JP2017032754A - Imaging device, control method for same, and program - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a focusing control technique capable of shortening time required until focusing is achieved while ensuring focusing accuracy in a low illuminance environment.SOLUTION: An imaging device does not perform a focusing operation in response to a first operation when a brightness of a subject is equal to or lower than a predetermined brightness value and, on the basis of phase difference information acquired from image data at a time of preliminary light emission of a lighting apparatus after a second operation is performed, drives a focus lens to a focusing position to perform a focusing operation.SELECTED DRAWING: Figure 13

Description

本発明は、例えばデジタルカメラ等の撮像装置における合焦制御技術に関する。   The present invention relates to a focus control technique in an imaging apparatus such as a digital camera.

デジタルカメラ等の撮像装置のAF(オートフォーカス)方式の代表例として、位相差AF方式と、コントラストAF方式がある。コントラストAF方式は、フォーカスレンズを光軸方向移動させながら、撮像素子の出力画像から抽出したコントラスト成分を検出し、最もコントラストが高いフォーカスレンズの位置を合焦位置とする方式である。   As a typical example of an AF (autofocus) system for an imaging apparatus such as a digital camera, there are a phase difference AF system and a contrast AF system. The contrast AF method is a method in which a contrast component extracted from an output image of the image sensor is detected while moving the focus lens in the optical axis direction, and the position of the focus lens having the highest contrast is set as the focus position.

一方、位相差AF方式は、被写体像をAF用レンズで2つに分けて結像し、その間隔をセンサで計測する方式である。位相差AFは、コントラストAFのように、レンズを駆動する必要がないため、合焦までに要する時間がコントラストAFに比べて短くてすむ。   On the other hand, the phase difference AF method is a method in which an object image is divided into two by an AF lens and the interval is measured by a sensor. Unlike the contrast AF, the phase difference AF does not require driving the lens, and therefore, the time required for focusing can be shorter than the contrast AF.

ところで、位相差AFは、専用の位相差AF用センサを用いることなく、撮影用の撮像素子に埋め込んだ位相差AF用の画素を用いて高速な合焦動作が可能となってきているが、すべての条件で位相差AFの合焦性能を十分に確保できるわけではない。特に、低照度時、撮像素子から得られる画像データの信頼性が低下し、位相差AFの合焦性能を確保することが困難な場合がある。   By the way, the phase difference AF is capable of high-speed focusing operation using the phase difference AF pixels embedded in the imaging element without using a dedicated phase difference AF sensor. The focusing performance of the phase difference AF cannot be sufficiently ensured under all conditions. In particular, when the illuminance is low, the reliability of the image data obtained from the image sensor is reduced, and it may be difficult to ensure the focusing performance of the phase difference AF.

そこで、ストロボ撮影時の予備発光時に位相差AF用の評価値を取得して、低照度時の合焦性能を確保する技術が提案されている(特許文献1)。この提案では、レリーズスイッチSW1のオン操作で合焦動作を行い、レリーズスイッチSW2のオン操作で撮影を行直前の予備発光で位相差AFを行う。   Therefore, a technique has been proposed in which an evaluation value for phase difference AF is acquired at the time of preliminary light emission at the time of flash photography to ensure focusing performance at low illuminance (Patent Document 1). In this proposal, the focusing operation is performed by turning on the release switch SW1, and the phase difference AF is performed by preliminary light emission just before the line is taken by turning on the release switch SW2.

特開2012-073334号公報JP 2012-073334 A

しかし、上記特許文献1では、レリーズスイッチSW1のオン操作時の合焦動作の最適化については言及されていないため、低照度時に無駄な合焦動作を行ってしまい、合焦までに要する時間が長くなる。   However, since the above-mentioned Patent Document 1 does not mention optimization of the focusing operation when the release switch SW1 is turned on, a wasteful focusing operation is performed at low illuminance, and the time required for focusing is reduced. become longer.

そこで、本発明は、低照度環境下での合焦精度を確保しつつ、合焦までに要する時間の短縮化を可能にする合焦制御技術を提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a focusing control technique that can shorten the time required for focusing while ensuring focusing accuracy in a low illumination environment.

上記目的を達成するために、本発明の撮像装置は、第1の操作がなされたことに応じて撮影準備動作を行い、前記第1の操作がなされた後に第2の操作がなされたことに応じて撮影動作を行う撮像装置であって、位相差情報、又はコントラスト情報に基づいて合焦動作を行う合焦制御手段と、被写体の輝度情報に基づいて、撮影時に照明装置を発光させるか否かを判定する発光判定手段と、前記発光判定手段により照明装置を発光させると判定された場合に、被写体が所定の輝度値以下か否かを判定する輝度値判定手段と、を備え、前記合焦制御手段は、前記輝度値判定手段により被写体が所定の輝度値以下と判定された場合に、前記第1の操作がなされたことに応じて前記合焦動作を行わず、前記第2の操作がなされた後における照明装置による予備発光時の画像データから取得した位相差情報に基づいて前記合焦動作を行うことを特徴とする。   In order to achieve the above object, the imaging apparatus of the present invention performs a shooting preparation operation in response to the first operation, and the second operation is performed after the first operation is performed. An imaging device that performs a shooting operation in response to the focus control unit that performs a focusing operation based on phase difference information or contrast information, and whether or not the illumination device emits light during shooting based on luminance information of the subject And a luminance value determining means for determining whether or not the subject has a predetermined luminance value or less when it is determined by the light emission determining means that the lighting device emits light. The focus control unit does not perform the focusing operation in response to the first operation when the luminance value determination unit determines that the subject is less than or equal to a predetermined luminance value, and does not perform the focusing operation. Lighting device after And performing the focusing operation based on the phase difference information obtained from the image data at the time of the preliminary light emission with.

本発明によれば、低照度環境下での合焦精度を確保しつつ、合焦までに要する時間を短縮することができる。   According to the present invention, it is possible to reduce the time required for focusing while ensuring focusing accuracy in a low-illuminance environment.

