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JP2017021045A - Information processing device - Google Patents

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JP2017021045A
JP2017021045A JP2016191263A JP2016191263A JP2017021045A JP 2017021045 A JP2017021045 A JP 2017021045A JP 2016191263 A JP2016191263 A JP 2016191263A JP 2016191263 A JP2016191263 A JP 2016191263A JP 2017021045 A JP2017021045 A JP 2017021045A
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JP
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Application number
JP2016191263A
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Japanese (ja)
Inventor
尚 新田
Takashi Nitta
尚 新田
Original Assignee
ソニー株式会社
Sony Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microparticle measuring device capable of calibrating measurement errors by simple processing.SOLUTION: A microparticle measuring device includes: a detecting part for detecting light from microparticles with a plurality of photodetectors differing in a detectable wavelength region; and a processing part for calibrating intensity values of the light obtained by the detecting part with the detectable wavelength region widths of each photodetector to calculate first calibrated intensity values.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本技術は、細胞等の微小粒子の特性を光学的に測定する微小粒子測定装置に関する。 BACKGROUND The present disclosure relates to micro-particle measuring apparatus for measuring the characteristics of the microparticles such as cells optically.

フローサイトメータは、フローセルを通流する細胞やビーズなどの微小粒子に光を照射し、微小粒子から発せられる蛍光及び散乱光などを検出することによって、各微小粒子の特性を光学的に測定する装置である。 Flow cytometer, the light is irradiated to the fine particles such as cells or beads flowing through the flow cell, by detecting the fluorescent and scattered light emitted from the fine particles, measuring the characteristics of each microparticle optically it is a device.

例えば細胞の蛍光を検出する場合、蛍光色素により標識した細胞にレーザー光などの適当な波長かつ強度を有する励起光を照射する。 For example, when detecting fluorescence of the cell is irradiated with excitation light having a suitable wavelength and intensity such as laser light labeled cells with a fluorescent dye. そして、蛍光色素から発せられる蛍光をレンズなどで集光し、フィルタ又はダイクロイックミラーなどの波長選択素子を用いて適当な波長域の光を選択し、選択された光をPMT(photo multiplier tube)などの受光素子を用いて検出する。 Then, the fluorescence emitted from the fluorescent dye lenses in such condensed, using a wavelength selection element such as a filter or a dichroic mirror to select the light of the appropriate wavelength range, the selected light PMT (photo multiplier tube), etc. It is detected using a light receiving element. このとき、波長選択素子と受光素子とを複数組み合わせることによって、細胞に標識された複数の蛍光色素からの蛍光を同時に検出し、解析することも可能である。 In this case, by combining a plurality of the wavelength selection element and the light receiving element, and detecting fluorescence from a plurality of fluorescent dyes labeled to the cells simultaneously, it is also possible to analyze. 更に、複数波長の励起光を組み合わせることで解析可能な蛍光色素の数を増やすこともできる。 It is also possible to increase the number of analyzable fluorochromes by combining an excitation light of a plurality of wavelengths.

フローサイトメータにおける蛍光検出には、フィルタなどの波長選択素子を用いて不連続な波長域の光を複数選択し、各波長域の光の強度を計測する方法の他に、連続した波長域における光の強度を蛍光スペクトルとして計測する方法もある。 The fluorescence detection in the flow cytometer, the other methods to select multiple light discontinuous wavelength region by using a wavelength selection element such as a filter, to measure the intensity of light of each wavelength region, in a continuous wavelength range there is also a method of measuring the intensity of light as fluorescent spectrum. 蛍光スペクトルの計測が可能なスペクトル型フローサイトメータでは、微小粒子から発せられる蛍光を、プリズム又はグレーティングなどの分光素子を用いて分光する。 The spectral type flow cytometer capable of measuring the fluorescence spectrum, the fluorescence emitted from the fine particles, spectrally using a spectroscopic element such as a prism or a grating. そして、分光された蛍光を、検出波長域幅が異なる複数の受光素子が配列された受光素子アレイを用いて検出する。 Then, the spectral fluorescence detection wavelength band width is detected by the light receiving element array different light receiving elements are arranged. 受光素子アレイには、PMT又はフォトダイオードなどの受光素子を一次元に配列したPMTアレイ又はフォトダイオードアレイ、あるいはCCD又はCMOSなどの2次元受光素子などの独立した検出チャネルが複数並べられたものが用いられている。 A light receiving element array, those independent detection channels, such as two-dimensional light receiving element such as PMT array or a photodiode array are arranged a light receiving element such as PMT or a photodiode in a one-dimensional or a CCD or CMOS, it is arranged a plurality It has been used.

特開2003−83894号公報 JP 2003-83894 JP

フローサイトメータにおける計測値には様々な要因による誤差が含まれている。 It contains errors due to various factors on the measurement values ​​of the flow cytometer. 測定誤差の補正方法としては、例えば、蛍光特性が既知の標準サンプルを用いた方法が汎用されている。 As a method for correcting measurement error, for example, a method of fluorescence properties using known standard samples are commonly used. この方法は、標準サンプルを複数計測して得た基準値をもとに各受光素子について電流などの出力値と蛍光強度との関係(キャリブレーション情報)を取得し、この関係に基づいて計測値をキャリブレーションするものである。 This method obtains the relationship between the output value and the fluorescence intensity, such as current for each light receiving element reference values ​​the standard sample obtained by multiple measurements based on (calibration information), the measurement value based on the relationship the one in which to calibrate.

上記の補正方法では、フローサイトメータによる測定の都度に標準サンプルを計測し、レーザー光の出力や受光素子の設定値(例えばPMTであれば電圧など)に応じたキャリブレーション情報を取得する必要があり、非常に煩雑であった。 In the above correction method, measures the standard sample every time of measurement by the flow cytometer, is necessary to obtain the calibration information corresponding to the set value of the output and the light receiving element of the laser beam (e.g., if the PMT voltage, etc.) There was a very cumbersome.

そこで、本技術は、測定誤差を簡便な処理によって補正可能な微小粒子測定装置を提供することを主な目的とする。 Accordingly, the present technology, the primary purpose of providing a correctable fine particle measuring apparatus the measuring error by a simple process.

上記課題解決のため、本技術は、微小粒子からの蛍光を複数の受光素子で検出する検出部と、 For the above problems solved, the present technique, a detection unit for detecting the fluorescence from the fine particles by a plurality of light receiving elements,
前記複数の受光素子で検出された蛍光強度値に基づいてスペクトルデータを生成する処理部と、 A processing unit for generating spectral data on the basis of the fluorescence intensity value detected by the plurality of light receiving elements,
を少なくとも有する微小粒子測定装置であって、 And at least fine particle measuring apparatus having,
前記複数の受光素子は、少なくとも2以上の異なる検出波長域幅を有し、 Wherein the plurality of light receiving element has at least two or more different detection wavelength ranges width,
前記処理部は、前記複数の受光素子の各々で検出された各蛍光強度値を各受光素子が有する検出波長域幅に基づき補正処理した補正強度値を用いて、前記スペクトルデータを生成する、微小粒子測定装置を提供する。 Wherein the processing unit, the plurality of using the correction intensity values ​​of each fluorescence intensity value detected at each and correction processing based on the detected wavelength band width with the respective light receiving elements of the light receiving element, to generate the spectral data, fine to provide a particle measuring apparatus.
本技術では、前記検出部において、前記蛍光強度値を生成することができる。 In this technique, in the detection unit can generate the fluorescence intensity value.
また、本技術では、前記処理部は、前記複数の受光素子の各々で検出された各蛍光強度値を各受光素子が有する感度データに基づき補正処理した補正強度値を用いて、前記スペクトルデータを生成することもできる。 Further, in this technology, the processing unit uses the correction intensity value correction processing based on sensitivity data with the fluorescence intensity values ​​detected by each of the plurality of light receiving elements each light receiving element, the spectral data generation can also be. 加えて、前記処理部は、前記複数の受光素子の各々で検出された各蛍光強度値を各受光素子が有する相対感度に基づき補正処理した補正強度値を用いて、前記スペクトルデータを生成することもできる。 In addition, the processing unit uses the correction intensity value correction processing based on the relative sensitivity with the fluorescence intensity values ​​detected by each of the plurality of light receiving elements each light receiving element, to generate said spectral data It can also be.
更に、本技術では、前記処理部は、前記複数の受光素子の各々で検出された各蛍光強度値を各受光素子が有する検出波長域幅及び感度データに基づき補正処理した補正強度値を用いて、前記スペクトルデータを生成することができる。 Furthermore, in this technique, the processing unit uses the correction intensity value correction processing based on the respective fluorescent intensity values ​​detected by each of the plurality of light receiving elements to detect the wavelength region width and sensitivity data included in the respective light receiving elements , it is possible to generate the spectral data.
加えて、本技術では、前記処理部は、前記スペクトルデータを基準スペクトルデータと比較し、前記スペクトルデータを評価することができる。 In addition, in this technique, the processing unit, the spectral data compared with reference spectral data, it is possible to evaluate the spectral data. また、前記処理部は、前記スペクトルデータに対して少なくとも一つの蛍光色素から得られた基準スペクトルデータに基づくコンペンセーション処理を行い、前記蛍光色素に基づく情報を特定することもできる。 Further, the processing unit performs at least one compensation processing based on the reference spectral data obtained from a fluorescent dye to the spectral data, it is possible to identify the information based on the fluorescent dye. 更に、前記処理部は、前記スペクトルデータに対して前記微小粒子に含まれる複数の蛍光色素から得られた基準スペクトルデータに基づき最小二乗法を用いたコンペンセーション処理を行い、前記複数の蛍光色素に基づく情報を特定することもできる。 Further, the processing unit performs compensation processing using the least squares method based on the reference spectral data obtained from a plurality of fluorescent dye contained in the fine particles with respect to the spectral data, to the plurality of fluorescent dyes the information based on can be specified. 加えて、前記処理部は、第一の軸を前記複数の受光素子の検出波長、第二の軸を蛍光強度値とし、前記スペクトルデータをプロットしたスペクトルチャートを生成することもできる。 In addition, the processing unit can also detect the wavelength of the first axis said plurality of light receiving elements, the second axis and the fluorescence intensity value, to produce a spectrum chart obtained by plotting the spectral data.
本技術に係る微小粒子測定装置は、前記スペクトルチャートを表示する表示部を更に有することができる。 Fine particle measuring apparatus according to the present disclosure may further comprise a display unit for displaying the spectrum chart.
また、本技術では、微小粒子からの蛍光より複数の受光素子で検出された蛍光強度値に基づいてスペクトルデータを生成する処理部、を少なくとも有する情報処理装置であって、 Also, in this technique, a least with the information processing apparatus processing unit, for generating spectral data on the basis of the fluorescence intensity values ​​detected by the plurality of light receiving elements than the fluorescence from the fine particles,
前記複数の受光素子は、少なくとも2以上の異なる検出波長域幅を有し、 Wherein the plurality of light receiving element has at least two or more different detection wavelength ranges width,
前記処理部は、前記複数の受光素子の各々で検出された蛍光強度値を各受光素子が有する検出波長域幅に基づき補正処理した補正強度値を用いて、前記スペクトルデータを生成する、情報処理装置も提供する。 Wherein the processing unit uses the correction intensity value correction processing based on the fluorescence intensity values ​​detected by each of the plurality of light receiving elements to detect the wavelength region width included in each light receiving element, to generate the spectral data, the information processing device is also provided.
更に、本技術では、微小粒子からの蛍光を複数の受光素子で検出し、前記複数の受光素子で検出された蛍光強度値に基づいてスペクトルデータを生成するデータ解析方法であって、 Furthermore, in this technique, a data analysis method for detecting the fluorescence from the fine particles by a plurality of light receiving elements, and generates the spectral data based on the fluorescence intensity values ​​detected by the plurality of light receiving elements,
前記複数の受光素子は、少なくとも2以上の異なる検出波長域幅を有し、 Wherein the plurality of light receiving element has at least two or more different detection wavelength ranges width,
前記複数の受光素子の各々で検出された蛍光強度値は、各受光素子が有する検出波長域幅に基づき補正処理し、前記スペクトルデータの生成に用いられる、データ解析方法も提供する。 Wherein the plurality of fluorescence intensity detected in each light receiving element, and correction processing based on the detected wavelength band width each light receiving element having the used for generating spectral data, also provides data analysis method.

