JP2017133879A - サイクルタイムが比較可能な波形表示装置 - Google Patents
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Abstract
Description
例えば、図10に示す実線の波形(波形1)と破線の波形(波形2)における(A)部分を比較した後に、(B)部分を比較する場合を考える。
−手順1:波形の(A)部分について比較するため、オペレータは波形表示装置の入力部を操作して波形の(A)部分を拡大表示する。
−手順2:そのままでは波形1と波形2の(A)付近が重ならないので、波形1と波形2の(A)付近を重ね合わせるために、オペレータは波形表示装置の入力部を操作して波形2をオフセットする。
−手順3:波形2をオフセットすることにより、波形1と波形2の(A)付近は重なり合い(図11)、オペレータは波形の比較を行うことができる。
−手順4:次に波形の(B)部分について比較するため、オペレータは波形表示装置の入力部を操作して波形を(B)部分までスクロールする。
−手順5:波形1と波形2の(A)付近を重ね合わせた状態では、(A)部分から(B)部分までのサイクルタイムの差により、そのままでは波形1と波形2の(B)付近が重なり合わない(図12)。そこで、オペレータは波形表示装置の入力部を操作して再度波形2をオフセットする。
−手順6:波形1と波形2の(B)付近は重なり合い(図13)、オペレータは波形の比較を行うことができる。
である。
ことを特徴とする請求項1または2に記載の波形表示装置である。
本発明の波形表示装置では、比較対象となる複数の波形上のそれぞれの各点についての対応関係を求める。次に、求めた対応関係に基づいてユーザが表示している波形の位置に応じて複数の波形を重ね合わせて表示する。また、サイクルタイムの差をグラフ表示する。
図1は、複数の波形同士の対応関係について説明する図である。例えば、2つの波形について対応関係を求める場合、波形1と波形2とを時間の関数W1(t)、W2(t)で表した場合におけるW1(t1)=W2(t2)となるような時間t1、t2の組を求める。より具体的な処理手順としては、以下の1〜3のように行う。
●処理手順1:最初にW1(t10)≒W2(t20)となるt10,t20を外部から与える。
●処理手順2:次に、t1i,t2iから、W1(t1i+1)≒W2(t2i+1)となるt1i+1(≧t1i),t2i+1(≧t2i)を求める。
●処理手順3:上記処理手順2を波形の終端まで繰り返すことでt1i,t2iの組がいくつか求まる。
なお、3以上の波形上の点の間の対応関係を求める場合には、いずれか1の波形を基準とし、当該波形上の点とそれ以外の波形上の点との間でそれぞれ対応関係を求めるようにすればよい。
なお、初期値t10,t20はそれぞれの波形の先頭とするのでもよいが、ユーザが与えられるようにした方が、対応できる状況が広がる。また、初期値t10,t20の組は複数設定できるようにしてもよい。このようにすることで、本方法で対応関係を適切に求めることができなかった箇所について、ユーザが任意で修正可能となる。
●いくつかの座標値の組(例えばX,Y,Z軸の座標値)
●プログラム番号、シーケンス番号
●これらの複合
●[ステップSA01]変数t1(以下、t1)に対してユーザから与えられた波形1の対応付け処理の開始点の時間t10を、変数t2(以下、t2)に対してユーザから与えられた波形2の対応付け処理の開始点の時間t20を、それぞれ代入する。
●[ステップSA02]t1の値が波形1の対応付け処理の終了点の時間であるt1e以下であり、かつ、t2の値が波形2の対応付け処理の終了点の時間であるt2e以下であるか否かを判定する。前記条件が成立する場合にはステップSA03へ処理を移行し、成立しない場合には対応付け処理を終了する。
●[ステップSA03]後述する処理Aを実行する。
●[ステップSA04]t1,t2の値の組を波形1と波形2の対応関係を示す時間の組として記録し、ステップSA02へと処理を移行する。
●[ステップSB01]時間t1における波形1の座標値W1(t1)と、時間t2における波形2の座標値W2(t2)とが、ある程度の誤差を含んだ上で等しい、か否かを判定する。座標値W1(t1)と座標値W2(t2)とがある程度の誤差を含んだ上で等しい場合にはステップSB02へ処理を移行し、そうでない場合にはステップSB03へ処理を移行する。
●[ステップSB02]t1,t2の値をそれぞれ1(単位はミリ秒)増加して処理Aを終了する。
●[ステップSB05]t1の値を1(単位はミリ秒)増加して処理Aを終了する。
●[ステップSB06]t2の値を1(単位はミリ秒)増加して処理Aを終了する。
●[ステップSB09]t1の値を1(単位はミリ秒)増加して処理Aを終了する。
●[ステップSB10]t2の値を1(単位はミリ秒)増加して処理Aを終了する。
●[ステップSB11]t1,t2の値をそれぞれ1(単位はミリ秒)増加して処理Aを終了する(このステップの処理は例外処理である)。
以上の処理により、波形1上の各点と波形2上の各点との対応関係t1i,t2iが求まる。
上記した方法で求めた複数の波形同士の対応関係に基づいて、これら複数の波形が重なり合ったグラフ表示を行う。以下では、波形1と波形2の2つの波形の同一工程が重なり合ったグラフ表示を行う例を示す。
『波形1の基準位置』をT1としたとき、それに対応する『波形2の基準位置』T2を以下の数3式で求める。
図5は、波形1の基準位置である時間T1と波形2の基準位置である時間T2が重なり合うように波形1、波形2のグラフ表示をした例である。
また、画面に『波形1の基準位置』T1の時間を示すと、現在基準になっている位置が常にユーザが把握できるため適切である。更に、マウス等でT1を移動できるようにすると、より適切な構成となる。
波形1のグラフW1(t)と同時にW1diff(t)を示すことで、サイクルタイムの増減箇所を視覚的・定量的に把握できる表示が実現できる。例えば、図7に示すグラフでは、点A〜点Eの「サイクルタイムの増加時間(W1diff(t))」をグラフから読み取ることによって、以下の箇所(AB,BC,CD,AE)のサイクルタイムの差を算出している。
●AB部分のサイクルタイムの差は約50ミリ秒(点B(約50ms)−点A(約0ms))
●BC部分のサイクルタイムの差は約40ミリ秒(点C(約90ms)−点B(約50ms))
●CD部分のサイクルタイムの差は約100ミリ秒(点D(約190ms)−点C(約90ms))