(a)は本発明の撮像装置の実施形態の一例であるデジタルカメラを正面側(被写体側)から見た図、(b)は(a)に示すデジタルカメラを背面側から見た図である。(A) is the figure which looked at the digital camera which is an example of the embodiment of the imaging device of the present invention from the front side (subject side), and (b) is the figure which looked at the digital camera shown in (a) from the back side. . 図1に示すデジタルカメラの制御系を説明するブロック図である。It is a block diagram explaining the control system of the digital camera shown in FIG. コントラストAF方式を説明するグラフ図である。It is a graph explaining a contrast AF method. (a)は撮像部の撮像素子に位相差AF用の画素を配置した構成例を示す図、(b)は各画素の内部構造を示す図である。(A) is a figure which shows the structural example which has arrange | positioned the pixel for phase difference AF to the image pick-up element of an imaging part, (b) is a figure which shows the internal structure of each pixel. (a)は撮像部の撮像素子に位相差AF用の画素を配置した他の構成例を示す図、(b)は各画素の内部構造を示す図である。(A) is a figure which shows the other structural example which has arrange | positioned the pixel for phase difference AF to the image pick-up element of an imaging part, (b) is a figure which shows the internal structure of each pixel. (a)は位相差AFを適用した場合のシーケンス図、(b)はコントラストAFを適用した場合のシーケンス図である。(A) is a sequence diagram when phase difference AF is applied, and (b) is a sequence diagram when contrast AF is applied. (a)は被写体が十分明るい場合のコントラスト成分の出力変化を示す図、(b)は被写体が低照度環境にある場合のコントラスト成分の出力変化を示す図である。(A) is a figure which shows the output change of a contrast component when a to-be-photographed object is sufficiently bright, (b) is a figure which shows the output change of a contrast component when a to-be-photographed object is in a low illumination intensity environment. (a)は通常使用域の明るさでコントラストAFを適用した場合のシーケンス図、(b)は低照度時にコントラストAFを適用した場合のシーケンス図である。(A) is a sequence diagram when the contrast AF is applied at the brightness in the normal use range, and (b) is a sequence diagram when the contrast AF is applied at low illumination. 低照度時に行われるストロボ撮影時の予備発光の画像データを用いて位相差AFを行うシーケンス図である。It is a sequence diagram which performs phase difference AF using the image data of the preliminary light emission at the time of flash photography performed at low illumination. 図9におけるレリーズスイッチ(SW2)のオン後の具体的処理を説明するタイミングチャート図である。FIG. 10 is a timing chart illustrating specific processing after the release switch (SW2) in FIG. 9 is turned on. デジタルカメラのレリーズスイッチ(SW1)のオン動作から撮影に至るまでの処理を説明するフローチャート図である。It is a flowchart explaining the processing from the ON operation of the release switch (SW1) of the digital camera to shooting. 図11のステップS1101における撮影用AF処理について説明するフローチャート図である。FIG. 12 is a flowchart for describing a shooting AF process in step S1101 of FIG. 図11のステップS1105における調光/位相AF処理について説明するフローチャート図である。FIG. 12 is a flowchart for explaining light control / phase AF processing in step S1105 of FIG. 11.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態の一例を説明する。   Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1(a)は本発明の撮像装置の実施形態の一例であるデジタルカメラを正面側(被写体側)から見た図、図1(b)は図1(a)に示すデジタルカメラを背面側から見た図である。   FIG. 1A is a view of a digital camera as an example of an embodiment of an imaging apparatus according to the present invention as viewed from the front side (subject side), and FIG. 1B is a back side view of the digital camera shown in FIG. It is the figure seen from.

図1に示すように、本実施形態のデジタルカメラ100は、正面側に、レンズ部10、補助光窓204、及び照明装置であるストロボユニット30が設けられ、上面部には、電源ボタン200やレリーズボタン202等が設けられている。なお、照明装置は、デジタルカメラ100に内蔵されたものでなく、デジタルカメラ100の着脱可能なものでもよい。デジタルカメラ100の背面部には、LCD等から構成される表示装置50が設けられ、表示装置50の側部には、各種の操作ボタン等からなる操作部44が設けられている。   As shown in FIG. 1, the digital camera 100 of the present embodiment is provided with a lens unit 10, an auxiliary light window 204, and a strobe unit 30 that is a lighting device on the front side, and a power button 200 or A release button 202 and the like are provided. Note that the lighting device may not be built in the digital camera 100 but may be a detachable one of the digital camera 100. A display device 50 composed of an LCD or the like is provided on the back surface of the digital camera 100, and an operation unit 44 composed of various operation buttons or the like is provided on the side of the display device 50.

図2は、図1に示すデジタルカメラ100の制御系を説明するブロック図である。なお、図2においては、レンズ部10を1つのレンズで図示しているが、実際には、レンズ部10は、フォーカスレンズやズームレンズ、像ブレ補正レンズ等を含む複数のレンズ群により構成されている。   FIG. 2 is a block diagram illustrating a control system of the digital camera 100 shown in FIG. In FIG. 2, the lens unit 10 is illustrated as a single lens. However, in actuality, the lens unit 10 includes a plurality of lens groups including a focus lens, a zoom lens, an image blur correction lens, and the like. ing.

図2において、メカ駆動回路14は、レンズ部10のフォーカスレンズを光軸方向に駆動して合焦動作や画角調節を行う他に、撮影者の手ぶれ等に応じて補正レンズを光軸と交差する方向に駆動して像ぶれ補正を行う。なお、像ぶれ補正は、撮像部20を光軸と交差する方向に駆動することでも同様に実現可能である。   In FIG. 2, the mechanical drive circuit 14 drives the focus lens of the lens unit 10 in the optical axis direction to perform focusing operation and field angle adjustment. In addition, the mechanical drive circuit 14 uses the correction lens as an optical axis according to camera shake of the photographer. Image blur correction is performed by driving in the intersecting direction. Note that image blur correction can be similarly realized by driving the imaging unit 20 in a direction intersecting the optical axis.

光量調節機構12は、レンズ部10を通過した光の光量を調節する。光量調節方法は、口径を変化させる光彩絞り、光透過量を落とすNDフィルタ、全閉により遮光するメカシャッタなど様々な形態があり、用途に応じて使い分ける。   The light amount adjustment mechanism 12 adjusts the amount of light that has passed through the lens unit 10. There are various methods for adjusting the amount of light, such as a diaphragm that changes the aperture, an ND filter that reduces the amount of light transmission, and a mechanical shutter that blocks light when fully closed.

レンズ部10、及び光量調節機構12を通過した光は、撮像部20に結像する。撮像部20は、撮像駆動回路22からの指示により動作し、CCDセンサやCMOSセンサ等で構成される撮像素子への露光、露光量の調節、露光データの読み出し、読み出した画像信号の増幅/減衰、画像信号のA/D変換などを行う。撮像部20から出力された画像データは、画像処理回路40に入力されるか、あるいはRAM46に一時記憶される。   The light that has passed through the lens unit 10 and the light amount adjustment mechanism 12 forms an image on the imaging unit 20. The imaging unit 20 operates in response to an instruction from the imaging drive circuit 22 and exposes an image sensor composed of a CCD sensor, a CMOS sensor, or the like, adjusts an exposure amount, reads exposure data, and amplifies / attenuates the read image signal. A / D conversion of the image signal is performed. The image data output from the imaging unit 20 is input to the image processing circuit 40 or temporarily stored in the RAM 46.