本技術において、「微小粒子」には、細胞や微生物、リポソームなどの生体関連微小粒子、あるいはラテックス粒子やゲル粒子、工業用粒子などの合成粒子などが広く含まれるものとする。 In this technique, the "microparticle" shall cells or microbes, biologically relevant microparticles such as liposomes or latex particles, gel particles, and synthetic particles such as industrial particles are widely included.

生体関連微小粒子には、各種細胞を構成する染色体、リポソーム、ミトコンドリア、オルガネラ(細胞小器官)などが含まれる。 The biologically relevant microparticles chromosomes constituting various cells, liposomes, mitochondria, and organelles contained. 細胞には、動物細胞(血球系細胞など)及び植物細胞が含まれる。 The cells include animal cells (such as blood cells) and plant cells. 微生物には、大腸菌などの細菌類、タバコモザイクウイルスなどのウイルス類、イースト菌などの菌類などが含まれる。 The microbes, bacteria such as E. coli, viruses such as tobacco mosaic virus, fungi such as yeast. 更に、生体関連微小粒子には、核酸やタンパク質、これらの複合体などの生体関連高分子も包含され得るものとする。 Moreover, the biologically relevant microparticles, it is assumed that the nucleic acid or protein, also biologically relevant macromolecules such and complexes thereof. また、工業用粒子は、例えば有機もしくは無機高分子材料、金属などであってもよい。 Moreover, industrial particles, for example organic or inorganic polymeric materials, may be a metal. 有機高分子材料には、ポリスチレン、スチレン・ジビニルベンゼン、ポリメチルメタクリレートなどが含まれる。 The organic polymer materials include polystyrene, styrene-divinylbenzene, polymethyl methacrylate and the like. 無機高分子材料には、ガラス、シリカ、磁性体材料などが含まれる。 The inorganic polymer materials include glass, silica, and magnetic materials. 金属には、金コロイド、アルミなどが含まれる。 In metal, gold colloid, are included, such as aluminum. これら微小粒子の形状は、一般には球形であるのが普通であるが、非球形であってもよく、また大きさや質量なども特に限定されない。 The shape of these microparticles is generally a normal to a spherical, may be non-spherical, also size and weight is not particularly limited.

本技術により、サンプル解析の都度に標準サンプルを計測しなくとも、測定誤差を補正して正確な解析結果を得ることが可能な微小粒子測定装置が提供される。 This technology, without measuring the standard sample every time of the sample analysis, measurement error correction to correct the analysis results fine particle measuring apparatus which can obtain is provided.

本技術の第一実施形態に係る微小粒子測定装置Aの機能的構成を示すブロック図である。 Is a block diagram showing a functional configuration of a fine particle measuring apparatus A according to a first embodiment of the present technology. 微小粒子測定装置Aの検出部10の構成を説明する模式図である。 It is a schematic diagram for explaining the configuration of the detection unit 10 of the fine particle measuring apparatus A. 本技術の第二実施形態に係る微小粒子測定装置Bの検出部10の構成を説明する模式図である。 It is a schematic diagram for explaining the configuration of the detection unit 10 of the fine particle measuring apparatus B according to a second embodiment of the present technology. 微小粒子測定装置Bに関し、補正処理前の強度値に基づく出力データ(A)と補正処理後の強度値に基づく出力データ(B)の例を示す図面代用グラフである。 It relates fine particle measuring apparatus B, and graph substituted for drawing showing an example of the output data based on the intensity value after the correction processing and the output data based on the intensity value before correction process (A) (B). 実施例で試作したフローサイトメータにおいて、PMTアレイの各PMTの検出波長域幅を決定した結果を示す図面代用グラフである。 In the flow cytometer prototype in Example, substituting a drawing graphs showing the results of determining the detection wavelength band width of each of the PMT array PMT. 実施例で試作したフローサイトメータにおいて、PMTアレイの各PMTの相対感度を算出した結果を示す図面代用グラフである。 In the flow cytometer prototype in Example, substituting a drawing graph showing a result of calculating the relative sensitivity of each PMT of the PMT array. 実施例において蛍光分光光度計を用いた計測により得られた蛍光ビーズのスペクトルチャートを示す図面代用グラフである。 Is a graph substituted for drawing showing the spectrum chart of fluorescent beads obtained by measurement using a fluorescence spectrophotometer in the examples. 実施例において試作したフローサイトメータを用いた計測により得られた蛍光ビーズFPK505のスペクトルチャートを示す図面代用グラフである。 Is a graph substituted for drawing showing the spectrum chart of fluorescent beads FPK505 obtained by measurement using a flow cytometer prototype in the examples. (A)は補正処理前のチャート、(B)は第一の補正強度値によるチャート、(C)は第二の補正強度値によるチャートを示す。 (A) is correction processing before the chart, (B) the chart according to the first correction intensity value, (C) shows a chart according to the second correction intensity value. 実施例において試作したフローサイトメータを用いた計測により得られた蛍光ビーズFPK505のスペクトルチャートを示す図面代用グラフである。 Is a graph substituted for drawing showing the spectrum chart of fluorescent beads FPK505 obtained by measurement using a flow cytometer prototype in the examples. (A)は補正処理前のチャート、(B)は第一の補正強度値によるチャート、(C)は第二の補正強度値によるチャートを示す。 (A) is correction processing before the chart, (B) the chart according to the first correction intensity value, (C) shows a chart according to the second correction intensity value. 実施例において試作したフローサイトメータを用いた計測により得られた蛍光ビーズFPK528のスペクトルチャートを示す図面代用グラフである。 Is a graph substituted for drawing showing the spectrum chart of fluorescent beads FPK528 obtained by measurement using a flow cytometer prototype in the examples. (A)は補正処理前のチャート、(B)は第一の補正強度値によるチャート、(C)は第二の補正強度値によるチャートを示す。 (A) is correction processing before the chart, (B) the chart according to the first correction intensity value, (C) shows a chart according to the second correction intensity value. 実施例において試作したフローサイトメータを用いた計測により得られた蛍光ビーズFPK549のスペクトルチャートを示す図面代用グラフである。 Is a graph substituted for drawing showing the spectrum chart of fluorescent beads FPK549 obtained by measurement using a flow cytometer prototype in the examples. (A)は補正処理前のチャート、(B)は第一の補正強度値によるチャート、(C)は第二の補正強度値によるチャートを示す。 (A) is correction processing before the chart, (B) the chart according to the first correction intensity value, (C) shows a chart according to the second correction intensity value. 実施例において試作したフローサイトメータを用いた計測により得られた蛍光ビーズFPK667のスペクトルチャートを示す図面代用グラフである。 Is a graph substituted for drawing showing the spectrum chart of fluorescent beads FPK667 obtained by measurement using a flow cytometer prototype in the examples. (A)は補正処理前のチャート、(B)は第一の補正強度値によるチャート、(C)は第二の補正強度値によるチャートを示す。 (A) is correction processing before the chart, (B) the chart according to the first correction intensity value, (C) shows a chart according to the second correction intensity value.

以下、本技術を実施するための好適な形態について図面を参照しながら説明する。 It will be described below with reference to the accompanying drawings preferred embodiments of the present technology. なお、以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態の一例を示したものであり、これにより本技術の範囲が狭く解釈されることはない。 The embodiments described below are merely examples of a typical embodiment of the present technology, it is not thereby that the scope of the present technology is interpreted narrowly. 説明は以下の順序で行う。 Description will be made in the following order.
1. 1. 第一実施形態に係る微小粒子測定装置(1)装置の構成(2)蛍光強度の補正処理 [第一の補正強度値の算出] Configuration of the fine particle measuring apparatus (1) device according to the first embodiment (2) Correction processing of the fluorescence intensity [calculation of the first correction intensity value]
[第二の補正強度値の算出] Calculation of the second correction intensity value]
(3)データ表示(4)データ解析2. (3) Data display (4) Data Analysis 2. 第二実施形態に係る微小粒子測定装置(1)装置の構成(2)蛍光強度の補正処理 [第一の補正強度値の算出] Configuration of the second embodiment fine particle measuring apparatus (1) according to the device (2) Correction processing of the fluorescence intensity [calculation of the first correction intensity value]
[第二の補正強度値の算出] Calculation of the second correction intensity value]
(3)データ表示 (3) Data Display

1. 1. 第一実施形態に係る微小粒子測定装置(1)装置の構成 図1は、本技術の第一実施形態に係る微小粒子測定装置Aの機能的構成を説明するブロック図である。 Diagram 1 microparticle measuring device (1) device according to the first embodiment is a block diagram illustrating a functional configuration of a fine particle measuring apparatus A according to a first embodiment of the present technology. また、図2は、微小粒子測定装置Aの検出部10の構成を説明する模式図である。 2 is a schematic diagram for explaining the configuration of the detection unit 10 of the fine particle measuring apparatus A.

微小粒子測定装置Aは、微小粒子に対してレーザー光を照射して、微小粒子から発せられる蛍光を検出し、検出された蛍光の強度を電気信号に変換して出力する検出部10と、CPU20、メモリ30及びハードディスク(記憶部)40と、を含む。 The fine particle measuring apparatus A, by irradiating a laser beam to the microparticle, a detector 10 for detecting the fluorescence emitted from the fine particles, converts the intensity of the detected fluorescence into electric signals, CPU 20 includes a memory 30 and a hard disk (storage unit) 40, a. 微小粒子測定装置Aにおいて、CPU20、メモリ30及びハードディスク(記憶部)40は処理部を構成する。 In fine particle measuring apparatus A, CPU 20, memory 30 and a hard disk (storage unit) 40 constituting a processing section. また、微小粒子測定装置Aは、ユーザインターフェースとして、マウス51及びキーボード52と、ディスプレイ61及びプリンタ62を含んで構成される表示部60と、を含む。 Further, the fine particle measuring apparatus A, includes a user interface, a mouse 51 and a keyboard 52, a display unit 60 configured to include a display 61 and a printer 62.

検出部10は、従来の微小粒子測定装置と同様の構成とできる。 Detector 10 may the same configuration as the conventional fine particle measuring apparatus. 具体的には、光源101からのレーザー光を微小粒子Pに対して集光・照射する照射系と、微小粒子Pから発生する蛍光を分光する分光素子102と分光された光を検出する受光素子アレイ103とを含む検出系と、から構成される。 Specifically, the light receiving element for detecting the illumination system for converging the light-irradiated with laser light to the fine particle P from the light source 101, the light dispersed and the spectral element 102 that disperses the fluorescence generated from the fine particles P a detection system including an array 103, and a. 微小粒子測定装置Aにおいて、微小粒子Pは、フローセル内又はマイクロチップに形成された流路内を一列に配列されて通流される。 In fine particle measuring apparatus A, the fine particles P are arranged in or microchip which is formed in the flow path in the flow cell in a row through flows.

