JP2016169136A - Production method of glass substrate - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 338
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 320
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 135
- 238000003280 down draw process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 41
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 17
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 13
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 5
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 description 4
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000007500 overflow downdraw method Methods 0.000 description 3
- UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N Iron oxide Chemical compound [Fe]=O UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 238000006124 Pilkington process Methods 0.000 description 1
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
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- Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
Abstract
Description
本発明は、ガラス基板の熱処理工程を含むガラス基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate including a heat treatment step for the glass substrate.
近年、ディスプレイパネルの分野では、画質の向上のために画素の高精細化が進展している。この高精細化の進展に伴って、ディスプレイパネルに用いられるガラス基板にも寸法精度が高いことが望まれている。例えば、ディスプレイパネルの製造工程中に、ガラス基板が高温で熱処理されても寸法が変化しにくいように、熱収縮率の小さいガラス基板が求められている。 In recent years, in the field of display panels, higher definition of pixels has progressed in order to improve image quality. With the progress of high definition, it is desired that a glass substrate used for a display panel has high dimensional accuracy. For example, a glass substrate having a low thermal shrinkage rate is required so that the dimensions of the glass substrate are not easily changed even during heat treatment at a high temperature during the manufacturing process of the display panel.
一般に、ガラス基板の熱収縮率は、ガラスの歪点が高いほど小さくなる。このため、特許文献1(特表2014−503465)に開示されているように、熱収縮率を抑制するために、歪点が高くなるようにガラス組成を変更する方法が知られている。しかし、歪点が高くなるようにガラス組成を変更すると、熔解温度および成形温度が高くなる傾向にあり、ガラス基板の製造が難しくなるという問題がある。 In general, the thermal shrinkage rate of a glass substrate decreases as the strain point of the glass increases. For this reason, as disclosed in Patent Document 1 (Japanese Translation of PCT International Publication No. 2014-503465), a method of changing the glass composition so as to increase the strain point is known in order to suppress the heat shrinkage rate. However, if the glass composition is changed so as to increase the strain point, the melting temperature and the molding temperature tend to be high, which makes it difficult to produce the glass substrate.
ガラス基板製造の困難性を招くことなく、ガラス基板の熱収縮率を低減させる方法として、フュージョン法等により成形したシートガラスを切断して得られたガラス基板をオフラインにおいて熱処理(オフラインアニール処理)する方法がある。オフラインアニール処理方法として、例えば、ガラス基板を吊り下げた状態で1枚ずつ搬送しながら、高温の雰囲気にガラス基板を曝すことでガラス基板を熱処理する方法が用いられる。この方法では、複数のガラス基板を連続して搬送することで、ガラス基板を効率的に熱処理することができる。しかし、ガラス基板を吊り下げた状態で搬送する際に、隣り合うガラス基板の間隔が小さいと、搬送中にガラス基板同士が接触して、ガラス基板が破損するおそれがある。 As a method for reducing the thermal shrinkage rate of the glass substrate without incurring the difficulty of manufacturing the glass substrate, the glass substrate obtained by cutting the sheet glass formed by the fusion method or the like is heat-treated offline (off-line annealing treatment). There is a way. As an off-line annealing method, for example, a method of heat-treating the glass substrate by exposing the glass substrate to a high temperature atmosphere while carrying the glass substrate one by one while being suspended is used. In this method, the glass substrate can be efficiently heat-treated by continuously conveying the plurality of glass substrates. However, when the glass substrates are transported in a suspended state, if the distance between adjacent glass substrates is small, the glass substrates may come into contact with each other during the transportation, and the glass substrates may be damaged.
そこで、本発明は、ガラス基板の生産効率を高めつつ、ガラス基板の破損を低減することができるガラス基板の製造方法を提供することを目的とする。 Then, an object of this invention is to provide the manufacturing method of the glass substrate which can reduce the failure | damage of a glass substrate, improving the production efficiency of a glass substrate.
本発明に係るガラス基板の製造方法は、ダウンドロー法により成形されたガラス基板の熱処理工程を含む。熱処理工程では、ガラス基板の上端部を把持部材で把持することでガラス基板を吊り下げ、ガラス基板を搬送方向に沿って搬送しながら、ガラス基板を熱処理する。熱処理工程では、ガラス基板は、搬送方向に沿って突出するように湾曲している主表面を有する。 The manufacturing method of the glass substrate which concerns on this invention includes the heat processing process of the glass substrate shape | molded by the down draw method. In the heat treatment step, the glass substrate is suspended by holding the upper end portion of the glass substrate with a holding member, and the glass substrate is heat-treated while being transported along the transport direction. In the heat treatment step, the glass substrate has a main surface that is curved so as to protrude along the transport direction.
また、把持部材は、ガラス基板の主表面が平坦となるようにガラス基板の上端部を保持する第1状態と、ガラス基板の主表面が湾曲するようにガラス基板の上端部を保持する第2状態との間を切り替え可能に構成されていることが好ましい。 The holding member has a first state in which the upper end portion of the glass substrate is held so that the main surface of the glass substrate is flat, and a second state in which the upper end portion of the glass substrate is held so that the main surface of the glass substrate is curved. It is preferable to be configured to be able to switch between states.