画像処理回路40は、撮像部20から直接、あるいはRAM46を経由して入力された画像データの画像処理や画像解析など様々な処理を行う。例えば、画像処理回路40は、撮像部20から順次出力される画像データを用いて輝度成分や周波数成分を抽出し、これらを評価値として用いることでAEやAF動作を行う。また、画像処理回路40は、撮像部20から得た画像データを現像処理して画質を調節し、色合い、階調、明るさ、などを適切に設定する。   The image processing circuit 40 performs various processes such as image processing and image analysis of image data input directly from the imaging unit 20 or via the RAM 46. For example, the image processing circuit 40 extracts luminance components and frequency components using image data sequentially output from the imaging unit 20, and uses these as evaluation values to perform AE and AF operations. The image processing circuit 40 adjusts the image quality by developing the image data obtained from the imaging unit 20, and appropriately sets the hue, gradation, brightness, and the like.

また、画像処理回路40は、入力された画像の一部の切り出しや、画像の回転、画像の合成など、各種画像処理を行う。さらに、画像処理回路40は、入力された画像内から人物顔を代表とする被写体を検出して、画像内における人物顔の位置、大きさ、傾き、顔の確からしさ情報などを得ることができる。   In addition, the image processing circuit 40 performs various image processing such as clipping a part of the input image, rotating the image, and synthesizing the image. Further, the image processing circuit 40 can detect a subject represented by a human face from the input image, and obtain information on the position, size, inclination, and likelihood of the human face in the image. .

更に、画像処理回路40は、検出した人物顔の特徴情報を抽出し、特定の個人であるかを認証することができる。認証にあたっては、ROM48に記憶されている個人の特徴情報を読み出し、画像処理回路40で特徴情報を比較して一致処理を行い、登録済みの個人と一致するかを確認する。また、画像処理回路40は、人物顔の詳細な解析を行うことができ、例えばその人物の眼を解析して視線方向を検出することができる。   Furthermore, the image processing circuit 40 can extract feature information of the detected human face and authenticate whether the person is a specific individual. In the authentication, the personal feature information stored in the ROM 48 is read out, the feature information is compared by the image processing circuit 40, and matching processing is performed to check whether it matches the registered individual. Further, the image processing circuit 40 can perform a detailed analysis of a person's face, for example, by analyzing the eyes of the person and detecting the line-of-sight direction.

レリーズスイッチ(SW1)45aは、レリーズボタン202の半押し操作(第1の操作)等によりオンしてAFやAE等の撮影準備指示を行うためのスイッチである。レリーズスイッチ(SW2)45bは、レリーズボタン202の全押し操作(第2の操作)等によりオンして、撮影指示を行うためのスイッチである。表示装置50は、画像処理回路40で現像処理された画像を表示したり、文字やアイコンを表示したりする。なお、表示装置50がタッチセンサを搭載している構成であれば、レリーズボタン202の半押し操作及びレリーズボタン202の全押し操作を表示装置50へのタッチ操作で代用してもよい。例えば、表示装置50に接触する操作をレリーズボタン202の半押し操作と同様の操作と扱い、表示装置50への接触を解除する操作をレリーズボタン202の全押し操作と同様の操作と扱ってもよい。   The release switch (SW1) 45a is a switch that is turned on by a half-press operation (first operation) of the release button 202 or the like to give a shooting preparation instruction such as AF or AE. The release switch (SW2) 45b is a switch that is turned on by a full press operation (second operation) or the like of the release button 202 to give a shooting instruction. The display device 50 displays an image developed by the image processing circuit 40 and displays characters and icons. If the display device 50 is configured to include a touch sensor, the half-pressing operation of the release button 202 and the full-pressing operation of the release button 202 may be substituted with a touch operation on the display device 50. For example, an operation for touching the display device 50 is treated as an operation similar to the half-press operation of the release button 202, and an operation for releasing the contact with the display device 50 is treated as an operation similar to the full-press operation of the release button 202. Good.

システム制御回路42は、デジタルカメラ100の全体の制御を司る。システム制御回路42は、ROM48等に格納されたプログラムをRAM46に展開して所定の処理を実行する。外部メモリI/F52は、メモリカード等の外部メモリ90のインタフェイスであり、外部機器I/F54は、外部機器92のインタフェイスである。外部メモリI/F52や外部機器I/F54に外部メモリ90を挿入したり外部機器92を接続したりすることで、画像の授受や互いの機器を動作させるコマンド情報などをやりとりすることができる。発光制御回路32は、ストロボユニット30の発光を制御する。   The system control circuit 42 controls the entire digital camera 100. The system control circuit 42 develops a program stored in the ROM 48 or the like on the RAM 46 and executes predetermined processing. The external memory I / F 52 is an interface of the external memory 90 such as a memory card, and the external device I / F 54 is an interface of the external device 92. By inserting the external memory 90 or connecting the external device 92 to the external memory I / F 52 or the external device I / F 54, it is possible to exchange images or exchange command information for operating the devices. The light emission control circuit 32 controls light emission of the strobe unit 30.

図3は、コントラストAF方式を説明するグラフ図である。図3において、横軸は、至近側から無限側へフォーカスレンズを移動させるときの光軸方向の位置を示し、縦軸は、撮像部20から出力された画像データから抽出したコントラスト線分のレベルを示している。コントラストAF方式は、コントラスト情報に基づいて合焦動作を行う。図3を参照して、コントラストAF方式では、フォーカスレンズを光軸方向に移動させてコントラスト成分を監視しながら、コントラストが最も高い位置Pを合焦位置として検出する。   FIG. 3 is a graph for explaining the contrast AF method. In FIG. 3, the horizontal axis indicates the position in the optical axis direction when the focus lens is moved from the closest side to the infinity side, and the vertical axis indicates the level of the contrast line segment extracted from the image data output from the imaging unit 20. Is shown. The contrast AF method performs a focusing operation based on contrast information. With reference to FIG. 3, in the contrast AF method, the focus lens is moved in the optical axis direction to monitor the contrast component, and the position P having the highest contrast is detected as the in-focus position.

図4(a)は撮像部20の撮像素子に位相差AF用の画素を配置した構成例を示す図、図4(b)は各画素の内部構造を示す図である。位相差AF方式は、位相差情報(合焦制御情報)を用いて合焦動作を行う。図4(a)に示すように、撮像素子には、通常の撮影用の画素411と位相差AF用の画素421の2種類の画素が配置されている。図4(b)に示すように、撮影用の画素411は、マイクロレンズ403と、一つのフォトダイオード413を有するのに対し、位相差AF用の画素421は、2つの領域に分かれたフォトダイオード423,425を有する。   4A is a diagram illustrating a configuration example in which pixels for phase difference AF are arranged on the image sensor of the imaging unit 20, and FIG. 4B is a diagram illustrating an internal structure of each pixel. In the phase difference AF method, a focusing operation is performed using phase difference information (focusing control information). As shown in FIG. 4A, two types of pixels, a normal photographing pixel 411 and a phase difference AF pixel 421, are arranged in the imaging element. As shown in FIG. 4B, the imaging pixel 411 includes a microlens 403 and one photodiode 413, whereas the phase difference AF pixel 421 includes a photodiode divided into two regions. 423,425.

