JP2017120830A - Method for producing epitaxial wafer - Google Patents
Method for producing epitaxial wafer Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017120830A JP2017120830A JP2015256691A JP2015256691A JP2017120830A JP 2017120830 A JP2017120830 A JP 2017120830A JP 2015256691 A JP2015256691 A JP 2015256691A JP 2015256691 A JP2015256691 A JP 2015256691A JP 2017120830 A JP2017120830 A JP 2017120830A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction furnace
- vapor phase
- epitaxial wafer
- susceptor
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 claims abstract description 26
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 13
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 22
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 9
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 31
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 66
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 40
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 31
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 31
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 28
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 23
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 23
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 20
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 20
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 17
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 16
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 14
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 10
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 9
- ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N trichlorosilane Chemical compound Cl[SiH](Cl)Cl ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000005052 trichlorosilane Substances 0.000 description 9
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 5
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 5
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 4
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000519995 Stachys sylvatica Species 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 238000001095 inductively coupled plasma mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
本発明は、エピタキシャルウェーハの製造方法に関する。 The present invention relates to an epitaxial wafer manufacturing method.
近年、CCD(Charge Coupled Device)、CIS(CMOS Image Sensor)などの撮像素子用基板にエピタキシャルウェーハが使用されている。このエピタキシャルウェーハは、例えば、シリコン基板にシリコン膜(エピタキシャル層)を気相成長することで作製される。この気相成長する環境が、例えば、金属不純物で汚染されていると、金属不純物が取り込まれたエピタキシャルウェーハが作製される。このようなエピタキシャルウェーハを撮像素子用基板に用いると、白キズ(白点)と呼ばれる不良が発生するため、気相成長時にエピタキシャルウェーハ中に取り込まれる金属不純物を低減することが重要である。 In recent years, an epitaxial wafer is used for a substrate for an image sensor such as a charge coupled device (CCD) or a CMOS image sensor (CIS). This epitaxial wafer is produced, for example, by vapor-phase growth of a silicon film (epitaxial layer) on a silicon substrate. If this environment for vapor phase growth is contaminated with metal impurities, for example, an epitaxial wafer incorporating metal impurities is produced. When such an epitaxial wafer is used for an image pickup device substrate, defects called white scratches (white spots) are generated. Therefore, it is important to reduce metal impurities taken into the epitaxial wafer during vapor phase growth.
一般にシリコンエピタキシャルウェーハは、エピタキシャルCVD装置などの気相成長装置を使用して製造される。このような気相成長装置では、気相成長装置を大気に開放して気相成長装置の反応炉、配管等を洗浄などする定期的なメンテナンスが必要となる。しかし、メンテナンスを実行すると、気相成長装置に金属不純物が持ち込まれる等の理由により、メンテナンス後の気相成長装置は、実際に清浄度が悪化する。そのため、SPV(Surface Photo Voltage)、WLT(Wafer Life Time)、VP−ICPMS(Vapor Phase Inductively Coupled Plasema Mass Spectrometry)等の方法によりメンテナンス後の気相成長装置の清浄度が評価され、清浄度が所定の水準になるように管理される。 In general, a silicon epitaxial wafer is manufactured using a vapor phase growth apparatus such as an epitaxial CVD apparatus. Such a vapor phase growth apparatus requires periodic maintenance such as opening the vapor phase growth apparatus to the atmosphere and cleaning the reactor, piping, and the like of the vapor phase growth apparatus. However, when maintenance is performed, the cleanliness of the post-maintenance vapor phase growth apparatus actually deteriorates due to reasons such as metal impurities being brought into the vapor phase growth apparatus. Therefore, a vapor phase growth after a maintenance is performed by a method such as SPV (Surface Photo Voltage), WLT (Wafer Life Time), VP-ICPMS (Vapor Phase Inductively Coupled Mass Spectrometry), and a degree of purity after maintenance. It is managed to become the standard of.
