JP2018016827A - Production method of organic coating, production method of semiconductor substrate and organic coating production apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a production method of an organic coating capable of suppressing excessive thickness of the organic coating.SOLUTION: A production method of an organic coating has an organic coating formation step for forming an organic coating on the upper surface of a copper-containing metal layer by immersing a substrate having the copper-containing metal layer formed thereon into a solution of a nitrogen-based organic matter put into a bath. In the organic coating formation step, a copper concentration in the solution in the bath is set at 15 ppm or less.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、有機被膜の製造方法、導電性基板の製造方法、有機被膜製造装置に関する。   The present invention relates to a method for producing an organic film, a method for producing a conductive substrate, and an organic film production apparatus.

静電容量式タッチパネルは、パネル表面に近接する物体により引き起こされる静電容量の変化を検出することにより、パネル表面上での近接する物体の位置情報を電気信号に変換する。静電容量式タッチパネルに用いられる導電性基板は、ディスプレイの表面に設置されるため、導電性基板の導電層の材料には反射率が低く、視認されにくいことが要求されている。   The capacitive touch panel converts positional information of an adjacent object on the panel surface into an electric signal by detecting a change in electrostatic capacitance caused by the object adjacent to the panel surface. Since the conductive substrate used for the capacitive touch panel is installed on the surface of the display, the material of the conductive layer of the conductive substrate is required to have low reflectance and be difficult to be visually recognized.

そのため、静電容量式タッチパネルに用いられる導電層の材料としては、反射率が低く、視認されにくい材料が用いられ、透明基板または透明なフィルム上に配線が形成されている。   Therefore, as a material of the conductive layer used for the capacitive touch panel, a material having low reflectivity and not easily visible is used, and wiring is formed on a transparent substrate or a transparent film.

例えば、特許文献1には、タッチパネル部がPETフィルム上のITO膜により、信号パターンとGNDパターンが印刷された複数の透明シート電極よりなる静電容量型デジタル式タッチパネルが開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses a capacitive digital touch panel that includes a plurality of transparent sheet electrodes in which a signal pattern and a GND pattern are printed by an ITO film on a PET film.

ところで、近年タッチパネルを備えたディスプレイの大画面化が進んでおり、これに対応してタッチパネル用の導電性基板についても大面積化が求められている。しかし、ITOは電気抵抗値が高く信号の劣化を生じるため、ITOを用いた導電性基板は大型パネルには不向きという問題があった。   By the way, in recent years, the display screen including a touch panel has been enlarged, and in response to this, the conductive substrate for the touch panel is also required to have a large area. However, since ITO has a high electric resistance value and causes signal deterioration, there is a problem that a conductive substrate using ITO is not suitable for a large panel.

そこで、導電層の材料として、ITOに代えて銀、銅等の金属を用いることが検討されている。例えば、特許文献2には、現像銀の導電性細線を備える透明電極が透明支持体の両面に形成された導電シートを静電容量方式のタッチパネルに用いる技術が開示されている。しかし、銀等の金属は金属光沢を有しており、反射によりディスプレイの視認性が低下するという問題がある。   Therefore, it has been studied to use a metal such as silver or copper in place of ITO as a material for the conductive layer. For example, Patent Document 2 discloses a technique in which a conductive sheet in which transparent electrodes each having a developed thin conductive silver wire are formed on both sides of a transparent support is used for a capacitive touch panel. However, a metal such as silver has a metallic luster, and there is a problem that the visibility of the display is lowered due to reflection.

この問題に対して、従来から、銅等の金属を含有する金属層と共に、黒色の材料により構成される黒化層を形成した導電性基板が検討されている。例えば、特許文献3には、フィルム表面と裏面の透視が必要な部分のそれぞれに、ストライプ状の銅配線を備え、表裏の銅配線の視認される側に黒色の酸化銅皮膜(黒化層)を有するフィルム状タッチパネルセンサーが開示されている。   In order to solve this problem, a conductive substrate in which a blackened layer made of a black material is formed together with a metal layer containing a metal such as copper has been studied. For example, in Patent Document 3, a striped copper wiring is provided in each of the portions that need to be seen through on the front and back surfaces of the film, and a black copper oxide film (blackened layer) is formed on the side where the copper wiring on the front and back sides is viewed. A film-like touch panel sensor having the following is disclosed.

また、特許文献3に開示されたフィルム状タッチパネルセンサーの製造方法によれば、フィルムに支持された銅薄膜の上にレジスト層を形成する工程と、フォトリソ法により、少なくともレジスト層をストライプ状配線パターンと引き出し用配線パターンに加工する工程と、露出した銅薄膜をエッチングにより除去しストライプ状銅配線と引き出し用銅配線を形成する工程と、銅配線を黒化処理する工程を有するとされている。   Further, according to the method for manufacturing a film-like touch panel sensor disclosed in Patent Document 3, at least a resist layer is formed into a stripe-shaped wiring pattern by a step of forming a resist layer on a copper thin film supported by the film and a photolithography method. And a step of processing the lead wiring pattern, a step of removing the exposed copper thin film by etching to form a striped copper wiring and a lead copper wiring, and a step of blackening the copper wiring.

ところが、特許文献3に開示された、銅配線を形成した後にその表面を黒化処理する方法では、工程数が多くなる。このため、基材上に銅を含有する金属層(以下、銅含有金属層という)、及びその表面を黒化処理した黒化層を形成した後、銅含有金属層、及び黒化層をエッチングし、導電性基板とする方法が検討されている。   However, in the method disclosed in Patent Document 3 in which the surface of the copper wiring is blackened after the copper wiring is formed, the number of steps is increased. For this reason, after forming a metal layer containing copper (hereinafter referred to as a copper-containing metal layer) on the substrate and a blackened layer whose surface is blackened, the copper-containing metal layer and the blackened layer are etched. However, a method for forming a conductive substrate has been studied.

特開2004−213114号公報JP 2004-213114 A 特開2012−230665号公報JP 2012-230665 A 特開2013−206315号公報JP 2013-206315 A

しかしながら、銅含有金属層上に有機被膜、黒化層を配置する場合、銅含有金属層と黒化層との密着性を低下させないように、有機被膜の厚さが厚くなり過ぎるのを防ぐことが求められるところ、銅含有金属層上に有機被膜を形成する場合、有機被膜の厚さを所定の範囲内に制御することが困難であった。   However, when an organic coating or blackening layer is placed on the copper-containing metal layer, the organic coating should not be too thick so as not to reduce the adhesion between the copper-containing metal layer and the blackening layer. However, when an organic film is formed on the copper-containing metal layer, it is difficult to control the thickness of the organic film within a predetermined range.

上記従来技術の問題に鑑み、本発明の一側面では、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを抑制することができる有機被膜の製造方法を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems of the prior art, an object of one aspect of the present invention is to provide a method for producing an organic coating that can suppress an excessive increase in the thickness of the organic coating.

上記課題を解決するため本発明の一側面では、
銅含有金属層が形成された基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、前記銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成工程を有し、
前記有機被膜形成工程では、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度を15ppm以下にすることを特徴とする、有機被膜の製造方法を提供する。
In order to solve the above problems, in one aspect of the present invention,
An organic film forming step of forming an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer by immersing the base material on which the copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic material in a bath;
In the organic film forming step, the method for producing an organic film is characterized in that the copper concentration of the solution in the bath is 15 ppm or less.

本発明の一側面によれば、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを抑制することができる有機被膜の製造方法を提供することができる。   According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a method for producing an organic coating that can suppress an excessive increase in the thickness of the organic coating.

本発明の実施形態に係る有機被膜の製造方法の構成例(有機被膜製造装置の一例)を説明する図。The figure explaining the structural example (an example of an organic film manufacturing apparatus) of the manufacturing method of the organic film which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る導電性基板の断面図。Sectional drawing of the electroconductive board | substrate which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る導電性基板の断面図。Sectional drawing of the electroconductive board | substrate which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るメッシュ状の配線を備えた導電性基板の上面図。The top view of the electroconductive board | substrate provided with the mesh-shaped wiring which concerns on embodiment of this invention. 図4のA−A´線における断面図。Sectional drawing in the AA 'line of FIG. 実施例、比較例における密着性試験を行う際に形成する切込み線の説明図。Explanatory drawing of the cut line formed when performing the adhesiveness test in an Example and a comparative example.

以下、本発明の有機被膜の製造方法、導電性基板の製造方法、有機被膜製造装置の一実施形態について説明する。
(有機被膜の製造方法)
まず、本実施形態の有機被膜の製造方法の一構成例について説明する。
Hereinafter, an embodiment of an organic film manufacturing method, a conductive substrate manufacturing method, and an organic film manufacturing apparatus according to the present invention will be described.
(Method for producing organic coating)
First, a configuration example of the method for producing an organic coating according to this embodiment will be described.

本実施形態の有機被膜の製造方法は、以下の工程を有することができる。   The manufacturing method of the organic film of this embodiment can have the following processes.

銅含有金属層が形成された基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成工程。   An organic film forming step of forming an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer by immersing the base material on which the copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic material in a bathtub.

有機被膜形成工程では、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度を15ppm以下にする。   In the organic film forming step, the copper concentration of the nitrogen-based organic solution in the bath is set to 15 ppm or less.

銅含有金属層上に有機被膜を形成する場合、例えば、樹脂フィルム等の基材にスパッタリング法等の乾式法(以下、乾式めっき法という場合がある)、または無電解めっき法により銅含有金属薄膜層を形成する。その後、湿式法によって、該銅含有金属薄膜層上に銅めっきを行い、基材上に銅含有金属層を形成する。なお、樹脂フィルム等の基材と該銅含有金属薄膜層との間に、乾式法、または無電解めっき法により、密着層を形成しても良い。   When an organic film is formed on a copper-containing metal layer, for example, a copper-containing metal thin film is formed on a substrate such as a resin film by a dry method such as a sputtering method (hereinafter sometimes referred to as a dry plating method) or an electroless plating method. Form a layer. Thereafter, copper plating is performed on the copper-containing metal thin film layer by a wet method to form a copper-containing metal layer on the substrate. An adhesion layer may be formed between the substrate such as a resin film and the copper-containing metal thin film layer by a dry method or an electroless plating method.

その後、この銅含有金属層が形成された基材を、有機物の溶液を入れた浴槽に浸漬して、銅含有金属層が形成された基材上に有機被膜を形成する。   Thereafter, the base material on which the copper-containing metal layer is formed is dipped in a bath containing an organic solution to form an organic film on the base material on which the copper-containing metal layer is formed.

本発明の発明者らの検討によれば、残留した銅めっき液が有機物の溶液を入れた浴槽内に持ち込まれると、浴槽内の銅イオン濃度が徐々に上昇する。また、有機物の溶液を入れた浴槽内で、基材上に形成された銅含有金属層から銅成分が溶け出すことにより、浴槽内の銅イオン濃度が徐々に上昇するおそれもある。この場合、浴槽中の銅イオン濃度が高くなるほど、有機物の反応性が高くなるため、有機被膜の厚さが厚くなっていることを見出し、本発明を完成させた。   According to the study by the inventors of the present invention, when the remaining copper plating solution is brought into a bath containing an organic solution, the copper ion concentration in the bath gradually increases. Moreover, when a copper component melts from the copper-containing metal layer formed on the base material in the bath containing the organic solution, the copper ion concentration in the bath may gradually increase. In this case, the higher the copper ion concentration in the bath, the higher the reactivity of the organic matter, so that the thickness of the organic coating was found to complete the present invention.

以下、本実施形態の有機被膜の製造方法の各工程について説明する。   Hereinafter, each process of the manufacturing method of the organic film of this embodiment is demonstrated.

有機被膜形成工程では、銅含有金属層が形成された基材が、浴槽内の窒素系有機物の溶液に浸漬される。これにより、基材に形成された銅含有金属層に有機被膜が形成される。   In the organic film forming step, the base material on which the copper-containing metal layer is formed is immersed in a nitrogen-based organic solution in the bath. Thereby, an organic film is formed in the copper content metal layer formed in the substrate.

基材の種類は、特に限定されるものではなく、銅含有金属層が少なくとも一方の面上に形成された基材を用いることができる。例えば、長尺状基材、シート状基材、透明基材等を用いることができる。   The kind of base material is not particularly limited, and a base material in which a copper-containing metal layer is formed on at least one surface can be used. For example, a long base material, a sheet-like base material, a transparent base material, etc. can be used.

また、銅含有金属層は、銅含有金属層を構成する材料は銅を含むものであれば特に限定されず、用途にあった電気伝導率を有する材料を選択することできる。例えば、銅含有金属層を構成する材料は、Cuと、Zn,Ni,Mo,Sn,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Mn,Co,Wから選ばれる少なくとも1種の以上の金属との銅合金、または銅を含む材料であることが好ましい。また、銅含有金属層は銅から構成される銅層とすることもできる。   Moreover, a copper-containing metal layer will not be specifically limited if the material which comprises a copper-containing metal layer contains copper, The material which has the electrical conductivity which suited the use can be selected. For example, the material constituting the copper-containing metal layer is Cu and at least one metal selected from Zn, Ni, Mo, Sn, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Mn, Co, and W. A copper alloy or a material containing copper is preferable. The copper-containing metal layer can be a copper layer made of copper.

また、上記窒素系有機物としては特に限定されるものではなく、窒素を含有する有機化合物から任意に選択して用いることができる。このような窒素系有機物は、例えば、1,2,3−ベンゾトリアゾール、またはその誘導体を含むことが好ましい。有機被膜に用いる窒素系有機物としては、具体的には例えば、1,2,3−ベンゾトリアゾールや、5−メチル−1Hベンゾトリアゾール等を挙げることができる。   Further, the nitrogen-based organic material is not particularly limited, and can be arbitrarily selected from organic compounds containing nitrogen. Such a nitrogen-based organic substance preferably contains, for example, 1,2,3-benzotriazole or a derivative thereof. Specific examples of nitrogen-based organic substances used for the organic coating include 1,2,3-benzotriazole and 5-methyl-1H benzotriazole.

上記窒素系有機物の溶液としては、例えば銅用の防錆処理剤が挙げられ、市販されている薬品としては例えばOPCディフェンサー(商品名、奥野製薬工業株式会社)等を好ましく用いることができる。   Examples of the nitrogen-based organic solution include a rust preventive agent for copper, and examples of commercially available chemicals that can be preferably used include an OPC defenser (trade name, Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.).

形成する有機被膜の窒素系有機物の含有量の上限値は特に限定されるものではない。ただし、有機被膜の窒素系有機物の含有量を増加させるためには、有機被膜を形成する際に用いる窒素系有機物を含有する有機溶液の濃度を高めたり、窒素系有機物を含有する有機溶液に浸漬する時間を長くしたり等を行うこととなる。このため、有機被膜の窒素系有機物の含有量を過度に多くしようとすると、窒素系有機物を含有する溶液の取扱い性が低下したり、有機被膜を形成するために要する時間が長くなったり、生産性が低下するおそれがある。   The upper limit of the content of nitrogen-based organic matter in the organic coating to be formed is not particularly limited. However, to increase the content of nitrogenous organic matter in the organic coating, increase the concentration of the organic solution containing the nitrogenous organic matter used when forming the organic coating, or immerse it in the organic solution containing the nitrogenous organic matter. For example, it is necessary to lengthen the time to perform the operation. For this reason, if the content of nitrogen-based organic matter in the organic coating is excessively increased, the handling of the solution containing the nitrogen-based organic matter is reduced, the time required to form the organic coating is increased, and production May decrease.

そこで、有機被膜の窒素系有機物の含有量は、例えば10μg/cm以下とすることが好ましく、また、含有量が低い方が黒化層の密着性が良好なため、1μg/cm以下とすることがより好ましく、0.5μg/cm以下とすることがさらに好ましい。 Therefore, the content of the nitrogen-based organic substance in the organic coating is preferably, for example, 10 μg / cm 2 or less, and the lower the content, the better the adhesion of the blackened layer, so that it is 1 μg / cm 2 or less. More preferably, it is more preferably 0.5 μg / cm 2 or less.

窒素系有機物の溶液中の窒素系有機物の濃度は特に限定されるものではなく、目標とする有機被膜中の窒素系有機物の含有量等を考慮して任意に選択することができる。例えば有機溶液中の窒素系有機物の濃度の下限値は、0.08g/L以上であることが好ましく、0.32g/L以上であることがより好ましい。また、上限値は、0.64g/L以下であることが好ましい。   The concentration of the nitrogen-based organic substance in the nitrogen-based organic substance solution is not particularly limited, and can be arbitrarily selected in consideration of the content of the nitrogen-based organic substance in the target organic film. For example, the lower limit of the concentration of the nitrogen-based organic substance in the organic solution is preferably 0.08 g / L or more, and more preferably 0.32 g / L or more. Moreover, it is preferable that an upper limit is 0.64 g / L or less.

基材を有機溶液に浸漬して銅含有金属層表面に有機被膜を形成する際の有機溶液の温度は特に限定されるものではなく、該溶液の粘度や操作性、反応性等を考慮して任意に選択することができる。例えば10℃以上であることが好ましく、20℃以上であることがより好ましい。ただし、温度が高くなると有機溶液が他の物質と反応するおそれがあることから、40℃以下とすることが好ましい。   The temperature of the organic solution when the organic film is formed on the surface of the copper-containing metal layer by immersing the substrate in the organic solution is not particularly limited, considering the viscosity, operability, reactivity, etc. of the solution. Can be arbitrarily selected. For example, it is preferably 10 ° C. or higher, and more preferably 20 ° C. or higher. However, since the organic solution may react with other substances when the temperature increases, the temperature is preferably 40 ° C. or lower.