この2つのフォトダイオード423,425は、それぞれ入射の異なる光を受光する構成となっており、一対のデータとして扱うことで位相差AFを実現する。図4(b)では、フォトダイオード423,425は、完全に分離されているものとして表現しているが、この2つのフォトダイオード423,425の信号を合わせて読みだすことで、通常の画素411と同等の質の画素データを得ることも可能である。   The two photodiodes 423 and 425 are configured to receive light of different incidences, and realize phase difference AF by treating them as a pair of data. In FIG. 4B, the photodiodes 423 and 425 are expressed as completely separated. However, by reading the signals of the two photodiodes 423 and 425 together, a normal pixel 411 is obtained. It is also possible to obtain pixel data of the same quality as

図5(a)は撮像部20の撮像素子に位相差AF用の画素を配置した他の構成例を示す図、図5(b)は各画素の内部構造を示す図である。図5(a)に示すように、撮像素子には、通常の撮影用の画素411と位相差AF用の画素521,531の3種類の画素が配置されている。図5(b)に示すように、位相差AF用の画素521は、マイクロレンズ503と、一つのフォトダイオード523を有し、位相差AF用の画素531は、マイクロレンズ503と、フォトダイオード523と入射の異なる一つのフォトダイオード533を有する。   FIG. 5A is a diagram illustrating another configuration example in which pixels for phase difference AF are arranged on the image sensor of the imaging unit 20, and FIG. 5B is a diagram illustrating an internal structure of each pixel. As shown in FIG. 5A, the image sensor is provided with three types of pixels, a normal photographing pixel 411 and phase difference AF pixels 521 and 531. As shown in FIG. 5B, the pixel 521 for phase difference AF has a microlens 503 and one photodiode 523, and the pixel 531 for phase difference AF has a microlens 503 and a photodiode 523. And one photodiode 533 having different incidence.

前述した図4(b)の位相差AF用の画素421では、1画素の面積に2つの異なる入射光を受光できるフォトダイオード423,425を配置する例であったが、図5(b)では、2つ画素の面積を使用して同様の位相差AF用のデータを得る構成である。このような構成の場合、位相差AF用の画素521,531は、可視画像用の画素としての質が十分ではないため、周辺の画素データから補間するなどする必要がある。   In the above-described pixel 421 for phase difference AF in FIG. 4B, photodiodes 423 and 425 capable of receiving two different incident lights are arranged in the area of one pixel, but in FIG. This is a configuration for obtaining the same phase difference AF data using the area of two pixels. In the case of such a configuration, the phase difference AF pixels 521 and 531 have insufficient quality as visible image pixels, and therefore need to be interpolated from surrounding pixel data.

図6(a)は位相差AFを適用した場合のシーケンス図、図6(b)はコントラストAFを適用した場合のシーケンス図である。レリーズスイッチ(SW1)45aのオン動作により合焦動作を行い、レリーズスイッチ(SW2)45bのオン動作により撮影動作を行う場合、図4に示すように、位相差AFの方がコントラストAFに比して高速に合焦動作を完了することができる。これは、位相差AFがフォーカスレンズの駆動を伴わなくとも測距可能なのに対し、コントラストAFはフォーカスレンズを駆動する必要があることに起因する。   FIG. 6A is a sequence diagram when the phase difference AF is applied, and FIG. 6B is a sequence diagram when the contrast AF is applied. When the focusing operation is performed by turning on the release switch (SW1) 45a and the photographing operation is performed by turning on the release switch (SW2) 45b, the phase difference AF is compared with the contrast AF as shown in FIG. And focusing operation can be completed at high speed. This is because the phase difference AF can be measured without the focus lens being driven, whereas the contrast AF needs to drive the focus lens.

このように、位相差AF方式とコントラストAF方式は、それぞれ特徴が異なる。低照度環境では、両方式ともに信号レベルの低下や増感処理によるS/Nの悪化の影響を受けて性能の低下がみられる。   As described above, the phase difference AF method and the contrast AF method have different characteristics. In a low illuminance environment, both types show a decrease in performance under the influence of signal level decrease and S / N deterioration due to sensitization processing.

図7(a)は被写体が十分明るい場合のコントラスト成分の出力変化を示す図、図7(b)は被写体が低照度環境にある場合のコントラスト成分の出力変化を示す図である。   FIG. 7A is a diagram showing an output change of the contrast component when the subject is sufficiently bright, and FIG. 7B is a diagram showing an output change of the contrast component when the subject is in a low illumination environment.

図7(a)に示すように、被写体が十分明るい状態では、フォーカスレンズの移動に応じて明確なコントラスト成分が得られ、山の形状から合焦位置を判定しやすい。一方、図7(b)に示すように、被写体が低照度環境にある場合、コントラスト成分の出力が十分ではなく、合焦位置の山が判定しにくい形状となっている。   As shown in FIG. 7A, when the subject is sufficiently bright, a clear contrast component is obtained according to the movement of the focus lens, and the in-focus position can be easily determined from the shape of the mountain. On the other hand, as shown in FIG. 7B, when the subject is in a low illuminance environment, the output of the contrast component is not sufficient, and the mountain at the in-focus position is difficult to determine.

このような状況でもコントラストAFで合焦を可能にするためには、信号レベルを上げる必要がある。信号レベルを上げる方法として、信号を増感処理する方法があるが、S/Nの悪化を伴うため、AF用の評価値としては好ましくない状態となる。また、S/Nの悪化は比較的少ない撮像素子の露光時間を長くする方法もあるが、合焦までに要する時間が長くなったり、動いている被写体に弱いなどのデメリットがある。   Even in such a situation, in order to enable focusing with contrast AF, it is necessary to increase the signal level. As a method for increasing the signal level, there is a method of sensitizing the signal, but since the S / N is deteriorated, the evaluation value for AF is not preferable. In addition, there is a method in which the exposure time of the image sensor is relatively small in which the S / N deterioration is relatively small, but there are disadvantages such as an increase in the time required for focusing and a weakness on moving subjects.

図8(a)は通常使用域の明るさでコントラストAFを適用した場合のシーケンス図、図8(b)は低照度時にコントラストAFを適用した場合のシーケンス図である。   FIG. 8A is a sequence diagram when contrast AF is applied with brightness in a normal use range, and FIG. 8B is a sequence diagram when contrast AF is applied at low illumination.

