JP2016108232A - 立方晶窒化ほう素基焼結体および立方晶窒化ほう素基焼結体製切削工具 - Google Patents

立方晶窒化ほう素基焼結体および立方晶窒化ほう素基焼結体製切削工具 Download PDF

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Abstract

【課題】高硬度を有する立方晶窒化ほう素(cBN)基焼結体(cBN焼結体)の提供。【解決手段】cBNを70〜95vol%含有するcBN焼結体において、前記cBN焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合うc粒子相互の間に幅1〜30nmの結合相が存在し、該結合相は、Al、B、Nを少なくとも含む化合物から構成され、かつ、該結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合は0.1以下(但し、原子比)であるcBN焼結体。cBN粒子の平均粒径が0.5〜8.0μmであり、結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合が0.1以下であるcBN粒子の存在が全観察視野数の60%以上の視野で観察されることが好ましいcBN焼結体。【選択図】図11

Description

本発明は、高硬度を有する立方晶窒化ほう素(以下、「cBN」という場合もある)基焼結体(以下、「cBN焼結体」という場合もある)に関する。
本願は、2014年11月27日に日本に出願された特願2014−240418号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
cBN焼結体は、ダイヤモンドに次ぐ高硬度、熱伝導率を有し、さらに、鉄系材料との親和性が低いという点から、鋼、鋳鉄等の鉄系被削材の切削加工用の工具として、従来から好適に利用されている。
そして、切削加工用工具としての性能を改善するために、cBN焼結体の強度、靭性、硬さ等をさらに一層向上するべく、従来からいくつかの提案がなされている。
例えば、特許文献1には、cBN焼結体を超高圧焼結により作製するにあたり、結合相を骨格構造とし結合相組織の中に硬質粒子であるcBN粒子とAlのほう化物と窒化物、およびTiのほう化物からなる反応生成物を分散分布した組織にすることにより、cBN焼結体の強度とじん性とを改善することが提案されている。
また、特許文献2には、cBN焼結体において、cBN粒子が結合する際にcBN粒表面に吸着した酸素を除去するため、原料としてTiやAlを用いてこれらを酸素のゲッターとして作用させ、cBN粒内部への酸素の固溶が原因となるcBN粒子自体の変質を予防するとともに、cBN粒子が互いに結合した連続構造を有し、かつ、結合相が互いに結合した連続構造を有する組織を形成することにより、cBN焼結体の耐熱性の向上と靭性の向上との両立を図ることが提案されている。
特開平8−197307号公報 特許第5032318号公報
上記特許文献1、2に示すようにcBN焼結体の特性改善についての提案はなされているものの、まだ十分であるとはいえない。
例えば、特許文献1に示される切削工具用のcBN焼結体は、結合相を骨格構造とし結合相組織の中に硬質粒子であるcBN粒子とAlのほう化物と窒化物、およびTiのほう化物からなる反応生成物を分散分布した組織を有している。このような組織を有するcBN焼結体を切削工具として使用する場合、刃先への負荷が高い切削条件に適用するために焼結体中のcBN含有量を高くすると、cBN粒子同士が接触し結合相と十分に反応できない未焼結な部分が増える。この未焼結な部分はcBN粒と結合相とが接触した部分に比べて強度が弱いことから、cBN含有量が高くなるにつれて、cBN含有量に応じた硬さが得られないという問題があった。また、硬さが十分でないこのようなcBN焼結体を工具として使用した場合、cBN粒同士が接触した部分を起点としたクラックが生じやすくなる。そのため、このような工具を刃先への負荷が高い断続切削に使用すると刃先が欠損しやすくなり、工具寿命が短命であるという問題があった。
また、特許文献2に示されるcBN焼結体においては、cBN粒子自体への酸素の影響は防止できるが、結合相組織内では比較的強度の弱いTiなどの酸化物がcBN粒子とcBN粒子との界面に残留するため、全体としては硬さの低いcBN焼結体が得られるという問題があった。
本発明者等は、上記課題を解決するため、cBN粒子−cBN粒子間に存在する結合材に着目し、cBN焼結体の硬さを向上させるべく鋭意研究したところ、次のような知見を得た。
従来のcBN焼結体は、cBN焼結体構成成分であるcBN粉末を、結合相形成成分であるTiN粉末、TiAl粉末、およびAl粉末等と混合し、これを超高圧高温条件下で焼結することにより、作製されていた。
本発明者らは、以下を見出した。すなわち、cBN焼結体の作製に際し、使用するcBN粒子表面を前処理することにより得られる表面清浄度の高いcBN粒子を原料として用いるために、cBN焼結体の構成成分であるcBN粒子表面に、例えば、ALD(Atomic Layer Deposition。真空チャンバ内の基材に、原料化合物の分子を一層ごとに反応させ、Arや窒素によるパージを繰り返し行うことで成膜する方法で、CVD法の一種である。)法等により、極めて薄い膜厚のAlN膜を成膜し、その後、これを真空下で加熱し、次いで、ボールミル混合により、前記AlN膜を剥離する工程からなる前処理を施す。
このような前処理をcBN粒子に施すことにより、cBN粒子表面に付着・吸着している酸素等の不純物成分が除去された表面清浄度の高いcBN粒子を得る。
そして、このcBN粒子を原料として用い、結合相形成成分とともに超高圧条件下で焼結してcBN焼結体を作製したところ、cBN粒子−cBN粒子間に存在する結合相中における酸素含有率(但し、Al含有量に対する酸素含有量の原子比の値)は小さな値となり、cBN粒子−cBN粒子間の結合相中の酸化物を少なくでき、強固な結合相を形成することができるとともに、cBN粒子同士が接触して結合相と十分反応できない未焼結部分が少なくなる。
その結果、本発明のcBN焼結体においては、焼結体中に含有されるcBN含有割合を高めた場合でも、高硬度を有するcBN焼結体を得られることを、本発明者らは見出した。
本発明は、上記知見に基づいてなされたものであって、
「(1) 立方晶窒化ほう素粒子を70〜95vol%含有する立方晶窒化ほう素基焼結体において、該焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、該結合相は、Al、B、Nを少なくとも含む化合物から構成され、かつ、前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合は0.1以下(但し、原子比)である立方晶窒化ほう素基焼結体。