メンテナンス後の気相成長装置は、例えば、反応炉内が気相エッチングされ、その後、反応炉内のサセプタ等にシリコン層を堆積させるとの特許文献1〜7に開示される工程が繰り返されることで、清浄度をもとの水準に回復させる。なお、シリコン層を堆積させることについては、例えば、特許文献8及び9にも開示がある。
In the post-maintenance vapor phase growth apparatus, for example, the process disclosed in Patent Documents 1 to 7 in which the inside of the reaction furnace is vapor-phase etched and then the silicon layer is deposited on the susceptor or the like in the reaction furnace is repeated. Then, the cleanliness is restored to the original level. For example,
しかし、特許文献1〜7のように気相エッチングしてシリコン層を堆積させる工程を繰り返して気相成長装置の清浄度を回復させると、清浄度を回復させるのに長時間を要する。そのため、シリコンエピタキシャルウェーハの生産性が大きく低下するとの問題がある。 However, when the cleanliness of the vapor phase growth apparatus is recovered by repeating the process of vapor phase etching and depositing the silicon layer as in Patent Documents 1 to 7, it takes a long time to recover the cleanliness. Therefore, there is a problem that the productivity of the silicon epitaxial wafer is greatly reduced.
本発明の課題は、生産性を高めることが可能なエピタキシャルウェーハの製造方法を提供することにある。 The subject of this invention is providing the manufacturing method of the epitaxial wafer which can improve productivity.
本発明のエピタキシャルウェーハの製造方法は、
ステンレス部材を有する反応炉内に配置されるサセプタにポリシリコン層を堆積する第1工程と、
第1工程後に、反応炉内を熱処理する工程と、
熱処理する工程後に、気相エッチングによりポリシリコン層をサセプタから除去する工程と、
を備えることを特徴とする。
The method for producing an epitaxial wafer of the present invention includes:
A first step of depositing a polysilicon layer on a susceptor disposed in a reactor having a stainless steel member;
A step of heat-treating the inside of the reactor after the first step;
Removing the polysilicon layer from the susceptor by vapor phase etching after the heat treatment step;
It is characterized by providing.
本発明者らは、メンテナンス後の気相成長装置の清浄度を効率よく回復させるために、メンテナンス後に反応炉内を気相エッチングする点に着眼して鋭意検討を重ねた。その中で、本発明者らは次のような知見を得た。メンテナンス後の気相成長装置の反応炉内は操業時と比べて水分量が多い(酸素濃度が高い)ため、この状態で気相エッチングをすると、反応炉内のステンレス部材の腐食が悪化する。そして、そのステンレス部材の腐食の悪化により反応炉内が金属不純物により汚染され、結果として気相成長装置の清浄度を回復させるのに長時間を要するとの知見を、本発明者らは得た。 In order to efficiently recover the cleanliness of the vapor phase growth apparatus after maintenance, the present inventors have made extensive studies focusing on the point of performing vapor phase etching inside the reaction furnace after maintenance. Among them, the present inventors obtained the following knowledge. Since the inside of the reactor of the vapor phase growth apparatus after maintenance has a larger amount of water (oxygen concentration is higher) than during operation, corrosion of the stainless steel member in the reactor will deteriorate if vapor phase etching is performed in this state. The inventors obtained the knowledge that the reaction furnace was contaminated with metal impurities due to the deterioration of the corrosion of the stainless steel member, and as a result, it took a long time to restore the cleanliness of the vapor phase growth apparatus. .
そこで、本発明では、気相エッチングの前に反応炉内のサセプタにポリシリコンを堆積させて反応炉内を熱処理する一連の工程を備える。こうすることで、シリコンエピタキシャルウェーハを製造する製造環境の清浄度を回復させる時間を従来よりも短縮させることが可能となる。その結果、シリコンエピタキシャルウェーハの生産性を高めることができる。 Therefore, the present invention includes a series of steps in which polysilicon is deposited on a susceptor in the reaction furnace and heat-treated in the reaction furnace before the vapor phase etching. By doing so, it is possible to shorten the time for restoring the cleanliness of the manufacturing environment for manufacturing the silicon epitaxial wafer as compared with the conventional case. As a result, the productivity of the silicon epitaxial wafer can be increased.