照射系は、光源101の他、微小粒子Pに対してレーザー光を集光・照射するための集光レンズ、ダイクロイックミラー及びバンドパスフィルター等(不図示)からなる。 Illumination system, other light sources 101, consisting of a condenser lens for condensing light and the laser light irradiation against the fine particles P, dichroic mirrors and band-pass filter or the like (not shown). なお光源101は、互いに異なる波長を発光する光源を2つ以上組み合わせたものでもよく、その場合2つ以上のレーザー光が微小粒子Pを照射する場所は、同一であっても異なっていても構わない。 Incidentally light source 101 may also may be a combination of two or more light sources for emitting different wavelengths, where that if more than one laser beam is irradiated to the fine particle P is be the same or different Absent. また、検出系は、微小粒子Pから発生する蛍光を集光し、分光素子102に導光するための集光レンズ等(不図示)を含んでいてもよい。 The detection system is a fluorescence generated from the fine particles P condensed may contain a condenser lens or the like for guiding the spectral element 102 (not shown). ここでは、受光素子アレイ103として、検出波長域幅が異なる32チャネルのPMT(photo multiplier tube)を一次元に配列したPMTアレイを用いた構成を例示した。 Here, as the light receiving element array 103, it illustrated the configuration using the PMT array in which PMT detection wavelength ranges of different widths 32 channels (photo multiplier tube) in one dimension. なお、受光素子アレイ103には、フォトダイオードアレイ、あるいはCCD又はCMOSなどの2次元受光素子などの検出波長域幅が異なる独立した検出チャネルが複数並べられたものも用いることができる。 Incidentally, the light-receiving element array 103, can be used a photodiode array, or those detection wavelength band width, such as 2-dimensional light receiving element such as CCD or CMOS is arranged more different independent detection channels also.

微小粒子測定装置Aにおいて、検出部10は、蛍光の他、レーザー光の照射によって微小粒子Pから発生する光であって、例えば前方散乱光、側方散乱光、レイリー散乱及びミー散乱等の散乱光なども検出するように構成してもよい。 In fine particle measuring apparatus A, the detection unit 10, in addition to the fluorescence, a light generated from the fine particles P by irradiation of the laser beam, for example, forward scattered light, side scattered light, Rayleigh scattering and Mie scattering or the like scattering it may be configured to detect such light.

(2)蛍光強度の補正処理 CPU20及びメモリ30は、ハードディスク40に格納された蛍光強度補正プログラム41とOS43と共働して、検出部10から出力される電気信号に基づき、蛍光の強度値の補正処理を行う。 (2) Correction processing CPU20 and memory 30 of the fluorescence intensity, in cooperation with the fluorescence intensity correction program 41 stored in the hard disk 40 OS43 and, based on the electric signal output from the detector 10, the intensity value of the fluorescence the correction process is performed. この補正処理は、蛍光の強度値を各受光素子(ここではチャネル1〜32のPMT)の検出波長域幅で補正して第一の補正強度値を算出するステップと、第一の補正強度値を各PMTの感度データを用いて補正して第二の補正強度値を算出するステップとを含む。 This correction process includes the steps of calculating a first correction intensity values ​​of the intensity values ​​of the fluorescence correcting a detection wavelength band width of the light receiving elements (PMT channels 1 to 32 in this case), the first correction intensity value the and calculating a second correction intensity value by correcting by using sensitivity data of the PMT.

[第一の補正強度値の算出] Calculation of the first correction intensity value]
第一の補正強度値の算出は、各PMTで取得された蛍光の強度値を、それぞれのPMTの検出波長域幅で除すことにより行われる。 Calculation of the first correction intensity value, an intensity value of the fluorescence obtained at each PMT, is performed by dividing the detected wavelength band width of each PMT.

具体的には、チャネル1〜32のPMTのうち、チャネルkのPMTで得られたn番目の強度値をI[k、n]とし、チャネルkのPMTの検出下限波長をL[k]かつ検出上限波長をH[k]とする。 Specifically, of the PMT of the channel 1 to 32, the n-th intensity values ​​obtained at a PMT of channel k and I [k, n], a lower limit of detection wavelength of PMT of channel k L [k] cutlet the detection limit wavelength is H [k]. この場合、第一の補正強度値J [k、n]は、次の式により算出される。 In this case, the first correction intensity value J 1 [k, n] is calculated by the following equation. ここで、kは1〜32の整数を表す。 Here, k is an integer of 1 to 32.
[k、n]=I[k、n]/(H[k]−L[k]) J 1 [k, n] = I [k, n] / (H [k] -L [k])

チャネル1〜32のPMTで検出される光の波長域幅は、分光素子102を含む検出部10の光学系が非線形性を有している場合、各PMT間で異なった幅となる(後掲の図5参照)。 Wavelength region width of the light detected by the channel 1 to 32 PMT, if the optical system of the detection unit 10 including the spectral element 102 has a non-linearity, the different widths between each PMT (infra see Figure 5). このため、各PMTで取得される蛍光の強度値は、検出波長域幅が広いチャネルでは相対的に高く、検出波長域幅が狭いチャネルでは相対的に低くなり、このことが測定誤差の要因となる。 Therefore, the intensity value of fluorescence acquired by each PMT is relatively high in a broad detection wavelength band width channel, detection wavelength band width becomes relatively low in the narrow channel, the cause of this is the measurement error Become.

特に、分光素子102により分光された蛍光を受光素子アレイ103を用いて検出し、微小粒子Pの蛍光スペクトルを計測する場合、各PMTで取得される蛍光の強度値をそのまま用いた蛍光スペクトルでは、上記測定誤差によってスペクトル形状に歪みが生じる。 In particular, the fluorescence dispersed by the spectroscopic element 102 and detected using a photodetector array 103, when measuring fluorescence spectra of the fine particles P, a fluorescent spectrum using as the intensity value of fluorescence acquired by each PMT is distortion in the spectral shape by the measurement error. すなわち、横軸をチャネル番号、縦軸を強度値とした2次元グラフ(以下、「スペクトルチャート」と称する)を、横軸を検出波長、縦軸を強度値としたスペクトルチャートと比較すると、前者では検出波長域幅が広いチャネルほど強度値が相対的に大きくなる。 In other words, the horizontal axis channel number, a two-dimensional graph vertical axis was the intensity value (hereinafter, referred to as "spectrum chart") to detect the horizontal axis the wavelength, comparing the vertical axis represents intensity values ​​was a spectrum chart, the former In intensity value detection wavelength band width is the wider channel is relatively large. このため、両者の蛍光スペクトル形状は一致せず、ずれが生じることとなる。 Thus, both the fluorescence spectrum shape will not match, so that the deviation occurs.

各PMTで取得された蛍光の強度値をそれぞれのPMTの検出波長域幅で除して得られる第一の補正強度値では、このような光学系の非線形性に起因した測定誤差を補償することが可能となる。 In the first correction intensity value obtained by dividing the intensity value of the fluorescence obtained at each PMT detection wavelength band width of each PMT, to compensate for measurement errors due to nonlinearity of such an optical system it is possible.

各PMTの検出波長域幅(H[k]−L[k])は、検出部10を構成する分光素子102、集光レンズ、ダイクロイックミラー及びバンドパスフィルターなどの光学素子の種類や配置によって一意に決定される(後掲の図5参照)。 Detection wavelength band width of each PMT (H [k] -L [k]) is the spectral element 102, condenser lenses constituting the detecting section 10, unique depending on the type and arrangement of optical elements such as dichroic mirrors and band-pass filter It is determined (see FIG. 5 given later). このため、光学素子の選定及び配置を含む装置設計が完了した段階で、各PMTの検出波長域幅を取得しておくことで、各PMTで取得された蛍光の強度値から第一の補正強度値を算出することが可能となる。 Therefore, at the stage of device design including selection and arrangement of the optical elements is completed, that you obtain a detection wavelength band width of each PMT, the first correction from the intensity value of the fluorescence obtained at each PMT strength it is possible to calculate the value.

[第二の補正強度値の算出] Calculation of the second correction intensity value]
第二の補正強度値の算出は、各PMTにおける第一の補正強度値を、それぞれのPMTの相対感度で除すことにより行われる。 Calculation of the second correction intensity value, the first correction intensity value in each PMT, is performed by dividing the relative sensitivity of each PMT.

具体的には、チャネル1〜32のPMTのうち、チャネルkのPMTの相対感度をS[k]とする。 Specifically, of the PMT of the channel 1 to 32, the relative sensitivity of the PMT of channel k and S [k]. この場合、第二の補正強度値J [k、n]は、次の式により算出される。 In this case, the second correction intensity value J 2 [k, n] is calculated by the following equation.
[k、n]=J [k、n]/S[k] J 2 [k, n] = J 1 [k, n] / S [k]

ここで、相対感度とは、同一強度及び同一波長の光をPMTに照射して各チャネルで得られた強度値を、最も高い強度値が得られたチャネルの強度値に対する相対値により示したものである。 Here, what the relative sensitivity, the same intensity and the intensity values ​​obtained with light of the same wavelength in each by irradiating PMT channel, the highest intensity value is shown by a relative value to the intensity value of the obtained channel it is. 相対感度は、同一強度及び同一波長の光をPMTに照射した場合に各チャネルから出力される電気信号量を記録した感度データから予め算出しておくことができる。 The relative sensitivity can be calculated in advance from the recording sensitivity data electric signal value output from the respective channels if the light of the same intensity and the same wavelength was irradiated to the PMT. この感度データは、各PMTに内在する感度差と、ユーザによって各PMTに設定された感度差(ゲイン)の両方が反映されたものである。 This sensitivity data differs from that of the sensitivity difference inherent in each PMT, both sensitivity difference that has been set for each PMT by the user (gain) are reflected. なお、ゲインは、ユーザが印加電圧などの設定値を変化させることによって適宜調整が可能である。 The gain can be appropriately adjusted by the user to change the set value such as the applied voltage.

チャネル1〜32のPMTの感度は、PMTの個体差及びゲインの設定差によって、各PMT間で異なる(後掲の図6参照)。 Sensitivity of the PMT channels 1 to 32, by setting the difference of individual difference and the gain of the PMT, different between the PMT (see FIG. 6 given later). このため、各PMTで取得される蛍光の強度値は、感度が高いチャネルでは相対的に高く、感度が低いチャネルでは相対的に低くなり、このことも測定誤差の要因となっている。 Therefore, the intensity value of fluorescence acquired by each PMT, the sensitivity is relatively high in the high channel, sensitivity is relatively low at lower channel, it is also a factor for the measurement error this.

特に、分光素子102により分光された蛍光を受光素子アレイ103を用いて検出し、微小粒子Pの蛍光スペクトルを計測する場合、各PMTで取得される蛍光の強度値をそのまま用いた蛍光スペクトルでは、上記測定誤差によってスペクトル形状に歪みが生じる。 In particular, the fluorescence dispersed by the spectroscopic element 102 and detected using a photodetector array 103, when measuring fluorescence spectra of the fine particles P, a fluorescent spectrum using as the intensity value of fluorescence acquired by each PMT is distortion in the spectral shape by the measurement error. すなわち、感度が高いチャネルほど強度値が相対的に大きくなっているため、蛍光スペクトル形状がいびつとなり、不正確なものとなる。 That is, the sensitivity is high channel as intensity values ​​is relatively large, the fluorescence spectrum shape becomes distorted, and inaccurate.