(2) 立方晶窒化ほう素粒子を70〜95vol%含有する立方晶窒化ほう素基焼結体において、該焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子相互の間隔が30nm以下の領域が存在し、該領域の結合相は、AlとBのいずれか一方、あるいは、両方を含む窒化物とAlの酸化物から構成され、かつ、該領域の前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合は0.1以下(但し、原子比)である領域が存在することを特徴とする立方晶窒化ほう素基焼結体。
(3) 前記立方晶窒化ほう素基焼結体において、前記立方晶窒化ほう素粒子の平均粒径は0.5〜8.0μmであり、前記立方晶窒化ほう素基焼結体の断面組織を、前記立方晶窒化ほう素粒子の前記平均粒径の5倍×5倍の視野を一つの視野として、少なくとも5視野以上観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、かつ、前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合が0.1以下である前記立方晶窒化ほう素粒子の存在が、全観察視野数の60%以上の視野で観察されることを特徴とする前記(1)または(2)に記載の立方晶窒化ほう素基焼結体。
(4) 前記立方晶窒化ほう素基焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する前記立方晶窒化ほう素粒子が、該観察断面における前記立方晶窒化ほう素粒子の全粒子数に対して、0.4以上の平均粒子数割合で存在し、かつ、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する前記立方晶窒化ほう素粒子において、前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合が0.1以下である前記立方晶窒化ほう素粒子の数が、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する前記立方晶窒化ほう素粒子の数に対して、0.5以上の平均割合で存在することを特徴とする前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の立方晶窒化ほう素基焼結体。
(5) 前記立方晶窒化ほう素粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の前記結合相は、前記立方晶窒化ほう素粒子間に点在していることを特徴とする前記(1)乃至(4)のいずれかに記載の立方晶窒化ほう素基焼結体。
(6) 切削工具の切れ刃部が、前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の前記立方晶窒化ほう素基焼結体から構成されていることを特徴とする立方晶窒化ほう素基焼結体製切削工具。」
を特徴とする。
本発明のcBN焼結体は、平均粒径が好ましくは0.5〜8.0μmのcBN粒子を70〜95vol%含有し、かつ、該焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合うcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、該結合相は、Al、B、Nを少なくとも含む化合物から構成され、かつ、該結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合は0.1以下である。そのため、cBN粒子−cBN粒子間の結合相中において酸化物が少なく、結合相が強固であり、また、cBN粒子同士が接触して結合相と十分反応できない未焼結部分が少ない。その結果、この焼結体はcBN粒子の含有割合が多くても、高硬度を示す。
また、本発明のcBN焼結体を用いた切削工具は、すぐれた耐欠損性を発揮し、工具寿命の延命化を図ることができる。
本発明の一実施形態に係るcBN焼結体(以下、「本発明cBN焼結体」という場合もある)のcBN粒子相互の界面のSTEM(走査透過電子顕微鏡)によるHAADF(高角散乱環状暗視野)像(80000倍)を示す。 本発明cBN焼結体のcBN粒子相互の界面のSTEMによるBマッピング像の2値化像(80000倍)を示す。 本発明cBN焼結体のcBN粒子相互の界面のSTEMによるNマッピング像の2値化像(80000倍)を示す。 本発明cBN焼結体のcBN粒子相互の界面のSTEMによるAlマッピング像の2値化像(80000倍)を示す。 図2〜4においてBとNとAlとが重なる領域を示す図である。 図5のBとNとAlとが重なる領域(島)を画像処理により楕円近似した状態を示す図である。 図6において、各楕円の短軸の中点を直線でつないだ多角線からなる界面概形線を描画した図である。 本発明cBN焼結体のcBN粒子相互の界面のAlマッピング像、Bマッピング像、及びNマッピング像から得られるcBN粒子相互の界面概形線を示す。 界面概形線に垂直な方向(図9中の矢印方向)を示す。 図5と界面概形線から求められるcBN粒子相互間の結合相の幅およびその部分拡大図を示す。 本発明cBN焼結体のcBN粒子相互の界面のSTEMによるAlマッピング像(80000倍)の2値化像と界面概形線を中心とした30nm幅の測定領域を示す。 本発明cBN焼結体のcBN粒子相互の界面のSTEMによるO(酸素)マッピング像(80000倍)の2値化像と界面概形線を中心とした30nm幅の測定領域を示す。 本発明cBN焼結体におけるcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子数割合(q/Q)の測定方法および当結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合が0.1以下である粒子数割合(n/N)の測定方法を示す模式図である。 本発明cBN焼結体と比較例cBN焼結体の、cBN含有量とビッカース硬さHVの関係を表すグラフであり、グラフ中の曲線は、H=−0.42C+81.5C(但し、Hはビッカース硬さ、また、Cはvol%によるcBN含有量)を表す。
