states of a plurality of facilities whose usage dates are different from each other, and a waveform that reflects temporal changes of the facilities based on the waveform features of the plurality of facilities and the environment information A management apparatus comprising: a temporal change deriving unit for deriving a characteristic.
(付記2)
前記複数の設備は、機種が同等又は同一である、ことを特徴とする付記1記載の管理装置。
(Appendix 2)
The management apparatus according to appendix 1, wherein the plurality of facilities have the same or the same model.
(付記3)
前記複数の設備が設置される環境情報を取得する環境情報取得部を備えた、ことを特徴とする付記1又は2記載の管理装置。
(Appendix 3)
The management apparatus according to appendix 1 or 2, further comprising an environment information acquisition unit that acquires environment information in which the plurality of facilities are installed.
(付記4)
前記波形特徴取得部は、前記設備の正常動作時の波形特徴を取得し、
前記経時変化導出部は、前記設備の正常動作時の経時変化を反映した波形特徴を導出する、ことを特徴とする付記1乃至3のいずれか一に記載の管理装置。
(Appendix 4)
The waveform feature acquisition unit acquires waveform features during normal operation of the equipment,
The management apparatus according to any one of appendices 1 to 3, wherein the temporal change deriving unit derives a waveform characteristic that reflects a temporal change during normal operation of the facility.
(付記5)
前記経時変化導出部は、前記設備の環境情報と波形特徴に基づき、所定の使用年月、環境情報がそれぞれ所定の値の前記設備の前記波形特徴を推定する、ことを特徴とする付記1乃至4のいずれか一に記載の管理装置。
(Appendix 5)
The temporal change deriving unit estimates the waveform feature of the facility having a predetermined usage date and environment information each having a predetermined value based on the environment information and waveform feature of the facility. 4. The management device according to any one of 4.
(付記6)
前記複数の設備の波形特徴を、前記設備が設置される環境情報と前記設備の使用年月に関連付けて仕分する波形特徴分析部をさらに備えた、ことを特徴とする付記1乃至5のいずれか一に記載の管理装置。
(Appendix 6)
Any one of appendices 1 to 5, further comprising a waveform feature analysis unit that sorts the waveform characteristics of the plurality of facilities in association with environmental information in which the facilities are installed and the usage dates of the facilities. The management apparatus according to one.
(付記7)
評価対象となる設備の波形特徴と環境情報を取得し、
前記経時変化導出部で導出された前記設備の使用年月と環境情報に対応した波形特徴を用いて、前記評価対象となる前記設備の状態を検知する状態検知部をさらに備えた、ことを特徴とする付記1乃至6のいずれか一に記載の管理装置。
(Appendix 7)
Obtain the waveform characteristics and environmental information of the equipment to be evaluated,
The apparatus further comprises a state detection unit that detects a state of the facility to be evaluated using a waveform feature corresponding to a use date and environmental information of the facility derived by the time change deriving unit. The management device according to any one of appendices 1 to 6.
(付記8)
前記設備の波形特徴は、前記設備に流れる電流の波形特徴である、ことを特徴とする付記1乃至7のいずれか一に記載の管理装置。
(Appendix 8)
The management apparatus according to any one of appendices 1 to 7, wherein the waveform characteristic of the facility is a waveform characteristic of a current flowing through the facility.
(付記9)
前記設備が設置される1つ又は複数の店舗の店舗情報および前記設備の環境情報を取得する手段をさらに備え、
前記波形特徴取得部は、1つ又は複数の店舗から使用年月の異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得し、
前記環境情報取得部は、1つ又は複数の店舗の店舗情報、前記設備の環境情報を取得し、
前記経時変化導出部は、前記店舗情報に基づき、店舗のタイプ別に、所定の設置環境における前記設備の前記波形特徴の経時変化を求める、ことを特徴とする付記1乃至8のいずれか一に記載の管理装置。
(Appendix 9)
Means for obtaining store information of one or more stores where the equipment is installed and environmental information of the equipment;
The waveform feature acquisition unit acquires a waveform feature representing an operating state of a plurality of facilities having different use dates from one or a plurality of stores,
The environmental information acquisition unit acquires store information of one or a plurality of stores, environmental information of the facility,
The temporal change deriving unit obtains the temporal change of the waveform characteristics of the equipment in a predetermined installation environment for each type of store based on the store information. Management device.