窒素系有機物の溶液のpHは特に限定されるものではなく、例えば用いる有機溶液の種類や該溶液の反応性等を考慮して選択することができる。例えば有機溶液のpHは2以上であることが好ましく、3以上であることがより好ましい。ただし、pHが高くなると、例えば被膜中の窒素系有機物の含有量が低下することから、有機溶液のpHは4以下であることが好ましい。   The pH of the nitrogen-based organic substance solution is not particularly limited, and can be selected in consideration of, for example, the type of organic solution used and the reactivity of the solution. For example, the pH of the organic solution is preferably 2 or more, and more preferably 3 or more. However, when the pH is increased, for example, the content of nitrogen-based organic matter in the coating is lowered, so that the pH of the organic solution is preferably 4 or less.

銅含有金属層表面に有機被膜を形成する際に、基材を有機溶液に浸漬する時間(浸漬時間)の長さは特に限定されるものではなく、用いる有機溶液の種類や、形成する有機被膜の厚さ等に応じて任意に選択することができる。例えば浸漬時間は3秒以上であることが好ましく、4秒以上であることがより好ましい。ただし、浸漬時間を長くしすぎると、生産性が低下するおそれがあることから10秒以下であることが好ましい。なお、既述の有機被膜の製造方法においては、基材の搬送速度等を調整することにより、浸漬時間を所望の時間とすることができる。   When forming an organic film on the surface of the copper-containing metal layer, the length of time for immersing the substrate in the organic solution (immersion time) is not particularly limited, and the type of organic solution used and the organic film to be formed It can be arbitrarily selected according to the thickness of the film. For example, the immersion time is preferably 3 seconds or more, and more preferably 4 seconds or more. However, if the immersion time is too long, the productivity may be lowered, and therefore it is preferably 10 seconds or less. In the above-described method for producing an organic coating, the immersion time can be set to a desired time by adjusting the conveyance speed of the substrate.

有機被膜形成工程では、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度は、15ppm以下に調整され、好ましくは8ppm以下に調整される。これにより、銅含有金属層を形成した際に基材上に残留した銅めっき液が浴槽に持ち込まれたり、形成された銅含有金属層から銅成分が浴槽内で溶け出したりした場合でも、浴槽内の溶液の銅濃度が高くなるのを防ぐことができる。そのため、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを抑制することができる。   In the organic coating forming step, the copper concentration of the nitrogen-based organic solution in the bath is adjusted to 15 ppm or less, preferably 8 ppm or less. Thus, even when the copper plating solution remaining on the base material when the copper-containing metal layer is formed is brought into the bathtub or when the copper component is dissolved out of the formed copper-containing metal layer in the bathtub, It can prevent that the copper concentration of the solution inside becomes high. Therefore, it can suppress that the thickness of an organic film becomes thick too much.

また、有機被膜形成工程では、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度が15ppm以下になるように浴槽に窒素系有機物の溶液を補給することができる。この場合、浴槽内の溶液の銅濃度を15ppm以下の低い濃度に調整することが容易である。そのため、基材上に残留しためっき液が浴槽に持ち込まれたり、形成された銅含有金属層から銅成分が浴槽内で溶け出したりした場合でも、浴槽内の溶液の銅濃度が高くなるのを確実に防ぐことができる。そのため、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを高い精度で防ぐことができる。   Further, in the organic film forming step, the nitrogen-based organic solution can be replenished to the bathtub so that the copper concentration of the nitrogen-based organic solution in the bathtub is 15 ppm or less. In this case, it is easy to adjust the copper concentration of the solution in the bath to a low concentration of 15 ppm or less. Therefore, even when the plating solution remaining on the base material is brought into the bathtub or the copper component is dissolved in the bathtub from the formed copper-containing metal layer, the copper concentration of the solution in the bathtub is increased. It can be surely prevented. Therefore, it is possible to prevent the organic coating from becoming excessively thick with high accuracy.

なお、有機被膜が形成された基材は、さらに、水洗して、乾燥した後、保管してもよい。このように保管された基材は、例えば導電性基板用の基材として用いることができる。   In addition, you may store the base material in which the organic film was formed, after washing with water and drying. The base material stored in this way can be used as a base material for a conductive substrate, for example.

また、本実施形態の有機被膜の製造方法では、有機被膜形成工程の前に銅含有金属形成工程が含まれていても良い。このような銅含有金属層形成工程は、基材の少なくとも一方の面上に銅含有金属層が形成される。   Moreover, in the manufacturing method of the organic film of this embodiment, the copper containing metal formation process may be included before the organic film formation process. In such a copper-containing metal layer forming step, a copper-containing metal layer is formed on at least one surface of the substrate.

銅含有金属層形成工程では、例えば、湿式めっき法の一種である電気めっき法により基材上に銅含有金属めっき層を形成することができる。このように形成された銅含有金属めっき層によって、基材上に形成された銅含有金属層を構成することができる。   In the copper-containing metal layer forming step, for example, the copper-containing metal plating layer can be formed on the substrate by an electroplating method which is a kind of wet plating method. The copper-containing metal plating layer formed on the substrate can be constituted by the copper-containing metal plating layer thus formed.

また、上述の銅含有金属層形成工程を行う前には、予めスパッタリング等の乾式法もしくは無電解めっき法により基材上に銅含有金属の薄膜層(以下、銅含有金属薄膜層という)を形成する。この銅含有金属薄膜層を給電層として銅含有金属層形成工程で湿式法による銅めっきを行うことにより、銅含有金属薄膜層上に銅含有金属めっき層を形成することができる。このように形成された銅含有金属薄膜層と銅含有金属めっき層は、基材上に形成された銅含有金属層を構成することができる。銅含有金属薄膜層の形成前に、スパッタリング等の乾式法もしくは無電解めっき法により、密着層を形成しても良い。   In addition, before performing the above-described copper-containing metal layer forming step, a copper-containing metal thin film layer (hereinafter referred to as a copper-containing metal thin film layer) is formed on the substrate in advance by a dry method such as sputtering or an electroless plating method. To do. By performing copper plating by a wet method in the copper-containing metal layer forming step using the copper-containing metal thin film layer as a power feeding layer, a copper-containing metal plating layer can be formed on the copper-containing metal thin film layer. The copper-containing metal thin film layer and the copper-containing metal plating layer thus formed can constitute a copper-containing metal layer formed on the substrate. Before the formation of the copper-containing metal thin film layer, the adhesion layer may be formed by a dry method such as sputtering or an electroless plating method.

なお、銅含有金属層形成工程を経て銅含有金属層が形成された基材は、その後、有機被膜形成工程で有機被膜を形成する前に、水洗して、基材に付着した水分の液切りを行ってもよい。このような水洗および液切を行うことにより、有機被膜形成工程に銅成分が持ち込まれるのを抑制することができるため、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度の制御が容易になる。   The substrate on which the copper-containing metal layer has been formed through the copper-containing metal layer forming step is then washed with water before the organic coating is formed in the organic coating forming step, and the water attached to the substrate is drained. May be performed. By performing such water washing and draining, it is possible to suppress the copper component from being brought into the organic film forming step, and thus it becomes easy to control the copper concentration of the nitrogen-based organic matter solution in the bath.

以上に説明した本実施形態の有機被膜の製造方法によれば、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液の銅濃度が高くなるのを防ぎ、有機被膜の厚さが過度に厚くなることを防ぐことができる。
(有機被膜製造装置)
次に、本実施形態の有機被膜製造装置の一構成例について説明する。
According to the method for producing an organic film of the present embodiment described above, it is possible to prevent the copper concentration of the nitrogen-based organic substance solution in the bathtub from increasing, and to prevent the organic film from becoming excessively thick. Can do.
(Organic coating production equipment)
Next, a configuration example of the organic film manufacturing apparatus according to this embodiment will be described.

なお、本実施形態の有機被膜製造装置は、既述の有機被膜の製造方法に好適に用いることができるため、有機被膜の製造方法において、すでに説明した事項については、説明を省略する。   In addition, since the organic film manufacturing apparatus of this embodiment can be used suitably for the manufacturing method of the above-mentioned organic film, description is abbreviate | omitted about the matter already demonstrated in the manufacturing method of an organic film.

本実施形態の有機被膜製造装置は、以下の構成を有することができる。
銅含有金属層が形成された基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成手段。
有機被膜形成手段に設けられて、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度を15ppm以下に調整する調整手段。
The organic film manufacturing apparatus of the present embodiment can have the following configuration.
Organic film forming means for immersing a base material on which a copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic material in a bath to form an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer.
An adjusting means provided in the organic coating forming means for adjusting the copper concentration of the nitrogen-based organic matter solution in the bathtub to 15 ppm or less.

図1は、本発明に係る有機被膜製造装置の一例を示す図である。図1において、符号10は、有機被膜製造装置の一例である。有機被膜製造装置10は、銅含有金属層形成手段11、有機被膜形成手段12、及び調整手段13を備える。   FIG. 1 is a diagram showing an example of an organic film manufacturing apparatus according to the present invention. In FIG. 1, the code | symbol 10 is an example of an organic film manufacturing apparatus. The organic film manufacturing apparatus 10 includes a copper-containing metal layer forming unit 11, an organic film forming unit 12, and an adjusting unit 13.

銅含有金属層形成手段11は、基材14の少なくとも一方の面上に湿式法により銅含有金属層を形成することができる。なお、図1の有機被膜製造装置10では、銅含有金属層形成手段11が設けられているが、銅含有金属層形成手段を設けることは任意である。すなわち、有機被膜形成装置において、銅含有金属層形成手段を設けずに、銅含有金属層が形成された基材を予め準備しておき、有機被膜形成手段12により該基材に有機被膜を形成してもよい。   The copper-containing metal layer forming means 11 can form a copper-containing metal layer on at least one surface of the base material 14 by a wet method. In addition, in the organic film manufacturing apparatus 10 of FIG. 1, although the copper containing metal layer forming means 11 is provided, providing a copper containing metal layer forming means is arbitrary. That is, in the organic film forming apparatus, without providing the copper-containing metal layer forming means, a base material on which the copper-containing metal layer is formed is prepared in advance, and the organic film forming means 12 forms the organic film on the base material. May be.

基材14は、長尺のシート状基材である。このシート状基材14は、巻出ローラ15に巻かれた状態からブロック矢印1の方向に搬送され、銅含有金属層形成手段11、有機被膜形成手段12を経由して巻取ローラ16に巻き取られる。なお、図1は、搬送される基材14の搬送方向と直交する水平方向に、シート状基材14を見た図を示している。   The base material 14 is a long sheet-like base material. This sheet-like substrate 14 is conveyed in the direction of the block arrow 1 from the state wound on the unwinding roller 15, and is wound around the winding roller 16 via the copper-containing metal layer forming means 11 and the organic film forming means 12. Taken. In addition, FIG. 1 has shown the figure which looked at the sheet-like base material 14 in the horizontal direction orthogonal to the conveyance direction of the base material 14 conveyed.

基材14は、図1中に示したブロック矢印1が示す方向に搬送される際に、幅方向が搬送方向と直交する方向となる状態で保持されて搬送される。図1では、Y軸方向(紙面に垂直な方向)が基材14の幅方向となり、X軸方向が基材14の搬送方向となる。   When the base material 14 is transported in the direction indicated by the block arrow 1 shown in FIG. 1, the base material 14 is held and transported in a state where the width direction is a direction orthogonal to the transport direction. In FIG. 1, the Y-axis direction (direction perpendicular to the paper surface) is the width direction of the base material 14, and the X-axis direction is the transport direction of the base material 14.

なお、図1では長尺のシート状基材を用いた例を示しているが、係る形態に限定されるものではない。ただし、連続的に生産することができるため、長尺のシートであることが好ましい。   In addition, although the example using the elongate sheet-like base material is shown in FIG. 1, it is not limited to the form which concerns. However, since it can be produced continuously, a long sheet is preferable.

銅含有金属層形成手段11は、図示しない電極が内部に配置されためっき浴11aと、めっき浴11aに入れためっき液11b(硫酸銅溶液)と搬送ローラ11c〜11eを備える。銅含有金属層形成手段11では、基材14が、銅含有金属層形成手段11に搬送され、基材14の少なくとも一方の面上に銅含有金属層が形成される。   The copper-containing metal layer forming means 11 includes a plating bath 11a in which an electrode (not shown) is disposed, a plating solution 11b (copper sulfate solution) placed in the plating bath 11a, and transport rollers 11c to 11e. In the copper-containing metal layer forming means 11, the base material 14 is conveyed to the copper-containing metal layer forming means 11, and a copper-containing metal layer is formed on at least one surface of the base material 14.

具体的には、巻出ローラ15から巻き出された基材14は、搬送ローラ11c〜11eにより、めっき浴11a内を通過し、その際めっき浴11a内で湿式法による銅めっきが行われ、基材14に銅含有金属層が形成される。   Specifically, the base material 14 unwound from the unwinding roller 15 passes through the plating bath 11a by the transport rollers 11c to 11e, and copper plating by a wet method is performed in the plating bath 11a. A copper-containing metal layer is formed on the substrate 14.

また、銅含有金属層形成手段11で湿式法による銅めっきを行う前に、予めスパッタリング等の乾式法により基材14上に銅含有金属薄膜層を形成してもよい。この銅含有金属薄膜層を給電層として銅含有金属層形成手段11で湿式法による銅めっきを行うことにより、銅含有金属薄膜層上に銅含有金属めっき層を形成することができる。このように形成された銅含有金属薄膜層と銅含有金属めっき層は、基材上に形成された銅含有金属層を構成することができる。   In addition, the copper-containing metal thin film layer may be formed on the base material 14 in advance by a dry method such as sputtering before the copper-containing metal layer forming unit 11 performs copper plating by a wet method. A copper-containing metal plating layer can be formed on the copper-containing metal thin film layer by performing copper plating by the wet method using the copper-containing metal layer forming means 11 using the copper-containing metal thin film layer as a power feeding layer. The copper-containing metal thin film layer and the copper-containing metal plating layer thus formed can constitute a copper-containing metal layer formed on the substrate.

なお、図1の銅含有金属層形成手段11では、基材14の幅方向がY軸方向に沿うように基材14がめっき浴11a内を通過する水平型のメッキ装置が用いられているが、本例のように銅含有金属形成手段を用いる場合、メッキ装置の構成は限定されない。例えば、銅含有金属層形成手段で用いるメッキ装置として、基材14の幅方向がZ軸方向に沿うように懸垂された基材14がめっき浴11a内を通過する懸垂型のメッキ装置を用いてもよい。   In the copper-containing metal layer forming means 11 of FIG. 1, a horizontal type plating apparatus is used in which the base material 14 passes through the plating bath 11a so that the width direction of the base material 14 is along the Y-axis direction. When the copper-containing metal forming means is used as in this example, the configuration of the plating apparatus is not limited. For example, as a plating apparatus used in the copper-containing metal layer forming means, a suspension type plating apparatus in which the substrate 14 suspended so that the width direction of the substrate 14 is along the Z-axis direction passes through the plating bath 11a is used. Also good.

また、銅含有金属層形成手段11で銅含有金属層が形成された基材14は、次に有機被膜形成手段12で有機被膜が形成されるが、有機被膜形成手段12で有機被膜を形成する前に、図1に示されるように水洗手段17およびエアーナイフ18を通過させてもよい。水洗手段17では、銅含有金属層が形成された基材14が水洗することができる。また、エアーナイフ18は、基材14に付着した水分の液切りを行うことができる。水洗手段17とエアーナイフ18を通過した基材14は、有機被膜形成手段12に搬送される。このような水洗および液切を行うことにより、有機被膜形成手段12に銅成分が持ち込まれるのを抑制することができる。   Further, the base material 14 on which the copper-containing metal layer is formed by the copper-containing metal layer forming means 11 is then formed with an organic film by the organic film forming means 12. Prior to this, water washing means 17 and air knife 18 may be passed as shown in FIG. In the water washing means 17, the base material 14 on which the copper-containing metal layer is formed can be washed with water. Further, the air knife 18 can drain the water adhering to the base material 14. The base material 14 that has passed through the water washing means 17 and the air knife 18 is conveyed to the organic film forming means 12. By performing such water washing and draining, it is possible to suppress the copper component from being brought into the organic film forming means 12.

有機被膜形成手段12は、例えば、浴槽12aと、浴槽12aに入れた窒素系有機物の溶液12bと、搬送ローラ12c〜12eとを備える。有機被膜形成手段12では、銅含有金属層が形成された基材14が、搬送ローラ12c〜12eにより、浴槽12a内を通過し、浴槽12a内の溶液12bに浸漬される。これにより、基材14に形成された銅含有金属層に有機被膜が形成される。   The organic film forming unit 12 includes, for example, a bathtub 12a, a nitrogen-based organic solution 12b put in the bathtub 12a, and transport rollers 12c to 12e. In the organic coating forming means 12, the base material 14 on which the copper-containing metal layer is formed passes through the bathtub 12a and is immersed in the solution 12b in the bathtub 12a by the transport rollers 12c to 12e. Thereby, an organic film is formed on the copper-containing metal layer formed on the substrate 14.

このように形成された有機被膜は、窒素系有機物を含有することができる。有機被膜が導電性基板に用いられ銅含有金属層と黒化層との間に配置された場合、黒化層と、黒化層の下層である銅含有金属層及び有機被膜との密着性を特に高めることができ、銅含有金属層と黒化層の密着性が安定した導電性基板が得られる。その結果、黒化層の剥離を抑制できるため、黒化層のエッチング性を高められる。また、有機被膜が窒素系有機物を含有することで、導電性基板の反射率を低減することができる。   The organic coating formed in this manner can contain a nitrogen-based organic material. When an organic coating is used for a conductive substrate and placed between a copper-containing metal layer and a blackened layer, the adhesion between the blackened layer and the copper-containing metal layer and the organic coating that are the lower layer of the blackened layer is improved. In particular, it is possible to obtain a conductive substrate in which the adhesion between the copper-containing metal layer and the blackened layer is stable. As a result, since the peeling of the blackened layer can be suppressed, the etching property of the blackened layer can be improved. Moreover, the reflectance of a conductive substrate can be reduced because an organic film contains a nitrogen-type organic substance.