本発明の一実施形態(以下、「本実施形態」ともいう)について、以下に説明する。本実施形態に係るcBN焼結体は、cBN焼結体全体の体積に対する体積率が70〜95vol%であるcBN粒子と、各cBN粒子を互いに結合する結合相とを有する。また、この焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合うcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する。さらに、この結合相は、Al(アルミニウム)、B(ほう素)、N(窒素)を少なくとも含み、かつ、該結合相中のAl含有量に対するO含有量の割合は0.1以下(但し、上記断面上の面積比から算出される原子比)となっている。なお、隣り合うcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の上述の結合相は、隣り合うcBN粒子の間に点在していても良く、cBN粒子間に1つの結合相が延在していても良い(cBN粒子が上述の結合相1つを介して他のcBN粒子と隣接していても良い)。
<製造方法>
本実施形態のcBN焼結体の製造では、cBN原料としては、cBN粒子表面に前処理を施したcBN粒子を使用する。詳細には、本実施形態のcBN焼結体は、cBN粒子の表面に前処理を行う工程と、前処理されたcBN粒子を結合相を構成する原料粉末と混合して成形する工程と、成形体を焼結する工程とにより製造される。
cBN粒子表面の前処理は、例えば、次のように行う。
まず、例えば、ALD法において、cBN粒子表面にAlN膜を成膜する。成膜にあたっては、流動層炉内にcBN粒子を装入し、炉内を350℃程度に昇温し、Ar+Al(CHガス流入工程、Arガスパージ工程、Ar+NHガス流入工程、Arガスパージ工程を1サイクルとして、このサイクルを所望のAlN膜厚になるまで繰り返し行う。例えば、30分かけて成膜することにより、膜厚5nm程度のAlN膜を、cBN粒子表面に被覆形成することができる。
次いで、所定の厚さのAlN膜をその表面に形成したcBN粒子を、真空下で約1000℃にて加熱して、cBN表面の酸素等の不純物元素をAlN膜中に拡散させ、AlN膜中に捕捉する。
次いで、ボールミル混合により、不純物元素が捕捉された前記AlN膜を、cBN表面から剥離する。
このような前処理をcBN粒子に施すことによって、cBN表面に吸着している酸素等の不純物成分が除去された表面清浄度の高いcBN粒子を得る。なお、cBN粒子表面の前処理は、上述のALD法に限定されず、cBN粒子表面の不純物成分を除去できる方法であれば良い。
そして、上記前処理を施したcBN粒子を原料として用いるとともに、さらに、例えば、TiN粉末、Al粉末、TiAl粉末、及びAl粉末を原料粉末として用い、これら原料粉末を所定組成となるように配合し、所定サイズの成形体を作製する。
次いで、この成形体を、通常の超高圧焼結装置に装入し、例えば、5GPa以上の圧力、かつ、1600℃以上の温度の焼結条件で所定時間超高圧高温焼結することによって、本実施形態のcBN焼結体を作製することができる。このように、前処理により表面の不純物成分を除去したcBN粒子を用いてcBN焼結体を作製することにより、本実施形態に係るcBN焼結体を得ることができる。
なお、本実施形態のcBN焼結体を切削工具材料として用いる場合には、例えば、前記成形体を、WC(炭化タングステン)基超硬合金製支持片と重ね合わせた状態で、通常の超高圧焼結装置に装入し、前記と同様の条件で超高圧高温焼結することにより、WC基超硬合金を裏打ち材とし、本実施形態のcBN焼結体を切れ刃部とする切削工具を作製することができる。
<cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合>
上記の方法で作製したcBN焼結体において、cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合が70vol%未満となった場合には、cBN粒子同士が接触し結合相と十分に反応できない未焼結な部分は少なくなるが、cBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する個所が極めて少なくなり、Al、B、Nを少なくとも含む化合物以外の結合相成分(例えば、TiやTaの化合物、Alのほう化物)がcBN粒子間に増え、本実施形態の効果を発揮する組織を形成できない。すなわち、Al、B、Nを少なくとも含む結合相に比べ、このTi化合物やAlほう化物はcBN粒子との付着強度が低い。そのため、切削加工用工具として使用した場合に、Ti化合物やAlほう化物のcBN粒子との界面がクラックの起点となりやすく、その結果耐欠損性が低下する。そのため、cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合が70vol%未満とすることは好ましくない。一方、cBN粒子の含有割合が95vol%を超える場合には、切削加工用工具として使用した場合に、焼結体中にクラックの起点となる空隙が生成しやすくなり、耐欠損性が低下する。そのため、cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合は、70〜95vol%とする。cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合は、好ましくは70〜90vol%であり、より好ましくは75〜85vol%であるがこれに限定されない。
<cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合>
また、cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合は、cBN焼結体の断面組織をSEMによって観察し、得られた二次電子像内のcBN粒子に相当する部分を、上述と同様の画像処理によって抜き出す。画像解析によってcBN粒子が占める面積を算出し、1画像内のcBN粒子が占める割合を求め、少なくとも3画像を処理して求めたcBN粒子の含有割合の値の平均値を、cBN焼結体に占めるcBN粒子の含有割合として求める。cBN粒子の平均粒径の5倍の長さの一辺をもつ正方形の領域を画像処理に用いる観察領域とすることが望ましい。例えば、cBN粒子の平均粒径3μmの場合、15μm×15μm程度の視野領域が望ましい。
<cBN粒子の平均粒径>
また、本実施形態で用いるcBN粒子の平均粒径は、特に限定されるものではないが、0.5〜8μmの範囲とすることが好ましい。
これは次の理由による。
cBN焼結体が切削加工工具の切れ刃部として使用される場合、平均粒径が0.5μm〜8μmのcBN粒子が焼結体内に分散することにより、工具使用中に工具表面のcBN粒子が脱落して生じる刃先の凹凸形状を起点とするチッピングを抑制することができる。それに加え、工具使用中に刃先に加わる応力により生じるcBN粒子と結合相との界面から進展するクラック、あるいはcBN粒子を貫通して進展するクラックの伝播を、焼結体中に分散したcBN粒子により抑制することができる。そのため、このような切削加工工具は優れた耐欠損性を有する。