(付記10)
前記店舗において前記設備に電源を供給する分電盤に接続された電流センサ又はスマートメータからの電流情報を、通信部を介して、受信し、設備毎の電流情報を波形分離する波形分離部と、
波形分離された前記設備の前記電流波形から波形特徴を算出する波形特徴算出部を備えた付記9に記載の管理装置。
(Appendix 10)
A waveform separation unit that receives current information from a current sensor or a smart meter connected to a distribution board that supplies power to the facility in the store via a communication unit, and separates the current information for each facility in a waveform; ,
The management apparatus according to appendix 9, further comprising a waveform feature calculation unit that calculates a waveform feature from the current waveform of the facility that has been subjected to waveform separation.
(付記11)
付記1乃至10のいずれか一に記載の管理装置と、店舗とを備え、
前記店舗が、
前記設備の波形特徴を算出する波形特徴算出部と、
前記設備が設置される環境情報を検知する環境情報検知部と、
前記波形特徴と前記環境情報を前記管理装置に送信する通信部と、
を備えた、ことを特徴とする設備管理システム。
(Appendix 11)
Including the management device according to any one of appendices 1 to 10 and a store;
The store
A waveform feature calculator for calculating the waveform feature of the facility;
An environmental information detector that detects environmental information in which the equipment is installed;
A communication unit for transmitting the waveform characteristics and the environment information to the management device;
A facility management system characterized by comprising:
(付記12)
コンピュータにより設備を管理するにあたり、
使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得し、
前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する、ことを特徴とする管理方法。
(Appendix 12)
In managing equipment by computer,
Acquire waveform characteristics that indicate the operating status of multiple facilities with different usage dates,
A management method for deriving a waveform feature reflecting a time-dependent change of the facility based on the waveform feature of the plurality of facilities.
(付記13)
前記複数の設備は、機種が同等又は同一である、ことを特徴とする付記12記載の管理方法。
(Appendix 13)
The management method according to appendix 12, wherein the plurality of facilities have the same or the same model.
(付記14)
前記複数の設備が設置される環境情報を取得する、ことを特徴とする付記12又は13記載の管理方法。
(付記15)
前記設備の正常動作時の波形特徴を取得し、
前記設備の正常動作時の経時変化を反映した波形特徴を導出する、ことを特徴とする付記12乃至14のいずれか一に記載の管理方法。
(Appendix 14)
14. The management method according to appendix 12 or 13, wherein environmental information in which the plurality of facilities are installed is acquired.
(Appendix 15)
Obtain waveform characteristics during normal operation of the equipment,
The management method according to any one of appendices 12 to 14, wherein a waveform characteristic reflecting a change with time during normal operation of the facility is derived.
(付記16)
前記設備の環境情報と波形特徴に基づき、所定の使用年月、環境情報がそれぞれ所定の値の前記設備の前記波形特徴を推定する、ことを特徴とする付記12乃至15のいずれか一に記載の管理方法。
(Appendix 16)
Any one of appendixes 12 to 15, wherein the waveform feature of the facility having a predetermined usage date and environment information each having a predetermined value is estimated based on the environment information and the waveform feature of the facility. Management method.
(付記17)
前記複数の設備の波形特徴を、前記設備が設置される環境情報と前記設備の使用年月に関連付けて仕分する、ことを特徴とする付記12乃至16のいずれか一に記載の管理方法。
(Appendix 17)
The management method according to any one of appendices 12 to 16, wherein the waveform characteristics of the plurality of facilities are sorted in association with environmental information in which the facilities are installed and usage dates of the facilities.