また、熱処理工程では、ガラス基板は、ガラス基板の上辺の曲率半径が上辺の寸法の3倍〜15倍となるように湾曲している主表面を有することが好ましい。 In the heat treatment step, the glass substrate preferably has a main surface that is curved so that the radius of curvature of the upper side of the glass substrate is 3 to 15 times the dimension of the upper side.
また、熱処理工程では、複数のガラス基板が、10mm〜100mmの間隔を空けて搬送されることが好ましい。 In the heat treatment step, it is preferable that the plurality of glass substrates be transported with an interval of 10 mm to 100 mm.
また、熱処理工程では、隣り合うガラス基板の間の空間に熱処理用流体を水平方向に通過させることで、ガラス基板を熱処理することが好ましい。 In the heat treatment step, it is preferable to heat treat the glass substrate by passing a heat treatment fluid in a horizontal direction through a space between adjacent glass substrates.
また、熱処理工程では、ガラス基板は、鉛直方向に沿って視た場合に非対称に湾曲している主表面を有することが好ましい。 In the heat treatment step, the glass substrate preferably has a main surface that is asymmetrically curved when viewed along the vertical direction.
また、熱処理工程では、ガラス基板は、ガラス基板の下端部が支持されながら搬送されることが好ましい。 In the heat treatment step, the glass substrate is preferably transported while the lower end portion of the glass substrate is supported.
また、本発明に係るガラス基板の製造方法は、熱処理工程の前に、ガラス基板を熱処理工程で熱処理するか否かを判定する工程をさらに含むことが好ましい。 Moreover, it is preferable that the manufacturing method of the glass substrate which concerns on this invention further includes the process of determining whether a glass substrate is heat-processed by a heat treatment process before a heat treatment process.
本発明に係るガラス基板の製造方法は、ガラス基板の生産効率を高めつつ、ガラス基板の破損を低減することができる。 The manufacturing method of the glass substrate which concerns on this invention can reduce the failure | damage of a glass substrate, improving the production efficiency of a glass substrate.
(1)ガラス基板の製造方法
以下、本発明のガラス基板の製造方法の実施形態について説明する。図1は、本実施形態のガラス基板の製造方法の流れを示すフローチャートの例である。製造されるガラス基板は、特に制限されないが、縦寸法及び横寸法のそれぞれが500mm〜3500mmであり、厚さが0.1mm〜1.1mmである極めて薄い矩形形状の板であることが好ましい。
(1) Manufacturing method of glass substrate Hereinafter, embodiment of the manufacturing method of the glass substrate of this invention is described. FIG. 1 is an example of a flowchart showing the flow of the glass substrate manufacturing method of the present embodiment. The glass substrate to be produced is not particularly limited, but is preferably a very thin rectangular plate having a vertical dimension and a horizontal dimension of 500 mm to 3500 mm and a thickness of 0.1 mm to 1.1 mm.
最初に、熔融されたガラスから、フュージョン法(オーバーフローダウンドロー法)あるいはフロート法等の公知の方法により、所定の厚さの帯状ガラスであるシートガラスが成形される(ステップS1)。次に、成形されたシートガラスを温度管理しながら冷却する徐冷工程が行われる。シートガラスは、取り出し可能な温度(例えば、300℃から室温までの温度、好ましくは100℃未満の温度)まで冷却された後、所定の長さの素板であるガラス基板に採板される(ステップS2)。採板により得られたガラス基板は、ガラス基板を保護するためのシート体と交互に積層されて、ガラス基板の積層体が作製される(ステップS3)。次に、このガラス基板の積層体から、ガラス基板が一枚ずつ取り出され、吊り下げられた状態で搬送される。そして、搬送されるガラス基板に対して、熱処理が行われる(ステップS4)。ステップS4の処理は、オフラインアニール処理である。オフラインアニール処理の詳細については後述する。 First, a sheet glass which is a strip glass having a predetermined thickness is formed from the melted glass by a known method such as a fusion method (overflow downdraw method) or a float method (step S1). Next, a slow cooling process is performed in which the formed sheet glass is cooled while temperature control is performed. The sheet glass is cooled to a temperature at which it can be taken out (for example, a temperature from 300 ° C. to room temperature, preferably a temperature of less than 100 ° C.), and then is taken on a glass substrate that is a base plate of a predetermined length ( Step S2). The glass substrate obtained by the sampling is alternately laminated with a sheet body for protecting the glass substrate, and a laminated body of the glass substrate is produced (step S3). Next, the glass substrates are taken out one by one from the laminated body of glass substrates and conveyed in a suspended state. And heat processing is performed with respect to the glass substrate conveyed (step S4). The process of step S4 is an offline annealing process. Details of the offline annealing process will be described later.
熱処理されたガラス基板は、切断工程において製品サイズに切断され、ガラス基板が得られる(ステップS5)。得られたガラス基板は、端面の研削、研磨およびコーナーカットを含む端面加工が行われた後、洗浄される(ステップS6)。洗浄されたガラス基板は、キズ、塵、汚れあるいは光学欠陥が無いか、光学的検査が行われる(ステップS7)。検査により品質の適合したガラス基板は、ガラス基板を保護する紙と交互に積層された積層体としてパレットに積載されて梱包される(ステップS8)。梱包されたガラス基板は納入先業者に出荷される。 The heat-treated glass substrate is cut into a product size in a cutting process, and a glass substrate is obtained (step S5). The obtained glass substrate is cleaned after end face processing including end face grinding, polishing, and corner cutting (step S6). The cleaned glass substrate is optically inspected for scratches, dust, dirt, or optical defects (step S7). A glass substrate having a quality suitable by inspection is loaded on a pallet and packed as a laminated body alternately laminated with paper protecting the glass substrate (step S8). The packed glass substrate is shipped to a supplier.