図8(a)及び図8(b)に示すように、通常使用域の明るさでのコントラストAFと低照度時でのコントラストAFでは、レリーズスイッチ(SW1)45aがオンしてから合焦までに要する時間が大きく異なっている。図8(b)に示す低照度時でのコントラストAFでは、低照度環境に対応するために、露光時間を延ばした結果、合焦までに要する時間が通常使用域の明るさに比べて長くなっている。   As shown in FIGS. 8A and 8B, in the contrast AF at the brightness in the normal use range and the contrast AF at the low illuminance, the release switch (SW1) 45a is turned on until the in-focus state. The time it takes to vary greatly. In contrast AF at low illuminance shown in FIG. 8B, as a result of extending the exposure time to cope with the low illuminance environment, the time required for focusing becomes longer than the brightness in the normal use area. ing.

ここで、図8では、レリーズスイッチ(SW2)45bのオン後の本撮影前に少ない発光量で被写体に発光する予備発光を行い、その反射光をカメラ側で測定して本撮影時のストロボユニット30による発光量を算出する。   Here, in FIG. 8, a pre-flash that emits light to the subject with a small amount of light before the main shooting after the release switch (SW2) 45 b is turned on, and the reflected light is measured on the camera side, and the strobe unit at the time of the main shooting. The amount of light emitted by 30 is calculated.

図9は、低照度時に行われるストロボ撮影時の予備発光の画像データを用いて位相差AFを行うシーケンス図である。図9では、レリーズスイッチ(SW2)45bのオン後、予備発光で照射された被写体の露光データを位相差AF用に読み出して利用する。このとき、低照度時に予備発光を用いたAF動作が可能となるため、レリーズスイッチ(SW1)45aがオンした際のAF処理をキャンセルすることができる。   FIG. 9 is a sequence diagram for performing phase difference AF using image data of preliminary light emission at the time of flash photography performed at low illuminance. In FIG. 9, after the release switch (SW2) 45b is turned on, exposure data of a subject irradiated with preliminary light emission is read and used for phase difference AF. At this time, since the AF operation using the preliminary light emission is possible at the time of low illuminance, the AF process when the release switch (SW1) 45a is turned on can be canceled.

低照度環境下でのAF、特にコントラストAFは所要時間がかかる傾向がある。このため、あらかじめ予備発光を利用した位相差AFを行えることが分かっていれば、レリーズスイッチ(SW1)45aのオン後の撮影準備動作に要する時間を大幅に短縮することが可能となる。   AF under a low illumination environment, particularly contrast AF, tends to take a long time. For this reason, if it is known in advance that phase difference AF using preliminary light emission can be performed, the time required for the shooting preparation operation after the release switch (SW1) 45a is turned on can be greatly reduced.

図10は、図9におけるレリーズスイッチ(SW2)のオン後の具体的処理を説明するタイミングチャート図である。ストロボ撮影する場合、静止画撮影用の本発光の発光量を決定するために、調光動作を行う。調光動作は、予備発光していない状態での被写体の明るさと予備発光した場合の被写体の明るさを比較することで、予備発光が被写体に届いているか、被写体の反射率がどのくらいかを把握することができる。   FIG. 10 is a timing chart for explaining specific processing after the release switch (SW2) in FIG. 9 is turned on. In the case of flash photography, a light control operation is performed in order to determine the amount of main light emission for still image photography. The dimming operation compares the brightness of the subject when it is not pre-flash and the brightness of the subject when pre-flash is used to determine whether the pre-flash is reaching the subject or how much the subject is reflected. can do.

予備発光していない状態での被写体の明るさを計測するために、露光Exp1、データ読み出しRead1、測光評価値取得Eva1を行う。また、予備発光した場合の被写体の明るさを計測するために、露光Exp2、データ読み出しRead2、測光評価値取得出Eva2を行う。   In order to measure the brightness of the subject in a state where the preliminary light emission is not performed, exposure Exp1, data reading Read1, and photometric evaluation value acquisition Eva1 are performed. Further, in order to measure the brightness of the subject in the case of preliminary light emission, exposure Exp2, data reading Read2, and photometric evaluation value acquisition output Eva2 are performed.

Eva1及びEva2で取得した2つの測光評価値は、調光演算に用いられ、これにより、静止画撮影用のストロボユニット30による本発光の発光量が算出される。また、これと同時に、予備発光時の露光Exp2のデータから位相差AF用の評価値Evaを得る。被写体が明るく照らされた露光データを用いて位相差AF用の評価値を得ることで測距が可能となり、合焦位置へフォーカスレンズを駆動することが可能となる。   The two photometric evaluation values acquired by Eva1 and Eva2 are used for the light control calculation, and thereby the light emission amount of the main light emission by the strobe unit 30 for still image shooting is calculated. At the same time, an evaluation value Eva for phase difference AF is obtained from exposure Exp2 data during preliminary light emission. By obtaining an evaluation value for phase difference AF using exposure data in which the subject is brightly illuminated, distance measurement is possible, and the focus lens can be driven to the in-focus position.

次に、図11乃至図13を参照して、デジタルカメラ100の合焦制御について説明する。図11は、デジタルカメラ100のレリーズスイッチ(SW1)45aのオン動作から撮影に至るまでの処理を説明するフローチャート図である。図11の各処理は、ROM48等の記憶部に記憶されたプログラムがRAM46に展開されて、システム制御回路42のCPU等により実行される。   Next, focusing control of the digital camera 100 will be described with reference to FIGS. 11 to 13. FIG. 11 is a flowchart for explaining processing from the ON operation of the release switch (SW1) 45a of the digital camera 100 to shooting. Each process shown in FIG. 11 is executed by the CPU of the system control circuit 42 by developing a program stored in the storage unit such as the ROM 48 in the RAM 46.

図11において、ステップS1100では、システム制御回路42は、レリーズボタン202が半押し操作等されてレリーズスイッチ(SW1)45aがオンしたかを判定し、オンした場合は、ステップS1101に進む。ステップS1101では、システム制御回路42は、静止画用の合焦動作として撮影用AF処理を行い、ステップS1102に進む。なお、ここでの撮影用AF処理については、図12を用いて後述する。   In FIG. 11, in step S1100, the system control circuit 42 determines whether or not the release button 202 is half-pressed and the release switch (SW1) 45a is turned on. If it is turned on, the system control circuit 42 proceeds to step S1101. In step S1101, the system control circuit 42 performs a shooting AF process as a still image focusing operation, and the process advances to step S1102. Note that the shooting AF processing here will be described later with reference to FIG.