各PMTにおける第一の補正強度値を、それぞれのPMTの相対感度で除して得られる第二の補正強度値では、このような受光素子間の感度差に起因した測定誤差を補償することが可能となる。 A first correction intensity value for each PMT, the second correction intensity value obtained by dividing the relative sensitivity of each PMT, is possible to compensate for the measurement error caused by the sensitivity difference between such light-receiving element It can become.

(3)データ表示 CPU20、メモリ30及びハードディスク40を含んで構成される処理部は、算出された第一の補正強度値又は第二の補正強度値を座標軸としたスペクトルチャートを生成して、表示部60に出力する。 (3) Data display CPU 20, the processing unit configured to include a memory 30 and a hard disk 40, a first correction intensity value or the second correction intensity value to generate a spectrum chart obtained by the coordinate axes calculated, displayed and outputs it to the part 60.

スペクトルチャートは、各PMTの検出波長を横軸にとり、第一の補正強度値を縦軸にとったものとできる(後掲の図8〜12の(B)参照)。 Spectrum chart (see infra in FIG 8 to 12 (B)) of the detected wavelength of each PMT horizontal axis, it is assumed that took a first correction intensity value on the vertical axis. また、スペクトルチャートは、好ましくは、検出波長を横軸にとり、第二の補正強度値を縦軸にとったものとされる(後掲の図8〜12の(C)参照)。 Further, spectrum chart is preferably horizontal axis of the detection wavelength, (see (C) of FIG. 8 to 12 infra) in which the second correction intensity value is as the taken on the vertical axis.

スペクトルチャートには、所定の検出波長において所定の蛍光強度値で検出された微小粒子の数(イベント数あるいは密度)に基づいて、強度値を平均値や標準誤差、中央値、四分位点などの統計的な数値で表示することができる(後掲の図9参照)。 The spectrum chart, based on the number of detected microparticles in a predetermined detection wavelength at a predetermined fluorescence intensity value (number of events or density), the intensity value average and standard error, median, etc. quartile it can be displayed in a statistical value of (see FIG. 9 given later). 更に、スペクトルチャートを、イベント数をとった座標軸を追加した3次元グラフとして表示することもでき、この3次元グラフを疑似3D表示することもできる。 Furthermore, the spectrum chart, can be displayed as a three-dimensional graph to add the coordinate axis taken the number of events, the 3-dimensional graph may be pseudo 3D display. また、微小粒子の数(イベント数あるいは密度)に関する情報(頻度情報)を反映させた色相、彩度及び/又は明度によりスペクトルチャートを多色表示することも可能である(後掲の図8参照)。 The number (number of events or density) Information hue reflecting the (frequency information), it is also possible to multicolor display a spectrum chart by saturation and / or brightness (subsequently herein refer to FIG. 8 of the microparticles ).

(4)データ解析 CPU20、メモリ30及びハードディスク40を含んで構成される処理部は、算出された第一の補正強度値又は第二の補正強度値を第一のパラメータ、各PMTの検出波長を第二のパラメータとするスペクトルデータを生成し、これを用いて各種の解析を実行することができる。 (4) Data analysis CPU 20, the processing unit configured to include a memory 30 and a hard disk 40, the first correction intensity value or a second primary parameter correction intensity value of the calculated, a detection wavelength of each PMT generates spectral data to the second parameter, it is possible to perform a variety of analyzes using the same. ここで第一のパラメータは、計測を行った複数の微小粒子Pの全てあるいは一部について計算した、第一の補正強度値又は第二の補正強度値の平均値、標準誤差、中央値及び四分位点などの統計的な数値とできる。 Wherein the first parameter, was calculated for all or a portion of the plurality of fine particles P was measured, first correction intensity value or an average value of the second correction intensity values, standard error, median and tetrafunctional It can be a statistical number, such as quantile point.

また、処理部は、生成されたスペクトルデータと、ハードディスク(記憶部)40に保持された基準スペクトルデータとを比較して、両者の一致度を評価することができる。 The processing unit includes a spectral data generated, the hard disk is compared with the reference spectrum data stored in the (storage unit) 40, it is possible to evaluate both the degree of coincidence. 更に、その結果を表示部60に出力することもできる。 Furthermore, it is also possible to output the result to the display unit 60. ここで、基準スペクトルデータとは、既知の蛍光物質を含んでなる微小粒子を事前に微小粒子測定装置Aで測定し、上述の補正処理を施すことによって得たスペクトルデータか、あるいは当該蛍光物質の蛍光スペクトルを通常の蛍光分光光度計により計測して得たスペクトルデータの、いずれであってもよい。 Here, the reference spectral data, the fine particles comprising the known fluorescent substance was measured in advance by the fine particle measuring apparatus A, or spectral data were obtained by performing the correction process described above, or of the fluorescent substance the fluorescence spectra of the spectral data obtained by measuring by a usual fluorescent spectrophotometer may be either. これは、微小粒子測定装置Aより得られた計測値が、補正によって通常の蛍光分光光度計で得られた計測値と直接比較可能となるためである。 This measured value obtained from the fine particle measuring apparatus A, is because the directly comparable with the measurement values ​​obtained in a conventional spectrofluorometer by the correction. 基準スペクトルデータは、ハードディスク40内にリファレンスデータ42として蓄積されている。 Reference spectrum data is stored as reference data 42 to the hard disk 40. 基準スペクトルデータとの一致度の評価方法には、例えば各検出波長における差分の和、差分の絶対値の和、差分の二乗和などを利用できる。 The method of evaluating the degree of coincidence with the reference spectral data, available for example the sum of the differences in the respective detection wavelength, the sum of the absolute values ​​of the differences, sum of squared differences and the like.

微小粒子Pを微小粒子測定装置Aで測定し、これを補正して得たスペクトルデータについて、1ないし2以上の基準スペクトルデータとの比較を行うことにより、測定を行った微小粒子Pが発する蛍光が、基準スペクトルデータに記録された蛍光のうちのいずれかと類似するか否かを判定することができる。 The fine particles P was measured by a micro particle measuring apparatus A, the spectral data obtained by correcting this, by comparing with 1 to 2 or more reference spectral data, the fine particles P was measured emitted fluorescence but it is possible to determine whether or not similar to any of the fluorescence recorded in the reference spectrum data. これにより、例えば測定を行った微小粒子Pに含まれる蛍光物質の種類が不明な場合において、記録された基準スペクトルデータの中から類似度が高いものを探索して、微小粒子Pに含まれる蛍光物質の種類を予測することが可能となる。 Thus, for example, when the type of fluorescent substance contained in the fine particles P were measured is unknown, to explore what high similarity from among the recorded reference spectrum data, the fluorescence contained in the fine particles P it is possible to predict the type of material.

更に、微小粒子Pを微小粒子測定装置Aで測定し、これを補正して得たスペクトルデータについて、同一の微小粒子Pについてあらかじめ計測して得ておいた基準スペクトルデータとの比較を行うことにより、微小粒子測定装置Aの状態診断を行うこともできる。 Further, the fine particles P was measured by a micro particle measuring apparatus A, the spectral data obtained by correcting this, by comparing with the same reference spectral data that has been obtained by previously measuring the fine particles P It can also be carried out state diagnosis of the fine particle measuring apparatus a. すなわち、微小粒子測定装置Aは、受光素子アレイの動作異常、フローセルないしマイクロチップ内における微小粒子の流れの乱れ、レンズや分光素子など各部品の温度変化や振動などによるずれなどの影響によってその状態が悪化し、計測の正確性が低下する場合がある。 That is, the fine particle measuring apparatus A, that state by the influence of such abnormal operation, the flow cell or the flow of the microparticles turbulence within the microchip, lenses and displacement due to temperature changes and vibrations of each part such as the spectral element of the light receiving element array there deteriorated, accuracy of the measurement may be reduced. このような装置状態を診断する目的で、同一サンプルを微小粒子測定装置Aと蛍光分光光度計とで測定し、その結果の比較を行うことは、有力な方法であるといえる。 In order to diagnose such a device state, the same sample was measured by a fine particle measuring apparatus A and a fluorescence spectrophotometer, can be said to be compared of the result is an effective method. 本技術によれば、微小粒子測定装置Aで得られた計測結果を蛍光分光光度計と直接比較可能となるため、状態診断を簡便かつ正確に行うことが可能となる。 According to this technique, since the measurement results obtained in the fine particle measuring apparatus A allows direct comparison to the fluorescence spectrophotometer, it is possible to perform condition diagnosis easily and accurately.

加えて、微小粒子Pを微小粒子測定装置Aで測定し、これを補正して得たスペクトルデータに対して、複数の基準スペクトルデータを用いたコンペンセーション処理を行うことにより、微小粒子Pに含まれる複数の蛍光色素の定量を行うことができる。 In addition, the fine particle P measured by a micro particle measuring apparatus A, with respect to spectral data obtained by correcting this, by performing compensation processing using a plurality of reference spectral data, contained in the fine particles P Determination of the plurality of fluorescent dyes can be performed to be. 例えば微小粒子Pが複数の色素{D 1 , D 2 , …, D n }で染色されている場合、コンペンセーション処理に用いる基準スペクトルデータには、{D 1 , D 2 , …, D n }の各蛍光色素で単染色されたサンプルより得られたものが含まれることが望ましい。 For example fine particle P is multiple dyes {1 D, D 2, ... , D n} if it is stained with the reference spectrum data used for compensation processing, {D 1, D 2, ..., D n} include those obtained from the single-stained samples in each fluorescent dye is desirable. コンペンセーション処理の方法としては、例えば最小二乗法を採用することができる。 The method of compensation process may be employed for example the method of least squares.

2. 2. 第二実施形態に係る微小粒子測定装置(1)装置の構成 図3は、本技術の第二実施形態に係る微小粒子測定装置Bの検出部10の構成を説明する模式図である。 Diagram 3 of a second embodiment fine particle measuring apparatus (1) according to the device is a schematic diagram for explaining the configuration of the detection unit 10 of the fine particle measuring apparatus B according to a second embodiment of the present technology. 微小粒子測定装置Bの機能的構成は、図1に示した第一実施形態に係る微小粒子測定装置Aと同様であるので説明を省略する。 Functional structure of fine particle measuring apparatus B is omitted because it is similar to the fine particle measuring apparatus A according to the first embodiment shown in FIG.

微小粒子測定装置Bは、フィルタなどの波長選択素子を用いて不連続な波長域の光を複数選択し、各波長域の光の強度を計測する点で、連続した波長域における光の強度を蛍光スペクトルとして計測する微小粒子測定装置Aと異なっている。 The fine particle measuring apparatus B, selects a plurality of lights of discontinuous wavelength region by using a wavelength selection element such as a filter, in that it measures the intensity of light of each wavelength region, the intensity of light in a continuous wavelength range It is different from the fine particle measuring apparatus a which measures the fluorescence spectrum.

微小粒子測定装置Bの検出部10は、光源101からのレーザー光を微小粒子Pに対して集光・照射する照射系と、微小粒子Pから発生する蛍光から所定の波長域の光を選択する波長選択素子104〜106と選択された光を検出する受光素子107〜110とを含む検出系と、から構成される。 Detector 10 of the fine particle measuring apparatus B selects an illumination system for focusing the light-irradiated with laser light to the fine particle P, the light of a predetermined wavelength range from the fluorescence generated from the fine particles P from the light source 101 a detection system including a light receiving element 107 to 110 for detecting the light selected from the wavelength selection element 104 to 106, and a. 微小粒子測定装置Bにおいて、微小粒子Pは、フローセル内又はマイクロチップに形成された流路内を一列に配列されて通流される。 In the fine particle measuring apparatus B, the fine particles P are arranged in or microchip which is formed in the flow path in the flow cell in a row through flows.

