US7353954B1
(en)
*
|
1998-07-08 |
2008-04-08 |
Charles A. Lemaire |
Tray flipper and method for parts inspection
|
US6850278B1
(en)
|
1998-11-27 |
2005-02-01 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Solid-state image pickup apparatus
|
JP2001056382A
(ja)
*
|
1999-06-07 |
2001-02-27 |
Toshiba Corp |
放射線検出器及び放射線診断装置
|
JP2001238132A
(ja)
*
|
2000-02-21 |
2001-08-31 |
Victor Co Of Japan Ltd |
Mos型固体撮像装置及びその撮像方法。
|
JP3558589B2
(ja)
|
2000-06-14 |
2004-08-25 |
Necエレクトロニクス株式会社 |
Mos型イメージセンサ及びその駆動方法
|
US7045753B1
(en)
*
|
2000-08-09 |
2006-05-16 |
Dalsa, Inc. |
Five transistor CMOS pixel
|
JP4366846B2
(ja)
*
|
2000-08-22 |
2009-11-18 |
日本ビクター株式会社 |
固体撮像装置
|
JP3984814B2
(ja)
|
2001-10-29 |
2007-10-03 |
キヤノン株式会社 |
撮像素子、その撮像素子を用いた放射線撮像装置及びそれを用いた放射線撮像システム
|
JP4117540B2
(ja)
*
|
2002-10-17 |
2008-07-16 |
ソニー株式会社 |
固体撮像素子の制御方法
|
JP4392492B2
(ja)
|
2003-06-02 |
2010-01-06 |
国立大学法人静岡大学 |
広ダイナミックレンジイメージセンサ
|
JP4317115B2
(ja)
|
2004-04-12 |
2009-08-19 |
国立大学法人東北大学 |
固体撮像装置、光センサおよび固体撮像装置の動作方法
|
JP4497366B2
(ja)
|
2005-02-04 |
2010-07-07 |
国立大学法人東北大学 |
光センサおよび固体撮像装置
|
EP1770788A3
(en)
|
2005-09-29 |
2011-09-21 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof
|
JP5064747B2
(ja)
|
2005-09-29 |
2012-10-31 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置、電気泳動表示装置、表示モジュール、電子機器、及び半導体装置の作製方法
|
JP5078246B2
(ja)
|
2005-09-29 |
2012-11-21 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置、及び半導体装置の作製方法
|
US7648851B2
(en)
*
|
2006-03-06 |
2010-01-19 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. |
Method of fabricating backside illuminated image sensor
|
JP4908067B2
(ja)
*
|
2006-06-01 |
2012-04-04 |
オリンパス株式会社 |
固体撮像装置及びそれを用いた撮像装置システム
|
JP4870528B2
(ja)
*
|
2006-11-17 |
2012-02-08 |
オリンパス株式会社 |
固体撮像装置
|
US8089522B2
(en)
|
2007-09-07 |
2012-01-03 |
Regents Of The University Of Minnesota |
Spatial-temporal multi-resolution image sensor with adaptive frame rates for tracking movement in a region of interest
|
KR101645680B1
(ko)
|
2009-11-06 |
2016-08-04 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치
|
JP2011130263A
(ja)
*
|
2009-12-18 |
2011-06-30 |
Olympus Corp |
固体撮像装置
|
CN102696109B
(zh)
|
2010-01-15 |
2015-08-19 |
株式会社半导体能源研究所 |
半导体装置及半导体装置的驱动方法
|
KR101924318B1
(ko)
|
2010-02-12 |
2018-12-03 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치 및 그 구동 방법
|
KR101874784B1
(ko)
|
2010-03-08 |
2018-07-06 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치
|
WO2011111521A1
(en)
|
2010-03-12 |
2011-09-15 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Driving method of display device
|
CN105304661B
(zh)
|
2010-03-12 |
2018-08-14 |
株式会社半导体能源研究所 |
半导体装置
|
JP5403369B2
(ja)
*
|
2010-03-31 |
2014-01-29 |
ソニー株式会社 |
固体撮像素子および駆動方法、並びに電子機器
|
US9473714B2
(en)
|
2010-07-01 |
2016-10-18 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Solid-state imaging device and semiconductor display device
|
JP2012044536A
(ja)
*
|
2010-08-20 |
2012-03-01 |
Olympus Corp |
読出し制御装置、読出し制御方法、プログラム、撮像装置および固体撮像装置
|
JP2012256819A
(ja)
|
2010-09-08 |
2012-12-27 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
半導体装置
|
JP2012085013A
(ja)
*
|
2010-10-07 |
2012-04-26 |
Olympus Corp |
固体撮像装置および撮像装置