このようなガラス基板として、以下のガラス組成のガラス基板が例示される。つまり、以下のガラス組成のガラス基板が製造されるように、熔融ガラスの原料が調合される。
SiO2:55モル%〜80モル%、
Al2O3:8モル%〜20モル%、
B2O3:0モル%〜12モル%、
RO:0モル%〜17モル%(ROはMgO、CaO、SrO及びBaOの合量)。
As such a glass substrate, the glass substrate of the following glass compositions is illustrated. That is, the raw material of molten glass is prepared so that the glass substrate of the following glass compositions is manufactured.
SiO 2 : 55 mol% to 80 mol%,
Al 2 O 3 : 8 mol% to 20 mol%,
B 2 O 3 : 0 mol% to 12 mol%
RO: 0 mol% to 17 mol% (RO is the total amount of MgO, CaO, SrO and BaO).
SiO2は、60モル%〜75モル%、さらには、63モル%〜72モル%であることが、熱収縮率を小さくするという観点から好ましい。 SiO 2 is preferably 60 mol% to 75 mol%, and more preferably 63 mol% to 72 mol% from the viewpoint of reducing the thermal shrinkage.
ROは、MgOが0モル%〜10モル%、CaOが0モル%〜10モル%、SrOが0モル%〜10モル%、BaOが0モル%〜10モル%であることが好ましい。 RO is preferably 0 mol% to 10 mol% MgO, 0 mol% to 10 mol% CaO, 0 mol% to 10 mol% SrO, and 0 mol% to 10 mol% BaO.
また、ガラス組成は、SiO2、Al2O3、B2O3及びROを少なくとも含み、モル比((2×SiO2)+Al2O3)/((2×B2O3)+RO)が4.5以上であってもよい。また、ガラス組成は、MgO、CaO、SrO及びBaOの少なくともいずれかを含み、モル比(BaO+SrO)/ROが0.1以上であることが好ましい。 The glass composition contains at least SiO 2 , Al 2 O 3 , B 2 O 3 and RO, and has a molar ratio ((2 × SiO 2 ) + Al 2 O 3 ) / ((2 × B 2 O 3 ) + RO). May be 4.5 or more. The glass composition preferably contains at least one of MgO, CaO, SrO and BaO, and the molar ratio (BaO + SrO) / RO is preferably 0.1 or more.
また、モル%表示のB2O3の含有率の2倍とモル%表示のROの含有率との合計は、30モル%以下、好ましくは10モル%〜30モル%であることが好ましい。 Further, the sum of the content of double and mol% of RO for the content of mol% of B 2 O 3 is 30 mol% or less, it is preferred that preferably 10 mol% to 30 mol%.
また、上記ガラス組成のガラス基板におけるアルカリ金属酸化物の含有率は、0モル%以上0.4モル%以下であってもよい。 Moreover, 0 mol% or more and 0.4 mol% or less may be sufficient as the content rate of the alkali metal oxide in the glass substrate of the said glass composition.
また、ガラス中で価数変動する金属の酸化物(酸化スズ、酸化鉄)を合計で0.05モル%〜1.5モル%含み、As2O3、Sb2O3及びPbOを実質的に含まない条件は、必須ではなく任意である。 Further, it contains 0.05 mol% to 1.5 mol% in total of metal oxides (tin oxide, iron oxide) whose valence fluctuates in glass, and substantially contains As 2 O 3 , Sb 2 O 3 and PbO. Conditions not included in are not essential but optional.