有機被膜形成手段12では、浴槽12a内の窒素系有機物の溶液12bの銅濃度が、15ppm以下に調整され、好ましくは8ppm以下に調整される。これにより、基材14上に残留しためっき液が浴槽12aに持ち込まれても、浴槽12a内の溶液12bの銅濃度が高くなるのを防ぐことができる。そのため、有機被膜の厚さが過度に厚くなるの防ぐことができる。   In the organic film forming means 12, the copper concentration of the nitrogen-based organic matter solution 12b in the bathtub 12a is adjusted to 15 ppm or less, preferably 8 ppm or less. Thereby, even if the plating solution remaining on the base material 14 is brought into the bathtub 12a, the copper concentration of the solution 12b in the bathtub 12a can be prevented from increasing. Therefore, it is possible to prevent the organic coating from becoming excessively thick.

有機被膜形成手段12には、浴槽12a内の溶液12bの銅濃度を調整する調整手段13が設けられている。調整手段13は、タンク13aと、タンク13aに貯蔵された窒素系有機物の溶液13b(以下、補充溶液という)と、補充溶液13bを浴槽12aに補給するための補給管13cとを備える。   The organic coating forming means 12 is provided with adjusting means 13 for adjusting the copper concentration of the solution 12b in the bathtub 12a. The adjusting means 13 includes a tank 13a, a nitrogen-based organic solution 13b stored in the tank 13a (hereinafter referred to as a replenishing solution), and a replenishment pipe 13c for replenishing the bathtub 12a with the replenishing solution 13b.

なお、調整手段13は、上記の構成に限定されるものでなく、浴槽12a内の溶液12bの銅濃度を調整することができる構成であればどのような構成にしてもよい。例えば、調整手段13には、浴槽12a内の銅濃度を測定する図示しないセンサと、該センサにより測定された銅濃度に基づいて浴槽12a内の銅濃度を制御するように補充溶液13bを補給する図示しない制御手段とを、さらに設けても良い。   In addition, the adjustment means 13 is not limited to said structure, What kind of structure may be sufficient if it is the structure which can adjust the copper concentration of the solution 12b in the bathtub 12a. For example, the adjusting means 13 is replenished with a sensor (not shown) for measuring the copper concentration in the bathtub 12a and the replenishing solution 13b so as to control the copper concentration in the bathtub 12a based on the copper concentration measured by the sensor. Control means (not shown) may be further provided.

この調整手段13により、浴槽12a内の溶液12bの銅濃度が15ppm以下になるように浴槽12aに補充溶液13bを補給することができる。特に、浴槽12a内の溶液12bの銅濃度を15ppm以下の低い濃度に調整することができる。そのため、基材14上に残留しためっき液が浴槽12aに持ち込まれる等しても、浴槽12a内の溶液12bの銅濃度が高くなるのを確実に防ぐことができる。そのため、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを高い精度で防ぐことができる。   By this adjustment means 13, the replenishing solution 13b can be replenished to the bathtub 12a so that the copper concentration of the solution 12b in the bathtub 12a may be 15 ppm or less. In particular, the copper concentration of the solution 12b in the bathtub 12a can be adjusted to a low concentration of 15 ppm or less. Therefore, even if the plating solution remaining on the base material 14 is brought into the bathtub 12a, the copper concentration of the solution 12b in the bathtub 12a can be reliably prevented from increasing. Therefore, it is possible to prevent the organic coating from becoming excessively thick with high accuracy.

なお、図1の有機被膜形成手段12では、基材14の幅方向がY軸方向に沿うように基材14が浴槽12a内を通過する水平型の浸漬装置が用いられているが、本例のように有機被膜形成手段で浸漬装置を用いる場合、その構成は限定されない。例えば、有機被膜形成手段で用いる浸漬装置として、基材14の幅方向がZ軸方向に沿うように基材14が浴槽12a内を通過する懸垂型の浸漬装置を用いてもよい。   In addition, in the organic film formation means 12 of FIG. 1, although the horizontal type immersion apparatus through which the base material 14 passes the inside of the bathtub 12a so that the width direction of the base material 14 follows a Y-axis direction is used, this example Thus, when using an immersion apparatus with an organic film formation means, the structure is not limited. For example, as the immersion device used in the organic film forming means, a suspension type immersion device in which the base material 14 passes through the bathtub 12a so that the width direction of the base material 14 is along the Z-axis direction may be used.

また、有機被膜形成手段12で有機被膜が形成された基材14は、その後、水洗手段19を通過して水洗し、さらに図示しない乾燥手段を通過して乾燥してもよい。このように水洗および乾燥された基材14は、さらに巻取ローラ16に巻き取ってもよい。このように巻き取られた基材14は、後述の導電性基板に用いることができる。   Further, the base material 14 on which the organic coating film is formed by the organic coating film forming means 12 may then be washed with water after passing through the water washing means 19 and further dried through a drying means (not shown). The base material 14 thus washed and dried may be further wound around the winding roller 16. The base material 14 wound up in this way can be used for a conductive substrate described later.

以上説明した本実施形態の有機被膜製造装置によれば、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液の銅濃度が高くなるのを防ぐことができる。その結果、有機被膜の厚さが過度に厚くなるの防ぐことができる。
(導電性基板の製造方法)
次に、本実施形態の導電性基板の製造方法の一構成例について説明する。
According to the organic film manufacturing apparatus of this embodiment described above, it is possible to prevent the copper concentration of the nitrogen-based organic matter solution in the bath from becoming high. As a result, it is possible to prevent the organic coating from becoming excessively thick.
(Method for producing conductive substrate)
Next, a configuration example of the conductive substrate manufacturing method of the present embodiment will be described.

なお、本実施形態の導電性基板の製造方法は、既述の有機被膜の製造方法や有機被膜製造装置を好適に用いて実施することができるため、導電性基板の製造方法において、すでに説明した事項については、説明を省略する。   In addition, since the manufacturing method of the electroconductive board | substrate of this embodiment can be implemented suitably using the manufacturing method and organic film manufacturing apparatus of an organic film as stated above, it already demonstrated in the manufacturing method of an electroconductive board | substrate. Description of matters is omitted.

本実施形態の導電性基板の製造方法では、銅含有金属層と黒化層との間に有機被膜を形成することができる。そして、本実施形態の導電性基板の製造方法は、以下の工程を有することができる。   In the manufacturing method of the conductive substrate of this embodiment, an organic film can be formed between a copper containing metal layer and a blackening layer. And the manufacturing method of the electroconductive board | substrate of this embodiment can have the following processes.

透明基材の少なくとも一方の面上に湿式法により銅含有金属層を形成する銅含有金属層形成工程。   A copper-containing metal layer forming step of forming a copper-containing metal layer on at least one surface of the transparent substrate by a wet method.

銅含有金属層が形成された透明基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成工程。   An organic film forming step of forming an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer by immersing the transparent base material on which the copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic material in a bathtub.

有機被膜の上面に黒化層を形成する黒化層形成工程。   A blackening layer forming step of forming a blackening layer on the upper surface of the organic coating.

有機被膜形成工程では、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度を15ppm以下にする。   In the organic film forming step, the copper concentration of the nitrogen-based organic solution in the bath is set to 15 ppm or less.

ここでまず、本実施形態の導電性基板の製造方法により得られる導電性基板の構成例について説明する。   First, a configuration example of a conductive substrate obtained by the method for manufacturing a conductive substrate according to this embodiment will be described.

導電性基板は、透明基材と、透明基材の少なくとも一方の面上に形成された銅含有金属層と、銅含有金属層上に形成された有機被膜と、有機被膜上に形成された黒化層と、を有することができる。   The conductive substrate includes a transparent substrate, a copper-containing metal layer formed on at least one surface of the transparent substrate, an organic coating formed on the copper-containing metal layer, and a black formed on the organic coating. And a stratified layer.

なお、本実施形態における導電性基板とは、銅含有金属層等をパターン化する前の、透明基材の表面に銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層を有する基板と、銅含有金属層等をパターン化した基板、すなわち、配線基板と、を含む。   In addition, the conductive substrate in this embodiment is a substrate having a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer on the surface of the transparent substrate before patterning the copper-containing metal layer and the like, and a copper-containing metal. A substrate on which a layer or the like is patterned, that is, a wiring substrate is included.

ここでまず、導電性基板に含まれる各部材について以下に説明する。   First, each member included in the conductive substrate will be described below.

透明基材としては特に限定されるものではなく、可視光を透過する樹脂基板(樹脂フィルム)や、ガラス基板等の透明基材を好ましく用いることができる。   The transparent substrate is not particularly limited, and a transparent substrate such as a resin substrate (resin film) that transmits visible light or a glass substrate can be preferably used.

可視光を透過する樹脂基板の材料としては例えば、ポリアミド系樹脂、ポリエチレンテレフタレート系樹脂、ポリエチレンナフタレート系樹脂、シクロオレフィン系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂等の樹脂を好ましく用いることができる。特に、可視光を透過する樹脂基板の材料として、PET(ポリエチレンテレフタレート)、COP(シクロオレフィンポリマー)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート等をより好ましく用いることができる。   As a material for the resin substrate that transmits visible light, for example, a polyamide resin, a polyethylene terephthalate resin, a polyethylene naphthalate resin, a cycloolefin resin, a polyimide resin, a polycarbonate resin, or the like can be preferably used. In particular, PET (polyethylene terephthalate), COP (cycloolefin polymer), PEN (polyethylene naphthalate), polyamide, polyimide, polycarbonate, and the like can be more preferably used as the material for the resin substrate that transmits visible light.

透明基材の厚さについては特に限定されず、導電性基板とした場合に要求される強度や静電容量、光の透過率等に応じて任意に選択することができる。透明基材の厚さとしては例えば10μm以上200μm以下とすることができる。特にタッチパネルの用途に用いる場合、透明基材の厚さは20μm以上120μm以下とすることが好ましく、20μm以上100μm以下とすることがより好ましい。タッチパネルの用途に用いる場合で、例えば特にディスプレイ全体の厚さを薄くすることが求められる用途においては、透明基材の厚さは20μm以上50μm以下であることが好ましい。   It does not specifically limit about the thickness of a transparent base material, It can select arbitrarily according to the intensity | strength, electrostatic capacitance, light transmittance, etc. which are required when it is set as an electroconductive board | substrate. The thickness of the transparent substrate can be, for example, 10 μm or more and 200 μm or less. In particular, when used for touch panel applications, the thickness of the transparent substrate is preferably 20 μm or more and 120 μm or less, and more preferably 20 μm or more and 100 μm or less. In the case of use for touch panel applications, for example, particularly in applications where it is required to reduce the thickness of the entire display, the thickness of the transparent substrate is preferably 20 μm or more and 50 μm or less.

透明基材の全光線透過率は高い方が好ましく、例えば全光線透過率は30%以上であることが好ましく、60%以上であることがより好ましい。透明基材の全光線透過率が上記範囲であることにより、例えばタッチパネルの用途に用いた場合にディスプレイの視認性を十分に確保することができる。   The total light transmittance of the transparent substrate is preferably higher. For example, the total light transmittance is preferably 30% or more, and more preferably 60% or more. When the total light transmittance of the transparent substrate is in the above range, the visibility of the display can be sufficiently ensured when used for, for example, a touch panel.

なお透明基材の全光線透過率はJIS K 7361−1に規定される方法により評価することができる。   In addition, the total light transmittance of a transparent base material can be evaluated by the method prescribed | regulated to JISK7361-1.

次に、銅含有金属層について説明する。   Next, the copper-containing metal layer will be described.

銅含有金属層を構成する材料は特に限定されず、用途にあった電気伝導率を有する材料を選択できるが、例えば、銅含有金属層を構成する材料は、Cuと、Zn,Ni,Mo,Sn,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Mn,Co,Wから選ばれる少なくとも1種の以上の金属との銅合金、または銅を含む材料であることが好ましい。また、銅含有金属層は銅から構成される銅層とすることもできる。   The material constituting the copper-containing metal layer is not particularly limited, and a material having electrical conductivity suitable for the application can be selected. For example, the materials constituting the copper-containing metal layer include Cu, Zn, Ni, Mo, A copper alloy with at least one metal selected from Sn, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Mn, Co, and W, or a material containing copper is preferable. The copper-containing metal layer can be a copper layer made of copper.

透明基材上に銅含有金属層を形成する方法は特に限定されないが、光の透過率を低減させないため、透明基材と銅含有金属層との間に接着剤を配置しないことが好ましい。すなわち銅含有金属層は、透明基材の少なくとも一方の面上に直接形成されていることが好ましい。なお、後述のように透明基材と銅含有金属層との間に密着層を配置する場合には、銅含有金属層は密着層の上面に直接形成されていることが好ましい。   The method for forming the copper-containing metal layer on the transparent substrate is not particularly limited, but it is preferable not to arrange an adhesive between the transparent substrate and the copper-containing metal layer in order not to reduce the light transmittance. That is, the copper-containing metal layer is preferably directly formed on at least one surface of the transparent substrate. In addition, when arrange | positioning an adhesion layer between a transparent base material and a copper containing metal layer like the after-mentioned, it is preferable that the copper containing metal layer is directly formed on the upper surface of the adhesion layer.

透明基材の上面に銅含有金属層を形成する場合は、上述のように、スパッタリング等の乾式法もしくは無電解めっき法により、銅含有金属薄膜層を形成する。次いで、該銅含有金属薄膜層上に、湿式めっき法により銅含有金属めっき層を形成して銅含有金属層を構成する。これにより、透明基材上に接着剤を介さずに直接銅含有金属層を形成できる。   When the copper-containing metal layer is formed on the upper surface of the transparent substrate, as described above, the copper-containing metal thin film layer is formed by a dry method such as sputtering or an electroless plating method. Next, a copper-containing metal layer is formed by forming a copper-containing metal plating layer on the copper-containing metal thin film layer by a wet plating method. Thereby, a copper-containing metal layer can be directly formed on the transparent substrate without using an adhesive.

なお、乾式めっき法としては後で詳述するが、例えばスパッタリング法や蒸着法、イオンプレーティング法等を好ましく用いることができる。   The dry plating method will be described in detail later. For example, a sputtering method, a vapor deposition method, an ion plating method, or the like can be preferably used.

また、銅含有金属薄膜層と銅含有金属めっき層とから銅含有金属層を構成することにより、銅含有金属層の膜厚を厚くすることができる。なお、銅含有金属層の厚さは特に限定されるものではなく、銅含有金属層を配線として用いた場合に、該配線に供給する電流の大きさや配線幅等に応じて任意に選択することができる。   Moreover, the film thickness of a copper containing metal layer can be thickened by comprising a copper containing metal layer from a copper containing metal thin film layer and a copper containing metal plating layer. The thickness of the copper-containing metal layer is not particularly limited, and when the copper-containing metal layer is used as a wiring, it can be arbitrarily selected according to the magnitude of current supplied to the wiring, the wiring width, etc. Can do.

ただし、銅含有金属層が厚くなると、配線パターンを形成するためにエッチングを行う際にエッチングに時間を要するためサイドエッチが生じ易くなり、細線が形成しにくくなる等の問題を生じる場合がある。このため、銅含有金属層の厚さは5μm以下であることが好ましく、3μm以下であることがより好ましい。   However, when the copper-containing metal layer is thick, it takes time to perform etching to form a wiring pattern, so that side etching is likely to occur, and it may be difficult to form a thin line. For this reason, it is preferable that the thickness of a copper containing metal layer is 5 micrometers or less, and it is more preferable that it is 3 micrometers or less.

また、特に導電性基板の抵抗値を低くし、十分に電流を供給できるようにする観点から、例えば銅含有金属層は厚さが50nm以上であることが好ましく、60nm以上であることがより好ましく、150nm以上であることがさらに好ましい。   In particular, from the viewpoint of lowering the resistance value of the conductive substrate so that sufficient current can be supplied, for example, the copper-containing metal layer preferably has a thickness of 50 nm or more, more preferably 60 nm or more. More preferably, it is 150 nm or more.

なお、銅含有金属層が上述のように銅含有金属薄膜層と銅含有金属めっき層とを有する場合には、銅含有金属薄膜層の厚さと、銅含有金属めっき層の厚さとの合計が上記範囲であることが好ましい。   In addition, when the copper-containing metal layer has the copper-containing metal thin film layer and the copper-containing metal plating layer as described above, the sum of the thickness of the copper-containing metal thin film layer and the thickness of the copper-containing metal plating layer is the above. A range is preferable.

銅含有金属層が銅含有金属薄膜層と銅含有金属めっき層とを有する場合、銅含有金属薄膜層の厚さは特に限定されるものではないが、例えば50nm以上500nm以下とすることが好ましい。   When the copper-containing metal layer has a copper-containing metal thin film layer and a copper-containing metal plating layer, the thickness of the copper-containing metal thin film layer is not particularly limited, but is preferably, for example, 50 nm to 500 nm.

銅含有金属層は後述するように例えば所望の配線パターンにパターニングすることにより配線として用いることができる。そして、銅含有金属層は従来透明導電膜として用いられていたITOよりも電気抵抗値を低くすることができるから、銅含有金属層を設けることにより導電性基板の電気抵抗値を小さくできる。   As described later, the copper-containing metal layer can be used as a wiring by patterning it into a desired wiring pattern, for example. And since a copper containing metal layer can make an electrical resistance value lower than ITO conventionally used as a transparent conductive film, the electrical resistance value of an electroconductive board | substrate can be made small by providing a copper containing metal layer.

次に有機被膜について説明する。   Next, the organic coating will be described.