したがって、本実施形態で用いるcBN粒子の平均粒径は、0.5〜8μmの範囲とすることが好ましく、より好ましい範囲は、0.5〜3μmである。
ここで、cBN粒子の平均粒径は、以下のとおりにして求めることができる。
cBN焼結体の断面組織をSEMにより観察し、例えば、cBN粒子の平均粒径3μmの場合、15μm×15μm(cBN粒子の平均粒径の5倍角)の二次電子像を得る。得られた画像内のcBN粒子に相当する部分を画像処理にて抜き出し、画像解析により抜き出した各粒子に相当する部分の最大長を、以下のような手順で求める。まず、cBN粒子に相当する部分を画像処理により抜き出すにあたり、cBN粒子と結合相とを明確に判断するために、画像は0を黒、255を白とする256階調のモノクロで表示し、cBN粒子部分の画素値と結合相部分の画素値との比が2以上となる画素値の像を用いて、cBN粒子が黒となるように2値化処理を行う。
cBN粒子部分や結合相部分の画素値を、0.5μm×0.5μm程度の領域内の平均値より求める。少なくとも同一画像内の異なる3領域内の画素値の平均値を求め、それらの平均の値を各々のコントラストとすることが望ましい。
2値化処理後はcBN粒子同士が接触していると考えられる部分を切り離すような処理、例えば画像処理操作の1つであるwatershed(ウォーターシェッド)を用いて接触していると思われるcBN粒子同士を分離する。
上記の処理後に得られた画像内のcBN粒子にあたる部分(黒の部分)を粒子解析し、各粒子にあたる部分の最大長を求める。求めた最大長を各粒子の最大長とし、それを各粒子の直径とする。この直径から、各粒子を球として各粒子の体積を計算する。求めた各粒子の体積を基に、粒子径の積算分布を求める。詳細には、各粒子について、その体積とその粒子の直径以下の直径を有する粒子の体積の総和を積算値として求める。各粒子について、全粒子の体積の総和に対する各粒子の上記積算値との割合である体積百分率[%]を縦軸とし、横軸を各粒子の直径[μm]としてグラフを描画する。体積百分率が50%の値を取得した直径(メディアン径)の値を1画像におけるcBN粒子の平均粒径とする。少なくとも3画像に対し上記の処理を行って求めた平均粒径の値の平均値を、cBN焼結体のcBN粒子の平均粒径[μm]とする。粒子解析を行う際には、あらかじめSEMにより分かっているスケールの値を用いて、1ピクセル当たりの長さ(μm)を設定しておく。また、粒子解析の際、ノイズを除去するために、直径0.02μmより小さい領域は粒子として計算しない。
<隣接するcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相の特定、当結合相の成分分析、および、O/Alの測定>
隣接するcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相の特定、および当結合相の成分分析は、次のように行うことができる。
cBN焼結体を作製後、この焼結体の断面を研磨する。その後、STEMを用いてcBN粒子とcBN粒子相互が隣接する界面を観察する(図1参照)。図1は、STEM(走査透過電子顕微鏡)を用いてcBN粒子とcBN粒子との界面を観察したHAADF(高角散乱環状暗視野)像(80000倍)である。観察試料の厚さは、3nm〜70nmが好ましい。3nmより薄いと元素マッピングの際、検出する特性X線の量が少なく、測定に時間がかかることや試料が損傷しやすいため好ましくない。一方、70nmより厚いと像の解析が困難になるため好ましくない。観察画像は、像サイズが縦約500nm×横約500nmから縦150nm×横150nm程度、解像度は512×512ピクセル以上とする。観察個所にて、ほう素(B)、窒素(N)、アルミニウム(Al)、および酸素(O)元素のマッピング像(図2〜4、11、12参照)を取得する。なお、これらの画像は、バックグラウンドを除去する目的で、この4元素でのatm%に換算した画像(4元素の含有量の合計に対する各元素の含有量の割合(atm%)に換算した画像)である。この画像をもとに、以下の手順で、隣接するcBN粒子間において、その間に幅1nm以上30nm以下で点在、あるいは介する結合相が存在するか否か、および当結合相におけるcBN粒子間のAlとOの占める割合を求める。
(a)BとNのマッピング像(図2、3参照)から、観察している領域が、cBN粒子同士を観察すべき場所(cBN粒子が複数存在している領域)であることを確認する。
(b)Alのマッピング像(図4参照)と上記(a)のBのマッピング像(図2)とNのマッピング像(図3)を重ね合わせ、cBN粒子の間に存在し、少なくともAl、B、Nを含有する結合相の位置を特定する。そして、次のように該結合相の幅を決定する。
(b1)結合相がcBN粒子同士に介する場合、すなわちBとNとが存在している領域と重なるAlの島が1個の場合(cBN粒子間に1つの結合相が延在している場合)は、まず、Alのマッピング像において、結合相に相当するAlの島を楕円として近似させた時の長軸を得る。詳細には、BとNとが存在している領域と重なるAlの島を、上述のcBN粒子の平均粒径の測定の際に行った処理と同様に、画像処理にて抜き出し、画像解析により抜き出した島を楕円に近似させた場合の最大長を長軸とする。この長軸をcBN粒子間の界面概形線とする。
(b2)また、結合相がcBN粒同士の界面に点在する場合、すなわちBとNとが存在している領域と重なるAlの島が2個以上に分かれている場合は、BとNとが存在する領域に重なるAlの各島を、上述のcBN粒子の平均粒径の測定の際に行った処理と同様に、画像処理により抜き出し(図5)、画像解析により抜き出した各島を楕円近似する(図6)。そして、各楕円の短軸を求める。各短軸における中点を求め、隣り合う各中点を直線でつないだ多角線Tを描くことにより、cBN粒子相互の界面概形線を得る(図7、図8)。
(b3)上記(b1)または(b2)で得た界面概形線と重なるAlのマッピング像のAlの島(図10)において、界面概形線に垂直な方向(図9)でのAlの島の幅を測定し(図10参照)、少なくとも3ヶ所以上測定した幅の平均値をcBN粒子との間に存在する結合相の幅とする。その幅が1nm以上30nm以下である場合、cBN粒子相互の間に存在する結合相の幅は1nm以上30nm以下であるとする。
なお、cBN焼結体において、隣り合うcBN粒子間にAl、B、及びNを含み幅1〜30nmの結合相が存在しない場合、cBN粒子−cBN粒子間を十分に付着する強度が得られなかったり、結合材内部を起点とした破壊が生じやすくなったりする。その結果として硬さが低い焼結体が得られるため好ましくない。