ステップS1103では、システム制御回路42は、撮影用のAE処理を行い、ステップS1104に進む。ここでの撮影用のAE処理は、被写体の明るさに応じて、絞り、シャッタ、ISO感度といった露出条件を確定する。   In step S1103, the system control circuit 42 performs AE processing for photographing, and the process proceeds to step S1104. The AE process for photographing here determines exposure conditions such as an aperture, a shutter, and ISO sensitivity according to the brightness of the subject.

ステップS1104では、システム制御回路42は、レリーズボタン202が全押し操作等されてレリーズスイッチ(SW2)45bがオンしたかを判定する。そして、システム制御回路42は、レリーズスイッチ(SW2)45bがオンした場合は、ステップS1104に進み、レリーズボタン202の押し操作が解除されてレリーズスイッチ(SW1)45aがオフされた場合は、ステップS1100に戻る。   In step S1104, the system control circuit 42 determines whether the release button 202 is fully pressed and the release switch (SW2) 45b is turned on. When the release switch (SW2) 45b is turned on, the system control circuit 42 proceeds to step S1104. When the release button 202 is released and the release switch (SW1) 45a is turned off, the system control circuit 42 proceeds to step S1100. Return to.

ステップS1104では、システム制御回路42は、ステップS1101の後述する撮影用AF処理でストロボ発光を行うと判定された場合は、ステップS1105に進み、ストロボ発光を行わないと判定された場合は、ステップS1106に進む。   In step S1104, the system control circuit 42 proceeds to step S1105 if it is determined to perform strobe light emission in the AF processing for photographing described later in step S1101, and proceeds to step S1105 if it is determined not to perform strobe light emission. Proceed to

ステップS1105では、システム制御回路42は、調光/位相差AF処理を行い、ステップS1106に進む。なお、ここでの調光/位相差AF処理については、図13を用いて後述する。ステップS1106では、システム制御回路42は、撮影動作を行い、ステップS103に戻る。   In step S1105, the system control circuit 42 performs dimming / phase difference AF processing and proceeds to step S1106. The dimming / phase difference AF process here will be described later with reference to FIG. In step S1106, the system control circuit 42 performs a shooting operation and returns to step S103.

次に、図12を参照して、図11のステップS1101における撮影用AF処理について説明する。   Next, with reference to FIG. 12, the AF process for photographing in step S1101 in FIG. 11 will be described.

図12において、ステップS1200では、システム制御回路42は、被写体の輝度情報を取得し、ステップS1201に進む。ステップS1201では、システム制御回路42は、ステップS1200で取得した被写体の輝度情報に基づいて位相差AFが可能か否かを判定し、可能であれば、ステップS1202に進み、可能でなければ、ステップS1203に進む。   In FIG. 12, in step S1200, the system control circuit 42 acquires the luminance information of the subject, and proceeds to step S1201. In step S1201, the system control circuit 42 determines whether or not phase difference AF is possible based on the luminance information of the subject acquired in step S1200. If possible, the system control circuit 42 proceeds to step S1202; The process proceeds to S1203.

ステップS1202では、システム制御回路42は、AF方式として、レリーズスイッチ(SW1)45aがオンしたときに位相差SFを行う「SW1位相差AF」を設定し、ステップS1207に進む。ステップS1203では、システム制御回路42は、AF方式として、レリーズスイッチ(SW1)45aがオンしたときにコントラストSFを行う「SW1コントラストAF」を仮設定し、ステップS1204に進む。ここでは、低照度時は、位相差AFよりコントラストAF方式の方が性能的に優位であることを前提としている。   In step S1202, the system control circuit 42 sets “SW1 phase difference AF” for performing the phase difference SF when the release switch (SW1) 45a is turned on as the AF method, and the process proceeds to step S1207. In step S1203, the system control circuit 42 temporarily sets “SW1 contrast AF” for performing contrast SF when the release switch (SW1) 45a is turned on as the AF method, and the process proceeds to step S1204. Here, it is assumed that the contrast AF method is superior to the phase difference AF in terms of performance at low illuminance.

ステップS1204では、システム制御回路42は、ステップS1200で取得した被写体の輝度情報に基づいて、ストロボ発光を行うか否かの発光判定を行う。そして、システム制御回路42は、ストロボ発光を行う場合は、ステップS1205に進み、ストロボ発光を行わない場合、ステップS1203で仮設定した「SW1コントラストAF」を本設定し、ステップS1207に進む。   In step S1204, the system control circuit 42 determines whether or not to perform strobe light emission based on the luminance information of the subject acquired in step S1200. Then, the system control circuit 42 proceeds to step S1205 when performing strobe light emission, and if not performing strobe light emission, sets the “SW1 contrast AF” temporarily set at step S1203 and proceeds to step S1207.

ステップS1205では、システム制御回路42は、被写体の輝度情報から所定の明るさ以下(輝度値以下)であるか否かの輝度値判定を行う。そして、システム制御回路42は、所定の明るさ以下でなければ、ステップS1203で仮設定した「SW1コントラストAF」を本設定し、ステップS1207に進み、所定の明るさ以下であれば、ステップS1208に進む。ここでは、暗中での撮影等、所定の明るさ以下の場合は、コントラストAFで合焦することが困難だと判定する。   In step S <b> 1205, the system control circuit 42 determines a brightness value based on the brightness information of the subject to determine whether the brightness is equal to or less than a predetermined brightness (less than the brightness value). If the brightness is not less than the predetermined brightness, the system control circuit 42 sets the “SW1 contrast AF” temporarily set in step S1203, and proceeds to step S1207. If the brightness is less than the predetermined brightness, the system control circuit 42 proceeds to step S1208. move on. Here, it is determined that it is difficult to focus with contrast AF when the brightness is below a predetermined brightness, such as shooting in the dark.

ステップS1206では、システム制御回路42は、コントラストAF方式により合焦するまでに要する時間があらかじめ設定した所定時間を超えているか否かの時間判定を行う。そして、システム制御回路42は、所定時間を超えている場合は、ステップS1208に進み、所定時間以下であれば、ステップS1203で仮設定した「SW1コントラストAF」を本設定し、ステップS1207に進む。低照度環境でコントラストAFを行うために、シャッタ速度を低下させて所望のレベルの評価値を得る手法があるが、これを行うと許容できる範囲を超えて合焦までに要する時間がかかってしまう懸念がある。   In step S1206, the system control circuit 42 determines whether or not the time required for focusing with the contrast AF method exceeds a predetermined time set in advance. If the predetermined time is exceeded, the system control circuit 42 proceeds to step S1208. If the predetermined time is not exceeded, the system control circuit 42 sets the “SW1 contrast AF” temporarily set in step S1203 and proceeds to step S1207. In order to perform contrast AF in a low illumination environment, there is a method of obtaining a desired level of evaluation value by reducing the shutter speed. However, if this is performed, it takes time to focus beyond the allowable range. There are concerns.