有機被膜は銅含有金属層の後述する黒化層と対向する面に形成することができる。従って、導電性基板とした場合に、銅含有金属層と黒化層との間に配置することができる。有機被膜は、窒素系有機物を含有することができる。これは有機被膜が窒素系有機物を含有することで、黒化層と、黒化層の下層である銅含有金属層及び有機被膜との密着性を特に高めることができる。そのため、銅含有金属層と黒化層の密着性が安定した導電性基板が得られる。このような導電性基板では、黒化層の剥離を抑制できるため、黒化層のエッチング性を高められる。また、有機被膜が窒素系有機物を含有することで、導電性基板の反射率を低減することができる。   The organic coating can be formed on the surface of the copper-containing metal layer facing a blackening layer described later. Therefore, when it is set as an electroconductive board | substrate, it can arrange | position between a copper containing metal layer and a blackening layer. The organic coating can contain a nitrogen-based organic material. This can particularly enhance the adhesion between the blackened layer, the copper-containing metal layer that is the lower layer of the blackened layer, and the organic coating because the organic coating contains a nitrogen-based organic substance. Therefore, a conductive substrate with stable adhesion between the copper-containing metal layer and the blackened layer can be obtained. In such a conductive substrate, peeling of the blackened layer can be suppressed, so that the etching property of the blackened layer can be improved. Moreover, the reflectance of a conductive substrate can be reduced because an organic film contains a nitrogen-type organic substance.

有機被膜に用いる窒素系有機物としては特に限定されるものではなく、窒素を含有する有機化合物から任意に選択して用いることができる。有機被膜に用いる窒素系有機物は、例えば、1,2,3−ベンゾトリアゾール、またはその誘導体を含むことが好ましい。有機被膜に用いる窒素系有機物としては、具体的には例えば、1,2,3−ベンゾトリアゾールや、5−メチル−1Hベンゾトリアゾール等を挙げることができる。   The nitrogen-based organic substance used for the organic coating is not particularly limited, and can be arbitrarily selected from organic compounds containing nitrogen. The nitrogen-based organic material used for the organic coating preferably contains, for example, 1,2,3-benzotriazole or a derivative thereof. Specific examples of nitrogen-based organic substances used for the organic coating include 1,2,3-benzotriazole and 5-methyl-1H benzotriazole.

有機被膜に好適的に用いることができる窒素系有機物を含有する有機溶液としては、例えば銅用の防錆処理剤が挙げられ、市販されている薬品としては例えばOPCディフェンサー(商品名、奥野製薬工業株式会社)等を好ましく用いることができる。   Examples of the organic solution containing a nitrogen-based organic material that can be suitably used for the organic coating include a rust preventive agent for copper, and commercially available chemicals include, for example, an OPC defender (trade name, Okuno Pharmaceutical). Kogyo Co., Ltd.) can be preferably used.

有機被膜の窒素系有機物の含有量は0.2μg/cm以上であることが好ましく、0.3μg/cm以上であることがより好ましい。これは、本発明の発明者らの検討によれば、有機被膜の窒素系有機物の含有量を0.2μg/cm以上とすることで、導電性基板の反射率を大幅に抑制することができるからである。また、有機被膜の窒素系有機物の含有量が増加すると、黒化層の色をCIE(L)表色系に換算した際のa値、b値を下げることができ、特に導電性基板の配線を目立たなくすることができるため好ましいからである。 The content of the nitrogen-based organic substance in the organic coating is preferably 0.2 μg / cm 2 or more, and more preferably 0.3 μg / cm 2 or more. According to the study by the inventors of the present invention, the reflectance of the conductive substrate can be significantly suppressed by setting the content of the nitrogen-based organic substance in the organic coating to 0.2 μg / cm 2 or more. Because it can. In addition, when the content of nitrogenous organic matter in the organic coating increases, the a * and b * values when the color of the blackened layer is converted to the CIE (L * a * b * ) color system can be lowered. This is because the wiring of the conductive substrate can be made inconspicuous.

有機被膜の窒素系有機物の含有量の上限値は特に限定されるものではない。ただし、有機被膜の窒素系有機物の含有量を増加させるためには、有機被膜を形成する際に用いる窒素系有機物を含有する有機溶液の濃度を高めたり、窒素系有機物を含有する有機溶液に浸漬する時間を長くしたり等を行うこととなる。このため、有機被膜の窒素系有機物の含有量を過度に多くしようとすると、窒素系有機物を含有する溶液の取扱い性が低下したり、有機被膜を形成するために要する時間が長くなったり、生産性が低下するおそれがある。   The upper limit of the content of nitrogen-based organic matter in the organic coating is not particularly limited. However, to increase the content of nitrogenous organic matter in the organic coating, increase the concentration of the organic solution containing the nitrogenous organic matter used when forming the organic coating, or immerse it in the organic solution containing the nitrogenous organic matter. For example, it is necessary to lengthen the time to perform the operation. For this reason, if the content of nitrogen-based organic matter in the organic coating is excessively increased, the handling of the solution containing the nitrogen-based organic matter is reduced, the time required to form the organic coating is increased, and production May decrease.

そこで、有機被膜の窒素系有機物の含有量は、例えば10μg/cm以下とすることが好ましく、また、含有量が低い方が黒化層の密着性が良好なため、1μg/cm以下とすることがより好ましく、0.5μg/cm以下とすることがさらに好ましい。 Therefore, the content of the nitrogen-based organic substance in the organic coating is preferably, for example, 10 μg / cm 2 or less, and the lower the content, the better the adhesion of the blackened layer, so that it is 1 μg / cm 2 or less. More preferably, it is more preferably 0.5 μg / cm 2 or less.

有機被膜を形成する際に用いる有機溶液中の窒素系有機物の濃度は特に限定されるものではなく、目標とする有機被膜中の窒素系有機物の含有量等を考慮して任意に選択することができる。例えば有機溶液中の窒素系有機物の濃度の下限値は、0.08g/L以上であることが好ましく、0.32g/L以上であることがより好ましい。また、上限値は、0.64g/L以下であることが好ましい。   The concentration of the nitrogen-based organic substance in the organic solution used when forming the organic film is not particularly limited, and can be arbitrarily selected in consideration of the content of the nitrogen-based organic substance in the target organic film. it can. For example, the lower limit of the concentration of the nitrogen-based organic substance in the organic solution is preferably 0.08 g / L or more, and more preferably 0.32 g / L or more. Moreover, it is preferable that an upper limit is 0.64 g / L or less.

基材を有機溶液に浸漬して銅含有金属層表面に有機被膜を形成する際の有機溶液の温度は特に限定されるものではなく、該溶液の粘度や操作性、反応性等を考慮して任意に選択することができる。例えば10℃以上であることが好ましく、20℃以上であることがより好ましい。ただし、温度が高くなると有機溶液が他の物質と反応するおそれがあることから、40℃以下とすることが好ましい。   The temperature of the organic solution when the organic film is formed on the surface of the copper-containing metal layer by immersing the substrate in the organic solution is not particularly limited, considering the viscosity, operability, reactivity, etc. of the solution. Can be arbitrarily selected. For example, it is preferably 10 ° C. or higher, and more preferably 20 ° C. or higher. However, since the organic solution may react with other substances when the temperature increases, the temperature is preferably 40 ° C. or lower.

有機溶液のpHは特に限定されるものではなく、例えば用いる有機溶液の種類や該溶液の反応性等を考慮して選択することができる。例えば有機溶液のpHは2以上であることが好ましく、3以上であることがより好ましい。ただし、pHが高くなると、例えば被膜中の窒素系有機物の含有量が低下することから、有機溶液のpHは4以下であることが好ましい。   The pH of the organic solution is not particularly limited, and can be selected in consideration of, for example, the type of organic solution used and the reactivity of the solution. For example, the pH of the organic solution is preferably 2 or more, and more preferably 3 or more. However, when the pH is increased, for example, the content of nitrogen-based organic matter in the coating is lowered, so that the pH of the organic solution is preferably 4 or less.

銅含有金属層表面に有機被膜を形成する際に、基材を有機溶液に浸漬する時間(浸漬時間)の長さは特に限定されるものではなく、用いる有機溶液の種類や、形成する有機被膜の厚さ等に応じて任意に選択することができる。例えば浸漬時間は3秒以上であることが好ましく、4秒以上であることがより好ましい。ただし、浸漬時間を長くしすぎると、生産性が低下するおそれがあることから10秒以下であることが好ましい。なお、既述の有機被膜の製造方法においては、基材の搬送速度等を調整することにより、浸漬時間を所望の時間とすることができる。   When forming an organic film on the surface of the copper-containing metal layer, the length of time for immersing the substrate in the organic solution (immersion time) is not particularly limited, and the type of organic solution used and the organic film to be formed It can be arbitrarily selected according to the thickness of the film. For example, the immersion time is preferably 3 seconds or more, and more preferably 4 seconds or more. However, if the immersion time is too long, the productivity may be lowered, and therefore it is preferably 10 seconds or less. In the above-described method for producing an organic coating, the immersion time can be set to a desired time by adjusting the conveyance speed of the substrate.

次に黒化層について説明する。   Next, the blackened layer will be described.

黒化層は、有機被膜の上面に形成することができる。   The blackening layer can be formed on the top surface of the organic coating.

黒化層の材料は特に限定されるものではなく、銅含有金属層表面における光の反射を抑制できる材料であれば好適に用いることができる。   The material of the blackening layer is not particularly limited, and any material that can suppress the reflection of light on the surface of the copper-containing metal layer can be suitably used.

黒化層は、例えば、Ni,Zn,Mo,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Co,W,Cu,Sn,Mnから選ばれる少なくとも1種以上の金属を含むことが好ましい。また、黒化層は、炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素をさらに含むこともできる。   The blackening layer preferably contains at least one metal selected from, for example, Ni, Zn, Mo, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Co, W, Cu, Sn, and Mn. Further, the blackening layer may further contain one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen.

なお、黒化層は、Ni,Zn,Mo,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Co,W,Cu,Sn,Mnから選ばれる少なくとも2種以上の金属を含む金属合金を含むこともできる。この場合についても、黒化層は炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素をさらに含むこともできる。この際、Ni,Zn,Mo,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Co,W,Cu,Sn,Mnから選ばれる少なくとも2種以上の金属を含む金属合金としては、Cu−Ti−Fe合金や、Cu−Ni−Fe合金、Ni−Cu合金、Ni−Zn合金、Ni−Ti合金、Ni−W合金、Ni−Cr合金、Ni−Cu−Cr合金を好ましく用いることができる。特にNi−Cu合金をより好ましく用いることができる。   The blackening layer can also include a metal alloy containing at least two metals selected from Ni, Zn, Mo, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Co, W, Cu, Sn, and Mn. . Also in this case, the blackening layer may further contain one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen. At this time, as a metal alloy containing at least two kinds of metals selected from Ni, Zn, Mo, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Co, W, Cu, Sn, and Mn, a Cu—Ti—Fe alloy is used. Alternatively, a Cu—Ni—Fe alloy, Ni—Cu alloy, Ni—Zn alloy, Ni—Ti alloy, Ni—W alloy, Ni—Cr alloy, and Ni—Cu—Cr alloy can be preferably used. In particular, a Ni—Cu alloy can be used more preferably.

黒化層の成膜方法は特に限定されるものではなく、任意の方法により成膜することができ、例えば乾式法、または湿式法により成膜することができる。   The method for forming the blackening layer is not particularly limited, and the blackening layer can be formed by any method, for example, a dry method or a wet method.

黒化層を乾式法により成膜する場合、その具体的な方法は特に限定されるものではないが、例えばスパッタリング法、イオンプレーティング法や蒸着法等の乾式めっき法を好ましく用いることができる。黒化層を乾式法により成膜する場合、膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。なお、黒化層には上述のように炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を添加することもでき、この場合は反応性スパッタリング法をさらに好ましく用いることができる。   When the blackening layer is formed by a dry method, the specific method is not particularly limited, but for example, a dry plating method such as a sputtering method, an ion plating method or a vapor deposition method can be preferably used. When the blackening layer is formed by a dry method, it is more preferable to use a sputtering method because the film thickness can be easily controlled. Note that, as described above, one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen can be added to the blackened layer, and in this case, the reactive sputtering method can be more preferably used.

反応性スパッタリング法により黒化層を成膜する場合、ターゲットとしては、黒化層を構成する金属種を含むターゲットを用いることができる。黒化層が合金を含む場合には、黒化層に含まれる金属種毎にターゲットを用い、基材等の被成膜体の表面で合金を形成してもよく、予め黒化層に含まれる金属を合金化したターゲットを用いることもできる。   When the blackened layer is formed by reactive sputtering, a target containing a metal species constituting the blackened layer can be used as the target. When the blackened layer contains an alloy, a target may be used for each metal species contained in the blackened layer, and the alloy may be formed on the surface of the film-deposited body such as a substrate, and is included in the blackened layer in advance It is also possible to use a target obtained by alloying a metal.

また、黒化層に炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素が含まれる場合、これらは黒化層を成膜する際の雰囲気中に添加しておくことにより、黒化層中に添加することができる。例えば、黒化層に炭素を添加する場合には一酸化炭素ガスおよび/または二酸化炭素ガスを、酸素を添加する場合には酸素ガスを、水素を添加する場合には水素ガスおよび/または水を、窒素を添加する場合には窒素ガスを、スパッタリングを行う際の雰囲気中に添加しておくことができる。黒化層を成膜する際の不活性ガス中にこれらのガスを添加することにより、炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を黒化層中に添加することができる。なお、不活性ガスとしてはアルゴンを好ましく用いることができる。   Further, when the blackened layer contains one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen, these are added to the atmosphere when the blackened layer is formed, so that the blackened layer Can be added inside. For example, when adding carbon to the blackening layer, carbon monoxide gas and / or carbon dioxide gas is used, when adding oxygen, oxygen gas is used, and when adding hydrogen, hydrogen gas and / or water is used. In the case of adding nitrogen, nitrogen gas can be added to the atmosphere during sputtering. One or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen can be added to the blackening layer by adding these gases to the inert gas when forming the blackening layer. Argon can be preferably used as the inert gas.

黒化層を湿式法により成膜する場合には、黒化層の材料に応じためっき液を用い、例えば電気めっき法により成膜することができる。   When the blackened layer is formed by a wet method, it can be formed by, for example, an electroplating method using a plating solution corresponding to the material of the blackened layer.

上述のように黒化層は、乾式法、湿式法のいずれの方法でも形成することができるが、黒化層を形成する際に、有機被膜を構成する材料が、めっき液中に溶け出し、黒化層中に取り込まれることで、黒化層の色調や他の特性に影響を及ぼすおそれがあるため、乾式法により成膜することが好ましい。   As described above, the blackening layer can be formed by either a dry method or a wet method, but when the blackening layer is formed, the material constituting the organic coating is dissolved in the plating solution, Since incorporation into the blackened layer may affect the color tone and other characteristics of the blackened layer, it is preferable to form a film by a dry method.

黒化層の厚さは特に限定されるものではないが、例えば15nm以上であることが好ましく、25nm以上であることがより好ましい。これは、黒化層の厚さが薄い場合には、銅含有金属層表面における光の反射を十分に抑制できない場合があるため、上述のように黒化層の厚さを15nm以上とすることにより銅含有金属層表面における光の反射を特に抑制できるように構成することが好ましいためである。   Although the thickness of a blackening layer is not specifically limited, For example, it is preferable that it is 15 nm or more, and it is more preferable that it is 25 nm or more. This is because, when the thickness of the blackened layer is thin, reflection of light on the surface of the copper-containing metal layer may not be sufficiently suppressed, so that the thickness of the blackened layer is set to 15 nm or more as described above. It is because it is preferable to comprise so that reflection of the light in the copper containing metal layer surface can be suppressed especially.

黒化層の厚さの上限値は特に限定されるものではないが、必要以上に厚くしても成膜に要する時間や、配線を形成する際のエッチングに要する時間が長くなり、コストの上昇を招くことになる。このため、黒化層の厚さは70nm以下とすることが好ましく、50nm以下とすることがより好ましい。   The upper limit of the thickness of the blackening layer is not particularly limited, but even if it is thicker than necessary, the time required for film formation and the time required for etching when forming the wiring are increased, resulting in an increase in cost. Will be invited. For this reason, the thickness of the blackened layer is preferably 70 nm or less, and more preferably 50 nm or less.

また、導電性基板は上述の透明基材、銅含有金属層、有機被膜、黒化層以外に任意の層を設けることもできる。例えば密着層を設けることができる。   In addition, the conductive substrate may be provided with an arbitrary layer other than the above-described transparent substrate, copper-containing metal layer, organic coating, and blackening layer. For example, an adhesion layer can be provided.

密着層の構成例について説明する。   A configuration example of the adhesion layer will be described.

上述のように銅含有金属層は透明基材上に形成することができるが、透明基材上に銅含有金属層を直接形成した場合に、透明基材と銅含有金属層との密着性は十分ではない場合がある。このため、透明基材の上面に直接銅含有金属層を形成した場合、製造過程、または、使用時に透明基材から銅含有金属層が剥離する場合がある。   As described above, the copper-containing metal layer can be formed on the transparent substrate, but when the copper-containing metal layer is directly formed on the transparent substrate, the adhesion between the transparent substrate and the copper-containing metal layer is It may not be enough. For this reason, when a copper containing metal layer is directly formed on the upper surface of a transparent base material, a copper containing metal layer may peel from a transparent base material at the time of a manufacture process or use.

そこで、本実施形態の導電性基板においては、透明基材と銅含有金属層との密着性を高めるため、透明基材上に密着層を配置することができる。   Therefore, in the conductive substrate of the present embodiment, an adhesion layer can be disposed on the transparent substrate in order to improve the adhesion between the transparent substrate and the copper-containing metal layer.