(2)オフラインアニール処理の方法
次に、オフラインアニール処理について説明する。オフラインアニール処理は、例えば、ダウンドロー法により成形されたシートガラスを温度管理された状態で冷却する第1徐冷工程を経て得られたガラス基板を、再度加熱し、所定の温度まで昇温させた後、再度冷却する第2徐冷工程を行う処理である。図1のステップS3では、複数のガラス基板11と複数のシート体とを交互に1枚ずつ積層してガラス基板11の積層体が作製される。シート体としては、再生紙またはパルプ紙等が用いられる。
(2) Method of offline annealing treatment Next, offline annealing treatment will be described. In the offline annealing process, for example, the glass substrate obtained through the first slow cooling process in which the sheet glass formed by the downdraw method is cooled in a temperature-controlled state is heated again to a predetermined temperature. Then, the second slow cooling process of cooling again is performed. In step S3 of FIG. 1, a plurality of
本実施形態では、積層体から1枚ずつ取り出したガラス基板11を搬送しながら加熱する枚葉方式の熱処理が行われる。枚葉方式の熱処理を行う熱処理装置101について説明する。図2は、熱処理装置101を上から見た概略図である。図3は、熱処理装置101を横から見た概略図である。なお、熱処理装置101によって熱処理されるガラス基板11は、第1徐冷工程を経て得られたガラス基板11であり、熱処理装置101によって熱処理される前のガラス基板11の温度は、300℃以下であり、好ましくは100℃以下である。
In the present embodiment, single-wafer heat treatment is performed in which the
熱処理装置101は、主として、熱処理炉40と搬送装置102とを備える。熱処理炉40は、ガラス基板11の熱処理が行われる熱処理空間40aを内部に有する。搬送装置102は、ガラス基板11を吊り下げながら搬送する。搬送装置102は、熱処理炉40内の熱処理空間40aを通過するように設置されている。すなわち、ガラス基板11は、搬送装置102によって搬送される過程で、熱処理空間40aを通過して熱処理される。
The
搬送装置102は、略直立状態に吊り下げられたガラス基板11を水平方向に搬送する。搬送装置102は、把持部材112によってガラス基板11の上端部11bを複数箇所で把持しながらガラス基板11を搬送する。把持部材112は、上端部11bを挟み込んで把持するための複数のクリップを有する。把持部材112は、ガイドレール111によって、所定の方向に沿って移動する。把持部材112が移動することにより、把持部材112によって吊り下げられているガラス基板11が所定の搬送方向に沿って搬送される。
The
図4は、把持部材112の3つのクリップ112a,112b,112cによって吊り下げられているガラス基板11の外観図である。図4に示されるように、吊り下げられた状態で搬送されるガラス基板11は、湾曲している主表面11aを有している。図4では、3つのクリップ112a,112b,112cが示されているが、把持部材112のクリップの数は、ガラス基板11の主表面11aを湾曲させた状態で吊り下げられるのであれば、任意の数でもよい。ガラス基板11の主表面11aを安定的に湾曲させる観点からは、把持部材112のクリップの数は、3以上が好ましい。
FIG. 4 is an external view of the
図4に示されるように、把持部材112は、ガラス基板11の上端部11bのみを把持している。そのため、ガラス基板11の湾曲の程度は、上端部11bが最も大きく、ガラス基板11の上端から下端に行くに従って小さくなる。ガラス基板11の下端は、ほとんど直線に近い形状を有している。
As shown in FIG. 4, the gripping
図5は、3つのクリップ112a,112b,112cを有する把持部材112によって吊り下げられたガラス基板11の上面図である。図5では、ガラス基板11の上辺11cが太線で示され、ガラス基板11の下辺11dが細線で示されている。また、図5では、クリップ112a,112b,112cの位置が点線の円で示され、ガラス基板11の搬送方向が矢印で示されている。図5では、ガラス基板11の湾曲が実際よりも強調して描かれている。クリップ112bは、ガラス基板11の上辺11cの中心において上端部11bを把持している。クリップ112a,112cは、ガラス基板11の上辺11cの両端部近傍において上端部11bを把持している。クリップ112aとクリップ112bとの間の間隔は、クリップ112cとクリップ112bとの間の間隔と等しい。図5に示されるように、ガラス基板11の上辺11cの形状は、クリップ112bが位置する上辺11cの中心に対して対称である。
FIG. 5 is a top view of the
また、ガラス基板11の搬送方向は、湾曲している主表面11aが突出している方向に平行である。すなわち、ガラス基板11の搬送方向は、上辺11cの中心における主表面11aの法線に平行である。本実施形態では、ガラス基板11は、図5に示されるように、湾曲している主表面11aが凸となっている側に向かって搬送される。
Moreover, the conveyance direction of the
次に、把持部材112によってガラス基板11を湾曲させた状態で吊り下げる工程について説明する。把持部材112は、第1状態と第2状態との間を切り替え可能なように構成されている。図5は、第2状態の把持部材112によって把持されているガラス基板11の上面図である。図6は、第1状態の把持部材112によって把持されているガラス基板11の上面図である。図6では、ガラス基板11の上辺11cが太線で示され、クリップ112a,112b,112cの位置が点線の円で示されている。搬送装置102は、把持部材112の3つのクリップ112a,112b,112cの相対的な位置および角度を調整して、第1状態と第2状態とを切り替えるための機構を有している。第1状態は、ガラス基板11の主表面11aが平坦となるように、クリップ112a,112b,112cの位置および角度が調整されている状態である。第2状態は、ガラス基板11の主表面11aが湾曲するように、クリップ112a,112b,112cの位置および角度が調整されている状態である。
Next, the process of suspending the
第1状態では、図6に示されるように、クリップ112a,112b,112cは直線上に位置している。これにより、ガラス基板11の上辺11cは直線となるので、ガラス基板11の主表面11aも平坦となる。第2状態では、図5に示されるように、ガラス基板11の搬送方向において、クリップ112a,112cの位置は同じであるが、クリップ112bの位置は、クリップ112a,112cの位置より前方にある。そのため、第2状態において、ガラス基板11の主表面11aは、クリップ112bの位置で突出するように湾曲している。
