JP2017015421A - 外観検査装置および外観検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】この外観検査装置は、検査位置P2を含む水平面よりも上側の空間において、対象物を取り囲む複数の光照射部131および複数のカメラ132と、検査位置P2へ対象物を搬入する搬入機構と、検査位置P2から対象物を搬出する搬出機構と、を有する。搬入機構および搬出機構は、いずれも、検査位置P2より低い位置P1,P3と検査位置P2との間で、対象物を搬送する。また、搬入機構および搬出機構の少なくとも一方は、対象物を、鉛直方向に対して斜めに搬送する。このようにすれば、光照射部131およびカメラ132の位置を変化させることなく、対象物を搬入および搬出できる。また、対象物の搬入経路91と搬出経路92とが異なるため、複数の対象物を、短い時間間隔で搬送できる。
【選択図】図7
Description
図1は、本発明の一実施形態に係る外観検査装置1の全体を示した図である。この外観検査装置1は、立体的な形状を有する検査対象物9を多方向から撮影し、得られた多数の画像に基づいて、検査対象物の外観を検査する装置である。外観検査装置1は、例えば、鍛造や鋳造により形成される金属部品を、検査対象物9として検査する。また、この外観検査装置1では、複数の検査対象物9を、順次に搬送しつつ検査する。したがって、稼働中の外観検査装置1内には、複数の検査対象物9が同時に存在し、各検査対象物9に対して、搬送や検査が並行して行われる。
第1検査ユニット10は、検査対象物9の第1面(例えば表面)を検査するための処理ユニットである。図1に示すように、第1検査ユニット10は、第1搬入機構11、第1保持機構12、第1検査部13、および第1搬出機構14を有する。
姿勢変更機構20は、第1検査ユニット10と第2検査ユニット30との間において、検査対象物9の姿勢を変更する機構である。図1に示すように、姿勢変更機構20は、検査対象物9を把持する反転アーム21と、反転アーム21を動作させるアーム駆動機構22とを有する。検査対象物9が第1受け渡し位置P3まで下降すると、反転アーム21は、搬出台81から検査対象物9を受け取る。そして、アーム駆動機構22が、反転アーム21を、水平面内で180°回転させるとともに、反転アーム21の軸芯を中心として検査対象物9の姿勢を180°を反転させる。これにより、検査対象物9が、その第2面(例えば裏面)を上方へ向けた状態で、第2受け渡し位置P4に配置される。このとき、第2受け渡し位置P4には、第2搬入機構31の搬入台が待機している。反転アーム21は、第2搬入機構31の当該搬入台上に、検査対象物9を載置する。
第2検査ユニット30は、検査対象物9の第2面を検査するための処理ユニットである。図1に示すように、第2検査ユニット30は、第2搬入機構31、第2保持機構32、第2検査部33、および第2搬出機構34を有する。
分別排出機構40は、検査後の検査対象物9を、良品と不良品とに分別しながら排出する機構である。図1に示すように、分別排出機構40は、排出アーム41、排出アーム41を動作させるアーム駆動機構42、および排出コンベア43を有する。検査対象物9が第3受け渡し位置P6まで下降すると、排出アーム41は、第2搬出機構34の搬出台から検査対象物9を受け取る。続いて、アーム駆動機構42が、排出アーム41を、排出コンベア43の上方まで移動させる。そして、排出アーム41による検査対象物9の把持を解除する。これにより、排出アーム41から排出コンベア43に、検査対象物9が受け渡される。
制御部50は、外観検査装置1の各部を動作制御するための手段である。図1中に概念的に示したように、制御部50は、CPU等の演算処理部51、RAM等のメモリ52、およびハードディスクドライブ等の記憶部53を有するコンピュータにより構成される。記憶部53内には、検査対象物9の搬送および検査を実行するためのコンピュータプログラムPが、インストールされている。
上記の通り、この外観検査装置1では、第1検査ユニット10で検査対象物9の第1面(例えば表面)を検査した後、第1検査ユニット10から搬出された検査対象物9の姿勢を反転させ、その後、第2検査ユニット30で検査対象物9の第2面(例えば裏面)を検査する。これにより、検査対象物9の広い面(例えば、表面および裏面の全体)を検査できる。また、この外観検査装置1では、第1面の検査、姿勢の変更、および第2面の検査を、それぞれ別の位置で並行に行うことができる。これにより、複数の検査対象物9の搬送間隔を、短くすることができる。
以上、本発明の主たる実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではない。
9 検査対象物
10 第1検査ユニット
11 第1搬入機構
12 第1保持機構
13 第1検査部
14 第1搬出機構
20 姿勢変更機構
21 反転アーム
22 アーム駆動機構
30 第2検査ユニット
31 第2搬入機構
32 第2保持機構
33 第2検査部
34 第2搬出機構