透明基材と銅含有金属層との間に密着層を配置することにより、透明基材と銅含有金属層との密着性を高め、透明基材から銅含有金属層が剥離することを抑制できる。   By disposing the adhesion layer between the transparent substrate and the copper-containing metal layer, the adhesion between the transparent substrate and the copper-containing metal layer can be improved, and the copper-containing metal layer can be prevented from peeling from the transparent substrate. .

また、密着層は黒化層としても機能させることができる。このため、銅含有金属層の下面側、すなわち透明基材側からの光による銅含有金属層の光の反射も抑制することが可能になる。   Further, the adhesion layer can function as a blackening layer. For this reason, it becomes possible to also suppress reflection of the light of the copper containing metal layer by the light from the lower surface side of the copper containing metal layer, that is, the transparent base material side.

密着層を構成する材料は特に限定されるものではなく、透明基材及び銅含有金属層との密着力や、要求される銅含有金属層表面での光の反射の抑制の程度、また、導電性基板を使用する環境(例えば湿度や、温度)に対する安定性の程度等に応じて任意に選択することができる。   The material constituting the adhesion layer is not particularly limited, the adhesion strength between the transparent substrate and the copper-containing metal layer, the required degree of suppression of light reflection on the surface of the copper-containing metal layer, and the conductivity. It can be arbitrarily selected according to the degree of stability to the environment (for example, humidity and temperature) in which the conductive substrate is used.

密着層は、例えば、Ni,Zn,Mo,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Co,W,Cu,Sn,Mnから選ばれる少なくとも1種以上の金属を含むことが好ましい。また、密着層は、炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素をさらに含むこともできる。   The adhesion layer preferably contains at least one metal selected from, for example, Ni, Zn, Mo, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Co, W, Cu, Sn, and Mn. The adhesion layer can further include one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen.

なお、密着層は、Ni,Zn,Mo,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Co,W,Cu,Sn,Mnから選ばれる少なくとも2種以上の金属を含む金属合金を含むこともできる。この場合についても、密着層は炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素をさらに含むこともできる。この際、Ni,Zn,Mo,Ta,Ti,V,Cr,Fe,Co,W,Cu,Sn,Mnから選ばれる少なくとも2種以上の金属を含む金属合金としては、Cu−Ti−Fe合金や、Cu−Ni−Fe合金、Ni−Cu合金、Ni−Zn合金、Ni−Ti合金、Ni−W合金、Ni−Cr合金、Ni−Cu−Cr合金を好ましく用いることができる。特にNi−Cu合金をより好ましく用いることができる。   Note that the adhesion layer may include a metal alloy including at least two kinds of metals selected from Ni, Zn, Mo, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Co, W, Cu, Sn, and Mn. Also in this case, the adhesion layer can further include one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen. At this time, as a metal alloy containing at least two kinds of metals selected from Ni, Zn, Mo, Ta, Ti, V, Cr, Fe, Co, W, Cu, Sn, and Mn, a Cu—Ti—Fe alloy is used. Alternatively, a Cu—Ni—Fe alloy, Ni—Cu alloy, Ni—Zn alloy, Ni—Ti alloy, Ni—W alloy, Ni—Cr alloy, and Ni—Cu—Cr alloy can be preferably used. In particular, a Ni—Cu alloy can be used more preferably.

密着層の成膜方法は特に限定されるものではないが、乾式めっき法により成膜することが好ましい。乾式めっき法としては、例えばスパッタリング法、イオンプレーティング法や蒸着法等を好ましく用いることができる。密着層を乾式法により成膜する場合、膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。なお、密着層には上述のように炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を添加することもでき、この場合は反応性スパッタリング法をさらに好ましく用いることができる。   The method for forming the adhesion layer is not particularly limited, but it is preferable to form the film by a dry plating method. As the dry plating method, for example, a sputtering method, an ion plating method, a vapor deposition method, or the like can be preferably used. In the case where the adhesion layer is formed by a dry method, it is more preferable to use a sputtering method because the film thickness can be easily controlled. Note that, as described above, one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen can be added to the adhesion layer, and in this case, a reactive sputtering method can be more preferably used.

密着層が炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を含む場合には、密着層を成膜する際の雰囲気中に炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を含有するガスを添加しておくことにより、密着層中に添加することができる。例えば、密着層に炭素を添加する場合には一酸化炭素ガスおよび/または二酸化炭素ガスを、酸素を添加する場合には酸素ガスを、水素を添加する場合には水素ガスおよび/または水を、窒素を添加する場合には窒素ガスを、乾式めっきを行う際の雰囲気中に添加しておくことができる。   When the adhesion layer contains one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen, one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen in the atmosphere when forming the adhesion layer Can be added to the adhesion layer. For example, when adding carbon to the adhesion layer, carbon monoxide gas and / or carbon dioxide gas, when adding oxygen, oxygen gas, when adding hydrogen, hydrogen gas and / or water, In the case of adding nitrogen, nitrogen gas can be added to the atmosphere when dry plating is performed.

炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を含有するガスは、不活性ガスに添加し、乾式めっきの際の雰囲気ガスとすることが好ましい。不活性ガスとしては特に限定されないが、例えばアルゴンを好ましく用いることができる。   A gas containing one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen is preferably added to an inert gas and used as an atmosphere gas during dry plating. Although it does not specifically limit as an inert gas, For example, argon can be used preferably.

密着層を上述のように乾式めっき法により成膜することにより、透明基材と密着層との密着性を高めることができる。そして、密着層は例えば金属を主成分として含むことができるため銅含有金属層との密着性も高い。このため、透明基材と銅含有金属層との間に密着層を配置することにより、銅含有金属層の剥離を抑制することができる。   By forming the adhesion layer by dry plating as described above, the adhesion between the transparent substrate and the adhesion layer can be enhanced. And since an adhesion layer can contain a metal as a main component, for example, adhesiveness with a copper content metal layer is also high. For this reason, peeling of a copper containing metal layer can be suppressed by arrange | positioning an adhesion layer between a transparent base material and a copper containing metal layer.

密着層の厚さは特に限定されるものではないが、例えば3nm以上50nm以下とすることが好ましく、3nm以上35nm以下とすることがより好ましく、3nm以上33nm以下とすることがさらに好ましい。   The thickness of the adhesion layer is not particularly limited, but is preferably 3 nm to 50 nm, for example, more preferably 3 nm to 35 nm, and still more preferably 3 nm to 33 nm.

密着層についても黒化層として機能させる場合、すなわち銅含有金属層における光の反射を抑制する場合、密着層の厚さを上述のように3nm以上とすることが好ましい。   When the adhesion layer also functions as a blackening layer, that is, when light reflection in the copper-containing metal layer is suppressed, the thickness of the adhesion layer is preferably 3 nm or more as described above.

密着層の厚さの上限値は特に限定されるものではないが、必要以上に厚くしても成膜に要する時間や、配線を形成する際のエッチングに要する時間が長くなり、コストの上昇を招くことになる。このため、密着層の厚さは上述のように50nm以下とすることが好ましく、35nm以下とすることがより好ましく、33nm以下とすることがさらに好ましい。   The upper limit value of the thickness of the adhesion layer is not particularly limited, but even if it is thicker than necessary, the time required for film formation and the time required for etching when forming the wiring are increased, resulting in an increase in cost. Will be invited. For this reason, the thickness of the adhesion layer is preferably 50 nm or less as described above, more preferably 35 nm or less, and further preferably 33 nm or less.

次に、導電性基板の構成例について説明する。   Next, a configuration example of the conductive substrate will be described.

上述のように、本実施形態の導電性基板は透明基材と、銅含有金属層と、有機被膜と、黒化層と、を有することができる。また、任意に密着層等の層を設けることもできる。   As described above, the conductive substrate of this embodiment can have a transparent substrate, a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer. Further, a layer such as an adhesion layer can be optionally provided.

具体的な構成例について、図2を用いて以下に説明する。図2は、本実施形態の導電性基板の、透明基材、銅含有金属層、有機被膜、黒化層の積層方向と平行な面における断面図の例を示している。   A specific configuration example will be described below with reference to FIG. FIG. 2 shows an example of a cross-sectional view of the conductive substrate of the present embodiment on a plane parallel to the lamination direction of the transparent base material, the copper-containing metal layer, the organic coating, and the blackening layer.

本実施形態の導電性基板は、例えば透明基材の少なくとも一方の面上に、透明基材側から銅含有金属層と、有機被膜と、黒化層とがその順に積層された構造を有することができる。   The conductive substrate of this embodiment has, for example, a structure in which a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer are laminated in that order from the transparent substrate side on at least one surface of the transparent substrate. Can do.

具体的には例えば、図2(a)に示した導電性基板20Aのように、透明基材21の一方の面21a側に銅含有金属層22と、有機被膜23と、黒化層24と、を一層ずつその順に積層することができる。また、図2(b)に示した導電性基板20Bのように、透明基材21の一方の面21a側と、もう一方の面(他方の面)21b側と、にそれぞれ銅含有金属層22A、22Bと、有機被膜23A、23Bと、黒化層24A、24Bと、を一層ずつその順に積層することができる。   Specifically, for example, like the conductive substrate 20A shown in FIG. 2A, the copper-containing metal layer 22, the organic coating 23, the blackening layer 24, and the like on the one surface 21a side of the transparent base material 21. Can be stacked one by one in that order. Moreover, like the electroconductive board | substrate 20B shown in FIG.2 (b), 22A of copper containing metal layers are respectively provided in the one surface 21a side of the transparent base material 21, and the other surface (other surface) 21b side. , 22B, organic coatings 23A, 23B, and blackening layers 24A, 24B can be stacked one by one in that order.

また、さらに任意の層として、例えば密着層を設けた構成とすることもできる。この場合例えば、透明基材の少なくとも一方の面上に、透明基材側から密着層と、銅含有金属層と、有機被膜と、黒化層とがその順に形成された構造とすることができる。   Furthermore, as an arbitrary layer, for example, a configuration in which an adhesion layer is provided may be employed. In this case, for example, a structure in which an adhesion layer, a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer are formed in that order on at least one surface of the transparent substrate from the transparent substrate side. .

具体的には、例えば図3(a)に示した導電性基板30Aのように、透明基材21の一方の面21a側に、密着層25と、銅含有金属層22と、有機被膜23と、黒化層24と、をその順に積層することができる。   Specifically, for example, as in the conductive substrate 30A shown in FIG. 3A, the adhesion layer 25, the copper-containing metal layer 22, and the organic coating 23 are formed on one surface 21a side of the transparent base material 21. The blackening layer 24 can be stacked in that order.

この場合も透明基材21の両面に密着層、銅含有金属層、有機被膜、黒化層を積層した構成とすることもできる。具体的には図3(b)に示した導電性基板30Bのように、透明基材21の一方の面21a側と、他方の面21b側と、にそれぞれ密着層25A、25Bと、銅含有金属層22A、22Bと、有機被膜23A、23Bと、黒化層24A、24Bとをその順に積層できる。   In this case as well, a configuration in which an adhesive layer, a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer are laminated on both surfaces of the transparent substrate 21 can be employed. Specifically, as in the conductive substrate 30B shown in FIG. 3B, the adhesive layers 25A and 25B and the copper-containing layer are provided on one surface 21a side and the other surface 21b side of the transparent base material 21, respectively. Metal layers 22A and 22B, organic coatings 23A and 23B, and blackening layers 24A and 24B can be stacked in that order.

なお、図2(b)、図3(b)において、透明基材の両面に銅含有金属層、有機被膜、黒化層等を積層した場合に、透明基材21を対称面として透明基材21の上下に積層した層が対称になるように配置した例を示したが、係る形態に限定されるものではない。例えば、図3(b)において、透明基材21の一方の面21a側の構成を図2(b)の構成と同様に、密着層25Aを設けずに銅含有金属層22Aと、有機被膜23Aと、黒化層24Aとをその順に積層した形態とし、透明基材21の上下に積層した層を非対称な構成としてもよい。   In FIGS. 2B and 3B, when a copper-containing metal layer, an organic coating, a blackening layer, etc. are laminated on both surfaces of the transparent substrate, the transparent substrate 21 is used as a symmetrical surface. Although the example arrange | positioned so that the layer laminated | stacked on the upper and lower sides of 21 might become symmetrical was shown, it is not limited to the form which concerns. For example, in FIG. 3B, the configuration on the one surface 21a side of the transparent substrate 21 is the same as the configuration of FIG. 2B, and the copper-containing metal layer 22A and the organic coating 23A are provided without providing the adhesion layer 25A. And the blackened layer 24A may be stacked in that order, and the layers stacked above and below the transparent substrate 21 may be asymmetrical.

本実施形態の導電性基板においては、透明基材上に銅含有金属層と、有機被膜と、黒化層とを設けることで、銅含有金属層による光の反射を抑制し、導電性基板の反射率を抑制することができる。   In the conductive substrate of this embodiment, reflection of light by the copper-containing metal layer is suppressed by providing a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer on the transparent substrate. The reflectance can be suppressed.

本実施形態の導電性基板の反射率の程度については特に限定されるものではないが、例えばタッチパネル用の導電性基板として用いた場合のディスプレイの視認性を高めるためには、反射率は低い方が良い。例えば、波長400nm以上700nm以下の光の平均反射率が20%以下であることが好ましく、17%以下であることがより好ましく、15%以下であることが特に好ましい。   The degree of reflectivity of the conductive substrate of the present embodiment is not particularly limited. For example, in order to increase the visibility of a display when used as a conductive substrate for a touch panel, the reflectivity is lower. Is good. For example, the average reflectance of light having a wavelength of 400 nm to 700 nm is preferably 20% or less, more preferably 17% or less, and particularly preferably 15% or less.

反射率の測定は、導電性基板の黒化層に光を照射するようにして行うことができる。具体的には、例えば図2(a)のように透明基材21の一方の面21a側に銅含有金属層22、有機被膜23、黒化層24の順に積層した場合、黒化層24に光を照射するように黒化層24の表面Aに対して光を照射し、測定できる。測定に当たっては波長400nm以上700nm以下の光を例えば波長1nm間隔で上述のように導電性基板の黒化層24に対して照射し、測定した値の平均値を該導電性基板の反射率とすることができる。   The reflectance can be measured by irradiating the blackened layer of the conductive substrate with light. Specifically, for example, as shown in FIG. 2A, when the copper-containing metal layer 22, the organic coating 23, and the blackening layer 24 are sequentially laminated on the one surface 21 a side of the transparent base material 21, Measurement can be performed by irradiating the surface A of the blackened layer 24 with light so as to irradiate light. In the measurement, light having a wavelength of 400 nm or more and 700 nm or less is irradiated to the blackened layer 24 of the conductive substrate, for example, at a wavelength of 1 nm as described above, and the average value of the measured values is used as the reflectance of the conductive substrate. be able to.

本実施形態の導電性基板はタッチパネル用の導電性基板として好ましく用いることができる。この場合導電性基板はメッシュ状の配線を備えた構成とすることができる。   The conductive substrate of this embodiment can be preferably used as a conductive substrate for a touch panel. In this case, the conductive substrate can be configured to have mesh-like wiring.

メッシュ状の配線を備えた導電性基板は、ここまで説明した本実施形態の導電性基板の銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層をエッチングすることにより得ることができる。   The conductive substrate provided with the mesh-like wiring can be obtained by etching the copper-containing metal layer, the organic coating, and the blackening layer of the conductive substrate of the present embodiment described so far.

例えば、二層の配線によりメッシュ状の配線とすることができる。具体的な構成例を図4に示す。図4はメッシュ状の配線を備えた導電性基板40を銅含有金属層等の積層方向の上面側から見た図を示しており、配線パターンが分かり易いように、透明基材21、及び銅含有金属層をパターニングして形成した配線41A、41B以外の層は記載を省略している。また、透明基材21を透過して見える配線41Bも示している。   For example, a two-layer wiring can be used as a mesh wiring. A specific configuration example is shown in FIG. FIG. 4 shows a view of the conductive substrate 40 provided with mesh-like wiring as viewed from the upper surface side in the stacking direction of the copper-containing metal layer or the like. The layers other than the wirings 41A and 41B formed by patterning the contained metal layer are not shown. In addition, a wiring 41B that can be seen through the transparent substrate 21 is also shown.

図4に示した導電性基板40は、透明基材21と、図中Y軸方向に平行な複数の配線41Aと、X軸方向に平行な配線41Bとを有している。なお、配線41A、41Bは銅含有金属層をエッチングして形成されており、該配線41A、41Bの上面および/または下面には図示しない有機被膜、及び黒化層が形成されている。また、有機被膜、及び黒化層は、透明基材の配線等を形成した面(透明基材の主表面ともいう)と平行な面における断面が配線41A、41Bと同じ形状にエッチングされている。   The conductive substrate 40 shown in FIG. 4 has a transparent base material 21, a plurality of wirings 41A parallel to the Y-axis direction in the drawing, and wirings 41B parallel to the X-axis direction. The wirings 41A and 41B are formed by etching a copper-containing metal layer, and an organic film and a blackening layer (not shown) are formed on the upper and / or lower surfaces of the wirings 41A and 41B. Further, the organic coating and the blackened layer are etched in the same shape as the wirings 41A and 41B in the cross section in a plane parallel to the surface (also referred to as the main surface of the transparent substrate) on which the wiring of the transparent substrate is formed. .

透明基材21と配線41A、41Bとの配置は特に限定されない。透明基材21と配線との配置の構成例を図5(a)、(b)に示す。図5(a)、(b)は図4のA−A´線での断面図に当たる。   The arrangement of the transparent substrate 21 and the wirings 41A and 41B is not particularly limited. A configuration example of the arrangement of the transparent base material 21 and the wiring is shown in FIGS. 5A and 5B correspond to cross-sectional views taken along the line AA ′ of FIG.