(付記18)
評価対象となる設備の波形特徴と環境情報を取得し、
導出又は推定された前記設備の使用年月と環境情報に対応した波形特徴を用いて、前記評価対象となる前記設備の状態を検知する、ことを特徴とする付記12乃至17のいずれか一に記載の管理方法。
(Appendix 18)
Obtain the waveform characteristics and environmental information of the equipment to be evaluated,
According to any one of appendices 12 to 17, wherein the state of the equipment to be evaluated is detected using a waveform characteristic corresponding to the use date and environment information of the equipment derived or estimated. The management method described.
(付記19)
前記設備の波形特徴は、前記設備に流れる電流の波形特徴である、ことを特徴とする付記12乃至18のいずれか一に記載の管理方法。
(Appendix 19)
The management method according to any one of appendices 12 to 18, wherein the waveform characteristic of the facility is a waveform feature of a current flowing through the facility.
(付記20)
コンピュータにより設備を管理するにあたり、
使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得する処理と、
前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する処理と、をコンピュータに実行させるプログラム。
(Appendix 20)
In managing equipment by computer,
Processing for obtaining waveform features representing the operating states of a plurality of facilities having different usage dates;
A program for causing a computer to execute a process of deriving a waveform feature reflecting a change with time of the facility based on the waveform features of the plurality of facilities.
(付記21)
前記複数の設備は、機種が同等又は同一である、ことを特徴とする付記20記載のプログラム。
(Appendix 21)
The program according to appendix 20, wherein the plurality of facilities have the same or the same model.
(付記22)
前記複数の設備が設置される環境情報を取得する、ことを特徴とする付記20又は21記載のプログラム。
(Appendix 22)
The program according to appendix 20 or 21, wherein environmental information in which the plurality of facilities are installed is acquired.
(付記23)
前記設備の正常動作時の波形特徴を取得し、
前記設備の正常動作時の経時変化を反映した波形特徴を導出する、ことを特徴とする付記20乃至22のいずれか一に記載のプログラム。
(Appendix 23)
Obtain waveform characteristics during normal operation of the equipment,
The program according to any one of appendices 20 to 22, wherein a waveform characteristic reflecting a change with time during normal operation of the facility is derived.
(付記24)
前記設備の環境情報と波形特徴に基づき、所定の使用年月、環境情報がそれぞれ所定の値の前記設備の前記波形特徴を推定する、ことを特徴とする付記20乃至23のいずれか一に記載のプログラム。
(Appendix 24)
Any one of appendices 20 to 23, wherein the waveform feature of the facility having a predetermined usage date and environment information each having a predetermined value is estimated based on the environment information and the waveform feature of the facility. Program.
(付記25)
前記複数の設備の波形特徴を、前記設備が設置される環境情報と前記設備の使用年月に関連付けて仕分する、ことを特徴とする付記20乃至24のいずれか一に記載のプログラム。
(Appendix 25)
The program according to any one of appendices 20 to 24, wherein the waveform characteristics of the plurality of facilities are sorted in association with environmental information in which the facilities are installed and usage dates of the facilities.
(付記26)
評価対象となる設備の波形特徴と環境情報を取得し、
導出又は推定された前記設備の使用年月と環境情報に対応した波形特徴を用いて、前記評価対象となる前記設備の状態を検知する、ことを特徴とする付記20乃至25のいずれか一に記載のプログラム。
(Appendix 26)
Obtain the waveform characteristics and environmental information of the equipment to be evaluated,
According to any one of appendices 20 to 25, wherein the state of the equipment to be evaluated is detected using a waveform characteristic corresponding to the use date and environment information of the equipment derived or estimated. The program described.