照射系は、光源101の他、微小粒子Pに対してレーザー光を集光・照射するための集光レンズ、ダイクロイックミラー及びバンドパスフィルター等(不図示)からなる。 Illumination system, other light sources 101, consisting of a condenser lens for condensing light and the laser light irradiation against the fine particles P, dichroic mirrors and band-pass filter or the like (not shown). なお光源101は、互いに異なる波長を発光する光源を2つ以上組み合わせたものでもよく、その場合2つ以上のレーザー光が微小粒子Pを照射する場所は、同一であっても異なっていても構わない。 Incidentally light source 101 may also may be a combination of two or more light sources for emitting different wavelengths, where that if more than one laser beam is irradiated to the fine particle P is be the same or different Absent. また、検出系は、微小粒子Pから発生する蛍光を集光し、波長選択素子104に導光するための集光レンズ等(不図示)を含んでいてもよい。 The detection system is a fluorescence generated from the fine particles P condensed may contain a condenser lens or the like for guiding the wavelength selection element 104 (not shown). ここでは、受光素子107〜110として、検出波長域幅が異なるPMT(photo multiplier tube)を用いた構成を例示した。 Here, as the light receiving element 107 to 110, illustrating the configuration of detection wavelength band width using different PMT (photo multiplier tube). 以下、受光素子107〜110のチャネル番号を1〜4とする。 Hereinafter, a 1-4 channel number of the light receiving elements 107 through 110. なお、受光素子107〜110には、フォトダイオードを用いることもできる。 Note that the light receiving elements 107 to 110, it is also possible to use a photodiode.

微小粒子測定装置Bにおいて、検出部10を、蛍光に加えて散乱光なども検出するように構成できる点は、微小粒子測定装置Aと同様である。 In the fine particle measuring apparatus B, and the detection unit 10, the points that can be configured to detect such scattered light in addition to fluorescent, is similar to the fine particle measuring apparatus A.

(2)蛍光強度の補正処理 微小粒子測定装置Bは、検出部10から出力される電気信号に基づき、蛍光の強度値の補正処理を行う。 (2) Correction processing fine particle measuring apparatus B of the fluorescence intensity, based on the electric signal output from the detection unit 10 performs correction processing of the intensity value of fluorescence. この補正処理は、蛍光の強度値を各受光素子(ここではチャネル1〜4のPMT)の検出波長域幅で補正して第一の補正強度値を算出するステップと、第一の補正強度値を各PMTの感度データを用いて補正して第二の補正強度値を算出するステップとを含む。 This correction process includes the steps of calculating a first correction intensity values ​​of the intensity values ​​of the fluorescence correcting a detection wavelength band width of the light receiving elements (PMT channels 1-4 in this case), the first correction intensity value the and calculating a second correction intensity value by correcting by using sensitivity data of the PMT.

[第一の補正強度値の算出] Calculation of the first correction intensity value]
第一の補正強度値を算出は、各PMTで取得された蛍光の強度値を、それぞれのPMTの検出波長域幅で除すことにより行われる。 Calculating a first correction intensity value, an intensity value of the fluorescence obtained at each PMT, it is performed by dividing the detected wavelength band width of each PMT.

具体的には、チャネル1〜4のPMTのうち、チャネルkのPMTで得られたn番目の強度値をI[k、n]とし、チャネルkのPMTの検出下限波長をL[k]かつ検出上限波長をH[k]とする。 Specifically, of the PMT of the channel 1-4, the n-th intensity values ​​obtained at a PMT of channel k and I [k, n], a lower limit of detection wavelength of PMT of channel k L [k] cutlet the detection limit wavelength is H [k]. この場合、第一の補正強度値J [k、n]は、次の式により算出される。 In this case, the first correction intensity value J 1 [k, n] is calculated by the following equation. ここで、kは1〜4の整数を表す。 Here, k is an integer of 1-4.
[k、n]=I[k、n]/(H[k]−L[k]) J 1 [k, n] = I [k, n] / (H [k] -L [k])

チャネル1〜4のPMTで検出される光の波長域幅は、波長選択素子104〜106を含む検出部10の光学系が非線形性を有している場合、各PMT間で異なった幅となる。 Wavelength region width of the light detected by the channel 1 to 4 PMT, if the optical system of the detection unit 10 including a wavelength selective element 104 to 106 has a non-linearity, the different widths between each PMT . このため、各PMTで取得される蛍光の強度値は、検出波長域幅が広いチャネルでは相対的に高く、検出波長域幅が狭いチャネルでは相対的に低くなり、このことが測定誤差の要因となる。 Therefore, the intensity value of fluorescence acquired by each PMT is relatively high in a broad detection wavelength band width channel, detection wavelength band width becomes relatively low in the narrow channel, the cause of this is the measurement error Become.

各PMTで取得された蛍光の強度値をそれぞれのPMTの検出波長域幅で除して得られる第一の補正強度値では、このような光学系の非線形性に起因した測定誤差を補償することが可能となる。 In the first correction intensity value obtained by dividing the intensity value of the fluorescence obtained at each PMT detection wavelength band width of each PMT, to compensate for measurement errors due to nonlinearity of such an optical system it is possible.

各PMTの検出波長域幅(H[k]−L[k])は、検出部10を構成する波長選択素子104〜106、集光レンズ、ダイクロイックミラー及びバンドパスフィルターなどの光学素子の種類や配置によって一意に決定される。 Detection wavelength band width of each PMT (H [k] -L [k]), the wavelength selection element 104 to 106 constituting the detecting section 10, the condenser lens, the type of optical elements such as dichroic mirrors and band-pass filter Ya It is uniquely determined by the placement. このため、光学素子の選定及び配置を含む装置設計が完了した段階で、各PMTの検出波長域幅を取得しておくことで、各PMTで取得された蛍光の強度値から第一の補正強度値を算出することが可能となる。 Therefore, at the stage of device design including selection and arrangement of the optical elements is completed, that you obtain a detection wavelength band width of each PMT, the first correction from the intensity value of the fluorescence obtained at each PMT strength it is possible to calculate the value.

[第二の補正強度値の算出] Calculation of the second correction intensity value]
第二の補正強度値の算出は、各PMTにおける第一の補正強度値を、それぞれのPMTの相対感度で除すことにより行われる。 Calculation of the second correction intensity value, the first correction intensity value in each PMT, is performed by dividing the relative sensitivity of each PMT.

具体的には、チャネル1〜4のPMTのうち、チャネルkのPMTの相対感度をS[k]とする。 Specifically, of the PMT of the channel 1-4, the relative sensitivity of the PMT of channel k and S [k]. この場合、第二の補正強度値J [k、n]は、次の式により算出される。 In this case, the second correction intensity value J 2 [k, n] is calculated by the following equation.
[k、n]=J [k、n]/S[k] J 2 [k, n] = J 1 [k, n] / S [k]

チャネル1〜4のPMTの感度は、PMTの個体差及びゲインの設定差によって、各PMT間で異なる。 Sensitivity of the PMT channels 1-4, by setting difference in individual difference and gain of the PMT, different between each PMT. このため、各PMTで取得される蛍光の強度値は、感度が高いチャネルでは相対的に高く、感度が低いチャネルでは相対的に低くなり、このことも測定誤差の要因となっている。 Therefore, the intensity value of fluorescence acquired by each PMT, the sensitivity is relatively high in the high channel, sensitivity is relatively low at lower channel, it is also a factor for the measurement error this.

各PMTにおける第一の補正強度値を、それぞれのPMTの相対感度で除して得られる第二の補正強度値では、このような受光素子間の感度差に起因した測定誤差を補償することが可能となる。 A first correction intensity value for each PMT, the second correction intensity value obtained by dividing the relative sensitivity of each PMT, is possible to compensate for the measurement error caused by the sensitivity difference between such light-receiving element It can become.

(3)データ表示 微小粒子測定装置Bは、算出された第一の補正強度値又は第二の補正強度値を座標軸とした2次元グラフを生成して、表示部60に出力する。 (3) Data display fine particle measuring apparatus B, the first correction intensity value is calculated or a second correction intensity values ​​to generate a two-dimensional graph with the coordinate axes, and outputs to the display unit 60.

2次元グラフは、各PMTの検出波長を横軸にとり、第一の補正強度値又は第二の補正強度値を縦軸にとったものとできる。 2 dimensional graph is the detection wavelength of each PMT horizontal axis, it is assumed that the first correction intensity value or the second correction intensity value taken on the vertical axis. 図4(A)に補正処理前のグラフ、(B)に第二の補正強度値によるグラフを示す。 Graph before correction processing in FIG. 4 (A), it shows a graph according to the second correction intensity value (B). 図4(A)は、横軸にチャネル番号k(kは1〜4の整数)、縦軸に各チャネルで取得された蛍光の強度値(I[k])の対数をとったグラフである。 FIG. 4 (A), (the k 1 to 4 integer) channel number k in the horizontal axis is a graph in which the logarithm of the intensity value of the fluorescence obtained in each channel, the longitudinal axis (I [k]) . また、図4(B)は、横軸に検出波長、縦軸に各チャネルで取得された蛍光強度値の補正値(J [k]又はJ [k])の対数をとったグラフである。 Further, FIG. 4 (B), detection wavelength on the horizontal axis and the vertical axis in the graph of the logarithm of the correction value of the fluorescence intensity values obtained at each channel (J 1 [k] or J 2 [k]) is there.

微小粒子測定装置Bでは、上記の補正処理によって、波長選択素子を用いて選択した不連続な波長域の光の強度の計測結果を、装置の光学系の非線形性及び受光素子間の感度差に起因した測定誤差を補償した状態で表示させることが可能である。 In fine particle measuring apparatus B, the above correction process, the measurement result of the intensity of light of discrete wavelength ranges selected by using a wavelength selecting element, the sensitivity difference between the nonlinearity and the light receiving element of the optical system of the apparatus it is possible to display while compensating for the resulting measurements errors.