|
JP5925475B2
(ja)
|
2010-12-09 |
2016-05-25 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
光検出回路
|
JP2012129817A
(ja)
*
|
2010-12-15 |
2012-07-05 |
Canon Inc |
撮像装置及び撮像素子の制御方法
|
JP5774974B2
(ja)
|
2010-12-22 |
2015-09-09 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の駆動方法
|
WO2012112153A1
(en)
|
2011-02-17 |
2012-08-23 |
Analogic Corporation |
Detector array having effective size larger than actual size
|
US8610229B2
(en)
*
|
2011-04-14 |
2013-12-17 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. |
Sidewall for backside illuminated image sensor metal grid and method of manufacturing same
|
JP5821315B2
(ja)
|
2011-06-21 |
2015-11-24 |
ソニー株式会社 |
電子機器、電子機器の駆動方法
|
US8836626B2
(en)
|
2011-07-15 |
2014-09-16 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device and method for driving the same
|
KR101962261B1
(ko)
|
2011-07-15 |
2019-03-26 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치 및 반도체 장치의 구동 방법
|
JP5739763B2
(ja)
|
2011-08-02 |
2015-06-24 |
日本放送協会 |
光導電素子及び撮像デバイス
|
KR101976228B1
(ko)
|
2011-09-22 |
2019-05-07 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
광 검출 장치 및 광 검출 장치의 구동 방법
|
JP5909975B2
(ja)
|
2011-10-06 |
2016-04-27 |
ソニー株式会社 |
撮像装置および電子機器
|
TWI467751B
(zh)
*
|
2011-12-12 |
2015-01-01 |
Sony Corp |
A solid-state imaging device, a driving method of a solid-state imaging device, and an electronic device
|
US9236408B2
(en)
*
|
2012-04-25 |
2016-01-12 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Oxide semiconductor device including photodiode
|
US9916793B2
(en)
|
2012-06-01 |
2018-03-13 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device and method of driving the same
|
TW201403804A
(zh)
*
|
2012-07-05 |
2014-01-16 |
Sony Corp |
固體攝像裝置及其製造方法、以及電子機器
|
US8872120B2
(en)
|
2012-08-23 |
2014-10-28 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and method for driving the same
|
US9293500B2
(en)
*
|
2013-03-01 |
2016-03-22 |
Apple Inc. |
Exposure control for image sensors
|
JP2014236151A
(ja)
|
2013-06-04 |
2014-12-15 |
シャープ株式会社 |
半導体装置およびその製造方法
|
US9202833B2
(en)
*
|
2013-08-23 |
2015-12-01 |
Semiconductor Components Industries, Llc |
Imaging systems with baffle grids
|
WO2015084991A1
(en)
|
2013-12-04 |
2015-06-11 |
Rambus Inc. |
High dynamic-range image sensor
|
JP2015135896A
(ja)
|
2014-01-17 |
2015-07-27 |
株式会社Joled |
半導体装置、表示装置及び半導体装置の製造方法
|
US9674470B2
(en)
*
|
2014-04-11 |
2017-06-06 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, method for driving semiconductor device, and method for driving electronic device
|
TWI700823B
(zh)
*
|
2014-06-27 |
2020-08-01 |
日商半導體能源研究所股份有限公司 |
攝像裝置及電子裝置
|
KR102422059B1
(ko)
|
2014-07-18 |
2022-07-15 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치, 촬상 장치, 및 전자 기기
|
US9485169B2
(en)
*
|
2014-07-23 |
2016-11-01 |
Nexmo Inc. |
Systems and methods for adaptive routing
|
JP6555956B2
(ja)
|
2014-07-31 |
2019-08-07 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
撮像装置、監視装置、及び電子機器
|
WO2016030801A1
(en)
|
2014-08-29 |
2016-03-03 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
KR102393272B1
(ko)
|
2014-09-02 |
2022-05-03 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