まず、図5(a)に示したように、透明基材21の上下面にそれぞれ配線41A、41Bが配置されていてもよい。なお、図5(a)では配線41Aの上面、及び41Bの下面には、配線と同じ形状にエッチングされた有機被膜42A、42B、黒化層43A、43Bが配置されている。   First, as shown to Fig.5 (a), wiring 41A, 41B may be arrange | positioned at the upper and lower surfaces of the transparent base material 21, respectively. In FIG. 5A, organic coatings 42A and 42B and blackening layers 43A and 43B etched in the same shape as the wiring are disposed on the upper surface of the wiring 41A and the lower surface of 41B.

また、図5(b)に示したように、1組の透明基材21を用い、一方の透明基材21を挟んで上下面に配線41A、41Bを配置し、かつ、一方の配線41Bは透明基材21間に配置されてもよい。この場合も、配線41A、41Bの上面には配線と同じ形状にエッチングされた有機被膜42A、42B、黒化層43A、43Bが配置されている。なお、既述のように、銅含有金属層、有機被膜、黒化層以外に密着層を設けることもできる。このため、図5(a)、(b)いずれの場合でも、例えば配線41Aおよび/または配線41Bと透明基材21との間に密着層を設けることもできる。密着層を設ける場合、密着層も配線41A、41Bと同じ形状にエッチングされていることが好ましい。   Further, as shown in FIG. 5B, a pair of transparent base materials 21 is used, and wirings 41A and 41B are arranged on the upper and lower surfaces with one transparent base material 21 interposed therebetween, and one wiring 41B is You may arrange | position between the transparent base materials 21. FIG. Also in this case, organic coatings 42A and 42B and blackening layers 43A and 43B etched in the same shape as the wiring are arranged on the upper surfaces of the wirings 41A and 41B. As described above, an adhesion layer can be provided in addition to the copper-containing metal layer, the organic coating, and the blackening layer. Therefore, in either case of FIGS. 5A and 5B, for example, an adhesion layer can be provided between the wiring 41 </ b> A and / or the wiring 41 </ b> B and the transparent substrate 21. When the adhesion layer is provided, the adhesion layer is also preferably etched into the same shape as the wirings 41A and 41B.

図4及び図5(a)に示したメッシュ状の配線を有する導電性基板は例えば、図2(b)のように透明基材21の両面に銅含有金属層22A、22Bと、有機被膜23A、23Bと、黒化層24A、24Bを備えた導電性基板から形成することができる。   The conductive substrate having the mesh-like wiring shown in FIGS. 4 and 5A is, for example, copper-containing metal layers 22A and 22B and an organic coating 23A on both surfaces of the transparent base material 21 as shown in FIG. 2B. , 23B and a conductive substrate provided with blackening layers 24A, 24B.

図2(b)の導電性基板を用いて形成した場合を例に説明すると、まず、透明基材21の一方の面21a側の銅含有金属層22A、有機被膜23A、及び黒化層24Aを、図2(b)中Y軸方向に平行な複数の線状のパターンがX軸方向に沿って所定の間隔をあけて配置されるようにエッチングを行う。なお、図2(b)中のX軸方向は、各層の幅方向と平行な方向を意味している。また、図2(b)中のY軸方向とは、図2(b)中の紙面と垂直な方向を意味している。   When the case where it forms using the conductive substrate of FIG.2 (b) is demonstrated to an example, first, the copper containing metal layer 22A, the organic coating 23A, and the blackening layer 24A of the one surface 21a side of the transparent base material 21 will be described. Etching is performed so that a plurality of linear patterns parallel to the Y-axis direction in FIG. 2B are arranged at predetermined intervals along the X-axis direction. In addition, the X-axis direction in FIG.2 (b) means the direction parallel to the width direction of each layer. Further, the Y-axis direction in FIG. 2 (b) means a direction perpendicular to the paper surface in FIG. 2 (b).

そして、透明基材21の他方の面21b側の銅含有金属層22B、有機被膜23B、及び黒化層24Bを図2(b)中X軸方向と平行な複数の線状のパターンが所定の間隔をあけてY軸方向に沿って配置されるようにエッチングを行う。   Then, the copper-containing metal layer 22B, the organic coating 23B, and the blackening layer 24B on the other surface 21b side of the transparent base material 21 have a predetermined linear pattern parallel to the X-axis direction in FIG. Etching is performed so as to be arranged along the Y-axis direction at intervals.

以上の操作により図4、図5(a)に示したメッシュ状の配線を有する導電性基板を形成することができる。なお、透明基材21の両面のエッチングは同時に行うこともできる。すなわち、銅含有金属層22A、22B、有機被膜23A、23B、黒化層24A、24Bのエッチングは同時に行ってもよい。また、図5(a)において、配線41A、41Bと、透明基材21との間にさらに配線41A、41Bと同じ形状にパターニングされた密着層を有する導電性基板は、図3(b)に示した導電性基板を用いて同様にエッチングを行うことで作製できる。   Through the above operation, the conductive substrate having the mesh-like wiring shown in FIGS. 4 and 5A can be formed. Note that the etching of both surfaces of the transparent substrate 21 can be performed simultaneously. That is, the etching of the copper-containing metal layers 22A and 22B, the organic coatings 23A and 23B, and the blackening layers 24A and 24B may be performed simultaneously. 5A, a conductive substrate having an adhesion layer patterned in the same shape as the wirings 41A and 41B between the wirings 41A and 41B and the transparent base material 21 is shown in FIG. It can be manufactured by performing etching in the same manner using the conductive substrate shown.

図4に示したメッシュ状の配線を有する導電性基板は、図2(a)または図3(a)に示した導電性基板を2枚用いることにより形成することもできる。図2(a)の導電性基板を2枚用いて形成した場合を例に説明すると、図2(a)に示した導電性基板2枚についてそれぞれ、銅含有金属層22、有機被膜23、及び黒化層24を、X軸方向と平行な複数の線状のパターンが所定の間隔をあけてY軸方向に沿って配置されるようにエッチングを行う。そして、上記エッチング処理により各導電性基板に形成した線状のパターンが互いに交差するように向きをあわせて2枚の導電性基板を貼り合せることによりメッシュ状の配線を備えた導電性基板とすることができる。2枚の導電性基板を貼り合せる際に貼り合せる面は特に限定されるものではない。例えば、銅含有金属層22等が積層された図2(a)における表面Aと、銅含有金属層22等が積層されていない図2(a)における他方の面21bとを貼り合せて、図5(b)に示した構造となるようにすることもできる。   The conductive substrate having the mesh-like wiring shown in FIG. 4 can be formed by using two conductive substrates shown in FIG. An example of the case where two conductive substrates shown in FIG. 2A are used will be described. For the two conductive substrates shown in FIG. 2A, a copper-containing metal layer 22, an organic coating 23, and The blackened layer 24 is etched so that a plurality of linear patterns parallel to the X-axis direction are arranged along the Y-axis direction with a predetermined interval. Then, the conductive substrate having mesh-like wiring is obtained by bonding the two conductive substrates so that the linear patterns formed on the respective conductive substrates intersect with each other by the etching process. be able to. The surface to be bonded when the two conductive substrates are bonded is not particularly limited. For example, the surface A in FIG. 2A in which the copper-containing metal layer 22 or the like is laminated and the other surface 21b in FIG. 2A in which the copper-containing metal layer 22 or the like is not laminated are bonded together. The structure shown in FIG. 5 (b) can also be obtained.

また、例えば透明基材21の銅含有金属層22等が積層されていない図2(a)における他方の面21b同士を貼り合せて断面が図5(a)に示した構造となるようにすることもできる。   Further, for example, the other surfaces 21b in FIG. 2A where the copper-containing metal layer 22 or the like of the transparent base material 21 is not laminated are bonded together so that the cross section has the structure shown in FIG. You can also.

なお、図5(a)、図5(b)において、配線41A、41Bと、透明基材21との間にさらに配線41A、41Bと同じ形状にパターニングされた密着層を有する導電性基板は、図2(a)に示した導電性基板に代えて図3(a)に示した導電性基板を用いることで作製できる。   5 (a) and 5 (b), a conductive substrate having an adhesion layer that is further patterned in the same shape as the wirings 41A and 41B between the wirings 41A and 41B and the transparent base material 21, It can be manufactured by using the conductive substrate shown in FIG. 3A instead of the conductive substrate shown in FIG.

図4、図5に示したメッシュ状の配線を有する導電性基板における配線の幅や、配線間の距離は特に限定されるものではなく、例えば、配線に流す電流量等に応じて選択することができる。   The wiring width and the distance between the wirings in the conductive substrate having the mesh wiring shown in FIGS. 4 and 5 are not particularly limited, and may be selected according to the amount of current flowing through the wiring, for example. Can do.

また、図4、図5においては、直線形状の配線を組み合わせてメッシュ状の配線(配線パターン)を形成した例を示しているが、係る形態に限定されるものではなく、配線パターンを構成する配線は任意の形状とすることができる。例えばディスプレイの画像との間でモアレ(干渉縞)が発生しないようメッシュ状の配線パターンを構成する配線の形状をそれぞれ、ぎざぎざに屈曲した線(ジグザグ直線)等の各種形状にすることもできる。   4 and 5 show examples in which a mesh-like wiring (wiring pattern) is formed by combining linear wirings, but the present invention is not limited to such a configuration, and a wiring pattern is configured. The wiring can have any shape. For example, the shape of the wiring constituting the mesh-like wiring pattern can be changed to various shapes such as jagged lines (zigzag straight lines) so that moire (interference fringes) does not occur between the images on the display.

このように2層の配線から構成されるメッシュ状の配線を有する導電性基板は、例えば投影型静電容量方式のタッチパネル用の導電性基板として好ましく用いることができる。   Thus, a conductive substrate having a mesh-like wiring composed of two layers of wiring can be preferably used as a conductive substrate for a projected capacitive touch panel, for example.

導電性基板の製造方法に含まれる各工程のうち、銅含有金属層形成工程では、図2に示すように透明基材21の少なくとも一方の面21a上に湿式法により銅含有金属層22が形成される。なお、
銅含有金属層形成工程に供する透明基材21は、予め準備しておくことができる。用いる透明基材の種類は特に限定されるものではないが、既述のように可視光を透過する樹脂基板(樹脂フィルム)や、ガラス基板等の透明基材を好ましく用いることができる。透明基材は必要に応じて予め任意のサイズに切断等行っておくこともできる。
Among the steps included in the method for producing a conductive substrate, in the copper-containing metal layer forming step, the copper-containing metal layer 22 is formed on at least one surface 21a of the transparent substrate 21 by a wet method as shown in FIG. Is done. In addition,
The transparent base material 21 used for the copper-containing metal layer forming step can be prepared in advance. Although the kind of transparent base material to be used is not particularly limited, a transparent base material such as a resin substrate (resin film) that transmits visible light or a glass substrate can be preferably used as described above. The transparent base material can be cut into an arbitrary size in advance if necessary.

そして、銅含有金属層は既述のように、銅含有金属めっき層を有することができる。また、銅含有金属層は銅含有金属薄膜層と銅含有金属めっき層とを有することもできる。このため、銅含有金属層形成工程の前に、例えば湿式めっき法により銅含有金属めっき層を形成する工程を有することができる。また、銅含有金属層形成工程は、予め乾式めっき法もしくは無電解めっき法により銅含有金属薄膜層を形成する工程の後に行うことができる。そして、該銅含有金属薄膜層を給電層として、湿式めっき法の一種である電気めっき法により銅含有金属めっき層を形成する工程とすることができる。   The copper-containing metal layer can have a copper-containing metal plating layer as described above. Moreover, a copper containing metal layer can also have a copper containing metal thin film layer and a copper containing metal plating layer. For this reason, it can have the process of forming a copper content metal plating layer, for example by a wet plating method, before a copper content metal layer formation process. Moreover, a copper containing metal layer formation process can be performed after the process of forming a copper containing metal thin film layer by the dry-type plating method or the electroless-plating method previously. And it can be set as the process of forming a copper containing metal plating layer by the electroplating method which is a kind of wet-plating method by using this copper containing metal thin film layer as an electric power feeding layer.

なお、銅含有金属薄膜層を形成する工程で用いる乾式めっき法としては、特に限定されるものではなく、例えば、蒸着法、スパッタリング法、又はイオンプレーティング法等を用いることができる。なお、蒸着法としては真空蒸着法を好ましく用いることができる。銅含有金属薄膜層を形成する工程で用いる乾式めっき法としては、特に膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。   In addition, it does not specifically limit as a dry-type plating method used at the process of forming a copper containing metal thin film layer, For example, a vapor deposition method, sputtering method, or an ion plating method etc. can be used. In addition, as a vapor deposition method, a vacuum vapor deposition method can be used preferably. As the dry plating method used in the step of forming the copper-containing metal thin film layer, it is more preferable to use the sputtering method because the film thickness is particularly easy to control.

次に銅含有金属めっき層を形成する工程について説明する。なお、銅含有金属めっき層を形成する工程は、銅含有金属層形成工程に含まれている。湿式めっき法により銅含有金属めっき層を形成する工程における条件、すなわち、電気めっき処理の条件は、特に限定されるものではなく、常法による諸条件を採用すればよい。例えば、金属めっき液を入れためっき槽に銅含有金属薄膜層を形成した基材を供給し、電流密度や、基材の搬送速度を制御することによって、銅含有金属めっき層を形成できる。   Next, the process of forming a copper-containing metal plating layer will be described. In addition, the process of forming a copper containing metal plating layer is included in the copper containing metal layer forming process. The conditions in the step of forming the copper-containing metal plating layer by the wet plating method, that is, the conditions for the electroplating treatment are not particularly limited, and various conditions according to ordinary methods may be adopted. For example, a copper-containing metal plating layer can be formed by supplying a base material on which a copper-containing metal thin film layer is formed in a plating tank containing a metal plating solution and controlling the current density and the conveyance speed of the base material.

銅含有金属層に好適に用いることができる材料や、銅含有金属層の好適な厚さ等については既述のため、ここでは説明を省略する。   Since materials that can be suitably used for the copper-containing metal layer, suitable thicknesses of the copper-containing metal layer, and the like have already been described, description thereof is omitted here.

次に、有機被膜形成工程について説明する。   Next, an organic film formation process is demonstrated.

有機被膜形成工程では、銅含有金属層22が形成された透明基材21が、浴槽内の窒素系有機物の溶液に浸漬されることにより、透明基材21に形成された銅含有金属層22に有機被膜が形成される。なお、この有機被膜形成工程は、既述の有機被膜の製造方法に含まれる有機被膜形成工程または有機被膜製造装置に含まれる有機被膜製造手段を用いることができる。   In the organic film forming step, the transparent base material 21 on which the copper-containing metal layer 22 is formed is immersed in a solution of a nitrogen-based organic substance in the bath, thereby forming the copper-containing metal layer 22 formed on the transparent base material 21. An organic coating is formed. In addition, this organic film formation process can use the organic film production | generation means contained in the organic film formation process included in the manufacturing method of the above-mentioned organic film, or an organic film manufacturing apparatus.

また、有機被膜形成工程では、浴槽内の窒素系有機物の溶液の銅濃度が、15ppm以下に調整され、好ましくは8ppm以下に調整される。これにより、透明基材21上に残留しためっき液が浴槽に持ち込まれても、浴槽内の溶液の銅濃度が高くなるのを防ぐことができる。そのため、有機被膜の厚さが過度に厚くなるの防ぐことができる。   In the organic film forming step, the copper concentration of the nitrogen-based organic solution in the bath is adjusted to 15 ppm or less, preferably 8 ppm or less. Thereby, even if the plating solution which remained on the transparent base material 21 is brought into a bathtub, it can prevent that the copper concentration of the solution in a bathtub becomes high. Therefore, it is possible to prevent the organic coating from becoming excessively thick.

有機被膜形成工程では、浴槽内の溶液の銅濃度が15ppm以下になるように浴槽に補充溶液を補給することができる。この場合、浴槽内の溶液の銅濃度を15ppm以下の低い濃度に調整することが容易である。そのため、透明基材21上に残留しためっき液が浴槽に持ち込まれても、浴槽内の溶液の銅濃度が高くなるのを確実に防ぐことができる。そのため、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを高い精度で防ぐことができる。   In the organic film forming step, the replenishment solution can be replenished to the bath so that the copper concentration of the solution in the bath is 15 ppm or less. In this case, it is easy to adjust the copper concentration of the solution in the bath to a low concentration of 15 ppm or less. Therefore, even if the plating solution remaining on the transparent substrate 21 is brought into the bathtub, it is possible to reliably prevent the copper concentration of the solution in the bathtub from increasing. Therefore, it is possible to prevent the organic coating from becoming excessively thick with high accuracy.

既述のように、銅含有金属層と黒化層との間に有機被膜を設けることで、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを抑制することができる。そのため、導電性基板の反射率を抑制しながら、黒化層の密着性が向上し、エッチング性を高めることができる。   As described above, by providing an organic coating between the copper-containing metal layer and the blackening layer, it is possible to suppress the organic coating from becoming excessively thick. Therefore, while suppressing the reflectance of the conductive substrate, the adhesion of the blackened layer can be improved and the etching property can be improved.

有機被膜は既述の有機被膜の製造方法により形成することができる。また、有機被膜を形成する際に用いる有機溶液等については既述のため、ここでは説明を省略する。   The organic coating can be formed by the method for producing an organic coating described above. Moreover, since the organic solution etc. used when forming an organic film are already described, description is abbreviate | omitted here.

次に、黒化層形成工程について説明する。   Next, the blackening layer forming process will be described.

黒化層形成工程では、有機被膜の上面に黒化層を形成することができる。黒化層形成工程において、黒化層を形成する方法は特に限定されるものではなく、任意の方法により形成することができる。   In the blackened layer forming step, a blackened layer can be formed on the upper surface of the organic coating. In the blackening layer forming step, the method for forming the blackening layer is not particularly limited, and can be formed by any method.