In the first state, as shown in FIG. 6, the
図7は、第2状態におけるガラス基板11の湾曲の程度について説明するための図である。図7は、湾曲しているガラス基板11の上辺11cを鉛直方向に沿って見た図である。第2状態におけるガラス基板11は、上辺11cの曲率半径Rが上辺11cの寸法Wの3倍〜15倍となるように湾曲している主表面11aを有することが好ましい。以下において、湾曲しているガラス基板11の搬送方向の幅、すなわち、図7において符号Lで示される寸法を、湾曲幅Lと呼ぶ。
FIG. 7 is a diagram for explaining the degree of curvature of the
搬送装置102は、最初に、積層体からガラス基板11を1枚取り出して、ガラス基板11を第1状態の把持部材112で保持する。このとき、ガラス基板11の主表面11aは平坦である。次に、搬送装置102は、把持部材112を第1状態から第2状態に切り替えて、主表面11aを湾曲させ、ガラス基板11を第2状態の把持部材112で保持する。このとき、ガラス基板11の主表面11aが湾曲する。次に、搬送装置102は、把持部材112を移動させて、湾曲している主表面11aを有するガラス基板11を搬送する。これにより、ガラス基板11は、第2状態の把持部材112で把持されて湾曲している状態で搬送されながら熱処理される。
The
また、搬送装置102は、複数のガラス基板11を所定の間隔を空けて連続して搬送する。図8は、搬送装置102によって搬送される、隣り合う2枚のガラス基板11の上面図である。図8において、ガラス基板11の間隔Gは、ガラス基板11の搬送方向において、隣り合う2枚のガラス基板11の対向する一対の主表面11aの間の距離である。ガラス基板11の間隔Gは、10mm〜100mmであることが好ましい。また、後述する発熱装置41のように、熱処理空間において熱処理用流体を循環させてガラス基板11を加熱する方式を採用する場合、熱処理用流体の流れが妨げられないように、ガラス基板11の間隔Gは、図7に示されるガラス基板11の湾曲幅Lよりも大きいことが好ましい。また、間隔Gを湾曲幅Lよりも大きくすることで、搬送されるガラス基板11が互いに接触することを抑制する効果が得られる。
Moreover, the conveying
なお、搬送装置102は、ガラス基板11の熱処理が終了した後、把持部材112を第2状態から第1状態に切り替えて、湾曲しているガラス基板11の主表面11aを平坦に戻す。その後、搬送装置102は、熱処理されたガラス基板11を後工程に送る。
In addition, after the heat processing of the
次に、ガラス基板11の熱処理について説明する。図1のステップS4では、搬送装置102によって搬送されるガラス基板11に対して、ガラス基板製造ラインから外れたオフラインでの熱処理(オフラインアニール処理)が行われる。オフラインアニール処理では、ガラス基板11を所定の熱処理温度の雰囲気下に所定の時間曝すことで、ガラス基板11の主表面11a内の熱分布および歪分布が一様になるように、ガラス基板11の熱処理が行われる。
Next, the heat treatment of the
具体的には、熱処理装置101は、熱処理炉40内の熱処理空間40aに、搬送装置102によって搬送されるガラス基板11を通過させて、ガラス基板11を熱処理する。これにより、熱処理空間40aの雰囲気の熱がガラス基板11に伝達されて、ガラス基板11の熱処理が行われる。
Specifically, the
熱処理炉40は、図2,3に示されるように、熱処理空間40aの雰囲気を加熱および循環するための発熱装置41を備える。発熱装置41は、熱処理空間40aに熱処理用流体を供給して、熱処理空間40aにおいて熱処理用流体を循環させる装置である。熱処理用流体は、例えば、高温の空気である。発熱装置41から供給される熱処理用流体が熱源となって、熱処理空間40aの雰囲気が温められる。熱処理装置101は、発熱装置41を制御して、熱処理空間40aの雰囲気の温度を調整することにより、ガラス基板11の熱処理を行う。発熱装置41は、例えば、熱処理炉40の内壁の側面に取り付けられている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
熱処理空間40aは、主として、加熱空間51、温度維持空間52および冷却空間53から構成される。搬送装置102によって搬送されるガラス基板11は、熱処理工程において、加熱空間51、温度維持空間52および冷却空間53を順に通過する。加熱空間51は、搬送されるガラス基板11が熱処理空間40aに入る際に通過する、熱処理空間40aの入口を有する。冷却空間53は、搬送されるガラス基板11が熱処理空間40aから出る際に通過する、熱処理空間40aの出口を有する。
The
加熱空間51は、ガラス基板11が温められて、ガラス基板11の温度が上昇する空間である。温度維持空間52は、ガラス基板11の温度が所定の熱処理温度に維持される空間である。冷却空間53は、ガラス基板11が冷却されて、温度制御されつつガラス基板11の温度が下降する空間(徐冷空間)である。なお、熱処理装置101で熱処理される前のガラス基板11、および、熱処理装置101で熱処理された後のガラス基板11の温度は、室温であるが、300℃以下の任意の温度であってもよい。
The
加熱空間51の温度は、熱処理空間40aの入口側から温度維持空間52側に向かって高くなる。また、温度維持空間52には、雰囲気を攪拌して雰囲気の温度を熱処理温度の近傍で均一に保つための装置が設置されてもよい。冷却空間53の温度は、温度維持空間52側から熱処理空間40aの出口側に向かって低くなる。
The temperature of the
本実施形態において、熱処理温度は、400℃〜650℃である。なお、熱処理温度は、ガラス基板11の(歪点−60)℃の温度から(歪点−260)℃の温度までの温度範囲であることが、熱収縮率を低減させ、ガラス基板11の歪分布を一様とする点から好ましい。ここで、歪点とは、一般的なガラスの歪点を言い、1014.5ポワズの粘度に相当する温度である。
In this embodiment, the heat treatment temperature is 400 ° C to 650 ° C. The heat treatment temperature is in the temperature range from the temperature of (strain point −60) ° C. of the
ガラス基板11の熱処理時間は、ガラス基板11が温度維持空間52を通過する時間であり、例えば、0.1時間〜5時間である。熱処理時間は、好ましくは1時間以上である。温度維持空間52の雰囲気の温度の時間履歴は、特に制限されないが、雰囲気の温度が熱処理温度と同じである時間が少なくとも0.1時間以上あるとよい。この時間が0.1時間未満であると、ガラス基板11の熱収縮率が十分に低下せず、逆に5時間より長いと、ガラス基板11の熱収縮率は十分に低減するが、ガラス基板11の生産効率が低下する。ガラス基板11の搬送速度は、ガラス基板11の熱処理時間に応じて適宜に設定される。
The heat treatment time of the