(c)次に、該結合相に含まれるAlの含有量とOの含有量を以下のように求める。まず、AlとOのマッピング像を2値化処理した画像(図11、12)を用いて、上記(b)で確認した界面概形線を中心とした幅30nmの測定領域Mを決定する。この領域Mは、界面概形線の両側に界面概形線との距離が15nmの界面概形線に平行かつ合同な2本の線と、その端部を結ぶ2本の直線に囲まれた領域である。この領域Mに含まれるBとNとAlとが重なる部分のAlとOの含有量(面積%)を求める。詳細には、Alのマッピング像を2値化処理した画像からこの領域Mに存在するBとNとAlとが重なる部分のAlの面積を求め、この領域の面積に対するAlの面積の割合を、結合相に含まれるAlの含有量とする。また、Oについても同様にして、上記領域Mの面積に対するOの面積の割合を求め、これを結合相に含まれるOの含有量とする。このように求めた結合相に含まれるAl及びOの面積の割合(面積%)を、それぞれAl及びOの含有量(原子比)とする。
(d)上記で求めたAlとOの含有量(面積%)から、結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合(以下、「O/Al」で示す場合がある。)を算出する。
上記(a)〜(d)の手順に従って、隣接するcBN粒子相互間に規定した界面概形線を中心とする幅30nmの領域内に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相の成分分析を行うとともに、該結合相におけるO/Alの値を求めることができる。
なお、前記隣接するcBN粒子相互の界面に幅1nm以上30nm以下で点在、あるいは介するように存在する結合相は、Al、B、Nを少なくとも含む成分から構成されている(図2〜12参照)。
上記(a)〜(d)の手順に従って、隣接するcBN粒子間において、幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するか否かを判定する。そのような結合相が存在する場合には、その結合相中の成分分析を行うとともに、該結合相におけるO/Alの値を求めることができる。
なお、「点在」とはAlとBとNが重なる部分において、Alが複数の島状に存在している状態を示し、「介する」とはAlとBとNが重なる部分において、Alが切れ間なく存在している状態を示す。
なお、前記隣接するcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相は、Al、B、Nを少なくとも含む。本実施形態では、当結合相の主組織はAlとBとNから構成されている(図2〜12参照)。
<隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の存在割合>
隣接するcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の存在割合を測定する。言い換えると、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の全cBN粒子に対する存在割合(q/Q)を測定する。この測定は、例えば、具体的には次のように行うことができる。
まず、図13の模式図に示すように、一辺の長さLがcBN粒子の平均粒径の5倍である正方形領域を一つの測定視野範囲Aと定める。例えば、cBN粒子の平均粒径が1μmの場合には、5μm×5μmの正方形の領域を一つの測定視野範囲とする。
ついで、正方形をなす測定領域Aの頂部から対角線Dを引き、該対角線DにかかるcBN粒子1の粒子数Qをカウントする。
ついで、対角線D上に存在する個々のcBN粒子1について、隣接するcBN粒子1との間に幅1nm以上30nm以下の結合相2が存在するか否かを、上述の方法により特定する。そして、隣り合うcBN粒子1との間に幅1nm以上30nm以下の結合相2が存在すると特定されたcBN粒子1の粒子数qをカウントし、q/Qの値を算出する。
ついで、少なくとも5視野について同様の測定を行い、それぞれの視野におけるq/Qの値を算出し、ついで、これらの平均値を求め、q/Qの値とする。
上記方法によって、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子を特定し、該cBN粒子が存在する割合(q/Q)を求めることができる。本実施形態では、上記q/Qの値は0.4以上であることが望ましい。q/Qの値の上限値は1であることが好ましく、q/Qは0.6以上1以下であることがより好ましい。
<隣接するcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相において、O/Alが0.1以下となる領域の有無>
隣り合うcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相であって、かつ、当結合相中のO/Alの値が0.1以下である立方晶窒化ほう素粒子の存在が、全観察視野数の60%以上の視野で観察されることが望ましい。詳細には、cBN焼結体の断面について、cBN粒子の平均粒径の5倍角の視野を観察視野として5視野以上を観察する。各視野において、上述のように特定された隣接するcBN粒子間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相であって、且つ上述のように測定されたその領域に存在する結合相中のO/Alの値が0.1以下となる領域の有無を観察する。当該結合相が少なくとも1箇所観察された視野数が全観察視野数の60%以上であることが好ましい。全観察視野数の80%以上の視野で観察されることがより好ましく、全観察視野で当該領域が観察される(全観察視野数の100%で観察される)ことがさらに好ましい。
なお、隣り合うcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相であって、かつ、当結合相中のO/Alの値が0.1となる領域が多いと、隣り合うcBN粒子とcBN粒子とが強固な結合相で十分に付着したネットワークが多く形成でき、硬さに優れる。なお、O/Alの下限値は0である。
<隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子のうち、当結合相におけるO/Alが0.1以下となるcBN粒子の数およびその割合>