本発明の実施態様では、除去する工程後に、サセプタにポリシリコン層を堆積する第2工程を備える。これによれば、反応炉内の金属汚染を低減させることが可能となる。 The embodiment of the present invention includes a second step of depositing a polysilicon layer on the susceptor after the removing step. According to this, it becomes possible to reduce metal contamination in the reaction furnace.
本発明の実施態様では、第1工程、熱処理する工程、除去する工程及び第2工程を複数回、繰り返す工程を備える。これによれば、4つの工程を複数回繰り返すことで、シリコンエピタキシャルウェーハを製造する製造環境における清浄度を高めることが可能となる。 The embodiment of the present invention includes a step of repeating the first step, the heat treatment step, the removal step, and the second step a plurality of times. According to this, it becomes possible to raise the cleanliness in the manufacturing environment for manufacturing the silicon epitaxial wafer by repeating the four steps a plurality of times.
本発明の実施態様では、繰り返す工程前に、反応炉をメンテナンスする工程を備える。これによれば、反応炉内の清浄度が悪化するメンテナンス後に反応炉内の清浄度を回復させる時間を短縮させることができる。 In an embodiment of the present invention, a step of maintaining the reactor is provided before the repeating step. According to this, it is possible to shorten the time for recovering the cleanliness in the reaction furnace after maintenance in which the cleanliness in the reaction furnace deteriorates.
本発明の実施態様では、繰り返す工程後に、反応炉内で基板にエピタキシャル層を成長する工程を備える。これによれば、金属汚染が抑制されたシリコンエピタキシャルウェーハを製造できるとともに、エピタキシャルウェーハの生産性を高めることができる。 In an embodiment of the present invention, the method includes a step of growing an epitaxial layer on the substrate in the reaction furnace after the repeating step. According to this, while being able to manufacture the silicon epitaxial wafer by which metal contamination was suppressed, productivity of an epitaxial wafer can be improved.
図1は本発明に使用する気相成長装置1の一例を示す。気相成長装置1を使用して、例えば、成長用基板となるシリコン単結晶ウェーハ(基板W)にシリコン単結晶膜(エピタキシャル層)を気相成長させ、シリコンエピタキシャルウェーハが製造される。 FIG. 1 shows an example of a vapor phase growth apparatus 1 used in the present invention. Using the vapor phase growth apparatus 1, for example, a silicon single crystal film (epitaxial layer) is vapor-phase grown on a silicon single crystal wafer (substrate W) serving as a growth substrate, and a silicon epitaxial wafer is manufactured.
気相成長装置1は反応炉2を備える。反応炉2は容器状に形成され、円筒状のベースリング2aと、ベースリング2aを上から蓋をするアッパードーム2bと、ベースリング2aを下から蓋をするロワードーム2cとを備える。
The vapor phase growth apparatus 1 includes a
ベースリング2aは、ベースリング2aの内側と外側を繋ぐ通路2a1、2a2を有するステンレス部材である。具体的には、ベースリング2aは、Fe(鉄)を主成分として、Cr(クロム)、Ni(ニッケル)、Mo(モリブデン)、Mn(マンガン)などの成分を含むステンレス鋼(例えば、SUS316L)により形成される。ベースリング2aが本発明の「ステンレス部材」に相当する。
The
アッパードーム2bは、円筒状のベースリング2aの上側の開口を塞ぐように位置する。ロワードーム2cは、円筒状のベースリング2aの下側の開口を塞ぐように位置する。