黒化層形成工程において黒化層を成膜する方法としては、例えばスパッタリング法、イオンプレーティング法や蒸着法等の乾式めっき法を好ましく用いることができる。特に、膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。なお、黒化層には既述のように炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を添加することもでき、この場合は反応性スパッタリング法をさらに好ましく用いることができる。   As a method for forming the blackened layer in the blackened layer forming step, for example, a dry plating method such as a sputtering method, an ion plating method, or a vapor deposition method can be preferably used. In particular, the sputtering method is more preferable because the film thickness can be easily controlled. As described above, one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen can be added to the blackened layer, and in this case, the reactive sputtering method can be more preferably used.

また、既述のように黒化層は電気めっき法等の湿式法により成膜することもできる。   Further, as described above, the blackened layer can be formed by a wet method such as an electroplating method.

ただし、黒化層を形成する際に、有機被膜を構成する材料が、めっき液中に溶け出し、黒化層中に取り込まれることで、黒化層の色調や他の特性に影響を及ぼすおそれがあるため、乾式法により成膜することが好ましい。   However, when forming the blackened layer, the materials that make up the organic coating may be dissolved in the plating solution and taken into the blackened layer, which may affect the color tone and other characteristics of the blackened layer. Therefore, it is preferable to form a film by a dry method.

黒化層に好適に用いることができる材料や、黒化層の好適な厚さ等については既述のため、ここでは説明を省略する。   Since the materials that can be suitably used for the blackened layer, the preferred thickness of the blackened layer, and the like have already been described, description thereof is omitted here.

本実施形態の導電性基板の製造方法においては、上述の工程に加えてさらに任意の工程を実施することもできる。   In the method for manufacturing a conductive substrate according to the present embodiment, an arbitrary step can be further performed in addition to the above-described steps.

例えば透明基材と銅含有金属層との間に密着層を形成する場合、透明基材の銅含有金属層を形成する面上に密着層を形成する密着層形成工程を実施することができる。密着層形成工程を実施する場合、銅含有金属層形成工程は、密着層形成工程の後に実施することができ、銅含有金属層形成工程では、本工程で透明基材上に密着層を形成した基材に銅含有金属薄膜層を形成できる。   For example, when forming an adhesion layer between a transparent substrate and a copper-containing metal layer, an adhesion layer forming step of forming an adhesion layer on the surface of the transparent substrate on which the copper-containing metal layer is formed can be performed. When carrying out the adhesion layer forming step, the copper-containing metal layer forming step can be carried out after the adhesion layer forming step, and in the copper-containing metal layer forming step, the adhesion layer is formed on the transparent substrate in this step. A copper-containing metal thin film layer can be formed on the substrate.

密着層形成工程において、密着層の成膜方法は特に限定されるものではないが、乾式めっき法により成膜することが好ましい。乾式めっき法としては例えばスパッタリング法、イオンプレーティング法や蒸着法等を好ましく用いることができる。密着層を乾式法により成膜する場合、膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。なお、密着層には既述のように炭素、酸素、水素、窒素から選ばれる1種以上の元素を添加することもでき、この場合は反応性スパッタリング法をさらに好ましく用いることができる。   In the adhesion layer forming step, the method for forming the adhesion layer is not particularly limited, but it is preferable to form the film by a dry plating method. As the dry plating method, for example, a sputtering method, an ion plating method, a vapor deposition method, or the like can be preferably used. In the case where the adhesion layer is formed by a dry method, it is more preferable to use a sputtering method because the film thickness can be easily controlled. As described above, one or more elements selected from carbon, oxygen, hydrogen, and nitrogen can be added to the adhesion layer, and in this case, the reactive sputtering method can be more preferably used.

密着層に好適に用いることができる材料や、密着層の好適な厚さ等については既述のため、ここでは説明を省略する。   Since materials that can be suitably used for the adhesion layer, suitable thicknesses of the adhesion layer, and the like have already been described, description thereof is omitted here.

本実施形態の導電性基板の製造方法で得られる導電性基板は例えばタッチパネル等の各種用途に用いることができる。そして、各種用途に用いる場合には、本実施形態の導電性基板に含まれる銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層がパターン化されていることが好ましい。なお、密着層を設ける場合は、密着層についてもパターン化されていることが好ましい。銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層、場合によってはさらに密着層は、例えば所望の配線パターンにあわせてパターン化することができ、銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層、場合によってはさらに密着層は同じ形状にパターン化されていることが好ましい。   The conductive substrate obtained by the method for manufacturing a conductive substrate of the present embodiment can be used for various applications such as a touch panel. And when using for various uses, it is preferable that the copper containing metal layer, organic coating, and blackening layer which are contained in the electroconductive board | substrate of this embodiment are patterned. In addition, when providing an adhesion layer, it is preferable that the adhesion layer is also patterned. Copper-containing metal layers, organic coatings, and blackening layers, and in some cases, further adhesion layers can be patterned to match the desired wiring pattern, for example, copper-containing metal layers, organic coatings, and blackening layers. Depending on the case, it is preferable that the adhesion layer is further patterned in the same shape.

このため、本実施形態の導電性基板の製造方法は、銅含有金属層、有機被膜及び黒化層をパターニングするパターニング工程を有することができる。なお、密着層を形成した場合には、パターニング工程は、密着層、銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層をパターニングする工程とすることができる。   For this reason, the manufacturing method of the electroconductive board | substrate of this embodiment can have the patterning process of patterning a copper containing metal layer, an organic film, and a blackening layer. When the adhesion layer is formed, the patterning step can be a step of patterning the adhesion layer, the copper-containing metal layer, the organic coating, and the blackening layer.

パターニング工程の具体的手順は特に限定されるものではなく、任意の手順により実施することができる。例えば図2(a)のように透明基材21上に銅含有金属層22、有機被膜23、黒化層24が積層された導電性基板20Aの場合、まず黒化層24上の表面Aに所望のパターンを有するマスクを配置するマスク配置ステップを実施することができる。次いで、黒化層24の上の表面A、すなわち、マスクを配置した面側にエッチング液を供給するエッチングステップを実施できる。   The specific procedure of the patterning step is not particularly limited, and can be performed by an arbitrary procedure. For example, in the case of a conductive substrate 20A in which a copper-containing metal layer 22, an organic coating 23, and a blackening layer 24 are laminated on a transparent substrate 21 as shown in FIG. A mask placement step of placing a mask having a desired pattern can be performed. Next, an etching step of supplying an etching solution to the surface A on the blackened layer 24, that is, the surface side where the mask is disposed can be performed.

エッチングステップにおいて用いるエッチング液は特に限定されるものではなく、エッチングを行う層を構成する材料に応じて任意に選択することができる。例えば、層毎にエッチング液を変えることもでき、また、同じエッチング液により同時に銅含有金属層、有機被膜、及び黒化層、場合によってはさらに密着層をエッチングすることもできる。   The etchant used in the etching step is not particularly limited, and can be arbitrarily selected depending on the material constituting the layer to be etched. For example, the etching solution can be changed for each layer, and the copper-containing metal layer, the organic coating, and the blackening layer, and in some cases, the adhesion layer can be further etched with the same etching solution.

また、図2(b)のように透明基材21の一方の面21a、他方の面21bに銅含有金属層22A、22B、有機被膜23A、23B、黒化層24A、24Bを積層した導電性基板20Bについてもパターニングするパターニング工程を実施できる。この場合、例えば黒化層24A、24B上の表面A、及び表面Bに所望のパターンを有するマスクを配置するマスク配置ステップを実施できる。次いで、黒化層24A、24B上の表面A、及び表面B、すなわち、マスクを配置した面側にエッチング液を供給するエッチングステップを実施できる。   Moreover, the electroconductivity which laminated | stacked copper containing metal layer 22A, 22B, organic coating 23A, 23B, and blackening layer 24A, 24B on the one surface 21a and the other surface 21b of the transparent base material 21 like FIG.2 (b). A patterning process for patterning the substrate 20B can also be performed. In this case, for example, a mask placement step of placing a mask having a desired pattern on the surface A and the surface B on the blackening layers 24A and 24B can be performed. Next, an etching step of supplying an etching solution to the surface A and the surface B on the blackening layers 24A and 24B, that is, the surface side where the mask is disposed can be performed.

エッチングステップで形成するパターンについては特に限定されるものではなく、任意の形状とすることができる。例えば図2(a)に示した導電性基板20Aの場合、既述のように銅含有金属層22、有機被膜23、及び黒化層24を複数の直線や、ぎざぎざに屈曲した線(ジグザグ直線)を含むようにパターンを形成することができる。   The pattern formed in the etching step is not particularly limited, and can be an arbitrary shape. For example, in the case of the conductive substrate 20A shown in FIG. 2A, as described above, the copper-containing metal layer 22, the organic coating 23, and the blackened layer 24 are formed by a plurality of straight lines or jagged lines (zigzag straight lines). ) Can be formed.

また、図2(b)に示した導電性基板20Bの場合、銅含有金属層22Aと、銅含有金属層22Bとでメッシュ状の配線となるようにパターンを形成することができる。この場合、有機被膜23A、及び黒化層24Aは、銅含有金属層22Aと同様の形状に、有機被膜23B、及び黒化層24Bは銅含有金属層22Bと同様の形状になるようにそれぞれパターニングを行うことが好ましい。   In the case of the conductive substrate 20B shown in FIG. 2B, a pattern can be formed so as to form a mesh-like wiring with the copper-containing metal layer 22A and the copper-containing metal layer 22B. In this case, the organic coating 23A and the blackening layer 24A are patterned to have the same shape as the copper-containing metal layer 22A, and the organic coating 23B and the blackening layer 24B are patterned to have the same shape as the copper-containing metal layer 22B. It is preferable to carry out.

また、例えばパターニング工程で上述の導電性基板20Aについて銅含有金属層22等をパターン化した後、パターン化した2枚以上の導電性基板を積層する積層工程を実施することもできる。積層する際、例えば各導電性基板の銅含有金属層のパターンが交差するように積層することにより、メッシュ状の配線を備えた積層導電性基板を得ることもできる。   In addition, for example, after patterning the copper-containing metal layer 22 and the like on the conductive substrate 20A described above in a patterning step, a stacking step of stacking two or more patterned conductive substrates can be performed. When laminating, for example, by laminating so that the patterns of the copper-containing metal layers of each conductive substrate intersect, it is also possible to obtain a laminated conductive substrate provided with mesh-like wiring.

積層した2枚以上の導電性基板を固定する方法は特に限定されるものではないが、例えば接着剤等により固定することができる。   The method for fixing two or more laminated conductive substrates is not particularly limited, but can be fixed by, for example, an adhesive.

以上の本実施形態の導電性基板の製造方法により得られる導電性基板は、透明基材の少なくとも一方の面上に形成された銅含有金属層上に、有機被膜と、黒化層と、を積層した構造を有している。また、有機被膜を既述の有機被膜の製造方法により製造しているため、均一な膜とすることができる。   The conductive substrate obtained by the conductive substrate manufacturing method of the present embodiment described above comprises an organic coating and a blackening layer on a copper-containing metal layer formed on at least one surface of a transparent substrate. It has a laminated structure. Moreover, since the organic film is manufactured by the method for manufacturing an organic film described above, a uniform film can be obtained.

このため、黒化層と、黒化層の下層である銅含有金属層及び有機被膜との密着性を特に高めることができ、黒化層の剥離を抑制できるため、黒化層のエッチング性を高めることができる。すなわち、黒化層と銅含有金属層との間にこのような有機被膜を形成することにより、有機被膜の厚さが過度に厚くなるのを抑制することができる。その結果、黒化層の密着性を高めることができ、エッチング性を向上させることができる。   For this reason, the adhesion between the blackened layer and the copper-containing metal layer and the organic film, which are the lower layers of the blackened layer, can be particularly improved, and the blackened layer can be prevented from being peeled off. Can be increased. That is, by forming such an organic film between the blackening layer and the copper-containing metal layer, it is possible to prevent the organic film from becoming excessively thick. As a result, the adhesion of the blackened layer can be improved and the etching property can be improved.

さらには、銅含有金属層や黒化層等について微細配線加工を容易に行うことができるため、銅含有金属層表面における光の反射を抑制し、反射率を抑制した導電性基板とすることができる。そのため、このような導電性基板を、例えばタッチパネル等の用途に用いた場合に、ディスプレイの視認性を高めることができる。   Furthermore, since fine wiring processing can be easily performed on a copper-containing metal layer, a blackened layer, and the like, it is possible to suppress the reflection of light on the surface of the copper-containing metal layer and to obtain a conductive substrate with a suppressed reflectance. it can. Therefore, when such a conductive substrate is used for applications such as a touch panel, the visibility of the display can be improved.

以下に具体的な実施例、比較例を挙げて説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
(評価方法)
まず、得られた導電性基板の黒化層の密着性の評価方法について説明する。
Specific examples and comparative examples will be described below, but the present invention is not limited to these examples.
(Evaluation method)
First, a method for evaluating the adhesion of the blackened layer of the obtained conductive substrate will be described.

図6に示すように、黒化層まで形成した導電性基板の黒化層に対して、切込み工具(Precision Gate&Tool Company社製 Cross Cut Kit 1.0MM)を用いて、長さ20mmの縦切り込み線61aを1.0mm間隔で互いに平行になるように11本形成する。   As shown in FIG. 6, using a cutting tool (Cross Cut Kit 1.0MM manufactured by Precision Gate & Tool Company) for the blackened layer of the conductive substrate formed up to the blackened layer, a vertical cut line having a length of 20 mm. Eleven 61a are formed in parallel with each other at intervals of 1.0 mm.

次いで同じ切込み工具を用いて、先に形成した縦切込み線61aと直交するように、長さ20mmの横切り込み線61bを1.0mm間隔で互いに平行になるように11本形成する。   Next, using the same cutting tool, eleven horizontal cutting lines 61b having a length of 20 mm are formed at intervals of 1.0 mm so as to be perpendicular to the previously formed vertical cutting lines 61a.

以上の工程により、図6に示すように黒化層に縦方向、横方向それぞれ11本の切込み線により、格子状の切込みが形成される。   Through the above steps, as shown in FIG. 6, a grid-like cut is formed in the blackened layer by 11 cut lines in the vertical and horizontal directions.

次いで、格子状の切込みを覆うように密着度評価用テープ(エルコメーター社製 Elcometer99テープ)を貼り付けた後、十分に擦り付ける。   Next, an adhesiveness evaluation tape (Elcometer 99 tape manufactured by Elcomometer Co., Ltd.) is applied so as to cover the grid-shaped cuts, and then sufficiently rubbed.

密着度評価用テープを貼り付けてから30秒経過後に測定面に対して可能な限り180°の方向に素早く密着度評価用テープを剥がす。   After 30 seconds have passed since the adhesiveness evaluation tape was applied, the adhesiveness evaluation tape is quickly peeled off in the direction of 180 ° to the measurement surface as much as possible.

密着度評価用テープを剥がした後、格子状の縦切込み線61a、及び横切込み線61bとで囲まれた、図6中の評価領域62内で黒化層の下に形成した銅含有金属層(有機物層)が露出した面積により密着性の評価を行った。   After peeling off the adhesiveness evaluation tape, the copper-containing metal layer formed below the blackened layer in the evaluation region 62 in FIG. 6 surrounded by the grid-like vertical cut lines 61a and the horizontal cut lines 61b. The adhesion was evaluated based on the exposed area of the (organic material layer).

評価領域内の銅含有金属層の露出面積が0%の場合を5B、0%より多く5%未満の場合を4B、5%以上15%未満の場合を3B、15%以上35%未満の場合を2B、35%以上65%未満の場合を1B、65%以上の場合を0Bと評価した。係る評価について0Bが最も黒化層の密着性が低く、5Bが黒化層の密着性が最も高くなる。   5B when the exposed area of the copper-containing metal layer in the evaluation region is 0%, 4B when it is more than 0% and less than 5%, 3B when it is 5% or more and less than 15%, and 15% or more and less than 35% Was evaluated as 2B, 1B when 35% or more and less than 65%, and 0B when 65% or more. For such evaluation, 0B has the lowest adhesion of the blackened layer, and 5B has the highest adhesion of the blackened layer.

密着性試験の結果、4B、5Bの場合について黒化層の密着性が十分であると評価できる。すなわち、有機被膜の厚さが、黒化層が剥離しない程度の所望の厚さとなるように、有機被膜が形成されていることを示している。
(試料の作製条件)
実施例、比較例として、以下に説明する条件で導電性基板を作製し、上述の評価方法により評価を行った。
[実施例1]
(密着層形成工程)
幅570mm、厚さ50μmの長尺シートであるポリエチレンテレフタレート樹脂(PET)製の透明基材の一方の面上に密着層を成膜した。なお、透明基材として用いたポリエチレンテレフタレート樹脂製の透明基材について、全光線透過率をJIS K 7361−1に規定された方法により評価を行ったところ97%であった。
As a result of the adhesion test, it can be evaluated that the adhesion of the blackened layer is sufficient in the cases of 4B and 5B. That is, it shows that the organic coating is formed so that the thickness of the organic coating is a desired thickness that does not peel off the blackened layer.
(Sample preparation conditions)
As examples and comparative examples, conductive substrates were produced under the conditions described below and evaluated by the above-described evaluation method.
[Example 1]
(Adhesion layer forming process)
An adhesion layer was formed on one surface of a transparent substrate made of polyethylene terephthalate resin (PET), which is a long sheet having a width of 570 mm and a thickness of 50 μm. In addition, about the transparent base material made from the polyethylene terephthalate resin used as a transparent base material, when the total light transmittance was evaluated by the method prescribed | regulated to JISK7361-1, it was 97%.