本技術に係る微小粒子測定装置は、以下のような構成をとることもできる。 Fine particle measuring apparatus according to the present technology may also be configured as below.
(1)微小粒子からの蛍光を検出する検出部と、 (1) and a detector for detecting the fluorescence from the fine particles,
前記蛍光の強度値を補正処理した補正強度値を算出し、該補正強度値に基づいてスペクトルデータを生成する処理部と、 Wherein the intensity value of fluorescence to calculate a correction correction intensity value, and a processing unit that generates spectral data based on the corrected intensity values,
前記処理部において実行される指示を格納する記憶部と、 A storage unit for storing instructions to be executed in the processing unit,
を少なくとも有する微小粒子測定装置であって、 And at least fine particle measuring apparatus having,
前記指示は、前記補正強度値を算出させる指示である、微小粒子測定装置。 The instruction is an instruction for calculating the correction intensity value, fine particle measuring apparatus.
(2)前記検出部は、前記蛍光の強度値を生成する、(1)記載の微小粒子測定装置。 (2) the detection unit generates an intensity value of the fluorescence (1) fine particle measuring apparatus according.
(3)前記検出部は、前記蛍光を前記蛍光の強度値に変換する複数の受光素子を有する、(1)又は(2)に記載の微小粒子測定装置。 (3) the detection unit includes a plurality of light receiving elements for converting the fluorescence intensity value of the fluorescence (1) or (2) fine particle measuring apparatus according to.
(4)前記処理部は、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する検出波長域幅に基づいて前記補正強度値を算出する、(3)記載の微小粒子測定装置。 (4) the processing unit calculates the correction intensity value based on the detected wavelength band width corresponding to each of the plurality of light receiving elements, (3) the fine particle measuring apparatus according.
(5)前記処理部は、前記補正強度値を第一の補正強度値とし、前記第一の補正強度値及び前記複数の受光素子のそれぞれに対応する相対感度データに基づいて第二の補正強度値を更に算出する、(3)又は(4)に記載の微小粒子測定装置。 (5) the processing unit, the corrected intensity value with the first correction intensity value, a second correction strength based on the corresponding relative sensitivity data to each of the first correction intensity value and the plurality of light receiving elements further calculating the value, (3) or fine particle measuring apparatus according to (4).
(6)前記記憶部は、前記スペクトルデータと基準スペクトルデータとを比較させる指示を更に格納する、(1)から(5)のいずれかに記載の微小粒子測定装置。 (6) the storage unit further stores an instruction to compare the spectral data with reference spectral data, fine particle measuring apparatus according to any one of (1) to (5).
(7)データを表示する表示部を更に有し、 (7) further comprising a display unit for displaying data,
前記記憶部は、前記スペクトルデータと基準スペクトルデータとを比較した結果を前記表示部に表示させる指示を更に格納する、(6)記載の微小粒子測定装置。 Wherein the storage unit further stores an instruction to display the result of a comparison between the spectral data and the reference spectrum data on the display unit, (6) small particle measuring apparatus according.
(8)微小粒子からの蛍光を検出し、かつ、前記蛍光を前記蛍光の強度値に変換する複数の受光素子を有する、検出部からのデータを受け取るためのデバイスであって、 (8) detecting the fluorescence from the fine particles, and has a plurality of light receiving elements for converting the fluorescence intensity value of the fluorescence, a device for receiving data from the detector,
前記蛍光の強度値を補正処理した補正強度値を算出し、該補正強度値に基づいてスペクトルデータを生成する処理部と、 Wherein the intensity value of fluorescence to calculate a correction correction intensity value, and a processing unit that generates spectral data based on the corrected intensity values,
前記処理部において実行される指示を格納する記憶部と、 A storage unit for storing instructions to be executed in the processing unit,
を少なくとも有し、 At least it has,
前記指示は、前記蛍光の強度値を取得させる指示、前記蛍光の強度値を補正処理させる指示及び前記蛍光の強度値を補正処理した補正強度値に基づいてスペクトルデータを生成させる指示である、デバイス。 The indication, the intensity values ​​an instruction to acquire the fluorescence is an instruction to generate spectral data based on the intensity value of the command and the fluorescence is correction process intensity values ​​of the fluorescence correction processing by the correction intensity value, the device .
(9)前記処理部は、前記複数の受光素子のそれぞれに対応する検出波長域幅に基づいて前記補正強度値を算出する、(8)記載のデバイス。 (9) The processing unit calculates the correction intensity value based on the detected wavelength band width corresponding to each of the plurality of light receiving elements, (8), wherein the device.
(10)前記記憶部は、前記スペクトルデータと基準スペクトルデータとを比較させる指示を更に格納する、(8)又は(9)に記載のデバイス。 (10) the storage unit further stores an instruction to compare the spectral data with reference spectral data, according to (8) or (9) devices.
(11)データを表示する表示部を更に有し、 (11) further includes a display unit for displaying data,
前記記憶部は、前記スペクトルデータと基準スペクトルデータとを比較した結果を前記表示部に表示させる指示を更に格納する、(10)記載のデバイス。 Wherein the storage unit further stores an instruction to display the result of a comparison between the spectral data and the reference spectrum data on the display unit, (10), wherein the device.
(12)微小粒子からの蛍光の強度値を補正処理した補正強度値を受け取るためのデバイスであって、 (12) A device for receiving a correction intensity value of the intensity values ​​and the correction processing of the fluorescence from the fine particles,
前記補正強度値に基づいてスペクトルデータを生成する処理部と、 A processing unit for generating spectral data on the basis of the correction intensity value,
前記処理部において実行される指示を格納する記憶部と、 A storage unit for storing instructions to be executed in the processing unit,
を少なくとも有し、 At least it has,
前記指示は、前記補正強度値を取得させる指示及び前記補正強度値に基づいてスペクトルデータを生成させる指示である、デバイス。 The instruction is an instruction to generate spectral data based on the instruction and the correction intensity values ​​to obtain the correction intensity values, device.
(13)前記記憶部は、前記スペクトルデータと基準スペクトルデータとを比較させる指示を更に格納する、(12)記載のデバイス。 (13) the storage unit further stores an instruction to compare the spectral data with reference spectral data, (12), wherein the device.
(14)データを表示する表示部を更に有し、 (14) further includes a display unit for displaying data,
前記記憶部は、前記スペクトルデータと基準スペクトルデータとを比較した結果を前記表示部に表示させる指示を更に格納する、(13)記載のデバイス。 Wherein the storage unit further stores an instruction to display the result of a comparison between the spectral data and the reference spectrum data on the display unit, (13), wherein the device.
(15)微小粒子からの蛍光を検出し、前記蛍光の強度値を補正処理した補正強度値に基づいてスペクトルデータを生成するデータ解析方法。 (15) detecting the fluorescence from the fine particle, the data analysis method of generating spectral data on the basis of the intensity values ​​of the fluorescence correction processing by the correction intensity value.
(16)前記補正処理は、前記蛍光を前記蛍光の強度値に変換する複数の受光素子のそれぞれに対応する検出波長域幅に基づいて行われる、(15)記載のデータ解析方法。 (16) the correction processing, the fluorescence is performed based on the detected wavelength band width corresponding to each of the plurality of light receiving elements for converting the intensity value of the fluorescence (15) Data analysis method according.

図2に示した構成の検出部を備えたスペクトル型フローサイトメータを試作した。 It was fabricated spectral type flow cytometer equipped with a detection section having the structure shown in FIG. 光源には、波長488nmのレーザーダイオードと波長638nmのレーザーダイオードを用いた。 The light source, using a laser diode of the laser diode and the wavelength 638nm wavelength 488 nm. また、分光素子には、複数のプリズムを組み合わせたプリズムアレイを用いた。 In addition, the spectral element, using a prism array which is a combination of a plurality of prisms. 受光素子アレイには、32チャネルのPMTアレイを使用し、波長500nmから800nmの蛍光を分光検出した。 The light receiving element array, using the PMT array of 32 channels, the fluorescence of 800nm ​​wavelength 500nm was spectrally detected.

試作した装置において、各PMTの検出波長域幅を決定したグラフを図5に示す。 In the apparatus the prototype shows a graph to determine the detection wavelength band width of each PMT in FIG. グラフ中の「×」は各チャネルのPMTの検出下限波長(L[k])を、「○」は検出上限波長(H[k])を示す。 In the graph, "×" is the lower limit of detection wavelengths of PMT of each channel (L [k]), "○" indicates a detection limit wavelength (H [k]). ここで、kは1〜32の整数を表す。 Here, k is an integer of 1 to 32. 各PMTの検出波長域幅(H[k]−L[k])は、チャネル番号が大きい長波長側のPMTほど広くなっていることが確認される。 Detection wavelength band width of each PMT (H [k] -L [k]), it is confirmed that the wider the more PMT channel number is larger the longer wavelength side. なお、波長638nm付近の蛍光を検出するチャネル21番前後のPMTでは、波長638nmの光源からのレーザー光の漏れ込みを防止する光学フィルタによって、検出される蛍光も制限されている。 In fluorescence before and after the channel number 21 to detect PMT in the vicinity of a wavelength of 638 nm, the optical filter for preventing leakage of the laser light from the light source of wavelength 638 nm, fluorescence detected is also limited.

また、各PMTの相対感度を算出したグラフを図6に示す。 Further, a graph obtained by calculating the relative sensitivity of each PMT in FIG. 相対感度は、同一強度及び同一波長の光を各PMTに照射して各チャネルで得られた強度値を、最も高い強度値が得られたチャネル32の強度値を1とした相対値により示した。 The relative sensitivity was shown by the same intensity and the intensity values ​​obtained at each channel by irradiating each PMT light of the same wavelength, the highest intensity value is the intensity value of the channel 32 obtained 1 a relative value .

初めに、F-4500型蛍光分光光度計(株式会社日立ハイテクノロジーズ)を用いて市販の蛍光ビーズの蛍光スペクトルを計測した。 First, the measurement of the fluorescence spectrum of commercially available fluorescent beads using F-4500 type fluorescence spectrophotometer (Hitachi High-Technologies Corporation). 蛍光ビーズには、Sherotech社より入手したFluorescent Particle Kit (FPK)505、FPK528、FPK549、FPK667の4種を用いた。 Fluorescent beads were used Fluorescent Particle Kit (FPK) 505, FPK528, FPK549, FPK667 4 kinds of, obtained from Sherotech Corporation. 得られたスペクトルチャート(基準スペクトルチャート)を図7に示す。 The resulting spectrum chart (reference spectrum chart) are shown in Figure 7. (A)はFPK505、(B)はFPK528、(C)はFPK549、(D)はFPK667の蛍光スペクトルを示す。 (A) is FPK505, (B) is FPK528, (C) is FPK549, shows the fluorescence spectra of (D) is FPK667. 横軸は蛍光波長(500〜800nm)、縦軸は蛍光強度値(対数表示)である。 The horizontal axis fluorescence wavelength (500 to 800 nm), the vertical axis represents the intensity of fluorescence (log scale). なお、レーザー光の励起波長は、(A)〜(C)が波長488nm、(D)が波長638nmである。 Incidentally, the excitation wavelength of the laser light, (A) ~ (C) wavelength 488 nm, is (D) is the wavelength 638 nm.

次に、試作した装置を用いて蛍光ビーズの蛍光スペクトルを計測した。 It was then measured the fluorescence spectrum of the fluorescent beads using the prototype device. 得られたスペクトルチャートを図8〜12に示す。 The resulting spectrum chart is shown in Fig 8-12. 図8及び図9はFPK505、図10はFPK528、図11はFPK549、図12はFPK667のチャートを示す。 8 and 9 FPK505, 10 FPK528, 11 FPK549, FIG. 12 shows a chart of FPK667. なお、図8では各チャネルでのイベント数をスペクトルの色によって表示した。 Incidentally, it displayed by the color of the spectrum the number of events in each 8 channels. また、図9では強度値をイベント数に基づく平均値(実線)及び平均値±標準偏差(破線)で表示している。 Also displayed a mean value based on the intensity values ​​in Figure 9 the number of events (solid line) and the mean value ± standard deviation (dashed line).

図8〜12の(A)は、横軸にチャネル番号、縦軸に各チャネルで取得された蛍光の強度値(I[k]、kは1〜32の整数を表す)の対数をとったスペクトルチャートである。 In Figure 8 to 12 (A), the channel on the horizontal axis number and the vertical axis the intensity values ​​of the fluorescence obtained at each channel (I [k], k is an integer of 1 to 32) the logarithm of it is a spectrum chart.

図8〜12の(A)のスペクトルチャートに示されるスペクトル形状は、図7に示した基準スペクトルチャートのスペクトル形状と明らかに異なっている。 Spectrum shape shown in the spectrum chart (A) of FIG. 8 to 12 are obviously different than the spectral shape of the reference spectrum chart shown in FIG. このことは、PMTで取得される蛍光の強度値(I[k])をそのまま用いた蛍光スペクトルでは、装置の光学系の非線形性及び受光素子間の感度差に起因した測定誤差によってスペクトル形状に歪みが生じていることを示している。 This is the intensity value of fluorescence acquired by PMT (I [k]) of the fluorescence spectrum was used as it was in the spectral shape by the measurement error caused by the sensitivity difference between the nonlinearity and the light receiving element of the optical system of the apparatus it is shown that distortion has occurred.