なお、歪点はガラスの種類によって異なるが、ガラス基板11は、熱収縮率を小さくするために、歪点が高いガラス組成を有することが好ましい。ガラス基板11のガラスの歪点は、600℃以上であることが好ましく、655℃以上であることがより好ましい。歪点が661℃である場合、熱処理温度は、歪点(661℃)−(60℃〜260℃)=601℃〜401℃であることが好ましい。しかし、ガラス基板11の熱収縮率を小さくして、ガラス基板11を高精細ディスプレイ用ガラス基板として用いるためには、上記の温度範囲に限定されない。例えば、熱処理温度は、400℃〜550℃でもよい。
In addition, although a strain point changes with kinds of glass, in order to make a thermal contraction rate small, it is preferable that the
(3)オフラインアニール処理の特徴
本実施形態の熱処理装置101は、ガラス基板11を湾曲させた状態で搬送しながら、ガラス基板11の熱処理を行う。ガラス基板11は、把持部材112によって吊り下げられた状態で、熱処理空間40a内を搬送される。ガラス基板11の搬送方向は、ガラス基板11の主表面11aと直交する方向である。そのため、熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11は、熱処理空間40aの雰囲気による流体抵抗を受ける。また、熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11は、発熱装置41から供給され熱処理空間40aを循環する熱処理用流体と衝突する。これにより、熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11は、熱処理用流体による流体抵抗を受ける。従って、熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11の主表面11aは、常に風圧を受けている。
(3) Features of off-line annealing treatment The
従来の搬送装置では、ガラス基板の主表面が平坦な状態で、ガラス基板が吊り下げられて搬送される。この場合、搬送されるガラス基板の主表面が風圧を受けて振動することがある。特に、吊り下げられているガラス基板の下端は、何物にも支持されていないので、特に激しく振動しやすい。搬送されているガラス基板が振動すると、搬送方向に沿って隣り合うガラス基板同士が接触して、ガラス基板が破損するおそれがある。 In the conventional transfer device, the glass substrate is suspended and transferred with the main surface of the glass substrate being flat. In this case, the main surface of the glass substrate to be conveyed may vibrate due to wind pressure. In particular, since the lower end of the suspended glass substrate is not supported by anything, it tends to vibrate particularly vigorously. When the glass substrate being transported vibrates, the glass substrates adjacent to each other along the transport direction may come into contact with each other and the glass substrate may be damaged.
本実施形態では、熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11は、図4に示されるように、搬送方向に向かって突出するように湾曲している主表面11aを有している。湾曲している主表面11aを有するガラス基板11の鉛直方向の曲げに対する剛性は、平坦な主表面11aを有するガラス基板11よりも高い。これにより、熱処理装置101では、熱処理空間40aで搬送されているガラス基板11の主表面11aが風圧を受けても、ガラス基板11は安定した形状および姿勢を維持することができ、搬送されている間のガラス基板11の振動、折り曲げおよび破損の発生が抑制される。また、搬送されているガラス基板11の主表面11aが搬送方向の前方から風圧を受けても、湾曲している主表面11aに沿って流体がスムーズに流れるので、ガラス基板11が受ける流体抵抗が低減される。その結果、熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11の振動が低減される。従って、熱処理装置101は、オフラインアニール処理におけるガラス基板11の破損を低減することができる。
In the present embodiment, the
また、本実施形態のように、搬送装置102によってガラス基板11を1枚ずつ搬送しながらガラス基板11を熱処理する場合、搬送されるガラス基板11の間の間隔を狭くすることで、ガラス基板11の熱処理効率を向上させることができる。本実施形態の熱処理装置101は、搬送されるガラス基板11の間の間隔を狭くしても、ガラス基板11同士の接触が抑制されるので、ガラス基板11の生産効率を高めつつ、ガラス基板11の破損を低減することができる。
Moreover, when heat-treating the
なお、本実施形態で製造されるガラス基板11は、フラットパネルディスプレイ用ガラス基板として好適である。フラットパネルディスプレイ用ガラス基板は、例えば、液晶ディスプレイ用ガラス基板、および、有機ELディスプレイ用ガラス基板である。さらに、ガラス基板11は、高精細ディスプレイに用いられるLTPS(Low-temperature poly silicon)・TFTディスプレイ用ガラス基板、あるいは、酸化物半導体・TFTディスプレイ用ガラス基板として特に好適である。
In addition, the
また、本実施形態のガラス基板11の熱処理工程では、ガラス基板11の製造工程で得られたガラス基板11のうち、所定の枚数のガラス基板11のみがオフラインアニール処理される場合がある。この場合、オフラインアニール処理されないガラス基板11は、積層された後に、通常の処理工程を経て梱包されて出荷される。このように、オフラインアニール処理は、ガラス基板11の製造工程に組み込まれている処理工程ではないので、必要量のガラス基板11のみを熱処理することができる。これにより、同じ製造ラインで得られた同じガラス組成を有する複数のガラス基板11から、熱収縮率のみが異なる複数種類のガラス基板を得ることができる。
Moreover, in the heat treatment process of the
これにより、第1の例として、アモルファスSiのTFT用ガラス基板、および、p−Si用ガラス基板を、同じガラス組成を有するガラス基板11から製造することができる。また、第2の例として、熱処理温度の高いTFTパネルは、オフラインアニール処理をしたガラス基板から製造し、熱処理温度の低いカラーフィルタ(CF)パネルは、オフラインアニール処理をしていないガラス基板から製造することができる。