密着層形成工程では、Ni−17重量%Cu合金のターゲットを装着したロール・トゥ・ロールスパッタリング装置により、密着層として酸素を含有するNi−Cu合金層を成膜した。以下に密着層の成膜手順について説明する。   In the adhesion layer forming step, a Ni—Cu alloy layer containing oxygen was formed as an adhesion layer by a roll-to-roll sputtering apparatus equipped with a Ni-17 wt% Cu alloy target. The procedure for forming the adhesion layer will be described below.

予め60℃まで加熱して水分を除去した上述の透明基材を、スパッタリング装置のチャンバー内に設置した。   The above-mentioned transparent base material, which was previously heated to 60 ° C. to remove moisture, was placed in the chamber of the sputtering apparatus.

次に、チャンバー内を1×10−3Paまで排気した後、アルゴンガスと酸素ガスとを導入し、チャンバー内の圧力を1.3Paとした。なお、この際チャンバー内の雰囲気は体積比で30%が酸素、残部がアルゴンとしている。 Next, after exhausting the inside of the chamber to 1 × 10 −3 Pa, argon gas and oxygen gas were introduced, and the pressure in the chamber was set to 1.3 Pa. At this time, the atmosphere in the chamber is 30% oxygen by volume, and the remainder is argon.

そして係る雰囲気下でターゲットに電力を供給し、透明基材を搬送しつつ、透明基材の一方の面上に密着層を厚さが20nmになるように成膜した。
(銅含有金属層形成工程)
銅含有金属層形成工程では、銅含有金属めっき層形成工程を実施した。
Then, an electric power was supplied to the target in such an atmosphere, and an adhesion layer was formed on one surface of the transparent substrate so as to have a thickness of 20 nm while conveying the transparent substrate.
(Copper-containing metal layer forming process)
In the copper-containing metal layer forming step, the copper-containing metal plating layer forming step was performed.

なお、銅含有金属層形成工程の前に銅含有金属薄膜層形成工程を実施した。   In addition, the copper containing metal thin film layer forming process was implemented before the copper containing metal layer forming process.

まず、銅含有金属薄膜層形成工程について説明する。   First, the copper-containing metal thin film layer forming step will be described.

銅含有金属薄膜層形成工程では、基材として密着層形成工程で透明基材上に密着層を成膜したものを用い、密着層上に銅含有金属薄膜層として銅薄膜層を形成した。   In the copper-containing metal thin film layer forming step, a copper thin film layer was formed on the adhesion layer as a copper-containing metal thin film layer using a substrate in which the adhesion layer was formed on the transparent substrate in the adhesion layer forming step.

銅含有金属薄膜層は、銅のターゲットを用いた点と、基材をセットしたチャンバー内を排気した後、アルゴンガスを供給してアルゴン雰囲気とした点以外は、密着層の場合と同様にしてロール・トゥ・ロールスパッタリング装置により成膜した。   The copper-containing metal thin film layer is the same as the case of the adhesive layer except that the copper target is used and the inside of the chamber in which the base material is set is evacuated and then an argon gas is supplied to form an argon atmosphere. The film was formed by a roll-to-roll sputtering apparatus.

銅含有金属薄膜層である銅薄膜層は膜厚が150nmとなるように成膜した。銅含有金属薄膜層が形成された基材は、ロール・トゥ・ロール方式の搬送手段を備えた有機被膜製造装置の巻出ローラに巻き取る。そして、図1に示すように、巻出ローラ15に巻き取られた基材14は、巻出ローラ15から3.5m/minの搬送速度で後述のめっき浴11aに搬送され銅含有金属層形成工程が行われる。   The copper thin film layer, which is a copper-containing metal thin film layer, was formed to have a film thickness of 150 nm. The base material on which the copper-containing metal thin film layer is formed is wound around an unwinding roller of an organic film manufacturing apparatus equipped with a roll-to-roll type transport means. And as shown in FIG. 1, the base material 14 wound up by the unwinding roller 15 is conveyed by the below-mentioned plating bath 11a with the conveyance speed of 3.5 m / min from the unwinding roller 15, and a copper containing metal layer formation is carried out. A process is performed.

銅含有金属層形成工程では、上述の銅含有金属薄膜層形成工程で予めスパッタリングにより形成した銅含有金属薄膜層に、湿式めっき法により銅含有金属めっき層を形成することにより銅含有金属層を形成した。具体的には、図1の有機被膜製造装置を用いて、銅含有金属薄膜層を形成した基材14を、めっき液11b(硫酸銅溶液)を入れためっき浴11aを通過させて、電気めっき法により銅含有金属めっき層の厚さが0.5μmになるように銅含有金属めっき層を成膜した。   In the copper-containing metal layer forming step, a copper-containing metal layer is formed by forming a copper-containing metal plating layer by a wet plating method on the copper-containing metal thin film layer previously formed by sputtering in the copper-containing metal thin film layer forming step. did. Specifically, using the organic film manufacturing apparatus of FIG. 1, the base material 14 on which the copper-containing metal thin film layer is formed is passed through a plating bath 11a containing a plating solution 11b (copper sulfate solution), and electroplating is performed. A copper-containing metal plating layer was formed by a method such that the thickness of the copper-containing metal plating layer was 0.5 μm.

その後、銅含有金属層が形成された基材14は、めっき浴11aの下流側に設けられた水洗手段17およびエアーナイフ18により、基材14の有機被膜を形成する面である一方の面について銅含有金属層を洗浄し、液切を行った。洗浄および液切が行われた基材14は、後述の防錆処理剤を入れた浴槽12aに搬送され、有機被膜形成工程が行われる。
(有機被膜形成工程)
有機被膜形成工程では、透明基材上に、密着層と、銅含有金属層とが形成された基材の銅含有金属層上に、有機被膜を形成した。なお、有機被膜形成工程では、図1の有機被膜製造装置の一例を用いて有機被膜を形成した。
Thereafter, the base material 14 on which the copper-containing metal layer is formed is one surface on which the organic coating film of the base material 14 is formed by the water washing means 17 and the air knife 18 provided on the downstream side of the plating bath 11a. The copper-containing metal layer was washed and drained. The base material 14 that has been cleaned and drained is conveyed to a bathtub 12a containing a rust preventive agent described later, and an organic film forming step is performed.
(Organic film forming process)
In the organic coating forming step, an organic coating was formed on the copper-containing metal layer of the substrate on which the adhesion layer and the copper-containing metal layer were formed on the transparent substrate. In the organic film forming step, an organic film was formed using an example of the organic film manufacturing apparatus of FIG.

有機被膜形成工程では、有機溶液として、窒素系有機物である1,2,3−ベンゾトリアゾールを含有する防錆処理剤(OPCディフューザー、奥野製薬工業株式会社製)の水溶液(溶液12b)を浴槽12aに入れ、この浴槽中に上述の基材14を7秒間浸漬した。なお、有機溶液は、防錆処理剤の濃度が1.6ml/L、容量120L、浴温23℃、pH3となるように予め調整して用いた。   In the organic film forming step, an aqueous solution (solution 12b) of a rust preventive agent (OPC diffuser, manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) containing 1,2,3-benzotriazole, which is a nitrogen-based organic substance, is used as the organic solution. The base material 14 was immersed in this bath for 7 seconds. The organic solution was adjusted in advance so that the concentration of the rust inhibitor was 1.6 ml / L, the volume was 120 L, the bath temperature was 23 ° C., and the pH was 3.

また、浴槽12aには、防錆処理剤6.5ml/Lの水溶液を1時間あたり5L定量補充し、7時間連続で操業した後の銅濃度が6ppm以下となるように調整した。防錆処理剤の補充は、補給用の防錆処理剤の水溶液(補充溶液13b)が貯蔵されたタンク13aから補給管13cを介して補充溶液13bが浴槽12aに補給されることにより行った。   In addition, the bathtub 12a was replenished with 5 L of an aqueous solution of 6.5 ml / L of an anticorrosive treatment agent per hour and adjusted so that the copper concentration after operating continuously for 7 hours was 6 ppm or less. The replenishment of the antirust treatment agent was performed by replenishing the bath 12a with the replenishment solution 13b from the tank 13a in which the replenishment antirust treatment agent aqueous solution (replenishment solution 13b) was stored via the replenishment pipe 13c.

有機被膜形成工程を経て有機被膜が形成された基材14は、その後、さらに基材14の搬送方向(ブロック矢印1の方向)下流側に設けた水洗手段19により、基材14の表面に付着した有機溶液を水洗して除去した後、図示しない乾燥手段により乾燥し、図示しない巻き取りロールにより、有機被膜を形成した基材を巻き取った。
(黒化層形成工程)
黒化層形成工程では、有機被膜形成工程で基材14に形成した有機被膜上に、スパッタリング法により黒化層としてNi−Cu層を形成した。
Thereafter, the base material 14 on which the organic film has been formed through the organic film forming step is further adhered to the surface of the base material 14 by the washing means 19 provided on the downstream side in the transport direction of the base material 14 (the direction of the block arrow 1). The organic solution was washed and removed, dried by a drying means (not shown), and the substrate on which the organic film was formed was taken up by a take-up roll (not shown).
(Blackening layer forming process)
In the blackened layer forming step, a Ni—Cu layer was formed as a blackened layer by sputtering on the organic coating formed on the substrate 14 in the organic coating forming step.

黒化層形成工程では、Ni−35重量%Cu合金のターゲットを装着したロール・トゥ・ロールスパッタリング装置により、黒化層としてNi−Cu合金層を成膜した。以下に黒化層の成膜手順について説明する。   In the blackening layer forming step, a Ni—Cu alloy layer was formed as a blackening layer by a roll-to-roll sputtering apparatus equipped with a target of Ni-35 wt% Cu alloy. The procedure for forming the blackened layer will be described below.

まず、透明基材上に、密着層と、銅含有金属層と、有機被膜と、を積層した積層体をスパッタリング装置のチャンバー内にセットした。   First, the laminated body which laminated | stacked the contact | adherence layer, the copper containing metal layer, and the organic film on the transparent base material was set in the chamber of sputtering apparatus.

次にチャンバー内を1×10−3Paまで排気した後、アルゴンガスを導入し、チャンバー内の圧力を1.3Paとした。 Next, after evacuating the inside of the chamber to 1 × 10 −3 Pa, argon gas was introduced and the pressure in the chamber was set to 1.3 Pa.

そして係る雰囲気下でターゲットに電力を供給し、基材を搬送しつつ、有機被膜上に厚さ30nmになるように黒化層を成膜した。   Then, power was supplied to the target in such an atmosphere, and a blackened layer was formed on the organic coating so as to have a thickness of 30 nm while transporting the base material.

以上の工程により、銅含有金属層の上面、すなわち、銅含有金属層の密着層と対向する面と反対側の面に有機被膜を介して黒化層を形成し、透明基材上に、密着層、銅含有金属層、有機被膜、黒化層がその順で積層された導電性基板が得られた。   Through the above steps, a blackening layer is formed on the upper surface of the copper-containing metal layer, that is, the surface opposite to the surface facing the adhesion layer of the copper-containing metal layer via an organic coating, and is adhered to the transparent substrate. A conductive substrate in which a layer, a copper-containing metal layer, an organic coating, and a blackening layer were laminated in that order was obtained.

得られた導電性基板について、密着性試験を実施したところ5Bであった。
[実施例2]
有機被膜形成工程において、上記の有機被膜製造装置を用い、浴槽に防錆処理剤の水溶液の補充は行わず、7時間連続で操業し、銅濃度が10ppmとなるように調整した以外は、実施例1と同様にして導電性基板を作製した。
It was 5B when the adhesiveness test was implemented about the obtained electroconductive board | substrate.
[Example 2]
In the organic film forming process, using the above-mentioned organic film manufacturing apparatus, the bath was not replenished with an aqueous solution of a rust inhibitor, but it was operated continuously for 7 hours, and the copper concentration was adjusted to 10 ppm. A conductive substrate was produced in the same manner as in Example 1.

得られた導電性基板について、密着性試験を実施したところ4Bであった。
[比較例1]
有機被膜形成工程において、上述の有機被膜製造装置を用い、浴槽に防錆処理剤の水溶液の定量補充は行わず、14時間連続で操業し、銅濃度が18ppmとなるように調整した以外は、以外は実施例1と同様にして導電性基板を作製した。
It was 4B when the adhesiveness test was implemented about the obtained electroconductive board | substrate.
[Comparative Example 1]
In the organic film forming step, using the above-mentioned organic film production apparatus, except that the bath was not replenished quantitatively with the aqueous solution of the anticorrosive treatment agent and operated continuously for 14 hours, and the copper concentration was adjusted to 18 ppm, A conductive substrate was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.

得られた導電性基板について、密着性試験を実施したところ3Bであった。   It was 3B when the adhesiveness test was implemented about the obtained electroconductive board | substrate.

実施例1、実施例2、比較例1の結果から、浴槽中の防錆処理剤の水溶液の銅濃度を15ppm以下に調整することにより、密着性試験の結果は4B以上となり、黒化層の密着性を高めることができることが確認された。この結果は、有機被膜の厚さが適正な厚さに制御されたことを示している。   From the results of Example 1, Example 2, and Comparative Example 1, by adjusting the copper concentration of the aqueous solution of the rust preventive agent in the bath to 15 ppm or less, the result of the adhesion test becomes 4B or more, and the blackening layer It was confirmed that the adhesion can be improved. This result shows that the thickness of the organic coating was controlled to an appropriate thickness.

また、実施例1、実施例2、比較例1の結果から、浴槽中に防錆処理剤の水溶液を補充しながら、浴槽中の防錆処理剤の水溶液の銅濃度を8ppm以下に調整することにより、密着性試験の結果は5Bとなり、黒化層の密着性をさらに高めることができることが確認された。この結果は、有機被膜の厚さが特に適正な厚さに制御されたことを示している。   Moreover, adjusting the copper concentration of the aqueous solution of the rust preventive agent in the bathtub to 8 ppm or less while replenishing the aqueous solution of the rust preventive agent in the bathtub from the results of Example 1, Example 2, and Comparative Example 1. Thus, the result of the adhesion test was 5B, and it was confirmed that the adhesion of the blackened layer could be further improved. This result shows that the thickness of the organic coating was controlled to a particularly appropriate thickness.

10 有機被膜製造装置
11 銅含有金属層形成手段
12 有機被膜形成手段
12a 浴槽
12b 溶液
13 調整手段
14 シート状基材
20A、20B、30A、30B、40 導電性基板
21 透明基材
22、22A、22B 銅含有金属層
23、23A、23B、42A、42B 有機被膜
24、24A、24B、43A、43B 黒化層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Organic film manufacturing apparatus 11 Copper containing metal layer formation means 12 Organic film formation means 12a Bath 12b Solution 13 Adjustment means 14 Sheet-like base material 20A, 20B, 30A, 30B, 40 Conductive substrate 21 Transparent base material 22, 22A, 22B Copper-containing metal layer 23, 23A, 23B, 42A, 42B Organic coating 24, 24A, 24B, 43A, 43B Blackening layer

Claims (6)

銅含有金属層が形成された基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、前記銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成工程を有し、
前記有機被膜形成工程では、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度を15ppm以下にすることを特徴とする、有機被膜の製造方法。
An organic film forming step of forming an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer by immersing the base material on which the copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic material in a bath;
In the organic film forming step, the copper concentration of the solution in the bath is adjusted to 15 ppm or less.
前記有機被膜形成工程では、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度が15ppm以下になるように前記浴槽に窒素系有機物の溶液を補充する請求項1に記載の有機被膜の製造方法。   2. The method for producing an organic coating according to claim 1, wherein, in the organic coating forming step, the bath is supplemented with a nitrogen-based organic solution so that the copper concentration of the solution in the bath is 15 ppm or less. 透明基材の少なくとも一方の面上に湿式法により銅含有金属層を形成する銅含有金属層形成工程と、
前記銅含有金属層が形成された透明基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、前記銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成工程と、
前記有機被膜の上面に黒化層を形成する黒化層形成工程とを有し、
前記有機被膜形成工程では、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度を15ppm以下にすることを特徴とする、導電性基板の製造方法。
A copper-containing metal layer forming step of forming a copper-containing metal layer on at least one surface of the transparent substrate by a wet method;
An organic film forming step of immersing the transparent base material on which the copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic material in a bath to form an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer;
A blackening layer forming step of forming a blackening layer on the upper surface of the organic coating,
In the organic film forming step, the copper concentration of the solution in the bath is set to 15 ppm or less.
前記有機被膜形成工程では、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度が15ppm以下になるように前記浴槽に窒素系有機物の溶液を補充する請求項3に記載の導電性基板の製造方法。   The method for producing a conductive substrate according to claim 3, wherein in the organic coating forming step, the bath is supplemented with a solution of a nitrogen-based organic material so that the copper concentration of the solution in the bath is 15 ppm or less. 銅含有金属層が形成された基材を、浴槽に入れた窒素系有機物の溶液に浸漬して、前記銅含有金属層の上面に有機被膜を形成する有機被膜形成手段を有し、
前記有機被膜形成手段は、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度を15ppm以下に調整する調整手段を有することを特徴とする、有機被膜製造装置。
An organic film forming means for forming an organic film on the upper surface of the copper-containing metal layer by immersing the base material on which the copper-containing metal layer is formed in a solution of a nitrogen-based organic substance placed in a bathtub,
The said organic film formation means has an adjustment means which adjusts the copper concentration of the said solution in the said bath to 15 ppm or less, The organic film manufacturing apparatus characterized by the above-mentioned.
前記調整手段は、前記浴槽内の前記溶液の銅濃度が15ppm以下になるように前記浴槽に窒素系有機物の溶液を補充する請求項5に記載の有機被膜製造装置。   The said adjustment means is an organic film manufacturing apparatus of Claim 5 which replenishes the solution of a nitrogen-type organic substance to the said bathtub so that the copper concentration of the said solution in the said bath may be 15 ppm or less.
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