図13の模式図において、前記した方法により、隣接するcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子を特定した後、cBN粒子相互間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相において、O/Alが0.1以下である立方晶窒化ほう素粒子の数およびその割合を求める。言い換えると、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子のうち、この結合相のO/Alが0.1以下となっているcBN粒子の数(n)と、当該cBN粒子の、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の数(N)に対する割合(n/N)求める。その数の測定およびその割合の算出は、次のように行うことができる。
例えば、一辺の長さLがcBN粒子1の平均粒径の5倍である一つの正方形の測定視野領域Aの頂部から引いた対角線DにかかるcBN粒子1のうちで、隣接するcBN粒子1との間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相2が存在するcBN粒子1を特定し、これらの数Nをカウントする。
ついで、隣接するcBN粒子1との間に幅1nm以上30nm以下の結合相2が存在するcBN粒子1のうち、当結合相2におけるO/Alが0.1以下(但し、面積比)であるcBN粒子1の数nをカウントし、n/Nの値を算出する。
ついで、少なくとも5視野について同様の測定を行い、それぞれの視野におけるn/Nの値を算出する。ついで、これらの平均値を求め、n/Nの値とする。
上記方法によって、隣接するcBN粒子との間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相において、O/Alが0.1以下となるcBN粒子の数(n)および存在割合(n/N)を求めることができる。本実施形態では、上記n/Nの値は0.5以上であることが望ましい。即ち、隣り合うcBN粒子との間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相において、O/Alが0.1以下となるcBN粒子の数(n)は、隣り合うcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の数(N)に対して、0.5以上の平均割合で存在することが望ましい。
そして、平均領域数割合(n/N)が0.5以上である場合には、cBN粒子−cBN粒子間に強固な結合相を形成することができ、高硬度を示す。なお、n/Nの値は0.6以上が好ましく、0.8以上1以下がさらに好ましい。
なお、本実施形態のcBN焼結体は、上述のようにcBN粒子と結合相とからなる。この結合相について、隣接するcBN粒子の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相以外で焼結体中に形成される結合相の構成は特に限定されないが、この領域に形成される結合相がTiの窒化物、炭化物、炭窒化物、硼化物、Alの窒化物、硼化物、酸化物およびこれらの2種以上の固溶体の中から選ばれる1種または2種以上と不可避不純物で構成されることが好ましい。
上述の本実施形態に係るcBN焼結体は、cBN粒子の含有割合が多く、且つcBN含有量に応じた硬さ以上の硬さを示す。具体的には、cBN焼結体のビッカース硬さHは、下記式を満たす。
H>−0.42C+81.5C(CはcBN粒子の含有量(vol%))
以下に、本実施形態のcBN焼結体を実施例に基づいて説明する。
表面清浄度の高いcBN粒子粉末の作製:
表1に示すメディアン径(D50)を有するcBN粒子を基材とし、ALD(Atomic Layer Deposition)法により、cBN粒子に表1に示される平均膜厚のAlN膜を被覆した。より具体的にいえば、炉内に、表1に示すメディアン径(D50)を有するcBN粒子を装入し、炉内を350℃に昇温し、成膜用ガスとして、Alの先駆体であるAl(CHガス、および、反応ガスとしてNHガスを用い、
(1)Ar+Al(CHガス流入工程、
(2)Arガスパージ工程、
(3)Ar+NHガス流入工程、
(4)Arガスパージ工程
前記(1)〜(4)を1サイクルとして、このサイクルをAlN膜が目標膜厚になるまで繰り返し行った。これにより所定の膜厚のAlN膜をcBN粒子表面に形成した。
なお、上記の手順で得られたAlN膜でコーティングされたcBN粒子粉末について、SEM(走査型電子顕微鏡)を用いて観察したところ、cBN粒子表面に表1に示される平均膜厚のAlN膜がコーティングされていることが確認された。
次いで、AlN膜をその表面に形成したcBN粒子を、真空下で温度約1000℃、時間30分の加熱処理をして、cBN表面の酸素等の不純物元素をAlN膜中に拡散させた。次いで、炭化タングステン製の容器とボールを用いたボールミル混合により、不純物元素が捕捉された前記AlN膜を、cBN表面から剥離した。
上記の手順で作製した所定のメディアン径を有するcBN粒子粉末と、0.3〜0.9μmの範囲内の平均粒径を有するTiN粉末、TiC粉末、Al粉末、TiAl粉末、およびWC粉末を結合相形成用原料粉末として用意した。これら原料粉末の中から選ばれたいくつかの原料粉末とcBN粒子粉末の合量を100vol%としたときのcBN粒子粉末の含有割合が70〜95vol%となるように配合し、湿式混合し、乾燥した。その後、油圧プレスにて成形圧1MPaで直径:50mm×厚さ:1.5mmの寸法にプレス成形して成形体を得た。ついでこの成形体を、圧力:1Paの真空雰囲気中、1000〜1300℃の範囲内の所定温度に30〜60分間保持して熱処理し、通常の超高圧焼結装置に装入し、通常の条件である圧力:5GPa、温度:1600℃、保持時間:30分間の条件で超高圧高温焼結することにより、表2に示す本発明cBN焼結体1〜17を作製した。
表2中に示す焼結体のcBN以外の結合相組織は、cBN焼結体のXRD(X−ray Diffraction)により確認した。
なお、上記作製工程は超高圧焼結までの工程において原料粉末の酸化を防止するように行われることが好ましく、具体的には非酸化性の保護雰囲気中で原料粉末や成形体の取り扱いを実施することが好ましい。

比較のため、原料粉末として、ALD(Atomic Layer Deposition)法によるAlN膜コーティングを行わなかった表4に示すメディアン径(D50)のcBN粒子粉末a、b、e〜i(当然のこととして、AlN膜の真空下での加熱処理、cBN表面からのAlN膜の剥離処理も行わない)を準備した。また、上記本発明cBN焼結体1〜17と同じく、表4に示す平均膜厚を有するAlN膜をコーティング後、真空下で温度約1000℃、時間30分の加熱処理後、ボールミル混合により、AlN膜をcBN表面から剥離した表4に示すメディアン径(D50)のcBN粒子粉末c、dを準備した。0.3〜0.9μmの範囲内の平均粒径を有するTiN粉末、TiC粉末、Al粉末、TiAl粉末、WC粉末を結合相形成用原料粉末として用意し、これら原料粉末の中から選ばれたいくつかの原料粉末とcBN粒子粉末の合量を100vol%としたときのcBN粒子粉末の含有割合が55〜98.2vol%となるように配合し、上記本発明cBN焼結体1〜17と同様な方法で、表5に示す比較例cBN焼結体1〜10を製造した。