ステップS1207では、システム制御回路42は、レリーズスイッチ(SW1)45aがオンしたときに、それぞれ設定されたAF方式に基づいて合焦動作を行い、合焦位置にフォーカスレンズを駆動して処理を終了する。   In step S1207, when the release switch (SW1) 45a is turned on, the system control circuit 42 performs a focusing operation based on each set AF method, drives the focus lens to the in-focus position, and ends the process. To do.

ステップS1208では、システム制御回路42は、AF方式として、レリーズスイッチ(SW2)45bがオンしたときに位相差AFを行う「SW2位相差AF」を設定し、ステップS1209に進む。ステップS1209では、システム制御回路42は、レリーズスイッチ(SW1)45aがオンしたときに合焦動作を行わず、レリーズスイッチ(SW2)45bがオンしたときに位相差AFを行うため、所定位置にフォーカスレンズを駆動して処理を終了する。   In step S1208, the system control circuit 42 sets “SW2 phase difference AF” for performing phase difference AF when the release switch (SW2) 45b is turned on as the AF method, and proceeds to step S1209. In step S1209, the system control circuit 42 does not perform the focusing operation when the release switch (SW1) 45a is turned on, and performs phase difference AF when the release switch (SW2) 45b is turned on. The lens is driven to finish the process.

次に、図13を参照して、図11のステップS1105における調光/位相AF処理について説明する。   Next, the dimming / phase AF processing in step S1105 of FIG. 11 will be described with reference to FIG.

図13において、ステップS1300では、システム制御回路42は、外光画像を取得し、ステップS1301に進む。ここでの外光画像の取得は、図10の露光Exp1の取得に相当する。ステップS1301では、システム制御回路42は、撮影動作前の予備発光時の画像データ(以下、予備発光画像という。)を取得し、ステップS1302に進む。ここでの予備発光画像の取得は、図10の露光Exp2の取得に相当し、予備発光を伴う。ステップS1302では、システム制御回路42は、予備発光時点の実効F値Av1を取得してRAM46等に記憶する。   In FIG. 13, in step S1300, the system control circuit 42 acquires an external light image, and the process proceeds to step S1301. The acquisition of the external light image here corresponds to the acquisition of the exposure Exp1 in FIG. In step S1301, the system control circuit 42 acquires image data at the time of preliminary light emission before the photographing operation (hereinafter referred to as a preliminary light emission image), and proceeds to step S1302. The acquisition of the preliminary emission image here corresponds to acquisition of the exposure Exp2 in FIG. 10 and involves preliminary emission. In step S1302, the system control circuit 42 acquires the effective F value Av1 at the time of preliminary light emission and stores it in the RAM 46 or the like.

本実施形態では、ステップS1300及びステップS1301でそれぞれ取得した外光画像及び予備発光画像を用いて位相差AF(ステップS1303〜ステップS1305)と調光動作(ステップS1306)とを並行して行う。   In the present embodiment, the phase difference AF (steps S1303 to S1305) and the light control operation (step S1306) are performed in parallel using the external light image and the preliminary light emission image acquired in steps S1300 and S1301, respectively.

まず、位相差AF処理としては、ステップS1303で、システム制御回路42は、予備発光画像から測距演算を行い、ステップS1304進む。低照度環境下であっても、予備発光画像が得られることで、測距演算が可能となる。ステップS1304では、システム制御回路42は、ステップS1303での測距結果に基づいて合焦位置を算出して、合焦位置にフォーカスレンズを駆動し、ステップS1305に進む。   First, as the phase difference AF process, in step S1303, the system control circuit 42 performs a distance measurement calculation from the preliminary emission image, and proceeds to step S1304. Even in a low illumination environment, a preliminary light-emission image can be obtained to perform distance measurement calculation. In step S1304, the system control circuit 42 calculates a focus position based on the distance measurement result in step S1303, drives the focus lens to the focus position, and proceeds to step S1305.

ステップS1305では、システム制御回路42は、フォーカスレンズの駆動後の実効F値Av2を取得してRAM46等に記憶し、ステップS1307に進む。ここでは、フォーカスレンズの駆動により実効F値が変化する場合があり、位相差AFと並行して行っている調光演算結果に影響が発生する可能性があるため、これに対応するためにフォーカスレンズの駆動後の実効F値を取得して記憶する。   In step S1305, the system control circuit 42 acquires the effective F value Av2 after driving the focus lens, stores it in the RAM 46, etc., and proceeds to step S1307. Here, the effective F value may change due to the driving of the focus lens, which may affect the dimming calculation result performed in parallel with the phase difference AF. The effective F value after driving the lens is acquired and stored.

一方、調光動作については、ステップS1306で、システム制御回路42は、外光画像及び予備発光画像に基づいて調光演算し、静止画撮影用のストロボユニット30での発光量を算出し、ステップS1307に進む。   On the other hand, for the dimming operation, in step S1306, the system control circuit 42 performs dimming calculation based on the external light image and the preliminary light emission image, calculates the light emission amount in the strobe unit 30 for still image shooting, The process proceeds to S1307.

ステップS1307では、システム制御回路42は、ステップS1302での予備発光時の実効F値Av1とステップS1305でのフォーカスレンズの駆動後(合焦動作後)の実効F値Av2との差を算出する。そして、システム制御回路42は、算出した実効F値の差により発生する発光量のズレ量に基づきステップS1306で算出した静止画撮影用の発光量を補正し、処理を終了する。   In step S1307, the system control circuit 42 calculates the difference between the effective F value Av1 during preliminary light emission in step S1302 and the effective F value Av2 after driving the focus lens (after focusing operation) in step S1305. Then, the system control circuit 42 corrects the light emission amount for still image shooting calculated in step S1306 based on the amount of deviation of the light emission amount generated by the calculated difference in the effective F value, and ends the process.

以上説明したように、本実施形態では、低照度環境下においては、レリーズスイッチ(SW2)45bのオン後に予備発光を行って静止画撮影用の本発光量を決定する調光動作を行いつつ、予備発光画像から位相差AF用の評価値を取得して位相差AFを行う。これにより、レリーズスイッチ(SW1)45aのオン後の合焦動作で合焦精度が確かではない状況、又は合焦までに要する時間が長くなる状況において、レリーズスイッチ(SW1)45aのオン後の合焦動作をキャンセルする事が可能となる。この結果、低照度環境下での合焦精度を確保しつつ、合焦までに要する時間を短縮することができる。   As described above, in the present embodiment, in a low-light environment, while performing the dimming operation to determine the main light emission amount for still image shooting by performing preliminary light emission after the release switch (SW2) 45b is turned on, An evaluation value for phase difference AF is acquired from the preliminary light emission image, and phase difference AF is performed. As a result, in a situation where the focusing accuracy is not certain in the focusing operation after the release switch (SW1) 45a is turned on, or in a situation where the time required for focusing becomes long, the focusing after the release switch (SW1) 45a is turned on. It becomes possible to cancel the focal movement. As a result, it is possible to reduce the time required for focusing while ensuring focusing accuracy in a low illumination environment.