(付記27)
前記設備の波形特徴は、前記設備に流れる電流の波形特徴である、ことを特徴とする付記20乃至26のいずれか一に記載のプログラム。
(Appendix 27)
The program according to any one of appendices 20 to 26, wherein the waveform characteristic of the facility is a waveform feature of a current flowing through the facility.
20、20−1、20−2、20−3 設備
21 通信装置(コントローラ、ゲートウェイ)
22 分電盤
23 電流センサ
24 通信装置(BEMS/FEMSコントローラ)
25 スマートメータ
100、100A、100B 管理装置
101 環境情報取得部
102 波形特徴取得部
102−1 波形分離部
102−2 波形特徴算出部
103 波形特徴分析部
104 経時変化導出部
105 出力部
106、109 記憶装置
107 状態検知部
108 店舗・設備分析部
110 通信部
120 コンピュータシステム(装置)
121 プロセッサ
122 記憶装置
123 表示装置
124 通信インタフェース
200、200A、200B、200C 店舗
201 環境情報検知部
202 波形特徴算出部
203、204 通信部
20, 20-1, 20-2, 20-3 Equipment 21 Communication device (controller, gateway)
22 Distribution board 23 Current sensor 24 Communication device (BEMS / FEMS controller)
25 Smart Meter 100, 100A, 100B Management Device 101 Environment Information Acquisition Unit 102 Waveform Feature Acquisition Unit 102-1 Waveform Separation Unit 102-2 Waveform Feature Calculation Unit 103 Waveform Feature Analysis Unit 104 Time Change Derivation Unit 105 Output Units 106, 109 Storage Device 107 State detection unit 108 Store / equipment analysis unit 110 Communication unit 120 Computer system (device)
121 processor 122 storage device 123 display device 124 communication interface 200, 200A, 200B, 200C store 201 environment information detection unit 202 waveform feature calculation unit 203, 204 communication unit

Claims (12)

  1. 使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得する波形特徴取得部と、
    前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する経時変化導出部と、
    を備えた、ことを特徴とする管理装置。
    A waveform feature acquisition unit for acquiring a waveform feature representing an operating state of a plurality of facilities having different usage dates;
    A temporal change deriving unit for deriving a waveform characteristic reflecting the temporal change of the equipment based on the waveform characteristics of the plurality of equipments;
    The management apparatus characterized by the above-mentioned.
  2. 前記波形特徴取得部は、前記設備の正常動作時の波形特徴を取得し、
    前記経時変化導出部は、前記設備の正常動作時の経時変化を反映した波形特徴を導出する、ことを特徴とする請求項1に記載の管理装置。
    The waveform feature acquisition unit acquires waveform features during normal operation of the equipment,
    The management apparatus according to claim 1, wherein the temporal change deriving unit derives a waveform feature that reflects a temporal change during normal operation of the facility.
  3. 前記経時変化導出部は、前記設備の波形特徴に基づき、所定の使用年月の前記設備の前記波形特徴を推定する、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の管理装置。   The management apparatus according to claim 1, wherein the temporal change deriving unit estimates the waveform feature of the facility for a predetermined usage date based on the waveform feature of the facility.
  4. 前記複数の設備の波形特徴を、前記設備が設置される環境情報と前記設備の使用年月に関連付けて仕分する波形特徴分析部をさらに備えた、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の管理装置。   The waveform feature analysis unit for sorting the waveform features of the plurality of facilities in association with the environmental information in which the facilities are installed and the usage dates of the facilities, further comprising: The management device according to claim 1.
  5. 評価対象となる設備の波形特徴を取得し、
    前記経時変化導出部で導出された前記設備の使用年月に対応した波形特徴を用いて、前記評価対象となる前記設備の状態を検知する状態検知部をさらに備えた、ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の管理装置。
    Obtain the waveform characteristics of the equipment to be evaluated,
    The apparatus further comprises a state detection unit that detects a state of the equipment to be evaluated using a waveform feature corresponding to a usage date of the equipment derived by the time change deriving unit. Item 5. The management device according to any one of Items 1 to 4.