40 分別排出機構
41 排出アーム
42 アーム駆動機構
43 排出コンベア
50 制御部
60 投入口
61 搬入台
62 搬入台昇降機構
63 搬入台移動機構
71 保持部材
72 接離機構
81 搬出台
82 搬出台移動機構
91 搬入経路
92 搬出経路
131 光照射部
132 カメラ
331 光照射部
332 カメラ
P1 搬入開始位置
P2 第1検査位置
P3 第1受け渡し位置
P4 第2受け渡し位置
P5 第2検査位置
P6 第3受け渡し位置
Claims (13)
- 対象物の外観を検査する外観検査装置であって、
検査位置を含む水平面よりも上側の空間において、対象物を取り囲む複数の光照射部および複数のカメラと、
前記検査位置へ対象物を搬入する搬入機構と、
前記搬入機構とは異なる経路で、前記検査位置から対象物を搬出する搬出機構と、
を有し、
前記搬入機構および前記搬出機構は、いずれも、前記検査位置よりも低い位置と前記検査位置との間で、対象物を搬送し、
前記搬入機構および前記搬出機構の少なくとも一方は、対象物を、鉛直方向に対して斜めに搬送する外観検査装置。 - 請求項1に記載の外観検査装置であって、
前記搬入機構は、前記検査位置よりも低い位置から前記検査位置へ、対象物を斜め上向きに搬送する外観検査装置。 - 請求項2に記載の外観検査装置であって、
前記搬出機構は、前記検査位置から前記検査位置よりも低い位置へ、対象物を鉛直下向きに搬送する外観検査装置。 - 請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
前記搬入機構と前記搬出機構とは、個別に制御可能な別機構である外観検査装置。 - 請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
前記搬入機構および前記搬出機構の動作を制御する制御部をさらに有し、
前記制御部は、少なくとも一部の時間において、前記搬入機構と前記搬出機構とを同時に動作させる外観検査装置。 - 請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
前記搬入機構は、
対象物を載置する搬入台と、
前記搬入台を搬入経路に沿って移動させる搬入台移動機構と、
を有し、
前記搬出機構は、
対象物を載置する搬出台と、
前記搬出台を搬出経路に沿って移動させる搬出台移動機構と、
を有する外観検査装置。 - 請求項6に記載の外観検査装置であって、
前記搬入台移動機構は、前記搬入台を、直線状に移動させ、
前記搬出台移動機構は、前記搬出台を、直線状に移動させる外観検査装置。 - 請求項6または請求項7に記載の外観検査装置であって、
前記搬入台移動機構は、前記搬入台を、前記搬入経路に沿って往復移動させ、
前記搬出台移動機構は、前記搬出台を、前記搬出経路に沿って往復移動させる外観検査装置。 - 請求項6から請求項8までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
前記搬入機構は、
前記搬入台の高さを変更する昇降機構
をさらに有し、
前記搬入台移動機構は、前記搬入台および前記昇降機構を、一体として移動させる外観検査装置。 - 請求項6から請求項9までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
前記搬入台および前記搬出台とは別に、前記検査位置において、検査中の対象物を保持する保持機構をさらに有する外観検査装置。 - 請求項1から請求項10までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
前記搬入機構および前記搬出機構の前記一方は、対象物を、水平面に対して15°以上かつ45°以下の角度で搬送する外観検査装置。 - 請求項1から請求項11までのいずれか1項に記載の外観検査装置であって、
対象物の第1面を検査する第1検査ユニットと、
対象物の第2面を検査する第2検査ユニットと、
前記第1検査ユニットと前記第2検査ユニットとの間において、対象物の姿勢を変更する姿勢変更機構と、
を備え、
前記第1検査ユニットおよび前記第2検査ユニットが、それぞれ、前記複数の光照射部、前記複数のカメラ、前記搬入機構、および前記搬出機構を有する外観検査装置。 - 対象物の外観を検査する外観検査方法であって、
a)検査位置へ対象物を搬入する工程と、
b)検査位置に配置された対象物を、前記検査位置を含む水平面よりも上側の空間に対象物を取り囲むように配置された複数の光照射部および複数のカメラを用いて検査する工程と、
c)前記工程a)とは異なる経路で、前記検査位置から対象物を搬出する工程と、
を有し、
前記工程a)および前記工程c)では、いずれも、前記検査位置よりも低い位置と前記検査位置との間で、対象物を搬送し、
前記工程a)および前記工程c)の少なくとも一方では、対象物を、鉛直方向に対して斜めに搬送する外観検査方法。
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