なお、本発明は、上記実施形態に例示したものに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。   In addition, this invention is not limited to what was illustrated to the said embodiment, In the range which does not deviate from the summary of this invention, it can change suitably.

また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムをネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。   The present invention can also be realized by executing the following processing. That is, the present invention supplies a program that realizes one or more functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or a storage medium, and one or more processors in the computer of the system or apparatus read the program. It can also be realized by processing to be executed. It can also be realized by a circuit (for example, ASIC) that realizes one or more functions.

10 レンズ部
20 撮像部
30 ストロボユニット
40 画像処理回路
42 システム制御回路
45a レリーズスイッチ(SW1)
45b レリーズスイッチ(SW2)
46 RAM
48 ROM
100 デジタルカメラ
202 レリーズボタン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Lens part 20 Imaging part 30 Strobe unit 40 Image processing circuit 42 System control circuit 45a Release switch (SW1)
45b Release switch (SW2)
46 RAM
48 ROM
100 Digital camera 202 Release button

Claims (6)

第1の操作がなされたことに応じて撮影準備動作を行い、前記第1の操作がなされた後に第2の操作がなされたことに応じて撮影動作を行う撮像装置であって、
位相差情報、又はコントラスト情報に基づいて合焦動作を行う合焦制御手段と、
被写体の輝度情報に基づいて、撮影時に照明装置を発光させるか否かを判定する発光判定手段と、
前記発光判定手段により照明装置を発光させると判定された場合に、被写体が所定の輝度値以下か否かを判定する輝度値判定手段と、を備え、
前記合焦制御手段は、前記輝度値判定手段により被写体が所定の輝度値以下と判定された場合に、前記第1の操作がなされたことに応じて前記合焦動作を行わず、前記第2の操作がなされた後における照明装置による予備発光時の画像データから取得した位相差情報に基づいて前記合焦動作を行うことを特徴とする撮像装置。
An imaging device that performs a shooting preparation operation in response to a first operation being performed, and that performs a shooting operation in response to a second operation being performed after the first operation has been performed,
Focusing control means for performing a focusing operation based on phase difference information or contrast information;
A light emission determining means for determining whether or not the lighting device is caused to emit light at the time of shooting based on the luminance information of the subject;
A luminance value determining unit that determines whether or not the subject has a predetermined luminance value or less when it is determined that the lighting device emits light by the light emission determining unit;
The focusing control unit does not perform the focusing operation in response to the first operation when the subject is determined to be equal to or less than a predetermined luminance value by the luminance value determination unit, and the second control unit does not perform the focusing operation. An imaging apparatus, wherein the focusing operation is performed based on phase difference information acquired from image data at the time of preliminary light emission by the illumination device after the above operation is performed.
前記発光判定手段により照明装置を発光させると判定された場合、前記第1の操作がなされた後に前記合焦動作を行ったときに合焦までに要する時間が所定時間を超えるか否かを判定する時間判定手段を備え、
前記合焦制御手段は、前記時間判定手段により前記合焦までに要する時間が前記所定時間を超えると判定された場合に、前記第1の操作がなされたことに応じて前記合焦動作を行わず、前記第2の操作がなされた後における照明装置の予備発光時の画像データから取得した位相差情報に基づいて前記合焦動作を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
When it is determined by the light emission determination means that the lighting device emits light, it is determined whether or not a time required for focusing exceeds a predetermined time when the focusing operation is performed after the first operation is performed. A time determination means for
The focusing control unit performs the focusing operation in response to the first operation being performed when the time determining unit determines that the time required for focusing exceeds the predetermined time. The imaging apparatus according to claim 1, wherein the focusing operation is performed based on phase difference information acquired from image data at the time of preliminary light emission of the illumination device after the second operation is performed.
前記合焦制御手段は、フォーカスレンズを合焦位置に移動させて合焦動作を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。   The imaging apparatus according to claim 1, wherein the focusing control unit performs a focusing operation by moving a focus lens to a focusing position. 前記予備発光時の実効F値と前記合焦動作後の実効F値との差に基づいて、照明装置の発光量を補正する補正手段を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の撮像装置。   The correction means which correct | amends the light emission amount of an illuminating device based on the difference of the effective F value at the time of the said preliminary light emission, and the effective F value after the said focusing operation | movement is provided. The imaging device according to one item. 第1の操作がなされたことに応じて撮影準備動作を行い、前記第1の操作がなされた後に第2の操作がなされたことに応じて撮影動作を行う撮像装置の制御方法であって、
合焦制御情報に基づいて合焦動作を行う合焦制御ステップと、
被写体の輝度情報に基づいて、撮影時に照明装置を発光させるか否かを判定する発光判定ステップと、
前記判定ステップで照明装置を発光させると判定された場合に、被写体が所定の輝度値以下か否かを判定する輝度値判定ステップと、を備え、
前記合焦制御ステップは、前記輝度値判定ステップで被写体が所定の輝度値以下と判定された場合に、前記第1の操作がなされたことに応じて前記合焦動作を行わず、前記第2の操作がなされた後における照明装置による予備発光時の画像データから取得した前記合焦制御情報に基づいて前記合焦動作を行うことを特徴とする撮像装置の制御方法。
A control method of an imaging apparatus that performs a shooting preparation operation in response to a first operation being performed, and performs a shooting operation in response to a second operation being performed after the first operation has been performed,
A focusing control step for performing a focusing operation based on the focusing control information;
A light emission determination step for determining whether or not the illumination device is caused to emit light at the time of shooting based on the luminance information of the subject;
A luminance value determination step for determining whether or not the subject is equal to or lower than a predetermined luminance value when it is determined in the determination step that the lighting device emits light;
The focus control step does not perform the focus operation in response to the first operation when the subject is determined to be equal to or less than a predetermined brightness value in the brightness value determination step, and the second focus control step does not perform the focus operation. A control method for an imaging apparatus, wherein the focusing operation is performed based on the focusing control information acquired from image data at the time of preliminary light emission by the illumination device after the operation is performed.
コンピュータを、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の撮像装置の各手段として機能させるためのプログラム。   The program for functioning a computer as each means of the imaging device as described in any one of Claims 1 thru | or 4.
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