The
反応炉2の内部には、基板Wを載置させるサセプタ3と、サセプタ3を支持する支持部4が備わる。
Inside the
サセプタ3は、円盤状に形成される。サセプタ3は、基板Wの直径より大きな円盤状に表面が窪むザグリ部3aを有する。ザグリ部3aに基板Wが載置された状態で、サセプタ3は、ザグリ部3aに載置された基板Wを水平又は略水平に支持する。サセプタ3は、基板Wを支持した状態で鉛直方向に延びる軸線O回りに回転可能なように反応炉2内に配置される。
The
支持部4は、サセプタ3の裏面側からサセプタ3を水平又は略水平に支持するように配置される。支持部4は、サセプタ3の裏面に接続してサセプタ3を支持するアーム4aと、上端部がアーム4aに接続して鉛直方向の下方に伸びる支柱4bを備える。
The
支柱4bの下端部には駆動部5が接続する。駆動部5は、支柱4bを上下動させることが可能及び支柱4bを軸線O回りに回転させることが可能な駆動手段(例えば、モーター)として構成される。
The
反応炉2の外部には、反応炉2の左右にガス供給管6及びガス排出管7が配置される。また、反応炉2の上下にはランプ8が配置される。
A
ガス供給管6は、反応炉2の水平方向の一端側(図1左側)に位置し、各種のガスを反応炉2内に略水平に供給する。例えば、気相成長時には、ガス供給管6は、反応炉2内に気相成長ガスを供給する。気相成長ガスは、シリコン単結晶膜の原料となる原料ガスと、原料ガスを希釈するキャリアガスと、単結晶膜に導電型を付与するドーパントガスとを有する。また、反応炉2内の清浄度を回復させる回復時には、ガス供給管6は、次のガスを供給する。ガス供給管6は、サセプタ3の表面にポリシリコン層を形成するためのトリクロルシランなどのシラン系のガス及び反応炉2内を気相エッチングするエッチングガスを供給する。エッチングガスは、例えば、塩化水素ガス(HClガス)が使用され、この供給された塩化水素ガスをパージする際には、ガス供給管6は、反応炉2内にパージガス(例えば、水素等)を供給する。
The
ガス排出管7は、反応炉2の水平方向の他端側(図示右側)に位置し、反応炉2内のガスを反応炉2外に排出する。ガス排出管7からは、基板Wを通過した気相成長ガス等が排出される。
The
ランプ8は、反応炉2の上下に複数配置され、反応炉2内の温度を調節する。
A plurality of
以上、気相成長装置1の主要な各部について説明した。気相成長装置1を稼働させてシリコンエピタキシャルウェーハを製造する場合は、先ず、反応炉2のサセプタ3に基板Wを載置させる。そして、ガス供給管6から基板Wに気相成長ガスを供給し、基板Wにシリコン単結晶薄膜を気相成長させてシリコンエピタキシャルウェーハを製造する。このような製造工程を気相成長装置1が繰り返して気相成長装置1が所定の期間、稼働すると、気相成長装置1の定期的なメンテナンスが施される。このメンテナンスの作業としては、反応炉2を大気に開放して反応炉2と反応炉2に接続する配管等の清掃、点検等が行われる。
The main parts of the vapor phase growth apparatus 1 have been described above. When a silicon epitaxial wafer is manufactured by operating the vapor phase growth apparatus 1, first, the substrate W is placed on the
気相成長装置1のメンテナンスにより、反応炉2を大気に開放すると、反応炉2内などに金属不純物等が持ち込まれ、気相成長装置1の清浄度が悪化する。そのため、メンテナンスの作業後には、反応炉2内の清浄度を回復させるために、従来では、次のような工程を複数回、繰り返していた。メンテナンス作業後にガス供給管6から反応炉2内に塩化水素ガスを供給して気相エッチングし、その後、ガス供給管6から反応炉2内にシラン系ガスを供給してサセプタ3の表面にシリコンを堆積させる工程を複数回、繰り返していた。
When the
本発明者らは、メンテナンス作業後における気相成長装置1の清浄度を効率よく回復させるために、メンテナンス作業後の気相エッチングに着眼して鋭意検討を重ねた。その中で、本発明者らは次のような知見を得た。図2に示すようにメンテナンス作業後における気相成長装置1の反応炉2内は操業時よりも水分量が多い(酸素濃度が高い)。よって、この状態で気相エッチングを行うと(塩化水素ガスを流すと)、反応炉2内のベースリング2a(ステンレス部材)の腐食が悪化する。このステンレス部材の腐食が悪化すると、反応炉2内が金属不純物により汚染され、結果として気相成長装置1の清浄度を回復させるのに長時間を要してしまうとの知見を本発明者らは得た。
In order to efficiently recover the cleanliness of the vapor phase growth apparatus 1 after the maintenance work, the present inventors have made extensive studies focusing on the vapor phase etching after the maintenance work. Among them, the present inventors obtained the following knowledge. As shown in FIG. 2, the amount of water in the