図8〜12の(B)には、横軸に検出波長、縦軸に各チャネルで取得された蛍光強度値の第一の補正値(J [k]、kは1〜32の整数を表す)の対数をとったスペクトルチャートである。 The (B) of FIG. 8 to 12, detection wavelength on the horizontal axis, the first correction value of the vertical axis the fluorescence intensity values obtained at each channel (J 1 [k], k is an integer of 1 to 32 is a spectrum chart taking the logarithm of the representative). 第一の補正強度値J [k]は、各PMTで取得された蛍光の強度値(I[k])を、図5に示したそれぞれのPMTの検出波長域幅(H[k]−L[k])で除すことにより得た。 First correction intensity value J 1 [k] is the intensity value of the fluorescence obtained at each PMT (I [k]), and the detection wavelength band width of each PMT shown in FIG. 5 (H [k] - It was obtained by dividing the L [k]). より具体的には、チャネルkのPMTで得られたn番目の強度値I[k、n]をPMTの検出波長域幅(H[k]−L[k])で除して第一の補正強度値J [k、n]を得て、J [k、n]の分布を横軸L[k]〜H[k]の範囲に描画してスペクトルチャートを作成した。 More specifically, the intensity value I [k, n] of the n-th obtained in PMT of channel k detection wavelength band width of the PMT (H [k] -L [k]) first divided by correction intensity value J 1 [k, n], which was to create a spectrum chart by drawing J 1 [k, n] the distribution of the range of the horizontal axis L [k] ~H [k] .

図8〜12の(B)のスペクトルチャートに示されるスペクトル形状は、図7に示した基準スペクトルチャートのスペクトル形状と概ね一致している。 Spectrum shape shown in the spectrum chart (B) of 8-12, are largely consistent with the spectral shape of the reference spectrum chart shown in FIG. このことは、各PMTで取得された蛍光の強度値(I[k])をそれぞれのPMTの検出波長域幅(H[k]−L[k])で除す補正処理によって、装置の光学系の非線形性に起因した測定誤差を補償して、スペクトル形状の歪みを補正できたことを示している。 This is by dividing the correction process with intensity values ​​of the fluorescence obtained at each PMT (I [k]) of the detection wavelength band width of each PMT (H [k] -L [k]), the optical device to compensate for the measurement errors due to nonlinearity of the system, indicating that can correct the distortion of spectral shape.

図8〜12の(C)には、横軸に検出波長、縦軸に各チャネルで取得された蛍光強度値の第二の補正値(J [k]、kは1〜32の整数を表す)の対数をとったスペクトルチャートである。 The (C) of 8-12, detection wavelength on the horizontal axis, the second correction value on the vertical axis the fluorescence intensity values obtained at each channel (J 2 [k], k is an integer of 1 to 32 is a spectrum chart taking the logarithm of the representative). 第二の補正強度値J [k]は、第一の補正強度値(J [k])を、図6に示したそれぞれのPMTの相対感度(S[k])で除すことにより得た。 Second correction intensity value J 2 [k] is the first correction intensity value (J 1 [k]), by dividing each of the relative sensitivity of the PMT shown in FIG. 6 (S [k]) Obtained.

図8〜12の(C)のスペクトルチャートに示されるスペクトル形状は、図7に示した基準スペクトルチャートのスペクトル形状と良く一致している。 Spectrum shape shown in the spectrum chart (C) of 8-12, in good agreement with the spectral shape of the reference spectrum chart shown in FIG. 特に、図8〜12の(B)の第一の補正値(J [k])に基づくスペクトルチャートでは、波長500nm付近の領域でPMTの感度差に起因すると思われるスペクトル形状の歪みがみられたが、図8〜12の(C)の第二の補正値(J [k])に基づくスペクトルチャートでは、この歪みが補正されている。 In particular, in the spectrum chart based on the first correction value of FIG. 8~12 (B) (J 1 [ k]), Yugamigami spectral shape that might be caused by the sensitivity difference of the PMT in the region near the wavelength of 500nm but it was, in the spectrum chart according to a second correction value (C) of FIG. 8~12 (J 2 [k]) , the distortion is corrected. このことは、第一の補正値(J [k])をそれぞれのPMTの相対感度(S[k])で除す補正処理によって、受光素子間の感度差に起因した測定誤差を補償して、スペクトル形状の歪みを補正できることが示された。 This is by dividing the correction process in the first correction value (J 1 [k]) the relative sensitivity of each PMT (S [k]), to compensate for the measurement error caused by the sensitivity difference between the light receiving elements Te, it was shown to be capable of correcting distortion of the spectral shape.

以上の結果から、本技術に係る微小粒子測定装置によれば、微小粒子について、通常の蛍光分光光度計により計測して得られる基準スペクトルチャートと良く一致するスペクトル形状を計測可能であることが分かる。 From the above results, according to the fine particle measuring apparatus according to the present technique, the fine particles, it can be seen the spectral shape can be measured that matches well with the reference spectrum chart obtained by measuring by a usual fluorescent spectrophotometer .

このため、本技術に係る微小粒子測定装置では、標識された蛍光色素の種類や量が未知のサンプルについて得られたスペクトル形状を、既知の蛍光物質のスペクトル形状を記録したデータベース(リフェレンスデータ)から検索することにより、サンプルに標識された蛍光色素の種類や量を推定することも可能となる。 Therefore, in the fine particle measuring apparatus according to the present technology, labeled database type and amount of fluorescent dye spectrum profile obtained for the unknown sample, recording the spectral shape of the known fluorescent substance (proliferator Reference data) by searching from, it is possible to estimate the kind and amount of labeled fluorescent dye in the sample.

また、本技術に係る微小粒子測定装置では、複数の蛍光色素で標識されたサンプルを解析する際のコンペンセーション計算を、従来必要とされていた各蛍光色素で単染色されたサンプルの計測を行うことなく、予め計測した各蛍光色素の蛍光スペクトルを用いて行うことも可能となる。 Further, in the fine particle measuring apparatus according to the present technology, a compensation calculation in analyzing the samples labeled with multiple fluorescent dyes, to measure the single-stained samples in each fluorescent dye which has been conventionally required without, it is possible to perform with the fluorescence spectrum of each fluorescent dye was previously measured. そして、これにより、サンプル解析のための手間や時間、試薬などのリソースを低減することができる。 And, thereby, labor and time for sample analysis, it is possible to reduce the resources such as reagents.

本技術に係る微小粒子測定装置によれば、サンプル解析の都度に標準サンプルを計測しなくとも、測定誤差を補正して正確な解析結果を得ることができる。 According to fine particle measuring apparatus according to the present technology, even without measuring the standard sample every time of the sample analysis, it is possible to obtain an accurate analysis result by correcting the measurement error. 従って、本技術に係る微小粒子測定装置は、細胞等の微小粒子の光学特性をより詳細に解析するため寄与する。 Thus, fine particle measuring apparatus according to the present technology, it contributes to analyze the optical properties of the microparticles such as cells in more detail.

A:微小粒子測定装置、P:微小粒子、10:検出部、101:光源、102:分光素子、103:受光素子アレイ、104〜106:波長選択素子、107〜110:受光素子、20:CPU、30:メモリ、40:ハードディスク(記憶部)、41:蛍光強度補正プログラム、42:リファレンスデータ、43:OS、51:マウス、52:キーボード、60:表示部、61:ディスプレイ、62:プリンタ A: fine particle measuring apparatus, P: microparticles, 10: detection unit, 101: light source, 102: spectroscopic element, 103: light-receiving element array, 104-106: wavelength selection element 107 to 110: light-receiving element, 20: CPU , 30: memory, 40: hard disk (storage unit), 41: fluorescence intensity correction program, 42: reference data, 43: OS, 51: mice, 52: keyboard, 60: display unit, 61: display, 62: printer

本技術は、 測定誤差を簡便な処理によって補正可能な情報処理装置などに関する。 BACKGROUND The present disclosure relates to such correction information processing apparatus capable measurement errors by simple processing.

そこで、本技術は、測定誤差を簡便な処理によって補正可能な技術を提供することを主な目的とする。 Accordingly, the present technology, the primary purpose is to provide a correction technique capable measurement errors by simple processing.

上記課題解決のため、本技術は、微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部から取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部、 For the above problems solved, in this technique, the intensity values of the light detection wavelength band light is obtained from the detection unit for detecting a plurality of different light receiving elements from the microparticles, detection wavelength band width of the light receiving elements in corrected, processing unit for calculating a first correction intensity value,
を少なくとも有する、情報処理装置を提供する。 At least having, an information processing apparatus.
本技術に係る情報処理装置では、前記検出部は、微小粒子からの光を分光する分光素子と、検出波長域が異なる複数の受光素子が配列された受光素子アレイと、を含むものとすることができる。 In the information processing apparatus according to the present technology, the detector shall be intended to include a spectroscopic element that splits light from fine particles, and a light receiving element array detection wavelength range is different light receiving elements arranged, the can.
また、本技術に係る情報処理装置では、前記処理部は、前記複数の受光素子により取得された光の強度値を、各受光素子が有する感度データに基づき補正処理した補正強度値を用いてスペクトルデータを生成することもできる Further, in the information processing apparatus according to the present technology, the processing unit, the plurality of intensity values of the acquired light by the light receiving element, by using the correction intensity value correction processing based on sensitivity data each light receiving element having the spectral data can also be generated.
に、本技術に係る情報処理装置では、前記処理部は、 前記第一の補正強度値を、各受光素子の感度データを用いて補正して、第二の補正強度値を算出することができる。 In a further, in the information processing apparatus according to the present technology, the processing unit, the first correction intensity value is corrected by using the sensitivity data of the light receiving elements, is possible to calculate the second correction intensity value it can.
加えて、本技術に係る情報処理装置では、前記処理部は、 一の軸を前記検出波長とし、他の一の軸を前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルチャートを生成することができる。 In addition, the information processing apparatus according to the present disclosure, wherein the processing unit, the spectrum to an axis and the detection wavelength, the other one axial first correction intensity value or the second correction intensity value it is possible to generate a chart. この場合、本技術に係る情報処理装置は、前記処理部から出力された前記スペクトルチャートを表示する表示部を更に有することもできる。 In this case, the information processing apparatus according to the present technology, it is also possible to further have a display unit for displaying the spectrum chart output from the processing unit. また 、前記処理部は、 一のパラメータを前記検出波長とし、他の一のパラメータを前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルデータを生成し、基準スペクトルデータと比較し、両者が一致しているかあるいは不一致であるかを前記表示部に出力することもできる。 Further, the processing unit, the one parameter and the detection wavelength, the other one parameter to generate the spectral data to the first correction intensity value or the second correction intensity value, the reference spectrum data comparison and, whether the or disagreement both match can be output to the display unit.
また、本技術では、微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部から取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部、 Also, in this technique, the light intensity value of the detected wavelength range of light is obtained from the detection unit for detecting a plurality of different light receiving elements from the microparticles, by correcting a detection wavelength band width of the light receiving elements, processing unit for calculating a first correction intensity value,
を少なくとも有する、情報分析装置も提供する。 At least having also provides information analyzing apparatus.
更に、本技術では、微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、 Furthermore, in this technique, a detection unit detecting a wavelength range of light from the microparticles is detected by different light receiving elements,
該検出部から取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、 Has been the intensity values of the light obtained from the detection unit, by correcting a detection wavelength band width of the light receiving element, a processing unit for calculating a first correction intensity value,
を少なくとも有する、フローサイトメータも提供する。 At least having also provides flow cytometer.
加えて、本技術では、微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子で検出し、前記複数の受光素子により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する、データ解析方法も提供する。 In addition, in this technique, to detect a plurality of light receiving elements detects wavelength range different from the light from the fine particles, it has been the intensity values of the light acquired by the plurality of light receiving elements, the detection wavelength range width of each light-receiving element in corrects, it calculates a first correction intensity values also provides data analysis method.
本技術に係るデータ解析方法では、前記複数の受光素子により取得された光の強度値を、各受光素子が有する感度データに基づき補正処理した補正強度値を用いてスペクトルデータを生成することができる。 The data analysis method according to the present technology, it is possible to generate the spectral data using the plurality of intensity values of the acquired light by the light receiving element, the correction intensity value correction processing based on sensitivity data each light receiving element has .
また、本技術に係るデータ解析方法では、前記第一の補正強度値を、各受光素子の感度データを用いて補正して、第二の補正強度値を算出することができる。 Further, in the data analysis method according to the present technique, the first correction intensity value is corrected by using the sensitivity data of the respective light receiving elements, it is possible to calculate the second correction intensity value. この場合、一の軸を前記検出波長とし、他の一の軸を前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルチャートを生成することもできる。 In this case, it is also possible to generate a spectrum chart and an axis and the detection wavelength, the other one axial first correction intensity value or the second correction intensity value. また、一のパラメータを前記検出波長とし、他の一のパラメータを前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルデータを生成し、基準スペクトルデータと比較し、両者が一致しているかあるいは不一致であるかを判定することもできる。 Also, one of the parameters and the detection wavelength, the other one the parameters to generate the spectral data to the first correction intensity value or the second correction intensity values, compared to the reference spectrum data, both one it is also possible to determine whether or disagreement is free.