촬상 장치 및 전자 기기
|
WO2016046685A1
(en)
|
2014-09-26 |
2016-03-31 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device
|
US9761730B2
(en)
|
2014-10-29 |
2017-09-12 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
JP6587497B2
(ja)
|
2014-10-31 |
2019-10-09 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
|
US9548327B2
(en)
|
2014-11-10 |
2017-01-17 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device having a selenium containing photoelectric conversion layer
|
US9584707B2
(en)
|
2014-11-10 |
2017-02-28 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
US9332200B1
(en)
|
2014-12-05 |
2016-05-03 |
Qualcomm Incorporated |
Pixel readout architecture for full well capacity extension
|
US9774801B2
(en)
|
2014-12-05 |
2017-09-26 |
Qualcomm Incorporated |
Solid state image sensor with enhanced charge capacity and dynamic range
|
TWI792065B
(zh)
|
2015-01-30 |
2023-02-11 |
日商半導體能源研究所股份有限公司 |
成像裝置及電子裝置
|
US9729810B2
(en)
*
|
2015-03-23 |
2017-08-08 |
Tower Semiconductor Ltd. |
Image sensor pixel with memory node having buried channel and diode portions
|
JP6688116B2
(ja)
|
2015-03-24 |
2020-04-28 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
撮像装置および電子機器
|
US9685476B2
(en)
|
2015-04-03 |
2017-06-20 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
US9591245B2
(en)
|
2015-04-14 |
2017-03-07 |
Semiconductor Components Industries, Llc |
Image sensor pixels with adjustable body bias
|
KR20230044327A
(ko)
|
2015-04-22 |
2023-04-03 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
촬상 장치 및 전자 기기
|
US9848146B2
(en)
|
2015-04-23 |
2017-12-19 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
US10306168B2
(en)
|
2015-05-04 |
2019-05-28 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, imaging system, and electronic device
|
JP6681780B2
(ja)
|
2015-05-07 |
2020-04-15 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
表示システムおよび電子機器
|
US11728356B2
(en)
|
2015-05-14 |
2023-08-15 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Photoelectric conversion element and imaging device
|
KR102553553B1
(ko)
|
2015-06-12 |
2023-07-10 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
촬상 장치, 및 그 동작 방법 및 전자 기기
|
US9860465B2
(en)
|
2015-06-23 |
2018-01-02 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
US9754980B2
(en)
|
2015-06-30 |
2017-09-05 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Photoelectric conversion element and imaging device
|
JP6791667B2
(ja)
|
2015-07-16 |
2020-11-25 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
撮像装置
|
US10163948B2
(en)
|
2015-07-23 |
2018-12-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device and electronic device
|
US10090344B2
(en)
|
2015-09-07 |
2018-10-02 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Imaging device, method for operating the same, module, and electronic device
|
KR102544169B1
(ko)
|
2015-09-10 |
2023-06-14 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
촬상 장치, 모듈, 전자 기기, 및 촬상 장치의 동작 방법
|
US10896923B2
(en)
|
2015-09-18 |
2021-01-19 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Method of operating an imaging device with global shutter system
|