上記で作製した本発明cBN焼結体1〜17および比較例cBN焼結体1〜10について、cBN粒子の平均粒径(μm)、cBN粒子の含有割合(vol%)を算出した。
cBN粒子の平均粒径については、上述の方法で求めた。すなわち、cBN焼結体の断面組織を走査型電子顕微鏡(SEM)にて観察して、二次電子像を得た。得られた画像内のcBN粒子の部分を画像処理にて抜き出し、画像解析より求めた各粒子の最大長を求め、それを各粒子の直径とし各粒子が理想球であると仮定しての体積を計算した。
体積の積算%と直径の分布曲線におけるメディアン径を1画像から求め、少なくとも3画像から求めた平均値をcBNの平均粒径(μm)とした。なお、画像処理に用いた観察領域は、15μm×15μmとした。算出した平均粒径を表2、5に示す。
また、隣接するcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相中の成分分析、および、O/Alの測定を、上述のように行った。
すなわち、cBN焼結体の断面を研磨後、TEMを用いてcBN粒子とcBN粒子相互が隣接する界面を観察し、観察個所にて、B、N、Al、O元素のマッピング像(図2〜4、11、12参照)を取得した。
次いで、BとNのマッピング像からcBN粒子同士の観察場所であることを確認した。
次いで、Alのマッピング像とBのマッピング像とNのマッピング像とを重ね合わせ、AlとBとNとが重なる部分から、上述のようにcBN粒子相互の界面概形線を得た。また、得られた界面概形線に基づき、上述の方法でcBN粒子間の結合相の幅が30nm以下であることを確認した。
次いで、AlとOのマッピング像を2値化処理した画像を用いて、上記で確認した界面概形線を中心とした幅30nmの領域において、AlとOの含有量(面積比率)を求めた。
上記で求めたAlとOの含有量(面積比率)から、該領域の結合相中のO/Alを算出した。
上記手順に従って、少なくとも5ヶ所のO/Alを測定し、その平均の値を隣接するcBN粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の結合相におけるO/Alの値として求めた。結果を表3、6に示す。
なお、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の特定および該cBN粒子の存在割合(q/Q)の測定を、上述のように行った。すなわち、図13の模式図に示すように、cBN粒子の平均粒径の5倍角の領域を一つの測定視野範囲と定め、正方形をなす測定領域の頂部から対角線を引き、該対角線にかかるcBN粒子の粒子数Qをカウントした。ついで、対角線上のcBN粒子のうち、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子を特定するとともに、該cBN粒子の粒子数qをカウントした。q/Qの値を算出した。合計10視野について同様の測定を行って、それぞれの視野におけるq/Qの値を算出した。ついで、これらの平均値をq/Qの値として求めた。この値を、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の平均粒子数割合(q/Q)として表3、6に示す。
また、隣り合うcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、かつ、該結合相中のO/Alの値が0.1以下である領域が存在する観察視野数を求めた。その結果を表3、6に観察視野数として示す。なお、表中の観察視野数は、合計10の観察視野中において、隣り合うcBN粒子間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、かつ、その結合相から得た界面概形線を中心とする幅30nmの領域内の結合相中のO/Alの値が0.1以下である領域が観察された視野数を意味する。表中の「−」は隣り合うcBN粒子の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するが、元素マッピングよりAl、B、N元素が重なる個所がなく(Al、B、Nを少なくとも含む結合相が存在せず)、界面概形線を規定できないため、O/Alを算出することができないことを意味する。
また、図13の模式図に示すように、cBN粒子の平均粒径の5倍角の領域を一つの測定視野範囲と定め、正方形をなす測定領域の頂部から対角線を引いた。対角線にかかるcBN粒子のうちで、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子を特定し、これらの数Nをカウントした。ついで、隣接するcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子のうち、当該結合相におけるO/Alが0.1以下(但し、面積比)であるcBN粒子の数nをカウントした。n/Nの値を算出し、合計10視野について同様の測定を行って、それぞれの視野におけるn/Nの値を算出し、ついで、これらの平均値として、n/Nの値を求めた。その結果を表3、6に示す。なお、表中のn/Nは、隣り合うcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、界面概形線を中心とする幅30nmの領域内の結合相におけるO/Alが0.1以下であるcBN粒子の数が、隣り合うcBN粒子との界面に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するcBN粒子の数に対する平均割合(n/N)である。表中の「−」は、隣り合うcBN粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在するが、元素マッピングよりAl、B、N元素が重なる個所がなく、界面概形線を規定できないため、O/Alを算出することができないことを意味する。
また、本発明cBN焼結体1〜17および比較例cBN焼結体1〜10の研磨面について、荷重5kgでビッカース硬さ(HV)を測定点10点で測定し、これらを平均することによって、焼結体の硬度を測定した。なお、硬度の値については、1桁目は四捨五入した。
表2、表5に、これらの値を示す。
また、図14として、表2、表4から得られたcBN含有量C(vol%)とビッカース硬さH(HV)の関係をプロットしたグラフを示す。