本技術により、サンプル解析の都度に標準サンプルを計測しなくとも、測定誤差を補正して正確な解析結果を得ることが可能な技術が提供される。 This technology, without measuring the standard sample every time of the sample analysis, which can obtain an accurate analysis result techniques to correct the measurement error is provided.

本技術は 、以下のような構成をとることもできる。 This technology can also be configured as below.
(1)微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部から取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部、 (1) the light intensity value of the detected wavelength range of light is obtained from the detection unit for detecting a plurality of different light receiving elements from the microparticles, by correcting a detection wavelength band width of the light receiving element, the first processing unit for calculating a correction intensity values,
を少なくとも有する、情報処理装置。 Having at least, the information processing apparatus.
(2)前記検出部は、 微小粒子からの光を分光する分光素子と、検出波長域が異なる複数の受光素子が配列された受光素子アレイと、を含む 、(1) 記載の情報処理装置。 (2) the detection unit includes a spectroscopic element that splits light from fine particles, and a light receiving element array detection wavelength range is different light receiving elements is an array, the information processing apparatus according to (1) .
(3) 前記処理部は、前記複数の受光素子により取得された光の強度値を、各受光素子が有する感度データに基づき補正処理した補正強度値を用いてスペクトルデータを生成する 、(1)又は(2)に記載の情報処理装置。 (3) the processing unit generates spectral data using the plurality of intensity values of the acquired light by the light receiving element, the correction intensity value correction processing based on sensitivity data each light receiving element having, (1) or the information processing apparatus according to (2).
(4)前記処理部は、 前記第一の補正強度値を、各受光素子の感度データを用いて補正して、第二の補正強度値を算出する、 (2)に記載の情報処理装置。 (4) the processing unit, said first correction intensity value is corrected by using the sensitivity data of the light receiving elements, and calculates the second correction intensity value, the information processing apparatus according to (2).
(5)前記処理部は、 一の軸を前記検出波長とし、他の一の軸を前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルチャートを生成する、(2)又は(4)に記載の情報処理装置。 (5) the processing unit, an axis and the detection wavelength, to produce a spectrum chart and the other one axis the first correction intensity value or the second correction intensity value, (2) or the information processing apparatus according to (4).
(6)前記処理部から出力された前記スペクトルチャートを表示する表示部を更に有する、(5)に記載の情報処理装置。 (6) further comprising a display unit for displaying the spectrum chart output from the processing unit, the information processing apparatus according to (5).
(7) 前記処理部は、一のパラメータを前記検出波長とし、他の一のパラメータを前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルデータを生成し、基準スペクトルデータと比較し、両者が一致しているかあるいは不一致であるかを前記表示部に出力する 、(6) 記載の情報処理装置。 (7) wherein the processing unit, the one parameter and the detection wavelength, the other one the parameters to generate the spectral data to the first correction intensity value or the second correction intensity value, and the reference spectral data comparison, and outputs whether the or disagreement therebetween coincides with the display unit, the information processing apparatus according to (6).
(8)微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部から取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部、 (8) the light intensity value of the detected wavelength range of light is obtained from the detection unit for detecting a plurality of different light receiving elements from the microparticles, by correcting a detection wavelength band width of the light receiving element, the first processing unit for calculating a correction intensity values,
を少なくとも有する、情報分析装置 Having at least, the information analyzer.
(9) 微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、 (9) a detection unit which detects a wavelength range of light from the microparticles is detected by different light receiving elements,
該検出部から取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、 Has been the intensity values of the light obtained from the detection unit, by correcting a detection wavelength band width of the light receiving element, a processing unit for calculating a first correction intensity value,
を少なくとも有する、フローサイトメータ At least a flow cytometer.
(10) 微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子で検出し、前記複数の受光素子により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する、データ解析方法 (10) detected by the plurality of light receiving elements detects wavelength range different from the light from the fine particles, it has been the intensity values of the light acquired by the plurality of light receiving elements, and correcting a detection wavelength band width of the light receiving elements , and calculates the first correction intensity value, the data analysis method.
(11) 前記複数の受光素子により取得された光の強度値を、各受光素子が有する感度データに基づき補正処理した補正強度値を用いてスペクトルデータを生成する 、(10) 記載のデータ解析方法 (11) the intensity values of the acquired light by the plurality of light receiving elements, and generates the spectral data using the correction processing correction intensity value based on the sensitivity data by each light receiving element has, data analysis according to (10) method.
(12) 前記第一の補正強度値を、各受光素子の感度データを用いて補正して、第二の補正強度値を算出する、(10)に記載のデータ解析方法 (12) said first correction intensity value is corrected by using the sensitivity data of the light receiving elements, and calculates the second correction intensity value, the data analysis method according to (10).
(13) 一の軸を前記検出波長とし、他の一の軸を前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルチャートを生成する、(12) 記載のデータ解析方法 (13) an axial and the detection wavelength, the other one axis to produce said first correction intensity value or spectrum chart and said second correction intensity value, the method data analysis according to (12) .
(14) 一のパラメータを前記検出波長とし、他の一のパラメータを前記第一の補正強度値又は前記第二の補正強度値とするスペクトルデータを生成し、基準スペクトルデータと比較し、両者が一致しているかあるいは不一致であるかを判定する 、(13) 記載のデータ解析方法 (14) one of the parameters and the detection wavelength, the other one the parameters to generate the spectral data to the first correction intensity value or the second correction intensity values, compared to the reference spectrum data, both determines whether the match to have or inconsistency, the data analysis method according to (13).

本技術によれば、サンプル解析の都度に標準サンプルを計測しなくとも、測定誤差を補正して正確な解析結果を得ることができる。 By the present technology lever, without measuring the standard sample every time of the sample analysis, it is possible to obtain an accurate analysis result by correcting the measurement error. 従って、本技術は 、細胞等の微小粒子の光学特性をより詳細に解析するため寄与する。 Accordingly, the present technology contributes to analyze the optical properties of the microparticles such as cells in more detail.


Claims (1)

  1. 微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、該検出部により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、を有する微小粒子測定装置。 A detection unit that detects the wavelength range of light is detected by a different plurality of light receiving elements from the microparticles, the light intensity values ​​of acquired by the detecting unit, by correcting a detection wavelength band width of the light receiving elements, the fine particle measuring apparatus having a processing unit for calculating one correction intensity value.
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Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1130552A (en) * 1997-07-10 1999-02-02 Otsuka Denshi Kk Method for correcting stray light
JP2001311664A (en) * 2000-04-28 2001-11-09 Minolta Co Ltd Photometric device
JP2004191244A (en) * 2002-12-12 2004-07-08 Minolta Co Ltd Spectrograph and correction method
JP2006153691A (en) * 2004-11-30 2006-06-15 Nikon Corp Spectroscope, microscopic spectroscopy system equipped with same and data processing program
JP2007046947A (en) * 2005-08-08 2007-02-22 Bay Bioscience Kk Flowsight meter and flowsightmetry method
JP2008128675A (en) * 2006-11-16 2008-06-05 Olympus Corp Spectroscopic device
US20080285036A1 (en) * 1998-12-23 2008-11-20 Molecular Devices Corporation Determination of Light Absorption Pathlength in a Vertical-Beam Photometer
JP2009025220A (en) * 2007-07-23 2009-02-05 Yokogawa Electric Corp Optical spectrum analyzer and peak detection technique of optical spectrum analyzer
JP2009109218A (en) * 2007-10-26 2009-05-21 Sony Corp Optical measuring method and optical measuring device of fine particle
JP2010008397A (en) * 2008-05-29 2010-01-14 Sony Corp Optical measuring instrument, and wavelength calibration method of optical detector and optical measuring method
JP2012021863A (en) * 2010-07-14 2012-02-02 Hitachi High-Technologies Corp Analyzer and analysis method
JP2013061244A (en) * 2011-09-13 2013-04-04 Sony Corp Microparticle measuring device
JP2015025824A (en) * 2014-11-07 2015-02-05 ソニー株式会社 Microparticle measuring device

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1130552A (en) * 1997-07-10 1999-02-02 Otsuka Denshi Kk Method for correcting stray light
US20080285036A1 (en) * 1998-12-23 2008-11-20 Molecular Devices Corporation Determination of Light Absorption Pathlength in a Vertical-Beam Photometer
JP2001311664A (en) * 2000-04-28 2001-11-09 Minolta Co Ltd Photometric device
JP2004191244A (en) * 2002-12-12 2004-07-08 Minolta Co Ltd Spectrograph and correction method
JP2006153691A (en) * 2004-11-30 2006-06-15 Nikon Corp Spectroscope, microscopic spectroscopy system equipped with same and data processing program
JP2007046947A (en) * 2005-08-08 2007-02-22 Bay Bioscience Kk Flowsight meter and flowsightmetry method
JP2008128675A (en) * 2006-11-16 2008-06-05 Olympus Corp Spectroscopic device
JP2009025220A (en) * 2007-07-23 2009-02-05 Yokogawa Electric Corp Optical spectrum analyzer and peak detection technique of optical spectrum analyzer
JP2009109218A (en) * 2007-10-26 2009-05-21 Sony Corp Optical measuring method and optical measuring device of fine particle
JP2010008397A (en) * 2008-05-29 2010-01-14 Sony Corp Optical measuring instrument, and wavelength calibration method of optical detector and optical measuring method
JP2012021863A (en) * 2010-07-14 2012-02-02 Hitachi High-Technologies Corp Analyzer and analysis method
JP2013061244A (en) * 2011-09-13 2013-04-04 Sony Corp Microparticle measuring device
JP5772425B2 (en) * 2011-09-13 2015-09-02 ソニー株式会社 Fine particle measuring apparatus
JP2015025824A (en) * 2014-11-07 2015-02-05 ソニー株式会社 Microparticle measuring device

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