そこで、本実施態様では、メンテナンス後の反応炉2内に塩化水素ガスを供給して気相エッチングする前にガス供給管6からサセプタ3の表面にシラン系ガスを供給する。例えば、トリクロルシランをサセプタ3の表面に供給することで、サセプタ3の表面等にポリシリコン層Pを、例えば、30μm堆積させる(第1工程、図3A参照)。次いで、ポリシリコン層Pを堆積させたサセプタ3が配置される反応炉2内をランプ8で、例えば、1130度に加熱する熱処理をする(熱処理する工程)。熱処理によりメンテナンス後の反応炉2内に固相の状態で存在する金属不純物(例えば、モリブデン(Mo))が図3Bに示すように気相状態となる。金属不純物が気相状態になると、金属不純物がポリシリコン層Pに付着等してポリシリコン層Pに捕集される。その後、反応炉2内を気相エッチングするための塩化水素ガスと反応炉2内の塩化水素ガスをパージする水素ガスをガス供給管6から供給する。これにより、サセプタ3からポリシリコン層Pが除去され、水素ガスによりガス排出管7を通じて反応炉2の外部に排出される。また、ポリシリコン層Pに捕集された金属不純物についても気相エッチングで除去されたポリシリコン層Pとともに反応炉2の外部に排出される(除去する工程、図3C)。その後、ガス供給管6からサセプタ3の表面にシラン系ガスを供給してサセプタ3の表面等にポリシリコン層Pを所定の厚さ堆積させる(第2工程)。反応炉2内の清浄度が所定の水準に回復するまで、以上の、第1工程→熱処理する工程→除去する工程→第2工程が複数回繰り返される。そして、清浄度が回復した反応炉2内に基板Wが搬入され、基板Wにエピタキシャル層を成長し、再びエピタキシャルウェーハの製造を繰り返す。
Therefore, in this embodiment, silane-based gas is supplied from the
本実施態様では、メンテナンス作業後の気相エッチングの前に反応炉2内のサセプタ3にポリシリコン層Pを堆積させて反応炉2内を熱処理する。こうすることで、メンテナンス後に存在する金属不純物をポリシリコン層Pに捕集し、気相エッチングにより反応炉2の外に排出できる。よって、メンテナンス作業直後に反応炉2内を気相エッチングするよりも反応炉2内の金属汚染を抑制でき、メンテナンス後における反応炉2内の清浄度を回復させる時間を短縮することができる。
In this embodiment, the polysilicon layer P is deposited on the
本発明の効果を確認するために以下の実験を行った。以下においては、実験例及び比較例を挙げて本発明を具体的に説明するが、これらは本発明を限定するものではない。 In order to confirm the effect of the present invention, the following experiment was conducted. In the following, the present invention will be specifically described with reference to experimental examples and comparative examples, but these do not limit the present invention.
(実施例)
メンテナンス作業が終了した気相成長装置1を用意した。用意した気相成長装置1を使用してガス供給管6から反応炉2内のサセプタ3の表面にトリクロルシランを供給してポリシリコン層Pを30μm堆積した(第1工程)。次いで、ランプ8により反応炉2内を1130度に加熱した(熱処理する工程)後に、ガス供給管6から反応炉2内に塩化水素ガス(HCl)を供給するとともに、パージガス(水素)を供給してポリシリコン層Pを気相エッチングした(除去する工程)。その後、ガス供給管6からサセプタ3の表面にトリクロルシランを供給してサセプタ3の表面等にポリシリコン層Pを堆積させた(第2工程)。そして、第1工程→熱処理する工程→除去する工程→第2工程の一連の工程(以下、「回復工程」とする)を複数回、繰り返すとともに、回復工程に費やした総時間を測定した。その後、反応炉2内の汚染を評価するP型のシリコン単結晶基板Wを反応炉2内に搬入して基板Wにエピタキシャル層を成長し、反応炉2内の金属不純物を評価するエピタキシャルウェーハを作製した。そして、作製されたエピタキシャルウェーハの表面のモリブデン濃度(atоms/cm2)をICP−MS法により測定した。なお、シリコン単結晶基板Wには、直径200mm、結晶方位<100>、抵抗率10Ωcmのものを使用した。
(Example)
A vapor phase growth apparatus 1 for which maintenance work was completed was prepared. Using the prepared vapor phase growth apparatus 1, trichlorosilane was supplied from the
実施例1では回復工程を3回、実施例2では回復工程を5回、実施例3では回復工程を7回にし、各実施例において金属不純物を評価するためのエピタキシャルウェーハを作製した。 In Example 1, the recovery process was performed 3 times, in Example 2, the recovery process was performed 5 times, and in Example 3, the recovery process was performed 7 times. In each Example, an epitaxial wafer for evaluating metal impurities was manufactured.