Thereby, as a 1st example, the glass substrate for TFT of amorphous Si and the glass substrate for p-Si can be manufactured from the
この場合、オフラインアニール処理をしたガラス基板、および、オフラインアニール処理をしていないガラス基板は、熱収縮率のみが異なり、ガラス組成が同じであるので、ヤング率およびスリミング性等の物性も同じである。そのため、パネルメーカーでのガラス基板の取り扱いが容易になる。例えば、スリミング特性が同じであるので、TFT用ガラス基板とCF用ガラス基板とを貼り合わせた後に行われるスリミング工程において、両面のエッチング速度が同じとなる。 In this case, the glass substrate that has been subjected to the offline annealing treatment and the glass substrate that has not been subjected to the offline annealing treatment are different only in the heat shrinkage rate and have the same glass composition, so the physical properties such as Young's modulus and slimming property are also the same. is there. Therefore, it becomes easy to handle the glass substrate by the panel manufacturer. For example, since the slimming characteristics are the same, the etching rates on both sides are the same in the slimming process performed after the TFT glass substrate and the CF glass substrate are bonded together.
(4)変形例
(4−1)変形例A
実施形態の熱処理装置101では、発熱装置41によって熱処理空間40aに熱処理用流体が供給され、熱処理空間40aの雰囲気が加熱および循環されて、ガラス基板11が熱処理される。このとき、熱処理空間40aにおいて、搬送方向に隣り合っているガラス基板11の間の空間に熱処理用流体を水平方向に通過させることで、ガラス基板11を熱処理することが好ましい。
(4) Modification (4-1) Modification A
In the
熱処理空間40aで搬送されるガラス基板11の上端部11bは、把持部材112によって把持されている。そのため、搬送方向に隣り合っているガラス基板11の間の空間に熱処理用流体をスムーズに流すためには、発熱装置41は、熱処理用流体を水平方向に流すことが好ましい。
The
また、熱処理空間40aにおいて熱処理用流体をスムーズに循環させる観点からは、発熱装置41は、熱処理空間40aに熱処理用流体を供給する側の反対側に、熱処理用流体を吸引して回収する機構を備えることが好ましい。熱処理用流体を回収することで、熱処理空間40a内の気流の安定化、および、処理温度の安定化が達成される。
Further, from the viewpoint of smoothly circulating the heat treatment fluid in the
(4−2)変形例B
実施形態の熱処理装置101では、図5に示されるように、ガラス基板11の上辺11cの形状は、把持部材112bが位置する上辺11cの中心に対して対称である。しかし、図9に示されるように、ガラス基板11の上辺11cの形状は、上辺11cの中心に対して非対称であってもよい。図9は、本変形例におけるガラス基板11の上面図である。この場合、ガラス基板11は、鉛直方向に沿って視た場合に非対称に湾曲している主表面11aを有している。図9では、クリップ112aとクリップ112bとの間の間隔は、クリップ112cとクリップ112bとの間の間隔よりも短い。なお、把持部材112bの位置および向きと、熱処理用流体の風向、風量および風速とを調整して、ガラス基板11の湾曲している主表面11aで熱処理用流体を受ける構成にすることで、主表面11aを所望の湾曲形状にしてもよく、主表面11aの湾曲形状の安定化を図ってもよい。
(4-2) Modification B
In the
(4−3)変形例C
実施形態の熱処理装置101では、ガラス基板11は、把持部材112によって吊り下げられている。ガラス基板11の下端は、何物にも支持されていないので、ガラス基板11の搬送中に振動しやすい。しかし、ガラス基板11は、その下端部が支持されながら搬送されてもよい。この場合、ガラス基板11の下端部は、上端部11bを把持する把持部材112と同様の把持部材によって把持されてもよい。また、この場合、ガラス基板11の主表面11aが、上端から下端に亘って同じ形状で湾曲するように、ガラス基板11の上端部11bおよび下端部が把持されてもよい。
(4-3) Modification C
In the
(4−4)変形例D
実施形態の熱処理装置101は、ガラス基板11の熱処理を行う。しかし、ガラス基板11を熱処理する前に、ガラス基板11を熱処理装置101で熱処理するか否かを判定する工程を行ってもよい。判定工程では、例えば、ガラス基板11が所定の強度を有しているか否かが判定される。判定工程によって、所定の強度を有しているガラス基板11が選別され、選別されたガラス基板11のみが熱処理装置101によって熱処理される。
(4-4) Modification D
The
具体的には、判定工程では、搬送ローラおよびロボットアーム等を用いてガラス基板11を所定の曲率半径まで湾曲させた後、ガラス基板11の主表面11aを元の平坦な状態に戻し、ガラス基板11の主表面11aに欠陥が生じているか否かを光学的に検査することで、ガラス基板11を選別する方法が用いられる。なお、ガラス基板11の選別では、光学的な検査に加えて、ガラス基板11を湾曲させることによりクラックが発生および伸展する音をAE(アコースティックエミッション)センサで検知して、主表面11aに欠陥が生じているか否かを検査してもよい。
Specifically, in the determination step, the
次に、複数のロボットアームを用いてガラス基板11を湾曲させる方法を用いる判定工程について説明する。図10は、6つのロボットアームによって保持されている状態の、湾曲した主表面11aを有するガラス基板11の外観図である。ロボットアームの先端には、吸着装置が取り付けられている。ロボットアームは、吸着装置を用いて、ガラス基板11の主表面11aを吸引して、ガラス基板11に固定することができる。ガラス基板11の主表面11aには、複数の吸着ポイント11eが設定されている。図10では、ガラス基板11の裏側の主表面11aに、6つの吸着ポイント11eが設定されている。この場合、6つのロボットアームのそれぞれが、主表面11a上の各吸着ポイント11eにおいて、主表面11aを吸引してガラス基板11に固定される。そして、各ロボットアームを独立して動かすことで、図10に示されるように、ガラス基板11の主表面11aを湾曲させる。判定工程では、図10に示されるように、ガラス基板11の主表面11aは、ガラス基板11の上端から下端にかけて均一に湾曲される。しかし、判定工程では、図4に示されるように、ガラス基板11の主表面11aは、熱処理工程と同様に上端部11bのみ湾曲されてもよい。