  6. 前記設備の波形特徴は、前記設備に流れる電流の波形特徴である、ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の管理装置。   The management apparatus according to claim 1, wherein the waveform characteristic of the facility is a waveform characteristic of a current flowing through the facility.
  7. 前記設備が設置される1つ又は複数の店舗の店舗情報を取得する手段をさらに備え、
    前記波形特徴取得部は、1つ又は複数の店舗から使用年月の異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得し、
    前記経時変化導出部は、前記店舗情報に基づき、店舗のタイプ別に、所定の設置環境における前記設備の前記波形特徴の経時変化を求める、ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の管理装置。
    Means for obtaining store information of one or more stores where the equipment is installed;
    The waveform feature acquisition unit acquires a waveform feature representing an operating state of a plurality of facilities having different use dates from one or a plurality of stores,
    The said time-dependent change derivation | leading-out part calculates | requires the time-dependent change of the said waveform characteristic of the said installation in a predetermined installation environment for every store type based on the said store information. The management apparatus as described in.
  8. 前記店舗において前記設備に電源を供給する分電盤に接続された電流センサ又はスマートメータからの電流情報を、通信部を介して、受信し、設備毎の電流情報を波形分離する波形分離部と、
    波形分離された前記設備の前記電流波形から波形特徴を算出する波形特徴算出部を備えた、ことを特徴とする請求項7に記載の管理装置。
    A waveform separation unit that receives current information from a current sensor or a smart meter connected to a distribution board that supplies power to the facility in the store via a communication unit, and separates the current information for each facility in a waveform; ,
    The management apparatus according to claim 7, further comprising a waveform feature calculation unit that calculates a waveform feature from the current waveform of the facility that has been subjected to waveform separation.
  9. 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の管理装置と、店舗とを備え、
    前記店舗が、
    前記設備の波形特徴を算出する波形特徴算出部と、
    前記設備が設置される環境情報を検知する環境情報検知部と、
    前記波形特徴と前記環境情報を前記管理装置に送信する通信部と、
    を備えた、ことを特徴とする設備管理システム。
    A management apparatus according to any one of claims 1 to 8, and a store,
    The store
    A waveform feature calculator for calculating the waveform feature of the facility;
    An environmental information detector that detects environmental information in which the equipment is installed;
    A communication unit for transmitting the waveform characteristics and the environment information to the management device;
    A facility management system characterized by comprising:
  10. コンピュータにより設備を管理するにあたり、
    使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得するとともに、 前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する、ことを特徴とする管理方法。
    In managing equipment by computer,
    Acquiring waveform features representing operating states of a plurality of facilities whose usage dates are different from each other, and deriving waveform features reflecting changes over time of the facilities based on the waveform features of the plurality of facilities Management method.
  11. 前記設備の正常動作時の波形特徴を取得し、
    前記設備の正常動作時の経時変化を反映した波形特徴を導出する、ことを特徴とする請求項10記載の管理方法。
    Obtain waveform characteristics during normal operation of the equipment,
    The management method according to claim 10, wherein a waveform characteristic reflecting a change with time during normal operation of the facility is derived.
  12. コンピュータにより設備を管理するにあたり、
    使用年月が互いに異なる複数の設備の稼働の状態を表す波形特徴を取得する処理と、
    前記複数の設備の波形特徴に基づき、前記設備の経時変化を反映させた波形特徴を導出する処理と、をコンピュータに実行させるプログラム。
    In managing equipment by computer,
    Processing for obtaining waveform features representing the operating states of a plurality of facilities having different usage dates;
    A program for causing a computer to execute a process of deriving a waveform feature reflecting a change with time of the facility based on the waveform features of the plurality of facilities.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6856230B1 (en) * 2020-02-03 2021-04-07 株式会社名張ホールディングス Production equipment monitoring equipment and production equipment monitoring program

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