(比較例)
比較例では、実施例の回復工程の代わりに、次の代替工程を実施した。具体的には、メンテナンス作業が終了した反応炉2内にガス供給管6から塩化水素ガスとともに、パージガス(水素)を供給して気相エッチングをした(エッチング工程)。その後、反応炉2内のサセプタ3の表面にガス供給管6からトリクロルシランを供給してサセプタ3の表面にポリシリコン層Pを堆積させた(堆積工程)。そして、エッチング工程→堆積工程の一連の工程(代替工程)を複数回、繰り返した。比較例では、実施例の回復工程を代替工程に代える以外は実施例と同じようにしてエピタキシャルウェーハを作製し、作製したウェーハの表面のモリブデン濃度を測定した。
(Comparative example)
In the comparative example, the following alternative process was performed instead of the recovery process of the example. Specifically, purge gas (hydrogen) was supplied from the
比較例1では代替工程を3回、比較例2では代替工程を5回、比較例3では代替工程を7回にし、各比較例において金属不純物を評価するためのエピタキシャルウェーハを作製した。 In Comparative Example 1, the alternative process was performed three times, in Comparative Example 2 the alternative process was performed five times, and in Comparative Example 3, the alternative process was performed seven times, and an epitaxial wafer for evaluating metal impurities in each comparative example was manufactured.
図4は、金属不純物を評価するために実施例1〜3及び比較例1〜3で作製したエピタキシャルウェーハのモリブデン濃度の相対値(実施例3のモリブデン濃度を1とした場合の相対値)を示す。反応炉2内の清浄度を回復させる工程(実施例では「回復工程」、比較例では「代替工程」を意味する。)を繰り返した回数が少ない3回の場合は、実施例と比較例のモリブデン濃度に顕著な差が生じなかった。その一方で、反応炉2内の清浄度を回復させる工程を繰り返した回数が増えるにつれて、実施例のモリブデン濃度が比較例よりも大きく減少し、反応炉2内の清浄度が大きく回復した。
FIG. 4 shows the relative value of the molybdenum concentration of the epitaxial wafers produced in Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 for evaluating metal impurities (relative value when the molybdenum concentration of Example 3 is 1). Show. In the case where the number of repetitions of the process of restoring the cleanliness in the reaction furnace 2 (meaning “recovery process” in the examples and “alternative process” in the comparative example) is small three times, There was no significant difference in molybdenum concentration. On the other hand, as the number of repetitions of the process of restoring the cleanliness in the
また、実施例で反応炉2内の清浄度を回復させる工程に要した総時間の相対値(実施例3の総時間を1とした場合の相対値)は、実施例1で0.4、実施例2で約0.7、実施例3で1となった。その一方、比較例で回復させる工程に要した総時間の相対値(実施例3の総時間を1とした場合の相対値)は、比較例1で約0.8、比較例2で約1.4、比較例3で約2となった。実施例1〜3における回復させる工程(回復工程)を1回実施する平均時間を1とすると、比較例1〜3における回復させる工程(代替工程)を1回実施する平均時間は約2となった。回復させる工程を1回実施する実施例と比較例の平均時間の相対値が図5に示される。実施例においては、反応炉2の清浄度を回復させる時間を比較例よりも短縮させることができた。
Further, the relative value of the total time required for the process of restoring the cleanliness in the
図6には実施例1〜3の回復工程及び比較例1〜3の代替工程の1回の工程で使用した水素、トリクロルシラン、塩化水素の平均使用量の相対値(実施例の塩化水素ガスの平均使用量を1とした場合の相対値)が示される。実施例では、相対値が水素ガス:トリクロルシランガス:塩化水素ガス=約32.4:約2.5:1となったのに対し、比較例では、相対値が水素ガス:トリクロルシランガス:塩化水素ガス=約53.5:約7.2:約5.6となった。そのため、実施例においては、ガスの使用量を比較例よりも抑制した上で反応炉2内の清浄度を回復させることができた。
FIG. 6 shows relative values of the average amounts of hydrogen, trichlorosilane, and hydrogen chloride used in one process of the recovery process of Examples 1 to 3 and the alternative process of Comparative Examples 1 to 3 (hydrogen chloride gas of the example). Relative value when the average usage amount is 1). In the examples, the relative value was hydrogen gas: trichlorosilane gas: hydrogen chloride gas = about 32.4: about 2.5: 1, whereas in the comparative example, the relative value was hydrogen gas: trichlorosilane gas: hydrogen chloride. Gas = about 53.5: about 7.2: about 5.6. Therefore, in the examples, the cleanliness in the
以上のように反応炉2内の清浄度を回復させる工程を繰り返した回数が増えるにつれて、実施例では比較例よりも反応炉2内の清浄度が大きく回復した。そして、実施例では比較例よりも反応炉2内の清浄度を回復させる工程に要した総時間が短縮するため、シリコンエピタキシャルウェーハの生産性を高めることができる。更に、実施例では、反応炉2内の清浄度を回復させるのに使用する各種のガスの使用量が比較例より低減するため、比較例より低コストでエピタキシャルウェーハを製造することができる。
As described above, as the number of times of repeating the process of restoring the cleanliness in the