●全体(AE部分)のサイクルタイムの差は約260ミリ秒(点E(約260ms)−点A(約0ms))
このように、任意の箇所のサイクルタイムの差を定量的に把握することができる。
対応関係データ生成部10は、複数の波形データ20に基づいて上記した対応関係を求める方法に基づく処理を行うことで複数の波形上の各点の間の対応関係を求め、求めた対応関係を示す対応関係データを生成して図示しないメモリ上に設けられた対応関係記憶部21へと記憶する。
10 対応関係データ生成部
11 表示部
12 操作部
13 サイクルタイム増減算出部
20 波形データ
21 対応関係記憶部
Claims (3)
- 時間軸に対して値が変化するデータである第1の波形データと第2の波形データとを比較可能に表示する波形表示装置において、
前記第1の波形データ上の第1の点に基づいて、該第1の点と対応関係にある前記第2波形データ上の第2の点を求め、該第1の点と該第2の点との間の対応関係を示す対応関係データを生成する対応関係データ生成部と、
前記対応関係データ生成部が生成した対応関係データに基づいて、前記第1の波形データ上における所定の点である基準点と、前記基準点と対応関係にある前記第2の波形データ上の点とを、時間軸上で重なるように前記第1の波形データと前記第2の波形データとを表示する表示部と、
を備えたことを特徴とする波形表示装置。 - 前記対応関係データ生成部が生成した対応関係データに基づいて、前記第1の波形データと前記第2の波形データとの間で対応関係にあるそれぞれの点におけるサイクルタイムの増減値を算出するサイクルタイム増減算出部をさらに備え、
前記表示部は、前記第1の波形データと前記第2の波形データとに対応付けて、前記サイクルタイム増減算出部が算出したサイクルタイムの増減値に係る表示を行う、
ことを特徴とする請求項1に記載の波形表示装置。 - 前記基準点は、ユーザの操作に基づいて指定される、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の波形表示装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109116077A (zh) * | 2018-07-09 | 2019-01-01 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种波形映射方法、装置及计算机可读存储介质 |
US10539931B2 (en) | 2018-03-13 | 2020-01-21 | Fanuc Corporation | Time-series data analysis device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07174789A (ja) * | 1993-12-21 | 1995-07-14 | Yokogawa Electric Corp | トリガ装置 |
US20020008702A1 (en) * | 1998-11-04 | 2002-01-24 | Harry Mark Gilbert | Interactive scalable digital oscilloscope display |
JP4770532B2 (ja) * | 2006-03-20 | 2011-09-14 | 横河電機株式会社 | 波形表示装置及びプログラム |
JP2013011566A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-17 | Panasonic Industrial Devices Sunx Co Ltd | 変位センサシステム、センサ用コントローラ及び表示制御プログラム |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4843309A (en) * | 1988-03-21 | 1989-06-27 | Tektronix, Inc. | Waveform timing alignment system for digital oscilloscopes |
JP4798250B2 (ja) * | 2009-04-15 | 2011-10-19 | 横河電機株式会社 | 波形表示装置および波形表示方法 |
JP5416238B2 (ja) * | 2012-02-27 | 2014-02-12 | ファナック株式会社 | データ管理機能を備えた波形表示装置 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07174789A (ja) * | 1993-12-21 | 1995-07-14 | Yokogawa Electric Corp | トリガ装置 |
US20020008702A1 (en) * | 1998-11-04 | 2002-01-24 | Harry Mark Gilbert | Interactive scalable digital oscilloscope display |
JP4770532B2 (ja) * | 2006-03-20 | 2011-09-14 | 横河電機株式会社 | 波形表示装置及びプログラム |
JP2013011566A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-17 | Panasonic Industrial Devices Sunx Co Ltd | 変位センサシステム、センサ用コントローラ及び表示制御プログラム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10539931B2 (en) | 2018-03-13 | 2020-01-21 | Fanuc Corporation | Time-series data analysis device |
CN109116077A (zh) * | 2018-07-09 | 2019-01-01 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种波形映射方法、装置及计算机可读存储介质 |
CN109116077B (zh) * | 2018-07-09 | 2020-09-08 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种波形映射方法、装置及计算机可读存储介质 |
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