表3、6に示される結果から、本発明cBN焼結体1〜17は、cBN粒子に前処理を行うことによって、cBN粒子−cBN粒子間の結合相はO/Alが平均0.10以下であって酸化物が少なく、強固な結合相が形成されていた。さらに、隣接するcBN粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、且つ該結合相中のO/Alの値が0.1以下である領域が観察された視野数が全観察視野数の60%以上であったので、cBN粒子同士が接触して結合相と十分反応できない未焼結部分が少なくなかった。そのため、cBN含有割合が70〜95vol%の範囲において、ビッカース硬度(HV)3720以上という高硬度を示した。
これに対して、比較例cBN焼結体3は、表面清浄度を高める処理がcBN粒子に施されているため、O/Alは平均0.10以下であって酸化物は少ないものの、cBN含有量は本実施形態で規定する範囲より少なかった。そのため、ビッカース硬度(HV)は3190と低硬度であった。
また、比較例cBN焼結体4は、比較例cBN焼結体3と同様、表面清浄度を高められる処理が施されているため、O/Alは平均0.10以下であって酸化物は少なかった。また、cBN含有量が本実施形態で規定する範囲より高いにもかかわらず、ビッカース硬度(HV)は3690にとどまった。ちなみに、本発明cBN焼結体6、8では、比較例cBN焼結体4よりcBN含有量が少ないが、HV=4050,4210であって、比較例cBN焼結体4に比してはるかに高硬度を示した。
また、比較例cBN焼結体6は、cBN含有割合が高く、また、ビッカース硬度(HV)も3710であり、cBN含有割合が同じ本発明cBN焼結体8のビッカース硬度(HV)4210に比して、低硬度であった。
また、その他の比較例cBN焼結体1、2、5、7〜10は、いずれも、O/Alは平均0.73以上であって、ビッカース硬度(HV)が3560以下と低硬度であった。
また、本発明cBN焼結体1〜17および比較例cBN焼結体1〜10について、cBN含有量とビッカース硬度の値をプロットした図14からも分かるように、本発明cBN焼結体1〜17は、H=−0.42C+81.5C(但し、Hはビッカース硬さ、Cはvol%によるcBN含有量を示す。)で表される曲線の上方に位置した。これに対して、比較例cBN焼結体1〜10は全て前記曲線の下方に位置した。これらのことから、同じcBN含有量におけるcBN焼結体でその硬さを比較した場合には、本発明cBN焼結体の硬さは、比較例cBN焼結体のそれよりはるかに高いことは明らかである。なお、図14中の曲線は、経験的に得られたcBN焼結体のcBN粒子含有量とビッカース硬さとの関係を表す式である。
上述のように、この発明のcBN焼結体は、高硬度であって、しかも、cBN粒子−結合相間の結合強度が高い。そのため、例えば、切れ刃部に高負荷が作用するcBN製切削加工用工具として用いた場合に、欠損等の耐異常損傷性にすぐれ、長期の使用にわたってすぐれた耐摩耗性を発揮することから、工具材料等の耐欠損性材料としての適用が期待される。

Claims (6)

  1. 立方晶窒化ほう素粒子を70〜95vol%含有する立方晶窒化ほう素基焼結体において、該焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子相互の間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、該結合相は、Al、B、Nを少なくとも含む化合物から構成され、かつ、前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合は0.1以下(但し、原子比)である立方晶窒化ほう素基焼結体。
  2. 立方晶窒化ほう素粒子を70〜95vol%含有する立方晶窒化ほう素基焼結体において、該焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子相互の間隔が30nm以下の領域が存在し、該領域の結合相は、AlとBのいずれか一方、あるいは、両方を含む窒化物とAlの酸化物から構成され、かつ、該領域の前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合は0.1以下(但し、原子比)である領域が存在することを特徴とする立方晶窒化ほう素基焼結体。
  3. 前記立方晶窒化ほう素基焼結体において、前記立方晶窒化ほう素粒子の平均粒径は0.5〜8.0μmであり、前記立方晶窒化ほう素基焼結体の断面組織を、前記立方晶窒化ほう素粒子の前記平均粒径の5倍×5倍の視野を一つの視野として、少なくとも5視野以上観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在し、かつ、前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合が0.1以下である前記立方晶窒化ほう素粒子の存在が、全観察視野数の60%以上の視野で観察されることを特徴とする請求項1または2に記載の立方晶窒化ほう素基焼結体。
  4. 前記立方晶窒化ほう素基焼結体の断面組織を観察したとき、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する前記立方晶窒化ほう素粒子が、該観察断面における前記立方晶窒化ほう素粒子の全粒子数に対して、0.4以上の平均粒子数割合で存在し、かつ、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する前記立方晶窒化ほう素粒子において、前記結合相中のAl含有量に対する酸素含有量の割合が0.1以下である前記立方晶窒化ほう素粒子の数が、隣り合う前記立方晶窒化ほう素粒子との間に幅1nm以上30nm以下の結合相が存在する前記立方晶窒化ほう素粒子の数に対して、0.5以上の平均割合で存在することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の立方晶窒化ほう素基焼結体。
  5. 前記立方晶窒化ほう素粒子相互の間に存在する幅1nm以上30nm以下の前記結合相は、前記立方晶窒化ほう素粒子の間に点在していることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の立方晶窒化ほう素基焼結体。
  6. 切削工具の切れ刃部が、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の前記立方晶窒化ほう素基焼結体から構成されていることを特徴とする立方晶窒化ほう素基焼結体製切削工具。
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