以上、本発明の実施例を説明したが、本発明はその具体的な記載に限定されることなく、例示した構成等を技術的に矛盾のない範囲で適宜組み合わせて実施することも可能であるし、またある要素、処理を周知の形態に置き換えて実施することもできる。 The embodiments of the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the specific description, and the illustrated configurations and the like can be appropriately combined within a technically consistent range. In addition, certain elements and processes may be replaced with known forms.
1 気相成長装置 2 反応炉
2a ベースリング(ステンレス部材)3 サセプタ
4 支持部 6 ガス供給管
7 ガス排出管 8 ランプ
W シリコン単結晶基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (5)
前記第1工程後に、前記反応炉内を熱処理する工程と、
前記熱処理する工程後に、気相エッチングにより前記ポリシリコン層を前記サセプタから除去する工程と、
を備えることを特徴とするエピタキシャルウェーハの製造方法。 A first step of depositing a polysilicon layer on a susceptor disposed in a reactor having a stainless steel member;
A step of heat-treating the inside of the reactor after the first step;
Removing the polysilicon layer from the susceptor by vapor phase etching after the heat treatment step;
A method for producing an epitaxial wafer, comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015256691A JP6475609B2 (en) | 2015-12-28 | 2015-12-28 | Epitaxial wafer manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015256691A JP6475609B2 (en) | 2015-12-28 | 2015-12-28 | Epitaxial wafer manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017120830A true JP2017120830A (en) | 2017-07-06 |
JP6475609B2 JP6475609B2 (en) | 2019-02-27 |
Family
ID=59272142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015256691A Active JP6475609B2 (en) | 2015-12-28 | 2015-12-28 | Epitaxial wafer manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6475609B2 (en) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10125603A (en) * | 1996-10-18 | 1998-05-15 | Hitachi Ltd | Working of semiconductor wafer |
JPH1116845A (en) * | 1997-06-11 | 1999-01-22 | Applied Materials Inc | Reduction of ion migration and metal contamination in hdp-cvd chamber using chamber seasoning film deposition |
JP2001203164A (en) * | 1999-10-21 | 2001-07-27 | Applied Materials Inc | Method for in-situ cleaning of surfaces in a substrate processing chamber |
JP2002252179A (en) * | 2001-02-22 | 2002-09-06 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Method of cleaning tube for heat treatment of semiconductor substrate, and metallic contamination getter substrate, and regenerative metal contamination getter substrate |
JP2008078179A (en) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Method of cleaning member |
JP2011233583A (en) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Vapor-phase growth device and method of manufacturing silicon epitaxial wafer |
JP2012227385A (en) * | 2011-04-20 | 2012-11-15 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Method of cleaning reaction vessel of epitaxial growth device and method of manufacturing epitaxial wafer |
-
2015
- 2015-12-28 JP JP2015256691A patent/JP6475609B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10125603A (en) * | 1996-10-18 | 1998-05-15 | Hitachi Ltd | Working of semiconductor wafer |
JPH1116845A (en) * | 1997-06-11 | 1999-01-22 | Applied Materials Inc | Reduction of ion migration and metal contamination in hdp-cvd chamber using chamber seasoning film deposition |
JP2001203164A (en) * | 1999-10-21 | 2001-07-27 | Applied Materials Inc | Method for in-situ cleaning of surfaces in a substrate processing chamber |
JP2002252179A (en) * | 2001-02-22 | 2002-09-06 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Method of cleaning tube for heat treatment of semiconductor substrate, and metallic contamination getter substrate, and regenerative metal contamination getter substrate |