Next, a determination process using a method of bending the
判定工程では、ガラス基板11は、熱処理工程において熱処理空間40aを通過するガラス基板11よりも、より大きく湾曲される。熱処理工程において吊り下げられた状態で搬送されるガラス基板11の主表面11aは、上辺11cの曲率半径Rが上辺11cの寸法Wの3倍〜15倍となるように湾曲されることが好ましい。一方、判定工程では、ガラス基板11の主表面11aは、曲率半径Rの平均が上辺11cの寸法Wの2倍以下となる程度まで湾曲されることが好ましい。判定工程においてガラス基板11の主表面11aが湾曲されることで、クラック等の欠陥が主表面11aに生じる場合がある。その後のガラス基板11の光学検査において、ガラス基板11の主表面11aに欠陥が生じていると判定された場合、そのガラス基板11は、その後の熱処理工程には送られず、ガラス基板製造ラインから取り除かれる。
In the determination step, the
11 ガラス基板
11a 主表面
11b 上端部
11c 上辺
112 把持部材
11
Claims (8)
前記熱処理工程では、
前記ガラス基板の上端部を把持部材で把持することで前記ガラス基板を吊り下げ、前記ガラス基板を搬送方向に沿って搬送しながら、前記ガラス基板を熱処理し、
前記ガラス基板は、前記搬送方向に沿って突出するように湾曲している主表面を有する、
ガラス基板の製造方法。 A glass substrate manufacturing method including a heat treatment step of a glass substrate formed by a downdraw method,
In the heat treatment step,
Suspending the glass substrate by gripping the upper end portion of the glass substrate with a gripping member, heat-treating the glass substrate while transporting the glass substrate along the transport direction,
The glass substrate has a main surface that is curved so as to protrude along the transport direction.
A method for producing a glass substrate.
請求項1に記載のガラス基板の製造方法。 The gripping member is configured to be switchable between a first state in which the upper end is held so that the main surface is flat and a second state in which the upper end is held so that the main surface is curved. Being
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 1.
請求項1または2に記載のガラス基板の製造方法。 In the heat treatment step, the glass substrate has the main surface curved so that the radius of curvature of the upper side of the glass substrate is 3 to 15 times the dimension of the upper side.
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 1 or 2.
請求項1から3のいずれか1項に記載のガラス基板の製造方法。 In the heat treatment step, a plurality of the glass substrates are conveyed with an interval of 10 mm to 100 mm.
The manufacturing method of the glass substrate of any one of Claim 1 to 3.
請求項4に記載のガラス基板の製造方法。 In the heat treatment step, the glass substrate is heat treated by passing a heat treatment fluid in a horizontal direction through a space between the adjacent glass substrates.
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 4.
請求項1から5のいずれか1項に記載のガラス基板の製造方法。 In the heat treatment step, the glass substrate has the main surface curved asymmetrically when viewed along the vertical direction.
The manufacturing method of the glass substrate of any one of Claim 1 to 5.
請求項1から6のいずれか1項に記載のガラス基板の製造方法。 In the heat treatment step, the glass substrate is conveyed while a lower end portion of the glass substrate is supported.
The manufacturing method of the glass substrate of any one of Claim 1 to 6.
請求項1から7のいずれか1項に記載のガラス基板の製造方法。 Before the heat treatment step, further comprising the step of determining whether to heat-treat the glass substrate in the heat treatment step,
The manufacturing method of the glass substrate of any one of Claim 1 to 7.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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