JP2008078179A (en) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Method of cleaning member |
JP2011233583A (en) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Vapor-phase growth device and method of manufacturing silicon epitaxial wafer |
JP2012227385A (en) * | 2011-04-20 | 2012-11-15 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Method of cleaning reaction vessel of epitaxial growth device and method of manufacturing epitaxial wafer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6475609B2 (en) | 2019-02-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10176987B2 (en) | SiC epitaxial wafer and method for manufacturing the same | |
US9768047B2 (en) | SiC epitaxial wafer and method for producing same, and device for producing SiC epitaxial wafer | |
JP5884705B2 (en) | Method for measuring contamination amount of vapor phase growth apparatus and method for manufacturing epitaxial wafer | |
JP5839343B2 (en) | Contamination detection method for vapor phase growth apparatus and epitaxial wafer manufacturing method | |
JP2011233583A (en) | Vapor-phase growth device and method of manufacturing silicon epitaxial wafer | |
JP5880974B2 (en) | Method for detecting contamination of epitaxial growth apparatus and method for manufacturing epitaxial wafer | |
JP5609755B2 (en) | Epitaxial wafer manufacturing method | |
JP6475609B2 (en) | Epitaxial wafer manufacturing method | |
US20160020086A1 (en) | Doping control methods and related systems | |
TWI713946B (en) | Contamination management method of vapor-phase-growth equipment | |
JP5459257B2 (en) | Manufacturing method of silicon epitaxial wafer | |
JP6327094B2 (en) | Contamination management method for vapor phase growth apparatus and epitaxial silicon wafer manufacturing method | |
JP2010135388A (en) | Vapor phase growth system, method for producing silicon epitaxial wafer, and silicon epitaxial wafer | |
JP6090183B2 (en) | Method for cleaning or checking vapor phase growth apparatus and method for manufacturing epitaxial wafer | |
JP6489198B1 (en) | Method for evaluating contamination of epitaxial wafer and method for manufacturing epitaxial wafer using the method | |
JP5936007B2 (en) | Contamination evaluation method for vapor phase epitaxial growth apparatus and epitaxial wafer manufacturing method | |
JP2013131617A (en) | Manufacturing method of silicon epitaxial wafer | |
JP5077145B2 (en) | Method for evaluating silicon single crystal substrate and method for producing epitaxial substrate | |
JP2013187366A (en) | Nitride semiconductor manufacturing method | |
JP2015035460A (en) | Method of manufacturing epitaxial wafer | |
JP5370209B2 (en) | Manufacturing method of silicon epitaxial wafer | |
JP2015204325A (en) | Epitaxial wafer manufacturing method | |
JP2008105914A (en) | Method for manufacturing epitaxial silicon wafer and epitaxial silicon wafer | |
JP6565658B2 (en) | Epitaxial wafer manufacturing method and epitaxial growth apparatus | |
CN115747756A (en) | Restarting method of epitaxial growth equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181029 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181030 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181217 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181205 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190121 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6475609 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |